JPH1172388A - 反射特性測定装置 - Google Patents

反射特性測定装置

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JPH1172388A
JPH1172388A JP9232721A JP23272197A JPH1172388A JP H1172388 A JPH1172388 A JP H1172388A JP 9232721 A JP9232721 A JP 9232721A JP 23272197 A JP23272197 A JP 23272197A JP H1172388 A JPH1172388 A JP H1172388A
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reflection
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 試料からの反射光による再照明も含めて異な
る機種間に生じる誤差を厳密に補正することにより、測
定データの互換性を高くする。 【解決手段】 第1の照明手段10により積分球1の内
壁1aの広い直接照明域5に向けて光束を導き、試料3
をほぼ一様に拡散照明し、第2の照明手段20により積
分球1の内壁1aの直接照明域4に向けて光束を導き、
試料3を鏡面反射を強調するような拡散照明光によって
照明する。光源11,21を個別に発光させ、試料用分
光手段30の分光データから演算処理手段53によって
第1、第2の見かけの反射率を算出する。そして、記憶
手段51に予め記憶されている第1、第2の重み係数を
用いて、第1、第2のみかけの反射率及びその2乗を線
形結合し、所望の照明条件における試料3の反射特性を
求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、積分球を用いた分
光測色計等に適用されるもので、試料の反射特性を測定
する反射特性測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、試料の反射特性の測定は、照明
系と受光系の光学的条件(ジオメトリ)によって大きい
影響を受ける。従って、分光測色計等の反射特性測定装
置の多くは、CIE(国際照明委員会)が推奨する45/
0(45°照明、垂直受光)、0/45(垂直照明、45°受
光)や、d/0(拡散照明、垂直受光)、0/d(垂直照
明、拡散受光)のいずれかのジオメトリを採用してい
る。
【0003】従来、それらの内でもd/0の一種であるd
/8(拡散照明、8°受光)ジオメトリは、試料表面の構
造に影響されず安定性が高い鏡面反射成分を含む(Specu
larComponent Included)反射特性と、目視に近い鏡面反
射成分を含まない(SpecularComponent Excluded)反射特
性の双方の測定が可能であることから、広く用いられて
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の反射特性測定装
置が有する課題の一つは、同一のジオメトリであっても
異なる機種間において厳密な測定データの互換性がない
ことである。その要因として、異なる機種間において分
光手段の特性やジオメトリが厳密な意味で一致していな
い点が上げられる。分光手段の波長精度や半値幅等の特
性の相違を補正するのは容易ではなく、ジオメトリを高
精度で一致させるのは更に困難である。
【0005】また、d/8ジオメトリの測定装置は、一般
に試料を拡散照明するための積分球を備えているが、た
とえ積分球の大きさや試料の測定径が同一であっても、
試料面における照明特性は機種毎に少しずつ異なってい
るために、測定データの互換性に限界を与えている。
【0006】ここで、図2、図3を用いて測定データの
互換性に限界を与える問題点,について説明する。
【0007】積分球による拡散照明といっても、図2
(a)、(b)に示すように、積分球の構造や内壁の反射特
性によって、照明光の配光は機種毎に異なる。図2(a)
に示す拡散照明光I0は、試料3の表面の法線に対して
−8°方向の成分が相対的に弱くなっており、図2(b)
に示す拡散照明光I0は、同成分が相対的に強くなって
いる。なお、各々の照明光I0の全光量は等しいとす
る。
【0008】試料3の表面が光沢面の場合には、試料3
からの反射光は拡散反射光Rdと鏡面反射光Rsとからな
る。拡散反射光Rdは、照明光I0の配光による影響を受
けないため、図2(a)、図2(b)とも、その配光及び強
度はほぼ等しくなるが、鏡面反射光Rsは、照明光I0
配光を反映して、図2(b)の場合には、図2(a)の場合
に比べて8°方向の成分が相対的に強くなっている。
【0009】従って、観察される8°方向の反射光R8
おいても、試料特有の波長依存性を有する拡散反射光R
dに対する波長依存性のない鏡面反射成分の相対強度
が、図2(b)の場合には図2(a)の場合に比べて強くな
っており、これによって分光反射率に差が生じる。
【0010】図3に示すように、積分球91に入射し
た光源92の光束Fは、積分球91の内壁91aで多重
反射され、拡散光の一部I0は試料3を照明し、それに
よって反射される。拡散光の他の一部M0は参照用光フ
ァイバ93に入射し、参照光となる。なお、図3中、カ
ッコを付加した符号は、その一部のみを示していること
を表わす。
【0011】試料3と参照用光ファイバ93の入射端は
部位が異なるため、拡散光I0,M0は等しくはないが比
例関係にあり(I0∝M0)、その比例係数はジオメトリに
のみ依存する。
【0012】試料3の反射率をrとすると、反射光I0
rは、再び積分球91の内壁91aで拡散反射され、そ
のごく一部Isが試料3を再照明する。この再照明に寄
与する拡散光の一部Msが、やはり参照用光ファイバ9
3に入射する。
【0013】この拡散光の一部Is,Msもジオメトリに
のみ依存する比例関係にあるが、この場合の光源は試料
3自身であり、その部位も光源92と異なるため、その
比例係数は拡散光I0,M0間の比例係数とは異なる。
【0014】それぞれの比例係数が異なること、及び照
明光に占める再照明光の割合が試料3の反射率rに依存
することから、再照明光を含む照明光を正確に測定する
ことはできない。
【0015】これによる誤差は、再照明光が試料の反射
率rに比例することから、反射率の2乗(r2)に比例す
る。これを例えば反射率90%の白色標準試料で校正する
と、図4に示すように、再照明の影響により実線のよう
に高反射率の試料で正にずれた反射率を90%で破線のよ
うに校正することになるため、特に中間反射率の試料に
ついて負の測定誤差が生じる。
【0016】この再照明は、いわゆる積分球効果による
もので、試料3を照明するための試料用開口近傍の構造
による影響を受けやすい。通常、図3に示すように、光
源92が試料3を直接照明するのを防止するためのバッ
フル94が試料用開口に近接して配設されている。この
場合には、試料3からの反射光がバッフル94により反
射されて試料3を再照明することとなる。バッフル94
の位置や大きさは機種毎に異なるので、これが機種間差
の原因となるが、この機種間差は、やはり反射率の2乗
(r2)に比例する。
【0017】これらの問題点に対して、の配光の相違
による機種間差を補正するために、特開平6−5081
7号公報記載の測定装置では、図5に示すように、2つ
の照明手段110,120を有する積分球100を用い
ている。各照明手段110,120は、それぞれ積分球
100の内壁の異なる直接照明域117,127を最初
に照明している。これによって、各照明手段110,1
20による拡散照明光の配光は相違している。
【0018】そして、これらの拡散照明光により試料3
を順次照明し、得られた2つの反射特性を適切な重み係
数で線形結合し、所望の配光における反射率に近似する
反射特性を求めることによって、上記問題点の配光の
相違による機種間差を補正している。
【0019】ところが、従来、上記問題点の積分球効
果による再照明に起因する誤差を補正するものは提供さ
れていない。
【0020】本発明は、上記問題点に鑑みてなされた
もので、試料からの反射光による再照明も含めて異なる
機種間に生じる誤差を厳密に補正することにより、測定
データの互換性の高い反射特性測定装置を提供すること
を目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明は、照明用開口、
試料用開口及び受光用開口を有し、上記試料用開口に配
置された試料を照明する積分球と、上記照明用開口に配
設され、上記積分球内に光束を導く照明手段と、上記受
光用開口に配設され、上記試料からの反射光を受光して
その光強度に対応する受光データを出力する受光手段
と、上記照明手段を発光させて上記受光手段から上記受
光データを出力させる測定制御手段と、上記試料の見か
けの反射特性及び当該反射特性の2乗からなる線形結合
が所望の照明条件における上記試料の反射特性に近似す
るように設定された上記反射特性の重み係数及び上記反
射特性の2乗の重み係数を記憶する記憶手段と、上記受
光データに基づいて上記試料の見かけの反射特性を求め
るとともに、求めた反射特性及び当該反射特性の2乗の
各々に対応する上記各重み係数を乗じて線形結合するこ
とにより上記所望の照明条件における上記試料の反射特
性を求める演算処理手段とを備えたものである(請求項
1)。
【0022】この構成によれば、積分球の試料用開口に
試料が配置された状態で照明手段が発光すると、試料か
らの反射光の光強度に対応する受光データが得られ、こ
の受光データに基づいて試料の見かけの反射特性が求め
られる。そして、予め記憶されている見かけの反射特性
の重み係数及び当該反射特性の2乗の重み係数を乗じて
線形結合することにより所望の照明条件における試料の
反射特性が求められることにより、所望の照明条件につ
いて互換性の高い反射特性データが得られることとな
る。
【0023】また、請求項1記載の反射特性測定装置に
おいて、上記積分球は、互いに異なる位置に形成された
複数の上記照明用開口を有するもので、上記照明手段
は、上記各照明用開口に配設され、上記積分球内に光束
を導く複数の照明手段からなり、上記測定制御手段は、
上記各照明手段をそれぞれ個別に発光させ、上記受光手
段から上記各照明手段に対応する上記受光データをそれ
ぞれ個別に出力させるもので、上記記憶手段は、上記各
照明手段による上記試料の見かけの反射特性及び当該各
反射特性の2乗からなる線形結合が所望の照明条件にお
ける反射特性に近似するように設定された上記線形結合
の各重み係数を記憶するもので、上記演算処理手段は、
上記各照明手段に対応する上記受光データに基づいて上
記試料の見かけの反射特性を求めるとともに、求めた上
記各照明手段に対応する見かけの反射特性及び当該各反
射特性の2乗の各々に対応する上記各重み係数を乗じて
線形結合することにより上記所望の照明条件における上
記試料の反射特性を求めるものである(請求項2)。
【0024】この構成によれば、積分球の試料用開口に
試料が配置された状態で各照明手段が個別に発光して積
分球内に光束が導かれ、各照明手段の発光毎に試料から
の反射光の光強度に対応する受光データが得られ、各受
光データに基づいて各照明手段による試料の見かけの反
射特性が求められる。そして、予め記憶されている各照
明手段による見かけの反射特性の重み係数及び当該各反
射特性の2乗の重み係数を乗じて線形結合することによ
り所望の照明条件における試料の反射特性が求められる
ことにより、所望の照明条件について更に互換性の高い
反射特性データが得られることとなる。
【0025】また、請求項2記載の反射特性測定装置に
おいて、上記受光用開口は、上記試料の表面の法線から
略8°の方向に形成され、上記受光手段は、上記試料か
らの反射光の内で上記略8°の方向の成分を受光するも
ので、上記照明手段は、上記積分球内の所定の領域に向
けて光束を導く第1の照明手段と、上記積分球内の上記
略8°の方向と上記法線に関して対称な方向の領域に向
けて光束を導く第2の照明手段とからなるもので、上記
記憶手段は、上記第1、第2の照明手段による上記試料
の見かけの反射特性及び当該各反射特性の2乗からなる
線形結合が所望の照明条件における反射特性に近似する
ように設定された上記線形結合の各重み係数を記憶する
もので、上記演算処理手段は、上記第1、第2の照明手
段に対応する上記受光データに基づいて上記試料の見か
けの反射特性を求めるとともに、求めた上記第1、第2
の照明手段に対応する見かけの反射特性及び当該各反射
特性の2乗の各々に対応する上記各重み係数を乗じて線
形結合することにより上記所望の照明条件における上記
試料の反射特性を求めるものである(請求項3)。
【0026】この構成によれば、積分球の試料用開口に
試料が配置された状態で第1、第2の照明手段が個別に
発光し、第1の照明手段が発光すると積分球内の所定の
領域に向けて光束が導かれ、試料は略均一な拡散照明光
によって照明され、第2の照明手段が発光すると積分球
内の試料の表面の法線から略8°の方向と上記法線に関
して対称な方向の領域に向けて光束が導かれ、試料は鏡
面反射を強調するような配光を有する拡散照明光によっ
て照明される。
【0027】積分球の受光用開口は、上記略8°の方向
に形成され、受光手段により試料からの反射光の内で上
記略8°の方向の成分が受光されて、第1、第2の照明
手段の発光毎に試料からの反射光の光強度に対応する受
光データが得られ、各受光データに基づいて第1、第2
の照明手段による試料の見かけの反射特性が求められ
る。
【0028】そして、予め記憶されている第1、第2の
照明手段による見かけの反射特性の重み係数及び当該各
反射特性の2乗の重み係数を乗じて線形結合することに
より所望の照明条件における試料の反射特性が求められ
ることにより、所望の照明条件について更に互換性の高
い反射特性データが精度よく得られることとなる。
【0029】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る反射特性測定
装置の第1実施形態の構成図である。積分球1は、その
内壁1aに高拡散、高反射率の例えばMgOやBaSO4等の白
色拡散反射塗料が塗布された中空の球で、底部に形成さ
れ、測定対象である試料3を照明するための試料用開口
2と、側面のほぼ中央に形成され、第1の照明手段10
からの光束を入射させるための光源用開口16と、試料
用開口2の側方に形成され、第2の照明手段20からの
光束を入射させるための光源用開口26と、試料3表面
の法線2aに対して8°だけ傾斜した方向に形成され、
試料3からの反射光を受光光学系32に入射させるため
の受光用開口31とを備えている。
【0030】第1の照明手段10は、光源11、発光回
路12等から構成され、光源用開口16の近傍に配設さ
れている。光源11は、Xeフラッシュ等が用いられ、
積分球1内に光束を供給して、内壁1aの広い直接照明
域5を最初に照明するものである。発光回路12は、光
源11を発光させるもので、後述する測定制御手段52
により動作が制御される。
【0031】第2の照明手段20は、光源21、発光回
路22、マスク板23、照明光学系24、反射鏡25及
び拡散板27等から構成され、光源用開口26の近傍に
配設されている。光源21は、Xeフラッシュ等が用い
られ、積分球1内に光束を供給するものである。発光回
路22は、光源21を発光させるもので、測定制御手段
52により動作が制御される。
【0032】拡散板27は、光源21に近接して配置さ
れ、光源21から入射する光束を拡散する半透明板であ
る。マスク板23は、開口23aを有し、光源21から
の光束による照射域を制限するものである。照明光学系
24は、レンズ等からなり、反射鏡25を介して開口2
3aの像を積分球1の内壁1aの直接照明域4に結像す
るものである。この直接照明域4は、試料3表面の法線
2aに対して−8°の方向に位置しており、受光用開口
31とは法線2aに関して対称な位置になるように、第
2の照明手段20が配設されている。
【0033】受光光学系32は、レンズ等からなり、そ
の光軸32aが試料3表面の法線2aに対して8°だけ
傾斜した方向に設定されて拡散照明、8°受光のd/8光
学系を形成しており、試料3からの反射光の内で8°方
向の成分を試料用分光手段30の受光面に集束するもの
である。試料用分光手段30は、試料3からの反射光を
受光して、その分光強度に対応する受光データを出力す
るもので、受光データは後述する制御手段50に送られ
る。
【0034】このような構成により、第1の照明手段1
0の光源11が発光すると、積分球1の内壁1aの広い
直接照明域5に向けて光束が導かれた後、内壁1aで多
重反射する。従って、第1の照明手段10により、試料
3はあらゆる方向からほぼ一様に拡散照明されることと
なる。
【0035】また、第2の照明手段20の光源21が発
光すると、積分球1の内壁1aの直接照明域4に向けて
光束が導かれ、この直接照明域4が限定的に照明され
る。直接照明域4で反射した後、やはり多重反射される
が、一定部分の反射光は試料3を直接照明し、試料面で
鏡面反射された光束は、受光用開口31を通って受光光
学系32に入射する。従って、第2の照明手段20によ
り、試料3は拡散照明に加えて鏡面反射を強調するよう
な配光を有する照明光によって照明されることとなる。
【0036】積分球1には、更に、参照用光ファイバ4
1が取り付けられている。この参照用光ファイバ41
は、入射端に入射する積分球1内の照明光の一部を参照
用分光手段40に導くものである。参照用分光手段40
は、照明光を受光して、その分光強度に対応する受光デ
ータを出力するもので、受光データは制御手段50に送
られる。
【0037】制御手段50は、CPUなどからなり、こ
の反射特性測定装置の動作を制御するもので、記憶手段
51と、測定制御手段52と、演算処理手段53とを備
えている。
【0038】記憶手段51は、測定のための制御プログ
ラム、後述する予め設定された重み係数などを記憶する
とともに、試料用分光手段30及び参照用分光手段40
から送られる受光データなどを一時的に記憶するもので
ある。
【0039】測定制御手段52は、発光回路12,22
を介して光源11,21を個別に発光させて、試料用分
光手段30及び参照用分光手段40から各光源11,2
1に対応する受光データをそれぞれ出力させるものであ
る。
【0040】演算処理手段53は、試料用分光手段30
及び参照用分光手段40から送られる光源11,21に
対応する各受光データと、記憶手段51に記憶されてい
る重み係数とに基づいて、後述する手順にしたがって試
料3の反射特性を求めるものである。
【0041】次に、本実施形態の測定原理について説明
する。図1において、Iを光源11を発光させたときの
試料3の表面における照明光、Mを参照用光ファイバ4
1の入射端における照明光とし、I0,M0を試料用開口
2に何も配置されていないとき、すなわち試料3からの
反射がないときの各照明光とすると、
【0042】
【数1】a=I0/M0 は、光源11による拡散照明光の不均一性を表わす。
【0043】試料用開口2に配置した試料3の反射率を
rとすると、各照明光I,Mは、試料3からの反射光I
0・rによる再照明を考慮することによって、下記数2、
数3で表わされる。
【0044】
【数2】 I=I0+I0・r・s1 =I0(1+r・s
【0045】
【数3】 M=M+I0・r・s2 =M0(1+I0/M0・r・s2) 但し、s1,s2は、試料3からの反射光I0・rが積分球
効果によって試料3及び参照用光ファイバ41の入射端
を再照明する比率で、通常極めて微小な値である。
【0046】ここで、観察される試料3からの反射光を
Sとし、見かけの反射率を
【0047】
【数4】R=S/M とする。このとき、I/Mは、数1〜数3より、下記数
5で表わされる。
【0048】
【数5】 I/M=I0(1+r・s1)/{M0(1+I0/M0・r・s2)} =a(1+r・s1)/(1+a・r・s2) ≒a(1+r・s1)(1−a・r・s2) ≒a{1+r(s1−a・s2)} =a(1+b・r) 但し、b=s1−a・s2≪1で、試料3からの反射光による
再照明の不均一性を表わす。従って、
【0049】
【数6】I=a(1+b・r)・M である。従って、試料3の反射率rは、下記数7で表わ
される。
【0050】
【数7】 r=k・S/I =k・S/{a(1+b・r)・M} ≒k・R・c(1−b・r) ≒k・R・c(1−b・R) =k・(x・R+y・R2) 但し、x=c=1/a,y=−(b・c)である。
【0051】また、kは校正係数で、試料3の測定に先
立って標準反射率が与えられている白色標準試料を試料
用開口2に配置して測定し、上記数7によって算出され
た反射率rが既知の標準反射率に一致するように設定さ
れ、測定における光学条件の僅かな経時変化を補正す
る。
【0052】上記数7に示すように、試料3の反射率r
は、見かけの反射率Rと見かけの反射率の2乗R2との
線形結合で表わされ、見かけの反射率Rの重み係数は
x、見かけの反射率の2乗R2の重み係数はyである。
【0053】このように、反射率rと見かけの反射率R
との関係は線形関係ではなく、微小値yを重み係数とす
る2次項を含んでいるが、これは試料3からの反射光に
よる再照明の寄与を表わしている。
【0054】以上説明した測定原理を本実施形態に適用
すると、第1の照明手段10を発光させたときの第1の
見かけの反射率R1及び第2の照明手段20を発光させ
たときの第2の見かけの反射率R2の各々について、そ
の2次項までの寄与を考慮し、係数を単純化すると、下
記数8が得られる。
【0055】
【数8】r1=p1・R1+q1・R1 22=p2・R2+q2・R2 2 但し、p1,q1及びp2,q2は、それぞれ第1、第2の
照明手段10,20に対応する係数、r1,r2は、それ
ぞれ第1、第2の照明手段10,20に対応する反射率
である。
【0056】ここで、試料の反射率rは適切な重み係数
A,Bによる線形結合で表現され、以下の式で表わされ
る。
【0057】
【数9】 r=k・(A・r1+B・r2) =k・(g1・R1+h1・R1 2+g2・R2+h2・R2 2) 但し、g1=A・p1,h1=A・q1,g2=B・p2,h2
B・q2である。
【0058】そこで、係数g1,h1及びg2,h2として
適切な値を用いることによって、所望の照明条件に近い
条件での試料3の反射率を求めることができる。
【0059】次に、この反射特性測定装置の測定手順に
ついて説明する。まず、測定制御手段52により発光回
路12が動作し、光源11が発光して積分球1の試料用
開口2に配置された試料3が拡散照明される。
【0060】そして、試料用分光手段30から試料3の
反射光の受光データS1(λ)が、参照用分光手段40か
ら照明光の受光データM1(λ)が、それぞれ演算処理手
段53に送られる。なお、以下において、説明の便宜
上、各データに対する(λ)の記載を省略する。
【0061】これらの受光データから、演算処理手段5
2により下記数10に従って、第1の見かけの反射率R
1が算出される。
【0062】
【数10】R1=S1/M1 続いて、測定制御手段52により発光回路22が動作
し、光源21が発光して試料3が−8°方向からの光束
が強調された照明光で照明される。そして、同様に第2
の見かけの反射率R2が算出される。
【0063】
【数11】R2=S2/M2 次いで、下記数12により、記憶手段51に予め記憶さ
れている所望の照明条件における第1の照明手段10に
対する第1の重み係数g1,h1と、第2の照明手段20
に対する第2の重み係数g2,h2と、校正係数kとを用
いて、所望の照明条件における試料3の反射率rが算出
される。
【0064】
【数12】r=k・(g1・R1+h1・R1 2+g2・R2+h2・R2 2) 上記数12に示すように、試料3の反射率rは、第1の
見かけの反射率R1及び第1の見かけの反射率の2乗R1
2の線形結合と、第2の見かけの反射率R2及び第2の見
かけの反射率の2乗R2 2の線形結合とを更に結合したも
ので表わされる。
【0065】また、上記数12において、第1の見かけ
の反射率R1の重み係数はg1、第1の見かけの反射率の
2乗R1 2の重み係数はh1、第2の見かけの反射率R2
重み係数はg2、第2の見かけの反射率の2乗R2 2の重
み係数はh2である。
【0066】なお、所望の照明条件として、試料の反射
光による再照明がなく、照明光の配光も理想に近い均一
なものとする照明条件を採用してもよい。また、試料の
反射光による特有の再照明を有するとともに、照明光の
配光に不完全性を有する特定の機種に対応するような照
明条件を採用してもよい。
【0067】次に、第1の重み係数g1,h1及び第2の
重み係数g2,h2を求める手順について説明する。第1
の重み係数g1,h1及び第2の重み係数g2,h2は、積
分球1の構造によって決まるもので、本実施形態では、
第1の基準試料S1〜第6の基準試料S6の6個の基準
試料を測定することによって求めている。
【0068】第1の基準試料S1〜第6の基準試料S6
は、光沢面及びマット面のそれぞれ異なる3種の明度を
有する無彩色の試料で、それぞれ所望の照明条件におけ
る基準反射率r1〜r6が与えられている。
【0069】まず、第1の基準試料S1を試料用開口2
に配置し、第1の照明手段10による見かけの反射率R
11と、第2の照明手段20による見かけの反射率R21
を測定する。
【0070】次いで、第2の基準試料S2〜第6の基準
試料S6についても、同様に、第1の照明手段10によ
る見かけの反射率R12〜R16と、第2の照明手段20に
よる見かけの反射率R22〜R26とを測定する。
【0071】ここで、見かけの反射率R1i,R2i、第1
の重み係数g1,h1及び第2の重み係数g2,h2を用い
て上記数12に従って算出される反射率と、既知の基準
反射率riとの誤差ei(i=1〜6)は下記数13とな
る。
【0072】
【数13】 ei=ri−(g1・R1i+h1・R1i 2+g2・R2i+h2・R2i 2) 但し、i=1〜6である。
【0073】そして、下記数14に示す誤差ei(i=1
〜6)の2乗和Tが最小になるように最小2乗法によっ
て最適化した第1の重み係数g1,h1及び第2の重み係
数g2,h2を採用する。
【0074】
【数14】 T=(e1)2+(e2)2+(e3)2+(e4)2+(e5)2+(e6)2 このような手順で第1の重み係数g1,h1及び第2の重
み係数g2,h2を予め求めておき、記憶手段51に記憶
しておく。
【0075】なお、上記説明では(λ)の記載を省略して
いるが、反射率、受光データや照明特性などは波長依存
性を有するので、それらから導かれる第1、第2の重み
係数も波長依存性を有している。従って、各重み係数も
波長毎に求められ、それぞれ重み係数g1(λ),h
1(λ),g2(λ),h2(λ)と表現することができる。
【0076】このように、本実施形態によれば、それぞ
れ異なる配光で試料3を照明する第1の照明手段10及
び第2の照明手段20を備え、記憶手段51に予め記憶
されている所望の照明条件における第1の照明手段10
に対する第1の重み係数g1,h1と、第2の照明手段2
0に対する重み係数g2,h2と、校正係数kとを用い
て、上記数12に従って試料3の反射率rを求めるよう
にしたので、機種間差の有無に関わりなく反射率rを求
めることができ、これによって、各機種間における互換
性の高い測定データを得ることができる。
【0077】また、積分球1の構造に依存する第1の重
み係数g1,h1及び第2の重み係数g2,h2を所望の照
明条件に近似するように最適化して求めることによっ
て、試料3の反射率rを所望の照明条件に近似したもの
とすることができる。
【0078】また、例えば所望の照明条件として特定の
機種が有する照明条件に近似したものとすることによ
り、当該機種について互換性の高い測定データを得るこ
とができる。
【0079】なお、本発明は、上記実施形態に限られ
ず、以下の(1)〜(5)に示す変形形態を採用するこ
とができる。
【0080】(1)上記実施形態では、拡散照明と−8
°方向からの照明光が強調された照明光とを用いて、試
料3からの鏡面反射成分を含む反射特性を求めている
が、第1の基準試料S1〜第6の基準試料S6の鏡面反
射込み(SCI)の反射率データを基準とすることによ
りSCIのための係数を得ることができ、第1の基準試
料S1〜第6の基準試料S6の鏡面反射を含まない(S
CE)反射率データを基準とすることによりSCEのた
めの係数を得ることができる。
【0081】(2)上記実施形態において、第1の照明
手段10のみを備え、第2の照明手段20を備えていな
い形態でもよい。この場合には、第1の照明手段10に
よる第1の重み係数g1,h1のみを記憶手段51に記憶
しておき、測定原理の説明において導いた上記数7を用
いればよい。但し、数7においてx=g1,y=h1とす
ればよい。
【0082】この形態によれば、積分球効果による再照
明に起因する機種間差を補正することができるととも
に、第2の照明手段20を備えていない分だけ装置の構
成を簡素化することができる。
【0083】(3)予め求められた第1の重み係数
1,h1及び第2の重み係数g2,h2に対して、受光デ
ータ及び校正係数kの種々の値に基づき上記数12を用
いて予め反射率を算出して得られたテーブルデータを記
憶手段51に記憶しておくようにしてもよい。この場合
には、演算処理手段53は、試料用分光手段30及び参
照用分光手段40から受光データが送られてくると、テ
ーブルデータを参照して対応する値を反射率とすればよ
い。
【0084】この形態によれば、演算処理を行うことな
く試料3の反射特性を求めることができる。
【0085】(4)第1の重み係数g1,h1及び第2の
重み係数g2,h2を求めるときに用いる基準試料は、6
個に限られない。互いに反射率及び表面状態が異なり、
所望の照明条件において測定した基準反射率が既知の4
個以上の基準試料を用いることによっても、各重み係数
を求めることができる。
【0086】(5)照明手段として、図5に示す従来の
装置と同様に、照明手段110,120を備えたもので
もよい。照明手段110は、最初に直接照明域117を
照明することにより、試料3の表面に浅い角度で入射す
る照明光が強調された拡散光により試料3を照明するも
のである。照明手段120は、最初に直接照明域127
を照明することにより、試料3の表面に垂直に近い角度
で入射する照明光が強調された拡散光により試料3を照
明するものである。
【0087】この形態によれば、上記実施形態と同様に
それぞれ異なる配光で試料3を照明することができ、こ
れによって積分球効果による再照明に起因する機種間差
を補正することができる。
【0088】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
積分球の試料用開口に試料を配置した状態で照明手段を
発光させ、試料からの反射光の光強度に対応する受光デ
ータに基づいて試料の見かけの反射特性を求め、予め記
憶されている見かけの反射特性の重み係数及び当該反射
特性の2乗の重み係数を乗じて線形結合することにより
所望の照明条件における試料の反射特性を求めるように
したので、所望の照明条件について互換性の高い反射特
性データを得ることができる。
【0089】また、積分球の試料用開口に試料が配置さ
れた状態で複数の照明手段を個別に発光させて積分球内
のそれぞれ異なる領域に光束を導き、各照明手段の発光
毎に得られる試料からの反射光の光強度に対応する各受
光データに基づいて各照明手段による試料の見かけの反
射特性を求め、予め記憶されている各照明手段による見
かけの反射特性の重み係数及び当該各反射特性の2乗の
重み係数を乗じて線形結合することにより所望の照明条
件における試料の反射特性を求めることにより、所望の
照明条件について更に互換性の高い反射特性データを得
ることができる。
【0090】また、試料からの反射光の内で試料の表面
の法線から略8°の方向の成分を受光する受光手段と、
積分球内の広い領域に向けて光束を導く第1の照明手段
と、積分球内の上記略8°の方向と上記法線に関して対
称な方向の領域に向けて光束を導く第2の照明手段とを
備えることにより、所望の照明条件について更に互換性
の高い反射特性データを精度よく得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る反射特性測定装置の一実施形態の
構成図である。
【図2】(a)(b)は配光の相違に起因する機種間差を説
明する図である。
【図3】試料からの反射光による再照明に起因する誤差
を説明する図である。
【図4】試料からの反射光による再照明に起因する誤差
の例を示す図である。
【図5】従来の反射特性測定装置の構成図である。
【符号の説明】
1 積分球 1a 内壁 2 試料用開口 3 試料 4 第2の照明手段の直接照明域 5 第1の照明手段の直接照明域 10 第1の照明手段 11,21 光源 12,22 発光回路 16,26 光源用開口 20 第2の照明手段 23 マスク板 24 照明光学系 25 反射鏡 27 拡散板 30 試料用分光手段(受光手段) 31 受光用開口 32 受光光学系 40 参照用分光手段 41 参照用光ファイバ 50 制御手段 51 記憶手段 52 測定制御手段 53 演算処理手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山口 亘 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 高阪 裕史 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 鷺坂 直樹 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪 国際ビル ミノルタ株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照明用開口、試料用開口及び受光用開口
    を有し、上記試料用開口に配置された試料を照明する積
    分球と、上記照明用開口に配設され、上記積分球内に光
    束を導く照明手段と、上記受光用開口に配設され、上記
    試料からの反射光を受光してその光強度に対応する受光
    データを出力する受光手段と、上記照明手段を発光させ
    て上記受光手段から上記受光データを出力させる測定制
    御手段と、上記試料の見かけの反射特性及び当該反射特
    性の2乗からなる線形結合が所望の照明条件における上
    記試料の反射特性に近似するように設定された上記反射
    特性の重み係数及び上記反射特性の2乗の重み係数を記
    憶する記憶手段と、上記受光データに基づいて上記試料
    の見かけの反射特性を求めるとともに、求めた反射特性
    及び当該反射特性の2乗の各々に対応する上記各重み係
    数を乗じて線形結合することにより上記所望の照明条件
    における上記試料の反射特性を求める演算処理手段とを
    備えたことを特徴とする反射特性測定装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の反射特性測定装置におい
    て、上記積分球は、互いに異なる位置に形成された複数
    の上記照明用開口を有するもので、上記照明手段は、上
    記各照明用開口に配設され、上記積分球内に光束を導く
    複数の照明手段からなり、上記測定制御手段は、上記各
    照明手段をそれぞれ個別に発光させ、上記受光手段から
    上記各照明手段に対応する上記受光データをそれぞれ個
    別に出力させるもので、上記記憶手段は、上記各照明手
    段による上記試料の見かけの反射特性及び当該各反射特
    性の2乗からなる線形結合が所望の照明条件における反
    射特性に近似するように設定された上記線形結合の各重
    み係数を記憶するもので、上記演算処理手段は、上記各
    照明手段に対応する上記受光データに基づいて上記試料
    の見かけの反射特性を求めるとともに、求めた上記各照
    明手段に対応する見かけの反射特性及び当該各反射特性
    の2乗の各々に対応する上記各重み係数を乗じて線形結
    合することにより上記所望の照明条件における上記試料
    の反射特性を求めるものであることを特徴とする反射特
    性測定装置。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の反射特性測定装置におい
    て、上記受光用開口は、上記試料の表面の法線から略8
    °の方向に形成され、上記受光手段は、上記試料からの
    反射光の内で上記略8°の方向の成分を受光するもの
    で、上記照明手段は、上記積分球内の所定の領域に向け
    て光束を導く第1の照明手段と、上記積分球内の上記略
    8°の方向と上記法線に関して対称な方向の領域に向け
    て光束を導く第2の照明手段とからなるもので、上記記
    憶手段は、上記第1、第2の照明手段による上記試料の
    見かけの反射特性及び当該各反射特性の2乗からなる線
    形結合が所望の照明条件における反射特性に近似するよ
    うに設定された上記線形結合の各重み係数を記憶するも
    ので、上記演算処理手段は、上記第1、第2の照明手段
    に対応する上記受光データに基づいて上記試料の見かけ
    の反射特性を求めるとともに、求めた上記第1、第2の
    照明手段に対応する見かけの反射特性及び当該各反射特
    性の2乗の各々に対応する上記各重み係数を乗じて線形
    結合することにより上記所望の照明条件における上記試
    料の反射特性を求めるものであることを特徴とする反射
    特性測定装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7697136B2 (en) 2007-05-31 2010-04-13 Konica Minolta Sensing, Inc. Reflection characteristic measuring apparatus, and method for calibrating reflection characteristic measuring apparatus
EA022465B1 (ru) * 2010-12-27 2016-01-29 Александр Васильевич ИВАЩЕНКО ЗАМЕЩЕННЫЕ ГИДРИРОВАННЫЕ ТИЕНО-ПИРРОЛО[3,2-с]ПИРИДИНЫ, ЛИГАНДЫ, ФАРМАЦЕВТИЧЕСКАЯ КОМПОЗИЦИЯ И СПОСОБ ИХ ПРИМЕНЕНИЯ
WO2017094559A1 (ja) * 2015-12-04 2017-06-08 コニカミノルタ株式会社 反射特性測定システム
WO2017099032A1 (ja) * 2015-12-10 2017-06-15 コニカミノルタ株式会社 測色装置
WO2017208937A1 (ja) * 2016-05-31 2017-12-07 コニカミノルタ株式会社 反射特性測定装置
WO2020059269A1 (ja) * 2018-09-21 2020-03-26 コニカミノルタ株式会社 反射特性測定装置及び該方法
US20230152612A1 (en) * 2020-08-07 2023-05-18 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Reflection rate detection device and reflection rate detection method for liquid crystal panel

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1118903B1 (en) * 1998-09-29 2005-06-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Reflection liquid crystal display
US6539323B2 (en) 2001-05-04 2003-03-25 Electronics For Imaging, Inc. Methods and apparatus for correcting spectral color measurements
US6737637B1 (en) * 2002-07-12 2004-05-18 Credence Systems Corporation Illuminator for illuminating multiple targets
US7048424B2 (en) * 2002-08-14 2006-05-23 Cross Match Technologies, Inc. Light integrating column
US6987566B1 (en) 2002-11-27 2006-01-17 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Methods and apparatus for analyzing mirror reflectance
US7184146B2 (en) * 2003-06-24 2007-02-27 Cardinal Ig Company Methods and apparatus for evaluating insulating glass units
JP2007225384A (ja) * 2006-02-22 2007-09-06 Konica Minolta Sensing Inc 反射特性測定装置
JP4251193B2 (ja) 2006-05-23 2009-04-08 コニカミノルタセンシング株式会社 反射特性測定装置
JP5058838B2 (ja) * 2008-02-01 2012-10-24 キヤノン株式会社 情報処理装置および方法
US7869049B2 (en) * 2009-05-06 2011-01-11 Ut-Battelle, Llc Determining biological tissue optical properties via integrating sphere spatial measurements
US8401809B2 (en) 2010-07-12 2013-03-19 Honeywell International Inc. System and method for adjusting an on-line appearance sensor system
WO2015040110A1 (en) * 2013-09-19 2015-03-26 L'oréal Sa Systems and methods for measuring and categorizing colors and spectra of surfaces
WO2016151778A1 (ja) * 2015-03-24 2016-09-29 大塚電子株式会社 分光輝度計の校正に用いる基準光源装置及びそれを用いる校正方法
WO2020075169A1 (en) * 2018-10-10 2020-04-16 Ophir Optronics Ltd. Entrance port adapter for illumination measurement device
CN114354543B (zh) * 2021-12-22 2024-06-04 广东省中山市质量计量监督检测所 一种光度球涂层反射率测量装置及其方法
US12007282B2 (en) * 2022-03-04 2024-06-11 Datacolor Inc. Instrument monitoring

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5045704A (en) * 1990-02-01 1991-09-03 Nanometrics Incorporated Method for determining absolute reflectance of a material in the ultraviolet range
JPH0650817A (ja) * 1992-07-29 1994-02-25 Minolta Camera Co Ltd 試料の光学特性測定装置
JP3353560B2 (ja) * 1995-08-24 2002-12-03 ミノルタ株式会社 反射特性測定装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7697136B2 (en) 2007-05-31 2010-04-13 Konica Minolta Sensing, Inc. Reflection characteristic measuring apparatus, and method for calibrating reflection characteristic measuring apparatus
EA022465B1 (ru) * 2010-12-27 2016-01-29 Александр Васильевич ИВАЩЕНКО ЗАМЕЩЕННЫЕ ГИДРИРОВАННЫЕ ТИЕНО-ПИРРОЛО[3,2-с]ПИРИДИНЫ, ЛИГАНДЫ, ФАРМАЦЕВТИЧЕСКАЯ КОМПОЗИЦИЯ И СПОСОБ ИХ ПРИМЕНЕНИЯ
WO2017094559A1 (ja) * 2015-12-04 2017-06-08 コニカミノルタ株式会社 反射特性測定システム
WO2017099032A1 (ja) * 2015-12-10 2017-06-15 コニカミノルタ株式会社 測色装置
US10571333B2 (en) 2015-12-10 2020-02-25 Konica Minolta, Inc. Colorimetric device
JPWO2017099032A1 (ja) * 2015-12-10 2018-09-27 コニカミノルタ株式会社 測色装置
JPWO2017208937A1 (ja) * 2016-05-31 2019-03-28 コニカミノルタ株式会社 反射特性測定装置
WO2017208937A1 (ja) * 2016-05-31 2017-12-07 コニカミノルタ株式会社 反射特性測定装置
US10746650B2 (en) 2016-05-31 2020-08-18 Konica Minolta, Inc. Reflection characteristic measuring device
WO2020059269A1 (ja) * 2018-09-21 2020-03-26 コニカミノルタ株式会社 反射特性測定装置及び該方法
JPWO2020059269A1 (ja) * 2018-09-21 2021-08-30 コニカミノルタ株式会社 反射特性測定装置及び該方法
US20230152612A1 (en) * 2020-08-07 2023-05-18 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Reflection rate detection device and reflection rate detection method for liquid crystal panel
US11977285B2 (en) * 2020-08-07 2024-05-07 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Reflection rate detection device and reflection rate detection method for liquid crystal panel

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