WO2016140021A1 - セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲット - Google Patents

セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲット Download PDF

Info

Publication number
WO2016140021A1
WO2016140021A1 PCT/JP2016/053743 JP2016053743W WO2016140021A1 WO 2016140021 A1 WO2016140021 A1 WO 2016140021A1 JP 2016053743 W JP2016053743 W JP 2016053743W WO 2016140021 A1 WO2016140021 A1 WO 2016140021A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
target material
cylindrical target
cylindrical
peripheral surface
inner peripheral
Prior art date
Application number
PCT/JP2016/053743
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
石田 新太郎
Original Assignee
三井金属鉱業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 三井金属鉱業株式会社 filed Critical 三井金属鉱業株式会社
Priority to CN201680005087.9A priority Critical patent/CN107109637A/zh
Priority to KR1020177022360A priority patent/KR20170122732A/ko
Priority to JP2017503389A priority patent/JPWO2016140021A1/ja
Publication of WO2016140021A1 publication Critical patent/WO2016140021A1/ja

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B37/00Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating
    • C04B37/02Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating with metallic articles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/01Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B37/00Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating
    • C04B37/02Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating with metallic articles
    • C04B37/023Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating with metallic articles characterised by the interlayer used
    • C04B37/026Joining burned ceramic articles with other burned ceramic articles or other articles by heating with metallic articles characterised by the interlayer used consisting of metals or metal salts
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3217Aluminum oxide or oxide forming salts thereof, e.g. bauxite, alpha-alumina
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3284Zinc oxides, zincates, cadmium oxides, cadmiates, mercury oxides, mercurates or oxide forming salts thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3286Gallium oxides, gallates, indium oxides, indates, thallium oxides, thallates or oxide forming salts thereof, e.g. zinc gallate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3293Tin oxides, stannates or oxide forming salts thereof, e.g. indium tin oxide [ITO]

Definitions

  • the disclosed embodiment relates to a ceramic cylindrical target material and a cylindrical sputtering target.
  • a magnetron type rotary cathode sputtering apparatus that has a magnetic field generator inside a cylindrical target material, and performs sputtering while rotating the target material while cooling the target material from the inside.
  • the entire outer peripheral surface of the target material becomes erosion and is uniformly cut.
  • the use efficiency is 20 to 30% in the conventional flat plate type magnetron sputtering apparatus, while the remarkably high use efficiency of 70% or more is obtained in the magnetron type rotary cathode sputtering apparatus.
  • the magnetron type rotary cathode sputtering apparatus by performing sputtering while rotating the target material, a large power can be input per unit area as compared with the flat plate type magnetron sputtering apparatus, so that a high deposition rate can be obtained.
  • a rotating cathode sputtering method a method using a metal target material that is easy to be processed into a cylindrical shape and has high mechanical strength is widely used.
  • a ceramic target material has a characteristic that its mechanical strength is low and brittle compared to a metal target material.
  • the target material is caused by the difference in thermal expansion between the cylindrical target material and the backing tube. Cracks are likely to occur. For this reason, measures for overcoming these problems have been studied for ceramic cylindrical target materials.
  • Patent Document 1 discloses a technique for suppressing cracking during bonding in a cylindrical sputtering target in which a ceramic cylindrical target material having a relative density of 95% or more is bonded to a cylindrical substrate using a low melting point solder. Yes. However, no consideration is given to countermeasures against cracking of the target material during sputtering.
  • Patent Document 2 discloses a technique for suppressing cracks occurring at the initial stage of sputtering by controlling the grinding angle and the surface roughness of the outer peripheral surface of a ceramic cylindrical target material.
  • the surface roughness of the outer peripheral surface is caused by cracking of the target material in a very short period immediately after the start of sputtering, and this technique cannot suppress cracking of the target material during sputtering, particularly at the end of sputtering.
  • Patent Literature 3 in a cylindrical sputtering target in which a ceramic cylindrical target material and a cylindrical base material are bonded with a bonding material, the area of the portion where the bonding material does not exist is reduced to reduce cracking of the target material during sputtering.
  • a technique for reducing chipping, abnormal discharge, and nodules is disclosed.
  • the technical content of this document is insufficient to suppress cracking of the ceramic cylindrical target material.
  • the above-described conventional technology still does not provide a ceramic cylindrical target material and a cylindrical sputtering target that are sufficiently resistant to cracking, and there is room for further improvement.
  • an object of the present invention is to provide a ceramic cylindrical target material and a cylindrical sputtering target that can further suppress the occurrence of cracking up to the life end.
  • the surface roughness Ra of the inner peripheral surface is 1.2 ⁇ m or less.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an outline of the configuration of a ceramic cylindrical target material and a cylindrical sputtering target.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line A-A ′ of FIG.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing an outline of the configuration of a cylindrical sputtering target
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line A-A ′ of FIG.
  • FIGS. 1 and 2 illustrate a three-dimensional orthogonal coordinate system including a Z-axis in which a vertical upward direction is a positive direction and a vertical downward direction is a negative direction.
  • a cylindrical sputtering target (hereinafter referred to as “cylindrical target”) 1 includes a ceramic cylindrical target material (hereinafter referred to as “cylindrical target material”) 2 and a backing tube. 3. The cylindrical target material 2 and the backing tube 3 are joined by a joining material 4.
  • the cylindrical target material 2 is composed of ceramics formed in a cylindrical shape having an outer peripheral surface 2a and an inner peripheral surface 2b having concentric cross sections and end surfaces 2c1 and 2c2 that define both ends in the length direction.
  • the ceramic constituting the cylindrical target material 2 include oxides containing at least one of In, Zn, Al, Ga, Zr, Ti, Sn, Mg, and Si.
  • Sn In 2 O 3 —SnO 2
  • Sn content 1 to 10% by mass in terms of SnO 2
  • Ga IGZO In 2 O 3 —Ga 2 O 3 —ZnO
  • Zn Al content of Al content of from 0.1 to 5% by weight of AZO (Al 2 O 3 -ZnO)
  • Zn is exemplified such as 1-15% by weight of IZO (in 2 O 3 -ZnO) in terms of ZnO at 2 O 3 in terms of Can be, but is not limited to.
  • the end faces 2c1 and 2c2 are collectively referred to as both end faces 2c.
  • the backing tube 3 is a cylindrical member formed so as to be able to be inserted into the hollow portion of the cylindrical target material 2, and is also referred to as a base material in the cylindrical target 1.
  • a conventionally used material can be appropriately selected and used.
  • stainless steel, titanium, titanium alloy, or the like can be applied as the backing tube 3, but is not limited thereto.
  • the bonding material 4 bonds the inner peripheral surface 2b of the cylindrical target material 2 and the outer peripheral surface 3a of the backing tube 3.
  • a conventionally used one can be appropriately selected and used.
  • indium, indium-tin alloy, or the like can be applied as the bonding material 4, but is not limited thereto.
  • the flat plate type target material used in the conventional flat plate type magnetron sputtering apparatus has low use efficiency, and the target material remaining after use is about half the thickness of the target material before use.
  • the risk of cracking due to the decline was low. Therefore, flat target materials are rarely considered for cracking during sputtering, and in particular, the surface shape of the joint surface with the base material, also referred to as a backing plate, has not been considered. Similarly, the surface shape on the inner peripheral surface 2b side has not been considered at all in the cylindrical target so far.
  • the outer peripheral surface 2a of the cylindrical target material 2 becomes a sputter surface, and the cylindrical target material 2 is sequentially consumed from the outer peripheral surface 2a side by sputtering. Is done.
  • the cylindrical target material 2 used in the cylindrical target 1 has a higher usage efficiency than the above-described flat target material, and the thickness of the cylindrical target material 2 generally increases from the outer peripheral surface 2a side as it is used. getting thin.
  • the inner peripheral surface 2b of the cylindrical target material 2 is not consumed even if sputtering is continued, and remains until the end.
  • the cylindrical target material 2 at the end of sputtering is easier to crack than the cylindrical target material 2 before sputtering.
  • the cylindrical target material 2 at the end of sputtering which is thinned during sputtering, in particular. It was revealed that the mechanical strength of can be maintained to such an extent that cracking can be suppressed. Below, the cylindrical target material 2 which concerns on embodiment is further demonstrated.
  • the surface roughness Ra of the inner peripheral surface 2b is 1.2 ⁇ m or less, preferably 1.0 ⁇ m or less, more preferably 0.8 ⁇ m or less, and still more preferably. 0.5 ⁇ m or less.
  • the surface roughness Ra of the inner peripheral surface 2b exceeds 1.2 ⁇ m, for example, cracking is likely to occur when the cylindrical target material 2 is thinned by performing sputtering over a long period of time such as a usage rate of 80% or more.
  • the lower the surface roughness Ra of the inner peripheral surface 2b the better.
  • the surface roughness Ra of the inner peripheral surface 2b is preferably 0.05 ⁇ m or more, more preferably 0.1 ⁇ m or more, further preferably 0.15 ⁇ m or more, and particularly preferably 0.2 ⁇ m or more.
  • the surface roughness Ra is a value corresponding to the “arithmetic average roughness Ra” of JIS B0601: 2013.
  • the surface roughness Ra can be controlled by changing the count and processing speed of a grindstone that is commonly used for surface processing of the inner peripheral surface 2b.
  • the surface roughness Ra of the outer peripheral surface 2a of the cylindrical target material 2 is preferably 1.5 ⁇ m or less, more preferably 1.0 ⁇ m or less, and further preferably 0.5 ⁇ m or less. If the surface roughness Ra of the outer peripheral surface 2a exceeds 1.5 ⁇ m, it may affect the generation of nodules at the initial stage of sputtering and cracking during joining to the backing tube 3. However, since the outer peripheral surface 2a of the cylindrical target material 2 is sequentially consumed by sputtering as described above, the influence on the crack of the cylindrical target material 2 is negligible except in the initial stage of use. Further, the minimum value of the surface roughness Ra of the outer peripheral surface 2a is not particularly defined, but is preferably 0.05 ⁇ m or more in view of the efficiency of the processing work.
  • the surface roughness Ra of both end faces 2c of the cylindrical target material 2 is preferably 1.4 ⁇ m or less, more preferably 1.2 ⁇ m, and further preferably 1.0 ⁇ m or less.
  • the surface roughness Ra of both end faces 2c of the cylindrical target material 2 is 1.4 ⁇ m or less, cracking of the cylindrical target material 2 due to, for example, thermal expansion during sputtering can be prevented or suppressed. Further, particles and arcing generated during sputtering are reduced, and a good film quality can be obtained.
  • the minimum value of the surface roughness Ra of the both end faces 2c of the cylindrical target material 2 is not particularly defined, but is preferably 0.05 ⁇ m or more in view of the efficiency of the processing work.
  • the relative density of the cylindrical target material 2 is preferably 95% or more, more preferably 98% or more, and further preferably 99% or more.
  • the relative density of the cylindrical target material 2 is 95% or more, cracking of the cylindrical target material 2 due to, for example, thermal expansion during sputtering can be prevented or suppressed. Further, particles and arcing generated during sputtering are reduced, and a good film quality can be obtained.
  • a method for measuring the relative density of the cylindrical target material 2 will be described below.
  • C 1 to C i each indicate the content (% by mass) of the constituent material constituting the cylindrical target material 2
  • ⁇ 1 to ⁇ i are the components corresponding to C 1 to C i.
  • the density (g / cm 3 ) of the substance is indicated.
  • the cylindrical target material 2 preferably has an inner / outer diameter eccentricity of 0.2 mm or less, more preferably 0.1 mm or less, and even more preferably 0.05 mm or less.
  • eccentricity exceeds 0.2 mm, the tendency that the radial force is not uniformly applied to the cylindrical target material 2 due to the thermal expansion of the backing tube 3 as described above becomes strong, and the surface roughness of the inner peripheral surface 2b. Even if Ra is sufficiently small, cracks are likely to occur. Furthermore, the thickness of the cylindrical target material 2 remaining due to consumption by sputtering may be uneven, and the usage efficiency of the cylindrical target material 2 may be reduced.
  • eccentricity of the inner and outer diameters refers to a deviation width between the center point of the outer diameter of the cylindrical target material 2 and the center point of the inner diameter.
  • the joining ratio between the cylindrical target material 2 and the joining material 4 is preferably 98% or more, more preferably 98.5% or more, and further preferably 99%. It is above, Especially preferably, it is 99.5% or more.
  • the joining rate refers to the ratio of the area where the bonding material 4 is bonded to the inner peripheral surface 2 b of the cylindrical target material 2 to the area of the inner peripheral surface 2 b of the cylindrical target material 2. .
  • This bonding rate can be obtained by measuring the area with image analysis software from an image obtained by ultrasonic flaw detection or X-ray inspection. From the viewpoint of measurement accuracy and ease, ultrasonic flaw detection is preferred.
  • the X-ray inspection the bent film is inserted into the inside of the backing tube 3 and inspected. Therefore, it is detected that the area cannot be accurately measured, and peeling between the cylindrical target material 2 and the bonding material 4 is detected. There are problems such as being hard to be done.
  • cylindrical target 1 demonstrated the example in which the one cylindrical target material 2 was joined to the outer side of the one backing tube 3, it is not limited to this.
  • a cylindrical target 1 may be used in which two or more cylindrical target materials 2 are arranged on the same axis and joined to the outside of one or two or more backing tubes 3.
  • the cylindrical target material 2 comprises a granulation step of granulating a slurry containing ceramic raw material powder and an organic additive to produce a granule, and a molding step of shaping the granule to produce a cylindrical shaped body And a firing step of firing the molded body to produce a fired body.
  • the manufacturing method of a sintered body is not limited to the above-mentioned thing, What kind of method may be sufficient.
  • the fired body obtained in the firing process described above is manufactured to be longer and thicker than the dimensions designed in advance as the cylindrical target material 2. Then, the length of the fired body is processed, for example, by cutting or cutting, and the outer diameter and the inner diameter are processed by grinding, for example, so as to have designed dimensions.
  • traverse grinding is a method of grinding while moving a grindstone in a direction parallel to the cylindrical axis of the fired body.
  • plunge grinding is a technique in which grinding is performed by giving only the movement in the cutting direction without moving the grindstone back and forth.
  • a horizontal-axis cylindrical grinding machine that processes while rotating the cylindrical axis of the fired body horizontally
  • a vertical axis cylindrical grinding that processes while rotating the cylinder axis of the fired body upright.
  • boards There are two types of boards, either of which can be used.
  • a vertical cylindrical grinder When machining the inner peripheral surface 2b side, it is preferable to use a vertical cylindrical grinder because it is less susceptible to the influence of gravity and the surface roughness Ra and machining accuracy are improved.
  • a horizontal axis cylindrical grinder may be used for processing on the inner peripheral surface 2b side, or a grinding device other than the cylindrical grinder may be used.
  • the end face processing step is a step of manufacturing the cylindrical target material 2 having a predetermined length by processing the end face.
  • the processing of the end surface may be, for example, by cutting, cutting, or grinding. Further, cutting or cutting and grinding may be combined, and the processing method is not limited.
  • the cylindrical target material 2 and the cylindrical target 1 according to the embodiment can further suppress the occurrence of cracks during sputtering.
  • Example 1 10 mass% of SnO 2 powder having a specific surface area (BET specific surface area) of 5 m 2 / g measured by BET (Brunauer-Emmett-Teller) method, and 90 mass of In 2 O 3 powder having a BET specific surface area of 5 m 2 / g %, And ball mill mixing with zirconia balls in a pot to prepare a raw material powder.
  • BET specific surface area 5 m 2 / g measured by BET (Brunauer-Emmett-Teller) method
  • 90 mass of In 2 O 3 powder having a BET specific surface area of 5 m 2 / g %
  • This granule was filled while being tapped into a cylindrical urethane rubber mold having an inner diameter of 220 mm (thickness 10 mm) having a cylindrical core (mandrel) having an outer diameter of 157 mm and a length of 450 mm, and after sealing the rubber mold, CIP (Cold Isostatic Pressing) molding was performed at a pressure of 800 kgf / cm 2 to produce a cylindrical molded body.
  • CIP Cold Isostatic Pressing
  • the molded body was heated at 600 ° C. for 10 hours to remove organic components.
  • the heating rate was 50 ° C./h.
  • the heated molded body was fired to produce a fired body. Firing was performed in an oxygen atmosphere under conditions of a firing temperature of 1550 ° C., a firing time of 12 hours, and a heating rate of 300 ° C./h. Further, the temperature lowering rate was 50 ° C./h from 1550 ° C. to 800 ° C. and 30 ° C./h after 800 ° C.
  • the relative density of the obtained fired body was 99.8%.
  • the fired body obtained was ground using a horizontal cylindrical grinder.
  • the inner diameter of the fired body is 134. 3 by plunge grinding using a # 170 grindstone.
  • the inner peripheral surface 2b side was processed until it became 8 mm.
  • the inner peripheral surface 2b side of the fired body was processed by traverse grinding.
  • the grindstone is a vitrified binder with an abrasive grain size of # 600, the grinding stone cutting amount per pass is 0.003 mm, the moving speed of the grindstone in the cylindrical axis direction is 300 mm / min, and the fired body. Grinding was performed at a rotation speed of 70 rpm.
  • the traverse grinding described above was repeated one pass at a time until the inner diameter of the fired body reached 135 mm, and then a spark out for moving the grindstone in the direction of the cylindrical axis with a cut depth of 0 was performed (ie, one reciprocation).
  • the outer peripheral surface 2a side of the fired body was processed.
  • the grindstone used was a vitrified binder with an abrasive grain size of # 600.
  • a moving speed of the grindstone in the cylindrical axis direction of 150 mm / min, and a rotational speed of the fired body of 20 rpm a spark is performed. Two passes out.
  • both ends of the fired body were cut to a length of 300 mm to produce a cylindrical target material 2 having an outer diameter of 153 mm, an inner diameter of 135 mm, and a length of 300 mm.
  • Example 2 And ZnO powder 44.2 wt% of the BET specific surface area of 4m 2 / g, and In 2 O 3 powder 25.9 wt% of the BET specific surface area of 7m 2 / g, a BET specific surface area of 10m 2 / g Ga 2 O 3 blended powder 29.9 wt%, and mixed in a ball mill with zirconia balls in a pot, to prepare a raw material powder.
  • Example 2 the preparation of granules, the production of molded products, and the removal of organic components from the molded products were performed in the same manner as in Example 1. Furthermore, the molded body was fired under the conditions of a firing temperature of 1400 ° C., a firing time of 10 hours, a temperature increase rate of 300 ° C./h, and a temperature decrease rate of 50 ° C./h to produce a fired body. The relative density of the obtained fired body was 99.7%.
  • the cylindrical target material 2 was manufactured by grinding and cutting the obtained fired body and the cylindrical target material 2 and the backing tube 3 were joined in the same manner as in Example 1 to produce the cylindrical target 1.
  • Example 3 A ceramic raw material prepared by blending 95% by mass of ZnO powder having a BET specific surface area of 4 m 2 / g and 5% by mass of Al 2 O 3 powder having a BET specific surface area of 5 m 2 / g and ball milling with zirconia balls in a pot. A powder was prepared.
  • Example 2 the preparation of granules, the production of molded products, and the removal of organic components from the molded products were performed in the same manner as in Example 1. Furthermore, the molded body was fired under the conditions of a firing temperature of 1400 ° C., a firing time of 10 hours, a temperature increase rate of 300 ° C./h, and a temperature decrease rate of 50 ° C./h to produce a fired body. The density of the obtained fired body was 99.9%.
  • the cylindrical target material 2 was manufactured by grinding and cutting the obtained fired body, and the cylindrical target material 2 and the backing tube 3 were joined in the same manner as in Example 1 to produce the cylindrical target 1.
  • Example 4 The fired body (ITO) obtained in the same manner as in Example 1 was processed using a horizontal-axis cylindrical grinder to produce a cylindrical target material 2 having an outer diameter of 153 mm, an inner diameter of 135 mm, and a length of 300 mm.
  • a horizontal-axis cylindrical grinder to produce a cylindrical target material 2 having an outer diameter of 153 mm, an inner diameter of 135 mm, and a length of 300 mm.
  • the inner diameter of the fired body is 134. 3 by plunge grinding using a # 170 grindstone.
  • the inner peripheral surface 2b side was processed until it became 8 mm.
  • the inner peripheral surface 2b side of the fired body was processed by traverse grinding.
  • the grindstone is a vitrified binder with an abrasive grain size of # 1000, the grinding stone cutting amount per pass is 0.002 mm, the grinding wheel moving speed is 300 mm / min, and the fired body. Grinding was performed at a rotation speed of 70 rpm.
  • the traverse grinding described above was repeated one pass at a time until the inner diameter of the fired body reached 135 mm, and then a spark out was performed for two passes.
  • the outer peripheral surface 2a side of the fired body was processed.
  • the grindstone used was a vitrified binder with an abrasive grain size of # 600.
  • a moving speed of the grindstone in the cylindrical axis direction of 150 mm / min, and a rotational speed of the fired body of 20 rpm a spark is performed. Two passes out.
  • both ends of the fired body were cut to a length of 300 mm to produce a cylindrical target material 2 having an outer diameter of 153 mm, an inner diameter of 135 mm, and a length of 300 mm.
  • Example 5 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 4 except that the fired body (IGZO) obtained in the same manner as in Example 2 was used.
  • IGZO fired body
  • Example 6 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 4 except that the fired body (AZO) obtained in the same manner as in Example 3 was used.
  • Example 7 A fired body (ITO) obtained in the same manner as in Example 1 was processed to produce a cylindrical target material 2 having an outer diameter of 153 mm, an inner diameter of 135 mm, and a length of 300 mm.
  • a horizontal axis cylindrical grinder was used for processing on the outer peripheral surface 2a side, and a vertical axis cylindrical grinder was used for processing on the inner peripheral surface 2b side.
  • the inner diameter of the fired body is 134. 3 by plunge grinding using a # 170 grindstone.
  • the inner peripheral surface 2b side was processed until it became 8 mm.
  • the inner peripheral surface 2b side of the fired body was processed by traverse grinding.
  • the grindstone is a vitrified binder with an abrasive grain size of # 600, the grinding stone cutting amount per pass is 0.003 mm, the moving speed of the grindstone in the cylindrical axis direction is 300 mm / min, and the fired body. Grinding was performed at a rotation speed of 70 rpm.
  • the traverse grinding described above was repeated one pass at a time until the inner diameter of the fired body reached 135 mm, and then a spark out was performed for two passes.
  • the outer peripheral surface 2a side of the fired body was processed.
  • the grindstone used was a vitrified binder with an abrasive grain size of # 600.
  • a moving speed of the grindstone in the cylindrical axis direction of 150 mm / min, and a rotational speed of the fired body of 20 rpm a spark is performed. Two passes out.
  • both ends of the fired body were cut to a length of 300 mm to produce a cylindrical target material 2 having an outer diameter of 153 mm, an inner diameter of 135 mm, and a length of 300 mm.
  • Example 8 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 7 except that the fired body (IGZO) obtained in the same manner as in Example 2 was used.
  • IGZO fired body
  • Example 9 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 7 except that the fired body (AZO) obtained in the same manner as in Example 3 was used.
  • Example 10 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 1 except that the abrasive grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (ITO) was set to # 320.
  • Example 11 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 2, except that the grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (IGZO) was set to # 320.
  • Example 12 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 3 except that the abrasive grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (AZO) was set to # 320.
  • Example 13 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 1 except that the grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (ITO) was set to # 170.
  • Example 14 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 2 except that the abrasive grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (IGZO) was set to # 170.
  • Example 15 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 3 except that the abrasive grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (AZO) was set to # 170.
  • Example 16 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 1 except that the grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (ITO) was set to # 1500.
  • Example 17 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 2 except that the abrasive grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (IGZO) was set to # 1500.
  • Example 18 A cylindrical target material 2 and a cylindrical target 1 were produced in the same manner as in Example 3 except that the abrasive grain size of the grindstone for grinding the inner peripheral surface 2b side of the fired body (AZO) was set to # 1500.
  • Example 1 The fired body (ITO) obtained in the same manner as in Example 1 was processed using a horizontal-axis cylindrical grinder to produce a cylindrical target material 2 having an outer diameter of 153 mm, an inner diameter of 135 mm, and a length of 300 mm. First, the outer diameter was processed to 153.2 mm by plunge grinding using a # 170 grindstone, and then the inner diameter was processed to 134.8 mm by plunge grinding using a # 170 grindstone.
  • the inner peripheral surface 2b side of the fired body was processed by traverse grinding.
  • the grindstone is a vitrified binder with an abrasive grain size of # 80, the grinding stone cutting amount per pass is 0.005 mm, the grinding wheel moving speed is 300 mm / min, and the fired body. Grinding was performed at a rotation speed of 70 rpm.
  • the traverse grinding described above was repeated one pass at a time until the inner diameter of the fired body reached 135 mm, and then a spark out was performed for two passes.
  • the outer peripheral surface 2a side of the fired body was processed.
  • the grindstone used was a vitrified binder with an abrasive grain size of # 600.
  • a moving speed of the grindstone in the cylindrical axis direction of 150 mm / min, and a rotational speed of the fired body of 20 rpm a spark is performed. Two passes out.
  • both ends of the fired body were cut to a length of 300 mm to produce a cylindrical target material 2 having an outer diameter of 153 mm, an inner diameter of 135 mm, and a length of 300 mm.
  • Example 1 When the joined cylindrical target 1 produced in Example 1 to Comparative Example 3 was visually observed, no cracks were observed in all of them.
  • three sets of cylindrical targets 1 in which three cylindrical target materials 2 are joined to the backing tube 3 are sputtered. After the cylindrical target material 2 is used up to a usage rate of 80% (mass basis), The shaped target material 2 was visually observed to check for cracks.
  • the sputtering conditions were as follows: substrate temperature: 100 ° C., sputtering pressure: 0.2 Pa, power: 20 kW, and target rotation speed: 10 rpm.
  • Example 1 to Comparative Example 3 The results obtained in Example 1 to Comparative Example 3 are shown in Tables 1 to 3.
  • Table 1 uses ITO
  • Table 2 uses IGZO
  • Table 3 uses AZO as the cylindrical target material 2.
  • the numerical values shown as the surface roughness Ra of the outer peripheral surface 2a and the inner peripheral surface 2b, the eccentricity of the cylindrical target material 2 and the bonding rate between the cylindrical target material 2 and the bonding material 4 are 9 cylinders each.
  • the minimum value and the maximum value are shown.
  • the definition of each value in the cylindrical target material 2 is shown below.
  • the surface roughness Ra of the outer peripheral surface 2a, inner peripheral surface 2b, and both end surfaces 2c of the cylindrical target material 2 was measured using a surface roughness measuring instrument (Surfcoder SE1700 / manufactured by Kosaka Laboratory Ltd.).
  • the measurement locations of the outer peripheral surface 2a and the inner peripheral surface 2b are four locations (that is, both the outer peripheral surface 2a and the inner peripheral surface 2b) in the vicinity of both end surfaces 2c (that is, end surfaces 2c1 and 2c2) of the cylindrical target material 2 and at substantially equal intervals in the circumferential direction. 8 places).
  • the measurement positions of the both end faces 2c are the two end faces 2c (that is, end faces 2c1 and 2c2) of the cylindrical target material 2 at four positions (that is, eight positions) at substantially equal intervals in the circumferential direction.
  • the maximum value of the measured surface roughness Ra at 8 locations was defined as the value of the surface roughness Ra of the cylindrical target material 2 on each surface.
  • the surface roughness Ra of both end faces 2c of the cylindrical target material 2 in Examples and Comparative Examples was 1.4 ⁇ m or less.
  • the thickness of the end portion of the cylindrical target material 2 was arbitrarily measured with a caliper, and the difference between the thickness of the thickest portion (maximum thickness) and the standard thickness (9.00 mm) was taken as an eccentricity measurement value. For example, when the maximum thickness was 9.10 mm, the eccentricity value was 0.10 mm.
  • Cylindrical sputtering target (cylindrical target) 2 Ceramic cylindrical target material (cylindrical target material) 2a outer peripheral surface 2b inner peripheral surface 2c both end surfaces 3 backing tube 3a outer peripheral surface 4 bonding material

Abstract

 実施形態に係るセラミックス円筒形ターゲット材は、内周面の表面粗さRaが1.2μm以下である。

Description

セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲット
 開示の実施形態は、セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲットに関する。
 円筒形のターゲット材の内側に磁場発生装置を有し、ターゲット材を内側から冷却しつつ、さらにこのターゲット材を回転させながらスパッタリングを行うマグネトロン型回転カソードスパッタリング装置が知られている。このようなスパッタリング装置では、ターゲット材の外周表面の全面がエロージョンとなり均一に削られる。このため、従来の平板型マグネトロンスパッタリング装置では使用効率が20~30%であるのに対し、マグネトロン型回転カソードスパッタリング装置では70%以上の格段に高い使用効率が得られる。
 また、マグネトロン型回転カソードスパッタリング装置では、ターゲット材を回転させながらスパッタリングを行うことにより、平板型マグネトロンスパッタリング装置に比べて単位面積当たりに大きなパワーを投入できることから、高い成膜速度が得られる。
 このような回転カソードスパッタリング方式は、円筒形状への加工が容易で機械的強度が強い金属製のターゲット材を用いるものが広く普及している。これに対し、セラミックス製のターゲット材は、金属製のターゲット材に比べて機械的強度が低くて脆いという特性を有している。
 さらに、セラミックス材料の熱膨張係数は、円筒形バッキングチューブとして使用される金属材料の熱膨張係数よりも小さいので、円筒形ターゲット材とバッキングチューブとの熱膨張量の違いに起因してターゲット材に割れが発生しやすくなる。このため、セラミックス製の円筒形ターゲット材に関しては、これらの課題を克服する対策が検討されてきた。
 特許文献1には、相対密度95%以上のセラミックス円筒形ターゲット材を、低融点半田を用いて円筒形基材に接合する円筒形スパッタリングターゲットにおいて、接合時の割れを抑制する技術が開示されている。しかしながら、スパッタリング中におけるターゲット材の割れ対策については考慮されていない。
 特許文献2には、セラミックス円筒形ターゲット材の研削角度と外周面の表面粗さを制御することでスパッタ初期に発生する割れを抑制する技術が開示されている。しかしながら、外周面の表面粗さがターゲット材の割れに起因するのはスパッタ開始直後のごくわずかな期間であり、この技術ではスパッタリング中、特にスパッタリング末期におけるターゲット材の割れを抑制することはできない。
 特許文献3には、セラミックス円筒形ターゲット材と円筒形基材とを接合材にて接合した円筒形スパッタリングターゲットにおいて、接合材の存在しない箇所の面積を少なくすることでスパッタリング中のターゲット材の割れ、欠け、異常放電、ノジュールを低減させる技術が開示されている。しかしながら、本文献の技術内容ではセラミックス円筒形ターゲット材の割れ抑制には不十分である。
特開2005-281862号公報 特開2009-30165号公報 特開2010-18883号公報
 このように、上記した従来技術では依然として、割れに十分に強いセラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲットは得られておらず、さらなる改善の余地がある。
 実施形態の一態様は、上記に鑑みてなされたものであって、ライフエンドまでの割れの発生をさらに抑制し得るセラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲットを提供することを目的とする。
 実施形態に係るセラミックス円筒形ターゲット材は、内周面の表面粗さRaが1.2μm以下である。
 実施形態の一態様によれば、ライフエンドまでの割れの発生をさらに抑制し得るセラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲットを提供することができる。
図1は、セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲットの構成の概要を示す模式図である。 図2は、図1のA-A’断面図である。
 以下、添付図面を参照して、本願の開示するセラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲットの実施形態を詳細に説明する。なお、以下に示す実施形態によりこの発明が限定されるものではない。
 図1は、円筒形スパッタリングターゲットの構成の概要を示す模式図であり、図2は、図1のA-A’断面図である。なお、説明を分かりやすくするために、図1および図2には、鉛直上向きを正方向とし、鉛直下向きを負方向とするZ軸を含む3次元の直交座標系を図示している。
 図1および図2に示すように、円筒形スパッタリングターゲット(以下、「円筒形ターゲット」と称する)1は、セラミックス円筒形ターゲット材(以下、「円筒形ターゲット材」と称する)2と、バッキングチューブ3とを備える。円筒形ターゲット材2およびバッキングチューブ3は、接合材4により接合される。
 ここで、円筒形ターゲット材2は、断面同心円状の外周面2aおよび内周面2bと、長さ方向の両端を規定する端面2c1,2c2とを有する円筒形に形成されたセラミックスで構成される。かかる円筒形ターゲット材2を構成するセラミックスとしては、たとえば、In、Zn、Al、Ga、Zr、Ti、Sn、MgおよびSiのうち少なくとも1種を含有する酸化物等を挙げることができる。具体的には、Snの含有量がSnO換算で1~10質量%のITO(In-SnO)、Inの含有量がIn換算で10~60質量%、Gaの含有量がGa換算で10~60質量%、Znの含有量がZnO換算で10~60質量%のIGZO(In-Ga-ZnO)、Alの含有量がAl換算で0.1~5質量%のAZO(Al-ZnO)およびZnの含有量がZnO換算で1~15質量%のIZO(In-ZnO)などを例示することができるが、これらに限定されない。なお、端面2c1,2c2をまとめて両端面2cと称する。
 また、バッキングチューブ3は、円筒形ターゲット材2の中空部分に挿通可能に形成された円筒形の部材であり、円筒形ターゲット1における基材とも称される。このようなバッキングチューブ3の材料としては、従来使用されているものを適宜選択して使用することができる。たとえば、ステンレス、チタン、チタン合金などをバッキングチューブ3として適用することができるが、これらに限定されない。
 また、接合材4は、円筒形ターゲット材2の内周面2bとバッキングチューブ3の外周面3aとを接合する。このような接合材4としては、従来使用されているものを適宜選択して使用することができる。たとえば、インジウムやインジウム-スズ合金などを接合材4として適用することができるが、これらに限定されない。
 ところで、従来の平板型マグネトロンスパッタリング装置で使用される平板型のターゲット材は使用効率が低く、使用後に残存するターゲット材は使用前のターゲット材の厚さの半分程度であるため、ターゲット材の強度低下による割れのリスクは低かった。そのため、平板型のターゲット材ではスパッタリング中の割れについて考慮されることは少なく、特にバッキングプレートとも称される基材との接合面の表面形状について考慮されることはなかった。同様に、これまで円筒形ターゲットにおいても内周面2b側の表面形状について何ら考慮されることはなかった。
 一方、図1および図2に示すように構成された円筒形ターゲット1では、円筒形ターゲット材2の外周面2aがスパッタ面となり、円筒形ターゲット材2は、スパッタリングにより外周面2a側から順次消費される。円筒形ターゲット1において使用される円筒形ターゲット材2は上記した平板型のターゲット材と比較して使用効率が高く、使用するにつれて円筒形ターゲット材2の厚さが外周面2a側から全体的に薄くなる。このとき、円筒形ターゲット材2の内周面2bは、スパッタリングを継続しても消耗されずに最後まで残される。
 上記したように、円筒形ターゲット1では、バッキングチューブ3の熱膨張により円筒形ターゲット材2に対して径方向の力が加わる。このため、スパッタリング中、特に薄肉化したスパッタリング末期における円筒形ターゲット材2は、スパッタリング前の円筒形ターゲット材2よりも割れ易くなる。これに対し、これまで考慮されることのなかった円筒形ターゲット材2の内周面2b側の表面形状を適切に制御することにより、スパッタリング中、特に薄肉化したスパッタリング末期における円筒形ターゲット材2の機械的強度を、割れの発生を抑制しうる程度に保持することができることが明らかとなった。以下では、実施形態に係る円筒形ターゲット材2についてさらに説明する。
 実施形態に係る円筒形ターゲット材2は、内周面2bの表面粗さRaが1.2μm以下であり、好ましくは1.0μm以下であり、より好ましくは0.8μm以下であり、さらに好ましくは0.5μm以下である。内周面2bの表面粗さRaが1.2μmを超えると、たとえば、使用率80%以上といった長期にわたるスパッタリングの実施により円筒形ターゲット材2が薄肉化した際に割れが発生し易くなる。なお、内周面2bの表面形状に起因する割れを抑制するには、内周面2bの表面粗さRaは低いほどよいが、内周面2bの表面粗さRaが低くなるほど内周面2bと接合材4との濡れ性が悪くなる。内周面2bと接合材4との濡れ性が悪いと、円筒形ターゲット材2とバッキングチューブ3とを接合した後、内周面2bと接合材4との間に剥離が発生し易くなる。内周面2bと接合材4との間に剥離が発生すると、スパッタリング中に剥離した部分が十分に冷却されず、円筒形ターゲット材2が割れ易くなる。このような事情を鑑みると、内周面2bの表面粗さRaは0.05μm以上が好ましく、0.1μm以上がより好ましく、0.15μm以上がさらに好ましく、0.2μm以上が特に好ましい。
 ここで、表面粗さRaとは、JIS B0601:2013の「算術平均粗さRa」に相当する値である。なお、表面粗さRaは、内周面2bの表面加工に常用される砥石の番手や加工速度を変更することにより制御することができる。
 また、円筒形ターゲット材2の外周面2aの表面粗さRaは、好ましくは1.5μm以下であり、より好ましくは1.0μm以下であり、さらに好ましくは0.5μm以下である。外周面2aの表面粗さRaが1.5μmを超えると、スパッタリング初期のノジュールの発生やバッキングチューブ3との接合中の割れに影響を与えることがある。ただし、上記したように円筒形ターゲット材2の外周面2aはスパッタリングにより順次消費されるため、使用初期を除いては、円筒形ターゲット材2の割れに対する影響はごくわずかである。また、外周面2aの表面粗さRaの最小値は特に定めるものではないが、加工作業の効率上、好ましくは0.05μm以上である。
 また、円筒形ターゲット材2の両端面2cの表面粗さRaは、好ましくは1.4μm以下であり、より好ましくは1.2μmであり、さらに好ましくは1.0μm以下である。円筒形ターゲット材2の両端面2cの表面粗さRaが1.4μm以下だと、たとえばスパッタリング時の熱膨張などに起因する円筒形ターゲット材2の割れを防止または抑制することができる。また、スパッタリング時に発生するパーティクルおよびアーキングが低減し、良好な膜質を得ることができる。また、円筒形ターゲット材2の両端面2cの表面粗さRaの最小値は特に定めるものではないが、加工作業の効率上、好ましくは0.05μm以上である。
 また、円筒形ターゲット材2の相対密度は、好ましくは95%以上であり、より好ましくは98%以上であり、さらに好ましくは99%以上である。円筒形ターゲット材2の相対密度が95%以上だと、たとえばスパッタリング時の熱膨張などに起因する円筒形ターゲット材2の割れを防止または抑制することができる。また、スパッタリング時に発生するパーティクルおよびアーキングが低減し、良好な膜質を得ることができる。ここで、円筒形ターゲット材2の相対密度の測定方法について、以下に説明する。
 円筒形ターゲット材2の相対密度は、アルキメデス法に基づいて測定される。具体的には、円筒形ターゲット材2の空中重量を体積(=円筒形ターゲット材2の水中重量/計測温度における水比重)で除し、下記式(X)に基づく理論密度ρ(g/cm)に対する百分率の値を相対密度(単位:%)とする。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 上記式(X)中、C~Cはそれぞれ円筒形ターゲット材2を構成する構成物質の含有量(質量%)を示し、ρ~ρはC~Cに対応する各構成物質の密度(g/cm)を示す。
 また、円筒形ターゲット材2は、好ましくは内外径の偏心が0.2mm以下であり、より好ましくは0.1mm以下であり、さらに好ましくは0.05mm以下である。偏心が0.2mmを超えると、前述のようにバッキングチューブ3の熱膨張により円筒形ターゲット材2に対して径方向の力が均一に加わらない傾向が強くなり、内周面2bの表面粗さRaが十分に小さくても、割れが発生しやすくなる。さらにスパッタリングによる消費によって残存する円筒形ターゲット材2の厚みにムラができ、円筒形ターゲット材2の使用効率が低下することがある。ここで、「内外径の偏心」とは、円筒形ターゲット材2の外径の中心点と、内径の中心点とのズレ幅をいう。
 また、実施形態に係る円筒形ターゲット1は、円筒形ターゲット材2と接合材4との接合率が好ましくは98%以上であり、より好ましくは98.5%以上であり、さらに好ましくは99%以上であり、特に好ましくは99.5%以上である。接合率が98%未満だと、接合されていない部分の冷却が十分に行われず、内周面2bの表面粗さRaが十分に小さくても、円筒形ターゲット材2が割れやすくなる。ここで、「接合率」とは、円筒形ターゲット材2の内周面2bの面積に対して、円筒形ターゲット材2の内周面2bに接合材4が接合されている面積の比率をいう。この接合率は、超音波探傷検査やX線検査で得られた画像から、画像解析ソフトで面積を測定し求めることができる。なお、測定の正確性、容易性の観点から、超音波探傷検査が好ましい。一方、X線検査では、曲げたフィルムをバッキングチューブ3の内部に挿入して検査することになるため、面積を正確に測定できないことや、円筒形ターゲット材2と接合材4との剥離が検出されにくいこと等の不具合がある。
 なお、上記では、円筒形ターゲット1は、1つのバッキングチューブ3の外側に、1つの円筒形ターゲット材2が接合された例について説明したが、これに限定されない。たとえば、1または2以上のバッキングチューブ3の外側に2以上の円筒形ターゲット材2を同一軸線上に並べて接合されたものを円筒形ターゲット1として使用してもよい。
 次に、円筒形ターゲット材2の製造方法の一例について説明する。円筒形ターゲット材2は、セラミックス原料粉末および有機添加物を含有するスラリーを造粒し、顆粒体を作製する造粒工程と、この顆粒体を成形し、円筒形の成形体を作製する成形工程と、この成形体を焼成して焼成体を作製する焼成工程とを経て作製される。なお、焼成体の作製方法は、上記したものに限定されず、いかなる方法であってもよい。
 上記した焼成工程において得られる焼成体は、円筒形ターゲット材2として予め設計された寸法よりも長くまた肉厚になるように作製される。そして、焼成体の長さ方向についてはたとえば切断または切削により、外径および内径についてはたとえば研削により、それぞれ設計された寸法となるように加工される。
 ところで、円筒形ターゲット材2となる焼成体の外周面2a側および内周面2b側を研削する手法として、トラバース研削およびプランジ研削の2つの方式がある。トラバース研削とは、焼成体の円筒軸と平行な方向に砥石を移動させながら研削する方式である。プランジ研削とは、砥石の進退移動を行わずに切り込み方向の運動だけを与えて研削する手法である。
 なお、焼成体を研削する研削装置としては、焼成体の円筒軸を横にして回転させながら加工する横軸円筒研削盤と、焼成体の円筒軸を立てて回転させながら加工する縦軸円筒研削盤の2種類があり、どちらを使用してもよい。なお、内周面2b側を加工する場合には、縦軸円筒研削盤を使用した方が重力の影響を受けにくく、表面粗さRaや加工精度が向上するので好ましい。特に、長さ500mmを超える長尺品において、焼成体の内周面2b側を加工する場合、縦軸円筒研削盤を使用する方が、表面粗さRaを比較的容易に小さくできるため、有利である。ただし、内周面2b側の加工に横軸円筒研削盤を使用してもよく、また、円筒研削盤以外の研削装置を使用してもよい。
 最後に、端面加工工程について説明する。端面加工工程は、端面を加工して所定の長さの円筒形ターゲット材2を作製する工程である。端面の加工は、たとえば切断によるものであっても、切削または研削によるものであってもよい。また、切断または切削と研削とを組み合わせてもよく、加工方法に制限はない。
 このように、実施形態に係る円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1は、スパッタリング中の割れの発生をさらに抑制することができる。
[実施例1]
 BET(Brunauer-Emmett-Teller)法により測定された比表面積(BET比表面積)が5m/gのSnO粉末10質量%と、BET比表面積が5m/gのIn粉末90質量%とを配合し、ポット中でジルコニアボールによりボールミル混合して、原料粉末を調製した。
 このポットに、上記原料粉末100質量%に対し、0.3質量%のポリビニルアルコールと、0.2質量%のポリカルボン酸アンモニウムと、0.5質量%のポリエチレングリコールと、50質量%の水とをそれぞれ加え、ボールミル混合してスラリーを調製した。次に、このスラリーをスプレードライ装置に供給し、アトマイズ回転数14,000rpm、入口温度200℃、出口温度80℃の条件でスプレードライを行い、顆粒体を調製した。
 この顆粒体を、外径157mmの円柱状の中子(心棒)を有する内径220mm(肉厚10mm)、長さ450mmの円筒形状のウレタンゴム型にタッピングさせながら充填し、ゴム型を密閉後、800kgf/cmの圧力でCIP(Cold Isostatic Pressing)成形して、円筒形の成形体を作製した。
 この成形体を600℃で10時間加熱して有機成分を除去した。昇温速度は50℃/hとした。さらに、加熱した成形体を焼成して、焼成体を作製した。焼成は、酸素雰囲気中で、焼成温度1550℃、焼成時間12時間、昇温速度300℃/hの条件で行った。また、降温速度は1550℃から800℃までを50℃/h、800℃以降を30℃/hとして行った。得られた焼成体の相対密度は99.8%であった。
 次に、得られた焼成体を、横軸円筒研削盤を使用して研削加工した。まず、#170の砥石を用いたプランジ研削により焼成体の外径が153.2mmとなるまで外周面2a側を加工した後、#170の砥石を用いたプランジ研削により焼成体の内径が134.8mmとなるまで内周面2b側を加工した。
 続いて、トラバース研削により焼成体の内周面2b側の加工を行った。砥石には、ビトリファイドを結合剤とする、砥粒粒度が#600のものを使用し、1パスあたりの砥石の切り込み量0.003mm、砥石の円筒軸方向への移動速度300mm/min、焼成体の回転速度70rpmとして研削を行った。
 上記したトラバース研削を、焼成体の内径が135mmとなるまで1パスずつ繰り返し行った後、切り込み量0で砥石を円筒軸方向に移動させるスパークアウトを2パス(すなわち、1往復)行った。
 続いて、焼成体の外周面2a側の加工を行った。砥石には、ビトリファイドを結合剤とする、砥粒粒度が#600のものを使用した。1パスあたりの砥石の切り込み量0.002mm、砥石の円筒軸方向への移動速度150mm/min、焼成体の回転速度20rpmとして外径が153mmとなるまで加工を1パスずつ繰り返し行った後、スパークアウトを2パス行った。最後に、焼成体の両端を切断して長さを300mmに加工し、外径153mm、内径135mm、長さ300mmの円筒形ターゲット材2を製造した。
 上記した円筒形ターゲット材2を9本用意し、外径133mm、内径123mm、長さ1500mmのチタン製のバッキングチューブ3に、接合材4としてIn半田を用いて3本の円筒形ターゲット材2をそれぞれ接合し、円筒形ターゲット1を3組作製した。各円筒形ターゲット材2間の間隔(分割部の長さ)は、0.5mmとした。なお、接合前に円筒形ターゲット材2の内周面2bに超音波半田ごてを使用してIn半田の下塗りを行った。
[実施例2]
 BET比表面積が4m/gのZnO粉末44.2質量%と、BET比表面積が7m/gのIn粉末25.9質量%と、BET比表面積が10m/gのGa粉末29.9質量%とを配合し、ポット中でジルコニアボールによりボールミル混合して、原料粉末を調製した。
 このポットに、上記原料粉末100質量%に対し、0.3質量%のポリビニルアルコールと、0.4質量%のポリカルボン酸アンモニウムと、1.0質量%のポリエチレングリコールと、50質量%の水とをそれぞれ加え、ボールミル混合してスラリーを調製した。
 次いで、実施例1と同様の方法で顆粒体の調製、成形体の作製および成形体からの有機成分の除去を行った。さらに、焼成温度1400℃、焼成時間10時間、昇温速度300℃/h、降温速度50℃/hの条件下で成形体の焼成を行い、焼成体を作製した。得られた焼成体の相対密度は99.7%であった。
 そして、得られた焼成体の研削および切断による円筒形ターゲット材2の製造ならびに円筒形ターゲット材2とバッキングチューブ3との接合を実施例1と同様に行い、円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例3]
 BET比表面積が4m/gのZnO粉末95質量%と、BET比表面積が5m/gのAl粉末5質量%とを配合し、ポット中でジルコニアボールによりボールミル混合してセラミックス原料粉末を調製した。
 このポットに、上記原料粉末100質量%に対し、0.3質量%のポリビニルアルコールと、0.4質量%のポリカルボン酸アンモニウムと、1.0質量%のポリエチレングリコールと、50質量%の水とをそれぞれ加え、ボールミル混合してスラリーを調製した。
 次いで、実施例1と同様の方法で顆粒体の調製、成形体の作製および成形体からの有機成分の除去を行った。さらに、焼成温度1400℃、焼成時間10時間、昇温速度300℃/h、降温速度50℃/hの条件下で成形体の焼成を行い、焼成体を作製した。得られた焼成体の密度は99.9%であった。
 そして、得られた焼成体の研削および切断加工による円筒形ターゲット材2の製造ならびに円筒形ターゲット材2とバッキングチューブ3との接合を実施例1と同様に行い、円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例4]
 実施例1と同様にして得られた焼成体(ITO)を、横軸円筒研削盤を使用して加工し、外径153mm、内径135mm、長さ300mmの円筒形ターゲット材2を製造した。まず、#170の砥石を用いたプランジ研削により焼成体の外径が153.2mmとなるまで外周面2a側を加工した後、#170の砥石を用いたプランジ研削により焼成体の内径が134.8mmとなるまで内周面2b側を加工した。
 続いて、トラバース研削により焼成体の内周面2b側の加工を行った。砥石には、ビトリファイドを結合剤とする、砥粒粒度が#1000のものを使用し、1パスあたりの砥石の切り込み量0.002mm、砥石の円筒軸方向への移動速度300mm/min、焼成体の回転速度70rpmとして研削を行った。
 上記したトラバース研削を、焼成体の内径が135mmとなるまで1パスずつ繰り返し行った後、スパークアウトを2パス行った。
 続いて、焼成体の外周面2a側の加工を行った。砥石には、ビトリファイドを結合剤とする、砥粒粒度が#600のものを使用した。1パスあたりの砥石の切り込み量0.002mm、砥石の円筒軸方向への移動速度150mm/min、焼成体の回転速度20rpmとして外径が153mmとなるまで加工を1パスずつ繰り返し行った後、スパークアウトを2パス行った。最後に、焼成体の両端を切断して長さを300mmに加工し、外径153mm、内径135mm、長さ300mmの円筒形ターゲット材2を製造した。
 そして、実施例1と同様に円筒形ターゲット材2とバッキングチューブ3との接合を行い、円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例5]
 実施例2と同様にして得られた焼成体(IGZO)を使用したことを除き、実施例4と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例6]
 実施例3と同様にして得られた焼成体(AZO)を使用したことを除き、実施例4と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例7]
 実施例1と同様にして得られた焼成体(ITO)を加工し、外径153mm、内径135mm、長さ300mmの円筒形ターゲット材2を製造した。外周面2a側の加工には横軸円筒研削盤を使用し、内周面2b側の加工には縦軸円筒研削盤を使用した。
 まず、#170の砥石を用いたプランジ研削により焼成体の外径が153.2mmとなるまで外周面2a側を加工した後、#170の砥石を用いたプランジ研削により焼成体の内径が134.8mmとなるまで内周面2b側を加工した。
 続いて、トラバース研削により焼成体の内周面2b側の加工を行った。砥石には、ビトリファイドを結合剤とする、砥粒粒度が#600のものを使用し、1パスあたりの砥石の切り込み量0.003mm、砥石の円筒軸方向への移動速度300mm/min、焼成体の回転速度70rpmとして研削を行った。
 上記したトラバース研削を、焼成体の内径が135mmとなるまで1パスずつ繰り返し行った後、スパークアウトを2パス行った。
 続いて、焼成体の外周面2a側の加工を行った。砥石には、ビトリファイドを結合剤とする、砥粒粒度が#600のものを使用した。1パスあたりの砥石の切り込み量0.002mm、砥石の円筒軸方向への移動速度150mm/min、焼成体の回転速度20rpmとして外径が153mmとなるまで加工を1パスずつ繰り返し行った後、スパークアウトを2パス行った。最後に、焼成体の両端を切断して長さを300mmに加工し、外径153mm、内径135mm、長さ300mmの円筒形ターゲット材2を製造した。
 そして、実施例1と同様に円筒形ターゲット材2とバッキングチューブ3との接合を行い、円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例8]
 実施例2と同様にして得られた焼成体(IGZO)を使用したことを除き、実施例7と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例9]
 実施例3と同様にして得られた焼成体(AZO)を使用したことを除き、実施例7と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例10]
 焼成体(ITO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#320としたことを除き、実施例1と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例11]
 焼成体(IGZO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#320としたことを除き、実施例2と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例12]
 焼成体(AZO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#320としたことを除き、実施例3と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例13]
 焼成体(ITO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#170としたことを除き、実施例1と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例14]
 焼成体(IGZO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#170としたことを除き、実施例2と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例15]
 焼成体(AZO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#170としたことを除き、実施例3と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例16]
 焼成体(ITO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#1500としたことを除き、実施例1と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例17]
 焼成体(IGZO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#1500としたことを除き、実施例2と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[実施例18]
 焼成体(AZO)の内周面2b側を研削する砥石の砥粒粒度を#1500としたことを除き、実施例3と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[比較例1]
 実施例1と同様にして得られた焼成体(ITO)を、横軸円筒研削盤を使用して加工し、外径153mm、内径135mm、長さ300mmの円筒形ターゲット材2を製造した。まず、#170の砥石を用いたプランジ研削により外径を153.2mmまで加工した後、#170の砥石を用いたプランジ研削により内径を134.8mmまで加工した。
 続いて、トラバース研削により焼成体の内周面2b側の加工を行った。砥石には、ビトリファイドを結合剤とする、砥粒粒度が#80のものを使用し、1パスあたりの砥石の切り込み量0.005mm、砥石の円筒軸方向への移動速度300mm/min、焼成体の回転速度70rpmとして研削を行った。
 上記したトラバース研削を、焼成体の内径が135mmとなるまで1パスずつ繰り返し行った後、スパークアウトを2パス行った。
 続いて、焼成体の外周面2a側の加工を行った。砥石には、ビトリファイドを結合剤とする、砥粒粒度が#600のものを使用した。1パスあたりの砥石の切り込み量0.002mm、砥石の円筒軸方向への移動速度150mm/min、焼成体の回転速度20rpmとして外径が153mmとなるまで加工を1パスずつ繰り返し行った後、スパークアウトを2パス行った。最後に、焼成体の両端を切断して長さを300mmに加工し、外径153mm、内径135mm、長さ300mmの円筒形ターゲット材2を製造した。
 そして、実施例1と同様に円筒形ターゲット材2とバッキングチューブ3との接合を行い、円筒形ターゲット1を作製した。
[比較例2]
 実施例2と同様にして得られた焼成体(IGZO)を使用したことを除き、比較例1と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
[比較例3]
 実施例3と同様にして得られた焼成体(AZO)を使用したことを除き、比較例1と同様にして円筒形ターゲット材2および円筒形ターゲット1を作製した。
 実施例1~比較例3で作製された接合後の円筒形ターゲット1を目視にて観察したところ、全てにおいて割れは認められなかった。次に、3本の円筒形ターゲット材2をバッキングチューブ3に接合した3組の円筒形ターゲット1のスパッタリングを行い、円筒形ターゲット材2を使用率80%(質量基準)まで使用した後に、円筒形ターゲット材2を目視で観察し、割れの有無を確認した。スパッタリングの条件は、基板温度:100℃、スパッタ圧力:0.2Pa、パワー:20KW、ターゲット回転数:10rpmとした。
 実施例1~比較例3により得られた結果を表1~表3に示す。なお、表1ではITOを、表2ではIGZOを、表3ではAZOを、円筒形ターゲット材2としてそれぞれ使用したものである。各表中、外周面2aおよび内周面2bの表面粗さRa、円筒形ターゲット材2の偏心ならびに円筒形ターゲット材2と接合材4との接合率として示した数値は、各9本の円筒形ターゲット材2における測定値のうち、最小値と最大値を示したものである。ここで、円筒形ターゲット材2における各値の定義について以下に示す。
[内周面、外周面、両端面の表面粗さRaの測定]
 表面粗さ測定器(サーフコーダSE1700/株式会社小坂研究所製)を用いて円筒形ターゲット材2の外周面2a、内周面2b、両端面2cの表面粗さRaを測定した。外周面2aと内周面2bの測定箇所は円筒形ターゲット材2の両端面2c(すなわち端面2c1,2c2)付近、周方向ほぼ等間隔にそれぞれ4箇所(すなわち外周面2a、内周面2bともに8箇所)とした。両端面2cの測定箇所は円筒形ターゲット材2の両端面2c(すなわち端面2c1,2c2)を周方向ほぼ等間隔にそれぞれ4箇所(すなわち8箇所)とした。測定した8箇所の表面粗さRaのうち最大値を、各面における円筒形ターゲット材2の表面粗さRaの値とした。なお、実施例、比較例における円筒形ターゲット材2の両端面2cの表面粗さRaはいずれも1.4μm以下であった。
[偏心の測定]
 円筒形ターゲット材2の端部の厚みをノギスで任意に測定し、最も厚くなっている箇所の厚み(最大厚み)と規格厚み(9.00mm)との差を偏心の測定値とした。たとえば、最大厚みが9.10mmであった場合、偏心の値は0.10mmとした。
[接合率の測定]
 超音波探傷検査装置(SDS-WIN 24235T/株式会社KJTD製)を用いて、円筒形ターゲット材2の内周面2bと接合材4との接合状態を0.5mmピッチで検査した。得られた画像から、画像解析ソフト(粒子解析Ver.3 日鉄住金テクノロジー株式会社製)を使用して円筒形ターゲット材2の内周面2bと接合材4とが接合されている箇所の面積を測定し、内周面2bの面積に対する比率を算出して接合率の値とした。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
 さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。このため、本発明のより広範な態様は、以上のように表しかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。したがって、添付の請求の範囲およびその均等物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。
 1 円筒形スパッタリングターゲット(円筒形ターゲット)
 2 セラミックス円筒形ターゲット材(円筒形ターゲット材)
 2a 外周面
 2b 内周面
 2c 両端面
 3 バッキングチューブ
 3a 外周面
 4 接合材

Claims (13)

  1.  内周面の表面粗さRaが1.2μm以下である、セラミックス円筒形ターゲット材。
  2.  内周面の表面粗さRaが1.0μm以下である、セラミックス円筒形ターゲット材。
  3.  内周面の表面粗さRaが0.8μm以下である、セラミックス円筒形ターゲット材。
  4.  内周面の表面粗さRaが0.5μm以下である、セラミックス円筒形ターゲット材。
  5.  前記表面粗さRaが0.1μm以上である、請求項1~4のいずれか1つに記載のセラミックス円筒形ターゲット材。
  6.  In、Zn、Al、Ga、Zr、Ti、Sn、MgおよびSiのうち1種以上を含有する、請求項1~5のいずれか1つに記載のセラミックス円筒形ターゲット材。
  7.  Snの含有量がSnO換算で1~10質量%のITOである、請求項1~6のいずれか1つに記載のセラミックス円筒形ターゲット材。
  8.  Inの含有量がIn換算で10~60質量%、Gaの含有量がGa換算で10~60質量%、Znの含有量がZnO換算で10~60質量%のIGZOである、請求項1~6のいずれか1つに記載のセラミックス円筒形ターゲット材。
  9.  Alの含有量がAl換算で0.1~5質量%のAZOである、請求項1~6のいずれか1つに記載のセラミックス円筒形ターゲット材。
  10.  Znの含有量がZnO換算で1~15質量%のIZOである、請求項1~6のいずれか1つに記載のセラミックス円筒形ターゲット材。
  11.  内外径の偏心が0.2mm以下である、請求項1~10のいずれか1つに記載のセラミックス円筒形ターゲット材。
  12.  請求項1~11のいずれか1つに記載のセラミックス円筒形ターゲット材と、
     前記セラミックス円筒形ターゲット材の中空部分に挿通され、外周面が前記セラミックス円筒形ターゲット材の前記内周面に接合材を介して接合される円筒形の基材と、を備える、円筒形スパッタリングターゲット。
  13.  前記セラミックス円筒形ターゲット材と前記接合材との接合率が98%以上である、請求項12に記載の円筒形スパッタリングターゲット。
PCT/JP2016/053743 2015-03-05 2016-02-09 セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲット WO2016140021A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201680005087.9A CN107109637A (zh) 2015-03-05 2016-02-09 陶瓷圆筒形靶材及圆筒形溅镀靶
KR1020177022360A KR20170122732A (ko) 2015-03-05 2016-02-09 세라믹스 원통형 타깃재 및 원통형 스퍼터링 타깃
JP2017503389A JPWO2016140021A1 (ja) 2015-03-05 2016-02-09 セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲット

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015043997 2015-03-05
JP2015-043997 2015-03-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2016140021A1 true WO2016140021A1 (ja) 2016-09-09

Family

ID=56848906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2016/053743 WO2016140021A1 (ja) 2015-03-05 2016-02-09 セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲット

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPWO2016140021A1 (ja)
KR (1) KR20170122732A (ja)
CN (1) CN107109637A (ja)
TW (1) TW201641728A (ja)
WO (1) WO2016140021A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018172740A (ja) * 2017-03-31 2018-11-08 Jx金属株式会社 スパッタリングターゲット−バッキングプレート接合体及びその製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002030431A (ja) * 2000-07-10 2002-01-31 Tosoh Corp スパッタリングターゲットおよびその製造方法
US20110220489A1 (en) * 2010-03-09 2011-09-15 Applied Materials, Inc. Rotatable target, backing tube, sputtering installation and method for producing a rotatable target
JP2013147368A (ja) * 2012-01-18 2013-08-01 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd セラミックス円筒形スパッタリングターゲット材およびその製造方法
JP2015132013A (ja) * 2013-12-13 2015-07-23 Jx日鉱日石金属株式会社 スパッタリングターゲット及びその製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5467735B2 (ja) * 2007-07-02 2014-04-09 東ソー株式会社 円筒形スパッタリングターゲット
JP4965480B2 (ja) * 2008-02-15 2012-07-04 株式会社アルバック バッキングプレートの製造方法及びバッキングプレートの洗浄方法
JP4965479B2 (ja) * 2008-02-15 2012-07-04 株式会社アルバック スパッタリングターゲットの製造方法及びスパッタリングターゲットの洗浄方法
JP5936402B2 (ja) * 2012-03-22 2016-06-22 キヤノン株式会社 撮像装置
JP2014230600A (ja) * 2013-05-28 2014-12-11 株式会社東芝 X線ct装置およびx線ct装置用x線検出器
JP6273735B2 (ja) * 2013-09-20 2018-02-07 東ソー株式会社 円筒形スパッタリングターゲットとその製造方法
CN104711525B (zh) * 2013-12-13 2018-01-26 吉坤日矿日石金属株式会社 溅射靶及其制造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002030431A (ja) * 2000-07-10 2002-01-31 Tosoh Corp スパッタリングターゲットおよびその製造方法
US20110220489A1 (en) * 2010-03-09 2011-09-15 Applied Materials, Inc. Rotatable target, backing tube, sputtering installation and method for producing a rotatable target
JP2013147368A (ja) * 2012-01-18 2013-08-01 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd セラミックス円筒形スパッタリングターゲット材およびその製造方法
JP2015132013A (ja) * 2013-12-13 2015-07-23 Jx日鉱日石金属株式会社 スパッタリングターゲット及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018172740A (ja) * 2017-03-31 2018-11-08 Jx金属株式会社 スパッタリングターゲット−バッキングプレート接合体及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2016140021A1 (ja) 2017-12-14
TW201641728A (zh) 2016-12-01
KR20170122732A (ko) 2017-11-06
CN107109637A (zh) 2017-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5467735B2 (ja) 円筒形スパッタリングターゲット
JP5750060B2 (ja) セラミックス円筒形スパッタリングターゲット材およびその製造方法
JP5816394B1 (ja) Itoスパッタリングターゲット材およびその製造方法
JP6496681B2 (ja) 円筒形スパッタリングターゲット用ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲット
TWI573890B (zh) 濺鍍靶用靶材之製造方法及爪構件
JP6412439B2 (ja) セラミックス製ターゲット材の製造方法および円筒形スパッタリングターゲットの製造方法
WO2016140021A1 (ja) セラミックス円筒形ターゲット材および円筒形スパッタリングターゲット
JP5784849B2 (ja) セラミックス円筒形スパッタリングターゲット材およびその製造方法
TWI723974B (zh) 圓筒形靶材之製造方法、圓筒形濺鍍靶及燒製用輔助具
JP5947413B1 (ja) スパッタリングターゲット及びその製造方法
JPWO2016129622A1 (ja) スパッタリングターゲット及びその製造方法
JP6297620B2 (ja) スパッタリングターゲット及びその製造方法
JP2016014191A (ja) セラミックス円筒形スパッタリングターゲット材およびその製造方法
JP2017150089A (ja) スパッタリングターゲット及びその製造方法
CN107829073A (zh) 圆筒形溅射靶

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16758716

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2017503389

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20177022360

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 16758716

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1