WO2018146657A1 - 검사 장치, 및 그 장치를 이용한 검사 방법 - Google Patents

검사 장치, 및 그 장치를 이용한 검사 방법 Download PDF

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WO2018146657A1
WO2018146657A1 PCT/IB2018/052436 IB2018052436W WO2018146657A1 WO 2018146657 A1 WO2018146657 A1 WO 2018146657A1 IB 2018052436 W IB2018052436 W IB 2018052436W WO 2018146657 A1 WO2018146657 A1 WO 2018146657A1
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이호준
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주식회사 고영테크놀러지
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Definitions

  • the present invention relates to an inspection apparatus, and more particularly, to an inspection apparatus and a method for inspecting the appearance of a product.
  • various patterns or symbols are formed on a case of various electronic products such as a mobile phone, a digital camera, and a phone by imprinting or printing, and the material is also made of various materials such as plastic, metal, and ceramic.
  • Defects such as scratches or stamps, may occur on the surface of the case during coating or production and transportation, and the reliability of the product may be deteriorated when the case in which the defect is generated is used for manufacturing an electronic device. Therefore, the case requires an appearance inspection process for inspecting whether a surface defect is generated, and in general, the appearance inspection may be performed through the naked eye.
  • the visual inspection by the naked eye is inferior in workability, and may also cause a problem of not finding a defect by mistake.
  • a plurality of cameras installed on the outside of the conveying belt capture the case at various angles to obtain images of each side of the case and analyze the image by placing the case on the conveying belt and conveying the case in one direction. You can check whether it is.
  • an inspection apparatus using a transfer belt and a camera is disadvantageously costly, including a large number of cameras, and when the case is not seated in the proper position of the transfer belt, it is difficult to obtain an accurate image, and thus also to detect a defect. An error may occur.
  • the problem to be solved by the technical idea of the present invention is to provide an inspection apparatus that can accurately and quickly inspect the appearance of the product, in particular the appearance of the product of the cube structure.
  • the problem to be solved by the technical idea of the present invention is to provide an inspection method that can accurately and quickly inspect the appearance of the product by optimizing the process of the appearance inspection of the product using the equipment.
  • the technical idea of the present invention is to transfer the first inspection object put into the inspection position, the first stage (stage) to inspect the front or back of the first inspection object at the inspection position; And the first inspection object disposed adjacent to the first stage and receiving the first inspection object from the first stage or transferring the first inspection object to the first stage, and rotating the first inspection object. And a second stage for causing side surfaces of the first inspection object to be inspected, the first inspection object including a first transfer from the first stage to the second stage and a second transfer from the second stage to the first stage. And a second inspection object is transferred to the first stage when the first inspection object is in the second stage after the third transfer, in the order of the third transport from the first stage to the second stage. It provides a test device that is injected.
  • the first stage includes a first rail portion having a first fixed rail and a first moving rail
  • the second stage includes a second fixed rail and a second moving rail.
  • a second rail part provided, wherein a width between the first fixed rail and the first moving rail is adjusted by the operation of the first moving rail, and the second fixed rail by the operation of the second moving rail. The width between the and the second moving rail is adjusted, the first moving rail and the second moving rail can operate independently of each other.
  • the second The stage may be configured such that a side of the first inspection object faces upward in a posture in which the front side or a back side faces upward, or a side opposite to the side faces upward in a posture in which the side faces upward. It may include a flipper for rotating the inspection object.
  • the first inspection object is moved to the flipper at the inspection position by the first rail part in the first conveyance, and rotates at the flipper before the second conveyance
  • the second conveyance it is moved from the flipper to the diverter by the first rail portion, rotates in the diverter before the third conveyance and then from the diverter to the inspection position by the first rail portion.
  • the flipper may rotate while raising or lowering the first inspection object.
  • the flipper may rotate the first inspection object within a predetermined angle in a clockwise or counterclockwise direction in a posture in which the side faces upward.
  • the flipper may include a slip ring structure to enable infinite rotation.
  • the flipper is in close contact with the first inspection object includes a clamp plate for fixing the first inspection object, the clamp plate may have a structure separated into two.
  • At least one inspection unit for receiving the light reflected from the first inspection object to inspect the first inspection object the inspection unit is moved while the first stage in the first stage 1 may inspect the front or back side of the inspection object and the sides of the first inspection object in the second stage.
  • two inspection apparatuses are disposed adjacent to each other, and the inspection unit may perform inspection while moving between the two inspection apparatuses.
  • the inspection unit may inspect the first inspection object using pattern illumination.
  • the first stage to move the first inspection object is put into the inspection position, the first stage to allow the first surface of the first inspection object to be inspected at the inspection position; And disposed adjacent to the first stage and receiving the first inspection object from the first stage or transferring the first inspection object to the first stage, and rotating the first inspection object to the first surface. And a second stage to allow the second surface of the first inspection object to be inspected, wherein the first inspection object reciprocates between the first stage and the second stage, wherein the second stage is moved from the first stage to the second stage.
  • a second inspection object is provided to the first stage.
  • a direction switching unit wherein the second stage crosses the second rail unit having a second fixed rail and a second moving rail, and is perpendicular to the direction in which the second fixed rail extends and is parallel to the first surface. It may include a flipper for rotating the first inspection object on the axis of a straight line.
  • the first inspection object is moved to the flipper at the inspection position by the first rail part, rotates at the flipper, and is moved from the flipper by the first rail part.
  • the first stage and the second stage are reciprocated in order of moving to a direction changing part and rotating in the direction changing part, moving to the inspection position by the first rail part, and moving to the flipper; Rotates in the flipper after the final conveyance, and is discharged from the second stage by the second rail portion, and the second inspection object is the first stage before the first inspection object is discharged from the second stage. It can be put into.
  • the technical idea of the present invention includes the steps of: injecting a first inspection object so that a front surface thereof faces upward in the first stage of the inspection apparatus having a first stage and a second stage; Inspecting a front surface of the first inspection object using an inspection unit; The first inspection object is moved to the second stage, and the first side of the four side surfaces of the first inspection object and a third side opposite to the first side face upward using a flipper.
  • the flipper in the inspecting the first side and the third side, and in the inspecting the second side and the fourth side, the flipper while raising or lowering the first inspection object. Can be rotated.
  • the flipper may rotate the first inspection object within a predetermined angle in a clockwise or counterclockwise direction in a position in which one of the first to fourth side faces upward. Can be.
  • the first stage includes a first rail portion having a first fixed rail and a first moving rail
  • the second stage includes a second fixed rail and a second moving rail.
  • a second rail part provided, wherein the first moving rail and the second moving rail operate independently of each other, such that a first width between the first fixed rail and the first moving rail and the second fixed rail and the second moving rail are formed.
  • the second width between the two moving rails may be different.
  • the first inspection object is the first inspection object; After exiting from the second stage and the inspection of the second side and the fourth side is completed, the front inspection of the second inspection object may be performed.
  • two inspection apparatuses are disposed adjacent to each other, the inspection unit performs inspection while moving between the two inspection apparatuses, and the inspection unit in any one of the two inspection apparatuses
  • the movement operation of the inspection object may be performed in the other one.
  • the inspection apparatus may include a first stage and a second stage that are physically separated and operate independently, so that different inspection objects may be disposed in the first stage and the second stage at a predetermined stage. . Accordingly, the inspection apparatus according to the technical idea of the present invention enables the inspection of another inspection object waiting in the first stage immediately after the inspection of one inspection object in the second stage, thereby providing a quick and accurate appearance to the inspection object. The test can be performed.
  • the inspection method according to the technical idea of the present invention by using the inspection apparatus, it is possible to more quickly and accurately perform the appearance inspection on the inspection object. For example, when the visual inspection is performed on the inspection object in the order of the front inspection at the first stage, the first side inspection at the flipper of the second stage, the back side inspection at the first stage, and again the second side inspection at the flipper. 1
  • the second inspection object is already waiting at the surface inspection position of the first stage, so that when the second side inspection of the first inspection object is completed, Front inspection can be performed. Therefore, the inspection method according to the technical idea of the present invention can shorten the inspection time by the discharge time of the first inspection object, the insertion time of the second inspection object, and the movement time to the surface inspection position.
  • FIG 1 and 2 are a perspective view and a plan view showing a test apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a perspective view illustrating a structure in which an inspection target is actually arranged in the inspection apparatus of FIG. 1.
  • 4A to 4D are side views illustrating the relationship between the operation of the inspection units and the position of the inspection objects according to the exemplary embodiments of the present invention.
  • FIG. 5 and 6 are perspective views showing in more detail the flipper portion of the inspection apparatus of FIG.
  • FIG. 7 is a flowchart schematically illustrating a test method according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a flowchart schematically illustrating a test method according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • 9A to 9H are perspective views illustrating the inspection method of FIG. 8 applied to the inspection apparatus of FIG. 1.
  • FIG. 10 is a perspective view for explaining the principle of inspecting the inclined surfaces of the side of the inspection object in the inspection device of FIG.
  • FIG. 11 is a perspective view schematically showing an inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • 12A to 12F are side views illustrating a method of inspecting a test subject by using a test apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a perspective view of a system with two inspection devices in accordance with one embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 and 2 are a perspective view and a plan view schematically showing an inspection apparatus 1000 according to an embodiment of the present invention.
  • the inspection apparatus 1000 of the present exemplary embodiment may largely include a first stage 100 part and a second stage 200 part.
  • the first stage 100 may be an entry stage.
  • the second stage 200 may be a flip / exit stage.
  • the inspection object S is introduced, and the first surface F1 and / or the second surface of the inspection object S is inspected by the inspection unit (300 in FIG. 9A) at the surface inspection position 132. It may be a part where inspection of the surface F2 is performed.
  • the inspection target S may be an unfinished product requiring external appearance inspection during production in an in-line method, or may be a finished product that has undergone all processes.
  • the inspection apparatus 1000 may be provided after a specific process facility for manufacturing the inspection object among the inline facilities, and the inspection device 1000 may be immediately after the inspection object S is discharged from the specific process facility.
  • the external appearance of the inspection object S can be inspected from a predetermined number of directions.
  • the inspection target S may be a metal product manufactured through a precision machining process (CNC).
  • the inspection object S has an arbitrary three-dimensional shape, and when the first surface F1 is conveniently, functionally or conceptually determined with respect to each inspection object S, the inspection object S is placed on the first surface F1.
  • the second surface F2 may be generally defined in the opposite direction, and the side surfaces may be defined between the first surface F1 and the second surface F2, respectively.
  • the first surface F1, the second surface F2, or the side surfaces of the inspection object S are viewed from each of a plurality of directions determined by convenience, function, or idea in three-dimensional space, respectively. It may mean a partial appearance of the object (S).
  • the appearance of the test object S seen from above may be defined as the first surface.
  • the second surface F2 and the side surfaces may be determined based on the first surface F1, respectively.
  • the side surfaces may have side surfaces having a first width W1 corresponding to the width of the first stage 100 when the inspection object S is inserted into the inspection apparatus 1000, and a direction of the first width W1.
  • Each side may be divided into sides having a second width W2 which is a width in a different direction from the.
  • the direction in which the inspection object S is introduced into the inspection apparatus 1000 may be referred to as a longitudinal direction of the inspection object S, and a direction orthogonal to the longitudinal direction may be referred to as a width direction of the inspection object.
  • the longitudinal direction and the width direction may not necessarily be orthogonal. That is, the first surface F1, the second surface F2, or the side surfaces may not be substantially overlapped because their corresponding directions may be orthogonal to each other, but in some cases, the first surface F1 may be orthogonal to each other.
  • the boundary of the sides, the boundary between the second surface (F2) and the sides, the boundary of each of the sides may be blunt and overlap.
  • the test object S may have a hexahedral structure, or a structure that may be approximated thereto.
  • the inspection object S may have a rectangular shape having long sides and short sides on the x-y plane, and may have a hexahedral structure having a predetermined thickness in the z-axis direction.
  • the inspection apparatus 1000 of the present embodiment may be a six-side inspection apparatus.
  • the material of the inspection object S is not limited to the metal, or the structure of the inspection object S is not limited to the hexahedron.
  • the first stage 100 may include a first rail unit 110, a direction change unit 120, and a clamp 130.
  • the inspection target S may be injected into the first rail unit 110.
  • the first rail unit 110 may include a first fixed rail 112 and a first moving rail 114.
  • the first fixed rail 112 may be a fixed rail
  • the first moving rail 114 may be a movable rail.
  • the first moving rail 114 moves, for example, in the direction indicated by the first arrow a1 (that is, in the + y direction or the -y direction), so that the first fixed rail 112 and the first moving rail 114 are moved.
  • the distance between the can be adjusted to fit the width of the inspection object (S).
  • Each of the first fixed rail 112 and the first moving rail 114 may be provided with a transfer belt 115.
  • the transfer belt 115 may be configured such that the inspection object S may be seated thereon so that the inspection object S may also move together with the movement of the transfer belt 115.
  • the transfer belt 115 forms one or more tracks along each of the first fixed rail 112, the first moving rail 114, the second fixed rail 212, and / or the second moving rail 214. It may have the form of a band.
  • the present invention is not limited to the transfer belt 115, and the inspection object S may be transferred using other transfer means.
  • the first rail unit 110 may arrange the inspection object between the first fixed rail 112 and the first moving rail 114 to transfer the inspection object to a predetermined position through the transfer belt 115.
  • the first rail unit 110 transfers the injected inspection object to the surface inspection position 132 and after the inspection on the first surface F1 or the second surface F2 is performed, or the flipper 220, After the side inspection of the inspection object is performed in the flipper, the inspection object S may be transferred back to the position change direction 120.
  • the groove (G) is formed in the first fixed rail 112 and the first moving rail 114, when the gap between the first fixed rail 112 and the first moving rail 114 becomes narrow, The groove G may accommodate the gripping fingers 122 of the turning part 120.
  • the positions of the first fixed rail 112 and the first moving rail 114 may be interchanged.
  • the first rail unit 110 may have a structure in which two rails may move simultaneously instead of the structure of the fixed rail and the movable rail.
  • the turning unit 120 may rotate the inspection object horizontally by a predetermined angle, for example, 90 °.
  • horizontally rotating the predetermined angle may mean changing the direction by a predetermined angle with the z axis as the rotation axis in the xy plane.
  • the direction change unit 120 rotates the inspection object disposed in the longitudinal direction between the first fixed rail 112 and the first moving rail 114 by 90 ° horizontally, so that the inspection object is the first fixed rail 112.
  • the first moving rail 114 can be arranged in the width direction.
  • the direction change unit 120 may rotate the inspection object S in a raised angle, for example, 90 °.
  • the direction change unit 120 may raise the inspection object S carried in the longitudinal direction.
  • the inspection object S may be rotated by a predetermined angle so as to have a width direction, for example.
  • the first moving rail 114 may be moved to have a distance corresponding to the width of the inspection target (S) with respect to the first fixed rail (112).
  • the direction change unit 120 descends the inspection target S and the inspection target S on the transfer belt 115. ) Can be seated.
  • the step of rotating the predetermined angle in the state in which the inspection object S is raised and the moving of the first moving rail 114 with respect to the first fixed rail 112 may be sequentially performed or may be simultaneously performed.
  • the diverter 120 moves in the same direction as the first moving rail 114 when the first moving rail 114 is moved relative to the first fixed rail 112. Can be configured. However, the distance that the direction change unit 120 moves may be different from the distance that the first moving rail 114 moves. For example, the distance that the direction change unit 120 moves may be half the distance that the first moving rail 114 moves. In some embodiments, the turning part 120 may be configured to move to be positioned at the center between the first moving rail 114 and the first fixed rail 112.
  • the direction changing unit 120 may rotate the inspection object in the length direction in the width direction.
  • the horizontal means a surface parallel to the first surface F1 or the second surface F2 when the first surface F1 or the second surface F2 of the inspection object faces upward, hereinafter, inspection
  • the state in which the first surface F1 or the second surface F2 of the object S faces upward is referred to as a 'horizontal state'.
  • the horizontal rotation of the inspection object S may include a rotation about an axis of the first surface F1 or the second surface F2.
  • the longitudinal direction is a direction in which the long side of the inspection target S is parallel to the first fixed rail 112 or the first moving rail 114, and in the width direction, the short side of the inspection target is the first fixed rail 112 or the first. It may be in a direction parallel to the moving rail 114.
  • the direction changer 120 includes the fingers 122 for holding the test object to be seated in the longitudinal direction, and rotates the test object horizontally through a process of raising, rotating, and lowering the test object.
  • the inspection object disposed on the first rail unit 110 is separated from the first rail unit 110 by the direction changing unit 120 and then lifted up, and after descending 90 °, the first rail unit 110 is lowered. ) May be disposed.
  • the rotation of the inspection object through the direction changing unit 120 may be performed simultaneously in the ascending or descending process. 90 ° rotation of the inspection object through the direction change unit 120 may be made through one rotation or may be made through several rotations.
  • the structure and operation of the direction changer 120 have been briefly described so far, but this is merely an example and the structure or operation of the direction changer 120 is not limited thereto.
  • the structure and the operation of all of the turning portions that can be rotated by 90 ° while not colliding the inspection object with the rail can be applied to the inspection apparatus 1000 of the present embodiment.
  • the clamp 130 may function to fix the inspection object at the surface inspection position 132. For example, when the inspection object is moved to the surface inspection position 132 through the first rail portion 110, the clamp 130 squeezes the side surface of the inspection object to firmly fix the inspection object, so that the inspection by the inspection unit is stable. And precisely performed.
  • the second stage 200 may include a second rail unit 210 and a flipper 220.
  • the second rail unit 210 also includes a fixed second fixed rail 212 and a movable second moving rail 214, and the second moving rail 214 has a second arrow ( can move in the direction indicated by a2).
  • a transfer belt 215 may be provided on each of the second fixed rail 212 and the second moving rail 214.
  • the positions of the second fixed rail 212 and the second moving rail 214 may be interchanged.
  • the second rail unit 210 may have a structure in which the second fixed rail 212 and the second moving rail 214 can move at the same time.
  • the flipper 220 may be a device for flipping the test object S so that one side of the test object S faces upward.
  • the flipping may refer to rotation or direction change by a predetermined angle using a virtual straight line in the y direction connecting the centers of the two flippers 220 as the flipping axis C.
  • the flipping shaft C may be perpendicular to the direction in which the second fixing rail 212 extends and may be parallel to the first or second surface of the inspection target.
  • the state in which one side of the inspection object S faces upward is called a "vertical state.”
  • the flipper 220 may flip the inspection object S at a predetermined angle, for example, about 90 °, such that the first side, which is one of four sides of the inspection object, is vertically upward.
  • the flipper 220 flips the inspection object S about 180 ° when the inspection object S is in a vertical state, so that the flipper 220 is in a vertical state again, but is a side opposite to the first side and the first side. The positions of the three sides can be changed.
  • the flipper 220 flips the inspection object S approximately 180 degrees when the first side of the inspection object S faces upward, so that the third side opposite to the first side faces upward. Can be.
  • the flipper 220 flips the inspection object S approximately 180 ° so that the fourth side opposite to the second side faces upward. Can be.
  • the inspection object (S) may be positioned such that the side portion to be inspected is aligned with one end of the flipper 220, or may be positioned to slightly protrude from the end.
  • the side portion to be examined slightly protrudes from one end of the flipper 220 so that the end of the flipper 220 can be excluded from the focus range for inspection by the inspection unit.
  • the degree to which the side portion to be examined protrudes from the end can be determined in consideration of this point.
  • the distance between the side to be inspected and the test part of the test object S may vary. Therefore, the relative distance between the flipping shaft C and the inspection portion at the same time or at the same time as the step of flipping the inspection object S to secure the distance between the inspection side and the inspection portion of the inspection object S for proper inspection. Can be adjusted. In some embodiments, when flipping the inspection object S about 90 °, the flipper 220 may be lowered after flipping or while flipping, and after flipping or flipping of the flipper 220. The inspection unit may rise at the same time as the ripping.
  • the flipper 220 may flip about 90 ° while rising, and then flip the remaining about 90 ° while falling and achieve a total of about 180 ° flipping. .
  • the flipper 220 may be upwardly flipped 180 ° and then lowered again.
  • the inspection unit can be lowered and / or raised.
  • the reason for adjusting the relative distance between the flipper 220 and the inspection unit is to ensure a proper distance between the inspection side and the inspection unit of the inspection target S for accurate inspection.
  • the inspection object (S) may be positioned so that the side portion to be inspected is aligned with the end portion of the flipper 220, or may be positioned so as to project slightly from the end. have.
  • the side portion to be examined slightly protrudes from one end of the flipper 220 so that the end of the flipper 220 can be excluded from the focus range for inspection by the inspection unit.
  • the degree to which the side portion to be examined protrudes from the end can be determined in consideration of this point.
  • a detailed structure of the flipper 220 will be described in more detail with reference to FIGS. 5 and 6.
  • the second rail unit 210 and the flipper 220 are connected to the same frame together. Accordingly, the width adjustment of the second rail unit 210 and the flipper 220 may be performed together. In other words, the y-direction position of the second fixing rail 212 and the flipper 220 adjacent to the x-direction may be fixed. In addition, the second moving rail 214 and the flipper 220 adjacent thereto in the x direction can be moved in the y direction and can move together according to the width of the inspection object S. FIG. However, the structure of the inspection apparatus 1000 of the present embodiment is not limited thereto.
  • the flipper 220 may be configured to move independently of the second rail unit 210.
  • the movement of the flipper 220 means the movement in the direction of the second arrow a2, and the flipping of the flipper 220 may be performed independently of the movement of the second rail unit 210.
  • the first stage 100 and the second stage 200 may be configured to operate independently under the control of the controller. More specifically, the first rail portion 110 of the first stage 100 and the second rail portion 210 of the second stage 200 are physically separated, and thus, the first rail portion 110 Width control of the second rail portion 210 and the width control of the second rail portion 210 is made independently, so that in some inspection step (s), the first rail portion 110 and the second rail portion 210 have different widths.
  • the first object so that the inspection object can be moved between the first stage 100 and the second stage 200 in particular the first object so that the inspection object can smoothly move between the first rail unit 110 and the flipper 220.
  • An interval of the rail unit 110 and an interval of the flipper 220 may be appropriately controlled, and an interval in the x direction between the first rail unit 110 and the flipper 220 may also be appropriately determined.
  • different inspection objects may be disposed in the first stage 100 and the second stage 200 in some predetermined steps.
  • the first inspection object is disposed on the second stage 200 to perform side inspection
  • the second inspection object is disposed on the first stage 100 to inspect the first surface F1 or the second surface F2. Waiting for, or inspection of the first surface F1 or the second surface F2 may be performed.
  • the second inspection object is introduced into the first stage 100 so that the first inspection object is input. It may wait for the surface F1 or the second surface F2 to be inspected.
  • the side surface inspection of the first inspection object is completed in the second stage 200, the first surface F1 or the second surface F2 of the second inspection object that is waiting in the first stage 100. The test can be performed immediately.
  • the inspection apparatus 1000 of the present embodiment includes the first stage 100 and the second stage 200 that are physically separated and independently operable, and thus, the first stage 100 and the second stage 200 in a predetermined step.
  • Different inspection objects can be arranged in the Accordingly, the inspection apparatus 1000 according to the present exemplary embodiment simultaneously inspects two inspection objects disposed on the first stage 100 and the second stage 200 by using two inspection units, or one inspection unit. By continuously inspecting using, the visual inspection of the inspection object can be performed quickly and accurately.
  • FIG. 3 is a perspective view illustrating a structure in which an inspection target is actually arranged in the inspection apparatus of FIG. 1.
  • the first inspection object 1500-1 is disposed in the second stage 200, and the second inspection object 1500-2 is disposed in the first stage 100. Can be arranged.
  • the first inspection object 1500-1 is disposed in the length direction of the second rail part 210, and is disposed between the second fixed rail 212 and the second moving rail 214 of the second rail part 210.
  • the interval of may have a second width W2 corresponding to the short side of the first inspection object 1500-1.
  • the second inspection object 1500-2 is disposed in the width direction of the first rail part 110, and the first fixed rail 112 and the first moving rail 114 of the first rail part 110 are disposed.
  • the interval therebetween may have a first width W1 corresponding to the long side of the second inspection object 1500-2.
  • the first inspection object 1500-1 is disposed on the flipper 220, and the posture is changed to a vertical state through the flipping by the flipper 220, and then the second width of the first inspection object 1500-1 ( The side of W2) can be inspected through the inspection part. While the first inspection object 1500-1 is inspected with respect to the side of the second width W2, the second inspection object 1500-2 is disposed at the surface inspection position 132 where the clamp 130 is located. It may be waited or inspected through a separate inspection unit.
  • one inspection unit may be provided. Accordingly, the side inspection of the first inspection object 1500-1 is first performed in the second stage 200, and then the inspection unit moves to the second inspection object 1500-2 in the first stage 100. A first side check on can be performed. Of course, the first surface inspection of the second inspection object 1500-2 may be performed first, and the side inspection of the first inspection object 1500-1 may be performed.
  • the inspection apparatus of this embodiment may include two or more inspection units. When two or more inspection units are provided, the side surface inspection of the first inspection object 1500-1 in the second stage 200 and the first surface of the second inspection object 1500-2 in the first stage 100 are performed. The inspection and / or the second side inspection may be performed at the same time.
  • first inspection object 1500-1 and the second inspection object 1500-2 are initially put into the first stage 100 to face upward, and / or the first inspection object Directions of the first and second surfaces of the first inspection object 1500-1 and the second inspection object 1500-2 may be determined according to the inspection time points of the 1500-1 and the second inspection object 1500-2. Can be changed.
  • the first inspection object 1500-1 and the second inspection object 1500-2 may be formed according to the direction in which the first surface (or the second surface) when the first inspection object 1500-1 is carried into the first stage 100 faces.
  • the first side and the second side may be opposite to each other.
  • the first inspection object 1500-1 is subjected to a series of processes, as illustrated in FIG. 3.
  • the first inspection object 1500-1 is disposed on the flipper 220 of the second stage 200 so that the second surface F2 faces upward
  • the second inspection object 1500-2 is formed on the first inspection object 1500-2.
  • the first surface 100 may be disposed on the first stage 100 to face upward.
  • the first inspection object 1500-1 is processed through a series of processes.
  • the first inspection object 1500-1 is disposed on the flipper 220 of the second stage 200 so that the first surface faces upward, and the second inspection object 1500-2 has the second surface facing upward. It may be placed in the first stage 100 is placed.
  • first inspection object 1500-1 and the second inspection object 1500-2 may have the first surface and the second surface opposite to each other according to the inspection time point.
  • first or second surface of the first inspection object 1500-1 and the second inspection object 1500-2 may face upward at the surface inspection position 132 according to a time point at which the first inspection object 1500-1 and the second inspection object 1500-2 are inspected.
  • the side facing upwards in FIG. 1 may be any side of each of the inspection objects 1500-1 and 1500-2.
  • a direction in which the first inspection object 1500-1 and the second inspection object 1500-2 face upward at the surface inspection position 132 and a direction of the side facing upward in the flipper 220 may be combined. Include all possible cases.
  • the first inspection object 1500 may vary depending on whether the first inspection object 1500-1 and the second inspection object 1500-2 are introduced into the first stage 100 in the longitudinal direction or in the width direction. -1) and the arrangement direction of the second inspection object 1500-2 may be changed.
  • the inspection object when the inspection object is put in the width direction may have an arrangement direction as shown in FIG.
  • the first inspection object 1500-1 is disposed in the width direction in the second stage 200
  • the second inspection object 1500- is disposed in the first stage 100. 2
  • the first stage 100 and the second stage 200 may operate independently.
  • the front surface or The back side and the longitudinal direction or the width direction may be variously selected. Accordingly, in the first stage 100 and the second stage 200, a surface and an arrangement direction that face upward of the inspection objects may appear in various ways.
  • 4A to 4D are side views illustrating a positional relationship between the inspection units 300, 300a, 300b, 300s, and 300sb according to embodiments of the present invention and the inspection objects 1500-1 and 1500-2.
  • the first inspection object 1500-1 may be disposed in a flipped state on the flipper 220, and the second inspection object 1500-2 may be disposed at the surface inspection position 132.
  • the surface inspection position 132 may be a position adjacent to the clamp 130. In this case, the direction in which the second inspection object 1500-2 faces upward may be the first surface or the second surface.
  • the first inspection object 1500-1 is disposed in a flipped state on the flipper 220, and the second inspection object 1500-2 is disposed at a position (see FIG. 1). Can be located.
  • the direction in which the second inspection object 1500-2 faces upward may also be arbitrarily selected from among the first direction and the second direction.
  • the second inspection object 1500-2 immediately before or immediately after the inspection is the surface adjacent to the clamp 130. Can be transferred to the inspection position.
  • the inspection unit 300 moves to the surface inspection position after inspecting the side surface of the first inspection object 1500-1 to the surface inspection position where the second inspection object 1500-2 is located.
  • the first surface or the second surface of the second inspection object 1500-2 may be inspected.
  • the width of the flipper 220 may be adjusted to have a first width or a second width smaller than the width of the flipper 220.
  • Embodiments of the present invention include all possible embodiments in which the case where the first rail portion 110 has a first width or a second width narrower than each of the possible widths of the flipper 220 is combined.
  • FIG. 4B is the embodiment described with reference to FIG. 4A except that it includes two inspection units, namely, a first inspection unit 300a positioned at the top of the flipper 220 and a second inspection unit 300s positioned at the surface inspection position. Same as the example. Therefore, hereinafter, redundant description will be omitted and the description will be mainly focused on differences.
  • FIG. 4B further includes a second inspection unit 300s positioned at the surface inspection position, the inspection unit 300 alternates between the flipper 220 and the surface inspection position as in the embodiment described with reference to FIG. 4A. There is no need, and inspection time can be shortened accordingly.
  • FIG. 4C is a reference to FIG. 4A except that it includes two inspection units, that is, a first inspection unit 300a positioned above the flipper 220 and a third inspection unit 300b positioned below the flipper 220.
  • a first inspection unit 300a positioned above the flipper 220
  • a third inspection unit 300b positioned below the flipper 220.
  • the first inspection unit 300a and the third inspection unit 300b may simultaneously inspect two side surfaces positioned on two opposite sides of the flipped inspection object. There is no need to flip. Therefore, the inspection time in the flipper 220 can be greatly shortened.
  • first and second surfaces of the inspection object at the surface inspection position may be simultaneously examined after or before the inspection object located on the flipper 220 is inspected.
  • 4D illustrates four inspection units, that is, a first inspection unit 300a and a third inspection unit 300b respectively positioned at the upper and lower portions of the flipper 220, and a second inspection unit respectively positioned at the upper and lower portions of the surface inspection position ( Same as the embodiment described with reference to FIG. 4A except for including 300s) and a fourth inspection unit 300sb. Therefore, hereinafter, redundant description will be omitted and the description will be mainly focused on differences.
  • the embodiment of FIG. 4D can simultaneously inspect the first and second surfaces at the surface inspection position, and can simultaneously inspect the sides located on two opposite sides of the flipped inspection object in the flipper 220. After inspecting the sides (eg short side) of the test object flipped by the flipper 220, after performing a direction change in the direction changing unit, the remaining two sides of the test object (eg the long side side) in the flipper 220 are performed. ), All the tests can be completed. Therefore, since all the inspections can be completed by one direction change of the inspection object, the inspection time can be greatly shortened.
  • FIG. 5 and 6 are perspective views showing in more detail the flipper portion of the inspection apparatus of FIG.
  • the flipper 220 may perform a function of flipping one side to be inspected upward among the remaining sides of the test object while fixing some sides of the test object. have.
  • the flipper 220 has a function of raising or lowering the test object within the flipper 220 or raising or lowering the flipper 220 so that the side to be inspected is placed at a predetermined distance from the test part. Can also be performed.
  • the flipper 220 may include a transfer belt 222 capable of transferring an inspection object in association with the transfer belt 115 of the first rail unit 110.
  • the transfer belt 222 may move the inspection object to an appropriate position of the flipper 220.
  • the flipper 220 may be provided with a sensor for determining whether a test target is at an appropriate position.
  • the proper position may correspond to a position where the side to be inspected of the inspection target is matched to one end of the flipper 220, or a position slightly protruding from one end.
  • an electrical signal may be applied to the flipper 220.
  • the slip ring 224 for applying the electrical signal to the flipper 220, is applied.
  • slip ring structure can be employed. Since the structure of the slip ring 224 is already known, a detailed description thereof will be omitted.
  • the flipper 220 may be rotated in the same direction. For reference, when an electric signal is applied through the wiring of the general direct connection instead of the structure of the slip ring, twisting of the wiring may occur due to the one-way rotation of the flipper 220.
  • the flipper 220 may be limited to rotate the flipper 220 again in the opposite direction in order to release the twist of the wiring after the rotation in one direction.
  • the flipper 220 by adopting the slip ring 224 structure to the flipper 220, the flipper 220 can be freely rotated at any rotation angle and direction without the problem of twisting the wiring.
  • the flipper 220 includes a drive gear 272, drive pulleys 246 and 248, a flipper belt 240, a first idle gear 274, a second idle gear 276, and a clamp plate ( 226, clamp plate) can be placed.
  • the flipper belt 240 may include a first belt 222 and a second belt 224 spaced up and down on the inner surface of the flipper 220.
  • the first belt 222 and the second belt 224 may be supported by the drive pulleys 246 and 248 and two or more support rollers 249, respectively, as the drive pulleys 246 and 248 rotate. Can be driven.
  • the drive gear 272 rotatably installed on the flipper 220, and on the outer surface of the flipper 220
  • the first idle gear 274 and the second idle gear 276 may be provided to be rotatable.
  • the first idle gear 274 may be connected to the driving pulley 246 supporting the first belt 222 through a rotating shaft, and the second idle gear 276 may drive the pulley supporting the second belt 224. 248 and the rotary shaft can be connected.
  • the driving gear 272 may rotate in engagement with one of the first idle gear 274 and the second idle gear 276.
  • the second idle gear 276 connected to the second belt 224 meshes with the drive gear 272
  • the second belt 224 rotates while the second idle gear 276 rotates according to the rotation of the drive gear 272.
  • the flipper 220 is rotated 180 ° differently, when the first idle gear 274 connected to the first belt 222 is engaged with the driving gear 272, the first gear according to the rotation of the driving gear 272 is performed.
  • the idle gear 274 rotates, the first belt 222 may be driven. That is, the first belt 222 and the second belt 224 may be driven independently to transport the inspection object.
  • the clamp plate 226 may squeeze and fix the test object when the test object is at the proper position of the flipper 220, thereby allowing the test object to be firmly fixed to the flipper 220 during rotation and / or the test.
  • the clamp plate 226 may have a structure separated into two.
  • the clamp plate 226 may have a first plate portion 226a and a second plate portion 226b separated from each other at the center portion.
  • the clamp plate 226 is moved to the inside by the clamp cylinder 228 to compress the inspection object, when the clamp cylinder 228 is disposed on both sides and the clamp plate is formed integrally long, the force transfer from the center portion This can be weakened.
  • the inspection apparatus 1000 includes a clamp plate 226 having a structure separated into a first plate portion 226a and a second plate portion 226b for improving the force transmission of the central portion and / or crimping by position. ) Can be employed.
  • the clamp plate 226 may be formed in an integral structure.
  • the position of the clamp cylinder 228 may be changed.
  • 229 is a guide shaft, and a return spring may be disposed on the guide shaft 229 to facilitate the return of the clamp plate 226.
  • FIG. 7 is a flowchart schematically illustrating a test method according to an exemplary embodiment of the present invention.
  • the first inspection object 1500-1 may be carried into the first stage 100 (S110).
  • the first inspection object 1500-1 may be carried into the upper portion of the direction changing part 120 by the first rail part 110 in the longitudinal direction, for example.
  • the first inspection object 1500-1 may be transferred to the surface inspection position 132 through the direction change unit 120. Subsequently, the first surface of the first inspection object 1500-1 may be inspected by the inspection unit at the surface inspection position 132 (S120).
  • the first inspection object 1500-1 may be transferred to the flipper 220 for side inspection.
  • the flipper 220 may flip the first inspection object 1500-1, and two opposite sides of the first inspection object 1500-1 may be inspected by the inspection unit (S130).
  • the flipper 220 can flip the first inspection object 1500-1 180 degrees, whereby The opposite side can be inspected by the inspection part.
  • the present invention is not limited thereto. If the inspection units are disposed above and below the flipper 220, 180 ° flipping of the first inspection object 1500-1 may be unnecessary.
  • the first inspection object 1500-1 may be transferred to the upper portion of the direction changing unit 120 and then changed in direction (S142).
  • the first inspection object 1500-1 may be redirected by about 90 ° in the horizontal direction so that the first inspection object 1500-1 carried in the longitudinal direction may have a width direction.
  • the direction switching unit 120 raises the first inspection object 1500-1 to the upper portion of the transfer belt 115, changes the direction by about 90 ° in the horizontal direction, and then re-creates the first inspection object 1500-1. ) May be seated above the transfer belt 115.
  • the first inspection object 1500-1 may be transferred to the surface inspection position 132, and then the inspection may be performed on the second surface of the first inspection object 1500-1 (S148).
  • the width of the first rail portion 110 (see FIG. 1) at the surface inspection position when inspecting the first surface and when inspecting the second surface may be different.
  • FIG. 8 is a flow chart showing in more detail the inspection method according to an embodiment of the present invention shown in Figure 7, Figures 9a to 9e 8 is a perspective view showing the inspection method applied to the inspection device of FIG.
  • the first inspection object 1500-1 is injected into the first stage 100 (S110). Thereafter, the first inspection object 1500-1 moves to the surface inspection position 132 to perform a first surface inspection (S120). More specifically, the first inspection object 1500-1 introduced into the first stage 100 moves to the surface inspection position through the first rail unit 110 (S122), and then through the clamp 130, the first inspection object 1500-1.
  • the inspection object 1500-1 is fixed (S124). When the first inspection object 1500-1 is fixed, a first surface inspection of the first inspection object 1500-1 is performed through the inspection unit 300 (S126).
  • the first inspection object 1500-1 may be injected into the first stage 100 such that the first surface faces upward in the longitudinal direction.
  • the first inspection object 1500-1 is not limited thereto, and may be inserted into the first stage 100 so that the second surface faces upward, and the first stage 100 in the width direction. It can also be put in. If the second surface is inserted into the first stage 100 to face upward, the first surface inspection for the first inspection object 1500-1 may be changed to the second surface inspection.
  • the width of the flipper 220 is adjusted to be equal to the width of the first stage 100. If the sides of the inspection target just before the time was being examined, the flipper 220 may have been widened in the longitudinal direction of the inspection target immediately before the same. The width of the flipper 220 is narrowed down according to the arrangement of the current inspection object when the inspection object immediately before such inspection is completed and discharged, and may be in a state as shown in FIG. 9A.
  • the inspection unit 300 may capture a plurality of images of the front surface of the first inspection object 1500-1 while moving in one direction as indicated by the third arrow a3. Of course, when the size of the inspection object is small, the entire image may be obtained through one imaging.
  • the inspection unit 300 may be, for example, a CCD camera.
  • the inspection unit 300 is not limited to the CCD camera.
  • the inspection unit 300 may be a high performance CMOS camera such as a sCMOS (Scientific CMOS) camera.
  • the inspection unit 300 may include any kind of sensor or detector that can detect a defect of an inspection object in a non-contact manner.
  • the inspection unit 300 irradiates the inspection object with the pattern illumination by changing the phase, receives the light reflected from the inspection object, and analyzes the two-dimensional image obtained therefrom, thereby analyzing three-dimensional shape information or two-dimensional object of the inspection object. It may include devices for obtaining image information. Since the principle of acquiring a three-dimensional shape or a two-dimensional image using pattern illumination is well known to those skilled in the art, a detailed description thereof will be omitted.
  • the inspection unit 300 may be connected to a separate analysis device (not shown) to complete the inspection through image processing or the like.
  • the analyzing apparatus may be a computer equipped with a program capable of processing and analyzing the acquired image, and may be, for example, a general personal computer (PC), a workstation, a supercomputer, or the like.
  • the first inspection object 1500-1 moves to an appropriate position of the flipper 220 through the transfer belts 115 and 222 of the first rail unit 110 and the flipper 220 (S131).
  • the proper position is a side portion to be inspected of the first inspection object 1500-1, for example, the first side S1 of the short side of the first inspection object 1500-1 coincides with one end of the flipper 220. It may correspond to a position, or a position slightly protruding from one end.
  • the first inspection object 1500-1 is firmly fixed to the flipper 220 by the clamp plate 226, and the flipper 220 rotates by 90 ° while being lowered, thereby allowing the first inspection object 1500-1 to be rotated by 90 °.
  • the inspection object 1500-1 is also rotated 90 ° to be in a vertical state (S132).
  • the flipper 220 may be lowered after the rotation.
  • the flipper 220 may rotate clockwise or counterclockwise. In the present exemplary embodiment, the flipper 220 may rotate in the counterclockwise direction so that the back side of the first inspection object 1500-1 may face the second stage 200.
  • the reason for lowering the flipper 220 is to keep the upper side of the first inspection object 1500-1 and the inspection unit 300 at an appropriate distance, as described above.
  • the inspection unit 300 may be raised instead of lowering the flipper 220.
  • the 90 ° rotation of the flipper 220 causes the first side surface S1 of the first inspection object 1500-1 to face upward, and the first inspection object 1500-1 of the first inspection object 1500-1 through the inspection unit 300. Inspection of the side surface S1 is performed (S133).
  • Rotation of 180 ° of the flipper 220 may be performed in various ways as follows.
  • the flipper 220 may rotate 90 ° while rising, rotate 90 ° while falling again, and rotate the whole 180 °, rotate the 180 ° after the flipper 220 rise, and lower the flipper 220, It may also rotate 180 ° during ascending or descending.
  • the present invention is not limited thereto.
  • Rotation of 180 ° of the flipper 220 may also be performed in a clockwise or counterclockwise direction.
  • the reason why the flipper 220 is raised and lowered at 180 ° rotation of the flipper 220 is because the space is limited in the lowered state and rotation is not possible.
  • the flipper 220 may rotate immediately without rising and falling.
  • the first inspection object 1500-1 may be moved such that the side portion to be inspected through the transfer belt is positioned at the end portion of the flipper 220.
  • the first inspection object 1500-1 may be moved through the transfer belt such that the third side surface S3 of the first inspection object 1500-1 is positioned at an end portion of the flipper 220. Movement of the first inspection object 1500-1 may vary depending on 180 ° rotation methods of the flipper 220. For example, when the flipper 220 rotates by 90 °, the first inspection object 1500-1 may be moved after the first 90 ° rotation.
  • the third side surface S3 of the cross section side of the first inspection object 1500-1 faces upward, and the first inspection object 1500-1 of the first inspection object 1500-1 is turned upward through the inspection unit 300.
  • the inspection of the third side surface S3 is performed (S135).
  • the third side surface S3 may be a side surface opposite to the first side surface S1.
  • the flipper 220 After the inspection of the third side surface S3 of the first inspection object 1500-1, the flipper 220 is rotated by 90 ° while being raised, whereby the first inspection object 1500-1 is also rotated by 90 ° to become a horizontal state. (S136).
  • the flipper 220 may rotate after the rise.
  • the 90 ° rotation of the flipper 220 may be performed such that the opposite side of the surface of the first inspection object 1500-1 that has already been inspected in the first stage 100 faces upward.
  • the second surface of the first inspection object 1500-1 is rotated through a 90 ° rotation of the flipper 220. You can face this upward.
  • the first inspection object 1500-1 may be transferred to the direction changing unit 120 of the first stage 100 (S137).
  • the first inspection object 1500-1 rotates horizontally in the direction changing unit 120, moves to the front / rear inspection position, and the rear second surface inspection is performed ( S140).
  • the first inspection object 1500-1 moves to the direction change unit 120 through the first rail unit 110, and as illustrated in FIG. 9E, the direction change unit ( Through the 120, the first inspection object 1500-1 is rotated 90 ° horizontally (S142).
  • the rotation of the turning unit 120 may be performed by rotating while rising, rotating after rising, or rotating while falling so as not to collide with the rail.
  • the first inspection object 1500-1 by the rotation of the direction change unit 120 may be changed in the arrangement of the longitudinal direction to the arrangement of the width direction. Therefore, the interval of the first rail unit 110 may be changed to correspond to the long side of the first inspection object 1500-1 through the movement of the first moving rail 114.
  • the first inspection object 1500-1 is first introduced into the first stage 100 in the width direction
  • the first inspection object 1500-1 is rotated in the width direction by the rotation of the direction changer 120.
  • the arrangement is changed to the arrangement in the longitudinal direction, and the spacing of the first rail portion 110 may be changed accordingly.
  • the interval of the flipper 220 may be changed as well.
  • the first inspection object 1500-1 moves to the surface inspection position through the first rail unit 110 (S144), and the first inspection object 1500 through the clamp 130. -1) is fixed (S146).
  • a backside inspection of the first inspection object 1500-1 is performed through the inspection unit 300 (S148).
  • the inspection unit 300 may be performed while the inspection unit 300 moves in the direction of the fourth arrow a4 even when the first inspection object 1500-1 is inspected.
  • the back side inspection may be performed through one imaging.
  • the first inspection object 1500-1 is moved to the second stage 200 and the long side is Inspection of the sides (S2, S4) of is performed (S160).
  • the second inspection object 1500-2 is introduced into the first stage 100 and waits at the surface inspection position (S150). The inspection of the side surfaces S2 and S4 of the long side of the first inspection object 1500-1 and the waiting at the first stage 100 of the second inspection object 1500-2 may be performed together.
  • the first inspection object 1500-1 is the flipper 220 of the second stage 200. Move to (S161). After the first inspection object 1500-1 moves to the flipper 220, the width of the first rail unit 110 may be adjusted to correspond to the width of the second inspection object 1500-2 to be carried in later.
  • the second inspection object 1500-2 is introduced into the first stage 100 in the longitudinal direction such that the first surface faces upward (S152).
  • the second inspection object 1500-2 moves to the surface inspection position through the first rail part 110 (S154), and is fixed through the clamp 130 (S156). Thereafter, the second inspection object 1500-2 waits at the surface inspection position (S158). If there is a spare inspection unit, the first surface inspection may be performed without waiting for the second inspection object 1500-2.
  • the first inspection object 1500-1 moved to the second stage 200 moves to an appropriate position of the flipper 220 (S161), and is fixed to the flipper 220 through the clamp plate 226.
  • the flipper 220 rotates while being rotated by 90 °, the first inspection object 1500-1 is in a vertical state (S162). Again, the flipper 220 may descend after rotation.
  • the flipper 220 may rotate in a counterclockwise direction so that the first surface of the first inspection object 1500-1 may face the second stage 200. Of course, the flipper 220 may rotate in a clockwise direction.
  • the upper side of the second side S2 of the long side side of the first inspection object 1500-1 is turned upward by the 90 ° rotation of the flipper 220 and the first inspection object 1500-1 through the inspection unit 300. Inspection of the second side surface S2 of) is performed (S163). Thereafter, the flipper 220 is rotated by 180 °, so that the first inspection object 1500-1 is also rotated by 180 ° and again becomes vertical (S164). The 180 ° rotation of the flipper 220 may be rotated by 90 ° while rising, and then rotated 90 ° while falling again. Of course, the 180 ° rotation of the flipper 220 may be performed through other methods as mentioned above in the rotation of the short side. In addition, the 180 ° rotation may include the movement of the first inspection object 1500-1.
  • the fourth side surface S4 of the long side of the first inspection object 1500-1 faces upward, and the first inspection object 1500-1 of the first inspection object 1500-1 is turned upward through the inspection unit 300.
  • the inspection of the fourth side surface S4 is performed (S165).
  • the fourth side surface S4 may be a side surface opposite to the second side surface S2.
  • the flipper 220 After the inspection of the fourth side surface S4 of the first inspection object 1500-1, the flipper 220 is rotated by 90 ° while being raised, whereby the first inspection object 1500-1 is also rotated by 90 ° to become a horizontal state. (S166). Of course, the flipper 220 may rotate after the rise. For reference, since both front and rear inspections of the first inspection object 1500-1 were performed, the surfaces of the first inspection object 1500-1 that rotated by 90 ° of the flipper 220 were upward. There may be no limit.
  • the first inspection object 1500-1 starts at the exit of the second stage 200 through the second rail unit 210 (S167).
  • the first inspection object 1500-1 arriving at the exit of the second stage 200 is discharged from the second stage 200 (S170). That is, the external inspection of the first inspection object 1500-1 in the inspection apparatus 1000 of the present embodiment is completed. Meanwhile, the front inspection of the second inspection object 1500-2 may be immediately performed during the discharge process of the first inspection object 1500-1.
  • the inspection of the inspection object can be performed more quickly. Can be done accurately.
  • the second inspection object 150-0 is already performed.
  • the second inspection object 1500-2 is immediately performed. A frontal inspection can be performed.
  • the inspection time can be shortened by the discharge of the first inspection object 1500-1, the insertion time of the second inspection object 1500-2, and the movement time to the surface inspection position.
  • the inspection time can be shortened by the discharge of the first inspection object 1500-1, the insertion time of the second inspection object 1500-2, and the movement time to the surface inspection position.
  • FIG. 10 is a perspective view for explaining the principle of inspecting the inclined surfaces of the side of the inspection object in the inspection device of FIG.
  • the inspection apparatus 1000 of the present embodiment rotates the inspection object 1500 by 90 ° or 180 ° through the flipper 220 to make the inspection object 1500 vertical, and then, in the vertical state.
  • the inspection object 1500 may be further rotated clockwise and counterclockwise by the first angle ⁇ .
  • the inclined surfaces of the side surfaces of the inspection object 1500 may be inspected through the inspection unit 300.
  • the first inspection object 1500-1 is further rotated by the first angle ⁇ to be captured by the inspection unit 300, thereby the first to fourth side surfaces S1, S2, S3, and S4.
  • Each slope can be inspected.
  • the angle rotated in the clockwise direction and the counterclockwise direction in the vertical state of the inspection object 1500 may be the same as the first angle ⁇ .
  • the angles rotated clockwise and counterclockwise in the vertical state of the inspection object 1500 may be different.
  • 11 is a perspective view schematically showing an inspection apparatus 1000a according to an embodiment of the present invention.
  • 12A to 12F are side views illustrating a method of inspecting a test target by using the test apparatus 1000a according to an exemplary embodiment.
  • 11 illustrates that the inspection object 1500-1 is located at various positions, for example, the entrance portion of the second stage 200 and the flipper 220, but the inspection object 1500-1 is located at other positions. Can be positioned in various directions and postures.
  • the inspection object (s) is introduced into the first stage, inspected, and discharged through the second stage.
  • the test object is input through the second stage, and is discharged through the first stage after the test.
  • the first inspection object 1500-1 is carried into the second stage 210.
  • the surface facing upward may be defined as the first surface.
  • the first inspection object 1500-1 when carried in, it may be carried in its long side direction or may be carried in its short side direction.
  • the first inspection object 1500-1 is transferred to the flipper 220 to be flipped, and then inspection of two opposite sides is performed. Since the detailed description of the inspection in the flipper 220 has been described in detail with reference to FIGS. 9B and 9C, the detailed description is omitted here.
  • the first inspection object 1500-1 is horizontally positioned to be adjacent to the clamp 130 at the surface inspection position 132. If the width of the first stage 100 is not suitable for bringing in the first inspection object 1500-1 before the first inspection object 1500-1 is transferred to the first stage 100, the first stage 100. The step of adjusting the width of) may be further performed.
  • the first inspection object 1500-1 may be fixed by the clamp 130 to inspect the surface facing upward. have.
  • the inspection unit 300 may move to an upper portion of the surface inspection position 132.
  • the surface to be inspected may be a first surface or a second surface.
  • the first inspection object 1500-1 having completed the inspection of the upper surface may be transferred to the direction changing unit 120 and raised, and then horizontally converted to 90 °.
  • the first inspection object 1500-1 When the first inspection object 1500-1 is carried in the long side direction to the second stage 200, the first inspection object 1500-1 may have a short side direction by changing the direction.
  • the first inspection object 1500-1 When the first inspection object 1500-1 is carried in the short side direction to the second stage 200, the first inspection object 1500-1 may have a long side direction by changing the direction.
  • the first inspection object 1500-1 is transferred to the flipper 220 again to be flipped, and then the inspection of the other two sides that are not inspected is performed.
  • the first inspection object 1500-1 is horizontally positioned to be adjacent to the clamp 130 at the surface inspection position 132.
  • the surface facing upward of the first inspection object 1500-1 is the opposite surface to the surface facing upward in FIG. 12C.
  • the second inspection object 1500-2 is carried into the second stage 200 after adjusting the width of the second stage 200. Can be.
  • the first inspection object 1500-1 may be discharged to the outside through the first stage 100.
  • FIG. 13 is a perspective view of an inspection system having two inspection devices according to an embodiment of the present invention.
  • the inspection system 2000 of the present exemplary embodiment may include two inspection apparatuses 1000-1 and 1000-2 arranged adjacent to each other.
  • Each of the first inspection device 1000-1 and the second inspection device 1000-2 may be substantially the same as the inspection device of FIG. 1.
  • the first inspection apparatus 1000-1 and the second inspection apparatus 1000-2 may share one inspection unit 300.
  • the inspection system 2000 according to the present embodiment moves between the first inspection apparatus 1000-1 and the second inspection apparatus 1000-2 by using one inspection unit 300, and applies the two inspection objects to the two inspection objects.
  • Visual inspection can be performed at the same time.
  • the inspection unit 300 is expensive, and the imaging by the inspection unit 300 takes a very short time while the movement or rotation of the inspection object may take a relatively long time. Accordingly, the appearance of the two inspection objects can be inspected sufficiently effectively while moving between the two inspection apparatuses 1000-1 and 1000-2 using one inspection unit 300.
  • the first surface inspection of the first inspection object is performed through the inspection unit 300 in the first stage 100-1 of the first inspection apparatus 1000-1. Thereafter, the first inspection target moves to the second stage 200-1 and is flipped by the first flipper 220-1, and during this process, the third stage of the second inspection apparatus 1000-2 is performed.
  • operation 100-2 a first surface inspection of the second inspection object is performed through the inspection unit 300.
  • the third stage 100-2 may be an input stage.
  • the second inspection target moves to the fourth stage 200-2 and is flipped by the second flipper 220-2, and during this process, the side of the short side of the first inspection target through the inspection unit 300. Their inspection is in progress. Subsequently, the first inspection object moves to the first stage 100-1, changes the horizontal direction in the direction change unit, and moves to the surface inspection position. During this process, inspection of the side surfaces of the short side of the second inspection object is performed through the inspection unit 300.
  • the second inspection target is moved to the third stage 100-2, the horizontal turning direction is changed in the direction change unit, and the surface inspection position is moved. During this process, the second surface of the first inspection target is inspected through the inspection unit 300. do. Subsequently, the first inspection target moves to the second stage 200-1 and is flipped by the first flipper 220-1, and during this process, the second inspection target is inspected by the second inspection target 300. The face is inspected.
  • the second inspection target moves to the fourth stage 200-2 and is flipped by the second flipper 220-2, and the side of the long side of the first inspection target through the inspection unit 300 during this process. Their inspection is in progress. Thereafter, the first inspection object is discharged through the second rail portion, and during this process, inspection of side surfaces of the long side of the second inspection object is performed through the inspection unit 300.
  • the movement order of the inspection unit 300 is not limited to the above-described order.
  • the movement of the inspection unit 300 may be moved in the order in which the two inspection apparatuses 1000-1 and 1000-2 can perform the inspection in an optimal and shortest time. .
  • the invention may be illustrated as being implemented in a suitable computing environment.
  • various methods according to the present invention may be provided as a recording medium recording computer software for implementing the same.
  • the recording medium typically includes a variety of computer readable media and can be provided in any available media that can be accessed by a computer.
  • the recording medium may include a volatile or non-volatile medium, a removable or non-removable medium, and the like.
  • the recording medium may include all media embodied by any method or technology for storing information such as computer readable instructions, data structures, program modules, or other data.
  • the recording medium may be RAM, ROM, EEPROM, flash memory or other memory technology, CD-ROM, DVD or other optical disk storage device, magnetic cassette, magnetic tape, magnetic disk storage device or other magnetic storage device, or And any other medium that can be accessed by a computer that can be used to store desired information, and the like.
  • the recording medium may include a communication medium as long as it is computer readable.
  • the communication medium typically embodies computer readable instructions, data structures, program modules or other data as modulated data signals, such as carrier waves or other transmission mechanisms, and includes any information transfer medium.
  • 1000, 1000-1, 1000-2 inspection apparatus, 100, 100-1: first stage, 110: first rail portion, 112: first fixed rail, 114: first moving rail, 115, 215, 222: Feed belt, 120: direction change part, 130: clamp, 200: 2nd stage, 210: 2nd rail part, 212: 2nd fixed rail, 213: 2nd moving rail, 220: flipper, 224: slip ring, 226 : Clamp plate, 228: clamp cylinder, 229: guide shaft, 1500, 1500-1, 1500-2: inspection target

Landscapes

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Abstract

본 발명의 기술적 사상은 제품의 외관, 특히 육면체 구조의 제품의 외관을 정밀하고 신속하게 검사할 수 있는 검사 장치, 및 그 장치를 이용한 검사 방법을 제공한다. 그 검사 장치는 물리적으로 분리되고 독립적으로 동작하는 투입 스테이지와 플립/배출 스테이지를 포함함으로써, 소정 단계에서 투입 스테이지와 플립/배출 스테이지에 서로 다른 검사 대상들이 배치되도록 할 수 있다. 그에 따라, 본 발명의 기술적 사상에 의한 검사 장치는 플립/배출 스테이지에서 하나의 검사 대상의 검사 후에 투입 스테이지에 대기하고 있는 다른 검사 대상을 바로 검사할 수 있다.

Description

검사 장치, 및 그 장치를 이용한 검사 방법
본 발명의 기술적 사상은 검사 장치에 관한 것으로, 특히 제품의 외관을 검사하는 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 휴대폰, 디지털 카메라, 전화기 등 각종 전자제품의 케이스에는, 다양한 문양이나 심볼이 각인 또는 인쇄를 통해 형성되며, 그 재질 또한 플라스틱재, 금속재, 세라믹 등 다양한 재질로 제작된다. 이러한 케이스의 표면에는 코팅이나 생산 및 운반과정 중에 스크래치나 찍힘을 포함하는 결함이 발생 될 수 있고, 이와 같이 결함이 발생한 케이스를 전자기기의 제작에 사용할 경우에는 제품의 신뢰도가 하락할 수 있다. 따라서, 케이스는 표면의 결함의 발생 여부를 검사하는 외관 검사과정이 요구되고, 일반적으로 육안을 통해 외관 검사가 수행될 수 있다. 그러나 육안에 의한 외관 검사는 작업성이 떨어지고, 또한, 실수에 의해 결함을 찾지 못하는 문제점이 발생할 수 있다.
한편, 이송 벨트에 케이스를 안치시켜 일 방향으로 이송시키면서, 이송 벨트의 외측에 설치된 복수의 카메라가 상기 케이스를 다각도로 촬영하여 케이스 각 면의 영상을 획득하고 그 영상을 분석함으로써, 케이스의 결함 발생 여부를 검사할 수 있다. 그러나 이러한 이송 벨트 및 카메라를 이용한 검사 장치는 많은 수의 카메라들을 포함하여 비용적으로 불리하고, 또한 이송 벨트의 정 위치에 케이스가 안착하지 않는 경우, 정밀한 영상 획득이 어렵고, 그에 따라 결함 여부 판독에도 에러가 발생할 수 있다.
본 발명의 기술적 사상이 해결하고자 하는 과제는 제품의 외관, 특히 육면체 구조의 제품의 외관을 정밀하고 신속하게 검사할 수 있는 검사 장치를 제공하는 데에 있다.
또한, 본 발명의 기술적 사상이 해결하고자 하는 과제는 상기 장비를 이용하여 제품의 외관 검사의 프로세스를 최적화하여 제품의 외관을 정밀하고 신속하게 검사할 수 있는 검사 방법을 제공하는 데에 있다.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 기술적 사상은 투입된 제1 검사 대상을 검사 위치로 이송시키며, 상기 검사 위치에서 상기 제1 검사 대상의 앞면 또는 뒷면이 검사되도록 하는 제1 스테이지(stage); 및 상기 제1 스테이지에 인접하여 배치되고 상기 제1 스테이지로부터 상기 제1 검사 대상을 이송 받거나 상기 제1 스테이지로 상기 제1 검사 대상을 이송하며, 상기 제1 검사 대상을 회전시켜 상기 제1 검사 대상의 측면들이 검사되도록 하는 제2 스테이지;를 포함하고, 상기 제1 검사 대상은, 상기 제1 스테이지로부터 상기 제2 스테이지로의 제1 이송, 상기 제2 스테이지로부터 상기 제1 스테이지로의 제2 이송, 및 상기 제1 스테이지로부터 상기 제2 스테이지로의 제3 이송의 순서로 이송되고, 상기 제3 이송 후 상기 제1 검사 대상이 상기 제2 스테이지에 있을 때 제2 검사 대상이 상기 제1 스테이지에 투입되는, 검사 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 스테이지는, 제1 고정 레일과 제1 이동 레일을 구비한 제1 레일부를 포함하고, 상기 제2 스테이지는, 제2 고정 레일과 제2 이동 레일을 구비한 제2 레일부를 포함하며, 상기 제1 이동 레일의 동작에 의해 상기 제1 고정 레일과 제1 이동 레일의 사이의 폭이 조절되고, 상기 제2 이동 레일의 동작에 의해 상기 제2 고정 레일과 제2 이동 레일의 사이의 폭이 조절되며, 상기 제1 이동 레일과 상기 제2 이동 레일은 서로 독립적으로 동작할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 스테이지는, 상기 앞면 또는 뒷면이 상방을 향하는 자세에서, 상기 앞면 또는 뒷면에 평행하게 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 방향 전환부를 포함하고, 상기 제2 스테이지는, 상기 앞면 또는 뒷면이 상방을 향하는 자세에서 상기 제1 검사 대상의 측면이 상방을 향하도록 하거나, 또는 상기 측면이 상방을 향하는 자세에서 상기 측면의 반대되는 측면이 상방을 향하도록 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 플리퍼(flipper)를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 검사 대상은, 상기 제1 이송에서 상기 제1 레일부에 의해 상기 검사 위치에서 상기 플리퍼로 이동하고, 상기 제2 이송 전에 상기 플리퍼에서 회전하며, 상기 제2 이송에서 상기 제1 레일부에 의해 상기 플리퍼로부터 상기 방향 전환부로 이동하고, 상기 제3 이송 전에 상기 방향 전환부에서 회전한 후 상기 제1 레일부에 의해 상기 방향 전환부로부터 상기 검사 위치로 이동하며, 상기 제3 이송에서 상기 제1 레일부에 의해 상기 검사 위치에서 상기 플리퍼로 이동하고, 상기 제3 이송 후 상기 플리퍼에서 회전하며, 상기 제1 검사 대상은 상기 플리퍼에 의한 회전 후 상기 제2 레일부에 의해 상기 제2 스테이지로부터 배출되며, 상기 제2 검사 대상은 상기 제1 검사 대상이 상기 제2 스테이지로부터 배출되기 전에 상기 제1 스테이지로 투입될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 플리퍼는 상기 제1 검사 대상을 상승 또는 하강하면서 회전시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 플리퍼는, 상기 측면이 상방을 향하는 자세에서 시계 방향 또는 반시계 방향으로 소정 각도 내에서 상기 제1 검사 대상을 회전시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 플리퍼는 무한 회전이 가능하도록 슬립 링(slip ring) 구조를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 플리퍼는 상기 제1 검사 대상에 밀착되어 상기 제1 검사 대상을 고정하기 위한 클램프 플레이트를 포함하되, 상기 클램프 플레이트는 2개로 분리된 구조를 가질 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 검사 대상으로부터 반사된 광을 수광하여 상기 제1 검사 대상을 검사하는 적어도 하나의 검사부를 포함하고, 상기 검사부가 이동하면서 상기 제1 스테이지에서의 상기 제1 검사 대상의 앞면 또는 뒷면 검사와, 상기 제2 스테이지에서의 상기 제1 검사 대상의 측면들의 검사를 수행할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 검사 장치는 2개가 인접하여 배치되고, 상기 검사부가 2개의 상기 검사 장치들 사이를 이동하면서 검사를 수행할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 검사부는 패턴 조명을 이용하여 상기 제1 검사 대상을 검사할 수 있다.
또한, 본 발명의 기술적 사상은 상기 과제를 해결하기 위하여, 투입된 제1 검사 대상을 검사 위치로 이송시키며, 상기 검사 위치에서 상기 제1 검사 대상의 제1 면이 검사되도록 하는 제1 스테이지; 및 상기 제1 스테이지에 인접하여 배치되고 상기 제1 스테이지로부터 상기 제1 검사 대상을 이송 받거나 상기 제1 스테이지로 상기 제1 검사 대상을 이송하며, 상기 제1 검사 대상을 회전시켜 상기 제1 면과 다른 상기 제1 검사 대상의 제2 면이 검사되도록 하는 제2 스테이지;를 포함하고, 상기 제1 검사 대상이 상기 제1 스테이지와 제2 스테이지의 사이를 왕복하되, 상기 제1 스테이지로부터 상기 제2 스테이지로 최종 이송되어 상기 제2 스테이지에 있을 때, 제2 검사 대상이 상기 제1 스테이지에 투입되는, 검사 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 스테이지는, 제1 고정 레일과 제1 이동 레일을 구비한 제1 레일부, 및 상기 제1 면의 법선을 축으로 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 방향 전환부를 포함하고, 상기 제2 스테이지는, 제2 고정 레일과 제2 이동 레일을 구비한 제2 레일부, 및 상기 제2 고정 레일이 연장하는 방향과 수직으로 교차하고 상기 제1 면에 평행한 직선을 축으로 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 플리퍼를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 검사 대상은, 상기 제1 레일부에 의해 상기 검사 위치에서 상기 플리퍼로 이동하고, 상기 플리퍼에서 회전하며, 상기 제1 레일부에 의해 상기 플리퍼로부터 상기 방향 전환부로 이동하여 상기 방향 전환부에서 회전하며, 상기 제1 레일부에 의해 검사 위치로 이동하고 상기 플리퍼로 이동하는 순서로 상기 제1 스테이지와 제2 스테이지를 왕복하며, 상기 제1 검사 대상은 상기 최종 이송된 후에 상기 플리퍼에서 회전하고, 상기 제2 레일부에 의해 상기 제2 스테이지로부터 배출되며, 상기 제2 검사 대상은 상기 제1 검사 대상이 상기 제2 스테이지로부터 배출되기 전에 상기 제1 스테이지로 투입될 수 있다.
더 나아가, 본 발명의 기술적 사상은 상기 과제를 해결하기 위하여, 제1 스테이지와 제2 스테이지를 구비한 검사 장치의 상기 제1 스테이지에 앞면이 상방을 향하도록 제1 검사 대상을 투입하는 단계; 검사부를 이용하여 상기 제1 검사 대상의 앞면을 검사하는 단계; 상기 제1 검사 대상을 상기 제2 스테이지로 이동시키고, 플리퍼를 이용하여 상기 제1 검사 대상의 4개의 측면들 중 제1 측면과 상기 제1 측면에 반대되는 제3 측면이 상방을 향하도록 상기 제1 검사 대상을 회전시키며, 상기 검사부를 이용하여 상기 제1 측면과 제3 측면을 검사하는 단계; 상기 플리퍼를 이용하여 상기 앞면에 반대되는 뒷면이 상방을 향하도록 상기 제1 검사 대상을 회전시키고, 상기 제1 검사 대상을 상기 제1 스테이지의 방향 전환부로 이동시키며, 상기 방향 전환부를 이용하여 상기 제1 검사 대상을 상기 뒷면에 평행하게 회전시키는 단계; 상기 검사부를 이용하여 상기 제1 검사 대상의 뒷면을 검사하는 단계; 및 상기 제1 검사 대상을 상기 제2 스테이지로 이동시키고, 플리퍼를 이용하여 상기 제1 검사 대상의 4개의 측면들 중 제2 측면과 상기 제2 측면에 반대되는 제4 측면이 상방을 향하도록 상기 제1 검사 대상을 회전시키며, 상기 검사부를 이용하여 상기 제2 측면과 제4 측면을 검사하는 단계;를 포함하고, 상기 제2 측면과 제4 측면을 검사하는 단계에서, 제2 검사 대상을 상기 제1 스테이지에 투입하여 대기시키는, 검사 방법을 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 측면과 제3 측면을 검사하는 단계, 및 상기 제2 측면과 제4 측면을 검사하는 단계에서, 상기 플리퍼는 상기 제1 검사 대상을 상승 또는 하강하면서 회전시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 플리퍼는, 상기 제1 측면 내지 제4 측면 중 어느 한 측면이 상방을 향하는 자세에서 시계 방향 또는 반시계 방향으로 소정 각도 내에서 상기 제1 검사 대상을 회전시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 스테이지는, 제1 고정 레일과 제1 이동 레일을 구비한 제1 레일부를 포함하고, 상기 제2 스테이지는, 제2 고정 레일과 제2 이동 레일을 구비한 제2 레일부를 포함하며, 상기 제1 이동 레일과 상기 제2 이동 레일이 서로 독립적으로 동작하여, 상기 제1 고정 레일과 제1 이동 레일 사이의 제1 폭과 상기 제2 고정 레일과 제2 이동 레일 사이의 제2 폭이 서로 다르게 될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 측면과 제4 측면을 검사하는 단계에서, 상기 제1 검사 대상의 상기 제2 측면과 제4 측면의 검사가 완료되면 상기 제1 검사 대상은 상기 제2 스테이지로부터 배출되고, 상기 제2 측면과 제4 측면의 검사가 완료되면 바로 상기 제2 검사 대상의 앞면 검사를 수행할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 검사 장치는 2개가 인접하여 배치되고, 상기 검사부는 2개의 상기 검사 장치들 사이를 이동하면서 검사를 수행하며, 2개의 상기 검사 장치들 중 어느 하나에서 상기 검사부에 의한 검사 동작이 수행될 때, 다른 하나에서 검사 대상의 이동 동작이 수행될 수 있다.
본 발명의 기술적 사상에 의한 검사 장치는 물리적으로 분리되고 독립적으로 동작하는 제1 스테이지와 제2 스테이지를 포함함으로써, 소정 단계에서 제1 스테이지와 제2 스테이지에 서로 다른 검사 대상이 배치되도록 할 수 있다. 그에 따라, 본 발명의 기술적 사상에 의한 검사 장치는 제2 스테이지에서 하나의 검사 대상의 검사 후에 제1 스테이지에 대기하고 있는 다른 검사 대상을 바로 검사할 수 있도록 함으로써, 검사 대상에 대한 신속하고 정확한 외관 검사를 수행할 수 있다.
또한, 본 발명의 기술적 사상에 의한 검사 방법은, 상기 검사 장치를 이용함으로써, 검사 대상에 대한 외관 검사를 보다 신속하고 정확하게 수행할 수 있다. 예컨대, 제1 스테이지에서 앞면 검사, 제2 스테이지의 플리퍼에서 첫 번째 측면 검사, 제1 스테이지에서 뒷면 검사, 그리고 다시 플리퍼에서 두 번째 측면 검사를 하는 순서로 검사 대상에 대한 외관 검사가 진행될 때, 제1 검사 대상에 대한 두 번째 측면 검사를 수행할 때, 이미 제2 검사 대상을 제1 스테이지의 표면 검사 위치에 대기시킴으로써, 제1 검사 대상의 두 번째 측면 검사가 완료되면 바로 제2 검사 대상에 대한 앞면 검사를 수행할 수 있다. 따라서, 본 발명의 기술적 사상에 의한 검사 방법은 제1 검사 대상의 배출과, 제2 검사 대상의 투입 및 표면 검사 위치로의 이동 시간만큼 검사 시간을 단축할 수 있다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치를 보여주는 사시도 및 평면도이다.
도 3은 도 1의 검사 장치에 검사 대상이 실제로 배치된 구조를 보여주는 사시도이다.
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 실시예들에 따른 검사부들의 작용과 검사 대상들의 위치 관계를 나타낸 측면도들이다.
도 5 및 도 6은 도 1의 검사 장치의 플리퍼 부분을 좀더 상세하게 보여주는 사시도들이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 방법을 개략적으로 나타낸 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 방법을 개략적으로 보여주는 흐름도이다.
도 9a 내지 도 9h는 도 8의 검사 방법을 도 1의 검사 장치에 적용하여 보여주는 사시도들이다.
도 10은 도 1의 검사 장치에서, 검사 대상의 측면들의 경사면을 검사하는 원리를 설명하기 위한 사시도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 12a 내지 도 12f는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치를 이용하여 검사 대상을 검사하는 방법을 나타낸 측면도들이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 2개의 검사 장치를 구비한 시스템에 대한 사시도이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 본 발명의 실시예들은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이며, 하기 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 오히려, 이들 실시예는 본 개시를 더욱 충실하고 완전하게 하고, 통상의 기술자에게 본 발명의 기술적 사상을 완전하게 전달하기 위하여 제공되는 것이다.
이하의 설명에서 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소에 연결된다고 기술될 때, 이는 다른 구성 요소와 바로 연결될 수도 있지만, 그 사이에 제3의 구성 요소가 개재될 수도 있다. 유사하게, 어떤 구성 요소가 다른 구성 요소의 상부에 존재한다고 기술될 때, 이는 다른 구성 요소의 바로 위에 존재할 수도 있고, 그 사이에 제3의 구성 요소가 개재될 수도 있다. 또한, 도면에서 각 구성 요소의 구조나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되었고, 설명과 관계없는 부분은 생략되었다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다. 한편, 사용되는 용어들은 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다.
도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(1000)를 개략적으로 보여주는 사시도 및 평면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 실시예의 검사 장치(1000)는 크게 제1 스테이지(100) 부분과, 및 제2 스테이지(200) 부분을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에 있어서, 상기 제1 스테이지(100)는 투입 스테이지(entry stage)일 수 있다. 일부 실시예들에 있어서, 상기 제2 스테이지(200)는 플립/배출 스테이지(flip/exit stage)일 수 있다.
제1 스테이지(100)는 검사 대상(S)이 투입되고, 표면 검사 위치(132)에서 검사부(도 9a의 300 참조)에 의해 검사 대상(S)의 제1면(F1) 및/또는 제2면(F2)의 검사가 수행되는 부분일 수 있다. 여기서, 검사 대상(S)은 인라인(In-Line)방식으로 생산되는 중에 외관 검사가 요구되는 미완성품일 수도 있고 공정을 모두 거친 완성품일 수도 있다. 이에 따라, 검사 장치(1000)는 인라인 설비들 중에 검사 대상을 제조하기 위한 특정 공정 설비 다음에 구비될 수 있으며, 검사 장치(1000)는 검사 대상(S)이 상기 특정 공정 설비에서 배출된 직후에 검사 대상(S)의 외관을 정해진 다수의 방향에서 검사할 수 있다.
예컨대, 검사 대상(S)은 정밀 가공 공정(CNC)을 통해 제작된 메탈 제품일 수 있다. 또한, 검사 대상(S)은 임의의 3차원 형상을 가지며, 각 검사 대상(S)에 관하여 편의적이거나, 기능적이거나 또는 관념적으로 제1면(F1)이 정해지면, 이 제1면(F1)에 대해 대체로 반대 방향에 제2면(F2)이, 그리고 제1면(F1)과 제2면(F2)의 사이에 측면들이 각각 정의될 수 있다. 다시 말해, 본 명세서에서 검사 대상(S)의 제1면(F1), 제2면(F2) 또는 측면들은 각각 3차원 공간 상에서 편의적이거나, 기능적이거나 또는 관념적으로 결정된 다수의 방향들의 각각에서 바라본 검사 대상(S)의 부분적 외관을 의미할 수 있다. 일부 실시예들에 있어서, 중립적이고 안정적인 자세로 검사 대상(S)이 검사 장치(1000)에 투입될 때에, 상방에서 보이는 검사 대상(S)의 외관이 제1면으로 정의될 수 있으며, 그러한 제1면(F1)을 기준으로 제2면(F2)과 측면들이 각각 결정될 수 있다. 또한 측면들은 검사 대상(S)이 검사 장치(1000)에 투입될 때의 제1 스테이지(100)의 폭에 상응하는 제1 폭(W1)을 가지는 측면들과, 제1 폭(W1)의 방향과 상이한 방향의 폭인 제2 폭(W2)을 가지는 측면들로 각각 구분될 수 있다. 이러한 맥락에서, 검사 대상(S)이 검사 장치(1000)에 투입되는 방향을 검사 대상(S)의 길이 방향이라 하고, 그 길이 방향에 직교하는 방향을 검사 대상의 폭 방향이라 할 수 있다. 상기 길이 방향과 상기 폭 방향은 반드시 직교하지 않을 수도 있다. 즉, 이러한 제1면(F1), 제2면(F2) 또는 측면들은 각각의 상응하는 방향들이 서로 직교할(orthogonal) 수 있어서 실질적으로 중첩되지 않을 수도 있지만, 경우에 따라서는 제1면(F1)과 측면들의 경계, 제2면(F2)과 측면들의 경계, 측면들 각각의 경계는 모호하며(blended) 중첩적일 수 있다.
일부 실시예들에 있어서, 검사 대상(S)은 육면체 구조, 또는 그에 근사될 수 있는 구조를 가질 수 있다. 예컨대, 검사 대상(S)은 x-y 평면 상으로 장변과 단변을 갖는 직사각형 형태를 가지며, z 축 방향으로 소정 두께를 갖는 육면체 구조를 가질 수 있다. 검사 대상(S)이 육면체 구조, 또는 그에 근사될 수 있는 구조를 갖는 경우, 본 실시예의 검사 장치(1000)는 6면 검사 장치일 수 있다. 물론, 검사 대상(S)의 재질이 메탈에 한정되거나, 또는 검사 대상(S)의 구조가 육면체에 한정되는 것은 아니다.
제1 스테이지(100)는 제1 레일부(110), 방향 전환부(120), 및 클램프(130)를 포함할 수 있다.
제1 레일부(110)로 검사 대상(S)이 투입될 수 있다. 일부 실시예들에 있어서, 제1 레일부(110)는 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114)을 구비할 수 있다. 제1 고정 레일(112)은 고정된 레일이고, 제1 이동 레일(114)은 이동 가능한 레일일 수 있다. 예컨대, 제1 이동 레일(114)이, 예컨대 제1 화살표(a1)로 표시된 방향(즉, +y 방향 또는 -y 방향)으로 이동하여, 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114) 사이의 간격이 검사 대상(S)의 폭에 맞도록 조절될 수 있다. 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114) 각각에는 이송 벨트(115)가 구비될 수 있다. 상기 이송 벨트(115)는 검사 대상(S)이 그 위에 안착되어 이송 벨트(115)의 이동에 따라 검사 대상(S)도 함께 이동될 수 있도록 구성될 수 있다. 상기 이송 벨트(115)는 제1 고정 레일(112), 제1 이동 레일(114), 제2 고정 레일(212), 및/또는 제2 이동 레일(214)의 각각을 따라 하나 이상의 궤도를 이루는 띠의 형태를 가질 수 있다. 하지만 본 발명이 이러한 이송 벨트(115)에 한정되는 것은 아니고 다른 이송 수단을 이용하여 검사 대상(S)이 이송될 수도 있다. 이러한 제1 레일부(110)는 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114) 사이에 검사 대상을 배치하여 이송 벨트(115)를 통해 검사 대상을 소정 위치로 이송할 수 있다. 예컨대, 제1 레일부(110)는 투입된 검사 대상을 표면 검사 위치(132)로 이송하여 제1면(F1) 또는 제2면(F2)에 대한 검사가 수행된 후에, 또는, 플리퍼(220, flipper)에서 검사 대상의 측면 검사가 수행된 후에, 검사 대상(S)을 다시 방향 전환부(120) 위치로 이송할 수 있다. 한편, 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114)에는 그루브(G)가 형성되어 있는데, 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114) 사이의 간격이 좁아질 때, 그루브(G)가 방향 전환부(120)의 파지용 핑거들(122)을 수용할 수 있다.
한편, 제1 레일부(110)에서, 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114)의 위치는 서로 바뀔 수 있다. 또한, 제1 레일부(110)는 고정된 레일과 이동 가능한 레일의 구조 대신에 2개의 레일이 동시에 이동할 수 있는 구조로 구성될 수도 있다.
방향 전환부(120)는 검사 대상을 수평으로 소정 각도, 예컨대 90° 회전시킬 수 있다. 여기서 수평으로 소정 각도 회전시킨다 함은 xy 평면 내에서 z 축을 회전축으로 하여 소정 각도만큼 방향 전환시킴을 의미할 수 있다. 예컨대, 방향 전환부(120)는 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114) 사이에 길이 방향으로 배치된 검사 대상을 수평으로 90° 회전시켜, 검사 대상이 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114) 사이에 폭 방향으로 배치되도록 할 수 있다. 이를 위하여 방향 전환부(120)는 상기 검사 대상(S)을 상승된 상태에서 소정 각도, 예컨대 90° 회전시킬 수 있다. 구체적으로, 방향 전환부(120)는 길이 방향으로 반입된 검사 대상(S)을 상승시킬 수 있다. 이어서, 상승된 상태에서 검사 대상(S)을 소정 각도 회전시켜 예를 들면 폭 방향을 갖도록 할 수 있다. 이 때 상기 제1 이동 레일(114)이 제1 고정 레일(112)에 대하여 상기 검사 대상(S)의 폭에 대응되는 거리를 갖도록 이동될 수 있다. 상기 검사 대상(S)의 회전과 상기 제1 이동 레일(114)의 이동이 완료되면, 상기 방향 전환부(120)는 검사 대상(S)을 하강하여 이송 벨트(115) 위에 상기 검사 대상(S)을 안착시킬 수 있다. 검사 대상(S)이 상승된 상태에서 소정 각도 회전되는 단계와 상기 제1 이동 레일(114)이 제1 고정 레일(112)에 대하여 이동되는 단계는 순차적으로 이루어질 수도 있고, 동시에 수행될 수도 있다.
일부 실시예들에 있어서, 상기 제1 이동 레일(114)이 제1 고정 레일(112)에 대하여 이동될 때 상기 방향 전환부(120)가 상기 제1 이동 레일(114)과 동일한 방향으로 이동하도록 구성될 수 있다. 다만 상기 방향 전환부(120)가 이동하는 거리는 상기 제1 이동 레일(114)이 이동하는 거리와 상이할 수 있다. 예를 들면, 상기 방향 전환부(120)가 이동하는 거리는 상기 제1 이동 레일(114)이 이동하는 거리의 절반일 수 있다. 일부 실시예들에 있어서, 상기 방향 전환부(120)는 상기 제1 이동 레일(114)과 상기 제1 고정 레일(112) 사이의 중심에 위치하도록 이동하게 구성될 수 있다.
일부 실시예들에 있어서, 방향 전환부(120)는 검사 대상을 폭 방향에서 길이 방향으로 회전시킬 수도 있다. 여기서, 수평은 검사 대상의 제1면(F1) 또는 제2면(F2)이 상방을 향할 때, 제1면(F1) 또는 제2면(F2)에 평행한 면을 의미하며, 이하, 검사 대상(S)의 제1면(F1) 또는 제2면(F2)이 상방을 향하는 상태를 ‘수평 상태’라 한다. 검사 대상(S)의 수평 회전은 제1면(F1) 또는 제2면(F2)의 법선을 축으로 하는 회전을 포함할 수 있다. 길이 방향은 검사 대상(S)의 장변이 제1 고정 레일(112) 또는 제1 이동 레일(114)에 평행한 방향이며, 폭 방향은 검사 대상의 단변이 제1 고정 레일(112) 또는 제1 이동 레일(114)에 평행한 방향일 수 있다.
방향 전환부(120)는 도시된 바와 같이 검사 대상이 길이 방향으로 올려져 안착되도록 하는 파지용 핑거들(122)을 구비하며, 검사 대상의 상승, 회전 및 하강 과정을 통해 검사 대상을 수평으로 회전시킬 수 있다. 다시 말해서, 제1 레일부(110)에 배치된 검사 대상은 방향 전환부(120)를 통해 제1 레일부(110)로부터 분리되어 상승하고, 90° 회전 후 하강하여 다시 제1 레일부(110)에 배치될 수 있다. 한편, 방향 전환부(120)를 통한 검사 대상의 회전은 상승 또는 하강 과정에 동시에 수행될 수도 있다. 방향 전환부(120)를 통한 검사 대상의 90° 회전은 한 번의 회전을 통해 이루어질 수도 있고 여러 번의 회전을 통해 이루어질 수도 있다.
지금까지 방향 전환부(120)의 구조 및 동작에 대해 간단히 설명하였지만, 이는 예시적인 것에 불과하며 방향 전환부(120)의 구조나 동작이 그에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 검사 대상을 레일에 충돌하지 않도록 하면서 90° 회전시킬 수 있는 모든 방향 전환부의 구조 및 동작이 본 실시예의 검사 장치(1000)에 적용될 수 있음은 물론이다.
클램프(130)는 표면 검사 위치(132)에서 검사 대상을 고정하는 기능을 할 수 있다. 예컨대, 검사 대상이 제1 레일부(110)를 통해 표면 검사 위치(132)로 이동되면, 클램프(130)가 검사 대상의 측면을 압착하여 검사 대상을 견고하게 고정함으로써, 검사부에 의한 검사가 안정적이고 정밀하게 수행될 수 있도록 한다.
제2 스테이지(200)는 제2 레일부(210) 및 플리퍼(220)를 포함할 수 있다.
검사 대상의 검사가 완료되면, 제2 레일부(210)를 통해 검사 대상이 외부로 배출될 수 있다. 제2 레일부(210) 역시 고정된 제2 고정 레일(212)과 이동 가능한 제2 이동 레일(214)을 구비하며, 제2 이동 레일(214)은 검사 대상의 폭에 맞도록 제2 화살표(a2)로 표시된 방향으로 이동할 수 있다. 또한, 제2 고정 레일(212)과 제2 이동 레일(214) 각각에 이송 벨트(215)가 구비될 수 있다. 제2 레일부(210)에서도 제2 고정 레일(212)과 제2 이동 레일(214)의 위치는 서로 바뀔 수 있다. 경우에 따라, 제2 레일부(210)는 제2 고정 레일(212)과 제2 이동 레일(214)이 동시에 이동할 수 있는 구조로 구성될 수도 있다.
플리퍼(220)는 검사 대상(S)의 일측이 상방을 향하도록 검사 대상(S)을 플리핑(flipping)시키는 장치일 수 있다. 여기서, 플리핑은 2개의 플리퍼(220)의 중심을 잇는 y 방향의 가상의 직선을 플리핑축(C)으로 한 소정 각도만큼의 회전 내지는 방향 전환을 의미할 수 있다. 한편, 상기 플리핑축(C)은 제2 고정 레일(212)이 연장하는 방향과 수직하고 검사 대상의 제1면 또는 제2면에 평행할 수 있다. 이하, 검사 대상(S)의 일측이 상방을 향하는 상태를 ‘수직 상태’라 한다.
좀더 구체적으로, 제1측면, 제2측면, 제3측면, 및 제4측면을 갖는 검사 대상(S)의 제1면(F1) 또는 제2면(F2)이 상방을 향하는 수평 상태에 있을 때, 플리퍼(220)는 검사 대상(S)을 소정 각도, 예컨대 약 90° 플리핑시켜 검사 대상의 4개 측면들 중 하나인 제1측면이 상방을 향하는 수직 상태가 되도록 할 수 있다. 또한, 플리퍼(220)는 검사 대상(S)이 수직 상태에 있을 때, 검사 대상(S)을 약 180° 플리핑시켜, 다시 수직 상태가 되도록 하되 제1측면과 제1측면의 반대쪽 측면인 제3측면의 위치가 바뀌도록 할 수 있다. 예컨대, 플리퍼(220)는 검사 대상(S)의 제1 측면이 상방을 향할 때, 검사 대상(S)을 대략 180° 플리핑시켜, 제1 측면에 반대되는 제3 측면이 상방을 향하도록 할 수 있다. 또한, 검사 대상(S)의 제2 측면이 상방을 향할 때, 플리퍼(220)는 검사 대상(S)을 대략 180° 플리핑시켜, 제2 측면에 반대되는 제4 측면이 상방을 향하도록 할 수 있다. 한편, 검사 대상(S)은 검사될 측면 부분이 플리퍼(220)의 한쪽 끝단에 정렬되도록 위치될 수도 있고, 또는 상기 끝단에서 약간 돌출되도록 위치될 수도 있다. 검사될 측면 부분이 플리퍼(220)의 한쪽 끝단으로부터 약간 돌출됨으로써 플리퍼(220)의 끝단이 검사부에 의한 검사를 위한 초점 범위로부터 제외될 수 있다. 따라서 검사될 측면 부분이 상기 끝단으로부터 돌출되는 정도는 이러한 점을 고려하여 결정될 수 있다.
상기 플리퍼(220)가 검사 대상(S)을 플리핑시킴에 따라 검사 대상(S)의 피검사 측면과 검사부 사이의 거리가 달라질 수 있다. 따라서, 적합한 검사를 위한 검사 대상(S)의 피검사 측면과 검사부 사이의 거리를 확보하기 위하여 검사 대상(S)을 플리핑시키는 단계와 동시에 또는 이시에 플리핑축(C)과 검사부의 상대적인 거리가 조정될 수 있다. 일부 실시예들에 있어서, 검사 대상(S)을 약 90° 플리핑시키는 경우, 플리퍼(220)는 플리핑 후 또는 플리핑하면서 하방으로 하강할 수도 있고, 플리퍼(220)의 플리핑 후 또는 플리핑과 동시에 검사부가 상승할 수도 있다. 또한, 검사 대상(S)을 약 180° 플리핑시키는 경우, 플리퍼(220)는 상승하면서 약 90° 플리핑시킨 후 하강하면서 나머지 약 90° 플리핑시키며 전체 약 180° 플리핑을 달성할 수 있다. 또한, 플리퍼(220)는 상방으로 상승한 후 180°플리핑하고 다시 하강할 수도 있다. 이 때 통상의 기술자는 상기 플리퍼(220)를 상승 및/또는 하강시키는 대신 검사부를 하강 및/또는 상승시킬 수 있음을 이해할 것이다. 여기서, 플리퍼(220)와 검사부의 상대적인 거리를 조정하는 이유는, 정확한 검사를 위해 검사 대상(S)의 피검사 측면과 검사부 사이의 거리를 적정하게 확보하기 위함이다. 한편, 검사 대상(S)을 180° 플리핑시키는 경우에, 검사 대상(S)은 검사될 측면 부분이 플리퍼(220)의 끝단 부분에 정렬되도록 위치될 수도 있고 상기 끝단에서 약간 돌출되도록 위치될 수도 있다. 검사될 측면 부분이 플리퍼(220)의 한쪽 끝단으로부터 약간 돌출됨으로써 플리퍼(220)의 끝단이 검사부에 의한 검사를 위한 초점 범위로부터 제외될 수 있다. 따라서 검사될 측면 부분이 상기 끝단으로부터 돌출되는 정도는 이러한 점을 고려하여 결정될 수 있다. 플리퍼(220)의 구체적인 구조에 대해서는 도 5 및 도 6의 설명 부분에서 좀더 상세히 설명한다.
제2 레일부(210)와 플리퍼(220)는 동일한 프레임에 함께 연결되어 있다. 그에 따라, 제2 레일부(210)과 플리퍼(220)의 폭 조절은 함께 이루어질 수 있다. 다시 말해서, 제2 고정 레일(212)과 그에 x방향으로 이웃하는 플리퍼(220)의 y방향 위치는 고정될 수 있다. 또, 제2 이동 레일(214)과 그에 x방향으로 이웃하는 플리퍼(220)는 y방향으로 이동 가능하여 검사 대상(S)의 폭에 따라 함께 이동할 수 있다. 그러나 본 실시예의 검사 장치(1000)의 구조가 그에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 플리퍼(220)는 제2 레일부(210)와 독립적으로 이동하도록 구성될 수도 있다. 한편, 플리퍼(220)의 이동은 제2 화살표(a2) 방향으로의 이동을 의미하고, 플리퍼(220)의 플리핑은 제2 레일부(210)의 이동과 상관없이 독립적으로 수행될 수 있다.
본 실시예의 검사 장치(1000)에서, 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)는 컨트롤러의 제어 하에 각각 독립적으로 동작 가능하도록 구성될 수 있다. 좀더 구체적으로, 제1 스테이지(100)의 제1 레일부(110)와 제2 스테이지(200)의 제2 레일부(210)는 물리적으로 분리되어 있고, 그에 따라, 제1 레일부(110)의 폭 조절과 제2 레일부(210)의 폭 조절은 독립적으로 이루어지고, 그에 따라, 일부 검사 단계(들)에서 제1 레일부(110)와 제2 레일부(210)는 서로 다른 폭을 가질 수 있다. 예컨대, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 레일부(110)는 제1 폭(W1)을 유지하고, 제2 레일부(210)는 제1 폭(W1)보다 작은 제2 폭(W2)을 유지할 수 있다.
또한 검사 대상이 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)의 사이를 오갈 수 있도록, 특히 검사 대상이 제1 레일부(110)와 플리퍼(220)의 사이를 원활하게 오갈 수 있도록 제1 레일부(110)의 간격, 플리퍼(220)의 간격은 적절히 제어되며, 제1레일부(110)와 플리퍼(220) 사이의 x 방향 간격도 적절히 결정될 수 있다.
이러한 구조적인 특징에 기인하여, 본 실시예의 검사 장치(1000)는, 소정의 일부 단계에서 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)에 서로 다른 검사 대상이 배치될 수 있다. 예컨대, 제2 스테이지(200)에 제1 검사 대상이 배치되어 측면 검사가 이루어지고, 제1 스테이지(100)에 제2 검사 대상이 배치되어 제1면(F1) 또는 제2면(F2) 검사를 위해 대기하거나, 또는 제1면(F1) 또는 제2면(F2) 검사가 수행될 수 있다. 좀더 구체적으로, 하나의 검사부를 이용하여 검사하는 경우, 제2 스테이지(200)에서 제1 검사 대상에 대한 측면 검사를 수행할 때에, 제1 스테이지(100)에 제2 검사 대상이 투입되어 제1면(F1) 또는 제2면(F2) 검사를 위해 대기할 수 있다. 또한, 제2 스테이지(200)에서 제1 검사 대상에 대한 측면 검사가 완료되면, 제1 스테이지(100)에 대기하고 있는 제2 검사 대상에 대한 제1면(F1) 또는 제2면(F2) 검사가 바로 수행될 수 있다.
본 실시예의 검사 장치(1000)는 물리적으로 분리되고 독립적으로 동작 가능한 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)를 포함함으로써, 소정 단계에서 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)에 서로 다른 검사 대상이 배치되도록 할 수 있다. 그에 따라, 본 실시예의 검사 장치(1000)는 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)에 배치된 2개의 검사 대상들을 두 개의 검사부들을 이용하여 동시적으로 검사하거나, 또는 하나의 검사부를 이용하여 연속적으로 검사함으로써, 검사 대상에 대한 외관 검사를 신속하고 정확하게 수행할 수 있다.
도 3은 도 1의 검사 장치에 검사 대상이 실제로 배치된 구조를 보여주는 사시도이다.
도 3을 참조하면, 본 실시예의 검사 장치에서, 제1 검사 대상(1500-1)이 제2 스테이지(200)에 배치되고, 제2 검사 대상(1500-2)은 제1 스테이지(100)에 배치될 수 있다. 또한, 제1 검사 대상(1500-1)은 제2 레일부(210)에 길이 방향으로 배치되어, 제2 레일부(210)의 제2 고정 레일(212)과 제2 이동 레일(214) 사이의 간격은 제1 검사 대상(1500-1)의 단변에 대응하는 제2 폭(W2)을 가질 수 있다. 그에 반해, 제2 검사 대상(1500-2)은 제1 레일부(110)에 폭 방향으로 배치되어, 제1 레일부(110)의 제1 고정 레일(112)과 제1 이동 레일(114) 사이의 간격은 제2 검사 대상(1500-2)의 장변에 대응하는 제1 폭(W1)을 가질 수 있다.
제1 검사 대상(1500-1)은 플리퍼(220)에 배치되어, 플리퍼(220)에 의한 플리핑을 통해 수직 상태로 자세가 변경된 후, 제1 검사 대상(1500-1)의 제2 폭(W2)의 측면이 검사부를 통해 검사될 수 있다. 제1 검사 대상(1500-1)이 제2 폭(W2)의 측면에 관하여 검사되는 동안에, 제2 검사 대상(1500-2)은 클램프(130)가 위치하는 표면 검사 위치(132)에 배치되어, 대기하거나 또는 별도의 검사부를 통해 검사될 수 있다.
본 실시예의 검사 장치(1000)에서 검사부는 한 개 구비될 수 있다. 그에 따라, 제2 스테이지(200)에서 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 측면 검사가 먼저 수행되고, 이후, 검사부가 이동하여 제1 스테이지(100)에서 제2 검사 대상(1500-2)에 대한 제1면 검사가 수행될 수 있다. 물론, 제2 검사 대상(1500-2)의 제1면 검사가 먼저 수행되고, 제1 검사 대상(1500-1)의 측면 검사가 수행될 수도 있다. 경우에 따라, 본 실시예의 검사 장치는 검사부를 2개 이상 구비할 수 있다. 검사부를 2개 이상 구비하는 경우에, 제2 스테이지(200)에서 제1 검사 대상(1500-1)의 측면 검사와 제1 스테이지(100)에서 제2 검사 대상(1500-2)의 제1면 검사 및/또는 제2면 검사가 동시에 수행될 수도 있다.
한편, 처음에 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)의 어느 면이 상방을 향하도록 제1 스테이지(100)에 투입되느냐에 따라, 및/또는 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)의 검사 시점에 따라 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)의 제1면과 제2면의 방향은 바뀔 수 있다.
보다 구체적으로, 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)은 제1 스테이지(100)로 반입될 때의 제1면(또는 제2면)이 향하는 방향에 따라 제1면과 제2면이 서로 상반될 수 있다. 예컨대, 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)의 앞면이 상방을 향하도록 제1 스테이지(100)로 투입되는 경우, 일련의 과정을 거쳐, 도 3에 도시된 바와 같이, 제1 검사 대상(1500-1)은 제2면(F2)이 상방을 향하도록 제2 스테이지(200)의 플리퍼(220)에 배치되고, 제2 검사 대상(1500-2)은 제1면(F1)이 상방을 향하도록 제1 스테이지(100)에 배치될 수 있다. 만약, 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)의 제2면(F2)이 상방을 향하도록 제1 스테이지(100)로 투입되는 경우, 일련의 과정을 거쳐 제1 검사 대상(1500-1)은 제1면이 상방을 향하도록 제2 스테이지(200)의 플리퍼(220)에 배치되고, 제2 검사 대상(1500-2)은 제2면이 상방을 향하도록 제1 스테이지(100)에 투입되어 배치될 수 있다.
또한 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)은 검사 시점에 따라 제1면과 제2면이 상반될 수 있다. 예컨대 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)은 검사되는 시점에 따라서 표면 검사 위치(132)에서 제1면 또는 제2면이 상방을 향할 수 있고, 플리퍼(220)에서 상방을 향하는 측면이 각 검사 대상(1500-1, 1500-2)의 임의의 측면이 될 수 있다. 본 발명은 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)이 표면 검사 위치(132)에서 상방을 향하는 방향과 플리퍼(220)에서 상방을 향하는 측면의 방향이 조합될 수 있는 모든 가능한 경우들을 모두 포함한다.
또한, 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)이 제1 스테이지(100)에 길이 방향으로 투입되느냐, 또는 폭 방향으로 투입되느냐에 따라, 제1 검사 대상(1500-1)과 제2 검사 대상(1500-2)의 배치 방향은 바뀔 수 있다. 예컨대, 검사 대상이 폭 방향으로 투입되는 경우에는 도 3과 같은 배치 방향을 가질 수 있다. 그러나 만약 검사 대상이 길이 방향으로 투입되는 경우에, 제2 스테이지(200)에는 제1 검사 대상(1500-1)이 폭 방향으로 배치되고, 제1 스테이지(100)에는 제2 검사 대상(1500-2)이 길이 방향으로 배치되는 배치 방향을 가질 수 있다.
전술한 검사 대상들의 제1 스테이지(100)로의 투입에서, 제1면 또는 제2면이 상방으로 향하느냐, 또는 길이 방향 또는 폭 방향으로 투입되느냐 등은 예시들에 불과할 수 있다. 예컨대, 본 실시예의 검사 장치(1000)에서, 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)는 독립적으로 동작할 수 있는바, 검사 대상들이 제1 스테이지(100)에 투입될 때, 앞면 또는 뒷면과, 길이 방향 또는 폭 방향이 다양하게 선택될 수 있다. 그에 따라, 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)에서 검사 대상들의 상방으로 향하는 면과 배치 방향이 다양하게 나타날 수 있다.
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 실시예들에 따른 검사부들(300, 300a, 300b, 300s, 300sb)의 작용과 검사 대상들(1500-1, 1500-2)의 위치 관계를 나타낸 측면도들이다.
도 4a를 참조하면, 플리퍼(220)에 제1 검사 대상(1500-1)이 플리핑된 상태로 배치되고, 제2 검사 대상(1500-2)은 표면 검사 위치(132)에 배치될 수 있다. 상기 표면 검사 위치(132)는 클램프(130)에 인접하는 위치일 수 있다. 또한 이 때 제 2 검사 대상(1500-2)이 상방을 향하는 방향은 제1면일 수도 있고 제2면일 수도 있다.
일부 다른 실시예들에 있어서, 플리퍼(220)에 제1 검사 대상(1500-1)이 플리핑된 상태로 배치되고, 제2 검사 대상(1500-2)은 투입되는 위치(도 1 참조)에 위치할 수 있다. 이 때 제2 검사 대상(1500-2)이 상방을 향하는 방향도 제1방향과 제2방향 중 임의로 선택될 수 있다. 이 때 제1 검사 대상(1500-1)이 검사부(300)에 의하여 검사되는 동안, 검사되기 직전, 또는 검사된 직후에 상기 제2 검사 대상(1500-2)은 클램프(130)에 인접하는 표면 검사 위치로 이송될 수 있다.
일부 실시예들에 있어서, 검사부(300)는 제1 검사 대상(1500-1)의 측면을 검사한 후 표면 검사 위치로 이동하여 제2 검사 대상(1500-2)이 위치하는 표면 검사 위치로 이동하여 상기 제2 검사 대상(1500-2)의 제1면 또는 제2면을 검사할 수 있다.
일부 실시예들에 있어서, 상기 제1 검사 대상(1500-1)을 플리핑하기 위하여 플리퍼(220)의 폭이 제1폭 또는 이보다 좁은 제2폭을 갖도록 조절될 수 있다. 본 발명의 실시예들은, 플리퍼(220)의 가능한 폭들 각각에 대하여 제1 레일부(110)가 제1폭 또는 이보다 좁은 제2폭을 갖는 경우가 조합되는 모든 가능한 실시예들을 포함한다.
도 4b는 2 개의 검사부, 즉 플리퍼(220)의 상부에 위치하는 제1 검사부(300a)와 표면 검사 위치에 위치하는 제2 검사부(300s)를 포함하는 점을 제외하면 도 4a를 참조하여 설명한 실시예와 동일하다. 따라서 이하에서 중복되는 설명을 생략하고 차이점을 중심으로 설명한다.
도 4b의 실시예는 표면 검사 위치에 위치하는 제2 검사부(300s)를 더 포함하므로, 도 4a를 참조하여 설명한 실시예에서와 같이 검사부(300)가 플리퍼(220)와 표면 검사 위치 사이를 오갈 필요가 없으며, 그에 따라 검사 시간이 단축될 수 있다.
도 4c는 2 개의 검사부, 즉 플리퍼(220)의 상부에 위치하는 제1 검사부(300a)와 플리퍼(220)의 하부에 위치하는 제3 검사부(300b)를 포함하는 점을 제외하면 도 4a를 참조하여 설명한 실시예와 동일하다. 따라서 이하에서 중복되는 설명을 생략하고 차이점을 중심으로 설명한다.
도 4c의 실시예는 플리핑된 검사 대상의 두 개의 반대 쪽에 위치하는 측면들을 제1 검사부(300a)와 제3 검사부(300b)가 동시에 검사할 수 있으므로 반대쪽 측면의 검사를 위해 검사 대상을 180° 플리핑할 필요가 없다. 따라서 플리퍼(220)에서의 검사 시간을 크게 단축할 수 있다.
또한 플리퍼(220)에 위치된 검사 대상을 검사한 후에 또는 그 이전에 표면 검사 위치의 검사 대상의 제1면 및 제2면을 동시에 검사할 수 있다. 그렇기 때문에 제1면과 제2면 중 다른 하나의 표면을 검사하기 위해 표면 검사 위치에서 추가적인 검사를 수행할 필요가 없고 그에 따라 검사 시간이 단축될 수 있다.
도 4d는 4 개의 검사부, 즉 플리퍼(220)의 상부와 하부에 각각 위치하는 제1 검사부(300a) 및 제3 검사부(300b), 그리고 표면 검사 위치의 상부와 하부에 각각 위치하는 제 2 검사부(300s) 및 제 4 검사부(300sb)를 포함하는 점을 제외하면 도 4a를 참조하여 설명한 실시예와 동일하다. 따라서 이하에서 중복되는 설명을 생략하고 차이점을 중심으로 설명한다.
도 4d의 실시예는 표면 검사 위치에서 제1면과 제2면을 동시에 검사할 수 있고, 플리퍼(220)에서는 플리핑된 검사 대상의 두 개의 반대 쪽에 위치하는 측면들을 동시에 검사할 수 있다. 플리퍼(220)에서 플리핑된 검사 대상의 측면들(예컨대 단변측)을 검사한 후에는 방향 전환부에서의 방향 전환을 수행한 후 플리퍼(220)에서 검사 대상의 나머지 두 측면들(예컨대 장변측)을 검사함으로써 모든 검사가 종료될 수 있다. 따라서 검사 대상의 1회의 방향 전환에 의하여 모든 검사가 완료될 수 있기 때문에 검사 시간이 크게 단축될 수 있다.
도 5 및 도 6은 도 1의 검사 장치의 플리퍼 부분을 좀더 상세하게 보여주는 사시도들이다.
도 5를 참조하면, 전술한 바와 같이, 플리퍼(220)는 검사 대상의 일부 측면들을 고정한 상태에서 검사 대상의 나머지 측면들 중 검사될 하나의 측면이 상방을 향하도록 플리핑시키는 기능을 수행할 수 있다. 선택적으로, 플리퍼(220)는, 검사 대상의 검사될 측면이 검사부로부터 소정 거리에 놓이도록, 검사 대상을 플리퍼(220) 내에서 상승 또는 하강시키거나 또는 플리퍼(220) 자체를 상승 또는 하강시키는 기능도 수행할 수 있다.
플리퍼(220)의 이송 벨트(222)가 제1 스테이지(100)의 이송 벨트(115)에 연동될 수 있는 위치에 있을 때에, 검사 대상은 제1 레일부(110)를 통해 제1 스테이지(100)로부터 플리퍼(220) 부분으로 이동할 수 있다. 플리퍼(220)는 제1 레일부(110)의 이송 벨트(115)와 연계하여 검사 대상을 이송시킬 수 있는 이송 벨트(222)를 구비할 수 있다. 이송 벨트(222)는 검사 대상을 플리퍼(220)의 적정 위치로 이동시킬 수 있다. 플리퍼(220)에는 검사 대상이 적정 위치에 있는가를 판단하는 센서가 구비될 수 있다. 여기서, 적정 위치는 검사 대상의 검사될 측면이 플리퍼(220)의 한쪽 끝단에 일치된 위치, 또는 한쪽 끝단에서 약간 돌출된 위치에 해당할 수 있다.
한편, 플리퍼(220)의 플리핑을 위한 구동 신호로서, 전기 신호가 플리퍼(220)로 인가될 수 있는데, 본 실시예의 검사 장치에서는 플리퍼(220)로의 전기 신호의 인가를 위해 슬립 링(224, slip ring)의 구조가 채용될 수 있다. 슬립 링(224)의 구조는 이미 알려져 있으므로 그에 대한 구체적인 설명은 생략한다. 이와 같이 슬립 링(224)의 구조가 플리퍼(220)에 채용됨으로써, 플리퍼(220)는 동일 방향으로의 무한 회전이 가능할 수 있다. 참고로, 슬립 링의 구조 대신에 일반적인 직결 구조의 배선을 통해 전기 신호가 인가되는 경우, 플리퍼(220)의 일방향 회전에 의해 배선의 꼬임이 발생할 수 있다. 따라서, 이 경우 플리퍼(220)는 어느 한 방향으로 회전 후 배선의 꼬임을 풀기 위하여 상기 플리퍼(220)를 다시 반대 방향으로 회전시켜야 하는 제한을 받을 수 있다. 그러나 본 실시예의 검사 장치에서는 플리퍼(220)에 슬립 링(224) 구조를 채용함으로써, 배선 꼬임의 문제없이 플리퍼(220)를 임의의 회전각 및 방향으로 자유롭게 회전시킬 수 있다.
도 6을 참조하면, 플리퍼(220)에는 구동 기어(272), 구동 풀리(246, 248), 플리퍼 벨트(240), 제1 아이들 기어(274), 제2 아이들 기어(276), 클램프 플레이트(226, clamp plate)가 배치될 수 있다.
플리퍼 벨트(240)는 플리퍼(220)의 안쪽 면 상에 위 아래로 이격되어 배치된 제1 벨트(222) 및 제2 벨트(224)로 구성될 수 있다. 제1 벨트(222) 및 제2 벨트(224)는 각각 구동 풀리(246, 248) 및 2 이상의 지지 롤러들(249)에 의하여 지지될 수 있으며, 상기 구동 풀리(246, 248)가 회전됨에 따라 주행될 수 있다.
좀 더 구체적으로, 제1 벨트(222) 및 제2 벨트(224)를 구동시키기 위하여, 플리퍼(220)에 회전 가능하도록 설치되는 구동 기어(272), 그리고 플리퍼(220)의 바깥쪽 면 상에 회전 가능하도록 설치된 제1 아이들 기어(274) 및 제2 아이들 기어(276)가 구비될 수 있다. 제1 아이들 기어(274)는 제1 벨트(222)를 지지하는 구동 풀리(246)와 회전축을 통하여 연결될 수 있으며, 제2 아이들 기어(276)는 제2 벨트(224)를 지지하는 구동 풀리(248)와 회전축을 통하여 연결될 수 있다.
검사 대상을 이송시키기 위하여, 구동 기어(272)는 제1 아이들 기어(274) 및 제2 아이들 기어(276) 중 어느 하나와 맞물려 회전될 수 있다. 예컨대, 제2 벨트(224)와 연결된 제2 아이들 기어(276)가 구동 기어(272)와 맞물리면, 구동 기어(272)의 회전에 따라 제2 아이들 기어(276)가 회전하면서 제2 벨트(224)가 구동될 수 있다. 반면, 이와 다르게 플리퍼(220)가 180° 회전된 경우, 제1 벨트(222)와 연결된 제1 아이들 기어(274)가 구동 기어(272)와 맞물리면, 구동 기어(272)의 회전에 따라 제1 아이들 기어(274)가 회전하면서 제1 벨트(222)가 구동될 수 있다. 즉, 제1 벨트(222)와 제2 벨트(224)는 독립적으로 구동되어, 검사 대상을 이송할 수 있다.
클램프 플레이트(226)는 검사 대상이 플리퍼(220)의 적정 위치에 왔을 때, 검사 대상을 압착하여 고정함으로써, 회전 및/또는 검사 중에 검사 대상이 플리퍼(220)에 견고하게 고정되도록 할 수 있다. 도시된 바와 같이, 클램프 플레이트(226)는 2개로 분리된 구조를 가질 수 있다. 예컨대, 클램프 플레이트(226)는 중심 부분에서 서로 분리된 제1 플레이트 부분(226a)과 제2 플레이트 부분(226b)을 구비할 수 있다.
클램프 플레이트(226)는 클램프 실린더(228)에 의해 내부 쪽으로 이동하여 검사 대상을 압착하게 되는데, 클램프 실린더(228)가 외곽 양쪽으로 배치되고 클램프 플레이트가 길게 일체형으로 형성되는 경우, 중심 부분에서 힘 전달이 약화 될 수 있다. 또한, 플리퍼(220)의 한쪽 끝단 부분에서만 검사 대상을 압착 고정하는 경우가 있을 수 있다. 본 실시예의 검사 장치(1000)는, 중심 부분의 힘 전달의 향상 및/또는 위치별 압착 고정을 위해 제1 플레이트 부분(226a)과 제2 플레이트 부분(226b)으로 분리된 구조의 클램프 플레이트(226)를 채용할 수 있다. 물론, 본 실시예의 검사 장치(1000)에서, 클램프 플레이트(226)는 일체형의 구조로 형성될 수도 있다. 또한, 클램프 실린더(228)의 위치가 변경될 수도 있다. 여기서, 229는 가이드 샤프트(guide shaft)로서, 가이드 샤프트(229)에는 복귀 스프링이 배치되어 클램프 플레이트(226)의 복귀를 용이하도록 할 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 방법을 개략적으로 나타낸 흐름도이다.
도 7을 참조하면, 제1 스테이지(100)로 제1 검사 대상(1500-1)을 반입할 수 있다(S110). 상기 제1 검사 대상(1500-1)은 예를 들면 길이 방향으로 제1 레일부(110)에 의하여 일단 방향 전환부(120)의 상부로 반입될 수 있다.
계속하여 상기 제1 검사 대상(1500-1)은 방향 전환부(120)를 거쳐 표면 검사 위치(132)로 이송될 수 있다. 이어서 표면 검사 위치(132)에서 제1 검사 대상(1500-1)의 제1면이 검사부에 의하여 검사될 수 있다(S120).
상기 제1면을 검사한 후 상기 제1 검사 대상(1500-1)은 측면 검사를 위해 플리퍼(220)로 이송될 수 있다. 플리퍼(220)는 상기 제1 검사 대상(1500-1)을 플리핑하고, 상기 제1 검사 대상(1500-1)의 반대되는 두 측면들은 검사부에 의하여 검사될 수 있다(S130). 일부 실시예들에 있어서, 제1 검사 대상(1500-1)의 한 쪽 측면이 검사된 후 플리퍼(220)는 상기 제1 검사 대상(1500-1)을 180° 플리핑할 수 있고, 그에 의하여 반대쪽 측면이 검사부에 의하여 검사될 수 있다. 그러나 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니다. 만일 플리퍼(220)의 상부와 하부에 각각 검사부가 배치되는 경우 제1 검사 대상(1500-1)의 180° 플리핑은 불필요할 수 있다.
이어서 상기 제1 검사 대상(1500-1)은 다시 방향 전환부(120)의 상부로 이송된 후 방향 전환될 수 있다(S142). 다시 말해, 길이 방향으로 반입된 제1 검사 대상(1500-1)이 폭 방향을 가질 수 있도록 제1 검사 대상(1500-1)을 수평 방향으로 약 90°만큼 방향을 전환할 수 있다. 이를 위하여 방향 전환부(120)는 제1 검사 대상(1500-1)을 이송 벨트(115)의 상부로 상승시키고 수평 방향으로 약 90°만큼 방향을 전환한 후 다시 제1 검사 대상(1500-1)을 이송 벨트(115) 위로 안착시킬 수 있다.
그런 다음 제1 검사 대상(1500-1)을 표면 검사 위치(132)로 이송한 후 제1 검사 대상(1500-1)의 제2면에 대하여 검사를 수행할 수 있다(S148). 일부 실시예들에 있어서 제1면을 검사할 때와 제2면을 검사할 때의 표면 검사 위치에서의 제1 레일부(110)(도 1 참조)의 폭은 상이할 수 있다.
이어서, 제1 검사 대상(1500-1)이 플리퍼(220)로 이송되고, 플리퍼(220)는 상기 제1 검사 대상(1500-1)을 플리핑하며, 상기 제1 검사 대상(1500-1)의 나머지 반대되는 두 측면들이 검사부에 의하여 검사될 수 있다(S160).도 8은 도 7에 나타낸 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 방법을 보다 상세하게 보여주는 흐름도이고, 도 9a 내지 도 9e는 도 8의 검사 방법을 도 1의 검사 장치에 적용하여 보여주는 사시도들이다.
도 8 및 도 9a를 참조하면, 먼저, 제1 검사 대상(1500-1)이 제1 스테이지(100)에 투입된다(S110). 이후, 제1 검사 대상(1500-1)은 표면 검사 위치(132)로 이동하여 제1면 검사가 수행된다(S120). 좀더 구체적으로, 제1 스테이지(100)에 투입된 제1 검사 대상(1500-1)은 제1 레일부(110)를 통해 표면 검사 위치로 이동하고(S122), 이후 클램프(130)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)가 고정된다(S124). 제1 검사 대상(1500-1)이 고정되면 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 제1면 검사가 수행된다(S126).
도 9a에 도시된 바와 같이, 제1 검사 대상(1500-1)은 길이 방향으로 제1면이 상방을 향하도록 제1 스테이지(100)에 투입될 수 있다. 그러나 전술한 바와 같이 제1 검사 대상(1500-1)은 그에 한하지 않고, 제2면이 상방을 향하도록 제1 스테이지(100)에 투입될 수도 있고, 또한 폭 방향으로 제1 스테이지(100)에 투입될 수도 있다. 만약, 제2면이 상방을 향하도록 제1 스테이지(100)에 투입된 경우, 앞서 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 제1면 검사는 제2면 검사로 변경될 수 있다.
한편, 도 9a에서 플리퍼(220)의 폭은 제1 스테이지(100)의 폭과 같도록 조정되어 있는 상태이다. 만약 직전 시점에 직전의 검사 대상의 측면들이 검사되고 있었다면, 플리퍼(220)는 그 직전의 검사 대상의 길이 방향에 맞춰 넓혀져 있었을 수 있다. 플리퍼(220)의 폭은, 그러한 직전의 검사 대상이 검사가 완료되어 배출되면, 그에 따라 현재 검사 대상의 배치에 맞춰 좁혀지고, 도 9a와 같은 상태로 될 수 있다.
검사부(300)는 제3 화살표(a3)로 표시된 바와 같이 일 방향으로 이동하면서 제1 검사 대상(1500-1)의 앞면에 대한 이미지를 복수 개 촬상(capture)할 수 있다. 물론, 검사 대상의 크기가 작은 경우에는 한 번의 촬상을 통해 전체 이미지를 획득할 수도 있다. 검사부(300)는 예컨대, CCD 카메라일 수 있다. 물론, 검사부(300)가 CCD 카메라에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 검사부(300)는 sCMOS(Scientific CMOS) 카메라와 같은 고성능의 CMOS 카메라일 수도 있다. 더 나아가, 검사부(300)는 비접촉식으로 검사 대상의 결함을 검출할 수 있는 여하한 종류의 센서 또는 디텍터를 포함할 수 있다.
예컨대, 검사부(300)는 패턴 조명을 위상을 변경하면서 검사 대상에 조사하고, 검사 대상으로부터 반사된 광을 수광하고, 이로부터 얻어진 2차원 이미지를 분석함으로써, 검사 대상의 3차원 형상 정보 내지는 2차원 영상 정보를 획득하는 장치들을 포함할 수 있다. 패턴 조명을 이용하여 3차원 형상 또는 2차원 영상을 획득하는 원리는 통상의 기술자에게 이미 잘 알려져 있으므로 그에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
한편, 본 실시예의 검사 장치(1000)에서, 검사부(300)는 별도의 분석 장치(미도시)와 연결되어 이미지 처리 등을 통하여 검사를 완결할 수 있다. 분석 장치는 획득한 이미지를 처리 및 분석할 수 있는 프로그램이 탑재된 컴퓨터일 수 있으며, 예컨대 일반 PC(Personal Computer), 워크스테이션(workstation), 슈퍼컴퓨터 등일 수 있다.
도 8 및 도 9b를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 앞면 검사가 완료되면, 제1 검사 대상(1500-1)은 제2 스테이지(200)의 플리퍼(220)로 이동하여 단변 쪽의 측면들(S1, S3)의 검사가 수행된다(S130).
좀더 구체적으로, 제1 검사 대상(1500-1)은 제1 레일부(110) 및 플리퍼(220)의 이송 벨트(115, 222)를 통해 플리퍼(220)의 적정 위치로 이동한다(S131). 여기서, 적정 위치는 제1 검사 대상(1500-1)의 검사될 측면 부분, 예컨대 제1 검사 대상(1500-1)의 단변 쪽 제1 측면(S1)이 플리퍼(220)의 한쪽 끝단에 일치된 위치, 또는 한쪽 끝단에서 약간 돌출된 위치에 해당할 수 있다.
도 8 및 도 9c를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)은 클램프 플레이트(226)에 의하여 플리퍼(220)에 견고하게 고정되고, 플리퍼(220)가 하강하면서 90° 회전함으로써, 제1 검사 대상(1500-1)도 90° 회전되어 수직 상태가 된다(S132). 한편, 플리퍼(220)는 회전 후에 하강할 수도 있다. 플리퍼(220)는 시계 방향으로 회전할 수도 있고, 반시계 방향으로 회전할 수도 있다. 본 실시예의 경우, 플리퍼(220)가 반시계 방향으로 회전하여 제1 검사 대상(1500-1)의 뒷면이 제2 스테이지(200) 방향으로 향할 수 있다. 플리퍼(220)를 하강시키는 이유는 전술한 바와 같이, 정확한 검사를 위해 제1 검사 대상(1500-1)의 상부 쪽 측면과 검사부(300)를 적정한 거리로 유지시키기 위함이다. 하지만 본 발명의 다른 실시예에 있어서, 플리퍼(220)를 하강시키는 대신 검사부(300)를 상승시킬 수도 있다.
플리퍼(220)의 90° 회전에 의해 제1 검사 대상(1500-1)의 제1 측면(S1)이 상방을 향하게 되고, 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)의 제1 측면(S1)의 검사가 수행된다(S133).
이후, 플리퍼(220)가 180° 회전함으로써, 제1 검사 대상(1500-1)도 180° 회전하여 다시 수직 상태가 된다(S134). 플리퍼(220)의 180°회전은 다음과 같은 여러 가지 방법들로 수행될 수 있다. 예컨대 플리퍼(220)가 상승하면서 90° 회전하고, 다시 하강하면서 90° 회전하여 전체 180° 회전할 수도 있고, 플리퍼(220)가 상승한 후에 180° 회전하고 다시 하강할 수도 있고, 플리퍼(220)의 상승 또는 하강 중에 180° 회전할 수도 있다. 하지만 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니다. 플리퍼(220)의 180° 회전 역시 시계 방향 또는 반시계 방향으로 수행될 수 있다. 참고로, 플리퍼(220)의 180° 회전에서 플리퍼(220)가 상승 및 하강하는 이유는, 하강 상태에서는 공간이 한정되어 회전을 할 수 없기 때문이다. 물론, 하강 상태에서도 회전 가능하도록 공간이 제공되는 경우에는 플리퍼(220)는 상승 및 하강 없이 바로 회전할 수도 있다.
한편, 플리퍼(220)의 180° 회전 시에, 제1 검사 대상(1500-1)은 이송 벨트를 통해 검사될 측면 부분이 플리퍼(220)의 끝단 부분에 위치하도록 이동될 수 있다. 예컨대, 제1 검사 대상(1500-1)의 제3 측면(S3)이 플리퍼(220)의 끝단 부분에 위치하도록 제1 검사 대상(1500-1)가 이송 벨트를 통해 이동될 수 있다. 제1 검사 대상(1500-1)의 이동은 플리퍼(220)의 180° 회전 방법들에 따라 달라질 수 있다. 예컨대, 플리퍼(220)가 90°씩 나누어 회전하는 경우, 처음 90° 회전 후에 제1 검사 대상(1500-1)의 이동이 이루어질 수 있다.
플리퍼(220)의 180° 회전에 의해 제1 검사 대상(1500-1)의 단면 쪽 제3 측면(S3)이 상방을 향하게 되고, 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)의 제3 측면(S3)의 검사가 수행된다(S135). 도 9a에 도시된 바와 같이, 제3 측면(S3)은 제1 측면(S1)에 반대되는 측면일 수 있다.
제1 검사 대상(1500-1)의 제3 측면(S3)의 검사 후, 플리퍼(220)가 상승하면서 90° 회전함으로써, 제1 검사 대상(1500-1)도 90° 회전하여 수평 상태가 된다(S136). 물론, 플리퍼(220)는 상승 후에 회전할 수도 있다. 참고로, 본 단계에서 플리퍼(220)의 90° 회전은, 제1 스테이지(100)에서 이미 검사된 제1 검사 대상(1500-1)의 표면의 반대 면이 상방을 향하도록 수행될 수 있다. 예컨대, 제1 스테이지(100)에서 제1 검사 대상(1500-1)의 제1면이 검사된 경우, 플리퍼(220)의 90° 회전을 통해 제1 검사 대상(1500-1)의 제2면이 상방을 향할 수 있다.
도 8 및 도 9d를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)은 제1 스테이지(100)의 방향 전환부(120)로 이송될 수 있다(S137).
도 8, 도 9e 및 도 9f를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)은 방향 전환부(120)에서 수평으로 회전하고, 앞/뒷면 검사 위치로 이동하여 뒷제2면 검사가 수행된다(S140).
도 8 및 도 9e를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)은 제1 레일부(110)를 통해 방향 전환부(120)로 이동하고, 도 9e에 도시된 바와 같이, 방향 전환부(120)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)은 수평으로 90° 회전된다(S142). 방향 전환부(120)의 회전은, 레일과 충돌하지 않도록, 상승하면서 회전, 상승 후 회전, 또는 하강하면서 회전 등으로 수행될 수 있다. 한편, 방향 전환부(120)의 회전에 의해 제1 검사 대상(1500-1)은 길이 방향의 배치가 폭 방향의 배치로 변경될 수 있다. 따라서, 제1 레일부(110)의 간격은 제1 이동 레일(114)의 이동을 통해 제1 검사 대상(1500-1)의 장변에 대응하도록 변경될 수 있다. 물론, 처음에 제1 검사 대상(1500-1)이 폭 방향으로 제1 스테이지(100)에 투입된 경우, 방향 전환부(120)의 회전에 의해 제1 검사 대상(1500-1)은 폭 방향의 배치가 길이 방향의 배치로 변경되고, 제1 레일부(110)의 간격도 그에 따라 변경될 수 있다. 또한 플리퍼(220)의 간격도 마찬가지로 변경될 수 있다.
도 8 및 도 9f를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)은 제1 레일부(110)를 통해 표면 검사 위치로 이동하고(S144), 클램프(130)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)이 고정된다(S146). 제1 검사 대상(1500-1)이 고정되면 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 뒷면 검사가 수행된다(S148). 도 9f에 도시된 바와 같이, 제1 검사 대상(1500-1)의 뒷면 검사의 경우도, 검사부(300)가 제4 화살표(a4) 방향으로 이동하면서 수행될 수 있다. 물론, 제1 검사 대상(1500-1)의 사이즈가 작은 경우에는 한 번의 촬상을 통해 뒷면 검사가 수행될 수도 있다.
도 8, 도 9g 및 도 9h를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 뒷면 검사가 완료된 후, 제1 검사 대상(1500-1)이 제2 스테이지(200)로 이동되고 장변 쪽의 측면들(S2, S4)의 검사가 수행된다(S160). 또한, 제2 검사 대상(1500-2)이 제1 스테이지(100)에 투입되어 표면 검사 위치에 대기한다(S150). 제1 검사 대상(1500-1)의 장변 쪽의 측면들(S2, S4)의 검사와, 제2 검사 대상(1500-2)의 제1 스테이지(100)에서의 대기는 함께 이루어질 수 있다.
좀더 구체적으로, 도 8 및 도 9g를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 뒷면 검사가 완료된 후, 제1 검사 대상(1500-1)은 제2 스테이지(200)의 플리퍼(220)로 이동한다(S161). 상기 제1 검사 대상(1500-1)이 플리퍼(220)로 이동한 후 제1 레일부(110)의 폭은 추후 반입될 제2 검사 대상(1500-2)의 폭에 대응되도록 조정될 수 있다.
도 8 및 도 9h를 참조하면, 제1 스테이지(100)에 제2 검사 대상(1500-2)이 제1면이 상방을 향하도록 길이 방향으로 투입된다(S152). 제2 검사 대상(1500-2)은 제1 레일부(110)를 통해 표면 검사 위치로 이동하고(S154), 클램프(130)를 통해 고정된다(S156). 이후, 제2 검사 대상(1500-2)은 표면 검사 위치에서 대기한다(S158). 만약, 여유분의 검사부가 있는 경우, 제2 검사 대상(1500-2)은 대기하지 않고 제1면 검사가 수행될 수도 있다.
한편, 제2 스테이지(200)로 이동한 제1 검사 대상(1500-1)은 플리퍼(220)의 적정 위치로 이동하고(S161), 클램프 플레이트(226)를 통해 플리퍼(220)에 고정된 후, 플리퍼(220)가 하강하면서 90° 회전함으로써, 제1 검사 대상(1500-1)은 수직 상태가 된다(S162). 역시, 플리퍼(220)는 회전 후에 하강할 수도 있다. 플리퍼(220)는 반시계 방향으로 회전하여 제1 검사 대상(1500-1)의 제1면이 제2 스테이지(200) 방향으로 향할 수 있다. 물론, 플리퍼(220)는 시계 방향으로 회전할 수도 있다.
플리퍼(220)의 90° 회전에 의해 제1 검사 대상(1500-1)의 장변 쪽 제2 측면(S2)이 상방이 상방을 향하게 되고, 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)의 제2 측면(S2)의 검사가 수행된다(S163). 이후, 플리퍼(220)가 180° 회전함으로써, 제1 검사 대상(1500-1)도 180° 회전하여 다시 수직 상태가 된다(S164). 플리퍼(220)의 180° 회전은 상승하면서 90° 회전하고, 다시 하강하면서 90° 회전하는 식으로 진행될 수 있다. 물론, 플리퍼(220)의 180° 회전은 앞서 단변 쪽의 회전에서 언급한 바와 같이 다른 방법들을 통해 수행될 수도 있다. 또한, 180° 회전에는 제1 검사 대상(1500-1)의 이동이 포함될 수 있다.
플리퍼(220)의 180° 회전에 의해 제1 검사 대상(1500-1)의 장변 쪽 제4 측면(S4)이 상방을 향하게 되고, 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상(1500-1)의 제4 측면(S4)의 검사가 수행된다(S165). 도 9d에 도시된 바와 같이, 제4 측면(S4)은 제2 측면(S2)에 반대되는 측면일 수 있다.
제1 검사 대상(1500-1)의 제4 측면(S4)의 검사 후, 플리퍼(220)가 상승하면서 90° 회전함으로써, 제1 검사 대상(1500-1)도 90° 회전하여 수평 상태가 된다(S166). 물론, 플리퍼(220)는 상승 후에 회전할 수도 있다. 참고로, 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 앞면 및 뒷면의 검사가 모두 수행되었으므로, 플리퍼(220)의 90° 회전에 의한 제1 검사 대상(1500-1)의 상방으로 향하는 면에 대한 제한은 없을 수 있다.
이후, 제1 검사 대상(1500-1)은 제2 레일부(210)를 통해 제2 스테이지(200)의 출구로 출발한다(S167).
제2 스테이지(200)의 출구에 도착한 제1 검사 대상(1500-1)은 제2 스테이지(200)로부터 배출된다(S170). 즉, 본 실시예의 검사 장치(1000)에 서의 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 외관 검사가 완료된다. 한편, 제1 검사 대상(1500-1)의 배출 과정 중에 제2 검사 대상(1500-2)에 대한 앞면 검사가 바로 수행될 수 있다.
본 실시예의 검사 방법은, 제1 스테이지(100)와 제2 스테이지(200)가 물리적으로 분리되어 독립적으로 동작하는 도 1의 검사 장치(1000)를 이용함으로써, 검사 대상에 대한 외관 검사를 보다 신속하고 정확하게 수행할 수 있다. 예컨대, 제2 스테이지(200)의 플리퍼(220)에서 제1 검사 대상(1500-1)의 제2 측면(S2)과 제4 측면(S4)을 검사할 때, 이미 제2 검사 대상(1500-2)을 제1 스테이지(100)의 표면 검사 위치에 대기시킴으로써, 제1 검사 대상(1500-1)의 측면들(S2, S4)의 검사가 완료되면 바로 제2 검사 대상(1500-2)에 대한 앞면 검사를 수행할 수 있다. 따라서, 제1 검사 대상(1500-1)의 배출과, 제2 검사 대상(1500-2)의 투입 및 표면 검사 위치로의 이동 시간만큼 검사 시간을 단축할 수 있다. 한편, 2개의 검사부가 있는 경우에는 제2 검사 대상(1500-2)의 앞면 검사 시간까지도 단축시킬 수 있다.
도 10은 도 1의 검사 장치에서, 검사 대상의 측면들의 경사면을 검사하는 원리를 설명하기 위한 사시도이다.
도 10을 참조하면, 본 실시예의 검사 장치(1000)는 플리퍼(220)를 통해 검사 대상(1500)을 90° 또는 180° 회전시켜 검사 대상(1500)을 수직 상태로 되게 한 후, 수직 상태에서 제1 각도(θ)만큼 시계 방향과 반시계 방향으로 검사 대상(1500)을 더 회전시킬 수 있다. 이와 같이, 검사 대상(1500)을 수직 상태에서 제1 각도(θ)만큼 더 회전시킴으로써, 검사부(300)를 통해 검사 대상(1500)의 측면들의 경사면을 검사할 수 있다.
예컨대, 도 8의 검사 방법에서, 제1 측면 검사 단계(S133), 제3 측면 검사 단계(S135), 제2 측면 검사 단계(S163), 및 제4 측면 검사 단계(S165) 각각에서, 해당 측면의 검사를 수행한 후, 제1 검사 대상(1500-1)을 제1 각도(θ)만큼 더 회전시켜 검사부(300)로 촬상함으로써, 제1 측면 내지 제4 측면(S1, S2, S3, S4) 각각의 경사면을 검사할 수 있다. 한편, 검사 대상(1500)의 수직 상태에서 시계 방향과 반시계 방향으로 회전되는 각도는 제1 각도(θ)로서 동일할 수 있다. 그러나 경우에 따라, 검사 대상(1500)의 수직 상태에서 시계 방향과 반시계 방향으로 회전되는 각도는 서로 다를 수도 있다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(1000a)를 개략적으로 나타낸 사시도이다. 도 12a 내지 도 12f는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치(1000a)를 이용하여 검사 대상을 검사하는 방법을 나타낸 측면도들이다. 도 11은 검사 대상(1500-1)이 다양한 위치, 예컨대 제2 스테이지(200)의 입구 부분과 플리퍼(220)에 위치하는 것을 가상선으로 도시하였으나, 검사 대상(1500-1)은 그 외의 위치에 다양한 방향과 자세로 위치할 수 있다.
도 1 내지 도 10에 나타낸 실시예들에서는 검사 대상(들)이 제1 스테이지로 투입되어 검사를 거친 후 제2 스테이지를 통해 배출된다. 도 11 및 도 12a 내지 도 12f의 실시예에서는 검사 대상이 제2 스테이지를 통해 투입되고 검사를 거친 후 제1 스테이지를 통해 배출된다.
도 11 및 도 12a를 참조하면, 제2 스테이지(210)로 제1 검사 대상(1500-1)이 반입된다. 제1 검사 대상(1500-1)이 반입될 때 상부를 향하는 면을 제1면으로 정의할 수 있다. 또한 제1 검사 대상(1500-1)이 반입될 때 그의 장변 방향으로 반입될 수도 있고, 그의 단변 방향으로 반입될 수도 있다.
도 11 및 도 12b를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)을 플리퍼(220)로 이송하여 플리핑한 후 반대되는 두 측면의 검사를 수행한다. 플리퍼(220)에서의 검사에 관한 상세한 설명은 도 9b, 도 9c 등을 참조하여 상세하게 설명하였으므로 여기서는 상세한 설명을 생략한다.
도 11 및 도 12c를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)을 수평으로 하여 표면 검사 위치(132)에서 클램프(130)에 인접하게 위치시킨다. 만일 제1 검사 대상(1500-1)을 제1 스테이지(100)로 이송하기 전 제1 스테이지(100)의 폭이 제1 검사 대상(1500-1)을 반입하기에 부적절하다면 제1 스테이지(100)의 폭을 조정하는 단계가 더 수행될 수 있다.
표면 검사 위치(132)에 제1 검사 대상(1500-1)을 위치시킨 다음, 상기 제1 검사 대상(1500-1)을 클램프(130)로 고정하여 상부를 향하는 표면에 대하여 검사를 수행할 수 있다. 이를 위하여 검사부(300)가 표면 검사 위치(132)의 상부로 이동할 수 있다. 이 때 검사되는 표면은 제1면일 수도 있고, 제2면일 수도 있다.
도 11 및 도 12d를 참조하면, 상부 표면의 검사가 완료된 제1 검사 대상(1500-1)을 방향 전환부(120)로 이송하여 상승시킨 후 수평으로 90° 방향 전환할 수 있다. 제2 스테이지(200)로 제1 검사 대상(1500-1)이 장변 방향으로 반입되었으면 상기 방향 전환에 의하여 단변 방향을 가질 수 있다. 제2 스테이지(200)로 제1 검사 대상(1500-1)이 단변 방향으로 반입되었으면 상기 방향 전환에 의하여 장변 방향을 가질 수 있다.
도 11 및 도 12e를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)을 다시 플리퍼(220)로 이송하여 플리핑한 후, 검사되지 않은 나머지 두 측면의 검사를 수행한다.
도 11 및 도 12f를 참조하면, 제1 검사 대상(1500-1)을 수평으로 하여 표면 검사 위치(132)에서 클램프(130)에 인접하게 위치시킨다. 이 때 제1 검사 대상(1500-1)의 상방을 향하는 면은 도 12c에서 상방을 향했던 면의 반대면이다. 제1 검사 대상(1500-1)이 표면 검사 위치(132)에 위치되면, 제2 스테이지(200)의 폭을 조정한 후 제2 검사 대상(1500-2)이 제2 스테이지(200)로 반입될 수 있다.
상기 표면 검사 위치(132)의 제1 검사 대상(1500-1)에 대한 검사가 완료되면, 제1 검사 대상(1500-1)은 제1 스테이지(100)를 통해 외부로 배출될 수 있다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 2개의 검사 장치를 구비한 검사 시스템에 대한 사시도이다.
도 13을 참조하면, 본 실시예의 검사 시스템(2000)은 인접하여 배치된 2개의 검사 장치(1000-1, 1000-2)를 포함할 수 있다. 제1 검사 장치(1000-1)와 제2 검사 장치(1000-2) 각각은 도 1의 검사 장치와 실질적으로 동일할 수 있다. 다만, 제1 검사 장치(1000-1)와 제2 검사 장치(1000-2)는 하나의 검사부(300)를 공유할 수 있다. 다시 말해서, 본 실시예의 검사 시스템(2000)은 하나의 검사부(300)를 이용하여 제1 검사 장치(1000-1)와 제2 검사 장치(1000-2) 사이를 이동시키면서, 2개의 검사 대상에 대한 외관 검사를 동시에 수행할 수 있다. 일반적으로 검사부(300)가 고가이고, 또한, 검사부(300)에 의한 촬상은 매우 짧은 시간에 이루어지는 반면에 검사 대상의 이동이나 회전 등은 비교적 긴 시간이 소요될 수 있다. 따라서, 하나의 검사부(300)를 이용하여 2개의 검사 장치(1000-1, 1000-2) 사이를 이동시키면서, 2개의 검사 대상의 외관을 충분히 효과적으로 검사할 수 있다.
예컨대, 제1 검사 장치(1000-1)의 제1 스테이지(100-1)에서 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상에 대한 제1면 검사가 수행된다. 이후, 제1 검사 대상은 제2 스테이지(200-1)로 이동하여 제1 플리퍼(220-1)에 의해 플리핑이 진행되고, 이 과정 중에 제2 검사 장치(1000-2)의 제3 스테이지(100-2)에서 검사부(300)를 통해 제2 검사 대상에 대한 제1면 검사를 수행한다. 일부 실시예들에 있어서, 상기 제3 스테이지(100-2)는 투입 스테이지일 수 있다.
제2 검사 대상은 제4 스테이지(200-2)로 이동하여 제2 플리퍼(220-2)에 의해 플리핑이 진행되고, 이 과정 중에 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상의 단변 쪽의 측면들의 검사가 진행된다. 이후, 제1 검사 대상은 제1 스테이지(100-1)로 이동하여 방향 전환부에서 수평 방향 전환하고 표면 검사 위치로 이동한다. 이 과정 중에, 검사부(300)를 통해 제2 검사 대상의 단변 쪽의 측면들의 검사가 진행된다.
제2 검사 대상은 제3 스테이지(100-2)로 이동하여 방향 전환부에서 수평 방향 전환하고 표면 검사 위치로 이동하며, 이 과정 중에 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상의 제2면이 검사된다. 이후, 제1 검사 대상은 제2 스테이지(200-1)로 이동하여 제1 플리퍼(220-1)에 의해 플리핑이 진행되고, 이 과정 중에 검사부(300)를 통해 제2 검사 대상의 제2면이 검사된다.
제2 검사 대상은 제4 스테이지(200-2)로 이동하여 제2 플리퍼(220-2)에 의해 플리핑이 진행되고, 이 과정 중에 검사부(300)를 통해 제1 검사 대상의 장변 쪽의 측면들의 검사가 진행된다. 이후, 제1 검사 대상은 제2 레일부를 통해 배출되고, 이 과정 중에, 검사부(300)를 통해 제2 검사 대상의 장변 쪽의 측면들의 검사가 진행된다.
정리하면, 하나의 검사부(300)를 이용하여, 제1 검사 대상의 제1면 검사, 제2 검사 대상의 제1면 검사, 제1 검사 대상의 단면 쪽 측면들 검사, 제2 검사 대상의 단면 쪽 측면들 검사, 제2 검사 대상의 제2면 검사, 제2 검사 대상의 제2면 검사, 제1 검사 대상의 장변 쪽 측면들 검사, 및 제2 검사 대상의 장변 쪽 측면들 검사 순으로 진행될 수 있다. 물론, 본 실시예의 검사 시스템(2000)에서, 검사부(300)의 이동 순서가 전술한 순서에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 본 실시예의 검사 시스템(2000)에서, 검사부(300)의 이동은 2개의 검사 장치(1000-1, 1000-2)가 최적 및 최단시간으로 검사를 수행할 수 있는 순서로 이동될 수 있다.
본 발명은 적절한 컴퓨팅 환경에서 구현되는 것으로 예시될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 다양한 방법들은, 이를 구현하는 컴퓨터 소프트웨어를 기록한 기록매체로 제공될 수 있다.
상기 기록매체는 통상적으로 다양한 컴퓨터 판독 가능 매체를 포함하고, 컴퓨터에 의해 액세스 될 수 있는 임의의 이용 가능한 매체로 제공될 수 있다. 또한, 상기 기록매체는 소멸성(volatile) 또는 비소멸성(non-volatile) 매체, 분리형(removable) 또는 비분리형(non-removable) 매체 등을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 기록매체는, 컴퓨터 판독 가능 명령, 데이터 구조, 프로그램 모듈 또는 그 밖의 데이터와 같은 정보 저장을 위한 임의의 방법이나 기술로 구현되는 매체를 모두 포함할 수 있다. 상기 기록매체는, RAM, ROM, EEPROM, 플래시 메모리 또는 그 밖의 메모리 기술, CD-ROM, DVD 또는 그 밖의 광학 디스크 저장 장치, 자기 카세트, 자기 테이프, 자기 디스크 저장 장치 또는 그 밖의 자기 저장 장치, 또는 원하는 정보를 저장하는데 사용될 수 있는 컴퓨터에 의해 액세스 될 수 있는 임의의 다른 매체 등을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.
상기 기록매체는 컴퓨터로 판독 가능하다면, 널리 통신 매체를 포함할 수 있다. 상기 통신 매체는 통상적으로 반송파 또는 기타 전송 메커니즘과 같은 변조된 데이터 신호로 컴퓨터 판독 가능 명령, 데이터 구조, 프로그램 모듈 또는 그 밖의 데이터를 구현하며, 임의의 정보 전달 매체를 포함한다.
지금까지, 본 발명을 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
[부호의 설명]
1000, 1000-1, 1000-2: 검사 장치, 100, 100-1: 제1 스테이지, 110: 제1 레일부, 112: 제1 고정 레일, 114: 제1 이동 레일, 115, 215, 222: 이송 벨트, 120: 방향 전환부, 130: 클램프, 200: 제2 스테이지, 210: 제2 레일부, 212: 제2 고정 레일, 213: 제2 이동 레일, 220: 플리퍼, 224: 슬립 링, 226: 클램프 플레이트, 228: 클램프 실린더, 229: 가이드 샤프트, 1500, 1500-1, 1500-2: 검사 대상

Claims (20)

  1. 투입된 제1 검사 대상을 검사 위치로 이송시키며, 상기 검사 위치에서 상기 제1 검사 대상의 앞면이 검사되도록 하는 제1 스테이지(stage); 및
    상기 제1 스테이지에 인접하여 배치되고 상기 제1 스테이지로부터 상기 제1 검사 대상을 이송 받거나 상기 제1 스테이지로 상기 제1 검사 대상을 이송하며, 상기 제1 검사 대상을 회전시켜 상기 제1 검사 대상의 측면들이 검사되도록 하는 제2 스테이지;를 포함하고,
    상기 제1 검사 대상은, 상기 제1 스테이지로부터 상기 제2 스테이지로의 제1 이송, 상기 제2 스테이지로부터 상기 제1 스테이지로의 제2 이송, 및 상기 제1 스테이지로부터 상기 제2 스테이지로의 제3 이송의 순서로 이송되고, 상기 제3 이송 후 상기 제1 검사 대상이 상기 제2 스테이지에 있을 때 제2 검사 대상이 상기 제1 스테이지에 투입되는, 검사 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 스테이지는, 제1 고정 레일과 제1 이동 레일을 구비한 제1 레일부를 포함하고,
    상기 제2 스테이지는, 제2 고정 레일과 제2 이동 레일을 구비한 제2 레일부를 포함하며,
    상기 제1 이동 레일의 동작에 의해 상기 제1 고정 레일과 제1 이동 레일의 사이의 폭이 조절되고,
    상기 제2 이동 레일의 동작에 의해 상기 제2 고정 레일과 제2 이동 레일의 사이의 폭이 조절되며,
    상기 제1 이동 레일과 상기 제2 이동 레일은 서로 독립적으로 동작하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 스테이지는, 상기 앞면 또는 뒷면이 상방을 향하는 자세에서, 상기 앞면 또는 뒷면에 평행하게 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 방향 전환부를 포함하고,
    상기 제2 스테이지는, 상기 앞면 또는 뒷면이 상방을 향하는 자세에서 상기 제1 검사 대상의 측면이 상방을 향하도록 하거나, 또는 상기 측면이 상방을 향하는 자세에서 상기 측면의 반대되는 측면이 상방을 향하도록 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 플리퍼(flipper)를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 제1 검사 대상은,
    상기 제1 이송에서 상기 제1 레일부에 의해 상기 검사 위치에서 상기 플리퍼로 이동하고, 상기 제2 이송 전에 상기 플리퍼에서 회전하며,
    상기 제2 이송에서 상기 제1 레일부에 의해 상기 플리퍼로부터 상기 방향 전환부로 이동하고, 상기 제3 이송 전에 상기 방향 전환부에서 회전한 후 상기 제1 레일부에 의해 상기 방향 전환부로부터 상기 검사 위치로 이동하며,
    상기 제3 이송에서 상기 제1 레일부에 의해 상기 검사 위치에서 상기 플리퍼로 이동하고, 상기 제3 이송 후 상기 플리퍼에서 회전하며,
    상기 제1 검사 대상은 상기 플리퍼에 의한 회전 후 상기 제2 레일부에 의해 상기 제2 스테이지로부터 배출되며,
    상기 제2 검사 대상은 상기 제1 검사 대상이 상기 제2 스테이지로부터 배출되기 전에 상기 제1 스테이지로 투입되는 것을 특징으로 하는 검사장치.
  5. 제3 항에 있어서,
    상기 플리퍼는 상기 제1 검사 대상을 상승 또는 하강하면서 회전시키는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  6. 제3 항에 있어서,
    상기 플리퍼는, 상기 측면이 상방을 향하는 자세에서 시계 방향 또는 반시계 방향으로 소정 각도 내에서 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  7. 제3 항에 있어서,
    상기 플리퍼는 무한 회전이 가능하도록 슬립 링(slip ring) 구조를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  8. 제3 항에 있어서,
    상기 플리퍼는 상기 제1 검사 대상에 밀착되어 상기 제1 검사 대상을 고정하기 위한 클램프 플레이트를 포함하되, 상기 클램프 플레이트는 2개로 분리된 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 검사 대상으로부터 반사된 광을 수광하여 상기 제1 검사 대상을 검사하는 적어도 하나의 검사부를 포함하고,
    상기 검사부가 이동하면서 상기 제1 스테이지에서의 상기 제1 검사 대상의 앞면 또는 뒷면 검사와, 상기 제2 스테이지에서의 상기 제1 검사 대상의 측면들의 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 검사 장치는 2개가 인접하여 배치되고,
    상기 검사부가 2개의 상기 검사 장치들 사이를 이동하면서 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  11. 제9 항에 있어서,
    상기 검사부는 패턴 조명을 이용하여 상기 제1 검사 대상을 검사하는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  12. 투입된 제1 검사 대상을 검사 위치로 이송시키며, 상기 검사 위치에서 상기 제1 검사 대상의 제1 면이 검사되도록 하는 제1 스테이지; 및
    상기 제1 스테이지에 인접하여 배치되고 상기 제1 스테이지로부터 상기 제1 검사 대상을 이송 받거나 상기 제1 스테이지로 상기 제1 검사 대상을 이송하며, 상기 제1 검사 대상을 회전시켜 상기 제1 면과 다른 상기 제1 검사 대상의 제2 면이 검사되도록 하는 제2 스테이지;를 포함하고,
    상기 제1 검사 대상이 상기 제1 스테이지와 제2 스테이지의 사이를 왕복하되, 상기 제1 스테이지로부터 상기 제2 스테이지로 최종 이송되어 상기 제2 스테이지에 있을 때, 제2 검사 대상이 상기 제1 스테이지에 투입되는, 검사 장치.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 제1 스테이지는, 제1 고정 레일과 제1 이동 레일을 구비한 제1 레일부, 및 상기 제1 면의 법선을 축으로 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 방향 전환부를 포함하고,
    상기 제2 스테이지는, 제2 고정 레일과 제2 이동 레일을 구비한 제2 레일부, 및 상기 제2 고정 레일이 연장하는 방향과 수직으로 교차하고 상기 제1 면에 평행한 직선을 축으로 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 플리퍼를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 제1 검사 대상은, 상기 제1 레일부에 의해 상기 검사 위치에서 상기 플리퍼로 이동하고, 상기 플리퍼에서 회전하며, 상기 제1 레일부에 의해 상기 플리퍼로부터 상기 방향 전환부로 이동하여 상기 방향 전환부에서 회전하며, 상기 제1 레일부에 의해 검사 위치로 이동하고 상기 플리퍼로 이동하는 순서로 상기 제1 스테이지와 제2 스테이지를 왕복하며,
    상기 제1 검사 대상은 상기 최종 이송된 후에 상기 플리퍼에서 회전하고, 상기 제2 레일부에 의해 상기 제2 스테이지로부터 배출되며,
    상기 제2 검사 대상은 상기 제1 검사 대상이 상기 제2 스테이지로부터 배출되기 전에 상기 제1 스테이지로 투입되는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  15. 제1 스테이지와 제2 스테이지를 구비한 검사 장치의 상기 제1 스테이지에 앞면이 상방을 향하도록 제1 검사 대상을 투입하는 단계;
    검사부를 이용하여 상기 제1 검사 대상의 앞면을 검사하는 단계;
    상기 제1 검사 대상을 상기 제2 스테이지로 이동시키고, 플리퍼를 이용하여 상기 제1 검사 대상의 4개의 측면들 중 제1 측면과 상기 제1 측면에 반대되는 제3 측면이 상방을 향하도록 상기 제1 검사 대상을 회전시키며, 상기 검사부를 이용하여 상기 제1 측면과 제3 측면을 검사하는 단계;
    상기 플리퍼를 이용하여 상기 앞면에 반대되는 뒷면이 상방을 향하도록 상기 제1 검사 대상을 회전시키고, 상기 제1 검사 대상을 상기 제1 스테이지의 방향 전환부로 이동시키며, 상기 방향 전환부를 이용하여 상기 제1 검사 대상을 상기 뒷면에 평행하게 회전시키는 단계;
    상기 검사부를 이용하여 상기 제1 검사 대상의 뒷면을 검사하는 단계; 및
    상기 제1 검사 대상을 상기 제2 스테이지로 이동시키고, 플리퍼를 이용하여 상기 제1 검사 대상의 4개의 측면들 중 제2 측면과 상기 제2 측면에 반대되는 제4 측면이 상방을 향하도록 상기 제1 검사 대상을 회전시키며, 상기 검사부를 이용하여 상기 제2 측면과 제4 측면을 검사하는 단계;를 포함하고,
    상기 제2 측면과 제4 측면을 검사하는 단계에서, 제2 검사 대상을 상기 제1 스테이지에 투입하여 대기시키는, 검사 방법.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 제1 측면과 제3 측면을 검사하는 단계, 및 상기 제2 측면과 제4 측면을 검사하는 단계에서,
    상기 플리퍼는 상기 제1 검사 대상을 상승 또는 하강하면서 회전시키는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 플리퍼는, 상기 제1 측면 내지 제4 측면 중 어느 한 측면이 상방을 향하는 자세에서 시계 방향 또는 반시계 방향으로 소정 각도 내에서 상기 제1 검사 대상을 회전시키는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  18. 제15 항에 있어서,
    상기 제1 스테이지는, 제1 고정 레일과 제1 이동 레일을 구비한 제1 레일부를 포함하고,
    상기 제2 스테이지는, 제2 고정 레일과 제2 이동 레일을 구비한 제2 레일부를 포함하며,
    상기 제1 이동 레일과 상기 제2 이동 레일이 서로 독립적으로 동작하여, 상기 제1 고정 레일과 제1 이동 레일 사이의 제1 폭과 상기 제2 고정 레일과 제2 이동 레일 사이의 제2 폭이 서로 다르게 되는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  19. 제15 항에 있어서,
    상기 제2 측면과 제4 측면을 검사하는 단계에서, 상기 제1 검사 대상의 상기 제2 측면과 제4 측면의 검사가 완료되면 상기 제1 검사 대상은 상기 제2 스테이지로부터 배출되고,
    상기 제2 측면과 제4 측면의 검사가 완료되면 바로 상기 제2 검사 대상의 앞면 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
  20. 제15 항에 있어서,
    상기 검사 장치는 2개가 인접하여 배치되고,
    상기 검사부는 2개의 상기 검사 장치들 사이를 이동하면서 검사를 수행하며,
    2개의 상기 검사 장치들 중 어느 하나에서 상기 검사부에 의한 검사 동작이 수행될 때, 다른 하나에서 검사 대상의 이동 동작이 수행되는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
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