WO2018221789A1 - 발광소자 패키지 및 광원 장치 - Google Patents

발광소자 패키지 및 광원 장치 Download PDF

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WO2018221789A1
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light emitting
emitting device
electrode
hole
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이태성
송준오
임창만
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엘지이노텍 주식회사
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    • H01L33/58—Optical field-shaping elements
    • H01L33/60—Reflective elements

Definitions

  • the embodiment relates to a semiconductor device package, a method of manufacturing a semiconductor device package, and a light source device.
  • a semiconductor device including a compound such as GaN, AlGaN, etc. has many advantages, such as having a wide and easy-to-adjust band gap energy, and can be used in various ways as a light emitting device, a light receiving device, and various diodes.
  • light emitting devices such as light emitting diodes or laser diodes using group 3-5 or 2-6 compound semiconductor materials have been developed using thin film growth technology and device materials.
  • a light emitting device such as a light emitting diode or a laser diode using a group 3 to 5 or 2 to 6 group compound semiconductor material may implement a white light source having high efficiency by using a fluorescent material or combining colors.
  • Such a light emitting device has advantages of low power consumption, semi-permanent life, fast response speed, safety and environmental friendliness compared to conventional light sources such as fluorescent lamps and incandescent lamps.
  • a light-receiving device such as a photodetector or a solar cell
  • a Group 3-5 Group 2 or Group 6 compound semiconductor material development of device materials absorbs light in various wavelength ranges to generate a photocurrent. As a result, light in various wavelengths can be used from gamma rays to radio wavelengths.
  • a light receiving device has the advantages of fast response speed, safety, environmental friendliness and easy control of the device material, so that it can be easily used in power control or microwave circuits or communication modules.
  • the semiconductor device may replace a light emitting diode backlight, a fluorescent lamp, or an incandescent bulb, which replaces a cold cathode tube (CCFL) constituting a backlight module of an optical communication means, a backlight of a liquid crystal display (LCD) display device.
  • CCFL cold cathode tube
  • LCD liquid crystal display
  • the light emitting device may be provided as a pn junction diode having a characteristic in which electrical energy is converted into light energy using, for example, a group 3-5 element or a group 2-6 element on the periodic table.
  • Various wavelengths can be realized by adjusting the composition ratio.
  • nitride semiconductors are receiving great attention in the field of optical devices and high power electronic devices due to their high thermal stability and wide bandgap energy.
  • a blue light emitting device, a green light emitting device, an ultraviolet light emitting device, a red light emitting device using a nitride semiconductor, and the like are commercially used and widely used.
  • a light emitting diode which emits light distributed in a wavelength range of 200 nm to 400 nm, and is used in the wavelength band, for short wavelengths, for sterilization and purification, and for long wavelengths, an exposure machine or a curing machine. Can be used.
  • UV-A 315nm ⁇ 400nm
  • UV-B 280nm ⁇ 315nm
  • UV-C 200nm ⁇ 280nm
  • the UV-A (315nm ⁇ 400nm) area is applied to various fields such as industrial UV curing, printing ink curing, exposure machine, forgery discrimination, photocatalyst sterilization, special lighting (aquarium / agriculture, etc.), and UV-B (280nm ⁇ 315nm).
  • Area is used for medical purposes
  • UV-C 200nm ⁇ 280nm
  • area is applied to air purification, water purification, sterilization products.
  • the embodiment can provide a semiconductor device package, a method of manufacturing a semiconductor device package, and a light source device capable of improving light extraction efficiency and electrical characteristics.
  • the embodiment can provide a semiconductor device package, a method of manufacturing a semiconductor device package, and a light source device capable of improving process efficiency and suggesting a new package structure to reduce manufacturing cost and improve manufacturing yield.
  • the light emitting device package includes a body; A light emitting element disposed on the body; And an adhesive disposed between the body and the light emitting element;
  • the body includes first and second through holes penetrating the lower surface of the body from the upper surface of the body, and a first recess concave in a direction from the upper surface of the body toward the lower surface of the body, The first recess is disposed between the first and second through holes, the adhesive is disposed in the first recess, and the light emitting element is based on a first direction from the lower surface of the body to the upper surface.
  • first and second electrodes overlapping the first and second through holes, respectively.
  • the adhesive may be disposed in direct contact with the body and the light emitting device.
  • a light emitting device package may include: a first conductive layer provided in the first through hole and disposed in direct contact with a lower surface of the first electrode; And a second conductive layer provided in the second through hole and disposed in direct contact with the lower surface of the second electrode. It may further include.
  • a light emitting device package including: a circuit board disposed under the body and including a first pad and a second pad; A first bonding layer electrically connecting the first pad and the first electrode of the circuit board; And a second bonding layer electrically connecting the second pad and the second electrode of the circuit board. It may include.
  • the first bonding layer is disposed in the first through hole, is disposed in direct contact with a lower surface of the first electrode, and the second bonding layer is disposed in the second through hole. It may be disposed in direct contact with the lower surface of the second electrode.
  • the width of the upper region of the first through hole may be provided to be smaller than or equal to the width of the first electrode.
  • the width of the upper region of the first through hole may be provided to be smaller than or equal to the width of the lower region of the first through hole.
  • a light source device includes a substrate; A body disposed on the substrate; A light emitting element disposed on the body; And an adhesive disposed between the body and the light emitting element;
  • the body includes first and second through holes penetrating the lower surface of the body from the upper surface of the body, and a first recess concave in a direction from the upper surface of the body toward the lower surface of the body, The first recess is disposed between the first and second through holes, the adhesive is disposed in the first recess, and the light emitting element is based on a first direction from the lower surface of the body to the upper surface.
  • first and second electrodes overlapping the first and second through holes, respectively, and disposed in the first and second through holes, respectively, the first and second electrodes and the substrate of the light emitting device. It may include a first and second conductive layer for electrically connecting.
  • the adhesive may be disposed in direct contact with the upper surface of the body and the lower surface of the light emitting device.
  • the width of the upper region of the first through hole may be provided to be smaller than or equal to the width of the first electrode.
  • the width of the upper region of the first through hole may be provided to be smaller than or equal to the width of the lower region of the first through hole.
  • the semiconductor device package and the semiconductor device package manufacturing method according to the embodiment there is an advantage that can improve the light extraction efficiency, electrical characteristics and reliability.
  • the semiconductor device package and the semiconductor device package manufacturing method there is an advantage that can improve the process efficiency and propose a new package structure to reduce the manufacturing cost and improve the manufacturing yield.
  • the semiconductor device package according to the embodiment may provide a body having a high reflectance, thereby preventing the reflector from being discolored, thereby improving reliability of the semiconductor device package.
  • FIG. 1 is a view showing a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view illustrating a light emitting device package according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 3 to 6 are views illustrating a method of manufacturing a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • 9 to 13 illustrate another example of a method of manufacturing a light emitting device package according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 14 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • 15 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • 16 to 18 are diagrams showing a modified example of the through hole applied to the light emitting device package according to the embodiment of the present invention.
  • 19 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 20 is a view illustrating an arrangement relationship between a through hole and a recess provided in the light emitting device package illustrated in FIG. 19.
  • 21 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 22 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 23 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • 24 to 26 are views for explaining a modification of the body applied to the light emitting device package according to the embodiment of the present invention.
  • 27 to 29 are views illustrating another modified example of the body applied to the light emitting device package according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 30 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • 31 is a plan view showing a light emitting device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 32 is a cross-sectional view taken along line A-A of the light emitting device of FIG. 31.
  • 33A and 33B illustrate a step in which a semiconductor layer is formed by a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment of the present invention.
  • 34A and 34B illustrate a step in which an ohmic contact layer is formed by a light emitting device manufacturing method according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 35A and 35B illustrate a step in which a reflective layer is formed by a light emitting device manufacturing method according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 36A and 36B illustrate a step in which a first sub electrode and a second sub electrode are formed by a method of manufacturing a light emitting device according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 37A and 37B are views illustrating a step in which a protective layer is formed by a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment of the present invention.
  • 38A and 38B are diagrams illustrating a step in which a first electrode and a second electrode are formed by a light emitting device manufacturing method according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • each layer, region, pattern, or structure is “on / over” or “under” the substrate, each layer, layer, pad, or pattern.
  • “on / over” and “under” include both “directly” or “indirectly” formed. do.
  • the criteria for the top / top or bottom of each layer will be described based on the drawings, but the embodiment is not limited thereto.
  • FIGS. 1 and 2 are views showing a light emitting device package according to an embodiment of the present invention
  • Figure 2 is an exploded perspective view illustrating a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • the light emitting device package 100 may include a body 110 and a light emitting device 120, as shown in FIGS. 1 and 2.
  • the body 110 may include a mount 111 and a reflector 113.
  • the reflector 113 may be disposed on the mount 111.
  • the reflector 113 may be disposed around an upper surface of the mount 111.
  • the reflector 113 may provide a cavity C on an upper surface of the mount 111.
  • the mount 111 may be referred to as a lower body, and the reflector 113 may be referred to as an upper body.
  • the reflector 113 may reflect light emitted from the light emitting device 120 in an upward direction.
  • the reflector 113 may be disposed to be inclined with respect to the upper surface of the mount 111.
  • the body 110 may include the cavity C.
  • the cavity may include a bottom surface and a side surface inclined from the bottom surface to the top surface of the body 110.
  • the body 110 may be made of polyphthalamide (PPA), polychloro triphenyl (PCT), liquid crystal polymer (LCP), polyamide 9T (PA9T), silicone, epoxy molding compound (EMC), It may be formed of at least one selected from the group consisting of silicon molding compound (SMC), ceramic, photo sensitive glass (PSG), sapphire (Al 2 O 3 ) and the like.
  • the body 110 may include a high refractive filler such as TiO 2 and SiO 2 .
  • the light emitting device 120 may include a first electrode 121, a second electrode 122, and a semiconductor layer 123.
  • the semiconductor layer 123 may include a first conductive semiconductor layer, a second conductive semiconductor layer, and an active layer disposed between the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer.
  • the first electrode 121 may be electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer.
  • the second electrode 122 may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the body 110.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the mount 111.
  • the light emitting device 120 may be disposed in the cavity C provided by the reflector 113.
  • the first electrode 121 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the second electrode 122 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 and the second electrode 122 may be spaced apart from each other on the lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the second electrode 122 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the first electrode 121 and the second electrode 122 are Ti, Al, In, Ir, Ta, Pd, Co, Cr, Mg, Zn, Ni, Si, Ge, Ag, Ag alloy, Au, Hf , Pt, Ru, Rh, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx / ITO, Ni / IrOx / Au, Ni / IrOx / Au / ITO in a single layer or multiple layers using one or more materials or alloys selected from the group Can be formed.
  • the light emitting device package 100 may include a first through hole TH1 and a second through hole TH2 as shown in FIGS. 1 and 2.
  • the body 110 may include the first through hole TH1 penetrating the bottom surface of the body 110 from the bottom surface of the cavity C.
  • the body 110 may include the second through hole TH2 penetrating the bottom surface of the body 110 from the bottom surface of the cavity C.
  • the first through hole TH1 may be provided in the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in a first direction.
  • the first through hole TH1 may be disposed under the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap with the first electrode 121 of the light emitting device 120 in a first direction from the top surface of the mount unit 111 toward the bottom surface thereof.
  • the second through hole TH2 may be provided in the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in the first direction.
  • the second through hole TH2 may be disposed under the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap with the second electrode 122 of the light emitting device 120 in a first direction from the upper surface of the mount 111 to the lower surface.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other under a lower surface of the light emitting device 120.
  • the width W1 of the upper region of the first through hole TH1 may be smaller than or equal to the width of the first electrode 121.
  • the width of the upper region of the second through hole TH2 may be provided to be smaller than or equal to the width of the second electrode 122. Therefore, the light emitting device and the body 110 of the light emitting device package may be more firmly attached.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided in several tens of micrometers.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided to 40 micrometers to 60 micrometers.
  • the second electrode 122 When the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the side end of the side of the second electrode 122 is 40 micrometers or more, the second electrode 122 is connected to the second through hole TH2. Process margins can be secured to avoid exposure at the bottom.
  • the second exposed hole TH2 is exposed.
  • the area of the electrode 122 may be secured, and the resistance of the second electrode 122 exposed by the second through hole TH2 may be lowered, thereby exposing the second exposed hole TH2. Injecting the current into the two electrodes 122 can be performed smoothly.
  • width W1 of the upper region of the first through hole TH1 may be smaller than or equal to the width W2 of the lower region of the first through hole TH1.
  • width of the upper region of the second through hole TH2 may be smaller than or equal to the width of the lower region of the second through hole TH2.
  • the first through hole TH1 may be provided in an inclined form in which the width gradually decreases from the lower region to the upper region.
  • the second through hole TH2 may be provided in an inclined form in which the width gradually decreases from the lower region to the upper region.
  • the present invention is not limited thereto, and the inclined surfaces between the upper and lower regions of the first and second through holes TH1 and TH2 may have a plurality of inclined surfaces having different inclinations, and the inclined surfaces may be disposed with curvature. have.
  • a width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in the hundreds of micrometers in the lower region of the mount 111.
  • a width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in a range of 100 micrometers to 150 micrometers in the lower region of the mount 111.
  • the width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 in the lower surface area of the mount 111 may include a circuit board, a light emitting device package 100 according to an embodiment; When mounted in a sub-mount or the like, it may be selected to be provided over a certain distance to prevent a short between the bonding pads.
  • the light emitting device package 100 may include a recess R as shown in FIGS. 1 and 2.
  • the recess R may be recessed from the bottom surface of the cavity C to the bottom surface of the body 110.
  • first and second through holes TH1 and TH2 disposed between the first and second electrode pads 121 and 122 may overlap the recess R vertically.
  • the recess R may be provided in the mount 111.
  • the recess R may be provided between the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the recess R may be provided to be concave in a lower surface direction from an upper surface of the mount 111.
  • the recess R may be disposed under the light emitting device 120.
  • the light emitting device package 100 may include an adhesive 130, as shown in FIG. 1.
  • the adhesive 130 may be disposed in the recess R.
  • the adhesive 130 may be disposed between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may be disposed in contact with the side surface of the first electrode 121 and the side surface of the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the lower surface of the light emitting device 120.
  • the adhesive 130 may include at least one of an epoxy-based material, a silicone-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material. .
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the mount 111 and the light emitting device 120, and when light is emitted to the bottom surface of the light emitting device 120, between the light emitting device and the body. Can provide light diffusion function. When light is emitted from the light emitting device 120 to the bottom surface of the light emitting device 120, the adhesive 130 may improve light extraction efficiency of the light emitting device package 100 by providing a light diffusion function.
  • the depth T1 of the recess R may be smaller than the depth T2 of the first through hole TH1 or the depth T2 of the second through hole TH2. have.
  • the depth T1 of the recess R may be determined in consideration of the adhesive force of the adhesive 130.
  • the recess R has a depth T1 in which the crack is caused in the light emitting device package 100 by considering the stable strength of the mount 111 and / or by heat emitted from the light emitting device 120. It can be determined not to occur.
  • the recess R may provide an appropriate space under the light emitting device 120 in which a kind of underfill process may be performed.
  • the recess R may be provided to a depth greater than or equal to a first depth so that the adhesive 130 is sufficiently provided between the bottom surface of the light emitting device 120 and the top surface of the mount 111.
  • the recess R may be provided below a second depth in order to provide stable strength of the mount 111.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may affect the formation position and the fixing force of the adhesive 130.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may be determined to provide sufficient fixing force by the adhesive 130 disposed between the mount 111 and the light emitting device 120. have.
  • the depth T1 of the recess R may be provided in several tens of micrometers.
  • the depth T1 of the recess R may be provided between 40 micrometers and 60 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided in hundreds of micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be narrower than the gap between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the width W4 of the recess R may be provided to 140 micrometers to 160 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided as 150 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided corresponding to the thickness of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided to have a thickness capable of maintaining stable strength of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at several hundred micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at 180 micrometers to 220 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided as 200 micrometers.
  • the thickness of the (T2-T1) may be selected to at least 100 micrometers or more. This is considered an injection process thickness that can provide crack free of the mount 111.
  • the ratio T2 / T1 of T1 thickness and T2 thickness may be provided as 2 to 10.
  • the thickness of T2 is provided at 200 micrometers
  • the thickness of T1 may be provided at 20 micrometers to 100 micrometers.
  • the length L2 of the recess R may be larger than the length L1 of the second through hole TH2.
  • the length L1 of the second through hole TH2 may be smaller than the length L2 of the light emitting device 120 in the uniaxial direction.
  • the length L2 of the recess R may be larger than the length L2 of the light emitting device 120.
  • the adhesive 130 provided in the recess (R) is the light emitting device ( The portion overflowing while being bonded to the lower portion of 120 may move in the length L2 direction of the recess R. Accordingly, even when the amount of the adhesive 130 is applied in a larger amount than the design, the light emitting device 120 can be stably fixed without being lifted from the mount 111.
  • the width of the recess R may be uniformly disposed in the second direction and may have a protrusion in the third direction.
  • the recess R may serve as an alignment key for disposing the light emitting device 120 on the mount 111. Therefore, when the light emitting device 120 is disposed on the mount 111 through the recess R, the light emitting device 120 may be provided as a reference so that the light emitting device 120 may be disposed at a desired position. .
  • the light emitting device package 100 may include a molding part 140, as shown in FIG.
  • the molding part 140 may be provided on the light emitting device 120.
  • the molding part 140 may be disposed on the mount part 111.
  • the molding part 140 may be disposed in the cavity C provided by the reflecting part 113.
  • the molding part 140 may include an insulating material.
  • the molding part 140 may include wavelength conversion means for receiving light emitted from the light emitting device 120 and providing wavelength converted light.
  • the molding part 140 may include a phosphor, a quantum dot, and the like.
  • the semiconductor layer 123 may be provided as a compound semiconductor.
  • the semiconductor layer 123 may be provided as, for example, a Group 2-6 or Group 3-5 compound semiconductor.
  • the semiconductor layer 123 may include at least two elements selected from aluminum (Al), gallium (Ga), indium (In), phosphorus (P), arsenic (As), and nitrogen (N). Can be.
  • the semiconductor layer 123 may include a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer.
  • the first and second conductivity-type semiconductor layers may be implemented as at least one of a compound semiconductor of Groups 3-5 or 2-6.
  • the first and second conductivity-type semiconductor layers are formed of a semiconductor material having, for example, a composition formula of In x Al y Ga 1-xy N (0 ⁇ x ⁇ 1, 0 ⁇ y ⁇ 1, 0 ⁇ x + y ⁇ 1).
  • the first and second conductive semiconductor layers may include at least one selected from the group consisting of GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, and the like. .
  • the first conductive semiconductor layer may be an n-type semiconductor layer doped with n-type dopants such as Si, Ge, Sn, Se, Te, or the like.
  • the second conductive semiconductor layer may be a p-type semiconductor layer doped with p-type dopants such as Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba.
  • the active layer may be implemented with a compound semiconductor.
  • the active layer may be implemented as at least one of a compound semiconductor of Group 3-Group 5 or Group 2-6, for example.
  • the active layer may include a plurality of well layers and a plurality of barrier layers alternately arranged, and In x Al y Ga 1-xy N (0 ⁇ x ⁇ 1, 0 It can be arranged with a semiconductor material having a composition formula of ⁇ y ⁇ 1, 0 ⁇ x + y ⁇ 1).
  • the active layer is selected from the group comprising InGaN / GaN, GaN / AlGaN, AlGaN / AlGaN, InGaN / AlGaN, InGaN / InGaN, AlGaAs / GaAs, InGaAs / GaAs, InGaP / GaP, AlInGaP / InGaP, InP / GaAs. It may include at least one.
  • the body 110 may be provided on the temporary substrate 210.
  • only one body 110 is provided on the temporary substrate 210.
  • one body 110 may be provided on the temporary substrate 210, and a plurality of bodies 110 may be disposed.
  • one body 110 or a plurality of bodies 110 may be provided on the temporary substrate 210 through an injection process or the like.
  • a kind of chip scale package process may be applied.
  • the temporary substrate 210 may include at least one selected from the group consisting of polyimide resin, glass, acrylic resin, epoxy resin, silicone resin, and the like.
  • the body 110 may include a mount 111 and a reflector 113.
  • the body 110 may include a first through hole TH1 and a second through hole TH2.
  • the body 110 may include a recess (R).
  • the first through hole TH1 may be provided in the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in a first direction.
  • the second through hole TH2 may be provided in the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in the first direction.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other.
  • the recess R may be provided in the mount 111.
  • the recess R may be provided between the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the recess R may be provided to be concave in a lower surface direction from an upper surface of the mount 111.
  • the adhesive 130 may be provided in the recess (R).
  • the adhesive 130 may be provided to the recess R through a doting method or the like.
  • the adhesive 130 may be provided in a predetermined amount in a region where the recess R is formed, and may be provided to overflow the recess R.
  • the light emitting device 120 may be provided on the mount 111.
  • the recess R may be used to serve as a sort key as the light emitting device 120 is disposed on the mount 111.
  • the light emitting device 120 may be fixed to the mount 111 by the adhesive 130.
  • a portion of the adhesive 130 provided in the recess R may move in the directions of the first electrode 121 and the second electrode 122 to be cured. Accordingly, the adhesive 130 may be provided in a wide area between the bottom surface of the light emitting device 120 and the top surface of the mount 111, and between the light emitting device 120 and the mount 111. The fixing force can be improved.
  • the first through hole TH1 may be disposed under the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap with the first electrode 121 of the light emitting device 120 in a first direction from the top surface of the mount unit 111 toward the bottom surface thereof.
  • the second through hole TH2 may be disposed under the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap with the second electrode 122 of the light emitting device 120 in a first direction from the upper surface of the mount 111 to the lower surface.
  • the molding unit 140 is provided on the light emitting device 120, the temporary substrate 210 is removed,
  • the light emitting device package 100 according to the embodiment may be provided.
  • the bottom surface of the first electrode 121 may be exposed through the first through hole TH1.
  • a bottom surface of the second electrode 122 may be exposed through the second through hole TH2.
  • the light emitting device package manufacturing method according to an embodiment of the present invention has the advantage that the process time can be shortened and the material can be reduced.
  • the method of manufacturing a light emitting device package according to an exemplary embodiment of the present invention has an advantage of reducing manufacturing cost and improving manufacturing yield.
  • a power is connected to the first electrode 121 through the first through-hole TH1 region, and the second electrode through the second through-hole TH2 region.
  • a power source may be connected to 122.
  • the light emitting device 120 may be driven by driving power supplied through the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the light emitted from the light emitting device 120 may be provided in an upper direction of the body 110.
  • the light emitting device package 100 may be mounted on a sub-mount or a circuit board and supplied.
  • FIG. 7 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • the light emitting device package according to the exemplary embodiment of the present invention illustrated in FIG. 7 illustrates an example in which the light emitting device package 100 described with reference to FIGS. 1 to 6 is mounted on a circuit board 310 and supplied.
  • the light emitting device package 100 mounted on the circuit board 310 may be used for a lighting device.
  • the light emitting device package 200 may include a circuit board 310, a body 110, and a light emitting device 120.
  • the circuit board 310 may include a first pad 310, a second pad 320, and a substrate 313.
  • a power supply circuit for controlling the driving of the light emitting device 120 may be provided on the substrate 313.
  • the body 110 may be disposed on the circuit board 310.
  • the first pad 311 and the first electrode 121 may be electrically connected to each other.
  • the second pad 312 and the second electrode 122 may be electrically connected to each other.
  • the first pad 311 and the second pad 312 may include a conductive material.
  • the first pad 311 and the second pad 312 may be selected from a group including Ti, Cu, Ni, Au, Cr, Ta, Pt, Sn, Ag, P, Fe, Sn, Zn, and Al. It may comprise at least one material selected or alloys thereof.
  • the first pad 311 and the second pad 312 may be provided in a single layer or multiple layers.
  • the body 110 may include a mount 111 and a reflector 113.
  • the body 110 may include a first through hole TH1 and a second through hole TH2 penetrating in a first direction from an upper surface to a lower surface.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be penetrated in a first direction from an upper surface to a lower surface of the mount 111.
  • the light emitting device 120 may include a first electrode 121, a second electrode 122, and a semiconductor layer 123.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the body 110.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the mount 111.
  • the light emitting device 120 may be disposed in a cavity C provided by the reflector 113.
  • the first electrode 121 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the second electrode 122 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 and the second electrode 122 may be spaced apart from each other on the lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the second electrode 122 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be disposed under the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap with the first electrode 121 of the light emitting device 120 in a first direction from the top surface of the mount unit 111 toward the bottom surface thereof.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first pad 311.
  • the first electrode 121 and the first pad 311 may be provided to overlap each other in the vertical direction.
  • the second through hole TH2 may be disposed under the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap with the second electrode 122 of the light emitting device 120 in a first direction from the upper surface of the mount 111 to the lower surface.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second pad 312.
  • the second electrode 122 and the second pad 312 may be provided to overlap each other in the vertical direction.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other under a lower surface of the light emitting device 120.
  • the light emitting device package 200 may include a first bonding layer 321 and a second bonding layer 322, as shown in FIG. 7.
  • the first bonding layer 321 may be electrically connected to the first electrode 121 in a process in which the body 110 is mounted on the circuit board 310.
  • the first bonding layer 321 may include a bump or a bonding material provided on the first pad 311 in a reflow process in which the body 110 is mounted on the circuit board 310. 1 may be inserted into the through hole TH1.
  • the first bonding layer 321 may be formed by moving a bonding material into the first through hole TH1 by a kind of capillary phenomenon. .
  • the second bonding layer 322 may be electrically connected to the second electrode 122 in a process in which the body 110 is mounted on the circuit board 310.
  • the second bonding layer 322 may include a bump or a bonding material provided to the second pad 312 in a reflow process in which the body 110 is mounted on the circuit board 310. 2 may be inserted into the through-hole TH2.
  • the second bonding layer 322 may be formed by moving a bonding material into the second through hole TH2 by a kind of capillary phenomenon. .
  • the first bonding layer 321 and the second bonding layer 322 are titanium (Ti), copper (Cu), nickel (Ni), gold (Au), chromium (Cr), tantalum (Ta) and platinum. It may be formed of at least one material selected from the group consisting of (Pt), tin (Sn), silver (Ag), phosphorus (P) or an optional alloy.
  • the first pad 311 and the first electrode 121 of the circuit board 310 may be electrically connected by the first bonding layer 321.
  • the second pad 312 and the second electrode 122 of the circuit board 310 may be electrically connected by the second bonding layer 322.
  • the body 110 may be mounted on the circuit board 310 by utic bonding.
  • the light emitting device package 200 may include a recess (R), as shown in FIG.
  • the recess R may be provided in the mount 111.
  • the recess R may be provided between the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the recess R may be provided to be concave in a lower surface direction from an upper surface of the mount 111.
  • the recess R may be disposed under the light emitting device 120.
  • the light emitting device package 200 may include an adhesive 130, as shown in FIG. 7.
  • the adhesive 130 may be disposed in the recess R.
  • the adhesive 130 may be disposed between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may be disposed in contact with the side surface of the first electrode 121 and the side surface of the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the lower surface of the light emitting device 120.
  • the adhesive 130 may include at least one of an epoxy-based material, a silicone-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material. .
  • the recess R may be provided to a depth greater than or equal to a first depth so that the adhesive 130 is sufficiently provided between the bottom surface of the light emitting device 120 and the top surface of the mount 111.
  • the recess R may be provided below a second depth in order to provide stable strength of the mount 111.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may affect the formation position and the fixing force of the adhesive 130.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may be determined to provide sufficient fixing force by the adhesive 130 disposed between the mount 111 and the light emitting device 120. have.
  • the depth T1 of the recess R may be provided in several tens of micrometers.
  • the depth T1 of the recess R may be provided between 40 micrometers and 60 micrometers.
  • the depth T1 of the recess R may be provided at 50 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided in hundreds of micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be narrower than the gap between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the width W4 of the recess R may be provided to 140 micrometers to 160 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided as 150 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided corresponding to the thickness of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided as a thickness that can be formed in the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at several hundred micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at 180 micrometers to 220 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided as 200 micrometers.
  • the light emitting device package 200 may include a molding unit 140, as shown in FIG.
  • the molding part 140 may be provided on the light emitting device 120.
  • the molding part 140 may be disposed on the mount part 111.
  • the molding part 140 may be disposed in the cavity C provided by the reflecting part 113.
  • the light emitting device package manufacturing method has the advantage that the process time can be shortened and the material can be reduced.
  • the method of manufacturing a light emitting device package according to an exemplary embodiment of the present invention has an advantage of reducing manufacturing cost and improving manufacturing yield.
  • Figure 8 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • the light emitting device package of FIG. 8 may be used in an illumination device.
  • the light emitting device package 300 may include a body 110, a light emitting device 120, a first conductive layer 411, and a second conductive layer 412. have.
  • the body 110 may include a mount 111 and a reflector 113.
  • the reflector 113 may be disposed on the mount 111.
  • the reflector 113 may be disposed around an upper surface of the mount 111.
  • the reflector 113 may provide a cavity C on an upper surface of the mount 111.
  • the light emitting device 120 may include a first electrode 121, a second electrode 122, and a semiconductor layer 123.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the body 110.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the mount 111.
  • the light emitting device 120 may be disposed in the cavity C provided by the reflector 113.
  • the first electrode 121 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the second electrode 122 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 and the second electrode 122 may be spaced apart from each other on the lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the second electrode 122 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the light emitting device package 300 may include a first through hole TH1 and a second through hole TH2 as shown in FIG. 8.
  • the first through hole TH1 may be provided in the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in a first direction.
  • the first through hole TH1 may be disposed under the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap with the first electrode 121 of the light emitting device 120 in a first direction from the top surface of the mount unit 111 toward the bottom surface thereof.
  • the second through hole TH2 may be provided in the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in the first direction.
  • the second through hole TH2 may be disposed under the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap with the second electrode 122 of the light emitting device 120 in a first direction from the upper surface of the mount 111 to the lower surface.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other under a lower surface of the light emitting device 120.
  • the width W1 of the upper region of the first through hole TH1 may be smaller than or equal to the width of the first electrode 121.
  • the width of the upper region of the second through hole TH2 may be provided to be smaller than or equal to the width of the second electrode 122.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided in several tens of micrometers.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided to 40 micrometers to 60 micrometers.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided at a level of 50 micrometers.
  • width W1 of the upper region of the first through hole TH1 may be smaller than or equal to the width W2 of the lower region of the first through hole TH1.
  • width of the upper region of the second through hole TH2 may be smaller than or equal to the width of the lower region of the second through hole TH2.
  • the first through hole TH1 may be provided in an inclined form in which the width gradually decreases from the lower region to the upper region.
  • the second through hole TH2 may be provided in an inclined form in which the width gradually decreases from the lower region to the upper region.
  • a width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in the hundreds of micrometers in the lower region of the mount 111.
  • a width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in a range of 100 micrometers to 150 micrometers in the lower region of the mount 111.
  • the width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 in the lower surface area of the mount 111 may include a circuit board, a light emitting device package 100 according to an embodiment; When mounted in a sub-mount or the like, it may be selected to be provided over a certain distance to prevent a short between the bonding pads.
  • the light emitting device package 300 may include a recess R, as shown in FIG. 8.
  • the recess R may be provided in the mount 111.
  • the recess R may be provided between the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the recess R may be provided to be concave in a lower surface direction from an upper surface of the mount 111.
  • the recess R may be disposed under the light emitting device 120.
  • the light emitting device package 300 may include an adhesive 130, as shown in FIG. 8.
  • the adhesive 130 may be disposed in the recess R.
  • the adhesive 130 may be disposed between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may be disposed in contact with the side surface of the first electrode 121 and the side surface of the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may provide a function of diffusing light emitted to the lower surface of the light emitting device 120 after curing between the light emitting device and the mount 111.
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the lower surface of the light emitting device 120.
  • the adhesive 130 may include at least one of an epoxy-based material, a silicone-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material. .
  • the depth T1 of the recess R may be smaller than the depth T2 of the first through hole TH1 or the depth T2 of the second through hole TH2. have.
  • the depth T1 of the recess R may be determined in consideration of the adhesive force of the adhesive 130. In addition, the depth R of the recess R may be determined in consideration of the stable strength of the mount 111.
  • the recess R may be provided to a depth greater than or equal to a first depth so that the adhesive 130 is sufficiently provided between the bottom surface of the light emitting device 120 and the top surface of the mount 111.
  • the recess R may be provided below a second depth in order to provide stable strength of the mount 111.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may affect the formation position and the fixing force of the adhesive 130.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may be determined to provide sufficient fixing force by the adhesive 130 disposed between the mount 111 and the light emitting device 120. have.
  • the depth T1 of the recess R may be provided in several tens of micrometers.
  • the depth T1 of the recess R may be provided between 40 micrometers and 60 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided in hundreds of micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be narrower than the gap between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the width W4 of the recess R may be provided to 140 micrometers to 160 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided as 150 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided corresponding to the thickness of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided to have a thickness capable of maintaining stable strength of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at several hundred micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at 180 micrometers to 220 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided as 200 micrometers.
  • the light emitting device package 300 may include the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412, as shown in FIG. 8.
  • the first conductive layer 411 may be disposed in the first through hole TH1.
  • the first conductive layer 411 may be disposed in direct contact with the lower surface of the first electrode 121.
  • the first conductive layer 411 may be provided to overlap each other in the vertical direction with the first electrode 121.
  • a width of an upper surface of the first conductive layer 411 may be provided to be equal to a width of an upper surface of the first through hole TH1.
  • the width of the top surface of the first conductive layer 411 may be provided the same or smaller than the width of the first electrode 121.
  • the top surface of the first conductive layer 411 may be disposed on the same plane as the top surface of the mount 111.
  • the lower surface of the first conductive layer 411 may be provided on the same plane as the lower surface of the mount 111.
  • the second conductive layer 412 may be disposed in the second through hole TH2.
  • the second conductive layer 412 may be disposed in direct contact with the lower surface of the second electrode 122.
  • the second conductive layer 412 may be provided to overlap each other in the vertical direction with the second electrode 122.
  • the width of the top surface of the second conductive layer 412 may be provided to be the same as the width of the top surface of the second through hole TH2.
  • the width of the top surface of the second conductive layer 412 may be provided the same or smaller than the width of the second electrode 122.
  • An upper surface of the second conductive layer 412 may be disposed on the same plane as the upper surface of the mount 111.
  • the bottom surface of the second conductive layer 412 may be provided on the same plane as the bottom surface of the mount 111.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 are disposed in the first through hole TH1 and the second through hole TH2 and disposed on the circuit board 210.
  • the current injected into the 120 may be smoothly provided and a function of mounting the light emitting device package 100 on the circuit board 210 may be provided.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 are soldered on the circuit board 210 and the solder package 100 is mounted to solder.
  • a material may be disposed in the first through hole TH1 and the second through hole TH2, and as shown in FIGS. 7 and / or 14, the first conductive layer 411 may be formed of a material.
  • the second conductive layer 412 is disposed in the first through hole TH1 and the second through hole TH2, and then the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 and the circuit board.
  • the light emitting device package 100 may be mounted on the circuit board 210 by disposing first and second bonding layers 421 and 422 and / or first and second pads 311 and 312 between the 210.
  • the user may have various configurations according to the application field of the light emitting device package 100 mounted on the circuit board 210.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 may include at least one material selected from a group including Ag, Au, Pt, or an alloy thereof.
  • the present invention is not limited thereto, and a material capable of securing a conductive function may be used.
  • the light emitting device package 300 may include a molding part 140, as shown in FIG. 8.
  • the molding part 140 may be provided on the light emitting device 120.
  • the molding part 140 may be disposed on the mount part 111.
  • the molding part 140 may be disposed in the cavity C provided by the reflecting part 113.
  • the body 110 may be provided on the temporary substrate 210.
  • only one body 110 is provided on the temporary substrate 210.
  • one body 110 may be disposed on the temporary substrate 210 and a plurality of bodies 110 may be disposed.
  • one body 110 or a plurality of bodies 110 may be provided on the temporary substrate 210 through an injection process or the like.
  • a kind of chip scale package process may be applied.
  • the body 110 may include a mount 111 and a reflector 113.
  • the body 110 may include a first through hole TH1 and a second through hole TH2.
  • the body 110 may include a recess (R).
  • the first through hole TH1 may be provided in the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in a first direction.
  • the second through hole TH2 may be provided in the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in the first direction.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other.
  • the recess R may be provided in the mount 111.
  • the recess R may be provided between the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the recess R may be provided to be concave in a lower surface direction from an upper surface of the mount 111.
  • a conductive layer may be formed in the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • a first conductive layer 411 may be formed in the first through hole TH1, and a second conductive layer 412 may be formed in the second through hole TH2.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 may be formed using, for example, a conductive paste.
  • a conductive paste may be applied to the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the conductive paste may include one material selected from the group containing Ag, Au, Pt, or the like or an alloy thereof.
  • the light emitting device 120 may be provided on the mount 111.
  • the recess R may be used to serve as a sort key as the light emitting device 120 is disposed on the mount 111.
  • the first electrode 121 of the light emitting device 120 may be disposed on the first conductive layer 411.
  • the second electrode 122 of the light emitting device 120 may be disposed on the second conductive layer 412.
  • the first through hole TH1 may be disposed under the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap with the first electrode 121 of the light emitting device 120 in a first direction from the top surface of the mount unit 111 toward the bottom surface thereof.
  • the second through hole TH2 may be disposed under the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap with the second electrode 122 of the light emitting device 120 in a first direction from the upper surface of the mount 111 to the lower surface.
  • the adhesive 130 may be provided in the recess (R).
  • the adhesive 130 may be provided to the recess R through a doting method or the like.
  • the adhesive 130 applied to the recess R may be moved to a lower region of the light emitting device 120 through a capillary phenomenon.
  • the light emitting device 120 may be fixed to the mount 111 by the adhesive 130.
  • a portion of the adhesive 130 provided in the recess R may move in the directions of the first electrode 121 and the second electrode 122 to be cured. Accordingly, the adhesive 130 may be provided in a wide area between the bottom surface of the light emitting device 120 and the top surface of the mount 111, and between the light emitting device 120 and the mount 111. The fixing force can be improved.
  • the light emitting device package 300 As shown in FIG. 13, as the molding part 140 is provided on the light emitting device 120 and the temporary substrate 210 is removed, the light emitting device package 300 according to the embodiment may be provided. It becomes possible.
  • the light emitting device package manufacturing method according to an embodiment of the present invention has the advantage that the process time can be shortened and the material can be reduced.
  • the light emitting device package does not require a lead frame. Therefore, further processes such as silver plating can be omitted. Accordingly, embodiments of the light emitting device package may solve the problem of discoloration of a material such as silver plating, and may reduce manufacturing costs due to the advantage that the process may be omitted. Therefore, the light emitting device package manufacturing method according to an embodiment of the present invention has the advantage of reducing the manufacturing cost and improve the manufacturing yield and the reliability of the product.
  • power is connected to the first electrode 121 through the first conductive layer 411 and the second electrode 122 through the second conductive layer 412.
  • the light emitting device 120 may be driven by driving power supplied through the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the light emitted from the light emitting device 120 may be provided in an upper direction of the body 110.
  • the light emitting device package 300 may be mounted on a sub-mount or a circuit board supplied.
  • FIG. 14 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • the light emitting device package according to the exemplary embodiment of the present invention illustrated in FIG. 14 illustrates an example in which the light emitting device package 300 described with reference to FIGS. 8 to 13 is mounted and supplied to the circuit board 310.
  • the description of the light emitting device package according to the exemplary embodiment of the present invention with reference to FIG. 14 the description of the matters overlapping with those described with reference to FIGS. 1 to 13 may be omitted.
  • the light emitting device package 400 may include a circuit board 310, a body 110, and a light emitting device 120, as shown in FIG. 14.
  • the circuit board 310 may include a first pad 310, a second pad 320, and a substrate 313.
  • a power supply circuit for controlling the driving of the light emitting device 120 may be provided on the substrate 313.
  • the body 110 may be disposed on the circuit board 310.
  • the first pad 311 and the first electrode 121 may be electrically connected to each other.
  • the second pad 312 and the second electrode 122 may be electrically connected to each other.
  • the first pad 311 and the second pad 312 may include a conductive material.
  • the first pad 311 and the second pad 312 may be selected from a group including Ti, Cu, Ni, Au, Cr, Ta, Pt, Sn, Ag, P, Fe, Sn, Zn, and Al. It may comprise at least one material selected or alloys thereof.
  • the first pad 311 and the second pad 312 may be provided in a single layer or multiple layers.
  • the body 110 may include a mount 111 and a reflector 113.
  • the body 110 may include a first through hole TH1 and a second through hole TH2 penetrating in a first direction from an upper surface to a lower surface.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be penetrated in a first direction from an upper surface to a lower surface of the mount 111.
  • the light emitting device 120 may include a first electrode 121, a second electrode 122, and a semiconductor layer 123.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the body 110.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the mount 111.
  • the light emitting device 120 may be disposed in a cavity C provided by the reflector 113.
  • the first electrode 121 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the second electrode 122 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 and the second electrode 122 may be spaced apart from each other on the lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the second electrode 122 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be disposed under the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap with the first electrode 121 of the light emitting device 120 in a first direction from the top surface of the mount unit 111 toward the bottom surface thereof.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first pad 311.
  • the first electrode 121 and the first pad 311 may be provided to overlap each other in the vertical direction.
  • the second through hole TH2 may be disposed under the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap with the second electrode 122 of the light emitting device 120 in a first direction from the upper surface of the mount 111 to the lower surface.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second pad 312.
  • the second electrode 122 and the second pad 312 may be provided to overlap each other in the vertical direction.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other under a lower surface of the light emitting device 120.
  • the light emitting device package 400 may include the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412, as shown in FIG. 14.
  • the first conductive layer 411 may be disposed in the first through hole TH1.
  • the first conductive layer 411 may be disposed in direct contact with the lower surface of the first electrode 121.
  • the first conductive layer 411 may be provided to overlap each other in the vertical direction with the first electrode 121.
  • the top surface of the first conductive layer 411 may be disposed on the same plane as the top surface of the mount 111.
  • the lower surface of the first conductive layer 411 may be provided on the same plane as the lower surface of the mount 111.
  • the second conductive layer 412 may be disposed in the second through hole TH2.
  • the second conductive layer 412 may be disposed in direct contact with the lower surface of the second electrode 122.
  • the second conductive layer 412 may be provided to overlap each other in the vertical direction with the second electrode 122.
  • An upper surface of the second conductive layer 412 may be disposed on the same plane as the upper surface of the mount 111.
  • the bottom surface of the second conductive layer 412 may be provided on the same plane as the bottom surface of the mount 111.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 may include at least one material selected from a group including Ag, Au, Pt, or an alloy thereof.
  • the light emitting device package 400 may include a first bonding layer 421 and a second bonding layer 422, as shown in FIG. 14.
  • the first bonding layer 421 may be electrically connected to the first electrode 121 in a process in which the body 110 is mounted on the circuit board 310.
  • the second bonding layer 422 may be electrically connected to the second electrode 122 in a process in which the body 110 is mounted on the circuit board 310.
  • the first bonding layer 421 and the second bonding layer 422 include titanium (Ti), copper (Cu), nickel (Ni), gold (Au), chromium (Cr), tantalum (Ta), and platinum. It may be formed of at least one material selected from the group consisting of (Pt), tin (Sn), silver (Ag), phosphorus (P) or an optional alloy.
  • the first pad 311 and the first conductive layer 411 of the circuit board 310 may be electrically connected by the first bonding layer 421.
  • the second pad 312 and the second conductive layer 412 of the circuit board 310 may be electrically connected by the second bonding layer 422.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 may be mounted on the circuit board 310 by utic bonding.
  • the light emitting device package 400 may include a recess (R), as shown in FIG.
  • the recess R may be provided in the mount 111.
  • the recess R may be provided between the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the recess R may be provided to be concave in a lower surface direction from an upper surface of the mount 111.
  • the recess R may be disposed under the light emitting device 120.
  • the light emitting device package 400 may include an adhesive 130, as shown in FIG. 14.
  • the adhesive 130 may be disposed in the recess R.
  • the adhesive 130 may be disposed between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may be disposed in contact with the side surface of the first electrode 121 and the side surface of the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the lower surface of the light emitting device 120.
  • the adhesive 130 may include at least one of an epoxy-based material, a silicone-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material. .
  • the recess R may be provided to a depth greater than or equal to a first depth so that the adhesive 130 is sufficiently provided between the bottom surface of the light emitting device 120 and the top surface of the mount 111.
  • the recess R may be provided below a second depth in order to provide stable strength of the mount 111.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may affect the formation position and the fixing force of the adhesive 130.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may be determined to provide sufficient fixing force by the adhesive 130 disposed between the mount 111 and the light emitting device 120. have.
  • the depth T1 of the recess R may be provided in several tens of micrometers.
  • the depth T1 of the recess R may be provided between 40 micrometers and 60 micrometers.
  • the depth T1 of the recess R may be provided at 50 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided in hundreds of micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be narrower than the gap between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the width W4 of the recess R may be provided to 140 micrometers to 160 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided as 150 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided corresponding to the thickness of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided as a thickness that can be formed in the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at several hundred micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at 180 micrometers to 220 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided as 200 micrometers.
  • the light emitting device package 400 may include a molding unit 140, as shown in FIG.
  • the molding part 140 may be provided on the light emitting device 120.
  • the molding part 140 may be disposed on the mount part 111.
  • the molding part 140 may be disposed in the cavity C provided by the reflecting part 113.
  • the light emitting device package manufacturing method has the advantage that the process time can be shortened and the material can be reduced.
  • the light emitting device package manufacturing method according to an embodiment of the present invention has the advantage of reducing the manufacturing cost and improve the manufacturing yield and the reliability of the product.
  • the light emitting device package according to the embodiment may further include a metal layer 430 in preparation for the light emitting device package described with reference to FIGS. 1 to 14, as shown in FIG. 15.
  • the metal layer 430 may be provided in the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the metal layer 430 may be provided on sidewalls of the body 110 providing the first through hole TH1 and sidewalls of the body 110 providing the second through hole TH2.
  • the metal layer 430 may be disposed between the body 110 providing the first through hole TH1 and the first conductive layer 411. In addition, the metal layer 430 may be disposed between the body 110 and the second conductive layer 412 that provide the second through hole TH2.
  • the metal layer 430 may be provided on a bottom surface of the body 110 adjacent to the first and second through holes TH1 and TH2.
  • the metal layer 430 may be formed of a material having good physical properties with respect to the body 110.
  • the metal layer 430 may be formed of a material having good physical properties with respect to the first and second conductive layers 411 and 412.
  • the first and second conductive layers 411 and 412 can be stably provided in the first and second through holes TH1 and TH2. According to an embodiment, even when the adhesion between the first and second conductive layers 411 and 412 and the body 110 is not good, the first and second conductive layers 411 and 420 may be formed by the metal layer 430. 412 may be stably provided in the first and second through holes TH1 and TH2.
  • a plurality of through holes may be provided under each electrode pad.
  • the plurality of through holes may be provided as through holes having different widths.
  • the shape of the through hole according to the embodiment may be provided in various shapes as shown in FIGS. 16 to 18.
  • the through hole TH3 may be provided with the same width from the upper region to the lower region.
  • the through hole TH4 may be provided in the shape of a multi-stage structure.
  • the through hole TH4 may be provided in a shape having a different inclination angle of a two-stage structure.
  • the through hole TH4 may be provided in a shape having different inclination angles of three or more steps.
  • the through hole TH5 may be provided in a shape in which the width thereof changes from the upper region to the lower region.
  • the through hole TH5 may be provided in a shape having a curvature from the upper region to the lower region.
  • the body 110 may be provided so as to include only the mounting portion 111 having a flat upper surface and not including the reflecting portion 113 disposed on the mounting portion 111. .
  • FIG. 19 is a view illustrating another example of a light emitting device package according to an exemplary embodiment of the present invention
  • FIG. 20 is a view illustrating an arrangement relationship between a through hole and a recess provided in the light emitting device package illustrated in FIG. 19.
  • the light emitting device package 300 may include a body 110, a light emitting device 120, a first conductive layer 411, and a second conductive layer 412, as shown in FIG. 19. have.
  • the body 110 may include a mount 111 and a reflector 113.
  • the reflector 113 may be disposed on the mount 111.
  • the reflector 113 may be disposed around an upper surface of the mount 111.
  • the reflector 113 may provide a cavity C on an upper surface of the mount 111.
  • the body 110 may include the cavity C.
  • the cavity may include a bottom surface and a side surface inclined from the bottom surface to the top surface of the body 110.
  • the light emitting device 120 may include a first electrode 121, a second electrode 122, and a semiconductor layer 123.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the body 110.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the mount 111.
  • the light emitting device 120 may be disposed in the cavity C provided by the reflector 113.
  • the first electrode 121 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the second electrode 122 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 and the second electrode 122 may be spaced apart from each other on the lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the second electrode 122 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the light emitting device package 300 may include a first through hole TH1 and a second through hole TH2 as shown in FIG. 19.
  • first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in the body 110.
  • the first through hole TH1 may be provided in the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in a first direction.
  • the first through hole TH1 may be disposed under the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap with the first electrode 121 of the light emitting device 120 in a first direction from the top surface of the mount unit 111 toward the bottom surface thereof.
  • the second through hole TH2 may be provided in the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in the first direction.
  • the second through hole TH2 may be disposed under the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap with the second electrode 122 of the light emitting device 120 in a first direction from the upper surface of the mount 111 to the lower surface.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other under a lower surface of the light emitting device 120.
  • the width W1 of the upper region of the first through hole TH1 may be smaller than or equal to the width of the first electrode 121.
  • the width of the upper region of the second through hole TH2 may be provided to be smaller than or equal to the width of the second electrode 122.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided in several tens of micrometers.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided to 40 micrometers to 60 micrometers.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided at a level of 50 micrometers.
  • width W1 of the upper region of the first through hole TH1 may be smaller than or equal to the width W2 of the lower region of the first through hole TH1.
  • width of the upper region of the second through hole TH2 may be smaller than or equal to the width of the lower region of the second through hole TH2.
  • a width W1 of an upper region of the first through hole TH1 may be provided to be equal to a width W2 of a lower region of the first through hole TH1.
  • a width of an upper region of the second through hole TH2 may be provided to be equal to a width of a lower region of the second through hole TH2.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in an inclined shape.
  • the width of the upper region of the first through hole TH1 may be greater than the width of the lower region of the first through hole TH1.
  • the width of the upper region of the second through hole TH2 may be larger than the width of the lower region of the second through hole TH2.
  • a width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in the hundreds of micrometers in the lower region of the mount 111.
  • a width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in a range of 100 micrometers to 150 micrometers in the lower region of the mount 111.
  • the width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 in the lower surface area of the mount 111 may include a circuit board, a light emitting device package 100 according to an embodiment; When mounted in a sub-mount or the like, it may be selected to be provided over a certain distance to prevent a short between the bonding pads.
  • the light emitting device package 300 may include a recess R as illustrated in FIGS. 19 and 21.
  • the recess R may be provided in the body 110.
  • the recess R may be provided on an upper surface of the body 110.
  • the recess R may be recessed in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • the recess R may be provided in the mount 111.
  • the recess R may be provided between the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the recess R may be provided to be concave in a lower surface direction from an upper surface of the mount 111.
  • the recess R may be disposed under the light emitting device 120.
  • the light emitting device package 300 may include an adhesive 130, as shown in FIGS. 19 and 21.
  • the adhesive 130 may be disposed in the recess R.
  • the adhesive 130 may be disposed between the recess R and the body 110.
  • the adhesive 130 may be disposed between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may be disposed in contact with the side surface of the first electrode 121 and the side surface of the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may provide a function of diffusing light emitted to the lower surface of the light emitting device 120 after curing between the light emitting device and the mount 111.
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the body 110.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the lower surface of the light emitting device 120.
  • the adhesive 130 may include at least one of an epoxy-based material, a silicone-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material.
  • the adhesive 130 may include white silicone.
  • the depth T1 of the recess R may be smaller than the depth T2 of the first through hole TH1 or the depth T2 of the second through hole TH2. have.
  • the depth T1 of the recess R may be determined in consideration of the adhesive force of the adhesive 130. In addition, the depth R of the recess R may be determined in consideration of the stable strength of the mount 111.
  • the recess R may be provided to a depth greater than or equal to a first depth so that the adhesive 130 is sufficiently provided between the bottom surface of the light emitting device 120 and the top surface of the mount 111.
  • the recess R may be provided below a second depth in order to provide stable strength of the mount 111.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may affect the formation position and the fixing force of the adhesive 130.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may be determined to provide sufficient fixing force by the adhesive 130 disposed between the mount 111 and the light emitting device 120. have.
  • the depth T1 of the recess R may be provided in several tens of micrometers.
  • the depth T1 of the recess R may be provided between 40 micrometers and 60 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided in hundreds of micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be narrower than the gap between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the width W4 of the recess R may be provided to 140 micrometers to 160 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided as 150 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided corresponding to the thickness of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided to have a thickness capable of maintaining stable strength of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at several hundred micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at 180 micrometers to 220 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided as 200 micrometers.
  • the light emitting device package 300 may include the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412, as shown in FIGS. 19 and 21.
  • the first conductive layer 411 may be disposed in the first through hole TH1.
  • the first conductive layer 411 may be disposed in direct contact with the lower surface of the first electrode 121.
  • the first conductive layer 411 may be provided to overlap each other in the vertical direction with the first electrode 121.
  • a width of an upper surface of the first conductive layer 411 may be provided to be equal to a width of an upper surface of the first through hole TH1.
  • the width of the top surface of the first conductive layer 411 may be provided the same or smaller than the width of the first electrode 121.
  • the top surface of the first conductive layer 411 may be disposed on the same plane as the top surface of the mount 111.
  • the lower surface of the first conductive layer 411 may be provided on the same plane as the lower surface of the mount 111.
  • the second conductive layer 412 may be disposed in the second through hole TH2.
  • the second conductive layer 412 may be disposed in direct contact with the lower surface of the second electrode 122.
  • the second conductive layer 412 may be provided to overlap each other in the vertical direction with the second electrode 122.
  • the width of the top surface of the second conductive layer 412 may be provided to be the same as the width of the top surface of the second through hole TH2.
  • the width of the top surface of the second conductive layer 412 may be provided the same or smaller than the width of the second electrode 122.
  • An upper surface of the second conductive layer 412 may be disposed on the same plane as the upper surface of the mount 111.
  • the bottom surface of the second conductive layer 412 may be provided on the same plane as the bottom surface of the mount 111.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 are disposed in the first through hole TH1 and the second through hole TH2, and include a circuit board on which the light emitting device package 300 is mounted. Can be electrically connected.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 may include at least one material selected from a group including Ag, Au, Pt, or an alloy thereof.
  • the present invention is not limited thereto, and a material capable of securing a conductive function may be used.
  • the light emitting device package according to the embodiment may include a first upper recess R30 and a second upper recess R40 as shown in FIGS. 19 to 21.
  • the first upper recess R30 may be provided on an upper surface of the body 110.
  • the first upper recess R30 may be recessed in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • the first upper recess R30 may be spaced apart from the first through hole TH1.
  • the first upper recess R30 may be provided adjacent to three sides of the first electrode 121 when viewed from an upper direction.
  • the first upper recess R3 may be provided in a “[” shape around the first electrode 121.
  • the second upper recess R40 may be provided on an upper surface of the body 110.
  • the second upper recess R40 may be recessed in a lower surface direction on an upper surface of the body 110.
  • the second upper recess R40 may be spaced apart from the second through hole TH2.
  • the second upper recess R40 may be provided adjacent to three sides of the second electrode 122 when viewed from an upper direction.
  • the second upper recess R40 may be provided in a “]” shape around the second electrode 122.
  • the first upper recess R30 and the second upper recess R40 may be provided in connection with the recess R.
  • the first upper recess R30 and the recess R may be provided in a closed loop shape around the first electrode 121.
  • the second upper recess R40 and the recess R may be provided in a closed loop shape around the second electrode 122.
  • first upper recess R30 and the second upper recess R40 may be provided in a width of several tens of micrometers to several hundred micrometers.
  • first upper recess R30 and the second upper recess R40 may be spaced apart from each other.
  • the first upper recess R30 and the recess R may be spaced apart from each other.
  • the second upper recess R40 and the recess R may be spaced apart from each other.
  • the light emitting device package according to the embodiment may include the resin part 135 as illustrated in FIGS. 19 to 21.
  • the resin part 135 may be provided in the first upper recess R30 and the second upper recess R40.
  • the resin part 135 may be disposed on the side surface of the first electrode 121.
  • the resin part 135 may be provided in the first upper recess R30, and may extend to an area where the first electrode 121 is disposed.
  • the resin part 135 may be disposed under the semiconductor layer 123.
  • the distance L11 from an end of the first upper recess R30 to an adjacent end of the light emitting device 120 may be provided to several hundred micrometers or less.
  • the distance L11 from an end of the first upper recess R30 to an adjacent end of the light emitting device 120 may be provided equal to or smaller than 200 micrometers.
  • the distance L11 from the end of the first upper recess R30 to the adjacent end of the light emitting element 120 is determined by the viscosity of the resin portion 135 filled in the first upper recess R30. Can be determined.
  • the distance L11 from the end of the first upper recess R30 to the adjacent end of the light emitting element 120 is determined by the resin part 135 applied to the first upper recess R30.
  • the first electrode 121 may be selected to have a distance that may extend to a region where the electrode 121 is disposed.
  • the resin part 135 may be disposed on the side surface of the second electrode 122.
  • the resin part 135 may be provided in the second upper recess R40, and may extend to an area where the second electrode 122 is disposed.
  • the resin part 135 may be disposed under the semiconductor layer 123.
  • the resin part 135 may be provided on the side surface of the semiconductor layer 123.
  • the resin part 135 may be disposed on the side surface of the semiconductor layer 123 to effectively prevent the first and second conductive layers 411 and 412 from moving to the side surface of the semiconductor layer 123.
  • the resin part 135 when the resin part 135 is disposed on the side surface of the semiconductor layer 123, the resin part 135 may be disposed below the active layer of the semiconductor layer 123, and thus the light extraction efficiency of the light emitting device 120 may be reduced. Can improve.
  • the first upper recess R30 and the second upper recess R40 may provide a sufficient space for the resin part 135 to be provided.
  • the resin unit 135 may include at least one of an epoxy-based material, a silicon-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material. have.
  • the resin unit 135 may include a reflective material, and may include, for example, white silicone including TiO 2 and / or Silicone.
  • the resin part 135 may be disposed under the light emitting device 120 to perform a sealing function. In addition, the resin part 135 may improve the adhesion between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the resin part 135 may seal the periphery of the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the resin part 135 has the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 out of the first through hole TH1 region and the second through hole TH2 region. 120 can be prevented from being diffused and moved.
  • the resin part 135 when the resin part 135 includes a material having reflective characteristics such as white silicon, the resin part 135 transmits the light provided from the light emitting device 120 in the upper direction of the body 110. By reflecting, light extraction efficiency of the light emitting device package 300 may be improved.
  • the light emitting device package 300 may include a molding part 140, as shown in FIGS. 19 and 21.
  • the molding part 140 may be provided on the light emitting device 120.
  • the molding part 140 may be disposed on the body 110.
  • the molding part 140 may be disposed on the mount part 111.
  • the molding part 140 may be disposed in the cavity C provided by the reflecting part 113.
  • the molding part 140 may be disposed in the cavity C provided by the package body 110.
  • the molding part 140 may be disposed on the resin part 135.
  • the light emitting device package illustrated in FIG. 22 has a difference in the position at which the first upper recess R30 and the second upper recess R40 are formed compared to the light emitting device package described with reference to FIGS. 18 to 21.
  • the light emitting device package according to the embodiment may be provided such that a partial region of the first upper recess R30 overlaps with the semiconductor layer 123 in the vertical direction when viewed from the upper direction. have.
  • a side region of the first upper recess R30 adjacent to the first electrode 121 may extend below the semiconductor layer 123.
  • a partial region of the second upper recess R40 overlaps with the semiconductor layer 123 in the vertical direction when viewed from the upper direction.
  • a side region of the second upper recess R40 adjacent to the second electrode 122 may extend below the semiconductor layer 123.
  • the resin part 135 filled in the first upper recess R30 and the second upper recess R40 effectively seals the periphery of the first electrode 121 and the second electrode 122. You can do it.
  • first upper recess R30 and the second upper recess R40 may provide a sufficient space for the resin part 135 to be provided under the light emitting device 120.
  • the first upper recess R30 and the second upper recess R40 may provide an appropriate space in which a kind of under fill process may be performed under the light emitting device 120.
  • the resin unit 135 may include at least one of an epoxy-based material, a silicon-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material. have.
  • the resin part 135 may be a reflector that reflects light emitted from the light emitting device 120.
  • the resin part 135 may be a resin including a reflective material such as TiO 2 .
  • the resin part 135 may include white silicone.
  • the resin part 135 may be disposed under the light emitting device 120 to perform a sealing function. In addition, the resin part 135 may improve the adhesion between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the resin part 135 may seal the periphery of the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the resin part 135 has the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 out of the first opening portion TH1 and the second opening portion TH2. It is possible to prevent the diffusion and movement in the direction.
  • the resin part 135 when the resin part 135 includes a material having a reflective property such as white silicon, the resin part 135 transmits the light provided from the light emitting device 120 to the upper direction of the package body 110. By reflecting the light extraction efficiency of the light emitting device package 100 can be improved.
  • power is connected to the first electrode 121 through the first opening TH1, and the second electrode 122 through the second opening TH2.
  • the light emitting device 120 may be driven by driving power supplied through the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the light emitted from the light emitting device 120 may be provided in an upper direction of the body 110.
  • the light emitting device package 300 may include a body 110, a light emitting device 120, a first conductive layer 411, and a second conductive layer 412. have.
  • the body 110 may include a mount 111 and a reflector 113.
  • the reflector 113 may be disposed on the mount 111.
  • the reflector 113 may be disposed around an upper surface of the mount 111.
  • the reflector 113 may provide a cavity C on an upper surface of the mount 111.
  • the body 110 may include the cavity C.
  • the cavity may include a bottom surface and a side surface inclined from the bottom surface to the top surface of the body 110.
  • the light emitting device 120 may include a first electrode 121, a second electrode 122, and a semiconductor layer 123.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the body 110.
  • the light emitting device 120 may be disposed on the mount 111.
  • the light emitting device 120 may be disposed in the cavity C provided by the reflector 113.
  • the first electrode 121 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the second electrode 122 may be disposed on a lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 and the second electrode 122 may be spaced apart from each other on the lower surface of the light emitting device 120.
  • the first electrode 121 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the second electrode 122 may be disposed between the semiconductor layer 123 and the mount 111.
  • the light emitting device package 300 may include a first through hole TH1 and a second through hole TH2 as shown in FIG. 23.
  • first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in the body 110.
  • the first through hole TH1 may be provided in the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the mount 111.
  • the first through hole TH1 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in a first direction.
  • the first through hole TH1 may be disposed under the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap the first electrode 121 of the light emitting device 120.
  • the first through hole TH1 may be provided to overlap with the first electrode 121 of the light emitting device 120 in a first direction from the top surface of the mount unit 111 toward the bottom surface thereof.
  • the second through hole TH2 may be provided in the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the mount 111.
  • the second through hole TH2 may be provided through the upper and lower surfaces of the mount 111 in the first direction.
  • the second through hole TH2 may be disposed under the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap the second electrode 122 of the light emitting device 120.
  • the second through hole TH2 may be provided to overlap with the second electrode 122 of the light emitting device 120 in a first direction from the upper surface of the mount 111 to the lower surface.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other.
  • the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be spaced apart from each other under a lower surface of the light emitting device 120.
  • the width W1 of the upper region of the first through hole TH1 may be smaller than or equal to the width of the first electrode 121.
  • the width of the upper region of the second through hole TH2 may be provided to be smaller than or equal to the width of the second electrode 122.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided in several tens of micrometers.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided to 40 micrometers to 60 micrometers.
  • the distance W6 from the upper region of the second through hole TH2 to the end of the side of the second electrode 122 may be provided at a level of 50 micrometers.
  • width W1 of the upper region of the first through hole TH1 may be smaller than or equal to the width W2 of the lower region of the first through hole TH1.
  • width of the upper region of the second through hole TH2 may be smaller than or equal to the width of the lower region of the second through hole TH2.
  • a width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in the hundreds of micrometers in the lower region of the mount 111.
  • a width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 may be provided in a range of 100 micrometers to 150 micrometers in the lower region of the mount 111.
  • the width W3 between the first through hole TH1 and the second through hole TH2 in the lower surface area of the mount 111 may include a circuit board, a light emitting device package 100 according to an embodiment; When mounted in a sub-mount or the like, it may be selected to be provided over a certain distance to prevent a short between the bonding pads.
  • the light emitting device package 300 may include a recess R, as shown in FIG. 23.
  • the recess R may be provided in the body 110.
  • the recess R may be provided on an upper surface of the body 110.
  • the recess R may be recessed in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • the recess R may be provided in the mount 111.
  • the recess R may be provided between the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the recess R may be provided to be concave in a lower surface direction from an upper surface of the mount 111.
  • the recess R may be disposed under the light emitting device 120.
  • the light emitting device package 300 may include an adhesive 130, as shown in FIG. 23.
  • the adhesive 130 may be disposed in the recess R.
  • the adhesive 130 may be disposed between the recess R and the body 110.
  • the adhesive 130 may be disposed between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may be disposed in contact with the side surface of the first electrode 121 and the side surface of the second electrode 122.
  • the adhesive 130 may provide a function of diffusing light emitted to the lower surface of the light emitting device 120 after curing between the light emitting device and the mount 111.
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the body 110.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the mount 111.
  • the adhesive 130 may be disposed in direct contact with the lower surface of the light emitting device 120.
  • the adhesive 130 may include at least one of an epoxy-based material, a silicone-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material.
  • the adhesive 130 may include white silicone.
  • the depth T1 of the recess R may be smaller than the depth T2 of the first through hole TH1 or the depth T2 of the second through hole TH2. have.
  • the depth T1 of the recess R may be determined in consideration of the adhesive force of the adhesive 130. In addition, the depth R of the recess R may be determined in consideration of the stable strength of the mount 111.
  • the recess R may be provided to a depth greater than or equal to a first depth so that the adhesive 130 is sufficiently provided between the bottom surface of the light emitting device 120 and the top surface of the mount 111.
  • the recess R may be provided below a second depth in order to provide stable strength of the mount 111.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may affect the formation position and the fixing force of the adhesive 130.
  • the depth T1 and the width W4 of the recess R may be determined to provide sufficient fixing force by the adhesive 130 disposed between the mount 111 and the light emitting device 120. have.
  • the depth T1 of the recess R may be provided in several tens of micrometers.
  • the depth T1 of the recess R may be provided between 40 micrometers and 60 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided in hundreds of micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be narrower than the gap between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the width W4 of the recess R may be provided to 140 micrometers to 160 micrometers.
  • the width W4 of the recess R may be provided as 150 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided corresponding to the thickness of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided to have a thickness capable of maintaining stable strength of the mount 111.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at several hundred micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided at 180 micrometers to 220 micrometers.
  • the depth T2 of the first through hole TH1 may be provided as 200 micrometers.
  • the light emitting device package 300 may include the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412, as shown in FIG. 23.
  • the first conductive layer 411 may be disposed in the first through hole TH1.
  • the first conductive layer 411 may be disposed in direct contact with the lower surface of the first electrode 121.
  • the first conductive layer 411 may be provided to overlap each other in the vertical direction with the first electrode 121.
  • a width of an upper surface of the first conductive layer 411 may be provided to be equal to a width of an upper surface of the first through hole TH1.
  • the width of the top surface of the first conductive layer 411 may be provided the same or smaller than the width of the first electrode 121.
  • the top surface of the first conductive layer 411 may be disposed on the same plane as the top surface of the mount 111.
  • the lower surface of the first conductive layer 411 may be provided on the same plane as the lower surface of the mount 111.
  • the second conductive layer 412 may be disposed in the second through hole TH2.
  • the second conductive layer 412 may be disposed in direct contact with the lower surface of the second electrode 122.
  • the second conductive layer 412 may be provided to overlap each other in the vertical direction with the second electrode 122.
  • the width of the top surface of the second conductive layer 412 may be provided to be the same as the width of the top surface of the second through hole TH2.
  • the width of the top surface of the second conductive layer 412 may be provided the same or smaller than the width of the second electrode 122.
  • An upper surface of the second conductive layer 412 may be disposed on the same plane as the upper surface of the mount 111.
  • the bottom surface of the second conductive layer 412 may be provided on the same plane as the bottom surface of the mount 111.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 are disposed in the first through hole TH1 and the second through hole TH2, and include a circuit board on which the light emitting device package 300 is mounted. Can be electrically connected.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 may include at least one material selected from a group including Ag, Au, Pt, or an alloy thereof.
  • the present invention is not limited thereto, and a material capable of securing a conductive function may be used.
  • the light emitting device package according to the embodiment may include a first upper recess R30 and a second upper recess R40 as shown in FIG. 23.
  • the first upper recess R30 may be provided on an upper surface of the body 110.
  • the first upper recess R30 may be recessed in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • the first upper recess R30 may be spaced apart from the first through hole TH1.
  • the bottom surface of the first upper recess (R30) may be provided in a stepped structure having a different height.
  • An upper region of the first upper recess R30 and an upper region of the first through hole TH1 may be connected to each other.
  • An upper region of the first upper recess R30 and an upper region of the first through hole TH1 may be connected to each other under the first electrode 121.
  • the second upper recess R40 may be provided on an upper surface of the body 110.
  • the second upper recess R40 may be recessed in a lower surface direction on an upper surface of the body 110.
  • the second upper recess R40 may be spaced apart from the second through hole TH2.
  • the bottom surface of the second upper recess (R20) may be provided in a stepped structure having a different height.
  • An upper region of the second upper recess R40 and an upper region of the second through hole TH2 may be connected to each other.
  • An upper region of the second upper recess R40 and an upper region of the second through hole TH2 may be connected to each other under the second electrode 122.
  • the light emitting device package according to the embodiment may include the resin part 135 as shown in FIG. 23.
  • the resin part 135 may be provided in the first upper recess R30 and the second upper recess R40.
  • the resin part 135 may be disposed on the side surface of the first electrode 121.
  • the resin part 135 may be provided in the first upper recess R30, and may extend to an area where the first electrode 121 is disposed.
  • the resin part 135 may be disposed under the semiconductor layer 123.
  • An end of the first upper recess R30 adjacent to the first through hole TH1 may be spaced apart from the lower surface of the first electrode 121 by a distance “h”.
  • the distance “h” may be determined by the viscosity of the resin part 135 filled in the first upper recess R30.
  • the distance “h” means that the resin part 135 provided in the first upper recess R30 does not flow into the first through hole TH1, but the first upper recess R30 and the first upper recess R30 do not flow out. It may be provided at a distance that can be disposed between the electrodes 121. For example, the distance “h” may be provided in several micrometers to several tens of micrometers.
  • the resin part 135 may be disposed on the side surface of the second electrode 122.
  • the resin part 135 may be provided in the second upper recess R40, and may extend to an area where the second electrode 122 is disposed.
  • the resin part 135 may be disposed under the semiconductor layer 123.
  • An end of the second upper recess R40 adjacent to the second through hole TH1 may be spaced apart from the lower surface of the second electrode 122 by a distance “h”.
  • the distance “h” may be determined by the viscosity of the resin part 135 filled in the second upper recess R40.
  • the distance “h” means that the resin part 135 provided in the second upper recess R40 does not flow into the second through hole TH2, and the second upper recess R40 and the second upper recess R40 do not flow out. It may be provided at a distance that can be disposed between the electrodes (122). For example, the distance “h” may be provided in several micrometers to several tens of micrometers.
  • the resin part 135 may be provided on the side surface of the semiconductor layer 123.
  • the resin part 135 may be disposed on the side surface of the semiconductor layer 123 to effectively prevent the first and second conductive layers 411 and 412 from moving to the side surface of the semiconductor layer 123.
  • the resin part 135 when the resin part 135 is disposed on the side surface of the semiconductor layer 123, the resin part 135 may be disposed below the active layer of the semiconductor layer 123, and thus the light extraction efficiency of the light emitting device 120 may be reduced. Can improve.
  • the first upper recess R30 and the second upper recess R40 may provide a sufficient space for the resin part 135 to be provided.
  • the resin unit 135 may include at least one of an epoxy-based material, a silicon-based material, a hybrid material including an epoxy-based material and a silicon-based material. have.
  • the resin unit 135 may include a reflective material, and may include, for example, white silicone including TiO 2 and / or Silicone.
  • the resin part 135 may be disposed under the light emitting device 120 to perform a sealing function. In addition, the resin part 135 may improve the adhesion between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the resin part 135 may seal the periphery of the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the resin part 135 has the first conductive layer 411 and the second conductive layer 412 out of the first through hole TH1 region and the second through hole TH2 region. 120 can be prevented from being diffused and moved.
  • the resin part 135 when the resin part 135 includes a material having reflective characteristics such as white silicon, the resin part 135 transmits the light provided from the light emitting device 120 in the upper direction of the body 110. By reflecting, light extraction efficiency of the light emitting device package 300 may be improved.
  • the light emitting device package 300 may include a molding unit 140, as shown in FIG.
  • the molding part 140 may be provided on the light emitting device 120.
  • the molding part 140 may be disposed on the body 110.
  • the molding part 140 may be disposed on the mount part 111.
  • the molding part 140 may be disposed in the cavity C provided by the reflecting part 113.
  • the molding part 140 may be disposed in the cavity C provided by the package body 110.
  • the molding part 140 may be disposed on the resin part 135.
  • the light emitting device package according to the embodiment described above may include various modifications.
  • 24 to 26 are views for explaining a modification of the body applied to the light emitting device package according to the embodiment of the present invention.
  • the body 110 may include at least three recesses provided on an upper surface thereof.
  • the body 110 may include a first upper recess R21 disposed toward the first through hole TH1 from an upper surface center area.
  • the first upper recess R21 may be recessed in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • the body 110 may include a third upper recess R23 disposed toward the second through hole TH2 from an upper surface center area.
  • the third upper recess R23 may be provided concave in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • the body 110 may include a second upper recess R22 disposed in an upper surface center area.
  • the second upper recess R22 may be recessed in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • the second upper recess R22 may be disposed between the first upper recess R21 and the third upper recess R23.
  • the first adhesive 130 is applied to the first upper recess R21, the second upper recess R22, and the third upper recess R23. Can be provided.
  • the first adhesive 130 may be disposed between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the first adhesive 130 may be disposed between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the first adhesive 130 may be disposed in contact with the side surface of the first electrode 121 and the side surface of the second electrode 122.
  • the first upper recess R21, the second upper recess R22, and the third upper recess R23 are attached to the light emitting device 120 to attach the light emitting device 120 to the package body.
  • the lower part may provide an appropriate space in which a kind of under fill process may be performed.
  • the first upper recess R21, the second upper recess R22, and the third upper recess R23 may be disposed between the lower surface of the light emitting device 120 and the upper surface of the body 110. 1 may be provided beyond the first depth so that the adhesive 130 is sufficiently provided. In addition, the first upper recess R21, the second upper recess R22, and the third upper recess R23 may be provided below a second depth to provide stable strength of the body 110. Can be.
  • the first adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the first adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the body 110.
  • the first adhesive 130 may be disposed in direct contact with the lower surface of the light emitting device 120.
  • first upper recess R21 and the first adhesive 130 may move the first conductive layer 411 provided in the first through hole TH1 to the lower region of the light emitting device 120. Can be prevented.
  • the third upper recess R23 and the first adhesive 130 may move the second conductive layer 412 provided in the second through hole TH2 to the lower region of the light emitting device 120. Can be prevented. Accordingly, the light emitting device 120 may be electrically shorted or deteriorated by the movement of the first and second conductive layers 411 and 412.
  • FIG. 24 is a sectional view of the body 110 applied to the light emitting device package according to the embodiment
  • FIGS. 25 and 26 are plan views of the body 110 shown in FIG. 24.
  • the first upper recess R21, the second upper recess R22, and the third upper recess R23 may be mutually disposed on an upper surface of the body 110. It may be spaced apart and parallel to one direction.
  • the first upper recess R21, the upper second recess R22, and the third upper recess R23 may extend in one direction from an upper surface of the body 110.
  • first upper recess R21 and the third upper recess R23 may be spaced apart from each other with the central region of the body 110 interposed therebetween. Meanwhile, the first upper recess R21 and the third upper recess R23 may be arranged to be connected to each other in a closed loop shape around the center region of the body 110.
  • the second upper recess R22 may be disposed in a central area of the body 110. The second upper recess R22 may be disposed in a space surrounded by the first upper recess R21 and the third upper recess R23.
  • FIGS. 27 to 29 are views for explaining another modified example of the body applied to the light emitting device package according to the embodiment of the present invention.
  • the body 110 may include at least two recesses provided on an upper surface thereof.
  • the body 110 may include a first upper recess R31 disposed at the side of the first through hole TH1 from an upper surface center area.
  • the first upper recess R31 may be recessed in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • the body 110 may include a second upper recess R32 disposed toward the second through hole TH2 from an upper surface center area.
  • the second upper recess R32 may be provided concave in a lower surface direction from an upper surface of the body 110.
  • a first adhesive 130 may be provided in the first upper recess R31 and the second upper recess R32.
  • the first adhesive 130 may be disposed between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the first adhesive 130 may be disposed between the first electrode 121 and the second electrode 122.
  • the first adhesive 130 may be disposed in contact with the side surface of the first electrode 121 and the side surface of the second electrode 122.
  • the first upper recess R31 and the second upper recess R32 may provide an appropriate space in which a kind of under fill process may be performed under the light emitting device 120.
  • the first adhesive 130 may be sufficiently provided between the lower surface of the light emitting device 120 and the upper surface of the body 110 in the first upper recess R31 and the second upper recess R32. It may be provided beyond the first depth so that. In addition, the first upper recess R31 and the second upper recess R32 may be provided below a second depth to provide stable strength of the body 110.
  • the first adhesive 130 may provide a stable fixing force between the light emitting device 120 and the body 110.
  • the first adhesive 130 may be disposed in direct contact with the top surface of the body 110.
  • the first adhesive 130 may be disposed in direct contact with the lower surface of the light emitting device 120.
  • first upper recess R31 and the first adhesive 130 may move the first conductive layer 411 provided in the first through hole TH1 to the lower region of the light emitting device 120. Can be prevented.
  • second upper recess R32 and the first adhesive 130 may move the second conductive layer 412 provided in the second through hole TH2 to the lower region of the light emitting device 120. Can be prevented. Accordingly, the light emitting device 120 may be electrically shorted or deteriorated by the movement of the first and second conductive layers 411 and 412.
  • FIG. 27 is a sectional view of the body 110 applied to the light emitting device package according to the embodiment
  • FIGS. 28 and 29 are plan views of the body 110 shown in FIG. 27.
  • first upper recess R31 and the second upper recess R32 may be spaced apart from each other on an upper surface of the body 110 and disposed in parallel in one direction. have.
  • the first upper recess R31 and the second upper recess R32 may extend in one direction from an upper surface of the body 110.
  • first upper recess R31 and the second upper recess R32 may be spaced apart from each other with the central region of the body 110 interposed therebetween. Meanwhile, the first upper recess R31 and the second upper recess R32 may be arranged to be connected to each other in a closed loop shape around the center region of the body 110.
  • Figure 30 is a view showing another example of a light emitting device package according to an embodiment of the present invention.
  • the light emitting device package according to the embodiment may further include a metal layer 430 in preparation for the light emitting device package described with reference to FIGS. 19 to 29.
  • the metal layer 430 may be provided in the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the metal layer 430 may be provided on sidewalls of the body 110 providing the first through hole TH1 and sidewalls of the body 110 providing the second through hole TH2.
  • the metal layer 430 may be disposed between the body 110 providing the first through hole TH1 and the first conductive layer 411. In addition, the metal layer 430 may be disposed between the body 110 and the second conductive layer 412 that provide the second through hole TH2.
  • the metal layer 430 may be provided on a bottom surface of the body 110 adjacent to the first and second through holes TH1 and TH2.
  • the metal layer 430 may be formed of a material having good physical properties with respect to the body 110.
  • the metal layer 430 may be formed of a material having good physical properties with respect to the first and second conductive layers 411 and 412.
  • the first and second conductive layers 411 and 412 can be stably provided in the first and second through holes TH1 and TH2. According to an embodiment, even when the adhesion between the first and second conductive layers 411 and 412 and the body 110 is not good, the first and second conductive layers 411 and 420 may be formed by the metal layer 430. 412 may be stably provided in the first and second through holes TH1 and TH2.
  • the first conductive layer 411 and the second conductive layer are formed in the first through hole TH1 and the second through hole TH2. 412 is described based on the case where each is filled.
  • the conductive material is not filled in the first through hole TH1 and the second through hole TH2.
  • the light emitting device package may be supplied as a structure.
  • the light emitting device package according to the exemplary embodiment described with reference to FIGS. 19 to 30 may be mounted and supplied to a submount, a circuit board, or the like similarly described with reference to FIGS. 7, 14, or 15.
  • the above-described light emitting device package may be provided with, for example, a flip chip light emitting device.
  • the flip chip light emitting device may be provided as a transmissive flip chip light emitting device in which light is emitted in six plane directions, or may be provided as a reflective flip chip light emitting device in which light is emitted in a five plane direction.
  • the reflective flip chip light emitting device in which light is emitted in the five surface directions may have a structure in which a reflective layer is disposed in a direction close to the package package body 110.
  • the reflective flip chip light emitting device may include an insulating reflective layer (eg, Distributed Bragg Reflector, Omni Directional Reflector, etc.) and / or a conductive reflective layer (eg, Ag, between the first and second electrode pads and the light emitting structure). Al, Ni, Au, etc.).
  • the flip chip light emitting device emitting light in the six plane direction may have a first electrode electrically connected to a first conductive semiconductor layer and a second electrode electrically connected to a second conductive semiconductor layer. It may be provided as a general horizontal light emitting device that emits light between the first electrode and the second electrode.
  • the flip chip light emitting device for emitting light in the six-plane direction is a transmissive flip chip light emitting device including both a reflective region disposed between the first and second electrode pads and a light transmitting region. Can be provided.
  • the transmissive flip chip light emitting device refers to a device in which light is emitted to the top surface, four side surfaces, and six surfaces of the bottom surface.
  • the reflective flip chip light emitting device refers to a device that emits light to the top surface, five surfaces of four sides.
  • FIGS. 31 and 32 are plan views showing a light emitting device according to an embodiment of the present invention
  • Figure 32 is a cross-sectional view taken along the line A-A of the light emitting device shown in FIG.
  • the first sub-electrode 1141 is disposed under the first electrode 1171 and the second electrode 1172, but is electrically connected to the first electrode 1171.
  • a second sub-electrode 1142 electrically connected to the second electrode 1172 is shown.
  • the light emitting device 1100 may include a light emitting structure 1110 disposed on the substrate 1105 as shown in FIGS. 31 and 32.
  • the substrate 1105 may be selected from the group consisting of sapphire substrate (Al 2 O 3 ), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge.
  • the substrate 1105 may be provided as a patterned sapphire substrate (PSS) having an uneven pattern formed on an upper surface thereof.
  • PSS patterned sapphire substrate
  • the light emitting structure 1110 may include a first conductive semiconductor layer 1111, an active layer 1112, and a second conductive semiconductor layer 1113.
  • the active layer 1112 may be disposed between the first conductivity type semiconductor layer 1111 and the second conductivity type semiconductor layer 1113.
  • the active layer 1112 may be disposed on the first conductive semiconductor layer 1111, and the second conductive semiconductor layer 1113 may be disposed on the active layer 1112.
  • the first conductivity-type semiconductor layer 1111 may be provided as an n-type semiconductor layer, and the second conductivity-type semiconductor layer 1113 may be provided as a p-type semiconductor layer.
  • the first conductive semiconductor layer 1111 may be provided as a p-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 1113 may be provided as an n-type semiconductor layer.
  • the first conductive semiconductor layer 1111 is provided as an n-type semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer 1113 is provided as a p-type semiconductor layer. .
  • the light emitting device 1100 may include an ohmic contact layer 1130, as shown in FIG. 32.
  • the ohmic contact layer 1130 may increase light output by improving current spreading.
  • An arrangement position and a shape of the ohmic contact layer 1130 will be further described with reference to a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment.
  • the ohmic contact layer 1130 may include at least one selected from the group consisting of metals, metal oxides, and metal nitrides.
  • the ohmic contact layer 1130 may include a light transmissive material.
  • the ohmic contact layer 1130 may be formed of, for example, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), IZON (IZO nitride), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IZAO), or IGZO (IGZO).
  • ITO indium tin oxide
  • IZO indium zinc oxide
  • IZON IZO nitride
  • IZTO indium zinc tin oxide
  • IZAO indium aluminum zinc oxide
  • IGZO IGZO
  • the light emitting device 1100 may include a reflective layer 1160, as shown in FIGS. 32 and 32.
  • the reflective layer 1160 may include a first reflective layer 1161, a second reflective layer 1162, and a third reflective layer 1163.
  • the reflective layer 1160 may be disposed on the ohmic contact layer 1130.
  • the second reflective layer 1162 may include a first opening h1 exposing the ohmic contact layer 1130.
  • the second reflective layer 1162 may include a plurality of first openings h1 disposed on the ohmic contact layer 1130.
  • the first reflective layer 1161 may include a plurality of second openings h2 exposing upper surfaces of the first conductivity type semiconductor layers 1111.
  • the third reflective layer 1163 may be disposed between the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162.
  • the third reflective layer 1163 may be connected to the first reflective layer 1161.
  • the third reflective layer 1163 may be connected to the second reflective layer 1162.
  • the third reflective layer 1163 may be disposed in direct physical contact with the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162.
  • the width W5 of the third reflective layer 1163 may be provided smaller than the width W4 of the recess R described with reference to FIGS. 1 to 30.
  • light emitted between the first reflective layer 1161 and the third reflective layer 1163 may be incident on the adhesive 130 disposed in the recess R region.
  • the light emitted in the lower direction of the light emitting device may be light diffused by the adhesive 130, and the light extraction efficiency may be improved.
  • light emitted between the second reflective layer 1162 and the third reflective layer 1163 may be incident on the adhesive 130 disposed in the recess R region.
  • the light emitted in the lower direction of the light emitting device may be light diffused by the adhesive 130, and the light extraction efficiency may be improved.
  • the reflective layer 1160 may contact the second conductive semiconductor layer 1113 through a plurality of contact holes provided in the ohmic contact layer 1130.
  • the reflective layer 1160 may be in physical contact with an upper surface of the second conductive semiconductor layer 1113 through a plurality of contact holes provided in the ohmic contact layer 1130.
  • the shape of the ohmic contact layer 1130 and the shape of the reflective layer 1160 according to the embodiment will be further described with reference to the method of manufacturing the light emitting device according to the embodiment.
  • the reflective layer 1160 may be provided as an insulating reflective layer.
  • the reflective layer 1160 may be provided as a distributed bragg reflector (DBR) layer.
  • the reflective layer 1160 may be provided as an omni directional reflector (ODR) layer.
  • the reflective layer 1160 may be provided by stacking a DBR layer and an ODR layer.
  • DBR distributed bragg reflector
  • ODR omni directional reflector
  • the light emitting device 1100 may include a first sub-electrode 1141 and a second sub-electrode 1142 as illustrated in FIGS. 31 and 32.
  • the first sub-electrode 1141 may be electrically connected to the first conductivity-type semiconductor layer 1111 in the second opening h2.
  • the first sub-electrode 1141 may be disposed on the first conductive semiconductor layer 1111.
  • the first sub-electrode 1141 may penetrate the second conductive semiconductor layer 1113 and the active layer 1112 to form a first conductive semiconductor layer (
  • the first conductive semiconductor layer 1111 may be disposed on the top surface of the first conductive semiconductor layer 1111 in a recess disposed up to a portion of the region 1111.
  • the first sub-electrode 1141 may be electrically connected to an upper surface of the first conductive semiconductor layer 1111 through a second opening h2 provided in the first reflective layer 1161.
  • the second opening h2 and the recess may vertically overlap each other.
  • the first sub-electrode 1141 may be formed in the plurality of recess regions.
  • the upper surface of the first conductive semiconductor layer 1111 may be in direct contact with the upper surface.
  • the second sub-electrode 1142 may be electrically connected to the second conductivity-type semiconductor layer 1113.
  • the second sub-electrodes 1142 may be disposed on the second conductive semiconductor layer 1113.
  • the ohmic contact layer 1130 may be disposed between the second sub-electrode 1142 and the second conductive semiconductor layer 1113.
  • the second sub-electrode 1142 may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer 1113 through a first opening h1 provided in the second reflective layer 1162.
  • the second sub electrode 1142 may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer 1113 through the ohmic contact layer 1130 in a plurality of P regions. Can be connected.
  • the second sub-electrode 1142 may be formed through the ohmic contact layer through a plurality of first openings h1 provided in the second reflective layer 1162 in a plurality of P regions. 1130 may be in direct contact with the top surface.
  • the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may have polarities and are spaced apart from each other.
  • the first sub-electrode 1141 may be provided in a plurality of line shapes.
  • the second sub-electrodes 1142 may be provided in a plurality of line shapes, for example.
  • the first sub-electrode 1141 may be disposed between a plurality of neighboring second sub-electrodes 1142.
  • the second sub-electrodes 1142 may be disposed between the plurality of adjacent first sub-electrodes 1141.
  • first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 are configured with different polarities, they may be arranged with different numbers of electrodes. For example, when the first sub-electrode 1141 is an n-electrode and the second sub-electrode 1142 is a p-electrode, the number of the second sub-electrodes 1142 is greater than the first sub-electrode 1141. Can be more.
  • the electrical conductivity and / or resistance of the second conductive semiconductor layer 1113 and the first conductive semiconductor layer 1111 are different from each other, the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 are different. As a result, the electrons and holes injected into the light emitting structure 1110 may be balanced, and thus optical characteristics of the light emitting device may be improved.
  • the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may be formed in a single layer or a multilayer structure.
  • the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may be ohmic electrodes.
  • the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may include ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx / ITO, Ni / IrOx / Au, and Ni / IrOx / Au / ITO, Ag.
  • the light emitting device 1100 may include a protective layer 1150, as illustrated in FIGS. 31 and 32.
  • the protective layer 1150 may include a plurality of third openings h3 exposing the second sub-electrodes 1142.
  • the plurality of third openings h3 may be disposed to correspond to the plurality of PB regions provided in the second sub-electrodes 1142.
  • the protective layer 1150 may include a plurality of fourth openings h4 exposing the first sub-electrodes 1141.
  • the plurality of fourth openings h4 may be disposed to correspond to the plurality of NB regions provided in the first sub-electrode 1141.
  • the protective layer 1150 may be disposed on the reflective layer 1160.
  • the protective layer 1150 may be disposed on the first reflective layer 1161, the second reflective layer 1162, and the third reflective layer 1163.
  • the protective layer 1150 may be provided as an insulating material.
  • the protective layer 1150 may include Si x O y , SiO x N y , It may be formed of at least one material selected from the group containing Si x N y , Al x O y .
  • the light emitting device 1100 may include a first electrode 1171 and a second electrode 1172 disposed on the protective layer 1150.
  • the first electrode 1171 may be disposed on the first reflective layer 1161.
  • the second electrode 1172 may be disposed on the second reflective layer 1162.
  • the second electrode 1172 may be spaced apart from the first electrode 1171.
  • the first electrode 1171 may contact the upper surface of the first sub-electrode 1141 through the plurality of fourth openings h4 provided in the protective layer 1150 in the plurality of NB regions.
  • the plurality of NB regions may be disposed to be perpendicularly shifted from the second opening h2.
  • the current injected into the first electrode 1171 may spread evenly in the horizontal direction of the first sub-electrode 1141. Current may be evenly injected in the plurality of NB regions.
  • the second electrode 1172 may be in contact with the upper surface of the second sub-electrode 1142 through the plurality of third openings h3 provided in the protective layer 1150 in the plurality of PB regions.
  • the current injected into the second electrode 1172 may be evenly spread in the horizontal direction of the second sub-electrodes 1142. Therefore, current can be evenly injected in the plurality of PB regions.
  • the first electrode 1171 and the first sub-electrode 1141 may be in contact with the fourth opening h4.
  • the second electrode 1172 and the second sub-electrode 1142 may be in contact with a plurality of regions. Accordingly, according to the embodiment, since the power can be supplied through the plurality of regions, there is an advantage that the current dispersion effect can be generated and the operating voltage can be reduced by increasing the contact area and the dispersion of the contact regions.
  • the first reflective layer 1161 is disposed under the first sub-electrode 1141, and the second reflective layer 1162 is provided.
  • the second sub electrode 1142 is disposed below the second sub electrode 1142. Accordingly, the first reflecting layer 1161 and the second reflecting layer 1162 reflect the light emitted from the active layer 1112 of the light emitting structure 1110 and thus the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode ( Light absorption may be minimized by minimizing light absorption at 1142.
  • the first reflecting layer 1161 and the second reflecting layer 1162 may be made of an insulating material, and have a high reflectance material, for example, a DBR structure, to reflect light emitted from the active layer 1112. Can be achieved.
  • a high reflectance material for example, a DBR structure
  • the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may form a DBR structure in which materials having different refractive indices are repeatedly arranged with each other.
  • the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may be disposed in a single layer or stacked structure including at least one of TiO 2 , SiO 2 , Ta 2 O 5 , and HfO 2 .
  • the present invention is not limited thereto, and the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may emit light from the active layer 1112 according to the wavelength of light emitted from the active layer 1112. It can be chosen freely to adjust the reflectivity to light.
  • the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may be provided as an ODR layer. According to another embodiment, the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may be provided in a form of hybrid in which a DBR layer and an ODR layer are stacked.
  • light provided from the light emitting structure 1110 may be emitted through the substrate 1105.
  • Light emitted from the light emitting structure 1110 may be reflected by the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 to be emitted toward the substrate 1105.
  • light emitted from the light emitting structure 1110 may also be emitted in a lateral direction of the light emitting structure 1110.
  • the light emitted from the light emitting structure 1110 may include the first electrode 1171 and the second electrode 1172 among the surfaces on which the first electrode 1171 and the second electrode 1172 are disposed. This may be emitted to the outside through the unprovided region.
  • the light emitted from the light emitting structure 1110 may be formed of the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 among the surfaces on which the first electrode 1171 and the second electrode 1172 are disposed.
  • the third reflective layer 1163 may be emitted to the outside through an area where the third reflective layer 1163 is not provided.
  • the light emitting device 1100 may emit light in six surface directions surrounding the light emitting structure 1110 and may significantly improve the brightness.
  • the sum of the areas of the first electrode 1171 and the second electrode 1172 is the first electrode 1171.
  • the second electrode 1172 may be provided equal to or smaller than 60% of the total area of the upper surface of the light emitting device 1100.
  • an entire area of the upper surface of the light emitting device 1100 may correspond to an area defined by the horizontal length and the vertical length of the lower surface of the first conductive semiconductor layer 1111 of the light emitting structure 1110. .
  • the entire upper surface area of the light emitting device 1100 may correspond to the area of the upper surface or the lower surface of the substrate 1105.
  • the sum of the areas of the first electrode 1171 and the second electrode 1172 is provided to be equal to or smaller than 60% of the total area of the light emitting device 1100, thereby providing the first electrode 1171.
  • the amount of light emitted to the surface on which the second electrode 1172 is disposed can be increased. Accordingly, according to the embodiment, since the amount of light emitted in the six plane directions of the light emitting device 1100 increases, light extraction efficiency may be improved and light intensity Po may be increased.
  • the sum of the area of the first electrode 1171 and the area of the second electrode 1172 is equal to or greater than 30% of the total area of the light emitting device 1100. It can be provided largely.
  • the sum of the areas of the first electrode 1171 and the second electrode 1172 is provided to be equal to or greater than 30% of the total area of the light emitting device 1100, thereby providing the first electrode 1171 )
  • the second electrode 1172 may be stable and secure electrical characteristics of the light emitting device 1100.
  • the sum of the areas of the first electrode 1171 and the second electrode 1172 is equal to that of the light emitting device 1100. It may be selected as 30% or more of the total area and 60% or less.
  • the electrical characteristics of the light emitting device 1100 To secure and secure the bonding force to be mounted on the light emitting device package can be carried out a stable mounting.
  • the first electrode 1171 and the second electrode 1172 when the sum of the areas of the first electrode 1171 and the second electrode 1172 is greater than 0% to 60% of the total area of the light emitting device 1100, the first electrode 1171 and the As the amount of light emitted to the surface on which the second electrode 1172 is disposed increases, light extraction efficiency of the light emitting device 1100 may be improved, and light intensity Po may be increased.
  • the sum of the areas of the first electrode 1171 and the second electrode 1172 may be increased to secure electrical properties of the light emitting device 1100 and bonding strength to be mounted on the light emitting device package and increase brightness. 30% or more and 60% or less of the total area of the light emitting device 1100 was selected.
  • the third reflective layer 1163 may be disposed between the first electrode 1171 and the second electrode 1172.
  • the length W5 of the third reflective layer 1163 along the long axis direction of the light emitting device 1100 may be disposed to correspond to a gap between the first electrode 1171 and the second electrode 1172.
  • the area of the third reflective layer 1163 may be, for example, 10% or more and 25% or less of the entire upper surface of the light emitting device 1100.
  • the package body disposed under the light emitting device may prevent discoloration or cracking, and 25% In the following case it is advantageous to ensure the light extraction efficiency to emit light to the six sides of the light emitting device.
  • the area of the third reflective layer 1163 may be greater than 0% but less than 10% of the entire upper surface of the light emitting device 1100 in order to secure the light extraction efficiency.
  • the area of the third reflective layer 1163 may be disposed to be greater than 25% to less than 100% of the entire upper surface of the light emitting device 1100 to prevent discoloration or cracking of the package body. .
  • light generated in the light emitting structure 1110 may be a second region provided between the side surface disposed in the long axis direction of the light emitting device 1100 and the adjacent first electrode 1171 or the second electrode 1172. Can be transmitted through and released.
  • light generated in the light emitting structure is transmitted to a third region provided between the side surface disposed in the short axis direction of the light emitting device 1100 and the neighboring first electrode 1171 or the second electrode 1172. Can be released.
  • the size of the first reflective layer 1161 may be provided several micrometers larger than the size of the first electrode 1171.
  • an area of the first reflective layer 1161 may be provided to a size sufficient to completely cover the area of the first electrode 1171.
  • the length of one side of the first reflective layer 1161 may be provided to be about 4 micrometers to 10 micrometers larger than the length of one side of the first electrode 1171.
  • the size of the second reflective layer 1162 may be provided several micrometers larger than the size of the second electrode 1172.
  • an area of the second reflective layer 1162 may be provided to a size sufficient to completely cover an area of the second electrode 1172.
  • the length of one side of the second reflective layer 1162 may be provided, for example, about 4 micrometers to about 10 micrometers larger than the length of one side of the second electrode 1172.
  • the light emitted from the light emitting structure 1110 is transmitted to the first electrode 1171 and the second electrode 1172 by the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162. It can be reflected without being incident. Accordingly, according to the embodiment, the light generated and emitted from the light emitting structure 1110 may be minimized by being incident on the first electrode 1171 and the second electrode 1172.
  • the third reflective layer 1163 is disposed between the first electrode 1171 and the second electrode 1172, the first electrode 1171 The amount of light emitted between the second electrodes 1172 may be adjusted.
  • the light emitting device 1100 may be mounted in a flip chip bonding method and provided in the form of a light emitting device package.
  • the package body in which the light emitting device 1100 is mounted is provided with a resin, the package body is discolored by strong light of short wavelength emitted from the light emitting device 1100 in the lower region of the light emitting device 1100. Or cracking may occur.
  • the amount of light emitted between the region in which the first electrode 1171 and the second electrode 1172 are disposed can be adjusted, so that the light emitting device 1100 Discoloration or cracking of the package body disposed in the lower region can be prevented.
  • the light emitting structure may be formed in an area of 20% or more of an upper surface of the light emitting device 1100 on which the first electrode 1171, the second electrode 1172, and the third reflective layer 1163 are disposed.
  • the light generated at 1110 may be transmitted and emitted.
  • the package body disposed in close proximity to the lower surface of the light emitting device 1100 can be prevented from discoloration or cracking.
  • a plurality of contact holes C1, C2, and C3 may be provided in the ohmic contact layer 1130.
  • the second conductivity-type semiconductor layer 1113 and the reflective layer 1160 may be bonded to each other through a plurality of contact holes C1, C2, and C3 provided in the ohmic contact layer 1130. Since the reflective layer 1160 may be in direct contact with the second conductivity-type semiconductor layer 1113, the adhesive force may be improved as compared with the reflective layer 1160 being in contact with the ohmic contact layer 1130.
  • the bonding force or the adhesive force between the reflective layer 1160 and the ohmic contact layer 1130 may be weakened.
  • the bonding strength or adhesion between the materials may be weakened.
  • peeling may occur between the two layers.
  • characteristics of the light emitting device 1100 may be deteriorated, and reliability of the light emitting device 1100 may not be secured.
  • the reflective layer 1160 may directly contact the second conductive semiconductor layer 1113, the reflective layer 1160, the ohmic contact layer 1130, and the second conductive semiconductor may be used. Bonding force and adhesion between the layers 1113 can be provided stably.
  • the bonding force between the reflective layer 1160 and the second conductive semiconductor layer 1113 may be stably provided, the reflective layer 1160 is separated from the ohmic contact layer 1130. It can be prevented.
  • the bonding force between the reflective layer 1160 and the second conductive semiconductor layer 1113 may be stably provided, reliability of the light emitting device 1100 may be improved.
  • a plurality of contact holes C1, C2, and C3 may be provided in the ohmic contact layer 1130.
  • Light emitted from the active layer 1112 may be incident on the reflective layer 1160 and reflected through the plurality of contact holes C1, C2, and C3 provided in the ohmic contact layer 1130. Accordingly, the light generated by the active layer 1112 may be reduced by being incident on the ohmic contact layer 1130 and the light extraction efficiency may be improved. Accordingly, according to the light emitting device 1100 according to the embodiment, the brightness may be improved.
  • the light emitting structure 1110 may be formed on the substrate 1105.
  • 33A is a plan view illustrating a shape of a light emitting structure 1110 formed according to a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment
  • FIG. 33B is a cross-sectional view along a line A-A of the light emitting device shown in FIG. 33A.
  • the light emitting structure 1110 may be formed on the substrate 1105.
  • a first conductive semiconductor layer 1111, an active layer 1112, and a second conductive semiconductor layer 1113 may be formed on the substrate 1105.
  • a portion of the first conductive semiconductor layer 1111 may be exposed through a mesa etching process.
  • the light emitting structure 1110 may include a plurality of mesa openings M exposing the first conductive semiconductor layer 1111 by mesa etching.
  • the mesa opening M may be provided in a plurality of circular shapes.
  • the mesa opening M may also be referred to as a recess.
  • the mesa opening M may be provided in various shapes such as an oval or a polygon as well as a circular shape.
  • an ohmic contact layer 1130 may be formed.
  • 34A is a plan view showing the shape of the ohmic contact layer 1130 formed according to the method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment
  • FIG. 34B is a cross-sectional view along a line A-A of the light emitting device shown in FIG. 34A.
  • the ohmic contact layer 1130 may be formed on the second conductive semiconductor layer 1113.
  • the ohmic contact layer 1130 may include a plurality of openings M1 provided in a region corresponding to the mesa opening M.
  • the opening M1 may be provided in a plurality of circular shapes.
  • the opening M1 may be provided in various shapes such as an ellipse or a polygon as well as a circular shape.
  • the ohmic contact layer 1130 may include a first region R1, a second region R2, and a third region R3.
  • the first region R1 and the second region R2 may be spaced apart from each other.
  • the third region R3 may be disposed between the first region R1 and the second region R2.
  • the first region R1 may include a plurality of openings M1 provided in an area corresponding to the mesa opening M of the light emitting structure 1110.
  • the first region R1 may include a plurality of first contact holes C1.
  • a plurality of first contact holes C1 may be provided around the opening M1.
  • the second region R2 may include a plurality of openings M1 provided in a region corresponding to the mesa opening M of the light emitting structure 1110.
  • the second region R2 may include a plurality of second contact holes C2.
  • a plurality of second contact holes C2 may be provided around the opening M1.
  • the third region R3 may include a plurality of openings M1 provided in a region corresponding to the mesa opening M of the light emitting structure 1110.
  • the first region R1 may include a plurality of first contact holes C1.
  • a plurality of first contact holes C1 may be provided around the opening M1.
  • the first contact hole C1, the second contact hole C2, and the third contact hole C3 may be provided in a diameter of several micrometers to several tens of micrometers.
  • the first contact hole C1, the second contact hole C2, and the third contact hole C3 may be provided, for example, with a diameter of 7 micrometers to 20 micrometers.
  • the first contact hole C1, the second contact hole C2, and the third contact hole C3 may be provided in various shapes such as an ellipse or a polygon as well as a circular shape.
  • the second conductivity-type semiconductor is disposed under the ohmic contact layer 1130 by the first contact hole C1, the second contact hole C2, and the third contact hole C3. Layer 1113 may be exposed.
  • a reflective layer 1160 may be formed.
  • 35A is a plan view showing the shape of the reflective layer 1160 formed according to the method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment
  • FIG. 35B is a cross-sectional view along a line A-A of the light emitting device shown in FIG. 35A.
  • the reflective layer 1160 may include a first reflective layer 1161, a second reflective layer 1162, and a third reflective layer 1163.
  • the reflective layer 1160 may be disposed on the ohmic contact layer 1130.
  • the reflective layer 1160 may be disposed on the first conductivity type semiconductor layer 1111 and the second conductivity type semiconductor layer 1113.
  • the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162 may be spaced apart from each other.
  • the third reflective layer 1163 may be disposed between the first reflective layer 1161 and the second reflective layer 1162.
  • the first reflective layer 1161 may be disposed on the first region R1 of the ohmic contact layer 1130.
  • the first reflective layer 1161 may be disposed on the plurality of first contact holes C1 provided in the ohmic contact layer 1130.
  • the second reflective layer 1162 may be disposed on the second region R2 of the ohmic contact layer 1130.
  • the second reflective layer 1162 may be disposed on the plurality of second contact holes C2 provided in the ohmic contact layer 1130.
  • the third reflective layer 1163 may be disposed on the third region R3 of the ohmic contact layer 1130.
  • the third reflective layer 1163 may be disposed on the plurality of third contact holes C3 provided in the ohmic contact layer 1130.
  • the second reflective layer 1162 may include a plurality of openings.
  • the second reflective layer 1162 may include a plurality of first openings h1.
  • the ohmic contact layer 1130 may be exposed through the plurality of first openings h1.
  • the first reflective layer 1161 may include a plurality of second openings h2.
  • An upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 1111 may be exposed through the plurality of second openings h2.
  • the plurality of second openings h2 may be provided to correspond to the plurality of mesa openings M regions formed in the light emitting structure 1110.
  • the plurality of second openings h2 may be provided corresponding to a plurality of openings M1 regions provided in the ohmic contact layer 1130.
  • the first reflective layer 1161 may be provided on the first region R1 of the ohmic contact layer 1130.
  • the first reflective layer 1161 may contact the second conductive semiconductor layer 1113 through the first contact hole C1 provided in the ohmic contact layer 1130. Accordingly, adhesion between the first reflective layer 1161 and the second conductive semiconductor layer 1113 may be improved, and the first reflective layer 1161 may be prevented from peeling from the ohmic contact layer 1130. It becomes possible.
  • the second reflective layer 1162 may be provided on the second region R2 of the ohmic contact layer 1130.
  • the second reflective layer 1162 may contact the second conductive semiconductor layer 1113 through the second contact hole C2 provided in the ohmic contact layer 1130. Accordingly, adhesion between the second reflective layer 1162 and the second conductive semiconductor layer 1113 may be improved, and the second reflective layer 1162 may be prevented from peeling from the ohmic contact layer 1130. It becomes possible.
  • the third reflective layer 1163 may be provided on the third region R3 of the ohmic contact layer 1130.
  • the third reflective layer 1163 may be in contact with the second conductivity-type semiconductor layer 1113 through the third contact hole C3 provided in the ohmic contact layer 1130. Accordingly, adhesion between the third reflective layer 1163 and the second conductive semiconductor layer 1113 may be improved, and the third reflective layer 1163 may be prevented from peeling from the ohmic contact layer 1130. It becomes possible.
  • FIGS. 36A and 36B the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may be formed.
  • 36A is a plan view illustrating the shapes of the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 formed according to the method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment
  • FIG. 36B is a line along the AA line of the light emitting device shown in FIG. The process cross section is shown.
  • the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142 may be spaced apart from each other.
  • the first sub electrode 1141 may be electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer 1111.
  • the first sub-electrode 1141 may be disposed on the first conductive semiconductor layer 1111.
  • the first sub-electrode 1141 may include a portion of the second conductive semiconductor layer 1113 and a portion of the active layer 1112 removed.
  • the first conductive semiconductor layer 1111 may be disposed on an upper surface of the first conductive semiconductor layer 1111.
  • the first sub-electrode 1141 may be formed in a linear shape.
  • the first sub-electrode 1141 may include an N region having a relatively larger area than other regions having a linear shape.
  • the N region of the first sub-electrode 1141 may be electrically connected to the first electrode 1171 to be formed later.
  • the first sub-electrode 1141 may be electrically connected to an upper surface of the first conductive semiconductor layer 1111 through a second opening h2 provided in the first reflective layer 1161.
  • the first sub-electrode 1141 may directly contact upper surfaces of the first conductive semiconductor layer 1111 in a plurality of N regions.
  • the second sub-electrode 1142 may be electrically connected to the second conductivity-type semiconductor layer 1113.
  • the second sub-electrodes 1142 may be disposed on the second conductive semiconductor layer 1113.
  • the ohmic contact layer 1130 may be disposed between the second sub-electrode 1142 and the second conductive semiconductor layer 1113.
  • the second sub-electrodes 1142 may be formed in a line shape, for example.
  • the second sub-electrode 1142 may include a P region having a relatively larger area than other linear regions.
  • the P region of the second sub-electrode 1142 may be electrically connected to the second electrode 1172 to be formed later.
  • the second sub-electrode 1142 may be electrically connected to an upper surface of the second conductive semiconductor layer 1113 through a first opening h1 provided in the second reflective layer 1162.
  • the second sub-electrodes 1142 may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer 1113 through the ohmic contact layer 1130 in a plurality of P regions.
  • the second sub-electrodes 1142 may directly contact upper surfaces of the ohmic contact layer 1130 in a plurality of P regions.
  • a protective layer 1150 may be formed.
  • 37A is a plan view illustrating a shape of a protective layer 1150 formed according to a method of manufacturing a light emitting device according to an embodiment
  • FIG. 37B is a cross-sectional view taken along line A-A of the light emitting device shown in FIG. 37A.
  • the protective layer 1150 may be disposed on the first sub-electrode 1141 and the second sub-electrode 1142.
  • the protective layer 1150 may be disposed on the reflective layer 1160.
  • the protective layer 1150 may include a fourth opening h4 exposing an upper surface of the first sub-electrode 1141.
  • the passivation layer 1150 may include a plurality of fourth openings h4 exposing a plurality of NB regions of the first sub-electrode 1141.
  • the fourth opening h4 may be provided on an area where the first reflective layer 1161 is disposed. In addition, the fourth opening h4 may be provided on the first region R1 of the ohmic contact layer 1130.
  • the protective layer 1150 may include a third opening h3 exposing an upper surface of the second sub-electrode 1142.
  • the passivation layer 1150 may include a plurality of third openings h3 exposing a plurality of PB regions of the second sub-electrode 1142.
  • the third opening h3 may be provided on an area where the second reflective layer 1162 is disposed. In addition, the third opening h3 may be provided on the second region R2 of the ohmic contact layer 1130.
  • a first electrode 1171 and a second electrode 1172 may be formed.
  • 38A is a plan view illustrating the shapes of the first electrode 1171 and the second electrode 1172 formed according to the method of manufacturing a light emitting device according to the embodiment
  • FIG. 38B is a line along the AA line of the light emitting device shown in FIG. 38A. The process cross section is shown.
  • the first electrode 1171 and the second electrode 1172 may be formed in the shape shown in FIG. 38A.
  • the first electrode 1171 and the second electrode 1172 may be disposed on the passivation layer 1150.
  • the first electrode 1171 may be disposed on the first reflective layer 1161.
  • the second electrode 1172 may be disposed on the second reflective layer 1162.
  • the second electrode 1172 may be spaced apart from the first electrode 1171.
  • the first electrode 1171 may contact the upper surface of the first sub-electrode 1141 through the fourth opening h4 provided in the protective layer 1150 in the plurality of NB regions.
  • the second electrode 1172 may be in contact with the top surface of the second sub-electrode 1142 through the third opening h3 provided in the protective layer 1150 in a plurality of PB regions.
  • the light emitting structure 1110 may emit light.
  • the first electrode 1171 and the first sub-electrode 1141 may contact each other in a plurality of regions.
  • the second electrode 1172 and the second sub-electrode 1142 may be in contact with a plurality of regions. Accordingly, according to the embodiment, since the power can be supplied through the plurality of regions, there is an advantage that the current dispersion effect can be generated and the operating voltage can be reduced by increasing the contact area and the dispersion of the contact regions.
  • the light emitting device package according to the embodiment may be applied to the light source device.
  • the light source device may include a display device, a lighting device, a head lamp, or the like according to an industrial field.
  • the display device includes a bottom cover, a reflector disposed on the bottom cover, a light emitting module that emits light and includes a light emitting element, and a light disposed in front of the reflector and guiding light emitted from the light emitting module to the front.
  • An optical sheet including a light guide plate, prism sheets disposed in front of the light guide plate, a display panel disposed in front of the optical sheet, an image signal output circuit connected to the display panel and supplying an image signal to the display panel; It may include a color filter disposed in front.
  • the bottom cover, the reflector, the light emitting module, the light guide plate, and the optical sheet may form a backlight unit.
  • the display device does not include a color filter, and may have a structure in which light emitting devices emitting red, green, and blue light are disposed.
  • the head lamp may include a light emitting module including a light emitting device package disposed on a substrate, a reflector reflecting light emitted from the light emitting module in a predetermined direction, for example, a front, and reflected by the reflector. It may include a lens for refracting the light forward, and a shade for blocking or reflecting a portion of the light reflected by the reflector toward the lens to achieve a light distribution pattern desired by the designer.
  • a light source device may include a lighting device, a cover, a light source module, a heat sink, a power supply, an inner case, and a socket.
  • the light source device according to the embodiment may further include any one or more of the member and the holder.
  • the light source module may include a light emitting device package according to the embodiment.

Abstract

실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 몸체, 몸체 상에 배치되는 발광소자, 및 몸체와 발광소자 사이에 배치되는 접착제를 포함할 수 있다. 실시 예에 의하면, 몸체는 몸체의 상면에서 몸체의 하면을 관통하는 제1 및 제2 관통홀과, 몸체의 상면에서 몸체의 하면으로 향하는 방향으로 오목한 제1 리세스를 포함하고, 제1 리세스는 제1 및 제2 관통홀 사이에 배치되고, 접착제는 제1 리세스 내에 배치될 수 있다. 실시 예에 의하면, 발광소자는 몸체의 하면에서 상면으로 향하는 제1 방향을 기준으로, 제1 및 제2 관통홀 각각과 중첩되는 제1 및 제2 전극을 포함할 수 있다.

Description

발광소자 패키지 및 광원 장치
실시 예는 반도체 소자 패키지 및 반도체 소자 패키지 제조방법, 광원 장치에 관한 것이다.
GaN, AlGaN 등의 화합물을 포함하는 반도체 소자는 넓고 조정이 용이한 밴드 갭 에너지를 가지는 등의 많은 장점을 가져서 발광 소자, 수광 소자 및 각종 다이오드 등으로 다양하게 사용될 수 있다.
특히, 3족-5족 또는 2족-6족 화합물 반도체 물질을 이용한 발광 다이오드(Light Emitting Diode)나 레이저 다이오드(Laser Diode)와 같은 발광소자는 박막 성장 기술 및 소자 재료의 개발로 적색, 녹색, 청색 및 자외선 등 다양한 파장 대역의 빛을 구현할 수 있는 장점이 있다. 또한, 3족-5족 또는 2족-6족 화합물 반도체 물질을 이용한 발광 다이오드나 레이저 다이오드와 같은 발광소자는, 형광 물질을 이용하거나 색을 조합함으로써 효율이 좋은 백색 광원도 구현이 가능하다. 이러한 발광소자는, 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해 저 소비전력, 반영구적인 수명, 빠른 응답속도, 안전성, 환경 친화성의 장점을 가진다.
뿐만 아니라, 광검출기나 태양 전지와 같은 수광 소자도 3족-5족 또는 2족-6족 화합물 반도체 물질을 이용하여 제작하는 경우 소자 재료의 개발로 다양한 파장 영역의 빛을 흡수하여 광 전류를 생성함으로써 감마선부터 라디오 파장 영역까지 다양한 파장 영역의 빛을 이용할 수 있다. 또한, 이와 같은 수광 소자는 빠른 응답속도, 안전성, 환경 친화성 및 소자 재료의 용이한 조절의 장점을 가져 전력 제어 또는 초고주파 회로나 통신용 모듈에도 용이하게 이용될 수 있다.
따라서, 반도체 소자는 광 통신 수단의 송신 모듈, LCD(Liquid Crystal Display) 표시 장치의 백라이트를 구성하는 냉음극관(CCFL: Cold Cathode Fluorescence Lamp)을 대체하는 발광 다이오드 백라이트, 형광등이나 백열 전구를 대체할 수 있는 백색 발광 다이오드 조명 장치, 자동차 헤드 라이트 및 신호등 및 가스(Gas)나 화재를 감지하는 센서 등에까지 응용이 확대되고 있다. 또한, 반도체 소자는 고주파 응용 회로나 기타 전력 제어 장치, 통신용 모듈에까지 응용이 확대될 수 있다.
발광소자(Light Emitting Device)는 예로서 주기율표상에서 3족-5족 원소 또는 2족-6족 원소를 이용하여 전기에너지가 빛 에너지로 변환되는 특성의 p-n 접합 다이오드로 제공될 수 있고, 화합물 반도체의 조성비를 조절함으로써 다양한 파장 구현이 가능하다.
예를 들어, 질화물 반도체는 높은 열적 안정성과 폭 넓은 밴드갭 에너지에 의해 광소자 및 고출력 전자소자 개발 분야에서 큰 관심을 받고 있다. 특히, 질화물 반도체를 이용한 청색(Blue) 발광소자, 녹색(Green) 발광소자, 자외선(UV) 발광소자, 적색(RED) 발광소자 등은 상용화되어 널리 사용되고 있다.
예를 들어, 자외선 발광소자의 경우, 200nm~400nm의 파장대에 분포되어 있는 빛을 발생하는 발광 다이오드로서, 상기 파장대역에서, 단파장의 경우, 살균, 정화 등에 사용되며, 장파장의 경우 노광기 또는 경화기 등에 사용될 수 있다.
자외선은 파장이 긴 순서대로 UV-A(315nm~400nm), UV-B(280nm~315nm), UV-C (200nm~280nm) 세 가지로 나뉠 수 있다. UV-A(315nm~400nm) 영역은 산업용 UV 경화, 인쇄 잉크 경화, 노광기, 위폐 감별, 광촉매 살균, 특수조명(수족관/농업용 등) 등의 다양한 분야에 응용되고 있고, UV-B(280nm~315nm) 영역은 의료용으로 사용되며, UV-C(200nm~280nm) 영역은 공기 정화, 정수, 살균 제품 등에 적용되고 있다.
한편, 고 출력을 제공할 수 있는 반도체 소자가 요청됨에 따라 고 전원을 인가하여 출력을 높일 수 있는 반도체 소자에 대한 연구가 진행되고 있다.
또한, 반도체 소자 패키지에 있어, 반도체 소자의 광 추출 효율을 향상시키고, 패키지 단에서의 광도를 향상시킬 수 있는 방안에 대한 연구가 진행되고 있다. 또한, 반도체 소자 패키지에 있어, 패키지 전극과 반도체 소자 간의 본딩 결합력을 향상시킬 수 있는 방안에 대한 연구가 진행되고 있다.
또한, 반도체 소자 패키지에 있어, 공정 효율 향상 및 구조 변경을 통하여 제조 단가를 줄이고 제조 수율을 향상시킬 수 있는 방안에 대한 연구가 진행되고 있다.
실시 예는 광 추출 효율 및 전기적 특성을 향상시킬 수 있는 반도체 소자 패키지 및 반도체 소자 패키지 제조방법, 광원 장치를 제공할 수 있다.
실시 예는 공정 효율을 향상시키고 새로운 패키지 구조를 제시하여 제조 단가를 줄이고 제조 수율을 향상시킬 수 있는 반도체 소자 패키지 및 반도체 소자 패키지 제조방법, 광원 장치를 제공할 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 몸체; 상기 몸체 상에 배치되는 발광소자; 및 상기 몸체와 상기 발광소자 사이에 배치되는 접착제; 를 포함하고, 상기 몸체는 상기 몸체의 상면에서 상기 몸체의 하면을 관통하는 제1 및 제2 관통홀과, 상기 몸체의 상면에서 상기 몸체의 하면으로 향하는 방향으로 오목한 제1 리세스를 포함하고, 상기 제1 리세스는 상기 제1 및 제2 관통홀 사이에 배치되고, 상기 접착제는 상기 제1 리세스 내에 배치되고, 상기 발광소자는, 상기 몸체의 하면에서 상면으로 향하는 제1 방향을 기준으로, 상기 제1 및 제2 관통홀 각각과 중첩되는 제1 및 제2 전극을 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 접착제는 상기 몸체와 상기 발광소자에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 상기 제1 관통홀에 제공되며, 상기 제1 전극의 하부 면과 직접 접촉되어 배치된 제1 도전층; 및 상기 제2 관통홀에 제공되며, 상기 제2 전극의 하부 면과 직접 접촉되어 배치된 제2 도전층; 을 더 포함할 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 상기 몸체 아래에 배치되며, 제1 패드와 제2 패드를 포함하는 회로기판; 상기 회로기판의 상기 제1 패드와 상기 제1 전극을 전기적으로 연결시키는 제1 본딩층; 및 상기 회로기판의 상기 제2 패드와 상기 제2 전극을 전기적으로 연결시키는 제2 본딩층; 을 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 본딩층은 상기 제1 관통홀 내에 배치되며, 상기 제1 전극의 하부 면에 직접 접촉되어 배치되고, 상기 제2 본딩층은 상기 제2 관통홀 내에 배치되며, 상기 제2 전극의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀의 상부 영역의 폭이 상기 제1 전극의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀의 상부 영역의 폭이 상기 제1 관통홀의 하부 영역의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
실시 예에 따른 광원 장치는, 기판; 상기 기판 상에 배치되는 몸체; 상기 몸체 상에 배치되는 발광소자; 및 상기 몸체와 상기 발광소자 사이에 배치되는 접착제; 를 포함하고, 상기 몸체는 상기 몸체의 상면에서 상기 몸체의 하면을 관통하는 제1 및 제2 관통홀과, 상기 몸체의 상면에서 상기 몸체의 하면으로 향하는 방향으로 오목한 제1 리세스를 포함하고, 상기 제1 리세스는 상기 제1 및 제2 관통홀 사이에 배치되고, 상기 접착제는 상기 제1 리세스 내에 배치되고, 상기 발광소자는, 상기 몸체의 하면에서 상면으로 향하는 제1 방향을 기준으로, 상기 제1 및 제2 관통홀 각각과 중첩되는 제1 및 제2 전극을 포함하며, 상기 제1 및 제2 관통홀 내에 배치되며, 상기 발광소자의 상기 제1 및 제2 전극과 상기 기판을 전기적으로 연결하는 제1 및 제2 도전층을 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 접착제는 상기 몸체의 상면과 상기 발광소자의 하면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀의 상부 영역의 폭이 상기 제1 전극의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀의 상부 영역의 폭이 상기 제1 관통홀의 하부 영역의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
실시 예에 따른 반도체 소자 패키지 및 반도체 소자 패키지 제조방법에 의하면, 광 추출 효율 및 전기적 특성과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.
실시 예에 따른 반도체 소자 패키지 및 반도체 소자 패키지 제조방법에 의하면, 공정 효율을 향상시키고 새로운 패키지 구조를 제시하여 제조 단가를 줄이고 제조 수율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.
실시 예에 따른 반도체 소자 패키지는 반사율이 높은 몸체를 제공함으로써, 반사체가 변색되지 않도록 방지할 수 있어 반도체 소자 패키지의 신뢰성을 개선할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명하는 분해 사시도이다.
도 3 내지 도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법을 설명하는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 9 내지 도 13은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법의 다른 예를 설명하는 도면이다.
도 14는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 15는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 16 내지 도 18은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 관통홀의 변형 예를 나타낸 도면이다.
도 19는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 20은 도 19에 도시된 발광소자 패키지에 제공된 관통홀과 리세스의 배치 관계를 설명하는 도면이다.
도 21은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 22는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 23은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 24 내지 도 26은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 몸체의 변형 예를 설명하는 도면이다.
도 27 내지 도 29는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 몸체의 다른 변형 예를 설명하는 도면이다.
도 30은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 31은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자를 나타낸 평면도이다.
도 32는 도 31에 도시된 발광소자의 A-A 선에 다른 단면도이다.
도 33a 및 도 33b는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 의하여 반도체층이 형성된 단계를 설명하는 도면이다.
도 34a 및 도 34b는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 의하여 오믹접촉층이 형성된 단계를 설명하는 도면이다.
도 35a 및 도 35b는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 의하여 반사층이 형성된 단계를 설명하는 도면이다.
도 36a 및 도 36b는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 의하여 제1 서브전극과 제2 서브전극이 형성된 단계를 설명하는 도면이다.
도 37a 및 도 37b는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 의하여 보호층이 형성된 단계를 설명하는 도면이다.
도 38a 및 도 38b는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 의하여 제1 전극과 제2 전극이 형성된 단계를 설명하는 도면이다.
이하 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 실시 예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on/over)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on/over)"와 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 층의 상/위 또는 아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명하나 실시 예가 이에 한정되는 것은 아니다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 반도체 소자 패키지 및 반도체 소자 패키지 제조방법에 대해 상세히 설명하도록 한다. 이하에서는 반도체 소자의 예로서 발광소자가 적용된 경우를 기반으로 설명한다.
먼저, 도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명하기로 한다. 도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 나타낸 도면이고, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명하는 분해 사시도이다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 몸체(110), 발광소자(120)를 포함할 수 있다.
상기 몸체(110)는 마운트부(111)와 반사부(113)를 포함할 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상부 면 둘레에 배치될 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상부 면 위에 캐비티(C)를 제공할 수 있다.
다른 표현으로서, 상기 마운트부(111)는 하부 몸체, 상기 반사부(113)는 상부 몸체로 지칭될 수도 있다.
상기 반사부(113)는 상기 발광소자(120)로부터 방출되는 빛을 상부 방향으로 반사시킬 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상면에 대하여 경사지게 배치될 수 있다.
상기 몸체(110)는 상기 캐비티(C)를 포함할 수 있다. 상기 캐비티는 바닥면과, 상기 바닥면에서 상기 몸체(110)의 상면으로 경사진 측면을 포함할 수 있다.
예로서, 상기 몸체(110)는 폴리프탈아미드(PPA: Polyphthalamide), PCT(Polychloro Tri phenyl), LCP(Liquid Crystal Polymer), PA9T(Polyamide9T), 실리콘, 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC: Epoxy molding compound), 실리콘 몰딩 컴파운드(SMC), 세라믹, PSG(photo sensitive glass), 사파이어(Al2O3) 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나로 형성될 수 있다. 또한, 상기 몸체(110)는 TiO2와 SiO2와 같은 고굴절 필러를 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 발광소자(120)는 제1 전극(121), 제2 전극(122), 반도체층(123)을 포함할 수 있다.
상기 반도체층(123)은 제1 도전형 반도체층, 제2 도전형 반도체층, 제1 도전형 반도체층과 제2 도전형 반도체층 사이에 배치된 활성층을 포함할 수 있다. 상기 제1 전극(121)은 상기 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 상기 제2 전극(122)은 상기 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 발광소자(120)는 상기 몸체(110) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 반사부(113)에 의해 제공되는 상기 캐비티(C) 내에 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)은 Ti, Al, In, Ir, Ta, Pd, Co, Cr, Mg, Zn, Ni, Si, Ge, Ag, Ag alloy, Au, Hf, Pt, Ru, Rh, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/IrOx/Au/ITO를 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나 이상의 물질 또는 합금을 이용하여 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다.
한편, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다.
상기 몸체(110)는 상기 캐비티(C)의 바닥면에서 상기 몸체(110)의 하면을 관통하는 상기 제1 관통홀(TH1)을 포함할 수 있다. 상기 몸체(110)는 상기 캐비티(C)의 바닥면에서 상기 몸체(110)의 하면을 관통하는 상기 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 하부 면 아래에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 전극(121)의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 전극(122)의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 따라서, 상기 발광소자와 상기 발광소자 패키지의 몸체(110)가 더 견고히 부착될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)가 40 마이크로 미터 이상일 때 상기 제2 전극(122)이 상기 제2 관통홀(TH2)의 저면에서 노출되지 않도록 하기 위한 공정 마진을 확보할 수 있다.
또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)가 60 마이크로 미터 이하일 때 상기 제2 관통홀(TH2)에 노출되는 상기 제2 전극(122)의 면적을 확보할 수 있고, 상기 제2 관통홀(TH2)에 의해 노출되는 제2 전극(122)의 저항을 낮출 수 있어 상기 제2 관통홀(TH2)에 의해 노출되는 상기 제2 전극(122)으로 전류 주입을 원활히 할 수 있다.
또한, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 관통홀(TH1)의 하부 영역의 폭(W2)에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 관통홀(TH2)의 하부 영역의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 하부 영역에서 상부 영역으로 가면서 폭이 점차적으로 작아지는 경사진 형태로 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 하부 영역에서 상부 영역으로 가면서 폭이 점차적으로 작아지는 경사진 형태로 제공될 수 있다.
다만 이에 한정하지 않고, 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1, TH2)의 상부 영역과 하부 영역 사이의 경사면은 기울기가 서로 다른 복수의 경사면을 가질 수 있고, 상기 경사면은 곡률을 가지며 배치될 수 있다. 상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은 100 마이크로 미터 내지 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)가 추후 회로기판, 서브 마운트 등에 실장되는 경우에, 본딩패드 간의 단락(short)이 발생되는 것을 방지하기 위하여 일정 거리 이상으로 제공되도록 선택될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 리세스(R)를 포함할 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 캐비티(C)의 바닥면에서 상기 몸체(110)의 하면으로 오목하게 제공될 수 있다.
또한, 상기 제1 및 제2 전극패드(121,122) 사이에 배치되는 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1, TH2)의 경사면은 상기 리세스(R)와 수직으로 중첩될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 마운트(111)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 접착제(130)를 포함할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)의 측면과 상기 제2 전극(122)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 접착제(130)는 예로서 상기 마운트부(111)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
예로서, 상기 접착제(130)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 마운트부(111)와 상기 발광소자(120) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있고, 상기 발광 소자(120)의 하면으로 광이 방출되는 경우, 상기 발광소자와 상기 몸체 사이에서 광확산기능을 제공할 수 있다. 상기 발광소자(120)로부터 상기 발광소자(120)의 하면으로 광이 방출될 때 상기 접착제(130)는 광확산기능을 제공함으로써 상기 발광소자 패키지(100)의 광추출효율을 개선할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2) 또는 상기 제2 관통홀(TH2)의 깊이(T2)에 비해 작게 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 상기 접착제(130)의 접착력을 고려하여 결정될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)이 깊이(T1)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 고려하거나 및/또는 상기 발광소자(120)에서 방출되는 열에 의해 상기 발광소자패키지(100)에 크랙이 발생하지 않도록 결정될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120) 하부에 일종의 언더필 공정이 수행될 수 있는 적정 공간을 제공할 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 마운트부(111)의 상면 사이에 상기 접착제(130)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 접착제(130)의 형성 위치 및 고정력에 영향을 미칠 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 마운트부(111)와 상기 발광소자(120) 사이에 배치되는 상기 접착제(130)에 의하여 충분한 고정력이 제공될 수 있도록 결정될 수 있다.
예로서, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 간의 간격에 비해 좁게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 140 마이크로 미터 내지 160 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 두께에 대응되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 유지할 수 있는 두께로 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 180 마이크로 미터 내지 220 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 200 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
예로서, 상기 (T2-T1)의 두께는 적어도 100 마이크로 미터 이상으로 선택될 수 있다. 이는 상기 마운트부(111)의 크랙 프리(crack free)를 제공할 수 있는 사출 공정 두께가 고려된 것이다.
실시 예에 의하면, T1 두께와 T2 두께의 비(T2/T1)는 2 내지 10으로 제공될 수 있다. 예로서, T2의 두께가 200 마이크로 미터로 제공되는 경우, T1의 두께는 20 마이크로 미터 내지 100 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 실시 예에 의하면, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 리세스(R)의 길이(L2)는 상기 제2 관통홀(TH2)의 길이(L1)에 비해 더 크게 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)의 길이(L1)는 상기 발광소자(120)의 단축 방향 길이(L2)에 비해 더 작게 제공될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)의 길이(L2)는 상기 발광소자(120)의 단축 방향 길이(L2)에 비해 더 크게 제공될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조공정에서, 상기 발광소자(120) 하부에 제공되는 상기 접착제(130)의 양이 많을 경우, 상기 리세스(R)에 제공된 상기 접착제(130)가 상기 발광소자(120)의 하부에 접착되면서 넘치는 부분은 상기 리세스(R)의 길이(L2) 방향으로 이동될 수 있게 된다. 이에 따라, 상기 접착제(130)의 양이 설계에 비해 많게 도포되는 경우에도, 상기 발광소자(120)가 상기 마운트부(111)로부터 들뜨지 않고 안정적으로 고정될 수 있게 된다.
또한, 상기 리세스(R)의 폭은 제2 방향으로 균일하게 배치될 수 있고, 제3 방향으로 돌출부를 가질 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120)를 상기 마운트부(111)에 배치하기 위한 얼라인키(Align key) 기능을 할 수 있다. 따라서, 상기 리세스(R)를 통해 상기 발광소자(120)를 상기 마운트부(111)에 배치할 때 상기 발광소자(120)를 원하는 위치에 배치할 수 있도록 기준이 되는 기능을 제공할 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 몰딩부(140)를 포함할 수 있다.
상기 몰딩부(140)는 상기 발광소자(120) 위에 제공될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 반사부(113)에 의하여 제공된 캐비티(C)에 배치될 수 있다.
상기 몰딩부(140)는 절연물질을 포함할 수 있다. 또한, 상기 몰딩부(140)는 상기 발광소자(120)로부터 방출되는 빛을 입사 받고, 파장 변환된 빛을 제공하는 파장변환 수단을 포함할 수 있다. 예로서, 상기 몰딩부(140)는 형광체, 양자점 등을 포함할 수 있다.
또한, 실시 예에 의하면, 상기 반도체층(123)은 화합물 반도체로 제공될 수 있다. 상기 반도체층(123)은 예로서 2족-6족 또는 3족-5족 화합물 반도체로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 반도체층(123)은 알루미늄(Al), 갈륨(Ga), 인듐(In), 인(P), 비소(As), 질소(N)로부터 선택된 적어도 두 개 이상의 원소를 포함하여 제공될 수 있다.
상기 반도체층(123)은 제1 도전형 반도체층, 활성층, 제2 도전형 반도체층을 포함할 수 있다.
상기 제1 및 제2 도전형 반도체층은 3족-5족 또는 2족-6족의 화합물 반도체 중에서 적어도 하나로 구현될 수 있다. 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층은 예컨대 InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층은 GaN, AlN, AlGaN, InGaN, InN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 제1 도전형 반도체층은 Si, Ge, Sn, Se, Te 등의 n형 도펀트가 도핑된 n형 반도체층일 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층은 Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등의 p형 도펀트가 도핑된 p형 반도체층일 수 있다.
상기 활성층은 화합물 반도체로 구현될 수 있다. 상기 활성층은 예로서 3족-5족 또는 2족-6족의 화합물 반도체 중에서 적어도 하나로 구현될 수 있다. 상기 활성층이 다중 우물 구조로 구현된 경우, 상기 활성층은 교대로 배치된 복수의 우물층과 복수의 장벽층을 포함할 수 있고, InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료로 배치될 수 있다. 예컨대, 상기 활성층은 InGaN/GaN, GaN/AlGaN, AlGaN/AlGaN, InGaN/AlGaN, InGaN/InGaN, AlGaAs/GaAs, InGaAs/GaAs, InGaP/GaP, AlInGaP/InGaP, InP/GaAs을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다.
그러면, 도 3 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법을 설명하기로 한다.
도 3 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법을 설명함에 있어, 도 1 및 도 2를 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
먼저, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 도 3에 도시된 바와 같이, 임시기판(210) 위에 몸체(110)가 제공될 수 있다.
도 3에는 상기 임시기판(210) 위에 상기 몸체(110)가 하나만 제공된 것으로 도시되었다. 그러나, 실시 예에 의하면, 상기 임시기판(210)에 하나의 몸체(110)가 제공될 수도 있으며, 복수의 몸체(110)가 배치될 수 있다. 또한, 하나의 몸체(110) 또는 복수의 몸체(110)는 사출 공정 등을 통하여 상기 임시기판(210) 위에 제공될 수도 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 일종의 칩 스케일 패키지 공정이 적용될 수 있다.
예로서, 상기 임시기판(210)은 폴리이미드 계열 수지, 유리, 아크릴 계열 수지, 에폭시 계열 수지, 실리콘 계열 수지 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 몸체(110)는 마운트부(111)와 반사부(113)를 포함할 수 있다. 상기 몸체(110)는 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 몸체(110)는 리세스(R)를 포함할 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 마운트(111)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다.
다음으로, 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 리세스(R)에 접착제(130)가 제공될 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 리세스(R) 영역에 도팅(doting) 방식 등을 통하여 제공될 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)가 형성된 영역에 일정량 제공될 수 있으며, 상기 리세스(R)를 넘치도록 제공될 수 있다.
그리고, 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 마운트부(111) 위에 발광소자(120)가 제공될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 발광소자(120)가 상기 마운트부(111) 위에 배치되는 과정에서 상기 리세스(R)는 일종의 정렬키(align key) 역할을 하도록 활용될 수도 있다.
상기 발광소자(120)는 상기 접착제(130)에 의하여 상기 마운트부(111)에 고정될 수 있다. 상기 리세스(R)에 제공된 상기 접착제(130)의 일부는 상기 제1 전극(121)과 제2 전극(122) 방향으로 이동되어 경화될 수 있다. 이에 따라, 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 마운트부(111)의 상면 사이의 넓은 영역에 상기 접착제(130)가 제공될 수 있으며, 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 간의 고정력이 향상될 수 있게 된다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다.
다음으로, 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 발광소자(120) 위에 몰딩부(140)가 제공되고, 상기 임시기판(210)이 제거됨에 따라, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)가 제공될 수 있게 된다.
이와 같이, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제1 관통홀(TH1)을 통하여 상기 제1 전극(121)의 하면이 노출될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)을 통하여 상기 제2 전극(122)의 하면이 노출될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는, 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명된 바와 같이, 상기 몸체(110)가 형성됨에 있어, 종래 리드 프레임이 적용되지 않는다.
종래 리드 프레임이 적용되는 발광소자 패키지의 경우, 리드 프레임을 형성하는 공정이 추가로 필요하지만, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 리드 프레임을 형성하는 공정을 필요로 하지 않는다. 이에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 공정 시간이 단축될 뿐만 아니라 재료도 절감될 수 있는 장점이 있다.
또한, 종래 리드 프레임이 적용되는 발광소자 패키지의 경우, 리드 프레임의 열화 방지를 위해 은 등의 도금 공정이 추가되어야 하지만, 본 발명의 실시 예에 다른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 리드 프레임이 필요하지 않으므로, 은 도금 등의 추가 공정이 없어도 된다. 이와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 제조 원가를 절감하고 제조 수율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는 상기 제1 관통홀(TH1) 영역을 통해 상기 제1 전극(121)에 전원이 연결되고, 상기 제2 관통홀(TH2) 영역을 통해 상기 제2 전극(122)에 전원이 연결될 수 있다.
이에 따라, 상기 제1 전극(121) 및 상기 제2 전극(122)을 통하여 공급되는 구동 전원에 의하여 상기 발광소자(120)가 구동될 수 있게 된다. 그리고, 상기 발광소자(120)에서 발광된 빛은 상기 몸체(110)의 상부 방향으로 제공될 수 있게 된다.
한편, 이상에서 설명된 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)는 서브 마운트 또는 회로기판 등에 실장되어 공급될 수도 있다.
그러면, 도 7을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 다른 예를 설명하도록 한다. 도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 7에 도시된 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명된 발광소자 패키지(100)가 회로기판(310)에 실장되어 공급되는 예를 나타낸 것이다. 예로서, 상기 회로 기판(310)에 실장되는 발광소자 패키지(100)는 조명 장치에 사용될 수 있다.
도 7을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명함에 있어, 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(200)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 회로기판(310), 몸체(110), 발광소자(120)를 포함할 수 있다.
상기 회로기판(310)은 제1 패드(310), 제2 패드(320), 기판(313)을 포함할 수 있다. 상기 기판(313)에 상기 발광소자(120)의 구동을 제어하는 전원 공급 회로가 제공될 수 있다.
상기 몸체(110)는 상기 회로기판(310) 위에 배치될 수 있다. 상기 제1 패드(311)와 상기 제1 전극(121)이 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 패드(312)와 상기 제2 전극(122)이 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 제1 패드(311)와 상기 제2 패드(312)는 도전성 물질을 포함할 수 있다. 예컨대, 상기 제1 패드(311)와 상기 제2 패드(312)는 Ti, Cu, Ni, Au, Cr, Ta, Pt, Sn, Ag, P, Fe, Sn, Zn, Al를 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다. 상기 제1 패드(311)와 상기 제2 패드(312)는 단층 또는 다층으로 제공될 수 있다.
상기 몸체(110)는 마운트부(111)와 반사부(113)를 포함할 수 있다.
상기 몸체(110)는 상면으로부터 하면까지 제1 방향으로 관통하는 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면으로부터 하면까지 제1 방향으로 관통되어 제공될 수 있다.
상기 발광소자(120)는 제1 전극(121), 제2 전극(122), 반도체층(123)을 포함할 수 있다.
상기 발광소자(120)는 상기 몸체(110) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 반사부(113)에 의해 제공되는 캐비티(C) 내에 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 제1 패드(311)와 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 전극(121)과 상기 제1 패드(311)는 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 제2 패드(312)와 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 전극(122)과 상기 제2 패드(312)는 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 하부 면 아래에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(200)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 제1 본딩층(321)과 제2 본딩층(322)을 포함할 수 있다.
상기 제1 본딩층(321)은 상기 몸체(110)가 상기 회로기판(310)에 실장되는 공정에서 상기 제1 전극(121)과 전기적으로 연결될 수 있다.
예로서, 상기 제1 본딩층(321)은 상기 몸체(110)가 상기 회로기판(310)에 실장되는 리플로우(reflow) 공정에서 상기 제1 패드(311)에 제공된 범프 또는 본딩물질이 상기 제1 관통홀(TH1) 방향으로 삽입되어 형성될 수 있다.
상기 제1 본딩층(321)은 상기 몸체(110)와 상기 회로기판(310) 간의 본딩 공정에서, 일종의 모세관 현상 등에 의하여 본딩물질이 상기 제1 관통홀(TH1) 내부로 이동되어 형성될 수 있다.
상기 제2 본딩층(322)은 상기 몸체(110)가 상기 회로기판(310)에 실장되는 공정에서 상기 제2 전극(122)과 전기적으로 연결될 수 있다.
예로서, 상기 제2 본딩층(322)은 상기 몸체(110)가 상기 회로기판(310)에 실장되는 리플로우(reflow) 공정에서 상기 제2 패드(312)에 제공된 범프 또는 본딩물질이 상기 제2 관통홀(TH2) 방향으로 삽입되어 형성될 수 있다.
상기 제2 본딩층(322)은 상기 몸체(110)와 상기 회로기판(310) 간의 본딩 공정에서, 일종의 모세관 현상 등에 의하여 본딩물질이 상기 제2 관통홀(TH2) 내부로 이동되어 형성될 수 있다.
상기 제1 본딩층(321)과 상기 제2 본딩층(322)은 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P)을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 물질 또는 선택적 합금으로 형성될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 본딩층(321)에 의하여 상기 회로기판(310)의 상기 제1 패드(311)와 상기 제1 전극(121)이 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 상기 제2 본딩층(322)에 의하여 상기 회로기판(310)의 상기 제2 패드(312)와 상기 제2 전극(122)이 전기적으로 연결될 수 있다.
한편, 실시 예에 의하면, 상기 몸체(110)는 유테틱 본딩에 의하여 상기 회로기판(310)에 실장될 수도 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(200)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 리세스(R)를 포함할 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 마운트(111)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(200)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 접착제(130)를 포함할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)의 측면과 상기 제2 전극(122)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 접착제(130)는 예로서 상기 마운트부(111)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
예로서, 상기 접착제(130)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 마운트부(111)의 상면 사이에 상기 접착제(130)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 접착제(130)의 형성 위치 및 고정력에 영향을 미칠 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 마운트부(111)와 상기 발광소자(120) 사이에 배치되는 상기 접착제(130)에 의하여 충분한 고정력이 제공될 수 있도록 결정될 수 있다.
예로서, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 50 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 간의 간격에 비해 좁게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 140 마이크로 미터 내지 160 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 두께에 대응되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 형성 가능한 두께로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 180 마이크로 미터 내지 220 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 200 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(200)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 몰딩부(140)를 포함할 수 있다.
상기 몰딩부(140)는 상기 발광소자(120) 위에 제공될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 반사부(113)에 의하여 제공된 캐비티(C)에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(200)는, 도 7을 참조하여 설명된 바와 같이, 상기 몸체(110)가 형성됨에 있어, 종래 리드 프레임이 적용되지 않는다.
종래 리드 프레임이 적용되는 발광소자 패키지의 경우, 리드 프레임을 형성하는 공정이 추가로 필요하지만, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 의하면 리드 프레임을 형성하는 공정을 필요로 하지 않는다. 이에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 공정 시간이 단축될 뿐만 아니라 재료도 절감될 수 있는 장점이 있다.
또한, 종래 리드 프레임이 적용되는 발광소자 패키지의 경우, 리드 프레임의 열화 방지를 위해 은 등의 도금 공정이 추가되어야 하지만, 본 발명의 실시 예에 다른 발광소자 패키지에 의하면 리드 프레임이 필요하지 않으므로, 은 도금 등의 추가 공정이 없어도 된다. 이와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 제조 원가를 절감하고 제조 수율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.
한편, 도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다. 도 8을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 설명함에 있어, 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다. 또한, 상기 도 8에 적용되는 발광소자 패키지는 조명장치에 이용될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 몸체(110), 발광소자(120), 제1 도전층(411), 제2 도전층(412)을 포함할 수 있다.
상기 몸체(110)는 마운트부(111)와 반사부(113)를 포함할 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상부 면 둘레에 배치될 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상부 면 위에 캐비티(C)를 제공할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 발광소자(120)는 제1 전극(121), 제2 전극(122), 반도체층(123)을 포함할 수 있다.
상기 발광소자(120)는 상기 몸체(110) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 반사부(113)에 의해 제공되는 상기 캐비티(C) 내에 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다.
한편, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 하부 면 아래에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 전극(121)의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 전극(122)의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 50 마이크로 미터 수준으로 제공될 수 있다.
또한, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 관통홀(TH1)의 하부 영역의 폭(W2)에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 관통홀(TH2)의 하부 영역의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 하부 영역에서 상부 영역으로 가면서 폭이 점차적으로 작아지는 경사진 형태로 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 하부 영역에서 상부 영역으로 가면서 폭이 점차적으로 작아지는 경사진 형태로 제공될 수 있다.
상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은 100 마이크로 미터 내지 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)가 추후 회로기판, 서브 마운트 등에 실장되는 경우에, 본딩패드 간의 단락(short)이 발생되는 것을 방지하기 위하여 일정 거리 이상으로 제공되도록 선택될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 리세스(R)를 포함할 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 마운트(111)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 접착제(130)를 포함할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)의 측면과 상기 제2 전극(122)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다.
또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광 소자와 상기 마운트부(111) 사이에서 경화된 후에는 상기 발광소자(120)의 하부면으로 방출되는 광을 확산하는 기능을 제공할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 접착제(130)는 예로서 상기 마운트부(111)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
예로서, 상기 접착제(130)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2) 또는 상기 제2 관통홀(TH2)의 깊이(T2)에 비해 작게 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 상기 접착제(130)의 접착력을 고려하여 결정될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)이 깊이(T1)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 고려하여 결정될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 마운트부(111)의 상면 사이에 상기 접착제(130)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 접착제(130)의 형성 위치 및 고정력에 영향을 미칠 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 마운트부(111)와 상기 발광소자(120) 사이에 배치되는 상기 접착제(130)에 의하여 충분한 고정력이 제공될 수 있도록 결정될 수 있다.
예로서, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 간의 간격에 비해 좁게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 140 마이크로 미터 내지 160 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 두께에 대응되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 유지할 수 있는 두께로 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 180 마이크로 미터 내지 220 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 200 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)을 포함할 수 있다.
상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 관통홀(TH1) 내에 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 전극(121)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 전극(121)과 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 도전층(411)의 상면의 폭은 상기 제1 관통홀(TH1)의 상면의 폭과 동일하게 제공될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)의 상면의 폭은 상기 제1 전극(121)의 폭에 비해 같거나 작게 제공될 수 있다.
상기 제1 도전층(411)의 상면은 상기 마운트부(111)의 상면과 동일 평면에 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)의 하면은 상기 마운트부(111)의 하면과 동일 평면에 제공될 수 있다.
상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 관통홀(TH2) 내에 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 전극(122)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 전극(122)과 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제2 도전층(412)의 상면의 폭은 상기 제2 관통홀(TH2)의 상면의 폭과 동일하게 제공될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)의 상면의 폭은 상기 제2 전극(122)의 폭에 비해 같거나 작게 제공될 수 있다.
상기 제2 도전층(412)의 상면은 상기 마운트부(111)의 상면과 동일 평면에 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)의 하면은 상기 마운트부(111)의 하면과 동일 평면에 제공될 수 있다.
상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 내에 배치되어 회로 기판(210) 상에 배치되는 상기 발광 소자(120)로 주입되는 전류를 원활하게 하고, 상기 발광소자 패키지(100)을 회로 기판(210) 상에 실장하는 기능을 제공할 수 있다.
도 12에 나타나는 실시 예에서와 같이 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 회로 기판(210) 상에 솔더 물질을 배치하고 상기 발광소자 패키지(100)를 실장하여 솔더 물질이 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 내에 배치될 수 있도록 할 수 있고, 도 7 및/또는 도 14에서 나타나는 실시 예와 같이 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 내에 배치된 후 상기 제1 도전층(411) 및 상기 제2 도전층(412)과 회로 기판(210) 사이에 제1 및 제2 본딩층(421,422) 및/또는 제1 및 제2 패드(311,312)를 배치하여 상기 발광소자 패키지(100)를 회로 기판(210)에 실장할 수 있다.
도 12에 나타나는 실시 예의 구성은 상기 발광소자 패키지(100)를 회로 기판(210)에 실장하는 공정을 단축하고 상기 발광소자 패키지(100)의 가격을 저렴하게 공정할 수 있는 장점을 가질 수 있고, 도 7 및/또는 도 14에서 나타나는 실시 예의 구성은 회로 기판(210)과 상기 발광소자 패키지(100)사이의 접착력을 개선할 수 있는 장점을 가질 수 있다. 따라서, 사용자는 회로 기판(210) 상에 실장되는 상기 발광소자 패키지(100)의 적용 분야에 따라 다양하게 구성할 수 있다.
예로서, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 Ag, Au, Pt 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다. 다만 이에 한정하지 않고, 전도성 기능을 확보할 수 있는 물질이 사용될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 8에 도시된 바와 같이, 몰딩부(140)를 포함할 수 있다.
상기 몰딩부(140)는 상기 발광소자(120) 위에 제공될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 반사부(113)에 의하여 제공된 캐비티(C)에 배치될 수 있다.
그러면, 도 9 내지 도 13을 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법을 설명하기로 한다.
도 9 내지 도 13을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법을 설명함에 있어, 도 1 내지 도 8을 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
먼저, 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 도 9에 도시된 바와 같이, 임시기판(210) 위에 몸체(110)가 제공될 수 있다.
도 9에는 상기 임시기판(210) 위에 상기 몸체(110)가 하나만 제공된 것으로 도시되었다. 그러나, 실시 예에 의하면, 상기 임시기판(210)에 하나의 몸체(110)가 배치될 수도 있으며 복수의 몸체(110)가 배치될 수 있다. 또한, 하나의 몸체(110) 또는 복수의 몸체(110)는 사출 공정 등을 통하여 상기 임시기판(210) 위에 제공될 수도 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 일종의 칩 스케일 패키지 공정이 적용될 수 있다.
상기 몸체(110)는 마운트부(111)와 반사부(113)를 포함할 수 있다. 상기 몸체(110)는 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 몸체(110)는 리세스(R)를 포함할 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 마운트(111)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다.
그리고, 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 도 10에 도시된 바와 같이, 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)에 도전층이 형성될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)에 제1 도전층(411)이 형성되고, 상기 제2 관통홀(TH2)에 제2 도전층(412)이 형성될 수 있다.
상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 예로서 도전성 페이스트를 이용하여 형성될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)에 도전성 페이스트가 도포될 수 있다.
예로서, 도전성 페이스트는 Ag, Au, Pt 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다.
이어서, 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 도 11에 도시된 바와 같이, 상기 마운트부(111) 위에 발광소자(120)가 제공될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 발광소자(120)가 상기 마운트부(111) 위에 배치되는 과정에서 상기 리세스(R)는 일종의 정렬키(align key) 역할을 하도록 활용될 수도 있다.
상기 발광소자(120)의 제1 전극(121)이 상기 제1 도전층(411) 위에 배치될 수 있다. 또한, 상기 발광소자(120)의 제2 전극(122)이 상기 제2 도전층(412) 위에 배치될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다.
다음으로, 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면, 도 12에 도시된 바와 같이, 상기 리세스(R)에 접착제(130)가 제공될 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 리세스(R) 영역에 도팅(doting) 방식 등을 통하여 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)에 도포된 상기 접착제(130)는 모세관 현상 등을 통하여 상기 발광소자(120) 하부 영역으로 이동될 수 있다.
상기 발광소자(120)는 상기 접착제(130)에 의하여 상기 마운트부(111)에 고정될 수 있다. 상기 리세스(R)에 제공된 상기 접착제(130)의 일부는 상기 제1 전극(121)과 제2 전극(122) 방향으로 이동되어 경화될 수 있다. 이에 따라, 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 마운트부(111)의 상면 사이의 넓은 영역에 상기 접착제(130)가 제공될 수 있으며, 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 간의 고정력이 향상될 수 있게 된다.
그리고, 도 13에 도시된 바와 같이, 상기 발광소자(120) 위에 몰딩부(140)가 제공되고, 상기 임시기판(210)이 제거됨에 따라, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)가 제공될 수 있게 된다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 8 내지 도 13을 참조하여 설명된 바와 같이, 상기 몸체(110)가 형성됨에 있어, 종래 리드 프레임이 적용되지 않는다.
종래 리드 프레임이 적용되는 발광소자 패키지의 경우, 리드 프레임을 형성하는 공정이 추가로 필요하지만, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 리드 프레임을 형성하는 공정을 필요로 하지 않는다. 이에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 공정 시간이 단축될 뿐만 아니라 재료도 절감될 수 있는 장점이 있다.
또한, 종래 리드 프레임이 적용되는 발광소자 패키지의 경우, 리드 프레임의 열화 방지를 위해 은 등의 도금 공정이 추가되어야 하지만, 본 발명의 실시 예에 다른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 리드 프레임이 필요하지 않으므로, 은 도금 등의 추가 공정을 생략할 수 있다. 따라서, 상기 발광소자 패키지의 실시 예들은 은 도금 등의 물질이 변색되는 문제점을 해결할 수 있고, 공정을 생략할 수 있다는 장점으로 제조 원가를 절감할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 제조 원가를 절감하고 제조 수율 및 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는 상기 제1 도전층(411)을 통해 상기 제1 전극(121)에 전원이 연결되고, 상기 제2 도전층(412)을 통해 상기 제2 전극(122)에 전원이 연결될 수 있다.
이에 따라, 상기 제1 전극(121) 및 상기 제2 전극(122)을 통하여 공급되는 구동 전원에 의하여 상기 발광소자(120)가 구동될 수 있게 된다. 그리고, 상기 발광소자(120)에서 발광된 빛은 상기 몸체(110)의 상부 방향으로 제공될 수 있게 된다.
한편, 이상에서 설명된 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는 서브 마운트 또는 회로기판 등에 실장되어 공급될 수도 있다.
그러면, 도 14를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 다른 예를 설명하도록 한다. 도 14는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 14에 도시된 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 도 8 내지 도 13을 참조하여 설명된 발광소자 패키지(300)가 회로기판(310)에 실장되어 공급되는 예를 나타낸 것이다. 도 14를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명함에 있어, 도 1 내지 도 13을 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(400)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 회로기판(310), 몸체(110), 발광소자(120)를 포함할 수 있다.
상기 회로기판(310)은 제1 패드(310), 제2 패드(320), 기판(313)을 포함할 수 있다. 상기 기판(313)에 상기 발광소자(120)의 구동을 제어하는 전원 공급 회로가 제공될 수 있다.
상기 몸체(110)는 상기 회로기판(310) 위에 배치될 수 있다. 상기 제1 패드(311)와 상기 제1 전극(121)이 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 패드(312)와 상기 제2 전극(122)이 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 제1 패드(311)와 상기 제2 패드(312)는 도전성 물질을 포함할 수 있다. 예컨대, 상기 제1 패드(311)와 상기 제2 패드(312)는 Ti, Cu, Ni, Au, Cr, Ta, Pt, Sn, Ag, P, Fe, Sn, Zn, Al를 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다. 상기 제1 패드(311)와 상기 제2 패드(312)는 단층 또는 다층으로 제공될 수 있다.
상기 몸체(110)는 마운트부(111)와 반사부(113)를 포함할 수 있다.
상기 몸체(110)는 상면으로부터 하면까지 제1 방향으로 관통하는 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면으로부터 하면까지 제1 방향으로 관통되어 제공될 수 있다.
상기 발광소자(120)는 제1 전극(121), 제2 전극(122), 반도체층(123)을 포함할 수 있다.
상기 발광소자(120)는 상기 몸체(110) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 반사부(113)에 의해 제공되는 캐비티(C) 내에 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 제1 패드(311)와 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 전극(121)과 상기 제1 패드(311)는 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 제2 패드(312)와 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 전극(122)과 상기 제2 패드(312)는 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 하부 면 아래에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(400)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)을 포함할 수 있다.
상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 관통홀(TH1)에 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 전극(121)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 전극(121)과 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 도전층(411)의 상면은 상기 마운트부(111)의 상면과 동일 평면에 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)의 하면은 상기 마운트부(111)의 하면과 동일 평면에 제공될 수 있다.
상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 관통홀(TH2)에 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 전극(122)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 전극(122)과 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 도전층(412)의 상면은 상기 마운트부(111)의 상면과 동일 평면에 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)의 하면은 상기 마운트부(111)의 하면과 동일 평면에 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 Ag, Au, Pt 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(400)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 제1 본딩층(421)과 제2 본딩층(422)을 포함할 수 있다.
상기 제1 본딩층(421)은 상기 몸체(110)가 상기 회로기판(310)에 실장되는 공정에서 상기 제1 전극(121)과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 본딩층(422)은 상기 몸체(110)가 상기 회로기판(310)에 실장되는 공정에서 상기 제2 전극(122)과 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 제1 본딩층(421)과 상기 제2 본딩층(422)은 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P)을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 물질 또는 선택적 합금으로 형성될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 본딩층(421)에 의하여 상기 회로기판(310)의 상기 제1 패드(311)와 상기 제1 도전층(411)이 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 상기 제2 본딩층(422)에 의하여 상기 회로기판(310)의 상기 제2 패드(312)와 상기 제2 도전층(412)가 전기적으로 연결될 수 있다.
한편, 실시 예에 의하면, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 유테틱 본딩에 의하여 상기 회로기판(310)에 실장될 수도 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(400)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 리세스(R)를 포함할 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 마운트(111)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(400)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 접착제(130)를 포함할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)의 측면과 상기 제2 전극(122)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 접착제(130)는 예로서 상기 마운트부(111)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
예로서, 상기 접착제(130)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 마운트부(111)의 상면 사이에 상기 접착제(130)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 접착제(130)의 형성 위치 및 고정력에 영향을 미칠 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 마운트부(111)와 상기 발광소자(120) 사이에 배치되는 상기 접착제(130)에 의하여 충분한 고정력이 제공될 수 있도록 결정될 수 있다.
예로서, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 50 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 간의 간격에 비해 좁게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 140 마이크로 미터 내지 160 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 두께에 대응되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 형성 가능한 두께로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 180 마이크로 미터 내지 220 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 200 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(400)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 몰딩부(140)를 포함할 수 있다.
상기 몰딩부(140)는 상기 발광소자(120) 위에 제공될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 반사부(113)에 의하여 제공된 캐비티(C)에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(400)는, 도 14를 참조하여 설명된 바와 같이, 상기 몸체(110)가 형성됨에 있어, 종래 리드 프레임이 적용되지 않는다.
종래 리드 프레임이 적용되는 발광소자 패키지의 경우, 리드 프레임을 형성하는 공정이 추가로 필요하지만, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 의하면 리드 프레임을 형성하는 공정을 필요로 하지 않는다. 이에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 공정 시간이 단축될 뿐만 아니라 재료도 절감될 수 있는 장점이 있다.
또한, 종래 리드 프레임이 적용되는 발광소자 패키지의 경우, 리드 프레임의 열화 방지를 위해 은 등의 도금 공정이 추가되어야 하지만, 본 발명의 실시 예에 다른 발광소자 패키지에 의하면 리드 프레임이 필요하지 않으므로, 은 도금 등의 추가 공정을 생략할 수 있다. 따라서, 상기 발광소자 패키지의 실시 예들은 은 도금 등의 물질이 변색되는 문제점을 해결할 수 있고, 공정을 생략할 수 있다는 장점으로 제조 원가를 절감할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지 제조방법에 의하면 제조 원가를 절감하고 제조 수율 및 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.
한편, 도 15는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다. 실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 도 15에 도시된 바와 같이, 도 1 내지 도 14를 참조하여 설명된 발광소자 패키지에 대비하여 금속층(430)을 더 포함할 수 있다.
상기 금속층(430)은 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)에 제공될 수 있다. 상기 금속층(430)은 상기 제1 관통홀(TH1)을 제공하는 상기 몸체(110)의 측벽과 상기 제2 관통홀(TH2)을 제공하는 상기 몸체(110)의 측벽에 제공될 수 있다.
상기 금속층(430)은 상기 제1 관통홀(TH1)을 제공하는 상기 몸체(110)와 상기 제1 도전층(411) 사이에 배치될 수 있다. 또한, 상기 금속층(430)은 상기 제2 관통홀(TH2)을 제공하는 상기 몸체(110)와 상기 제2 도전층(412) 사이에 배치될 수 있다.
또한, 실시 예에 의하면, 상기 금속층(430)은 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1, TH2)과 인접한 상기 몸체(110)의 하면에도 제공될 수 있다.
상기 금속층(430)은 상기 몸체(110)와 접착력이 좋은 물성을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 또한, 상기 금속층(430)은 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)과 접착력이 좋은 물성을 갖는 물질로 형성될 수 있다.
이에 따라, 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)이 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1, TH2) 내에 안정적으로 제공될 수 있게 된다. 실시 예에 의하면, 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)과 상기 몸체(110)와의 접착력이 좋지 않은 경우에도, 상기 금속층(430)에 의하여 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)이 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1, TH2) 내에 안정적으로 제공될 수 있게 된다.
한편, 이상에서 설명된 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 경우, 각 전극패드 아래에 하나의 관통홀이 제공된 경우를 기준으로 설명되었다.
그러나, 다른 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 의하면, 각 전극패드 아래에 복수의 관통홀이 제공될 수도 있다. 또한, 복수의 관통홀은 서로 다른 폭을 갖는 관통홀로 제공될 수도 있다.
또한, 실시 예에 따른 관통홀의 형상은 도 16 내지 도 18에 도시된 바와 같이 다양한 형상으로 제공될 수도 있다.
예를 들어, 도 16에 도시된 바와 같이, 실시 예에 따른 관통홀(TH3)은 상부 영역으로부터 하부 영역까지 동일한 폭으로 제공될 수도 있다.
또한, 도 17에 도시된 바와 같이, 실시 예에 따른 관통홀(TH4)은 다단 구조의 형상으로 제공될 수도 있다. 예로서, 관통홀(TH4)은 2단 구조의 서로 다른 경사각을 갖는 형상으로 제공될 수도 있다. 또한, 관통홀(TH4)은 3단 이상의 서로 다른 경사각을 갖는 형상으로 제공될 수도 있다.
또한, 도 18에 도시된 바와 같이, 관통홀(TH5)은 상부 영역에서 하부 영역으로 가면서 폭이 변하는 형상으로 제공될 수도 있다. 예로서, 관통홀(TH5)은 상부 영역에서 하부 영역으로 가면서 곡률을 갖는 형상으로 제공될 수도 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 의하면, 몸체(110)는 상면이 평탄한 마운트부(111)만을 포함하고, 마운트부(111) 위에 배치된 반사부(113)를 포함하지 않도록 제공될 수도 있다.
다음으로, 도 19 및 도 20을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 다른 예를 설명하기로 한다.
도 19는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이고, 도 20은 도 19에 도시된 발광소자 패키지에 제공된 관통홀과 리세스의 배치 관계를 설명하는 도면이다.
도 19 및 도 20을 참조하여 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명함에 있어, 도 1 내지 도 18을 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 19에 도시된 바와 같이, 몸체(110), 발광소자(120), 제1 도전층(411), 제2 도전층(412)을 포함할 수 있다.
상기 몸체(110)는 마운트부(111)와 반사부(113)를 포함할 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상부 면 둘레에 배치될 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상부 면 위에 캐비티(C)를 제공할 수 있다.
상기 몸체(110)는 상기 캐비티(C)를 포함할 수 있다. 상기 캐비티는 바닥면과, 상기 바닥면에서 상기 몸체(110)의 상면으로 경사진 측면을 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 발광소자(120)는 제1 전극(121), 제2 전극(122), 반도체층(123)을 포함할 수 있다.
상기 발광소자(120)는 상기 몸체(110) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 반사부(113)에 의해 제공되는 상기 캐비티(C) 내에 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다.
한편, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 19에 도시된 바와 같이, 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다.
예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 몸체(110)에 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 하부 면 아래에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 전극(121)의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 전극(122)의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 50 마이크로 미터 수준으로 제공될 수 있다.
또한, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 관통홀(TH1)의 하부 영역의 폭(W2)에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 관통홀(TH2)의 하부 영역의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
예를 들어, 도 19에 도시된 바와 같이, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 관통홀(TH1)의 하부 영역의 폭(W2)과 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 관통홀(TH2)의 하부 영역의 폭과 같게 제공될 수 있다.
한편, 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 의하면, 도 21에 도시된 바와 같이, 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)이 경사진 형상으로 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭이 상기 제1 관통홀(TH1)의 하부 영역의 폭에 비해 더 크게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 관통홀(TH2)의 하부 영역의 폭에 비해 더 크게 제공될 수 있다.
상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은 100 마이크로 미터 내지 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)가 추후 회로기판, 서브 마운트 등에 실장되는 경우에, 본딩패드 간의 단락(short)이 발생되는 것을 방지하기 위하여 일정 거리 이상으로 제공되도록 선택될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 19 및 도 21에 도시된 바와 같이, 리세스(R)를 포함할 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 몸체(110)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 몸체(110)의 상면에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 몸체(110)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 마운트(111)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 19 및 도 21에 도시된 바와 같이, 접착제(130)를 포함할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)와 상기 몸체(110) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)의 측면과 상기 제2 전극(122)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다.
또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광 소자와 상기 마운트부(111) 사이에서 경화된 후에는 상기 발광소자(120)의 하부면으로 방출되는 광을 확산하는 기능을 제공할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다.
상기 접착제(130)는 예로서 상기 몸체(110)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 예로서 상기 마운트부(111)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
예로서, 상기 접착제(130)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 화이트 실리콘(white silicone)을 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2) 또는 상기 제2 관통홀(TH2)의 깊이(T2)에 비해 작게 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 상기 접착제(130)의 접착력을 고려하여 결정될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)이 깊이(T1)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 고려하여 결정될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 마운트부(111)의 상면 사이에 상기 접착제(130)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 접착제(130)의 형성 위치 및 고정력에 영향을 미칠 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 마운트부(111)와 상기 발광소자(120) 사이에 배치되는 상기 접착제(130)에 의하여 충분한 고정력이 제공될 수 있도록 결정될 수 있다.
예로서, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 간의 간격에 비해 좁게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 140 마이크로 미터 내지 160 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 두께에 대응되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 유지할 수 있는 두께로 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 180 마이크로 미터 내지 220 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 200 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 19 및 도 21에 도시된 바와 같이, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)을 포함할 수 있다.
상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 관통홀(TH1) 내에 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 전극(121)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 전극(121)과 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 도전층(411)의 상면의 폭은 상기 제1 관통홀(TH1)의 상면의 폭과 동일하게 제공될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)의 상면의 폭은 상기 제1 전극(121)의 폭에 비해 같거나 작게 제공될 수 있다.
상기 제1 도전층(411)의 상면은 상기 마운트부(111)의 상면과 동일 평면에 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)의 하면은 상기 마운트부(111)의 하면과 동일 평면에 제공될 수 있다.
상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 관통홀(TH2) 내에 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 전극(122)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 전극(122)과 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제2 도전층(412)의 상면의 폭은 상기 제2 관통홀(TH2)의 상면의 폭과 동일하게 제공될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)의 상면의 폭은 상기 제2 전극(122)의 폭에 비해 같거나 작게 제공될 수 있다.
상기 제2 도전층(412)의 상면은 상기 마운트부(111)의 상면과 동일 평면에 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)의 하면은 상기 마운트부(111)의 하면과 동일 평면에 제공될 수 있다.
상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 내에 배치되어 발광소자 패키지(300)가 실장되는 회로기판과 전기적으로 연결될 수 있다.
예로서, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 Ag, Au, Pt 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다. 다만 이에 한정하지 않고, 전도성 기능을 확보할 수 있는 물질이 사용될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 도 19 내지 도 21에 도시된 바와 같이, 제1 상부 리세스(R30)와 제2 상부 리세스(R40)를 포함할 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R30)는 상기 몸체(110)의 상면에 제공될 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R30)는 상기 몸체(110)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R30)는 상기 제1 관통홀(TH1)로부터 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R30)는, 도 20에 도시된 바와 같이, 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제1 전극(121)의 세 변에 인접하게 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 상부 리세스(R3)는 상기 제1 전극(121)의 주변에 “[” 형상으로 제공될 수 있다.
상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 몸체(110)의 상면에 제공될 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 몸체(110)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 제2 관통홀(TH2)로부터 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제2 상부 리세스(R40)는, 도 20에 도시된 바와 같이, 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제2 전극(122)의 세 변에 인접하게 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 제2 전극(122)의 주변에 “]” 형상으로 제공될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 리세스(R)와 연결되어 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 리세스(R)는 상기 제1 전극(121) 둘레에 폐루프 형상으로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제2 상부 리세스(R40)와 상기 리세스(R)는 상기 제2 전극(122) 둘레에 폐루프 형상으로 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)는 수십 마이크로 미터 내지 수백 마이크로 미터의 폭으로 제공될 수 있다.
또한, 다른 실시 예에 의하면, 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)는 서로 이격되어 배치될 수도 있다. 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 리세스(R)는 서로 이격되어 배치될 수도 있다. 상기 제2 상부 리세스(R40)와 상기 리세스(R)는 서로 이격되어 배치될 수도 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 도 19 내지 도 21에 도시된 바와 같이, 수지부(135)를 포함할 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)에 제공될 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 제1 전극(121)의 측면에 배치될 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 제1 상부 리세스(R30)에 제공될 수 있으며, 상기 제1 전극(121)이 배치된 영역까지 연장되어 제공될 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 반도체층(123)의 아래에 배치될 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R30)의 끝단으로부터 상기 발광소자(120)의 인접한 끝단까지의 거리(L11)는 수백 마이크로 미터 이하로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 상부 리세스(R30)의 끝단으로부터 상기 발광소자(120)의 인접한 끝단까지의 거리(L11)는 200 마이크로 미터에 비해 같거나 더 작게 제공될 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R30)의 끝단으로부터 상기 발광소자(120)의 인접한 끝단까지의 거리(L11)는, 상기 제1 상부 리세스(R30)에 채워지는 상기 수지부(135)의 점성 등에 의하여 결정될 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R30)의 끝단으로부터 상기 발광소자(120)의 인접한 끝단까지의 거리(L11)는, 상기 제1 상부 리세스(R30)에 도포된 상기 수지부(135)가 상기 제1 전극(121)이 배치된 영역까지 연장되어 형성될 수 있는 거리로 선택될 수 있다.
또한, 상기 수지부(135)는 상기 제2 전극(122)의 측면에 배치될 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 제2 상부 리세스(R40)에 제공될 수 있으며, 상기 제2 전극(122)이 배치된 영역까지 연장되어 제공될 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 반도체층(123)의 아래에 배치될 수 있다.
또한, 상기 수지부(135)는 상기 반도체층(123)의 측면에도 제공될 수 있다. 상기 수지부(135)가 상기 반도체층(123)의 측면에 배치됨으로써 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)이 상기 반도체층(123)의 측면으로 이동하는 것을 효과적으로 방지할 수 있다. 또한, 상기 수지부(135)가 상기 반도체층(123)의 측면에 배치될 때, 상기 반도체층(123)의 활성층 아래에 배치되도록 할 수 있고, 이에 따라 상기 발광소자(120)의 광 추출 효율을 향상시킬 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 수지부(135)가 제공될 수 있는 충분한 공간을 제공할 수 있다.
예로서, 상기 수지부(135)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 수지부(135)는 반사성 물질을 포함할 수 있고, 예를 들어 TiO2 및/또는 Silicone을 포함하는 화이트 실리콘(white silicone)을 포함할 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치되어 실링(sealing) 기능을 수행할 수 있다. 또한, 상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 간의 접착력을 향상시킬 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)의 주위를 밀봉시킬 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)이 상기 제1 관통홀(TH1) 영역과 상기 제2 관통홀(TH2) 영역을 벗어나 상기 발광소자(120) 방향으로 확산되어 이동되는 것을 방지할 수 있다.
또한, 상기 수지부(135)가 화이트 실리콘과 같은 반사 특성이 있는 물질을 포함하는 경우, 상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120)로부터 제공되는 빛을 상기 몸체(110)의 상부 방향으로 반사시켜 발광소자 패키지(300)의 광 추출 효율을 향상시킬 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 19 및 도 21에 도시된 바와 같이, 몰딩부(140)를 포함할 수 있다.
상기 몰딩부(140)는 상기 발광소자(120) 위에 제공될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 몸체(110) 위에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 반사부(113)에 의하여 제공된 캐비티(C)에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 패키지 몸체(110)에 의하여 제공된 캐비티(C)에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 수지부(135) 위에 배치될 수 있다.
다음으로, 도 22를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 설명하기로 한다.
도 22를 참조하여 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명함에 있어, 도 1 내지 도 21을 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
도 22에 도시된 발광소자 패키지는, 도 18 내지 도 21을 참조하여 설명된 발광소자 패키지에 비하여 제1 상부 리세스(R30)와 제2 상부 리세스(R40)의 형성 위치에 차이가 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 도 22에 도시된 바와 같이, 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제1 상부 리세스(R30)의 일부 영역이 반도체층(123)과 수직 방향에서 중첩되게 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 전극(121)에 인접한 상기 제1 상부 리세스(R30)의 측면 영역이 상기 반도체층(123) 아래로 연장되어 제공될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 도 22에 도시된 바와 같이, 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제2 상부 리세스(R40)의 일부 영역이 상기 반도체층(123)과 수직 방향에서 중첩되게 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제2 전극(122)에 인접한 상기 제2 상부 리세스(R40)의 측면 영역이 상기 반도체층(123) 아래로 연장되어 제공될 수 있다.
이에 따라, 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)에 채워진 상기 수지부(135)가 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 주변을 효과적으로 밀봉할 수 있게 된다.
또한, 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)가 상기 발광소자(120) 아래에 상기 수지부(135)가 제공될 수 있는 충분한 공간을 제공할 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 발광소자(120) 하부에 일종의 언더필(under fill) 공정이 수행될 수 있는 적정 공간을 제공할 수 있다.
예로서, 상기 수지부(135)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예로서, 상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120)에서 방출되는 광을 반사하는 반사부일 수 있고, 예로서 TiO2 등의 반사 물질을 포함하는 수지일 수 있다. 상기 수지부(135)는 화이트 실리콘(white silicone)을 포함할 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치되어 실링(sealing) 기능을 수행할 수 있다. 또한, 상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 간의 접착력을 향상시킬 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)의 주위를 밀봉시킬 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)이 상기 제1 개구부(TH1) 영역과 상기 제2 개구부(TH2) 영역을 벗어나 상기 발광소자(120) 방향으로 확산되어 이동되는 것을 방지할 수 있다.
또한, 상기 수지부(135)가 화이트 실리콘과 같은 반사 특성이 있는 물질을 포함하는 경우, 상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120)로부터 제공되는 빛을 상기 패키지 몸체(110)의 상부 방향으로 반사시켜 발광소자 패키지(100)의 광 추출 효율을 향상시킬 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는 상기 제1 개구부(TH1) 영역을 통해 상기 제1 전극(121)에 전원이 연결되고, 상기 제2 개구부(TH2) 영역을 통해 상기 제2 전극(122)에 전원이 연결될 수 있다.
이에 따라, 상기 제1 전극(121) 및 상기 제2 전극(122)을 통하여 공급되는 구동 전원에 의하여 상기 발광소자(120)가 구동될 수 있게 된다. 그리고, 상기 발광소자(120)에서 발광된 빛은 상기 몸체(110)의 상부 방향으로 제공될 수 있게 된다.
다음으로, 도 23을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 다른 예를 설명하기로 한다.
도 23을 참조하여 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명함에 있어, 도 1 내지 도 22를 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 23에 도시된 바와 같이, 몸체(110), 발광소자(120), 제1 도전층(411), 제2 도전층(412)을 포함할 수 있다.
상기 몸체(110)는 마운트부(111)와 반사부(113)를 포함할 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상부 면 둘레에 배치될 수 있다. 상기 반사부(113)는 상기 마운트부(111)의 상부 면 위에 캐비티(C)를 제공할 수 있다.
상기 몸체(110)는 상기 캐비티(C)를 포함할 수 있다. 상기 캐비티는 바닥면과, 상기 바닥면에서 상기 몸체(110)의 상면으로 경사진 측면을 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 발광소자(120)는 제1 전극(121), 제2 전극(122), 반도체층(123)을 포함할 수 있다.
상기 발광소자(120)는 상기 몸체(110) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 발광소자(120)는 상기 반사부(113)에 의해 제공되는 상기 캐비티(C) 내에 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에 배치될 수 있다. 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)은 상기 발광소자(120)의 하부 면에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(121)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(122)은 상기 반도체층(123)과 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다.
한편, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 23에 도시된 바와 같이, 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)을 포함할 수 있다.
예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 몸체(110)에 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제1 전극(121)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)를 관통하여 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면과 하면을 제1 방향으로 관통하여 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 마운트부(111)의 상면에서 하면으로 향하는 제1 방향으로 상기 발광소자(120)의 상기 제2 전극(122)과 중첩되어 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)은 상기 발광소자(120)의 하부 면 아래에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 전극(121)의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 전극(122)의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역으로부터 상기 제2 전극(122)의 측면 끝단까지의 거리(W6)는 50 마이크로 미터 수준으로 제공될 수 있다.
또한, 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역의 폭(W1)이 상기 제1 관통홀(TH1)의 하부 영역의 폭(W2)에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역의 폭이 상기 제2 관통홀(TH2)의 하부 영역의 폭에 비해 작거나 같게 제공될 수 있다.
상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은 100 마이크로 미터 내지 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 마운트부(111)의 하면 영역에서 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이의 폭(W3)은, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(100)가 추후 회로기판, 서브 마운트 등에 실장되는 경우에, 본딩패드 간의 단락(short)이 발생되는 것을 방지하기 위하여 일정 거리 이상으로 제공되도록 선택될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 23에 도시된 바와 같이, 리세스(R)를 포함할 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 몸체(110)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 몸체(110)의 상면에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 몸체(110)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 사이에 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 마운트(111)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 23에 도시된 바와 같이, 접착제(130)를 포함할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 리세스(R)와 상기 몸체(110) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 사이에 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)의 측면과 상기 제2 전극(122)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다.
또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광 소자와 상기 마운트부(111) 사이에서 경화된 후에는 상기 발광소자(120)의 하부면으로 방출되는 광을 확산하는 기능을 제공할 수 있다.
상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 마운트부(111) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다.
상기 접착제(130)는 예로서 상기 몸체(110)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 접착제(130)는 예로서 상기 마운트부(111)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 접착제(130)는 상기 발광소자(120)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
예로서, 상기 접착제(130)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예로서, 상기 접착제(130)는 화이트 실리콘(white silicone)을 포함할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2) 또는 상기 제2 관통홀(TH2)의 깊이(T2)에 비해 작게 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 상기 접착제(130)의 접착력을 고려하여 결정될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)이 깊이(T1)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 고려하여 결정될 수 있다.
상기 리세스(R)는 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 마운트부(111)의 상면 사이에 상기 접착제(130)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 리세스(R)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.
상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 접착제(130)의 형성 위치 및 고정력에 영향을 미칠 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)와 폭(W4)은 상기 마운트부(111)와 상기 발광소자(120) 사이에 배치되는 상기 접착제(130)에 의하여 충분한 고정력이 제공될 수 있도록 결정될 수 있다.
예로서, 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 깊이(T1)는 40 마이크로 미터 내지 60 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 간의 간격에 비해 좁게 제공될 수 있다. 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 140 마이크로 미터 내지 160 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 리세스(R)의 폭(W4)은 150 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 두께에 대응되어 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 상기 마운트부(111)의 안정적인 강도를 유지할 수 있는 두께로 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 수백 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 180 마이크로 미터 내지 220 마이크로 미터로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 제1 관통홀(TH1)의 깊이(T2)는 200 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 23에 도시된 바와 같이, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)을 포함할 수 있다.
상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 관통홀(TH1) 내에 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 전극(121)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)은 상기 제1 전극(121)과 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제1 도전층(411)의 상면의 폭은 상기 제1 관통홀(TH1)의 상면의 폭과 동일하게 제공될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)의 상면의 폭은 상기 제1 전극(121)의 폭에 비해 같거나 작게 제공될 수 있다.
상기 제1 도전층(411)의 상면은 상기 마운트부(111)의 상면과 동일 평면에 배치될 수 있다. 상기 제1 도전층(411)의 하면은 상기 마운트부(111)의 하면과 동일 평면에 제공될 수 있다.
상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 관통홀(TH2) 내에 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 전극(122)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)은 상기 제2 전극(122)과 수직 방향에서 서로 중첩되어 제공될 수 있다.
예로서, 상기 제2 도전층(412)의 상면의 폭은 상기 제2 관통홀(TH2)의 상면의 폭과 동일하게 제공될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)의 상면의 폭은 상기 제2 전극(122)의 폭에 비해 같거나 작게 제공될 수 있다.
상기 제2 도전층(412)의 상면은 상기 마운트부(111)의 상면과 동일 평면에 배치될 수 있다. 상기 제2 도전층(412)의 하면은 상기 마운트부(111)의 하면과 동일 평면에 제공될 수 있다.
상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2) 내에 배치되어 발광소자 패키지(300)가 실장되는 회로기판과 전기적으로 연결될 수 있다.
예로서, 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)은 Ag, Au, Pt 등을 포함하는 그룹 중에서 선택된 하나의 물질 또는 그 합금을 포함할 수 있다. 다만 이에 한정하지 않고, 전도성 기능을 확보할 수 있는 물질이 사용될 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 도 23에 도시된 바와 같이, 제1 상부 리세스(R30)와 제2 상부 리세스(R40)를 포함할 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R30)는 상기 몸체(110)의 상면에 제공될 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R30)는 상기 몸체(110)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R30)는 상기 제1 관통홀(TH1)로부터 이격되어 배치될 수 있다.
한편, 실시 예에 의하면, 상기 제1 상부 리세스(R30)의 바닥 면이 서로 다른 높이를 갖는 단차 구조로 제공될 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R30)의 상부 영역과 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역이 서로 연결될 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R30)의 상부 영역과 상기 제1 관통홀(TH1)의 상부 영역이 상기 제1 전극(121) 아래에서 서로 연결될 수 있다.
상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 몸체(110)의 상면에 제공될 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 몸체(110)의 상면에서 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 제2 관통홀(TH2)로부터 이격되어 배치될 수 있다.
한편, 실시 예에 의하면, 상기 제2 상부 리세스(R20)의 바닥 면이 서로 다른 높이를 갖는 단차 구조로 제공될 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R40)의 상부 영역과 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역이 서로 연결될 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R40)의 상부 영역과 상기 제2 관통홀(TH2)의 상부 영역이 상기 제2 전극(122) 아래에서 서로 연결될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 도 23에 도시된 바와 같이, 수지부(135)를 포함할 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)에 제공될 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 제1 전극(121)의 측면에 배치될 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 제1 상부 리세스(R30)에 제공될 수 있으며, 상기 제1 전극(121)이 배치된 영역까지 연장되어 제공될 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 반도체층(123)의 아래에 배치될 수 있다.
상기 제1 관통홀(TH1)에 인접한 상기 제1 상부 리세스(R30)의 끝단은 상기 제1 전극(121)의 하면으로부터 거리 “h” 만큼 이격되어 배치될 수 있다. 상기 거리 “h”는 상기 제1 상부 리세스(R30)에 채워지는 상기 수지부(135)의 점성 등에 의하여 결정될 수 있다. 상기 거리 “h”는 상기 제1 상부 리세스(R30)에 제공되는 상기 수지부(135)가 상기 제1 관통홀(TH1)로 흘러 나가지 않고 상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제1 전극(121) 사이에 배치될 수 있는 거리로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 거리 “h”는 수 마이크로 미터 내지 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 상기 수지부(135)는 상기 제2 전극(122)의 측면에 배치될 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 제2 상부 리세스(R40)에 제공될 수 있으며, 상기 제2 전극(122)이 배치된 영역까지 연장되어 제공될 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 반도체층(123)의 아래에 배치될 수 있다.
상기 제2 관통홀(TH1)에 인접한 상기 제2 상부 리세스(R40)의 끝단은 상기 제2 전극(122)의 하면으로부터 거리 “h” 만큼 이격되어 배치될 수 있다. 상기 거리 “h”는 상기 제2 상부 리세스(R40)에 채워지는 상기 수지부(135)의 점성 등에 의하여 결정될 수 있다. 상기 거리 “h”는 상기 제2 상부 리세스(R40)에 제공되는 상기 수지부(135)가 상기 제2 관통홀(TH2)로 흘러 나가지 않고 상기 제2 상부 리세스(R40)와 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있는 거리로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 거리 “h”는 수 마이크로 미터 내지 수십 마이크로 미터로 제공될 수 있다.
또한, 상기 수지부(135)는 상기 반도체층(123)의 측면에도 제공될 수 있다. 상기 수지부(135)가 상기 반도체층(123)의 측면에 배치됨으로써 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)이 상기 반도체층(123)의 측면으로 이동하는 것을 효과적으로 방지할 수 있다. 또한, 상기 수지부(135)가 상기 반도체층(123)의 측면에 배치될 때, 상기 반도체층(123)의 활성층 아래에 배치되도록 할 수 있고, 이에 따라 상기 발광소자(120)의 광 추출 효율을 향상시킬 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R30)와 상기 제2 상부 리세스(R40)는 상기 수지부(135)가 제공될 수 있는 충분한 공간을 제공할 수 있다.
예로서, 상기 수지부(135)는 에폭시(epoxy) 계열의 물질, 실리콘(silicone) 계열의 물질, 에폭시 계열의 물질과 실리콘 계열의 물질을 포함하는 하이브리드(hybrid) 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 수지부(135)는 반사성 물질을 포함할 수 있고, 예를 들어 TiO2 및/또는 Silicone을 포함하는 화이트 실리콘(white silicone)을 포함할 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120) 아래에 배치되어 실링(sealing) 기능을 수행할 수 있다. 또한, 상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 간의 접착력을 향상시킬 수 있다.
상기 수지부(135)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122)의 주위를 밀봉시킬 수 있다. 상기 수지부(135)는 상기 제1 도전층(411)과 상기 제2 도전층(412)이 상기 제1 관통홀(TH1) 영역과 상기 제2 관통홀(TH2) 영역을 벗어나 상기 발광소자(120) 방향으로 확산되어 이동되는 것을 방지할 수 있다.
또한, 상기 수지부(135)가 화이트 실리콘과 같은 반사 특성이 있는 물질을 포함하는 경우, 상기 수지부(135)는 상기 발광소자(120)로부터 제공되는 빛을 상기 몸체(110)의 상부 방향으로 반사시켜 발광소자 패키지(300)의 광 추출 효율을 향상시킬 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는, 도 23에 도시된 바와 같이, 몰딩부(140)를 포함할 수 있다.
상기 몰딩부(140)는 상기 발광소자(120) 위에 제공될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 몸체(110) 위에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 마운트부(111) 위에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 반사부(113)에 의하여 제공된 캐비티(C)에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 패키지 몸체(110)에 의하여 제공된 캐비티(C)에 배치될 수 있다. 상기 몰딩부(140)는 상기 수지부(135) 위에 배치될 수 있다.
한편, 이상에서 설명된 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 다양한 변형 예를 포함할 수 있다.
먼저, 도 24 내지 도 29를 참조하여 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 몸체의 변형 예들에 대해 살펴 보기로 한다. 도 14 내지 도 29를 참조하여 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 설명함에 있어, 도 1 내지 도 23을 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
도 24 내지 도 26은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 몸체의 변형 예를 설명하는 도면이다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)에 의하면, 도 24에 도시된 바와 같이, 몸체(110)는 상면에 제공된 적어도 3 개의 리세스를 포함할 수 있다.
예로서, 상기 몸체(110)는 상면 중앙 영역으로부터 상기 제1 관통홀(TH1) 쪽에 배치된 제1 상부 리세스(R21)를 포함할 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R21)는 상기 몸체(110)의 상면으로부터 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다.
또한, 상기 몸체(110)는 상면 중앙 영역으로부터 상기 제2 관통홀(TH2) 쪽에 배치된 제3 상부 리세스(R23)를 포함할 수 있다. 상기 제3 상부 리세스(R23)는 상기 몸체(110)의 상면으로부터 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다.
또한, 상기 몸체(110)는 상면 중앙 영역에 배치된 제2 상부 리세스(R22)를 포함할 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R22)는 상기 몸체(110)의 상면으로부터 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R22)는 상기 제1 상부 리세스(R21)와 상기 제3 상부 리세스(R23) 사이에 배치될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)에 의하면, 제1 접착제(130)가 상기 제1 상부 리세스(R21), 상기 제2 상부 리세스(R22), 상기 제3 상부 리세스(R23)에 제공될 수 있다. 상기 제1 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제1 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제1 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)의 측면과 상기 제2 전극(122)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R21), 상기 제2 상부 리세스(R22), 상기 제3 상부 리세스(R23)는 상기 발광소자(120)를 상기 패키지 몸체에 부착하기 위해 상기 발광소자(120) 하부에 일종의 언더필(under fill) 공정이 수행될 수 있는 적정 공간을 제공할 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R21), 상기 제2 상부 리세스(R22), 상기 제3 상부 리세스(R23)는 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 몸체(110)의 상면 사이에 상기 제1 접착제(130)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 제1 상부 리세스(R21), 상기 제2 상부 리세스(R22), 상기 제3 상부 리세스(R23)는 상기 몸체(110)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.
상기 제1 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 제1 접착제(130)는 예로서 상기 몸체(110)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 제1 접착제(130)는 상기 발광소자(120)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
또한, 상기 제1 상부 리세스(R21) 및 상기 제1 접착제(130)는 상기 제1 관통홀(TH1)에 제공된 상기 제1 도전층(411)이 상기 발광소자(120) 하부 영역으로 이동되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제3 상부 리세스(R23) 및 상기 제1 접착제(130)는 상기 제2 관통홀(TH2)에 제공된 상기 제2 도전층(412)이 상기 발광소자(120) 하부 영역으로 이동되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)의 이동에 의하여 상기 발광소자(120)가 전기적으로 단락(short) 되거나 열화되는 것을 방지할 수 있다.
한편, 도 24는 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 몸체(110)의 단면도를 나타낸 것이고, 도 25 및 도 26은 도 24에 도시된 상기 몸체(110)의 평면도를 나타낸 것이다.
예로서, 도 25에 도시된 바와 같이, 상기 제1 상부 리세스(R21), 상기 제2 상부 리세스(R22), 상기 제3 상부 리세스(R23)는 상기 몸체(110)의 상면에서 서로 이격되어 일 방향으로 평행하게 배치될 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R21), 상기 상부 제2 리세스(R22), 상기 제3 상부 리세스(R23)는 상기 몸체(110)의 상면에서 일 방향으로 연장되어 배치될 수 있다.
또한, 도 26에 도시된 바와 같이, 상기 제1 상부 리세스(R21)와 상기 제3 상부 리세스(R23)는 상기 몸체(110)의 중앙 영역을 사이에 두고 서로 이격되어 배치될 수 있다. 한편, 상기 제1 상부 리세스(R21)와 상기 제3 상부 리세스(R23)는 상기 몸체(110)의 중앙 영역을 가운데 두고, 그 둘레에서 폐루프 형상으로 서로 연결되어 배치될 수도 있다. 또한, 상기 제2 상부 리세스(R22)는 상기 몸체(110)의 중앙 영역에 배치될 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R22)는 상기 제1 상부 리세스(R21)와 상기 제3 상부 리세스(R23)에 의하여 둘러 쌓여진 공간 내에 배치될 수도 있다.
한편, 도 27 내지 도 29는 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 몸체의 다른 변형 예를 설명하는 도면이다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)에 의하면, 도 27에 도시된 바와 같이, 몸체(110)는 상면에 제공된 적어도 2 개의 리세스를 포함할 수 있다.
예로서, 상기 몸체(110)는 상면 중앙 영역으로부터 상기 제1 관통홀(TH1) 쪽에 배치된 제1 상부 리세스(R31)를 포함할 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R31)는 상기 몸체(110)의 상면으로부터 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다.
또한, 상기 몸체(110)는 상면 중앙 영역으로부터 상기 제2 관통홀(TH2) 쪽에 배치된 제2 상부 리세스(R32)를 포함할 수 있다. 상기 제2 상부 리세스(R32)는 상기 몸체(110)의 상면으로부터 하면 방향으로 오목하게 제공될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)에 의하면, 제1 접착제(130)가 상기 제1 상부 리세스(R31), 상기 제2 상부 리세스(R32)에 제공될 수 있다. 상기 제1 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제1 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)과 상기 제2 전극(122) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제1 접착제(130)는 상기 제1 전극(121)의 측면과 상기 제2 전극(122)의 측면에 접촉되어 배치될 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R31)와 상기 제2 상부 리세스(R32)는 상기 발광소자(120) 하부에 일종의 언더필(under fill) 공정이 수행될 수 있는 적정 공간을 제공할 수 있다.
상기 제1 상부 리세스(R31)와 상기 제2 상부 리세스(R32)는 상기 발광소자(120)의 하면과 상기 몸체(110)의 상면 사이에 상기 제1 접착제(130)가 충분히 제공될 수 있도록 제1 깊이 이상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 제1 상부 리세스(R31)와 상기 제2 상부 리세스(R32)는 상기 몸체(110)의 안정적인 강도를 제공하기 위하여 제2 깊이 이하로 제공될 수 있다.
상기 제1 접착제(130)는 상기 발광소자(120)와 상기 몸체(110) 간의 안정적인 고정력을 제공할 수 있다. 상기 제1 접착제(130)는 예로서 상기 몸체(110)의 상면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 제1 접착제(130)는 상기 발광소자(120)의 하부 면에 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
또한, 상기 제1 상부 리세스(R31) 및 상기 제1 접착제(130)는 상기 제1 관통홀(TH1)에 제공된 상기 제1 도전층(411)이 상기 발광소자(120) 하부 영역으로 이동되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 제2 상부 리세스(R32) 및 상기 제1 접착제(130)는 상기 제2 관통홀(TH2)에 제공된 상기 제2 도전층(412)이 상기 발광소자(120) 하부 영역으로 이동되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)의 이동에 의하여 상기 발광소자(120)가 전기적으로 단락(short) 되거나 열화되는 것을 방지할 수 있다.
한편, 도 27은 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 몸체(110)의 단면도를 나타낸 것이고, 도 28 및 도 29는 도 27에 도시된 상기 몸체(110)의 평면도를 나타낸 것이다.
예로서, 도 28에 도시된 바와 같이, 상기 제1 상부 리세스(R31)와 상기 제2 상부 리세스(R32)는 상기 몸체(110)의 상면에서 서로 이격되어 일 방향으로 평행하게 배치될 수 있다. 상기 제1 상부 리세스(R31)와 상기 제2 상부 리세스(R32)는 상기 몸체(110)의 상면에서 일 방향으로 연장되어 배치될 수 있다.
또한, 도 29에 도시된 바와 같이, 상기 제1 상부 리세스(R31)와 상기 제2 상부 리세스(R32)는 상기 몸체(110)의 중앙 영역을 사이에 두고 서로 이격되어 배치될 수 있다. 한편, 상기 제1 상부 리세스(R31)와 상기 제2 상부 리세스(R32)는 상기 몸체(110)의 중앙 영역을 가운데 두고, 그 둘레에서 폐루프 형상으로 서로 연결되어 배치될 수도 있다.
한편, 도 30은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지의 또 다른 예를 나타낸 도면이다. 실시 예에 따른 발광소자 패키지는, 도 30에 도시된 바와 같이, 도 19 내지 도 29를 참조하여 설명된 발광소자 패키지에 대비하여 금속층(430)을 더 포함할 수 있다.
상기 금속층(430)은 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)에 제공될 수 있다. 상기 금속층(430)은 상기 제1 관통홀(TH1)을 제공하는 상기 몸체(110)의 측벽과 상기 제2 관통홀(TH2)을 제공하는 상기 몸체(110)의 측벽에 제공될 수 있다.
상기 금속층(430)은 상기 제1 관통홀(TH1)을 제공하는 상기 몸체(110)와 상기 제1 도전층(411) 사이에 배치될 수 있다. 또한, 상기 금속층(430)은 상기 제2 관통홀(TH2)을 제공하는 상기 몸체(110)와 상기 제2 도전층(412) 사이에 배치될 수 있다.
또한, 실시 예에 의하면, 상기 금속층(430)은 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1, TH2)과 인접한 상기 몸체(110)의 하면에도 제공될 수 있다.
상기 금속층(430)은 상기 몸체(110)와 접착력이 좋은 물성을 갖는 물질로 형성될 수 있다. 또한, 상기 금속층(430)은 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)과 접착력이 좋은 물성을 갖는 물질로 형성될 수 있다.
이에 따라, 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)이 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1, TH2) 내에 안정적으로 제공될 수 있게 된다. 실시 예에 의하면, 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)과 상기 몸체(110)와의 접착력이 좋지 않은 경우에도, 상기 금속층(430)에 의하여 상기 제1 및 제2 도전층(411, 412)이 상기 제1 및 제2 관통홀(TH1, TH2) 내에 안정적으로 제공될 수 있게 된다.
한편, 이상에서 도 19 내지 도 30을 참조하여 설명된 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 제1 관통홀(TH1)과 제2 관통홀(TH2)에 제1 도전층(411)과 제2 도전층(412)이 각각 채워진 경우를 기준으로 설명되었다.
그러나, 다른 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 의하면, 도 1 내지 도 6을 참조하여 설명된 바와 같이, 상기 제1 관통홀(TH1)과 상기 제2 관통홀(TH2)에 도전성 물질이 채워지지 않은 구조로 발광소자 패키지가 공급될 수도 있다.
또한, 도 19 내지 도 30을 참조하여 설명된 실시 예에 따른 발광소자 패키지는 도 7, 도 14, 또는 도 15를 참조하여 설명된 바와 유사하게 서브 마운트, 회로기판 등에 실장되어 공급될 수도 있다.
한편, 이상에서 설명된 발광소자 패키지에는 예로서 플립칩 발광소자가 제공될 수 있다.
예로서, 플립칩 발광소자는 6면 방향으로 빛이 방출되는 투과형 플립칩 발광소자로 제공될 수 있으며, 5면 방향으로 빛이 방출되는 반사형 플립칩 발광소자로 제공될 수도 있다.
상기 5면 방향으로 빛이 방출되는 반사형 플립칩 발광소자는 상기 패키지 패키지 몸체(110)에 가까운 방향으로 반사층이 배치된 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 반사형 플립칩 발광소자는 제1 및 제2 전극 패드와 발광구조물 사이에 절연성 반사층(예를 들어 Distributed Bragg Reflector, Omni Directional Reflector 등) 및/또는 전도성 반사층(예를 들어 Ag, Al, Ni, Au 등)을 포함할 수 있다.
또한, 상기 6면 방향으로 빛이 방출되는 플립칩 발광소자는 제1 도전형 반도체층과 전기적으로 연결되는 제1 전극, 제2 도전형 반도체층과 전기적으로 연결되는 제2 전극을 가지며, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에서 빛이 방출되는 일반적인 수평형 발광소자로 제공될 수 있다.
또한, 상기 6면 방향으로 빛이 방출되는 플립칩 발광소자는, 상기 제1 및 제2 전극 패드 사이에 반사층이 배치된 반사 영역과 빛이 방출되는 투과 영역을 모두 포함하는 투과형 플립칩 발광소자로 제공될 수 있다.
여기서, 투과형 플립칩 발광소자는 상부면, 4개의 측면, 하부면의 6면으로 빛이 방출되는 소자를 의미한다. 또한, 반사형 플립칩 발광소자는 상부면, 4개의 측면의 5면으로 빛이 방출되는 소자를 의미한다.
그러면, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자 패키지에 적용된 플립칩 발광소자의 예를 설명하기로 한다.
먼저, 도 31 및 도 32를 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자를 설명하기로 한다. 도 31은 본 발명의 실시 예에 따른 발광소자를 나타낸 평면도이고, 도 32는 도 31에 도시된 발광소자의 A-A 선에 따른 단면도이다.
한편, 이해를 돕기 위해, 도 31을 도시함에 있어, 제1 전극(1171)과 제2 전극(1172) 아래에 배치되지만, 상기 제1 전극(1171)에 전기적으로 연결된 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 전극(1172)에 전기적으로 연결된 제2 서브전극(1142)이 보일 수 있도록 도시되었다.
실시 예에 따른 발광소자(1100)는, 도 31 및 도 32에 도시된 바와 같이, 기판(1105) 위에 배치된 발광구조물(1110)을 포함할 수 있다.
상기 기판(1105)은 사파이어 기판(Al2O3), SiC, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge을 포함하는 그룹 중에서 선택될 수 있다. 예로서, 상기 기판(1105)은 상부 면에 요철 패턴이 형성된 PSS(Patterned Sapphire Substrate)로 제공될 수 있다.
상기 발광구조물(1110)은 제1 도전형 반도체층(1111), 활성층(1112), 제2 도전형 반도체층(1113)을 포함할 수 있다. 상기 활성층(1112)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제1 도전형 반도체층(1111) 위에 상기 활성층(1112)이 배치되고, 상기 활성층(1112) 위에 상기 제2 도전형 반도체층(1113)이 배치될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 도전형 반도체층(1111)은 n형 반도체층으로 제공되고, 상기 제2 도전형 반도체층(1113)은 p형 반도체층으로 제공될 수 있다. 물론, 다른 실시 예에 의하면, 상기 제1 도전형 반도체층(1111)이 p형 반도체층으로 제공되고, 상기 제2 도전형 반도체층(1113)이 n형 반도체층으로 제공될 수도 있다.
이하에서는 설명의 편의를 위해 상기 제1 도전형 반도체층(1111)이 n형 반도체층으로 제공되고 상기 제2 도전형 반도체층(1113)이 p형 반도체층으로 제공된 경우를 기준으로 설명하기로 한다.
실시 예에 따른 발광소자(1100)는, 도 32에 도시된 바와 같이, 오믹접촉층(1130)을 포함할 수 있다. 상기 오믹접촉층(1130)은 전류 확산을 향상시켜 광출력을 증가시킬 수 있다. 상기 오믹접촉층(1130)의 배치 위치 및 형상에 대해서는 실시 예에 따른 발광소자 제조방법을 설명하면서 더 살펴 보기로 한다.
예로서, 상기 오믹접촉층(1130)은 금속, 금속 산화물, 금속 질화물을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 오믹접촉층(1130)은 투광성의 물질을 포함할 수 있다.
상기 오믹접촉층(1130)은, 예를 들어 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZON(IZO nitride), IZTO (indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, Ni/IrOx/Au/ITO, Pt, Ni, Au, Rh, Pd를 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나를 포함할 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자(1100)는, 도 32 및 도 32에 도시된 바와 같이, 반사층(1160)을 포함할 수 있다. 상기 반사층(1160)은 제1 반사층(1161), 제2 반사층(1162), 제3 반사층(1163)을 포함할 수 있다. 상기 반사층(1160)은 상기 오믹접촉층(1130) 위에 배치될 수 있다.
상기 제2 반사층(1162)은 상기 오믹접촉층(1130)을 노출시키는 제1 개구부(h1)를 포함할 수 있다. 상기 제2 반사층(1162)은 상기 오믹접촉층(1130) 위에 배치된 복수의 제1 개구부(h1)를 포함할 수 있다.
상기 제1 반사층(1161)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상부 면을 노출시키는 복수의 제2 개구부(h2)를 포함할 수 있다.
상기 제3 반사층(1163)은 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제3 반사층(1163)은 상기 제1 반사층(1161)과 연결될 수 있다. 또한, 상기 제3 반사층(1163)은 상기 제2 반사층(1162)과 연결될 수 있다. 상기 제3 반사층(1163)은 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)에 물리적으로 직접 접촉되어 배치될 수 있다.
예로서, 상기 제3 반사층(1163)의 폭(W5)은 도 1 내지 도 30을 참조하여 설명된 상기 리세스(R)의 폭(W4)에 비하여 더 작게 제공될 수 있다.
이에 따라, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제3 반사층(1163) 사이로 방출되는 빛이 상기 리세스(R) 영역에 배치된 상기 접착제(130)로 입사될 수 있다. 상기 발광소자의 하부 방향으로 방출된 빛이 상기 접착제(130)에 의하여 광 확산될 수 있고, 광 추출효율이 향상될 수 있게 된다.
또한, 상기 제2 반사층(1162)과 상기 제3 반사층(1163) 사이로 방출되는 빛이 상기 리세스(R) 영역에 배치된 상기 접착제(130)로 입사될 수 있다. 상기 발광소자의 하부 방향으로 방출된 빛이 상기 접착제(130)에 의하여 광 확산될 수 있고, 광 추출효율이 향상될 수 있게 된다.
실시 예에 따른 상기 반사층(1160)은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 복수의 컨택홀을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 접촉될 수 있다. 상기 반사층(1160)은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 복수의 컨택홀을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)의 상부 면에 물리적으로 접촉될 수 있다.
실시 예에 따른 오믹접촉층(1130)의 형상 및 상기 반사층(1160)의 형상은 실시 예에 따른 발광소자 제조방법을 설명하면서 더 살펴 보기로 한다.
상기 반사층(1160)은 절연성 반사층으로 제공될 수 있다. 예로서, 상기 반사층(1160)은 DBR(Distributed Bragg Reflector)층으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 반사층(1160)은 ODR(Omni Directional Reflector)층으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 반사층(1160)은 DBR층과 ODR층이 적층되어 제공될 수도 있다.
실시 예에 따른 발광소자(1100)는, 도 31 및 도 32에 도시된 바와 같이, 제1 서브전극(1141)과 제2 서브전극(1142)을 포함할 수 있다.
상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제2 개구부(h2) 내부에서 상기 제1 도전형 반도체층(1111)과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111) 위에 배치될 수 있다. 예로서, 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면, 상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113), 상기 활성층(1112)을 관통하여 제1 도전형 반도체층(1111)의 일부 영역까지 배치되는 리세스 내에서 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 배치될 수 있다.
상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제1 반사층(1161)에 제공된 제2 개구부(h2)를 통하여 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 개구부(h2)와 상기 리세스는 수직으로 중첩할 수 있고 예로서, 상기 제1 서브전극(1141)은, 도 31 및 도 32에 도시된 바와 같이, 복수의 리세스 영역에서 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 직접 접촉될 수 있다.
상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 위에 배치될 수 있다. 실시 예에 의하면, 상기 제2 서브전극(1142)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 사이에 상기 오믹접촉층(1130)이 배치될 수 있다.
상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 반사층(1162)에 제공된 제1 개구부(h1)를 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)과 전기적으로 연결될 수 있다. 예로서, 상기 제2 서브전극(1142)은, 도 31 및 도 32에 도시된 바와 같이, 복수의 P 영역에서 상기 오믹접촉층(1130)을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 제2 서브전극(1142)은, 도 31 및 도 32에 도시된 바와 같이, 복수의 P 영역에서 상기 제2 반사층(1162)에 제공된 복수의 제1 개구부(h1)를 통하여 상기 오믹접촉층(1130)의 상면에 직접 접촉될 수 있다.
실시 예에 의하면, 도 31 및 도 32에 도시된 바와 같이, 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 서로 극성을 가질 수 있고, 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 서브전극(1141)은 예로서 복수의 라인 형상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 제2 서브전극(1142)은 예로서 복수의 라인 형상으로 제공될 수 있다. 상기 제1 서브전극(1141)은 이웃된 복수의 제2 서브전극(1142) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2 서브전극(1142)은 이웃된 복수의 제1 서브전극(1141) 사이에 배치될 수 있다.
상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)이 서로 다른 극성으로 구성되는 경우, 서로 다른 개수의 전극으로 배치될 수 있다. 예를 들어 상기 제1 서브전극(1141)이 n 전극으로, 상기 제2 서브전극(1142)이 p 전극으로 구성되는 경우 상기 제1 서브전극(1141)보다 상기 제2 서브전극(1142)의 개수가 더 많을 수 있다. 상기 제2 도전형 반도체층(1113)과 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 전기 전도도 및/또는 저항이 서로 다른 경우, 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)에 의해 상기 발광구조물(1110)로 주입되는 전자와 정공의 균형을 맞출 수 있고 따라서 상기 발광소자의 광학적 특성이 개선될 수 있다.
상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 단층 또는 다층 구조로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 오믹 전극일 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 중 적어도 하나 또는 이들 중 2개 이상의 물질의 합금일 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자(1100)는, 도 31 및 도 32에 도시된 바와 같이, 보호층(1150)을 포함할 수 있다.
상기 보호층(1150)은 상기 제2 서브전극(1142)을 노출시키는 복수의 제3 개구부(h3)를 포함할 수 있다. 상기 복수의 제3 개구부(h3)는 상기 제2 서브전극(1142)에 제공된 복수의 PB 영역에 대응되어 배치될 수 있다.
또한, 상기 보호층(1150)은 상기 제1 서브전극(1141)을 노출시키는 복수의 제4 개구부(h4)를 포함할 수 있다. 상기 복수의 제4 개구부(h4)는 상기 제1 서브전극(1141)에 제공된 복수의 NB 영역에 대응되어 배치될 수 있다.
상기 보호층(1150)은 상기 반사층(1160) 위에 배치될 수 있다. 상기 보호층(1150)은 상기 제1 반사층(1161), 상기 제2 반사층(1162), 상기 제3 반사층(1163) 위에 배치될 수 있다.
예로서, 상기 보호층(1150)은 절연물질로 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(1150)은 SixOy, SiOxNy, SixNy, AlxOy 를 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 하나의 물질로 형성될 수 있다.
실시 예에 따른 발광소자(1100)는, 도 31 및 도 32에 도시된 바와 같이, 상기 보호층(1150) 위에 배치된 제1 전극(1171)과 제2 전극(1172)을 포함할 수 있다.
상기 제1 전극(1171)은 상기 제1 반사층(1161) 위에 배치될 수 있다. 또한, 상기 제2 전극(1172)은 상기 제2 반사층(1162) 위에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(1172)은 상기 제1 전극(1171)과 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(1171)은 복수의 NB 영역에서 상기 보호층(1150)에 제공된 복수의 상기 제4 개구부(h4)를 통하여 상기 제1 서브전극(1141)의 상부 면에 접촉될 수 있다. 상기 복수의 NB 영역은 상기 제2 개구부(h2)와 수직으로 어긋나도록 배치될 수 있다. 상기 복수의 NB 영역과 상기 제2 개구부(h2)가 서로 수직으로 어긋나는 경우, 상기 제1 전극(1171)으로 주입되는 전류가 상기 제1 서브전극(1141)의 수평 방향으로 골고루 퍼질 수 있고, 따라서 상기 복수의 NB 영역에서 전류가 골고루 주입될 수 있다.
또한, 상기 제2 전극(1172)은 복수의 PB 영역에서 상기 보호층(1150)에 제공된 복수의 상기 제3 개구부(h3)를 통하여 상기 제2 서브전극(1142)의 상부 면에 접촉될 수 있다. 상기 복수의 PB 영역과 상기 복수의 제1 개구부(h1)가 수직으로 중첩되지 않도록 하는 경우 상기 제2 전극(1172)으로 주입되는 전류가 상기 제2 서브전극(1142)의 수평 방향으로 골고루 퍼질 수 있고, 따라서 상기 복수의 PB 영역에서 전류가 골고루 주입될 수 있다.
이와 같이 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제1 서브전극(1141)은 상기 복수의 제4 개구부(h4) 영역에서 접촉될 수 있다. 또한, 상기 제2 전극(1172)과 상기 제2 서브전극(1142)이 복수의 영역에서 접촉될 수 있다. 이에 따라, 실시 예에 의하면, 복수의 영역을 통해 전원이 공급될 수 있으므로, 접촉 면적 증가 및 접촉 영역의 분산에 따라 전류 분산 효과가 발생되고 동작전압이 감소될 수 있는 장점이 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면, 도 32에 도시된 바와 같이, 상기 제1 반사층(1161)이 상기 제1 서브전극(1141) 아래에 배치되며, 상기 제2 반사층(1162)이 상기 제2 서브전극(1142) 아래에 배치된다. 이에 따라, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 상기 발광구조물(1110)의 활성층(1112)에서 발광되는 빛을 반사시켜 제1 서브전극(1141)과 제2 서브전극(1142)에서 광 흡수가 발생되는 것을 최소화하여 광도(Po)를 향상시킬 수 있다.
예를 들어, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 절연성 재료로 이루어지되, 상기 활성층(1112)에서 방출된 빛의 반사를 위하여 반사율이 높은 재료, 예를 들면 DBR 구조를 이룰 수 있다.
상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 굴절률이 다른 물질이 서로 반복하여 배치된 DBR 구조를 이룰 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 TiO2, SiO2, Ta2O5, HfO2 중 적어도 하나 이상을 포함하는 단층 또는 적층 구조로 배치될 수 있다.
또한, 다른 실시 예에 의하면, 이에 한정하지 않고, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 상기 활성층(1112)에서 발광하는 빛의 파장에 따라 상기 활성층(1112)에서 발광하는 빛에 대한 반사도를 조절할 수 있도록 자유롭게 선택될 수 있다.
또한, 다른 실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 ODR층으로 제공될 수도 있다. 또 다른 실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 DBR층과 ODR층이 적층된 일종의 하이브리드(hybrid) 형태로 제공될 수도 있다.
실시 예에 따른 발광소자가 플립칩 본딩 방식으로 실장되어 발광소자 패키지로 구현되는 경우, 상기 발광구조물(1110)에서 제공되는 빛은 상기 기판(1105)을 통하여 방출될 수 있다. 상기 발광구조물(1110)에서 방출되는 빛은 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)에서 반사되어 상기 기판(1105) 방향으로 방출될 수 있다.
또한, 상기 발광구조물(1110)에서 방출되는 빛은 상기 발광구조물(1110)의 측면 방향으로도 방출될 수 있다. 또한, 상기 발광구조물(1110)에서 방출되는 빛은, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)이 배치된 면 중에서, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)이 제공되지 않은 영역을 통하여 외부로 방출될 수 있다.
구체적으로, 상기 발광구조물(1110)에서 방출되는 빛은, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)이 배치된 면 중에서, 상기 제1 반사층(1161), 상기 제2 반사층(1162), 상기 제3 반사층(1163)이 제공되지 않은 영역을 통하여 외부로 방출될 수 있다.
이에 따라, 실시 예에 따른 발광소자(1100)는 상기 발광구조물(1110)을 둘러싼 6면 방향으로 빛을 방출할 수 있게 되며, 광도를 현저하게 향상시킬 수 있다.
한편, 실시 예에 따른 발광소자에 의하면, 발광소자(1100)의 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)의 면적의 합은, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)이 배치된 상기 발광소자(1100)의 상부 면 전체 면적의 60%에 비해 같거나 작게 제공될 수 있다.
예로서, 상기 발광소자(1100)의 상부 면 전체 면적은 상기 발광구조물(1110)의 제1 도전형 반도체층(1111)의 하부 면의 가로 길이 및 세로 길이에 의하여 정의되는 면적에 대응될 수 있다. 또한, 상기 발광소자(1100)의 상부 면 전체 면적은 상기 기판(1105)의 상부 면 또는 하부 면의 면적에 대응될 수 있다.
이와 같이, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1100)의 전체 면적의 60%에 비해 같거나 작게 제공되도록 함으로써, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)이 배치된 면으로 방출되는 빛의 양이 증가될 수 있게 된다. 이에 따라, 실시 예에 의하면, 상기 발광소자(1100)의 6면 방향으로 방출되는 빛의 양이 많아지게 되므로 광 추출 효율이 향상되고 광도(Po)가 증가될 수 있게 된다.
또한, 상기 발광소자의 상부 방향에서 보았을 때, 상기 제1 전극(1171)의 면적과 상기 제2 전극(1172)의 면적의 합은 상기 발광소자(1100)의 전체 면적의 30%에 비해 같거나 크게 제공될 수 있다.
이와 같이, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1100)의 전체 면적의 30%에 비해 같거나 크게 제공되도록 함으로써, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)을 통하여 안정적인 실장이 수행될 수 있고, 상기 발광소자(1100)의 전기적인 특성을 확보할 수 있게 된다.
실시 예에 따른 발광소자(1100)는, 광 추출 효율 및 본딩의 안정성 확보를 고려하여, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1100)의 전체 면적의 30% 이상이고 60% 이하로 선택될 수 있다.
즉, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1100)의 전체 면적의 30% 이상 내지 100% 이하인 경우, 상기 발광소자(1100)의 전기적 특성을 확보하고, 발광소자 패키지에 실장되는 본딩력을 확보하여 안정적인 실장이 수행될 수 있다.
또한, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1100)의 전체 면적의 0% 초과 내지 60% 이하인 경우, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)이 배치된 면으로 방출되는 광량이 증가하여 상기 발광소자(1100)의 광추출 효율이 향상되고, 광도(Po)가 증가될 수 있다.
실시 예에서는 상기 발광소자(1100)의 전기적 특성과 발광소자 패키지에 실장되는 본딩력을 확보하고, 광도를 증가시키기 위해, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)의 면적의 합이 상기 발광소자(1100)의 전체 면적의 30% 이상 내지 60% 이하로 선택하였다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면, 상기 제3 반사층(1163)이 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172) 사이에 배치될 수 있다. 예로서, 상기 제3 반사층(1163)의 상기 발광소자(1100)의 장축 방향에 따른 길이(W5)는 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172) 사이의 간격에 대응되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 제3 반사층(1163)의 면적은 예로서 상기 발광소자(1100)의 상부 면 전체의 10% 이상이고 25% 이하로 제공될 수 있다.
상기 제3 반사층(1163)의 면적이 상기 발광소자(1100)의 상부 면 전체의 10% 이상일 때, 상기 발광소자의 하부에 배치되는 패키지 몸체가 변색되거나 균열의 발생을 방지할 수 있고, 25% 이하일 경우 상기 발광소자의 6면으로 발광하도록 하는 광추출효율을 확보하기에 유리하다.
또한, 다른 실시 예에서는 이에 한정하지 않고 상기 광추출효율을 더 크게 확보하기 위해 상기 제3 반사층(1163)의 면적을 상기 발광소자(1100)의 상부 면 전체의 0% 초과 내지 10% 미만으로 배치할 수 있고, 상기 패키지 몸체에 변색 또는 균열의 발생을 방지하기 위해 상기 제3 반사층(1163)의 면적을 상기 발광소자(1100)의 상부 면 전체의 25% 초과 내지 100% 미만으로 배치할 수 있다.
또한, 상기 발광소자(1100)의 장축 방향에 배치된 측면과 이웃하는 상기 제1 전극(1171) 또는 상기 제2 전극(1172) 사이에 제공된 제2 영역으로 상기 발광구조물(1110)에서 생성된 빛이 투과되어 방출될 수 있다.
또한, 상기 발광소자(1100)의 단축 방향에 배치된 측면과 이웃하는 상기 제1 전극(1171) 또는 상기 제2 전극(1172) 사이에 제공된 제3 영역으로 상기 발광구조물에서 생성된 빛이 투과되어 방출될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)의 크기는 상기 제1 전극(1171)의 크기에 비하여 수 마이크로 미터 더 크게 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 반사층(1161)의 면적은 상기 제1 전극(1171)의 면적을 완전히 덮을 수 있을 정도의 크기로 제공될 수 있다. 공정 오차를 고려할 때, 상기 제1 반사층(1161)의 한 변의 길이는 상기 제1 전극(1171)의 한 변의 길이에 비해 예로서 4 마이크로 미터 내지 10 마이크로 미터 정도 더 크게 제공될 수 있다.
또한, 상기 제2 반사층(1162)의 크기는 상기 제2 전극(1172)의 크기에 비하여 수 마이크로 미터 더 크게 제공될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 반사층(1162)의 면적은 상기 제2 전극(1172)의 면적을 완전히 덮을 수 있을 정도의 크기로 제공될 수 있다. 공정 오차를 고려할 때, 상기 제2 반사층(1162)의 한 변의 길이는 상기 제2 전극(1172)의 한 변의 길이에 비해 예로서 4 마이크로 미터 내지 10 마이크로 미터 정도 더 크게 제공될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)에 의하여, 상기 발광구조물(1110)로부터 방출되는 빛이 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)에 입사되지 않고 반사될 수 있게 된다. 이에 따라, 실시 예에 의하면, 상기 발광구조물(1110)에서 생성되어 방출되는 빛이 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)에 입사되어 손실되는 것을 최소화할 수 있다.
또한, 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면, 상기 제3 반사층(1163)이 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172) 사이에 배치되므로, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172) 사이로 방출되는 빛의 양을 조절할 수 있게 된다.
앞에서 설명된 바와 같이, 실시 예에 따른 발광소자(1100)는 예를 들어 플립칩 본딩 방식으로 실장되어 발광소자 패키지 형태로 제공될 수 있다. 이때, 발광소자(1100)가 실장되는 패키지 몸체가 수지 등으로 제공되는 경우, 상기 발광소자(1100)의 하부 영역에서, 상기 발광소자(1100)로부터 방출되는 단파장의 강한 빛에 의하여 패키지 몸체가 변색되거나 균열이 발생될 수 있다.
그러나, 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)이 배치된 영역 사이로 방출되는 빛의 양을 조절할 수 있으므로, 상기 발광소자(1100)의 하부 영역에 배치된 패키지 몸체가 변색되거나 균열되는 것을 방지할 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 전극(1171), 상기 제2 전극(1172), 상기 제3 반사층(1163)이 배치된 상기 발광소자(1100)의 상부 면의 20% 이상 면적에서 상기 발광구조물(1110)에서 생성된 빛이 투과되어 방출될 수 있다.
이에 따라, 실시 예에 의하면, 상기 발광소자(1100)의 6면 방향으로 방출되는 빛의 양이 많아지게 되므로 광 추출 효율이 향상되고 광도(Po)가 증가될 수 있게 된다. 또한, 상기 발광소자(1100)의 하부 면에 근접하게 배치된 패키지 몸체가 변색되거나 균열되는 것을 방지할 수 있게 된다.
또한, 실시 예예 따른 발광소자(1100)에 의하면, 상기 오믹접촉층(1130)에 복수의 컨택홀(C1, C2, C3)이 제공될 수 있다. 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 복수의 컨택홀(C1, C2, C3)을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)과 상기 반사층(1160)이 접착될 수 있다. 상기 반사층(1160)이 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 직접 접촉될 수 있게 됨으로써, 상기 반사층(1160)이 상기 오믹접촉층(1130)에 접촉되는 것에 비하여 접착력이 향상될 수 있게 된다.
상기 반사층(1160)이 상기 오믹접촉층(1130)에만 직접 접촉되는 경우, 상기 반사층(1160)과 상기 오믹접촉층(1130) 간의 결합력 또는 접착력이 약화될 수도 있다. 예를 들어, 절연층과 금속층이 결합되는 경우, 물질 상호 간의 결합력 또는 접착력이 약화될 수도 있다.
예로서, 상기 반사층(1160)과 상기 오믹접촉층(1130) 간의 결합력 또는 접착력이 약한 경우, 두 층 간에 박리가 발생될 수 있다. 이와 같이 상기 반사층(1160)과 상기 오믹접촉층(1130) 사이에 박리가 발생되면 발광소자(1100)의 특성이 열화될 수 있으며, 또한 발광소자(1100)의 신뢰성을 확보할 수 없게 된다.
그러나, 실시 예에 의하면, 상기 반사층(1160)이 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 직접 접촉될 수 있으므로, 상기 반사층(1160), 상기 오믹접촉층(1130), 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 결합력 및 접착력이 안정적으로 제공될 수 있게 된다.
따라서, 실시 예에 의하면, 상기 반사층(1160)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 결합력이 안정적으로 제공될 수 있으므로, 상기 반사층(1160)이 상기 오믹접촉층(1130)으로부터 박리되는 것을 방지할 수 있게 된다. 또한, 상기 반사층(1160)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 결합력이 안정적으로 제공될 수 있으므로 발광소자(1100)의 신뢰성을 향상시킬 수 있게 된다.
한편, 이상에서 설명된 바와 같이, 상기 오믹접촉층(1130)에 복수의 컨택홀(C1, C2, C3)이 제공될 수 있다. 상기 활성층(1112)으로부터 발광된 빛은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 복수의 컨택홀(C1, C2, C3)을 통해 상기 반사층(1160)에 입사되어 반사될 수 있게 된다. 이에 따라, 상기 활성층(1112)에서 생성된 빛이 상기 오믹접촉층(1130)에 입사되어 손실되는 것을 감소시킬 수 있게 되며 광 추출 효율이 향상될 수 있게 된다. 이에 따라, 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면 광도가 향상될 수 있게 된다.
그러면, 첨부된 도면을 참조하여 실시 예에 따른 발광소자 제조방법을 설명하기로 한다. 실시 예에 따른 발광소자 제조방법을 설명함에 있어, 도 31 및 도 32를 참조하여 설명된 내용과 중복되는 사항에 대해서는 설명이 생략될 수 있다.
먼저, 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 의하면, 도 33a 및 도 33b에 도시된 바와 같이, 기판(1105) 위에 발광구조물(1110)이 형성될 수 있다. 도 33a는 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 따라 형성된 발광구조물(1110)의 형상을 나타낸 평면도이고, 도 33b는 도 33a에 도시된 발광소자의 A-A 선에 따른 공정 단면도를 나타낸 것이다.
실시 예에 의하면, 상기 기판(1105) 위에 발광구조물(1110)이 형성될 수 있다. 예로서, 상기 기판(1105) 위에 제1 도전형 반도체층(1111), 활성층(1112), 제2 도전형 반도체층(1113)이 형성될 수 있다.
실시 예에 의하면, 메사 식각 공정을 통하여 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 일부 영역이 노출되도록 형성될 수 있다. 상기 발광구조물(1110)은 메사 식각에 의하여 상기 제1 도전형 반도체층(1111)을 노출시키는 복수의 메사 개구부(M)를 포함할 수 있다. 예로서, 상기 메사 개구부(M)는 복수의 원 형상으로 제공될 수 있다. 또한, 상기 메사 개구부(M)는 리세스로 지칭될 수도 있다. 상기 메사 개구부(M)는 원 형상뿐만 아니라, 타원형 또는 다각형 등의 다양한 형상으로 제공될 수도 있다.
다음으로, 도 34a 및 도 34b에 도시된 바와 같이, 오믹접촉층(1130)이 형성될 수 있다. 도 34a는 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 따라 형성된 오믹접촉층(1130)의 형상을 나타낸 평면도이고, 도 34b는 도 34a에 도시된 발광소자의 A-A 선에 따른 공정 단면도를 나타낸 것이다.
실시 예에 의하면, 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 위에 상기 오믹접촉층(1130)이 형성될 수 있다. 상기 오믹접촉층(1130)은 상기 메사 개구부(M)에 대응되는 영역에 제공된 복수의 개구부(M1)를 포함할 수 있다.
예로서, 상기 개구부(M1)는 복수의 원 형상으로 제공될 수 있다. 상기 개구부(M1)는 원 형상뿐만 아니라, 타원형 또는 다각형 등의 다양한 형상으로 제공될 수도 있다.
상기 오믹접촉층(1130)은 제1 영역(R1), 제2 영역(R2), 제3 영역(R3)을 포함할 수 있다. 상기 제1 영역(R1)과 상기 제2 영역(R2)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 또한, 상기 제3 영역(R3)은 상기 제1 영역(R1)과 상기 제2 영역(R2) 사이에 배치될 수 있다.
상기 제1 영역(R1)은 상기 발광구조물(1110)의 메사 개구부(M)에 대응되는 영역에 제공된 복수의 개구부(M1)를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1 영역(R1)은 복수의 제1 컨택홀(C1)을 포함할 수 있다. 예로서, 상기 제1 컨택홀(C1)은 상기 개구부(M1) 주변에 복수로 제공될 수 있다.
상기 제2 영역(R2)은 상기 발광구조물(1110)의 메사 개구부(M)에 대응되는 영역에 제공된 복수의 개구부(M1)를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제2 영역(R2)은 복수의 제2 컨택홀(C2)을 포함할 수 있다. 예로서, 상기 제2 컨택홀(C2)은 상기 개구부(M1) 주변에 복수로 제공될 수 있다.
상기 제3 영역(R3)은 상기 발광구조물(1110)의 메사 개구부(M)에 대응되는 영역에 제공된 복수의 개구부(M1)를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1 영역(R1)은 복수의 제1 컨택홀(C1)을 포함할 수 있다. 예로서, 상기 제1 컨택홀(C1)은 상기 개구부(M1) 주변에 복수로 제공될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 컨택홀(C1), 상기 제2 컨택홀(C2), 상기 제3 컨택홀(C3)은 수 마이크로 미터 내지 수십 마이크로 미터의 직경으로 제공될 수 있다. 상기 제1 컨택홀(C1), 상기 제2 컨택홀(C2), 상기 제3 컨택홀(C3)은 예로서 7 마이크로 미터 내지 20 마이크로 미터의 직경으로 제공될 수 있다.
상기 제1 컨택홀(C1), 상기 제2 컨택홀(C2), 상기 제3 컨택홀(C3)은 원 형상뿐만 아니라, 타원형 또는 다각형 등의 다양한 형상으로 제공될 수도 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 컨택홀(C1), 상기 제2 컨택홀(C2), 상기 제3 컨택홀(C3)에 의하여 상기 오믹접촉층(1130) 아래에 배치된 상기 제2 도전형 반도체층(1113)이 노출될 수 있다.
상기 개구부(M1), 상기 제1 컨택홀(C1), 상기 제2 컨택홀(C2), 상기 제3 컨택홀(C3)의 기능에 대해서는 뒤에서 후속 공정을 설명하면서 더 살펴보기로 한다.
다음으로, 도 35a 및 도 35b에 도시된 바와 같이, 반사층(1160)이 형성될 수 있다. 도 35a는 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 따라 형성된 반사층(1160)의 형상을 나타낸 평면도이고, 도 35b는 도 35a에 도시된 발광소자의 A-A 선에 따른 공정 단면도를 나타낸 것이다.
상기 반사층(1160)은 제1 반사층(1161), 제2 반사층(1162), 제3 반사층(1163)을 포함할 수 있다. 상기 반사층(1160)은 상기 오믹접촉층(1130) 위에 배치될 수 있다. 상기 반사층(1160)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 위에 배치될 수 있다.
상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제3 반사층(1163)은 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 반사층(1162) 사이에 배치될 수 있다.
상기 제1 반사층(1161)은 상기 오믹접촉층(1130)의 제1 영역(R1) 위에 배치될 수 있다. 상기 제1 반사층(1161)은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 복수의 제1 컨택홀(C1) 위에 배치될 수 있다.
상기 제2 반사층(1162)은 상기 오믹접촉층(1130)의 제2 영역(R2) 위에 배치될 수 있다. 상기 제2 반사층(1162)은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 복수의 제2 컨택홀(C2) 위에 배치될 수 있다.
상기 제3 반사층(1163)은 상기 오믹접촉층(1130)의 제3 영역(R3) 위에 배치될 수 있다. 상기 제3 반사층(1163)은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 복수의 제3 컨택홀(C3) 위에 배치될 수 있다.
상기 제2 반사층(1162)은 복수의 개구부를 포함할 수 있다. 예로서, 상기 제2 반사층(1162)은 복수의 제1 개구부(h1)를 포함할 수 있다. 상기 복수의 제1 개구부(h1)를 통해 상기 오믹접촉층(1130)이 노출될 수 있다.
또한, 상기 제1 반사층(1161)은 복수의 제2 개구부(h2)를 포함할 수 있다. 상기 복수의 제2 개구부(h2)를 통해 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상부 면이 노출될 수 있다. 상기 복수의 제2 개구부(h2)는 상기 발광구조물(1110)에 형성된 상기 복수의 메사 개구부(M) 영역에 대응되어 제공될 수 있다. 또한, 상기 복수의 제2 개구부(h2)는 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 복수의 개구부(M1) 영역에 대응되어 제공될 수 있다.
한편, 실시 예에 의하면, 상기 제1 반사층(1161)은 상기 오믹접촉층(1130)의 제1 영역(R1) 위에 제공될 수 있다. 또한, 상기 제1 반사층(1161)은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 상기 제1 컨택홀(C1)을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 접촉될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1 반사층(1161)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 접착력이 향상될 수 있으며, 상기 제1 반사층(1161)이 상기 오믹접촉층(1130)으로부터 박리되는 것을 방지할 수 있게 된다.
또한, 실시 예에 의하면, 상기 제2 반사층(1162)은 상기 오믹접촉층(1130)의 제2 영역(R2) 위에 제공될 수 있다. 상기 제2 반사층(1162)은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 상기 제2 컨택홀(C2)을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 접촉될 수 있다. 이에 따라, 상기 제2 반사층(1162)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 접착력이 향상될 수 있으며, 상기 제2 반사층(1162)이 상기 오믹접촉층(1130)으로부터 박리되는 것을 방지할 수 있게 된다.
또한, 실시 예에 의하면, 상기 제3 반사층(1163)은 상기 오믹접촉층(1130)의 제3 영역(R3) 위에 제공될 수 있다. 상기 제3 반사층(1163)은 상기 오믹접촉층(1130)에 제공된 상기 제3 컨택홀(C3)을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 접촉될 수 있다. 이에 따라, 상기 제3 반사층(1163)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 간의 접착력이 향상될 수 있으며, 상기 제3 반사층(1163)이 상기 오믹접촉층(1130)으로부터 박리되는 것을 방지할 수 있게 된다.
이어서, 도 36a 및 도 36b에 도시된 바와 같이, 제1 서브전극(1141)과 제2 서브전극(1142)이 형성될 수 있다. 도 36a는 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 따라 형성된 제1 서브전극(1141)과 제2 서브전극(1142)의 형상을 나타낸 평면도이고, 도 36b는 도 36a에 도시된 발광소자의 A-A 선에 따른 공정 단면도를 나타낸 것이다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142)은 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제1 도전형 반도체층(1111) 위에 배치될 수 있다. 예로서, 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면, 상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113)의 일부와 상기 활성층(1112)의 일부가 제거되어 노출된 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 배치될 수 있다.
상기 제1 서브전극(1141)은 예를 들어 선 형상으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 제1 서브전극(1141)은 선 형상의 다른 영역에 비해 상대적으로 면적이 넓은 N 영역을 포함할 수 있다. 상기 제1 서브전극(1141)의 N 영역은 추후 형성될 제1 전극(1171)과 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 제1 서브전극(1141)은 상기 제1 반사층(1161)에 제공된 제2 개구부(h2)를 통하여 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 전기적으로 연결될 수 있다. 예로서, 상기 제1 서브전극(1141)은, 복수의 N 영역에서 상기 제1 도전형 반도체층(1111)의 상면에 직접 접촉될 수 있다.
상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 위에 배치될 수 있다. 실시 예에 의하면, 상기 제2 서브전극(1142)과 상기 제2 도전형 반도체층(1113) 사이에 상기 오믹접촉층(1130)이 배치될 수 있다.
상기 제2 서브전극(1142)은 예를 들어 선 형상으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 제2 서브전극(1142)은 선 형상의 다른 영역에 비해 상대적으로 면적이 넓은 P 영역을 포함할 수 있다. 상기 제2 서브전극(1142)의 P 영역은 추후 형성될 제2 전극(1172)과 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 제2 서브전극(1142)은 상기 제2 반사층(1162)에 제공된 제1 개구부(h1)를 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)의 상면에 전기적으로 연결될 수 있다. 예로서, 상기 제2 서브전극(1142)은, 복수의 P 영역에서 상기 오믹접촉층(1130)을 통하여 상기 제2 도전형 반도체층(1113)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 서브전극(1142)은 복수의 P 영역에서 상기 오믹접촉층(1130)의 상부 면에 직접 접촉될 수 있다.
다음으로, 도 37a 및 도 37b에 도시된 바와 같이, 보호층(1150)이 형성될 수 있다. 도 37a는 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 따라 형성된 보호층(1150)의 형상을 나타낸 평면도이고, 도 37b는 도 37a에 도시된 발광소자의 A-A 선에 따른 공정 단면도를 나타낸 것이다.
상기 보호층(1150)은 상기 제1 서브전극(1141)과 상기 제2 서브전극(1142) 위에 배치될 수 있다. 상기 보호층(1150)은 상기 반사층(1160) 위에 배치될 수 있다.
상기 보호층(1150)은 상기 제1 서브전극(1141)의 상부 면을 노출시키는 제4 개구부(h4)를 포함할 수 있다. 상기 보호층(1150)은 상기 제1 서브전극(1141)의 복수의 NB 영역을 노출시키는 복수의 제4 개구부(h4)를 포함할 수 있다.
상기 제4 개구부(h4)는 상기 제1 반사층(1161)이 배치된 영역 위에 제공될 수 있다. 또한, 상기 제4 개구부(h4)는 상기 오믹접촉층(1130)의 제1 영역(R1) 위에 제공될 수 있다.
상기 보호층(1150)은 상기 제2 서브전극(1142)의 상부 면을 노출시키는 제3 개구부(h3)를 포함할 수 있다. 상기 보호층(1150)은 상기 제2 서브전극(1142)의 복수의 PB 영역을 노출시키는 복수의 제3 개구부(h3)를 포함할 수 있다.
상기 제3 개구부(h3)는 상기 제2 반사층(1162)이 배치된 영역 위에 제공될 수 있다. 또한, 상기 제3 개구부(h3)는 상기 오믹접촉층(1130)의 제2 영역(R2) 위에 제공될 수 있다.
이어서, 도 38a 및 도 38b에 도시된 바와 같이, 제1 전극(1171)과 제2 전극(1172)이 형성될 수 있다. 도 38a는 실시 예에 따른 발광소자 제조방법에 따라 형성된 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)의 형상을 나타낸 평면도이고, 도 38b는 도 38a에 도시된 발광소자의 A-A 선에 따른 공정 단면도를 나타낸 것이다.
실시 예에 의하면, 도 38a에 도시된 형상으로 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)이 형성될 수 있다. 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극(1172)은 상기 보호층(1150) 위에 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(1171)은 상기 제1 반사층(1161) 위에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(1172)은 상기 제2 반사층(1162) 위에 배치될 수 있다. 상기 제2 전극(1172)은 상기 제1 전극(1171)과 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1 전극(1171)은 복수의 NB 영역에서 상기 보호층(1150)에 제공된 상기 제4 개구부(h4)를 통하여 상기 제1 서브전극(1141)의 상부 면에 접촉될 수 있다. 상기 제2 전극(1172)은 복수의 PB 영역에서 상기 보호층(1150)에 제공된 상기 제3 개구부(h3)를 통하여 상기 제2 서브전극(1142)의 상부 면에 접촉될 수 있다.
실시 예에 의하면, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제2 전극패드(172)에 전원이 인가됨에 따라, 상기 발광구조물(1110)이 발광될 수 있게 된다.
이와 같이 실시 예에 따른 발광소자(1100)에 의하면, 상기 제1 전극(1171)과 상기 제1 서브전극(1141)이 복수의 영역에서 접촉될 수 있다. 또한, 상기 제2 전극(1172)과 상기 제2 서브전극(1142)이 복수의 영역에서 접촉될 수 있다. 이에 따라, 실시 예에 의하면, 복수의 영역을 통해 전원이 공급될 수 있으므로, 접촉 면적 증가 및 접촉 영역의 분산에 따라 전류 분산 효과가 발생되고 동작전압이 감소될 수 있는 장점이 있다.
실시 예에 따른 발광소자 패키지는 광원 장치에 적용될 수 있다.
또한, 광원 장치는 산업 분야에 따라 표시 장치, 조명 장치, 헤드 램프 등을 포함할 수 있다.
광원 장치의 예로, 표시 장치는 바텀 커버와, 바텀 커버 위에 배치되는 반사판과, 광을 방출하며 발광 소자를 포함하는 발광 모듈과, 반사판의 전방에 배치되며 발광 모듈에서 발산되는 빛을 전방으로 안내하는 도광판과, 도광판의 전방에 배치되는 프리즘 시트들을 포함하는 광학 시트와, 광학 시트 전방에 배치되는 디스플레이 패널과, 디스플레이 패널과 연결되고 디스플레이 패널에 화상 신호를 공급하는 화상 신호 출력 회로와, 디스플레이 패널의 전방에 배치되는 컬러 필터를 포함할 수 있다. 여기서 바텀 커버, 반사판, 발광 모듈, 도광판, 및 광학 시트는 백라이트 유닛(Backlight Unit)을 이룰 수 있다. 또한, 표시 장치는 컬러 필터를 포함하지 않고, 적색(Red), 녹색(Gren), 청색(Blue) 광을 방출하는 발광 소자가 각각 배치되는 구조를 이룰 수도 있다.
광원 장치의 또 다른 예로, 헤드 램프는 기판 상에 배치되는 발광소자 패키지를 포함하는 발광 모듈, 발광 모듈로부터 조사되는 빛을 일정 방향, 예컨대, 전방으로 반사시키는 리플렉터(reflector), 리플렉터에 의하여 반사되는 빛을 전방으로 굴절시키는 렌즈, 및 리플렉터에 의하여 반사되어 렌즈로 향하는 빛의 일부분을 차단 또는 반사하여 설계자가 원하는 배광 패턴을 이루도록 하는 쉐이드(shade)를 포함할 수 있다.
광원 장치의 다른 예인 조명 장치는 커버, 광원 모듈, 방열체, 전원 제공부, 내부 케이스, 소켓을 포함할 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 광원 장치는 부재와 홀더 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈은 실시 예에 따른 발광소자 패키지를 포함할 수 있다.
이상에서 실시 예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 적어도 하나의 실시 예에 포함되며, 반드시 하나의 실시 예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시 예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시 예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시 예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 실시 예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
이상에서 실시 예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 실시 예를 한정하는 것이 아니며, 실시 예가 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시 예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시 예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 특허청구범위에서 설정하는 실시 예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
[부호의 설명]
110 몸체 111 마운트부
113 반사부 120 발광소자
121 제1 전극 122 제2 전극
123 반도체층 130 접착제
140 몰딩부 210 임시기판
310 회로기판 311 제1 패드
312 제2 패드 313 기판
321, 421 제1 본딩층 322, 422 제2 본딩층
411 제1 도전층 412 제2 도전층
R 리세스 TH1 제1 관통홀
TH2 제2 관통홀

Claims (12)

  1. 몸체;
    상기 몸체 상에 배치되는 발광소자; 및
    상기 몸체와 상기 발광소자 사이에 배치되는 접착제;
    를 포함하고,
    상기 몸체는 상기 몸체의 상면에서 상기 몸체의 하면을 관통하는 제1 및 제2 관통홀과, 상기 몸체의 상면에서 상기 몸체의 하면으로 향하는 방향으로 오목한 제1 리세스를 포함하고,
    상기 제1 리세스는 상기 제1 및 제2 관통홀 사이에 배치되고,
    상기 접착제는 상기 제1 리세스 내에 배치되고,
    상기 발광소자는, 상기 몸체의 하면에서 상면으로 향하는 제1 방향을 기준으로, 상기 제1 및 제2 관통홀 각각과 중첩되는 제1 및 제2 전극을 포함하는 발광소자 패키지.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 접착제는 상기 몸체와 상기 발광소자에 직접 접촉되어 배치된 발광소자 패키지.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 관통홀에 제공되며, 상기 제1 전극의 하부 면과 직접 접촉되어 배치된 제1 도전층; 및
    상기 제2 관통홀에 제공되며, 상기 제2 전극의 하부 면과 직접 접촉되어 배치된 제2 도전층;
    을 더 포함하는 발광소자 패키지.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 관통홀을 제공하는 상기 몸체와 상기 제1 및 제2 도전층 사이에 배치된 금속층을 포함하는 발광소자 패키지.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 몸체 아래에 배치되며, 제1 패드와 제2 패드를 포함하는 회로기판;
    상기 회로기판의 상기 제1 패드와 상기 제1 전극을 전기적으로 연결시키는 제1 본딩층; 및
    상기 회로기판의 상기 제2 패드와 상기 제2 전극을 전기적으로 연결시키는 제2 본딩층;
    을 포함하는 발광소자 패키지.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제1 본딩층은 상기 제1 관통홀 내에 배치되며, 상기 제1 전극의 하부 면에 직접 접촉되어 배치되고,
    상기 제2 본딩층은 상기 제2 관통홀 내에 배치되며, 상기 제2 전극의 하부 면에 직접 접촉되어 배치된 발광소자 패키지.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 관통홀의 상부 영역의 폭이 상기 제1 전극의 폭에 비해 작거나 같은 발광소자 패키지.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 관통홀의 상부 영역의 폭이 상기 제1 관통홀의 하부 영역의 폭에 비해 작거나 같은 발광소자 패키지.
  9. 기판;
    상기 기판 상에 배치되는 몸체;
    상기 몸체 상에 배치되는 발광소자; 및
    상기 몸체와 상기 발광소자 사이에 배치되는 접착제;
    를 포함하고,
    상기 몸체는 상기 몸체의 상면에서 상기 몸체의 하면을 관통하는 제1 및 제2 관통홀과, 상기 몸체의 상면에서 상기 몸체의 하면으로 향하는 방향으로 오목한 제1 리세스를 포함하고,
    상기 제1 리세스는 상기 제1 및 제2 관통홀 사이에 배치되고,
    상기 접착제는 상기 제1 리세스 내에 배치되고,
    상기 발광소자는, 상기 몸체의 하면에서 상면으로 향하는 제1 방향을 기준으로, 상기 제1 및 제2 관통홀 각각과 중첩되는 제1 및 제2 전극을 포함하며,
    상기 제1 및 제2 관통홀 내에 배치되며, 상기 발광소자의 상기 제1 및 제2 전극과 상기 기판을 전기적으로 연결하는 제1 및 제2 도전층을 포함하는 광원 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 접착제는 상기 몸체의 상면과 상기 발광소자의 하면에 직접 접촉되어 배치된 광원 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 제1 관통홀의 상부 영역의 폭이 상기 제1 전극의 폭에 비해 작거나 같은 광원 장치.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 제1 관통홀의 상부 영역의 폭이 상기 제1 관통홀의 하부 영역의 폭에 비해 작거나 같은 광원 장치.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090010445A (ko) * 2007-07-23 2009-01-30 엘지전자 주식회사 발광 소자 패키지 및 그 제조방법
KR20110048202A (ko) * 2009-11-02 2011-05-11 삼성전기주식회사 엘이디 내장형 인쇄회로기판
KR20110111173A (ko) * 2010-04-02 2011-10-10 김경동 Ｌｅｄ 조명용 리드 프레임 및 그 제조방법
JP2014146848A (ja) * 2010-04-23 2014-08-14 Lg Innotek Co Ltd 発光素子
KR20170017150A (ko) * 2015-08-05 2017-02-15 엘지이노텍 주식회사 광원 모듈 및 이를 구비한 조명 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090010445A (ko) * 2007-07-23 2009-01-30 엘지전자 주식회사 발광 소자 패키지 및 그 제조방법
KR20110048202A (ko) * 2009-11-02 2011-05-11 삼성전기주식회사 엘이디 내장형 인쇄회로기판
KR20110111173A (ko) * 2010-04-02 2011-10-10 김경동 Ｌｅｄ 조명용 리드 프레임 및 그 제조방법
JP2014146848A (ja) * 2010-04-23 2014-08-14 Lg Innotek Co Ltd 発光素子
KR20170017150A (ko) * 2015-08-05 2017-02-15 엘지이노텍 주식회사 광원 모듈 및 이를 구비한 조명 장치

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