WO2016125641A1

WO2016125641A1 - 表示装置およびその駆動方法

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Publication number: WO2016125641A1
Application number: PCT/JP2016/052238
Authority: WO
Inventors: 宣孝岸; 古川　浩之; 克也乙井; 吉山　和良; 酒井　保; 尚子後藤
Original assignee: シャープ株式会社
Priority date: 2015-02-03
Filing date: 2016-01-27
Publication date: 2016-08-11
Also published as: CN107210022A; KR101978587B1; US10510285B2; US20170365205A1; CN107210022B; KR20170104512A

Abstract

　測定回路は、複数の測定部を含み、一部の測定部に測定用電圧を供給して画素回路について電流または電圧を測定する本測定と、残余の測定部にダミー信号を供給して電流または電圧を測定するダミー測定とを同じタイミングで行い、本測定の結果とダミー測定の結果とに対して演算を行う。ダミー信号には、測定されるべき値が略ゼロである信号を用いる。電流または電圧の測定結果は、映像信号の補正に用いられる。これにより、画素回路について電流または電圧を測定するときに測定時のノイズを除去できる表示装置を提供する。

Description

表示装置およびその駆動方法

　本発明は、表示装置に関し、特に、有機ＥＬ素子などの電気光学素子を含む画素回路を備えた表示装置、および、その駆動方法に関する。

　近年、薄型、軽量、高速応答可能な表示装置として、有機ＥＬ（Electro Luminescence）表示装置が注目されている。有機ＥＬ表示装置は、２次元状に配置された複数の画素回路を備えている。有機ＥＬ表示装置の画素回路は、有機ＥＬ素子、および、有機ＥＬ素子と直列に接続された駆動トランジスタを含んでいる。駆動トランジスタは有機ＥＬ素子に流れる電流の量を制御し、有機ＥＬ素子は流れる電流の量に応じた輝度で発光する。

　画素回路内の素子の特性には、製造時にばらつきが発生する。また、画素回路内の素子の特性は、時間の経過と共に変動する。例えば、駆動トランジスタの特性は、発光輝度や発光時間に応じて個別に劣化する。有機ＥＬ素子の特性もこれと同様である。このため、駆動トランジスタのゲート端子に同じ電圧を印加しても、有機ＥＬ素子の発光輝度にはばらつきが発生する。

　そこで、有機ＥＬ表示装置において高画質表示を行うために、有機ＥＬ素子や駆動トランジスタの特性のばらつきや変動を補償するように映像信号を補正する方法が知られている。例えば、特許文献１には、有機ＥＬ素子に検定電流を流したときの有機ＥＬ素子の端子間の電圧を測定し、測定した電圧に基づき映像信号を補正することにより、有機ＥＬ素子の特性変動を補償する有機ＥＬ表示装置が記載されている。

　また、本願発明に関連して、特許文献２には、駆動トランジスタの閾値電圧と有機ＥＬ素子の劣化情報を求めるために、図１５に示すセンシング部を備えた有機ＥＬ表示装置が記載されている。図１５において、増幅部９１は、画素回路内のある節点の電圧を増幅する。誤差補償部９２は、２個のオペアンプ、４個のコンデンサＣ１～Ｃ４、および、１２個のスイッチを含んでいる。誤差補償部９２は、スイッチを制御してコンデンサＣ３、Ｃ４に交互に電圧を蓄積するなどして、増幅部９１と誤差補償部９２に含まれる素子の誤差成分を補償する。

日本国特開２００９－２４４６５４号公報日本国特開２０１４－１０９７７５号公報

　以下、画素回路内の素子の特性のばらつきや変動を補償するために、画素回路を流れる電流を測定する電流測定回路を備えた有機ＥＬ表示装置を考える。このような有機ＥＬ表示装置では、表示部で発生するノイズや、電流測定回路に供給される電源電圧やリファレンス電圧に含まれるノイズによって、電流測定結果にノイズが載り、電流測定結果のＳ／Ｎ比が低下することがある。

　電流測定結果のＳ／Ｎ比が低下した場合、画素回路を流れる電流を正確に測定できず、画素回路内の素子の特性のばらつきや変動を補償するように映像信号を正確に補正することができない。このため、有機ＥＬ表示装置では、電流測定結果に基づき映像信号を補正しても、電流測定時のノイズの影響によって高画質表示を行えないことがある。

　特許文献２に記載のセンシング部では、電圧の誤差成分を測定するタイミングと、信号電圧を測定するタイミングとが異なる。このため、これら２つのタイミングの間でノイズレベルが異なる場合には、増幅部９１と誤差補償部９２に含まれる素子の誤差成分を十分に補償することができない。

　画素回路内の素子の特性のばらつきや変動を補償するために、画素回路内の節点の電圧を測定する電圧測定回路を備えた有機ＥＬ表示装置でも、上記と同様の問題が発生する。

　それ故に、本発明は、画素回路について電流または電圧を測定するときに測定時のノイズを除去できる表示装置を提供することを目的とする。

　本発明の第１の局面は、アクティブマトリクス型の表示装置であって、
　複数の走査線と複数のデータ線と２次元状に配置された複数の画素回路とを含む表示部と、
　前記走査線を駆動する走査線駆動回路と、
　前記データ線を駆動するデータ線駆動回路と、
　複数の測定部を含み、前記画素回路について電流または電圧を測定する測定回路とを備え、
　前記測定回路は、一部の測定部に測定用信号を供給して前記画素回路について電流または電圧を測定する本測定と、残余の測定部の少なくとも一部にダミー信号を供給して電流または電圧を測定するダミー測定とを同じタイミングで行い、前記本測定の結果と前記ダミー測定の結果とに対して演算を行うことを特徴とする。

　本発明の第２の局面は、本発明の第１の局面において、
　前記測定回路は、前記ダミー測定を行うときには測定されるべき値が略ゼロである信号を前記ダミー信号として供給し、前記本測定の結果と前記ダミー測定の結果との差を求めることを特徴とする。

　本発明の第３の局面は、本発明の第２の局面において、
　前記測定部は前記データ線に対応して設けられており、
　前記測定回路は、前記残余の測定部の少なくとも一部に前記ダミー信号を供給して前記画素回路について電流または電圧を測定することを特徴とする。

　本発明の第４の局面は、本発明の第３の局面において、
　前記測定部は第１および第２グループに分類され、
　前記測定回路は、第１期間において前記第１グループ内の測定部を用いた本測定と前記第２グループ内の測定部を用いたダミー測定とを同じタイミングで行い、第２期間において前記第２グループ内の測定部を用いた本測定と前記第１グループ内の測定部を用いたダミー測定とを同じタイミングで行うことを特徴とする。

　本発明の第５の局面は、本発明の第４の局面において、
　前記測定部は、対応するデータ線の配置順に従い、複数個ずつ交互に前記第１および第２グループに分類されることを特徴とする。

　本発明の第６の局面は、本発明の第４の局面において、
　前記測定部は、対応するデータ線の配置順に従い、１個ずつ交互に前記第１および第２グループに分類されることを特徴とする。

　本発明の第７の局面は、本発明の第４の局面において、
　前記測定回路は、前記第１グループ内の測定部の出力について選択を行うセレクタと、前記第２グループ内の測定部の出力について選択を行うセレクタとをさらに含むことを特徴とする。

　本発明の第８の局面は、本発明の第５の局面において、
　前記画素回路は、対応するデータ線ごとに複数の表示色のいずれかを有し、
　前記測定部は、対応するデータ線の配置順に従い、前記表示色と同数ずつ交互に前記第１および第２グループに分類されることを特徴とする。

　本発明の第９の局面は、本発明の第２の局面において、
　１個以上のダミー測定対象回路をさらに備え、
　前記一部の測定部は前記データ線に対応して設けられ、前記残余の測定部は前記ダミー測定対象回路に対応して設けられており、
　前記測定回路は、前記残余の測定部の少なくとも一部に前記ダミー信号を供給して前記ダミー測定対象回路について電流または電圧を測定することを特徴とする。

　本発明の第１０の局面は、本発明の第９の局面において、
　前記ダミー測定対象回路は、前記データ線と同じ負荷を有することを特徴とする。

　本発明の第１１の局面は、本発明の第９の局面において、
　前記測定回路は、前記一部の測定部の出力について選択を行うセレクタをさらに含むことを特徴とする。

　本発明の第１２の局面は、本発明の第２の局面において、
　前記測定回路で測定された電流または電圧に基づき、前記データ線駆動回路に供給される映像信号を補正する補正部をさらに備える。

　本発明の第１３の局面は、本発明の第２の局面において、
　前記画素回路は、電気光学素子と、前記電気光学素子に直列に接続された駆動トランジスタとを含むことを特徴とする。

　本発明の第１４の局面は、本発明の第１３の局面において、
　前記測定回路で測定された電流または電圧に基づき、前記データ線駆動回路に供給される映像信号を補正する補正部と、
　前記画素回路ごとに前記電気光学素子と前記駆動トランジスタの閾値電圧とゲインを記憶する記憶部とをさらに備え、
　前記補正部は、前記測定回路で測定された電流または電圧に基づき、前記記憶部に記憶される閾値電圧とゲインを求め、前記記憶部に記憶された閾値電圧とゲインに基づき前記映像信号を補正することを特徴とする。

　本発明の第１５の局面は、本発明の第１３の局面において、
　前記画素回路は、
　　前記データ線に接続された第１導通端子、前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第２導通端子、および、前記走査線のうち第１走査線に接続された制御端子を有する書き込み制御トランジスタと、
　　前記データ線に接続された第１導通端子、前記駆動トランジスタと前記電気光学素子の接続点に接続された第２導通端子、および、前記走査線のうち第２走査線に接続された制御端子を有する読み出し制御トランジスタとをさらに含むことを特徴とする。

　本発明の第１６の局面は、本発明の第２の局面において、
　前記測定回路は、前記画素回路について電流または電圧を測定した結果を示すアナログ信号をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器をさらに含み、前記本測定の結果に対するＡ／Ｄ変換と前記ダミー測定の結果に対するＡ／Ｄ変換とを同じタイミングで行うことを特徴とする。

　本発明の第１７の局面は、本発明の第２の局面において、
　前記測定回路は、前記画素回路を流れる電流を測定する電流測定回路であることを特徴とする。

　本発明の第１８の局面は、本発明の第１７の局面において、
　前記データ線駆動回路と前記電流測定回路は、増幅回路を共有することを特徴とする。

　本発明の第１９の局面は、本発明の第２の局面において、
　前記測定回路は、前記画素回路内の節点の電圧を測定する電圧測定回路であることを特徴とする。

　本発明の第２０の局面は、複数の走査線と複数のデータ線と２次元状に配置された複数の画素回路とを含む表示部を有するアクティブマトリクス型の表示装置の駆動方法であって、
　前記走査線を駆動するステップと、
　前記データ線を駆動するステップと、
　複数の測定部を用いて、前記画素回路について電流または電圧を測定するステップとを備え、
　前記測定するステップは、
　　一部の測定部に測定用信号を供給して前記画素回路について電流または電圧を測定する本測定と、残余の測定部の少なくとも一部にダミー信号を供給して電流または電圧を測定するダミー測定とを同じタイミングで行うステップと、
　　前記本測定の結果と前記ダミー測定の結果とに対して演算を行うステップとを含むことを特徴とする。

　本発明の第１または第２０の局面によれば、本測定とダミー測定を同じタイミングで行い、本測定の結果とダミー測定の結果とに対して演算を行うことにより、画素回路について電流または電圧を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。また、電流または電圧の測定結果を用いて、高画質表示を行うことができる。

　本発明の第２の局面によれば、測定されるべき値が略ゼロであるダミー信号を用い、本測定の結果とダミー測定の結果との差を求めることにより、画素回路について電流または電圧を測定するときに測定時のノイズを容易に除去することができる。

　本発明の第３の局面によれば、画素回路について電流または電圧を測定するダミー測定を行うことにより、ダミー測定用の回路を設けることなく、画素回路について電流または電圧を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。

　本発明の第４の局面によれば、測定部を２個のグループに分けて、本測定とダミー測定を交互に行うことにより、データ線と同数の画素回路について電流または電圧を２回の本測定で測定することができる。

　本発明の第５の局面によれば、画素回路について電流または電圧を測定するときに、近傍の画素回路についてのダミー測定の結果を参照することにより、電流または電圧測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　本発明の第６の局面によれば、画素回路について電流または電圧を測定するときに、隣接する画素回路についてのダミー測定の結果を参照することにより、電流または電圧測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　本発明の第７の局面によれば、セレクタを用いて本測定の結果とダミー測定の結果を選択し、選択された２個の測定結果に対して演算を行うことができる。

　本発明の第８の局面によれば、同じ表示色を有する画素回路について本測定とダミー測定を行うことにより、電流または電圧測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　本発明の第９の局面によれば、ダミー測定対象回路を設け、ダミー測定対象回路について電流または電圧を測定するダミー測定を行うことにより、データ線と同数の画素回路を流れる電流を１回の本測定で測定することができる。

　本発明の第１０の局面によれば、データ線と同じ負荷を有するダミー測定対象回路を用いることにより、本測定と同じ条件でダミー測定を行うことができる。

　本発明の第１１の局面によれば、セレクタを用いて本測定の結果を選択し、選択された本測定の結果とダミー測定の結果とに対して演算を行うことができる。

　本発明の第１２の局面よれば、測定された電流または電圧に基づき映像信号を補正することにより、高画質表示を行うことができる。

　本発明の第１３の局面によれば、電気光学素子と駆動トランジスタとを含む画素回路を備えた表示装置について、画素回路について電流または電圧を測定するときに測定時のノイズを除去することができる

　本発明の第１４の局面によれば、電流または電圧測定結果に基づき電気光学素子と駆動トランジスタの閾値電圧とゲインを求め、これを用いて映像信号を補正することにより、電気光学素子と駆動トランジスタの特性のばらつきや変動を補償して高画質表示を行うことができる。

　本発明の第１５の局面によれば、電気光学素子と駆動トランジスタと書き込み制御トランジスタと読み出し制御トランジスタとを含む画素回路を備えた表示装置について、電流または電圧測定時のノイズを除去して高画質表示を行うことができる。

　本発明の第１６の局面よれば、本測定の結果に対するＡ／Ｄ変換とダミー測定の結果に対するＡ／Ｄ変換とを同じタイミングで行うことにより、電流または電圧測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　本発明の第１７の局面よれば、画素回路を流れる電流を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。

　本発明の第１８の局面よれば、データ線駆動回路と電流測定回路で増幅器を共有することにより、表示装置の回路量を削減することができる。

　本発明の第１９の局面よれば、画素回路内の節点の電圧を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。

本発明の第１の実施形態に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図１に示す表示装置の画素回路と出力／測定回路の回路図である。図１に示す表示装置のデータ線駆動／電流測定回路の一部を詳細に示す図である。図１に示す表示装置の駆動トランジスタの特性検出時の本測定のタイミングチャートである。図１に示す表示装置の有機ＥＬ素子の特性検出時の本測定のタイミングチャートである。図１に示す表示装置における補正処理のフローチャートである。図１に示す表示装置における出力／測定回路とセレクタの対応づけ、および、本測定とダミー測定の切り替え方法を示す図である。本発明の第２の実施形態に係る表示装置における出力／測定回路とセレクタの対応づけ、および、本測定とダミー測定の切り替え方法を示す図である。本発明の第３の実施形態に係る表示装置における出力／測定回路とセレクタの対応づけ、および、本測定とダミー測定の切り替え方法を示す図である。本発明の第４の実施形態に係る表示装置のデータ線駆動／電流測定回路の一部を詳細に示す図である。本発明の第４の実施形態に係る表示装置における本測定とダミー測定のタイミングを示す図である。本発明の第４の実施形態の変形例に係る表示装置のデータ線駆動／電流測定回路の一部を詳細に示す図である。本発明の第５の実施形態に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図１３に示す表示装置の画素回路と出力／測定回路の構成を示す図である。従来の表示装置に含まれるセンシング部の構成を示す図である。

　以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る表示装置について説明する。本発明の実施形態に係る表示装置は、有機ＥＬ素子と駆動トランジスタを含む画素回路を備えたアクティブマトリクス型の有機ＥＬ表示装置である。以下の説明では、薄膜トランジスタをＴＦＴ（Thin Film Transistor）、有機ＥＬ素子をＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）ともいう。また、ｍ、ｎおよびｐは２以上の整数、ｉは１以上ｎ以下の整数、ｊは１以上ｍ以下の整数であるとする。

　（第１の実施形態）
　図１は、本発明の第１の実施形態に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図１に示す表示装置１０は、表示部１１、表示制御回路１２、走査線駆動回路１３、データ線駆動／電流測定回路（データ線駆動回路と電流測定回路の兼用回路）１４、および、補正データ記憶部１５を備えている。表示制御回路１２は、補正部１６を含んでいる。

　表示部１１は、２ｎ本の走査線ＧＡ１～ＧＡｎ、ＧＢ１～ＧＢｎ、ｍ本のデータ線Ｓ１～Ｓｍ、および、（ｍ×ｎ）個の画素回路２０を含んでいる。走査線ＧＡ１～ＧＡｎ、ＧＢ１～ＧＢｎは、互いに平行に配置される。データ線Ｓ１～Ｓｍは、互いに平行に、かつ、走査線ＧＡ１～ＧＡｎ、ＧＢ１～ＧＢｎと直交するように配置される。走査線ＧＡ１～ＧＡｎとデータ線Ｓ１～Ｓｍは、（ｍ×ｎ）箇所で交差する。（ｍ×ｎ）個の画素回路２０は、走査線ＧＡ１～ＧＡｎとデータ線Ｓ１～Ｓｍの交差点に対応して２次元状に配置される。画素回路２０には、図示しない電源線または電源電極を用いてハイレベル電源電圧ＥＬＶＤＤとローレベル電源電圧ＥＬＶＳＳが供給される。

　表示装置１０には、外部から映像信号ＶＳ１が入力される。表示制御回路１２は、映像信号ＶＳ１に基づき、走査線駆動回路１３に対して制御信号ＣＳ１を出力し、データ線駆動／電流測定回路１４に対して制御信号ＣＳ２と映像信号ＶＳ２を出力する。制御信号ＣＳ１には、例えば、ゲートスタートパルスやゲートクロックが含まれる。制御信号ＣＳ２には、例えば、ソーススタートパルスやソースクロックが含まれる。映像信号ＶＳ２は、補正部１６において映像信号ＶＳ１に対して後述する補正を行うことにより得られる。

　走査線駆動回路１３とデータ線駆動／電流測定回路１４は、表示部１１の外部に設けられる。走査線駆動回路１３とデータ線駆動／電流測定回路１４は、画素回路２０に対して映像信号ＶＳ２に応じたデータ電圧を書き込む処理と、画素回路２０に測定用電圧を書き込んだときに画素回路２０を流れる電流を測定する処理とを選択的に行う。以下、前者を「書き込み」、後者を「電流測定」という。

　走査線駆動回路１３は、制御信号ＣＳ１に基づき、走査線ＧＡ１～ＧＡｎ、ＧＢ１～ＧＢｎを駆動する。走査線駆動回路１３は、書き込み時には、走査線ＧＡ１～ＧＡｎの中から１本の走査線を順に選択し、選択した走査線に選択電圧（ここでは、ハイレベル電圧）を印加する。これにより、選択された走査線に接続されたｍ個の画素回路２０が一括して選択される。

　データ線駆動／電流測定回路１４は、駆動／測定信号生成回路（駆動信号と測定信号の生成回路）１７、信号変換回路４０、および、ｍ個の出力／測定回路（出力回路と測定回路の兼用回路）３０を含み、制御信号ＣＳ２に基づきデータ線Ｓ１～Ｓｍを駆動する。データ線駆動／電流測定回路１４は、書き込み時には、映像信号ＶＳ２に応じたｍ個のデータ電圧をデータ線Ｓ１～Ｓｍにそれぞれ印加する。これにより、選択されたｍ個の画素回路２０にｍ個のデータ電圧がそれぞれ書き込まれる。

　走査線駆動回路１３は、電流測定時には、後述するタイミングで走査線ＧＡ１～ＧＡｎ、ＧＢ１～ＧＢｎを駆動する。データ線駆動／電流測定回路１４は、ｍ個の出力／測定回路３０を２個のグループに分類する。出力／測定回路３０は、電流測定時には、測定回路に含まれる測定部として機能する。データ線駆動／電流測定回路１４は、電流測定時には、一方のグループ内の出力／測定回路３０に測定用信号として測定用電圧を供給し、当該出力／測定回路に接続された画素回路２０に測定用電圧を書き込んだときに当該画素回路を流れる電流を測定する処理（以下、本測定という）と、他方のグループ内の出力／測定回路３０にダミー信号としてゼロ電圧を供給し、当該出力／測定回路に接続された画素回路２０にゼロ電圧を書き込んだときに当該画素回路を流れる電流を測定する処理（以下、ダミー測定という）とを行う。ここで、ゼロ電圧とは、出力／測定回路３０によって測定されるべき値（電圧測定結果の期待値）がゼロである電圧をいう。ダミー信号には、測定されるべき値が略ゼロ（ゼロを含む）である信号が使用される。データ線駆動／電流測定回路１４は、本測定とダミー測定を同じタイミングで行い、本測定の結果とダミー測定の結果とに対して両者の差を求める演算を行うことにより、画素回路２０を流れる電流を測定する。データ線駆動／電流測定回路１４は、画素回路２０を流れる電流を測定した結果を含むモニタ信号ＭＳを表示制御回路１２に対して出力する。

　補正部１６は、モニタ信号ＭＳに基づき画素回路２０内の駆動トランジスタと有機ＥＬ素子の特性を求め、求めた特性を用いて映像信号ＶＳ１を補正することにより映像信号ＶＳ２を求める。補正データ記憶部１５は、補正部１６の作業用メモリである。補正データ記憶部１５は、ＴＦＴオフセット記憶部１５ａ、ＴＦＴゲイン記憶部１５ｂ、ＯＬＥＤオフセット記憶部１５ｃ、および、ＯＬＥＤゲイン記憶部１５ｄを含んでいる。ＴＦＴオフセット記憶部１５ａは、各画素回路２０について駆動トランジスタの閾値電圧を記憶する。ＴＦＴゲイン記憶部１５ｂは、各画素回路２０について駆動トランジスタのゲインを記憶する。ＯＬＥＤオフセット記憶部１５ｃは、各画素回路２０について有機ＥＬ素子の閾値電圧を記憶する。ＯＬＥＤゲイン記憶部１５ｄは、各画素回路２０について有機ＥＬ素子のゲインを記憶する。

　図２は、画素回路２０と出力／測定回路３０の回路図である。図２には、ｉ行ｊ列目の画素回路２０と、データ線Ｓｊに対応した出力／測定回路３０とが記載されている。図２に示すように、ｉ行ｊ列目の画素回路２０は、トランジスタ２１～２３、有機ＥＬ素子２４、および、コンデンサ２５を含み、走査線ＧＡｉ、ＧＢｉとデータ線Ｓｊに接続される。トランジスタ２１～２３は、Ｎチャネル型ＴＦＴである。

　トランジスタ２１のドレイン端子には、ハイレベル電源電圧ＥＬＶＤＤが印加される。トランジスタ２１のソース端子は、有機ＥＬ素子２４のアノード端子に接続される。有機ＥＬ素子２４のカソード端子には、ローレベル電源電圧ＥＬＶＳＳが印加される。トランジスタ２２、２３の一方の導通端子（図２では左側の端子）は、データ線Ｓｊに接続される。トランジスタ２２の他方の導通端子はトランジスタ２１のゲート端子に接続され、トランジスタ２２のゲート端子は走査線ＧＡｉに接続される。トランジスタ２３の他方の導通端子はトランジスタ２１のソース端子と有機ＥＬ素子２４のアノード端子に接続され、トランジスタ２３のゲート端子は走査線ＧＢｉに接続される。コンデンサ２５は、トランジスタ２１のゲート端子とドレイン端子の間に設けられる。トランジスタ２１～２３は、それぞれ、駆動トランジスタ、書き込み制御トランジスタ、および、読み出し制御トランジスタとして機能する。

　データ線Ｓｊに対応した出力／測定回路３０は、オペアンプ３１、コンデンサ３２、および、スイッチ３３～３５を含み、データ線Ｓｊに接続される。スイッチ３４の一端（図２では上端）とスイッチ３５の一端（図２では左端）は、データ線Ｓｊに接続される。スイッチ３５の他端には、所定の電圧Ｖ０が印加される。オペアンプ３１の非反転入力端子には、データ線Ｓｊに対応したＤ／Ａ変換器（図示せず）の出力信号ＤＶｊが印加される。オペアンプ３１の反転入力端子は、スイッチ３４の他端に接続される。コンデンサ３２は、オペアンプ３１の反転入力端子と出力端子との間に設けられる。スイッチ３３は、コンデンサ３２と並列に、オペアンプ３１の反転入力端子と出力端子との間に設けられる。スイッチ３３～３５は、それぞれ、スイッチ制御信号ＣＬＫ１、ＣＬＫ２、ＣＬＫ２Ｂがハイレベルのときにオンする。スイッチ制御信号ＣＬＫ２Ｂは、スイッチ制御信号ＣＬＫ２の否定信号である。

　図３は、データ線駆動／電流測定回路１４の一部を詳細に示す図である。図３に示すように、ｍ個の出力／測定回路３０は、ｍ本のデータ線Ｓ１～Ｓｍに対応して設けられる。データ線Ｓ１～Ｓｍは、ｐ本ずつ（ｍ／ｐ）個のグループに分類される。信号変換回路４０は、セレクタ４１、オフセット回路４２、および、Ａ／Ｄ変換器４３を（ｍ／ｐ）個ずつ含んでいる。セレクタ４１、オフセット回路４２、および、Ａ／Ｄ変換器４３は、データ線の１個のグループに対応づけられる。各セレクタ４１の前段には、ｐ個の出力／測定回路３０が設けられる。（ｍ／ｐ）個のＡ／Ｄ変換器４３の後段には、駆動／測定信号生成回路１７が設けられる。

　セレクタ４１は、ｐ個の出力／測定回路３０の出力端子（オペアンプ３１の出力端子）に接続される。セレクタ４１は、ｐ個の出力／測定回路３０の出力信号の中から１個のアナログ信号を選択する。オフセット回路４２は、セレクタ４１で選択されたアナログ信号に所定のオフセットを加算する。Ａ／Ｄ変換器４３は、オフセット回路４２から出力されたアナログ信号をデジタル値に変換する。駆動／測定信号生成回路１７は、（ｍ／ｐ）個のＡ／Ｄ変換器４３で求めたデジタル値に基づき、本測定の結果とダミー測定の結果の差を求めて一時的に記憶する。各セレクタ４１は、ｐ個のオペアンプ３１の出力信号を順に選択する。セレクタ４１がｐ回の選択を完了したとき、駆動／測定信号生成回路１７には、本測定の結果とダミー測定の結果の差を表す（ｍ／２）個のデジタル値が記憶されている。駆動／測定信号生成回路１７は、表示制御回路１２に対して、（ｍ／２）個のデジタル値を含むモニタ信号ＭＳを出力する。

　映像信号ＶＳ１を補正して映像信号ＶＳ２を求めるために、データ線駆動／電流測定回路１４は、各画素回路２０について４種類の電流を測定する。より詳細には、各画素回路２０内のトランジスタ２１の特性を求めるために、データ線駆動／電流測定回路１４は、画素回路２０に第１測定用電圧Ｖｍ１を書き込んだときに画素回路２０から流れ出す電流Ｉｍ１と、画素回路２０に第２測定用電圧Ｖｍ２（＞Ｖｍ１）を書き込んだときに画素回路２０から流れ出す電流Ｉｍ２とを測定する。また、各画素回路２０内の有機ＥＬ素子２４の特性を求めるために、データ線駆動／電流測定回路１４は、画素回路２０に第３測定用電圧Ｖｍ３を書き込んだときに画素回路２０に流れ込む電流Ｉｍ３と、画素回路２０に第４測定用電圧Ｖｍ４（＞Ｖｍ３）を書き込んだときに画素回路２０に流れ込む電流Ｉｍ４とを測定する。以下、電流Ｉｍ１、Ｉｍ２を測定するときを「駆動トランジスタの特性検出時」、電流Ｉｍ３、Ｉｍ４を測定するときを「有機ＥＬ素子の特性検出時」という。

　走査線駆動回路１３とデータ線駆動／電流測定回路１４は、１行分の画素回路２０に対する書き込み処理と、半行分の画素回路２０について４種類の電流Ｉｍ１～Ｉｍ４のうちいずれかを測定する処理とを行う。例えば、走査線駆動回路１３とデータ線駆動／電流測定回路１４は、連続した８フレーム期間のうち、第１、第３、第５、および、第７フレーム期間内のｉ番目のライン期間ではｉ行目の画素回路２０のうち半分について電流Ｉｍ１～Ｉｍ４をそれぞれ測定し、第２、第４、第６、および、第８フレーム期間内のｉ番目のライン期間ではｉ行目の画素回路２０のうち残り半分について電流Ｉｍ１～Ｉｍ４をそれぞれ測定し、それ以外のライン期間では１行分の画素回路２０に対する書き込み処理を行ってもよい。

　図４は、駆動トランジスタの特性検出時の本測定のタイミングチャートである。図５は、有機ＥＬ素子の特性検出時の本測定のタイミングチャートである。図４および図５において、期間ｔ０は（ｉ－１）行目の画素回路２０の書き込み時の選択期間であり、期間ｔ１～ｔ６はｉ行目の画素回路２０の電流測定時の選択期間である。電流測定時の選択期間には、リセット期間ｔ１、リファレンス電圧書き込み期間ｔ２、測定用電圧書き込み期間ｔ３、電流測定期間ｔ４、Ａ／Ｄ変換期間ｔ５、および、データ電圧書き込み期間ｔ６が含まれる。以下、走査線ＧＡｉ、ＧＢｉ上の信号を走査信号ＧＡｉ、ＧＢｉ、データ線Ｓｊに対応したＤ／Ａ変換器の出力信号の電圧をＤＶｊという。なお、ダミー測定のタイミングチャートは、図４および図５において、期間ｔ３～ｔ５における電圧ＤＶｊをゼロ電圧にすることにより得られる。

　期間ｔ１より前では、走査信号ＧＡｉ、ＧＢｉとスイッチ制御信号ＣＬＫ２Ｂはローレベル、スイッチ制御信号ＣＬＫ１、ＣＬＫ２はハイレベルである。期間ｔ０では、走査信号ＧＡｉ－１（図示せず）はハイレベル、走査信号ＧＢｉ－１（図示せず）はローレベル、電圧ＤＶｊは（ｉ－１）行ｊ列目の画素回路２０に書き込むべきデータ電圧Ｖｄａｔａ（ｉ－１，ｊ）になる。

　期間ｔ１では、走査信号ＧＡｉ、ＧＢｉはハイレベル、電圧ＤＶｊはプリチャージ電圧Ｖｐｃになる。プリチャージ電圧Ｖｐｃは、トランジスタ２１がオフするように決定される。特に、プリチャージ電圧Ｖｐｃは、駆動トランジスタ（トランジスタ２１）と有機ＥＬ素子２４が共にオフする範囲内で、できるだけ高く決定することが好ましい（理由は後述）。期間ｔ１では、ｉ行目の画素回路２０において、トランジスタ２２、２３はオンし、トランジスタ２１のゲート端子およびソース端子、並びに、有機ＥＬ素子２４のアノード端子にプリチャージ電圧Ｖｐｃが印加される。これにより、ｉ行目の画素回路２０内のトランジスタ２１と有機ＥＬ素子２４は初期化される。

　例えば、ＩｎＧａＺｎＯ（Indium Gallium Zinc Oxide ：インジウム－ガリウム－亜鉛酸化物）などの酸化物半導体を用いてトランジスタ２１を形成した場合、トランジスタ２１がヒステリシス特性を有することがある。このような場合にトランジスタ２１を初期化せずに使用すると、直前の表示状態によって電流測定結果が異なることがある。電流測定時の選択期間の先頭にリセット期間ｔ１を設け、リセット期間ｔ１においてトランジスタ２１を初期化することにより、ヒステリシス特性に起因する電流測定結果のばらつきを防止することができる。なお、有機ＥＬ素子２４はヒステリシス特性を有しないので、有機ＥＬ素子の特性検出時にはリセット期間ｔ１を設ける必要はない。また、表示中ではなく、電源投入直後や表示オフ中に非表示状態で電流を測定する場合には、リセット期間を省略することができる。

　期間ｔ２では、走査信号ＧＡｉはハイレベル、走査信号ＧＢｉはローレベル、電圧ＤＶｊはリファレンス電圧（駆動トランジスタの特性検出時にはＶｒｅｆ＿ＴＦＴ、有機ＥＬ素子の特性検出時にはＶｒｅｆ＿ＯＬＥＤ）になる。期間ｔ２では、ｉ行ｊ列目の画素回路２０において、トランジスタ２２はオンし、トランジスタ２３はオフし、トランジスタ２１のゲート端子にはリファレンス電圧Ｖｒｅｆ＿ＴＦＴまたはＶｒｅｆ＿ＯＬＥＤが印加される。リファレンス電圧Ｖｒｅｆ＿ＴＦＴは、期間ｔ３、ｔ４においてトランジスタ２１がオンする高い電圧に決定される。リファレンス電圧Ｖｒｅｆ＿ＯＬＥＤは、期間ｔ３、ｔ４においてトランジスタ２１がオフする低い電圧に決定される。

　期間ｔ３では、走査信号ＧＡｉはローレベル、走査信号ＧＢｉはハイレベル、電圧ＤＶｊは第１～第４測定用電圧Ｖｍ１～Ｖｍ４のいずれかになる。図４に示すＶｍ＿ＴＦＴは第１および第２測定用電圧Ｖｍ１、Ｖｍ２のいずれかを表し、図５に示すＶｍ＿ＯＬＥＤは第３および第４測定用電圧Ｖｍ３、Ｖｍ４のいずれかを表す。期間ｔ３では、ｉ行ｊ列目の画素回路２０において、トランジスタ２２はオフし、トランジスタ２３はオンし、有機ＥＬ素子２４のアノード端子には第１～第４測定用電圧Ｖｍ１～Ｖｍ４のいずれかが印加される。駆動トランジスタの特性検出時には、トランジスタ２１はオンし、電流はハイレベル電源電圧ＥＬＶＤＤを有する電源線または電源電極からトランジスタ２１、２３を通過してデータ線Ｓｊに流れる。有機ＥＬ素子の特性検出時には、トランジスタ２１はオフし、電流はデータ線Ｓｊからトランジスタ２３と有機ＥＬ素子２４を通過してローレベル電源電圧ＥＬＶＳＳを有する電源線または電源電極に流れる。期間ｔ３の開始からしばらく経つと、データ線Ｓｊは所定の電圧レベルに充電され、画素回路２０からデータ線Ｓｊに流れ出す電流（あるいは、データ線Ｓｊから画素回路２０に流れ込む電流）は一定になる。

　なお、駆動トランジスタの特性検出時に、期間ｔ２におけるトランジスタ２１のソース電位が低い場合には、期間ｔ３の開始時にトランジスタ２１のゲート－ソース間電圧が大きくなり、トランジスタ２１に大きな電流が流れて、有機ＥＬ素子２４が発光する。このときの発光を防止するためには、上述したように、駆動トランジスタと有機ＥＬ素子２４が共にオフする範囲内で、期間ｔ１で印加するプリチャージ電圧Ｖｐｃを高く決定しておけばよい。

　期間ｔ４では、走査信号ＧＡｉ、ＧＢｉと電圧ＤＶｊは期間ｔ３と同じレベルを保ち、スイッチ制御信号ＣＬＫ１はローレベルになる。期間ｔ４では、スイッチ３３はオフし、オペアンプ３１の出力端子と反転入力端子はコンデンサ３２を介して接続される。このとき、オペアンプ３１とコンデンサ３２は積分アンプとして機能する。期間ｔ４の終了時におけるオペアンプ３１の出力電圧は、ｉ行ｊ列目の画素回路２０とデータ線Ｓｊを流れる電流の量、コンデンサ３２の容量、および、期間ｔ４の長さなどによって決まる。

　期間ｔ５では、走査信号ＧＡｉ、ＧＢｉとスイッチ制御信号ＣＬＫ１、ＣＬＫ２はローレベル、スイッチ制御信号ＣＬＫ２Ｂはハイレベルになり、電圧ＤＶｊは期間ｔ３、ｔ４と同じレベルを保つ。期間ｔ５では、ｉ行ｊ列目の画素回路２０において、トランジスタ２２、２３はオフする。また、スイッチ３４がオフし、スイッチ３５がオンするので、データ線Ｓｊはオペアンプ３１の非反転入力端子から電気的に切り離され、データ線Ｓｊには電圧Ｖ０が印加される。オペアンプ３１の非反転入力端子はデータ線Ｓｊから電気的に切り離されるので、オペアンプ３１の出力電圧は一定になる。期間ｔ５において、データ線Ｓｊを含むグループに対応したオフセット回路４２はオペアンプ３１の出力電圧にオフセットを加算し、当該グループに対応したＡ／Ｄ変換器４３はオフセット加算後のアナログ信号をデジタル値に変換する（図３を参照）。

　期間ｔ６では、走査信号ＧＡｉはハイレベル、走査信号ＧＢｉはローレベル、電圧ＤＶｊはｉ行ｊ列目の画素回路２０に書き込むべきデータ電圧Ｖｄａｔａ（ｉ，ｊ）になる。期間ｔ６では、ｉ行ｊ列目の画素回路２０において、トランジスタ２２がオンし、トランジスタ２１のゲート端子にデータ電圧Ｖｄａｔａ（ｉ，ｊ）が印加される。期間ｔ６の終了時に走査信号ＧＡｉがローレベルに変化すると、ｉ行ｊ列目の画素回路２０内のトランジスタ２２はオフする。これ以降、ｉ行ｊ列目の画素回路２０において、トランジスタ２１のゲート電圧は、コンデンサ２５の作用によってＶｄａｔａ（ｉ，ｊ）に保たれる。

　補正部１６は、測定された４種類の電流Ｉｍ１～Ｉｍ４に基づき、トランジスタ２１と有機ＥＬ素子２４の特性を求める処理を行い、求めた２種類の特性に基づき映像信号ＶＳ１を補正する。より詳細には、補正部１６は、２種類の電流Ｉｍ１、Ｉｍ２に基づき、トランジスタ２１の特性として閾値電圧とゲインを求める。トランジスタ２１の閾値電圧はＴＦＴオフセット記憶部１５ａに書き込まれ、トランジスタ２１のゲインはＴＦＴゲイン記憶部１５ｂに書き込まれる。また、補正部１６は、２種類の電流Ｉｍ３、Ｉｍ４に基づき、有機ＥＬ素子２４の特性として閾値電圧とゲインを求める。有機ＥＬ素子２４の閾値電圧はＯＬＥＤオフセット記憶部１５ｃに書き込まれ、有機ＥＬ素子２４のゲインはＯＬＥＤゲイン記憶部１５ｄに書き込まれる。補正部１６は、補正データ記憶部１５から閾値電圧とゲインを読み出し、これらを用いて映像信号ＶＳ１を補正する。

　以下、画素回路２０に第１および第２測定用電圧Ｖｍ１、Ｖｍ２を書き込んだときのトランジスタ２１のゲート－ソース間電圧を、それぞれ、Ｖｇｓｍ１、Ｖｇｓｍ２とし、画素回路２０に第３および第４測定用電圧Ｖｍ３、Ｖｍ４を書き込んだときの有機ＥＬ素子２４のアノード－カソード間電圧を、それぞれ、Ｖｏｍ３、Ｖｏｍ４とする。

　補正部１６は、電流Ｉｍ１、Ｉｍ２を含むモニタ信号ＭＳを受け取ったときには、電圧Ｖｇｓｍ１、Ｖｇｓｍ２、および、電流Ｉｍ１、Ｉｍ２に対して、次式（１ａ）、（１ｂ）に示す演算を行うことにより、トランジスタ２１の閾値電圧Ｖｔｈ_TFT とゲインβ_TFT を求める。

　閾値電圧Ｖｔｈ_TFT はＴＦＴオフセット記憶部１５ａに書き込まれ、ゲインβ_TFT はＴＦＴゲイン記憶部１５ｂに書き込まれる。

　補正部１６は、電流Ｉｍ３、Ｉｍ４を含むモニタ信号ＭＳを受け取ったときには、電圧Ｖｏｍ３、Ｖｏｍ４、および、電流Ｉｍ３、Ｉｍ４に対して、次式（２ａ）、（２ｂ）に示す演算を行うことにより、有機ＥＬ素子２４の閾値電圧Ｖｔｈ_OLEDとゲインβ_OLEDを求める。

　なお、式（２ａ）、（２ｂ）において、Ｋは２以上３以下の定数である。閾値電圧Ｖｔｈ_OLEDはＯＬＥＤオフセット記憶部１５ｃに書き込まれ、ゲインβ_OLEDはＯＬＥＤゲイン記憶部１５ｄに書き込まれる。

　図６は、映像信号ＶＳ１に対する補正処理のフローチャートである。補正部１６は、映像信号ＶＳ１に含まれるコード値ＣＶ０に対して、トランジスタ２１の閾値電圧Ｖｔｈ_TFT 、トランジスタ２１のゲインβ_TFT 、有機ＥＬ素子２４の閾値電圧Ｖｔｈ_OLED、および、有機ＥＬ素子２４のゲインβ_OLEDを用いて補正を行う。以下の処理で用いられる閾値電圧Ｖｔｈ_TFT 、Ｖｔｈ_OLEDおよびゲインβ_TFT 、β_OLEDは、補正データ記憶部１５から読み出されたものである。

　補正部１６は、まず、有機ＥＬ素子２４の発光効率を補正する処理を行う（ステップＳ１０１）。具体的には、補正部１６は、次式（３）に示す演算を行うことにより、補正後のコード値ＣＶ１を求める。
　　ＣＶ１＝ＣＶ０×γ　…（３）
　ただし、式（３）において、γは画素回路２０ごとに求めた発光効率補正係数を表す。有機ＥＬ素子２４の発光効率が大きく低下している画素ほど、発光効率補正係数γは大きな値を有する。なお、γを計算で求めることもできる。

　次に、補正部１６は、補正後のコード値ＣＶ１をトランジスタ２１のゲート－ソース間電圧を表す電圧値Ｖｄａｔａ１_TFT と有機ＥＬ素子２４のアノード－カソード間電圧を表す電圧値Ｖｄａｔａ１_OLEDとに変換する（ステップＳ１０２）。ステップＳ１０２における変換は、例えば、予め用意したテーブルを参照する方法や、演算器を用いて演算する方法で行われる。

　次に、補正部１６は、電圧値Ｖｄａｔａ１_TFT に対して次式（４）に示す演算を行うことにより、補正後の電圧値Ｖｄａｔａ２_TFT を求める（ステップＳ１０３）。
　　Ｖｄａｔａ２_TFT
　　　＝Ｖｄａｔａ１_TFT×Ｂ_TFT＋Ｖｔｈ_TFT　…（４）
　ただし、トランジスタ２１のゲインの初期値の平均値をβ０_TFT としたとき、式（４）に含まれるＢ_TFT は次式（５）で与えられる。
　　Ｂ_TFT＝√（β０_TFT／β_TFT）　…（５）

　次に、補正部１６は、電圧値Ｖｄａｔａ１_OLEDに対して次式（６）に示す演算を行うことにより、補正後の電圧値Ｖｄａｔａ２_OLEDを求める（ステップＳ１０４）。
　　Ｖｄａｔａ２_OLED
　　　＝Ｖｄａｔａ１_OLED×Ｂ_OLED＋Ｖｔｈ_OLED　…（６）
　ただし、有機ＥＬ素子２４のゲインの初期値の平均値をβ０_OLEDとしたとき、式（６）に含まれるＢ_OLEDは次式（７）で与えられる。
　　Ｂ_OLED＝（β０_OLED／β_OLED）^1/K　…（７）

　次に、補正部１６は、次式（８）に従い、ステップＳ１０３で求めた補正後の電圧値Ｖｄａｔａ２_TFT と、ステップＳ１０４で求めた補正後の電圧値Ｖｄａｔａ２_OLEDとを加算する。これにより、トランジスタ２１のゲート端子に印加される電圧を表す電圧値Ｖｄａｔａが得られる（ステップＳ１０５）。
　　Ｖｄａｔａ＝Ｖｄａｔａ２_TFT＋Ｖｄａｔａ２_OLED　…（８）

　最後に、補正部１６は、電圧値Ｖｄａｔａを出力コード値ＣＶに変換する（ステップＳ１０６）。ステップＳ１０６における変換は、ステップＳ１０２における変換と同様の方法で行われる。

　図７は、表示装置１０における出力／測定回路３０とセレクタ４１の対応づけ、および、本測定とダミー測定の切り替え方法を示す図である。以下、データ線Ｓｊに対応した出力／測定回路３０をｊ番目の出力／測定回路という。図３および図７に示すように、セレクタ４１には、出力／測定回路３０がｐ個ずつ順に対応づけられる。例えば、１番目のセレクタ４１には１～ｐ番目の出力／測定回路３０が対応づけられ、２番目のセレクタ４１には（ｐ＋１）～２ｐ番目の出力／測定回路３０が対応づけられる。ｍ個の出力／測定回路３０は、対応するデータ線の配置順に従い、ｐ個ずつ交互に２個のグループに分類される。１～ｐ番目、（２ｐ＋１）～３ｐ番目、…の出力／測定回路３０は第１グループに分類され、（ｐ＋１）～２ｐ番目、（３ｐ＋１）～４ｐ番目、…の出力／測定回路３０は第２グループに分類される。同様に（ｍ×ｎ）個の画素回路２０は、ｐ列ずつ交互に２個のグループに分類される。１～ｐ列目、（２ｐ＋１）～３ｐ列目、…の画素回路２０は第１グループに分類され、（ｐ＋１）～２ｐ列目、（３ｐ＋１）～４ｐ列目、…の画素回路２０は第２グループに分類される。

　データ線駆動／電流測定回路１４は、第１グループ内の画素回路２０について電流測定を行うときには、第１グループ内の出力／測定回路３０を用いた本測定と第２グループ内の出力／測定回路３０を用いたダミー測定とを同じタイミングで行い、本計測の結果とダミー計測の結果とに対して両者の差を求める演算を行う。また、データ線駆動／電流測定回路１４は、第２グループ内の画素回路２０について電流測定を行うときには、第２グループ内の出力／測定回路３０を用いた本測定と第１グループ内の出力／測定回路３０を用いたダミー測定とを同じタイミングで行い、本計測の結果とダミー計測の結果とに対して両者の差を求める演算を行う。

　具体的には、データ線駆動／電流測定回路１４は、あるフレーム期間内に設定されたｉ行目の画素回路２０の電流測定時の選択期間では、１～ｐ番目、（２ｐ＋１）～３ｐ番目、…の出力／測定回路３０に測定用電圧を供給して１～ｐ列目、（２ｐ＋１）～３ｐ列目、…の画素回路２０について本測定を行うと共に、（ｐ＋１）～２ｐ番目、（３ｐ＋１）～４ｐ番目、…の出力／測定回路３０にゼロ電圧を供給して（ｐ＋１）～２ｐ列目、（３ｐ＋１）～４ｐ列目、…の画素回路２０についてダミー測定を行う（図７の上部を参照）。また、データ線駆動／電流測定回路１４は、他のフレーム期間内に設定されたｉ行目の画素回路２０の電流測定時の選択期間では、（ｐ＋１）～２ｐ番目、（３ｐ＋１）～４ｐ番目、…の出力／測定回路３０に測定用電圧を供給して（ｐ＋１）～２ｐ列目、（３ｐ＋１）～４ｐ列目、…の画素回路２０について本測定を行うと共に、１～ｐ番目、（２ｐ＋１）～３ｐ番目、…の出力／測定回路３０にゼロ電圧を供給して１～ｐ列目、（２ｐ＋１）～３ｐ列目、…の画素回路２０についてダミー測定を行う（図７の下部を参照）。いずれの場合も、本測定とダミー測定は同じタイミングで行われる。

　各セレクタ４１は、ｐ個の出力／測定回路３０の出力信号を、例えば昇順に選択する。駆動／測定信号生成回路１７は、ｋ番目（ただし、ｋは１以上（ｍ／ｐ）以下の奇数）のセレクタ４１の出力信号に基づくデジタル値と（ｋ＋１）番目のセレクタ４１の出力信号に基づくデジタル値との差を求め、その差を一時的に記憶する。これにより、第１グループ内の出力／測定回路３０を用いた本測定の結果と第２グループ内の出力／測定回路３０を用いたダミー測定の結果との差、あるいは、第２グループ内の出力／測定回路３０を用いた本測定の結果と第１グループ内の出力／測定回路３０を用いたダミー測定の結果との差を求めることができる。

　例えば、１～ｐ番目の出力／測定回路３０が本測定を行い、（ｐ＋１）～２ｐ番目の出力／測定回路３０がダミー測定を行う場合、１番目のセレクタ４１は１番目の出力／測定回路３０の出力信号、２番目の出力／測定回路３０の出力信号、…、ｐ番目の出力／測定回路３０の出力信号を順に選択する。これに合わせて、２番目のセレクタ４１は、（ｐ＋１）番目の出力／測定回路３０の出力信号、（ｐ＋２）番目の出力／測定回路３０の出力信号、…、２ｐ番目の出力／測定回路３０の出力信号を順に選択する。駆動／測定信号生成回路１７は、１番目の出力／測定回路３０の出力信号と（ｐ＋１）番目の出力／測定回路３０の出力信号との差、２番目の出力／測定回路３０の出力信号と（ｐ＋２）番目の出力／測定回路３０の出力信号との差、…、ｐ番目の出力／測定回路３０の出力信号と２ｐ番目の出力／測定回路３０の出力信号との差を順に求める。これにより、１番目の出力／測定回路３０を用いた本測定の結果と（ｐ＋１）番目の出力／測定回路３０を用いたダミー測定の結果との差、２番目の出力／測定回路３０を用いた本測定の結果と（ｐ＋２）番目の出力／測定回路３０を用いたダミー測定の結果との差、…、ｐ番目の出力／測定回路３０を用いた本測定の結果と２ｐ番目の出力／測定回路３０を用いたダミー測定の結果との差を求めることができる。

　ダミー測定の結果は、画素回路２０を流れる電流を測定する回路系で発生するノイズとみなすことができる。本測定の結果には上記ノイズが含まれているので、本測定の結果とダミー測定の結果の差を求めることにより、画素回路２０を流れる電流をノイズを含めずに測定することができる。ｉ行ｊ列目の画素回路２０についての本測定の結果とｉ行（ｊ＋ｐ）列目の画素回路２０についてのダミー測定の結果の差は、ｉ行ｊ列目の画素回路２０を流れる電流をノイズを含めずに測定した結果を表す。ｉ行（ｊ＋ｐ）列目の画素回路２０についての本測定の結果とｉ行ｊ列目の画素回路２０についてのダミー測定の結果の差は、ｉ行（ｊ＋ｐ）列目の画素回路２０を流れる電流をノイズを含めずに測定した結果を表す。データ線駆動／電流測定回路１４は、以上に述べた方法で画素回路２０を流れる電流を測定する。

　以下、本実施形態に係る表示装置１０の効果を説明する。画素回路を流れる電流を測定し、電流測定結果に基づき映像信号を補正する有機ＥＬ表示装置では、電流測定結果にノイズが載り、その影響を受けて高画質表示を行えないことがある。例えば、電流測定回路に供給されるＤ／Ａ変換器の出力の揺れや、電流測定回路のオペアンプに供給される電源電圧に含まれるノイズは、大きなノイズの発生要因となる。電源リップルや、ロードレギュレーション、商用電源の低周波ノイズ、内部回路からの回り込みノイズなども、ノイズの発生要因となる。また、図２に示す出力／測定回路３０を用いた場合、スイッチ制御信号ＣＬＫ１がローレベルのときには、出力／測定回路３０のゲインは極めて大きくなる（オープンループゲインに等しくなる）。このため、スイッチ制御信号ＣＬＫ１がローレベルのときには、出力／測定回路３０は小さなノイズを大きく増幅する。

　本実施形態に係る表示装置１０は、本測定とダミー測定を同じタイミングで行い、本測定の結果とダミー測定の結果とに対して両者の差を求める演算を行うことにより、画素回路２０を流れる電流を測定する。表示装置１０で各種のノイズが発生したとき、本測定の結果とダミー測定の結果には同程度のノイズが載る。このため、本測定の結果とダミー測定の結果との差を求めることにより、電流測定時のノイズを除去して、画素回路２０を流れる電流を正確に測定することができる。したがって、電流測定結果に基づき映像信号ＶＳ１を補正することにより、電流測定時のノイズを除去して高画質表示を行うことができる。

　なお、以上の説明では、セレクタ４１は、ｐ個の出力／測定回路３０の出力信号を昇順に選択することとした。これに代えて、セレクタ４１は、ｐ個の出力／測定回路３０の出力信号を１番目、ｐ番目、２番目、（ｐ－１）番目、３番目、（ｐ－２）番目、…の順序で選択してもよい。あるいは、奇数番目のセレクタ４１はｐ個の出力／測定回路３０の出力信号を降順に選択し、偶数番目のセレクタ４１はｐ個の出力／測定回路３０の出力信号を昇順に選択してもよい。これにより、隣接する出力／測定回路３０の出力信号の間でＡ／Ｄ変換を行うタイミングの差を小さくし、電流測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　以上に示すように、本実施形態に係る表示装置１０は、複数の走査線ＧＡ１～ＧＡｎ、ＧＢ１～ＧＢｎと複数のデータ線Ｓ１～Ｓｍと２次元状に配置された複数の画素回路２０とを含む表示部１１と、走査線ＧＡ１～ＧＡｎ、ＧＢ１～ＧＢｎを駆動する走査線駆動回路１３と、データ線Ｓ１～Ｓｍを駆動するデータ線駆動回路（データ線駆動／電流測定回路１４の一部）と、複数の測定部（出力／測定回路３０）を含み、画素回路２０を流れる電流を測定する電流測定回路（データ線駆動／電流測定回路１４の他の一部）とを備えている。電流測定回路は、一部の測定部に測定用信号（測定用電圧）を供給して画素回路２０について電流を測定する本測定と、残余の測定部にダミー信号（ゼロ電圧）を供給して電流を測定するダミー測定とを同じタイミングで行い、本測定の結果とダミー測定の結果とに対して演算を行う。なお、残余の測定部の少なくとも一部が、ダミー測定を行えばよい。このように本測定とダミー測定を同じタイミングで行い、本測定の結果とダミー測定の結果とに対して演算を行うことにより、画素回路２０について電流を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。また、電流測定結果を用いて、高画質表示を行うことができる。

　また、電流測定回路は、ダミー測定を行うときには測定されるべき値が略ゼロである信号（ゼロ電圧）をダミー信号として供給し、本測定の結果とダミー測定の結果との差を求める。これにより、画素回路２０について電流を測定するときに測定時のノイズを容易に除去することができる。

　また、測定部はデータ線Ｓｊに対応して設けられており、電流測定回路は、残余の測定部にダミー信号を供給して画素回路２０について電流を測定する。これにより、ダミー測定用に新たな回路を設けることなく、画素回路２０について電流を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。また、測定部は第１および第２グループに分類され、電流測定回路は、第１期間において第１グループ内の測定部を用いた本測定と第２グループ内の測定部を用いたダミー測定とを同じタイミングで行い、第２期間において第２グループ内の測定部を用いた本測定と第１グループ内の測定部を用いたダミー測定とを同じタイミングで行う。このように測定部を２個のグループに分けて、本測定とダミー測定を交互に行うことにより、データ線Ｓ１～Ｓｍと同数（ｍ個）の画素回路２０を流れる電流を２回の本測定で測定することができる。

　また、測定部は、対応するデータ線の配置順に従い、複数個（ｐ個）ずつ交互に第１および第２グループに分類される。したがって、画素回路２０について電流を測定するときに、近傍の画素回路２０についてのダミー測定結果を参照することにより、電流測定時のノイズを効果的に除去することができる。また、電流測定回路は、第１グループ内の測定部の出力について選択を行うセレクタ（奇数番目のセレクタ４１）と、第２グループ内の測定部の出力について選択を行うセレクタ（偶数番目のセレクタ４１）と含んでいる。したがって、セレクタ４１を用いて本測定の結果とダミー測定の結果を選択し、選択された２個の測定結果に対して演算を行うことができる。

　また、表示装置１０は、電流測定回路で測定された電流に基づき、データ線駆動回路に供給される映像信号ＶＳ１を補正する補正部１６を備えている。したがって、測定された電流に基づき映像信号Ｖ１を補正することにより、高画質表示を行うことができる。

　また、画素回路２０は、電気光学素子（有機ＥＬ素子２４）と、電気光学素子に直列に接続された駆動トランジスタ（トランジスタ２１）と、データ線Ｓｊに接続された第１導通端子、駆動トランジスタの制御端子（ゲート端子）に接続された第２導通端子、および、走査線のうち第１走査線ＧＡｉに接続された制御端子を有する書き込み制御トランジスタ（トランジスタ２２）と、データ線Ｓｊに接続された第１導通端子、駆動トランジスタと電気光学素子の接続点に接続された第２導通端子、および、走査線のうち第２走査線ＧＢｉに接続された制御端子を有する読み出し制御トランジスタ（トランジスタ２３）とを含んでいる。したがって、電気光学素子と駆動トランジスタと書き込み制御トランジスタと読み出し制御トランジスタとを含む画素回路を備えた表示装置について、画素回路について電流を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。

　また、表示装置１０は、画素回路ごとに電気光学素子と駆動トランジスタの閾値電圧とゲインを記憶する記憶部（補正用データ記憶部１５）を備えている。補正部１６は、電流測定回路で測定された電流に基づき、記憶部に記憶される閾値電圧とゲインを求め、記憶部に記憶された閾値電圧とゲインに基づき、映像信号ＶＳ１を補正する。したがって、電流測定結果に基づき電気光学素子と駆動トランジスタの閾値電圧とゲインを求め、これを用いて映像信号ＶＳ１を補正することにより、電気光学素子と駆動トランジスタの特性のばらつきや変動を補償して高画質表示を行うことができる。また、データ線駆動回路と電流測定回路は、増幅器（オペアンプ３１）を共有する。これにより、表示装置１０の回路量を削減することができる

　（第２の実施形態）
　本発明の第２の実施形態に係る表示装置は、第１の実施形態に係る表示装置と同様の構成を有し（図１および図２を参照）、赤、緑、および、青の３原色を用いて画像を表示する。（ｍ×ｎ）個の画素回路２０は、対応するデータ線ごとに（すなわち、列ごとに）、赤、緑、および、青のいずれかの表示色を有する。１列目、４列目、７列目、…の画素回路２０の表示色は赤、２行目、５行目、８行目、…の画素回路２０の表示色は緑、３行目、６行目、９行目、…の画素回路２０の表示色は青である。

　図８は、本実施形態に係る表示装置における出力／測定回路３０とセレクタ４１の対応づけ、および、本測定とダミー測定の切り替え方法を示す図である。図８は、図７においてｐ＝３としたものである。出力／測定回路３０は、対応するデータ線の配置順に従い、３個ずつ交互に第１および第２グループに分類される。データ線駆動／電流測定回路１４は、同じ表示色を有する画素回路２０について本計測とダミー計測を同じタイミングで行う。

　以上に示すように、本実施形態に係る表示装置では、画素回路２０は、対応するデータ線ごとに複数の表示色のいずれかを有する。測定部（出力／測定回路３０）は、対応するデータ線の配置順に従い、表示色と同数（３個）ずつ交互に第１および第２グループに分類される。このように同じ表示色を有する画素回路２０について本測定の結果とダミー測定を行うことにより、電流測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　（第３の実施形態）
　本発明の第３の実施形態に係る表示装置は、第１の実施形態に係る表示装置と同様の構成を有する（図１および図２を参照）。本実施形態と第１の実施形態では、出力／測定回路３０とセレクタ４１の対応づけ、および、本測定とダミー測定の切り替え方法が異なる。以下、第１の実施形態との相違点を説明する。

　図９は、本実施形態に係る表示装置における出力／測定回路３０とセレクタ４１の対応づけ、および、本測定とダミー測定の切り替え方法を示す図である。本実施形態では、奇数番目のセレクタ４１には奇数番目の出力／測定回路３０がｐ個ずつ順に対応づけられ、偶数番目のセレクタ４１には偶数番目の出力／測定回路３０がｐ個ずつ順に対応づけられる。例えば、１番目のセレクタ４１には１番目、３番目、…、（２ｐ－１）番目の出力／測定回路３０が対応づけられ、２番目のセレクタ４１には２番目、４番目、…、２ｐ番目の出力／測定回路３０が対応づけられる。ｍ個の出力／測定回路３０は、対応するデータ線の配置順に従い、１個ずつ交互に２個のグループに分類される。奇数番目の出力／測定回路３０は第１グループに分類され、偶数番目の出力／測定回路３０は第２グループに分類される。同様に（ｍ×ｎ）個の画素回路２０は、１列ずつ交互に２個のグループに分類される。奇数列目の画素回路２０は第１グループに分類され、偶数列目の画素回路は第２グループに分類される。

　データ線駆動／電流測定回路１４は、第１グループ内の画素回路２０（奇数列目の画素回路２０）について電流測定を行うときには、第１グループ内の出力／測定回路３０（奇数番目の出力／測定回路３０）を用いた本測定と第２グループ内の出力／測定回路３０（偶数番目の出力／測定回路３０）を用いたダミー測定とを同じタイミングで行い、本計測の結果とダミー計測の結果との差を求める。また、データ線駆動／電流測定回路１４は、第２グループ内の画素回路２０（偶数列目の画素回路２０）について電流測定を行うときには、第２グループ内の出力／測定回路３０を用いた本測定と第１グループ内の出力／測定回路３０を用いたダミー測定とを同じタイミングで行い、本計測の結果とダミー計測の結果との差を求める。

　具体的には、データ線駆動／電流測定回路１４は、あるフレーム期間内に設定されたｉ行目の画素回路２０の電流測定時の選択期間では、１番目、３番目、…の出力／測定回路３０に測定用電圧を供給して１列目、３列目、…の画素回路２０について本測定を行うと共に、２番目、４番目、…の出力／測定回路３０にゼロ電圧を供給して２列目、４列目、…の画素回路２０についてダミー測定を行う（図８の上部を参照）。また、データ線駆動／電流測定回路１４は、他のフレーム期間内に設定されたｉ行目の画素回路２０の電流測定時の選択期間では、２番目、４番目、…の出力／測定回路３０に測定用電圧を供給して２列目、４列目、…の画素回路２０について本測定を行うと共に、１列目、３列目、…の出力／測定回路３０にゼロ電圧を印加して１列目、３列目、…の画素回路２０についてダミー測定を行う（図８の下部を参照）。いずれの場合も、本測定とダミー測定は同じタイミングで行われる。

　各セレクタ４１は、ｐ個の出力／測定回路３０の出力信号を、例えば昇順に選択する。駆動／測定信号生成回路１７は、ｋ番目（ただし、ｋは１以上（ｍ／ｐ）以下の奇数）のセレクタ４１の出力信号に基づくデジタル値と（ｋ＋１）番目のセレクタ４１の出力信号に基づくデジタル値との差を求め、その差を一時的に記憶する。これにより、奇数番目の出力／測定回路３０を用いた本測定の結果と偶数番目の出力／測定回路３０を用いたダミー測定の結果との差、あるいは、偶数番目の出力／測定回路３０を用いた本測定の結果と奇数番目の出力／測定回路３０を用いたダミー測定の結果との差を求めることができる。ｉ行ｊ列目の画素回路２０についての本測定の結果とｉ行（ｊ＋１）列目の画素回路２０についてのダミー測定の結果の差は、ｉ行ｊ列目の画素回路２０を流れる電流を測定した結果を表す。ｉ行（ｊ＋１）列目の画素回路２０についての本測定の結果とｉ行ｊ列目の画素回路２０についてのダミー測定の結果の差は、ｉ行（ｊ＋１）列目の画素回路２０を流れる電流を測定した結果を表す。データ線駆動／電流測定回路１４は、以上に述べた方法で画素回路２０を流れる電流を測定する。

　以上に示すように、本実施形態に係る表示装置では、測定部（出力／測定回路３０）は、対応するデータ線の配置順に従い、１個ずつ交互に第１および第２グループに分類される。したがって、画素回路２０を流れる電流を測定するときに、隣接する画素回路２０についてのダミー測定の結果を参照することにより、電流測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　（第４の実施形態）
　本発明の第４の実施形態に係る表示装置は、第１の実施形態に係る表示装置と同様の構成を有する（図１および図２を参照）。ただし、本実施形態に係る表示装置は、図３に示すデータ線駆動／電流測定回路１４に代えて、図１０に示すデータ線駆動／電流測定回路５０を備えている。

　図１０に示すデータ線駆動／電流測定回路５０は、（ｍ＋ｍ／ｐ）個の出力／測定回路３０、信号変換回路５１、および、駆動／測定信号生成回路５２を含んでいる。信号変換回路５１は、（ｍ／ｐ）個のセレクタ５３、（２ｍ／ｐ）個のオフセット回路５４、および、（２ｍ／ｐ）個のＡ／Ｄ変換器５５を含んでいる。

　（ｍ＋ｍ／ｐ）個の出力／測定回路３０は、ｍ個の本測定用回路（以下、出力／測定回路３０ａという）と、（ｍ／ｐ）個のダミー測定用回路（以下、出力／測定回路３０ｂという）とに分類される。ｍ個の出力／測定回路３０ａは、それぞれ、ｍ本のデータ線Ｓ１～Ｓｍに接続される。データ線Ｓｊに接続された出力／測定回路３０ａ内のオペアンプ３１の非反転入力端子には、データ線Ｓｊに対応したＤ／Ａ変換器（図示せず）の出力信号ＤＶｊが印加される。ｍ個の出力／測定回路３０ａと（ｍ／ｐ）個のセレクタ５３は、第１の実施形態と同じ態様に接続される。

　（ｍ／ｐ）個の出力／測定回路３０ｂは、それぞれ、表示部１１に形成された（ｍ／ｐ）本のダミー配線Ｄ１～Ｄｍ／ｐに接続される。ダミー配線Ｄ１～Ｄｍ／ｐは、データ線Ｓ１～Ｓｍと同じ負荷を有し、ダミー測定対象回路として機能する。出力／測定回路３０ｂ内のオペアンプ３１の非反転入力端子には、ゼロ電圧ＤＶｚｅｒｏが固定的に印加される。

　セレクタ５３は、ｐ個の出力／測定回路３０ａの出力信号の中から１個のアナログ信号を選択する。オフセット回路５４は、セレクタ５３で選択されたアナログ信号、または、出力／測定回路３０ｂの出力信号に対して所定のオフセットを加算する。Ａ／Ｄ変換器５５は、オフセット回路５４から出力されたアナログ信号をデジタル値に変換する。

　駆動／測定信号生成回路５２は、各Ａ／Ｄ変換器５５で求めたデジタル値に基づき、本測定の結果とダミー測定の結果の差を求めて一時的に記憶する。セレクタ５３は、ｐ個の出力／測定回路３０ａの出力信号を順に選択する。セレクタ５３がｐ回の選択を完了したとき、駆動／測定信号生成回路５２には、本測定による結果とダミー測定による結果の差を表すｍ個のデジタル値が記憶されている。駆動／測定信号生成回路５２は、表示制御回路１２に対して、ｍ個のデジタル値を含むモニタ信号ＭＳを出力する。

　図１１は、本実施形態に係る表示装置における本測定とダミー測定のタイミングを示す図である。図１１には、データ線Ｓ１～Ｓｐに接続された出力／測定回路３０ａによる本測定と、ダミー配線Ｄ１に接続された出力／測定回路３０ｂによるダミー測定とのタイミングが記載されている。ここでは、本測定とダミー測定を、測定とＡ／Ｄ変換に分けて考える。

　図１１に示すように、時刻ｔ０では、ダミー配線Ｄ１に接続された出力／測定回路３０ｂによる測定と、データ線Ｓ１～Ｓｐに接続された出力／測定回路３０ａによる測定とが同じタイミングで行われる。時刻ｔ１では、ダミー配線Ｄ１に接続された出力／測定回路３０ｂの出力信号に対するＡ／Ｄ変換と、データ線Ｓ１に接続された出力／測定回路３０ａの出力信号に対するＡ／Ｄ変換とが同じタイミングで行われる。時刻ｔ２では、ダミー配線Ｄ２に接続された出力／測定回路３０ｂの出力信号に対するＡ／Ｄ変換と、データ線Ｓ２に接続された出力／測定回路３０ａの出力信号に対するＡ／Ｄ変換とが同じタイミングで行われる。同様に、時刻ｔ３～ｔｐでは、ダミー配線Ｄ２に接続された出力／測定回路３０ｂの出力信号に対するＡ／Ｄ変換と、データ線Ｓ３～Ｓｐに接続された出力／測定回路３０ａの出力信号に対するＡ／Ｄ変換とが同じタイミングで行われる。このように本測定の結果に対するＡ／Ｄ変換とダミー測定の結果に対するＡ／Ｄ変換とを同じタイミングで行うことにより、電流測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　なお、以上の説明では、ダミー配線の本数は（ｍ／ｐ）本であるとしたが、ダミー配線の数は１本以上であれば任意でよい。例えば、ダミー配線が１本の場合には、データ線駆動／電流測定回路は図１２に示す構成を有する。また、ダミー測定対象回路として、ダミー配線以外の回路を用いてもよい。

　以上に示すように、本実施形態に係る表示装置は、１個以上のダミー測定対象回路（ダミー配線Ｄ１～Ｄｍ／ｐ）を備えている。一部の測定部（出力／測定回路３０ａ）はデータ線Ｓ１～Ｓｍに対応して設けられ、残余の測定部（出力／測定回路３０ｂ）はダミー測定対象回路に対応して設けられる。電流測定回路（データ線駆動／電流測定回路５０の一部）は、残余の測定部にダミー信号（ゼロ電圧）を供給してダミー測定対象回路を流れる電流を測定する。このようにダミー測定対象回路を設け、ダミー測定対象回路を流れる電流を測定するダミー測定を行うことにより、データ線と同数（ｍ個）の画素回路２０を流れる電流を１回の本測定で測定することができる。また、データ線Ｓ１～Ｓｍと同じ負荷を有するダミー測定対象回路を用いることにより、本測定と同じ条件でダミー測定を行うことができる。また、電流測定回路は、一部の測定部の出力について選択を行うセレクタ５３を含んでいる。したがって、セレクタ５３を用いて本測定の結果を選択し、選択された本測定の結果とダミー測定の結果と間で演算を行うことができる。

　また、電流測定回路は、画素回路２０について電流を測定した結果を示すアナログ信号をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器５５を含み、本測定の結果に対するＡ／Ｄ変換とダミー測定の結果に対するＡ／Ｄ変換とを同じタイミングで行う。これにより、電流測定時のノイズを効果的に除去することができる。

　（第５の実施形態）
　第１～第４の実施形態では、画素回路について電流を測定する電流測定回路を備えた表示装置について説明した。第５の実施形態では、画素回路について電圧を測定する電圧測定回路を備えた表示装置について説明する。

　図１３は、本発明の第５の実施形態に係る表示装置の構成を示すブロック図である。図１３に示す表示装置６０は、第１の実施形態に係る表示装置１０（図１）において、データ線駆動／電流測定回路１４をデータ線駆動／電圧測定回路（データ線駆動回路と電圧測定回路の兼用回路）６１に置換したものである。データ線駆動／電圧測定回路６１は、駆動／測定信号生成回路１７、信号変換回路４０、および、ｍ個の出力／測定回路６２を含んでいる。

　図１４は、画素回路２０と出力／測定回路６２の構成を示す図である。図１４には、ｉ行ｊ列目の画素回路２０と、データ線Ｓｊに対応した出力／測定回路６２とが記載されている。画素回路２０の構成は、第１の実施形態と同じである。以下、トランジスタ２１のソース端子と有機ＥＬ素子２４のアノード端子が接続された節点をＮ１という。

　出力／測定回路６２は、電圧生成回路６３、電流源６４、電圧測定回路６５、および、スイッチ６６を含んでいる。スイッチ６６の一端は、データ線Ｓｊに接続される。スイッチ６６は、スイッチ制御信号ＳＣに従い、データ線Ｓｊを電圧生成回路６３に接続するか、電流源６４と電圧測定回路６５に接続するかを切り替える。

　電圧生成回路６３は、信号変換回路４０から出力されたデジタルデータに基づきデータ電圧を出力するか、リファレンス電圧を出力する。データ線Ｓｊが電圧生成回路６３に接続されているとき、電圧生成回路６３から出力されたデータ電圧またはリファレンス電圧はデータ線Ｓｊに印加される。データ線Ｓｊが電流源６４と電圧測定回路６５に接続されているとき、電流源６４はデータ線Ｓｊに対して所定量の電流を流し、電圧測定回路６５はそのときのデータ線Ｓｊの電圧を測定する。

　映像信号ＶＳ１を補正して映像信号ＶＳ２を求めるために、データ線駆動／電圧測定回路６１は、各画素回路２０について４種類の電圧を測定する。より詳細には、各画素回路２０内のトランジスタ２１の特性を求めるために、データ線駆動／電圧測定回路６１は、画素回路２０にトランジスタ２１がオンするリファレンス電圧を書き込み、電流源６４から第１測定用電流Ｉｎ１を流したときの節点Ｎ１の電圧Ｖｎ１と、画素回路２０にトランジスタ２１がオンする電圧を書き込み、電流源６４から第２測定用電流Ｉｎ２（＞Ｉｎ１）を流したときの節点Ｎ２の電圧Ｖｎ２と、画素回路２０にトランジスタ２１がオフする電圧を書き込み、電流源６４から第３測定用電流Ｉｎ３を流したときの節点Ｎ１の電圧Ｖｎ３と、画素回路２０にトランジスタ２１がオフする電圧を書き込み、電流源６４から第４測定用電流Ｉｎ４（＞Ｉｎ３）を流したときの節点Ｎ２の電圧Ｖｎ４とを測定する。

　走査線駆動回路１３とデータ線駆動／電圧測定回路６１は、１行分の画素回路２０に対する書き込み処理と、１行分の画素回路２０について４種類の電圧Ｖｎ１～Ｖｎ４のうちいずれかを測定する処理とを行う。例えば、走査線駆動回路１３とデータ線駆動／電圧測定回路６１は、連続した４フレーム期間のうち、第１～第４フレーム期間内のｉ番目のライン期間ではｉ行目の画素回路２０について電圧Ｖｎ１～Ｖｎ４をそれぞれ測定し、それ以外のライン期間では１行分の画素回路２０に対する書き込み処理を行ってもよい。

　補正部１６は、測定された４種類の電圧Ｖｎ１～Ｖｎ４に基づき、トランジスタ２１と有機ＥＬ素子２４の特性を求める処理を行い、求めた２種類の特性に基づき映像信号ＶＳ１を補正する。より詳細には、補正部１６は、２種類の電圧Ｖｎ１、Ｖｎ２に基づき、トランジスタ２１の特性として閾値電圧とゲインを求め、２種類の電圧Ｖｎ３、Ｖｎ４に基づき、有機ＥＬ素子２４の特性として閾値電圧とゲインを求める。トランジスタ２１の閾値電圧とゲイン、および、有機ＥＬ素子２４の閾値電圧とゲインを求める方法は、第１の実施形態と同様である。補正部１６は、求めた閾値電圧とゲインを補正データ記憶部１５に書き込み、補正データ記憶部１５から読み出した閾値電圧とゲインを用いて映像信号ＶＳ１を補正する。

　以上に示すように、本実施形態に係る表示装置６０は、測定回路として電流測定回路に代えて、画素回路２０内の節点Ｎ１の電圧Ｖｎ１～Ｖｎ４を測定する電圧測定回路６５を備え、電圧測定回路６５で測定された電圧Ｖｎ１～Ｖｎ４に基づき、データ線駆動回路（データ線駆動／電圧測定回路６１の一部）に供給される映像信号ＶＳ１に対して補正を行う補正部１６を備えている。

　本実施形態に係る表示装置６０によれば、第１の実施形態に係る表示装置１０と同様に、本測定とダミー測定を同じタイミングで行い、本測定の結果とダミー測定の結果とに対して演算を行うことにより、画素回路２０内の節点Ｎ１の電圧を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。また、電圧測定結果を用いて、高画質表示を行うことができる。

　なお、以上に述べた各実施形態に係る表示装置は画素回路２０と出力／測定回路３０を備えることとしたが、表示装置は他の画素回路を備えていてもよく、他の出力／測定回路を備えていてもよい。

　以上に示すように、本発明の表示装置によれば、本測定とダミー測定を同じタイミングで行い、本測定の結果とダミー測定の結果との差を求めることにより、画素回路について電流または電圧を測定するときに測定時のノイズを除去することができる。また、電流または電圧の測定結果を用いて、高画質表示を行うことができる。

　本発明の表示装置は、画素回路について電流または電圧を測定するときに測定時のノイズを除去できるという特徴を有するので、有機ＥＬ表示装置など、電気光学素子を含む画素回路を備えた各種の表示装置に利用することができる。

　１０、６０…表示装置
　１１…表示部
　１２…表示制御回路
　１３…走査線駆動回路
　１４、５０…データ線駆動／電流測定回路
　１５…補正データ記憶部
　１６…補正部
　１７、５２…駆動／測定信号生成回路
　２０…画素回路
　２１…トランジスタ（駆動トランジスタ）
　２２…トランジスタ（書き込み制御トランジスタ）
　２３…トランジスタ（読み出し制御トランジスタ）
　２４…有機ＥＬ素子（電気光学素子）
　２５、３２…コンデンサ
　３０、６２…出力／測定回路
　３１…オペアンプ
　３３～３５、６６…スイッチ
　４０、５１…信号変換回路
　４１、５３…セレクタ
　４２、５４…オフセット回路
　４３、５５…Ａ／Ｄ変換器
　６１…データ線駆動／電圧測定回路
　６３…電圧生成回路
　６４…電流源
　６５…電圧測定回路
　ＧＡ１～ＧＡｎ、ＧＢ１～ＧＢｎ…走査線
　Ｓ１～Ｓｍ…データ線

Claims

　アクティブマトリクス型の表示装置であって、
　複数の走査線と複数のデータ線と２次元状に配置された複数の画素回路とを含む表示部と、
　前記走査線を駆動する走査線駆動回路と、
　前記データ線を駆動するデータ線駆動回路と、
　複数の測定部を含み、前記画素回路について電流または電圧を測定する測定回路とを備え、
　前記測定回路は、一部の測定部に測定用信号を供給して前記画素回路について電流または電圧を測定する本測定と、残余の測定部の少なくとも一部にダミー信号を供給して電流または電圧を測定するダミー測定とを同じタイミングで行い、前記本測定の結果と前記ダミー測定の結果とに対して演算を行うことを特徴とする、表示装置。
　前記測定回路は、前記ダミー測定を行うときには測定されるべき値が略ゼロである信号を前記ダミー信号として供給し、前記本測定の結果と前記ダミー測定の結果との差を求めることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
　前記測定部は前記データ線に対応して設けられており、
　前記測定回路は、前記残余の測定部の少なくとも一部に前記ダミー信号を供給して前記画素回路について電流または電圧を測定することを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
　前記測定部は第１および第２グループに分類され、
　前記測定回路は、第１期間において前記第１グループ内の測定部を用いた本測定と前記第２グループ内の測定部を用いたダミー測定とを同じタイミングで行い、第２期間において前記第２グループ内の測定部を用いた本測定と前記第１グループ内の測定部を用いたダミー測定とを同じタイミングで行うことを特徴とする、請求項３に記載の表示装置。
　前記測定部は、対応するデータ線の配置順に従い、複数個ずつ交互に前記第１および第２グループに分類されることを特徴とする、請求項４に記載の表示装置。
　前記測定部は、対応するデータ線の配置順に従い、１個ずつ交互に前記第１および第２グループに分類されることを特徴とする、請求項４に記載の表示装置。
　前記測定回路は、前記第１グループ内の測定部の出力について選択を行うセレクタと、前記第２グループ内の測定部の出力について選択を行うセレクタとをさらに含むことを特徴とする、請求項４に記載の表示装置。
　前記画素回路は、対応するデータ線ごとに複数の表示色のいずれかを有し、
　前記測定部は、対応するデータ線の配置順に従い、前記表示色と同数ずつ交互に前記第１および第２グループに分類されることを特徴とする、請求項５に記載の表示装置。
　１個以上のダミー測定対象回路をさらに備え、
　前記一部の測定部は前記データ線に対応して設けられ、前記残余の測定部は前記ダミー測定対象回路に対応して設けられており、
　前記測定回路は、前記残余の測定部の少なくとも一部に前記ダミー信号を供給して前記ダミー測定対象回路について電流または電圧を測定することを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
　前記ダミー測定対象回路は、前記データ線と同じ負荷を有することを特徴とする、請求項９に記載の表示装置。
　前記測定回路は、前記一部の測定部の出力について選択を行うセレクタをさらに含むことを特徴とする、請求項９に記載の表示装置。
　前記測定回路で測定された電流または電圧に基づき、前記データ線駆動回路に供給される映像信号を補正する補正部をさらに備えた、請求項２に記載の表示装置。
　前記画素回路は、電気光学素子と、前記電気光学素子に直列に接続された駆動トランジスタとを含むことを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
　前記測定回路で測定された電流または電圧に基づき、前記データ線駆動回路に供給される映像信号を補正する補正部と、
　前記画素回路ごとに前記電気光学素子と前記駆動トランジスタの閾値電圧とゲインを記憶する記憶部とをさらに備え、
　前記補正部は、前記測定回路で測定された電流または電圧に基づき、前記記憶部に記憶される閾値電圧とゲインを求め、前記記憶部に記憶された閾値電圧とゲインに基づき前記映像信号を補正することを特徴とする、請求項１３に記載の表示装置。
　前記画素回路は、
　　前記データ線に接続された第１導通端子、前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第２導通端子、および、前記走査線のうち第１走査線に接続された制御端子を有する書き込み制御トランジスタと、
　　前記データ線に接続された第１導通端子、前記駆動トランジスタと前記電気光学素子の接続点に接続された第２導通端子、および、前記走査線のうち第２走査線に接続された制御端子を有する読み出し制御トランジスタとをさらに含むことを特徴とする、請求項１３に記載の表示装置。
　前記測定回路は、前記画素回路について電流または電圧を測定した結果を示すアナログ信号をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器をさらに含み、前記本測定の結果に対するＡ／Ｄ変換と前記ダミー測定の結果に対するＡ／Ｄ変換とを同じタイミングで行うことを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
　前記測定回路は、前記画素回路を流れる電流を測定する電流測定回路であることを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
　前記データ線駆動回路と前記電流測定回路は、増幅回路を共有することを特徴とする、請求項１７に記載の表示装置。
　前記測定回路は、前記画素回路内の節点の電圧を測定する電圧測定回路であることを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
　複数の走査線と複数のデータ線と２次元状に配置された複数の画素回路とを含む表示部を有するアクティブマトリクス型の表示装置の駆動方法であって、
　前記走査線を駆動するステップと、
　前記データ線を駆動するステップと、
　複数の測定部を用いて、前記画素回路について電流または電圧を測定するステップとを備え、
　前記測定するステップは、
　　一部の測定部に測定用信号を供給して前記画素回路について電流または電圧を測定する本測定と、残余の測定部の少なくとも一部にダミー信号を供給して電流または電圧を測定するダミー測定とを同じタイミングで行うステップと、
　　前記本測定の結果と前記ダミー測定の結果とに対して演算を行うステップとを含むことを特徴とする、表示装置の駆動方法。