WO2017082011A1 - 磁気センサ - Google Patents

磁気センサ Download PDF

Info

Publication number
WO2017082011A1
WO2017082011A1 PCT/JP2016/081105 JP2016081105W WO2017082011A1 WO 2017082011 A1 WO2017082011 A1 WO 2017082011A1 JP 2016081105 W JP2016081105 W JP 2016081105W WO 2017082011 A1 WO2017082011 A1 WO 2017082011A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
magnetic
magnetic body
circuit board
sensor
sensor chip
Prior art date
Application number
PCT/JP2016/081105
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
崇人 福井
Original Assignee
Tdk株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tdk株式会社 filed Critical Tdk株式会社
Priority to US15/770,196 priority Critical patent/US10788544B2/en
Priority to CN201680065465.2A priority patent/CN108351389B/zh
Priority to EP16863975.5A priority patent/EP3376244B1/en
Publication of WO2017082011A1 publication Critical patent/WO2017082011A1/ja

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0005Geometrical arrangement of magnetic sensor elements; Apparatus combining different magnetic sensor types
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0011Arrangements or instruments for measuring magnetic variables comprising means, e.g. flux concentrators, flux guides, for guiding or concentrating the magnetic flux, e.g. to the magnetic sensor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices

Definitions

  • the present invention relates to a magnetic sensor, and more particularly to a magnetic sensor provided with a magnetic body for collecting magnetic flux on a sensor chip.
  • Magnetic sensors using magnetoresistive elements are widely used in ammeters and magnetic encoders.
  • the magnetic sensor may be provided with a magnetic body for collecting magnetic flux on the sensor chip.
  • the magnetic body is placed on the element formation surface of the sensor chip (see Patent Document 1).
  • the sensor chip is generally small, it is not easy to place the magnetic body on the sensor chip, and it is difficult to securely fix the sensor chip and the magnetic body.
  • the support on the sensor chip becomes very unstable, and in some cases, the magnetic material may fall off or bend. there were.
  • an object of the present invention is to provide a magnetic sensor capable of stably supporting a magnetic material having a long length in the direction perpendicular to the element formation surface.
  • a magnetic sensor includes a sensor chip having an element formation surface on which a magnetic detection element is formed, a magnetic body having a first side surface facing the element formation surface, and the sensor chip and the magnetic body.
  • a circuit board having a mounting surface, and the sensor chip and the magnetic body are mounted on the circuit board such that the element formation surface and the first side surface are substantially orthogonal to the mounting surface of the circuit board. It is characterized by.
  • the sensor chip and the magnetic body are mounted on the circuit board in a laid state, even when the length of the magnetic body is long, it can be stably supported. Become.
  • the magnetic body further includes a second side surface that is substantially parallel to the first side surface and located on the opposite side of the first side surface, and the area of the second side surface is the first side surface. It is preferably larger than the area of one side. According to this, since more magnetic flux can be collected, the sensitivity of the magnetic sensor is enhanced. In this case, the length of the second side surface in the direction perpendicular to the mounting surface may be longer than the length of the first side surface in the direction perpendicular to the mounting surface.
  • the magnetic sensing element includes first to fourth magnetoresistive elements, and the first and second magnetoresistive elements are located on one side when viewed from the first side surface of the magnetic body.
  • the third and fourth magnetoresistive elements are preferably located on the other side when viewed from the first side surface of the magnetic body. According to this, it becomes possible to perform highly sensitive magnetic detection by forming a bridge circuit using four magnetoresistive elements.
  • the magnetic sensor according to the present invention further includes an auxiliary magnetic body mounted on the circuit board, and the sensor chip is substantially orthogonal to the element formation surface and is viewed from the first side surface of the magnetic body.
  • the first and second side surfaces positioned on the one side and the other side, respectively, and the auxiliary magnetic body covers the circuit board so as to cover at least a part of the first and second side surfaces. It is preferable that it is mounted. According to this, since the magnetic flux input to the element formation surface is bent in the first and second side surfaces, it is possible to perform magnetic detection with higher sensitivity.
  • a magnetic sensor that can stably support a magnetic material having a long length in the direction perpendicular to the element formation surface.
  • FIG. 1 is a schematic perspective view showing an appearance of a magnetic sensor 10 according to a preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view of the magnetic sensor 10.
  • FIG. 3 is a partially enlarged view of the magnetic sensor 10.
  • FIG. 4 is a circuit diagram for explaining a connection relationship between the terminal electrodes E11 to E14 and the magnetic detection elements MR1 to MR4.
  • FIG. 5 is a schematic perspective view showing the configuration of the magnetic sensor 10A according to the first modification.
  • FIG. 6 is a schematic perspective view showing the configuration of the magnetic sensor 10B according to the second modification.
  • FIG. 7 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10C according to a third modification.
  • FIG. 8 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10D according to a fourth modification.
  • FIG. 9 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10E according to a fifth modification.
  • FIG. 10 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10F according to a sixth modification.
  • FIG. 11 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10G according to a seventh modification.
  • FIG. 1 is a schematic perspective view showing an appearance of a magnetic sensor 10 according to a preferred embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view of the magnetic sensor 10.
  • the magnetic sensor 10 includes a circuit board 20, a sensor chip 30 mounted on a mounting surface 21 of the circuit board 20, and a magnetic body 40.
  • the circuit board 20 is a board in which a wiring pattern is formed on an insulating base such as a resin, and a general printed board or an interposer board can be used.
  • the mounting surface 21 of the circuit board 20 forms an xy plane, and the sensor chip 30 and the magnetic body 40 are mounted on the mounting surface 21.
  • Four land patterns E21 to E24 are provided on the mounting surface 21 of the circuit board 20, and a constant voltage source and a voltage detection circuit described later are connected to the land patterns E21 to E24.
  • the constant voltage source and the voltage detection circuit may be provided on the circuit board 20 itself, or may be provided on a board different from the circuit board 20.
  • the sensor chip 30 has a substantially rectangular parallelepiped shape, and four magnetic detection elements MR1 to MR4 are formed on the element forming surface 31. As shown in FIGS. 1 and 2, the element formation surface 31 forms an xz plane. That is, the sensor chip 30 is mounted on its side so that the element formation surface 31 is substantially orthogonal to the mounting surface 21 of the circuit board 20.
  • the bottom surface (xy surface) of the sensor chip 30 and the mounting surface 21 of the circuit board 20 do not need to be in close contact with each other, and an adhesive is interposed therebetween. As shown in FIG. 3 which is an enlarged view, they are fixed to each other by a partially provided adhesive G, whereby the bottom surface (xy surface) of the sensor chip 30 and the mounting surface 21 of the circuit board 20 are fixed. There may be a slight gap between them.
  • the magnetic detection elements MR1 to MR4 are not particularly limited as long as the physical characteristics change depending on the magnetic flux density, but in the present embodiment, there are magnetoresistive elements (MR elements) whose electric resistance changes according to the direction of the magnetic field. Used.
  • the magnetization fixing directions of the magnetic detection elements MR1 to MR4 are all aligned in the direction indicated by the arrow A in FIG. 2 (the positive side in the x direction).
  • a large number of sensor chips 30 are manufactured simultaneously using a collective substrate, and a large number of sensor chips 30 are obtained by dicing them. Therefore, in the present embodiment, the diced sensor chip 30 is mounted on the circuit board 20 in a state where it is laid sideways by 90 °.
  • terminal electrodes E11 to E14 are provided on the element forming surface 31 of the sensor chip 30. These terminal electrodes E11 to E14 are connected to land patterns E21 to E24 through solder S, respectively. The connection relationship between the terminal electrodes E11 to E14 and the magnetic detection elements MR1 to MR4 will be described later.
  • the magnetic body 40 is a block made of a high permeability material such as ferrite, and has a substantially rectangular parallelepiped shape in the present embodiment.
  • the xz surface of the magnetic body 40 constitutes a first side surface 41 that faces the element forming surface 31 of the sensor chip 30.
  • the area of the first side surface 41 is smaller than the area of the element formation surface 31 of the sensor chip 30, and the circuit board is arranged so as to face the facing region 31a located between the magnetic detection elements MR1, MR2 and the magnetic detection elements MR3, MR4. 20 is mounted.
  • the first side surface 41 of the magnetic body 40 and the facing region 31a of the sensor chip 30 may be in close contact with each other, or a slight gap may exist between them.
  • both the sensor chip 30 and the magnetic body 40 are mounted on the mounting surface 21 of the circuit board 20, it is necessary to fix the sensor chip 30 and the magnetic body 40 with an adhesive or the like. Absent.
  • the magnetic body 40 is fixed to the circuit board 20, it is not necessary that the bottom surface (xy surface) of the magnetic body 40 and the mounting surface 21 of the circuit board 20 are in close contact with each other, and an adhesive is interposed therebetween. As shown in FIG. 3 which is an enlarged view, it is fixed by a partially provided adhesive G, whereby the bottom surface (xy surface) of the magnetic body 40 and the mounting surface 21 of the circuit board 20 are fixed. There may be a slight gap between them.
  • the selectivity of the magnetic flux in the y direction can be increased by increasing the length in the y direction.
  • the y direction is parallel to the mounting surface 21 of the circuit board 20, the support of the magnetic body 40 becomes unstable even if the length of the magnetic body 40 in the y direction is increased. There is nothing.
  • FIG. 4 is a circuit diagram for explaining a connection relationship between the terminal electrodes E11 to E14 and the magnetic detection elements MR1 to MR4.
  • the magnetic detection element MR1 is connected between the terminal electrodes E11 and E13
  • the magnetic detection element MR2 is connected between the terminal electrodes E12 and E14
  • the magnetic detection element MR3 is connected between the terminal electrodes E12 and E13
  • the magnetic detection element MR4 is connected between the terminal electrodes E11 and E14.
  • a predetermined voltage is applied by the constant voltage source 51 between the terminal electrodes E11 and E12.
  • a voltage detection circuit 52 is connected between the terminal electrodes E13 and E14, whereby the level of the output voltage appearing between the terminal electrodes E13 and E14 is detected.
  • the magnetic detection elements MR1 and MR2 are arranged on one side (minus side in the x direction) when viewed from the opposing region 31a, and the magnetic detection elements MR3 and MR4 are arranged on the other side (positive side in the x direction) when viewed from the opposing region 31a. Therefore, the magnetic detection elements MR1 to MR4 form a differential bridge circuit, and it becomes possible to detect a change in the electric resistance of the magnetic detection elements MR1 to MR4 according to the magnetic flux density with high sensitivity.
  • the magnetic flux in the direction indicated by the arrow B in FIG. 1 (plus side in the y direction) is attracted mainly to the second side surface 42 of the magnetic body 40 and passes through the inside of the magnetic body 40 in the y direction.
  • the magnetic flux output from the first side surface 41 returns to the magnetic flux generation source after turning around both sides in the x direction.
  • a difference occurs between the resistance change amounts of the magnetic detection elements MR3 and MR4 located on the other side when viewed from the viewpoint. This difference is amplified twice by the differential bridge circuit shown in FIG. 4 and detected by the voltage detection circuit 52.
  • the voltage detection circuit 52 detects the magnetic flux density in the y direction. Can do.
  • the element formation surface 31 of the sensor chip 30 is perpendicular to the mounting surface 21 of the circuit board 20, even if the length of the magnetic body 40 in the y direction is increased, the magnetic body The fixing of 40 does not become unstable.
  • FIG. 5 is a schematic perspective view showing the configuration of the magnetic sensor 10A according to the first modification.
  • the magnetic sensor 10A shown in FIG. 5 is different from the magnetic sensor 10 shown in FIG. 1 in that it further includes an auxiliary magnetic body 60 mounted on the circuit board 20.
  • the auxiliary magnetic body 60 like the magnetic body 40, is a block made of a high permeability material such as ferrite, and has a U-shape so as to cover the xz plane and the yz plane other than the element formation surface 31 of the sensor chip 30. is doing. With this configuration, the magnetic flux input to the element formation surface 31 of the sensor chip 30 via the magnetic body 40 is easily bent in the x direction, so that the detection sensitivity of the magnetic detection elements MR1 to MR4 can be increased.
  • FIG. 6 is a schematic perspective view showing the configuration of the magnetic sensor 10B according to the second modification.
  • the magnetic sensor 10A shown in FIG. 5 differs from the magnetic sensor 10A shown in FIG. 5 in that the auxiliary magnetic body 60 is replaced with two auxiliary magnetic bodies 71 and 72.
  • the magnetic sensor 10B shown in FIG. The auxiliary magnetic bodies 71 and 72 are obtained by deleting from the auxiliary magnetic body 60 a portion covering the xz plane of the sensor chip 30 located on the opposite side of the element forming surface 31. In other words, one of the two yz surfaces of the sensor chip 30 is covered with the auxiliary magnetic body 71 and the other is covered with the auxiliary magnetic body 72.
  • the magnetic flux input to the element formation surface 31 of the sensor chip 30 is more easily bent in the x direction, so that the detection sensitivity of the magnetic detection elements MR1 to MR4 can be further increased.
  • the two yz surfaces of the sensor chip 30 are almost completely covered by the auxiliary magnetic bodies 60 or 71, 72, but a part of the yz surface. You can cover only. In this case, it is preferable to cover a portion closer to the element formation surface 31.
  • FIG. 7 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10C according to a third modification.
  • the width of the magnetic body 40 in the x direction gradually increases from the first side surface 41 toward the second side surface 42. Thereby, since the area of the 2nd side 42 becomes larger than the area of the 1st side 41, more magnetic flux of ay direction is collected. As a result, the detection sensitivity of the magnetic detection elements MR1 to MR4 can be increased.
  • the use of the magnetic body 40 having such a shape makes the support of the magnetic body 40 very unstable. Since the sensor chip 30 is mounted on the circuit board 20 in a laid state, such a problem does not occur. Rather, since the mounting area of the magnetic body 40 with respect to the circuit board 20 increases, the fixing of the magnetic body 40 becomes more stable.
  • the width of the magnetic body 40 in the x direction is enlarged in the entire region in the y direction, but from a first side 41 to a certain length in the y direction, The width in the direction may be constant, and the width in the x direction may be increased for the subsequent portions.
  • FIG. 8 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10D according to a fourth modification.
  • the magnetic sensor 10D shown in FIG. 8 is shown in FIG. 7 in that the height of the magnetic body 40 in the z direction gradually increases from the first side surface 41 toward the second side surface 42. Different from the magnetic sensor 10C. Even in such a shape, since the area of the second side surface 42 is larger than the area of the first side surface 41, more magnetic flux in the y direction is collected. Note that it is not necessary to increase both the width in the x direction and the height in the z direction of the magnetic body 40 in a tapered shape. For example, only the height in the z direction of the magnetic body 40 may be expanded in a tapered shape. .
  • FIG. 9 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10E according to a fifth modification.
  • the magnetic body 40 has a T shape in plan view (viewed from the z direction).
  • the magnetic body 40 has a shape in which the width in the x direction is increased at a time.
  • the magnetic body 40 may have a shape in which the width in the x direction gradually increases from the first side surface 41 toward the second side surface 42.
  • FIG. 10 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10F according to a sixth modification.
  • the magnetic sensor 10 differs from the magnetic sensor 10E shown in FIG. 9 in that the height of the portion constituting the second side surface 42 of the magnetic body 40 in the z direction is enlarged. According to such a shape, since the area of the second side surface 42 is further increased, more magnetic flux in the y direction is collected.
  • FIG. 11 is a schematic perspective view showing the configuration of a magnetic sensor 10G according to a seventh modification.
  • the magnetic body 40 has a Y shape in plan view (viewed from the z direction).
  • the magnetic body 40 has a shape bifurcated from the first side surface 41 toward the second side surface 42.
  • the area of the 2nd side 42 becomes twice the area of the 1st side 41, for example, more magnetic flux of ay direction is collected.
  • MR elements magnetoresistive elements
  • the type and number of magnetic detection elements are not particularly limited.

Abstract

【課題】素子形成面に対して垂直方向の長さが長い磁性体を用いる場合であっても、これを安定的に支持可能な磁気センサを提供する。 【解決手段】磁気検出素子MR1~MR4が形成された素子形成面31を有するセンサチップ30と、素子形成面31と対向する第1側面41を有する磁性体40と、センサチップ30及び磁性体40が搭載された搭載面21を有する回路基板20とを備える。センサチップ30及び磁性体40は、素子形成面31及び第1側面41が回路基板20の搭載面21に対して略直交するよう、回路基板20に搭載されている。本発明によれば、センサチップ30及び磁性体40を寝かせた状態で回路基板20に搭載していることから、磁性体40の長さが長い場合であっても、これを安定的に支持することが可能となる。

Description

磁気センサ
 本発明は磁気センサに関し、特に、センサチップに磁束を集めるための磁性体を備えた磁気センサに関する。
 磁気抵抗素子などを用いた磁気センサは、電流計や磁気エンコーダなどに広く用いられている。磁気センサには、センサチップに磁束を集めるための磁性体が設けられることがあり、この場合、磁性体はセンサチップの素子形成面に載置される(特許文献1参照)。
特開2009-276159号公報
 しかしながら、一般にセンサチップは小型であることから、センサチップ上に磁性体を載置することは容易でなく、センサチップと磁性体を確実に固定することは困難であった。特に、素子形成面に対して垂直方向の長さが長い磁性体を用いる場合は、センサチップ上における支持が非常に不安定となり、場合によっては磁性体が脱落したり、折れたりする可能性もあった。
 したがって、本発明は、素子形成面に対して垂直方向の長さが長い磁性体を用いる場合であっても、これを安定的に支持可能な磁気センサを提供することを目的とする。
 本発明による磁気センサは、磁気検出素子が形成された素子形成面を有するセンサチップと、前記素子形成面と対向する第1側面を有する磁性体と、前記センサチップ及び前記磁性体が搭載された搭載面を有する回路基板とを備え、前記センサチップ及び前記磁性体は、前記素子形成面及び前記第1側面が前記回路基板の前記搭載面に対して略直交するよう、前記回路基板に搭載されていることを特徴とする。
 本発明によれば、センサチップ及び磁性体を寝かせた状態で回路基板に搭載していることから、磁性体の長さが長い場合であっても、これを安定的に支持することが可能となる。
 本発明において、前記磁性体は、前記第1側面と略平行であり、且つ、前記第1側面とは反対側に位置する第2側面をさらに有し、前記第2側面の面積は、前記第1側面の面積よりも大きいことが好ましい。これによれば、より多くの磁束を集めることができることから、磁気センサの感度が高められる。この場合、前記搭載面に対して垂直方向における前記第2側面の長さは、前記搭載面に対して垂直方向における前記第1側面の長さよりも長くても構わない。
 本発明において、前記磁気検出素子は、第1乃至第4の磁気抵抗素子を含み、前記第1及び第2の磁気抵抗素子は、前記磁性体の前記第1側面から見て一方側に位置し、前記第3及び第4の磁気抵抗素子は、前記磁性体の前記第1側面から見て他方側に位置することが好ましい。これによれば、4つの磁気抵抗素子を用いたブリッジ回路を形成することにより、高感度な磁気検出を行うことが可能となる。
 この場合、本発明による磁気センサは、前記回路基板に搭載された補助磁性体をさらに備え、前記センサチップは、前記素子形成面に対して略直交し、前記磁性体の前記第1側面から見てそれぞれ前記一方側及び前記他方側に位置する第1及び第2の側面をさらに有し、前記補助磁性体は、前記第1及び第2の側面の少なくとも一部を覆うよう、前記回路基板に搭載されていることが好ましい。これによれば、素子形成面に入力した磁束が第1及び第2の側面方向に曲がることから、より高感度な磁気検出を行うことが可能となる。
 本発明によれば、素子形成面に対して垂直方向の長さが長い磁性体を用いる場合であっても、これを安定的に支持可能な磁気センサを提供することが可能となる。
図1は、本発明の好ましい実施形態による磁気センサ10の外観を示す略斜視図である。 図2は、磁気センサ10の分解斜視図である。 図3は、磁気センサ10の部分拡大図である。 図4は、端子電極E11~E14と磁気検出素子MR1~MR4との接続関係を説明するための回路図である。 図5は、第1の変形例による磁気センサ10Aの構成を示す略斜視図である。 図6は、第2の変形例による磁気センサ10Bの構成を示す略斜視図である。 図7は、第3の変形例による磁気センサ10Cの構成を示す略斜視図である。 図8は、第4の変形例による磁気センサ10Dの構成を示す略斜視図である。 図9は、第5の変形例による磁気センサ10Eの構成を示す略斜視図である。 図10は、第6の変形例による磁気センサ10Fの構成を示す略斜視図である。 図11は、第7の変形例による磁気センサ10Gの構成を示す略斜視図である。
 以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施形態について詳細に説明する。
 図1は、本発明の好ましい実施形態による磁気センサ10の外観を示す略斜視図である。また、図2は、磁気センサ10の分解斜視図である。
 図1及び図2に示すように、本発明による磁気センサ10は、回路基板20と、回路基板20の搭載面21に搭載されたセンサチップ30及び磁性体40によって構成される。
 回路基板20は、樹脂などの絶縁性基体に配線パターンが形成された基板であり、一般的なプリント基板やインターポーザ基板などを用いることができる。回路基板20の搭載面21はxy平面を構成し、この搭載面21にセンサチップ30及び磁性体40が搭載される。回路基板20の搭載面21には4つのランドパターンE21~E24が設けられており、これらランドパターンE21~E24には、後述する定電圧源及び電圧検出回路が接続される。定電圧源及び電圧検出回路は、回路基板20自体に設けられていても構わないし、回路基板20とは別の基板に設けられていても構わない。
 センサチップ30は略直方体形状を有しており、素子形成面31には4つの磁気検出素子MR1~MR4が形成されている。図1及び図2に示すように、素子形成面31はxz面を構成している。つまり、センサチップ30は、素子形成面31が回路基板20の搭載面21に対して略直交するよう、寝かせて搭載されている。
 センサチップ30は回路基板20に固定されているが、センサチップ30の底面(xy面)と回路基板20の搭載面21とが密着している必要はなく、両者間に接着剤が介在していても構わないし、拡大図である図3に示すように、部分的に設けられた接着剤Gによって互いに固定され、これにより、センサチップ30の底面(xy面)と回路基板20の搭載面21との間に僅かな隙間が存在していても構わない。
 磁気検出素子MR1~MR4は、磁束密度によって物理特性の変化する素子であれば特に限定されないが、本実施形態においては、磁界の向きに応じて電気抵抗が変化する磁気抵抗素子(MR素子)が用いられる。磁気検出素子MR1~MR4の磁化固定方向は、図2の矢印Aが示す方向(x方向におけるプラス側)に全て揃えられている。センサチップ30は、集合基板を用いて多数同時に作製され、これをダイシングすることによって多数個取りされる。したがって、本実施形態においては、ダイシングしたセンサチップ30が90°横に寝かせた状態で回路基板20に搭載されることになる。
 さらに、センサチップ30の素子形成面31には、4つの端子電極E11~E14が設けられている。これら端子電極E11~E14は、ハンダSを介してそれぞれランドパターンE21~E24に接続されている。端子電極E11~E14と磁気検出素子MR1~MR4との接続関係については後述する。
 磁性体40は、フェライトなどの高透磁率材料からなるブロックであり、本実施形態では略直方体形状である。磁性体40のxz面は、センサチップ30の素子形成面31と対向する第1側面41を構成する。第1側面41の面積は、センサチップ30の素子形成面31の面積よりも小さく、磁気検出素子MR1,MR2と磁気検出素子MR3,MR4との間に位置する対向領域31aと向き合うよう、回路基板20に搭載される。磁性体40の第1側面41とセンサチップ30の対向領域31aは、互いに密着していても構わないし、両者間に僅かな隙間が存在しても構わない。但し、本実施形態においては、センサチップ30と磁性体40がいずれも回路基板20の搭載面21に載置されていることから、センサチップ30と磁性体40を接着剤などによって固定する必要はない。
 磁性体40は回路基板20に固定されているが、磁性体40の底面(xy面)と回路基板20の搭載面21が密着している必要はなく、両者間に接着剤が介在していても構わないし、拡大図である図3に示すように、部分的に設けられた接着剤Gによって固定され、これにより、磁性体40の底面(xy面)と回路基板20の搭載面21との間に僅かな隙間が存在していても構わない。
 磁性体40のy方向における長さについては特に限定されないが、y方向における長さをより長くすることによって、y方向の磁束の選択性を高めることができる。そして、本実施形態においては、y方向が回路基板20の搭載面21と平行であることから、磁性体40のy方向における長さを長くしても、磁性体40の支持が不安定となることはない。
 図4は、端子電極E11~E14と磁気検出素子MR1~MR4との接続関係を説明するための回路図である。
 図4に示すように、磁気検出素子MR1は端子電極E11,E13間に接続され、磁気検出素子MR2は端子電極E12,E14間に接続され、磁気検出素子MR3は端子電極E12,E13間に接続され、磁気検出素子MR4は端子電極E11,E14間に接続されている。そして、端子電極E11,E12間には、定電圧源51によって所定の電圧が印加される。また、端子電極E13,E14間には電圧検出回路52が接続され、これによって端子電極E13,E14間に現れる出力電圧のレベルが検出される。
 そして、磁気検出素子MR1,MR2は対向領域31aからみて一方側(x方向におけるマイナス側)に配置され、磁気検出素子MR3,MR4は対向領域31aからみて他方側(x方向におけるプラス側)に配置されていることから、磁気検出素子MR1~MR4は差動ブリッジ回路を構成し、磁束密度に応じた磁気検出素子MR1~MR4の電気抵抗の変化を高感度に検出することが可能となる。
 具体的には、図1の矢印Bが示す方向(y方向におけるプラス側)の磁束は、磁性体40の主に第2側面42に吸い寄せられ、磁性体40の内部をy方向に通過した後、主に第1側面41から出力される。第1側面41から出力された磁束は、x方向の両側を回って磁束の発生源に戻る。この時、磁気検出素子MR1~MR4は、全て同一の磁化固定方向を有していることから、対向領域31aからみて一方側に位置する磁気検出素子MR1,MR2の抵抗変化量と、対向領域31aからみて他方側に位置する磁気検出素子MR3,MR4の抵抗変化量との間には差が生じる。この差は、図4に示した差動ブリッジ回路によって2倍に増幅され、電圧検出回路52によって検出される。
 このように、本実施形態による磁気センサ10は、センサチップ30の素子形成面31に対向するよう磁性体40が配置されていることから、y方向の磁束密度を電圧検出回路52によって検出することができる。そして、本実施形態においては、センサチップ30の素子形成面31が回路基板20の搭載面21に対して垂直であることから、磁性体40のy方向における長さを長くしても、磁性体40の固定が不安定となることはない。
 以下、本実施形態による磁気センサ10の変形例について説明する。
 図5は、第1の変形例による磁気センサ10Aの構成を示す略斜視図である。
 図5に示す磁気センサ10Aは、回路基板20に搭載された補助磁性体60をさらに備える点において、図1に示した磁気センサ10と相違する。補助磁性体60は、磁性体40と同様、フェライトなどの高透磁率材料からなるブロックであり、センサチップ30の素子形成面31以外のxz面及びyz面を覆うよう、コの字型を有している。かかる構成により、磁性体40を介してセンサチップ30の素子形成面31に入力された磁束は、x方向に曲がりやすくなるため、磁気検出素子MR1~MR4による検出感度を高めることができる。
 図6は、第2の変形例による磁気センサ10Bの構成を示す略斜視図である。
 図6に示す磁気センサ10Bは、補助磁性体60が2つの補助磁性体71,72に置き換えられている点において、図5に示した磁気センサ10Aと相違する。補助磁性体71,72は、素子形成面31の反対側に位置するセンサチップ30のxz面を覆う部分を補助磁性体60から削除したものである。つまり、センサチップ30の2つのyz面のうち、一方を補助磁性体71が覆い、他方を補助磁性体72が覆う構成である。これにより、センサチップ30の素子形成面31に入力された磁束は、よりx方向に曲がりやすくなるため、磁気検出素子MR1~MR4による検出感度をより高めることができる。
 尚、第1及び第2の変形例による磁気センサ10A,10Bでは、センサチップ30の2つのyz面が補助磁性体60又は71,72によってほぼ完全に覆われているが、yz面の一部のみを覆っても構わない。この場合、素子形成面31により近い部分を覆うことが好ましい。
 図7は、第3の変形例による磁気センサ10Cの構成を示す略斜視図である。
 図7に示す磁気センサ10Cは、磁性体40の形状が相違する点において、図1に示した磁気センサ10と相違する。図7に示す磁気センサ10Cにおいては、磁性体40のx方向における幅が第1側面41から第2側面42に向かって徐々に拡大するテーパー形状を有している。これにより、第2側面42の面積が第1側面41の面積よりも大きくなることから、y方向の磁束がより多く集められる。その結果、磁気検出素子MR1~MR4による検出感度を高めることができる。
 しかも、素子形成面31が回路基板20の搭載面21と平行である場合、このような形状を有する磁性体40を用いると磁性体40の支持が非常に不安定となるが、本実施形態においてはセンサチップ30を寝かせた状態で回路基板20に搭載していることから、このような問題が生じることはない。むしろ、回路基板20に対する磁性体40の載置面積が増大することから、磁性体40の固定がより安定する。尚、図7に示す磁気センサ10Cにおいては、磁性体40のx方向における幅がy方向における全領域において拡大しているが、第1側面41からy方向におけるある長さまでは磁性体40のx方向における幅を一定とし、それ以降の部分についてx方向における幅が拡大する形状としても構わない。
 図8は、第4の変形例による磁気センサ10Dの構成を示す略斜視図である。
 図8に示す磁気センサ10Dは、磁性体40のz方向における高さが第1側面41から第2側面42に向かって徐々に拡大するテーパー形状を有している点において、図7に示した磁気センサ10Cと相違する。このような形状であっても、第2側面42の面積が第1側面41の面積よりも大きくなることから、y方向の磁束がより多く集められる。尚、磁性体40のx方向における幅とz方向における高さの両方をテーパー状に拡大する必要はなく、例えば、磁性体40のz方向における高さのみをテーパー状に拡大しても構わない。
 図9は、第5の変形例による磁気センサ10Eの構成を示す略斜視図である。
 図9に示す磁気センサ10Eは、磁性体40の形状が相違する点において、図1に示した磁気センサ10と相違する。図9に示す磁気センサ10Eにおいては、磁性体40が平面視で(z方向から見て)T字型を有している。言い換えれば、磁性体40のx方向における幅が一度に拡大する形状を有している。これにより、第2側面42の面積が第1側面41の面積よりも大きくなることから、y方向の磁束がより多く集められる。このように、磁性体40のx方向における幅を拡大する場合、テーパー状に拡大することは必須でなく、一度に拡大する形状であっても構わない。或いは、磁性体40のx方向における幅が第1側面41から第2側面42に向かって段階的に拡大する形状としても構わない。
 図10は、第6の変形例による磁気センサ10Fの構成を示す略斜視図である。
 図10に示す磁気センサ10Fは、磁性体40の第2側面42を構成する部分のz方向における高さが拡大されている点において、図9に示した磁気センサ10Eと相違する。このような形状によれば、第2側面42の面積がよりいっそう大きくなることから、y方向の磁束がより多く集められる。
 図11は、第7の変形例による磁気センサ10Gの構成を示す略斜視図である。
 図11に示す磁気センサ10Gは、磁性体40の形状が相違する点において、図1に示した磁気センサ10と相違する。図11に示す磁気センサ10Gにおいては、磁性体40が平面視で(z方向から見て)Y字型を有している。言い換えれば、第1側面41から第2側面42に向かって磁性体40が2分岐する形状を有している。これにより、第2側面42の面積が第1側面41の面積の例えば2倍となることから、y方向の磁束がより多く集められる。このように、第2側面42が複数あっても構わない。
 以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
 例えば、上記の実施形態では、磁気検出素子として4つの磁気抵抗素子(MR素子)を用いているが、磁気検出素子の種類や数については特に限定されない。
10,10A~10G  磁気センサ
20   回路基板
21   搭載面
30   センサチップ
31   素子形成面
31a  対向領域
40   磁性体
41   第1側面
42   第2側面
51   定電圧源
52   電圧検出回路
60,71,72  補助磁性体
E11~E14  端子電極
E21~E24  ランドパターン
G    接着剤
MR1~MR4  磁気検出素子
S    ハンダ

Claims (5)

  1.  磁気検出素子が形成された素子形成面を有するセンサチップと、
     前記素子形成面と対向する第1側面を有する磁性体と、
     前記センサチップ及び前記磁性体が搭載された搭載面を有する回路基板と、を備え、
     前記センサチップ及び前記磁性体は、前記素子形成面及び前記第1側面が前記回路基板の前記搭載面に対して略直交するよう、前記回路基板に搭載されていることを特徴とする磁気センサ。
  2.  前記磁性体は、前記第1側面と略平行であり、且つ、前記第1側面とは反対側に位置する第2側面をさらに有し、
     前記第2側面の面積は、前記第1側面の面積よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ。
  3.  前記搭載面に対して垂直方向における前記第2側面の長さは、前記搭載面に対して垂直方向における前記第1側面の長さよりも長いことを特徴とする請求項2に記載の磁気センサ。
  4.  前記磁気検出素子は、第1乃至第4の磁気抵抗素子を含み、
     前記第1及び第2の磁気抵抗素子は、前記磁性体の前記第1側面から見て一方側に位置し、
     前記第3及び第4の磁気抵抗素子は、前記磁性体の前記第1側面から見て他方側に位置することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の磁気センサ。
  5.  前記回路基板に搭載された補助磁性体をさらに備え、
     前記センサチップは、前記素子形成面に対して略直交し、前記磁性体の前記第1側面から見てそれぞれ前記一方側及び前記他方側に位置する第1及び第2の側面をさらに有し、
     前記補助磁性体は、前記第1及び第2の側面の少なくとも一部を覆うよう、前記回路基板に搭載されていることを特徴とする請求項4に記載の磁気センサ。
PCT/JP2016/081105 2015-11-09 2016-10-20 磁気センサ WO2017082011A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/770,196 US10788544B2 (en) 2015-11-09 2016-10-20 Magnetic sensor
CN201680065465.2A CN108351389B (zh) 2015-11-09 2016-10-20 磁传感器
EP16863975.5A EP3376244B1 (en) 2015-11-09 2016-10-20 Magnetic sensor

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015219451A JP6610178B2 (ja) 2015-11-09 2015-11-09 磁気センサ
JP2015-219451 2015-11-09

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017082011A1 true WO2017082011A1 (ja) 2017-05-18

Family

ID=58695032

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2016/081105 WO2017082011A1 (ja) 2015-11-09 2016-10-20 磁気センサ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10788544B2 (ja)
EP (1) EP3376244B1 (ja)
JP (1) JP6610178B2 (ja)
CN (1) CN108351389B (ja)
WO (1) WO2017082011A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018212131A1 (ja) * 2017-05-16 2018-11-22 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2020003280A (ja) * 2018-06-27 2020-01-09 Tdk株式会社 磁気センサ
CN110709720A (zh) * 2017-05-23 2020-01-17 Tdk株式会社 磁传感器
WO2020137861A1 (ja) * 2018-12-26 2020-07-02 Tdk株式会社 磁気センサ

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7119351B2 (ja) * 2017-11-24 2022-08-17 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7095350B2 (ja) * 2018-03-27 2022-07-05 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7115242B2 (ja) * 2018-06-07 2022-08-09 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7455511B2 (ja) 2019-02-25 2024-03-26 Tdk株式会社 磁気センサ及びその製造方法
CN109855658A (zh) * 2019-05-06 2019-06-07 微传智能科技(常州)有限公司 电机、编码器、磁角度传感器及其制备方法
JP2022030805A (ja) 2020-08-07 2022-02-18 Tdk株式会社 磁気センサ及びその製造方法
JP2022030806A (ja) 2020-08-07 2022-02-18 Tdk株式会社 磁気センサ及びその製造方法
JP2022134986A (ja) 2021-03-04 2022-09-15 Tdk株式会社 検出装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05212152A (ja) * 1992-02-10 1993-08-24 Sensatetsuku Kk パチンコ台用磁気検出器
JPH1054837A (ja) * 1996-08-12 1998-02-24 Sony Corp 磁気抵抗素子センサ
JP2006258741A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Denso Corp 回転角度検出装置
JP2009047444A (ja) * 2007-08-14 2009-03-05 Shinka Jitsugyo Kk 磁気センサ及びその製造方法
JP2009276159A (ja) * 2008-05-14 2009-11-26 Sae Magnetics (Hk) Ltd 磁気センサ
JP2011128028A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Sensatec Co Ltd 磁気検出器
JP2013195381A (ja) * 2012-03-22 2013-09-30 Stanley Electric Co Ltd 電流検出装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1126818A (en) * 1978-03-27 1982-06-29 Hiroyuki Ohkubo Apparatus for sensing an external magnetic field
JP2004037105A (ja) * 2002-06-28 2004-02-05 Akashi Corp 物理量検出器及び物理量検出器の製造方法
US7095226B2 (en) * 2003-12-04 2006-08-22 Honeywell International, Inc. Vertical die chip-on-board
JP4453485B2 (ja) * 2004-08-19 2010-04-21 株式会社デンソー 磁石装置
US7536909B2 (en) * 2006-01-20 2009-05-26 Memsic, Inc. Three-dimensional multi-chips and tri-axial sensors and methods of manufacturing the same
WO2008099822A1 (ja) * 2007-02-14 2008-08-21 Alps Electric Co., Ltd. センサチップ、検出装置および検出装置の製造方法
US20100188078A1 (en) * 2009-01-28 2010-07-29 Andrea Foletto Magnetic sensor with concentrator for increased sensing range
KR101131997B1 (ko) * 2009-08-14 2012-03-30 주식회사 오토산업 전류 센서 및 그 전류 센서용 홀 센서
US8400139B2 (en) * 2010-03-26 2013-03-19 Infineon Technologies Ag Sensor package having a sensor chip
DE102011107703B4 (de) * 2011-07-13 2015-11-26 Micronas Gmbh Integrierter Stromsensor
JP6210061B2 (ja) * 2012-04-23 2017-10-11 日立金属株式会社 磁気センサデバイス
JP6373642B2 (ja) * 2013-08-05 2018-08-15 ローム株式会社 半導体装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05212152A (ja) * 1992-02-10 1993-08-24 Sensatetsuku Kk パチンコ台用磁気検出器
JPH1054837A (ja) * 1996-08-12 1998-02-24 Sony Corp 磁気抵抗素子センサ
JP2006258741A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Denso Corp 回転角度検出装置
JP2009047444A (ja) * 2007-08-14 2009-03-05 Shinka Jitsugyo Kk 磁気センサ及びその製造方法
JP2009276159A (ja) * 2008-05-14 2009-11-26 Sae Magnetics (Hk) Ltd 磁気センサ
JP2011128028A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Sensatec Co Ltd 磁気検出器
JP2013195381A (ja) * 2012-03-22 2013-09-30 Stanley Electric Co Ltd 電流検出装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018212131A1 (ja) * 2017-05-16 2018-11-22 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2018194393A (ja) * 2017-05-16 2018-12-06 Tdk株式会社 磁気センサ
CN110709720A (zh) * 2017-05-23 2020-01-17 Tdk株式会社 磁传感器
EP3633399A4 (en) * 2017-05-23 2021-03-03 TDK Corporation MAGNETIC SENSOR
CN110709720B (zh) * 2017-05-23 2021-10-29 Tdk株式会社 磁传感器
US11567148B2 (en) 2017-05-23 2023-01-31 Tdk Corporation Magnetic sensor
JP2020003280A (ja) * 2018-06-27 2020-01-09 Tdk株式会社 磁気センサ
JP7172178B2 (ja) 2018-06-27 2022-11-16 Tdk株式会社 磁気センサ
WO2020137861A1 (ja) * 2018-12-26 2020-07-02 Tdk株式会社 磁気センサ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017090192A (ja) 2017-05-25
US20180313907A1 (en) 2018-11-01
CN108351389A (zh) 2018-07-31
US10788544B2 (en) 2020-09-29
CN108351389B (zh) 2020-08-04
JP6610178B2 (ja) 2019-11-27
EP3376244B1 (en) 2021-01-06
EP3376244A1 (en) 2018-09-19
EP3376244A4 (en) 2019-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6610178B2 (ja) 磁気センサ
US11927648B2 (en) Magnetic sensor
JP6822127B2 (ja) 磁気センサ
JP6819361B2 (ja) 磁気センサ
CN104204835A (zh) 磁性传感器装置
US11567148B2 (en) Magnetic sensor
JP6941972B2 (ja) 磁気センサ
JP7095350B2 (ja) 磁気センサ
ITTO20111072A1 (it) Sensore di campo magnetico includente un sensore magnetico magnetoresistivo anisotropo ed un sensore magnetico hall
JP6927044B2 (ja) 磁気センサ
JP7192227B2 (ja) 磁気センサ
JP7077679B2 (ja) 磁気センサ
WO2018198627A1 (ja) 磁界センサ
JP2019219293A (ja) 磁気センサ
JP7119351B2 (ja) 磁気センサ
JP7070020B2 (ja) 磁路形成部材及びこれを用いた磁気センサ
JP2022143682A (ja) 磁気センサ
JP2019163934A (ja) 磁気センサ
JP2004264032A (ja) ショックセンサ

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16863975

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15770196

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2016863975

Country of ref document: EP