WO2017094559A1 - 反射特性測定システム - Google Patents

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WO2017094559A1
WO2017094559A1 PCT/JP2016/084552 JP2016084552W WO2017094559A1 WO 2017094559 A1 WO2017094559 A1 WO 2017094559A1 JP 2016084552 W JP2016084552 W JP 2016084552W WO 2017094559 A1 WO2017094559 A1 WO 2017094559A1
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WO
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light
correction
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opening
characteristic
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PCT/JP2016/084552
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English (en)
French (fr)
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山田　正之
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Konica Minolta Inc
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Konica Minolta Inc
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration

Definitions

  • the present invention relates to a system for measuring light reflection characteristics on the surface of a sample.
  • the sample placed in the opening of the integrating sphere is illuminated using the integrating sphere as a colorimetric object, and the reflected light from the sample is received, and the surface color of the sample (specifically, the object color)
  • a color measurement device that measures the above (for example, Patent Document 1).
  • the size of the measurement opening (also referred to as measurement opening) in the integrating sphere is appropriately determined according to the type and size of the sample. And the measurement (average value measurement, spot measurement) which made the part distribute
  • the diameter of the measurement opening is set to about 3 mm to 20 mm according to the size of the integrating sphere. This is because the aperture diameter of the measurement aperture is set within a range in which measurement of the object color is unlikely to occur with respect to the diameter of the integrating sphere.
  • the color measurement device if a two-dimensional distribution of colors in a measurement area of a predetermined size can be measured, the selection of the measurement area, simultaneous measurement of a plurality of distant places, measurement of an elongated area, etc. Intricate shapes such as uneven color and patterned objects in the measurement area can be measured. Such a measurement can be realized in a mode in which the average value of the color of the circular measurement area arranged in the circular measurement opening on the surface of the sample is measured as in the conventional color measurement device. There wasn't.
  • the color measuring device capable of measuring the two-dimensional color distribution is not limited to a large type installed on a desk or the like, but is a small and lightweight portable type that can be carried by hand. Can be considered.
  • the diameter of the measurement opening facing the sample must be larger than the size of the integrating sphere.
  • the light irradiated on the sample is reflected by the sample against the light reflected so as to diffuse in the integrating sphere.
  • the ratio of light reflected from the surface and returning to the inside of the integrating sphere increases.
  • the illumination light in the integrating sphere can be modulated depending on the surface color of the sample.
  • an error is likely to occur in the result of color measurement by the color measuring device.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a small reflection characteristic measurement system capable of measuring the reflection characteristic of light on the surface of a sample with high accuracy.
  • the reflection characteristic measurement system includes an integrating sphere, a light source unit, a detection unit, an acquisition unit, a setting unit, and a correction unit.
  • the integrating sphere passes a reflected light from the device under test with a first opening forming a measurement opening arranged to cover the device under test, and facing the first opening. And a second opening forming a detection opening.
  • the light source unit irradiates light on the inner wall surface of the integrating sphere.
  • the detection unit includes the reflected light from the two-dimensional region of the surface of the object to be measured that is incident on the integrating sphere through the measurement opening, and the periphery of the first opening in the integrating sphere.
  • the reflected light from the correction region located at is received through the detection aperture, and signals corresponding to three or more light in different wavelength ranges are output.
  • the acquisition unit acquires a two-dimensional distribution of light reflection characteristics in the two-dimensional region based on a signal output from the detection unit, and acquires a characteristic value related to the light reflection property in the correction region. To do.
  • the setting unit has a reflection characteristic of light in the correction region acquired by the acquisition unit according to a signal output from the detection unit when a reference object is arranged to cover the measurement opening.
  • the first characteristic value according to the above and the light in the correction area acquired by the acquisition unit in response to a signal output from the detection unit when the sample is arranged to cover the measurement opening Based on the second characteristic value related to the reflection characteristic, a conversion rule capable of converting the second characteristic value into the first characteristic value is set.
  • the correction unit is acquired by the acquisition unit according to a signal output from the detection unit when the sample is arranged so as to cover the measurement opening by conversion based on the conversion rule. A two-dimensional distribution of the reflection characteristic in the two-dimensional region of the sample is corrected.
  • the reflection characteristic measurement system since the influence of the modulation of the illumination light according to the reflection characteristic of the light on the surface of the sample is suppressed, the reflection characteristic of the light on the surface of the sample is measured with high accuracy. A small reflection characteristic measuring system can be realized.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a schematic configuration of a reflection characteristic measurement system according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating the bottom of the integrating sphere as viewed from the inside.
  • FIG. 3 is a plan view showing a configuration example of the rotary filter unit.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a variation of the correction area.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a variation of the correction area.
  • FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration example of the information processing unit.
  • FIG. 7 is a block diagram illustrating a functional configuration realized by the information processing unit.
  • FIG. 8 is a top view illustrating the appearance of the top surface of the sample.
  • FIG. 9 is a flowchart illustrating an operation flow related to colorimetry processing in the information processing unit.
  • FIG. 9 is a flowchart illustrating an operation flow related to colorimetry processing in the information processing unit.
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating an operation flow related to colorimetry processing in the information processing unit.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating the relationship between the correction condition and ⁇ Lab in the simulation.
  • FIG. 12 is a diagram illustrating a cross section of an integrating sphere according to the first modification.
  • FIG. 13 is a diagram illustrating a state in which the bottom of the integrating sphere according to the first modification is viewed from the inside.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating the appearance of the bottom of the integrating sphere according to the first modification.
  • FIG. 15 is a diagram illustrating a cross section of an integrating sphere according to the second modification.
  • FIG. 16 is a diagram illustrating a state in which the bottom of the integrating sphere according to the second modification is viewed from the inside.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a schematic configuration of a reflection characteristic measurement system 1 according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a state in which the bottom of the integrating sphere 21 is viewed from the inside. Specifically, FIG. 2 is a diagram showing an XY cross section at a position indicated by a one-dot chain line II-II in FIG.
  • the reflection characteristic measurement system 1 is a system for measuring a characteristic (also referred to as a reflection characteristic) that reflects light on the surface of the measurement object 4 including the reference object 4st for calibration and the sample 4sm.
  • the reflection characteristic includes, for example, a numerical value related to the object color.
  • a white calibration plate also referred to as a calibration white plate or the like may be employed as the calibration reference object 4st.
  • the reflection characteristic measurement system 1 includes a reflection characteristic measurement unit 2 and an information processing unit 3.
  • the reflection characteristic measuring unit 2 and the information processing unit 3 may be configured integrally, whereby the reflection characteristic measuring system 1 may be configured, or the reflection characteristic measuring unit 2 and the information processing unit 3 may be configured. May be configured separately, so that the reflection characteristic measurement system 1 may be configured.
  • the information processing unit 3 is configured by, for example, a personal computer. Then, the reflection characteristic measurement unit 2 and the information processing unit 3 are connected so that data communication is possible, for example, by a cable or wireless communication.
  • the reflection characteristic measurement unit 2 includes an integrating sphere 21, an illumination unit 22, and a light receiving unit 23.
  • the integrating sphere 21 is a spherical member whose inner wall surface 21si diffuses and reflects light (diffuse reflection) almost completely.
  • the inner wall surface 21si can be formed, for example, by applying a white paint such as barium sulfate to the inner surface of a spherical member.
  • the color of the inner wall surface 21si of the integrating sphere 21 is substantially equivalent to the color of the surface of the calibration white plate.
  • the integrating sphere 21 has openings Hp0, Hp1, and Hp2 that form three openings H0, H1, and H2 whose inner space is open to the outer space. Each opening H0, H1. As H2, for example, a substantially circular one can be adopted.
  • the opening Hp0 is a part where the opening H0 for irradiating the inner wall surface 21si of the integrating sphere 21 with the light from the illumination unit 22 is formed.
  • the opening Hp1 is a portion (also referred to as a first opening) that forms a measurement opening H1 that is arranged so as to cover the DUT 4.
  • the opening Hp ⁇ b> 1 is provided at the bottom of the integrating sphere 21.
  • the opening portion Hp2 is a portion (also referred to as a second opening portion) that forms a detection opening H2 that opposes the first opening portion Hp1 and allows the reflected light from the DUT 4 to pass therethrough.
  • the illumination unit 22 is a part that irradiates light to the object to be measured 4 in order to measure the light reflection characteristics on the surface of the object to be measured 4.
  • the illumination unit 22 includes a light emitting circuit 221 and a light source unit 222.
  • the light emitting circuit 221 is a circuit for causing the light source unit 222 to emit light.
  • the light source part 222 is a part that irradiates the inner wall surface 21si of the integrating sphere 21 with light.
  • a halogen lamp, a xenon lamp, a light emitting diode (LED), or the like may be employed.
  • the light emitted from the light source unit 222 is incident on the integrating sphere 21 through the opening H0 and is irradiated on the inner wall surface 21si of the integrating sphere 21.
  • the light irradiated on the inner wall surface 21si is irradiated, for example, on the object 4 to be measured so as to cover the opening H1 through the opening H1 through one or more irregular reflections on the inner wall surface 21si.
  • the light source unit 222 may be disposed in the integrating sphere 21 without the opening H0 and the opening Hp0, for example.
  • the light receiving unit 23 is a part that receives light from the DUT 4.
  • the reflected light from the DUT 4 irradiated with the light emitted from the light source unit 222 is incident on the light receiving unit 23 through the opening H1 and the opening H2 in this order, so that the light receiving unit 23 Received light.
  • the light receiving unit 23 includes a lens unit 231, a filter unit 232, and a detection unit 233.
  • the lens unit 231 forms an image of the reflected light from the DUT 4 in the detection unit 233.
  • the filter unit 232 is a part that selectively transmits light in a predetermined wavelength range set in advance.
  • the filter unit 232 includes, for example, three or more filters that respectively pass light having three or more different wavelength ranges. And the filter arrange
  • FIG. 3 is a plan view showing a configuration example of the filter unit 232.
  • the filter unit 232 shown in FIG. 3 is a rotary type.
  • the filter unit 232 includes a circular disk Dk1, a rotation axis Ax1, a filter unit F1, and a motor unit M1 (FIG. 1) on a plane orthogonal to the lens optical axis (on the XY plane in the drawing). is doing.
  • a plurality of through holes Th1, Th2, Th3, Th4, Th5, Th6, Th7, Th8 are provided in the circumferential direction along the outer edge.
  • the plurality of through-holes Th1, Th2, Th3, Th4, Th5, Th6, Th7, Th8 are, for example, every 45 ° around the rotation axis Ax1 extending along the Z axis provided at the center of the disk Dk1. Is provided.
  • a plurality of preset through holes for example, three through holes Th1, Th3, Th4.
  • Three or more preset filter units F1 are attached.
  • a filter portion F1x that allows light in the X wavelength range of the XYZ color system to pass is attached to the through hole Th1, and light in the Y wavelength range of the XYZ color system is allowed to pass through the through hole Th2.
  • An example is shown in which a filter part F1y is attached, and a filter part F1z that allows light in the Z wavelength region of the XYZ color system to pass through is attached to the through hole Th3.
  • the three or more filter portions F1 for example, instead of the three filter portions F1x, F1y, and F1z, red (R), green (G), and blue (B) filter portions, cyan (C), and magenta
  • a filter unit for three colors such as (M) and yellow (Y) filter units may be employed.
  • the three or more filter parts F1 for example, four or more filter parts F1 may be employed.
  • the four or more filter units F1 for example, in addition to the three filter units F1x, F1y, and F1z related to the tristimulus values X, Y, and Z, one or more types of filter units related to the wavelength range of light different from them May be adopted.
  • a filter that can approximately represent a spectrum of transmitted light (also referred to as a transmission spectrum) with a Gaussian function may be employed as the one or more types of filter units employed here. That is, the three or more filter units F1 may be a multiband filter having three or more filter units, for example.
  • the disk Dk1 is rotated about the rotation axis Ax1 by the motor unit M1, for example, so that the type of the filter unit F1 disposed between the lens unit 231 and the detection unit 233 is switched.
  • the disk Dk1 rotates 45 ° counterclockwise about the rotation axis Ax1, so that the filter unit F1 is in the order of the filter unit F1x, the filter unit F1y, and the filter unit F1z. Can be switched.
  • the detection unit 233 outputs a signal corresponding to light incident through the filter unit 232.
  • the detection unit 233 has, for example, a plurality of photoelectric conversion elements arranged two-dimensionally.
  • the plurality of photoelectric conversion elements are arranged in a matrix, for example, to constitute an area sensor such as a CCD.
  • the filter unit 232 adjusts the wavelength range of light received by the detection unit 233, and thus the detection unit 233 is configured by a monochrome area sensor or the like.
  • the outer edge of the region that can be imaged by the detection unit 233 is indicated by a two-dot chain line.
  • the detection unit 233 reflects the reflected light from the area (also referred to as a two-dimensional area) Am1 as a measurement target on the surface of the object 4 to be measured that enters the integrating sphere 21 through the opening H1, Reflected light from a region Ac1 located around the first opening Hp1 (also referred to as a peripheral region) Ac1 is received through the second opening Hp2.
  • the detection unit 233 outputs signals corresponding to three or more light beams having different wavelength ranges.
  • the output of signals corresponding to light of three or more mutually different wavelength ranges in the detection unit 233 includes output of signals corresponding to the tristimulus values X, Y, and Z.
  • a value (also referred to as a characteristic value) related to the corresponding reflection characteristic can be easily obtained.
  • the two-dimensional region Am1 is set so as not to include, for example, a region near the outer edge of the opening H1 in the surface of the DUT 4.
  • a signal related to the reflected light from the two-dimensional region Am1 in which the influence of the shadow that can be generated on the surface of the measurement object 4 due to the edge of the first opening Hp1 and the decrease in the amount of irradiation light is reduced is obtained.
  • the peripheral area Ac1 includes a correction area (also referred to as a correction area) P1. That is, the detection unit 233 receives the reflected light from the correction region P1 located around the first opening Hp1 in the integrating sphere 21 through the second opening Hp2.
  • the correction area P1 for example, one or more correction reference plates (also referred to as correction reference plates) are arranged.
  • the correction here refers to an error that occurs in the measurement value of the reflection characteristic on the surface of the object 4 to be measured by the illumination light in the integrating sphere 21 being modulated by the retro-reflecting light according to the surface color of the object 4 to be measured. It means to correct.
  • the correction reference plate is, for example, a flat plate.
  • FIG. 2 shows an example in which a red correction reference plate P1r, a green correction reference plate P1g, and a blue correction reference plate P1b are arranged as correction reference plates.
  • the manner in which the correction reference plates are arranged in the correction region P1 is not limited to the manner in which the three-color correction reference plates P1r, P1g, and P1b are arranged.
  • 4 and 5 are diagrams illustrating variations of the correction area P1.
  • the correction reference plate may not be provided in the correction region P1.
  • the inner wall surface 21si of the integrating sphere 21 is white, it is equivalent to a state where the white correction reference plate P1w is arranged in the correction region P1.
  • a mode in which one or more correction reference plates are provided in the correction region P1 may be employed.
  • a mode in which one or more correction reference plates include the white correction reference plate P1w may be employed.
  • one or more correction reference plates may include four or more color correction reference plates.
  • four or more correction reference plates include a red correction reference plate P1r, a green correction reference plate P1g, a blue correction reference plate P1b, a white correction reference plate P1w, and a yellow correction reference plate.
  • An example is shown in which five color correction reference plates called the reference plate P1y are arranged.
  • FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration example of the information processing unit 3.
  • the information processing unit 3 includes an input unit 31, an output unit 32, a storage unit 33, an input / output (I / O) unit 34, interface (I / F) units 35, 36, and 37, and a control unit 38. Are connected via a bus 3b so that data can be transmitted and received.
  • the input unit 31 is a part that inputs a signal in accordance with, for example, a user operation.
  • the input unit 31 for example, an operation unit that inputs a signal according to the operation of various buttons by the user, a voice input unit that performs speech recognition according to a voice uttered by the user, and the like are adopted. obtain.
  • the output unit 32 is a part that outputs various types of information in a manner that can be recognized by the user, for example.
  • a display device or a projector that outputs various types of information in a manner that can be visually recognized by the user, and a speaker that outputs various types of information in a manner that allows the user to recognize each other may be employed.
  • the storage unit 33 is a part that stores, for example, the program 3P and various information.
  • a non-volatile storage medium such as a ROM may be employed.
  • the I / O unit 34 is a part that receives the storage medium 39 and exchanges data between the storage medium 39 and the control unit 38.
  • a USB port and a card reader can be employed.
  • the storage medium 39 for example, a flash memory, an SD memory card, or the like can be adopted.
  • the I / F units 35, 36, and 37 are portions that transmit and receive various signals and various data to and from portions other than the information processing unit 3 through communication lines or cables.
  • the I / F unit 35 is connected to the illumination unit 22
  • the I / F unit 36 is connected to the detection unit 233
  • the I / F unit 37 is connected to the motor unit M1. ing.
  • the control unit 38 is an electric circuit including a processor 38a and a memory 38b.
  • a central processing unit CPU: Central Processing Unit
  • a volatile memory such as RAM (Random Access Memory) or the like can be adopted as the memory 38b.
  • the control unit 38 reads and executes the program 3P stored in the storage unit 33, thereby realizing various functions and various types of information processing in cooperation with the program 3P stored in the storage unit 33. Thereby, operation
  • FIG. 7 is a block diagram illustrating a functional configuration realized by the control unit 38 of the information processing unit 3.
  • the information processing unit 3 implements, for example, a plurality of functional configurations by reading and executing the program 3P. That is, the information processing unit 3 has a plurality of functional configurations.
  • the plurality of functional configurations include, for example, a motor control unit 381, a light source control unit 382, an acquisition unit 383, a storage control unit 384, a setting unit 385, a correction unit 386, and the like.
  • the motor control unit 381 switches the type of the filter unit F1 disposed between the lens unit 231 and the detection unit 233 by controlling the rotation of the motor unit M1.
  • one of the filter units F1x, F1y, and F1z of the tristimulus values X, Y, and Z is disposed between the lens unit 231 and the detection unit 233.
  • the detection unit 233 can output a signal related to one wavelength region among the tristimulus values X, Y, and Z.
  • the filter unit F1x of the tristimulus value X is disposed between the lens unit 231 and the detection unit 233, so that the detection unit 233 outputs a signal related to the wavelength range of the tristimulus value X. obtain.
  • the filter unit F1y having the tristimulus value Y is disposed between the lens unit 231 and the detection unit 233, so that the detection unit 233 can output a signal related to the wavelength range of the tristimulus value Y.
  • the filter unit F1z of the tristimulus value Z is disposed between the lens unit 231 and the detection unit 233, so that the detection unit 233 can output a signal related to the wavelength range of the tristimulus value Z.
  • the light source control unit 382 controls irradiation of illumination light to the inner wall surface 21si of the integrating sphere 21 by the illumination unit 22. Specifically, the light source control unit 382 controls the light emission of the light source unit 222 via the light emitting circuit 221.
  • the acquisition unit 383 Based on the signal output from the detection unit 233, the acquisition unit 383 acquires a two-dimensional distribution (also referred to as a two-dimensional distribution) of light reflection characteristics in the two-dimensional region Am1 of the sample 4sm as the object to be measured 4. .
  • the acquisition unit 383 After the signal output from the detection unit 233 is corrected for linearity related to the sensor output of the detection unit 233, the acquisition unit 383 generates a two-dimensional distribution of light reflection characteristics.
  • the two-dimensional distribution of the light reflection characteristic may be acquired directly from the signal output from the detection unit 233.
  • the light reflection characteristics in the two-dimensional area Am1 are, for example, in accordance with the color in the two-dimensional area Am1.
  • the acquisition unit 383 acquires image data indicating a two-dimensional distribution of light reflection characteristics in the two-dimensional region Am1 for the wavelength range of light associated with each of the tristimulus values X, Y, and Z. Can be done.
  • FIG. 8 is a view showing an example of the surface of a sample 4 sm as the DUT 4.
  • FIG. 8 shows an aspect in which the outer edge of the region Ar0 corresponding to the opening H1 is indicated by a two-dot chain line, and the region corresponding to the two-dimensional region Am1 includes the region Ar1 different from the surrounding color. .
  • the acquisition unit 383 acquires a characteristic value related to the light reflection characteristic in the correction region P1 based on the signal output from the detection unit 233.
  • the light in the correction region P1 is output in accordance with a signal output from the detection unit 233 when the calibration white plate as the reference object 4st is disposed so as to cover the measurement opening H1.
  • a characteristic value related to the reflection characteristic (also referred to as a first characteristic value) is acquired.
  • a characteristic value also referred to as a second characteristic value
  • the two-dimensional distribution of the light reflection characteristic in the two-dimensional area Am1 and the second characteristic value can be acquired under the same illumination condition.
  • each of the first characteristic value and the second characteristic value includes, for example, one or more characteristic values relating to the light reflection characteristic of the correction reference plate P1, the surface of the sample 4sm as the object 4 to be measured Thus, the measurement accuracy of the light reflection characteristics can be improved.
  • the acquisition unit 383 can acquire the characteristic value related to the reflection characteristic of the light in the correction region P1 for the light in the wavelength range related to each of the tristimulus values X, Y, and Z.
  • the characteristic value for example, a representative value for each color portion of the image data indicating the two-dimensional distribution of the light reflection characteristic in the correction region P1 may be employed.
  • the representative value for example, a statistical value such as an average value or a mode value may be employed.
  • an average value for each color portion in the image data indicating the two-dimensional distribution of the light reflection characteristic in the correction region P1 is employed as the first characteristic value and the second characteristic value.
  • the storage control unit 384 acquires image data indicating the two-dimensional distribution of the light reflection characteristics in the two-dimensional area Am1 acquired by the acquisition unit 383, the first characteristic value and the first characteristic value related to the light reflection characteristics in the correction area P1. Two characteristic values are stored in the storage unit 33.
  • the setting unit 385 sets a conversion rule that can convert the second characteristic value to the first characteristic value based on the first characteristic value and the second characteristic value acquired by the acquisition unit 383.
  • the correction unit 386 converts the sample 4sm acquired by the acquisition unit 383 in accordance with a signal output from the detection unit 233 when the sample 4sm is arranged so as to cover the measurement opening H1 by conversion based on the conversion rule.
  • the two-dimensional distribution of the light reflection characteristics in the two-dimensional area Am1 is corrected.
  • the image data indicating the two-dimensional distribution of the light reflection characteristics in the two-dimensional region Am1 on the surface of the sample 4sm as the object to be measured 4 can be corrected by conversion based on the conversion rule.
  • the conversion rule is defined by, for example, a conversion formula.
  • the form of this conversion formula differs depending on the mode of the correction region P1 and the filter unit 232, for example.
  • the relationship of Expression (1) is established between the first characteristic value Vx and the second characteristic value Vx ′, and the wavelength range related to the tristimulus value Y
  • the relationship of the expression (2) is established between the first characteristic value Vy and the second characteristic value Vy ′, and the first characteristic value Vz and the first characteristic value for the light in the wavelength range related to the tristimulus value Z are established.
  • the relationship of the formula (3) is established between the two characteristic values Vz ′.
  • k, l, and m are coefficients.
  • Vx k ⁇ Vx ′ (1)
  • Vy 1 ⁇ Vy ′ (2)
  • Vz m ⁇ Vz ′ (3).
  • the pixel value Vx ′ ( ⁇ of image data indicating the two-dimensional distribution of the reflection characteristics of the light in the two-dimensional region Am1 of the sample 4sm with respect to the light in the wavelength region related to each of the tristimulus values X, Y, and Z. ) 'Vy' ( ⁇ ), Vz '( ⁇ ) and the pixel values Vx ( ⁇ ), Vy ( ⁇ ), Vz ( ⁇ ) of the corrected image data based on the conversion formula, The relationship from 4) to (6) is established.
  • ⁇ represents a wavelength.
  • Vx ( ⁇ ) k ⁇ Vx ′ ( ⁇ ) (4)
  • Vy ( ⁇ ) 1 ⁇ Vy ′ ( ⁇ ) (5)
  • Vz ( ⁇ ) m ⁇ Vz ′ ( ⁇ ) (6).
  • the first characteristic value Vxr and the second characteristic value Vxr ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X, and the light in the wavelength range related to the tristimulus value Y are represented by the relations (7) to (9). Is established.
  • k1, k2, k3, l1, l2, l3, m1, m2, and m3 are coefficients.
  • Vxr k1 * Vxr '+ k2 * Vyr' + k3 * Vzr '(7)
  • Vyr l1 ⁇ Vxr ′ + l2 ⁇ Vyr ′ + l3 ⁇ Vzr ′ (8)
  • Vzr m1 * Vxr '+ m2 * Vyr' + m3 * Vzr '(9).
  • the first characteristic value Vxg and the second characteristic value Vxg ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X, and the second related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value Y have the relations of equations (10) to (12). To establish.
  • Vxg k1 * Vxg '+ k2 * Vyg' + k3 * Vzg '(10)
  • Vyg l1 ⁇ Vxg ′ + l2 ⁇ Vyg ′ + l3 ⁇ Vzg ′ (11)
  • Vzg m1 * Vxg '+ m2 * Vyg' + m3 * Vzg '(12).
  • the first characteristic value Vxb and the second characteristic value Vxb ′ relating to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X and the second characteristic value relating to the light in the wavelength range relating to the tristimulus value Y are obtained.
  • the first characteristic value Vyb, the second characteristic value Vyb ′, and the first characteristic value Vzb and the second characteristic value Vzb ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value Z have the relations of equations (13) to (15).
  • Vxb k1 * Vxb '+ k2 * Vyb' + k3 * Vzb '(13)
  • Vyb l1 ⁇ Vxb ′ + l2 ⁇ Vyb ′ + l3 ⁇ Vzb ′ (14)
  • Vzb m1 * Vxb '+ m2 * Vyb' + m3 * Vzb '(15).
  • the pixel value Vx ′ ( ⁇ of image data indicating the two-dimensional distribution of the reflection characteristics of the light in the two-dimensional region Am1 of the sample 4sm with respect to the light in the wavelength region related to each of the tristimulus values X, Y, and Z. ), Vy ′ ( ⁇ ), Vz ′ ( ⁇ ) and the pixel values Vx ( ⁇ ), Vy ( ⁇ ), Vz ( ⁇ ) of the corrected image data based on the conversion formula, 16) to (18) are established.
  • ⁇ represents a wavelength.
  • Vx ( ⁇ ) k1 ⁇ Vx ′ ( ⁇ ) + k2 ⁇ Vy ′ ( ⁇ ) + k3 ⁇ Vz ′ ( ⁇ ) (16)
  • Vy ( ⁇ ) l1 ⁇ Vx ′ ( ⁇ ) + l2 ⁇ Vy ′ ( ⁇ ) + l3 ⁇ Vz ′ ( ⁇ ) (17)
  • Vz ( ⁇ ) m1 ⁇ Vx ′ ( ⁇ ) + m2 ⁇ Vy ′ ( ⁇ ) + m3 ⁇ Vz ′ ( ⁇ ) (18)
  • the five color correction reference plates for example, a red correction reference plate P1r, a green correction reference plate P1g, a blue correction reference plate P1b, a white correction reference plate P1w, and a yellow correction reference plate.
  • a plate P1y is employed.
  • the first characteristic value Vxr and the second characteristic value Vxr ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X, and the light in the wavelength range related to the tristimulus value Y The first characteristic value Vyr and the second characteristic value Vyr ′, the first characteristic value Vzr and the second characteristic value Vzr ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value Z, the first related to the light in the wavelength range of the transmission spectrum A
  • the relationship of Expressions (19) to (23) is established between the characteristic value Var, the second characteristic value Var ′, and the first characteristic value Vbr and the second characteristic value Vbr ′ relating to light in the wavelength region of the transmission spectrum B.
  • k1, k2, k3, k4, k5, l1, l2, l3, l4, l5, m1, m2, m3, m4, m5, n1, n2, n3, n4, n5, o1, o2, o3, o4 , O5 is a coefficient.
  • Vxr k1 * Vxr '+ k2 * Vyr' + k3 * Vzr '+ k4 * Var' + k5 * Vbr '(19)
  • Vyr l1 ⁇ Vxr ′ + l2 ⁇ Vyr ′ + l3 ⁇ Vzr ′ + l4 ⁇ Var ′ + l5 ⁇ Vbr ′
  • Vzr m1 ⁇ Vxr ′ + m2 ⁇ Vyr ′ + m3 ⁇ Vzr ′ + m4 ⁇ Var ′ + m5 ⁇ Vbr ′
  • Var n1 ⁇ Vxr ′ + n2 ⁇ Vyr ′ + n3 ⁇ Vzr ′ + n4 ⁇ Var ′ + n5 ⁇ Vbr ′
  • Vbr o1 * Vxr '+ o2 * Vyr' + o3 * Vzr
  • the first characteristic value Vxg and the second characteristic value Vxg ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X, and the second related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value Y are related to the first characteristic value Vxg and the second characteristic value Vxg ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X, and the second related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value Y.
  • the relationship of Expressions (24) to (28) is established between the value Vag, the second characteristic value Vag ′, and the first characteristic value Vbg and the second characteristic value Vbg ′ relating to light in the wavelength band of the transmission spectrum B.
  • Vxg k1 * Vxg '+ k2 * Vyg' + k3 * Vzg '+ k4 * Vag' + k5 * Vbg '(24)
  • Vyg l1 ⁇ Vxg ′ + l2 ⁇ Vyg ′ + l3 ⁇ Vzg ′ + l4 ⁇ Vag ′ + l5 ⁇ Vbg ′
  • Vzg m1 * Vxg '+ m2 * Vyg' + m3 * Vzg '+ m4 * Vag' + m5 * Vbg '(26)
  • Vag n1 ⁇ Vxg ′ + n2 ⁇ Vyg ′ + n3 ⁇ Vzg ′ + n4 ⁇ Vag ′ + n5 ⁇ Vbg ′
  • Vbg o1 * Vxg '+ o2 * Vyg' + o3 * Vzg '
  • the first characteristic value Vxb and the second characteristic value Vxb ′ relating to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X and the second characteristic value relating to the light in the wavelength range relating to the tristimulus value Y are obtained.
  • the relationship of Expressions (29) to (33) is established between the value Vab, the second characteristic value Vab ′, and the first characteristic value Vbb and the second characteristic value Vbb ′ relating to light in the wavelength region of the transmission spectrum B.
  • Vxb k1 * Vxb '+ k2 * Vyb' + k3 * Vzb '+ k4 * Vab' + k5 * Vbb '(29)
  • Vyb l1 ⁇ Vxb ′ + l2 ⁇ Vyb ′ + l3 ⁇ Vzb ′ + l4 ⁇ Vab ′ + l5 ⁇ Vbb ′
  • Vzb m1 ⁇ Vxb ′ + m2 ⁇ Vyb ′ + m3 ⁇ Vzb ′ + m4 ⁇ Vab ′ + m5 ⁇ Vbb ′ (31)
  • Vab n1 ⁇ Vxb ′ + n2 ⁇ Vyb ′ + n3 ⁇ Vzb ′ + n4 ⁇ Vab ′ + n5 ⁇ Vbb ′ (32)
  • Vbb o1 * Vxb '+ o2 * Vyb' +
  • the first characteristic value Vxw and the second characteristic value Vxw ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X, and the second related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value Y are related to the white correction reference plate P1w.
  • the relationship of Expressions (34) to (38) is established between the value Vaw, the second characteristic value Vaw ′, and the first characteristic value Vbw and the second characteristic value Vbw ′ relating to light in the wavelength region of the transmission spectrum B.
  • Vxw k1 ⁇ Vxw ′ + k2 ⁇ Vyw ′ + k3 ⁇ Vzw ′ + k4 ⁇ Vaw ′ + k5 ⁇ Vbw ′ (34)
  • Vyw l1 ⁇ Vxw ′ + l2 ⁇ Vyw ′ + l3 ⁇ Vzw ′ + l4 ⁇ Vaw ′ + l5 ⁇ Vbw ′ (35)
  • Vzw m1 ⁇ Vxw ′ + m2 ⁇ Vyw ′ + m3 ⁇ Vzw ′ + m4 ⁇ Vaw ′ + m5 ⁇ Vbw ′ (36)
  • Vaw n1 ⁇ Vxw ′ + n2 ⁇ Vyw ′ + n3 ⁇ Vzw ′ + n4 ⁇ Vaw ′ + n5 ⁇ Vbw ′ (37)
  • Vbw o1 * Vxw '+ o
  • the first characteristic value Vxy and the second characteristic value Vxy ′ related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value X, and the second related to the light in the wavelength range related to the tristimulus value Y are related to the yellow correction reference plate P1y.
  • Vxy k1 * Vxy '+ k2 * Vyy' + k3 * Vzy '+ k4 * Vay' + k5 * Vby '(39)
  • Vyy l1 ⁇ Vxy ′ + l2 ⁇ Vyy ′ + l3 ⁇ Vzy ′ + l4 ⁇ Vay ′ + l5 ⁇ Vby ′ (40)
  • Vzy m1 ⁇ Vxy ′ + m2 ⁇ Vyy ′ + m3 ⁇ Vzy ′ + m4 ⁇ Vay ′ + m5 ⁇ Vby ′ (41)
  • Vay n1 ⁇ Vxy ′ + n2 ⁇ Vyy ′ + n3 ⁇ Vzy ′ + n4 ⁇ Vay ′ + n5 ⁇ Vby ′ (42)
  • Vby o1 * Vxy '+ o2 * Vyy' + o3 * Vzy '
  • Vx ( ⁇ ) k1 ⁇ Vx ′ ( ⁇ ) + k2 ⁇ Vy ′ ( ⁇ ) + k3 ⁇ Vz ′ ( ⁇ ) + k4 ⁇ Va ′ ( ⁇ ) + k5 ⁇ Vb ′ ( ⁇ ) (44)
  • Vy ( ⁇ ) l1 ⁇ Vx ′ ( ⁇ ) + l2 ⁇ Vy ′ ( ⁇ ) + l3 ⁇ Vz ′ ( ⁇ ) + l4 ⁇ Va ′ ( ⁇ ) + l5 ⁇ Vb ′ ( ⁇ ) (45)
  • Vz ( ⁇ ) m1 ⁇ Vx ′ ( ⁇ ) + m2 ⁇ Vy ′ ( ⁇ ) + m3 ⁇ Vz ′ ( ⁇ ) + m4 ⁇ Va ′ ( ⁇ ) + m5 ⁇ Vb ′ ( ⁇ ) (46)
  • Va ( ⁇ ) n1 ⁇ Vx ′ ( ⁇ ) + n2 ⁇ Vy ′ ( ⁇ ) + n3 ⁇ Vz
  • FIG. 9 and FIG. 10 are diagrams illustrating an example of an operation flow related to color measurement processing in the reflection characteristic measurement system 1. This operation flow is started, for example, by turning on the power of the reflection characteristic measurement system 1 according to the user's operation, and proceeds to step S1 in FIG.
  • step S1 a white plate for calibration as the reference object 4st is set to the reflection characteristic measuring unit 2.
  • the calibration white plate as the reference object 4st is arranged so as to cover the measurement opening H1.
  • step S2 the control unit 38 sets a numerical value m to 1 to identify the number of the filter unit F1 used by the filter unit F1.
  • the numerical value m can be sequentially set to a natural number from 1 to a natural number M of 3 or more.
  • step S3 the mth filter unit F1 is set in the filter unit 232.
  • the mth filter unit F1 is disposed between the lens unit 231 and the detection unit 233.
  • step S4 the light source unit 222 is turned on.
  • the light source unit 222 is turned on under the control of the light source control unit 382 in accordance with a signal input from the input unit 31 according to the user's operation.
  • step S5 imaging by the detection unit 233 is performed.
  • the reflected light from the light enters the detection unit 233 via the lens unit 231 and the filter unit 232.
  • the acquisition unit 383 can acquire the first characteristic value related to the reflection characteristic of the light in the correction region P1 for the light in the wavelength region related to the m-th filter unit F1.
  • the first characteristic value can be acquired for each correction reference plate.
  • step S6 the storage control unit 384 stores the first characteristic value acquired in step S5 in the storage unit 33.
  • step S7 the light source unit 222 is turned off under the control of the light source control unit 382.
  • step S8 the control unit 38 determines whether or not the numerical value m has reached the number M of the filter units F1. If the numerical value m has not reached M, the process proceeds to step S9. If the numerical value m has reached M, the process proceeds to step S11 in FIG.
  • step S9 the control unit 38 increments the numerical value m by one and returns to step S4. That is, the processing from step S4 to step S9 is repeated until the first characteristic value is acquired for the M filter units F1.
  • step S11 the sample 4sm is set to the reflection characteristic measurement unit 2.
  • the sample 4sm is disposed so as to cover the measurement opening H1.
  • step S12 the control unit 38 sets a numerical value m to 1 to identify the number of the filter unit F1 to be used.
  • step S13 the mth filter unit F1 is set in the filter unit 232.
  • the mth filter unit F1 is disposed between the lens unit 231 and the detection unit 233.
  • step S14 the light source unit 222 is turned on.
  • the light source unit 222 is turned on under the control of the light source control unit 382 in accordance with a signal input from the input unit 31 according to the user's operation.
  • step S15 imaging by the detection unit 233 is performed.
  • the reflected light from the two-dimensional area Am1 of the sample 4sm that enters the integrating sphere 21 through the opening H1 and the peripheral area Ac1 positioned around the first opening Hp1 in the integrating sphere 21.
  • the reflected light enters the detection unit 233 via the lens unit 231 and the filter unit 232.
  • the acquisition unit 383 causes the second characteristic value related to the reflection characteristic of the light in the correction region P1 and the reflection of the light in the two-dimensional region Am1 of the sample 4sm with respect to the light in the wavelength region related to the mth filter unit F1.
  • Image data showing a two-dimensional distribution of characteristics can be obtained.
  • the second characteristic value can be acquired for each correction reference plate.
  • step S16 the storage control unit 384 stores the second characteristic value acquired in step S15 and the image data related to the two-dimensional area Am1 of the sample 4sm in the storage unit 33.
  • step S17 the light source unit 222 is turned off under the control of the light source control unit 382.
  • step S18 the control unit 38 determines whether or not the numerical value m has reached the number M of the filter units F1. If the numerical value m has not reached M, the process proceeds to step S19. If the numerical value m has reached M, the process proceeds to step S20.
  • step S19 the numerical value m is incremented by 1, and the process returns to step S14. That is, for the M filter units F1, the processing from step S14 to step S19 is repeated until image data relating to the second characteristic value and the two-dimensional area Am1 of the sample 4sm is acquired.
  • a conversion rule is set by the setting unit 385.
  • the conversion rule is set based on the first characteristic value obtained in step S5 and the second characteristic value obtained in step S15. Further, for example, the first characteristic value and the second characteristic value are applied to the relational expression corresponding to the number of filter portions F1 in the filter unit 232 and the correction reference plate provided in the correction region P1. A coefficient is calculated. Thereby, a conversion formula as a conversion rule including the coefficient can be set. And by such a process, whenever the sample 4sm is set, the conversion formula as a conversion rule according to the surface color of the sample 4sm can be set.
  • step S21 the correction unit 386 corrects the two-dimensional distribution of the light reflection characteristics in the two-dimensional region Am1 related to the sample 4sm obtained in step S15 by the conversion based on the conversion rule set in step S20.
  • the image data indicating the two-dimensional distribution of the light reflection characteristics in the two-dimensional region Am1 on the surface of the sample 4sm as the DUT 4 can be corrected by conversion based on the conversion formula as the conversion rule.
  • the present invention is not limited to this.
  • a calibration white plate as the reference object 4st may be set and the first characteristic value may be acquired.
  • a mode in which the first characteristic value is acquired by setting the calibration white plate as the reference object 4st at the timing before the start of the measurement for the plurality of samples 4sm is conceivable. Thereby, the load of measurement and calculation can be reduced.
  • the first characteristic value is acquired by setting the calibration white plate as the reference object 4st at the timing after measurement of the plurality of samples 4sm.
  • the image data relating to the plurality of samples 4sm can be collectively corrected.
  • the two-dimensional distribution of the light reflection characteristics in the two-dimensional area Am1 related to the sample 4sm is corrected by the conversion rule, and then further corrected by the white calibration coefficient, so that the sample 4sm is corrected.
  • a two-dimensional distribution of the light reflection characteristics after correction may be acquired.
  • the integrating sphere 21 has an inner diameter of 100 mm, the diameter of the opening H1 is set to 40 mm, and the diameter of the two-dimensional region Am1 is set to 35 mm.
  • the light source unit 222 employs an A light source that emits light so that the color temperature is 2854K.
  • the A light source can be realized by a tungsten light bulb (also called an incandescent bulb).
  • the light receiving sensitivity in the light receiving unit 23 is such that an ideal color matching function of XYZ corresponds to a 10 ° field of view.
  • the value (it is also called evaluation value) Lab which shows the object color about 13 types of to-be-measured objects 4, the true value on condition that the illumination light in the integrating sphere 21 is not modulated by recursive illumination light (both true value) Say) was calculated. Further, with respect to the object color evaluation value Lab for the 12 types of samples 4sm, a measurement value (also referred to as an uncorrected value) under the condition that the illumination light in the integrating sphere 21 is modulated by the recursive illumination light, and the measurement value A value (correction value) obtained by correcting according to the conversion rule was calculated.
  • the object color evaluation value Lab was calculated by conversion from the tristimulus values X, Y, and Z obtained by the detection unit 233.
  • the evaluation value ⁇ Lab indicating the error in the measurement result caused by the recursive illumination light
  • the difference between the true value and the uncorrected value and the difference between the true value and the corrected value were calculated for 12 types of samples 4sm.
  • the evaluation value ⁇ Lab is smaller, it means that the measurement accuracy of the light reflection characteristic is improved by the correction based on the conversion rule.
  • FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the correction condition under simulation and the evaluation value ⁇ Lab. As shown in FIG. 11, when three filter portions F1x, F1y, and F1z corresponding to the tristimulus values X, Y, and Z are used, the following three types of conditions [i] to [iii] are used. A simulation was performed.
  • FIG. 11 shows the relationship between the correction condition in the simulation and the evaluation value ⁇ Lab.
  • FIG. 11 shows the maximum value of the evaluation values ⁇ Lab calculated for 12 types of samples 4sm for each correction condition.
  • the evaluation value ⁇ Lab was about 15 under the condition where no correction was performed.
  • the evaluation value ⁇ Lab is about 4.9 under the correction condition [ii]. For this reason, it was found that the evaluation value ⁇ Lab is greatly improved by the correction using the conversion rule.
  • the evaluation value ⁇ Lab was about 3.7, and the evaluation value ⁇ Lab was greatly improved by the correction using the conversion rule. For this reason, by using the three-color correction reference plates P1r, P1g, and P1b, it is possible to correct colors existing in a wider color space, and the light reflection characteristics on the surface of the sample 4 sm are highly accurate. It was estimated that it could be measured.
  • the evaluation value ⁇ Lab is about 0.55 under the correction condition [iv].
  • the types of filter portions F1 increase and the yellow (Y) correction reference plate P1y and the white (W) correction reference plate P1w are employed, the evaluation value ⁇ Lab is corrected using the conversion rule. It has been found that this can be further improved.
  • the use of the five color correction reference plates including yellow and white makes it possible to correct colors existing in a wider color space, and the light reflection characteristics on the surface of the sample 4 sm are higher. It was estimated that it could be measured accurately.
  • the acquisition unit according to the signal output from the detection unit 233 when the reference object 4st is arranged so as to cover the measurement opening H1.
  • the first characteristic value related to the light reflection characteristic in the correction region P1 is acquired.
  • the acquisition unit 383 performs a second operation related to the light reflection characteristic in the correction region P1 according to a signal output from the detection unit 233.
  • a characteristic value is obtained.
  • the setting unit 385 sets a conversion rule that can convert the second characteristic value into the first characteristic value based on the first characteristic value and the second characteristic value.
  • the correction unit 386 corrects the two-dimensional distribution of the reflection characteristics related to the two-dimensional region Am1 on the surface of the sample 4sm acquired by the acquisition unit 383 by conversion based on the conversion rule. Thereby, the influence by the modulation
  • the two-dimensional area Am1 as the measurement target area in the sample 4sm is expanded by expanding the measurement opening H1 to some extent. obtain.
  • the number of the detection units 233 is one, high-precision measurement of light reflection characteristics can be realized.
  • a conversion formula as a conversion rule corresponding to the surface color of the sample 4sm for each sample 4sm, even if there is a slight deviation in the modulation of the illumination light by the recursive illumination light, The influence of modulation can be suppressed.
  • the integrating sphere 21 is described only as a sphere.
  • a configuration in which a spherical portion forming the integrating sphere 21 is formed by two or more portions may be employed.
  • the first modified example having such a configuration will be described with a specific example.
  • FIG. 12 is a diagram illustrating a schematic configuration of the reflection characteristic measurement system 1A according to the first modification.
  • FIG. 13 is a diagram illustrating a state in which the bottom of the integrating sphere 21A is viewed from the inside. Specifically, FIG. 13 is a diagram showing an XY cross section at a position indicated by a one-dot chain line XIII-XIII in FIG.
  • the reflection characteristic measurement system 1A is based on the reflection characteristic measurement system 1 according to the above-described embodiment, and the reflection characteristic measurement unit 2 is changed from the integrating sphere 21 to the integrating sphere 21A. Part 2A is replaced.
  • the integrating sphere 21A has a main body portion 21Bd and a mounting portion 21At.
  • the main body 21Bd includes the second opening Hp2.
  • the attachment portion 21At is attached to the main body portion 21Bd and includes the first opening Hp1 and the correction region P1. If such a configuration is adopted, it becomes easy to manufacture a portion provided with the correction reference plate. As a result, the integrating sphere 21 can be easily manufactured.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating a schematic configuration of the attachment portion 21At that is not attached to the main body portion 21Bd.
  • the attachment portion 21At may have a configuration that can be attached to and detached from the main body portion 21Bd, or a configuration that can only be attached to the main body portion 21Bd by bonding or the like. May be.
  • worn by rotating in the state engaged mutually for example may be employ
  • FIG. 15 is a diagram illustrating a schematic configuration of a reflection characteristic measurement system 1B according to the second modification.
  • FIG. 16 is a diagram illustrating a state in which the bottom of the integrating sphere 21B is viewed from the inside. Specifically, FIG. 16 is a diagram showing an XY cross section at a position indicated by a one-dot chain line XVI-XVI in FIG.
  • the reflection characteristic measurement system 1B is based on the reflection characteristic measurement system 1A according to the first modification, and the reflection characteristic measurement unit 2A is changed from the integrating sphere 21A to the integrating sphere 21B.
  • the measurement unit 2B is replaced.
  • the integrating sphere 21B has a main body portion 21Bd and a mounting portion 21AtB.
  • the attachment portion 21AtB is attached to the main body portion 21Bd and includes the first opening Hp1 and the correction region P1.
  • the attachment portion 21AtB is provided with three types of correction reference plates P1 (P1r, P1g, P1b) as one or more correction reference plates.
  • Each correction reference plate is arranged toward the internal space of the integrating sphere 21B and has one main surface having a virtual normal passing through the detection opening H2.
  • the one main surface may be a flat surface, for example.
  • virtual normals are drawn with thin arrows.
  • correction reference plates P1r, P1g, and P1b are provided.
  • one or more correction reference plates may be provided. At least one correction reference plate among the one or more correction reference plates is disposed toward the internal space of the integrating sphere and has a virtual normal line passing through the detection opening H2. If the main surface is provided, the light reflection characteristic on the surface of the sample 4 sm can be measured with higher accuracy.
  • the detection unit 233 outputs a signal corresponding to the light incident through the filter unit 232, but the present invention is not limited to this.
  • the detection unit 233 may be a color area sensor having a three-plate type (3CCD type) configuration, or a color area sensor having a single-plate type configuration. Also good. That is, the detection unit 233 only needs to output signals corresponding to three or more light beams in different wavelength ranges.
  • a filter related to the three colors R, G, and B or a filter related to the three colors C, M, and Y Filters relating to the three wavelength bands of light may be employed.
  • the photoelectric conversion element directly outputs signals respectively corresponding to light of three mutually different wavelength ranges corresponding to the tristimulus values X, Y, and Z. Although it output, it is not restricted to this.
  • the photoelectric conversion element after the photoelectric conversion element once obtains signals corresponding respectively to light in three or more wavelength ranges different from the tristimulus values X, Y, and Z such as R, G, and B, these Based on the signal, a configuration may be adopted in which signals respectively corresponding to light of three mutually different wavelength ranges corresponding to the tristimulus values X, Y, and Z are output.
  • the stimulus value X of the three stimulus values X, Y, and Z may be obtained by being decomposed into values X1 and X2, for example. In this case, for example, the value X1 can be calculated from the stimulus value Z.
  • the detection unit 233 is an area sensor, but is not limited thereto.
  • the detection unit 233 has a configuration in which a plurality of photoelectric conversion elements are arranged in the first direction, and the detection unit 233 is scanned in the second direction intersecting the first direction.
  • a configuration that performs substantially the same function as the area sensor may be employed.
  • a first line sensor provided with a filter corresponding to the tristimulus value X
  • a second line sensor provided with a filter corresponding to the tristimulus value Y
  • a filter corresponding to the tristimulus value Z A sensor having three line sensors composed of a third line sensor in which is arranged may be employed.
  • the calibration white plate is used as the calibration reference object 4st.
  • the present invention is not limited to this.
  • an object of another color different from white may be employed as the reference object 4st for calibration.
  • the two-dimensional distribution of the reflection characteristic corrected by the conversion based on the conversion rule indicates a value under illumination affected by the retro-illumination light of the calibration reference object 4st.
  • the conversion rule is defined in the form of a conversion formula, but the present invention is not limited to this.
  • the conversion rule may be defined by a table (also referred to as a conversion table) in which values obtained in advance by actual measurement or simulation are described.
  • the numerical value related to the object color is adopted as the reflection characteristic, but the present invention is not limited to this, and the reflectance of light in a specific wavelength region may be adopted.
  • the present invention includes, for example, reflection characteristic measurement systems according to the following second to seventh aspects.
  • a reflection characteristic measurement system is the reflection characteristic measurement system according to the first aspect, wherein outputs of signals respectively corresponding to light in the three or more different wavelength ranges in the detection unit are output. 3. Includes output of signals corresponding to tristimulus values.
  • the value relating to the reflection characteristic of light corresponding to the color matching function can be easily obtained.
  • a reflection characteristic measurement system is the reflection characteristic measurement system according to the first or second aspect, further comprising one or more correction reference plates arranged in the correction region.
  • the first characteristic value and the second characteristic value each include characteristic values relating to light reflection characteristics of the one or more correction reference plates.
  • the reflection characteristic measurement system is the reflection characteristic measurement system according to the third aspect, wherein the one or more correction reference plates include a white correction reference plate.
  • the reflection characteristic measurement system can improve the measurement accuracy of the light reflection characteristic on the surface of the sample.
  • a reflection characteristic measurement system is the reflection characteristic measurement system according to the third or fourth aspect, wherein the one or more correction reference plates are red, green and blue correction reference plates. including.
  • the reflection characteristic measurement system it is possible to correct a color existing in a wider color space, so that the reflection characteristic of light on the surface of the sample can be measured with high accuracy.
  • a reflection characteristic measurement system is the reflection characteristic measurement system according to any one of the third to fifth aspects, wherein at least one of the one or more correction reference plates is used for correction.
  • a reference plate is disposed facing the internal space of the integrating sphere and has a principal surface having a virtual normal passing through the detection opening.
  • the reflection characteristic measurement system since the influence of the reflection of the inner wall of the integrating sphere is reduced in the detection result of one main surface of the correction reference plate, the reflection characteristic of light on the surface of the sample is reduced. Can be measured with higher accuracy.
  • a reflection characteristic measurement system is the reflection characteristic measurement system according to any one of the third to sixth aspects, wherein the integrating sphere includes a main body including the second opening, And an attachment portion that is attached to the main body portion and includes the first opening and the correction region.
  • the manufacture of the integrating sphere can be facilitated because the manufacture of the portion provided with the correction reference plate is facilitated.

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Abstract

試料の表面における光の反射特性が高精度に測定され得る小型の反射特性測定システムを提供することを目的とする。該目標を達成するために、積分球の測定用の開口に基準物体が覆うように配されている際に検出部から出力される信号に応じて取得される、積分球内の第１開口部の周囲に位置する補正用領域における光の反射特性に係る第１特性値と、測定用の開口に試料が覆うように配されている際に検出部から出力される信号に応じて取得される、補正用領域における光の反射特性に係る第２特性値とに基づいて、該第２特性値を第１特性値に変換することが可能な変換ルールが設定される。変換ルールに基づく変換によって、測定用の開口に試料が覆うように配されている際に検出部から出力される信号に応じて取得された試料の２次元領域における反射特性の２次元の分布が補正される。

Description

反射特性測定システム
　本発明は、試料の表面における光の反射特性を測定するシステムに関する。
　積分球の開口部に配された試料を測色の対象物として該積分球を用いて照明し、該試料からの反射光を受光して、試料の表面色（具体的には、物体色）を測定する測色装置がある（例えば、特許文献１）。
　この測色装置では、積分球における測定用の開口部（測定開口部とも言う）の大きさは、試料の種類および大きさ等に応じて適宜決定される。そして、試料のうちの測定開口部に配された部分を面状の測定の対象としての一領域（被測定領域とも言う）とした測定（平均値測定、スポット測定）が行われる。ここで、一般にポータブルまたはハンディタイプの測色装置では、測定開口部の径は、積分球の大きさに応じて３ｍｍから２０ｍｍ程度に設定されている。これは、積分球の直径に対して、物体色の測定に影響が生じ難い範囲内で、測定開口部の開口径が設定されることによる。
　また、測色装置において、所定の大きさの被測定領域内における色彩の２次元分布が測定され得るのであれば、被測定領域の選択、離れた複数箇所の同時測定および細長い領域の測定等によって、被測定領域における色むらおよび柄物等の複雑な形状が測定され得る。このような測定は、従来の測色装置のように、試料の表面のうちの円形の測定開口部に配された円形の被測定領域の色の平均値が測定される態様では、実現され得なかった。
特開２００５－６２０９５号公報
　ところで、色彩の２次元分布が測定され得る測色装置としては、机上等に設置される大型のタイプのものに限られず、小型かつ軽量で、手で持ち運ぶことが可能な携帯式のタイプのものが考えられる。
　ただ、試料の被測定領域の大きさがある程度確保されなければ、色彩の２次元分布を捉えることが容易でない。さらに、積分球等を使って、試料をあらゆる方向から均等に照明する測色動作に適した拡散照明方法が採用される場合には、測定用開口部の外縁部に生じ得る影の影響等を考慮すると、被測定領域よりも大きな測定用開口が必要である。
　その一方で、携帯式の測色装置に適した大きさおよび重さを実現するためには、積分球の大きさおよび重さを増大させることは適切でない。このため、積分球の大きさに対して、試料に面する測定用開口の径が大きくならざるを得ない。
　しかしながら、積分球の径に対して、測定用開口の径が大きくなれば大きくなる程、積分球内で拡散するように反射している光に対して、試料に照射された光が該試料の表面で反射して積分球の内部に戻る光（再帰照明光とも言う）の割合が大きくなる。これにより、積分球内の照明光が試料の表面色に依って変調され得る。その結果、測色装置による測色の結果に誤差が生じ易くなる。
　なお、このような問題は、測色装置だけに限られず、試料の表面における光の反射特性を測定するシステム（反射特性測定システムとも言う）一般に共通する。
　本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、試料の表面における光の反射特性が高精度に測定され得る小型の反射特性測定システムを提供することを目的とする。
　上記課題を解決するために、第１の態様に係る反射特性測定システムは、積分球と、光源部と、検出部と、取得部と、設定部と、補正部と、を備えている。前記積分球は、被測定物が覆うように配される測定用の開口を形成している第１開口部と、該第１開口部に対向して、前記被測定物からの反射光を通過させる検出用の開口を形成している第２開口部とを有する。前記光源部は、前記積分球の内壁面に光を照射する。前記検出部は、前記測定用の開口を介して前記積分球内に入射される前記被測定物の表面の２次元領域からの前記反射光、および前記積分球内の前記第１開口部の周囲に位置する補正用領域からの反射光を、前記検出用の開口を介して受光し、３以上の相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号を出力する。前記取得部は、前記検出部から出力される信号に基づいて、前記２次元領域における光の反射特性の２次元の分布を取得し、前記補正用領域における光の反射特性に係る特性値を取得する。前記設定部は、前記測定用の開口に基準物体が覆うように配されている際に前記検出部から出力される信号に応じて前記取得部で取得される前記補正用領域における光の反射特性に係る第１特性値と、前記測定用の開口に試料が覆うように配されている際に前記検出部から出力される信号に応じて前記取得部で取得される前記補正用領域における光の反射特性に係る第２特性値とに基づいて、該第２特性値を前記第１特性値に変換することが可能な変換ルールを設定する。前記補正部は、前記変換ルールに基づく変換によって、前記測定用の開口に前記試料が覆うように配されている際に前記検出部から出力される信号に応じて前記取得部で取得された前記試料の前記２次元領域における前記反射特性の２次元の分布を補正する。
　第１の態様に係る反射特性測定システムによれば、試料の表面における光の反射特性に応じた照明光の変調による影響が抑制されるため、試料の表面における光の反射特性が高精度に測定され得る小型の反射特性測定システムが実現され得る。
図１は、一実施形態に係る反射特性測定システムの概略的な構成を例示する図である。 図２は、積分球の底部を内側から見た様子を例示する図である。 図３は、回転式のフィルターユニットの一構成例を示す平面図である。 図４は、補正用領域のバリエーションを例示する図である。 図５は、補正用領域のバリエーションを例示する図である。 図６は、情報処理部の一構成例を示すブロック図である。 図７は、情報処理部で実現される機能的な構成を例示するブロック図である。 図８は、試料の上面の外観を例示する上面図である。 図９は、情報処理部における測色処理に係る動作フローを例示する流れ図である。 図１０は、情報処理部における測色処理に係る動作フローを例示する流れ図である。 図１１は、シミュレーションにおける補正の条件とΔＬａｂとの関係を示す図である。 図１２は、第１変形例に係る積分球の断面を例示する図である。 図１３は、第１変形例に係る積分球の底部を内側から見た様子を例示する図である。 図１４は、第１変形例に係る積分球の底部の外観を例示する図である。 図１５は、第２変形例に係る積分球の断面を例示する図である。 図１６は、第２変形例に係る積分球の底部を内側から見た様子を例示する図である。
　以下、本発明の一実施形態および各種変形例を図面に基づいて説明する。なお、図面においては同様な構成および機能を有する部分については同じ符号が付されており、下記説明では重複説明が省略される。また、図面は模式的に示されたものであり、各図における各種構造のサイズおよび位置関係等は適宜変更され得る。図１から図５、図８および図１２から図１６には、反射特性測定システム１の（図１の図面視上方向）を＋Ｚ方向とする右手系のＸＹＺ座標系が付されている。
　＜(１)一実施形態＞
　　＜(１－１)反射特性測定システムの概要＞
　図１は、一実施形態に係る反射特性測定システム１の概略的な構成を例示する図である。図２は、積分球２１の底部を内側から見た様子を例示する図である。具体的には、図２は、図１にて一点鎖線II－IIで示した位置におけるＸＹ断面を示す図である。
　反射特性測定システム１は、校正用の基準物体４ｓｔならびに試料４ｓｍ等を含む被測定物４の表面における光を反射させる特性（反射特性とも言う）を測定するためのシステムである。ここで、反射特性には、例えば、物体色に係る数値が含まれる。また、校正用の基準物体４ｓｔとしては、例えば、白色の校正用の板（校正用白色板とも言う）等が採用され得る。
　反射特性測定システム１は、反射特性測定部２および情報処理部３を備えている。ここでは、例えば、反射特性測定部２と情報処理部３とが一体的に構成されることで、反射特性測定システム１が構成されても良いし、反射特性測定部２と情報処理部３とが別体で構成されることで、反射特性測定システム１が構成されても良い。反射特性測定部２と情報処理部３とが別体で構成される場合には、情報処理部３は、例えば、パーソナルコンピューター等によって構成される。そして、反射特性測定部２と情報処理部３とが、例えば、ケーブルあるいは無線通信によってデータ通信可能に接続される。
　反射特性測定部２は、積分球２１、照明部２２および受光部２３を備えている。
　積分球２１は、内壁面２１ｓｉが光をほぼ完全に拡散反射（乱反射）する球体状の部材である。ここで、内壁面２１ｓｉは、例えば、球体状の部材の内面に硫酸バリウム等の白色塗料が塗布されることで形成され得る。なお、積分球２１の内壁面２１ｓｉの色は、校正用白色板の表面の色と略等価である。そして、積分球２１は、内部空間が外部空間に対して開かれた３つの開口Ｈ０，Ｈ１，Ｈ２を形成している開口部Ｈｐ０，Ｈｐ１，Ｈｐ２を有している。各開口Ｈ０，Ｈ１．Ｈ２としては、例えば、略円形のものが採用され得る。
　開口部Ｈｐ０は、照明部２２からの光を積分球２１の内壁面２１ｓｉに照射させるための開口Ｈ０を形成している部分である。
　開口部Ｈｐ１は、被測定物４が覆うように配される測定用の開口Ｈ１を形成している部分（第１開口部とも言う）である。ここでは、開口部Ｈｐ１は、積分球２１の底部に設けられている。
　開口部Ｈｐ２は、第１開口部Ｈｐ１に対向して、被測定物４からの反射光を通過させる検出用の開口Ｈ２を形成している部分（第２開口部とも言う）である。
　照明部２２は、被測定物４の表面における光の反射特性を測定するために、該被測定物４に光を照射する部分である。該照明部２２は、発光回路２２１および光源部２２２を有している。
　発光回路２２１は、光源部２２２を発光させるための回路である。
　光源部２２２は、積分球２１の内壁面２１ｓｉに光を照射する部分である。光源部２２２としては、例えば、ハロゲンランプ、キセノンランプ、発光ダイオード（ＬＥＤ）等が採用され得る。
　本実施形態では、光源部２２２から発せられた光は、開口Ｈ０を介して、積分球２１内に入射されることで、積分球２１の内壁面２１ｓｉに照射される。ここで、内壁面２１ｓｉに照射された光は、例えば、内壁面２１ｓｉにおける１回以上の乱反射を経て、開口Ｈ１を介して該開口Ｈ１を覆うように配されている被測定物４に照射される。なお、光源部２２２は、例えば、開口Ｈ０および開口部Ｈｐ０が設けられることなく、積分球２１内に配されても良い。
　受光部２３は、被測定物４からの光を受光する部分である。ここでは、光源部２２２から発せられた光が照射された被測定物４からの反射光が、開口Ｈ１および開口Ｈ２を順に介して、受光部２３に入射されることで、該受光部２３によって受光される。該受光部２３は、レンズ部２３１、フィルターユニット２３２および検出部２３３を有している。
　レンズ部２３１は、被測定物４からの反射光を検出部２３３において結像させる。
　フィルターユニット２３２は、予め設定された所定の波長域の光を選択的に通過させる部分である。該フィルターユニット２３２は、例えば、相互に異なる３以上の波長域の光をそれぞれ通過させる３以上のフィルターを有している。そして、レンズ部２３１から検出部２３３に至る光路上に配置されるフィルターが適宜切り替えられることで、所望の波長域の光を選択的に通過させ得る。
　図３は、フィルターユニット２３２の一構成例を示す平面図である。
　図３で示されるフィルターユニット２３２は、回転式のものである。具体的には、例えば、フィルターユニット２３２は、レンズ光軸に直交する平面上（図中ＸＹ平面上）の円形のディスクＤｋ１、回転軸Ａｘ１、フィルター部Ｆ１およびモーター部Ｍ１（図１）を有している。ディスクＤｋ１には、例えば、外縁に沿った周方向に複数の貫通孔Ｔｈ１，Ｔｈ２，Ｔｈ３，Ｔｈ４，Ｔｈ５，Ｔｈ６，Ｔｈ７，Ｔｈ８が設けられている。複数の貫通孔Ｔｈ１，Ｔｈ２，Ｔｈ３，Ｔｈ４，Ｔｈ５，Ｔｈ６，Ｔｈ７，Ｔｈ８は、例えば、ディスクＤｋ１の中心に設けられているＺ軸に沿って延在する回転軸Ａｘ１を中心として、４５°毎に設けられる。
　ここで、例えば、複数の貫通孔Ｔｈ１，Ｔｈ２，Ｔｈ３，Ｔｈ４，Ｔｈ５，Ｔｈ６，Ｔｈ７，Ｔｈ８のうち、予め設定された複数の貫通孔（例えば、３つの貫通孔Ｔｈ１，Ｔｈ３，Ｔｈ３）に、予め設定された３以上（本実施形態では、３つ）のフィルター部Ｆ１が取り付けられている。図３には、貫通孔Ｔｈ１に、ＸＹＺ表色系のＸの波長域の光を通過させるフィルター部Ｆ１ｘが取り付けられ、貫通孔Ｔｈ２に、ＸＹＺ表色系のＹの波長域の光を通過させるフィルター部Ｆ１ｙが取り付けられ、貫通孔Ｔｈ３に、ＸＹＺ表色系のＺの波長域の光を通過させるフィルター部Ｆ１ｚが取り付けられている一例が示されている。
　なお、３以上のフィルター部Ｆ１としては、例えば、３つのフィルター部Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚの代わりに、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）のフィルター部およびシアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）のフィルター部等と言った３色に係るフィルター部が採用されても良い。また、３以上のフィルター部Ｆ１としては、例えば、４以上のフィルター部Ｆ１が採用されても良い。４以上のフィルター部Ｆ１としては、例えば、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚに係る３つのフィルター部Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚに加えて、それらとは異なる光の波長域に係る１種類以上のフィルター部が採用されても良い。ここで採用される１種類以上のフィルター部には、例えば、透過光のスペクトル（透過スペクトルとも言う）が、ガウス関数で近似的に表され得るフィルター等が採用され得る。すなわち、３以上のフィルター部Ｆ１は、例えば、３以上のフィルター部を有するマルチバンドのフィルターであれば良い。
　ディスクＤｋ１は、例えば、モーター部Ｍ１によって回転軸Ａｘ１を中心にして回転されることで、レンズ部２３１と検出部２３３との間に配置されるフィルター部Ｆ１の種類が切り替えられる。例えば、図３で示されるフィルターユニット２３２では、ディスクＤｋ１が回転軸Ａｘ１を中心として反時計回りに４５°回転することで、フィルター部Ｆ１ｘ、フィルター部Ｆ１ｙおよびフィルター部Ｆ１ｚの順に、フィルター部Ｆ１が切り替えられ得る。
　検出部２３３は、フィルターユニット２３２を介して入射する光に対応する信号を出力する。該検出部２３３は、例えば、２次元的に配置された複数の光電変換素子を有している。ここで、複数の光電変換素子は、例えば、マトリックス状に配置されることで、ＣＣＤ等のエリアセンサーを構成する。本実施形態では、フィルターユニット２３２によって、検出部２３３で受光される光の波長域が調整されるため、検出部２３３は、モノクロのエリアセンサー等によって構成される。図２には、検出部２３３によって撮像可能な領域の外縁が２点鎖線で示されている。
　ところで、検出部２３３は、開口Ｈ１を介して積分球２１内に入射される被測定物４の表面の測定対象としての領域（２次元領域とも言う）Ａｍ１からの反射光、および積分球２１内の第１開口部Ｈｐ１の周囲に位置する領域（周辺領域とも言う）Ａｃ１からの反射光を、第２開口部Ｈｐ２を介して受光する。このとき、フィルターユニット２３２においてフィルター部Ｆ１が順次切り替えられることによって、検出部２３３は、３以上の相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号を出力する。本実施形態では、検出部２３３における３以上の相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号の出力が、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚに対応する信号の出力を含むため、等色関数に対応する反射特性に係る値（特性値とも言う）が容易に取得され得る。
　ここで、２次元領域Ａｍ１が、例えば、被測定物４の表面のうちの開口Ｈ１の外縁近傍の領域を含まないように設定される。これにより、第１開口部Ｈｐ１の縁部によって被測定物４の表面に生じ得る影や照射光量の低下等の影響が低減された２次元領域Ａｍ１からの反射光に係る信号が得られる。
　また、ここで、周辺領域Ａｃ１に、補正用の領域（補正用領域とも言う）Ｐ１が含まれる。つまり、検出部２３３は、積分球２１内の第１開口部Ｈｐ１の周囲に位置する補正用領域Ｐ１からの反射光を、第２開口部Ｈｐ２を介して受光する。補正用領域Ｐ１には、例えば、１以上の補正の基準となる板（補正用基準板とも言う）が配置される。ここで言う補正とは、積分球２１内の照明光が被測定物４の表面色に応じた再帰照明光によって変調されることで被測定物４の表面における反射特性の測定値において生じる誤差を補正することを意味している。また、補正用基準板は、例えば、平板状のものが採用される。
　図２には、補正用基準板として、赤色の補正用基準板Ｐ１ｒ、緑色の補正用基準板Ｐ１ｇおよび青色の補正用基準板Ｐ１ｂが配置されている例が示されている。但し、補正用領域Ｐ１に補正用基準板が配設される態様としては、３色の補正用基準板Ｐ１ｒ，Ｐ１ｇ，Ｐ１ｂが配設される態様に限られない。
　図４および図５は、補正用領域Ｐ１のバリエーションを例示する図である。
　図４で示されるように、例えば、補正用領域Ｐ１に補正用基準板が設けられていなくても良い。ここで、積分球２１の内壁面２１ｓｉは白色であるため、補正用領域Ｐ１に白色の補正用基準板Ｐ１ｗが配されている状態と等価な状態となる。
　また、例えば、補正用領域Ｐ１に、１以上の補正用基準板が設けられる態様が採用されても良い。ここで、例えば、１以上の補正用基準板に、白色の補正用基準板Ｐ１ｗが含まれる態様が採用され得る。また、例えば、図５で示されるように１以上の補正用基準板に、４色以上の補正用基準板が含まれる態様が採用されても良い。図５には、４以上の補正用基準板として、赤色の補正用基準板Ｐ１ｒ、緑色の補正用基準板Ｐ１ｇ、青色の補正用基準板Ｐ１ｂ、白色の補正用基準板Ｐ１ｗおよび黄色の補正用基準板Ｐ１ｙと言った５色の補正用基準板が配置されている例が示されている。
　図６は、情報処理部３の一構成例を示すブロック図である。
　情報処理部３は、入力部３１、出力部３２、記憶部３３、入出力（Ｉ／Ｏ）部３４、インターフェース（Ｉ／Ｆ）部３５，３６，３７および制御部３８を備えており、各部がバス３ｂを介してデータ送受信可能に接続されている。
　入力部３１は、例えば、ユーザーの動作に応じて信号を入力する部分である。入力部３１としては、例えば、ユーザーによる各種ボタンの操作等に応じて信号を入力する操作部、およびユーザーの発する音声に応じて音声の認識を行って信号を入力する音声入力部等が採用され得る。
　出力部３２は、例えば、ユーザーが認識可能な態様で各種情報を出力する部分である。出力部３２としては、例えば、各種情報をユーザーが視認可能な態様で出力する表示デバイスまたはプロジェクター、ならびに各種情報をユーザーが聞き分け可能な態様で出力するスピーカー等が採用され得る。
　記憶部３３は、例えば、プログラム３Ｐおよび各種情報等を記憶する部分である。記憶部３３としては、例えば、ＲＯＭ等の不揮発性の記憶媒体等が採用され得る。
　Ｉ／Ｏ部３４は、記憶媒体３９を受け付けて、該記憶媒体３９と制御部３８との間でデータの授受を行う部分である。Ｉ／Ｏ部３４としては、例えば、ＵＳＢポートおよびカードリーダー等が採用され得る。また、記憶媒体３９としては、例えば、フラッシュメモリー、ならびにＳＤメモリーカード等が採用され得る。
　Ｉ／Ｆ部３５，３６，３７は、通信回線またはケーブル等を介して、情報処理部３以外の部分との間で、各種信号および各種データの送受信を行う部分である。ここでは、Ｉ／Ｆ部３５が、照明部２２に接続され、Ｉ／Ｆ部３６が、検出部２３３に接続され、Ｉ／Ｆ部３７が、モーター部Ｍ１に接続されている例が示されている。
　制御部３８は、プロセッサー３８ａおよびメモリー３８ｂ等を備えた電気回路である。ここで、プロセッサー３８ａとしては、例えば、中央処理装置（ＣＰＵ：Central Processing Unit）等が採用され、メモリー３８ｂとしては、揮発性のメモリーであるＲＡＭ（Random Access Memory）等が採用され得る。制御部３８は、記憶部３３に記憶されているプログラム３Ｐを読み込んで実行することで、記憶部３３に記憶されているプログラム３Ｐとの協働によって各種機能および各種情報処理等を実現する。これにより、情報処理部３の各部の動作および情報処理部３における各種処理が制御される。なお、各種情報処理において一時的に生成されるデータは、メモリー３８ｂ等に適宜記憶される。
　　＜(１－２)反射特性測定システムの機能的な構成＞
　図７は、情報処理部３の制御部３８で実現される機能的な構成を示すブロック図である。情報処理部３は、プログラム３Ｐを読み込んで実行することで、例えば、複数の機能的な構成を実現する。つまり、情報処理部３が、複数の機能的な構成を備える。該複数の機能的な構成には、例えば、モーター制御部３８１、光源制御部３８２、取得部３８３、記憶制御部３８４、設定部３８５および補正部３８６等が含まれている。
　モーター制御部３８１は、モーター部Ｍ１の回転を制御することで、レンズ部２３１と検出部２３３との間に配置されるフィルター部Ｆ１の種類を切り替える。これにより、例えば、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚのフィルター部Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚのうちの何れか１つのフィルター部が、レンズ部２３１と検出部２３３との間に配置される。このとき、検出部２３３によって、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚのうちの１つの波長域に係る信号が出力され得る。具体的には、３刺激値Ｘのフィルター部Ｆ１ｘが、レンズ部２３１と検出部２３３との間に配置されることで、検出部２３３によって、３刺激値Ｘの波長域に係る信号が出力され得る。また、３刺激値Ｙのフィルター部Ｆ１ｙが、レンズ部２３１と検出部２３３との間に配置されることで、検出部２３３によって、３刺激値Ｙの波長域に係る信号が出力され得る。また、３刺激値Ｚのフィルター部Ｆ１ｚが、レンズ部２３１と検出部２３３との間に配置されることで、検出部２３３によって、３刺激値Ｚの波長域に係る信号が出力され得る。
　光源制御部３８２は、照明部２２による積分球２１の内壁面２１ｓｉに対する照明光の照射を制御する。具体的には、光源制御部３８２によって、発光回路２２１を介して光源部２２２の発光が制御される。
　取得部３８３は、検出部２３３から出力される信号に基づいて、被測定物４としての試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元の分布（２次元分布とも言う）を取得する。ここでは、例えば、検出部２３３から出力される信号に対して、検出部２３３のセンサーの出力に係る直線性についての補正が施された後に、取得部３８３によって光の反射特性の２次元分布が取得されても良いし、検出部２３３から出力される信号から直接的に光の反射特性の２次元分布が取得されても良い。また、２次元領域Ａｍ１における光の反射特性は、例えば、２次元領域Ａｍ１における色に応じたものとなる。そして、例えば、取得部３８３によって、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚのうちのそれぞれの値に係る光の波長域について、２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データが取得され得る。
　図８は、被測定物４としての試料４ｓｍの表面の一例を示す図である。図８には、開口Ｈ１に対応する領域Ａｒ０の外縁が２点鎖線で示され、２次元領域Ａｍ１に対応する領域に周囲の色とは異なる領域Ａｒ１が含まれている態様が示されている。
　また、取得部３８３は、検出部２３３から出力される信号に基づいて、補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る特性値を取得する。例えば、取得部３８３では、測定用の開口Ｈ１に基準物体４ｓｔとしての校正用白色板が覆うように配されている際に検出部２３３から出力される信号に応じて、補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る特性値（第１特性値とも言う）が取得される。また、例えば、取得部３８３では、測定用の開口Ｈ１に被測定物４としての試料４ｓｍが覆うように配されている際に検出部２３３から出力される信号に応じて、補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る特性値（第２特性値とも言う）が取得される。このとき、同じ照明条件において、２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布と、第２特性値とが取得され得る。
　ここで、第１特性値および第２特性値が、例えば、それぞれ１以上の補正用基準板Ｐ１における光の反射特性に係る特性値を含んでいれば、被測定物４としての試料４ｓｍの表面における光の反射特性の測定精度の向上が図られ得る。
　このとき、例えば、取得部３８３によって、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚのうちのそれぞれの値に係る波長域の光について、補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る特性値が取得され得る。ここでは、特性値として、例えば、補正用領域Ｐ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データのうちの各色の部分についての代表値がそれぞれ採用され得る。代表値としては、例えば、平均値あるいは最頻値等の統計値が採用され得る。なお、本実施形態では、第１特性値および第２特性値として、補正用領域Ｐ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データのうちの各色の部分についての平均値が採用される。
　記憶制御部３８４は、取得部３８３で取得される、２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データ、ならびに補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る第１特性値および第２特性値を、記憶部３３に記憶する。
　設定部３８５は、取得部３８３で取得された第１特性値と第２特性値とに基づいて、該第２特性値を第１特性値に変換することが可能な変換ルールを設定する。
　補正部３８６は、変換ルールに基づく変換によって、測定用の開口Ｈ１に試料４ｓｍが覆うように配されている際に検出部２３３から出力される信号に応じて取得部３８３によって取得された試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を補正する。ここでは、被測定物４としての試料４ｓｍの表面の２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データが、変換ルールに基づく変換によって補正され得る。
　　＜(１－３)変換ルールの設定および変換ルールに基づく補正＞
　変換ルールは、例えば、変換式によって規定される。そして、この変換式の形態は、例えば、補正用領域Ｐ１およびフィルターユニット２３２の態様に応じて異なる。
　　　＜(１－３－１)１色の補正用基準板のみが設けられている場合＞
　補正用領域Ｐ１に、１色の補正用基準板が設けられている場合を想定する。ここで、図４で示されたように、１色の補正用基準板としては、例えば、白色の補正用基準板Ｐ１ｗが採用され得る。この場合、３刺激値Ｘに係る波長域の光について、第１特性値Ｖｘと第２特性値Ｖｘ’との間に、式（１）の関係が成立し、３刺激値Ｙに係る波長域の光について、第１特性値Ｖｙと第２特性値Ｖｙ’との間に、式（２）の関係が成立し、３刺激値Ｚに係る波長域の光について、第１特性値Ｖｚと第２特性値Ｖｚ’との間に、式（３）の関係が成立する。ここで、ｋ，ｌ，ｍは、係数である。
　　Ｖｘ＝ｋ×Ｖｘ’　…（１）
　　Ｖｙ＝ｌ×Ｖｙ’　…（２）
　　Ｖｚ＝ｍ×Ｖｚ’　…（３）。
　ここで、第１特性値Ｖｘ，Ｖｙ，Ｖｚおよび第２特性値Ｖｘ’，Ｖｙ’，Ｖｚ’は、反射特性測定システム１による実測によって得られるため、係数ｋ，ｌ，ｍは、式（１）から（３）によって算出され得る。
　このとき、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚのそれぞれの値に係る波長域の光について、試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データの画素値Ｖｘ’(λ) ’Ｖｙ’(λ)，Ｖｚ’(λ)と、変換式に基づく補正後の画像データの画素値Ｖｘ(λ)，Ｖｙ(λ)，Ｖｚ(λ)との間に、次の式（４）から（６）の関係が成立する。ここで、λは波長を示す。
　　Ｖｘ(λ)＝ｋ×Ｖｘ’(λ)　…（４）
　　Ｖｙ(λ)＝ｌ×Ｖｙ’(λ)　…（５）
　　Ｖｚ(λ)＝ｍ×Ｖｚ’(λ)　…（６）。
　これらの式（４）から（６）が、変換ルールを規定する変換式である。
　　　＜(１－３－２)３色の補正用基準板が設けられている場合＞
　補正用領域Ｐ１に、３色の補正用基準板が設けられている場合を想定する。ここで、図２で示されたように、３色の補正用基準板としては、例えば、赤色の補正用基準板Ｐ１ｒ、緑色の補正用基準板Ｐ１ｇおよび青色の補正用基準板Ｐ１ｂが採用され得る。
　この場合、赤色の補正用基準板Ｐ１ｒについての、３刺激値Ｘに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｘｒと第２特性値Ｖｘｒ’、３刺激値Ｙに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｙｒと第２特性値Ｖｙｒ’および３刺激値Ｚに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｚｒと第２特性値Ｖｚｒ’には、式（７）から（９）の関係が成立する。ここで、ｋ１，ｋ２、ｋ３，ｌ１，ｌ２、ｌ３，ｍ１，ｍ２、ｍ３は、係数である。
　　Ｖｘｒ＝ｋ１×Ｖｘｒ’＋ｋ２×Ｖｙｒ’＋ｋ３×Ｖｚｒ’　…（７）
　　Ｖｙｒ＝ｌ１×Ｖｘｒ’＋ｌ２×Ｖｙｒ’＋ｌ３×Ｖｚｒ’　…（８）
　　Ｖｚｒ＝ｍ１×Ｖｘｒ’＋ｍ２×Ｖｙｒ’＋ｍ３×Ｖｚｒ’　…（９）。
　また、緑色の補正用基準板Ｐ１ｇについての、３刺激値Ｘに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｘｇと第２特性値Ｖｘｇ’、３刺激値Ｙに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｙｇと第２特性値Ｖｙｇ’および３刺激値Ｚに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｚｇと第２特性値Ｖｚｇ’には、式（１０）から（１２）の関係が成立する。
　　Ｖｘｇ＝ｋ１×Ｖｘｇ’＋ｋ２×Ｖｙｇ’＋ｋ３×Ｖｚｇ’　…（１０）
　　Ｖｙｇ＝ｌ１×Ｖｘｇ’＋ｌ２×Ｖｙｇ’＋ｌ３×Ｖｚｇ’　…（１１）
　　Ｖｚｇ＝ｍ１×Ｖｘｇ’＋ｍ２×Ｖｙｇ’＋ｍ３×Ｖｚｇ’　…（１２）。
　また、青色の補正用基準板Ｐ１ｂについての、３刺激値Ｘに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｘｂと第２特性値Ｖｘｂ’、３刺激値Ｙに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｙｂと第２特性値Ｖｙｂ’および３刺激値Ｚに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｚｂと第２特性値Ｖｚｂ’には、式（１３）から（１５）の関係が成立する。
　　Ｖｘｂ＝ｋ１×Ｖｘｂ’＋ｋ２×Ｖｙｂ’＋ｋ３×Ｖｚｂ’　…（１３）
　　Ｖｙｂ＝ｌ１×Ｖｘｂ’＋ｌ２×Ｖｙｂ’＋ｌ３×Ｖｚｂ’　…（１４）
　　Ｖｚｂ＝ｍ１×Ｖｘｂ’＋ｍ２×Ｖｙｂ’＋ｍ３×Ｖｚｂ’　…（１５）。
　ここで、第１特性値Ｖｘｒ，Ｖｙｒ，Ｖｚｒ，Ｖｘｇ，Ｖｙｇ，Ｖｚｇ，Ｖｘｂ，Ｖｙｂ，Ｖｚｂおよび第２特性値Ｖｘｒ’，Ｖｙｒ’，Ｖｚｒ’，Ｖｘｇ’，Ｖｙｇ’，Ｖｚｇ’，Ｖｘｂ’，Ｖｙｂ’，Ｖｚｂ’は、反射特性測定システム１による実測によって得られるため、９つの係数ｋ１，ｋ２，ｋ３，ｌ１，ｌ２，ｌ３，ｍ１，ｍ２，ｍ３は、式（７）から（１５）によって算出され得る。
　このとき、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚのそれぞれの値に係る波長域の光について、試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データの画素値Ｖｘ’(λ)，Ｖｙ’(λ)，Ｖｚ’(λ)と、変換式に基づく補正後の画像データの画素値Ｖｘ(λ)，Ｖｙ(λ)，Ｖｚ(λ)との間に、次の式（１６）から（１８）の関係が成立する。ここで、λは波長を示す。
　　Ｖｘ(λ)＝ｋ１×Ｖｘ’(λ)＋ｋ２×Ｖｙ’(λ)＋ｋ３×Ｖｚ’(λ)　…（１６）
　　Ｖｙ(λ)＝ｌ１×Ｖｘ’(λ)＋ｌ２×Ｖｙ’(λ)＋ｌ３×Ｖｚ’(λ)　…（１７）
　　Ｖｚ(λ)＝ｍ１×Ｖｘ’(λ)＋ｍ２×Ｖｙ’(λ)＋ｍ３×Ｖｚ’(λ)　…（１８）。
　ここでは、これらの式（１６）から（１８）が、変換ルールを規定する変換式である。
　　　＜(１－３－３)５種のフィルター部と５色の補正用基準板が設けられている場合＞
　４以上のフィルターを用いる一例として、分光ユニット２３２に、５種のフィルター部Ｆ１が設けられている場合を想定する。ここで、５種のフィルター部Ｆ１として、例えば、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚに係るフィルター部Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚ、Ａフィルター部Ｆ１ＡおよびＢフィルター部Ｆ１Ｂが採用される。Ａフィルター部Ｆ１ＡおよびＢフィルター部Ｆ１Ｂは、異なる透過スペクトルを持つフィルターである。また、５色の補正用基準板として、例えば、赤色の補正用基準板Ｐ１ｒ、緑色の補正用基準板Ｐ１ｇ、青色の補正用基準板Ｐ１ｂ、白色の補正用基準板Ｐ１ｗおよび黄色の補正用基準板Ｐ１ｙが採用される。
　この場合、赤色の補正用基準板Ｐ１ｒについての、３刺激値Ｘに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｘｒと第２特性値Ｖｘｒ’、３刺激値Ｙに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｙｒと第２特性値Ｖｙｒ’、３刺激値Ｚに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｚｒと第２特性値Ｖｚｒ’、透過スペクトルＡの波長域の光に係る第１特性値Ｖａｒと第２特性値Ｖａｒ’および透過スペクトルＢの波長域の光に係る第１特性値Ｖｂｒと第２特性値Ｖｂｒ’には、式（１９）から（２３）の関係が成立する。ここで、ｋ１，ｋ２，ｋ３，ｋ４，ｋ５，ｌ１，ｌ２，ｌ３，ｌ４，ｌ５，ｍ１，ｍ２，ｍ３，ｍ４，ｍ５，ｎ１，ｎ２，ｎ３，ｎ４，ｎ５，ｏ１，ｏ２，ｏ３，ｏ４，ｏ５は、係数である。
　　Ｖｘｒ＝ｋ１×Ｖｘｒ’＋ｋ２×Ｖｙｒ’＋ｋ３×Ｖｚｒ’＋ｋ４×Ｖａｒ’＋ｋ５×Ｖｂｒ’　…（１９）
　　Ｖｙｒ＝ｌ１×Ｖｘｒ’＋ｌ２×Ｖｙｒ’＋ｌ３×Ｖｚｒ’＋ｌ４×Ｖａｒ’＋ｌ５×Ｖｂｒ’　…（２０）
　　Ｖｚｒ＝ｍ１×Ｖｘｒ’＋ｍ２×Ｖｙｒ’＋ｍ３×Ｖｚｒ’＋ｍ４×Ｖａｒ’＋ｍ５×Ｖｂｒ’　…（２１）
　　Ｖａｒ＝ｎ１×Ｖｘｒ’＋ｎ２×Ｖｙｒ’＋ｎ３×Ｖｚｒ’＋ｎ４×Ｖａｒ’＋ｎ５×Ｖｂｒ’　…（２２）
　　Ｖｂｒ＝ｏ１×Ｖｘｒ’＋ｏ２×Ｖｙｒ’＋ｏ３×Ｖｚｒ’＋ｏ４×Ｖａｒ’＋ｏ５×Ｖｂｒ’　…（２３）。
　また、緑色の補正用基準板Ｐ１ｇについての、３刺激値Ｘに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｘｇと第２特性値Ｖｘｇ’、３刺激値Ｙに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｙｇと第２特性値Ｖｙｇ’、３刺激値Ｚに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｚｇと第２特性値Ｖｚｇ’、透過スペクトルＡの波長域の光に係る第１特性値Ｖａｇと第２特性値Ｖａｇ’および透過スペクトルＢの波長域の光に係る第１特性値Ｖｂｇと第２特性値Ｖｂｇ’には、式（２４）から（２８）の関係が成立する。
　　Ｖｘｇ＝ｋ１×Ｖｘｇ’＋ｋ２×Ｖｙｇ’＋ｋ３×Ｖｚｇ’＋ｋ４×Ｖａｇ’＋ｋ５×Ｖｂｇ’　…（２４）
　　Ｖｙｇ＝ｌ１×Ｖｘｇ’＋ｌ２×Ｖｙｇ’＋ｌ３×Ｖｚｇ’＋ｌ４×Ｖａｇ’＋ｌ５×Ｖｂｇ’　…（２５）
　　Ｖｚｇ＝ｍ１×Ｖｘｇ’＋ｍ２×Ｖｙｇ’＋ｍ３×Ｖｚｇ’＋ｍ４×Ｖａｇ’＋ｍ５×Ｖｂｇ’　…（２６）
　　Ｖａｇ＝ｎ１×Ｖｘｇ’＋ｎ２×Ｖｙｇ’＋ｎ３×Ｖｚｇ’＋ｎ４×Ｖａｇ’＋ｎ５×Ｖｂｇ’　…（２７）
　　Ｖｂｇ＝ｏ１×Ｖｘｇ’＋ｏ２×Ｖｙｇ’＋ｏ３×Ｖｚｇ’＋ｏ４×Ｖａｇ’＋ｏ５×Ｖｂｇ’　…（２８）。
　また、青色の補正用基準板Ｐ１ｂについての、３刺激値Ｘに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｘｂと第２特性値Ｖｘｂ’、３刺激値Ｙに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｙｂと第２特性値Ｖｙｂ’、３刺激値Ｚに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｚｂと第２特性値Ｖｚｂ’、透過スペクトルＡの波長域の光に係る第１特性値Ｖａｂと第２特性値Ｖａｂ’および透過スペクトルＢの波長域の光に係る第１特性値Ｖｂｂと第２特性値Ｖｂｂ’には、式（２９）から（３３）の関係が成立する。
　　Ｖｘｂ＝ｋ１×Ｖｘｂ’＋ｋ２×Ｖｙｂ’＋ｋ３×Ｖｚｂ’＋ｋ４×Ｖａｂ’＋ｋ５×Ｖｂｂ’　…（２９）
　　Ｖｙｂ＝ｌ１×Ｖｘｂ’＋ｌ２×Ｖｙｂ’＋ｌ３×Ｖｚｂ’＋ｌ４×Ｖａｂ’＋ｌ５×Ｖｂｂ’　…（３０）
　　Ｖｚｂ＝ｍ１×Ｖｘｂ’＋ｍ２×Ｖｙｂ’＋ｍ３×Ｖｚｂ’＋ｍ４×Ｖａｂ’＋ｍ５×Ｖｂｂ’　…（３１）
　　Ｖａｂ＝ｎ１×Ｖｘｂ’＋ｎ２×Ｖｙｂ’＋ｎ３×Ｖｚｂ’＋ｎ４×Ｖａｂ’＋ｎ５×Ｖｂｂ’　…（３２）
　　Ｖｂｂ＝ｏ１×Ｖｘｂ’＋ｏ２×Ｖｙｂ’＋ｏ３×Ｖｚｂ’＋ｏ４×Ｖａｂ’＋ｏ５×Ｖｂｂ’　…（３３）。
　また、白色の補正用基準板Ｐ１ｗについての、３刺激値Ｘに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｘｗと第２特性値Ｖｘｗ’、３刺激値Ｙに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｙｗと第２特性値Ｖｙｗ’、３刺激値Ｚに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｚｗと第２特性値Ｖｚｗ’、透過スペクトルＡの波長域の光に係る第１特性値Ｖａｗと第２特性値Ｖａｗ’および透過スペクトルＢの波長域の光に係る第１特性値Ｖｂｗと第２特性値Ｖｂｗ’には、式（３４）から（３８）の関係が成立する。
　　Ｖｘｗ＝ｋ１×Ｖｘｗ’＋ｋ２×Ｖｙｗ’＋ｋ３×Ｖｚｗ’＋ｋ４×Ｖａｗ’＋ｋ５×Ｖｂｗ’　…（３４）
　　Ｖｙｗ＝ｌ１×Ｖｘｗ’＋ｌ２×Ｖｙｗ’＋ｌ３×Ｖｚｗ’＋ｌ４×Ｖａｗ’＋ｌ５×Ｖｂｗ’　…（３５）
　　Ｖｚｗ＝ｍ１×Ｖｘｗ’＋ｍ２×Ｖｙｗ’＋ｍ３×Ｖｚｗ’＋ｍ４×Ｖａｗ’＋ｍ５×Ｖｂｗ’　…（３６）
　　Ｖａｗ＝ｎ１×Ｖｘｗ’＋ｎ２×Ｖｙｗ’＋ｎ３×Ｖｚｗ’＋ｎ４×Ｖａｗ’＋ｎ５×Ｖｂｗ’　…（３７）
　　Ｖｂｗ＝ｏ１×Ｖｘｗ’＋ｏ２×Ｖｙｗ’＋ｏ３×Ｖｚｗ’＋ｏ４×Ｖａｗ’＋ｏ５×Ｖｂｗ’　…（３８）。
　また、黄色の補正用基準板Ｐ１ｙについての、３刺激値Ｘに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｘｙと第２特性値Ｖｘｙ’、３刺激値Ｙに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｙｙと第２特性値Ｖｙｙ’、３刺激値Ｚに係る波長域の光に係る第１特性値Ｖｚｙと第２特性値Ｖｚｙ’、透過スペクトルＡの波長域の光に係る第１特性値Ｖａｙと第２特性値Ｖａｙ’および透過スペクトルＢの波長域の光に係る第１特性値Ｖｂｙと第２特性値Ｖｂｙ’には、式（３９）から（４３）の関係が成立する。
　　Ｖｘｙ＝ｋ１×Ｖｘｙ’＋ｋ２×Ｖｙｙ’＋ｋ３×Ｖｚｙ’＋ｋ４×Ｖａｙ’＋ｋ５×Ｖｂｙ’　…（３９）
　　Ｖｙｙ＝ｌ１×Ｖｘｙ’＋ｌ２×Ｖｙｙ’＋ｌ３×Ｖｚｙ’＋ｌ４×Ｖａｙ’＋ｌ５×Ｖｂｙ’　…（４０）
　　Ｖｚｙ＝ｍ１×Ｖｘｙ’＋ｍ２×Ｖｙｙ’＋ｍ３×Ｖｚｙ’＋ｍ４×Ｖａｙ’＋ｍ５×Ｖｂｙ’　…（４１）
　　Ｖａｙ＝ｎ１×Ｖｘｙ’＋ｎ２×Ｖｙｙ’＋ｎ３×Ｖｚｙ’＋ｎ４×Ｖａｙ’＋ｎ５×Ｖｂｙ’　…（４２）
　　Ｖｂｙ＝ｏ１×Ｖｘｙ’＋ｏ２×Ｖｙｙ’＋ｏ３×Ｖｚｙ’＋ｏ４×Ｖａｙ’＋ｏ５×Ｖｂｙ’　…（４３）。
　ここで、第１特性値Ｖｘｒ，Ｖｙｒ，Ｖｚｒ，Ｖａｒ，Ｖｂｒ、Ｖｘｇ，Ｖｙｇ，Ｖｚｇ，Ｖａｇ，Ｖｂｇ，Ｖｘｂ，Ｖｙｂ，Ｖｚｂ，Ｖａｂ，Ｖｂｂ，Ｖｘｗ，Ｖｙｗ，Ｖｚｗ，Ｖａｗ，Ｖｂｗ，Ｖｘｙ、Ｖｙｙ，Ｖｚｙ，Ｖａｙ，Ｖｂｙおよび第２特性値Ｖｘｒ’，Ｖｙｒ’，Ｖｚｒ’，Ｖａｒ’，Ｖｂｒ’，Ｖｘｇ’，Ｖｙｇ’，Ｖｚｇ’，Ｖａｇ’，Ｖｂｇ’，Ｖｘｂ’，Ｖｙｂ’，Ｖｚｂ’，Ｖａｂ’，Ｖｂｂ’，Ｖｘｗ’，Ｖｙｗ’，Ｖｚｗ’，Ｖａｗ’，Ｖｂｗ’，Ｖｘｙ’，Ｖｙｙ’，Ｖｚｙ’，Ｖａｙ’，Ｖｂｙ’は、反射特性測定システム１による実測によって得られるため、２５個の係数ｋ１，ｋ２，ｋ３，ｋ４，ｋ５，ｌ１，ｌ２，ｌ３，ｌ４，ｌ５，ｍ１，ｍ２，ｍ３，ｍ４，ｍ５，ｎ１，ｎ２，ｎ３，ｎ４，ｎ５，ｏ１，ｏ２，ｏ３，ｏ４，ｏ５は、式（１９）から（４３）から算出され得る。
　このとき、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚのそれぞれの値に係る波長域の光および透過スペクトルＡ，Ｂの波長域の光について、試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データの画素値Ｖｘ’(λ)，Ｖｙ’(λ)，Ｖｚ’(λ)，Ｖａ’(λ)，Ｖｂ’(λ)と、変換式に基づく補正後の画像データの画素値Ｖｘ(λ)，Ｖｙ(λ)，Ｖｚ(λ)，Ｖａ(λ)，Ｖｂ(λ)との間に、次の式（４４）から（４８）の関係が成立する。ここで、λは波長を示す。
　　Ｖｘ(λ)＝ｋ１×Ｖｘ’(λ)＋ｋ２×Ｖｙ’(λ)＋ｋ３×Ｖｚ’(λ)＋ｋ４×Ｖａ’(λ)＋ｋ５×Ｖｂ’(λ)　…（４４）
　　Ｖｙ(λ)＝ｌ１×Ｖｘ’(λ)＋ｌ２×Ｖｙ’(λ)＋ｌ３×Ｖｚ’(λ)＋ｌ４×Ｖａ’(λ)＋ｌ５×Ｖｂ’(λ)　…（４５）
　　Ｖｚ(λ)＝ｍ１×Ｖｘ’(λ)＋ｍ２×Ｖｙ’(λ)＋ｍ３×Ｖｚ’(λ)＋ｍ４×Ｖａ’(λ)＋ｍ５×Ｖｂ’(λ)　…（４６）
　　Ｖａ(λ)＝ｎ１×Ｖｘ’(λ)＋ｎ２×Ｖｙ’(λ)＋ｎ３×Ｖｚ’(λ)＋ｎ４×Ｖａ’(λ)＋ｎ５×Ｖｂ’(λ)　…（４７）
　　Ｖｂ(λ)＝ｏ１×Ｖｘ’(λ)＋ｏ２×Ｖｙ’(λ)＋ｏ３×Ｖｚ’(λ)＋ｏ４×Ｖａ’(λ)＋ｏ５×Ｖｂ’(λ)　…（４８）。
　ここでは、これらの式（４４）から（４８）が、変換ルールを規定する変換式である。
　　＜(１－４)反射特性測定システムにおける測色処理に係る動作フロー＞
　図９および図１０は、反射特性測定システム１における測色処理に係る動作フローを例示する図である。本動作フローは、例えば、ユーザーの動作に応じて反射特性測定システム１の電源が投入されることで、開始され、図９のステップＳ１に進む。
　ステップＳ１では、反射特性測定部２に対して基準物体４ｓｔとしての校正用白色板がセットされる。ここでは、例えば、測定用の開口Ｈ１に基準物体４ｓｔとしての校正用白色板が覆うように配される。
　ステップＳ２では、制御部３８によって使用するフィルター部Ｆ１が何番目のフィルター部Ｆ１であるのかを特定するための数値ｍが１に設定される。なお、数値ｍは、１から３以上の自然数Ｍまでの自然数に順次設定され得る。
　ステップＳ３では、フィルターユニット２３２において、ｍ番目のフィルター部Ｆ１が設定される。ここでは、例えば、レンズ部２３１と検出部２３３との間にｍ番目のフィルター部Ｆ１が配置される。
　ステップＳ４では、光源部２２２が点灯する。ここでは、ユーザーの動作に応じて入力部３１で入力される信号に応じた、光源制御部３８２の制御によって、光源部２２２が点灯される。
　ステップＳ５では、検出部２３３による撮像が行われる。このとき、例えば、開口Ｈ１を介して積分球２１内に入射される基準物体４ｓｔの２次元領域Ａｍ１からの反射光、および積分球２１内の第１開口部Ｈｐ１の周囲に位置する周辺領域Ａｃ１からの反射光が、レンズ部２３１およびフィルターユニット２３２を介して、検出部２３３に入射される。これにより、取得部３８３によって、ｍ番目のフィルター部Ｆ１に係る波長域の光について、補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る第１特性値が取得され得る。このとき、補正用領域Ｐ１に複数の補正用基準板が設けられていれば、各補正用基準板について、第１特性値が取得され得る。
　ステップＳ６では、記憶制御部３８４によって、ステップＳ５で取得された第１特性値が記憶部３３に記憶される。
　ステップＳ７では、光源制御部３８２の制御によって、光源部２２２が消灯される。
　ステップＳ８では、制御部３８によって、数値ｍがフィルター部Ｆ１の数Ｍに到達したか否か判定される。ここで、数値ｍがＭに到達していなければ、ステップＳ９に進み、数値ｍがＭに到達していれば、図１０のステップＳ１１に進む。
　ステップＳ９では、制御部３８によって、数値ｍが１つ増加されて、ステップＳ４に戻る。つまり、Ｍ個のフィルター部Ｆ１について、第１特性値が取得されるまで、ステップＳ４からステップＳ９の処理が繰り返される。
　ステップＳ１１では、反射特性測定部２に対して試料４ｓｍがセットされる。ここでは、例えば、測定用の開口Ｈ１に試料４ｓｍが覆うように配される。
　ステップＳ１２では、制御部３８によって、使用するフィルター部Ｆ１が何番目のフィルター部Ｆ１であるのかを特定するための数値ｍが１に設定される。
　ステップＳ１３では、フィルターユニット２３２において、ｍ番目のフィルター部Ｆ１が設定される。ここでは、例えば、レンズ部２３１と検出部２３３との間にｍ番目のフィルター部Ｆ１が配置される。
　ステップＳ１４では、光源部２２２が点灯する。ここでは、ユーザーの動作に応じて入力部３１で入力される信号に応じた、光源制御部３８２の制御によって、光源部２２２が点灯される。
　ステップＳ１５では、検出部２３３による撮像が行われる。このとき、例えば、開口Ｈ１を介して積分球２１内に入射される試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１からの反射光、および積分球２１内の第１開口部Ｈｐ１の周囲に位置する周辺領域Ａｃ１からの反射光が、レンズ部２３１およびフィルターユニット２３２を介して、検出部２３３に入射される。これにより、取得部３８３によって、ｍ番目のフィルター部Ｆ１に係る波長域の光について、補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る第２特性値、ならびに試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データが取得され得る。このとき、補正用領域Ｐ１に複数の補正用基準板が設けられていれば、各補正用基準板について、第２特性値が取得され得る。
　ステップＳ１６では、記憶制御部３８４によって、ステップＳ１５で取得された第２特性値および試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１に係る画像データが記憶部３３に記憶される。
　ステップＳ１７では、光源制御部３８２の制御によって、光源部２２２が消灯される。
　ステップＳ１８では、制御部３８によって、数値ｍがフィルター部Ｆ１の数Ｍに到達したか否か判定される。ここで、数値ｍがＭに到達していなければ、ステップＳ１９に進み、数値ｍがＭに到達していれば、ステップＳ２０に進む。
　ステップＳ１９では、数値ｍが１つ増加されて、ステップＳ１４に戻る。つまり、Ｍ個のフィルター部Ｆ１について、第２特性値および試料４ｓｍの２次元領域Ａｍ１に係る画像データが取得されるまで、ステップＳ１４からステップＳ１９の処理が繰り返される。
　ステップＳ２０では、設定部３８５によって、変換ルールが設定される。ここでは、ステップＳ５で取得された第１特性値と、ステップＳ１５で得られた第２特性値とに基づいて、変換ルールが設定される。また、例えば、フィルターユニット２３２におけるフィルター部Ｆ１の数および補正用領域Ｐ１に設けられている補正用基準板に応じた関係式に対して、第１特性値および第２特性値が適用されて、係数が算出される。これにより、該係数を含む変換ルールとしての変換式が設定され得る。そして、このような処理によって、試料４ｓｍがセットされる度に、試料４ｓｍの表面色に応じた変換ルールとしての変換式が設定され得る。
　ステップＳ２１では、補正部３８６によって、ステップＳ２０で設定された変換ルールに基づく変換によって、ステップＳ１５で取得された試料４ｓｍに係る２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布が補正される。ここでは、被測定物４としての試料４ｓｍの表面の２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布を示す画像データが、変換ルールとしての変換式に基づく変換によって補正され得る。ステップＳ２１の処理が終了すると、本動作フローが終了する。
　ここでは、試料４ｓｍの測定毎に、基準物体４ｓｔとしての校正用白色板がセットされて第１特性値が取得される例を挙げて説明したが、これに限られない。例えば、複数の試料４ｓｍの測定に対して、基準物体４ｓｔとしての校正用白色板がセットされて第１特性値が取得されても良い。具体的には、例えば、複数の試料４ｓｍについての測定の開始前のタイミングで、基準物体４ｓｔとしての校正用白色板がセットされて第１特性値が取得される態様が考えられる。これにより、測定および演算の負荷が低下し得る。なお、例えば、複数の試料４ｓｍについての測定後のタイミングで、基準物体４ｓｔとしての校正用白色板がセットされて第１特性値が取得される態様も採用可能である。この場合には、例えば、測定後に、複数の試料４ｓｍに係る画像データについて、まとめて補正が行われ得る。
　また、例えば、校正用白色板に係る第１特性値だけでなく校正用白色板に係る２次元領域Ａｍ１の画像データも取得されて、白色に係る測定値のずれを低減するための係数（白色校正係数とも言う）が設定されても良い。この場合、例えば、試料４ｓｍに係る２次元領域Ａｍ１における光の反射特性の２次元分布について、変換ルールによる補正が行われた後に、白色校正係数による更なる補正が行われることで、試料４ｓｍに係る補正後の光の反射特性の２次元分布が取得されても良い。
　　＜(１－５)具体例＞
　ここで、反射特性の測定において再帰照明光によって生じる測定結果の誤差について、変換ルールによる補正の有無、ならびに変換ルールによる補正の条件が与える影響についての具体例として、シミュレーションを行った結果について説明する。
　このシミュレーションでは、試料４ｓｍとして、国際標準カラータイルである１２色のＢＣＲＡタイルが用いられ、ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）製の校正用白色板が用いられた。つまり、１３種類の被測定物４が用いられた。また、積分球２１の内径は１００ｍｍとされ、開口Ｈ１の直径が４０ｍｍに設定され、２次元領域Ａｍ１の直径が３５ｍｍに設定された。光源部２２２には、色温度が２８５４Ｋとなるように発光するＡ光源が採用された。Ａ光源は、タングステン電球（白熱球とも言う）によって実現され得る。受光部２３における受光感度は、ＸＹＺの理想的な等色関数が１０°視野に相当するものとされた。
　そして、１３種類の被測定物４についての物体色を示す値（評価値とも言う）Ｌａｂについて、再帰照明光によって積分球２１内の照明光が変調されていない条件における真の値（真値とも言う）が算出された。また、１２種類の試料４ｓｍについての物体色の評価値Ｌａｂについて、再帰照明光によって積分球２１内の照明光が変調されている条件における測定値（非補正値とも言う）と、該測定値を変換ルールによって補正することで得られる値（補正値）とが、それぞれ算出された。物体色の評価値Ｌａｂは、検出部２３３で得られる３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚからの換算で算出された。
　また、ここでは、再帰照明光によって生じる測定結果の誤差を示す評価値ΔＬａｂとして、１２種類の試料４ｓｍについて、真値と非補正値との差および真値と補正値との差が算出された。ここで、評価値ΔＬａｂは、小さければ小さい程、変換ルールに基づく補正によって、光の反射特性の測定精度が向上していることを意味している。
　図１１は、シミュレーションを行った補正の条件と評価値ΔＬａｂとの関係を示す図である。図１１で示されるように、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚに対応する３つのフィルター部Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚが用いられている場合、次の［ｉ］から［iii］の３種類の条件について、シミュレーションが行われた。
　［ｉ］補正が行われない条件、
　［ii］白色（Ｗ）の補正用基準板Ｐ１ｗが設けられた条件、
　［iii］Ｒ，Ｇ，Ｂの３色の補正用基準板Ｐ１ｒ，Ｐ１ｇ，Ｐ１ｂが設けられた条件。
　ここで、補正の条件［ii］については、上記の式（１）から（３）によって係数が求められた上記の変換式（４）から（６）が用いられた。補正の条件［iii］については、上記の式（７）から（１５）によって係数が求められた上記の変換式（１６）から（１８）が用いられた。
　また、図１１で示されるように、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚに対応する３つのフィルター部Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚ、透過スペクトルＡを呈するＡフィルター部Ｆ１Ａおよび透過スペクトルＢを呈するＢフィルター部Ｆ１Ｂが用いられる場合、次の［iv］の１種類の条件について、シミュレーションが行われた。
　［iv］Ｒ，Ｇ，Ｂ，Ｙの４色の補正用基準板Ｐ１ｒ，Ｐ１ｇ，Ｐ１ｂ，Ｐ１ｙと白色（Ｗ）の補正用基準板Ｐ１ｗとが設けられた条件。
　ここで、補正の条件［iv］については、上記の式（１９）から（４３）によって係数が求められた上記の変換式（４４）から（４８）が用いられた。
　図１１には、シミュレーションにおける補正の条件と評価値ΔＬａｂとの関係が示されている。図１１には、各補正の条件について、１２種類の試料４ｓｍについて算出された評価値ΔＬａｂのうちの最大値が示されている。
　図１１で示されるように、補正を行わない条件では、評価値ΔＬａｂが約１５であった。これに対して、３つのフィルター部Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚが用いられている場合、補正の条件［ii］では、評価値ΔＬａｂが約４．９となった。このため、評価値ΔＬａｂが、変換ルールを用いた補正によって大幅に改善されることが分かった。
　また、補正の条件［iii］では、評価値ΔＬａｂが約３．７となり、評価値ΔＬａｂが、変換ルールを用いた補正によって大幅に改善された。このため、３色の補正用基準板Ｐ１ｒ，Ｐ１ｇ，Ｐ１ｂが用いられることで、色空間のより広い空間に存在する色の補正が可能となり、試料４ｓｍの表面における光の反射特性が高精度に測定され得るものと推定された。
　また、３つのフィルター部Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚに加えて、Ａフィルター部Ｆ１ＡおよびＢフィルター部Ｆ１Ｂが用いられる場合、補正の条件［iv］では、評価値ΔＬａｂが約０．５５となった。このため、フィルター部Ｆ１の種類が増加し、黄色（Ｙ）の補正用基準板Ｐ１ｙおよび白色（Ｗ）の補正用基準板Ｐ１ｗが採用されれば、評価値ΔＬａｂが、変換ルールを用いた補正によってさらに改善されることが分かった。これにより、黄色および白色を含む５色の補正用基準板が採用されることで、色空間のさらに広い空間に存在する色の補正が可能となり、試料４ｓｍの表面における光の反射特性がより高精度に測定され得るものと推定された。
　　＜(１－６)一実施形態のまとめ＞
　以上のように、本実施形態に係る反射特性測定システム１では、測定用の開口Ｈ１に基準物体４ｓｔが覆うように配されている際に検出部２３３から出力される信号に応じて、取得部３８３によって、補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る第１特性値が取得される。また、測定用の開口Ｈ１に試料４ｓｍが覆うように配されている際に検出部２３３から出力される信号に応じて、取得部３８３によって、補正用領域Ｐ１における光の反射特性に係る第２特性値が取得される。さらに、設定部３８５によって、第１特性値と第２特性値とに基づいて、該第２特性値を第１特性値に変換することが可能な変換ルールが設定される。そして、補正部３８６によって、変換ルールに基づく変換によって、取得部３８３によって取得された試料４ｓｍの表面の２次元領域Ａｍ１に係る反射特性の２次元の分布が補正される。これにより、試料４ｓｍの表面における光の反射特性に応じた再帰照明光による照明光の変調による影響が抑制される。その結果、試料４ｓｍの表面における光の反射特性が高精度に測定され得る小型の反射特性測定システム１が実現され得る。
　そして、このような構成によって、例えば、小型の反射特性測定システム１であっても、測定用の開口Ｈ１をある程度拡大させることで、試料４ｓｍにおける測定対象の領域としての２次元領域Ａｍ１が拡大され得る。また、例えば、検出部２３３が１つであっても、光の反射特性の高精度な測定が実現され得る。また、例えば、試料４ｓｍ毎に該試料４ｓｍの表面色に応じた変換ルールとしての変換式が設定されることで、再帰照明光による照明光の変調に若干のずれが生じても、照明光の変調による影響が抑制され得る。
　＜(２)変形例＞
　なお、本発明は上述の一実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。
　　＜(２－１)第１変形例＞
　上記一実施形態では、積分球２１が、球体状のものとだけ記述された。この点について、例えば、積分球２１を形成する球状の部分が、２以上の部分によって形成される構成が採用され得る。ここで、このような構成を有する第１変形例について、具体例を挙げて説明する。
　図１２は、第１変形例に係る反射特性測定システム１Ａの概略的な構成を例示する図である。図１３は、積分球２１Ａの底部を内側から見た様子を例示する図である。具体的には、図１３は、図１２にて一点鎖線XIII－XIIIで示した位置におけるＸＹ断面を示す図である。ここで示す一例では、反射特性測定システム１Ａは、上記一実施形態に係る反射特性測定システム１がベースとされて、反射特性測定部２が積分球２１から積分球２１Ａに変更された反射特性測定部２Ａに置換されたものである。
　図１２および図１３で示されるように、本変形例に係る積分球２１Ａは、本体部２１Ｂｄと取付部２１Ａｔとを有する。ここで、本体部２１Ｂｄは、第２開口部Ｈｐ２を含む。取付部２１Ａｔは、本体部２１Ｂｄに対して取り付けられており且つ第１開口部Ｈｐ１および補正用領域Ｐ１を含む。このような構成が採用されれば、補正用基準板が設けられた部分の製造が容易となる。その結果、積分球２１の製造が容易となり得る。
　図１４は、本体部２１Ｂｄに取り付けられていない状態の取付部２１Ａｔの概略的な構成を例示する図である。ここで、取付部２１Ａｔは、例えば、本体部２１Ｂｄに対して、着脱可能な構成を有していても良いし、本体部２１Ｂｄに対して、接着等によって装着のみが可能な構成を有していても良い。なお、本体部２１Ｂｄに取付部２１Ａｔが装着されるための構成としては、例えば、相互に係合された状態で、回転させることで装着される構成が採用されても良い。
　　＜(２－２)第２変形例＞
　また、上記一実施形態および上記第１変形例では、補正用領域Ｐ１に１以上の補正用基準板が設けられる構成についてごく簡単に記述されていた。この点について、例えば、１以上の補正用基準板のうちの少なくとも１つの補正用基準板が、受光部２３に正対するように配置されている構成が採用され得る。ここで、このような構成を有する第２変形例について、具体例を挙げて説明する。
　図１５は、第２変形例に係る反射特性測定システム１Ｂの概略的な構成を例示する図である。図１６は、積分球２１Ｂの底部を内側から見た様子を例示する図である。具体的には、図１６は、図１５にて一点鎖線XVI－XVIで示した位置におけるＸＹ断面を示す図である。ここで示す一例では、反射特性測定システム１Ｂは、上記第１変形例に係る反射特性測定システム１Ａがベースとされて、反射特性測定部２Ａが積分球２１Ａから積分球２１Ｂに変更された反射特性測定部２Ｂに置換されたものである。
　図１５および図１６で示されるように、本変形例に係る積分球２１Ｂは、本体部２１Ｂｄと取付部２１ＡｔＢとを有する。ここで、取付部２１ＡｔＢは、本体部２１Ｂｄに対して取り付けられており且つ第１開口部Ｈｐ１および補正用領域Ｐ１を含む。そして、取付部２１ＡｔＢには、１以上の補正用基準板としての３種類の補正用基準板Ｐ１（Ｐ１ｒ，Ｐ１ｇ，Ｐ１ｂ）が設けられている。そして、各補正用基準板が、積分球２１Ｂの内部空間に向いて配置されており、且つ検出用の開口Ｈ２を通る仮想的な法線を有する一主面を有している。該一主面は、例えば、平面状であれば良い。図１５では、仮想的な法線が細い矢印で描かれている。このような構成が採用されることで、検出部２３３における補正用基準板の一主面についての検出結果において積分球２１Ｂの内壁面２１ｓｉの映り込みの影響が低減され得る。このため、試料４ｓｍの表面における光の反射特性がより高精度に測定され得る。
　ここでは、３種類の補正用基準板Ｐ１ｒ，Ｐ１ｇ，Ｐ１ｂが設けられる例を挙げて説明したが、これに限られず、例えば、１以上の補正用基準板が設けられれば良い。そして、１以上の補正用基準板のうちの少なくとも１つの補正用基準板が、積分球の内部空間に向いて配置されており、且つ検出用の開口Ｈ２を通る仮想的な法線を有する一主面を有していれば、試料４ｓｍの表面における光の反射特性がより高精度に測定され得る。
　　＜(２－３)その他の変形例＞
　例えば、上記一実施形態ならびに上記第１および第２変形例では、検出部２３３が、フィルターユニット２３２を介して入射する光に対応する信号を出力したが、これに限られない。例えば、フィルターユニット２３２が設けられることなく、検出部２３３が、３板式（３ＣＣＤ方式）の構成を有するカラーのエリアセンサーとされても良いし、単板式の構成を有するカラーのエリアセンサーとされても良い。すなわち、検出部２３３は、３以上の相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号を出力するものであれば良い。そして、このとき、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚに対応する３種類のフィルターの代わりに、例えば、Ｒ，Ｇ，Ｂの３色に係るフィルターあるいはＣ，Ｍ，Ｙの３色に係るフィルター等の３つの光の波長帯域に係るフィルターが採用されても良い。
　また、上記一実施形態ならびに上記各種変形例では、検出部２３３において、光電変換素子が、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚに対応する３つの相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号を直接出力したが、これに限られない。例えば、検出部２３３において、光電変換素子が、Ｒ，Ｇ，Ｂ等の３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚとは異なる３以上の波長域の光にそれぞれ対応する信号を一旦得た後に、これらの信号に基づいて、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚに対応する３つの相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号を出力する構成が採用されても良い。なお、３刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚのうちの刺激値Ｘについては、例えば、値Ｘ１，Ｘ２に分解されて取得される場合がある。この場合、例えば、値Ｘ１は、刺激値Ｚから算出され得る。
　また、上記一実施形態ならびに上記各種変形例では、検出部２３３が、エリアセンサーであったが、これに限られない。例えば、検出部２３３が、複数の光電変換素子が第１方向にならべられた構成を有しており、該検出部２３３が、該第１方向に対して交差する第２方向に走査されることで、実質的にエリアセンサーと同様な機能を果たす構成が採用されても良い。このとき、例えば、３刺激値Ｘに対応するフィルターが配された第１のラインセンサー、３刺激値Ｙに対応するフィルターが配された第２のラインセンサー、および３刺激値Ｚに対応するフィルターが配された第３のラインセンサーからなる３本のラインセンサーを備えたセンサーが採用され得る。
　また、上記一実施形態ならびに上記各種変形例では、校正用の基準物体４ｓｔとして校正用白色板が採用されたが、これに限られない。例えば、校正用の基準物体４ｓｔとして、白色とは異なるその他の色の物体が採用されても良い。このような場合には、変換ルールに基づく変換によって補正された反射特性の２次元分布は、校正用の基準物体４ｓｔの再帰照明光の影響を受けた照明下での値を示す。
　また、上記一実施形態ならびに上記各種変形例では、変換ルールが、変換式の形式で規定されたが、これに限られない。例えば、変換ルールが、実測あるいはシミュレーション等によって予め得られた値が記述されたテーブル（変換テーブルとも言う）によって規定されても良い。
　また、上記一実施形態ならびに上記各種変形例では、反射特性として、物体色に係る数値が採用されたが、これに限られず、特定の波長域における光の反射率が採用されても良い。
　なお、上記一実施形態および各種変形例をそれぞれ構成する全部または一部を、適宜、矛盾しない範囲で組み合わせ可能であることは、言うまでもない。
　　＜(２－４)その他＞
　本発明には、例えば、以下の第２から第７の態様に係る反射特性測定システムが含まれる。
　第２の態様に係る反射特性測定システムは、上記第１の態様に係る反射特性測定システムであって、前記検出部における前記３以上の相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号の出力が、３刺激値に対応する信号の出力を含む。
　第２の態様に係る反射特性測定システムによれば、等色関数に対応する光の反射特性に係る値が容易に取得され得る。
　第３の態様に係る反射特性測定システムは、上記第１または第２の態様に係る反射特性測定システムであって、前記補正用領域に配置されている１以上の補正用基準板、をさらに備え、前記第１特性値および前記第２特性値が、それぞれ前記１以上の補正用基準板における光の反射特性に係る特性値を含む。
　第４の態様に係る反射特性測定システムは、上記第３の態様に係る反射特性測定システムであって、前記１以上の補正用基準板が、白色の補正用基準板を含む。
　第３および第４の何れの態様に係る反射特性測定システムによっても、試料の表面における光の反射特性の測定精度の向上が図られ得る。
　第５の態様に係る反射特性測定システムは、上記第３または第４の態様に係る反射特性測定システムであって、前記１以上の補正用基準板が、赤色、緑色および青色の補正用基準板を含む。
　第５の態様に係る反射特性測定システムによれば、色空間のより広い空間に存在する色の補正が可能となるため、試料の表面における光の反射特性が高精度に測定され得る。
　第６の態様に係る反射特性測定システムは、上記第３から第５の何れか１つの態様に係る反射特性測定システムであって、前記１以上の補正用基準板のうちの少なくとも１つの補正用基準板が、前記積分球の内部空間に向いて配置されており、且つ前記検出用の開口を通る仮想的な法線を有する一主面を有している。
　第６の態様に係る反射特性測定システムによれば、補正用基準板の一主面についての検出結果において積分球の内壁の映り込みの影響が低減されるため、試料の表面における光の反射特性がより高精度に測定され得る。
　第７の態様に係る反射特性測定システムは、上記第３から第６の何れか１つの態様に係る反射特性測定システムであって、前記積分球が、前記第２開口部を含む本体部と、前記本体部に対して取り付けられており且つ前記第１開口部および前記補正用領域を含む取付部と、を有する。
　第７の態様に係る反射特性測定システムによれば、補正用基準板が設けられた部分の製造が容易となるため、積分球の製造が容易となり得る。
　１，１Ａ，１Ｂ　反射特性測定システム
　２，２Ａ，２Ｂ　反射特性測定部
　３　情報処理部
　３Ｐ　プログラム
　４　被測定物
　４ｓｍ　試料
　４ｓｔ　基準物体
　２１，２１Ａ，２１Ｂ　積分球
　２１Ａｔ，２１ＡｔＢ　取付部
　２１Ｂｄ　本体部
　２１ｓｉ　内壁面
　２２　照明部
　２３　受光部
　３３　記憶部
　３８　制御部
　３８ａ　プロセッサー
　３８ｂ　メモリー
　２２１　発光回路
　２２２　光源部
　２３１　レンズ部
　２３２　フィルターユニット
　２３３　検出部
　３８２　光源制御部
　３８３　取得部
　３８４　記憶制御部
　３８５　設定部
　３８６　補正部
　Ａｃ１　周辺領域
　Ａｍ１　２次元領域
　Ｆ１ｘ，Ｆ１ｙ，Ｆ１ｚ，Ｆ１ａ，Ｆ１ｂ　フィルター部
　Ｈ０，Ｈ１，Ｈ２　開口
　Ｈｐ０，Ｈｐ１，Ｈｐ２　開口部（第１から第３開口部）
　Ｐ１　補正用領域
　Ｐ１ｒ，Ｐ１ｂ，Ｐ１ｇ，Ｐ１ｙ，Ｐ１ｗ　補正用基準板

Claims (7)

  1. 　被測定物が覆うように配される測定用の開口を形成している第１開口部と、該第１開口部に対向して、前記被測定物からの反射光を通過させる検出用の開口を形成している第２開口部とを有する積分球と、
    　前記積分球の内壁面に光を照射する光源部と、
    　前記測定用の開口を介して前記積分球内に入射される前記被測定物の表面の２次元領域からの前記反射光、および前記積分球内の前記第１開口部の周囲に位置する補正用領域からの反射光を、前記検出用の開口を介して受光し、３以上の相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号を出力する検出部と、
    　前記検出部から出力される信号に基づいて、前記２次元領域における光の反射特性の２次元の分布を取得し、前記補正用領域における光の反射特性に係る特性値を取得する取得部と、
    　前記測定用の開口に基準物体が覆うように配されている際に前記検出部から出力される信号に応じて前記取得部で取得される前記補正用領域における光の反射特性に係る第１特性値と、前記測定用の開口に試料が覆うように配されている際に前記検出部から出力される信号に応じて前記取得部で取得される前記補正用領域における光の反射特性に係る第２特性値とに基づいて、該第２特性値を前記第１特性値に変換することが可能な変換ルールを設定する設定部と、
    　前記変換ルールに基づく変換によって、前記測定用の開口に前記試料が覆うように配されている際に前記検出部から出力される信号に応じて前記取得部で取得された前記試料の前記２次元領域における前記反射特性の２次元の分布を補正する補正部と、
    を備える反射特性測定システム。
  2. 　請求項１に記載の反射特性測定システムであって、
    　前記検出部における前記３以上の相互に異なる波長域の光にそれぞれ対応する信号の出力が、３刺激値に対応する信号の出力を含む反射特性測定システム。
  3. 　請求項１または請求項２に記載の反射特性測定システムであって、
    　前記補正用領域に配置されている１以上の補正用基準板、をさらに備え、
    　前記第１特性値および前記第２特性値が、
    　それぞれ前記１以上の補正用基準板における光の反射特性に係る特性値を含む反射特性測定システム。
  4. 　請求項３に記載の反射特性測定システムであって、
    　前記１以上の補正用基準板が、
    　白色の補正用基準板を含む反射特性測定システム。
  5. 　請求項３または請求項４に記載の反射特性測定システムであって、
    　前記１以上の補正用基準板が、
    　赤色、緑色および青色の補正用基準板を含む反射特性測定システム。
  6. 　請求項３から請求項５の何れか１つの請求項に記載の反射特性測定システムであって、
    　前記１以上の補正用基準板のうちの少なくとも１つの補正用基準板が、
    　前記積分球の内部空間に向いて配置されており、且つ前記検出用の開口を通る仮想的な法線を有する一主面を有している反射特性測定システム。
  7. 　請求項３から請求項６の何れか１つの請求項に記載の反射特性測定システムであって、
    　前記積分球が、
    　前記第２開口部を含む本体部と、
    　前記本体部に対して取り付けられており且つ前記第１開口部および前記補正用領域を含む取付部と、
    を有する反射特性測定システム。
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