KR20170104512A - 표시 장치 및 그 구동 방법 - Google Patents

표시 장치 및 그 구동 방법 Download PDF

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Abstract

측정 회로는, 복수의 측정부를 포함하고, 일부의 측정부에 측정용 전압을 공급하여 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 본 측정과, 잔여의 측정부에 더미 신호를 공급하여 전류 또는 전압을 측정하는 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행한다. 더미 신호에는, 측정되어야 할 값이 대략 제로인 신호를 사용한다. 전류 또는 전압의 측정 결과는 영상 신호의 보정에 사용된다. 이에 의해, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있는 표시 장치를 제공한다.

Description

표시 장치 및 그 구동 방법
본 발명은 표시 장치에 관한 것이며, 특히 유기 EL 소자 등의 전기 광학 소자를 포함하는 화소 회로를 구비한 표시 장치 및 그 구동 방법에 관한 것이다.
최근, 박형, 경량, 고속 응답 가능한 표시 장치로서, 유기 EL(Electro Luminescence) 표시 장치가 주목받고 있다. 유기 EL 표시 장치는, 2차원 형상으로 배치된 복수의 화소 회로를 구비하고 있다. 유기 EL 표시 장치의 화소 회로는, 유기 EL 소자, 및, 유기 EL 소자와 직렬로 접속된 구동 트랜지스터를 포함하고 있다. 구동 트랜지스터는 유기 EL 소자에 흐르는 전류의 양을 제어하고, 유기 EL 소자는 흐르는 전류의 양에 따른 휘도로 발광한다.
화소 회로 내의 소자의 특성에는, 제조 시에 편차가 발생한다. 또한, 화소 회로 내의 소자의 특성은, 시간의 경과와 함께 변동된다. 예를 들어, 구동 트랜지스터의 특성은, 발광 휘도나 발광 시간에 따라서 개별로 열화된다. 유기 EL 소자의 특성도 이것과 마찬가지이다. 이 때문에, 구동 트랜지스터의 게이트 단자에 동일한 전압을 인가해도, 유기 EL 소자의 발광 휘도에는 편차가 발생한다.
따라서, 유기 EL 표시 장치에 있어서 고화질 표시를 행하기 위해, 유기 EL 소자나 구동 트랜지스터의 특성의 편차나 변동을 보상하도록 영상 신호를 보정하는 방법이 알려져 있다. 예를 들어, 특허문헌 1에는, 유기 EL 소자에 검정 전류를 흘렸을 때의 유기 EL 소자의 단자간의 전압을 측정하고, 측정한 전압에 기초하여 영상 신호를 보정함으로써, 유기 EL 소자의 특성 변동을 보상하는 유기 EL 표시 장치가 기재되어 있다.
또한, 본원 발명에 관련하여, 특허문헌 2에는, 구동 트랜지스터의 역치 전압과 유기 EL 소자의 열화 정보를 구하기 위해, 도 15에 도시한 센싱부를 구비한 유기 EL 표시 장치가 기재되어 있다. 도 15에 있어서, 증폭부(91)는 화소 회로 내의 어느 절점의 전압을 증폭한다. 오차 보상부(92)는 2개의 오피 앰프, 4개의 콘덴서 C1∼C4 및 12개의 스위치를 포함하고 있다. 오차 보상부(92)는 스위치를 제어하여 콘덴서 C3, C4에 교대로 전압을 축적하거나 하여, 증폭부(91)와 오차 보상부(92)에 포함되는 소자의 오차 성분을 보상한다.
일본 특허 공개 제2009-244654호 공보 일본 특허 공개 제2014-109775호 공보
이하, 화소 회로 내의 소자의 특성의 편차나 변동을 보상하기 위해, 화소 회로를 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정 회로를 구비한 유기 EL 표시 장치를 생각한다. 이와 같은 유기 EL 표시 장치에서는, 표시부에서 발생하는 노이즈나, 전류 측정 회로에 공급되는 전원 전압이나 레퍼런스 전압에 포함되는 노이즈에 의해, 전류 측정 결과에 노이즈가 혼입되어, 전류 측정 결과의 S/N비가 저하되는 경우가 있다.
전류 측정 결과의 S/N비가 저하된 경우, 화소 회로를 흐르는 전류를 정확하게 측정할 수 없어, 화소 회로 내의 소자의 특성의 편차나 변동을 보상하도록 영상 신호를 정확하게 보정할 수 없다. 이 때문에, 유기 EL 표시 장치에서는, 전류 측정 결과에 기초하여 영상 신호를 보정해도, 전류 측정 시의 노이즈의 영향에 의해 고화질 표시를 행할 수 없는 경우가 있다.
특허문헌 2에 기재된 센싱부에서는, 전압의 오차 성분을 측정하는 타이밍과, 신호 전압을 측정하는 타이밍이 상이하다. 이 때문에, 이들 2개의 타이밍의 사이에서 노이즈 레벨이 상이한 경우에는, 증폭부(91)와 오차 보상부(92)에 포함되는 소자의 오차 성분을 충분히 보상할 수 없다.
화소 회로 내의 소자의 특성의 편차나 변동을 보상하기 위해, 화소 회로 내의 절점의 전압을 측정하는 전압 측정 회로를 구비한 유기 EL 표시 장치에서도, 상기와 마찬가지의 문제가 발생한다.
그 때문에, 본 발명은 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 제1 국면은, 액티브 매트릭스형의 표시 장치로서,
복수의 주사선과 복수의 데이터선과 2차원 형상으로 배치된 복수의 화소 회로를 포함하는 표시부와,
상기 주사선을 구동하는 주사선 구동 회로와,
상기 데이터선을 구동하는 데이터선 구동 회로와,
복수의 측정부를 포함하고, 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 측정 회로를 구비하고,
상기 측정 회로는, 일부의 측정부에 측정용 신호를 공급하여 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 본 측정과, 잔여의 측정부의 적어도 일부에 더미 신호를 공급하여 전류 또는 전압을 측정하는 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 상기 본 측정의 결과와 상기 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제2 국면은, 본 발명의 제1 국면에 있어서,
상기 측정 회로는, 상기 더미 측정을 행할 때에는 측정되어야 할 값이 대략 제로인 신호를 상기 더미 신호로서 공급하고, 상기 본 측정의 결과와 상기 더미 측정의 결과의 차를 구하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제3 국면은, 본 발명의 제2 국면에 있어서,
상기 측정부는 상기 데이터선에 대응하여 설치되어 있고,
상기 측정 회로는, 상기 잔여의 측정부의 적어도 일부에 상기 더미 신호를 공급하여 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제4 국면은, 본 발명의 제3 국면에 있어서,
상기 측정부는 제1 및 제2 그룹으로 분류되고,
상기 측정 회로는, 제1 기간에 있어서 상기 제1 그룹 내의 측정부를 사용한 본 측정과 상기 제2 그룹 내의 측정부를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 제2 기간에 있어서 상기 제2 그룹 내의 측정부를 사용한 본 측정과 상기 제1 그룹 내의 측정부를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제5 국면은, 본 발명의 제4 국면에 있어서,
상기 측정부는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 복수개씩 교대로 상기 제1 및 제2 그룹으로 분류되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제6 국면은, 본 발명의 제4 국면에 있어서,
상기 측정부는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 1개씩 교대로 상기 제1 및 제2 그룹으로 분류되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제7 국면은, 본 발명의 제4 국면에 있어서,
상기 측정 회로는, 상기 제1 그룹 내의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터와, 상기 제2 그룹 내의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제8 국면은, 본 발명의 제5 국면에 있어서,
상기 화소 회로는, 대응하는 데이터선마다 복수의 표시색 중 어느 하나를 갖고,
상기 측정부는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 상기 표시색과 동수씩 교대로 상기 제1 및 제2 그룹으로 분류되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제9 국면은, 본 발명의 제2 국면에 있어서,
1개 이상의 더미 측정 대상 회로를 더 구비하고,
상기 일부의 측정부는 상기 데이터선에 대응하여 설치되고, 상기 잔여의 측정부는 상기 더미 측정 대상 회로에 대응하여 설치되어 있고,
상기 측정 회로는, 상기 잔여의 측정부의 적어도 일부에 상기 더미 신호를 공급하여 상기 더미 측정 대상 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제10 국면은, 본 발명의 제9 국면에 있어서,
상기 더미 측정 대상 회로는, 상기 데이터선과 동일한 부하를 갖는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제11 국면은, 본 발명의 제9 국면에 있어서,
상기 측정 회로는, 상기 일부의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제12 국면은, 본 발명의 제2 국면에 있어서,
상기 측정 회로에 의해 측정된 전류 또는 전압에 기초하여, 상기 데이터선 구동 회로에 공급되는 영상 신호를 보정하는 보정부를 더 구비한다.
본 발명의 제13 국면은, 본 발명의 제2 국면에 있어서,
상기 화소 회로는, 전기 광학 소자와, 상기 전기 광학 소자에 직렬로 접속된 구동 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제14 국면은, 본 발명의 제13 국면에 있어서,
상기 측정 회로에 의해 측정된 전류 또는 전압에 기초하여, 상기 데이터선 구동 회로에 공급되는 영상 신호를 보정하는 보정부와,
상기 화소 회로마다 상기 전기 광학 소자와 상기 구동 트랜지스터의 역치 전압과 게인을 기억하는 기억부를 더 구비하고,
상기 보정부는, 상기 측정 회로에 의해 측정된 전류 또는 전압에 기초하여, 상기 기억부에 기억되는 역치 전압과 게인을 구하고, 상기 기억부에 기억된 역치 전압과 게인에 기초하여 상기 영상 신호를 보정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제15 국면은, 본 발명의 제13 국면에 있어서,
상기 화소 회로는,
상기 데이터선에 접속된 제1 도통 단자, 상기 구동 트랜지스터의 제어 단자에 접속된 제2 도통 단자, 및, 상기 주사선 중 제1 주사선에 접속된 제어 단자를 갖는 기입 제어 트랜지스터와,
상기 데이터선에 접속된 제1 도통 단자, 상기 구동 트랜지스터와 상기 전기 광학 소자의 접속점에 접속된 제2 도통 단자, 및, 상기 주사선 중 제2 주사선에 접속된 제어 단자를 갖는 판독 제어 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제16 국면은, 본 발명의 제2 국면에 있어서,
상기 측정 회로는, 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정한 결과를 나타내는 아날로그 신호를 디지털값으로 변환하는 A/D 변환기를 더 포함하고, 상기 본 측정의 결과에 대한 A/D 변환과 상기 더미 측정의 결과에 대한 A/D 변환을 동일한 타이밍에서 행하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제17 국면은, 본 발명의 제2 국면에 있어서,
상기 측정 회로는, 상기 화소 회로를 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정 회로인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제18 국면은, 본 발명의 제17 국면에 있어서,
상기 데이터선 구동 회로와 상기 전류 측정 회로는, 증폭 회로를 공유하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제19 국면은, 본 발명의 제2 국면에 있어서,
상기 측정 회로는, 상기 화소 회로 내의 절점의 전압을 측정하는 전압 측정 회로인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제20 국면은, 복수의 주사선과 복수의 데이터선과 2차원 형상으로 배치된 복수의 화소 회로를 포함하는 표시부를 갖는 액티브 매트릭스형의 표시 장치의 구동 방법으로서,
상기 주사선을 구동하는 스텝과,
상기 데이터선을 구동하는 스텝과,
복수의 측정부를 사용하여, 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 스텝을 구비하고,
상기 측정하는 스텝은,
일부의 측정부에 측정용 신호를 공급하여 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 본 측정과, 잔여의 측정부의 적어도 일부에 더미 신호를 공급하여 전류 또는 전압을 측정하는 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하는 스텝과,
상기 본 측정의 결과와 상기 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제1 또는 제20 국면에 의하면, 본 측정과 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행함으로써, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다. 또한, 전류 또는 전압의 측정 결과를 사용하여, 고화질 표시를 행할 수 있다.
본 발명의 제2 국면에 의하면, 측정되어야 할 값이 대략 제로인 더미 신호를 사용하여, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과의 차를 구함으로써, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 용이하게 제거할 수 있다.
본 발명의 제3 국면에 의하면, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 더미 측정을 행함으로써, 더미 측정용의 회로를 형성하지 않고, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다.
본 발명의 제4 국면에 의하면, 측정부를 2개의 그룹으로 나누어, 본 측정과 더미 측정을 교대로 행함으로써, 데이터선과 동수의 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 2회의 본 측정에 의해 측정할 수 있다.
본 발명의 제5 국면에 의하면, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에, 근방의 화소 회로에 대한 더미 측정의 결과를 참조함으로써, 전류 또는 전압 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
본 발명의 제6 국면에 의하면, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에, 인접하는 화소 회로에 대한 더미 측정의 결과를 참조함으로써, 전류 또는 전압 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
본 발명의 제7 국면에 의하면, 셀렉터를 사용하여 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과를 선택하고, 선택된 2개의 측정 결과에 대하여 연산을 행할 수 있다.
본 발명의 제8 국면에 의하면, 동일한 표시색을 갖는 화소 회로에 대하여 본 측정과 더미 측정을 행함으로써, 전류 또는 전압 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
본 발명의 제9 국면에 의하면, 더미 측정 대상 회로를 설치하고, 더미 측정 대상 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 더미 측정을 행함으로써, 데이터선과 동수의 화소 회로를 흐르는 전류를 1회의 본 측정에 의해 측정할 수 있다.
본 발명의 제10 국면에 의하면, 데이터선과 동일한 부하를 갖는 더미 측정 대상 회로를 사용함으로써, 본 측정과 동일한 조건에서 더미 측정을 행할 수 있다.
본 발명의 제11 국면에 의하면, 셀렉터를 사용하여 본 측정의 결과를 선택하고, 선택된 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행할 수 있다.
본 발명의 제12 국면에 의하면, 측정된 전류 또는 전압에 기초하여 영상 신호를 보정함으로써, 고화질 표시를 행할 수 있다.
본 발명의 제13 국면에 의하면, 전기 광학 소자와 구동 트랜지스터를 포함하는 화소 회로를 구비한 표시 장치에 대하여, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다
본 발명의 제14 국면에 의하면, 전류 또는 전압 측정 결과에 기초하여 전기 광학 소자와 구동 트랜지스터의 역치 전압과 게인을 구하고, 이것을 사용하여 영상 신호를 보정함으로써, 전기 광학 소자와 구동 트랜지스터의 특성의 편차나 변동을 보상하여 고화질 표시를 행할 수 있다.
본 발명의 제15 국면에 의하면, 전기 광학 소자와 구동 트랜지스터와 기입 제어 트랜지스터와 판독 제어 트랜지스터를 포함하는 화소 회로를 구비한 표시 장치에 대하여, 전류 또는 전압 측정 시의 노이즈를 제거하여 고화질 표시를 행할 수 있다.
본 발명의 제16 국면에 의하면, 본 측정의 결과에 대한 A/D 변환과 더미 측정의 결과에 대한 A/D 변환을 동일한 타이밍에서 행함으로써, 전류 또는 전압 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
본 발명의 제17 국면에 의하면, 화소 회로를 흐르는 전류를 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다.
본 발명의 제18 국면에 의하면, 데이터선 구동 회로와 전류 측정 회로에서 증폭기를 공유함으로써, 표시 장치의 회로량을 삭감할 수 있다.
본 발명의 제19 국면에 의하면, 화소 회로 내의 절점의 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 표시 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시한 표시 장치의 화소 회로와 출력/측정 회로의 회로도이다.
도 3은 도 1에 도시한 표시 장치의 데이터선 구동/전류 측정 회로의 일부를 상세하게 도시하는 도면이다.
도 4는 도 1에 도시한 표시 장치의 구동 트랜지스터의 특성 검출 시의 본 측정의 타이밍차트이다.
도 5는 도 1에 도시한 표시 장치의 유기 EL 소자의 특성 검출 시의 본 측정의 타이밍차트이다.
도 6은 도 1에 도시한 표시 장치에 있어서의 보정 처리의 플로우차트이다.
도 7은 도 1에 도시한 표시 장치에 있어서의 출력/측정 회로와 셀렉터의 대응짓기, 및, 본 측정과 더미 측정의 전환 방법을 도시하는 도면이다.
도 8은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 표시 장치에 있어서의 출력/측정 회로와 셀렉터의 대응짓기, 및, 본 측정과 더미 측정의 전환 방법을 도시하는 도면이다.
도 9는 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 표시 장치에 있어서의 출력/측정 회로와 셀렉터의 대응짓기, 및, 본 측정과 더미 측정의 전환 방법을 도시하는 도면이다.
도 10은 본 발명의 제4 실시 형태에 따른 표시 장치의 데이터선 구동/전류 측정 회로의 일부를 상세하게 도시하는 도면이다.
도 11은 본 발명의 제4 실시 형태에 따른 표시 장치에 있어서의 본 측정과 더미 측정의 타이밍을 도시하는 도면이다.
도 12는 본 발명의 제4 실시 형태의 변형예에 따른 표시 장치의 데이터선 구동/전류 측정 회로의 일부를 상세하게 도시하는 도면이다.
도 13은 본 발명의 제5 실시 형태에 따른 표시 장치의 구성을 도시하는 블록도이다.
도 14는 도 13에 도시한 표시 장치의 화소 회로와 출력/측정 회로의 구성을 도시하는 도면이다.
도 15는 종래의 표시 장치에 포함되는 센싱부의 구성을 도시하는 도면이다.
이하, 도면을 참조하여, 본 발명의 실시 형태에 따른 표시 장치에 대하여 설명한다. 본 발명의 실시 형태에 따른 표시 장치는, 유기 EL 소자와 구동 트랜지스터를 포함하는 화소 회로를 구비한 액티브 매트릭스형의 유기 EL 표시 장치이다. 이하의 설명에서는, 박막 트랜지스터를 TFT(Thin Film Transistor), 유기 EL 소자를 OLED(Organic Light Emitting Diode)라고도 한다. 또한, m, n 및 p는 2 이상의 정수, i는 1 이상 n 이하의 정수, j는 1 이상 m 이하의 정수인 것으로 한다.
(제1 실시 형태)
도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 표시 장치의 구성을 도시하는 블록도이다. 도 1에 도시한 표시 장치(10)는 표시부(11), 표시 제어 회로(12), 주사선 구동 회로(13), 데이터선 구동/전류 측정 회로(데이터선 구동 회로와 전류 측정 회로의 겸용 회로)(14), 및, 보정 데이터 기억부(15)를 구비하고 있다. 표시 제어 회로(12)는 보정부(16)를 포함하고 있다.
표시부(11)는 2n개의 주사선 GA1∼GAn, GB1∼GBn, m개의 데이터선 S1∼Sm, 및, (m×n)개의 화소 회로(20)를 포함하고 있다. 주사선 GA1∼GAn, GB1∼GBn은, 서로 평행하게 배치된다. 데이터선 S1∼Sm은, 서로 평행하게, 또한, 주사선 GA1∼GAn, GB1∼GBn과 직교하도록 배치된다. 주사선 GA1∼GAn과 데이터선 S1∼Sm은, (m×n)개소에서 교차한다. (m×n)개의 화소 회로(20)는 주사선 GA1∼GAn과 데이터선 S1∼Sm의 교차점에 대응하여 2차원 형상으로 배치된다. 화소 회로(20)에는, 도시하지 않은 전원선 또는 전원 전극을 사용하여 하이 레벨 전원 전압 ELVDD와 로우 레벨 전원 전압 ELVSS가 공급된다.
표시 장치(10)에는, 외부로부터 영상 신호 VS1이 입력된다. 표시 제어 회로(12)는 영상 신호 VS1에 기초하여, 주사선 구동 회로(13)에 대하여 제어 신호 CS1을 출력하고, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)에 대하여 제어 신호 CS2와 영상 신호 VS2를 출력한다. 제어 신호 CS1에는, 예를 들어 게이트 스타트 펄스나 게이트 클럭이 포함된다. 제어 신호 CS2에는, 예를 들어 소스 스타트 펄스나 소스 클럭이 포함된다. 영상 신호 VS2는, 보정부(16)에 있어서 영상 신호 VS1에 대하여 후술하는 보정을 행함으로써 얻어진다.
주사선 구동 회로(13)와 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 표시부(11)의 외부에 설치된다. 주사선 구동 회로(13)와 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 화소 회로(20)에 대하여 영상 신호 VS2에 따른 데이터 전압을 기입하는 처리와, 화소 회로(20)에 측정용 전압을 기입하였을 때에 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정하는 처리를 선택적으로 행한다. 이하, 전자를 「기입」, 후자를 「전류 측정」이라 한다.
주사선 구동 회로(13)는 제어 신호 CS1에 기초하여, 주사선 GA1∼GAn, GB1∼GBn을 구동한다. 주사선 구동 회로(13)는 기입 시에는, 주사선 GA1∼GAn 중으로부터 1개의 주사선을 순서대로 선택하고, 선택한 주사선에 선택 전압(여기서는, 하이 레벨 전압)을 인가한다. 이에 의해, 선택된 주사선에 접속된 m개의 화소 회로(20)가 일괄하여 선택된다.
데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 구동/측정 신호 생성 회로(구동 신호와 측정 신호의 생성 회로)(17), 신호 변환 회로(40), 및, m개의 출력/측정 회로(출력 회로와 측정 회로의 겸용 회로)(30)를 포함하고, 제어 신호 CS2에 기초하여 데이터선 S1∼Sm을 구동한다. 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 기입 시에는, 영상 신호 VS2에 따른 m개의 데이터 전압을 데이터선 S1∼Sm에 각각 인가한다. 이에 의해, 선택된 m개의 화소 회로(20)에 m개의 데이터 전압이 각각 기입된다.
주사선 구동 회로(13)는 전류 측정 시에는, 후술하는 타이밍에서 주사선 GA1∼GAn, GB1∼GBn을 구동한다. 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 m개의 출력/측정 회로(30)를 2개의 그룹으로 분류한다. 출력/측정 회로(30)는 전류 측정 시에는, 측정 회로에 포함되는 측정부로서 기능한다. 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 전류 측정 시에는, 한쪽의 그룹 내의 출력/측정 회로(30)에 측정용 신호로서 측정용 전압을 공급하고, 당해 출력/측정 회로에 접속된 화소 회로(20)에 측정용 전압을 기입하였을 때에 당해 화소 회로를 흐르는 전류를 측정하는 처리(이하, 본 측정이라 함)와, 다른 쪽의 그룹 내의 출력/측정 회로(30)에 더미 신호로서 제로 전압을 공급하고, 당해 출력/측정 회로에 접속된 화소 회로(20)에 제로 전압을 기입하였을 때에 당해 화소 회로를 흐르는 전류를 측정하는 처리(이하, 더미 측정이라 함)를 행한다. 여기서, 제로 전압이란, 출력/측정 회로(30)에 의해 측정되어야 할 값(전압 측정 결과의 기대값)이 제로인 전압을 말한다. 더미 신호에는, 측정되어야 할 값이 대략 제로(제로를 포함함)인 신호가 사용된다. 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 본 측정과 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에 대하여 양자의 차를 구하는 연산을 행함으로써, 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정한다. 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정한 결과를 포함하는 모니터 신호 MS를 표시 제어 회로(12)에 대하여 출력한다.
보정부(16)는 모니터 신호 MS에 기초하여 화소 회로(20) 내의 구동 트랜지스터와 유기 EL 소자의 특성을 구하고, 구한 특성을 사용하여 영상 신호 VS1을 보정함으로써 영상 신호 VS2를 구한다. 보정 데이터 기억부(15)는 보정부(16)의 작업용 메모리이다. 보정 데이터 기억부(15)는 TFT 오프셋 기억부(15a), TFT 게인 기억부(15b), OLED 오프셋 기억부(15c), 및, OLED 게인 기억부(15d)를 포함하고 있다. TFT 오프셋 기억부(15a)는 각 화소 회로(20)에 대하여 구동 트랜지스터의 역치 전압을 기억한다. TFT 게인 기억부(15b)는 각 화소 회로(20)에 대하여 구동 트랜지스터의 게인을 기억한다. OLED 오프셋 기억부(15c)는 각 화소 회로(20)에 대하여 유기 EL 소자의 역치 전압을 기억한다. OLED 게인 기억부(15d)는 각 화소 회로(20)에 대하여 유기 EL 소자의 게인을 기억한다.
도 2는 화소 회로(20)와 출력/측정 회로(30)의 회로도이다. 도 2에는, i행 j열째의 화소 회로(20)와, 데이터선 Sj에 대응한 출력/측정 회로(30)가 기재되어 있다. 도 2에 도시한 바와 같이, i행 j열째의 화소 회로(20)는 트랜지스터(21∼23), 유기 EL 소자(24), 및, 콘덴서(25)를 포함하고, 주사선 GAi, GBi와 데이터선 Sj에 접속된다. 트랜지스터(21∼23)는 N채널형 TFT이다.
트랜지스터(21)의 드레인 단자에는, 하이 레벨 전원 전압 ELVDD가 인가된다. 트랜지스터(21)의 소스 단자는, 유기 EL 소자(24)의 애노드 단자에 접속된다. 유기 EL 소자(24)의 캐소드 단자에는, 로우 레벨 전원 전압 ELVSS가 인가된다. 트랜지스터(22, 23)의 한쪽의 도통 단자(도 2에서는 좌측의 단자)는 데이터선 Sj에 접속된다. 트랜지스터(22)의 다른 쪽의 도통 단자는 트랜지스터(21)의 게이트 단자에 접속되고, 트랜지스터(22)의 게이트 단자는 주사선 GAi에 접속된다. 트랜지스터(23)의 다른 쪽의 도통 단자는 트랜지스터(21)의 소스 단자와 유기 EL 소자(24)의 애노드 단자에 접속되고, 트랜지스터(23)의 게이트 단자는 주사선 GBi에 접속된다. 콘덴서(25)는 트랜지스터(21)의 게이트 단자와 드레인 단자 사이에 설치된다. 트랜지스터(21∼23)는 각각, 구동 트랜지스터, 기입 제어 트랜지스터, 및, 판독 제어 트랜지스터로서 기능한다.
데이터선 Sj에 대응한 출력/측정 회로(30)는 오피 앰프(31), 콘덴서(32), 및, 스위치(33∼35)를 포함하고, 데이터선 Sj에 접속된다. 스위치(34)의 일단(도 2에서는 상단)과 스위치(35)의 일단(도 2에서는 좌단)은 데이터선 Sj에 접속된다. 스위치(35)의 타단에는, 소정의 전압 V0이 인가된다. 오피 앰프(31)의 비반전 입력 단자에는, 데이터선 Sj에 대응한 D/A 변환기(도시하지 않음)의 출력 신호 DVj가 인가된다. 오피 앰프(31)의 반전 입력 단자는, 스위치(34)의 타단에 접속된다. 콘덴서(32)는 오피 앰프(31)의 반전 입력 단자와 출력 단자 사이에 설치된다. 스위치(33)는 콘덴서(32)와 병렬로, 오피 앰프(31)의 반전 입력 단자와 출력 단자 사이에 설치된다. 스위치(33∼35)는 각각, 스위치 제어 신호 CLK1, CLK2, CLK2B가 하이 레벨일 때에 온한다. 스위치 제어 신호 CLK2B는, 스위치 제어 신호 CLK2의 부정 신호이다.
도 3은 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)의 일부를 상세하게 도시하는 도면이다. 도 3에 도시한 바와 같이, m개의 출력/측정 회로(30)는 m개의 데이터선 S1∼Sm에 대응하여 설치된다. 데이터선 S1∼Sm은, p개씩 (m/p)개의 그룹으로 분류된다. 신호 변환 회로(40)는 셀렉터(41), 오프셋 회로(42), 및, A/D 변환기(43)를 (m/p)개씩 포함하고 있다. 셀렉터(41), 오프셋 회로(42), 및, A/D 변환기(43)는 데이터선의 1개의 그룹에 대응지어진다. 각 셀렉터(41)의 전단에는, p개의 출력/측정 회로(30)가 설치된다. (m/p)개의 A/D 변환기(43)의 후단에는, 구동/측정 신호 생성 회로(17)가 설치된다.
셀렉터(41)는 p개의 출력/측정 회로(30)의 출력 단자(오피 앰프(31)의 출력 단자)에 접속된다. 셀렉터(41)는 p개의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호 중으로부터 1개의 아날로그 신호를 선택한다. 오프셋 회로(42)는 셀렉터(41)에 의해 선택된 아날로그 신호에 소정의 오프셋을 가산한다. A/D 변환기(43)는 오프셋 회로(42)로부터 출력된 아날로그 신호를 디지털값으로 변환한다. 구동/측정 신호 생성 회로(17)는 (m/p)개의 A/D 변환기(43)에 의해 구한 디지털값에 기초하여, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과의 차를 구하여 일시적으로 기억한다. 각 셀렉터(41)는 p개의 오피 앰프(31)의 출력 신호를 순서대로 선택한다. 셀렉터(41)가 p회의 선택을 완료하였을 때, 구동/측정 신호 생성 회로(17)에는, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과의 차를 나타내는 (m/2)개의 디지털값이 기억되어 있다. 구동/측정 신호 생성 회로(17)는 표시 제어 회로(12)에 대하여 (m/2)개의 디지털값을 포함하는 모니터 신호 MS를 출력한다.
영상 신호 VS1을 보정하여 영상 신호 VS2를 구하기 위해, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 각 화소 회로(20)에 대하여 4종류의 전류를 측정한다. 보다 상세하게는, 각 화소 회로(20) 내의 트랜지스터(21)의 특성을 구하기 위해, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 화소 회로(20)에 제1 측정용 전압 Vm1을 기입하였을 때에 화소 회로(20)로부터 흘러나오는 전류 Im1과, 화소 회로(20)에 제2 측정용 전압 Vm2(>Vm1)를 기입하였을 때에 화소 회로(20)로부터 흘러나오는 전류 Im2를 측정한다. 또한, 각 화소 회로(20) 내의 유기 EL 소자(24)의 특성을 구하기 위해, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 화소 회로(20)에 제3 측정용 전압 Vm3을 기입하였을 때에 화소 회로(20)에 흘러들어가는 전류 Im3과, 화소 회로(20)에 제4 측정용 전압 Vm4(>Vm3)를 기입하였을 때에 화소 회로(20)에 흘러들어가는 전류 Im4를 측정한다. 이하, 전류 Im1, Im2를 측정할 때를 「구동 트랜지스터의 특성 검출 시」, 전류 Im3, Im4를 측정할 때를 「유기 EL 소자의 특성 검출 시」라 한다.
주사선 구동 회로(13)와 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 1행분의 화소 회로(20)에 대한 기입 처리와, 반행분의 화소 회로(20)에 대하여 4종류의 전류 Im1∼Im4 중 어느 하나를 측정하는 처리를 행한다. 예를 들어, 주사선 구동 회로(13)와 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 연속한 8프레임 기간 중, 제1, 제3, 제5, 및, 제7 프레임 기간 내의 i번째의 라인 기간에서는 i행째의 화소 회로(20) 중 절반에 대하여 전류 Im1∼Im4를 각각 측정하고, 제2, 제4, 제6, 및, 제8 프레임 기간 내의 i번째의 라인 기간에서는 i행째의 화소 회로(20) 중 나머지 절반에 대하여 전류 Im1∼Im4를 각각 측정하고, 그 이외의 라인 기간에서는 1행분의 화소 회로(20)에 대한 기입 처리를 행해도 된다.
도 4는 구동 트랜지스터의 특성 검출 시의 본 측정의 타이밍차트이다. 도 5는 유기 EL 소자의 특성 검출 시의 본 측정의 타이밍차트이다. 도 4 및 도 5에 있어서, 기간 t0은 (i-1)행째의 화소 회로(20)의 기입 시의 선택 기간이며, 기간 t1∼t6은 i행째의 화소 회로(20)의 전류 측정 시의 선택 기간이다. 전류 측정 시의 선택 기간에는, 리셋 기간 t1, 레퍼런스 전압 기입 기간 t2, 측정용 전압 기입 기간 t3, 전류 측정 기간 t4, A/D 변환 기간 t5, 및, 데이터 전압 기입 기간 t6이 포함된다. 이하, 주사선 GAi, GBi 상의 신호를 주사 신호 GAi, GBi, 데이터선 Sj에 대응한 D/A 변환기의 출력 신호의 전압을 DVj라 한다. 또한, 더미 측정의 타이밍차트는, 도 4 및 도 5에 있어서, 기간 t3∼t5에 있어서의 전압 DVj를 제로 전압으로 함으로써 얻어진다.
기간 t1보다 전에서는, 주사 신호 GAi, GBi와 스위치 제어 신호 CLK2B는 로우 레벨, 스위치 제어 신호 CLK1, CLK2는 하이 레벨이다. 기간 t0에서는, 주사 신호 GAi-1(도시하지 않음)은 하이 레벨, 주사 신호 GBi-1(도시하지 않음)은 로우 레벨, 전압 DVj는 (i-1)행 j열째의 화소 회로(20)에 기입해야 할 데이터 전압 Vdata(i-1, j)로 된다.
기간 t1에서는, 주사 신호 GAi, GBi는 하이 레벨, 전압 DVj는 프리차지 전압 Vpc로 된다. 프리차지 전압 Vpc는, 트랜지스터(21)가 오프하도록 결정된다. 특히, 프리차지 전압 Vpc는, 구동 트랜지스터(트랜지스터(21))와 유기 EL 소자(24)가 모두 오프하는 범위 내에서, 가능한 한 높게 결정하는 것이 바람직하다(이유는 후술). 기간 t1에서는, i행째의 화소 회로(20)에 있어서, 트랜지스터(22, 23)는 온하여, 트랜지스터(21)의 게이트 단자 및 소스 단자, 및, 유기 EL 소자(24)의 애노드 단자에 프리차지 전압 Vpc가 인가된다. 이에 의해, i행째의 화소 회로(20) 내의 트랜지스터(21)와 유기 EL 소자(24)는 초기화된다.
예를 들어, InGaZnO(Indium Gallium Zinc Oxide : 인듐-갈륨-아연 산화물) 등의 산화물 반도체를 사용하여 트랜지스터(21)를 형성한 경우, 트랜지스터(21)가 히스테리시스 특성을 갖는 경우가 있다. 이와 같은 경우에 트랜지스터(21)를 초기화하지 않고 사용하면, 직전의 표시 상태에 따라서 전류 측정 결과가 상이한 경우가 있다. 전류 측정 시의 선택 기간의 선두에 리셋 기간 t1을 설정하고, 리셋 기간 t1에 있어서 트랜지스터(21)를 초기화함으로써, 히스테리시스 특성에 기인하는 전류 측정 결과의 편차를 방지할 수 있다. 또한, 유기 EL 소자(24)는 히스테리시스 특성을 갖지 않으므로, 유기 EL 소자의 특성 검출 시에는 리셋 기간 t1을 설정할 필요는 없다. 또한, 표시 중이 아니라, 전원 투입 직후나 표시 오프 중에 비표시 상태에서 전류를 측정하는 경우에는, 리셋 기간을 생략할 수 있다.
기간 t2에서는, 주사 신호 GAi는 하이 레벨, 주사 신호 GBi는 로우 레벨, 전압 DVj는 레퍼런스 전압(구동 트랜지스터의 특성 검출 시에는 Vref_TFT, 유기 EL 소자의 특성 검출 시에는 Vref_OLED)으로 된다. 기간 t2에서는, i행 j열째의 화소 회로(20)에 있어서, 트랜지스터(22)는 온하고, 트랜지스터(23)는 오프하고, 트랜지스터(21)의 게이트 단자에는 레퍼런스 전압 Vref_TFT 또는 Vref_OLED가 인가된다. 레퍼런스 전압 Vref_TFT는, 기간 t3, t4에 있어서 트랜지스터(21)가 온하는 높은 전압으로 결정된다. 레퍼런스 전압 Vref_OLED는, 기간 t3, t4에 있어서 트랜지스터(21)가 오프하는 낮은 전압으로 결정된다.
기간 t3에서는, 주사 신호 GAi는 로우 레벨, 주사 신호 GBi는 하이 레벨, 전압 DVj는 제1∼제4 측정용 전압 Vm1∼Vm4 중 어느 하나로 된다. 도 4에 도시한 Vm_TFT는 제1 및 제2 측정용 전압 Vm1, Vm2 중 어느 하나를 나타내고, 도 5에 도시한 Vm_OLED는 제3 및 제4 측정용 전압 Vm3, Vm4 중 어느 하나를 나타낸다. 기간 t3에서는, i행 j열째의 화소 회로(20)에 있어서, 트랜지스터(22)는 오프하고, 트랜지스터(23)는 온하여, 유기 EL 소자(24)의 애노드 단자에는 제1∼제4 측정용 전압 Vm1∼Vm4 중 어느 하나가 인가된다. 구동 트랜지스터의 특성 검출 시에는, 트랜지스터(21)는 온하고, 전류는 하이 레벨 전원 전압 ELVDD를 갖는 전원선 또는 전원 전극으로부터 트랜지스터(21, 23)를 통과하여 데이터선 Sj에 흐른다. 유기 EL 소자의 특성 검출 시에는, 트랜지스터(21)는 오프하고, 전류는 데이터선 Sj로부터 트랜지스터(23)와 유기 EL 소자(24)를 통과하여 로우 레벨 전원 전압 ELVSS를 갖는 전원선 또는 전원 전극에 흐른다. 기간 t3의 개시로부터 조금 지나면, 데이터선 Sj는 소정의 전압 레벨로 충전되어, 화소 회로(20)로부터 데이터선 Sj에 흘러나오는 전류(혹은, 데이터선 Sj로부터 화소 회로(20)에 흘러들어가는 전류)는 일정해진다.
또한, 구동 트랜지스터의 특성 검출 시에, 기간 t2에 있어서의 트랜지스터(21)의 소스 전위가 낮은 경우에는, 기간 t3의 개시 시에 트랜지스터(21)의 게이트-소스간 전압이 커져, 트랜지스터(21)에 큰 전류가 흘러, 유기 EL 소자(24)가 발광한다. 이때의 발광을 방지하기 위해서는, 상술한 바와 같이, 구동 트랜지스터와 유기 EL 소자(24)가 모두 오프하는 범위 내에서, 기간 t1에서 인가하는 프리차지 전압 Vpc를 높게 결정해 두면 된다.
기간 t4에서는, 주사 신호 GAi, GBi와 전압 DVj는 기간 t3과 동일한 레벨을 유지하고, 스위치 제어 신호 CLK1은 로우 레벨로 된다. 기간 t4에서는, 스위치(33)는 오프하고, 오피 앰프(31)의 출력 단자와 반전 입력 단자는 콘덴서(32)를 통해 접속된다. 이때, 오피 앰프(31)와 콘덴서(32)는 적분 앰프로서 기능한다. 기간 t4의 종료 시에 있어서의 오피 앰프(31)의 출력 전압은, i행 j열째의 화소 회로(20)와 데이터선 Sj를 흐르는 전류의 양, 콘덴서(32)의 용량, 및, 기간 t4의 길이 등에 의해 결정된다.
기간 t5에서는, 주사 신호 GAi, GBi와 스위치 제어 신호 CLK1, CLK2는 로우 레벨, 스위치 제어 신호 CLK2B는 하이 레벨로 되고, 전압 DVj는 기간 t3, t4와 동일한 레벨을 유지한다. 기간 t5에서는, i행 j열째의 화소 회로(20)에 있어서, 트랜지스터(22, 23)는 오프한다. 또한, 스위치(34)가 오프하고, 스위치(35)가 온하므로, 데이터선 Sj는 오피 앰프(31)의 비반전 입력 단자로부터 전기적으로 분리되고, 데이터선 Sj에는 전압 V0이 인가된다. 오피 앰프(31)의 비반전 입력 단자는 데이터선 Sj로부터 전기적으로 분리되므로, 오피 앰프(31)의 출력 전압은 일정해진다. 기간 t5에 있어서, 데이터선 Sj를 포함하는 그룹에 대응한 오프셋 회로(42)는 오피 앰프(31)의 출력 전압에 오프셋을 가산하고, 당해 그룹에 대응한 A/D 변환기(43)는 오프셋 가산 후의 아날로그 신호를 디지털값으로 변환한다(도 3을 참조).
기간 t6에서는, 주사 신호 GAi는 하이 레벨, 주사 신호 GBi는 로우 레벨, 전압 DVj는 i행 j열째의 화소 회로(20)에 기입해야 할 데이터 전압 Vdata(i, j)로 된다. 기간 t6에서는, i행 j열째의 화소 회로(20)에 있어서, 트랜지스터(22)가 온하여, 트랜지스터(21)의 게이트 단자에 데이터 전압 Vdata(i, j)가 인가된다. 기간 t6의 종료 시에 주사 신호 GAi가 로우 레벨로 변화되면, i행 j열째의 화소 회로(20) 내의 트랜지스터(22)는 오프한다. 이 이후, i행 j열째의 화소 회로(20)에 있어서, 트랜지스터(21)의 게이트 전압은, 콘덴서(25)의 작용에 의해 Vdata(i, j)로 유지된다.
보정부(16)는 측정된 4종류의 전류 Im1∼Im4에 기초하여, 트랜지스터(21)와 유기 EL 소자(24)의 특성을 구하는 처리를 행하고, 구한 2종류의 특성에 기초하여 영상 신호 VS1을 보정한다. 보다 상세하게는, 보정부(16)는 2종류의 전류 Im1, Im2에 기초하여, 트랜지스터(21)의 특성으로서 역치 전압과 게인을 구한다. 트랜지스터(21)의 역치 전압은 TFT 오프셋 기억부(15a)에 기입되고, 트랜지스터(21)의 게인은 TFT 게인 기억부(15b)에 기입된다. 또한, 보정부(16)는 2종류의 전류 Im3, Im4에 기초하여, 유기 EL 소자(24)의 특성으로서 역치 전압과 게인을 구한다. 유기 EL 소자(24)의 역치 전압은 OLED 오프셋 기억부(15c)에 기입되고, 유기 EL 소자(24)의 게인은 OLED 게인 기억부(15d)에 기입된다. 보정부(16)는 보정 데이터 기억부(15)로부터 역치 전압과 게인을 판독하고, 이들을 사용하여 영상 신호 VS1을 보정한다.
이하, 화소 회로(20)에 제1 및 제2 측정용 전압 Vm1, Vm2를 기입하였을 때의 트랜지스터(21)의 게이트-소스간 전압을, 각각, Vgsm1, Vgsm2로 하고, 화소 회로(20)에 제3 및 제4 측정용 전압 Vm3, Vm4를 기입하였을 때의 유기 EL 소자(24)의 애노드-캐소드간 전압을, 각각, Vom3, Vom4로 한다.
보정부(16)는 전류 Im1, Im2를 포함하는 모니터 신호 MS를 수취하였을 때에는, 전압 Vgsm1, Vgsm2 및 전류 Im1, Im2에 대하여 다음 식 (1a), (1b)에 나타내는 연산을 행함으로써, 트랜지스터(21)의 역치 전압 VthTFT와 게인 βTFT를 구한다.
Figure pct00001
역치 전압 VthTFT는 TFT 오프셋 기억부(15a)에 기입되고, 게인 βTFT는 TFT 게인 기억부(15b)에 기입된다.
보정부(16)는 전류 Im3, Im4를 포함하는 모니터 신호 MS를 수취하였을 때에는, 전압 Vom3, Vom4, 및, 전류 Im3, Im4에 대하여, 다음 식 (2a), (2b)에 나타내는 연산을 행함으로써, 유기 EL 소자(24)의 역치 전압 VthOLED와 게인 βOLED를 구한다.
Figure pct00002
또한, 식 (2a), (2b)에 있어서, K는 2 이상 3 이하의 상수이다. 역치 전압 VthOLED는 OLED 오프셋 기억부(15c)에 기입되고, 게인 βOLED는 OLED 게인 기억부(15d)에 기입된다.
도 6은 영상 신호 VS1에 대한 보정 처리의 플로우차트이다. 보정부(16)는 영상 신호 VS1에 포함되는 코드값 CV0에 대하여, 트랜지스터(21)의 역치 전압 VthTFT, 트랜지스터(21)의 게인 βTFT, 유기 EL 소자(24)의 역치 전압 VthOLED, 및, 유기 EL 소자(24)의 게인 βOLED를 사용하여 보정을 행한다. 이하의 처리에서 사용되는 역치 전압 VthTFT, VthOLED 및 게인 βTFT, βOLED는 보정 데이터 기억부(15)로부터 판독된 것이다.
보정부(16)는, 먼저, 유기 EL 소자(24)의 발광 효율을 보정하는 처리를 행한다(스텝 S101). 구체적으로는, 보정부(16)는 다음 식 (3)에 나타내는 연산을 행함으로써, 보정 후의 코드값 CV1을 구한다.
Figure pct00003
단, 식 (3)에 있어서, γ는 화소 회로(20)마다 구한 발광 효율 보정 계수를 나타낸다. 유기 EL 소자(24)의 발광 효율이 크게 저하되어 있는 화소일수록, 발광 효율 보정 계수 γ는 큰 값을 갖는다. 또한, γ를 계산에 의해 구할 수도 있다.
다음에, 보정부(16)는 보정 후의 코드값 CV1을 트랜지스터(21)의 게이트-소스간 전압을 나타내는 전압값 Vdata1TFT와 유기 EL 소자(24)의 애노드-캐소드간 전압을 나타내는 전압값 Vdata1OLED로 변환한다(스텝 S102). 스텝 S102에 있어서의 변환은, 예를 들어 미리 준비한 테이블을 참조하는 방법이나, 연산기를 사용하여 연산하는 방법에 의해 행해진다.
다음에, 보정부(16)는 전압값 Vdata1TFT에 대하여 다음 식 (4)에 나타내는 연산을 행함으로써, 보정 후의 전압값 Vdata2TFT를 구한다(스텝 S103).
Figure pct00004
단, 트랜지스터(21)의 게인의 초기값의 평균값을 β0TFT로 하였을 때, 식 (4)에 포함되는 BTFT는 다음 식 (5)에 의해 제공된다.
Figure pct00005
다음에, 보정부(16)는 전압값 Vdata1OLED에 대하여 다음 식 (6)에 나타내는 연산을 행함으로써, 보정 후의 전압값 Vdata2OLED를 구한다(스텝 S104).
Figure pct00006
단, 유기 EL 소자(24)의 게인의 초기값의 평균값을 β0OLED로 하였을 때, 식 (6)에 포함되는 BOLED는 다음 식 (7)에 의해 제공된다.
Figure pct00007
다음에, 보정부(16)는 다음 식 (8)에 따라, 스텝 S103에서 구한 보정 후의 전압값 Vdata2TFT와, 스텝 S104에서 구한 보정 후의 전압값 Vdata2OLED를 가산한다. 이에 의해, 트랜지스터(21)의 게이트 단자에 인가되는 전압을 나타내는 전압값 Vdata가 얻어진다(스텝 S105).
Figure pct00008
마지막으로, 보정부(16)는 전압값 Vdata를 출력 코드값 CV로 변환한다(스텝 S106). 스텝 S106에 있어서의 변환은, 스텝 S102에 있어서의 변환과 마찬가지의 방법에 의해 행해진다.
도 7은 표시 장치(10)에 있어서의 출력/측정 회로(30)와 셀렉터(41)의 대응짓기, 및, 본 측정과 더미 측정의 전환 방법을 도시하는 도면이다. 이하, 데이터선 Sj에 대응한 출력/측정 회로(30)를 j번째의 출력/측정 회로라 한다. 도 3 및 도 7에 도시한 바와 같이, 셀렉터(41)에는, 출력/측정 회로(30)가 p개씩 순서대로 대응지어진다. 예를 들어, 1번째의 셀렉터(41)에는 1∼p번째의 출력/측정 회로(30)가 대응지어지고, 2번째의 셀렉터(41)에는 (p+1)∼2p번째의 출력/측정 회로(30)가 대응지어진다. m개의 출력/측정 회로(30)는 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, p개씩 교대로 2개의 그룹으로 분류된다. 1∼p번째, (2p+1)∼3p번째, …의 출력/측정 회로(30)는 제1 그룹으로 분류되고, (p+1)∼2p번째, (3p+1)∼4p번째, …의 출력/측정 회로(30)는 제2 그룹으로 분류된다. 마찬가지로 (m×n)개의 화소 회로(20)는 p열씩 교대로 2개의 그룹으로 분류된다. 1∼p열째, (2p+1)∼3p열째, …의 화소 회로(20)는 제1 그룹으로 분류되고, (p+1)∼2p열째, (3p+1)∼4p열째, …의 화소 회로(20)는 제2 그룹으로 분류된다.
데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 제1 그룹 내의 화소 회로(20)에 대하여 전류 측정을 행할 때에는, 제1 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정과 제2 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 계측의 결과와 더미 계측의 결과에 대하여 양자의 차를 구하는 연산을 행한다. 또한, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 제2 그룹 내의 화소 회로(20)에 대하여 전류 측정을 행할 때에는, 제2 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정과 제1 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 계측의 결과와 더미 계측의 결과에 대하여 양자의 차를 구하는 연산을 행한다.
구체적으로는, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는, 어느 프레임 기간 내에 설정된 i행째의 화소 회로(20)의 전류 측정 시의 선택 기간에서는, 1∼p번째, (2p+1)∼3p번째, …의 출력/측정 회로(30)에 측정용 전압을 공급하여 1∼p열째, (2p+1)∼3p열째, …의 화소 회로(20)에 대하여 본 측정을 행함과 함께, (p+1)∼2p번째, (3p+1)∼4p번째, …의 출력/측정 회로(30)에 제로 전압을 공급하여 (p+1)∼2p열째, (3p+1)∼4p열째, …의 화소 회로(20)에 대하여 더미 측정을 행한다(도 7의 상부를 참조). 또한, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 다른 프레임 기간 내에 설정된 i행째의 화소 회로(20)의 전류 측정 시의 선택 기간에서는, (p+1)∼2p번째, (3p+1)∼4p번째, …의 출력/측정 회로(30)에 측정용 전압을 공급하여 (p+1)∼2p열째, (3p+1)∼4p열째, …의 화소 회로(20)에 대하여 본 측정을 행함과 함께, 1∼p번째, (2p+1)∼3p번째, …의 출력/측정 회로(30)에 제로 전압을 공급하여 1∼p열째, (2p+1)∼3p열째, …의 화소 회로(20)에 대하여 더미 측정을 행한다(도 7의 하부를 참조). 어느 경우도, 본 측정과 더미 측정은 동일한 타이밍에서 행해진다.
각 셀렉터(41)는 p개의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호를, 예를 들어 오름차순으로 선택한다. 구동/측정 신호 생성 회로(17)는 k번째(단, k는 1 이상 (m/p) 이하의 홀수)의 셀렉터(41)의 출력 신호에 기초하는 디지털값과 (k+1)번째의 셀렉터(41)의 출력 신호에 기초하는 디지털값의 차를 구하고, 그 차를 일시적으로 기억한다. 이에 의해, 제1 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정의 결과와 제2 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정의 결과의 차, 혹은, 제2 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정의 결과와 제1 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정의 결과의 차를 구할 수 있다.
예를 들어, 1∼p번째의 출력/측정 회로(30)가 본 측정을 행하고, (p+1)∼2p번째의 출력/측정 회로(30)가 더미 측정을 행하는 경우, 1번째의 셀렉터(41)는 1번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호, 2번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호, …, p번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호를 순서대로 선택한다. 이것에 맞추어, 2번째의 셀렉터(41)는 (p+1)번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호, (p+2)번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호, …, 2p번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호를 순서대로 선택한다. 구동/측정 신호 생성 회로(17)는 1번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호와 (p+1)번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호의 차, 2번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호와 (p+2)번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호의 차, …, p번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호와 2p번째의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호의 차를 순서대로 구한다. 이에 의해, 1번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정의 결과와 (p+1)번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정의 결과의 차, 2번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정의 결과와 (p+2)번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정의 결과의 차, …, p번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정의 결과와 2p번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정의 결과의 차를 구할 수 있다.
더미 측정의 결과는, 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정하는 회로계에서 발생하는 노이즈로 간주할 수 있다. 본 측정의 결과에는 상기 노이즈가 포함되어 있으므로, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과의 차를 구함으로써, 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 노이즈를 포함시키지 않고 측정할 수 있다. i행 j열째의 화소 회로(20)에 대한 본 측정의 결과와 i행 (j+p)열째의 화소 회로(20)에 관한 더미 측정의 결과의 차는, i행 j열째의 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 노이즈를 포함시키지 않고 측정한 결과를 나타낸다. i행 (j+p)열째의 화소 회로(20)에 대한 본 측정의 결과와 i행 j열째의 화소 회로(20)에 대한 더미 측정의 결과의 차는, i행 (j+p)열째의 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 노이즈를 포함시키지 않고 측정한 결과를 나타낸다. 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 이상에 설명한 방법에 의해 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정한다.
이하, 본 실시 형태에 따른 표시 장치(10)의 효과를 설명한다. 화소 회로를 흐르는 전류를 측정하고, 전류 측정 결과에 기초하여 영상 신호를 보정하는 유기 EL 표시 장치에서는, 전류 측정 결과에 노이즈가 혼입되고, 그 영향을 받아 고화질 표시를 행할 수 없는 경우가 있다. 예를 들어, 전류 측정 회로에 공급되는 D/A 변환기의 출력의 불균일이나, 전류 측정 회로의 오피 앰프에 공급되는 전원 전압에 포함되는 노이즈는, 큰 노이즈의 발생 요인으로 된다. 전원 리플이나, 로드 레귤레이션, 상용 전원의 저주파 노이즈, 내부 회로로부터의 유입 노이즈 등도, 노이즈의 발생 요인으로 된다. 또한, 도 2에 도시한 출력/측정 회로(30)를 사용한 경우, 스위치 제어 신호 CLK1이 로우 레벨일 때에는, 출력/측정 회로(30)의 게인은 매우 커진다(오픈 루프 게인과 동등하게 된다). 이 때문에, 스위치 제어 신호 CLK1이 로우 레벨일 때에는, 출력/측정 회로(30)는 작은 노이즈를 크게 증폭한다.
본 실시 형태에 따른 표시 장치(10)는 본 측정과 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에 대하여 양자의 차를 구하는 연산을 행함으로써, 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정한다. 표시 장치(10)에서 각종 노이즈가 발생하였을 때, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에는 동일 정도의 노이즈가 혼입된다. 이 때문에, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과의 차를 구함으로써, 전류 측정 시의 노이즈를 제거하여, 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 정확하게 측정할 수 있다. 따라서, 전류 측정 결과에 기초하여 영상 신호 VS1을 보정함으로써, 전류 측정 시의 노이즈를 제거하여 고화질 표시를 행할 수 있다.
또한, 이상의 설명에서는, 셀렉터(41)는 p개의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호를 오름차순으로 선택하는 것으로 하였다. 이것 대신에, 셀렉터(41)는 p개의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호를 1번째, p번째, 2번째, (p-1)번째, 3번째, (p-2)번째, …의 순서로 선택해도 된다. 혹은, 홀수번째의 셀렉터(41)는 p개의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호를 내림차순으로 선택하고, 짝수번째의 셀렉터(41)는 p개의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호를 오름차순으로 선택해도 된다. 이에 의해, 인접하는 출력/측정 회로(30)의 출력 신호의 사이에서 A/D 변환을 행하는 타이밍의 차를 작게 하여, 전류 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
이상에 나타내는 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 표시 장치(10)는 복수의 주사선 GA1∼GAn, GB1∼GBn과 복수의 데이터선 S1∼Sm과 2차원 형상으로 배치된 복수의 화소 회로(20)를 포함하는 표시부(11)와, 주사선 GA1∼GAn, GB1∼GBn을 구동하는 주사선 구동 회로(13)와, 데이터선 S1∼Sm을 구동하는 데이터선 구동 회로(데이터선 구동/전류 측정 회로(14)의 일부)와, 복수의 측정부(출력/측정 회로(30))를 포함하고, 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정 회로(데이터선 구동/전류 측정 회로(14)의 다른 일부)를 구비하고 있다. 전류 측정 회로는, 일부의 측정부에 측정용 신호(측정용 전압)를 공급하여 화소 회로(20)에 대하여 전류를 측정하는 본 측정과, 잔여의 측정부에 더미 신호(제로 전압)를 공급하여 전류를 측정하는 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행한다. 또한, 잔여의 측정부의 적어도 일부가, 더미 측정을 행하면 된다. 이와 같이 본 측정과 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행함으로써, 화소 회로(20)에 대하여 전류를 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다. 또한, 전류 측정 결과를 사용하여, 고화질 표시를 행할 수 있다.
또한, 전류 측정 회로는, 더미 측정을 행할 때에는 측정되어야 할 값이 대략 제로인 신호(제로 전압)를 더미 신호로서 공급하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과의 차를 구한다. 이에 의해, 화소 회로(20)에 대하여 전류를 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 용이하게 제거할 수 있다.
또한, 측정부는 데이터선 Sj에 대응하여 설치되어 있고, 전류 측정 회로는, 잔여의 측정부에 더미 신호를 공급하여 화소 회로(20)에 대하여 전류를 측정한다. 이에 의해, 더미 측정용으로 새로운 회로를 형성하지 않고, 화소 회로(20)에 대하여 전류를 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다. 또한, 측정부는 제1 및 제2 그룹으로 분류되고, 전류 측정 회로는, 제1 기간에 있어서 제1 그룹 내의 측정부를 사용한 본 측정과 제2 그룹 내의 측정부를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 제2 기간에 있어서 제2 그룹 내의 측정부를 사용한 본 측정과 제1 그룹 내의 측정부를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행한다. 이와 같이 측정부를 2개의 그룹으로 나누고, 본 측정과 더미 측정을 교대로 행함으로써, 데이터선 S1∼Sm과 동수(m개)의 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 2회의 본 측정에 의해 측정할 수 있다.
또한, 측정부는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 복수개(p개)씩 교대로 제1 및 제2 그룹으로 분류된다. 따라서, 화소 회로(20)에 대하여 전류를 측정할 때에, 근방의 화소 회로(20)에 대한 더미 측정 결과를 참조함으로써, 전류 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다. 또한, 전류 측정 회로는, 제1 그룹 내의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터(홀수번째의 셀렉터(41))와, 제2 그룹 내의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터(짝수번째의 셀렉터(41))를 포함하고 있다. 따라서, 셀렉터(41)를 사용하여 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과를 선택하고, 선택된 2개의 측정 결과에 대하여 연산을 행할 수 있다.
또한, 표시 장치(10)는 전류 측정 회로에 의해 측정된 전류에 기초하여, 데이터선 구동 회로에 공급되는 영상 신호 VS1을 보정하는 보정부(16)를 구비하고 있다. 따라서, 측정된 전류에 기초하여 영상 신호 V1을 보정함으로써, 고화질 표시를 행할 수 있다.
또한, 화소 회로(20)는 전기 광학 소자(유기 EL 소자(24))와, 전기 광학 소자에 직렬로 접속된 구동 트랜지스터(트랜지스터(21))와, 데이터선 Sj에 접속된 제1 도통 단자, 구동 트랜지스터의 제어 단자(게이트 단자)에 접속된 제2 도통 단자, 및, 주사선 중 제1 주사선 GAi에 접속된 제어 단자를 갖는 기입 제어 트랜지스터(트랜지스터(22))와, 데이터선 Sj에 접속된 제1 도통 단자, 구동 트랜지스터와 전기 광학 소자의 접속점에 접속된 제2 도통 단자, 및, 주사선 중 제2 주사선 GBi에 접속된 제어 단자를 갖는 판독 제어 트랜지스터(트랜지스터(23))를 포함하고 있다. 따라서, 전기 광학 소자와 구동 트랜지스터와 기입 제어 트랜지스터와 판독 제어 트랜지스터를 포함하는 화소 회로를 구비한 표시 장치에 대하여, 화소 회로에 대하여 전류를 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다.
또한, 표시 장치(10)는 화소 회로마다 전기 광학 소자와 구동 트랜지스터의 역치 전압과 게인을 기억하는 기억부(보정용 데이터 기억부(15))를 구비하고 있다. 보정부(16)는 전류 측정 회로에 의해 측정된 전류에 기초하여, 기억부에 기억되는 역치 전압과 게인을 구하고, 기억부에 기억된 역치 전압과 게인에 기초하여, 영상 신호 VS1을 보정한다. 따라서, 전류 측정 결과에 기초하여 전기 광학 소자와 구동 트랜지스터의 역치 전압과 게인을 구하고, 이것을 사용하여 영상 신호 VS1을 보정함으로써, 전기 광학 소자와 구동 트랜지스터의 특성의 편차나 변동을 보상하여 고화질 표시를 행할 수 있다. 또한, 데이터선 구동 회로와 전류 측정 회로는, 증폭기(오피 앰프(31))를 공유한다. 이에 의해, 표시 장치(10)의 회로량을 삭감할 수 있다
(제2 실시 형태)
본 발명의 제2 실시 형태에 따른 표시 장치는, 제1 실시 형태에 따른 표시 장치와 마찬가지의 구성을 갖고(도 1 및 도 2를 참조), 적, 녹 및 청의 3원색을 사용하여 화상을 표시한다. (m×n)개의 화소 회로(20)는 대응하는 데이터선마다(즉, 열마다), 적, 녹, 및, 청 중 어느 하나의 표시색을 갖는다. 1열째, 4열째, 7열째, …의 화소 회로(20)의 표시색은 적, 2행째, 5행째, 8행째, …의 화소 회로(20)의 표시색은 녹, 3행째, 6행째, 9행째, …의 화소 회로(20)의 표시색은 청이다.
도 8은 본 실시 형태에 따른 표시 장치에 있어서의 출력/측정 회로(30)와 셀렉터(41)의 대응짓기, 및, 본 측정과 더미 측정의 전환 방법을 도시하는 도면이다. 도 8은 도 7에 있어서 p=3으로 한 것이다. 출력/측정 회로(30)는 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 3개씩 교대로 제1 및 제2 그룹으로 분류된다. 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 동일한 표시색을 갖는 화소 회로(20)에 대하여 본 계측과 더미 계측을 동일한 타이밍에서 행한다.
이상에 나타내는 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 표시 장치에서는, 화소 회로(20)는 대응하는 데이터선마다 복수의 표시색 중 어느 하나를 갖는다. 측정부(출력/측정 회로(30))는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 표시색과 동수(3개)씩 교대로 제1 및 제2 그룹으로 분류된다. 이와 같이 동일한 표시색을 갖는 화소 회로(20)에 대하여 본 측정의 결과와 더미 측정을 행함으로써, 전류 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
(제3 실시 형태)
본 발명의 제3 실시 형태에 따른 표시 장치는, 제1 실시 형태에 따른 표시 장치와 마찬가지의 구성을 갖는다(도 1 및 도 2를 참조). 본 실시 형태와 제1 실시 형태에서는, 출력/측정 회로(30)와 셀렉터(41)의 대응짓기, 및, 본 측정과 더미 측정의 전환 방법이 상이하다. 이하, 제1 실시 형태와의 상위점을 설명한다.
도 9는 본 실시 형태에 따른 표시 장치에 있어서의 출력/측정 회로(30)와 셀렉터(41)의 대응짓기, 및, 본 측정과 더미 측정의 전환 방법을 도시하는 도면이다. 본 실시 형태에서는, 홀수번째의 셀렉터(41)에는 홀수번째의 출력/측정 회로(30)가 p개씩 순서대로 대응지어지고, 짝수번째의 셀렉터(41)에는 짝수번째의 출력/측정 회로(30)가 p개씩 순서대로 대응지어진다. 예를 들어, 1번째의 셀렉터(41)에는 1번째, 3번째, …, (2p-1)번째의 출력/측정 회로(30)가 대응지어지고, 2번째의 셀렉터(41)에는 2번째, 4번째, …, 2p번째의 출력/측정 회로(30)가 대응지어진다. m개의 출력/측정 회로(30)는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 1개씩 교대로 2개의 그룹으로 분류된다. 홀수번째의 출력/측정 회로(30)는 제1 그룹으로 분류되고, 짝수번째의 출력/측정 회로(30)는 제2 그룹으로 분류된다. 마찬가지로 (m×n)개의 화소 회로(20)는 1열씩 교대로 2개의 그룹으로 분류된다. 홀수열째의 화소 회로(20)는 제1 그룹으로 분류되고, 짝수열째의 화소 회로는 제2 그룹으로 분류된다.
데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 제1 그룹 내의 화소 회로(20)(홀수열째의 화소 회로(20))에 대하여 전류 측정을 행할 때에는, 제1 그룹 내의 출력/측정 회로(30)(홀수번째의 출력/측정 회로(30))를 사용한 본 측정과 제2 그룹 내의 출력/측정 회로(30)(짝수번째의 출력/측정 회로(30))를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 계측의 결과와 더미 계측의 결과의 차를 구한다. 또한, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 제2 그룹 내의 화소 회로(20)(짝수열째의 화소 회로(20))에 대하여 전류 측정을 행할 때에는, 제2 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정과 제1 그룹 내의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 계측의 결과와 더미 계측의 결과의 차를 구한다.
구체적으로는, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 어느 프레임 기간 내에 설정된 i행째의 화소 회로(20)의 전류 측정 시의 선택 기간에서는, 1번째, 3번째, …의 출력/측정 회로(30)에 측정용 전압을 공급하여 1열째, 3열째, …의 화소 회로(20)에 대하여 본 측정을 행함과 함께, 2번째, 4번째, …의 출력/측정 회로(30)에 제로 전압을 공급하여 2열째, 4열째, …의 화소 회로(20)에 대하여 더미 측정을 행한다(도 8의 상부를 참조). 또한, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 다른 프레임 기간 내에 설정된 i행째의 화소 회로(20)의 전류 측정 시의 선택 기간에서는, 2번째, 4번째, …의 출력/측정 회로(30)에 측정용 전압을 공급하여 2열째, 4열째, …의 화소 회로(20)에 대하여 본 측정을 행함과 함께, 1열째, 3열째, …의 출력/측정 회로(30)에 제로 전압을 인가하여 1열째, 3열째, …의 화소 회로(20)에 대하여 더미 측정을 행한다(도 8의 하부를 참조). 어느 경우도, 본 측정과 더미 측정은 동일한 타이밍에서 행해진다.
각 셀렉터(41)는 p개의 출력/측정 회로(30)의 출력 신호를, 예를 들어 오름차순으로 선택한다. 구동/측정 신호 생성 회로(17)는 k번째(단, k는 1 이상 (m/p) 이하의 홀수)의 셀렉터(41)의 출력 신호에 기초하는 디지털값과 (k+1)번째의 셀렉터(41)의 출력 신호에 기초하는 디지털값의 차를 구하고, 그 차를 일시적으로 기억한다. 이에 의해, 홀수번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정의 결과와 짝수번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정의 결과의 차, 혹은, 짝수번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 본 측정의 결과와 홀수번째의 출력/측정 회로(30)를 사용한 더미 측정의 결과의 차를 구할 수 있다. i행 j열째의 화소 회로(20)에 대한 본 측정의 결과와 i행 (j+1)열째의 화소 회로(20)에 대한 더미 측정의 결과의 차는, i행 j열째의 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정한 결과를 나타낸다. i행 (j+1)열째의 화소 회로(20)에 대한 본 측정의 결과와 i행 j열째의 화소 회로(20)에 대한 더미 측정의 결과의 차는, i행 (j+1)열째의 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정한 결과를 나타낸다. 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)는 이상에 설명한 방법에 의해 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정한다.
이상에 나타내는 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 표시 장치에서는, 측정부(출력/측정 회로(30))는 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 1개씩 교대로 제1 및 제2 그룹으로 분류된다. 따라서, 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 측정할 때에, 인접하는 화소 회로(20)에 대한 더미 측정의 결과를 참조함으로써, 전류 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
(제4 실시 형태)
본 발명의 제4 실시 형태에 따른 표시 장치는, 제1 실시 형태에 따른 표시 장치와 마찬가지의 구성을 갖는다(도 1 및 도 2를 참조). 단, 본 실시 형태에 따른 표시 장치는, 도 3에 도시한 데이터선 구동/전류 측정 회로(14) 대신에, 도 10에 도시한 데이터선 구동/전류 측정 회로(50)를 구비하고 있다.
도 10에 도시한 데이터선 구동/전류 측정 회로(50)는 (m+m/p)개의 출력/측정 회로(30), 신호 변환 회로(51) 및 구동/측정 신호 생성 회로(52)를 포함하고 있다. 신호 변환 회로(51)는 (m/p)개의 셀렉터(53), (2m/p)개의 오프셋 회로(54) 및 (2m/p)개의 A/D 변환기(55)를 포함하고 있다.
(m+m/p)개의 출력/측정 회로(30)는 m개의 본 측정용 회로(이하, 출력/측정 회로(30a)라 함)와, (m/p)개의 더미 측정용 회로(이하, 출력/측정 회로(30b)라 함)로 분류된다. m개의 출력/측정 회로(30a)는, 각각, m개의 데이터선 S1∼Sm에 접속된다. 데이터선 Sj에 접속된 출력/측정 회로(30a) 내의 오피 앰프(31)의 비반전 입력 단자에는, 데이터선 Sj에 대응한 D/A 변환기(도시하지 않음)의 출력 신호 DVj가 인가된다. m개의 출력/측정 회로(30a)와 (m/p)개의 셀렉터(53)는 제1 실시 형태와 동일한 형태로 접속된다.
(m/p)개의 출력/측정 회로(30b)는, 각각, 표시부(11)에 형성된 (m/p)개의 더미 배선 D1∼Dm/p에 접속된다. 더미 배선 D1∼Dm/p는, 데이터선 S1∼Sm과 동일한 부하를 갖고, 더미 측정 대상 회로로서 기능한다. 출력/측정 회로(30b) 내의 오피 앰프(31)의 비반전 입력 단자에는, 제로 전압 DVzero가 고정적으로 인가된다.
셀렉터(53)는 p개의 출력/측정 회로(30a)의 출력 신호 중으로부터 1개의 아날로그 신호를 선택한다. 오프셋 회로(54)는 셀렉터(53)에 의해 선택된 아날로그 신호, 또는, 출력/측정 회로(30b)의 출력 신호에 대하여 소정의 오프셋을 가산한다. A/D 변환기(55)는 오프셋 회로(54)로부터 출력된 아날로그 신호를 디지털값으로 변환한다.
구동/측정 신호 생성 회로(52)는 각 A/D 변환기(55)에 의해 구한 디지털값에 기초하여, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과의 차를 구하여 일시적으로 기억한다. 셀렉터(53)는 p개의 출력/측정 회로(30a)의 출력 신호를 순서대로 선택한다. 셀렉터(53)가 p회의 선택을 완료하였을 때, 구동/측정 신호 생성 회로(52)에는, 본 측정에 의한 결과와 더미 측정에 의한 결과의 차를 나타내는 m개의 디지털값이 기억되어 있다. 구동/측정 신호 생성 회로(52)는 표시 제어 회로(12)에 대하여, m개의 디지털값을 포함하는 모니터 신호 MS를 출력한다.
도 11은 본 실시 형태에 따른 표시 장치에 있어서의 본 측정과 더미 측정의 타이밍을 도시하는 도면이다. 도 11에는 데이터선 S1∼Sp에 접속된 출력/측정 회로(30a)에 의한 본 측정과, 더미 배선 D1에 접속된 출력/측정 회로(30b)에 의한 더미 측정의 타이밍이 기재되어 있다. 여기에서는, 본 측정과 더미 측정을, 측정과 A/D 변환으로 나누어 생각한다.
도 11에 도시한 바와 같이, 시각 t0에서는, 더미 배선 D1에 접속된 출력/측정 회로(30b)에 의한 측정과, 데이터선 S1∼Sp에 접속된 출력/측정 회로(30a)에 의한 측정이 동일한 타이밍에서 행해진다. 시각 t1에서는, 더미 배선 D1에 접속된 출력/측정 회로(30b)의 출력 신호에 대한 A/D 변환과, 데이터선 S1에 접속된 출력/측정 회로(30a)의 출력 신호에 대한 A/D 변환이 동일한 타이밍에서 행해진다. 시각 t2에서는, 더미 배선 D2에 접속된 출력/측정 회로(30b)의 출력 신호에 대한 A/D 변환과, 데이터선 S2에 접속된 출력/측정 회로(30a)의 출력 신호에 대한 A/D 변환이 동일한 타이밍에서 행해진다. 마찬가지로, 시각 t3∼tp에서는, 더미 배선 D2에 접속된 출력/측정 회로(30b)의 출력 신호에 대한 A/D 변환과, 데이터선 S3∼Sp에 접속된 출력/측정 회로(30a)의 출력 신호에 대한 A/D 변환이 동일한 타이밍에서 행해진다. 이와 같이 본 측정의 결과에 대한 A/D 변환과 더미 측정의 결과에 대한 A/D 변환을 동일한 타이밍에서 행함으로써, 전류 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
또한, 이상의 설명에서는, 더미 배선의 개수는 (m/p)개인 것으로 하였지만, 더미 배선의 수는 1개 이상이면 임의여도 된다. 예를 들어, 더미 배선이 1개인 경우에는, 데이터선 구동/전류 측정 회로는 도 12에 도시한 구성을 갖는다. 또한, 더미 측정 대상 회로로서, 더미 배선 이외의 회로를 사용해도 된다.
이상에 나타내는 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 표시 장치는, 1개 이상의 더미 측정 대상 회로(더미 배선 D1∼Dm/p)를 구비하고 있다. 일부의 측정부(출력/측정 회로(30a))는 데이터선 S1∼Sm에 대응하여 설치되고, 잔여의 측정부(출력/측정 회로(30b))는 더미 측정 대상 회로에 대응하여 설치된다. 전류 측정 회로(데이터선 구동/전류 측정 회로(50)의 일부)는 잔여의 측정부에 더미 신호(제로 전압)를 공급하여 더미 측정 대상 회로를 흐르는 전류를 측정한다. 이와 같이 더미 측정 대상 회로를 설치하고, 더미 측정 대상 회로를 흐르는 전류를 측정하는 더미 측정을 행함으로써, 데이터선과 동수(m개)의 화소 회로(20)를 흐르는 전류를 1회의 본 측정에 의해 측정할 수 있다. 또한, 데이터선 S1∼Sm과 동일한 부하를 갖는 더미 측정 대상 회로를 사용함으로써, 본 측정과 동일한 조건에서 더미 측정을 행할 수 있다. 또한, 전류 측정 회로는, 일부의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터(53)를 포함하고 있다. 따라서, 셀렉터(53)를 사용하여 본 측정의 결과를 선택하고, 선택된 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과 사이에서 연산을 행할 수 있다.
또한, 전류 측정 회로는, 화소 회로(20)에 대하여 전류를 측정한 결과를 나타내는 아날로그 신호를 디지털값으로 변환하는 A/D 변환기(55)를 포함하고, 본 측정의 결과에 대한 A/D 변환과 더미 측정의 결과에 대한 A/D 변환을 동일한 타이밍에서 행한다. 이에 의해, 전류 측정 시의 노이즈를 효과적으로 제거할 수 있다.
(제5 실시 형태)
제1∼제4 실시 형태에서는, 화소 회로에 대하여 전류를 측정하는 전류 측정 회로를 구비한 표시 장치에 대하여 설명하였다. 제5 실시 형태에서는, 화소 회로에 대하여 전압을 측정하는 전압 측정 회로를 구비한 표시 장치에 대하여 설명한다.
도 13은 본 발명의 제5 실시 형태에 따른 표시 장치의 구성을 도시하는 블록도이다. 도 13에 도시한 표시 장치(60)는 제1 실시 형태에 따른 표시 장치(10)(도 1)에 있어서, 데이터선 구동/전류 측정 회로(14)를 데이터선 구동/전압 측정 회로(데이터선 구동 회로와 전압 측정 회로의 겸용 회로)(61)로 치환한 것이다. 데이터선 구동/전압 측정 회로(61)는 구동/측정 신호 생성 회로(17), 신호 변환 회로(40) 및 m개의 출력/측정 회로(62)를 포함하고 있다.
도 14는 화소 회로(20)와 출력/측정 회로(62)의 구성을 도시하는 도면이다. 도 14에는 i행 j열째의 화소 회로(20)와, 데이터선 Sj에 대응한 출력/측정 회로(62)가 기재되어 있다. 화소 회로(20)의 구성은 제1 실시 형태와 동일하다. 이하, 트랜지스터(21)의 소스 단자와 유기 EL 소자(24)의 애노드 단자가 접속된 절점을 N1이라 한다.
출력/측정 회로(62)는 전압 생성 회로(63), 전류원(64), 전압 측정 회로(65) 및 스위치(66)를 포함하고 있다. 스위치(66)의 일단은, 데이터선 Sj에 접속된다. 스위치(66)는 스위치 제어 신호 SC에 따라서, 데이터선 Sj를 전압 생성 회로(63)에 접속할지, 전류원(64)과 전압 측정 회로(65)에 접속할지를 전환한다.
전압 생성 회로(63)는 신호 변환 회로(40)로부터 출력된 디지털 데이터에 기초하여 데이터 전압을 출력하거나, 레퍼런스 전압을 출력한다. 데이터선 Sj가 전압 생성 회로(63)에 접속되어 있을 때, 전압 생성 회로(63)로부터 출력된 데이터 전압 또는 레퍼런스 전압은 데이터선 Sj에 인가된다. 데이터선 Sj가 전류원(64)과 전압 측정 회로(65)에 접속되어 있을 때, 전류원(64)은 데이터선 Sj에 대하여 소정량의 전류를 흘리고, 전압 측정 회로(65)는 그때의 데이터선 Sj의 전압을 측정한다.
영상 신호 VS1을 보정하여 영상 신호 VS2를 구하기 위해, 데이터선 구동/전압 측정 회로(61)는 각 화소 회로(20)에 대하여 4종류의 전압을 측정한다. 보다 상세하게는, 각 화소 회로(20) 내의 트랜지스터(21)의 특성을 구하기 위해, 데이터선 구동/전압 측정 회로(61)는 화소 회로(20)에 트랜지스터(21)가 온하는 레퍼런스 전압을 기입하고, 전류원(64)으로부터 제1 측정용 전류 In1을 흘렸을 때의 절점 N1의 전압 Vn1과, 화소 회로(20)에 트랜지스터(21)가 온하는 전압을 기입하고, 전류원(64)으로부터 제2 측정용 전류 In2(>In1)를 흘렸을 때의 절점 N2의 전압 Vn2와, 화소 회로(20)에 트랜지스터(21)가 오프하는 전압을 기입하고, 전류원(64)으로부터 제3 측정용 전류 In3을 흘렸을 때의 절점 N1의 전압 Vn3과, 화소 회로(20)에 트랜지스터(21)가 오프하는 전압을 기입하고, 전류원(64)으로부터 제4 측정용 전류 In4(>In3)을 흘렸을 때의 절점 N2의 전압 Vn4를 측정한다.
주사선 구동 회로(13)와 데이터선 구동/전압 측정 회로(61)는 1행분의 화소 회로(20)에 대한 기입 처리와, 1행분의 화소 회로(20)에 대하여 4종류의 전압 Vn1∼Vn4 중 어느 하나를 측정하는 처리를 행한다. 예를 들어, 주사선 구동 회로(13)와 데이터선 구동/전압 측정 회로(61)는 연속한 4프레임 기간 중, 제1∼제4 프레임 기간 내의 i번째의 라인 기간에서는 i행째의 화소 회로(20)에 대하여 전압 Vn1∼Vn4를 각각 측정하고, 그 이외의 라인 기간에서는 1행분의 화소 회로(20)에 대한 기입 처리를 행해도 된다.
보정부(16)는 측정된 4종류의 전압 Vn1∼Vn4에 기초하여, 트랜지스터(21)와 유기 EL 소자(24)의 특성을 구하는 처리를 행하고, 구한 2종류의 특성에 기초하여 영상 신호 VS1을 보정한다. 보다 상세하게는, 보정부(16)는 2종류의 전압 Vn1, Vn2에 기초하여, 트랜지스터(21)의 특성으로서 역치 전압과 게인을 구하고, 2종류의 전압 Vn3, Vn4에 기초하여, 유기 EL 소자(24)의 특성으로서 역치 전압과 게인을 구한다. 트랜지스터(21)의 역치 전압과 게인 및 유기 EL 소자(24)의 역치 전압과 게인을 구하는 방법은, 제1 실시 형태와 마찬가지이다. 보정부(16)는 구한 역치 전압과 게인을 보정 데이터 기억부(15)에 기입하고, 보정 데이터 기억부(15)로부터 판독한 역치 전압과 게인을 사용하여 영상 신호 VS1을 보정한다.
이상에 나타내는 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 표시 장치(60)는 측정 회로로서 전류 측정 회로 대신에, 화소 회로(20) 내의 절점 N1의 전압 Vn1∼Vn4를 측정하는 전압 측정 회로(65)를 구비하고, 전압 측정 회로(65)에 의해 측정된 전압 Vn1∼Vn4에 기초하여, 데이터선 구동 회로(데이터선 구동/전압 측정 회로(61)의 일부)에 공급되는 영상 신호 VS1에 대하여 보정을 행하는 보정부(16)를 구비하고 있다.
본 실시 형태에 따른 표시 장치(60)에 의하면, 제1 실시 형태에 따른 표시 장치(10)와 마찬가지로, 본 측정과 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행함으로써, 화소 회로(20) 내의 절점 N1의 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다. 또한, 전압 측정 결과를 사용하여, 고화질 표시를 행할 수 있다.
또한, 이상에 설명한 각 실시 형태에 따른 표시 장치는 화소 회로(20)와 출력/측정 회로(30)를 구비하는 것으로 하였지만, 표시 장치는 다른 화소 회로를 구비하고 있어도 되고, 다른 출력/측정 회로를 구비하고 있어도 된다.
이상에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 표시 장치에 의하면, 본 측정과 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 본 측정의 결과와 더미 측정의 결과의 차를 구함으로써, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다. 또한, 전류 또는 전압의 측정 결과를 사용하여, 고화질 표시를 행할 수 있다.
본 발명의 표시 장치는, 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정할 때에 측정 시의 노이즈를 제거할 수 있다는 특징을 가지므로, 유기 EL 표시 장치 등, 전기 광학 소자를 포함하는 화소 회로를 구비한 각종 표시 장치에 이용할 수 있다.
10, 60 : 표시 장치
11 : 표시부
12 : 표시 제어 회로
13 : 주사선 구동 회로
14, 50 : 데이터선 구동/전류 측정 회로
15 : 보정 데이터 기억부
16 : 보정부
17, 52 : 구동/측정 신호 생성 회로
20 : 화소 회로
21 : 트랜지스터(구동 트랜지스터)
22 : 트랜지스터(기입 제어 트랜지스터)
23 : 트랜지스터(판독 제어 트랜지스터)
24 : 유기 EL 소자(전기 광학 소자)
25, 32 : 콘덴서
30, 62 : 출력/측정 회로
31 : 오피 앰프
33∼35, 66 : 스위치
40, 51 : 신호 변환 회로
41, 53 : 셀렉터
42, 54 : 오프셋 회로
43, 55 : A/D 변환기
61 : 데이터선 구동/전압 측정 회로
63 : 전압 생성 회로
64 : 전류원
65 : 전압 측정 회로
GA1∼GAn, GB1∼GBn : 주사선
S1∼Sm : 데이터선

Claims (20)

  1. 액티브 매트릭스형의 표시 장치로서,
    복수의 주사선과 복수의 데이터선과 2차원 형상으로 배치된 복수의 화소 회로를 포함하는 표시부와,
    상기 주사선을 구동하는 주사선 구동 회로와,
    상기 데이터선을 구동하는 데이터선 구동 회로와,
    복수의 측정부를 포함하고, 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 측정 회로를 구비하고,
    상기 측정 회로는, 일부의 측정부에 측정용 신호를 공급하여 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 본 측정과, 잔여의 측정부의 적어도 일부에 더미 신호를 공급하여 전류 또는 전압을 측정하는 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 상기 본 측정의 결과와 상기 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 측정 회로는, 상기 더미 측정을 행할 때에는 측정되어야 할 값이 대략 제로인 신호를 상기 더미 신호로서 공급하고, 상기 본 측정의 결과와 상기 더미 측정의 결과의 차를 구하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 측정부는 상기 데이터선에 대응하여 설치되어 있고,
    상기 측정 회로는, 상기 잔여의 측정부의 적어도 일부에 상기 더미 신호를 공급하여 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 측정부는 제1 및 제2 그룹으로 분류되고,
    상기 측정 회로는, 제1 기간에 있어서 상기 제1 그룹 내의 측정부를 사용한 본 측정과 상기 제2 그룹 내의 측정부를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하고, 제2 기간에 있어서 상기 제2 그룹 내의 측정부를 사용한 본 측정과 상기 제1 그룹 내의 측정부를 사용한 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 측정부는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 복수개씩 교대로 상기 제1 및 제2 그룹으로 분류되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 측정부는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 1개씩 교대로 상기 제1 및 제2 그룹으로 분류되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제4항에 있어서,
    상기 측정 회로는, 상기 제1 그룹 내의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터와, 상기 제2 그룹 내의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 화소 회로는, 대응하는 데이터선마다 복수의 표시색 중 어느 하나를 갖고,
    상기 측정부는, 대응하는 데이터선의 배치순에 따라서, 상기 표시색과 동수씩 교대로 상기 제1 및 제2 그룹으로 분류되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제2항에 있어서,
    1개 이상의 더미 측정 대상 회로를 더 구비하고,
    상기 일부의 측정부는 상기 데이터선에 대응하여 설치되고, 상기 잔여의 측정부는 상기 더미 측정 대상 회로에 대응하여 설치되어 있고,
    상기 측정 회로는, 상기 잔여의 측정부의 적어도 일부에 상기 더미 신호를 공급하여 상기 더미 측정 대상 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 더미 측정 대상 회로는, 상기 데이터선과 동일한 부하를 갖는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 측정 회로는, 상기 일부의 측정부의 출력에 대하여 선택을 행하는 셀렉터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제2항에 있어서,
    상기 측정 회로에서 측정된 전류 또는 전압에 기초하여, 상기 데이터선 구동 회로에 공급되는 영상 신호를 보정하는 보정부를 더 구비한 표시 장치.
  13. 제2항에 있어서,
    상기 화소 회로는, 전기 광학 소자와, 상기 전기 광학 소자에 직렬로 접속된 구동 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 측정 회로에서 측정된 전류 또는 전압에 기초하여, 상기 데이터선 구동 회로에 공급되는 영상 신호를 보정하는 보정부와,
    상기 화소 회로마다 상기 전기 광학 소자와 상기 구동 트랜지스터의 역치 전압과 게인을 기억하는 기억부를 더 구비하고,
    상기 보정부는, 상기 측정 회로에 의해 측정된 전류 또는 전압에 기초하여, 상기 기억부에 기억되는 역치 전압과 게인을 구하고, 상기 기억부에 기억된 역치 전압과 게인에 기초하여 상기 영상 신호를 보정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 제13항에 있어서,
    상기 화소 회로는,
    상기 데이터선에 접속된 제1 도통 단자, 상기 구동 트랜지스터의 제어 단자에 접속된 제2 도통 단자, 및, 상기 주사선 중 제1 주사선에 접속된 제어 단자를 갖는 기입 제어 트랜지스터와,
    상기 데이터선에 접속된 제1 도통 단자, 상기 구동 트랜지스터와 상기 전기 광학 소자의 접속점에 접속된 제2 도통 단자, 및, 상기 주사선 중 제2 주사선에 접속된 제어 단자를 갖는 판독 제어 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  16. 제2항에 있어서,
    상기 측정 회로는, 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정한 결과를 나타내는 아날로그 신호를 디지털값으로 변환하는 A/D 변환기를 더 포함하고, 상기 본 측정의 결과에 대한 A/D 변환과 상기 더미 측정의 결과에 대한 A/D 변환을 동일한 타이밍에서 행하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  17. 제2항에 있어서,
    상기 측정 회로는, 상기 화소 회로를 흐르는 전류를 측정하는 전류 측정 회로인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 데이터선 구동 회로와 상기 전류 측정 회로는, 증폭 회로를 공유하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  19. 제2항에 있어서,
    상기 측정 회로는, 상기 화소 회로 내의 절점의 전압을 측정하는 전압 측정 회로인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  20. 복수의 주사선과 복수의 데이터선과 2차원 형상으로 배치된 복수의 화소 회로를 포함하는 표시부를 갖는 액티브 매트릭스형의 표시 장치의 구동 방법으로서,
    상기 주사선을 구동하는 스텝과,
    상기 데이터선을 구동하는 스텝과,
    복수의 측정부를 사용하여, 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 스텝을 구비하고,
    상기 측정하는 스텝은,
    일부의 측정부에 측정용 신호를 공급하여 상기 화소 회로에 대하여 전류 또는 전압을 측정하는 본 측정과, 잔여의 측정부의 적어도 일부에 더미 신호를 공급하여 전류 또는 전압을 측정하는 더미 측정을 동일한 타이밍에서 행하는 스텝과,
    상기 본 측정의 결과와 상기 더미 측정의 결과에 대하여 연산을 행하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200077316A (ko) * 2018-12-20 2020-06-30 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치와 그의 픽셀 센싱 방법

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3564940A4 (en) * 2016-12-27 2020-06-10 Shenzhen Royole Technologies Co., Ltd. CONTROL METHOD FOR PIXEL CIRCUIT, PIXEL CIRCUIT GROUP and ORGANIC LIGHT-EMITTING DISPLAY DEVICE
US11663973B1 (en) * 2018-05-10 2023-05-30 Apple Inc. External compensation for displays using sensing and emission differences
US10818208B2 (en) * 2018-09-14 2020-10-27 Novatek Microelectronics Corp. Source driver
KR20210145047A (ko) 2020-05-22 2021-12-01 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP2022021644A (ja) * 2020-07-22 2022-02-03 武漢天馬微電子有限公司 表示装置
CN113611250A (zh) * 2021-08-10 2021-11-05 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及显示装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003195813A (ja) * 2001-09-07 2003-07-09 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
KR20030078741A (ko) * 2002-03-29 2003-10-08 세이코 엡슨 가부시키가이샤 전자 장치, 전자 장치의 구동 방법, 전기 광학 장치 및전자 기기
JP2004004675A (ja) * 2002-03-29 2004-01-08 Seiko Epson Corp 電子装置、電子装置の駆動方法、電気光学装置及び電子機器
JP2007085782A (ja) * 2005-09-20 2007-04-05 Agilent Technol Inc 画素駆動電流測定方法および装置
JP2008250069A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示装置
JP2009244654A (ja) 2008-03-31 2009-10-22 Casio Comput Co Ltd 表示装置及びその駆動制御方法
JP2010281874A (ja) * 2009-06-02 2010-12-16 Casio Computer Co Ltd 発光装置及びその駆動制御方法、並びに電子機器
JP2011164135A (ja) * 2010-02-04 2011-08-25 Global Oled Technology Llc 表示装置
JP2014109775A (ja) 2012-12-03 2014-06-12 Samsung Display Co Ltd 誤差補償部およびこれを用いた有機電界発光表示装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001195026A (ja) * 2000-01-14 2001-07-19 Victor Co Of Japan Ltd マトリクス型表示装置
JP4909587B2 (ja) * 2005-12-28 2012-04-04 Ｎｅｃディスプレイソリューションズ株式会社 画像表示装置
JP2008299019A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Sony Corp カソード電位制御装置、自発光表示装置、電子機器及びカソード電位制御方法
US8139007B2 (en) 2008-03-31 2012-03-20 Casio Computer Co., Ltd. Light-emitting device, display device, and method for controlling driving of the light-emitting device

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003195813A (ja) * 2001-09-07 2003-07-09 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
KR20030078741A (ko) * 2002-03-29 2003-10-08 세이코 엡슨 가부시키가이샤 전자 장치, 전자 장치의 구동 방법, 전기 광학 장치 및전자 기기
JP2004004675A (ja) * 2002-03-29 2004-01-08 Seiko Epson Corp 電子装置、電子装置の駆動方法、電気光学装置及び電子機器
JP2007085782A (ja) * 2005-09-20 2007-04-05 Agilent Technol Inc 画素駆動電流測定方法および装置
JP2008250069A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示装置
JP2009244654A (ja) 2008-03-31 2009-10-22 Casio Comput Co Ltd 表示装置及びその駆動制御方法
JP2010281874A (ja) * 2009-06-02 2010-12-16 Casio Computer Co Ltd 発光装置及びその駆動制御方法、並びに電子機器
JP2011164135A (ja) * 2010-02-04 2011-08-25 Global Oled Technology Llc 表示装置
KR20120125294A (ko) * 2010-02-04 2012-11-14 글로벌 오엘이디 테크놀러지 엘엘씨 디스플레이 디바이스
JP2014109775A (ja) 2012-12-03 2014-06-12 Samsung Display Co Ltd 誤差補償部およびこれを用いた有機電界発光表示装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200077316A (ko) * 2018-12-20 2020-06-30 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치와 그의 픽셀 센싱 방법

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