WO2018043305A1 - 基材表面の選択的修飾方法及び組成物 - Google Patents

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智博 小田
仁視 大▲崎▼
雅史 堀
岳彦 成岡
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    • H01L21/3205—Deposition of non-insulating-, e.g. conductive- or resistive-, layers on insulating layers; After-treatment of these layers
    • H01L21/321—After treatment
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    • H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
    • H—ELECTRICITY
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    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D—PROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D1/00—Processes for applying liquids or other fluent materials
    • B05D1/002—Processes for applying liquids or other fluent materials the substrate being rotated
    • B05D1/005—Spin coating
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D—PROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D2518/00—Other type of polymers
    • B05D2518/10—Silicon-containing polymers
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F120/00—Homopolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride, ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F120/02—Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F120/10—Esters
    • C08F120/12—Esters of monohydric alcohols or phenols
    • C08F120/14—Methyl esters, e.g. methyl (meth)acrylate
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F2810/00—Chemical modification of a polymer
    • C08F2810/40—Chemical modification of a polymer taking place solely at one end or both ends of the polymer backbone, i.e. not in the side or lateral chains

Definitions

  • the present invention relates to a method for selectively modifying a substrate surface and a composition.
  • the conventional material is a low molecular material, it cannot be applied by the spin coating method in the existing process, and it is necessary to use the inefficient Langmuir-Blodgett method, which is inferior in heat resistance. Therefore, it is desirable to use a polymer material having a large viscosity and heat resistance. On the other hand, since the steric hindrance of the polymer material is large, the surface of the base material cannot be modified efficiently, and a method that can easily find sufficient selectivity is not yet known.
  • the present invention has been made on the basis of the circumstances as described above, and its object is to selectively modify the surface of a substrate that can easily and highly selectively modify a surface region containing silicon. It is to provide methods and compositions.
  • the invention made in order to solve the above-described problems includes a step of preparing a base material having a first region containing silicon in a surface layer, and a group containing a first functional group bonded to the silicon on the surface of the base material.
  • Selective of substrate surface comprising a step of coating a composition containing a first polymer and a solvent at the end of the main chain or side chain, and a step of heating a coating film formed by the coating step It is a modification method.
  • compositions used for a method of selectively modifying a substrate surface wherein a group containing a first functional group that forms a bond with silicon is a main chain or a side chain. It contains a polymer having a terminal and a solvent.
  • a surface region containing silicon can be modified easily and with high selectivity and high density. Therefore, the method for selectively modifying the surface of the substrate and the composition can be suitably used for a semiconductor device processing process and the like that are expected to be further miniaturized in the future.
  • selective modification method for the substrate surface
  • the selective modification method includes a step of preparing a base material having a first region containing silicon (hereinafter also referred to as “region (I)”) on a surface layer (hereinafter also referred to as “preparation step”), and the above base material.
  • a group containing a first functional group hereinafter also referred to as “functional group (A)” bonded to silicon on the surface of the main chain or side chain at the end of the main chain or side chain.
  • Coating step and a step of heating the coating film formed by the coating step (hereinafter also referred to as “heating step”).
  • the base material is a region other than the region (I) and further includes a second region containing a metal (hereinafter, also referred to as “region (II)”), and after the heating step. It is preferable to further include a step of removing a portion of the coating film formed on the region (II) with a rinsing liquid (hereinafter, also referred to as “removing step”).
  • the selective modification method includes, for example, a step of bringing alcohol, dilute acid, ozone, or plasma into contact with the surface of the substrate after the removal step (hereinafter, also referred to as “contacting step”), A step of depositing a pattern on the surface by a CVD method or an ALD method (hereinafter also referred to as “deposition step”), and a step of removing the [A] polymer on the surface of the substrate after the removal step by etching (hereinafter referred to as “deposition step”). , Also referred to as an “etching step”) or the like.
  • contacting step a step of bringing alcohol, dilute acid, ozone, or plasma into contact with the surface of the substrate after the removal step
  • deposition step A step of depositing a pattern on the surface by a CVD method or an ALD method
  • deposition step a step of removing the [A] polymer on the surface of the substrate after the removal step by etching
  • etching step also referred to as an “
  • a substrate having a silicon-containing region (I) on the surface layer is prepared.
  • the region (I) is not particularly limited as long as it contains silicon element.
  • Examples of the form of silicon contained in region (I) include silicon alone, silicon oxide, silicon nitride, and silicon oxide nitride.
  • Examples of the silicon oxide include SiO 2 .
  • Examples of silicon nitride include SiNx, Si 3 N 4 and the like.
  • Examples of the silicon oxide nitride include SiON.
  • the surface layer of the substrate usually has a region (II) that is a region other than the region (I) and contains a metal.
  • the metal is not particularly limited as long as it is a metal element.
  • the metal include copper, iron, zinc, cobalt, aluminum, titanium, tin, tungsten, zirconium, titanium, tantalum, germanium, molybdenum, ruthenium, gold, silver, platinum, palladium, nickel and the like. Of these, copper, cobalt, tungsten and tantalum are preferred.
  • Examples of the metal content in the region (II) include simple metals, alloys, conductive nitrides, metal oxides, and silicides.
  • Examples of simple metals include simple metals such as copper, iron, cobalt, tungsten, and tantalum.
  • the alloy include a nickel-copper alloy, a cobalt-nickel alloy, and a gold-silver alloy.
  • Examples of the conductive nitride include tantalum nitride, titanium nitride, iron nitride, and aluminum nitride.
  • Examples of the metal oxide include tantalum oxide, aluminum oxide, iron oxide, copper oxide, and the like.
  • Examples of the silicide include iron silicide and molybdenum silicide.
  • simple metals, alloys, conductive nitrides and silicides are preferable, simple metals and conductive nitrides are more preferable, and simple copper, cobalt, tungsten, tantalum and tantalum nitride are more preferable.
  • the existence shape of the region (I) and / or the region (II) on the surface layer of the substrate is not particularly limited, and examples thereof include a planar shape, a dot shape, and a stripe shape in a plan view.
  • the sizes of the region (I) and the region (II) are not particularly limited, and can be appropriately set as desired.
  • the shape of the base material is not particularly limited, and can be a desired shape such as a plate shape (substrate) or a spherical shape.
  • composition (I) is applied to the surface of the substrate.
  • Examples of the coating method of the composition (I) include a spin coating method.
  • Composition (I) contains a [A] polymer and a [B] solvent.
  • the composition (I) may contain other components in addition to the [A] polymer and the [B] solvent.
  • the polymer is a polymer having the group (I) at the end of the main chain or side chain.
  • Main chain refers to the longest of the atomic chains of a polymer.
  • ide chain refers to a polymer chain other than the main chain. From the viewpoint of further increasing the density of the surface-modified [A] polymer, the [A] polymer preferably has the group (I) at the end of the main chain, and has at one end of the main chain. More preferably.
  • Group (I) is a group containing a functional group (A) that bonds to silicon.
  • the functional group (A) is a functional group that bonds to silicon.
  • This bond is, for example, a chemical bond and includes a covalent bond, an ionic bond, a coordination bond, and the like. Among these, a covalent bond is preferable from the viewpoint of a larger bonding force between the silicon and the functional group.
  • Examples of the functional group (A) include a functional group that is covalently bonded to silicon, such as —SiR x (OR ′) 3-x , —SiR y (OR ′) 2-y —, and the like.
  • R and R ′ are each independently a hydrogen atom or a monovalent hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms.
  • x is an integer of 0 to 3.
  • y is an integer of 0-2.
  • the plurality of R may be the same or different, and when a plurality of R ′ are present, the plurality of R ′ may be the same or different.
  • Examples of the monovalent hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms represented by R and R ′ include, for example, a monovalent chain hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms and a monovalent alicyclic ring having 3 to 20 carbon atoms. And a monovalent aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms.
  • R is preferably a hydrogen atom, a chain hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group, more preferably a hydrogen atom, an alkyl group or an aryl group, and even more preferably a hydrogen atom or a methyl group.
  • R ′ is preferably a hydrogen atom or an alkyl group, more preferably a hydrogen atom or a methyl group.
  • x 0, 1, and 3 are preferable.
  • y 0 and 2 are preferable.
  • the functional group (A) is preferably a group containing a silicon atom to which OH is bonded, trialkoxysilyl and a group containing a silicon atom to which H is bonded, and more preferably a hydroxydimethylsilyl group, a trimethoxysilylmethyl group and a dimethylsilyl group. preferable.
  • polystyrene polymer examples include styrene polymer, (meth) acrylic polymer, ethylene polymer, siloxane polymer, and a combination of these (for example, random copolymer, gradient (composition gradient) copolymer). Polymer, graft copolymer, block copolymer) and the like.
  • the styrene polymer has a structural unit derived from substituted or unsubstituted styrene.
  • substituted styrene examples include ⁇ -methylstyrene, o-, m-, p-methylstyrene, pt-butylstyrene, 2,4,6-trimethylstyrene, p-methoxystyrene, pt-butoxystyrene, o-, m-, p-vinylstyrene, o-, m-, p-hydroxystyrene, m-, p-chloromethylstyrene, p-chlorostyrene, p-bromostyrene, p-iodostyrene, p-nitrostyrene , P-cyanostyrene and the like.
  • (Meth) acrylic polymer has structural units derived from (meth) acrylic acid or (meth) acrylic acid ester.
  • (meth) acrylic acid esters examples include (meth) acrylic acid alkyl esters such as methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, t-butyl (meth) acrylate, and 2-ethylhexyl (meth) acrylate. ; Cyclopentyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, 1-methylcyclopentyl (meth) acrylate, 2-ethyladamantyl (meth) acrylate, 2- (adamantan-1-yl) propyl (meth) acrylate, etc.
  • (Meth) acrylic acid cycloalkyl ester of (Meth) acrylic acid aryl esters such as phenyl (meth) acrylate and naphthyl (meth) acrylate; 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 3-hydroxyadamantyl (meth) acrylate, 3-glycidylpropyl (meth) acrylate, 3-trimethylsilylpropyl (meth) acrylate, N, N-dimethyl (meth) acrylate
  • Examples include (meth) acrylic acid-substituted alkyl esters such as aminoethyl and (meth) acrylic acid N, N-diethylaminoethyl.
  • the ethylene polymer has a structural unit derived from substituted or unsubstituted ethylene.
  • substituted ethylene examples include alkenes such as propene, butene, and pentene; Vinylcycloalkanes such as vinylcyclopentane and vinylcyclohexane; Cycloalkenes such as cyclopentene and cyclohexene; Examples include 4-hydroxy-1-butene, vinyl glycidyl ether, vinyl trimethylsilyl ether, and the like.
  • the siloxane polymer has a structural unit containing a —Si—O— bond.
  • an alkylhydrogensiloxane unit such as a methylhydrogensiloxane unit
  • Dialkylsiloxane units such as dimethylsiloxane units
  • Alkylalkoxysiloxane units such as methylmethoxysiloxane units
  • dialkoxysiloxane units such as dimethoxysiloxane units.
  • a styrene polymer As the polymer, a styrene polymer, a (meth) acrylic polymer, and a siloxane polymer are preferable, a styrene polymer is more preferable, and polystyrene and poly-t-butylstyrene are more preferable.
  • the lower limit of the number average molecular weight (Mn) of the polymer is preferably 500, more preferably 2,000, still more preferably 4,000, and particularly preferably 5,000.
  • the upper limit of Mn is preferably 50,000, more preferably 30,000, still more preferably 15,000, and particularly preferably 8,000.
  • the upper limit of the ratio of the weight average molecular weight (Mw) of the polymer to Mn (Mw / Mn, dispersity) is preferably 5, more preferably 2, more preferably 1.5, and particularly 1.3 preferable.
  • the lower limit of the ratio is usually 1 and preferably 1.05.
  • the lower limit of the content of the polymer is preferably 80% by mass, more preferably 90% by mass, and still more preferably 95% by mass with respect to the total solid content in the composition (I). As an upper limit of the said content, it is 100 mass%, for example. “Total solid content” refers to the sum of components other than [B] solvent.
  • the solvent is not particularly limited as long as it is a solvent capable of dissolving or dispersing at least the [A] polymer and other components.
  • Examples of the solvent include alcohol solvents, ether solvents, ketone solvents, amide solvents, ester solvents, hydrocarbon solvents, and the like.
  • alcohol solvents examples include aliphatic monoalcohol solvents having 1 to 18 carbon atoms such as 4-methyl-2-pentanol and n-hexanol; An alicyclic monoalcohol solvent having 3 to 18 carbon atoms such as cyclohexanol; A polyhydric alcohol solvent having 2 to 18 carbon atoms such as 1,2-propylene glycol; Examples thereof include polyhydric alcohol partial ether solvents having 3 to 19 carbon atoms such as propylene glycol monomethyl ether.
  • ether solvents include dialkyl ether solvents such as diethyl ether, dipropyl ether, dibutyl ether, dipentyl ether, diisoamyl ether, dihexyl ether, and diheptyl ether; Cyclic ether solvents such as tetrahydrofuran and tetrahydropyran; Aromatic ring-containing ether solvents such as diphenyl ether and anisole (methylphenyl ether) are exemplified.
  • dialkyl ether solvents such as diethyl ether, dipropyl ether, dibutyl ether, dipentyl ether, diisoamyl ether, dihexyl ether, and diheptyl ether
  • Cyclic ether solvents such as tetrahydrofuran and tetrahydropyran
  • Aromatic ring-containing ether solvents such as diphenyl ether and anisole (methylphenyl ether)
  • ketone solvent examples include acetone, methyl ethyl ketone, methyl-n-propyl ketone, methyl-n-butyl ketone, diethyl ketone, methyl-iso-butyl ketone, 2-heptanone (methyl-n-pentyl ketone), ethyl-n-butyl ketone.
  • Chain ketone solvents such as methyl-n-hexyl ketone, di-iso-butyl ketone, and trimethylnonanone; Cyclic ketone solvents such as cyclopentanone, cyclohexanone, cycloheptanone, cyclooctanone, methylcyclohexanone; Examples include 2,4-pentanedione, acetonylacetone, acetophenone, and the like.
  • amide solvent examples include cyclic amide solvents such as N, N′-dimethylimidazolidinone and N-methylpyrrolidone; Examples thereof include chain amide solvents such as N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N, N-diethylformamide, acetamide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, and N-methylpropionamide.
  • cyclic amide solvents such as N, N′-dimethylimidazolidinone and N-methylpyrrolidone
  • chain amide solvents such as N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N, N-diethylformamide, acetamide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, and N-methylpropionamide.
  • ester solvents include monocarboxylic acid ester solvents such as n-butyl acetate and ethyl lactate; Polyhydric alcohol carboxylate solvents such as propylene glycol acetate; Polyhydric alcohol partial ether carboxylate solvents such as propylene glycol monomethyl ether acetate; Lactone solvents such as ⁇ -butyrolactone and ⁇ -valerolactone; Polycarboxylic acid diester solvents such as diethyl oxalate; Examples thereof include carbonate solvents such as dimethyl carbonate, diethyl carbonate, ethylene carbonate, and propylene carbonate.
  • monocarboxylic acid ester solvents such as n-butyl acetate and ethyl lactate
  • Polyhydric alcohol carboxylate solvents such as propylene glycol acetate
  • Polyhydric alcohol partial ether carboxylate solvents such as propylene glycol monomethyl ether acetate
  • Lactone solvents such as ⁇ -buty
  • hydrocarbon solvent examples include aliphatic hydrocarbon solvents having 5 to 12 carbon atoms such as n-pentane and n-hexane; Examples thereof include aromatic hydrocarbon solvents having 6 to 16 carbon atoms such as toluene and xylene.
  • Composition (I) may contain one or more [B] solvents.
  • composition (I) may contain other components in addition to the [A] polymer and the [B] solvent.
  • examples of other components include a surfactant.
  • Composition (I) can improve the coating property to the base-material surface by containing surfactant.
  • composition (I) is, for example, a [A] polymer, a [B] solvent, and other components as necessary mixed in a predetermined ratio, and preferably a high density polyethylene filter having pores of about 0.45 ⁇ m, etc. It can prepare by filtering with.
  • a minimum of solid content concentration of composition (I) 0.1 mass% is preferred, 0.5 mass% is more preferred, and 0.7 mass% is still more preferred.
  • the upper limit of the solid content concentration is preferably 30% by mass, more preferably 10% by mass, and still more preferably 3% by mass.
  • the heating means include an oven and a hot plate.
  • 80 ° C is preferred, 100 ° C is more preferred, and 130 ° C is still more preferred.
  • 400 degreeC is preferable, 300 degreeC is more preferable, and 200 degreeC is further more preferable.
  • the lower limit of the heating time is preferably 10 seconds, more preferably 1 minute, and even more preferably 2 minutes.
  • the upper limit of the heating time is preferably 120 minutes, more preferably 10 minutes, and even more preferably 5 minutes.
  • the average thickness of the coating film (I) to be formed can be obtained by appropriately selecting conditions such as the type and concentration of the [A] polymer in the composition (I) and the heating temperature and heating time in the heating step. Can be a value. As a minimum of average thickness of coating film (I), 0.1 nm is preferred, 1 nm is more preferred, and 3 nm is still more preferred. The upper limit of the average thickness is, for example, 20 nm.
  • Removal in the removing step is usually performed by rinsing the substrate after the heating step with a rinsing liquid.
  • a rinsing liquid an organic solvent is usually used.
  • a polyhydric alcohol partial ether carboxylate solvent such as propylene glycol monomethyl ether acetate, a monoalcohol solvent such as isopropanol, or the like is used.
  • the surface region containing the metal can be easily modified with high selectivity and high density.
  • the obtained base material can be variously processed, for example, by performing the following steps.
  • the dilute acid is not particularly limited.
  • dilute hydrochloric acid dilute sulfuric acid, dilute nitric acid, dilute citric acid, dilute oxalic acid, dilute maleic acid, dilute acetic acid, dilute isobutyric acid, dilute 2-ethylhexanoic acid, etc. Is mentioned.
  • a pattern is deposited on the surface of the substrate after the removing step by a CVD (chemical vapor deposition) method or an ALD (atomic layer deposition) method. Thereby, a pattern can be selectively formed in the region (II) not covered with the [A] polymer.
  • CVD chemical vapor deposition
  • ALD atomic layer deposition
  • etching method for example, CF 4 , O 2 gas or the like is used, chemical dry etching using a difference in etching rate of each layer or the like, chemical wet etching using a liquid etching solution such as an organic solvent or hydrofluoric acid (wet type).
  • a liquid etching solution such as an organic solvent or hydrofluoric acid (wet type).
  • RIE reactive ion etching
  • physical etching such as sputter etching and ion beam etching.
  • reactive ion etching is preferable, and chemical dry etching and chemical wet etching are more preferable.
  • UV irradiation when the portion to be removed by etching is a polymer containing a polymethyl methacrylate block, UV irradiation or the like can be used.
  • An oxygen plasma treatment can also be used. Since the polymethyl methacrylate block is decomposed by the UV irradiation or the oxygen plasma treatment, it is more easily etched.
  • organic solvents used for chemical wet etching include alkanes such as n-pentane, n-hexane, and n-heptane; Cycloalkanes such as cyclohexane, cycloheptane, cyclooctane; Saturated carboxylic acid esters such as ethyl acetate, n-butyl acetate, i-butyl acetate and methyl propionate; Ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, methyl n-pentyl ketone; Examples thereof include alcohols such as methanol, ethanol, 1-propanol, 2-propanol and 4-methyl-2-pentanol. These solvents may be used alone or in combination of two or more.
  • Mw and Mn of the polymer are measured by gel permeation chromatography (GPC) using Tosoh's GPC columns ("G2000HXL", “G3000HXL” and “G4000HXL”) under the following conditions. did.
  • Eluent Tetrahydrofuran (Wako Pure Chemical Industries)
  • Flow rate 1.0 mL / min
  • Sample concentration 1.0% by mass
  • Sample injection volume 100 ⁇ L
  • Detector Differential refractometer Standard material: Monodisperse polystyrene
  • 13 C-NMR analysis 13 C-NMR analysis was performed using a nuclear magnetic resonance apparatus (“JNM-EX400” manufactured by JEOL Ltd.) and CDCl 3 as a measurement solvent. The content ratio of each structural unit in the polymer was calculated from the area ratio of the peak corresponding to each structural unit in the spectrum obtained by 13 C-NMR.
  • This operation was repeated 3 times, and after removing oxalic acid, the solution was concentrated and dropped into 500 g of methanol to precipitate a polymer, and a solid was recovered with a Buchner funnel. This solid was dried at 60 ° C. under reduced pressure to obtain 11.6 g of a white polymer (A-3).
  • This polymer (A-3) had Mw of 5,300, Mn of 4,900, and Mw / Mn of 1.08.
  • reaction solution was warmed to room temperature, the obtained reaction solution was concentrated, and the solvent was replaced with MIBK. Thereafter, 1,000 g of ultrapure water was injected and stirred, and the lower aqueous layer was removed. After this operation was repeated 5 times, the solution was concentrated and dropped into 500 g of methanol to precipitate a polymer, and a solid was recovered with a Buchner funnel. This solid was dried at 60 ° C. under reduced pressure to obtain 26.9 g of a white polymer (A-5).
  • This polymer (A-5) had Mw of 7,600, Mn of 6,600, and Mw / Mn of 1.15.
  • This operation was repeated 5 times, and after removing the Li salt, the solution was concentrated and dropped into 500 g of methanol to precipitate a polymer, and the solid was recovered with a Buchner funnel. This solid was dried under reduced pressure at 60 ° C. to obtain 11.8 g of a white polymer (A-6).
  • This polymer (A-6) had Mw of 6,000, Mn of 5,800, and Mw / Mn of 1.04.
  • the reaction solution was warmed to room temperature, the obtained reaction solution was concentrated, and the solvent was replaced with MIBK. Thereafter, 1,000 g of a 2% by mass aqueous solution of oxalic acid was injected and stirred, and after standing, the lower aqueous layer was removed. This operation was repeated three times to remove the Li salt. Thereafter, 1,000 g of ultrapure water was injected and stirred, and the lower aqueous layer was removed. This operation was repeated 3 times, and after removing oxalic acid, the solution was concentrated and dropped into 500 g of methanol to precipitate a polymer, and a solid was recovered with a Buchner funnel. This solid was dried at 60 ° C. under reduced pressure to obtain 11.2 g of a white polymer (A-9). This polymer (A-9) had Mw of 5,200, Mn of 5,000, and Mw / Mn of 1.04.
  • the reaction solution was warmed to room temperature, the obtained reaction solution was concentrated, and the solvent was replaced with MIBK. Thereafter, 1,000 g of a 2% by mass aqueous solution of oxalic acid was injected and stirred, and after standing, the lower aqueous layer was removed. This operation was repeated three times to remove the Li salt. Thereafter, 1,000 g of ultrapure water was injected and stirred, and the lower aqueous layer was removed. This operation was repeated 3 times, and after removing oxalic acid, the solution was concentrated and dropped into 500 g of methanol to precipitate a polymer, and a solid was recovered with a Buchner funnel. This polymer was dried under reduced pressure at 60 ° C. to obtain 11.2 g of a white polymer (A-10). This polymer (A-10) had Mw of 6,200, Mn of 6,000, and Mw / Mn of 1.04.
  • compositions (S-2) to (S-16) were prepared in the same manner as in Preparation Example 1, except that the components having the types and contents shown in Table 1 were used.
  • the prepared composition was evaluated according to the following method. [Examples 1 to 17, 21 to 25, Comparative Examples 1 and 2 and Reference Examples 1 to 6]
  • the silicon oxide substrate was surface-treated with isopropanol.
  • An 8-inch substrate (a copper substrate, a cobalt substrate, a tungsten substrate, a tantalum substrate, or a tantalum nitride film substrate) was immersed in a 5% by mass oxalic acid aqueous solution and then dried by a nitrogen flow to remove the oxide film on the surface.
  • the composition prepared above was spin-coated at 1,500 rpm using a truck (“TELDSA ACT8” manufactured by Tokyo Electron Ltd.) and baked at 150 ° C. for 180 seconds.
  • This substrate was peeled off with PGMEA to remove unreacted polymer.
  • the selective surface modifier formed on the substrate was about 0 nm to 5 nm from the result of measuring the thickness of the ellipsometer.
  • the contact angle value of the surface was measured using a contact angle meter (Drop master DM-501, Kyowa Interface Science Co., Ltd.).
  • the abundance density ⁇ (chains / nm 2 ) of the [A] polymer (brush) was calculated based on the film thickness by the following formula (1).
  • d density of [A] polymer (g / cm 3 )
  • L average thickness of film (nm)
  • NA Avogadro number
  • Mn number average molecular weight of [A] polymer
  • Table 2 shows the average thickness (nm), contact angle value (°), polymer (brush) density (chains / nm 2 ) of the polymer film formed on the substrate surface, and the coating property of the composition. “-” In Table 2 indicates that the selectivity of the substrate surface is not shown, and the density of the polymer was not calculated. The applicability of the composition was visually observed and evaluated according to the following criteria. A: Applicability is good B: Some repelling is observed C: Application is difficult
  • the above prepared composition was spin-coated at 1,500 rpm using a track (“TELDSA ACT8” manufactured by Tokyo Electron Co., Ltd.) on this substrate, and baked at 150 ° C. for 180 seconds.
  • This substrate was peeled off with PGMEA to remove unreacted polymer.
  • the surface was observed with a scanning probe microscope (Hitachi High-Tech Science Co., Ltd., S-image (microscope unit) and NanoNaviReal (control station)), and the film thickness of the coating was calculated from the unevenness.
  • Table 3 shows the average thickness (nm) of the polymer coating film formed on each of the silicon oxide and copper regions on the copper-silicon oxide stripe substrate. “ND” in Table 3 indicates that the thickness was small and could not be detected.
  • a surface region containing silicon can be modified easily and with high selectivity and high density. Therefore, the method for selectively modifying the surface of the substrate and the composition can be suitably used for a semiconductor device processing process and the like that are expected to be further miniaturized in the future.

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Abstract

本発明は、ケイ素を含む表面領域を簡便に、高選択的かつ高密度に修飾することができる基材表面の選択的修飾方法及び組成物の提供を目的とする。本発明は、ケイ素を含む第１領域を表層に有する基材を準備する工程と、上記基材の表面に、上記ケイ素と結合する第１官能基を含む基を主鎖又は側鎖の末端に有する第１重合体及び溶媒を含有する組成物を塗工する工程と、上記塗工工程により形成される塗膜を加熱する工程とを備える基材表面の選択的修飾方法である。上記第１領域は、ケイ素酸化物、ケイ素窒化物又はケイ素酸化物窒化物を含むことが好ましい。上記基材は、第１領域以外の領域であって、金属を含む第２領域をさらに有し、上記加熱工程の後に、上記塗膜のうち上記第２領域上に形成された部分をリンス液により除去する工程をさらに備えることが好ましい。

Description

基材表面の選択的修飾方法及び組成物
　本発明は、基材表面の選択的修飾方法及び組成物に関する。
　半導体デバイスのさらなる微細化に伴い、３０ｎｍを切る微細パターンを形成する技術が要求されている。しかし、従来のリソグラフィーによる方法では、光学的要因等により技術的に困難になってきている。
　そこで、いわゆるボトムアップ技術を用いて微細パターンを形成することが検討されている。このボトムアップ技術としては、重合体の自己組織化を利用する方法の他、微細な領域を表層に有する基材を選択的に修飾する方法が検討されるようになってきている。この選択的修飾方法には、簡便かつ高選択的に表面領域を修飾することができる材料が必要であり、種々のものが検討されている。（特開２０１６－２５３５５号公報、特開２００３－７６０３６号公報、ＡＣＳ　Ｎａｎｏ，９，９，８７１０，２０１５、ＡＣＳ　Ｎａｎｏ，９，９，８６５１，２０１５、Ｓｃｉｅｎｃｅ，３１８，４２６，２００７及びＬａｎｇｍｕｉｒ，２１，８２３４，２００５参照）。
特開２０１６－２５３５５号公報 特開２００３－７６０３６号公報
ＡＣＳ　Ｎａｎｏ，９，９，８７１０，２０１５ ＡＣＳ　Ｎａｎｏ，９，９，８６５１，２０１５ Ｓｃｉｅｎｃｅ，３１８，４２６，２００７ Ｌａｎｇｍｕｉｒ，２１，８２３４，２００５
　しかし、上記従来の材料では、低分子材料ゆえ、既存プロセスでのスピンコート法では塗布できず、効率の悪いＬａｎｇｍｕｉｒ－Ｂｌｏｄｇｅｔｔ法を用いる必要があり、耐熱性に劣るという不都合がある。そのため、粘度が大きく、耐熱性を有する高分子材料を用いることが望ましい。一方で、高分子材料は立体障害が大きいため、効率よく基材表面を修飾することはできておらず、また、十分な選択性を簡単に見い出すことができる手法は未だ知られていない。
　本発明は、上述のような事情に基づいてなされたものであり、その目的は、ケイ素を含む表面領域を簡便に、高選択的かつ高密度に修飾することができる基材表面の選択的修飾方法及び組成物を提供することにある。
　上記課題を解決するためになされた発明は、ケイ素を含む第１領域を表層に有する基材を準備する工程と、上記基材の表面に、上記ケイ素と結合する第１官能基を含む基を主鎖又は側鎖の末端に有する第１重合体及び溶媒を含有する組成物を塗工する工程と、上記塗工工程により形成される塗膜を加熱する工程とを備える基材表面の選択的修飾方法である。
　上記課題を解決するためになされた別の発明は、基材表面の選択的修飾方法に用いられる組成物であって、ケイ素と結合を形成する第１官能基を含む基を主鎖又は側鎖の末端に有する重合体と溶媒とを含有することを特徴とする。
　本発明の基材表面の選択的修飾方法及び組成物によれば、ケイ素を含む表面領域を簡便に、高選択的かつ高密度に修飾することができる。従って、当該基材表面の選択的修飾方法及び組成物は、今後ますます微細化が進行すると予想される半導体デバイスの加工プロセス等に好適に用いることができる。
ストライプ状基板を作製するための基板の断面図である。 選択的表面修飾の評価に用いたストライプ状基板の断面図である。
　以下、当該基材表面の選択的修飾方法（以下、単に、「選択的修飾方法」という）の実施の形態について詳説する。
＜選択的修飾方法＞
　当該選択的修飾方法は、ケイ素を含む第１領域（以下、「領域（Ｉ）」ともいう）を表層に有する基材を準備する工程（以下、「準備工程」ともいう）と、上記基材の表面に、上記ケイ素と結合する第１官能基（以下、「官能基（Ａ）」ともいう）を含む基（以下、「基（Ｉ）」ともいう）を主鎖又は側鎖の末端に有する第１重合体（以下、「［Ａ］重合体」ともいう）及び溶媒（以下、「［Ｂ］溶媒」ともいう）を含有する組成物（以下、「組成物（Ｉ）」ともいう）を塗工する工程（以下、「塗工工程」ともいう）と、上記塗工工程により形成される塗膜を加熱する工程（以下、「加熱工程」ともいう）とを備える。当該選択的修飾方法は、上記基材が、領域（Ｉ）以外の領域であって、金属を含む第２領域（以下、「領域（ＩＩ）」ともいう）をさらに有し、加熱工程の後に、上記塗膜のうち上記領域（ＩＩ）上に形成された部分をリンス液により除去する工程（以下、「除去工程」ともいう）をさらに備えることが好ましい。
　当該選択的修飾方法は、例えば
　上記除去工程後の基材の表面に、アルコール、希酸、オゾン又はプラズマを接触させる工程（以下、「接触工程」ともいう）、上記除去工程後の基材の表面に、ＣＶＤ法又はＡＬＤ法によりパターンを堆積させる工程（以下、「堆積工程」ともいう）、上記除去工程後の基材の表面上の上記［Ａ］重合体をエッチングにより除去する工程（以下、「エッチング工程」ともいう）等をさらに備えてもよい。以下、各工程について説明する。
［準備工程］
　本工程では、ケイ素を含む領域（Ｉ）を表層に有する基材を準備する。領域（Ｉ）としては、ケイ素元素を含む限り、特に限定されない。
　領域（Ｉ）中におけるケイ素の含有形態としては、例えばケイ素単体、ケイ素酸化物、ケイ素窒化物、ケイ素酸化物窒化物等が挙げられる。
　ケイ素酸化物としては、例えばＳｉＯ２等が挙げられる。
　ケイ素窒化物としては、例えばＳｉＮｘ、Ｓｉ３Ｎ４等が挙げられる。
　ケイ素酸化物窒化物としては、例えばＳｉＯＮ等が挙げられる。
　基材の表層には、通常、領域（Ｉ）以外の領域であって、金属を含む領域（ＩＩ）を有する。
　金属としては、金属元素であれば特に限定されない。金属としては、例えば銅、鉄、亜鉛、コバルト、アルミニウム、チタン、スズ、タングステン、ジルコニウム、チタン、タンタル、ゲルマニウム、モリブデン、ルテニウム、金、銀、白金、パラジウム、ニッケル等が挙げられる。これらの中で、銅、コバルト、タングステン及びタンタルが好ましい。
　領域（ＩＩ）中における金属の含有形態としては、例えば金属単体、合金、導電性窒化物、金属酸化物、シリサイド等が挙げられる。
　金属単体としては、例えば銅、鉄、コバルト、タングステン、タンタル等の金属の単体等が挙げられる。
　合金としては、例えばニッケル－銅合金、コバルト－ニッケル合金、金－銀合金等が挙げられる。
　導電性窒化物としては、例えば窒化タンタル、窒化チタン、窒化鉄、窒化アルミニウム等が挙げられる。
　金属酸化物としては、例えば酸化タンタル、酸化アルミニウム、酸化鉄、酸化銅等が挙げられる。
　シリサイドとしては、例えば鉄シリサイド、モリブデンシリサイド等が挙げられる。これらの中で、金属単体、合金、導電性窒化物及びシリサイドが好ましく、金属単体及び導電性窒化物がより好ましく、銅単体、コバルト単体、タングステン単体、タンタル単体及び窒化タンタルがさらに好ましい。
　基材の表層における領域（Ｉ）及び／又は領域（ＩＩ）の存在形状としては特に限定されず、例えば平面視で面状、点状、ストライプ状等が挙げられる。領域（Ｉ）及び領域（ＩＩ）の大きさは特に限定されず、適宜所望の大きさの領域とすることができる。
　基材の形状としては、特に限定されず、板状（基板）、球状等、適宜所望の形状とすることができる。
［塗工工程］
　本工程では、上記基材の表面に、組成物（Ｉ）を塗工する。
　組成物（Ｉ）の塗工方法としては、例えばスピンコート法等が挙げられる。
［組成物（Ｉ）］
　組成物（Ｉ）は、［Ａ］重合体及び［Ｂ］溶媒を含有する。組成物（Ｉ）は、［Ａ］重合体及び［Ｂ］溶媒以外に他の成分を含有していてもよい。
（［Ａ］重合体）
　［Ａ］重合体は、基（Ｉ）を主鎖又は側鎖の末端に有する重合体である。「主鎖」とは、重合体の原子鎖のうち最も長いものをいう。「側鎖」とは、重合体の原子鎖のうち主鎖以外のものをいう。表面修飾する［Ａ］重合体の密度をより高める観点から、［Ａ］重合体は、基（Ｉ）を主鎖の末端に有していることが好ましく、主鎖の一方の末端に有していることがより好ましい。
　基（Ｉ）は、ケイ素と結合する官能基（Ａ）を含む基である。官能基（Ａ）は、ケイ素と結合する官能基である。この結合としては、例えば化学結合であり、共有結合、イオン結合、配位結合等が挙げられる。これらの中で、ケイ素－官能基間の結合力がより大きい観点から、共有結合が好ましい。
　官能基（Ａ）としては、ケイ素と共有結合等する官能基などが挙げられ、例えば－ＳｉＲｘ（ＯＲ’）３－ｘ、－ＳｉＲｙ（ＯＲ’）２－ｙ－等が挙げられる。Ｒ及びＲ’は、それぞれ独立して、水素原子又は炭素数１～２０の１価の炭化水素基である。ｘは、０～３の整数である。ｙは、０～２の整数である。ただし、Ｒが複数存在する場合、複数のＲは同一でも異なっていてもよく、Ｒ’が複数存在する場合、複数のＲ’は同一でも異なっていてもよい。
　Ｒ及びＲ’で表される炭素数１～２０の１価の炭化水素基としては、例えば炭素数１～２０の１価の鎖状炭化水素基、炭素数３～２０の１価の脂環式炭化水素基、炭素数６～２０の１価の芳香族炭化水素基等が挙げられる。
　Ｒとしては、水素原子、鎖状炭化水素基及び芳香族炭化水素基が好ましく、水素原子、アルキル基及びアリール基がより好ましく、水素原子及びメチル基がさらに好ましい。
　Ｒ’としては、水素原子及びアルキル基が好ましく、水素原子及びメチル基がより好ましい。
　ｘとしては、０、１及び３が好ましい。ｙとしては、０及び２が好ましい。
　官能基（Ａ）としては、ＯＨが結合するケイ素原子を含む基、トリアルコキシシリル及びＨが結合するケイ素原子を含む基が好ましく、ヒドロキシジメチルシリル基、トリメトキシシリルメチル基及びジメチルシリル基がより好ましい。
　［Ａ］重合体としては、例えばスチレン重合体、（メタ）アクリル重合体、エチレン重合体、シロキサン系重合体、これらを組み合わせた共重合体（例えば、ランダム共重合体、グラジエント（組成傾斜）共重合体、グラフト共重合体、ブロック共重合体）等が挙げられる。
　スチレン重合体は、置換又は非置換のスチレンに由来する構造単位を有する。
　置換スチレンとしては、例えばα－メチルスチレン、ｏ－、ｍ－、ｐ－メチルスチレン、ｐ－ｔ－ブチルスチレン、２，４，６－トリメチルスチレン、ｐ－メトキシスチレン、ｐ－ｔ－ブトキシスチレン、ｏ－、ｍ－、ｐ－ビニルスチレン、ｏ－、ｍ－、ｐ－ヒドロキシスチレン、ｍ－、ｐ－クロロメチルスチレン、ｐ－クロロスチレン、ｐ－ブロモスチレン、ｐ－ヨードスチレン、ｐ－ニトロスチレン、ｐ－シアノスチレン等が挙げられる。
　（メタ）アクリル重合体は、（メタ）アクリル酸又は（メタ）アクリル酸エステルに由来する構造単位を有する。
　（メタ）アクリル酸エステルとしては、例えば
　（メタ）アクリル酸メチル、（メタ）アクリル酸エチル、（メタ）アクリル酸ｔ－ブチル、（メタ）アクリル酸２－エチルヘキシル等の（メタ）アクリル酸アルキルエステル；
　（メタ）アクリル酸シクロペンチル、（メタ）アクリル酸シクロヘキシル、（メタ）アクリル酸１－メチルシクロペンチル、（メタ）アクリル酸２－エチルアダマンチル、（メタ）アクリル酸２－（アダマンタン－１－イル）プロピル等の（メタ）アクリル酸シクロアルキルエステル；
　（メタ）アクリル酸フェニル、（メタ）アクリル酸ナフチル等の（メタ）アクリル酸アリールエステル；
　（メタ）アクリル酸２－ヒドロキシエチル、（メタ）アクリル酸３－ヒドロキシアダマンチル、（メタ）アクリル酸３－グリシジルプロピル、（メタ）アクリル酸３－トリメチルシリルプロピル、（メタ）アクリル酸Ｎ，Ｎ－ジメチルアミノエチル、（メタ）アクリル酸Ｎ，Ｎ－ジエチルアミノエチル等の（メタ）アクリル酸置換アルキルエステルなどが挙げられる。
　エチレン系重合体は、置換又は非置換のエチレンに由来する構造単位を有する。
　置換エチレンとしては、例えば
　プロペン、ブテン、ペンテン等のアルケン；
　ビニルシクロペンタン、ビニルシクロヘキサン等のビニルシクロアルカン；
　シクロペンテン、シクロヘキセン等のシクロアルケン；
　４－ヒドロキシ－１－ブテン、ビニルグリシジルエーテル、ビニルトリメチルシリルエーテル等が挙げられる。
　シロキサン系重合体は、－Ｓｉ－Ｏ－結合を含む構造単位を有する。
　－Ｓｉ－Ｏ－結合を含む構造単位としては、例えば
　メチルハイドロジェンシロキサン単位等のアルキルハイドロジェンシロキサン単位；
　ジメチルシロキサン単位等のジアルキルシロキサン単位；
　メチルメトキシシロキサン単位等のアルキルアルコキシシロキサン単位；
　ジメトキシシロキサン単位等のジアルコキシシロキサン単位等が挙げられる。
　［Ａ］重合体としてはスチレン重合体及び（メタ）アクリル重合体、シロキサン系重合体が好ましく、スチレン重合体がより好ましく、ポリスチレン及びポリｔ－ブチルスチレンがさらに好ましい。
　［Ａ］重合体の数平均分子量（Ｍｎ）の下限としては、５００が好ましく、２，０００がより好ましく、４，０００がさらに好ましく、５，０００が特に好ましい。上記Ｍｎの上限としては、５０，０００が好ましく、３０，０００がより好ましく、１５，０００がさらに好ましく、８，０００が特に好ましい。
　［Ａ］重合体の重量平均分子量（Ｍｗ）のＭｎに対する比（Ｍｗ／Ｍｎ、分散度）の上限としては、５が好ましく、２がより好ましく、１．５がより好ましく、１．３が特に好ましい。上記比の下限としては、通常１であり、１．０５が好ましい。
　［Ａ］重合体の含有量の下限としては、組成物（Ｉ）における全固形分に対して、８０質量％が好ましく、９０質量％がより好ましく、９５質量％がさらに好ましい。上記含有量の上限としては、例えば１００質量％である。「全固形分」とは、［Ｂ］溶媒以外の成分の総和をいう。
（［Ｂ］溶媒）
　［Ｂ］溶媒としては、少なくとも［Ａ］重合体及び他の成分を溶解又は分散可能な溶媒であれば特に限定されない。
　［Ｂ］溶媒としては、例えばアルコール系溶媒、エーテル系溶媒、ケトン系溶媒、アミド系溶媒、エステル系溶媒、炭化水素系溶媒等が挙げられる。
　アルコール系溶媒としては、例えば
　４－メチル－２－ペンタノール、ｎ－ヘキサノール等の炭素数１～１８の脂肪族モノアルコール系溶媒；
　シクロヘキサノール等の炭素数３～１８の脂環式モノアルコール系溶媒；
　１，２－プロピレングリコール等の炭素数２～１８の多価アルコール系溶媒；
　プロピレングリコールモノメチルエーテル等の炭素数３～１９の多価アルコール部分エーテル系溶媒などが挙げられる。
　エーテル系溶媒としては、例えば
　ジエチルエーテル、ジプロピルエーテル、ジブチルエーテル、ジペンチルエーテル、ジイソアミルエーテル、ジヘキシルエーテル、ジヘプチルエーテル等のジアルキルエーテル系溶媒；
　テトラヒドロフラン、テトラヒドロピラン等の環状エーテル系溶媒；
　ジフェニルエーテル、アニソール（メチルフェニルエーテル）等の芳香環含有エーテル系溶媒などが挙げられる。
　ケトン系溶媒としては、例えば
　アセトン、メチルエチルケトン、メチル－ｎ－プロピルケトン、メチル－ｎ－ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル－ｉｓｏ－ブチルケトン、２－ヘプタノン（メチル－ｎ－ペンチルケトン）、エチル－ｎ－ブチルケトン、メチル－ｎ－ヘキシルケトン、ジ－ｉｓｏ－ブチルケトン、トリメチルノナノン等の鎖状ケトン系溶媒；
　シクロペンタノン、シクロヘキサノン、シクロヘプタノン、シクロオクタノン、メチルシクロヘキサノン等の環状ケトン系溶媒；
　２，４－ペンタンジオン、アセトニルアセトン、アセトフェノン等が挙げられる。
　アミド系溶媒としては、例えば
　Ｎ，Ｎ’－ジメチルイミダゾリジノン、Ｎ－メチルピロリドン等の環状アミド系溶媒；
　Ｎ－メチルホルムアミド、Ｎ，Ｎ－ジメチルホルムアミド、Ｎ，Ｎ－ジエチルホルムアミド、アセトアミド、Ｎ－メチルアセトアミド、Ｎ，Ｎ－ジメチルアセトアミド、Ｎ－メチルプロピオンアミド等の鎖状アミド系溶媒などが挙げられる。
　エステル系溶媒としては、例えば
　酢酸ｎ－ブチル、乳酸エチル等のモノカルボン酸エステル系溶媒；
　プロピレングリコールアセテート等の多価アルコールカルボキシレート系溶媒；
　プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等の多価アルコール部分エーテルカルボキシレート系溶媒；
　γ－ブチロラクトン、δ－バレロラクトン等のラクトン系溶媒；
　シュウ酸ジエチル等の多価カルボン酸ジエステル系溶媒；
　ジメチルカーボネート、ジエチルカーボネート、エチレンカーボネート、プロピレンカーボネート等のカーボネート系溶媒などが挙げられる。
　炭化水素系溶媒としては、例えば
　ｎ－ペンタン、ｎ－ヘキサン等の炭素数５～１２の脂肪族炭化水素系溶媒；
　トルエン、キシレン等の炭素数６～１６の芳香族炭化水素系溶媒等が挙げられる。
　これらの中で、エステル系溶媒が好ましく、多価アルコール部分エーテルカルボキシレート系溶媒がより好ましく、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートがさらに好ましい。組成物（Ｉ）は、［Ｂ］溶媒を１種又は２種以上含有していてもよい。
（他の成分）
　組成物（Ｉ）は、［Ａ］重合体及び［Ｂ］溶媒以外に他の成分を含有していてもよい。他の成分としては、例えば界面活性剤等が挙げられる。組成物（Ｉ）は、界面活性剤を含有することで、基材表面への塗工性を向上させることができる。
［組成物（Ｉ）の調製方法］
　組成物（Ｉ）は、例えば［Ａ］重合体、［Ｂ］溶媒及び必要に応じて他の成分を所定の割合で混合し、好ましくは０．４５μｍ程度の細孔を有する高密度ポリエチレンフィルター等で濾過することにより調製することができる。組成物（Ｉ）の固形分濃度の下限としては、０．１質量％が好ましく、０．５質量％がより好ましく、０．７質量％がさらに好ましい。上記固形分濃度の上限としては、３０質量％が好ましく、１０質量％がより好ましく、３質量％がさらに好ましい。
［加熱工程］
　本工程では、上記塗工工程により形成される塗膜を加熱する。これにより、基材表層の金属（Ａ）と、組成物（Ｉ）の［Ａ］重合体の官能基（Ａ）との結合形成が促進され、基材表面の領域（Ｉ）に、［Ａ］重合体を含む塗膜（以下、「塗膜（Ｉ）」ともいう）が積層される。
　加熱の手段としては、例えばオーブン、ホットプレート等が挙げられる。加熱の温度の下限としては、８０℃が好ましく、１００℃がより好ましく、１３０℃がさらに好ましい。加熱の温度の上限としては、４００℃が好ましく、３００℃がより好ましく、２００℃がさらに好ましい。加熱の時間の下限としては、１０秒が好ましく、１分がより好ましく、２分がさらに好ましい。加熱の時間の上限としては、１２０分が好ましく、１０分がより好ましく、５分がさらに好ましい。
　形成される塗膜（Ｉ）の平均厚みは、組成物（Ｉ）における［Ａ］重合体の種類及び濃度、並びに加熱工程における加熱温度、加熱時間等の条件を適宜選択することで、所望の値にすることができる。塗膜（Ｉ）の平均厚みの下限としては、０．１ｎｍが好ましく、１ｎｍがより好ましく、３ｎｍがさらに好ましい。上記平均厚みの上限としては、例えば２０ｎｍである。
［除去工程］
　本工程では、塗膜（Ｉ）のうち領域（ＩＩ）上に形成された部分を除去する。これにより、加熱工程後のケイ素と結合していない［Ａ］重合体を含む部分が除去され、領域（Ｉ）の部分が選択的に修飾された基材が得られる。
　除去工程における除去は、通常、加熱工程後の基材を、リンス液でリンスすることにより行う。リンス液としては、通常、有機溶媒が用いられ、例えばプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等の多価アルコール部分エーテルカルボキシレート系溶媒、イソプロパノール等のモノアルコール系溶媒などが用いられる。
　以上により、金属を含む表面領域を簡便に、高選択的かつ高密度に修飾することができる。得られた基材は、例えば以下の工程を行うことにより、種々処理することができる。
［接触工程］
　本工程では、上記除去工程後の基材の表面に、アルコール、希酸、過酸化水素水、オゾン又はプラズマを接触させる。これにより、領域（ＩＩ）に形成された空気酸化膜層を除去することができる。この希酸としては、特に限定されるわけではないが、例えば希塩酸、希硫酸、希硝酸、希クエン酸、希シュウ酸、希マレイン酸、希酢酸、希イソ酪酸、希２－エチルヘキサン酸等が挙げられる。
［堆積工程］
　本工程では、上記除去工程後の基材の表面に、ＣＶＤ（化学的気相蒸着）法又はＡＬＤ（原子層堆積）法によりパターンを堆積させる。これにより、［Ａ］重合体で被覆されていない領域（ＩＩ）に、選択的にパターンを形成することができる。
［エッチング工程］
　本工程では、上記除去工程後の基材の表面上の上記［Ａ］重合体をエッチングにより除去する。
　エッチングの方法としては、例えばＣＦ４、Ｏ２ガス等を用い、各層のエッチングレートの差等を利用するケミカルドライエッチング、有機溶媒、フッ酸等の液体のエッチング液を用いたケミカルウェットエッチング（湿式現像）等の反応性イオンエッチング（ＲＩＥ）；スパッタエッチング、イオンビームエッチング等の物理的エッチングなどの公知の方法が挙げられる。これらの中で、反応性イオンエッチングが好ましく、ケミカルドライエッチング及びケミカルウェットエッチングがより好ましい。
　ケミカルドライエッチングの前に、必要に応じて放射線を照射してもよい。放射線としては、エッチングにより除去する部分がポリメタクリル酸メチルブロックを含む重合体である場合には、ＵＶ照射等を用いることができる。また、酸素プラズマ処理を用いることもできる。上記ＵＶ照射又は酸素プラズマ処理により、ポリメタクリル酸メチルブロックが分解されるため、よりエッチングされ易くなる。
　ケミカルウェットエッチングに用いられる有機溶媒としては、例えば
　ｎ－ペンタン、ｎ－ヘキサン、ｎ－ヘプタン等のアルカン；
　シクロヘキサン、シクロヘプタン、シクロオクタン等のシクロアルカン；
　酢酸エチル、酢酸ｎ－ブチル、酢酸ｉ－ブチル、プロピオン酸メチル等の飽和カルボン酸エステル；
　アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、メチルｎ－ペンチルケトン等のケトン；
　メタノール、エタノール、１－プロパノール、２－プロパノール、４－メチル－２－ペンタノール等のアルコールなどが挙げられる。これらの溶媒は、単独で使用してもよく２種以上を併用してもよい。
　以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。各物性値の測定方法を下記に示す。
［Ｍｗ及びＭｎ］
　重合体のＭｗ及びＭｎは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）により東ソー社のＧＰＣカラム（「Ｇ２０００ＨＸＬ」２本、「Ｇ３０００ＨＸＬ」１本及び「Ｇ４０００ＨＸＬ」１本）を使用し、以下の条件により測定した。
　溶離液：テトラヒドロフラン（和光純薬工業社）
　流量：１．０ｍＬ／分
　試料濃度：１．０質量％
　試料注入量：１００μＬ
　カラム温度：４０℃
　検出器：示差屈折計
　標準物質：単分散ポリスチレン
［１３Ｃ－ＮＭＲ分析］
　１３Ｃ－ＮＭＲ分析は、核磁気共鳴装置（日本電子社の「ＪＮＭ－ＥＸ４００」）を使用し、測定溶媒としてＣＤＣｌ３を用いて行った。重合体における各構造単位の含有割合は、１３Ｃ－ＮＭＲで得られたスペクトルにおける各構造単位に対応するピークの面積比から算出した。
＜［Ａ］重合体の合成＞
［合成例１］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３８ｍＬ（２．３１ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成した。次に、末端停止剤としてメタノール１ｍＬを注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をメチルイソブチルケトン（ＭＩＢＫ）で置換した。その後、シュウ酸２質量％水溶液１，０００ｇを注入撹拌し、静置後、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返しシュウ酸を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－１）１１．７ｇを得た。この重合体（Ａ－１）は、Ｍｗが５，６００、Ｍｎが５，３００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０６であった。
［合成例２］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３８ｍＬ（２．３０ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成した。次に、末端停止剤としての４－クロロメチル－２，２－ジメチル－１，３－ジオキソラン０．３２ｍＬ（２．３０ｍｍｏｌ）を注入し重合末端の停止反応を行った。つぎに、１Ｎの塩酸水溶液を１０ｇ加え、６０℃で２時間加熱撹拌を行い、加水分解反応を行い、末端基としてジオール構造を有する重合体を得た。この反応溶液を室温まで冷却し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、シュウ酸２質量％水溶液１，０００ｇを注入撹拌し、静置後、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、シュウ酸を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－２）１１．３ｇを得た。この重合体（Ａ－２）は、Ｍｗが５，３００、Ｍｎが４，９００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０８であった。
［合成例３］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３８ｍＬ（２．３０ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成したのち、二酸化炭素を吹き込み、さらにメタノール１．０ｇを加え重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで冷却し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、シュウ酸２質量％水溶液１，０００ｇを注入撹拌し、静置後、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、シュウ酸を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－３）１１．６ｇを得た。この重合体（Ａ－３）は、Ｍｗが５，３００、Ｍｎが４，９００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０８であった。
［合成例４］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．４７ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためのシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に１２０分間熟成した。さらにジメチルシロキサン１．０ｇ（４．５０ｍｍｏｌ）を加え、さらにメタノール１ｍＬを注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を５回繰り返した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－４）１１．２ｇを得た。この重合体（Ａ－４）は、Ｍｗが６，２００、Ｍｎが６，０００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０４であった。
［合成例５］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、０℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．４７ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）注入し、１，３，５，７－テトラメチルシクロテトラシロキサン２７．６ｇ（０．１１５ｍｏｌ）を加えて、氷冷下、１２０分間熟成した。次に、メタノール１ｍＬを注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を５回繰り返した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－５）２６．９ｇを得た。この重合体（Ａ－５）は、Ｍｗが７，６００、Ｍｎが６，６００、Ｍｗ／Ｍｎが１．１５であった。
［合成例６］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったテトラヒドロフラン１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。その後、このテトラヒドロフランにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３７ｍＬ（２．３０ｍｍｏｌ）注入し、その後、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成した。その後、末端停止剤としてクロロメチルトリメトキシシラン０．３５ｍＬ（２．３０ｍｍｏｌ）を注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をメチルイソブチルケトン（ＭＩＢＫ）で置換した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を５回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－６）１１．８ｇを得た。この重合体（Ａ－６）は、Ｍｗが６，０００、Ｍｎが５，８００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０４であった。
［合成例７］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３７ｍＬ（２．３０ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためのシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に１２０分間熟成した。次に、クロロジメチルシラン０．２５ｍＬ（２．３０ｍｍｏｌ）を加え、重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を５回繰り返した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－７）１１．２ｇを得た。この重合体（Ａ－７）は、Ｍｗが５，２００、Ｍｎが５，０００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０４であった。
［合成例８］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったテトラヒドロフラン１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。その後、このテトラヒドロフランにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．５７ｍＬ（２．５０ｍｍｏｌ）注入し、その後、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったｔｅｒｔ－ブチルスチレン１３．７ｍＬ（０．０７４８ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成した。この後、末端停止剤としてクロロメチルトリメトキシシラン０．３８ｍＬ（２．５０ｍｍｏｌ）を注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をメチルイソブチルケトン（ＭＩＢＫ）で置換した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を５回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この重合体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－８）１１．８ｇを得た。この重合体（Ａ－８）は、Ｍｗが４，８００、Ｍｎが４，５００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０７であった。
［合成例９］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦに１，１－ジフェニルエチレン１．０２ｍＬ（７．１９ｍｍｏｌ）、塩化リチウムの１Ｍテトラヒドロフラン溶液９．５９ｍＬ（４．７９ｍｍｏｌ）及びｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．４７ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためのシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったメタクリル酸メチル１２．７ｍＬ（０．１２０ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に１２０分間熟成した。次に１Ｎエチレンオキサイドトルエン溶液２．４０ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）を加え、さらに、メタノール１ｍＬを注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、シュウ酸２質量％水溶液１，０００ｇを注入撹拌し、静置後、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、シュウ酸を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－９）１１．２ｇを得た。この重合体（Ａ－９）は、Ｍｗが５，２００、Ｍｎが５，０００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０４であった。
［合成例１０］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦに１，１－ジフェニルエチレン１．０２ｍＬ（７．１９ｍｍｏｌ）、塩化リチウムの１Ｍテトラヒドロフラン溶液９．５９ｍＬ（４．７９ｍｍｏｌ）及びｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．４７ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためのシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったメタクリル酸メチル１２．７ｍＬ（０．１２０ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に１２０分間熟成した。さらに、ジメチルシロキサン１．０ｇ（４．５０ｍｍｏｌ）を加え、さらにメタノール１ｍＬを注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、シュウ酸２質量％水溶液１，０００ｇを注入撹拌し、静置後、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、シュウ酸を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この重合体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－１０）１１．２ｇを得た。この重合体（Ａ－１０）は、Ｍｗが６，２００、Ｍｎが６，０００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０４であった。
［合成例１１］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦに１，１－ジフェニルエチレン１．０２ｍＬ（７．１９ｍｍｏｌ）、塩化リチウムの１Ｍテトラヒドロフラン溶液９．５９ｍＬ（４．７９ｍｍｏｌ）、ｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．４７ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためのシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったメタクリル酸メチル１２．７ｍＬ（０．１２０ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に１２０分間熟成した。つぎにクロロメチルトリメトキシシラン０．３６ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）を加え、重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を５回繰り返した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－１１）１１．２ｇを得た。この重合体（Ａ－１１）は、Ｍｗが５，２００、Ｍｎが５，０００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０４であった。
［合成例１２］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦに１，１－ジフェニルエチレン１．０２ｍＬ（７．１９ｍｍｏｌ）、塩化リチウムの１Ｍテトラヒドロフラン溶液９．５９ｍＬ（４．７９ｍｍｏｌ）及びｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．４７ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためのシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったメタクリル酸メチル１２．７ｍＬ（０．１２０ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に１２０分間熟成した。つぎにクロロジメチルシラン０．２７ｍＬ（２．４０ｍｍｏｌ）を加え、重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を５回繰り返した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－１２）１１．２ｇを得た。この重合体（Ａ－１２）は、Ｍｗが５，２００、Ｍｎが５，０００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０４であった。
［合成例１３］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３８ｍＬ（２．３１ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成した。次に、末端停止剤としてペンタメチルクロロジシラン０．３９ｍＬ（２．０１ｍｍｏｌ）を注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、シュウ酸２質量％水溶液１，０００ｇを注入撹拌し、静置後、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返しシュウ酸を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－１３）１１．７ｇを得た。この重合体（Ａ－１３）は、Ｍｗが５，６００、Ｍｎが５，３００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０６であった。
［合成例１４］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３８ｍＬ（２．３１ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成した。次に、４－トリメチルシリルスチレン１ｍＬ（５．６ｍｍｏｌ）を加え、ブロック共重合を行い、末端停止剤としてメタノール１ｍＬを注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、シュウ酸２質量％水溶液１，０００ｇを注入撹拌し、静置後、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返しシュウ酸を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－１４）１１．８ｇを得た。この重合体（Ａ－１４）は、Ｍｗが５，５００、Ｍｎが５，３００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０４であった。
［合成例１５］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３８ｍＬ（２．３１ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成した。次に、１，１－ジフェニルエチレン０．９８ｍＬ（６．９１ｍｍｏｌ）を加え暗褐色を呈することを確認した。つぎにＮ，Ｎ－ジメチルアミノエチルメタクリレ－ト１．０ｍＬ（６．０４ｍｍｏｌ）を加え、ブロック共重合を１時間行い、末端停止剤としてメタノール１ｍＬを注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、得られた反応溶液を濃縮して溶媒をＭＩＢＫで置換した。その後、シュウ酸２質量％水溶液１，０００ｇを注入撹拌し、静置後、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返し、Ｌｉ塩を除去した。その後、超純水１，０００ｇを注入撹拌し、下層の水層を取り除いた。この操作を３回繰り返しシュウ酸を除去した後、溶液を濃縮してメタノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させ、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－１５）１１．９ｇを得た。この重合体（Ａ－１５）は、Ｍｗが５，６００、Ｍｎが５，３００、Ｍｗ／Ｍｎが１．０６であった。
［合成例１６］
　５００ｍＬの３口フラスコ反応容器を減圧乾燥した後、窒素雰囲気下、蒸留脱水処理を行ったＴＨＦ１２０ｇを注入し、－７８℃まで冷却した。このＴＨＦにｓｅｃ－ブチルリチウム（ｓｅｃ－ＢｕＬｉ）の１Ｎシクロヘキサン溶液を２．３８ｍＬ（２．３１ｍｍｏｌ）注入し、さらに、重合禁止剤除去のためシリカゲルによる吸着濾別と蒸留脱水処理とを行ったスチレン１３．３ｍＬ（０．１１５ｍｏｌ）を３０分かけて滴下注入し、重合系が橙色であることを確認した。この滴下注入のとき、反応溶液の内温が－６０℃以上にならないように注意した。滴下終了後に３０分間熟成した。次に、末端停止剤としてＮ，Ｎ－ジメチルアミノシリルクロライド０．３５ｍＬ（２．３１ｍｍｏｌ）を注入し重合末端の停止反応を行った。この反応溶液を室温まで昇温し、イソプロパノール５００ｇ中に滴下することで重合体を析出させる操作を３回行い、ブフナーロートにて固体を回収した。この固体を６０℃で減圧乾燥させることで白色の重合体（Ａ－１６）１１．７ｇを得た。この重合体（Ａ－１６）は、Ｍｗが５，６００、Ｍｎが５，１００、Ｍｗ／Ｍｎが１．１０であった。
＜組成物の調製＞
［調製例１］
　［Ａ］重合体としての（Ａ－１）１．２ｇに、［Ｂ］溶媒としてのプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート（ＰＧＭＥＡ）９８．８ｇを加え、撹拌したのち、０．４５μｍの細孔を有する高密度ポリエチレンフィルターにて濾過することにより、組成物（Ｓ－１）を調製した。
［調製例２～１６］
　下記表１に示す種類及び含有量の各成分を用いた以外は、調製例１と同様にして、組成物（Ｓ－２）～（Ｓ－１６）を調製した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
＜評価＞
　上記調製した組成物を、下記方法に従い、評価した。
［実施例１～１７、２１～２５、比較例１及び２並びに参考例１～６］
　酸化ケイ素基板は、イソプロパノールにて表面処理を行った。８インチの基板（銅基板、コバルト基板、タングステン基板、タンタル基板、タンタル窒化膜基板）を５質量％シュウ酸水溶液に浸漬させたのち、窒素フローにて乾燥させ、表面の酸化被膜を除去した。
　次に、トラック（東京エレクトロン社の「ＴＥＬＤＳＡ　ＡＣＴ８」）を用いて、上記調製した組成物を１，５００ｒｐｍにてスピンコートし、１５０℃で１８０秒間焼成した。この基板をＰＧＭＥＡにて剥離し、未反応の重合体を除去した。基板上に形成された選択的表面修飾材は、エリプソメータの膜厚測定結果より、０ｎｍ～５ｎｍ程度であった。次に、表面の接触角値を、接触角計（協和界面科学社のＤｒｏｐ　ｍａｓｔｅｒ　ＤＭ－５０１）を用いて測定した。さらに、膜厚を元に［Ａ］重合体（ブラシ）の存在密度σ（ｃｈａｉｎｓ／ｎｍ２）を下記式（１）により算出した。
　　σ＝ｄ×Ｌ×ＮＡ×１０－２１／Ｍｎ・・・（１）
　　ｄ：［Ａ］重合体の密度（ｇ／ｃｍ３）、Ｌ：膜の平均厚み（ｎｍ）、ＮＡ：アボガドロ数、Ｍｎ：［Ａ］重合体の数平均分子量
　金属基板及び酸化ケイ素基板のそれぞれについて、基板表面に形成された重合体膜の平均厚み（ｎｍ）、接触角値（°）、重合体（ブラシ）密度（ｃｈａｉｎｓ／ｎｍ２）及び組成物の塗布性について表２にそれぞれ示す。表２中の「－」は基材表面の選択性が示されておらず、重合体の存在密度を算出しなかったことを示す。
　組成物の塗布性については、目視で観察し、以下の基準で評価した。
　Ａ：塗布性は良好である
　Ｂ：多少はじきが認められる
　Ｃ：塗布が困難である
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
＜銅－シリコンオキサイドからなるストライプ基板上での選択的表面修飾の評価＞
［実施例１８～２０、２６～２８、比較例３及び参考例７］
　図１に示す８インチ基板（Ｃｕ－ＥＰＣ：１０，０００Å／Ｃｕ－Ｓｅｅｄ：１，０００Å／ＴａＮ　Ｂａｒｒｉｅｒ　Ｌａｙｅｒ：２５０Å／シリコンオキサイド（酸化ケイ素）：５，０００Å／シリコンウエハ、０．１８μｍトレンチ）をＣＭＰスラリーにて研磨し、図２のように銅とシリコンオキサイドがストライプ状に並ぶ基板を作成した。次にこの基板を５質量％シュウ酸水溶液に浸漬させたのち、窒素フローにて乾燥させ、表面の酸化被膜を除去した。
　この基板にトラック（東京エレクトロン社の「ＴＥＬＤＳＡ　ＡＣＴ８」）を用いて、上記調製した組成物を１，５００ｒｐｍにてスピンコートし、１５０℃で１８０秒間焼成した。この基板をＰＧＭＥＡにて剥離し、未反応の重合体を除去した。次に、走査型プローブ顕微鏡（日立ハイテクサイエンス社、Ｓ－ｉｍａｇｅ（顕微鏡ユニット）及びＮａｎｏＮａｖｉＲｅａｌ（コントロールステーション））にて表面を観察し、凹凸より被覆部の膜厚を算出した。
　銅－シリコンオキサイドストライプ基板上のシリコンオキサイド、銅のそれぞれの領域上に形成された重合体の塗膜の平均厚み（ｎｍ）を表３にそれぞれ示した。表３中の「ＮＤ」は、厚みが小さく、検出できなかったことを示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
　表２及び表３の結果から、実施例の基材表面の選択的修飾方法によれば、ケイ素を含む表面領域を簡便に、高選択的かつ高密度に修飾できることが示された。
　本発明の基材表面の選択的修飾方法及び組成物によれば、ケイ素を含む表面領域を簡便に、高選択的かつ高密度に修飾することができる。従って、当該基材表面の選択的修飾方法及び組成物は、今後ますます微細化が進行すると予想される半導体デバイスの加工プロセス等に好適に用いることができる。
　１　シリコンウエハ
　２　Ｃｕ－ＥＰＣ
　３　Ｃｕ－ｓｅｅｄ
　４　ＴａＮ
　５　シリコンオキサイド

Claims (11)

  1. 　ケイ素を含む第１領域を表層に有する基材を準備する工程と、
    　上記基材の表面に、上記ケイ素と結合する第１官能基を含む基を主鎖又は側鎖の末端に有する第１重合体及び溶媒を含有する組成物を塗工する工程と、
    　上記塗工工程により形成される塗膜を加熱する工程と
    　を備える基材表面の選択的修飾方法。
  2. 　上記第１領域が、ケイ素酸化物、ケイ素窒化物又はケイ素酸化物窒化物を含む請求項１に記載の選択的修飾方法。
  3. 　上記基材が、第１領域以外の領域であって、金属を含む第２領域をさらに有し、
    　上記加熱工程の後に、上記塗膜のうち上記第２領域上に形成された部分をリンス液により除去する工程
    　をさらに備える請求項１又は請求項２に記載の基材表面の選択的修飾方法。
  4. 　上記第１重合体のポリスチレン換算数平均分子量が、５００以上５０，０００以下である請求項１、請求項２又は請求項３に記載の基材表面の選択的修飾方法。
  5. 　上記第１官能基が、－ＳｉＲｘ（ＯＲ’）３－ｘであり、Ｒ及びＲ’が、それぞれ独立して、水素原子又は炭素数１～２０の１価の炭化水素基、ｘが０～３の整数であるが、ただし、Ｒが複数存在する場合、複数のＲは同一でも異なっていてもよく、Ｒ’が複数存在する場合、複数のＲ’は同一でも異なっていてもよい請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の基材表面の選択的修飾方法。
  6. 　上記第１重合体が、スチレン重合体、（メタ）アクリル重合体、エチレン重合体、シロキサン系重合体、又はこれらを組み合わせた共重合体である請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の基材表面の選択的修飾方法。
  7. 　上記第１重合体が、上記第１官能基を含む基を主鎖の一方の末端に有する請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の基材表面の選択的修飾方法。
  8. 　上記除去工程後の基材の表面に、アルコール、希酸、過酸化水素水、オゾン又はプラズマを接触させる工程
    　をさらに備える請求項３に記載の基材表面の選択的修飾方法。
  9. 　上記除去工程後の基材の表面に、ＣＶＤ法又はＡＬＤ法によりパターンを堆積させる工程
    　をさらに備える請求項３に記載の基材表面の選択的修飾方法。
  10. 　上記除去工程後の基材の表面上の上記第１重合体をエッチングにより除去する工程
    　をさらに備える請求項３に記載の基材表面の選択的修飾方法。
  11. 　基材表面の選択的修飾方法に用いられる組成物であって、
    　ケイ素と結合を形成する第１官能基を含む基を主鎖又は側鎖の末端に有する重合体と溶媒とを含有することを特徴とする組成物。
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