WO2019138930A1

WO2019138930A1 - 錠剤検査方法および錠剤検査装置

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Publication number: WO2019138930A1
Application number: PCT/JP2018/048426
Authority: WO
Inventors: 和隆谷口
Original assignee: 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス
Priority date: 2018-01-15
Filing date: 2018-12-28
Publication date: 2019-07-18
Also published as: CN111602047A; CN116973369A; CN111602047B

Abstract

錠剤検査方法は工程（ａ）～工程（ｃ）を備える。工程（ａ）にて、錠剤を撮像して、錠剤の第１主面および側面の両方が写る撮像画像を生成する。工程（ｂ）にて、撮像画像において第１主面および側面がそれぞれ占める主面領域および側面領域を特定する。工程（ｃ）にて、主面領域および側面領域に対してそれぞれ検査処理を行う。工程（ｂ）は、撮像画像において、第１主面の輪郭に対応した主面エッジを特定する工程（ｂ１）と、撮像画像における前記主面領域の輪郭の形状として予め決められた関数に基づいて、主面エッジの近似線を主面領域の輪郭として求める工程（ｂ２）とを備える。

Description

錠剤検査方法および錠剤検査装置

　この発明は、錠剤検査方法および錠剤検査装置に関し、特に錠剤を撮像するカメラを用いた検査技術に関する。

　従来から、錠剤の外観を検査する錠剤検査装置が提案されている（例えば特許文献１,２）。特許文献１においては、検査部は、錠剤を搬送する搬送手段と、搬送中の錠剤を撮像するための４つの撮像装置（カメラ）とを備えている。２つのカメラはそれぞれ錠剤の上面および下面を撮像し、残り２つのカメラは錠剤の側面を互いに反対側から撮像する。検査部はカメラによって撮像された撮像画像の各々に対して画像処理を行うことで外観検査を行う。

　この特許文献１では、複数のカメラを用いるので、コストが高い。これに対して特許文献２では、検査装置は、錠剤を搬送するコンベアと、搬送中の錠剤を撮像するための一つの撮像装置を備えている。撮像装置は、上側から見た錠剤の上面、および、四方から見た錠剤の側面を一つの撮像画像内に収めるように撮像する。

　具体的には、この撮像装置は一つのカメラと４つのプリズムとを備えている。カメラは錠剤の上側に配置されており、錠剤の上面からの光がカメラの撮像面に結像される。またプリズムは錠剤の四方に配置されており、錠剤の側面からの光をカメラへと反射させる。当該光もカメラの撮像面に結像される。これにより、カメラは５方向から見た錠剤の外観を撮像できる。検査装置は、カメラによって撮像された撮像画像に対して画像処理を行うことにより、錠剤の外観検査を行う。

　また本願に関連する技術として、特許文献３も掲示する。

国際公開第２０１５／０４１１１２号特開２０１２－１２３００９号公報特開２００４－４５０９７号公報

　特許文献２では、上側から見た錠剤の上面、および、四方から見た錠剤の側面は撮像画像において互いに離間している。つまり、撮像画像内の互いに離間した第１領域から第５領域において、それぞれ錠剤の上面および錠剤の側面が写っている。

　このような撮像画像において、第１領域から第５領域を区別することは容易である。よって、第１領域から第５領域のそれぞれに適した（つまり、主面および側面のそれぞれに適した）画像処理を行うことも容易である。

　ところで、錠剤を上方斜めから撮像すれば、この一方向の撮像により錠剤の上面および側面の両方を撮像することができる。そこで、この撮像画像において上面および側面を区別し、その各々について画像処理を行うことが考えられる。しかしながら、この撮像画像においては錠剤の上面および側面は互いに接しているので、錠剤の上面および側面を高い精度で区別することは困難である。

　そこで、本発明は、錠剤の主面および側面が互いに接する撮像画像において、主面および側面を高い精度で区別できる錠剤検査方法および錠剤検査装置を提供することを目的とする。

　上記課題を解決するため、錠剤検査方法の第１の態様は、一対の第１主面および第２主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査方法であって、錠剤を撮像して、前記第１主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する工程（ａ）と、前記撮像画像において前記第１主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域および側面領域を特定する工程（ｂ）と、前記主面領域および前記側面領域に対してそれぞれ検査処理を行う工程（ｃ）と、を備え、前記工程（ｂ）は、前記撮像画像において、前記第１主面の輪郭に対応した主面エッジを特定する工程（ｂ１）と、前記撮像画像における前記主面領域の輪郭の形状を示す関数に基づいて、前記主面エッジの近似線を前記主面領域の輪郭として算出する工程（ｂ２）とを備える。

　錠剤検査方法の第２の態様は、第１の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤は略円盤形状を有しており、前記関数は楕円を示す関数であり、前記近似線は楕円である。

　錠剤検査方法の第３の態様は、第１または第２の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記主面領域および前記側面領域は、前記撮像画像において前記錠剤が占める錠剤領域を構成しており、前記工程（ｂ１）は、前記撮像画像に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する工程（ｂ１１）と、前記錠剤領域の輪郭に対応する錠剤エッジを前記エッジ画像から特定する工程（ｂ１２）と、前記撮像画像における前記第１主面の周縁のうち前記錠剤領域の輪郭の一部となる部分、および、前記撮像画像における前記第２主面の周縁にそれぞれ対応する主面外側エッジおよび側面外側エッジを、前記錠剤エッジから抽出する工程（ｂ１３）と、前記エッジ画像において前記側面外側エッジから所定方向に沿って所定距離はなれた探索領域内の画素を探索して、前記主面領域と前記側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定する工程（ｂ１４）と、前記主面外側エッジおよび前記境界エッジの一組を前記主面エッジとして特定する工程（ｂ１４）とを備える。

　錠剤検査方法の第４の態様は、第３の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程（ｂ１４）では、前記エッジ画像の前記探索領域内の画素であって、当該画素に対応する前記撮像画像の画素の画素値が所定閾値よりも大きな画素を探索して、前記境界エッジを特定する。

　錠剤検査方法の第５の態様は、第３または第４の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程（ｂ１４）では、前記探索領域において、前記側面外側エッジから前記主面外側エッジへ向かって画素を探索して、前記境界エッジを特定する。

　錠剤検査方法の第６の態様は、第１から第５のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の一方の表面粗さは他方よりも小さく、前記工程（ｃ）は、前記撮像画像の前記主面領域および前記側面領域の一方に対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の値が第１閾値よりも大きいときに、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の前記一方に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ１）と、前記主面領域および前記側面領域の他方に対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の画素値が、前記第１閾値よりも大きな第２閾値よりも大きいときに、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の前記他方に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ２）とを備える。

　錠剤検査方法の第７の態様は、第１から第６のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記撮像画像において前記錠剤の前記第１主面および前記側面の一方は他方よりも明るく、前記工程（ｃ）は、前記撮像画像の前記主面領域および前記側面領域の一方の各画素の画素値が第３閾値よりも小さいときに、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の前記一方に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ１）と、前記撮像画像の前記主面領域および前記側面領域の他方の各画素の画素値が、前記第３閾値よりも小さな第４閾値より小さいときに、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の前記他方に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ２）とを備える。

　錠剤検査方法の第８の態様は、第１から第７のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤の前記第１主面には割線が形成されており、前記工程（ｂ）は、前記撮像画像において前記主面領域のうち前記割線を含む割線領域と前記割線を含まない非割線領域とを特定する工程（ｂ３）を含み、前記工程（ｃ）において、前記撮像画像の前記割線領域に対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の画素値が第５閾値よりも大きいときに、前記割線領域において欠陥が生じていると判断し、前記撮像画像の前記非割線領域に対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の画素値が前記第５閾値よりも小さな第６閾値よりも大きいときに、前記非割線領域において欠陥が生じていると判断する。

　錠剤検査装置の第９の態様は、一対の第１主面および第２主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査装置であって、錠剤の前記第１主面および前記側面の両方が写る方向から前記錠剤を撮像して撮像画像を生成する撮像部と、前記撮像画像において前記第１主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域および側面領域を特定し、前記主面領域および前記側面領域に対してそれぞれ検査処理を行う画像処理部とを備え、前記画像処理部は、前記撮像画像において、前記第１主面の輪郭に対応した主面エッジを特定し、前記撮像画像における前記主面領域の輪郭の形状として予め決められた関数に基づいて、前記主面エッジの近似線を前記主面領域の輪郭として求める。

　錠剤検査方法の第１０の態様は、錠剤の外観を検査する錠剤検査方法であって、錠剤を撮像して、複数の撮像方向から見た錠剤の外観がそれぞれ写る複数の画像を含む撮像画像を生成する工程（ａ）と、錠剤の欠陥候補を検出する検査処理を、前記撮像画像に対して行う工程（ｂ）と、前記検査処理によって、前記複数の画像に写る前記錠剤の第１領域において、前記複数の画像のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ）とを備える。

　錠剤検査方法の第１１の態様は、第１０の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤の第２領域は前記複数の画像のうちｎ（ｎは２以上の整数）個の画像のみに写っており、前記検査処理によって、前記ｎ個の画像のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が前記第２領域において検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する工程（ｄ）を更に備える。

　錠剤検査方法の第１２の態様は、第１０または第１１の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤の第３領域は前記複数の画像のうち１つの画像のみに写っており、前記検査処理によって、前記１つの画像の前記第３領域において欠陥候補が検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する工程（ｆ）を更に備える。

　錠剤検査方法の第１３の態様は、第１０から第１２のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記検査処理の検査対象とならないマスク領域が前記複数の画像ごとに設定され、前記錠剤の第４領域は前記複数の画像のうちｍ（２以上の整数）個の画像のみにおいて前記マスク領域以外の検査対象領域に写っており、前記工程（ｃ）において、前記検査処理によって、前記ｍ個の画像のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が前記第４領域において検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する。

　錠剤検査方法の第１４の態様は、第１３の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記複数の画像のそれぞれにおいて、前記錠剤に対する光の正反射によって画素値が他の領域よりも所定値以上高くなる領域を含む領域が前記マスク領域に設定される。

　錠剤検査方法の第１５の態様は、第１３または第１４の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤は、前記第１領域たる第１主面と、前記第１主面と対面する第２主面と、前記第１主面の周縁および前記第２主面の周縁を連結する側面とを有し、前記複数の画像のそれぞれにおいて前記錠剤の側面が占める側面領域の両側に位置する端領域が前記マスク領域に設定される。

　錠剤検査方法の第１６の態様は、第１０から第１５のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤は、前記第１領域たる第１主面と、前記第１主面と対面する第２主面と、前記第１主面の周縁および前記第２主面の周縁を連結する側面とを有し、前記工程（ｂ）は、前記複数の画像の各々において、前記錠剤の前記第１主面が示す主面領域の輪郭に対応した主面エッジを特定する工程（ｂ１）と、前記複数の画像の各々において、前記主面領域の輪郭の形状として予め決められた関数に基づいて、前記主面エッジの近似線を前記主面領域の輪郭として求める工程（ｂ２）と、前記複数の画像の各々において欠陥候補を検出する工程（ｂ３）とを有し、前記工程（ｃ）において、前記主面領域に対する各画素の位置の前記複数の画像の相互間における対応関係に基づいて、前記工程（ｂ３）で検出された欠陥候補が前記２以上の画像において共通するのか否かを判断する。

　錠剤検査方法の第１７の態様は、第１６の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤の前記第１主面は平面視で略円形状を有しており、前記関数は楕円を示す関数であり、前記近似線は楕円である。

　錠剤検査方法の第１８の態様は、第１６または第１７の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤は略円盤形状を有しており、前記複数の画像の各々において、前記錠剤の側面が占める側面領域と、前記主面領域とは錠剤領域を構成しており、前記複数の画像の各々を検査画像と呼ぶと、前記工程（ｂ１）は、前記検査画像に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する工程（ｂ１１）と、前記検査画像において前記錠剤領域の輪郭に対応する錠剤エッジを、前記エッジ画像から特定する工程（ｂ１２）と、前記検査画像において前記第１主面の周縁のうち前記錠剤領域の輪郭の一部となる部分、および、前記検査画像における前記第２主面の周縁にそれぞれ対応する主面外側エッジおよび側面外側エッジを、前記錠剤エッジから抽出する工程（ｂ１３）と、前記エッジ画像において、前記側面外側エッジから所定方向に沿って所定距離はなれた探索領域内の画素を探索して、前記主面領域と前記側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定する工程（ｂ１４）と、前記主面外側エッジおよび前記境界エッジの一組を前記主面エッジとして特定する工程（ｂ１４）とを備える。

　錠剤検査方法の第１９の態様は、第１８の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程（ｂ１４）では、前記エッジ画像の前記探索領域内の画素であって、当該画素に対応する前記検査画像の画素の画素値が所定閾値よりも大きな画素を探索して、前記境界エッジを特定する。

　錠剤検査方法の第２０の態様は、第１８または第１９の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程（ｂ１４）では、前記探索領域において、前記側面外側エッジから前記主面外側エッジへ向かって画素を探索して、前記境界エッジを特定する。

　錠剤検査装置の第２１の態様は、錠剤の外観を検査する錠剤検査装置であって、錠剤を撮像して、複数の撮像方向から見た錠剤の外観がそれぞれ写る複数の画像を含む撮像画像を生成する撮像部と、画像処理部とを備え、前記画像処理部は、錠剤の欠陥候補を検出する検査処理を、前記撮像画像に対して行う工程と、前記検査処理によって、前記複数の画像に写る前記錠剤の第１領域において、前記複数の画像のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する工程とを実行する。

　錠剤検査方法の第２２の態様は、一対の第１主面および第２主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査方法であって、錠剤を撮像して、前記第１主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する工程（ａ）と、前記撮像画像において前記錠剤の前記第１主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域と側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定し、前記境界エッジに近似する第１近似線を、前記撮像画像での前記境界の形状を示す関数に基づいて算出する工程（ｂ）と、前記境界エッジ上の各画素と前記第１近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第１主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程（ｃ）とを備える。

　錠剤検査方法の第２３の態様は、第２２の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記主面領域および前記側面領域は、前記撮像画像において前記錠剤が占める錠剤領域を構成しており、前記工程（ｂ）は、前記撮像画像に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する工程（ｂ１）と、前記錠剤領域の輪郭に対応する錠剤エッジを前記エッジ画像から特定する工程（ｂ２）と、前記撮像画像における前記第１主面の周縁のうち前記錠剤領域の輪郭の一部となる部分、および、前記撮像画像における前記第２主面の周縁にそれぞれ対応する主面外側エッジおよび側面外側エッジを、前記錠剤エッジから抽出する工程（ｂ３）と、前記エッジ画像において前記側面外側エッジから所定方向に沿って所定距離はなれた探索領域内の画素を探索して、前記境界エッジを特定する工程（ｂ４）と、前記撮像画像での前記主面領域の輪郭の形状を示す関数に基づいて、前記主面外側エッジおよび前記境界エッジの一組たる主面エッジの第２近似線を算出する工程（ｂ５）と、前記第２近似線から前記境界エッジの前記第１近似線を抽出する工程（ｂ６）とを備える。

　錠剤検査方法の第２４の態様は、第２３の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記錠剤は略円盤形状を有しており、前記関数は楕円を示す関数であり、前記第２近似線は楕円である。

　錠剤検査方法の第２５の態様は、第２３または第２４の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程（ｂ４）では、前記エッジ画像の前記探索領域内の画素であって、当該画素に対応する前記撮像画像の画素の画素値が所定閾値よりも大きな画素を探索して、前記境界エッジを特定する。

　錠剤検査方法の第２６の態様は、第２４または第２５の態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程（ｂ４）では、前記探索領域において、前記側面外側エッジから前記主面外側エッジへ向かって画素を探索して、前記境界エッジを特定する。

　錠剤検査方法の第２７の態様は、第２３から第２６のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程（ｂ５）において算出した前記主面エッジの前記第２近似線から、前記主面外側エッジの第３近似線を抽出する工程と、前記主面外側エッジ上の各画素と前記第３近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第１主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程とを備える。

　錠剤検査方法の第２８の態様は、第２３から第２７のいずれか一つの態様にかかる錠剤検査方法であって、前記工程（ｂ５）において算出した前記主面エッジの前記第２近似線から、前記側面外側エッジの第４近似線を抽出する工程と、前記側面外側エッジ上の各画素と前記第４近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第２主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程とを備える。

　錠剤検査装置の第２９の態様は、一対の第１主面および第２主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査装置であって、錠剤を撮像して、前記第１主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する撮像部と、画像処理部とを備え、前記画像処理部は、前記撮像画像において前記錠剤の前記第１主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域と側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定し、前記境界エッジに近似する第１近似線を、前記撮像画像での前記境界の形状を示す関数に基づいて算出し、前記境界エッジ上の各画素と前記第１近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第１主面の周縁に欠けが生じていると判断する。

　錠剤検査方法の第１の態様および錠剤検査装置の第９の態様によれば、主面領域の輪郭の形状を示す関数に基づいて近似線を算出しているので、高い精度で主面領域を特定できる。ひいては、高い精度で主面領域と側面領域とを区別できる。

　錠剤検査方法の第２の態様によれば、錠剤の形状に応じて適切な関数を採用しているので、高い精度で主面を特定できる。

　錠剤検査方法の第３の態様によれば、主面エッジを適切に得ることができる。

　錠剤検査方法の第４の態様によれば、主面領域をより高い精度で特定できる。

　錠剤検査方法の第５の態様によれば、錠剤の主面に割線が形成されていたとしても、当該割線に対応するエッジを境界エッジとして誤検出することを回避できる。

　錠剤検査方法の第６の態様によれば、主面領域および側面領域の両方において欠陥漏れおよび欠陥の誤検出を抑制できる。

　錠剤検査方法の第７の態様によれば、主面領域および側面領域の両方において欠陥漏れおよび欠陥の誤検出を抑制できる。

　錠剤検査方法の第８の態様によれば、割線領域および非割線領域の両方において欠陥漏れおよび欠陥の誤検出を抑制できる。

　錠剤検査方法の第１０の態様および錠剤検査装置の第２１の態様によれば、２以上の画像で共通の欠陥候補を検出したときに、錠剤に欠陥が生じていると判断しているので、欠陥検出時の虚報を抑制できる。

　錠剤検査方法の第１１の態様によれば、極まれな虚報をさらに抑制できる。

　錠剤検査方法の第１２の態様によれば、第３領域内の欠陥を検出できる。

　錠剤検査方法の第１３の態様によれば、第４領域における欠陥を適切に検出できる。

　錠剤検査方法の第１４の態様によれば、錠剤上の光の強弱を欠陥と誤検出することを回避できる。

　錠剤検査方法の第１５の態様によれば、欠陥の検出が困難な側面領域の端領域をマスク領域に設定するので、端領域における欠陥候補の誤検出あるいは検出漏れによる欠陥検出への影響を回避できる。

　錠剤検査方法の第１６の態様によれば、主面領域の輪郭の形状として予め決められた関数に基づいて主面領域の輪郭を求めているので、主面領域の特定精度が高い。これによれば、主面領域の各画素の２以上の画像の相互間の対応関係の精度を向上でき、工程（ｃ）の判断精度を向上できる。

　錠剤検査方法の第１７の態様によれば、錠剤の形状に応じて適切な関数を採用しているので、高い精度で主面を特定できる。

　錠剤検査方法の第１８の態様によれば、主面エッジを適切に得ることができる。

　錠剤検査方法の第１９の態様によれば、複数の画像の各々において主面領域をより高い精度で特定できる。

　錠剤検査方法の第２０の態様によれば、錠剤の主面に割線が形成されていたとしても、当該割線に対応するエッジを境界エッジとして誤検出することを回避できる。

　錠剤検査方法の第２２の態様および錠剤検査装置の第２９の態様によれば、錠剤の第１主面および側面が互いに接する撮像画像において、第１主面および側面の境界上に生じた錠剤の欠けを検出できる。

　錠剤検査方法の第２３の態様によれば、境界エッジの第１近似線を適切に得ることができる。

　錠剤検査方法の第２４の態様によれば、錠剤の形状に応じて適切な関数を採用しているので、より錠剤の主面に近い第２近似線を算出できる。

　錠剤検査方法の第２５の態様によれば、撮像画像における主面と側面との間の境界の形状により近い第１近似線を算出することができる。

　錠剤検査方法の第２６の態様によれば、錠剤の主面に割線が形成されていたとしても、当該割線に対応するエッジを境界エッジとして誤検出することを回避できる。

　錠剤検査方法の第２７の態様によれば、第１主面の周縁に生じる錠剤の欠けを検出できる。

　錠剤検査方法の第２８の態様によれば、第２主面の周縁に生じる錠剤の欠けを検出できる。

錠剤検査装置の構成の一例を概略的に示す図である。錠剤の一例を示す斜視図である。撮像ヘッドの内部構成の一例を概略的に示す図である。撮像ヘッドの内部構成の一例を概略的に示す図である。撮像画像の一例を概略的に示す図である。撮像画像の一例を概略的に示す図である。錠剤検査装置の動作の一例を示すフローチャートである。撮像画像において錠剤の外周に対応する錠剤エッジの一例を概略的に示す図である。撮像画像において錠剤の主面と側面との間の境界に対応する境界エッジの特定方法の一例を説明するための図である。境界エッジの特定方法の一例を示すフローチャートである。境界エッジの特定方法の他の一例を説明するための図である。境界エッジの特定方法の他の一例を示すフローチャートである。境界エッジの特定方法の他の一例を説明するための図である。錠剤の一例を示す斜視図である。撮像画像の一例を概略的に示す図である。錠剤検査装置の動作の他の一例を示すフローチャートである。撮像画像の一例を概略的に示す図である。錠剤検査装置の動作の一例を示すフローチャートである。検査処理の一例を示すフローチャートである。画像の一例を概略的に示す図である。錠剤の外周に対応する錠剤エッジの一例を概略的に示す図である。画像において錠剤の主面と側面との間の境界に対応する境界エッジの特定方法の一例を説明するための図である。主面領域に対する欠陥真偽処理の一例を示すフローチャートである。画像間の各画素の対応関係の一例を示す図である。検査処理の他の一例を示すフローチャートである。側面領域に対する欠陥真偽処理の一例を示すフローチャートである。撮像画像の他の一例を概略的に示す図である。検査処理の他の一例を示すフローチャートである。撮像画像の一例を概略的に示す図である。錠剤検査装置の動作の一例を示すフローチャートである。撮像画像において錠剤の外周に対応する錠剤エッジの一例を概略的に示す図である。撮像画像において錠剤の主面と側面との間の境界に対応する境界エッジの特定方法の一例を説明するための図である。各種エッジおよびその近似線の一例を概略的に示す図である。検査処理の一例を示すフローチャートである。検査処理のより具体的な一例を示すフローチャートである。検査処理のより具体的な他の一例を示すフローチャートである。各種エッジおよびその近似線の他の一例を概略的に示す図である。各種エッジおよびその近似線の他の一例を概略的に示す図である。

　以下、図面を参照しつつ実施の形態について詳細に説明する。図面においては、理解容易の目的で、必要に応じて各部の寸法や数を誇張または簡略化して描いている。なお、図面においては同様な構成及び機能を有する部分については同じ符号が付されており、下記説明では重複説明が省略される。また各図において、構成要素の方向関係を明確にするため、Ｚ軸方向を鉛直方向とし、ＸＹ平面を水平面とするＸＹＺ直交座標系を適宜付している。

　第１の実施の形態．
　図１は、錠剤印刷装置１０の構成の一例を概略的に示す図である。錠剤印刷装置１０は錠剤検査装置１と印刷ヘッド６とを備えている。

　錠剤検査装置１は錠剤９の外観を検査する装置である。図２は、錠剤９の一例を概略的に示す斜視図である。図２の例では、錠剤９は略円盤形状を有している。具体的には、錠剤９は一対の主面９ａ，９ｂと側面９ｃとを備えている。例えばこの円盤形状として、いわゆる平錠またはＲ付き錠を採用できる。主面９ａ，９ｂは互いに対面しており、平面視において、略同一の円形状を有する。この主面９ａ，９ｂの一方および他方はそれぞれ表面および裏面と呼ばれることがあり、また上面および下面と呼ばれることもある。

　錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃは角部を形成しながら互いに連結されており、主面９ｂおよび側面９ｃも角部を形成しながら互いに連結されている。錠剤９の直径は例えば５［ｍｍ］程度～１０数［ｍｍ］程度に設定され、その厚みは例えば５［ｍｍ］程度以下に設定され得る。

　図１を参照して、錠剤検査装置１はホッパー２と搬送ドラム３と搬送部４と撮像ヘッド５と選別部７と制御部８とを備えている。

　ホッパー２は、錠剤９を錠剤印刷装置１０内に投入するための投入部である。このホッパー２は、錠剤印刷装置１０の筐体(図示省略)の天井部上側に設けられている。ホッパー２から投入された錠剤９は搬送ドラム３に導かれる。なお、ホッパー２を除く他の要素は錠剤印刷装置１０の筐体の内部に設けられている。

　搬送ドラム３は略円柱状の形状を有しており、その中心軸がＹ軸方向に沿う姿勢で配置されている。搬送ドラム３は図示省略の回転駆動モータによって当該中心軸を回転中心として図１の紙面上で反時計回りに回転される。この回転駆動モータは例えば制御部８によって制御される。

　搬送ドラム３の外周面には複数の吸着孔（不図示）が周方向に沿って並んで形成されている。複数の吸着孔のそれぞれは搬送ドラム３の内部に設けられた吸引機構（図示省略）と連通している。この吸引機構は例えば制御部８によって制御される。この吸引機構を作動させることによって複数の吸着孔のそれぞれに大気圧よりも低い負圧を作用させることができる。これにより、搬送ドラム３の各吸着孔は１個の錠剤９を吸着保持することができる。

　搬送部４は搬送ドラム３の下方に配置されている。搬送ドラム３の外周面に吸着保持された錠剤９は搬送ドラム３の回転に伴って周方向に移動する。錠剤９が搬送ドラム３の下方側まで移動したときに吸引機構が錠剤９に対する吸着を解除することにより、錠剤９が落下して搬送部４へと受け渡される。

　搬送部４は錠剤９を搬送する。図１の例では、搬送部４はベルトコンベアであって、搬送ベルト４１と一対のプーリ４２とを備えている。一対のプーリ４２は例えばＸ軸方向において間隔を空けて配置されており、自身の中心軸がＹ軸方向に沿う姿勢で配置されている。一対のプーリ４２はそれぞれ自身の中心軸を回転中心として回転する。

　搬送ベルト４１は一対のプーリ４２に掛け渡されている。一対のプーリ４２の少なくともいずれか一方が図示省略の駆動モータによって回転駆動されることにより、搬送ベルト４１が図１の矢印にて示す向きに回走する。この駆動モータは例えば制御部８によって制御される。

　搬送ベルト４１の外周面にも、図示省略の複数の吸着孔がその周方向に沿って並んで形成されている。複数の吸着孔のそれぞれは搬送ベルト４１の内部に設けられた吸引機構（図示省略）と連通している。この吸引機構は例えば制御部８によって制御される。この吸引機構を作動させることによって複数の吸着孔のそれぞれに大気圧よりも低い負圧を作用させることができる。これにより、搬送ベルト４１の各吸着孔は１個の錠剤９を吸着保持することができる。

　搬送ベルト４１が錠剤９を吸着保持しながら回走することにより、錠剤９はＸ軸方向に沿って搬送ドラム３から遠ざかる方向に搬送される。

　撮像ヘッド５は搬送部４による錠剤９の搬送経路の途中において搬送ドラム３の下流側で、搬送部４と対向する位置に配置されている。この撮像ヘッド５の撮像エリアは搬送ベルト４１の一部を含んでいる。撮像ヘッド５は錠剤９がこの撮像エリア内を移動するときに錠剤９を撮像して、撮像画像を生成する。撮像ヘッド５はこの撮像画像を制御部８へ出力する。撮像ヘッド５の具体的な内部構成の一例については後に詳述する。

　制御部８は、入力された撮像画像に対して画像処理を施すことにより、錠剤９の外観を検査する。制御部８は錠剤９の外観に欠陥が生じている場合にはその錠剤９を不良品と判断し、錠剤９の外観に欠陥が生じていない場合にはその錠剤９を良品と判断する。当該欠陥としては、錠剤９に付着した不純物または錠剤９の形状上の不備（例えば欠け）などの欠陥を例示できる。制御部８による具体的な画像処理の一例については後に詳述する。

　印刷ヘッド６は錠剤９の搬送途中において撮像ヘッド５の下流側で、搬送ベルト４１の上方に配置されている。印刷ヘッド６は例えば制御部８によって制御され、錠剤９に対して印刷処理を行う。印刷ヘッド６は複数の吐出ノズル（図示省略）を備えており、各吐出ノズルからインクジェット方式によってインクの液滴を吐出する。インクジェットの方式は、ピエゾ素子（圧電素子）に電圧を加えて変形させてインクの液滴を吐出するピエゾ方式であっても良いし、ヒータに通電してインクを加熱することによってインクの液滴を吐出するサーマル方式であっても良い。本実施形態においては、錠剤９に印刷処理を行うため、インクとしては食品衛生法で認められている原料によって製造された可食性インクを使用する。

　図１の例では、印刷ヘッド６は撮像ヘッド５よりも搬送経路の下流側に位置しているので、制御部８は錠剤９の検査結果に応じて印刷処理の要否を決定してもよい。より具体的には、外観検査において錠剤９が良品と判断された場合には、制御部８はその錠剤９に対して印刷処理を行うように印刷ヘッド６を制御し、錠剤９が不良品と判断された場合には、その錠剤９に対して印刷処理を行わないように印刷ヘッド６を制御してもよい。これによれば、不要な印刷処理を回避することができる。

　選別部７は外観検査の結果に応じて錠剤９を選別する。例えば選別部７は良品ボックスおよび不良品ボックスを有している。これらのボックスは上方に開口した箱状の形状を有している。良品ボックスは良品と判断された錠剤９を収容し、不良品ボックスは不良品と判断された錠剤９を収容する。例えばこれらのボックスは搬送ベルト４１の下方側においてＸ軸方向に沿って並んで配置されている。制御部８は良品と判断した錠剤９が良品ボックスの開口部の直上に位置するときに、搬送ベルト４１内の吸引機構を制御してその錠剤９に対する吸着を解除する。これにより、錠剤９は良品ボックスの内部へと落下して、これに収容される。不良品と判断された錠剤９についても同様にして、不良品ボックスの内部に収容される。

　制御部８は上述したように各種の構成要素を制御し、また、撮像ヘッド５から入力される撮像画像に対して画像処理を行うことで錠剤９の外観検査を行う。

　この制御部８は電子回路機器であって、例えばデータ処理装置および記憶媒体を有していてもよい。データ処理装置は例えばＣＰＵ(Central Processor Unit)などの演算処理装置であってもよい。記憶部は非一時的な記憶媒体（例えばＲＯＭ(Read Only Memory)またはハードディスク）および一時的な記憶媒体（例えばＲＡＭ(Random Access Memory)）を有していてもよい。非一時的な記憶媒体には、例えば制御部８が実行する処理を規定するプログラムが記憶されていてもよい。処理装置がこのプログラムを実行することにより、制御部８が、プログラムに規定された処理を実行することができる。もちろん、制御部８が実行する処理の一部または全部がハードウェアによって実行されてもよい。

　＜撮像ヘッド＞
　撮像ヘッド５は錠剤９の少なくとも２つの面が写る方向から、搬送途中の錠剤９を撮像する。なお錠剤９は、その主面９ｂが搬送ベルト４１側を向く姿勢で搬送ベルト４１に吸着保持されることもあれば、その主面９ａが搬送ベルト４１側を向く姿勢で搬送ベルト４１に吸着保持されることもある。以下では、説明の便宜上、錠剤９はその主面９ｂが搬送ベルト４１側を向く姿勢で搬送ベルト４１に保持されるものとする。また錠剤９が搬送ベルト４１に吸着保持された状態では、側面９ｃのうち少なくとも主面９ａ側の一部は搬送ベルト４１から露出している。

　撮像ヘッド５は錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃの両方が写る方向から錠剤９を撮像する。これにより、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃの両方が写る撮像画像を生成する。図３および図４は、撮像ヘッド５の内部構成の一例を概略的に示す図である。例えば撮像ヘッド５は検査カメラ５１とレンズ群５２とミラー５３とと角錐型ミラー５４とを備えている。検査カメラ５１は例えばＣＣＤ(Charge Coupled Device)イメージセンサまたはＣＭＯＳ(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサなどのイメージセンサである。この検査カメラ５１は錠剤９の搬送経路の一部とＺ軸方向で対向する位置において、その撮像面が搬送ベルト４１側を向く姿勢で配置されている。

　ミラー５３は、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃからの光を後述する角錐型ミラー５４に導くために設けられている。このミラー５３の位置を説明するに当たって、便宜的に、錠剤９が検査カメラ５１とＺ軸方向で向かい合う位置に停止していると仮定する。図３を参照して、ミラー５３はＺ軸方向において検査カメラ５１と錠剤９との間に位置しており、平面視において（つまりＺ軸方向に沿って見て）錠剤９よりも外側に配置されている。また、ミラー５３は角錐型ミラー５４の各面に対向するように配置されている。

　角錐型ミラー５４は、ミラー５３で反射した錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃからの光を、レンズ群５２を介して検査カメラ５１の撮像面に導く。角錐型ミラー５４は、４つのミラーによって構成されており、各ミラー５３と対向するように角錐型ミラー５４が配置されている。

　錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃで反射または散乱された光の一部はミラー５３の一つに向かって斜め上方へと進み、当該ミラー５３で反射し、ミラー５３で反射した光は角錐型ミラー５４で反射した上で、レンズ群５２を介して検査カメラ５１の撮像面に結像する。換言すれば、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃから斜め上方に進む光を検査カメラ５１の撮像面に向けて反射できるように、ミラー５３および角錐型ミラー５４の反射面の地面に対する角度が調整されている。

　これにより、検査カメラ５１は当該ミラー５３から見た錠剤９の外観を撮像することができる。つまり、検査カメラ５１は実質的に錠剤９を斜め方向から撮像することができ、その撮像画像には、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃの両方が含まれることになる。なお図３では、光の経路の一例が破線で示されている。

　図４の例では、複数（図では４つ）のミラー５３が配置されている。例えば２つのミラー５３がＸ軸方向において間隔を空けて配置されており、残り２つのミラー５３がＹ軸方向において間隔を空けて配置されている。これによれば、錠剤９は平面視において四方をミラー５３によって囲まれることになる。さらに、４つのミラー５３の中央に角錐型ミラー５４が配置されている。各ミラー５３で反射された光は角錐型ミラー５４でさらに反射され、レンズ群５２を介して検査カメラ５１の撮像面に結像される。具体的には、４つのミラー５３で反射された光は検査カメラ５１の撮像面のうち互いに異なる領域に結像される。これにより、撮像ヘッド５は４方向から錠剤９を撮像し、４方向から見た錠剤９の外観を含む撮像画像を生成する。

　図５は、撮像画像ＩＭ１の一例を概略的に示す図である。撮像画像ＩＭ１には、４方向から見た錠剤９の外観が含まれており、これらのいずれにおいても、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃが写っている。ここでは４方向から錠剤９を撮像するので、錠剤９の側面９ｃを全周に亘って撮像することができる。以下では、撮像画像ＩＭ１に写る錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃを、実際の錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃと区別すべく、それぞれ主面９ａａおよび側面９ｃａと呼ぶ。

　撮像ヘッド５は図示省略の照明用光源を有していてもよい。この照明用光源は錠剤９へと光を照射する。これにより、撮像画像ＩＭ１における錠剤９の明るさを向上できる。

　また、図３および図４の例では、ミラー５３および角錐型ミラー５４によって光の経路を曲げているものの、必ずしもこれに限らない。光の経路を曲げる素子として、プリズムなどの他の光学素子を採用してもよい。

　＜検査＞
　制御部８は、撮像ヘッド５から入力される撮像画像ＩＭ１に対して画像処理を行い、撮像された錠剤９の外観検査を行う。よって、制御部８は画像処理部として機能することとなる。

　以下では、説明の簡単のために、一方向から見た錠剤９の外観について説明を行う。図６は、欠陥が生じている錠剤９を一方向から撮像した撮像画像ＩＭ１１の一例を概略的に示す図である。図６の例では、錠剤９の主面９ａａおよび側面９ｃａにはそれぞれ欠陥ｄ１，ｄ２が存在している。

　制御部８は、撮像画像ＩＭ１１において錠剤９の主面９ａａが占める主面領域Ｒａと、錠剤９の側面９ｃａが占める側面領域Ｒｃとを特定し、主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対してそれぞれ検査処理を行う。以下、より具体的に説明する。

　図７は、錠剤検査装置１における動作の一例を示すフローチャートである。まずステップＳ１にて、撮像ヘッド５は錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃの両方が写る方向から搬送途中の錠剤９を撮像して、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃの両方が写る撮像画像ＩＭ１１を生成する。撮像ヘッド５はこの撮像画像ＩＭ１１を制御部８へと出力する。

　次に制御部８は撮像画像ＩＭ１１における主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃを特定する。この特定は例えば図７のステップＳ２～Ｓ６の一連の処理によって実行される。

　まずステップＳ２にて、制御部８は撮像画像ＩＭ１１に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する。ただしここでは、制御部８は、背景領域ＢＲを削除した撮像画像ＩＭ１１に対してエッジ検出処理を行う。背景領域ＢＲとは、撮像画像ＩＭ１１において錠剤９が占める錠剤領域ＴＲ以外の領域である。この錠剤領域ＴＲは主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃによって構成される。

　背景領域ＢＲの削除のために、まず制御部８は撮像画像ＩＭ１１の錠剤領域ＴＲと背景領域ＢＲとを区別する。例えば制御部８は撮像画像ＩＭ１１に対する二値化処理を用いて、錠剤領域ＴＲと背景領域ＢＲとを区別する。背景領域ＢＲには、搬送ベルト４１が含まれているので、錠剤領域ＴＲと背景領域ＢＲとを精度よく区別するために、実際の搬送ベルト４１の色と錠剤９の色とのコントラストを大きくするとよい。例えば錠剤９が白色系である場合には、搬送ベルト４１を黒色とする。制御部８は背景領域ＢＲを特定すると、撮像画像ＩＭ１１において背景領域ＢＲを削除する。例えば制御部８は背景領域ＢＲ内の全ての画素の画素値を零にすることで、背景領域ＢＲを削除する。

　次に制御部８は、背景領域ＢＲを削除した撮像画像ＩＭ１１に対してエッジ検出処理を行って、エッジ画像を生成する。エッジ検出処理の具体的な処理方法は特に制限される必要は無いものの、その一例について簡単に説明する。例えば制御部８は除去後の撮像画像ＩＭ１１に対してエッジ強度処理を行って、エッジ強度画像を生成する。エッジ強度処理は例えば各画素間の画素値の差の算出処理を含み、これにより、撮像画像ＩＭ１１において画素間の画素値の差の大きい領域がエッジ強度画像において強調される。制御部８はこのエッジ強度画像において、画素値が所定のエッジ閾値よりも大きいか否かを画素ごとに判断する。エッジ閾値は例えば予め設定されて制御部８の記憶媒体に記憶されてもよい。制御部８はエッジ閾値よりも大きい画素値を有する画素を検出して、エッジ画像を生成する。

　このエッジ画像は背景領域ＢＲが除去された撮像画像ＩＭ１１に基づいて生成されるので、背景領域ＢＲ内のエッジ（例えば搬送ベルト４１の凹凸）はエッジ画像において検出されない。つまり、錠剤領域ＴＲの輪郭に対応するエッジ（以下、錠剤エッジと呼ぶ）はエッジ画像内のエッジ群のうち最外周に位置することになる。

　そこでステップＳ３にて、制御部８は錠剤エッジを次のように特定する。即ち、制御部８はエッジ画像におけるエッジ群のうち、最外周に位置するエッジを錠剤エッジＰ０（図８参照）として特定する。

　図８は、錠剤エッジＰ０の一例を模式的に示す図である。図８の例では、模式的に、錠剤エッジＰ０が複数のエッジに分割して示されている。この錠剤エッジＰ０は側面外側エッジＰ１と主面外側エッジＰ２と一対の側面稜線エッジＰ４によって構成されている。側面外側エッジＰ１は、錠剤９の主面９ｂの周縁のうち撮像画像ＩＭ１１に写っている部分に対応するエッジである。主面９ｂは円形状を有しているので、側面外側エッジＰ１は理想的には半楕円形状を有している。ここでいう半楕円形状とは、楕円をその長軸で２つに分割して得られる形状をいう。

　主面外側エッジＰ２は撮像画像ＩＭ１１における錠剤９の主面９ａａの周縁のうち側面９ｃａとは接していない部分に対応するエッジである。この主面外側エッジＰ２は錠剤９の主面９ａａの周縁のうち錠剤領域ＴＲの輪郭の一部に対応するエッジである、ともいえる。主面９ａは円形状を有しているので、主面外側エッジＰ２は理想的には半楕円形状を有している。より具体的には、側面外側エッジＰ１および主面外側エッジＰ２は互いに反対側に膨らむ半楕円形状を有している。

　一対の側面稜線エッジＰ４は理想的には直線状に延在しており、主面外側エッジＰ２の両端をそれぞれ側面外側エッジＰ１の両端に連結している。一対の側面稜線エッジＰ４は撮像画像ＩＭ１１における錠剤９の側面９ｃａの輪郭の一部に対応するエッジである。一対の側面稜線エッジＰ４はほぼ平行に延在しており、その延在方向は撮像ヘッド５の内部構成の配置によって予め決まっている。ここでは、側面稜線エッジＰ４は撮像画像ＩＭ１１内の横方向に対して略４５度で交差する方向に延在しているものとする。

　なお一対の側面稜線エッジＰ４は実際には完全な平行ではない。一対の側面稜線エッジＰ４は側面外側エッジＰ１側に向かうにしたがって互いに近づくように僅かに傾斜している。以下では簡単のために、一対の側面稜線エッジＰ４は平行であると仮定する。より厳密に考えるのであれば、以下で述べる側面稜線エッジＰ４の延在方向を、一対の側面稜線エッジＰ４の延在方向の二等分線で表される方向と把握すればよい。

　図８の例では、撮像画像ＩＭ１１における錠剤９の主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界に対応する境界エッジＰ３を破線で示している。言い換えれば、境界エッジＰ３は主面領域Ｒａと側面領域Ｒｃとの間の境界に対応するエッジである。境界エッジＰ３は理想的には、主面外側エッジＰ２とは反対側に膨らむ半楕円形状を有している。主面外側エッジＰ２および境界エッジＰ３の一組は錠剤９の主面９ａａの周縁に対応しており、理想的に楕円形状を呈する。以下では、主面外側エッジＰ２および境界エッジＰ３の一組を主面エッジＰ２３とも呼ぶ。

　再び図７を参照して、ステップＳ４にて、制御部８はステップＳ３で特定した錠剤エッジＰ０から、側面外側エッジＰ１および主面外側エッジＰ２を抽出する。例えば制御部８は錠剤エッジＰ０のうち、所定方向Ｄ１（＝側面稜線エッジＰ４の延在方向）に沿って延在するエッジを側面稜線エッジＰ４と特定する。そして制御部８は、錠剤エッジＰ０から側面稜線エッジＰ４を除いた２つのエッジのうち、所定側（図では右上側）にある一方を側面外側エッジＰ１と特定し、他方を主面外側エッジＰ２と特定する。

　次にステップＳ５にて、制御部８は境界エッジＰ３をエッジ画像から特定する。例えば、境界エッジＰ３の形状と側面外側エッジＰ１の形状との類似性を考慮して、以下で説明するように境界エッジＰ３を特定する。

　まず境界エッジＰ３と側面外側エッジＰ１との幾何学的な関係について述べる。境界エッジＰ３および側面外側エッジＰ１は同じ側に膨らむ半楕円形状を有している。またここでは錠剤９はさほど厚くないので、境界エッジＰ３および側面外側エッジＰ１はほぼ同一形状を有している、と考えることができる。つまり、境界エッジＰ３は側面外側エッジＰ１を所定方向Ｄ１に沿って主面外側エッジＰ２側へと、側面稜線エッジＰ４の長さの分だけ平行移動させた領域に存在している。側面稜線エッジＰ４の長さは錠剤９の厚みおよび撮像ヘッド５の内部構成の配置に応じて予め決まっているので、側面外側エッジＰ１が特定されれば、境界エッジＰ３が存在する領域を推定することができる。

　そこで制御部８は、側面外側エッジＰ１から所定方向Ｄ１に沿って主面外側エッジＰ２側へと所定距離だけ離れた探索領域Ｒ１（図９も参照）内の画素を探索して境界エッジＰ３を特定する。図９は、探索領域Ｒ１の一例を模式的に示す図である。この探索領域Ｒ１の一例を説明するにあたって、その探索領域Ｒ１の中心線Ｌ０と、探索領域Ｒ１の輪郭を形成する線Ｌ１～Ｌ４とを導入する。

　中心線Ｌ０は側面外側エッジＰ１を側面稜線エッジＰ４の長さの分だけ、所定方向Ｄ１に沿って主面外側エッジＰ２側へと移動させた線である。なお図９の例では、模式的に中心線Ｌ０と境界エッジＰ３とを一つの曲線で示しているものの、実際にはこれらは相違し得る。

　線Ｌ１，Ｌ２は、中心線Ｌ０を所定方向Ｄ１に沿って互いに反対側へと所定幅だけ移動させた線である。図９では、線Ｌ１は線Ｌ２よりも側面外側エッジＰ１に近い。線Ｌ３，Ｌ４は所定方向Ｄ１に沿って延在しており、それぞれ線Ｌ１，Ｌ２の両端を連結する。探索領域Ｒ１はこれらの線Ｌ１～Ｌ４の一組によって囲まれた領域である。

　以下では説明の便宜上、探索領域Ｒ１において所定方向Ｄ１に沿って並ぶ画素群を、「行」と呼ぶ。

　図１０は、制御部８の探索処理の一例を示すフローチャートである。まずステップＳ５１にて、制御部８は値Ｎ，Ｍをそれぞれ１に初期化する。値Ｎは探索領域Ｒ１内の行の番号を示しており、値Ｍはその行に属する画素の番号を示している。第１番目の画素は線Ｌ１上の画素であり、第Ｍ番目の画素は各行において第（Ｍ－１）番目の画素の隣の画素である。

　次にステップＳ５２にて、制御部８はエッジ画像の探索領域Ｒ１内の第Ｎ行第Ｍ番目の画素がエッジを示すか否かを判断する。否定的な判断がなされたときには、ステップＳ５３にて、制御部８は値Ｍに１を加算して値Ｍを更新し、更新後の値Ｍを用いて再びステップＳ５２を実行する。つまり、エッジを示す画素（以下、エッジ画素とも呼ぶ）を検出できなければ、次の画素について同様の判断を行うのである。

　ステップＳ５２において肯定的な判断がなされたときには、ステップＳ５４にて、制御部８はその画素を境界エッジＰ３の構成要素として把握する。次にステップＳ５５にて、制御部８は値Ｎに１を加算して値Ｎを更新し、値Ｍを１に初期化する。次にステップＳ５６にて、制御部８は値Ｎが基準値Ｎｒｅｆよりも大きいか否かを判断する。基準値Ｎｒｅｆは探索領域Ｒ１に含まれる行の総数である。つまり、制御部８は全ての行を探索したか否かを判断する。全ての行を探索してないと判断したときには、制御部８はステップＳ５２を再び実行する。全ての行を探索したと判断したときには、制御部８は探索処理を終了する。

　以上のように、制御部８は探索領域Ｒ１内の各行において、線Ｌ１から画素を順次に選択し、最初に検出したエッジ画素を境界エッジＰ３の構成要素として特定する。なお図９の例示では、画素の探索方向を探索領域Ｒ１内の実線矢印で模式的に示しており、矢印の終点は、境界エッジＰ３の構成要素を示している。

　制御部８は、ステップＳ４で特定した主面外側エッジＰ２およびステップＳ５で特定した境界エッジＰ３の一組を、主面エッジＰ２３として特定する。

　以上のように、本実施の形態によれば、主面エッジＰ２３を適切かつ容易に得ることができる。

　ところで、この主面エッジＰ２３は撮像画像ＩＭ１１における錠剤９の主面９ａａの周縁に対応するものの、実際に検出された主面エッジＰ２３は理想的な楕円形状を呈するとは限らない。例えば錠剤９の主面９ａの周縁近傍に照射される光にむらが生じていたり、あるいは、当該周縁近傍の一部から正反射した光が検査カメラ５１に結像されて、一部の画素値が他の画素値に比べて非常に大きな値を有している場合がある。あるいは、当該周縁近傍に欠陥が生じている場合もある。このような場合には、主面エッジＰ２３は理想的な楕円形状と相違し得る。

　そこでステップＳ６にて、制御部８は楕円の関数に基づいて、主面エッジＰ２３に近似する近似線（楕円）を主面領域Ｒａの輪郭として算出する。より一般的に説明すれば、制御部８は撮像画像ＩＭ１１における主面領域Ｒａの輪郭の形状として予め決められた基準関数に基づいて、主面エッジＰ２３の近似線を主面領域Ｒａの輪郭として算出する。ここでいう基準関数とは、主面領域Ｒａの輪郭の形状を表す関数であって、その位置および大きさが変数となる関数をいう。楕円の関数であれば、例えばその長軸の長さ、短軸の長さ、長軸の延在方向、および、中心などを変数として採用できる。制御部８は例えば最小二乗法により主面エッジＰ２３に近似する楕円Ｅ１（より具体的にはその長軸の長さ、短軸の長さ、長軸の延在方向および中心）を算出する。

　以上のように、主面領域Ｒａの輪郭を示す関数に基づいて主面エッジＰ２３の近似線を主面領域Ｒａの輪郭として算出しているので、より高い精度で主面領域Ｒａの輪郭を特定することができる。また上述の具体例では、錠剤９が略円盤形状を有している。つまり、錠剤９の主面９ａが略円形状を有している。よって、撮像画像ＩＭ１１において主面９ａａの周縁は理想的には楕円形状を有する。これに対応して、楕円の関数が主面領域Ｒａの輪郭を示す関数として用いられている。したがって、適切に主面領域Ｒａの輪郭を特定することができる。

　以下では、楕円Ｅ１をその長軸で分割して得られる２つの半楕円のうち、側面９ｃａ側の半楕円を半楕円Ｅ１１とも呼ぶ。この半楕円Ｅ１１は境界エッジＰ３の近似線に相当することになる。

　次にステップＳ７にて、制御部８は側面外側エッジＰ１に近似する近似線（半楕円）を楕円Ｅ１に基づいて算出する。例えば制御部８は楕円Ｅ１を所定方向Ｄ１に沿って移動させながらレーベンバーグ・マルカート(LM)法を用いて、側面外側エッジＰ１に沿う楕円Ｅ２を算出する。この楕円Ｅ２は錠剤９の主面９ｂの周縁に相当する。よって、制御部８はこの楕円Ｅ２をその長軸で分割し、得られた２つの半楕円のうち、境界エッジＰ３よりも遠い方にある半楕円Ｅ２１を側面外側エッジＰ１の近似線として求める。

　制御部８はこの楕円Ｅ２の算出に際して、楕円Ｅ１を所定の割合で縮小させてもよい。撮像画像ＩＭ１１のような斜視図において、錠剤９の主面９ｂの周縁は錠剤９の主面９ａの周縁よりも所定割合で小さくなるからである。この所定割合は錠剤９の厚みに応じて予め設定される。

　なお制御部８は必ずしも楕円Ｅ１に基づいて楕円Ｅ２を算出し、楕円Ｅ２から半楕円Ｅ２１を算出する必要はない。例えば制御部８は楕円Ｅ１から半楕円Ｅ１１を求め、この半楕円Ｅ１１を所定方向Ｄ１に沿って移動させながらＬＭ法を用いて半楕円Ｅ２１を算出してもよい。また半楕円Ｅ２１の算出に当たって半楕円Ｅ１１を所定割合で縮小しても構わない。

　制御部８は、半楕円Ｅ１１，Ｅ２１の両端をそれぞれ連結する一対の直線を算出し、半楕円Ｅ１１，Ｅ２１および当該一対の直線を、錠剤９の側面９ｃａが占める側面領域Ｒｃの輪郭として把握する。

　このように境界エッジＰ３および側面外側エッジＰ１に近似する近似線（半楕円Ｅ１１，Ｅ２１）を側面領域Ｒｃの輪郭の一部として採用しているので、より高い精度で側面領域Ｒｃを特定することができる。

　次にステップＳ８にて、制御部８は撮像画像ＩＭ１１における主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して検査処理（画像処理）を行う。以下、検査処理の具体例について述べる。

　＜第１検査処理（エッジ強度処理）＞
　さて、撮像画像ＩＭ１１において欠陥ｄ１（図６参照）が占める領域と、その欠陥ｄ１の周囲の領域との境界部では、画素間の画素値の差が大きくなる。同様に、撮像画像ＩＭ１１において欠陥ｄ２が占める領域と、その欠陥ｄ２の周囲の領域との境界部では、画素間の画素値の差が大きくなる。

　そこで制御部８は次のように欠陥を検出してもよい。即ち、制御部８は撮像画像ＩＭ１１の主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対してエッジ強度処理を行ってエッジ強度画像を生成する。なお上述のように、エッジ画像の生成の途中でエッジ強度画像が既に生成されている場合には、そのエッジ強度画像を用いればよい。

　制御部８はエッジ強度画像の主面領域Ｒａにおける画素値が閾値（以下、欠陥閾値と呼ぶ）Ｔｈ１よりも大きいか否かを画素ごとに判断し、肯定的な判断がなされたときに、その画素は欠陥の輪郭を示していると判断する。当該画素は主面領域Ｒａ内にあるので、制御部８は錠剤９の主面９ａに欠陥が生じていると判断してもよい。側面領域Ｒｃについても同様である。これにより、欠陥ｄ１，ｄ２を検出することができる。

　この欠陥閾値Ｔｈ１は撮像画像ＩＭ１１の主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃにおいて互いに独立して設定されることが望ましい。以下、その理由について述べる。

　例えば錠剤９の表面状態（例えば表面粗さ）は主面９ａおよび側面９ｃにおいて相違する場合がある。例えば錠剤９の主面９ａの表面粗さが側面９ｃの表面粗さよりも小さい場合、撮像画像ＩＭ１１の主面領域Ｒａ内の輝度成分の画素間のばらつきは、側面領域Ｒｃ内の輝度成分のばらつきよりも小さくなる。この画素間のばらつきはエッジ強度画像において各画素の画素値として定量化される。よって、錠剤９が良品であれば、エッジ強度画像の主面領域Ｒａ内の画素の値の最大値Ｍａはエッジ強度画像の側面領域Ｒｃ内の画素の値の最大値Ｍｃよりも小さくなる。

　ここで、主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して共通の欠陥閾値Ｔｈ１を設定することを考慮する。例えば欠陥閾値Ｔｈ１を側面領域Ｒｃに応じて最大値Ｍｃよりも大きい値に設定すると、主面領域Ｒａに対して不要に大きな値を設定することになる。これによれば、錠剤９の主面９ａに対する欠陥検出に漏れが生じ得る。逆に、欠陥閾値Ｔｈ１を主面領域Ｒａに応じて小さい値に設定すると、錠剤９の側面９ｃの表面粗さを欠陥として誤検出し得る。

　そこで、主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して欠陥閾値Ｔｈ１を互いに独立して設定する。上述の例では、表面粗さが小さい主面９ａが写る主面領域Ｒａに対する欠陥閾値Ｔｈ１（以下、欠陥閾値Ｔｈ１１と呼ぶ）を、表面粗さが大きい側面９ｃが写る側面領域Ｒｃに対する欠陥閾値Ｔｈ１（以下、欠陥閾値Ｔｈ１２と呼ぶ）よりも小さく設定する。つまり、制御部８は主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して、互いに異なる欠陥閾値Ｔｈ１を用いた検査処理をそれぞれ実行する。

　より具体的には、制御部８はエッジ強度画像の主面領域Ｒａの各画素の値が欠陥閾値Ｔｈ１１よりも大きいか否かを判断する。言い換えれば、制御部８は主面領域Ｒａに対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の値が欠陥閾値Ｔｈ１１よりも大きいか否かを判断する。制御部８はある画素の値が欠陥閾値Ｔｈ１１よりも大きいと判断したときに、その画素が欠陥の輪郭を示していると判断し、錠剤の主面９ａに欠陥が生じていると判断する。

　なお制御部８は主面領域Ｒａ内の全ての画素に対して上記判断を行って全ての欠陥を検出してもよい。あるいは、単に錠剤９の欠陥の有無を判断するのであれば、一つの欠陥を検出したときに、残りの画素についての上記判断を省略してよい。この点は、以下で述べる検査処理でも同様である。

　また制御部８はエッジ強度画像の側面領域Ｒｃの各画素の値が、欠陥閾値Ｔｈ１１よりも大きな欠陥閾値Ｔｈ１２よりも大きいか否かを判断する。言い換えれば、制御部８は側面領域Ｒｃに対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の値が欠陥閾値Ｔｈ１２よりも大きいか否かを判断する。制御部８はある画素の値が欠陥閾値Ｔｈ１２よりも大きいと判断したときに、その画素が欠陥の輪郭を示していると判断し、錠剤の側面９ｃに欠陥が生じていると判断する。

　これにより、主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃにおける欠陥漏れおよび欠陥の誤検出を抑制して、高い精度で欠陥を検出できる。

　欠陥閾値Ｔｈ１は例えば予め設定されて制御部８の記憶媒体に記憶されていてもよい。あるいは、制御部８は良品と判断した錠剤９についての主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃの画素値に応じて、欠陥閾値Ｔｈ１を自動で設定してもよい。具体的には、例えば制御部８は良品と判断された錠剤９の側面領域Ｒｃにおける最大値Ｍｃよりも所定値だけ大きな値を、側面領域Ｒｃに対する欠陥閾値Ｔｈ１１に採用してもよい。同様に、制御部８は良品と判断された錠剤９の主面領域Ｒａにおける最大値Ｍａよりも所定値だけ大きな値を、主面領域Ｒａに対する欠陥閾値Ｔｈ１２に採用してもよい。

　なお錠剤９の主面９ａの表面粗さが側面９ｃの表面粗さよりも大きい場合には、主面領域Ｒａに対する欠陥閾値Ｔｈ１１を側面領域Ｒｃに対する欠陥閾値Ｔｈ１２よりも大きく設定すればよい。

　＜第２検査処理＞
　制御部８は上述の第１検査処理に替えて、あるいは、第１検査処理と共に、以下で述べる第２検査処理を行ってもよい。

　さて、欠陥ｄ１，ｄ２が例えば黒色系の付着物である場合、この欠陥ｄ１，ｄ２に対応する領域の画素値は他の領域の画素値よりも小さくなる。そこで制御部８は次のようにして欠陥を検出してもよい。即ち、制御部８は撮像画像ＩＭ１１の主面領域Ｒａにおける画素値が欠陥閾値Ｔｈ２よりも小さいか否かを画素ごとに判断し、肯定的な判断がなれたときに、その画素は欠陥を示していると判断する。当該画素は主面領域Ｒａ内にあるので、制御部８は錠剤９の主面９ａに欠陥が生じていると判断してもよい。側面領域Ｒｃについても同様である。これにより、欠陥ｄ１，ｄ２を検出することができる。

　この欠陥閾値Ｔｈ２も主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して互いに独立して設定されることが望ましい。以下、その理由について述べる。

　撮像画像ＩＭ１１の主面領域Ｒａ内の明るさ（輝度の平均）が側面領域Ｒｃ内の明るさと相違する場合がある。なぜなら、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃに対する光の当り方が異なり得るからである。以下では、代表的に主面領域Ｒａが側面領域Ｒｃよりも明るい場合について説明する。

　まず、撮像画像ＩＭ１１における主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して共通の欠陥閾値Ｔｈ２を設定することを考慮する。この場合、側面領域Ｒｃにおいて単に暗い部分を欠陥として誤検出することを抑制すべく欠陥閾値Ｔｈ２を小さくすると、明るい主面領域Ｒａにおいて検出漏れが生じ得る。逆に、主面領域Ｒａにおける検出漏れを抑制すべく、欠陥閾値Ｔｈ２を大きくすると、側面領域Ｒｃにおいて単に暗い部分を欠陥として誤検出し得る。

　そこで、撮像画像ＩＭ１１における主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して欠陥閾値Ｔｈ２を互いに独立して設定する。上述の例では、明るい主面９ａが写る主面領域Ｒａに対する欠陥閾値Ｔｈ２（以下、欠陥閾値Ｔｈ２１と呼ぶ）を、暗い側面９ｃが写る側面領域Ｒｃに対する欠陥閾値Ｔｈ２（以下、欠陥閾値Ｔｈ２２と呼ぶ）よりも大きく設定する。つまり、制御部８は撮像画像ＩＭ１１における主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して、互いに異なる欠陥閾値Ｔｈ２を用いた検査処理をそれぞれ実行する。

　より具体的には、制御部８は撮像画像ＩＭ１１の主面領域Ｒａの各画素の値が欠陥閾値Ｔｈ２１よりも小さいか否かを判断する。制御部８はある画素の値が欠陥閾値Ｔｈ２１よりも小さいと判断したときに、その画素が欠陥を示していると判断し、錠剤の主面９ａに欠陥が生じていると判断する。

　また制御部８は撮像画像ＩＭ１１の側面領域Ｒｃの各画素の値が、欠陥閾値Ｔｈ２１よりも小さな欠陥閾値Ｔｈ２２よりも小さいか否かを判断する。制御部８はある画素の値が欠陥閾値Ｔｈ２２よりも小さいと判断したときに、その画素が欠陥を示していると判断し、錠剤の側面９ｃに欠陥が生じていると判断する。

　欠陥閾値Ｔｈ２は例えば予め設定されていてもよく、あるいは、良品と判断された錠剤９についての主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃの明るさに応じて設定されてもよい。後者の場合、例えば制御部８は良品と判断された錠剤９の撮像画像ＩＭ１１の側面領域Ｒｃにおける画素値の最小値よりも所定値だけ小さい値を、側面領域Ｒｃに対する欠陥閾値Ｔｈ２１に採用し、主面領域Ｒａにおける画素値の最小値よりも所定値だけ小さい値を、主面領域Ｒａに対する欠陥閾値Ｔｈ２２に採用してもよい。

　なお主面領域Ｒａが側面領域Ｒｃよりも暗い場合には、主面領域Ｒａに対する欠陥閾値Ｔｈ２１を側面領域Ｒｃに対する欠陥閾値Ｔｈ２２よりも小さく設定すればよい。

　また上述の例では、主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して異なる閾値で同種の検査処理を行っているものの、主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対して異なる種類の検査処理を行ってもよい。

　また上述の例では、側面領域Ｒｃの全体に対して検査処理を行うものの、側面領域Ｒｃのうち一対の側面稜線エッジＰ４にそれぞれ近い両端領域は検査処理の対象から除いてもよい。両端領域における側面９ｃの表面状態は撮像画像ＩＭ１１において視認しにくいからである。

　また上述の例では、探索領域Ｒ１の中心線Ｌ０は側面外側エッジＰ１を移動させて得られた線であると説明したが、この移動に際して側面外側エッジＰ１を所定倍率で拡大しても構わない。厳密には、境界エッジＰ３は側面外側エッジＰ１よりも所定倍率で大きいからである。

　また上述の例では、一方向から見た錠剤９の撮像画像について説明したものの、複数方向から見た錠剤９の撮像画像に対しても同様の処理を行ってもよい。

　第２の実施の形態．
　第１の実施の形態では、探索領域Ｒ１の各行における探索で最初に検出されたエッジ画素を境界エッジＰ３の構成要素として把握した。この場合、撮像画像ＩＭ１１において錠剤９の主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界に欠陥が生じていれば、楕円Ｅ１の算出精度が低下し得る。以下、具体的に説明する。

　図１１は、錠剤９の主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界に欠けが生じたときの、エッジ画像におけるエッジの一例を概略的に示す図である。図１１に例示するように、錠剤９に生じた欠けの輪郭に沿ってエッジＰ’が検出されている。図１１の例示では、エッジＰ’を太線で模式的に示している。第１の実施の形態で述べた探索処理によれば、エッジＰ’のうち線Ｌ１側のエッジ上の画素が境界エッジＰ３の構成要素として把握されることになる。図１１の例においては、境界エッジＰ３の構成要素として把握される画素のいくつかを模式的に黒丸で示している。つまり、境界エッジＰ３の構成要素がエッジＰ’のうち線Ｌ１側のエッジＰｃ’に偏ってしまう。したがって、境界エッジＰ３に近似する半楕円Ｅ１１は錠剤９の主面９ａａの周縁からずれやすい。つまり、主面領域Ｒａの特定精度が低下し得る。

　第２の実施の形態では、主面領域Ｒａの特定精度を更に向上することを企図する。具体的には、撮像画像ＩＭ１１における欠陥領域の画素値の分布に着目して、境界エッジＰ３の構成要素がエッジＰ’のうちエッジＰｃ’と、線Ｌ２側のエッジＰａ’に分散されるように、境界エッジＰ３を特定することを企図する。

　第２の実施の形態にかかる錠剤検査装置１の構成は第１の実施の形態と同様である。ただし、制御部８による境界エッジＰ３の特定方法が第１の実施の形態と相違する。

　さて、錠剤９の欠けの表面は主面９ａおよび側面９ｃの表面粗さに比べて粗く、撮像画像ＩＭ１１における欠陥領域内の輝度成分はばらついている。よって、欠陥領域の輪郭（エッジＰ’）においても輝度成分はばらついている。したがって、撮像画像ＩＭ１１におけるエッジＰａ’上の画素値もある範囲でばらついており、エッジＰｃ’上の画素値も同様の範囲内でばらついている。

　そこで、制御部８は、エッジ画像の探索領域Ｒ１内の画素であって、対応する撮像画像ＩＭ１１における画素値が所定の閾値（以下、明るさ閾値と呼ぶ）よりも大きい画素を探索する。この明るさ閾値は錠剤９の主面９ａａの明るさに応じて予め設定される。例えば明るさ閾値は上記範囲内の値に予め設定される。このような明るさ閾値は例えばシミュレーションまたは実験等によって設定することができる。明るさ閾値は例えば制御部８の記憶媒体に記憶されていてもよい。以下、具体的な動作の一例について説明する。

　図１２は、制御部８による探索処理の一例を示すフローチャートである。図１０と比較して、制御部８はステップＳ５７を更に実行する。このステップＳ５７はステップＳ５２において肯定的な判断がなされたときに実行される。ステップＳ５７では、制御部８は撮像画像ＩＭ１１の探索領域Ｒ１における第Ｎ行第Ｍ番目の画素の画素値が明るさ閾値よりも大きいか否かを判断する。

　ステップＳ５７にて否定的な判断がなされたときには、制御部８はステップＳ５３を実行し、肯定的な判断がなされたときには、制御部８はステップＳ５４を実行する。

　これによれば、たとえ探索領域Ｒ１内のエッジ画素であっても、そのエッジ画素に対応する撮像画像ＩＭ１１の画素の画素値が明るさ閾値よりも小さい場合には、そのエッジ画素は境界エッジＰ３の構成要素とは把握されず、撮像画像ＩＭ１１の当該画素の画素値が明るさ閾値よりも大きい場合に、そのエッジ画像が境界エッジＰ３の構成要素と把握される。

　この結果、境界エッジＰ３の構成要素として把握される画素がエッジＰ’上で分散される。図１３は、錠剤９の主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界に欠けが生じたときの、エッジ画像におけるエッジの一例を概略的に示す図である。図１３の例でも、境界エッジＰ３として把握される画素のいくつかが模式的に黒丸で示されている。図１３に例示するように、当該画素はエッジＰ’のエッジＰａ’，Ｐｃ’に分散される。言い換えれば、境界エッジＰ３として把握される画素がエッジＰ’において一方側のみに偏らないように明るさ閾値が設定される。より具体的な一例として、錠剤９の主面９ａａの明るさ（例えば画素値（あるいは輝度値）の平均値、中央値、最大値または最小値など、以下、同様）が錠剤９の側面９ｃａの明るさよりも高い場合には、当該明るさ閾値として主面９ａａの明るさを採用し、錠剤９の主面９ａａの明るさが錠剤９の側面９ｃａの明るさよりも低い場合には、当該明るさ閾値として側面９ｃａの明るさを採用する。

　このような境界エッジＰ３に近似する半楕円Ｅ１１は錠剤９の主面９ａａの周縁により近い半楕円となる。ひいては、より高い精度で主面領域Ｒａを特定することができる。

　第３の実施の形態．
　第３の実施の形態にかかる錠剤検査装置１の構成は第１の実施の形態と同様である。ただし、制御部８は撮像画像ＩＭ１１における主面領域Ｒａを複数の領域に分割する。

　図１４は、錠剤９の他の一例である錠剤９Ａの一例を概略的に示す図である。錠剤９Ａの主面９ａには割線９１が形成されている。割線９１は主面９ａの中心を通って主面９ａの端から端まで直線状に延びる溝である。

　このような錠剤９Ａを撮像した撮像画像ＩＭ１１’（図１５参照）においては、割線９１に相当する領域では他の領域に比べて画素値の差が大きい。よって、割線９１を欠陥として誤検出し得る。

　そこで第３の実施の形態では、主面領域Ｒａを割線領域と非割線領域とに分割し、各領域に対して欠陥閾値Ｔｈ１（あるいは欠陥閾値Ｔｈ２）を独立して設定することを企図する。

　なお図１４の例では、錠剤９の主面９ａは周縁部９ａ１および中央部９ａ２を有している。主面９ａの中央部９ａ２は割線９１を除いて平坦であり、周縁部９ａ１は中央部９ａ２が周縁部９ａ１に対して盛り上がるように傾斜している。

　このような錠剤９Ａを撮像した撮像画像ＩＭ１１’では、周縁部９ａ１と中央部９ａ２との間の境界近傍の領域では他の領域に比べて画素間の画素値の差が大きく、当該境界を欠陥として誤検出し得る。

　そこでここでは、制御部８は主面領域Ｒａを割線領域、周縁領域および中央領域に分割し、各領域に対して欠陥閾値Ｔｈ１（あるいは欠陥閾値Ｔｈ２）を独立して設定することを企図する。

　図１５は、主面領域Ｒａの分割例を概略的に示す図である。図１５に例示するように、制御部８は主面領域Ｒａを割線領域Ｒａ１と一対の周縁領域Ｒａ２と一対の中央領域Ｒａ３とに分割する。図１５の例では、割線領域Ｒａ１、周縁領域Ｒａ２および中央領域Ｒａ３の相互の境界を破線で示している。割線領域Ｒａ１は割線９１を含む領域であり、周縁領域Ｒａ２は割線領域Ｒａ１以外の領域であって、錠剤９の周縁部９ａ１と中央部９ａ２との境界を含む領域である。中央領域Ｒａ３は割線領域Ｒａ１でも周縁領域Ｒａ２でもない領域である。周縁領域Ｒａ２および中央領域Ｒａ３は割線領域Ｒａ１を含まない領域であるので、周縁領域Ｒａ２および中央領域Ｒａ３の一組は非割線領域を構成している。

　図１６は、第３の実施の形態にかかる錠剤検査装置１の動作の一例を示すフローチャートである。ステップＳ１１～Ｓ１７はそれぞれステップＳ１～Ｓ７と同様であるので、詳細な説明を省略する。

　ステップＳ１７の次のステップＳ１８にて、制御部８は、主面領域Ｒａを割線領域Ｒａ１、周縁領域Ｒａ２および中央領域Ｒａ３に分割する。以下、具体的に説明する。

　まず制御部８は楕円Ｅ１の中心を縮小中心として楕円Ｅ１を所定の第１割合で縮小して楕円Ｅ３を算出する。第１割合は予め設定されて制御部８の記憶媒体に記憶されていてよい。第１割合は例えば１／２以下であって、より具体的な一例として３分の１である。そして、制御部８はエッジ画像における楕円Ｅ３内のエッジの一群に対して画像モーメントを求め、当該エッジの一群の延びる方向を求める。当該エッジの一群は主として割線９１に対応するエッジで構成されるので、楕円Ｅ３内のエッジの一群の延びる方向は割線９１の延びる方向であると把握できる。簡単には、当該エッジの一群を楕円に見立てて、その楕円の長軸の傾きを割線９１の延びる方向と把握すればよい。以下の式は、楕円の長軸のｘ軸に対する角度θを示している。ここでいうｘ軸は撮像画像ＩＭ１１’の横方向であり、ｙ軸は撮像画像ＩＭ１１’の縦方向である。

　（ｘ，ｙ）はエッジ画像の楕円Ｅ３内における各エッジ画素の座標を示し、θは楕円の長軸とｘ軸との間の角度を示す。式（１）～式（３）はそれぞれｘ軸方向の分散、ｙ軸方向の分散、ｘｙ軸の共分散を示す。

　制御部８は、算出した割線９１の延在方向に平行な直線であって楕円Ｅ１の中心を通る直線から、それぞれ両側に所定幅だけ広げた領域を割線領域Ｒａ１として特定する。所定幅は予め設定されて、制御部８の記憶媒体に記憶されていてもよい。割線領域Ｒａ１は主面領域Ｒａの端から端まで延びる領域である。

　次に制御部８は楕円Ｅ１の中心を縮小中心として楕円Ｅ１を所定の第２割合で縮小して楕円Ｅ４を算出する。第２割合は第１割合よりも大きく、楕円Ｅ４が主面９ａａの周縁部９ａ１と中央部９ａ２との境界よりも内側となるように設定される。この第２割合も制御部８の記憶媒体に記憶されていてもよい。制御部８は楕円Ｅ４内の領域のうち割線領域Ｒａ１以外の領域を一対の中央領域Ｒａ３として特定する。

　次に制御部８は、割線領域Ｒａ１および一対の中央領域Ｒａ３の全体を主面領域Ｒａから除いた領域を一対の周縁領域Ｒａ２として特定する。

　次にステップＳ１９にて、制御部８は主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃに対してそれぞれ画像処理を行って検査処理を行う。側面領域Ｒｃについては第１の実施の形態と同様である。

　主面領域Ｒａについては、割線領域Ｒａ１、周縁領域Ｒａ２および中央領域Ｒａ３に対してそれぞれ異なる欠陥閾値Ｔｈ１を採用する。なおここでは、錠剤９の主面９ａにおいて周縁部９ａ１と中央部９ａ２との間の境界がなす角部は、割線９１の角部よりも緩やかである。この場合、例えば割線領域Ｒａ１に対する欠陥閾値Ｔｈ１を非割線領域（周縁領域Ｒａ２および中央領域Ｒａ３）に対する欠陥閾値Ｔｈ１よりも高く設定する。また非割線領域においては、周縁領域Ｒａ２に対する欠陥閾値Ｔｈ１を中央領域Ｒａ３に対する欠陥閾値Ｔｈ１よりも高く設定する。

　以上のように、割線領域Ｒａ１に対する欠陥閾値Ｔｈ１を最も高く設定し、周縁領域Ｒａ２に対する欠陥閾値Ｔｈ１を次に高く設定し、中央領域Ｒａ３に対する欠陥閾値Ｔｈ１を最も低く設定する。

　制御部８はエッジ強度画像の割線領域Ｒａ１における各画素の画素値が割線領域Ｒａ１の欠陥閾値Ｔｈ１よりも大きいときに、割線領域Ｒａ１において欠陥が生じていると判断する。非割線領域（周縁領域Ｒａ２および中央領域Ｒａ３の一組）についても同様である。具体的には、制御部８はエッジ強度画像の周縁領域Ｒａ２における各画素の画素値が周縁領域Ｒａ２の欠陥閾値Ｔｈ１よりも大きいときに、周縁領域Ｒａ２において欠陥が生じていると判断する。また制御部８はエッジ強度画像の中央領域Ｒａ３における各画素の画素値が中央領域Ｒａ３の欠陥閾値Ｔｈ１よりも大きいときに、中央領域Ｒａ３において欠陥が生じていると判断する。

　これにより、第１の実施の形態と同様に、各領域における欠陥漏れおよび欠陥の誤検出を抑制して、高い精度で欠陥を検出できる。

　＜探索＞
　図１４の例では、錠剤９Ａの主面９ａには、割線９１が形成され、また周縁部９ａ１と中央部９ａ２とが鈍角の角を形成している。よって錠剤９Ａが良品であっても、エッジ画像の主面領域Ｒａ内にはエッジが含まれる。その一方で錠剤９Ａが良品であれば、錠剤９Ａの側面９ｃには角部が形成されていないので、エッジ画像の側面領域Ｒｃ内にはエッジが形成されない。したがって、境界エッジＰ３の特定において、第１の実施の形態で述べたように、制御部８は探索領域Ｒ１を側面外側エッジＰ１から主面外側エッジＰ２へと向かう方向で画素を探索するとよい。これによれば、周縁部９ａ１と中央部９ａ２との境界に対応するエッジ、および、割線９１に対応するエッジを、境界エッジＰ３として誤検出することを回避できる。

　第４の実施の形態．
　ごみ等の異物が撮像装置（例えば撮像ヘッド５）の内部に進入し、例えばレンズ等に付着することがある。この場合、実際には錠剤９に欠陥が生じていなくても、撮像画像ＩＭ１において当該異物が錠剤と重なって写る場合がある。この場合、当該異物が欠陥として誤検出される。

　またカメラの撮像面を構成する複数の受光素子のうちいくつかが故障することもある。故障した受光素子に対応する画素の画素値は正常値を示さずに例えば零となる。この画素が撮像画像において錠剤の内部に位置している場合には、実際には錠剤９に欠陥が生じていなくても、当該画素が欠陥として誤検出される。

　そこで、第４の実施の形態では、欠陥の誤検出を抑制できる錠剤検査方法および錠剤検査装置を提供することを企図する。

　第４の実施の形態にかかる錠剤検査装置１の構成の一例は第１の実施の形態と同様である。なお、第１の実施の形態では、撮像ヘッド５は必ずしも複数の撮像方向から錠剤９を撮像する必要はないものの、第４の実施の形態では、撮像ヘッド５は複数の撮像方向から錠剤９を撮像することが必須である。また第４の実施の形態にかかる制御部８の機能および動作は、後に詳述するように、第１の実施の形態と相違する。

　図１７は、撮像画像ＩＭ１の一例を概略的に示す図である。撮像画像ＩＭ１には、４つの撮像方向から見た錠剤９の外観をそれぞれ写す４つの画像ＩＭ１１～ＩＭ１４が含まれており、これらのいずれにおいても、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃが写っている。ここでは４方向から錠剤９を撮像するので、錠剤９の側面９ｃを全周に亘って撮像することができる。

　図１７の例示では、錠剤９の主面９ａの全領域が４つの画像ＩＭ１１～ＩＭ１４（検査画像に相当）のいずれにも写っている。よって、主面９ａは画像ＩＭ１１～ＩＭ１４に共通して写る共通面である。一方で、錠剤９の側面９ｃでは、撮像方向に応じた領域がそれぞれ画像ＩＭ１１～ＩＭ１４に写る。また図１７の例では、撮像画像ＩＭ１には欠陥候補ｄＡ１，ｄＡ２が写っている。ここでいう欠陥候補とは、錠剤９の欠陥である可能性のある候補である。

　図１７の例では、この欠陥候補ｄＡ１は画像ＩＭ１１～ＩＭ１４のいずれにも共通に写っているので、錠剤９に生じた欠陥であるといえる。一方で、欠陥候補ｄＡ２は一つの画像ＩＭ１２のみに写っており、他の画像ＩＭ１１，ＩＭ１３，ＩＭ１４には写っていない。この欠陥候補ｄＡ２は錠剤９に生じた欠陥ではなく、撮像ヘッド５に起因して生じたものといえる。例えば、欠陥候補ｄＡ２はレンズ群５２、ミラー５３または角錐型ミラー５４の異常（例えば付着物）、あるいは、検査カメラ５１の撮像面の異常を示す、と考えられる。よって、欠陥候補ｄＡ２を錠剤９の欠陥として検出することは好ましくない。

　＜検査＞
　図１８は、錠剤検査装置１における動作の一例を示すフローチャートである。まずステップＳＡ１にて、撮像ヘッド５は複数の撮像方向から搬送途中の錠剤９を撮像して、撮像画像ＩＭ１を生成する。撮像ヘッド５はこの撮像画像ＩＭ１を制御部８へと出力する。

　次にステップＳＡ２にて、制御部８は検査処理（画像処理）を撮像画像ＩＭ１に対して行う。つまり制御部８は画像ＩＭ１１～ＩＭ１４に対して検査処理を行う。

　この検査処理の具体的な例は後に述べるものの、ここではまず、その概要について簡単に説明する。例えば制御部８は検査処理として特定処理および候補検出処理を行う。特定処理は、各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において錠剤９が占める錠剤領域を特定する処理である。これにより、錠剤領域の位置および形状が画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の各々において特定される。

　候補検出処理は、各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において欠陥候補を検出する処理である。候補検出処理は、例えば各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の各画素の画素値に基づいてその画素が欠陥候補を示す画素であるか否かを判別する処理を含み、その判別結果として欠陥候補が検出される。

　上記特定処理によって、各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４における錠剤９の錠剤領域が特定され、上記候補検出処理によって、各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４における欠陥候補の位置が特定されるので、錠剤領域に対する欠陥候補の位置が各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において特定される。つまり、その錠剤９上における欠陥候補の位置が画像ＩＭ１１～ＩＭ１４ごとに特定される。したがって、この検査処理は錠剤領域に対する欠陥候補の位置を検出する処理であるともいえる。

　次にステップＳＡ３にて、制御部８は画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の検査処理の結果に基づいて欠陥真偽処理を行う。欠陥真偽処理は検査処理によって検出された欠陥候補が錠剤９の欠陥を示しているのか否かを判断する、つまり欠陥候補の真偽を判断する処理である。具体的には、制御部８は検査処理によって、画像ＩＭ１１～ＩＭ１４のいずれにも写る錠剤９の領域（例えば主面９ａ）において、画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の画像で共通の欠陥候補（例えば欠陥候補ｄＡ１）が検出されているときに、錠剤９には欠陥が生じていると判断する。一方で、制御部８は検査処理によって、画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の当該領域のうち一つのみで欠陥候補（例えば欠陥候補ｄＡ２）が検出されているきには、その欠陥候補は錠剤９に生じた欠陥ではないと判断する。

　この欠陥真偽処理の具体的な例も後に述べるものの、ここではまず、その概要について簡単に説明する。例えば制御部８は、画像ＩＭ１１～ＩＭ１４における錠剤領域内の各画素の幾何学的な対応関係を求める。つまり、制御部８は錠剤９上の同じ点を写す画素の対応関係を求める。次に制御部８は画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において欠陥候補が共通しているか否かを、当該対応関係に基づいて判断する。具体的には、当該対応関係に基づいて欠陥候補の位置を対比する。制御部８は当該位置が画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において互いに対応しているときには、錠剤９に欠陥が生じていると判断し、互いに対応していないときには、その欠陥候補は錠剤９に生じた欠陥ではないと判断する。

　なお４つの画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の全てで共通の欠陥候補が検出されなくても、２以上の画像に共通の欠陥候補が検出されたときには、その欠陥候補が錠剤９の欠陥である可能性を排除しきれない。そこで制御部８は、画像ＩＭ１１～ＩＭ１４のうち少なくとも二つに共通の欠陥候補が検出されたときには、錠剤９に欠陥が生じたと判断してもよい。これによれば、欠陥の可能性がある錠剤９を良品と判断することを回避できる。

　以上のように、錠剤検査装置１によれば、画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の少なくとも二つにおいて共通の欠陥候補が検出されない限り、その欠陥候補を欠陥とはみなさない。したがって、欠陥検出時の虚報を抑制できる。

　＜検査処理の具体例＞
　図１９は、検査処理の具体的な一例を示すフローチャートである。ここでは、代表的に一つの画像ＩＭ１２に対する検査処理の一例を説明する。他の画像ＩＭ１１，ＩＭ１３，ＩＭ１４の検査処理も同様である。

　この画像ＩＭ１２に対する検査処理を説明するにあたって、まず画像ＩＭ１２内の各領域を定義する。図２０は、画像ＩＭ１２の一例を概略的に示す図である。ここで、錠剤領域ＴＲ、背景領域ＢＲ、主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃを導入する。錠剤領域ＴＲは画像ＩＭ１２において錠剤９が占める領域である。背景領域ＢＲは画像ＩＭ１２のうち錠剤領域ＴＲ以外の領域である。主面領域Ｒａは画像ＩＭ１２において錠剤９の主面９ａが占める領域であり、側面領域Ｒｃは画像ＩＭ１２において錠剤９の側面９ｃが占める領域である。主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃは錠剤領域ＴＲを構成する。画像ＩＭ１１，ＩＭ１３，ＩＭ１４についても同様に各領域が定義される。以下では、画像ＩＭ１２に写る錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃを実際の錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃと区別すべく、それぞれ主面９ａａおよび側面９ｃａと呼ぶ。

　制御部８は上記特定処理としてステップＳＡ２１～ＳＡ２６を実行する。ここでは、制御部８は、錠剤領域ＴＲを構成する主面領域Ｒａおよび側面領域Ｒｃを特定する。まず、ステップＳＡ２１にて、制御部８は、図７のステップＳ２と同様に、画像ＩＭ１２に対してエッジ検出処理を行って、エッジ画像を生成する。

　次にステップＳＡ２２にて、制御部８は、図７のステップＳ３と同様に、錠剤領域ＴＲの輪郭に対応する錠剤エッジＰ０を特定する（図２１参照）。図２１は、錠剤エッジＰ０の一例を模式的に示す図である。図２１の例でも、図８と同様に、錠剤エッジＰ０が複数のエッジに分割して示されている。なお図２１の例では、図８とは異なって、割線９１に対応する割線エッジＰ５が破線で示されている。

　再び図１９を参照して、ステップＳＡ２３にて、制御部８は、図７のステップＳ４と同様に、ステップＳＡ２２で特定した錠剤エッジＰ０から、側面外側エッジＰ１および主面外側エッジＰ２を抽出する。

　次にステップＳＡ２４にて、制御部８は、図７のステップＳ５と同様に、境界エッジＰ３をエッジ画像において特定する。例えば第１の実施の形態と同様にして、制御部８は、側面外側エッジＰ１から所定方向Ｄ１に沿って主面外側エッジＰ２側へと所定距離だけ離れた探索領域Ｒ１（図２２も参照）内の画素を探索して境界エッジＰ３を特定する。図２２は、探索領域Ｒ１の一例を模式的に示す図である。なお図２２では、割線エッジＰ５の一部も示されている。制御部８による探索処理の一例は図１０のフローチャートと同様であるので、ここでは繰り返しの説明を避ける。

　この探索処理によれば、割線エッジＰ５上の画素は境界エッジＰ３の構成要素として特定されない。なぜなら、割線エッジＰ５は境界エッジＰ３に対して主面外側エッジＰ２側に位置しているところ、制御部８は探索領域Ｒ１を線Ｌ１側から線Ｌ２側へ（つまり側面外側エッジＰ１から主面外側エッジＰ２側へ）探索するからである。つまり、この探索処理によれば、制御部８は割線エッジＰ５の画素を探索するよりも前に境界エッジＰ３の構成要素を特定することができる。つまり、割線エッジＰ５を境界エッジＰ３として誤検出することを回避できる。

　制御部８は、ステップＳＡ２３で特定した主面外側エッジＰ２およびステップＳＡ２４で特定した境界エッジＰ３の一組を、主面エッジＰ２３として特定する。

　次にステップＳＡ２５にて、制御部８は、図７のステップＳ６と同様に、楕円の関数に基づいて、主面エッジＰ２３に近似する近似線（楕円）を主面領域Ｒａの輪郭として算出する。制御部８は例えば最小二乗法により主面エッジＰ２３に近似する楕円Ｅ１（より具体的にはその長軸の長さ、短軸の長さ、長軸の延在方向および中心）を算出する。この楕円Ｅ１は例えば撮像画像ＩＭ１（あるいは画像ＩＭ１２）の座標系で示される式であってもよい。

　以上のように、主面領域Ｒａの輪郭を示す関数に基づいて主面エッジＰ２３の近似線を主面領域Ｒａの輪郭として算出しているので、より高い精度で主面領域Ｒａの輪郭を特定することができる。ひいては、主面領域Ｒａに対する欠陥候補の位置を高い精度で特定できる。

　次にステップＳＡ２６にて、制御部８は側面領域Ｒｃの輪郭を特定する。この処理は、図７のステップＳ７と同様の処理である。

　次にステップＳＡ２７にて、制御部８は画像ＩＭ１２に対して候補検出処理を行う。候補検出処理は、第１の実施の形態で述べた第１検査処理および第２検査処理を利用することができる。以下、候補検出処理の具体例について述べる。

　＜第１候補検出処理（エッジ強度処理）＞
　画像ＩＭ１２において欠陥候補ｄＡ１，ｄＡ２（図２０参照）が占める領域と、その欠陥候補ｄＡ１，ｄＡ２の周囲の領域との境界部では、画素間の画素値の差が大きくなる。そこで制御部８は次のように欠陥候補を検出してもよい。即ち、制御部８は、背景領域ＢＲを削除した画像ＩＭ１２に対してエッジ強度処理を行ってエッジ強度画像を生成する。なおエッジ画像の生成の途中でエッジ強度画像が既に生成されている場合には、そのエッジ強度画像を用いればよい。

　制御部８はエッジ強度画像の画素値が閾値Ｔｈ１よりも大きいか否かを画素ごとに判断し、肯定的な判断がなされたときに、その画素は欠陥候補の輪郭を示していると判断する。これにより、欠陥候補ｄＡ１，ｄＡ２を検出することができる。閾値Ｔｈ１は例えば予め設定されて制御部８の記憶媒体に記憶されてもよい。

　＜第２候補検出処理＞
　制御部８は上述の第１候補検出処理に替えて、あるいは、第１候補検出処理と共に、以下で述べる第２候補検出処理を行ってもよい。

　さて、欠陥候補ｄＡ１，ｄＡ２が例えば黒色系の付着物である場合、この欠陥候補ｄＡ１，ｄＡ２に対応する領域の画素値は他の領域の画素値よりも小さくなる。そこで制御部８は次のようにして欠陥を検出してもよい。即ち、制御部８は、画像ＩＭ１２の錠剤領域ＴＲ内の画素値が閾値Ｔｈ２よりも小さいか否かを画素ごとに判断し、肯定的な判断がなれたときに、その画素は欠陥候補を示していると判断する。閾値Ｔｈ２は例えば予め設定されて制御部８の記憶媒体に記憶されてもよい。

　以下では、欠陥候補（あるいはその輪郭）を示す画素を候補画素とも呼ぶ。

　＜欠陥真偽処理の具体例＞
　図２３は、欠陥真偽処理の一例を示すフローチャートである。ここでは、主面領域Ｒａ内の欠陥候補が錠剤９の欠陥を示しているか否かを判断する例について説明する。ステップＳＡ３１にて、制御部８は少なくとも一つの欠陥候補が画像ＩＭ１１～ＩＭ１４のうち２以上の画像で共通しているか否かを判断する。具体的には、制御部８は主面領域Ｒａに対する各画素の位置の、画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の相互間における対応関係に基づいて、欠陥候補が共通しているか否かを判断する。そこでまず制御部８はこの対応関係を求める。つまり制御部８は、画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において錠剤９の主面９ａ上の同じ点を示す画素の対応関係を求める。

　このような対応関係は、例えば次のように求めることができる。例えば、制御部８は画像ＩＭ１１～ＩＭ１４に基づいてそれぞれ鳥瞰画像ＩＭ４１～ＩＭ４４をそれぞれ生成する。ここでいう鳥瞰画像とは、錠剤９をＺ軸方向に沿って見た画像である。例えば制御部８は画像ＩＭ１１における楕円Ｅ１の長軸Ａと短軸Ｂの比に基づいて画像ＩＭ１１についての撮像方向を算出する。この撮像方向は、当該撮像方向と水平面とがなす角度θ（ｓｉｎθ＝Ｂ／Ａ）によって表すことができる。なお、角度θは必ずしも算出される必要は無く、撮像ヘッド５の内部構成の配置に応じて予め設定されていてもよい。

　制御部８は角度θに基づいて画像ＩＭ１１に対して画像変換を行って、鳥瞰画像ＩＭ４１を生成する。この鳥瞰画像ＩＭ４１における主面９ａの輪郭の形状は楕円Ｅ１の長軸を直径とする円となる。制御部８は同様にして画像ＩＭ１２～ＩＭ１４に基づいて鳥瞰画像ＩＭ４２～ＩＭ４４を生成する。これにより、鳥瞰画像ＩＭ４１～ＩＭ４４には、Ｚ軸方向から見た錠剤９の外観が写る。図２４は、鳥瞰画像ＩＭ４１～ＩＭ４４の一例を概略的に示す図である。以下では、鳥瞰画像ＩＭ４１～ＩＭ４４における錠剤９の主面９ａを実際の錠剤９の主面９ａと区別すべく、主面９ａｂと呼ぶ。

　鳥瞰画像ＩＭ４１～ＩＭ４４において錠剤９の主面９ａｂの周縁を示す円Ｆ１の大きさが互いに大きく相違している場合には、制御部８はこれらの円Ｆ１の大きさの差が所定値よりも小さくなるように、鳥瞰画像ＩＭ４１～ＩＭ４４を拡大または縮小してもよい。このような鳥瞰画像ＩＭ４１～ＩＭ４４において円Ｆ１内で同じ位置にある画素が錠剤９の主面９ａ上の同じ点を示すことになる。つまり、図２４は実質的に画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の主面領域Ｒａの相互間における各画素の対応関係を示している。

　制御部８は主面領域Ｒａに対する欠陥候補が鳥瞰画像ＩＭ４１～ＩＭ４４のうち２以上の鳥瞰画像で一致するか否かを判断する。なお、本願でいう「一致」とは必ずしも完全な一致を意味する必要はなく、差が所定程度よりも小さい状態を含む。２以上の鳥瞰画像において欠陥候補が互いに一致していれば、制御部８は２以上の画像において欠陥候補（例えば欠陥候補ｄＡ１）が共通していると判断し、ステップＳＡ３２にて錠剤９（より具体的には主面９ａ）に欠陥が生じていると判断する。

　欠陥候補の一致判断は次のようにして行われてもよい。例えば制御部８は、欠陥候補を構成する複数の候補画素の各々の位置（周縁領域Ｒａに対する位置）が、２以上の画像において互いに一致しているか否かを判断する。例えば画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の各々において欠陥候補ｄＡ１が候補画素Ｑ１［０］～Ｑ１［１０］によって構成されているとする。制御部８は、主面領域Ｒａに対する候補画像Ｑ１［ｎ］（ｎ：０～１０）の位置が画像ＩＭ１１～ＩＭ１４のうち２以上の画像で互いに一致しているか否かを判断する。制御部８はこれらが一致しているときに、欠陥候補が一致していると判断してもよい。これによれば、欠陥候補の位置および形状に基づいて欠陥候補の一致判断を行うことができる。もちろん、欠陥候補を構成する全ての候補画素が２以上の画像間で互いに一致している必要は無く、若干の候補画素で不一致があっても構わない。不一致を許容する候補画素の数が多いほど、形状に関する条件が緩まることになる。

　このような一致判断のために、制御部８は、各欠陥候補を構成する候補画素を各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において特定する必要がある。これは例えば次のように行うことができる。即ち、例えば、制御部８は各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において、候補画素の相互間の距離を算出し、相互間の距離が小さい候補画素群を同じ欠陥候補として抽出する。これにより、例えば画像ＩＭ１１～ＩＭ１４の各々において欠陥候補ｄＡ１に属する候補画素Ｑ１［０］～Ｑ１［１０］が特定され、画像ＩＭ１２において欠陥候補ｄＡ２に属する候補画素Ｑ２［０］～Ｑ２［１０］が特定される。

　ここでは、主面領域Ｒａに対する候補画素Ｑ１［ｎ］の位置は複数の画像ＩＭ１１～ＩＭ１４で互いに一致する。よって、制御部８は欠陥候補ｄＡ１が錠剤９の欠陥であると判断し、錠剤９に欠陥が生じていると判断する。一方で、主面領域Ｒａに対する候補画素Ｑ２［ｎ］の位置は複数の画像ＩＭ１１～ＩＭ１４間で一致しないので、制御部８は欠陥候補ｄＡ２が錠剤９の欠陥ではないと判断する。

　ステップＳＡ３１にて否定的な判断がなされると、ステップＳＡ３３にて制御部８は錠剤９（より具体的には主面９ａ）に欠陥が生じていないと判断する。

　なお、欠陥の個数を検出する必要がなく、単に錠剤９の欠陥の有無を検出すればよい場合には、必ずしも全ての欠陥候補について判断を行わなくてもよい。一つの欠陥候補が２以上の画素で共有していると判断した場合には、他の欠陥候補についての判断を省略してもよい。一方で、錠剤９に生じた欠陥の個数を検出する場合には、全ての欠陥候補について判断を行えばよい。

　上述の例では、主面領域Ｒａの輪郭の形状として予め決められた関数に基づいて主面領域Ｒａの輪郭を求めているので、上述のように主面領域Ｒａの特定精度が高い。これによれば、主面領域Ｒａ内の各画素の位置の画像間の対応関係の精度を向上でき、欠陥真偽の判断精度を向上できる。

　＜側面領域＞
　上述の例では、錠剤９の主面９ａに対する外観検査について述べた。ここでは、錠剤９の側面９ｃに対する外観検査について述べる。この錠剤９の側面９ｃでは、その撮像方向に応じた領域がそれぞれ画像ＩＭ１１～ＩＭ１４に写る。例えば図１７を参照して、錠剤９の側面９ｃのうち領域９ｃ１が画像ＩＭ１１～ＩＭ１３に写っており、画像ＩＭ１４には写っていない。この領域９ｃ１は錠剤９の側面９ｃを周方向に例えば６等分して得られる領域と同程度の幅を有している。図１７の例では、領域９ｃ１は画像ＩＭ１１において側面９ｃのほぼ中央に位置し、画像ＩＭ１２，ＩＭ１３においては側面９ｃの端に位置する。よって領域９ｃ１は画像ＩＭ１１においては広く写り、画像ＩＭ１２，ＩＭ１３において非常に狭く写る。したがって、錠剤９の領域９ｃ１内の欠陥は画像ＩＭ１１に比して画像ＩＭ１２，ＩＭ１３では視認されにくく欠陥候補として検出されにくい。

　そこで、画像ＩＭ１２，ＩＭ１３において側面９ｃの端の領域９ｃ１は候補検出処理の対象から除いてもよい。言い換えれば、制御部８は画像ＩＭ１２，ＩＭ１３において側面領域Ｒｃの端側の領域を、非検査対象たるマスク領域に設定してもよい。これによれば、端領域において欠陥候補を誤検出したり、あるいは、欠陥の検出漏れが生じたりすることを回避できる。

　図２５は、検査処理の一例を示すフローチャートである。図２５の例では、図１９と比較して、ステップＳＡ２８が更に実行される。このステップＳＡ２８はステップＳＡ２６，ＳＡ２７の間で実行される。ステップＳＡ２８では、制御部８はマスク領域を設定する。例えば制御部８は、ステップＳＡ２６で特定した側面領域Ｒｃの両端に位置する端領域を、マスク領域に設定する。端領域の幅（半楕円Ｅ１１に沿う幅）は予め決められていてもよく、あるいは、制御部８が側面領域Ｒｃの幅の所定割合を端領域の幅として算出してもよい。

　制御部８はステップＳＡ２７の候補検出処理において、マスク領域内の画素を欠陥候補として検出しない。これによれば、錠剤９の領域９ｃ１は画像ＩＭ１１のみにおいて実質的な候補検出処理が行われることになる。なぜなら、領域９ｃ１は画像ＩＭ１４には写っておらず、画像ＩＭ１２，ＩＭ１３ではマスク領域内に写っているからである。

　制御部８は領域９ｃ１については次のように欠陥真偽処理を行う。即ち、制御部８は、画像ＩＭ１１に対する候補検出処理によって領域９ｃ１内に欠陥候補が検出されているときに、他の画像ＩＭ１２～ＩＭ１４の候補検出処理の結果に関わらず、錠剤９（より具体的には側面９ｃの領域９ｃ１）に欠陥が生じていると判断する。つまり画像ＩＭ１１のみで候補検出処理が行われる領域９ｃ１については、他の画像ＩＭ１２～ＩＭ１４で候補検出処理が行われないので、画像ＩＭ１１において欠陥候補が検出されれば、その欠陥候補を錠剤９の欠陥とみなすのである。これにより、側面９ｃの領域９ｃ１における欠陥を検出することができる。

　図１７を参照して、錠剤９の側面９ｃの領域９ｃ１と周方向で隣り合う領域９ｃ２は画像ＩＭ１１，ＩＭ１２に写っており、画像ＩＭ１３，ＩＭ１４には写っていない。この領域９ｃ２は例えば錠剤９の側面９ｃを周方向に１２等分して得られる領域と同程度の幅を有している。この領域９ｃ２は画像ＩＭ１１，ＩＭ１２において側面９ｃの中央よりも端側に位置しているものの、その側面９ｃの端から離れている。画像ＩＭ１１，ＩＭ１２において領域９ｃ２はマスク領域に設定されておらず、検査対象領域に相当する。

　制御部８は領域９ｃ２については次のように欠陥真偽処理を行う。即ち、制御部８は、画像ＩＭ１１，ＩＭ１２に対する候補検出処理によって領域９ｃ１に共通の候補検出が検出されているときに、画像ＩＭ１３，ＩＭ１４に対する候補検出処理の結果に関わらず、錠剤９（より具体的には側面９ｃの領域９ｃ２）に欠陥が生じていると判断する。つまり画像ＩＭ１１，ＩＭ１２のみに写る領域９ｃ２については、他の画像ＩＭ１３，ＩＭ１４で候補検出処理が行われないので、画像ＩＭ１１，ＩＭ１２の領域９ｃ２において共通の欠陥候補が検出されたときに、その欠陥候補を錠剤９の欠陥とみなすのである。これにより、高い精度で側面９ｃの領域９ｃ２における欠陥を検出できる。

　なお上記の例では領域９ｃ１，９ｃ２について述べたものの、他の領域についても同様である。要するに、制御部８は、一つの画像のみにおいて候補検出処理が行われる錠剤９の第１領域、および、複数の画像において候補検出処理が行わる錠剤９の第２領域に対しては、それぞれ次のように欠陥真偽処理を行えばよい。即ち制御部８は、第１領域については、当該一つの画像の第１領域に欠陥候補が検出されているときに錠剤９に欠陥が生じていると判断し、第２領域については、複数の画像のうち２以上の画像の第２領域で共通の欠陥候補が検出されているときに錠剤９に欠陥が生じていると判断する。

　図２６は、側面領域に対する欠陥真偽処理の一例を示すフローチャートである。図２３と比較して、ステップＳＡ３４が更に実行され、またステップＳＡ３２を実行するための条件が相違する。ステップＳＡ３４はステップＳＡ３１にて否定的な判断がなされたときに実行される。ステップＳＡ３４にて、制御部８は、側面領域Ｒｃ内の少なくとも一つの欠陥候補に対応する領域が他の画像の全てで欠陥検出の対象外（つまり候補検出処理の対象外）であるか否かを判断する。

　なお側面領域Ｒｃに対する各画素の位置の画像ＩＭ１１～ＩＭ１４間の対応関係は主面領域Ｒａと同様にして求めることができる。例えば錠剤９を真横から見た４つの画像をそれぞれ画像ＩＭ１１～ＩＭ１４に基づいて生成する。当該４つの画像では、４方向から見た錠剤９の側面９ｃがそれぞれ写る。側面領域Ｒｃ内の各画素の、当該４つの画像間の対応関係は予め設定されていればよい。

　例えば画像ＩＭ１１の領域９ｃ１において欠陥候補を検出した場合について説明する。この領域９ｃ１は他の画像ＩＭ１２～ＩＭ１４の全てで欠陥検出の対象外である。例えば領域９ｃ１は画像ＩＭ１２，ＩＭ１３においてマスク領域であり、画像ＩＭ１４にはそもそも存在しない。よってこの場合、ステップＳＡ３４では肯定的な判断が行われる。このときステップＳＡ３２にて、制御部８は錠剤９（より具体的には側面９ｃ）に欠陥が生じていると判断する。つまり、たとえ欠陥候補が２以上の画像で共通していなくても、その欠陥候補がそもそも他の画像で欠陥検出の対象外である場合には、その欠陥候補は当然に他の画像では検出されない。よってこの場合には、１つの画像において検出された欠陥候補を錠剤９の欠陥とみなすのである。

　ステップＳＡ３４にて否定的な判断がなされたときには、ステップＳＡ３３にて、制御部８は錠剤９の側面９ｃに欠陥が生じていないと判断する。

　なお欠陥の個数を検出する必要がなく、単に錠剤９の欠陥の有無を検出すればよい場合には、各ステップＳＡ３１，ＳＡ３２において必ずしも全ての欠陥候補について判断を行わなくてもよい。また主面領域に対する欠陥真偽処理（図２３）および側面領域に対する欠陥真偽処理（図２６）の一方で錠剤９に欠陥が生じていると判断すれば、他方を省略してもよい。

　錠剤９に生じた欠陥の個数を検出する場合には、全ての欠陥候補について判断を行えばよい。つまりステップＳＡ３１の判断結果に依らず、必ずステップＳＡ３４を行い、またステップＳＡ３１，ＳＡ３２の各々において全ての欠陥候補についての判断を行えばよい。またこの場合、主面領域に対する欠陥真偽処理および側面領域に対する欠陥真偽処理の両方を行う。

　＜探索領域の中心線＞
　上述の例では、探索領域Ｒ１の中心線Ｌ０は側面外側エッジＰ１を移動させて得られた線であると説明したが、この移動に際して側面外側エッジＰ１を所定倍率で拡大しても構わない。厳密には、境界エッジＰ３は側面外側エッジＰ１よりも所定倍率で大きいからである。

　＜マスク領域＞
　上記の例では、制御部８は各画像ＩＭ１１～ＩＭ１４において側面領域Ｒｃの端領域をマスク領域に設定した。しかるに、他の領域をマスク領域に設定してもよい。ここでは、好適な説明のために、錠剤９の形状として糖衣錠を採用して説明する。この錠剤９は球体を一軸方向に縮小させた扁平形状を有しており、最も広い面に対して垂直にみると錠剤９は円形状を有している。なお錠剤９の形状はこれに限らない。

　図２７は、撮像画像ＩＭ１’の一例を概略的に示す図である。撮像画像ＩＭ１’は撮像ヘッド５によって糖衣錠の錠剤９を撮像して得られる画像である。撮像画像ＩＭ１’の画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’には、それぞれ異なる撮像方向から見た錠剤９の外観が示されている。各画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’において錠剤９の輪郭は理想的には楕円形状を有する。

　図２７の例示では、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’において錠剤９の表面上の各点の対応関係が二点鎖線で示されている。このような対応関係は、例えば錠剤９の輪郭を示す関数に対応付けて予め設定されて、制御部８の記憶媒体に記憶されてもよい。

　図２７の例示では、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’には、マスク領域ＭＲ１～ＭＲ４が設定されている。このマスク領域ＭＲ１～ＭＲ４は、画素値が他の領域における画素値よりも大幅に高くなり得る領域である。このような領域は、照明用光源から照射された光が錠剤９で正反射されることにより生じる。つまり、この正反射光がミラー５３、角錐型ミラー５４およびレンズ群５２を介して検査カメラ５１の結像面の一部に結像されると、その結像面の一部に対応する領域（正反射領域）内の画素の画素値が他の画素値よりも大幅に高くなる。そこで、この正反射領域を含むようにマスク領域が設定される。これにより、錠剤９上の光の強弱を欠陥と誤検出することを回避できる。

　ここでは照明用光源としてリング状の光源を想定しているので、図２７の例では、マスク領域ＭＲ１～ＭＲ４が楕円状のリング領域で示されている。マスク領域ＭＲ１は例えば錠剤９の輪郭を示す関数に対応付けて予め設定されていてもよい。あるいは、制御部８は例えば画像ＩＭ１１’内の画素の画素値がマスク閾値よりも大きい領域を特定し、その領域をマスク領域ＭＲ１に設定してもよい。マスク領域ＭＲ２～ＭＲ４も同様である。マスク閾値は例えば予め設定されて制御部８の記憶媒体に記憶されていてもよい。

　複数の撮像方向から錠剤９を撮像するので、各撮像方向に対応する正反射領域は錠剤９の表面上で互いに異なる。もちろん、２つの撮像方向に対応する正反射領域の一部どうしが錠剤９の表面上で重なる場合はある。しかし、３以上の正反射領域が錠剤９の表面上の同じ領域で互いに重なることは少ない。つまりマスク領域ＭＲ１～ＭＲ４を錠剤９の表面に投影した場合、マスク領域ＭＲ１～ＭＲ４の２つは錠剤９の表面上において重なり合うものの、３つが同じ領域で重なり合うことはまれである。４つが同じ領域で重なり合う可能性はさらに低い。もし仮にマスク領域ＭＲ１～ＭＲ４が同じ領域で重なり合えば、その領域は画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’においてマスク領域ＭＲ１～ＭＲ４内に含まれることになるので、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’のいずれにおいても検査対象にならない。しかしそのような可能性は非常に低いのである。

　ここでは、マスク領域ＭＲ１～ＭＲ４の４つは同じ領域で重なり合わないものとする。この場合、錠剤９のうち画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’のいずれにも写る共通面は次の４種の領域に分割される。即ち、第１領域は、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’の全てにおいて検査対象領域内に位置する領域であり、第２領域は、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’の３つのみにおいて検査対象領域内に位置する領域であり、第３領域は、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’の２つのみにおいて検査対象領域内に位置する領域であり、第４領域は、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’の一つのみにおいて検査対象領域内に位置する領域である。

　＜検査処理＞
　次に糖衣錠たる錠剤９についての検査処理について説明する。この錠剤９は図２の錠剤９と違って主面と側面との明確な境界を有さない。よって、制御部８は主面領域と側面領域とを特定することは困難であるので、欠陥候補の位置を錠剤領域に対する位置で把握する。そこで制御部８は特定処理において錠剤領域の輪郭を特定する。

　図２８は、検査処理の一例を示すフローチャートである。ステップＳＡ２１１にて、制御部８はステップＳＡ２１と同様にしてエッジ画像を生成する。次にステップＳＡ２１２にて、制御部８はステップＳＡ２２と同様にして錠剤エッジを特定する。次にステップＳＡ２１３にて、楕円の関数に基づいて当該錠剤エッジに近似する近似線（楕円）を、錠剤領域の輪郭として特定する。より一般的に説明すると、ＩＭ１１～ＩＭ１４における錠剤９の輪郭を示す基準関数に基づいて錠剤エッジに近似する近似線を特定する。次にステップＳＡ２１４にて、制御部８は例えば図２７に示すようにマスク領域を設定する。

　次に制御部８は各画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’に対して候補検出処理を行う。候補検出処理は上述した通りである。これにより、各画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’において、欠陥候補が検出されて錠剤領域に対する欠陥候補の位置が特定される。

　制御部８は欠陥真偽処理において次にように動作する。即ち、制御部８は、第１領域から第３領域については、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が検出されているときに、錠剤９に欠陥が生じていると判断する。制御部８は、第４領域については、画像ＩＭ１１’～ＩＭ１４’の１つにおいて欠陥候補が検出されたときに、錠剤９に欠陥が生じていると判断する。

　具体的な欠陥真偽処理の一例は、図２６を参照して説明した側面領域に対する欠陥真偽処理と同様である。具体的には、「側面領域」および「錠剤の側面」をそれぞれ「錠剤領域」および「錠剤」に読み替えればよい。

　なお、第１から第３の実施の形態を第４の実施の形態に適用してもよい。例えば第２の実施の形態で説明したように、制御部８は、図１２のフローチャートにより、境界エッジＰ３を特定してもよい。

　第５の実施の形態．
　例えば特許文献１～３のように錠剤の上面を垂直に撮像すれば、錠剤の上面の周縁に生じた欠けは錠剤の外周に位置する。なおここでいう錠剤の外周とは、撮像画像において錠剤が占める錠剤領域の輪郭をいう。このように錠剤の外周に位置する欠けは撮像画像から検出しやすい。当該欠けが撮像画像において錠剤領域と背景領域との境界に生じるからである。

　これに対して、例えば錠剤を上方斜めから撮像すれば、この一方向の撮像により、錠剤の上面および側面の両方が撮像される。この場合、撮像画像においては錠剤の上面および側面は互いに接することになる。つまりこの撮像画像において、錠剤の上面の周縁のうち側面と接する部分は錠剤の外周（錠剤領域の輪郭）ではなく、錠剤領域の内部に位置することになる。錠剤の欠けが当該部分に生じた場合、その欠けを撮像画像から検出することは困難であった。

　そこで、第５の実施の形態では、錠剤の主面および側面が互いに接する撮像画像において、主面および側面の境界上に生じた錠剤の欠けを検出できる錠剤検査方法および錠剤検査装置を提供することを企図とする。

　第５の実施の形態にかかる錠剤検査装置１の構成の一例は第１の実施の形態と同様である。なお、第４の実施の形態にかかる制御部８の機能および動作は、後に詳述するように、第１の実施の形態と相違する。

　以下では、説明の簡単のために、一方向から見た錠剤９の外観について説明を行う。図２９は、欠陥が生じている錠剤９を一方向から撮像した撮像画像ＩＭ１１の一例を概略的に示す図である。図２９の例では、錠剤９の主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界に欠けＢ１が存在している。

　制御部８は撮像画像ＩＭ１１に対して画像処理を行って、錠剤９の欠けＢ１を検出する。以下、より具体的に説明する。

　図３０は、錠剤検査装置１における動作の一例を示すフローチャートである。まずステップＳＢ１にて、撮像ヘッド５は、図７のステップＳ１と同様に、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃの両方が写る方向から搬送途中の錠剤９を撮像して、錠剤９の主面９ａおよび側面９ｃの両方が写る撮像画像ＩＭ１１を生成する。撮像ヘッド５はこの撮像画像ＩＭ１１を制御部８へと出力する。

　次に制御部８は撮像画像ＩＭ１１において錠剤９の主面９ａａが占める主面領域Ｒａの輪郭に対応する主面エッジを検出する。なお図２９に示すように、欠けＢ１が主面領域Ｒａと側面領域Ｒｃとの間の境界に生じている場合、主面エッジは、欠けＢ１を含んだ主面９ａａの輪郭に対応するエッジであると把握する。主面エッジの検出は例えば図３０のステップＳＢ２～ＳＢ５の一連の処理によって実行される。

　まずステップＳＢ２にて、制御部８は、図７のステップＳ２と同様に、撮像画像ＩＭ１１に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する。

　次にステップＳＢ３にて、制御部８は、図７のステップＳ３と同様に、錠剤領域ＴＲの輪郭に対応する錠剤エッジＰ０を特定する（図３１も参照）。図３１は、錠剤エッジＰ０の一例を模式的に示す図である。図３１の例でも、図８と同様に、錠剤エッジＰ０が複数のエッジに分割して示されている。

　再び図３０を参照して、ステップＳＢ４にて、制御部８は、図７のステップＳ４と同様に、ステップＳＢ３で特定した錠剤エッジＰ０から、側面外側エッジＰ１および主面外側エッジＰ２を抽出する。

　次にステップＳＢ５にて、制御部８は、図７のステップＳ５と同様に、境界エッジＰ３をエッジ画像から特定する。境界エッジＰ３とは、撮像画像ＩＭ１１において錠剤９の主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界に対応するエッジである。言い換えれば、境界エッジＰ３は主面領域Ｒａと側面領域Ｒｃとの間の境界に対応するエッジである。なお図２９に示されるように、欠けＢ１が存在する場合には、境界エッジＰ３は欠けＢ１の輪郭に対応するエッジの一部を含む。境界エッジＰ３の具体例は後述する。

　錠剤９に欠けＢ１が生じていない場合、境界エッジＰ３は上述のように、理想的には、主面外側エッジＰ２とは反対側に膨らむ半楕円形状を有する（図８も参照）。つまり、境界エッジＰ３は側面外側エッジＰ１と同様の形状を有する。またここでは錠剤９はさほど厚くないので、錠剤９に欠けＢ１が生じていなければ、境界エッジＰ３および側面外側エッジＰ１はほぼ同一形状を有している、と考えることができる。つまり、境界エッジＰ３は側面外側エッジＰ１を所定方向Ｄ１に沿って主面外側エッジＰ２側へと、側面稜線エッジＰ４の長さの分だけ平行移動させた領域に存在している。側面稜線エッジＰ４の長さは錠剤９の厚みおよび撮像ヘッド５の内部構成の配置に応じて予め決まっているので、側面外側エッジＰ１が特定されれば、境界エッジＰ３が存在する領域を推定することができる。

　そこで制御部８は、側面外側エッジＰ１から所定方向Ｄ１に沿って主面外側エッジＰ２側へと所定距離だけ離れた探索領域Ｒ１（図３２も参照）内の画素を探索して境界エッジＰ３を特定する。図３２は、探索領域Ｒ１の一例を模式的に示す図である。

　中心線Ｌ０は側面外側エッジＰ１を側面稜線エッジＰ４の長さの分だけ、所定方向Ｄ１に沿って主面外側エッジＰ２側へと移動させた線である。また図３２の例では、境界エッジＰ３の一部と中心線Ｌ０の一部とを互いに一致させて示しているものの、実際にはこれらは互いに相違し得る。

　線Ｌ１，Ｌ２は、中心線Ｌ０を所定方向Ｄ１に沿って互いに反対側へと所定幅だけ移動させた線である。この所定幅は、想定される欠けＢ１の大きさに応じて予め設定される。図３２では、線Ｌ１は線Ｌ２よりも側面外側エッジＰ１に近い。線Ｌ３，Ｌ４は所定方向Ｄ１に沿って延在しており、それぞれ線Ｌ１，Ｌ２の両端を連結する。探索領域Ｒ１はこれらの線Ｌ１～Ｌ４の一組によって囲まれた領域である。

　なお図３２では、欠けＢ１の輪郭に対応する欠けエッジＰ’、および、割線９１に対応する割線エッジＰ５の一部も示されている。

　制御部８による探索処理の一例は図１０のフローチャートと同様であるので、ここでは繰り返しの説明を避ける。

　この探索処理によれば、欠けエッジＰ’上の画素は次のように境界エッジＰ３の構成要素として特定される。即ち、欠けエッジＰ’のうち線Ｌ１側（つまり側面外側エッジＰ１側）のエッジＰｃ’上の画素が境界エッジＰ３の構成要素として特定される。図３２では、境界エッジＰ３の構成要素として特定される画素のいくつかを模式的に黒丸で示している。

　制御部８は、ステップＳＢ４で特定した主面外側エッジＰ２およびステップＳＢ５で特定した境界エッジＰ３の一組を、主面エッジＰ２３として特定する。欠けＢ１が生じている場合には、主面エッジＰ２３は理想的な楕円形状を有さずに、その欠けＢ１に対応する部分において理想的な楕円形状から乖離する（後に説明する図３３も参照）。よって、この理想的な楕円に近い近似線を算出すれば、その近似線と主面エッジＰ２３とが乖離する部分に基づいて、欠けＢ１を検出することができる。

　そこで次にステップＳＢ６にて、制御部８は、図７のステップ６と同様に、楕円の関数に基づいて、主面エッジＰ２３に近似する近似線（楕円）を算出する。

　以上のように、主面領域Ｒａの輪郭を示す基準関数に基づいて主面エッジＰ２３の近似線を算出しているので、この近似線は主面領域Ｒａの輪郭に近い線となる。また上述の具体例では、錠剤９が略円盤形状を有している。つまり、錠剤９の主面９ａが略円形状を有している。よって、撮像画像ＩＭ１１において主面９ａａの周縁は理想的には楕円形状を有する。本実施の形態では、これに対応して、楕円の関数が基準関数として用いられている。したがって、適切に主面領域Ｒａの輪郭に近い近似線を算出することができる。

　楕円Ｅ１をその長軸で分割して得られる２つの半楕円Ｅ１１，Ｅ１２はそれぞれ主面外側エッジＰ２および境界エッジＰ３の近似線に相当することになる。

　次にステップＳＢ７にて、制御部８は、図７のステップＳ７と同様に、側面外側エッジＰ１に近似する近似線（半楕円）を楕円Ｅ１に基づいて算出する。

　図３３は、欠けＢ１が生じた錠剤９についての各種エッジおよびその近似線の一例を概略的に示す図である。主面エッジＰ２３は欠けＢ１の輪郭のうち側面９ｃａ側の部分と主面９ａａの周縁と沿って延在する。図３３の例では、側面外側エッジＰ１と、その近似線たる半楕円Ｅ２１とが互いに一致して示されているものの、実際にはこれらは互いに相違し得る。

　次にステップＳＢ８にて、制御部８は検査処理を実行する。この検査処理は、錠剤９の主面９ａ，９ｂの周縁に生じた欠けを検出するための処理である。図３４は、この検査処理の具体的な一例を示すフローチャートである。まずステップＳＢ８１にて、制御部８は主面エッジＰ２３の近似線たる楕円Ｅ１から、それぞれ主面外側エッジＰ２および境界エッジＰ３の近似線たる半楕円Ｅ１１，Ｅ１２を抽出する。具体的には、制御部８は楕円Ｅ１をその長軸で分割して得られる半楕円をそれぞれ半楕円Ｅ１１，Ｅ１２として算出する。

　次にステップＳＢ８２にて、制御部８は、境界エッジＰ３上の各画素と半楕円Ｅ１２との間の距離ｄ（図３３も参照）が所定の閾値（以下、距離閾値と呼ぶ）ｄｔｈよりも長いか否かを判断する。距離閾値ｄｔｈは例えば予め設定されて制御部８の記憶媒体に記憶されてもよい。図３３の例では、境界エッジＰ３上のある画素と半楕円Ｅ１２との間の距離ｄが示されている。ステップＳＢ８２において肯定的な判断がなされたときには、ステップＳＢ８３にて、制御部８は錠剤９の主面９ａの周縁（より具体的には撮像画像ＩＭ１１における主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界）に欠けが生じていると判断する。否定的な判断がなされたときには、制御部８はステップＳＢ８３を実行しない。

　図３５は、ステップＳＢ８２，ＳＢ８３の処理のより具体的な一例を示すフローチャートである。まずステップＳＢ８０１にて、制御部８は値ｎを１に初期化する。値ｎは境界エッジＰ３上の画素を示す番号である。境界エッジＰ３上の各画素には、その一端から他端に向けて順に連続した番号が付与される。

　次にステップＳＢ８０２にて、制御部８は境界エッジＰ３上の第ｎ番目の画素（以下、注目画素と呼ぶ）と、半楕円Ｅ１２との間の距離ｄを算出する。例えば制御部８は注目画素と半楕円Ｅ１２上の画素の各々との距離を算出し、そのうち最も小さい値を距離ｄとして選択する。

　次にステップＳＢ８０３にて、制御部８は距離ｄが距離閾値ｄｔｈよりも長いか否かを判断する。肯定的な判断がなされたときには、ステップＳＢ８０４にて、制御部８はその注目画素が欠けの輪郭を示す画素であると判断し、錠剤９の主面９ａの周縁に欠陥が生じていると判断する。次に制御部８は後述のステップＳＢ８０５を実行する。一方で否定的な判断がなされたときには、制御部８はステップＳＢ８０４を実行することなくステップＳＢ８０５を実行する。

　ステップＳＢ８０５では、制御部８は値ｎに１を加算して値ｎを更新する。次にステップＳＢ８０６にて、制御部８は値ｎが基準値ｎｒｅｆよりも大きいか否かを判断する。基準値ｎｒｅｆは境界エッジＰ３を構成する画素の総数である。つまり、境界エッジＰ３上の全ての画素について判断が終了したか否かを判断する。ステップＳＢ８０６にて否定的な判断がなされたときには、未だ全ての画素について判断が終了していないので、制御部８は再びステップＳＢ８０２を実行する。一方で、ステップＳＢ８０６にて肯定的な判断がなされたときには、制御部８は処理を終了する。

　上述の例では、境界エッジＰ３上の全ての画素について上記判断を行っている。しかしながら、欠けの個数およびその位置等を検出する必要がない場合には、欠けの輪郭を示す一つの画素を検出したときに、残りの画素についての上記判断を省略してもよい。この点は以下で述べる全ての検査処理についても同様である。

　再び図３４を参照して、ステップＳＢ８４にて、制御部８は主面外側エッジＰ２上の各画素とその近似線たる半楕円Ｅ１１との間の距離が距離閾値ｄｔｈよりも長いか否かを判断する。肯定的な判断がなされたときには、ステップＳＢ８５にて、制御部８は錠剤９の主面９ａの周縁（より具体的には撮像画像ＩＭ１１において側面９ｃａと接していない部分）に欠けが生じていると判断する。否定的な判断がなされたときには、制御部８はステップＳＢ８５を実行しない。

　次にステップＳＢ８６にて、制御部８は側面外側エッジＰ１上の各画素とその近似線たる半楕円Ｅ２１との間の距離が距離閾値ｄｔｈよりも長いか否かを判断する。肯定的な判断がなされたときには、ステップＳＢ８７にて、制御部８は錠剤９の主面９ｂの周縁（より具体的には撮像画像ＩＭ１１に写っている部分）に欠けが生じていると判断する。否定的な判断がなされたときには、制御部８はステップＳＢ８７を実行しない。

　ステップＳＢ８４，ＳＢ８５の具体的な方法の一例およびステップＳＢ８６，ＳＢ８７の具体的な方法の一例はステップＳＢ８２，ＳＢ８３の具体的な方法と同様である。

　以上のように、この錠剤検査装置１によれば、錠剤９の主面９ａ，９ｂの周縁に生じた欠けを検出することができる。

　なおステップＳＢ８２，ＳＢ８３の一組、ステップＳＢ８４，ＳＢ８５の一組およびステップＳＢ８６，ＳＢ８７の一組の実行順序は適宜に変更してもよい。また欠けの個数および位置等を検出する必要がない場合には、制御部８は必ずしもステップＳＢ８２，ＳＢ８４，ＳＢ８６の判断の全てを実行する必要は無い。制御部８はいずれか一つにおいて肯定的な判断がなされたときに、残りの判断を省略してもよい。

　また上述の例では、制御部８は主面エッジＰ２３に近似する近似線（楕円Ｅ１）を算出し、この楕円Ｅ１から半楕円Ｅ１１，Ｅ１２を抽出した。しかしながら、制御部８は撮像画像ＩＭ１１における錠剤９の主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界の形状として予め決められた基準関数に基づいて、境界エッジＰ３の近似線（半楕円Ｅ１２）を算出してもよい。同様に制御部８は、撮像画像ＩＭ１１における錠剤９の主面９ａａの周縁のうち側面９ｃａと接していない部分の形状として予め決められた基準関数に基づいて、主面外側エッジＰ２の近似線（半楕円Ｅ１１）を算出してもよい。

　＜検査処理＞
　上記の例では、例えば境界エッジＰ３上の一つの画素と半楕円Ｅ１２との間の距離ｄが距離閾値ｄｔｈよりも長いときに、制御部８はその画素が欠けの輪郭を示すと判断した（ステップＳＢ８０２～ＳＢ８０４）。つまり、当該一つの画素が距離閾値ｄｔｈよりも長い距離で半楕円Ｅ１２と離れているときに、その画素は欠けの輪郭を示すと判断される。しかしながら、欠けＢ１が生じたときには、図３３も参照して、境界エッジＰ３上で連続する複数の画素が距離閾値ｄｔｈよりも長い距離で半楕円Ｅ１２と離れることになる。つまり、もし一つの画素のみが距離閾値ｄｔｈよりも長い距離で半楕円Ｅ１２と離れている場合には、その画素は欠けＢ１を示すのではなく、ノイズである可能性がある。そこでここでは、このようなノイズを欠けとして誤検出することを抑制する。

　具体的には、制御部８は距離閾値ｄｔｈよりも長い距離ｄで半楕円Ｅ１２と離れる複数の画素が境界エッジＰ３上において連続しているか否かを判断し、肯定的な判断がなされたときに、その連続する画素の一群が欠けＢ１の輪郭を示すと判断し、錠剤９の主面９ａの周縁（より具体的には撮像画像ＩＭ１１の主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界）に欠けＢ１が生じていると判断する。

　図３６は、このような検査処理の具体的な方法の一例を示すフローチャートである。まずステップＳＢ８１１にて、制御部８は値ｎ，ｍをそれぞれ１，０に初期化する。値ｍは、後の説明から明らかとなるように、距離閾値ｄｔｈよりも長い距離で半楕円Ｅ１２から離れた画素であって境界エッジＰ３上で連続する画素の数を示している。

　次に制御部８はステップＳＢ８１２，ＳＢ８１３をこの順で実行する。ステップＳＢ８１２，ＳＢ８１３はそれぞれステップＳＢ８０２，ＳＢ８０３と同一である。ステップＳＢ８１３において肯定的な判断がなされると、ステップＳＢ８１４にて、制御部８は値ｍに１を加算して値ｍを更新する。

　次にステップＳＢ８１５にて、制御部８は値ｎに１を加算して値ｎを更新する。次にステップＳＢ８１６にて、制御部８は値ｎが基準値ｎｒｅｆよりも大きいか否かを判断する。つまり制御部８は境界エッジＰ３上の全ての画素について処理を行ったか否かを判断する。否定的な判断がなされると、次の画素についての判断を行うべく、制御部８は再びステップＳＢ８１２を実行する。一方で肯定的な判断がなされると、制御部８は処理を終了する。

　ステップＳＢ８１３において否定的な判断がなされると、ステップＳＢ８１７にて、制御部８は値ｍが閾値（以下、連続閾値と呼ぶ）ｍｔｈよりも大きいか否かを判断する。連続閾値ｍｔｈは例えば予め設定されて制御部８の記憶媒体に記憶されていてもよい。

　ステップＳＢ８１７にて肯定的な判断がなされると、ステップＳＢ８１８にて、制御部８は第（ｎ－ｍ＋１）番目の画素から第（ｎ－１）番目の画素の一群が欠けの輪郭を示していると判断し、主面９ａの周縁（より具体的には撮像画像ＩＭ１１における主面９ａａと側面９ｃａとの間の境界）に欠けＢ１が生じていると判断する。次にステップＳＢ８１９にて、制御部８は値ｍを０に初期化し、ステップＳＢ８１５を実行する。ステップＳＢ８１７にて否定的な判断がなされると、制御部８はステップＳＢ８１８を実行せずにステップＳＢ８１９を実行する。

　この検査処理によれば、値ｍは、距離ｄが距離閾値ｄｔｈよりも短い画素が検出されたときに零に初期化され（ステップＳＢ８１９）、距離ｄが距離閾値ｄｔｈよりも長い画素が連続して検出される度にインクリメントされる（ステップＳＢ８１５）。よって、値ｍは、距離ｄが距離閾値ｄｔｈよりも長い画素が連続する数を示すことになる。そして、この値ｍが連続閾値ｍｔｈよりも大きいときに、制御部８は欠けが生じていると判断している（ステップＳＢ８１７，ＳＢ８１８）。これにより、欠けの誤検出を抑制して、より高い精度で欠けを検出することができる。

　この検査処理は側面外側エッジＰ１および主面外側エッジＰ２についても適用可能である。

　＜境界エッジ＞
　上述の例では、探索領域Ｒ１の各行の線Ｌ１から線Ｌ２へ向かう探索において、最初に検出されたエッジ画素を境界エッジＰ３の構成要素として把握した（図３２参照）。したがって、欠けエッジＰ’のうち、線Ｌ１側のエッジＰｃ’上の画素が境界エッジＰ３の構成要素として採用された。よって、境界エッジＰ３の構成要素は欠けエッジＰ’のうちエッジＰｃ’に偏ることになる。これにより、主面エッジＰ２３に近似する楕円Ｅ１（半楕円Ｅ１１，Ｅ１２の一組）は主面領域Ｒａの輪郭からずれやすくなる。

　ここでは、第２の実施の形態を採用することにより、主面領域Ｒａの輪郭により近い楕円Ｅ１を算出することを企図する。具体的には、撮像画像ＩＭ１１における欠陥領域の画素値の分布に着目して、境界エッジＰ３の構成要素がエッジＰ’のうち線Ｌ１側のエッジＰｃ’と線Ｌ２側のエッジＰａ’とに分散されるように、境界エッジＰ３を特定する。具体的な一例として、制御部８は、図１２のフローチャートを実行することで、境界エッジＰ３を特定する。

　これによれば、境界エッジＰ３に近似する半楕円Ｅ１１は錠剤９の主面９ａａの周縁により近い半楕円となり、また、主面エッジＰ２３に近似する楕円Ｅ１は錠剤９の主面９ａａの周縁により近い楕円となる。

　図３７は、欠けＢ１が生じた錠剤９についての各種エッジおよびその近似線の一例を概略的に示す図である。境界エッジＰ３の構成要素は欠けエッジＰ’においてエッジＰａ’，Ｐｃ’に分散されるので、図３７の例では、欠けエッジＰ’が部分的に境界エッジＰ３の構成要素として特定されることを示すべく、欠けエッジＰ’を破線で示している。また図３７の例では、主面外側エッジＰ２と半楕円Ｅ１１が互いに一致して示され、側面外側エッジＰ１と半楕円Ｅ２１が互いに一致して示されている。境界エッジＰ３は欠けエッジＰ’以外の部分において半楕円Ｅ１２と一致して示されている。実際には、これらは互いに相違し得る。

　図３３および図３７の比較から理解できるように、境界エッジＰ３上の各画素と半楕円Ｅ１２との間の距離ｄが欠けエッジＰ’において、より大きく算出される。したがって、欠けＢ１をより検出しやすい。言い換えれば、より高い精度で欠けＢ１を検出できる。

　しかも境界エッジＰ３の構成要素は欠けエッジＰ’で分散されるので、エッジＰａ’上の画素およびエッジＰｃ’上の画素の両方を用いて欠けＢ１を検出できる。これにより、欠けＢ１が主面９ａａ側に偏って形成されている場合であっても、つまり、エッジＰｃ’が側面９ｃａ側にはあまり張り出しておらず、主面９ａａ側に張り出している場合であっても、欠けＢ１を検出できる。以下に、具体的に説明する。

　図３８は、欠けＢ１が側面９ｃａ側に張り出していないときの各種エッジおよびその近似線の一例を概略的に示す図である。欠けＢ１が側面９ｃａ側にあまり張り出していない場合には、エッジＰｃ’上の各画素と半楕円Ｅ１２との間の距離ｄは短くなる。そして欠けＢ１の形状によっては、エッジＰｃ’上の全ての画素についての距離ｄが距離閾値ｄｔｈよりも短くなることがある。このとき図３２の探索処理を採用して境界エッジＰ３の構成要素がエッジＰｃ’に偏っていれば、その後の検査処理において、この欠けＢ１を検出できない。

　これに対して、欠けＢ１が主面９ａａ側に張り出していれば、図３８に示すように、エッジＰａ’上の画素と半楕円Ｅ１２との間の距離ｄは距離閾値ｄｔｈよりも長くなる。よって、境界エッジＰ３の構成要素がエッジＰａ’，Ｐｃ’の両方に分散される図１２の探索処理を用いれば、その後の検査処理において、この欠けＢ１を検出できる。なぜなら、この検査処理において、境界エッジＰ３のうちエッジＰａ’上の画素と半楕円Ｅ１２との距離ｄと距離閾値ｄｔｈとの大小判断を行うからである（ステップＳＢ８２，ＳＢ８３）。

　なお、第１から第４の実施の形態を第５の実施の形態に適用してもよい。

　変形例．
　＜錠剤の主面＞
　上述の例では、主面９ｂが搬送ベルト４１側を向く姿勢で搬送された錠剤９を検査対象として説明した。錠剤９の主面９ａが搬送ベルト４１を向く姿勢で錠剤９が搬送される場合には、錠剤検査装置１は錠剤９の主面９ｂおよび側面９ｃに対する外観検査を行うことになる。

　また例えば錠剤９に対する外観検査の後に、錠剤９の搬送姿勢を反転させ、その状態で錠剤９に対する外観検査を行ってもよい。これによれば、錠剤９の全面（主面９ａ，９ｂおよび側面９ｃ）に対する外観検査を行うことができる。

　＜錠剤の形状＞
　上述の例では、錠剤９は略円盤形状を有していた。例えばこの円盤形状として、いわゆる平錠またはＲ付き錠を採用できる。ただし、錠剤９は必ずしも円盤形状に限らない。つまり、主面９ａ，９ｂは必ずしも円形状を有する必要は無い。主面９ａ，９ｂの形状は既知であるので、撮像画像ＩＭ１１（あるいはＩＭ１１’、以下、同様）において現れるであろう主面９ａ（あるいは主面９ｂ）の周縁の形状を予め基準関数で決めておくことができる。この基準関数は当該形状を示すものの、その大きさおよび位置が変数となる関数である。基準関数は例えば制御部８の記憶媒体に予め記憶されてもよい。制御部８は撮像画像ＩＭ１１からエッジ画像を生成し、エッジ画像に含まれる主面エッジの近似線をその基準関数に基づいて求めればよい。これによって、撮像画像ＩＭ１１における主面領域Ｒａをより高い精度で算出することができる。

　以上のように、錠剤検査方法および錠剤検査装置は詳細に説明されたが、上記した説明は、全ての局面において例示であって、この開示がそれに限定されるものではない。また上述した各種実施の形態および各種変形例は、相互に矛盾しない限り組み合わせて適用可能である。そして、例示されていない多数の変形例が、この開示の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。

　１　錠剤検査装置
　５　撮像部（撮像ヘッド）
　８　画像処理部（制御部）
　９　錠剤
　９ａ　第１主面（主面）
　９ｂ　第２主面（主面）
　９ｃ　側面
　ｄ１，ｄ２　欠陥
　ｄＡ１，ｄＡ２　欠陥候補
　Ｅ１　第２近似線（楕円）
　Ｅ１１　第３近似線（半楕円）
　Ｅ１２　第１近似線（半楕円）
　Ｅ２１　第４近似線（半楕円）　ＩＭ１，ＩＭ１’　撮像画像
　ＭＲ１～ＭＲ４　マスク領域
　Ｐ０　錠剤エッジ
　Ｐ１　側面外側エッジ
　Ｐ２　主面外側エッジ
　Ｐ３　境界エッジ
　Ｐ２３　主面エッジ
　Ｒ１　探索領域
　Ｒａ　主面領域
　Ｒｃ　側面領域
　ＴＲ　錠剤領域

Claims

　一対の第１主面および第２主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査方法であって、
　錠剤を撮像して、前記第１主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する工程（ａ）と、
　前記撮像画像において前記第１主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域および側面領域を特定する工程（ｂ）と、
　前記主面領域および前記側面領域に対してそれぞれ検査処理を行う工程（ｃ）と、
を備え、
　前記工程（ｂ）は、
　前記撮像画像において、前記第１主面の輪郭に対応した主面エッジを特定する工程（ｂ１）と、
　前記撮像画像における前記主面領域の輪郭の形状を示す関数に基づいて、前記主面エッジの近似線を前記主面領域の輪郭として算出する工程（ｂ２）と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項１に記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤は略円盤形状を有しており、
　前記関数は楕円を示す関数であり、前記近似線は楕円である、錠剤検査方法。
　請求項１または請求項２に記載の錠剤検査方法であって、
　前記主面領域および前記側面領域は、前記撮像画像において前記錠剤が占める錠剤領域を構成しており、
　前記工程（ｂ１）は、
　前記撮像画像に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する工程（ｂ１１）と、
　前記錠剤領域の輪郭に対応する錠剤エッジを前記エッジ画像から特定する工程（ｂ１２）と、
　前記撮像画像における前記第１主面の周縁のうち前記錠剤領域の輪郭の一部となる部分、および、前記撮像画像における前記第２主面の周縁にそれぞれ対応する主面外側エッジおよび側面外側エッジを、前記錠剤エッジから抽出する工程（ｂ１３）と、
　前記エッジ画像において前記側面外側エッジから所定方向に沿って所定距離はなれた探索領域内の画素を探索して、前記主面領域と前記側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定する工程（ｂ１４）と、
　前記主面外側エッジおよび前記境界エッジの一組を前記主面エッジとして特定する工程（ｂ１４）と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項３に記載の錠剤検査方法であって、
　前記工程（ｂ１４）では、
　前記エッジ画像の前記探索領域内の画素であって、当該画素に対応する前記撮像画像の画素の画素値が所定閾値よりも大きな画素を探索して、前記境界エッジを特定する、錠剤検査方法。
　請求項３または請求項４に記載の錠剤検査方法であって、
　前記工程（ｂ１４）では、
　前記探索領域において、前記側面外側エッジから前記主面外側エッジへ向かって画素を探索して、前記境界エッジを特定する、錠剤検査方法。
　請求項１から請求項５のいずれか一つに記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤の前記第１主面および前記側面の一方の表面粗さは他方よりも小さく、
　前記工程（ｃ）は、
　前記撮像画像の前記主面領域および前記側面領域の一方に対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の値が第１閾値よりも大きいときに、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の前記一方に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ１）と、
　前記主面領域および前記側面領域の他方に対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の画素値が、前記第１閾値よりも大きな第２閾値よりも大きいときに、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の前記他方に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ２）と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項１から請求項６のいずれか一つに記載の錠剤検査方法であって、
　前記撮像画像において前記錠剤の前記第１主面および前記側面の一方は他方よりも明るく、
　前記工程（ｃ）は、
　前記撮像画像の前記主面領域および前記側面領域の一方の各画素の画素値が第３閾値よりも小さいときに、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の前記一方に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ１）と、
　前記撮像画像の前記主面領域および前記側面領域の他方の各画素の画素値が、前記第３閾値よりも小さな第４閾値より小さいときに、前記錠剤の前記第１主面および前記側面の前記他方に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ２）と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項１から請求項７のいずれか一つに記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤の前記第１主面には割線が形成されており、
　前記工程（ｂ）は、
　前記撮像画像において前記主面領域のうち前記割線を含む割線領域と前記割線を含まない非割線領域とを特定する工程（ｂ３）を含み、
　前記工程（ｃ）において、
　前記撮像画像の前記割線領域に対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の画素値が第５閾値よりも大きいときに、前記割線領域において欠陥が生じていると判断し、
　前記撮像画像の前記非割線領域に対してエッジ強度処理を行って得られた各画素の画素値が前記第５閾値よりも小さな第６閾値よりも大きいときに、前記非割線領域において欠陥が生じていると判断する、錠剤検査方法。
　一対の第１主面および第２主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査装置であって、
　錠剤の前記第１主面および前記側面の両方が写る方向から前記錠剤を撮像して撮像画像を生成する撮像部と、
　前記撮像画像において前記第１主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域および側面領域を特定し、前記主面領域および前記側面領域に対してそれぞれ検査処理を行う画像処理部と
を備え、
　前記画像処理部は、前記撮像画像において、前記第１主面の輪郭に対応した主面エッジを特定し、前記撮像画像における前記主面領域の輪郭の形状として予め決められた関数に基づいて、前記主面エッジの近似線を前記主面領域の輪郭として求める、錠剤検査装置。
　錠剤の外観を検査する錠剤検査方法であって、
　錠剤を撮像して、複数の撮像方向から見た錠剤の外観がそれぞれ写る複数の画像を含む撮像画像を生成する工程（ａ）と、
　錠剤の欠陥候補を検出する検査処理を、前記撮像画像に対して行う工程（ｂ）と、
　前記検査処理によって、前記複数の画像に写る前記錠剤の第１領域において、前記複数の画像のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する工程（ｃ）と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項１０に記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤の第２領域は前記複数の画像のうちｎ（ｎは２以上の整数）個の画像のみに写っており、
　前記検査処理によって、前記ｎ個の画像のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が前記第２領域において検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する工程（ｄ）を更に備える、錠剤検査方法。
　請求項１０または請求項１１に記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤の第３領域は前記複数の画像のうち１つの画像のみに写っており、
　前記検査処理によって、前記１つの画像の前記第３領域において欠陥候補が検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する工程（ｆ）を更に備える、錠剤検査方法。
　請求項１０から請求項１２のいずれか一つに記載の錠剤検査方法であって、
　前記検査処理の検査対象とならないマスク領域が前記複数の画像ごとに設定され、
　前記錠剤の第４領域は前記複数の画像のうちｍ（２以上の整数）個の画像のみにおいて前記マスク領域以外の検査対象領域に写っており、
　前記工程（ｃ）において、
　前記検査処理によって、前記ｍ個の画像のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が前記第４領域において検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する、錠剤検査方法。
　請求項１３に記載の錠剤検査方法であって、
　前記複数の画像のそれぞれにおいて、前記錠剤に対する光の正反射によって画素値が他の領域よりも所定値以上高くなる領域を含む領域が前記マスク領域に設定される、錠剤検査方法。
　請求項１３または請求項１４に記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤は、前記第１領域たる第１主面と、前記第１主面と対面する第２主面と、前記第１主面の周縁および前記第２主面の周縁を連結する側面とを有し、
　前記複数の画像のそれぞれにおいて前記錠剤の側面が占める側面領域の両側に位置する端領域が前記マスク領域に設定される、錠剤検査方法。
　請求項１０から請求項１５のいずれか一つに記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤は、前記第１領域たる第１主面と、前記第１主面と対面する第２主面と、前記第１主面の周縁および前記第２主面の周縁を連結する側面とを有し、
　前記工程（ｂ）は、
　前記複数の画像の各々において、前記錠剤の前記第１主面が示す主面領域の輪郭に対応した主面エッジを特定する工程（ｂ１）と、
　前記複数の画像の各々において、前記主面領域の輪郭の形状として予め決められた関数に基づいて、前記主面エッジの近似線を前記主面領域の輪郭として求める工程（ｂ２）と、
　前記複数の画像の各々において欠陥候補を検出する工程（ｂ３）と
を有し、
　前記工程（ｃ）において、前記主面領域に対する各画素の位置の前記複数の画像の相互間における対応関係に基づいて、前記工程（ｂ３）で検出された欠陥候補が前記２以上の画像において共通するのか否かを判断する、錠剤検査方法。
　請求項１６に記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤の前記第１主面は平面視で略円形状を有しており、
　前記関数は楕円を示す関数であり、前記近似線は楕円である、錠剤検査方法。
　請求項１６または請求項１７に記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤は略円盤形状を有しており、
　前記複数の画像の各々において、前記錠剤の側面が占める側面領域と、前記主面領域とは錠剤領域を構成しており、
　前記複数の画像の各々を検査画像と呼ぶと、
　前記工程（ｂ１）は、
　前記検査画像に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する工程（ｂ１１）と、
　前記検査画像において前記錠剤領域の輪郭に対応する錠剤エッジを、前記エッジ画像から特定する工程（ｂ１２）と、
　前記検査画像において前記第１主面の周縁のうち前記錠剤領域の輪郭の一部となる部分、および、前記検査画像における前記第２主面の周縁にそれぞれ対応する主面外側エッジおよび側面外側エッジを、前記錠剤エッジから抽出する工程（ｂ１３）と、
　前記エッジ画像において、前記側面外側エッジから所定方向に沿って所定距離はなれた探索領域内の画素を探索して、前記主面領域と前記側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定する工程（ｂ１４）と、
　前記主面外側エッジおよび前記境界エッジの一組を前記主面エッジとして特定する工程（ｂ１４）と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項１８に記載の錠剤検査方法であって、
　前記工程（ｂ１４）では、
　前記エッジ画像の前記探索領域内の画素であって、当該画素に対応する前記検査画像の画素の画素値が所定閾値よりも大きな画素を探索して、前記境界エッジを特定する、錠剤検査方法。
　請求項１８または請求項１９に記載の錠剤検査方法であって、
　前記工程（ｂ１４）では、
　前記探索領域において、前記側面外側エッジから前記主面外側エッジへ向かって画素を探索して、前記境界エッジを特定する、錠剤検査方法。
　錠剤の外観を検査する錠剤検査装置であって、
　錠剤を撮像して、複数の撮像方向から見た錠剤の外観がそれぞれ写る複数の画像を含む撮像画像を生成する撮像部と、
　画像処理部と
を備え、
　前記画像処理部は、
　錠剤の欠陥候補を検出する検査処理を、前記撮像画像に対して行う工程と、
　前記検査処理によって、前記複数の画像に写る前記錠剤の第１領域において、前記複数の画像のうち２以上の画像で共通の欠陥候補が検出されたときに、前記錠剤に欠陥が生じていると判断する工程と
を実行する、錠剤検査装置。
　一対の第１主面および第２主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査方法であって、
　錠剤を撮像して、前記第１主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する工程（ａ）と、
　前記撮像画像において前記錠剤の前記第１主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域と側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定し、前記境界エッジに近似する第１近似線を、前記撮像画像での前記境界の形状を示す関数に基づいて算出する工程（ｂ）と、
　前記境界エッジ上の各画素と前記第１近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第１主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程（ｃ）と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項２２に記載の錠剤検査方法であって、
　前記主面領域および前記側面領域は、前記撮像画像において前記錠剤が占める錠剤領域を構成しており、
　前記工程（ｂ）は、
　前記撮像画像に対してエッジ検出処理を行ってエッジ画像を生成する工程（ｂ１）と、
　前記錠剤領域の輪郭に対応する錠剤エッジを前記エッジ画像から特定する工程（ｂ２）と、
　前記撮像画像における前記第１主面の周縁のうち前記錠剤領域の輪郭の一部となる部分、および、前記撮像画像における前記第２主面の周縁にそれぞれ対応する主面外側エッジおよび側面外側エッジを、前記錠剤エッジから抽出する工程（ｂ３）と、
　前記エッジ画像において前記側面外側エッジから所定方向に沿って所定距離はなれた探索領域内の画素を探索して、前記境界エッジを特定する工程（ｂ４）と、
　前記撮像画像での前記主面領域の輪郭の形状を示す関数に基づいて、前記主面外側エッジおよび前記境界エッジの一組たる主面エッジの第２近似線を算出する工程（ｂ５）と、
　前記第２近似線から前記境界エッジの前記第１近似線を抽出する工程（ｂ６）と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項２３に記載の錠剤検査方法であって、
　前記錠剤は略円盤形状を有しており、
　前記関数は楕円を示す関数であり、前記第２近似線は楕円である、錠剤検査方法。
　請求項２３または請求項２４に記載の錠剤検査方法であって、
　前記工程（ｂ４）では、
　前記エッジ画像の前記探索領域内の画素であって、当該画素に対応する前記撮像画像の画素の画素値が所定閾値よりも大きな画素を探索して、前記境界エッジを特定する、錠剤検査方法。
　請求項２４または請求項２５に記載の錠剤検査方法であって、
　前記工程（ｂ４）では、
　前記探索領域において、前記側面外側エッジから前記主面外側エッジへ向かって画素を探索して、前記境界エッジを特定する、錠剤検査方法。
　請求項２３から請求項２６のいずれか一つに記載の錠剤検査方法であって、
　前記工程（ｂ５）において算出した前記主面エッジの前記第２近似線から、前記主面外側エッジの第３近似線を抽出する工程と、
　前記主面外側エッジ上の各画素と前記第３近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第１主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程と
を備える、錠剤検査方法。
　請求項２３から請求項２７のいずれか一つに記載の錠剤検査方法であって、
　前記工程（ｂ５）において算出した前記主面エッジの前記第２近似線から、前記側面外側エッジの第４近似線を抽出する工程と、
　前記側面外側エッジ上の各画素と前記第４近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第２主面の周縁に欠けが生じていると判断する工程と
を備える、錠剤検査方法。
　一対の第１主面および第２主面と側面とを有する錠剤の外観を検査する錠剤検査装置であって、
　錠剤を撮像して、前記第１主面および前記側面の両方が写る撮像画像を生成する撮像部と、
　画像処理部と
を備え、
　前記画像処理部は、
　前記撮像画像において前記錠剤の前記第１主面および前記側面がそれぞれ占める主面領域と側面領域との間の境界に対応する境界エッジを特定し、
　前記境界エッジに近似する第１近似線を、前記撮像画像での前記境界の形状を示す関数に基づいて算出し、
　前記境界エッジ上の各画素と前記第１近似線との間の距離が所定の閾値よりも長いときに、前記錠剤の前記第１主面の周縁に欠けが生じていると判断する、錠剤検査装置。