WO2017090609A1 - ガスバリアー性フィルム及び電子デバイス - Google Patents

ガスバリアー性フィルム及び電子デバイス Download PDF

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WO2017090609A1
WO2017090609A1 PCT/JP2016/084595 JP2016084595W WO2017090609A1 WO 2017090609 A1 WO2017090609 A1 WO 2017090609A1 JP 2016084595 W JP2016084595 W JP 2016084595W WO 2017090609 A1 WO2017090609 A1 WO 2017090609A1
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WO
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gas barrier
layer
barrier film
zinc
film according
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Application number
PCT/JP2016/084595
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English (en)
French (fr)
Inventor
晋之介 八代
森 孝博
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コニカミノルタ株式会社
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B9/00Layered products comprising a layer of a particular substance not covered by groups B32B11/00 - B32B29/00
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/08Oxides
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/02Details
    • H05B33/04Sealing arrangements, e.g. against humidity
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • H10K50/12OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers comprising dopants

Definitions

  • the present invention relates to a gas barrier film and an electronic device including the same. More specifically, the present invention relates to a gas barrier film and an electronic device having excellent gas barrier properties and durability (bending resistance).
  • organic electroluminescence devices particularly organic electroluminescence devices (hereinafter also referred to as “organic EL devices”, “organic EL elements”, or simply “elements”)
  • a sealing layer that covers the organic EL element is formed.
  • the water vapor permeability (WVTR) in the environment of 25 ⁇ 0.5 ° C and 90 ⁇ 2% RH is 1 ⁇ 10 ⁇ 5 to 1 ⁇ 10 ⁇ 6 g / m 2 ⁇ 24 h It is said that high gas barrier properties are necessary.
  • a method of forming a sealing layer having a multilayer structure in which inorganic layers and organic layers are alternately laminated at a low temperature has been proposed.
  • a gas barrier layer unit having a structure in which an inorganic layer and an organic layer are alternately stacked for example, a sputtering apparatus, an organic vapor deposition apparatus, and a CVD apparatus are used to connect the inorganic layer and the organic layer alternately.
  • a large number of layers are required, and each organic layer requires an ultraviolet (UV) curing process, which requires a very long film formation time. Etc.), which causes deterioration of the device.
  • UV ultraviolet
  • a sealing film in which a SiN film (thickness 2 ⁇ m) by a CVD film forming method (CVD: Chemical Vapor Deposition, also called chemical vapor deposition) and a polysilazane coating film (thickness 500 nm) is combined are known.
  • CVD Chemical Vapor Deposition
  • the polysilazane coating film is formed only by coating and drying, and uses only the hygroscopic capacity, so the initial performance has an apparent water vapor blocking function by the hygroscopic capacity, but the hygroscopic capacity After the water is saturated, the water vapor blocking function is lost and only a limited effect is obtained.
  • a process requiring a long deposition time is required for forming a 2 ⁇ m thick SiN film, and the required gas barrier property cannot be satisfied only by a 2 ⁇ m thick SiN film.
  • Patent Document 1 A transparent barrier film provided with a light-transmitting barrier layer within the range is disclosed (for example, see Patent Document 1).
  • the method disclosed in Patent Document 1 is mainly a method of suppressing the permeation of oxygen and moisture by a single light permeable gas barrier layer, and in recent years, a high degree of gas barrier property has been required. The current situation is that satisfactory quality has not been achieved for electronic device applications.
  • a high barrier in which a plurality of inorganic material constituting layers are provided on a base material and an inorganic-organic hybrid polymer layer having a layer thickness of less than 1 ⁇ m is formed between the inorganic material constituting layers.
  • a conjugate is disclosed (for example, see Patent Document 2).
  • Patent Document 2 even the method disclosed in Patent Document 2 is insufficient as an effect of blocking moisture and oxygen by the inorganic-organic hybrid polymer layer, and is not suitable as an electronic device application that requires high gas barrier properties. Sufficient quality is required, and rapid technological development is required.
  • the present invention has been made in view of the above-described problems and circumstances, and a solution to the problem is to provide a gas barrier film having extremely high gas barrier properties and durability (bending resistance) and an electronic device including the same. It is to be.
  • a layer B containing a compound containing at least zinc, tin and oxygen on the substrate, and a group 3 to group 11 A gas having a gas barrier layer unit having a layer A containing a transition metal M2 and having a zinc content in the range of 5 to 70% by mass with respect to the total mass of the layer B It has been found that a gas barrier film having extremely high gas barrier properties and durability (bending resistance) can be obtained by the barrier film.
  • a gas barrier layer unit having a layer B containing a compound containing at least zinc, tin and oxygen and a layer A containing a Group 3 to Group 11 transition metal M2 on a substrate; A gas barrier film, wherein the zinc content relative to the total mass of the layer B is in the range of 5 to 70 mass%.
  • a hybrid layer comprising at least an inorganic-organic hybrid material is provided at a position adjacent to the gas barrier layer unit, and the thickness of the hybrid layer is in the range of 20 nm to 1.0 ⁇ m. 6.
  • the gas barrier film according to any one of items 1 to 5.
  • the gas barrier layer having two or more gas barrier layers, wherein all the gas barrier layers are the gas barrier layer units, and the hybrid layer is provided between the two gas barrier layer units.
  • Item 8 or Item 9 is a laminate in which the gas barrier layer unit and the hybrid layer are each two or more, and the gas barrier layer unit and the hybrid layer are alternately laminated.
  • the gas barrier film according to the description.
  • Item 12 The gas barrier film according to any one of Items 6 to 11, wherein the inorganic-organic hybrid material has an inorganic network and an organic network.
  • the gas barrier layer unit is a region containing the metal M1 which is the zinc and tin and the group 3 to group 11 transition metal M2 between the layer B and the layer A, and the transition to the metal M1
  • the gas barrier film according to any one of the items up to.
  • the mixed region contains at least one of a mixture of the oxide of the transition metal M2 and the zinc and tin or a compound thereof, or a composite oxide. the film.
  • Item 15 The gas barrier film according to Item 13 or 14, wherein the entire region in the gas barrier layer unit is the mixed region.
  • Item 18 The gas barrier film according to any one of Items 13 to 17, wherein the mixed region further contains oxygen.
  • 21 The electronic device according to item 20, wherein the electronic device is a QD film containing quantum dots.
  • Schematic sectional view showing an example of the configuration of the gas barrier film of the present invention Schematic sectional view showing another example of the configuration in the gas barrier film of the present invention
  • Schematic sectional view showing another example of the configuration in the gas barrier film of the present invention Schematic sectional view showing an example of a configuration having a functional layer of the gas barrier film of the present invention
  • the schematic sectional drawing which shows an example of the structure which has the hybrid layer of the gas barrier film of this invention The schematic sectional drawing which shows another example of the structure which has the hybrid layer of the gas barrier film of this invention
  • the schematic sectional drawing which shows another example of the structure which has the hybrid layer of the gas barrier film of this invention Schematic diagram for explaining element profile and mixed region when composition distribution of metal M1 and transition metal M2 which are zinc and tin in the thickness direction of the gas barrier layer is analyzed by XPS method
  • the gas barrier film of the present invention comprises, on a base material, a layer B containing a compound containing at least zinc, tin, and oxygen, and a layer A containing a Group 3 to Group 11 transition metal M2.
  • the gas barrier layer unit has a zinc content with respect to the total mass of the layer B in the range of 5 to 70% by mass. This feature is a technical feature common to or corresponding to the claimed invention.
  • the zinc content means the mass ratio (mass%) of zinc in the total mass (100 mass%) of the layer B.
  • a gas barrier layer is formed using a non-transition metal oxide alone, a gas barrier layer is formed using a transition metal oxide alone, or zinc, tin and
  • the structure in which an inorganic layer containing a compound containing oxygen is formed alone has not yet achieved a high gas barrier property as required by electronic device specifications.
  • the inventors of the present invention include a compound (for example, oxide) composed of zinc, tin, and oxygen, and the zinc content is 5 to 70% by mass with respect to the total mass.
  • the gas barrier property is remarkably improved depending on the degree of oxygen deficiency. I found it. This is because the bond between the metal M1 and the transition metal M2, which are zinc and tin, is more likely to occur than the bond between zinc and tin or between transition metals, so that the mixed region has an oxygen deficient composition. It is considered that this is because a high-density structure of the metal compound was formed in the mixed region.
  • the layer B is disposed at a position in contact with the base material, and the carbon content ratio in the region in contact with the base material of the layer B is 5.0.
  • an inclined structure can be formed in the composition to be formed.
  • Durability bending resistance
  • the region in contact with the base material of layer B in the present invention refers to a region in the depth direction from the surface in contact with the base material of layer B up to 10% of the total film thickness of layer B, and the carbon content in the region It is expressed as an average value.
  • a conductive layer having a specific resistance value of less than 2 ⁇ 10 ⁇ 3 ⁇ ⁇ cm as a functional layer between the layer B and the base material, it can be used for a transparent electrode of an electronic device. Can do.
  • a smoothing layer is provided. It is preferable at the point which can be functioned as.
  • the gas barrier film of the present invention has a hybrid layer composed of an inorganic-organic hybrid material at a position adjacent to the gas barrier layer unit according to the present invention, and the layer thickness of the hybrid layer Is within the range of 20 nm to 1.0 ⁇ m, it has excellent adhesion to the gas barrier layer unit formed adjacent to it, and it is effective against fine cracks and cracks generated in the gas barrier layer unit. This is preferable from the viewpoint of entering / compensating a defective portion and preventing deterioration of gas barrier properties due to a short pass or the like.
  • gas barrier layer unit there are two or more gas barrier layers, and at least one gas barrier layer is constituted by the gas barrier layer unit according to the present invention, and the gas barrier layer unit and the gas barrier layer are provided.
  • the hybrid layer is provided, or two or more gas barrier layers are provided, and all the gas barrier layers are constituted by the gas barrier layer unit according to the present invention.
  • the formation of the hybrid layer between the base material and the gas barrier layer unit can improve the smoothness of the gas barrier layer unit and the adhesion between the base material and the gas barrier layer unit. This is preferable.
  • the inorganic-organic hybrid material has an inorganic network and an organic network from the viewpoint that the effects of the hybrid layer unit according to the present invention can be further expressed.
  • the gas barrier layer unit according to the present invention includes the metal M1 which is the zinc and tin between the layer B and the layer A and the group 3 to group 11 transition metal M2.
  • the entire region in the gas barrier layer unit according to the present invention is formed in the mixed region from the viewpoint of stably forming the mixed region.
  • the transition metal M2 contained in the gas barrier layer unit is a Group 5 element in the long-period periodic table, and further, niobium (Nb) or tantalum (Ta). It is preferable in that a more excellent gas barrier property can be achieved.
  • composition of the mixed region further contains oxygen, or when the composition of the mixed region is represented by the chemical composition formula (1), at least a part of the mixed region is the relational expression. Satisfying (2) is preferable in that a more excellent gas barrier property can be obtained.
  • the gas barrier film of the present invention has a layer B containing a compound containing at least zinc, tin and oxygen and a layer A containing a Group 3 to Group 11 transition metal M2 on a substrate. It has a gas barrier layer unit, and the layer B has a zinc content in the range of 5 to 70% by mass.
  • a structure having a hybrid layer made of an inorganic-organic hybrid material and having a layer thickness in the range of 20 nm to 1.0 ⁇ m is located adjacent to the gas barrier layer unit.
  • the gas barrier property in the “gas barrier film” referred to in the present invention is an oxygen transmission rate measured by a method according to JIS K 7126-1987 in a gas barrier film in which at least a gas barrier layer unit is formed on a substrate.
  • the water vapor transmission rate 25 ⁇ 0.5 ° C., relative humidity (90 ⁇ 2) measured by a method according to JIS K 7129-1992, with a degree of 1 ⁇ 10 ⁇ 3 ml / m 2 ⁇ 24 h ⁇ atm or less.
  • % RH means a high barrier property of 1 ⁇ 10 ⁇ 3 g / m 2 ⁇ 24 h or less.
  • the layer thickness of the gas barrier layer unit according to the present invention is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 to 1000 nm. If it is in the range of such layer thickness, the gas barrier property film which is excellent in high gas barrier performance, bending resistance, and cutting processability can be obtained.
  • the water vapor permeability can be measured, for example, with a water vapor permeability measuring device (trade name: Permatran, manufactured by Mocon) in an atmosphere of 38 ° C. and 100% RH.
  • a water vapor permeability measuring device (trade name: Permatran, manufactured by Mocon) in an atmosphere of 38 ° C. and 100% RH.
  • FIGS. 1A to 1C are schematic cross-sectional views showing an example of a basic configuration of a gas barrier film of the present invention.
  • the gas barrier film (1) shown in FIG. 1A is composed of a metal (M1) that is zinc and tin and a compound containing oxygen on the substrate (2), and the zinc content is in the range of 5 to 70% by mass.
  • a structure having a gas barrier layer unit (GB) in which a layer B (B) and a layer A (A) composed of an oxide of a transition metal M2 belonging to Group 3 to Group 11 are stacked is shown. is there.
  • the gas barrier film (1) shown in FIG. 1B includes a metal M1 and a second metal M1, which are defined in claim 13, between the layer B (B) and the layer A (A) described in FIG. 1A.
  • An example of a configuration in which (C) is continuously 5 nm or more in the thickness direction is shown.
  • the gas barrier film (1) shown in FIG. 1C shows the configuration of the gas barrier layer unit (GB) in which the entire area of the gas barrier layer unit defined in claim 15 is formed in the mixed region.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an example of a configuration having a functional layer of the gas barrier film of the present invention.
  • the gas barrier film (1) shown in FIG. 2 has a functional layer between the substrate (2) and the layer B (B) constituting the gas barrier layer unit (GB) in addition to the structure shown in FIG. 1A.
  • the structure provided with (4) is shown.
  • the functional layer include a conductive layer and a layer containing silicon and carbon and having a carbon content in the range of 1.0 to 10% by mass.
  • FIGS. 3A to 3C show an example of a configuration in which a hybrid layer composed of an inorganic-organic hybrid material, which is one of the preferred forms of the gas barrier film of the present invention, is provided.
  • the gas barrier film (1) shown in FIG. 3A is composed of an inorganic-organic hybrid material on the layer A (A) constituting the gas barrier layer unit (GB), in addition to the structure shown in FIG. 1A.
  • a configuration in which a hybrid layer (5) is provided is shown. By adopting such a configuration, an inorganic-organic hybrid material penetrates and fills in a defective portion such as a fine crack generated when the layer A (A) is formed. It is possible to prevent the occurrence of leakage due to the gas and to suppress the deterioration of the gas barrier property.
  • FIG. 3B shows a further development of FIG. 3A, which is different from the configuration having the hybrid layer (5) on the first gas barrier layer unit (GB1) shown in FIG. 3A, on the hybrid layer (5).
  • 2 shows a configuration in which two gas barrier layer units (GB2) are provided and the hybrid layer (5) is sandwiched between two gas barrier layer units (GB1, GB2).
  • FIG. 3C shows a configuration in which two laminates composed of the first gas barrier layer unit (GB1) and the hybrid layer (5) shown in FIG. 3A are laminated, and by taking these configurations, Deterioration of gas barrier property of gas barrier layer due to penetration of inorganic-organic hybrid material as anchors and filling in defects such as fine cracks generated when forming layer A (A) or layer B (B) Can be prevented.
  • the film-form or sheet-form base material which consists of colorless and transparent resin is mentioned.
  • the resin used to form such a substrate include polyester resins such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN); polyolefin resins such as polyethylene (PE), polypropylene (PP), and cyclopolyolefin.
  • PET polyethylene terephthalate
  • PEN polyethylene naphthalate
  • Polyolefin resins such as polyethylene (PE), polypropylene (PP), and cyclopolyolefin.
  • Polyamide resin Polycarbonate resin
  • Polystyrene resin Polyvinyl alcohol resin
  • Saponified ethylene-vinyl acetate copolymer Polyacrylonitrile resin
  • Acetal resin Polyimide resin
  • Cellulose ester resin Cellulose ester resin .
  • resins selected from polyester resins, polyimide resins, cyclopolyolefin resins, and polycarbonate resins are particularly preferable.
  • these resin can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
  • the thickness of the base material can be appropriately set in consideration of the stability when producing the gas barrier film of the present invention.
  • the thickness of the substrate is preferably in the range of 5 to 500 ⁇ m from the viewpoint that the film can be conveyed even in a vacuum.
  • the gas barrier layer according to the present invention is formed by plasma CVD, the gas barrier layer is formed while discharging through the substrate, and therefore the thickness of the substrate is in the range of 50 to 200 ⁇ m. It is more preferable that the thickness is in the range of 50 to 100 ⁇ m.
  • a surface activation treatment for cleaning the surface of the base material from the viewpoint of improving adhesion with a gas barrier layer described later.
  • Examples of applicable surface activation treatment include corona treatment, plasma treatment, and flame treatment.
  • the thickness of the substrate is preferably in the range of 5 to 500 ⁇ m, more preferably in the range of 15 to 250 ⁇ m.
  • the gas barrier layer unit according to the present invention is composed of a layer B containing a compound containing at least zinc, tin and oxygen, and a layer A containing a Group 3 to Group 11 transition metal M2. B is characterized in that the zinc content is in the range of 5 to 70% by mass.
  • the gas barrier layer unit is a region containing the metal M1 which is the zinc and tin and the transition metal M2 of Group 3 to Group 11 between the layer B and the layer A, wherein the metal It is a preferred embodiment that the mixed region where the value of the atomic ratio of the transition metal M2 to M1 (M2 / M1) is in the range of 0.02 to 49 has a thickness of 5 nm or more continuously in the thickness direction.
  • the mixed region contains at least one of a mixture of the oxide of the transition metal M2 and the zinc and tin or a compound thereof, or a composite oxide.
  • the entire region in the gas barrier layer unit is composed of a mixed region as shown in FIG. 1C.
  • the “constituent component” means a compound constituting each layer of the gas barrier layer unit and a simple substance of metal or nonmetal.
  • the “main component” in the present invention refers to a component having a content of 50% by mass or more.
  • composite oxide refers to a compound (oxide) formed by chemically bonding the constituent components of the layer A and the layer B to each other.
  • a complex formed by physically combining the constituent components of the layer A and the layer B with each other by intermolecular interaction is also included in the “composite oxide” according to the present invention.
  • the layer A containing the transition metal M2 refers to a layer containing a transition metal or a compound thereof as a main component.
  • the “compound” here, that is, “transition metal compound” refers to a compound containing a transition metal, for example, a transition metal oxide.
  • the transition metal (M2) is not particularly limited, and any transition metal can be used alone or in combination.
  • the transition metal refers to a Group 3 element to a Group 11 element in the long-period periodic table, and the transition metal includes Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Pd, Ag, La, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Hf, Ta , W, Re, Os, Ir, Pt, and Au.
  • Nb, Ta, V, Zr, Ti, Hf, Y, La, Ce, and the like can be cited as transition metals (M2) that can provide good gas barrier properties.
  • Nb and Ta which are Group 5 elements, can be preferably used from the viewpoint of easy bonding to tin and zinc, which are metals M1 contained in the layer B, from various examination results.
  • the transition metal (M2) is a Group 5 element (particularly Nb) and the metal M1 is zinc and tin, a remarkable gas barrier property improving effect can be obtained, which is a particularly preferable combination. This is considered to be because the bond between zinc and tin and the Group 5 element (particularly Nb) is particularly likely to occur.
  • the transition metal (M2) is particularly preferably Nb or Ta from which a compound with good transparency can be obtained.
  • the layer B refers to a layer composed mainly of a compound containing zinc, tin and oxygen.
  • a thin film region made of zinc-tin-oxide exists as an amorphous material.
  • This constituent material corresponds to a microcrystalline material, for example, has a lower packing density than pure zinc oxide, but a mixed oxide of an alloy consisting of zinc and tin has a very distinct gas barrier property.
  • the layer B made of zinc-tin-oxide is a gas having excellent stress relaxation effect and flexibility, and excellent crack resistance compared to aluminum oxide or silicon oxide film.
  • a barrier region can be formed.
  • the region in the range of ⁇ 49 has a thickness of 5 nm or more continuously in the thickness direction.
  • the mixed region may be formed as a plurality of regions having different chemical compositions of the constituent components, or may be formed as a region in which the chemical compositions of the constituent components are continuously changed. .
  • the region other than the mixed region may be a region of oxide, nitride, oxynitride, oxycarbide, or the like of zinc and tin (M1), or of transition metal (M2).
  • the region may be oxide, nitride, oxynitride, oxycarbide, or the like.
  • Oxygen deficient region In the present invention, it is preferable that a part of the composition contained in the mixed region according to the present invention forms an oxygen-deficient region having a non-stoichiometric composition in which oxygen is lost.
  • the oxygen deficient composition is defined by the following relational expression (2) when at least a part of the composition of the mixed region is expressed by the following chemical composition formula (1). It is defined as satisfying the condition.
  • the oxygen deficiency index indicating the degree of oxygen deficiency in the mixed region
  • the minimum value obtained by calculating (2y + 3z) / (a + bx) in the certain mixed region is used. Details will be described later.
  • composition represented by the chemical composition formula (1) is simply referred to as the composition of the composite region.
  • the composition of the composite region of zinc and tin (M1) and the transition metal (M2) according to the present invention is represented by (M1) (M2) x O y N z which is the chemical composition formula (1). It is.
  • the composition of the composite region may partially include a nitride structure, and it is more preferable to include a nitride structure from the viewpoint of gas barrier properties.
  • the maximum valence of zinc and tin (M1) is a
  • the maximum valence of transition metal (M2) is b
  • the valence of O is 2
  • the valence of N is 3.
  • the composition of the composite region including a part of the nitride
  • (2y + 3z) / (a + bx) 1.0.
  • This formula means that the total number of bonds of zinc and tin (M1) and transition metal (M2) is equal to the total number of bonds of O and N.
  • zinc and tin (M1) And the transition metal (M2) are bonded to either O or N.
  • the composite valence calculated by carrying out the weighted average of the maximum valence of each element by the abundance ratio of each element It shall be adopted as the values of a and b of the “maximum valence”.
  • the remaining bonds of zinc and tin (M1) and transition metal (M2) have the possibility of binding to each other, and the metals of zinc and tin (M1) and transition metal (M2) When they are directly bonded to each other, a denser and higher-density structure is formed than when bonded between metals via O or N, and as a result, the gas barrier property of the gas barrier layer unit is considered to be improved.
  • the mixed region is a region where the value of x satisfies 0.02 ⁇ x ⁇ 49 (0 ⁇ y, 0 ⁇ z). This is defined as a region where the value of the number ratio of transition metal (M2) / zinc and tin (M1) is in the range of 0.02 to 49 and the thickness is 5 nm or more. It is the same definition as that.
  • the mixed region has a region satisfying 0.1 ⁇ x ⁇ 10 of 5 nm or more.
  • the region satisfying 0.2 ⁇ x ⁇ 5 is more preferably included with a thickness of 5 nm or more, and the region satisfying 0.3 ⁇ x ⁇ 4 is included with a thickness of 5 nm or more. More preferably.
  • the thickness of the mixed region that provides good gas barrier properties is 5 nm or more as the sputtering thickness in terms of ZnO 2 in the XPS analysis method described later, and this thickness is 8 nm or more. Is preferably 10 nm or more, more preferably 20 nm or more.
  • the thickness of the mixed region is not particularly limited from the viewpoint of gas barrier properties, but is preferably 100 nm or less, more preferably 50 nm or less, and further preferably 30 nm or less from the viewpoint of optical characteristics. preferable.
  • the gas barrier layer unit having a mixed region having a specific configuration as described above exhibits a gas barrier property that is extremely high enough to be used as a gas barrier layer for an electronic device such as an organic EL element.
  • composition analysis by XPS and measurement of the thickness of the mixed region The mixed region of the gas barrier layer unit according to the present invention, the composition distribution in the layer A and the layer B, the thickness of each layer and region, and the like are described in detail below by X-ray photoelectron spectroscopy (abbreviation: It can be determined by measuring by XPS).
  • the mixed region according to the present invention comprises the layer B containing the zinc and tin (M1) and the layer A containing the transition metal (M2). Is a region where zinc and tin (M1) and a transition metal (M2) coexist.
  • the element concentration distribution curve (hereinafter referred to as “depth profile”) in the thickness direction of the gas barrier layer unit according to the present invention includes element concentrations of zinc and tin, which are metals M1, transition metal M2 (for example, , Niobium element concentration, oxygen (O), nitrogen (N), carbon (C) element concentration, etc. by combining X-ray photoelectron spectroscopy measurement with rare gas ion sputtering such as argon, gas barrier It can be created by sequentially performing surface composition analysis while exposing the inside from the surface of the layer unit.
  • a distribution curve obtained by such XPS depth profile measurement can be created, for example, with the vertical axis as the atomic ratio of each element (unit: atom%) and the horizontal axis as the etching time (sputtering time).
  • the etching time generally correlates with the distance from the surface of the gas barrier layer unit in the thickness direction of the gas barrier layer unit in the layer thickness direction. From “the distance from the surface of the gas barrier layer unit in the thickness direction of the gas barrier layer unit”, the gas barrier layer unit calculated from the relationship between the etching rate and the etching time employed in the XPS depth profile measurement. The distance from the surface can be employed.
  • etching rate is 0.05 nm / It is preferable to set to sec (ZnO 2 oxide film equivalent value).
  • ⁇ Analyzer QUANTERA SXM manufactured by ULVAC-PHI ⁇ X-ray source: Monochromatic Al-K ⁇ ⁇ Sputtering ion: Ar (2 keV)
  • Depth profile Measurement is repeated at a predetermined thickness interval with a SiO 2 equivalent sputtering thickness to obtain a depth profile in the depth direction. The thickness interval was 1 nm (data every 1 nm is obtained in the depth direction).
  • the background was determined by the Shirley method, and quantified using the relative sensitivity coefficient method from the obtained peak area.
  • Data processing uses MultiPak manufactured by ULVAC-PHI.
  • the elements analyzed are zinc and tin, which are metals M1, transition metal M2, oxygen (O), nitrogen (N), and carbon (C).
  • composition ratio is calculated from the obtained data, and zinc and tin (M1) and transition metal (M2) coexist, and the value of the atomic ratio of transition metal (M2) / zinc and tin (M1) is , 0.02 to 49 is obtained, this is defined as a mixed region, and its thickness is obtained.
  • the thickness of the mixed region represents the sputter depth in XPS analysis in terms of ZnO 2 .
  • the thickness of the mixed region when the thickness of the mixed region is 5 nm or more, it is determined as “mixed region”. From the viewpoint of gas barrier properties, there is no upper limit of the thickness in the mixed region, but from the viewpoint of optical properties, it is preferably in the range of 5 to 100 nm, more preferably in the range of 8 to 50 nm. Preferably, it is in the range of 10 to 30 nm.
  • FIG. 4 shows a case where the composition distribution of zinc and tin, which are the metals M1 (M1) constituting the layer B in the thickness direction of the gas barrier layer unit, and the transition metal (M2) that constitutes the layer A is analyzed by the XPS method. It is a graph for demonstrating the element profile and mixed region of this.
  • elemental analysis of zinc and tin (M1), transition metal (M2), O, N, and C is performed in the depth direction from the surface of the gas barrier layer unit (left end of the graph), and the horizontal axis is sputtered.
  • a layer B having an elemental composition mainly composed of zinc and tin (M1) is shown, and an elemental composition mainly composed of a transition metal (M2, for example, niobium) as a metal on the left side is shown in contact therewith.
  • Layer A is shown.
  • the mixed region is a region where the value of the atomic ratio of transition metal (M2) / zinc and tin (M1) is indicated by an elemental composition within the range of 0.02 to 49, and part of layer A and layer B Is a region that overlaps with a part of the region and has a thickness of 5 nm or more.
  • transition metal (M2) examples include Nb, Ta, V, Zr, Ti, Hf, Y, La, Ce, and the like from the viewpoint of obtaining good gas barrier properties as described above.
  • Nb, Ta, and V which are Group 5 elements, can be preferably used because they are considered to easily bond to zinc and tin (M1) contained in the gas barrier layer unit.
  • the formation of the transition metal (M2) oxide-containing layer is not particularly limited, but applying a conventionally known vapor deposition method using an existing thin film deposition technique makes the mixed region efficient. It is preferable from the viewpoint that it can be formed.
  • vapor deposition methods known methods can be used.
  • the vapor deposition method include physical vapor deposition (PVD) methods such as sputtering, vapor deposition, ion plating, and ion assisted vapor deposition, plasma CVD (chemical vapor deposition), and ALD (Atomic).
  • PVD physical vapor deposition
  • CVD chemical vapor deposition
  • a chemical vapor deposition (CVD) method such as a Layer Deposition method may be used.
  • PVD physical vapor deposition
  • PVD physical vapor deposition
  • PVD physical vapor deposition
  • bipolar sputtering, magnetron sputtering, dual magnetron sputtering (DMS) using an intermediate frequency region, ion beam sputtering, ECR sputtering, or the like can be used alone or in combination of two or more.
  • the target application method is appropriately selected according to the target type, and either DC (direct current) sputtering or RF (high frequency) sputtering may be used.
  • a reactive sputtering method using a transition mode that is intermediate between the metal mode and the oxide mode can also be used.
  • a metal oxide film can be formed at a high film formation speed, which is preferable.
  • Examples of the inert gas used for the process gas include He, Ne, Ar, Kr, and Xe. Among them, Ar is preferably used. Furthermore, by introducing oxygen, nitrogen, carbon dioxide and carbon monoxide into the process gas, thin films of zinc, tin (M1) and transition metal (M2) composite oxides, nitride oxides, oxycarbides, etc. are formed. can do. Examples of film formation control conditions in the sputtering method include applied power, discharge current, discharge voltage, time, and the like, which can be appropriately selected according to the sputtering apparatus, the material of the film, the layer thickness, and the like.
  • the sputtering method may be a multi-source simultaneous sputtering method using a plurality of sputtering targets including a transition metal (M2) alone or its oxide.
  • M2 transition metal
  • a method for producing these sputtering targets and a method for producing a thin film made of a composite oxide using these sputtering targets for example, JP 2000-160331 A, JP 2004-068109 A, JP
  • JP The methods and conditions described in JP 2013-047361 A can be referred to as appropriate.
  • the film forming conditions for carrying out the co-evaporation method include the ratio of the transition metal (M2) and oxygen in the film forming raw material, the ratio of the inert gas to the reactive gas during the film forming, and the gas concentration during the film forming. Examples include one or more conditions selected from the group consisting of supply amount, degree of vacuum during film formation, and power during film formation. These film formation conditions (preferably oxygen partial pressure) are By adjusting, a mixed region made of a complex oxide having an oxygen deficient composition can be formed. That is, by forming the gas barrier layer unit using the co-evaporation method as described above, most of the regions in the thickness direction of the formed gas barrier layer unit can be mixed regions.
  • a desired gas barrier property can be realized by an extremely simple operation of controlling the thickness of the mixed region.
  • what is necessary is just to adjust the film-forming time at the time of implementing a co-evaporation method, for example, in order to control the thickness of a mixing area
  • the method for forming the layer B containing zinc and tin (M1) is not particularly limited, and for example, a vapor deposition method can be used by a known method.
  • the vapor deposition method is not particularly limited, and examples thereof include physical vapor deposition (PVD) methods such as sputtering, vapor deposition, ion plating, and ion assisted vapor deposition, plasma CVD (chemical vapor deposition), and ALD. Examples thereof include a chemical vapor deposition (CVD) method such as an (Atomic Layer Deposition) method.
  • PVD physical vapor deposition
  • the sputtering method preferably, magnetron sputtering is used, an alloy composed of zinc and tin is used as a target, and the layer B is formed in the presence of oxygen as a reaction gas. More specifically, the formation is performed under conditions where the amount of oxygen taken into the vacuum chamber and the ratio of zinc and tin in the alloy are adjusted as appropriate, and the ratio of zinc is within the range of 5 to 70% by mass.
  • magnetron sputtering is used to atomize a target made of zinc-tin-alloy in the presence of argon as an inert gas and supply of oxygen as a reactive gas.
  • argon as an inert gas
  • oxygen as a reactive gas
  • the carbon content in the region in contact with the base material of the layer B is preferably 5.0% by mass or less.
  • the “region in contact with the base material of layer B” refers to a region up to 10% in thickness from the surface side in contact with the base material of the total thickness of layer B.
  • the thickness of the layer B is not particularly limited, but is preferably in the range of 10 to 500 nm, more preferably in the range of 20 to 300 nm.
  • the mixed region is formed by forming the mixed region between the layer A and the layer B by appropriately adjusting the respective formation conditions when forming the layer A and the layer B as described above. Is preferred.
  • the layer B is formed by the above-described vapor deposition method
  • the ratio of the zinc and tin (M1) and oxygen in the deposition raw material, the ratio of the inert gas and the reactive gas during the deposition, Mixing by adjusting one or more conditions selected from the group consisting of the gas supply amount during film formation, the degree of vacuum during film formation, the magnetic force during film formation, and the power during film formation Regions can be formed.
  • the layer A is formed by the above-described vapor deposition method, for example, the ratio of the transition metal (M2) and oxygen in the deposition material, the ratio of the inert gas and the reactive gas during the deposition, A mixed region by adjusting one or more conditions selected from the group consisting of the gas supply amount during film formation, the degree of vacuum during film formation, the magnetic force during film formation, and the power during film formation Can be formed.
  • the formation conditions of the method for forming the layer A and the layer B can be appropriately adjusted and controlled.
  • a desired thickness can be obtained by controlling the deposition time.
  • a method of directly forming a mixed region of zinc and tin (M1) and a transition metal (M2) is also preferable.
  • the co-sputtering method that can be employed in the present invention includes, for example, a composite target made of an alloy containing both zinc and tin (M1) and a transition metal (M2), or a composite of zinc, tin (M1) and a transition metal (M2).
  • M1 zinc and tin
  • M2 transition metal
  • M2 zinc, tin
  • M2 transition metal
  • M2 zinc, tin
  • M2 transition metal
  • One source sputtering method using a composite target made of an oxide as a sputtering target can be mentioned.
  • the co-sputtering method in the present invention is multi-source simultaneous sputtering using a plurality of sputtering targets including zinc and tin (M1) alone or an oxide thereof and transition metal (M2) alone or an oxide thereof. May be.
  • a method for producing these sputtering targets and a method for producing a thin film made of a composite oxide using these sputtering targets for example, JP 2000-160331 A, JP 2004-068109 A, JP Reference can be made to the description in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-047361.
  • the film forming conditions for performing the co-evaporation method include the ratio of the transition metal (M2) and oxygen in the film forming raw material, the ratio of the inert gas to the reactive gas during the film forming, and the gas during the film forming. 1 type or 2 or more types of conditions selected from the group consisting of the supply amount, the degree of vacuum at the time of film formation, and the power at the time of film formation are exemplified, and these film formation conditions (preferably oxygen partial pressure) By adjusting the thickness, a thin film made of a complex oxide having an oxygen deficient composition can be formed. That is, by forming the gas barrier layer using the co-evaporation method as described above, most of the region in the thickness direction of the formed gas barrier layer unit can be a mixed region.
  • a desired gas barrier property can be realized by an extremely simple operation of controlling the thickness of the mixed region.
  • what is necessary is just to adjust the film-forming time at the time of implementing a co-evaporation method, for example, in order to control the thickness of a mixing area
  • the gas barrier film of the present invention As one of the functional layers, a configuration in which a conductive layer having a specific resistance value of less than 2 ⁇ 10 ⁇ 3 ⁇ ⁇ cm can provide excellent conductivity, A gas barrier film having such characteristics can be used as a transparent electrode by adding an electrode forming component (for example, ITO) or the like.
  • an electrode forming component for example, ITO
  • Examples of the material imparting conductivity include conventionally known inorganic conductive materials and conductive polymers such as poly (3,4-ethylenedioxythiophene) -polystyrene sulfonate (PEDOT: PSS), polypyrrole, polyaniline, polythiophene, Examples include polythienylene vinylene, polyazulene, polyisothianaphthene, polycarbazole, polyacetylene, polyphenylene, polyphenylene vinylene, polyacene, polyphenylacetylene, polydiacetylene, polynaphthalene, and derivatives thereof.
  • PEDOT poly(1,4-ethylenedioxythiophene) -polystyrene sulfonate
  • PDOT polypyrrole
  • polyaniline polythiophene
  • Examples include polythienylene vinylene, polyazulene, polyisothianaphthene, polycarbazole, polyacetylene, poly
  • a functional layer containing at least silicon and carbon and having a carbon content in the range of 1.0 to 10% by mass is provided between the layer B and the substrate. Is preferred.
  • Such a functional layer acts as a smoothing layer, can improve the smoothness and adhesion of the gas barrier layer unit formed thereon, and can impart a stress relaxation effect when subjected to expansion and contraction.
  • the silicon and carbon-containing layer can also be formed by using a target containing silicon and carbon and wet coating a conventionally known sputtering method or vacuum deposition method, or a coating solution containing silicon and carbon.
  • hybrid layer composed of inorganic-organic hybrid material In the gas barrier film of the present invention, it is preferable to have a hybrid layer composed of an inorganic-organic hybrid material at a position adjacent to the layer B.
  • the layer thickness is preferably in the range of 20 nm to 1.0 ⁇ m, more preferably in the range of 20 to 500 nm, still more preferably in the range of 30 to 200 nm, and particularly preferably in the range of 80 to 120 nm. Is within the range.
  • the hybrid layer according to the present invention comprises a hybrid layer (5) between two gas barrier layer units (GB1 and GB2) as shown in FIG. 3B in the configuration of a gas barrier film having two or more gas barrier layer units. Or a configuration in which the gas barrier layer unit and the hybrid layer are two or more layers, and the gas barrier layer unit and the hybrid layer are alternately stacked as shown in FIG. 3C. It is.
  • the hybrid layer according to the present invention is formed at a position adjacent to the gas barrier layer unit, and is generated when the gas barrier layer unit is formed. It is possible to prevent the gas barrier property from being lowered by invading the film by capillary action and filling the region.
  • the inorganic-organic hybrid material applicable to the present invention is not particularly limited, but is preferably an inorganic-organic hybrid polymer. Further, at least one silane compound having a structure represented by the following general formula (1) Can be used.
  • R 1 a R 2 b SiX 4 -a-b is a group useful for forming an organic network structure
  • R 2 is an organic group that is at least mainly not directly involved in the formation of an organic network structure
  • X is a hydroxy group or is capable of condensation reaction with further such groups under hydrolytic conditions
  • further silicon compounds or other hydrolytically condensable silicon By a bond at the oxygen atom of a compound, or a similar metal compound, represents a group that can contribute at least in part to inorganic network bonds during sol-gel formation.
  • a and b represent 0, 1 or 2, respectively, and 4-ab is rarely 1 but usually represents 2 or 3.
  • X is a cross-linking agent for forming an inorganic network.
  • R 1 represents a cross-linking agent for forming an organic network.
  • the structure represented by the general formula (1) makes it possible to form an organic network in addition to a network formed by inorganic, hydrolytic condensation.
  • R 2 functions as a network modifier organic.
  • R 2 determines the properties of the hybrid polymer.
  • Preferred examples of the group represented by X include an alkoxy group, a hydrogen atom, a hydroxy group, an acryloxy unit, an alkylcarbonyl group, an alkoxycarbonyl group, and a primary or secondary amino group. More preferably, X is an alkoxy group, and particularly preferably an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms. 4-ab is particularly preferably 3.
  • the inorganic-organic hybrid polymer can optionally be formed in the presence of a metal alkoxide.
  • metal alkoxides include boron, aluminum, zircon, germanium, or titanium compounds, preferably alkoxides. It can be selected from forming materials and transition metal compounds.
  • 4-ab is preferably 3 because the silane R 1 SiX 3 used is composed of three inorganic networks. It has bond points, which can increase the degree of network bonds in subsequent hydrolysis. Thereby, the hybrid layer to be formed becomes dense and glassy, and has a high gas barrier layer effect.
  • silane having the general formula SiX 4 (where X is the same as X in the general formula (1)) together with the silane represented by the general formula (1).
  • silane compound represented by the general formula (1) a combination of the silane compound represented by the general formula (1) and one or more metal alkoxides is also effective.
  • the silane used to produce the hybrid polymer is at least partially a silane where a is 1 or in rare cases is 2.
  • a hybrid polymer having an organic polymer network in addition to an inorganic network is preferable as a coating material or a lamination material.
  • a network can be obtained, for example, by opening a ring of an epoxy group bonded to R 1 .
  • an epoxy group for example, an acrylate group, a methacrylate group, or a vinyl group can be introduced as R 1 .
  • organic network bonds can act by polymerization (polyaddition) of double bonds.
  • the starting material for the inorganic-organic hybrid polymer according to the present invention is usually obtained by hydrolytic condensation or partial condensation according to a known sol-gel method.
  • the catalyst usually initiates or accelerates the condensation reaction in a known manner.
  • the inorganic-organic hybrid polymer according to the present invention thus produced is dissolved in a solvent or the like to prepare a coating solution for forming a hybrid layer.
  • a conventionally known wet coating is applied on the gas barrier layer unit according to the present invention.
  • Further advanced inorganic and organic network bonds are cured by application using the process and then evaporating the solvent in the drying step.
  • an appropriate catalyst or polymerization initiator can be added to the coating solution as necessary.
  • network bonding is performed using thermal or actinic irradiation (eg, UV- or other light irradiation) and is optionally redox catalyzed.
  • Inorganic posterior network bonds can optionally be formed by evaporation of the solvent.
  • the solvent it is preferable to use water, and optionally alcohol.
  • a coating solution using water as a solvent is preferable from the viewpoint of environmental protection.
  • the hybrid polymer material is For the gas barrier layer unit formed at the adjacent position, it is possible to make a defect part (such as a crack) to be compensated and to have a smoothness effect.
  • an anchor coat layer is disposed on the surface of the base material on the side where the gas barrier layer unit having the layer B and the layer A according to the present invention is formed. Good.
  • polyester resins As anchor coating agents used in the anchor coat layer, polyester resins, isocyanate resins, urethane resins, acrylic resins, ethylene vinyl alcohol resins, vinyl modified resins, epoxy resins, modified styrene resins, modified silicone resins, alkyl titanates, etc. are used alone. Or in combination of two or more.
  • the anchor coating agent is coated on a substrate by a known wet coating method such as roll coating, gravure coating, knife coating, dip coating, spray coating, etc., and the solvent, diluent, etc. are removed by drying. Can be coated.
  • the application amount of the anchor coating agent is preferably about 0.1 to 5.0 g / m 2 (dry state).
  • the anchor coat layer can also be formed by a vapor deposition method such as physical vapor deposition or chemical vapor deposition.
  • a vapor deposition method such as physical vapor deposition or chemical vapor deposition.
  • an inorganic film mainly composed of silicon oxide can be formed for the purpose of improving adhesion and the like.
  • an anchor coat layer as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-314626, when an inorganic thin film is formed thereon by a vapor deposition method, a gas generated from the substrate side is generated.
  • An anchor coat layer can also be formed for the purpose of blocking to some extent and controlling the composition of the inorganic thin film.
  • the thickness of the anchor coat layer is not particularly limited, but is preferably about 0.5 to 10 ⁇ m.
  • a hard coat layer may be disposed on the surface (one side or both sides) of the substrate.
  • the material contained in the hard coat layer include a thermosetting resin and an active energy ray curable resin, but an active energy ray curable resin is preferable because it is easy to mold.
  • Such curable resins can be used singly or in combination of two or more.
  • the active energy ray-curable resin is a resin that is cured through a crosslinking reaction or the like by irradiation with active energy rays such as ultraviolet rays or electron beams.
  • active energy ray curable resin a component containing a monomer having an ethylenically unsaturated double bond is preferably used, and cured by irradiating an active energy ray such as an ultraviolet ray or an electron beam to cure the active energy ray.
  • a layer containing a cured product of the functional resin, ie, a hard coat layer is formed.
  • Typical examples of the active energy ray curable resin include an ultraviolet curable resin and an electron beam curable resin, and an ultraviolet curable resin that is cured by irradiation with ultraviolet rays is preferable. Moreover, you may use the commercially available base material in which the hard-coat layer is formed previously.
  • the thickness of the hard coat layer is preferably in the range of 0.1 to 15 ⁇ m and more preferably in the range of 1 to 5 ⁇ m from the viewpoint of smoothness and bending resistance.
  • Examples of the active energy ray-curable resin applicable to the hard coat layer forming material include a resin composition containing an acrylate compound having a radical-reactive unsaturated compound, and a mercapto compound having an acrylate compound and a thiol group.
  • examples thereof include resin compositions, resin compositions in which polyfunctional acrylate monomers such as epoxy acrylate, urethane acrylate, polyester acrylate, polyether acrylate, polyethylene glycol acrylate, and glycerol methacrylate are dissolved.
  • a UV curable organic / inorganic hybrid hard coat material OPSTAR (registered trademark) series manufactured by JSR Corporation can be used. It is also possible to use an arbitrary mixture of the above resin compositions, and any photosensitive resin containing a reactive monomer having one or more photopolymerizable unsaturated bonds in the molecule can be used. There are no particular restrictions.
  • thermosetting materials include Tutprom Series (Organic Polysilazane) manufactured by Clariant, SP COAT heat-resistant clear paint manufactured by Ceramic Coat, Nanohybrid Silicone manufactured by Adeka, and Unidic manufactured by DIC. (Registered trademark) V-8000 series, EPICLON (registered trademark) EXA-4710 (ultra-high heat resistant epoxy resin), various silicon resins manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., inorganic / organic nanocomposite material SSG manufactured by Nittobo Co., Ltd.
  • Examples include coats, thermosetting urethane resins composed of acrylic polyols and isocyanate prepolymers, phenol resins, urea melamine resins, epoxy resins, unsaturated polyester resins, and silicon resins.
  • an epoxy resin-based material having heat resistance is particularly preferable.
  • the formation method of the hard coat layer is not particularly limited, but is preferably formed by a wet coating method such as a spin coating method, a spray method, a blade coating method, a dip method, or a dry coating method such as an evaporation method.
  • additives such as an antioxidant, an ultraviolet absorber, and a plasticizer can be added to the above-described active energy ray-curable resin as necessary.
  • an appropriate resin or additive may be used for improving the film formability and preventing the generation of pinholes in the film regardless of the position of the docoat layer.
  • the thickness of the hard coat layer is preferably in the range of 1 to 10 ⁇ m, more preferably in the range of 2 ⁇ m to 7 ⁇ m, from the viewpoint of improving the heat resistance of the film and facilitating the balance adjustment of the optical properties of the film. is there.
  • the gas barrier film of the present invention can be preferably applied to an electronic device whose performance is deteriorated by chemical components in the air (for example, oxygen, water, nitrogen oxide, sulfur oxide, ozone, etc.). That is, the gas barrier film of the present invention can be applied to an electronic device including an electronic device body.
  • Examples of the electronic device body used in the electronic device provided with the gas barrier film of the present invention include, for example, a QD film having a quantum dot (QD) -containing resin layer, an organic electroluminescence element (organic EL element), and a liquid crystal display.
  • An element (LCD), a thin film transistor, a touch panel, electronic paper, a solar cell (PV), and the like can be given.
  • the electronic device body is preferably an organic EL element or a solar cell, and more preferably an organic EL element.
  • the gas barrier film of the present invention can be applied to a QD film having a quantum dot (QD) -containing resin layer.
  • QD quantum dots
  • Quantum dots semiconductor nanoparticles exhibiting a quantum confinement effect with a nanometer-sized semiconductor material are also referred to as “quantum dots”.
  • quantum dots Such a quantum dot is a small lump within about 10 and several nanometers in which several hundred to several thousand semiconductor atoms are gathered, but when absorbing energy from an excitation source and reaching an energy excited state, the energy of the quantum dot Releases energy corresponding to the band gap.
  • quantum dots have unique optical characteristics due to the quantum size effect.
  • the quantum dots contained in the QD-containing resin layer may be known, and can be generated using any method known to those skilled in the art.
  • suitable QDs and methods for forming suitable QDs include US Pat. No. 6,225,198, US 2002/0066401, US Pat. No. 6,207,229, US Pat. No. 6,322,901. Description, US Pat. No. 6,949,206, US Pat. No. 7,572,393, US Pat. No. 7,267,865, US Pat. No. 7,374,807, US Patent Application No. 11/299299, and US Pat. No. 6,861,155 Can be mentioned.
  • the QD is generated from any suitable material, preferably an inorganic material and more preferably an inorganic conductor or semiconductor material.
  • suitable semiconductor materials include any type of semiconductor, including II-VI, III-V, IV-VI and IV semiconductors.
  • Suitable semiconductor materials include Si, Ge, Sn, Se, Te, B, C (including diamond), P, BN, BP, BAs, AlN, AlP, AlAs, AlSb, GaN, GaP, GaAs, GaSb. , InN, InP, InAs, InSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, GaN, GaP, GaAs, GaSb, ZnO, ZnS, ZnSe, ZnTe, CdS, CdSeZn, CdTe, HgS, HgSe, HgTe, BeS, BeSe , BeTe, MgS, MgSe, GeS, GeSe, GeTe, SnS, SnSe, SnTe, PbO, PbS, PbSe, PbTe, CuF, CuCl, CuBr, CuI, Si 3 N 4 , Ge 3 N 4 , Al 2 O 3 , (Al,
  • the following core / shell type quantum dots for example, CdSe / ZnS, InP / ZnS, PbSe / PbS, CdSe / CdS, CdTe / CdS, CdTe / ZnS, and the like can be preferably used.
  • Resin can be used for a QD containing resin layer as a binder holding a quantum dot.
  • resin can be used for a QD containing resin layer as a binder holding a quantum dot.
  • the QD-containing resin layer preferably has a thickness in the range of 50 to 200 ⁇ m.
  • the optimum amount of quantum dots in the QD-containing resin layer varies depending on the compound used, but is generally preferably in the range of 15 to 60% by volume.
  • An organic EL element which is a representative example of an electronic device to which the gas barrier film of the present invention is applied includes, for example, an anode, a first organic functional layer group, a light emitting layer, a second organic functional layer group, and a cathode on a transparent substrate.
  • the first organic functional layer group includes, for example, a hole injection layer, a hole transport layer, an electron blocking layer, and the like
  • the second organic functional layer group includes, for example, a hole blocking layer, an electric transport layer, and an electron injection layer.
  • Each of the first organic functional layer group and the second organic functional layer group may be composed of only one layer, or the first organic functional layer group and the second organic functional layer group may not be provided.
  • the organic EL element may have a non-ode / hole injection transport layer / light emitting layer / electron injection transport layer / cathode (ii) Anode / hole injection transport layer / light emitting layer / hole blocking layer / electron injection transport layer / cathode (iii) Anode / Hole injection / transport layer / electron blocking layer / light emitting layer / hole blocking layer / electron injection transport layer / cathode (iv) Anode / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron transport layer / electron injection layer / Cathode (v) Anode / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / hole blocking layer / electron transport layer / electron injection layer / cathode (vi) Anode / hole injection layer / hole transport layer / electron blocking Layer / light emitting layer / hole blocking layer / electron transporting layer / electron injecting layer / cathode Furthermore, the organic
  • Example 1 Production of gas barrier film >> Gas barrier films 1 to 8 having the structure shown in FIG. 1B were produced according to the following method.
  • a UV curable resin manufactured by Aika Kogyo Co., Ltd., product number: Z731L
  • Z731L the dry film thickness becomes 0.5 ⁇ m
  • the formed coating film is dried at 80 ° C., and then cured under a condition of irradiation energy of 0.5 J / cm 2 using a high-pressure mercury lamp in the air.
  • a clear hard coat layer 1 was formed.
  • the wet film thickness is 2 ⁇ m.
  • it is dried at 80 ° C., and then cured in air using a high-pressure mercury lamp under the condition of an irradiation energy of 0.5 J / cm 2 , and a clear hard coat with a thickness of 2 ⁇ m on the surface side. Layer 2 was formed.
  • Formation of gas barrier layer unit 1 (Formation of layer B: zinc and tin containing region)
  • a layer B constituting a gas barrier layer unit was formed on the surface of the base material on which the clear hard coat layer 2 was formed by a vapor phase method / sputtering (magnetron sputtering apparatus, manufactured by Canon Anelva: Model EB1100).
  • the sputtering apparatus used is capable of two-way simultaneous sputtering.
  • a layer B having a layer thickness of 30 nm was formed while oxygen gas was supplied as a reactive gas in the presence of argon as an inert gas.
  • the selection of a zinc-tin alloy having an appropriate composition ratio and the supply amount of oxygen as a reactive gas are adjusted as appropriate so that the mass ratio of zinc in the layer B to be formed is 10% by mass. It was adjusted.
  • a layer B having a film thickness of 30 nm and having a composition of zinc / tin oxide was formed on one surface side of the substrate.
  • the layer A was formed by vapor phase method / sputtering.
  • a magnetron sputtering apparatus manufactured by Canon Anelva: model EB1100 was used.
  • a commercially available oxygen-deficient niobium oxide target (composition: Nb 12 O 29 ) was used, and a mixed gas of Ar and O 2 was used as a process gas, and a film was formed by a DC method using a magnetron sputtering apparatus.
  • the sputtering power source power was 5.0 W / cm 2 and the film forming pressure was 0.4 Pa. Further, the oxygen partial pressure was 12% under the film forming conditions. It should be noted that, after film formation using a glass substrate in advance, data on the layer thickness change with respect to the film formation time was obtained under the film formation conditions, and after calculating the layer thickness formed per unit time, the set layer thickness and The film formation time was set so that
  • a layer A having a layer thickness of 10 nm composed of the transition metal M2 (Nb) was formed on the layer B, and the gas barrier layer unit 1 was formed.
  • the gas barrier layer unit 1 corresponds to a gas barrier layer unit (GB) according to the present invention.
  • composition distribution profile in the thickness direction was measured on the surface side of the gas barrier layer unit 1 by XPS analysis.
  • the XPS analysis conditions are as follows.
  • the sample used for the analysis was a sample stored in an environment of 20 ° C. and 50% RH after sample preparation.
  • the background was determined by the Shirley method, and quantified using the relative sensitivity coefficient method from the obtained peak area.
  • MultiPak manufactured by ULVAC-PHI was used for data processing.
  • the analyzed elements are Zn, Sn, Nb, O, N, and C.
  • the transition metal M2 (Nb) and the non-transition metal M1 Zn and Sn coexist in the interface region between the layer A and the layer B, and the transition metal
  • the gas barrier layer unit 1 In Fig. 3, it was confirmed that a mixed region was present.
  • “ ⁇ ” is displayed in the column of presence / absence of the mixed region.
  • gas barrier films 2 and 3 In the production of the gas barrier film 1, the oxygen partial pressure at the time of forming the layer B of the gas barrier layer unit and the composition ratio of the zinc-tin alloy used as the target are adjusted as appropriate so that the mass ratio of Zn in the layer B is Gas barrier films 2 and 3 were produced in the same manner except that they were changed to 68% by mass and 28% by mass, respectively.
  • gas barrier film 4 In the production of the gas barrier film 1, the oxygen partial pressure at the time of forming the layer B of the gas barrier layer unit and the composition ratio of the zinc-tin alloy used as the target are adjusted as appropriate so that the mass ratio of Zn in the layer B is The gas barrier film 4 was prepared in the same manner except that the transition metal M2 constituting the layer A was changed from Nb to Ta.
  • gas barrier film 5 In the production of the gas barrier film 4, the oxygen partial pressure at the time of forming the layer B of the gas barrier layer unit and the composition ratio of the zinc-tin alloy used as the target are adjusted as appropriate so that the mass ratio of Zn in the layer B is Gas barrier films 2 and 5 were produced in the same manner except that the content was changed to 59% by mass.
  • gas barrier film 8 In the production of the gas barrier film 1, the oxygen partial pressure at the time of forming the layer B of the gas barrier layer unit and the composition ratio of the zinc-tin alloy used as the target are adjusted as appropriate so that the mass ratio of Zn in the layer B is 30% by mass, and the gas barrier film 8 was produced in the same manner except that the layer A was not formed.
  • the Ca method evaluation sample (type evaluated by permeation concentration) prepared as described below was stored in an environment of 85 ° C. and 85% RH, and the corrosion rate of Ca was observed at regular intervals. After 1 hour, 5 hours, 10 hours, 20 hours, and after that, observation and transmission density measurement (average of 4 points) every 20 hours, when the measured transmission density is less than 50% of the initial value of transmission density The observation time was obtained and used as an index of gas barrier properties. When the transmission density measured by storage for 500 hours was 50% or more of the initial value of transmission density, it was set to 500 hours or more.
  • thermosetting sheet-like adhesive epoxy resin
  • a sealing resin layer was bonded to the surface of the gas barrier layer unit with a thickness of 20 ⁇ m. This was punched out to a size of 50 mm ⁇ 50 mm, then placed in a glove box and dried for 24 hours.
  • One side of a 50 mm ⁇ 50 mm non-alkali glass plate was UV cleaned. Then, Ca was vapor-deposited by the size of 20 mm x 20 mm through the mask in the center of the glass plate using the vacuum vapor deposition apparatus made from an EILS technology. The thickness of Ca was 80 nm.
  • a glass plate on which Ca has been deposited is mounted in a glove box, and the sealing resin layer surface of the gas barrier film to which the sealing resin layer is bonded is placed in contact with the Ca deposition surface of the glass plate, and bonded by vacuum lamination. did. At this time, heating at 110 ° C. was performed. Further, the adhered sample was placed on a hot plate set at 110 ° C. with the glass plate facing down, and cured for 30 minutes to produce an evaluation cell.
  • the water vapor permeability of each gas barrier film subjected to the bending treatment was evaluated by the same Ca method as described above.
  • Table 1 shows the results obtained as described above.
  • the gas barrier film having the structure defined in the present invention has extremely excellent gas valency and durability (bending resistance) relative to the comparative example. .
  • Example 2 Production of gas barrier film >> Gas barrier films 11 to 24 having the configuration shown in FIG. 3B were produced according to the following method.
  • An inorganic-organic hybrid layer was formed on the first gas barrier layer unit according to the following method.
  • TMOS Tetramethoxysilane
  • GLYMO Glycidylpropyltrimethoxysilane
  • Zirconium propyrate 10 mol%
  • Aluminum sec-butylate 10 mol%
  • Acetoacetate 10 mol%
  • a complex was formed in acetoacetate to reduce the reactivity of zirconium propirate and aluminum sec-butylate.
  • TMOS tetramethoxysilane
  • GLYMO glycidylpropyltrimethoxysilane
  • the above-prepared coating solution for forming a hybrid layer at 25 ° C. was subjected to a filtration treatment using a membrane filter, and then applied onto the first gas barrier layer unit using a known wet coater. After drying with heated air, IR was irradiated for 80 seconds to cure the formed coating film to form a hybrid layer having a thickness of 100 nm.
  • a second gas barrier layer unit having the same configuration as the first cas barrier layer unit is formed on the inorganic-organic hybrid layer, and the inorganic-organic hybrid layer is formed with the first gas barrier layer unit and the second gas.
  • a gas barrier film 11 having the structure shown in FIG. 3B sandwiched between the barrier layer units was produced.
  • gas barrier films 12 to 15 In the production of the gas barrier film 11, the mass ratio of zinc in each layer B of the first gas barrier layer unit and the second gas barrier layer unit and the type of transition metal in the layer A were changed to the conditions described in Table 2. Except for the above, gas barrier films 12 to 15 were produced in the same manner.
  • gas barrier films 16 to 20 In the production of the gas barrier film 11, the mass ratio of zinc in each layer B of the first gas barrier layer unit and the second gas barrier layer unit and the type of transition metal in the layer A were changed to the conditions described in Table 2. Further, gas barrier films 16 to 20 were produced in the same manner except that the inorganic-organic hybrid layer was not formed.
  • gas barrier film 23 In the production of the gas barrier film 13, the gas barrier film was formed in the same manner except that the layer A and the inorganic-organic hybrid layer of the first gas barrier layer unit and the second gas barrier layer unit were not formed. 23 was produced.
  • gas barrier film 24 In the production of the gas barrier film 13, a gas barrier film 24 was produced in the same manner except that the layer A was not formed in the first gas barrier layer unit and the second gas barrier layer unit.
  • the gas barrier film having the structure defined by the crime has extremely excellent gas valency and durability (bending resistance) compared to the comparative example. I understand. In particular, it can be seen that by providing an inorganic-organic hybrid layer between two gas barrier layer unit units, the gas barrier property is hardly deteriorated even after receiving stress such as bending, and the durability is excellent.
  • Example 5 The produced gas barrier film of the present invention was applied as a base film according to the method described in the examples of JP 2010-20925 A, and is shown in FIG. 8 of JP 2010-20925 A. An organic EL cell having the described configuration was produced.
  • the rate of decrease in luminous efficiency of the organic EL element was measured according to a conventional method. It is confirmed that the gas barrier film made of is capable of maintaining the excellent gas barrier property even after being subjected to bending treatment, suppressing the decrease in luminous efficiency, and having excellent gas barrier property, as compared with the comparative example. I was able to.
  • the gas barrier film of the present invention includes a QD film having a quantum dot (QD) -containing resin layer, an organic electroluminescence element (organic EL element), a liquid crystal display element (LCD), a thin film transistor, a touch panel, electronic paper, and a solar cell (PV ) And the like.
  • QD quantum dot
  • organic EL element organic electroluminescence element
  • LCD liquid crystal display element
  • PV solar cell

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Abstract

本発明の課題は、高いガスバリアー性及び耐久性(折り曲げ耐性)を備えたガスバリアー性フィルムとそれを具備した電子デバイスを提供することである。 本発明のガスバリアー性フィルムは、基材上に、少なくとも亜鉛、スズ及び酸素を含む化合物を含有する層Bと、第3族~第11族の遷移金属M2が含有されている層Aとを有するガスバリアー層ユニットを有し、前記層Bの全質量に対する亜鉛の含有率が、5~70質量%の範囲内であることを特徴とする。

Description

ガスバリアー性フィルム及び電子デバイス
 本発明は、ガスバリアー性フィルム及びそれを具備した電子デバイスに関する。更に詳しくは、本発明は、優れたガスバリアー性及び耐久性(折り曲げ耐性)を有するガスバリアー性フィルム及び電子デバイスに関する。
 電子デバイス、特に、有機エレクトロルミネッセンスデバイス(以下、「有機ELデバイス」、「有機EL素子」、あるいは単に「素子」ともいう。)においては、これらを構成している有機材料や電極の水分による劣化を防止する目的で、有機EL素子を被覆する封止層が形成される。封止層には、25±0.5℃、90±2%RHの環境下での水蒸気透過度(WVTR)として1×10-5~1×10-6g/m・24hオーダーの非常に高いガスバリアー性が必要であると言われている。
 これらの高いガスバリアー性の要求に対し、無機層と有機層を交互に積層した多層構造の封止層を低温で形成する方法が提案されている。ただし、無機層と有機層を交互に積層した構造のガスバリアー層ユニットを実現するには、例えば、スパッタ装置、有機物蒸着装置、CVD装置を連結した装置を用い、無機層と有機層を交互に多数積層し、かつ、有機層にはそれぞれ紫外線(UV)硬化工程を要するといった、複雑な工程で非常に長い成膜時間を要するため、素子へ多大な負担(例えば、長時間の熱エネルギーの付与等。)がかかり、素子の劣化要因となっている。
 一方で、同一原料を用いた成膜方法で、成膜条件を変化させることにより、膜質の異なるガスバリアー層を交互に積層するという方法も提案されている。この方法は、一つの成膜装置によって形成できるメリットを有するが、要求性能を満足するガスバリアー性を得るには、約5000nmから7000nm程度の厚さの膜形成が必要であり、素子劣化することには変わりがない。
 上記問題に対し、CVD成膜法(CVD:Chemical Vapor Deposition、化学気相蒸着ともいう。)によるSiN膜(厚さ2μm)と、ポリシラザン塗布膜(厚さ500nm)とを組み合わせた封止膜が知られている。しかしながら、この方法では、ポリシラザン塗布膜は塗布乾燥したのみで形成されており、吸湿能力のみを利用するものであるため、初期性能としては吸湿能力による見かけ上の水蒸気遮断機能を有するものの、吸湿能力が飽和した後には水蒸気遮断機能は失われ、限定した効果しか得られない。また、厚さ2μmのSiN膜の形成にも長い成膜時間を要する工程が必要である上に、厚さ2μmのSiN膜のみでは、要求されるガスバリアー性を満足することはできない。
 一方、酸素及び水蒸気に対するバリアー性を有し、機械的応力に対するひび割れ耐性を改良する観点から、亜鉛、スズ及び酸素の元素を含む化合物からなり、亜鉛の質量比率を全質量の5~70質量%の範囲内とする光透過性バリアー層を設けた透明バリアー性フィルムが開示されている(例えば、特許文献1参照。)。しかしながら、特許文献1で開示されている方法では、主には、光透過性のガスバリアー層単層により酸素や水分の透過を抑制する方法であり、近年、高度のガスバリアー性が要求されている電子デバイス用途としては、満足できる品質には到達していないのが現状である。
 また、水分や酸素の透過性を抑制する方法として、基材上に複数の無機材料構成層を設け、無機材料構成層間に、層厚が1μm未満の無機-有機ハイブリッドポリマー層を形成した高バリアー結合体が開示されている(例えば、特許文献2参照。)。しかしながら、特許文献2で開示されている方法でも、無機-有機ハイブリッドポリマー層による水分や酸素の遮断効果としては不十分であり、高度のガスバリアー性が要求されている電子デバイス用途としては、不十分な品質であり、早急な技術開発が要望されている。
特表2010-524732号公報 特表2012-512763号公報
 本発明は、上記問題・状況に鑑みてなされたものであり、その解決課題は、極めて高いガスバリアー性及び耐久性(折り曲げ耐性)を備えたガスバリアー性フィルムとそれを具備した電子デバイスを提供することである。
 本発明に係る上記課題を解決すべく、上記問題の原因等について検討した結果、基材上に、少なくとも亜鉛、スズ及び酸素を含む化合物を含有する層Bと、第3族~第11族の遷移金属M2が含有されている層Aとを有するガスバリアー層ユニットを有し、前記層Bの全質量に対する亜鉛の含有率が、5~70質量%の範囲内であることを特徴とするガスバリアー性フィルムにより、極めて高いガスバリアー性及び耐久性(折り曲げ耐性)を備えたガスバリアー性フィルムが得られることを見いだした。
 すなわち、本発明に係る課題は、以下の手段により解決される。
 1.基材上に、少なくとも亜鉛、スズ及び酸素を含む化合物を含有する層Bと、第3族~第11族の遷移金属M2が含有されている層Aとを有するガスバリアー層ユニットを有し、
 前記層Bの全質量に対する亜鉛の含有率が、5~70質量%の範囲内であることを特徴とするガスバリアー性フィルム。
 2.前記層Bは基材と接する位置に配置され、当該層Bの基材に接する領域における炭素の含有比率が、5.0質量%以下であることを特徴とする第1項に記載のガスバリアー性フィルム。
 3.前記層Bと前記基材との間に、機能層を有することを特徴とする第1項又は第2項に記載のガスバリアー性フィルム。
 4.前記機能層が、比抵抗値が2×10-3Ω・cm未満である導電性層であることを特徴とする第3項に記載のガスバリアー性フィルム。
 5.前記機能層が、少なくともケイ素及び炭素を含有し、炭素の含有比率が全質量の1.0~10質量%の範囲内であることを特徴とする第3項に記載のガスバリアー性フィルム。
 6.前記ガスバリアー層ユニットに隣接する位置に、少なくとも無機-有機ハイブリッド材料から構成されるハイブリッド層を有し、当該ハイブリッド層の層厚が20nm~1.0μmの範囲内であることを特徴とする第1項から第5項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
 7.前記ハイブリッド層の層厚が、20~500nmの範囲内であること特徴とする第6項に記載のガスバリアー性フィルム。
 8.ガスバリアー層を2層以上有し、少なくとも1層のガスバリアー層が、前記ガスバリアー層ユニットであり、前記ガスバリアー層ユニットと前記ガスバリアー層との間に、前記ハイブリッド層を有することを特徴とする第6項又は第7項に記載のガスバリアー性フィルム。
 9.ガスバリアー層を2層以上有し、全てのガスバリアー層が、前記ガスバリアー層ユニットであり、2層のガスバリアー層ユニットの間に、前記ハイブリッド層を有することを特徴とする第6項又は第7項に記載のガスバリアー性フィルム。
 10.前記ガスバリアー層ユニット及び前記ハイブリッド層を、それぞれ2つ以上有し、前記ガスバリアー層ユニットとハイブリッド層が交互に積層されている積層体であることを特徴とする第8項又は第9項に記載のガスバリアー性フィルム。
 11.前記基材とガスバリアー層ユニットとの間に、前記ハイブリッド層が形成されていることを特徴とする第6項から第10項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
 12.前記無機-有機ハイブリッド材料が、無機ネットワーク及び有機ネットワークを有することを特徴とする第6項から第11項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
 13.前記ガスバリアー層ユニットが、前記層B及び層Aの間に、前記亜鉛及びスズである金属M1及び第3族~第11族の遷移金属M2を含有する領域であって、前記金属M1に対する遷移金属M2の原子数比の値(M2/M1)が、0.02~49の範囲内にある混合領域を、厚さ方向に連続して5nm以上有することを特徴とする第1項から第12項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
 14.前記混合領域が、前記遷移金属M2の酸化物と前記亜鉛及びスズ又はその化合物との混合物、又は複合酸化物の少なくとも一方が含有されていることを特徴とする第13項に記載のガスバリアー性フィルム。
 15.前記ガスバリアー層ユニット内の全域が、前記混合領域であることを特徴とする第13項又は第14項に記載のガスバリアー性フィルム。
 16.前記遷移金属M2が、長周期型周期表の第5族元素であることを特徴とする第1項から第15項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
 17.前記遷移金属M2が、ニオブ(Nb)又はタンタル(Ta)であることを特徴とする第1項から第15項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
 18.前記混合領域が、更に酸素を含有していることを特徴とする第13項から第17項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
 19.前記混合領域の組成を、下記化学組成式(1)で表したとき、前記混合領域の少なくとも一部が下記関係式(2)を満たすことを特徴とする第13項から第18項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
 化学組成式(1)
   (M1)(M2)
 関係式(2)
   (2y+3z)/(a+bx)<1.0
〔式中、M1は亜鉛及びスズ、M2は遷移金属、Oは酸素、Nは窒素を表す。x、y、zは、それぞれ化学量論係数であり、aはM1の最大価数、bはM2の最大価数を表す。〕
 20.第1項から第19項までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルムを具備していることを特徴とする電子デバイス。
 21.電子デバイスが、量子ドットを含有するQDフィルムであることを特徴とする第20項に記載の電子デバイス。
 22.電子デバイスが、有機エレクトロルミネッセンス素子であることを特徴とする第20項に記載の電子デバイス。
 本発明によれば、極めて高いガスバリアー性及び耐久性(折り曲げ耐性)を備えたガスバリアー性フィルムとそれを具備した電子デバイスを提供することができる。
本発明のガスバリアー性フィルムにおける構成の一例を示す概略断面図 本発明のガスバリアー性フィルムにおける構成の他の一例を示す概略断面図 本発明のガスバリアー性フィルムにおける構成の他の一例を示す概略断面図 本発明のガスバリアー性フィルムの機能層を有する構成の一例を示す概略断面図 本発明のガスバリアー性フィルムのハイブリッド層を有する構成の一例を示す概略断面図 本発明のガスバリアー性フィルムのハイブリッド層を有する構成の他の一例を示す概略断面図 本発明のガスバリアー性フィルムのハイブリッド層を有する構成の他の一例を示す概略断面図 ガスバリアー層の厚さ方向における亜鉛及びスズである金属M1及び遷移金属M2の組成分布をXPS法により分析したときの元素プロファイルと混合領域を説明するための模式図
 本発明のガスバリアー性フィルムは、基材上に、少なくとも亜鉛、スズ及び酸素を含む化合物を含有する層Bと、第3族~第11族の遷移金属M2が含有されている層Aとを有するガスバリアー層ユニットを有し、前記層Bの全質量に対する亜鉛の含有率が、5~70質量%の範囲内であることを特徴とする。この特徴は、各請求項に係る発明に共通する又は対応する技術的特徴である。
 ここでいう亜鉛の含有率とは、層Bの全質量(100質量%)における亜鉛の質量比率(質量%)をいう。
 本発明の効果の発現機構ないし作用機構については、明確にはなっていないが、以下のように推察している。
 本発明者らの検討によれば、非遷移金属酸化物を単独で用いてガスバリアー層を形成したり、遷移金属酸化物を単独で用いてガスバリアー層を形成したり、あるいは亜鉛、スズ及び酸素を含む化合物を含有する無機層を単独で形成する構成では、電子デバイス仕様で要求されるような高度のガスバリアー性を実現するには至っていなかった。
 本発明者らは、上記問題を踏まえ更に検討を行った結果、亜鉛、スズ及び酸素より構成される化合物(例えば、酸化物)を含み、亜鉛の含有量が全質量に対し5~70質量%の範囲内である層Bと、遷移金属M2を含む層Aを積層したガスバリアー層ユニットとすることにより、高いガスバリアー性を維持することができ、優れた耐久性(折り曲げ耐性)を実現することができると推測している。
 更に、本発明に係るガスバリアー層ユニットに隣接した位置に、無機-有機ハイブリッド材料から構成されるハイブリッド層を設けることにより、無機材料から構成されるガスバリアー層に生じる微細な亀裂等の欠陥内に流入及び充填する効果により、高いガスバリアー性を維持することができ、優れた耐久性(折り曲げ耐性)を実現することができると推測している。
 更に、亜鉛及びスズにより構成される金属M1と遷移金属M2を含有する混合領域を形成し、更に、当該混合領域を酸素欠損組成とすると、酸素欠損の程度によってガスバリアー性が著しく向上することを見出した。これは、亜鉛及びスズ同士の結合や遷移金属同士の結合よりも、亜鉛及びスズである金属M1と遷移金属M2との結合が生じやすいことに起因して、混合領域を酸素欠損組成とすることで、金属化合物の高密度な構造が混合領域において形成されたためであると考えられる。
 本発明においては、本発明の目的とする効果をより発現できる観点から、層Bが基材と接する位置に配置され、当該層Bの基材に接する領域における炭素の含有比率が、5.0質量%以下とすることにより、形成する組成物に傾斜構造を形成することができ、その結果、伸縮時の応力緩和効果により、ガスバリアー層ユニットのひび割れ等の発生を防止することができ、優れた耐久性(折り曲げ耐性)を得ることができる。本発明でいう層Bの基材に接する領域とは、層Bの基材に接する表面から深さ方向で、層Bの全膜厚の10%までの領域をいい、当該領域における炭素含有量の平均値で表す。
 また、層Bと前記基材との間に、機能層として比抵抗値が2×10-3Ω・cm未満である導電性層を形成することにより、電子デバイスの透明電極用に使用することができる。
 また、層Bと基材との間に、機能層として、少なくともケイ素及び炭素を含有し、炭素の含有比率が1.0~10質量%の範囲内にある層を設けることにより、平滑化層として機能させることができる点で好ましい。
 また、本発明のガスバリアー性フィルムの他の形態として、本発明に係るガスバリアー層ユニットに隣接する位置に、無機-有機ハイブリッド材料から構成されるハイブリッド層を有し、当該ハイブリッド層の層厚が20nm~1.0μmの範囲内とすることが、隣接して形成するガスバリアー層ユニットとの密着性に優れ、かつガスバリアー層ユニット内で生じる微細な亀裂(クラック)やひび割れに対し、その欠陥箇所に侵入・補填し、ショートパス等によるガスバリアー性の低下を防止することができる観点から好ましい。
 更に、上記のような理由により、ガスバリアー層を2層以上有し、少なくとも1層のガスバリアー層を、本発明に係るガスバリアー層ユニットで構成し、当該ガスバリアー層ユニットとガスバリアー層間に、前記ハイブリッド層を設ける構成、あるいは、ガスバリアー層を2層以上有し、全てのガスバリアー層を、本発明に係るガスバリアー層ユニットで構成し、2層のガスバリアー層ユニット間に、前記ハイブリッド層を設ける構成、あるいは、ガスバリアー層ユニット及びハイブリッド層を2層以上有し、ガスバリアー層ユニットとハイブリッド層を交互に積層した積層体とすることにより、隣接して存在するガスバリアー層の微細な欠陥等を補てんする効果を効果的に発現させることができる観点から好ましい。
 また、前記基材とガスバリアー層ユニットの間に、前記ハイブリッド層が形成されていることが、ガスバリアー層ユニットの平滑性と、基材とガスバリアー層ユニットの密着性を向上させることができる点で好ましい。
 また、無機-有機ハイブリッド材料が、無機ネットワーク及び有機ネットワークを有することが、本発明に係るハイブリッド層ユニットの効果をより発現させることができる観点から好ましい。
 本発明のガスバリアー性フィルムにおいては、本発明に係るガスバリアー層ユニットが、前記層B及び層Aの間に、前記亜鉛及びスズである金属M1及び第3族~第11族の遷移金属M2を含有する領域であって、前記金属M1に対する遷移金属M2の原子数比の値(M2/M1)が、0.02~49の範囲内にある混合領域を、厚さ方向に連続して5nm以上有することが、ガスバリアー層ユニット内で、組成が連続的に変化することにより応力の集中を緩和でき、かつ緻密な金属組成を形成することができ、より高いガスバリアー性を実現することができる点で好ましい。
 更に、本発明に係るガスバリアー層ユニット内の全域が、混合領域で形成されていることが、安定して混合領域を形成することができる観点から好ましい。
 また、本発明に係るガスバリアー層ユニットにおいて、ガスバリアー層ユニットが含有する前記遷移金属M2が、長周期型周期表の第5族元素であること、更にはニオブ(Nb)又はタンタル(Ta)であることが、より優れたガスバリアー性を達成することができる点で好ましい。
 更には、前記混合領域の組成が、更に酸素を含有していること、あるいは前記混合領域の組成を、前記化学組成式(1)で表したとき、前記混合領域の少なくとも一部が前記関係式(2)を満たすことが、より優れたガスバリアー性を得ることができる点で好ましい。
 以下、本発明とその構成要素、及び本発明を実施するための形態・態様について詳細な説明をする。なお、本願において、「~」は、その前後に記載される数値を下限値及び上限値として含む意味で使用する。また、各図の説明で、構成要素の後の括弧内に記載の数字は、各図に記載している符号を示してある。
 《ガスバリアー性フィルムの全体構成》
 本発明のガスバリアー性フィルムは、基材上に、少なくとも亜鉛及びスズと酸素を含む化合物を含有する層Bと、第3族~第11族の遷移金属M2が含有されている層Aを有するガスバリアー層ユニットを有し、前記層Bは、亜鉛の含有率が、5~70質量%の範囲内であることを特徴とする。
 更には、ガスバリアー層ユニットに隣接する位置に、無機-有機ハイブリッド材料から構成され、層厚が20nm~1.0μmの範囲内であるハイブリッド層を有する構成であることが好ましい形態である。
 本発明でいう「ガスバリアー性フィルム」におけるガスバリアー性とは、基材上に少なくともガスバリアー層ユニットを形成したガスバリアー性フィルムにおいて、JIS K 7126-1987に準拠した方法で測定された酸素透過度が、1×10-3ml/m・24h・atm以下、JIS K 7129-1992に準拠した方法で測定された、水蒸気透過度(25±0.5℃、相対湿度(90±2)%RH)が、1×10-3g/m・24h以下の高バリアー性であることを意味する。
 本発明に係るガスバリアー層ユニットの層厚は、特に制限されないが、5~1000nmの範囲内であることが好ましい。このような層厚の範囲内であれば、高いガスバリアー性能、折り曲げ耐性、断裁加工適性に優れるガスバリアー性フィルムを得ることができる。
 水蒸気透過度は、例えば、水蒸気透過度測定装置(商品名:パーマトラン モコン社製)により、38℃、100%RHの雰囲気下で測定することができる。
 図1A~図1Cは、本発明のガスバリアー性フィルムの基本的な構成の一例を示す概略断面図である。
 図1Aで示すガスバリアー性フィルム(1)は、基材(2)上に、亜鉛及びスズである金属M1と酸素を含む化合物より構成され、亜鉛の含有率が5~70質量%の範囲内である層B(B)と、第3族~第11族の遷移金属M2の酸化物より構成される層A(A)が積層されているガスバリアー層ユニット(GB)を有する構成を示してある。
 層Aと層Bの構成順は特に制限はないが、図1Aで示すような基材(2)面側に、層B(B)を形成する構成が好ましい形態である。
 図1Bで示すガスバリアー性フィルム(1)は、図1Aで記載した層B(B)と層A(A)との間に、請求項13で規定する、亜鉛及びスズである金属M1及び第3族~第11族の遷移金属M2を含有する領域であって、前記金属M1に対する遷移金属M2の原子数比の値(M2/M1)が、0.02~49の範囲内にある混合領域(C)を厚さ方向に連続して5nm以上有する構成の一例を示してある。
 図1Cで示すガスバリアー性フィルム(1)は、請求項15で規定するガスバリアー層ユニットの全域が、上記混合領域で形成されているガスバリアー層ユニット(GB)の構成を示してある。
 図2は、本発明のガスバリアー性フィルムの機能層を有する構成の一例を示す概略断面図である。
 図2に示すガスバリアー性フィルム(1)は、図1Aで示す構成に対し、更に、基材(2)と、ガスバリアー層ユニット(GB)を構成する層B(B)の間に機能層(4)を設けた構成を示してある。機能層としては、導電性層や、ケイ素及び炭素を含有し、炭素の含有比率が1.0~10質量%の範囲内にある層を挙げることができ、これらの機能層を設けることにより、導電性を付与するほかに、平滑効果や応力緩和効果を得ることができる。
 図3A~図3Cは、本発明のガスバリアー性フィルムの好ましい形態の一つである無機-有機ハイブリッド材料から構成されるハイブリッド層を設けた構成の一例を示してある。
 図3Aで示すガスバリアー性フィルム(1)は、図1Aで示す構成に対し、更に、ガスバリアー層ユニット(GB)を構成する層A(A)の上部に、無機-有機ハイブリッド材料から構成されるハイブリッド層(5)を設けた構成を示してある。このような構成をとることにより、層A(A)を形成する際に生じる微細な亀裂等の欠陥部に、無機-有機ハイブリッド材料がアンカーとして侵入及び充填することにより、層Aのショートパス等によるリークの発生を防止し、ガスバリアー性の低下を抑制することができる。
 図3Bは、図3Aを更に発展した構成で、図3Aで示す第1のガスバリアー層ユニット(GB1)上にハイブリッド層(5)を有する構成に対し、ハイブリッド層(5)上に、更に第2のガスバリアー層ユニット(GB2)を設け、ハイブリッド層(5)を2つのガスバリアー層ユニット(GB1、GB2)で挟持した構成を示してある。
 図3Cは、図3Aで示す第1のガスバリアー層ユニット(GB1)とハイブリッド層(5)から構成される積層体を、2つ積層した構成を示しており、これらの構成をとることにより、層A(A)あるいは層B(B)を形成する際に生じる微細な亀裂等の欠陥部に、無機-有機ハイブリッド材料がアンカーとして侵入及び充填することにより、ガスバリアー層のガスバリアー性の低下を防止することができる。
 《ガスバリアー性フィルムの各構成要素》
 以下に、本発明のガスバリアー性フィルムを構成する、基材、ガスバリアー層(層A、層B、混合領域)、機能層、ハイブリッド層等の詳細について説明する。
 [基材]
 本発明に適用可能な基材としては、無色透明な樹脂からなるフィルム状又はシート状の基材が挙げられる。このような基材の形成に用いる樹脂としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル系樹脂;ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、シクロポリオレフィン等のポリオレフィン系樹脂;ポリアミド系樹脂;ポリカーボネート系樹脂;ポリスチレン系樹脂;ポリビニルアルコール系樹脂;エチレン-酢酸ビニル共重合体のケン化物;ポリアクリロニトリル系樹脂;アセタール系樹脂;ポリイミド系樹脂;セルロースエステル系樹脂等が挙げられる。
 これらの樹脂の中でも、ポリエステル系樹脂、ポリイミド系樹脂、シクロポリオレフィン系樹脂、及びポリカーボネート系樹脂から選ばれる樹脂が特に好ましい。また、これらの樹脂は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて使用することができる。
 本発明において、基材の厚さは、本発明のガスバリアーフィルムを製造する際の安定性を考慮して適宜に設定することができる。前記基材の厚さとしては、真空中においてもフィルムの搬送が可能であるという観点から、5~500μmの範囲であることが好ましい。
 更に、プラズマCVD法により本発明に係るガスバリアー層を形成する場合には、前記基材を通して放電しながらガスバリアー層を形成することから、前記基材の厚さが50~200μmの範囲であることがより好ましく、50~100μmの範囲であることが特に好ましい。
 また、前記基材には、後述するガスバリアー層との密着性を高める観点から、基材の表面を清浄するための表面活性処理を施すことが好ましい。適用可能な表面活性処理としては、例えば、コロナ処理、プラズマ処理、フレーム処理が挙げられる。
 基材の厚さは5~500μmの範囲内であることが好ましく、更に好ましくは15~250μmの範囲内である。
 本発明に係る適用可能な基材のその他の種類、基材の製造方法等については、例えば、特開2013-226758号公報の段落「0125」~「0136」に開示されている技術を適宜採用することができる。
 [ガスバリアー層ユニット]
 本発明に係るガスバリアー層ユニットは、少なくとも亜鉛、スズ及び酸素を含む化合物を含有する層Bと、第3族~第11族の遷移金属M2が含有されている層Aより構成され、前記層Bは、亜鉛の含有率が、5~70質量%の範囲内であることを特徴とする。
 更には、ガスバリアー層ユニットとしては、前記層B及び層Aの間に、前記亜鉛及びスズである金属M1及び第3族~第11族の遷移金属M2を含有する領域であって、前記金属M1に対する遷移金属M2の原子数比の値(M2/M1)が、0.02~49の範囲内にある混合領域を、厚さ方向に連続して5nm以上有することが好ましい態様である。
 また、本発明に係るガスバリアー層ユニットにおいては、当該混合領域が、前記遷移金属M2の酸化物と前記亜鉛及びスズ又はその化合物との混合物、又は複合酸化物の少なくとも一方が含有されていること、あるいは、ガスバリアー層ユニット内の全域が、図1Cで示すように、混合領域で構成されていることも、好ましい態様である。
 以下、本発明に係るガスバリアー層ユニットの詳細について更に説明する。
 〔ガスバリアー層ユニットを構成する各構成層〕
 本発明に係るガスバリアー層ユニットを構成する層について説明するが、初めに、以下において使用する技術用語の定義について予め説明する。
 本発明でいう「構成成分」とは、ガスバリアー層ユニットの各層を構成する化合物及び金属若しくは非金属の単体をいう。また、本発明でいう「主成分」とは、含有量が50質量%以上の構成成分をいう。
 本発明でいう「複合酸化物」とは、前記層A及び層Bの前記構成成分が相互に化学結合をして形成された化合物(酸化物)をいう。例えば、ニオブ原子と亜鉛原子及びスズ原子が直接的に、又は酸素原子を介して化学結合を形成している化学構造を有する化合物をいう。
 なお、本発明においては、前記層A及び層Bの前記構成成分が相互に分子間相互作用などにより物理的結合をして形成された複合体も本発明に係る「複合酸化物」に含まれるものとする。
 次いで、各領域について詳細な説明をする。
 (遷移金属M2含有層:層A)
 遷移金属M2を含有する層Aとは、遷移金属、又はその化合物を主成分として含有する層をいう。ここでいう「その化合物」、すなわち「遷移金属の化合物」とは、遷移金属を含む化合物をいい、例えば、遷移金属酸化物をいう。
 遷移金属(M2)としては、特に制限されず、任意の遷移金属が単独で又は組み合わせて用いられうる。ここで、遷移金属とは、長周期型周期表の第3族元素から第11族元素を指し、遷移金属としては、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Y、Zr、Nb、Mo、Tc、Ru、Pd、Ag、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Hf、Ta、W、Re、Os、Ir、Pt、及びAuなどが挙げられる。
 なかでも、良好なガスバリアー性が得られる遷移金属(M2)としては、Nb、Ta、V、Zr、Ti、Hf、Y、La、Ce等が挙げられる。これらのなかでも、種々の検討結果から、特に第5族元素であるNb、Taが、層Bに含有される金属M1であるスズ及び亜鉛に対する結合が生じやすい観点から、好ましく用いることができる。
 特に、遷移金属(M2)が第5族元素(特に、Nb)であり、金属M1が亜鉛及びスズであると著しいガスバリアー性の向上効果を得ることができ、特に好ましい組み合わせである。これは、亜鉛及びスズと第5族元素(特に、Nb)との結合が特に生じやすいためであると考えられる。更に、光学特性の観点から、遷移金属(M2)は、透明性が良好な化合物が得られるNb又はTaが特に好ましい。
 (亜鉛及びスズを金属M1として含有する層:層B)
 層Bとは、亜鉛、スズ及び酸素を含む化合物を主成分として構成される層をいう。
 本発明に係る層Bとしては、亜鉛-スズ-酸化物からなる薄膜領域が無定形材料として存在する。この構成材料は、微結晶質材料に相当し、例えば、純粋な酸化亜鉛よりも低い充填密度を有するが、亜鉛及びスズからなる合金の混合酸化物は、極めて際立ったガスバリアー性を有している。更に、亜鉛-スズ-酸化物からなる層Bは、酸化アルミニウムや酸化ケイ素膜等に比較して、優れた応力緩和効果と柔軟性を備えたたわみ性を有し、かつひび割れ耐性に優れたガスバリアー領域を形成することができる。
 (混合領域)
 本発明に係るガスバリアー層ユニットにおいては、亜鉛及びスズ(M1)と酸素を含む化合物及び第3族元素から第11族の金属から選択される遷移金属(M2)の複合された化合物(例えば、酸化物、複合酸化物)が含有されている混合領域を有し、この混合領域では、亜鉛及びスズである金属M1に対する遷移金属M2の原子数比の値(M2/M1)が、0.02~49の範囲内にある領域を、厚さ方向に連続して5nm以上有する。
 ここで、混合領域は、構成成分の化学組成が相互に異なる複数の領域として形成されていてもよく、また、構成成分の化学組成が連続して変化している領域として形成されていてもよい。
 なお、ガスバリアー層ユニットにおいて、混合領域以外の領域は、亜鉛及びスズ(M1)の酸化物、窒化物、酸窒化物、酸炭化物等の領域であってもよいし、遷移金属(M2)の酸化物、窒化物、酸窒化物、酸炭化物等の領域であってもよい。
 (酸素欠損領域)
 本発明においては、本発明に係る混合領域に含有される一部の組成が、酸素が欠損した非化学量論的組成の酸素欠損領域を形成していることが好ましい。
 本発明においては、酸素欠損組成とは、当該混合領域の組成を、下記化学組成式(1)で表したとき、当該混合領域の少なくとも一部の組成が、下記関係式(2)で規定する条件を満たすことと定義する。また、当該混合領域における酸素欠損程度を表す酸素欠損度指標としては、当該ある混合領域における(2y+3z)/(a+bx)を算出して得られる値の最小値を用いるものとする。詳細については後述する。
 化学組成式(1)
   (M1)(M2)
 関係式(2)
   (2y+3z)/(a+bx)<1.0
 式中、M1は亜鉛及びスズである金属、M2は遷移金属、Oは酸素、Nは窒素を表す。x、y、zは、それぞれ化学量論係数であり、aはM1の最大価数、bはM2の最大価数を表す。
 以下、特別の区別が必要ない場合、上記化学組成式(1)で表す組成を、単に複合領域の組成という。
 上述したように、本発明に係る亜鉛及びスズ(M1)と遷移金属(M2)との複合領域の組成は、化学組成式(1)である(M1)(M2)で示される。この組成からも明らかなように、上記複合領域の組成は、一部窒化物の構造を含んでいてもよく、窒化物の構造を含んでいる方がガスバリアー性の観点から好ましい。
 ここでは、亜鉛及びスズ(M1)の最大価数をa、遷移金属(M2)の最大価数をb、Oの価数を2、Nの価数を3とする。そして、上記複合領域の組成(一部窒化物となっているものを含む)が化学量論的組成になっている場合は、(2y+3z)/(a+bx)=1.0となる。この式は、亜鉛及びスズ(M1)及び遷移金属(M2)の結合手の合計と、O、Nの結合手の合計とが同数であることを意味し、この場合、亜鉛及びスズ(M1)と遷移金属(M2)とも、O及びNのいずれか一方と結合していることになる。なお、本発明において、遷移金属(M2)として2種以上が併用される場合には、各元素の最大価数を各元素の存在比率によって加重平均することにより算出される複合価数を、それぞれの「最大価数」のa及びbの値として採用するものとする。
 一方、本発明に係る混合領域において、関係式(2)で示す(2y+3z)/(a+bx)<1.0となる場合には、亜鉛及びスズ(M1)及び遷移金属(M2)の結合手の合計に対して、O、Nの結合手の合計が不足していることを意味し、この様な状態が上記でいう「酸素欠損状態」である。
 酸素欠損状態においては、亜鉛及びスズ(M1)と、遷移金属(M2)の余った結合手は互いに結合する可能性を有しており、亜鉛及びスズ(M1)や遷移金属(M2)の金属同士が直接結合すると、金属の間にOやNを介して結合した場合よりも緻密で高密度な構造が形成され、その結果として、ガスバリアー層ユニットのガスバリアー性が向上すると考えられる。
 また、本発明において、混合領域は、前記xの値が、0.02≦x≦49(0<y、0≦z)を満たす領域である。これは、先に、遷移金属(M2)/亜鉛及びスズ(M1)の原子数比率の値が、0.02~49の範囲内にあり、厚さが5nm以上である領域と定義する、としたことと同一の定義である。
 この領域では、亜鉛及びスズ(M1)及び遷移金属(M2)の双方が金属同士の直接結合に関与することから、この条件を満たす混合領域が所定値以上(5nm)の厚さで存在することで、ガスバリアー性の向上に寄与すると考えられる。なお、亜鉛及びスズ(M1)及び遷移金属(M2)の存在比率が近いほどガスバリアー性の向上に寄与すると考えられることから、混合領域は、0.1≦x≦10を満たす領域を5nm以上の厚さで含むことが好ましく、0.2≦x≦5を満たす領域を5nm以上の厚さで含むことがより好ましく、0.3≦x≦4を満たす領域を5nm以上の厚さで含むことが更に好ましい。
 ここで、上述したように、混合領域の範囲内に、関係式(2)で示す(2y+3z)/(a+bx)<1.0の関係を満たす領域が存在すれば、ガスバリアー性の向上効果が発揮されることが確認されたが、混合領域は、その組成の少なくとも一部が(2y+3z)/(a+bx)≦0.9を満たすことが好ましく、(2y+3z)/(a+bx)≦0.85を満たすことがより好ましく、(2y+3z)/(a+bx)≦0.8を満たすことが更に好ましい。ここで、混合領域における(2y+3z)/(a+bx)の値が小さくなるほど、ガスバリアー性の向上効果は高くなるものの可視光での吸収も大きくなる。したがって、透明性が望まれる用途に使用するガスバリアー層ユニットの場合には、0.2≦(2y+3z)/(a+bx)であることが好ましく、0.3≦(2y+3z)/(a+bx)であることがより好ましく、0.4≦(2y+3z)/(a+bx)であることが更に好ましい。
 なお、本発明において良好なガスバリアー性が得られる混合領域の厚さは、後述するXPS分析法におけるZnO換算のスパッタ厚さとして、5nm以上であり、この厚さは、8nm以上であることが好ましく、10nm以上であることがより好ましく、20nm以上であることが更に好ましい。混合領域の厚さは、ガスバリアー性の観点からは特に上限はないが、光学特性の観点から、100nm以下であることが好ましく、50nm以下であることがより好ましく、30nm以下であることが更に好ましい。上述したような特定構成の混合領域を有するガスバリアー層ユニットは、例えば、有機EL素子等の電子デバイス用のガスバリアー層として使用可能なレベルの非常に高いガスバリアー性を示す。
 (XPSによる組成分析と混合領域の厚さの測定)
 本発明に係るガスバリアー層ユニットの混合領域や層A及び層Bにおける組成分布や各層及び領域の厚さ等については、以下に詳述するX線光電分光法(X-ray Photoelectron Spectroscopy、略称:XPS)により測定することにより求めることができる。
 本発明に係る混合領域は、ガスバリアー層ユニットの厚さ方向の組成分布をXPS法により分析したとき、前記亜鉛及びスズ(M1)を含有する層Bと遷移金属(M2)を含有する層Aとの界面に位置する領域で、亜鉛及びスズ(M1)と遷移金属(M2)とが共存する領域である。
 以下、XPS分析法による混合領域及び層A、層Bにおける元素濃度分布の測定方法について説明する。
 本発明に係るガスバリアー層ユニットの厚さ方向における元素濃度分布曲線(以下、「デプスプロファイル」という。)は、具体的には、金属M1である亜鉛及びスズの元素濃度、遷移金属M2(例えば、ニオブ)の元素濃度、酸素(O)、窒素(N)、炭素(C)元素濃度等を、X線光電子分光法の測定とアルゴン等の希ガスイオンスパッタとを併用することにより、ガスバリアー層ユニットの表面より内部を露出させつつ順次表面組成分析を行うことにより作成することができる。
 このようなXPSデプスプロファイル測定により得られる分布曲線は、例えば、縦軸を各元素の原子比(単位:atom%)とし、横軸をエッチング時間(スパッタ時間)として作成することができる。なお、このように横軸をエッチング時間とする元素の分布曲線においては、エッチング時間は層厚方向における前記ガスバリアー層ユニットの厚さ方向におけるガスバリアー層ユニットの表面からの距離におおむね相関することから、「ガスバリアー層ユニットの厚さ方向におけるガスバリアー層ユニットの表面からの距離」として、XPSデプスプロファイル測定の際に採用したエッチング速度とエッチング時間との関係から算出されるガスバリアー層ユニットの表面からの距離を採用することができる。また、このようなXPSデプスプロファイル測定に際して採用するスパッタ法としては、エッチングイオン種としてアルゴン(Ar)を用いた希ガスイオンスパッタ法を採用し、そのエッチング速度(エッチングレート)を0.05nm/sec(ZnO酸化膜換算値)とすることが好ましい。
 以下に、本発明に係るガスバリアー層ユニットの組成分析に適用可能なXPS分析の具体的な条件の一例を示す。
 ・分析装置:アルバック・ファイ社製 QUANTERA SXM
 ・X線源:単色化Al-Kα
 ・スパッタイオン:Ar(2keV)
 ・デプスプロファイル:SiO換算スパッタ厚さで、所定の厚さ間隔で測定を繰り返し、深さ方向のデプスプロファイルを求める。この厚さ間隔は、1nmとした(深さ方向に1nmごとのデータが得られる)。
 ・定量:バックグラウンドをShirley法で求め、得られたピーク面積から相対感度係数法を用いて定量した。データ処理は、アルバック・ファイ社製のMultiPakを用いる。なお、分析した元素は、金属M1である亜鉛及びスズ、遷移金属M2、酸素(O)、窒素(N)、炭素(C)である。
 得られたデータから、組成比を計算し、亜鉛及びスズ(M1)と遷移金属(M2)とが共存し、かつ、遷移金属(M2)/亜鉛及びスズ(M1)の原子数比率の値が、0.02~49になる範囲を求め、これを混合領域と定義し、その厚さを求める。混合領域の厚さは、XPS分析におけるスパッタ深さをZnO換算で表したものである。
 本発明において、混合領域の厚さは5nm以上であるときに「混合領域」と判定する。ガスバリアー性の観点からは、混合領域での厚さの上限はないが、光学特性の観点から、好ましくは5~100nmの範囲内であり、より好ましくは8~50nmの範囲内であり、更に好ましくは、10~30nmの範囲内である。
 以下に、本発明に係るガスバリアー層ユニットにおける混合領域の具体例について、図を用いて説明する。
 図4は、ガスバリアー層ユニットの厚さ方向における層Bを構成する金属M1(M1)である亜鉛及びスズと、層Aを構成する遷移金属(M2)の組成分布をXPS法により分析したときの元素プロファイルと混合領域を説明するためのグラフである。
 図4において、ガスバリアー層ユニットの表面(グラフの左端部)より深さ方向に、亜鉛及びスズ(M1)、遷移金属(M2)、O、N、Cの元素分析を行い、横軸にスパッタの深さ(層厚:nm)を、縦軸に亜鉛及びスズ(M1)と遷移金属(M2)の含有率(atom%)を示したグラフである。
 右側より、亜鉛及びスズ(M1)を主成分とする元素組成である層Bが示され、これに接して左側に金属として遷移金属(M2、例えば、ニオブ)を主成分とする元素組成である層Aが示されている。混合領域は、遷移金属(M2)/亜鉛及びスズ(M1)の原子数比率の値が、0.02~49の範囲内の元素組成で示される領域であり、層Aの一部と層Bの一部とに重なって示される領域であって、かつ、厚さ5nm以上の領域である。
 〔各領域の形成方法〕
 (遷移金属(M2)を含有する層Aの形成)
 本発明に係る遷移金属(M2)は、前述のとおり良好なガスバリアー性が得られる観点から、Nb、Ta、V、Zr、Ti、Hf、Y、La、Ce等が挙げられ、これらの中でも、特に第5族元素であるNb、Ta、Vが、ガスバリアー層ユニットに含有される亜鉛及びスズ(M1)に対する結合が生じやすいと考えられるため、好ましく用いることができる。
 前記遷移金属(M2)の酸化物を含有する層の形成は、特に限定されないが、既存の薄膜堆積技術を利用した従来公知の気相成膜法を適用することが、混合領域を効率的に形成することができる観点から好ましい。
 これらの気相成膜法としては、公知の方法を用いることができる。具体的な気相成膜法としては、例えば、スパッタ法、蒸着法、イオンプレーティング法、イオンアシスト蒸着法等の物理気相成長(PVD)法、プラズマCVD(chemical vapordeposition)法、ALD(Atomic Layer Deposition)法などの化学気相成長(CVD)法が挙げられる。なかでも、機能性素子、例えば、有機EL素子へダメージを与えることなく成膜が可能となり、高い生産性を有することから、物理気相成長(PVD)法により形成することが好ましく、スパッタ法により形成することがより好ましい。
 スパッタ法による成膜は、2極スパッタリング、マグネトロンスパッタリング、中間的な周波数領域を用いたデュアルマグネトロンスパッタリング(DMS)、イオンビームスパッタリング、ECRスパッタリングなどを単独で又は2種以上組み合わせて用いることができる。また、ターゲットの印加方式はターゲット種に応じて適宜選択され、DC(直流)スパッタリング、及びRF(高周波)スパッタリングのいずれを用いてもよい。
 また、金属モードと、酸化物モードとの中間である遷移モードを利用した反応性スパッタ法も用いることができる。遷移領域となるようにスパッタ現象を制御することにより、高い成膜スピードで金属酸化物を成膜することが可能となるため好ましい。
 プロセスガスに用いられる不活性ガスとしては、He、Ne、Ar、Kr、Xe等を挙げることができ、その中でも、Arを用いることが好ましい。更に、プロセスガス中に酸素、窒素、二酸化炭素、一酸化炭素を導入することで、亜鉛及びスズ(M1)及び遷移金属(M2)の複合酸化物、窒酸化物、酸炭化物等の薄膜を形成することができる。スパッタ法における成膜制御条件としては、印加電力、放電電流、放電電圧、時間等が挙げられるが、これらは、スパッタ装置や、膜の材料、層厚等に応じて適宜選択することができる。
 スパッタ法は、遷移金属(M2)の単体又はその酸化物を含む複数のスパッタリングターゲットを用いた多元同時スパッタ方式であってもよい。これらのスパッタリングターゲットを作製する方法や、これらのスパッタリングターゲットを用いて複合酸化物からなる薄膜を作製する方法については、例えば、特開2000-160331号公報、特開2004-068109号公報、特開2013-047361号公報などの記載の方法や条件を適宜参照することができる。
 共蒸着法を実施する際の成膜条件としては、成膜原料における遷移金属(M2)と酸素との比率、成膜時の不活性ガスと反応性ガスとの比率、成膜時のガスの供給量、成膜時の真空度、及び、成膜時の電力からなる群から選択される1種又は2種以上の条件が例示され、これらの成膜条件(好ましくは、酸素分圧)を調節することによって、酸素欠損組成を有する複合酸化物からなる混合領域を形成することができる。すなわち、上述したような共蒸着法を用いてガスバリアー層ユニットを形成することで、形成されるガスバリアー層ユニットの厚さ方向のほとんどの領域を混合領域とすることができる。このような方法によれば、混合領域の厚さを制御するという極めて簡便な操作により、所望のガスバリアー性を実現することができる。なお、混合領域の厚さを制御するには、例えば、共蒸着法を実施する際の成膜時間を調節すればよい。
 (亜鉛及びスズ(M1)含有する層Bの形成)
 本発明に係るガスバリアー層ユニットにおいて、亜鉛及びスズ(M1)を含有する層Bを形成する方法としては、特に制限はなく、例えば、気相成膜法は公知の方法で用いることができる。気相成膜法としては、特に制限されず、例えば、スパッタ法、蒸着法、イオンプレーティング法、イオンアシスト蒸着法等の物理気相成長(PVD)法、プラズマCVD(chemical vapordeposition)法、ALD(Atomic Layer Deposition)法などの化学気相成長(CVD)法が挙げられる。なかでも、機能性素子へのダメージを与えることなく成膜が可能となり、高い生産性を有することから、物理気相成長(PVD)法により形成することが好ましく、スパッタ法により、亜鉛及びスズをターゲットとして用いて形成することができる。
 スパッタ法としては、好ましくは、マグネトロンスパッタリングを用い、ターゲットとして亜鉛及びスズからなる合金を用い、反応ガスである酸素の存在下で層Bを形成する。より具体的には、真空チャンバー内への酸素の取り入れ量と、合金における亜鉛とスズの比率を適宜調整し、亜鉛の比率を5~70質量%の範囲内とする条件下で形成を行う。
 具体的には、マグネトロンスパッタリングを用い、亜鉛-スズ-合金からなるターゲットを、不活性ガスであるアルゴンの存在下及び反応性ガスである酸素の供給下にアトマイズする。反応性ガスである酸素の供給条件を適宜調整することにより、反応生成物でのターゲットの被覆の程度、堆積速度/層厚及び層組成の調節を行うことができる。
 また、本発明においては、層Bの基材に接する領域における炭素の含有比率が、5.0質量%以下であることが好ましい形態である。このような炭素原子の傾斜構造を付与することにより、応力緩和効果を発現することができる観点から好ましい。
 本発明でいう「層Bの基材に接する領域」とは、層Bの全層厚の基材に接する面側から厚さで10%までの領域をいう、
 層Bの厚さとしては、特に制限はないが、10~500nmの範囲内が好ましく、より好ましくは20~300nmの範囲内である。
 (混合領域の形成)
 本発明において、混合領域の形成方法としては、前述したように、層A及び層Bを形成する際に、各々の形成条件を適宜調整して、層Aと層Bの間に混合領域を形成する方法が好ましい。
 層Bを上述した気相成膜法により形成する場合は、例えば、成膜原料における前記亜鉛及びスズ(M1)と酸素との比率、成膜時の不活性ガスと反応性ガスとの比率、成膜時のガスの供給量、成膜時の真空度、成膜時の磁力、及び、成膜時の電力からなる群から選択される1種又は2種以上の条件を調節することで混合領域を形成することができる。
 層Aを上述した気相成膜法により形成する場合は、例えば、成膜原料における前記遷移金属(M2)と酸素との比率、成膜時の不活性ガスと反応性ガスとの比率、成膜時のガスの供給量、成膜時の真空度、成膜時の磁力、及び、成膜時の電力からなる群から選択される1種又は2種以上の条件を調節することで混合領域を形成することができる。
 なお、上記した方法によって、混合領域の厚さを制御するには、層A及び層Bを形成する方法の形成条件を適宜調整して、制御することができる。例えば、層Aを気相成膜法で形成する際には、成膜時間を制御することにより所望の厚さにすることができる。
 また、これに加えて、亜鉛及びスズ(M1)と遷移金属(M2)の混合領域を直接形成する方法も好ましい。
 混合領域を直接形成する方法としては、公知の共蒸着法を用いることが好ましい。このような共蒸着法として、好ましくは、共スパッタ法が挙げられる。本発明において採用可能な共スパッタ法は、例えば、亜鉛及びスズ(M1)及び遷移金属(M2)の双方を含む合金からなる複合ターゲットや、亜鉛及びスズ(M1)及び遷移金属(M2)の複合酸化物からなる複合ターゲットをスパッタリングターゲットとして用いた1元スパッタ法が挙げられる。
 また、本発明における共スパッタ法は、亜鉛及びスズ(M1)の単体又はその酸化物と、遷移金属(M2)の単体又はその酸化物とを含む複数のスパッタリングターゲットを用いた多元同時スパッタであってもよい。これらのスパッタリングターゲットを作製する方法や、これらのスパッタリングターゲットを用いて複合酸化物からなる薄膜を作製する方法については、例えば、特開2000-160331号公報、特開2004-068109号公報、特開2013-047361号公報などの記載を適宜参照することができる。
 共蒸着法を実施する際の成膜条件としては、成膜原料における前記遷移金属(M2)と酸素との比率、成膜時の不活性ガスと反応性ガスとの比率、成膜時のガスの供給量、成膜時の真空度、及び、成膜時の電力からなる群から選択される1種又は2種以上の条件が例示され、これらの成膜条件(好ましくは、酸素分圧)を調節することによって、酸素欠損組成を有する複合酸化物からなる薄膜を形成することができる。すなわち、上述したような共蒸着法を用いてガスバリアー層を形成することで、形成されるガスバリアー層ユニットの厚さ方向のほとんどの領域を混合領域とすることができる。このため、かような手法によれば、混合領域の厚さを制御するという極めて簡便な操作により、所望のガスバリアー性を実現することができる。なお、混合領域の厚さを制御するには、例えば、共蒸着法を実施する際の成膜時間を調節すればよい。
 [機能層]
 本発明のガスバリアー性フィルムにおいては、ガスバリアー層ユニットと基材との間に、各種機能層を形成することが好ましい形態の一つである。
 (導電性層)
 本発明のガスバリアー性フィルムにおいては、機能層の一つとして、比抵抗値が2×10-3Ω・cm未満である導電性層を設ける構成が、優れた導電性を得ることができ、このような特性を備えたガスバリアー性フィルムは、電極形成成分(例えば、ITO)等を付与して透明電極として用いることができる。
 導電性を付与する材料としては、従来公知の、無機導電性材料や導電性ポリマー、例えば、ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン)-ポリスチレンスルホネート(PEDOT:PSS)、ポリピロール、ポリアニリン、ポリチオフェン、ポリチエニレンビニレン、ポリアズレン、ポリイソチアナフテン、ポリカルバゾール、ポリアセチレン、ポリフェニレン、ポリフェニレンビニレン、ポリアセン、ポリフェニルアセチレン、ポリジアセチレン、ポリナフタレン及びこれらの誘導体などが挙げられる。
 (ケイ素及び炭素含有層)
 本発明のガスバリアー性フィルムにおいては、少なくともケイ素及び炭素を含有し、炭素の含有比率が1.0~10質量%の範囲内にある機能層を、層Bと基材との間に設ける構成が好ましい。
 このような機能層は、平滑化層として作用し、その上に形成するガスバリアー層ユニットの平滑性や密着性の改良、伸縮を受けた際の応力緩和効果の付与を行うことができる。
 ケイ素及び炭素含有層は、ケイ素及び炭素を含むターゲットを用い、従来公知のスパッタ法や真空蒸着法、あるいはケイ素及び炭素を含む塗布液を湿式塗布して形成することもできる。
 [無機-有機ハイブリッド材料から構成されるハイブリッド層]
 本発明のガスバリアー性フィルムにおいては、層Bに隣接する位置に、無機―有機ハイブリッド材料から構成されるハイブリッド層を有することが、好ましい形態である。層厚としては、20nm~1.0μmの範囲内であることが好ましく、より好ましくは、20~500nmの範囲内であり、更に好ましくは30~200nmの範囲内であり、特に好ましくは80~120nmの範囲内である。
 本発明に係るハイブリッド層は、ガスバリアー層ユニットを2つ以上有するガスバリアー性フィルムの構成において、図3Bで示すように2つのガスバリアー層ユニット(GB1及びGB2)間に、ハイブリッド層(5)を有する構成、あるいは、図3Cで示すように、ガスバリアー層ユニット及びハイブリッド層をそれぞれ2層以上有し、ガスバリアー層ユニットとハイブリッド層が交互に積層されている積層体である構成が好ましい形態である。
 本発明に係るハイブリッド層は、ガスバリアー層ユニットに隣接する位置に形成され、当該ガスバリアー層ユニットの成膜時に生じる、有害ガス等がショートパスする恐れのある微細な亀裂やひび割れ等の欠陥箇所に毛細管現象により侵入し、その領域を埋めることにより、ガスバリアー性の低下を防止することができる。
 (無機-有機ハイブリッド材料)
 本発明に適用可能な無機-有機ハイブリッド材料としては、特に制限はないが、無機-有機ハイブリッドポリマーであることが好ましく、更には、下記一般式(1)で示す構造の少なくとも1種のシラン化合物を用いて製造することができる。
 一般式(1)
   R SiX4-a-b
 上記一般式(1)において、Rは、有機のネットワーク構造を形成するのに有用な基であり、Rは、少なくとも主には直接的に有機のネットワーク構造の形成に関与しない有機基であり、Xは、ヒドロキシ基又は加水分解の条件で、更なるこのような基と縮合反応可能であり、一般式(1)において、更なるシリコン化合物、又は他の加水分解的に縮合可能なシリコン化合物、又は同様の金属化合物の酸素原子での結合によって、ゾル-ゲル形成の間、無機のネットワーク結合に、少なくとも部分的に貢献可能な基を表す。
 a及びbは、それぞれ0、1又は2を表し、4-a-bはまれに1であるが、通常は2又は3を表す。
 Xは、無機のネットワークを形成するための架橋形成剤である。Rは、有機のネットワークを形成するための架橋形成剤を表す。一般式(1)で表される構造により、無機の、加水分解的な縮合によって形成されるネットワークに加え、有機のネットワークの形成も可能となる。Rは、有機のネットワーク調整剤として機能する。Rによりハイブリッドポリマーの特性が決定される。
 Xで表される基としては、好ましくは、アルコキシ基、水素原子、ヒドロキシ基、アクリルオキシ器、アルキルカルボニル基、アルコキシカルボニル基、及び1級又は2級のアミノ基を挙げることができる。より好ましくは、Xがアルコキシ基であり、特に好ましくは、炭素数が1~4のアルコキシ基である。4-a-bは3であることが特に好ましい。
 無機-有機ハイブリッドポリマーは、場合により、金属アルコキシドの存在下で形成することができ、これら金属アルコキシドとしては、例えば、硼素、アルミニウム、ジルコン、ゲルマニウム、又はチタン化合物を挙げることができ、好ましくはアルコキシド形成材料及び遷移金属化合物から選ぶことができる。
 本発明に係る無機-有機ハイブリッドポリマーにおいては、4-a-bが3であることが好ましい形態であるが、その理由は、使用されるシランRSiXは、3個の無機のネットワーク状結合個所を有しており、これらは、次の加水分解において、ネットワーク結合の程度を高くすることができる。これにより、形成するハイブリッド層は密になり、ガラス状になり、高いガスバリアー層効果を有するようになる。
 同様の理由に基づいて、一般式(1)で表されるシランと共に、一般式SiX(但し、Xが、一般式(1)におけるXと同義)のシランを使用することが好ましい。また同様に、一般式(1)で表されるシラン化合物と1種以上の金属アルコキシドの組合せも効果的である。
 ハイブリッドポリマーを製造するために使用されるシランが、少なくとも部分的に、aが1であるか、又は稀な場合では2であるシランであることが、本発明においては好ましい。
 また、本発明に係る無機-有機ハイブリッドポリマーとして、無機のネットワークに加え、有機のポリマーネットワークを有するようなハイブリッドポリマーが、被覆材料として、又はラミネーション材料として、好ましい。このようなネットワークは、例えば、Rに結合しているエポキシ基を開環することによって得ることができる。また、エポキシ基の代わりには、例えば、Rとして、アクリレート基、メタクリレート基、又はビニル基を導入することもできる。ここで、例えば、UV-照射により、有機の網目状結合が、二重結合の重合(重付加)によって作用することができる。
 本発明に係る無機-有機ハイブリッドポリマーの出発原料としては、通常、公知のゾル-ゲル法に従い、加水分解的に縮合されるか、又は部分的に縮合されて得られる。ここで、通常、触媒が、縮合反応を公知の態様で開始させるか、ないしは加速させる。
 このように製造された本発明に係る無機-有機ハイブリッドポリマーは溶媒等により溶解されてハイブリッド層形成用塗布液として調製され、例えば、本発明に係るガスバリアー層ユニット上に、従来公知の湿式塗布法を用いて塗布され、次に乾燥工程で溶媒を蒸発させることによって、更に進行した無機の網目状結合、及び有機の網目状結合が硬化される。有機の網目状結合の形成を行う場合には、塗布液には、必要に応じて、適切な触媒又は重合開始剤を添加することができる。また、網目状結合が、熱的又は活性照射(例えば、UV-又は他の光照射)を使用して行われ、場合により酸化還元触媒化される。無機の後網目状結合は、場合によっては、溶媒の蒸発によって形成することができる。これらの具体的な方法は、従来公知であり、及び多くの文献に記載されている。
 溶媒として、好ましくは水、場合によりアルコールを使用することが好ましい。水を溶媒として用いた塗布液は、環境保護の観点から好ましい。
 上述した本発明に係る無機-有機ハイブリッド材料は、本発明に係るガスバリアー層と組み合わせて適用した場合、形成したハイブリッド層自身が有するガスバリアー性に加え、前述のように、ハイブリッドポリマー材料は、隣接した位置に形成されているガスバリアー層ユニットに対し、欠陥部(クラック等)の補てんや平滑性効果を発現させることができる。
 《ガスバリアー性フィルムのその他の構成層》
 本発明のガスバリアー性フィルムにおいては、上記説明した各構成層の他に、本発明の目的効果を損なわない範囲で、他の構成層を設けることができる。
 (アンカーコート層)
 本発明に係る層B及び層Aを有するガスバリアー層ユニットを形成する側の基材の表面には、基材と層Bとの密着性の向上を目的として、アンカーコート層が配置されてもよい。
 アンカーコート層に用いられるアンカーコート剤としては、ポリエステル樹脂、イソシアネート樹脂、ウレタン樹脂、アクリル樹脂、エチレンビニルアルコール樹脂、ビニル変性樹脂、エポキシ樹脂、変性スチレン樹脂、変性シリコン樹脂、及びアルキルチタネート等を単独で又は2種以上組み合わせて使用することができる。
 これらのアンカーコート剤には、従来公知の添加剤を加えることもできる。そして、上記のアンカーコート剤は、ロールコート、グラビアコート、ナイフコート、ディップコート、スプレーコート等の公知の湿式塗布方法により基材上にコーティングし、溶剤、希釈剤等を乾燥除去することによりアンカーコーティングすることができる。上記のアンカーコート剤の塗布量としては、0.1~5.0g/m(乾燥状態)程度が好ましい。
 また、アンカーコート層は、物理蒸着法又は化学蒸着法といった気相成膜法により形成することもできる。例えば、特開2008-142941号公報に記載のように、接着性等を改善する目的で酸化珪素を主体とした無機膜を形成することもできる。あるいは、特開2004-314626号公報に記載されているようなアンカーコート層を形成することで、その上に気相成膜法により無機薄膜を形成する際に、基材側から発生するガスをある程度遮断して、無機薄膜の組成を制御するといった目的でアンカーコート層を形成することもできる。
 また、アンカーコート層の層厚は、特に制限されないが、0.5~10μm程度が好ましい。
 (ハードコート層)
 基材の表面(片面又は両面)には、ハードコート層が配置されてもよい。ハードコート層に含まれる材料の例としては、例えば、熱硬化性樹脂や活性エネルギー線硬化性樹脂が挙げられるが、成形が容易なことから、活性エネルギー線硬化性樹脂が好ましい。このような硬化性樹脂は、単独でも又は2種以上組み合わせても用いることができる。
 活性エネルギー線硬化性樹脂とは、紫外線や電子線のような活性エネルギー線照射により架橋反応等を経て硬化する樹脂をいう。活性エネルギー線硬化性樹脂としては、エチレン性不飽和二重結合を有するモノマーを含む成分が好ましく用いられ、紫外線や電子線のような活性エネルギー線を照射することによって硬化させて、活性エネルギー線硬化性樹脂の硬化物を含む層、すなわちハードコート層が形成される。活性エネルギー線硬化性樹脂としては紫外線硬化性樹脂や電子線硬化性樹脂等が代表的なものとして挙げられるが、紫外線照射によって硬化する紫外線硬化性樹脂が好ましい。また、あらかじめハードコート層が形成されている市販の基材を用いてもよい。
 ハードコート層の厚さは、平滑性及び屈曲耐性の観点から、0.1~15μmの範囲内が好ましく、1~5μmの範囲内であることがより好ましい。
 ハードコート層の形成材料に適用可能な活性エネルギー線硬化性樹脂としては、例えば、ラジカル反応性不飽和化合物を有するアクリレート化合物を含有する樹脂組成物、アクリレート化合物とチオール基を有するメルカプト化合物を含有する樹脂組成物、エポキシアクリレート、ウレタンアクリレート、ポリエステルアクリレート、ポリエーテルアクリレート、ポリエチレングリコールアクリレート、グリセロールメタクリレート等の多官能アクリレートモノマーを溶解させた樹脂組成物等が挙げられる。具体的には、JSR株式会社製のUV硬化型有機/無機ハイブリッドハードコート材 OPSTAR(登録商標)シリーズを用いることができる。また、上記のような樹脂組成物の任意の混合物を使用することも可能であり、光重合性不飽和結合を分子内に1個以上有する反応性のモノマーを含有している感光性樹脂であれば特に制限はない。
 熱硬化性材料として具体的には、クラリアント社製のトゥットプロムシリーズ(有機ポリシラザン)、セラミックコート株式会社製のSP COAT耐熱クリアー塗料、株式会社アデカ製のナノハイブリッドシリコーン、DIC株式会社製のユニディック(登録商標)V-8000シリーズ、EPICLON(登録商標) EXA-4710(超高耐熱性エポキシ樹脂)、信越化学工業株式会社製の各種シリコン樹脂、日東紡株式会社製の無機・有機ナノコンポジット材料SSGコート、アクリルポリオールとイソシアネートプレポリマーとからなる熱硬化性ウレタン樹脂、フェノール樹脂、尿素メラミン樹脂、エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、シリコン樹脂等が挙げられる。この中でも特に耐熱性を有するエポキシ樹脂ベースの材料であることが好ましい。
 ハードコート層の形成方法は、特に制限はないが、スピンコーティング法、スプレー法、ブレードコーティング法、ディップ法等の湿式塗布方法、あるいは、蒸着法等のドライコーティング法により形成することが好ましい。
 ハードコート層の形成では、上述の活性エネルギー線硬化性樹脂に、必要に応じて酸化防止剤、紫外線吸収剤、可塑剤等の添加剤を加えることができる。又はドコート層の積層位置に関係なく、いずれのハードコート層においても、成膜性向上及び膜のピンホール発生防止等のために適切な樹脂や添加剤を使用してもよい。
 ハードコート層の厚さとしては、フィルムの耐熱性を向上させ、フィルムの光学特性のバランス調整を容易にする観点から、1~10μmの範囲が好ましく、更に好ましくは、2μm~7μmの範囲内である。
 《電子デバイス》
 本発明のガスバリアー性フィルムは、空気中の化学成分(例えば、酸素、水、窒素酸化物、硫黄酸化物、オゾン等)によって性能が劣化する電子デバイスに好ましく適用できる。すなわち、本発明のガスバリアー性フィルムは、電子デバイス本体と、を含む電子デバイスに適用することができる。
 本発明のガスバリアー性フィルムを具備した電子デバイスに用いられる電子デバイス本体の例としては、例えば、量子ドット(QD)含有樹脂層を有するQDフィルム、有機エレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子)、液晶表示素子(LCD)、薄膜トランジスタ、タッチパネル、電子ペーパー、太陽電池(PV)等を挙げることができる。本発明の効果がより効率的に得られるという観点から、該電子デバイス本体は有機EL素子又は太陽電池が好ましく、有機EL素子がより好ましい。
 〔量子ドット(QD)フィルム〕
 本発明のガスバリアー性フィルムは、量子ドット(QD)含有樹脂層を有するQDフィルムに適用することができる。
 以下、QD含有樹脂層の主要な構成要素である量子ドット(QD)及び樹脂等について説明する。
 〈量子ドット〉
 一般に、ナノメートルサイズの半導体物質で量子閉じ込め(quantum confinement)効果を示す半導体ナノ粒子は、「量子ドット」とも称されている。このような量子ドットは、半導体原子が数百個から数千個集まった10数nm程度以内の小さな塊であるが、励起源から光を吸収してエネルギー励起状態に達すると、量子ドットのエネルギーバンドギャップに相当するエネルギーを放出する。
 したがって、量子ドットは、量子サイズ効果によりユニークな光学特性を有することが知られている。具体的には、
 (1)粒子のサイズを制御することにより、様々な波長、色を発光させることができる、
 (2)吸収帯が広く、単一波長の励起光で様々なサイズの微粒子を発光させることができる、
 (3)蛍光スペクトルが良好な対称形である、
 (4)有機色素に比べて耐久性、耐退色性に優れる、
 といった特徴を有する。
 QD含有樹脂層が含有する量子ドットは公知のものであってもよく、当業者に既知の任意の方法を使用して生成することができる。例えば、好適なQD及び好適なQDを形成するための方法には、米国特許第6225198号明細書、米国特許出願公開第2002/0066401号明細書、米国特許第6207229号明細書、同第6322901号明細書、同第6949206号明細書、同第7572393号明細書、同第7267865号明細書、同第7374807号明細書、米国特許出願第11/299299号、及び米国特許第6861155号明細書に記載のものが挙げられる。
 QDは、任意の好適な材料、好適には無機材料及びより好適には無機導体又は半導体材料から生成される。好適な半導体材料には、II-VI族、III-V族、IV-VI族及びIV族の半導体を含む、任意の種類の半導体が含まれる。
 好適な半導体材料には、Si、Ge、Sn、Se、Te、B、C(ダイアモンドを含む。)、P、BN、BP、BAs、AlN、AlP、AlAs、AlSb、GaN、GaP、GaAs、GaSb、InN、InP、InAs、InSb、AlN、AlP、AlAs、AlSb、GaN、GaP、GaAs、GaSb、ZnO、ZnS、ZnSe、ZnTe、CdS、CdSe、CdSeZn、CdTe、HgS、HgSe、HgTe、BeS、BeSe、BeTe、MgS、MgSe、GeS、GeSe、GeTe、SnS、SnSe、SnTe、PbO、PbS、PbSe、PbTe、CuF、CuCl、CuBr、CuI、Si、Ge、Al、(Al、Ga、In)(S、Se、Te)、AlCO、及びそれらを二つ以上含む半導体の適切な組合せが含まれるが、これらに限定されない。
 本発明においては、次のようなコア/シェル型の量子ドット、例えば、CdSe/ZnS、InP/ZnS、PbSe/PbS、CdSe/CdS、CdTe/CdS、CdTe/ZnS等も好ましく使用できる。
 〈樹脂〉
 QD含有樹脂層には、量子ドットを保持するバインダーとして樹脂を用いることができる。例えば、ポリカーボネート系、ポリアリレート系、ポリスルホン(ポリエーテルスルホンも含む。)系、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル系、ポリエチレン系、ポリプロピレン系、セロファン系、セルロースジアセテート、セルローストリアセテート、セルロースアセテートプロピオネート、セルロースアセテートブチレート等のセルロースエステル系、ポリ塩化ビニリデン系、ポリビニルアルコール系、エチレンビニルアルコール系、シンジオタクティックポリスチレン系、ノルボルネン系、ポリメチルペンテン系、ポリエーテルケトン系、ポリエーテルケトンイミド系、ポリアミド樹脂、フッ素樹脂、ナイロン系、ポリメチルメタクリレート等のアクリル系樹脂等を挙げることができる。
 QD含有樹脂層は、厚さが50~200μmの範囲内であることが好ましい。
 なお、QD含有樹脂層における量子ドットの含有量は、使用する化合物によって最適量は異なるが、一般的には15~60体積%の範囲内であることが好ましい。
 〔有機EL素子〕
 本発明のガスバリアー性フィルムを適用する電子デバイスの代表例である有機EL素子は、例えば、透明基材上に、陽極、第1有機機能層群、発光層、第2有機機能層群、陰極が積層されて構成されている。第1有機機能層群は、例えば、正孔注入層、正孔輸送層、電子阻止層等から構成され、第2有機機能層群は、例えば、正孔阻止層、電気輸送層、電子注入層等から構成されている。第1有機機能層群及び第2有機機能層群はそれぞれ1層のみで構成されていても良いし、第1有機機能層群及び第2有機機能層群はそれぞれ設けられていなくても良い。
 以下に、有機EL素子の構成の代表例を示す。
 (i)陽極/正孔注入輸送層/発光層/電子注入輸送層/陰極
 (ii)陽極/正孔注入輸送層/発光層/正孔阻止層/電子注入輸送層/陰極
 (iii)陽極/正孔注入輸送層/電子阻止層/発光層/正孔阻止層/電子注入輸送層/陰極
 (iv)陽極/正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子輸送層/電子注入層/陰極
 (v)陽極/正孔注入層/正孔輸送層/発光層/正孔阻止層/電子輸送層/電子注入層/陰極
 (vi)陽極/正孔注入層/正孔輸送層/電子阻止層/発光層/正孔阻止層/電子輸送層/電子注入層/陰極
 更に、有機EL素子は、非発光性の中間層を有していても良い。中間層は電荷発生層であっても良く、マルチフォトンユニット構成であっても良い。
 本発明に適用可能な有機EL素子の概要については、例えば、特開2013-157634号公報、特開2013-168552号公報、特開2013-177361号公報、特開2013-187211号公報、特開2013-191644号公報、特開2013-191804号公報、特開2013-225678号公報、特開2013-235994号公報、特開2013-243234号公報、特開2013-243236号公報、特開2013-242366号公報、特開2013-243371号公報、特開2013-245179号公報、特開2014-003249号公報、特開2014-003299号公報、特開2014-013910号公報、特開2014-017493号公報、特開2014-017494号公報等に記載されている構成を挙げることができる。
 以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、実施例において「%」の表示を用いるが、特に断りがない限り「質量%」を表す。
 実施例1
 《ガスバリアー性フィルムの作製》
 下記の方法に従って、図1Bで示す構成のガスバリアー性フィルム1~8を作製した。
 [ガスバリアー性フィルム1の作製]
 〔基材の作製〕
 両面に易接着処理した厚さ100μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(東レ株式会社製、ルミラー(登録商標)U48、略称:PETフィルム)の両面に、クリアハードコート層1(裏面側)及びクリアハードコート層2(ガスバリアー層ユニット形成面側)を下記の方法により形成した。
 (クリアハードコート層の形成)
 上記PETフィルムの裏面側(ガスバリアー層ユニットを形成する面とは反対側の面)に、UV硬化型樹脂(アイカ工業株式会社製、品番:Z731L)を乾燥膜厚が0.5μmになるように湿式塗布方式により塗布した後、形成した塗膜を80℃で乾燥し、その後、空気下、高圧水銀ランプを用いて照射エネルギー量0.5J/cmの条件で硬化を行い、裏面側のクリアハードコート層1を形成した。
 次いで、PETフィルムの表面側(ガスバリアー層ユニットを形成する面)に、JSR株式会社製のUV硬化型樹脂「オプスター(登録商標)Z7527」を用い、乾燥膜厚が2μmになるように、湿式塗布方式で塗布した後、80℃で乾燥し、その後、空気下、高圧水銀ランプを用いて照射エネルギー量0.5J/cmの条件で硬化を行い、表面側に厚さ2μmのクリアハードコート層2を形成した。
 〔ガスバリアー層ユニット1の形成〕
 (層Bの形成:亜鉛とスズ含有領域)
 基材のクリアハードコート層2を形成した面側に、気相法・スパッタ(マグネトロンスパッタ装置・キャノンアネルバ社製:型式EB1100)により、ガスバリアー層ユニットを構成する層Bを製膜した。用いたスパッタ装置は、2元同時スパッタが可能なものである。
 ここで、適切な組成の亜鉛-スズ合金からなるターゲットを用い、不活性ガスとしてアルゴンの存在下で、反応性ガスとして酸素ガスを供給しながら、層厚が30nmの層Bを形成した。
 成膜時は、適切な組成比の亜鉛-スズ合金の選択と、反応性ガスである酸素の供給量を適宜調整し、形成する層Bにおける亜鉛の質量比率が10質量%となるように適宜調整した。
 上記方法により、基材の一方の面側に、組成が亜鉛・スズ酸化物である、膜厚が30nmの層Bを形成した。
 (層Aの形成:遷移金属M2(Nb)領域)
 上記形成した層B上に、気相法・スパッタにより、層Aを形成した。スパッタ装置としては、マグネトロンスパッタ装置(キヤノンアネルバ社製:型式EB1100)を用いた。
 ターゲットとしては、市販の酸素欠損型酸化ニオブターゲット(組成:Nb1229)を用い、プロセスガスとしてArとOの混合ガスを用いて、マグネトロンスパッタ装置により、DC方式により成膜を行った。スパッタ電源パワーは5.0W/cmとし、成膜圧力は0.4Paとした。また、成膜条件において、酸素分圧を12%とした。なお、事前にガラス基材を用いた成膜により、成膜条件において、成膜時間に対する層厚変化のデータを取り、単位時間当たりに成膜される層厚を算出した後、設定層厚となるように成膜時間を設定した。
 上記方法により、層B上に、遷移金属M2(Nb)により構成される、層厚が10nmの層Aを形成し、ガスバリアー層ユニット1を形成した。ガスバリアー層ユニット1は、本発明に係るガスバリアー層ユニット(GB)に相当する。
 (混合領域の有無の確認)
 上記作製したガスバリアー層ユニット(GB)について、XPS分析法により混合領域の有無の測定を行った。
 XPS分析により、ガスバリアー層ユニット1の表面側により厚さ方向の組成分布プロファイルを測定した。なお、XPS分析条件は以下のとおりである。なお、分析に用いた試料は、試料作製後、20℃・50%RHの環境下で保管した試料を用いた。
 〈XPS分析条件〉
 ・装置:アルバック・ファイ社製QUANTERA SXM
 ・X線源:単色化Al-Kα
 ・スパッタイオン:Ar(2keV)
 ・デプスプロファイル:ZnO換算スパッタ厚さで、所定の厚さ間隔で測定を繰り返し、深さ方向のデプスプロファイルを得た。この厚さ間隔は、1nmとした(深さ方向に1nmごとのデータが得られる)。
 ・定量:バックグラウンドをShirley法で求め、得られたピーク面積から相対感度係数法を用いて定量した。データ処理は、アルバック・ファイ社製のMultiPakを用いた。なお、分析した元素は、Zn、Sn、Nb、O、N、Cである。
 得られたデータから、図4で例示するように、層Aと層Bとの界面領域で、遷移金属M2(Nb)と非遷移金属M1であるZnとSnとが共存し、かつ、遷移金属M2(Nb)/非遷移金属M1(Zn・Sn)の原子数比率の値が、0.02~50の範囲内にある領域を、混合領域と定義して測定した結果、ガスバリアー層ユニット1においては混合領域が存在していることを確認した。表1には、混合領域の有無の欄に「○」と表示した。
 (酸素欠損有無の確認)
 上記作製したガスバリアー層ユニット1について、上記で測定したXPSデータを用いて混合領域の組成を測定し、混合領域の組成をSiM2で表した際の、(2y+3z)/(a+bx)の比の値を計算し、1.0未満であれば、「酸素欠損有」と判定し、表1の酸素欠損有無欄に「○」と表示した。以下の酸素欠損有無の確認についても、同様にして行った。
 [ガスバリアー性フィルム2及び3の作製]
 前記ガスバリアー性フィルム1の作製において、ガスバリアー層ユニットの層B形成時の酸素分圧と、ターゲットとして使用する亜鉛-スズ合金の組成比を適宜調整して、層BにおけるZnの質量比率を、それぞれ68質量%、28質量%に変更した以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム2及び3を作製した。
 [ガスバリアー性フィルム4の作製]
 前記ガスバリアー性フィルム1の作製において、ガスバリアー層ユニットの層B形成時の酸素分圧と、ターゲットとして使用する亜鉛-スズ合金の組成比を適宜調整して、層BにおけるZnの質量比率を、14質量%にし、更に層Aを構成する遷移金属M2をNbからTaに変更した以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム4を作製した。
 [ガスバリアー性フィルム5の作製]
 前記ガスバリアー性フィルム4の作製において、ガスバリアー層ユニットの層B形成時の酸素分圧と、ターゲットとして使用する亜鉛-スズ合金の組成比を適宜調整して、層BにおけるZnの質量比率を、59質量%に変更した以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム2及び5を作製した。
 [ガスバリアー性フィルム6及び7の作製]
 前記ガスバリアー性フィルム1の作製において、ガスバリアー層ユニットの層B形成時の酸素分圧と、ターゲットとして使用する亜鉛-スズ合金の組成比を適宜調整して、層BにおけるZnの質量比率を、それぞれ4質量%、75質量%に変更した以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム6及び7を作製した。
 [ガスバリアー性フィルム8の作製]
 前記ガスバリアー性フィルム1の作製において、ガスバリアー層ユニットの層B形成時の酸素分圧と、ターゲットとして使用する亜鉛-スズ合金の組成比を適宜調整して、層BにおけるZnの質量比率を、30質量%とし、かつ層Aの形成を行わなかった以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム8を作製した。
 《ガスバリアー性フィルムの評価》
 上記作製した各ガスバリアー性フィルムについて、下記の方法に従ってガスバリアー性を評価した。
 〔ガスバリアー性の評価:Ca法評価〕
 以下の測定方法に従って、各ガスバリアー性フィルムの水蒸気透過性(ガスバリアー性)を評価した。
 下記のようにして作製したCa法評価試料(透過濃度により評価するタイプ)を、85℃、85%RH環境に保存して、一定時間ごとにCaの腐食率を観察した。1時間、5時間、10時間、20時間、それ以降は20時間ごとに観察及び透過濃度測定(任意4点の平均)し、測定した透過濃度が透過濃度初期値の50%未満となった時点の観察時間を求め、これをガスバリアー性の指標とした。500時間の保存で測定した透過濃度が透過濃度初期値の50%以上であった場合は500時間以上とした。
 (Ca評価試料の作製)
 ガスバリアー性フィルムのガスバリアー層ユニット表面をUV洗浄した後、ガスバリアー層ユニット面に、封止樹脂層として熱硬化型のシート状接着剤(エポキシ系樹脂)を厚さ20μmで貼合した。これを50mm×50mmのサイズに打ち抜いた後、グローブボックス内に入れて、24時間乾燥処理を行った。
 50mm×50mmサイズの無アルカリガラス板(厚さ0.7mm)の片面をUV洗浄した。次いで、株式会社エイエルエステクノロジー製の真空蒸着装置を用い、ガラス板の中央に、マスクを介して20mm×20mmのサイズでCaを蒸着した。Caの厚さは80nmとした。Ca蒸着済のガラス板をグローブボックス内に装着し、封止樹脂層を貼合したガスバリアー性フィルムの封止樹脂層面とガラス板のCa蒸着面とを接するように配置し、真空ラミネートにより接着した。この際、110℃の加熱を行った。更に、接着した試料を110℃に設定したホットプレート上にガラス板を下にして置き、30分間硬化させて、評価用セルを作製した。
 〔耐久性の評価:折り曲げ耐性〕
 SUS製の金属ロールを用い、上記作製した各ガスバリアー性フィルムのガスバリアー層ユニット形成面を内側にし、半径が3mmの曲率になるように、180°の角度で1000回の屈曲操作を行った。次いで、ガスバリアーフィルムのガスバリアー層ユニット形成面を外側にし、半径が3mmの曲率になるように、180°の角度で1000回屈曲し、計2000回の屈曲を繰り返した。
 上記屈曲処理を施した各ガスバリアー性フィルムについて、上記と同様のCa法により水蒸気透過性を評価した。
 以上により得られた結果を、表1に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 表1に記載の結果より明らかなように、本発明で規定する構成のガスバリアー性フィルムは、比較例に対し、極めて優れたガスバリー性と耐久性(折り曲げ耐性)を有していることが分かる。
 実施例2
 《ガスバリアー性フィルムの作製》
 下記の方法に従って、図3Bで示す構成からなるガスバリアー性フィルム11~24を作製した。
 〔ガスバリアー性フィルム11の作製〕
 (第1のガスバリアー層ユニット(GB1)の形成)
 実施例1に記載のガスバリアー性フィルム1において、基材上に、層B形成時の酸素分圧と、ターゲットとして使用する亜鉛-スズ合金の組成比を適宜調整して、層BにおけるZnの質量比率を、8質量%とした以外は同様にして、層B、混合領域及び層Aから構成される第1のガスバリアー層ユニットを形成した。
 (無機-有機ハイブリッド層の形成)
 第1のガスバリアー層ユニット上に、下記の方法に従って、無機-有機ハイブリッド層を形成した。
 〈溶液Aの調製〉
 テトラメトキシシラン(TMOS)            15モル%
 グリシジルプロピルトリメトキシシラン(GLYMO)   20モル%
 ジルコニウムプロピラート                10モル%
 アルミニウム sec-ブチラート            10モル%
 アセト酢酸エステル                   10モル%
 ジルコニウムプロピラートとアルミニウム sec-ブチラートとを反応性を低下させるため、アセト酢酸エステル中で複合体を形成した。
 次いで、テトラメトキシシラン(TMOS)及びグリシジルプロピルトリメトキシシラン(GLYMO)を添加した後、この混合物にHCl水溶液を添加して、酸触媒による加水分解を行った。これにより、比較的ゆっくりと有機の網目状結合が行われ、これを数週間にわたり放置し、粘度を増加させて、無機-有機ハイブリッドポリマーを調製した。
 〈溶液Bの調製〉
 上記溶液Aの調製において、反応の過程で生成したアルコール成分を、減圧処理により除去し、除去したアルコール成分と同量の水を補充して、溶液Bを調製した。
 〈塗膜形成〉
 上記溶液A及び溶液Bの混合物を用い、水で希釈して無機-有機ハイブリッドポリマーの固形分率が10質量%となるように希釈してハイブリッド層形成用塗布液を調製した。
 次いで、上記調製した25℃のハイブリッド層形成用塗布液にメンブランフィルターを用いた濾過処理を施した後、公知の湿式コーターを用いて、第1のガスバリアー層ユニット上に塗布し、90℃の加熱空気により乾燥を行った後、IRを80秒間にわたり照射して、形成した塗膜を硬化して、厚さ100nmのハイブリッド層を形成した。
 (第2のガスバリアー層ユニットの形成)
 上記第1のカスバリアー層ユニットと同様の構成からなる第2のガスバリアー層ユニットを、無機-有機ハイブリッド層上に形成し、無機-有機ハイブリッド層を第1のガスバリアー層ユニットと第2のガスバリアー層ユニットとで挟持した図3Bで記載の構成からなるガスバリアー性フィルム11を作製した。
 〔ガスバリアー性フィルム12~15の作製〕
 上記ガスバリアー性フィルム11の作製において、第1のガスバリアー層ユニット及び第2のガスバリアー層ユニットの各層Bにおける亜鉛の質量比率及び層Aにおける遷移金属の種類を表2に記載した条件に変更した以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム12~15を作製した。
 〔ガスバリアー性フィルム16~20の作製〕
 上記ガスバリアー性フィルム11の作製において、第1のガスバリアー層ユニット及び第2のガスバリアー層ユニットの各層Bにおける亜鉛の質量比率及び層Aにおける遷移金属の種類を表2に記載した条件に変更し、更に無機-有機ハイブリッド層の形成を行わなかった以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム16~20を作製した。
 〔ガスバリアー性フィルム21~22の作製〕
 上記ガスバリアー性フィルム11の作製において、第1のガスバリアー層ユニット及び第2のガスバリアー層ユニットの各層Bにおける亜鉛の質量比率を表2に記載した条件に変更した以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム21~22を作製した。
 〔ガスバリアー性フィルム23の作製〕
 上記ガスバリアー性フィルム13の作製において、第1のガスバリアー層ユニット及び第2のガスバリアー層ユニットの層A及び無機-有機ハイブリッド層の形成を行わなかった以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム23を作製した。
 〔ガスバリアー性フィルム24の作製〕
 上記ガスバリアー性フィルム13の作製において、第1のガスバリアー層ユニット及び第2のガスバリアー層ユニットにおいて層Aの形成を行わなかった以外は同様にして、ガスバリアー性フィルム24を作製した。
 《ガスバリアー性フィルムの評価》
 上記作製したガスバリアー性フィルム11~24について、実施例1に記載した方法と同様にして、ガスバリアー性の評価(Ca法評価)と耐久性の評価を行い、得られた結果を表2に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 表2に記載の結果より明らかなように、本は罪で規定する構成のガスバリアー性フィルムは、比較例に対し、極めて優れたガスバリー性と耐久性(折り曲げ耐性)を有していることが分かる。特に、2つのガスバリアー層ユニットユニット間に、無機-有機ハイブリッド層を設けることにより、折り曲げ等のストレスを受けたのちでもガスバリアー性の低下が少なく、耐久性に優れていることが分かる。
 実施例5
 上記作製した本発明のガスバリアー性フィルムを、特開2010-20925号公報の実施例に記載されている方法に準じて、基材フィルムとして適用し、特開2010-20925号公報の図8に記載された構成からなる有機ELセルを作製した。
 次いで、作製した各有機ELセルを、40℃、80%RHの環境下で、200時間保管した後、有機EL素子の発光効率低下率を、常法に従って測定した結果、本発明で規定する構成からなるガスバリアー性フィルムは、比較例に対し、発光効率の低下を抑制し、優れたガスバリアー性を有し、更に折り曲げ処理を施した後でも、優れたガスバリアー性を維持できることを確認することができた。
 本発明のガスバリアー性フィルムは、量子ドット(QD)含有樹脂層を有するQDフィルム、有機エレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子)、液晶表示素子(LCD)、薄膜トランジスタ、タッチパネル、電子ペーパー、太陽電池(PV)等に好適に利用できる。
 1 ガスバリアー性フィルム
 2 基材
 4 機能層
 5、5A、5B ハイブリッド層(無機-有機ハイブリッド層)
 A、A1、A2 層A、遷移金属(M2)含有層
 B、B1、B2 層B、亜鉛・スズ(M1)含有層
 C 混合領域
 GB、GB1、GB2 ガスバリアー層ユニット

Claims (22)

  1.  基材上に、少なくとも亜鉛、スズ及び酸素を含む化合物を含有する層Bと、第3族~第11族の遷移金属M2が含有されている層Aとを有するガスバリアー層ユニットを有し、
     前記層Bの全質量に対する亜鉛の含有率が、5~70質量%の範囲内であることを特徴とするガスバリアー性フィルム。
  2.  前記層Bは基材と接する位置に配置され、当該層Bの基材に接する領域における炭素の含有比率が、5.0質量%以下であることを特徴とする請求項1に記載のガスバリアー性フィルム。
  3.  前記層Bと前記基材との間に、機能層を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のガスバリアー性フィルム。
  4.  前記機能層が、比抵抗値が2×10-3Ω・cm未満である導電性層であることを特徴とする請求項3に記載のガスバリアー性フィルム。
  5.  前記機能層が、少なくともケイ素及び炭素を含有し、炭素の含有比率が全質量の1.0~10質量%の範囲内であることを特徴とする請求項3に記載のガスバリアー性フィルム。
  6.  前記ガスバリアー層ユニットに隣接する位置に、少なくとも無機-有機ハイブリッド材料から構成されるハイブリッド層を有し、当該ハイブリッド層の層厚が20nm~1.0μmの範囲内であることを特徴とする請求項1から請求項5までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
  7.  前記ハイブリッド層の層厚が、20~500nmの範囲内であること特徴とする請求項6に記載のガスバリアー性フィルム。
  8.  ガスバリアー層を2層以上有し、少なくとも1層のガスバリアー層が、前記ガスバリアー層ユニットであり、前記ガスバリアー層ユニットと前記ガスバリアー層との間に、前記ハイブリッド層を有することを特徴とする請求項6又は請求項7に記載のガスバリアー性フィルム。
  9.  ガスバリアー層を2層以上有し、全てのガスバリアー層が、前記ガスバリアー層ユニットであり、2層のガスバリアー層ユニットの間に、前記ハイブリッド層を有することを特徴とする請求項6又は請求項7に記載のガスバリアー性フィルム。
  10.  前記ガスバリアー層ユニット及び前記ハイブリッド層を、それぞれ2つ以上有し、前記ガスバリアー層ユニットとハイブリッド層が交互に積層されている積層体であることを特徴とする請求項8又は請求項9に記載のガスバリアー性フィルム。
  11.  前記基材とガスバリアー層ユニットとの間に、前記ハイブリッド層が形成されていることを特徴とする請求項6から請求項10までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
  12.  前記無機-有機ハイブリッド材料が、無機ネットワーク及び有機ネットワークを有することを特徴とする請求項6から請求項11までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
  13.  前記ガスバリアー層ユニットが、前記層B及び層Aの間に、前記亜鉛及びスズである金属M1及び第3族~第11族の遷移金属M2を含有する領域であって、前記金属M1に対する遷移金属M2の原子数比の値(M2/M1)が、0.02~49の範囲内にある混合領域を、厚さ方向に連続して5nm以上有することを特徴とする請求項1から請求項12までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
  14.  前記混合領域が、前記遷移金属M2の酸化物と前記亜鉛及びスズ又はその化合物との混合物、又は複合酸化物の少なくとも一方が含有されていることを特徴とする請求項13に記載のガスバリアー性フィルム。
  15.  前記ガスバリアー層ユニット内の全域が、前記混合領域であることを特徴とする請求項13又は請求項14に記載のガスバリアー性フィルム。
  16.  前記遷移金属M2が、長周期型周期表の第5族元素であることを特徴とする請求項1から請求項15までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
  17.  前記遷移金属M2が、ニオブ(Nb)又はタンタル(Ta)であることを特徴とする請求項1から請求項15までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
  18.  前記混合領域が、更に酸素を含有していることを特徴とする請求項13から請求項17までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
  19.  前記混合領域の組成を、下記化学組成式(1)で表したとき、前記混合領域の少なくとも一部が下記関係式(2)を満たすことを特徴とする請求項13から請求項18までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルム。
     化学組成式(1)
       (M1)(M2)
     関係式(2)
       (2y+3z)/(a+bx)<1.0
    〔式中、M1は亜鉛及びスズ、M2は遷移金属、Oは酸素、Nは窒素を表す。x、y、zは、それぞれ化学量論係数であり、aはM1の最大価数、bはM2の最大価数を表す。〕
  20.  請求項1から請求項19までのいずれか一項に記載のガスバリアー性フィルムを具備していることを特徴とする電子デバイス。
  21.  電子デバイスが、量子ドットを含有するQDフィルムであることを特徴とする請求項20に記載の電子デバイス。
  22.  電子デバイスが、有機エレクトロルミネッセンス素子であることを特徴とする請求項20に記載の電子デバイス。
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