WO2015174244A1 - 測色装置および測色方法 - Google Patents

Abstract

　本発明の測色装置では、カラーチャートの画像に基づいてエッジ情報処理部によってエッジに関する所定の情報がエッジ情報として求められ、この求められたエッジ情報をエッジ統計量処理部によって統計処理することで所定のエッジ統計量が求められ、そして、これらエッジ情報およびエッジ統計量に基づいて複数のパッチの各位置がパッチ位置処理部によって求められる。

Description

測色装置および測色方法

　本発明は、色を測定する測色装置および測色方法に関し、特に、自動的に適切な位置で測色できる測色装置および測色方法に関する。

　例えば印刷会社等のようにカラーの印刷物を生成する会社は、印刷物の品質を保つため、印刷物の色を定期的に測色し、その印刷物を印刷した印刷装置の色を調整している。このような印刷装置の色調整では、例えば、カラーチャートと呼ばれる原画像データが印刷装置によって印刷され、この印刷されたカラーチャートにおける各パッチの各色が測色装置によって測定される。そして、各パッチの色の実測値と、各パッチの色の目標値との色ずれ量が評価され、この評価結果に応じて印刷装置の色が調整される。

　前記カラーチャートは、前記パッチと呼ばれる複数の色見本を備えて構成され、複数のパッチそれぞれは、互いに異なる色（色相、明度、彩度）で形成され、所定の態様で配列されている。このようなカラーチャートには、様々な種類がある。例えば、様々な色を持つ複数の四角形のパッチを縦横に２次元アレイ状に配置することによって構成された態様のカラーチャートがある。このような態様のカラーチャートには、さらに、評価したい内容によって、ランダム（無作為）な色配列となるように各パッチが配列されたり、グラデーションのように、互いに隣接するパッチ間における濃淡の変化が少なくなるように各パッチが配列されたりするなど、様々なパターンがある。そして、このようなカラーチャートは、測色装置のメーカーの提供するカラーチャート作成ツールを用いることによってユーザが作成するものだけではなく、公的な機関から提供されるものもある。このようにカラーチャートは、パッチの形状、配置および配色等の違いによって実に様々なパターンがある。

　その一方、印刷装置の色調整に用いられる色の数は、年々増加しており、これに応じてカラーチャートに配置されるパッチの数も、増加しており、しかも、各パッチのサイズ（面積）は、小さい。

　このような事情から、各パッチに対し測色装置の測定部位を人手で正確に位置合わせを行って測色することは、事実上不可能な状況になってきている。このため、自動的に各パッチの位置を測定し、この測定した各パッチの位置に測色装置の測定部位を自動的に合わせて各パッチの色を測定する自動的なシステムが望まれる。このようなシステムの一例として、特許文献１には、測定したいカラーチャートの２次元カラー画像を取り込み、コンピュータを用いた画像処理手法にてパッチの位置を計算し、決定されたパッチ位置に測色ヘッドを動かしてカラーチャートを測色する方法がＧｒｅｔａｇ－Ｍａｃｂｅｔｈ社から提案されている。

　ところで、取り込んだカラーチャートの画像から各パッチの各位置を画像処理によって求める場合、カラーチャートの種類によっては、各パッチの各位置を検出できない虞がある。特に、各パッチの位置がパッチのエッジに基づいて検出される場合であってカラーチャートがグラデーションパターンを含む場合には、このグラデーションパターンの部分では、エッジ部分の濃度差が少ないパッチを含む場合があり、このようなパッチのエッジが検出できず、その結果、前記パッチの位置が正確に検出できない。

米国特許第６７６５６７４号明細書

　本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、より正確にパッチの位置を検出し、より適切な位置でパッチを測色できる測色装置および測色方法を提供することである。

　本発明にかかる測色装置および測色方法では、カラーチャートの画像に基づいてエッジ情報処理部によってエッジに関する所定の情報がエッジ情報として求められ、この求められたエッジ情報をエッジ統計量処理部によって統計処理することで所定のエッジ統計量が求められ、そして、これらエッジ情報およびエッジ統計量に基づいて複数のパッチの各位置がパッチ位置処理部によって求められる。したがって、本発明にかかる測色装置および測色方法は、より正確にパッチの位置を検出し、より適切な位置でパッチを測色できる。

　上記並びにその他の本発明の目的、特徴及び利点は、以下の詳細な記載と添付図面から明らかになるであろう。

実施形態における測色装置の概略構成を示す斜視図である。 実施形態の測色装置における撮像部および測色部の配置関係を示す概略側面図である。 実施形態の測色装置における撮像部および測色部の配置関係を示す概略上面である。 実施形態における測色装置の電気的な構成を示すブロック図である。 実施形態における測色装置の動作を示すフローチャートである。 一例として、第１態様のカラーチャートの画像を示す図である。 図６に示すカラーチャートに対し、ｙ方向の或る位置の画像を、水平方向に沿って差分間隔Ｎ点の差分フィルターで処理した処理結果の一例を示す図である。 一例として、図６に示すカラーチャートの２値化垂直エッジ画像を示す図である。 一例として、図６に示すカラーチャートの垂直エッジ線を示す図である。 一例として、図６に示すカラーチャートの垂直エッジ線間隔のヒストグラムを示す図である。 一例として、図６に示すカラーチャートの垂直エッジ線間の中間線間隔のヒストグラムを示す図である。 一例として、図６に示すカラーチャートの垂直エッジ線および中間線を説明するための図である。 一例として、図６に示すカラーチャートにおける各パッチの実測位置（○）を示す図である。 一例として、垂直エッジ線では端のエッジ線が求められなかった場合における垂直エッジ線および中間線を説明するための図である。 一例として、第２態様のカラーチャートの画像を示す図である。 一例として、図１５に示すカラーチャートの垂直エッジ線を示す図である。 一例として、図１５に示すカラーチャートの垂直エッジ線間隔のヒストグラムを示す図である。 一例として、図１５に示すカラーチャートの垂直エッジ線および中間線を説明するための図である。 一例として、第３態様のカラーチャートの画像を示す図である。 一例として、図１９に示すカラーチャートの垂直エッジ線を示す図である。 一例として、図１９に示すカラーチャートの垂直エッジ線間隔のヒストグラムを示す図である。 一例として、図１９に示すカラーチャートの垂直エッジ線および中間線を説明するための図である。 撮像部が２次元画像センサーである場合における変形形態にかかる測色装置の概略構成を示す図である。

　以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。本明細書において、総称する場合には添え字を省略した参照符号で示し、個別の構成を指す場合には添え字を付した参照符号で示す。

　図１は、実施形態における測色装置の概略構成を示す斜視図である。図２は、実施形態の測色装置における撮像部および測色部の配置関係を示す概略側面図である。図３は、実施形態の測色装置における撮像部および測色部の配置関係を示す概略上面である。図４は、実施形態における測色装置の電気的な構成を示すブロック図である。

　本実施形態における測色装置は、被測定物の色（色相、明度、彩度）を測定する装置であり、色を測定する測色部と、画像を取得する撮像部と、所定の色の領域であるパッチを複数備えるカラーチャートを前記撮像部によって撮像することによって前記カラーチャートの画像を取得する画像取得処理部と、前記画像取得処理部で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジに関する所定の情報をエッジ情報として求めるエッジ情報処理部と、前記エッジ情報処理部で求めた前記エッジ情報を統計処理することによって前記エッジに関する所定の統計量をエッジ統計量として求めるエッジ統計量処理部と、前記エッジ情報処理部で求めた前記エッジ情報および前記エッジ統計量処理部で求めた前記エッジ統計量に基づいて前記複数のパッチの各位置を求めるパッチ位置処理部と、前記パッチ位置処理部で求められた前記複数のパッチの各位置で前記複数のパッチそれぞれの色を前記測色部で測定する色測定処理部とを備える。そして、本実施形態では、測色装置は、前記カラーチャートを搬送する搬送部と、前記測色部を移動する移動部とをさらに備えている。このような測色装置では、前記カラーチャートの画像から前記エッジ情報処理部によってエッジ情報が求められ、この求められたエッジ情報から前記エッジ統計量処理部によってエッジ統計量が求められ、そして、これらエッジ情報およびエッジ統計量に基づいて複数のパッチの各位置が前記パッチ位置処理部によって求められる。したがって、単に、エッジ情報だけではなく、本実施形態における測色装置は、エッジ情報とエッジ統計量とで各パッチの位置を求めるので、例えばエッジの誤検出やエッジの未検出等を低減でき、より正確にパッチの位置を検出し、より適切な位置で各パッチを測色できる。

　このような本実施形態における測色装置ＣＭは、より具体的には、例えば、図１ないし図４に示すように、給紙部１と、副走査方向移動部（紙搬送部）２と、測色部３と、主走査方向移動部４と、撮像部５と、制御処理部６と、入力部７と、出力部８と、インターフェース部（ＩＦ部）９と、記憶部１０とを備える。

　給紙部１は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、当該測色装置ＣＭにセットされた被測定物の紙を当該測色装置ＣＭ内に取り込む紙搬送機構である。被測定物の紙は、任意のものであってよいが、例えば印刷装置の色を調整する場合では、所定の色の領域であるパッチを複数備えるカラーチャートＣＴ等である。給紙部１は、例えば、被測定物の紙を貯留する貯留部と、前記貯留部に貯留された前記被測定物の紙をピックアップして当該測色装置ＣＭ内に取り込む例えばピックアップローラ等を備えて構成される取込み部と、前記取込み部で取り込まれた被測定物の紙を副走査方向移動部２へ搬送する例えば搬送ローラ等を備えて構成される送込み部とを備える。

　副走査方向移動部（紙搬送部）２は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、給紙部１から送られた被測定物の紙を、予め主走査方向として設定された第１方向と直交する副走査方向（第２方向）に、搬送する紙搬送機構である。副走査方向移動部２は、例えば、複数組の紙搬送ローラ部および前記紙搬送ローラを回転駆動する駆動部等を備えて構成される。各組の紙搬送ローラ部は、前記駆動部で回転駆動される駆動ローラおよび前記駆動ローラの回転駆動に従って回転駆動する従動ローラ等を備えて構成される。より具体的には、図２に示す例では、副走査方向移動部２は、３組の第１ないし第３紙搬送ローラ部２０－１～２０－３を備える。これら第１ないし第３紙搬送ローラ部２０－１～２０－３は、副走査方向に沿って上流側（給紙部１側）から下流側（排出側）へ順に配設される。第１ないし第３紙搬送ローラ部２０－１～２０－３それぞれは、第１ないし第３駆動ローラ２１－１～２１－３および第１ないし第３従動ローラ２２－１～２２－３を備える。給紙部１から送られた被測定物の紙は、１対の第１駆動ローラ２１－１と第１従動ローラ２２－１との間に挟み込まれ、第１駆動ローラ２１－１が前記駆動部によって正転（例えば時計回り）で回転駆動することで、第１紙搬送ローラ部２０－１から第２紙搬送ローラ部２０－２へ搬送される。第２紙搬送ローラ部２０－２に搬送された被測定物の紙は、第２紙搬送ローラ部２０－２によって同様に第２紙搬送ローラ部２０－２から第３紙搬送ローラ部２０－３へ搬送される。そして、第３紙搬送ローラ部２０－３に搬送された被測定物の紙は、第３紙搬送ローラ部２０－３によって同様に第３紙搬送ローラ部２０－３から下流側へ搬送される。

　なお、上述では、副走査方向移動部２は、上流側から下流側へ順送りで被測定物の紙を搬送するように構成されたが、さらに、下流側から上流側へ逆送りで被測定物の紙を搬送するように構成されてもよい。この逆送りでは、上述の順送りとは逆に、これら第１ないし第３駆動ローラ２１－１～２１－３が前記駆動部によって逆転（上述の例では反時計回り）で回転駆動することで、被測定物の紙は、下流側から上流側へ搬送される。

　測色部３は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、被測定物の色を測定する装置である。測色部３は、例えば、被測定物の色を求めるために、被測定物における所定の光学情報を取得する測色センサー等である。このような測色部３は、例えば、各波長の反射率（または透過率）を測定するための分光光学素子や光電変換素子等を備え、物体の色を各波長の反射率（または透過率）に基づいて計測する分光型測色計である。また例えば、測色部３は、ＲＧＢの３刺激値を測定するための光学フィルターや光電変換素子等を備え、物体の色を三刺激値の色差に基づいて計測する三刺激値型測色計である。測色部３は、測定範囲の波長を高い反射率（例えば約９０％～約９９％）で反射できるいわゆる白色校正板（標準白色板）を測定することによって白色校正される。

　主走査方向移動部４は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、測色部３を主走査方向（第１方向）に移動する移動機構である。主走査方向移動部４は、例えば、測色部３をガイドするガイド部材と、ガイド部材にガイドされて測色部３を移動させる例えばラックピニオン（ラックアンドピニオン）や送りねじ等の送り機構と、前記送り機構を駆動する例えばステッピングモータ等の送り機構駆動部とを備えて構成される。例えば、図３に示すように、主走査方向移動部４は、主走査方向に沿って延びる、平板状のロッドに歯切りしたラック３１と、測色部３内に設けられ、例えばステッピングモータによって回転駆動するピニオン（不図示）とを備え、前記ピニオンとラック３１とが歯合する。測色部３は、前記ピニオンが前記ステッピングモータで回転駆動することで、ラック３１に沿って主走査方向に移動する。

　なお、以下の説明において、主走査方向（第１方向）がｘ方向（水平方向）とされ、このｘ方向に沿って設定された座標軸がｘ軸とされ、副走査方向（第２方向）がｙ方向（垂直方向）とされ、このｙ方向に沿って設定された座標軸がｙ軸とされ、これらが適宜に用いられる。

　撮像部５は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、物体の光学像を撮像する装置である。撮像部５は、例えば、一方向に沿って複数の光電変換素子を配列したラインセンサー（リニアイメージセンサー）等を備えて構成され、図３に示すように、前記複数の光電変換素子の配列方向である前記一方向を主走査方向（ｘ方向）に一致させて、主走査方向（ｘ方向）に沿って延びるように配設される。

　図２に示すように、このような撮像部５は、第１紙搬送ローラ部２０－１と第２紙搬送ローラ部２０－２との間に配設され、測色部３および主走査方向移動部４は、測色部３が第２紙搬送ローラ部２０－２と第３紙搬送ローラ部２０－３との間で主走査方向に沿って移動するように、配設される。撮像部５は、副走査方向移動部２によって被測定物の紙を副走査方向（ｙ方向）に搬送しながら被測定物の紙を主走査方向（ｘ方向）に沿った１ラインごとに撮像することで、被測定物の紙の画像（画像データ）を生成する。副走査方向移動部２によって被測定物の紙を副走査方向（ｙ方向）に搬送することで、副走査方向における被測定物の紙と測色部３との相対位置ｙが変更でき、また、主走査方向移動部４によって測色部３自体を主走査方向（ｘ方向）に移動することで、主走査方向における被測定物の紙と測色部３との相対位置ｘが変更できる。これによって測色部３は、被測定物の紙上における任意の位置（ｘ、ｙ）に移動でき、その位置（ｘ、ｙ）の色を測定できる。

　入力部７は、制御処理部６に接続され、例えば、被測定物の測色を指示するコマンド等の各種コマンド、および、例えば被測定物における識別子の入力等の測色する上で必要な各種データを測色装置ＣＭに入力する機器であり、例えば、所定の機能を割り付けられた複数の入力スイッチ等である。出力部８は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、入力部７から入力されたコマンドやデータ、および、測色装置ＣＭによって測定された被測定物の色を出力する機器であり、例えばＣＲＴディスプレイ、ＬＣＤおよび有機ＥＬディスプレイ等の表示装置やプリンタ等の印刷装置等である。

　なお、入力部７および出力部８からタッチパネルが構成されてもよい。このタッチパネルを構成する場合において、入力部７は、例えば抵抗膜方式や静電容量方式等の操作位置を検出して入力する位置入力装置であり、出力部８は、表示装置である。このタッチパネルでは、表示装置の表示面上に位置入力装置が設けられ、表示装置に入力可能な１または複数の入力内容の候補が表示され、ユーザが、入力したい入力内容を表示した表示位置を触れると、位置入力装置によってその位置が検出され、検出された位置に表示された表示内容がユーザの操作入力内容として測色装置ＣＭに入力される。このようなタッチパネルでは、ユーザは、入力操作を直感的に理解し易いので、ユーザにとって取り扱い易い測色装置ＣＭが提供される。

　ＩＦ部９は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、外部機器との間でデータの入出力を行う回路であり、例えば、シリアル通信方式であるＲＳ－２３２Ｃのインターフェース回路、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）規格を用いたインターフェース回路、ＩｒＤＡ（Ｉｎｆｒａｒｅｄ　Ｄａｔａ　Ａｓｓｃｏｉａｔｉｏｎ）規格等の赤外線通信を行うインターフェース回路、および、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ　Ｓｅｒｉａｌ　Ｂｕｓ）規格を用いたインターフェース回路等である。

　記憶部１０は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、各種の所定のプログラムおよび各種の所定のデータを記憶する回路である。前記各種の所定のプログラムには、例えば、被測定物を測色するための測色プログラムや、被測定物がカラーチャートＣＴである場合にカラーチャートＣＴの位置を検出する位置検出プログラム等の制御処理プログラムが含まれる。このような記憶部１０は、例えば不揮発性の記憶素子であるＲＯＭ（Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ　Ｍｅｍｏｒｙ）や書き換え可能な不揮発性の記憶素子であるＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ　Ｅｒａｓａｂｌｅ　Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ　Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ　Ｍｅｍｏｒｙ）等を備える。そして、記憶部１０は、前記所定のプログラムの実行中に生じるデータ等を記憶するいわゆる制御処理部６のワーキングメモリとなるＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙ）等を含む。

　制御処理部６は、測色装置ＣＭの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、被測定物の色を求めるための回路である。制御処理部６は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）およびその周辺回路を備えて構成される。制御処理部６には、制御処理プログラムや位置検出プログラムが実行されることによって、制御部６１、画像取得処理部６２、エッジ情報処理部６３、エッジ統計量処理部６４、パッチ位置処理部６５および色測定処理部６６が機能的に構成される。

　制御部６１は、測色装置ＣＭの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御するためのものである。

　画像取得処理部６２は、カラーチャートＣＴを撮像部５によって撮像することによってカラーチャートＣＴの画像を取得するものである。

　エッジ情報処理部６３は、画像取得処理部６２で取得されたカラーチャートＣＴの画像に基づいてエッジに関する所定の情報をエッジ情報として求めるものである。エッジ情報は、例えば、カラーチャートＣＴの画像から求められたエッジ線そのものや、前記エッジ線から求められたエッジ線の間隔（エッジ線間隔）や、前記エッジ線から求められたエッジ線間の中間線の間隔（中間線間隔）等である。

　したがって、一態様では、エッジ情報処理部６３は、画像取得処理部６２で取得されたカラーチャートＣＴの画像に基づいてエッジ線を求め、この求めたエッジ線が複数である場合に、この求めた複数のエッジ線におけるエッジ線の間隔を前記エッジ情報として求めるものである。好ましくは、前記エッジ線の間隔は、互いに隣接するエッジ線間の距離である。この場合に、エッジ情報処理部６３は、画像取得処理部６２で取得されたカラーチャートＣＴの画像に基づいてエッジ線を求め、この求めたエッジ線が複数である場合に、この求めた複数のエッジ線における互いに隣接する各エッジ線間の各間隔を前記エッジ情報として求めるものである。

　また、他の一態様では、エッジ情報処理部６３は、画像取得処理部６２で取得されたカラーチャートＣＴの画像に基づいてエッジ線を求め、この求めたエッジ線が複数である場合に、この求めた複数のエッジ線における中間線を求め、この求めた中間線が複数である場合（前記求めたエッジ線が３個以上である場合）に、この求めた複数の中間線の間隔を前記エッジ情報として求めるものである。好ましくは、前記中間線の間隔は、互いに隣接する中間線間の距離である。この場合に、エッジ情報処理部６３は、画像取得処理部６２で取得されたカラーチャートＣＴの画像に基づいてエッジ線を求め、この求めたエッジ線が複数である場合に、この求めた複数のエッジ線における互いに隣接するエッジ線間の中間線を求め、この求めた中間線が複数である場合（前記求めたエッジ線が３個以上である場合）に、この求めた複数の中間線における互いに隣接する各中間線間の各間隔を前記エッジ情報として求めるものである。

　エッジ統計量処理部６４は、エッジ情報処理部６３で求めた前記エッジ情報を統計処理することによって前記エッジに関する所定の統計量をエッジ統計量として求めるものである。エッジ統計量は、例えば、エッジ線間隔のヒストグラムや中間線間隔のヒストグラム等である。エッジ線間隔のヒストグラムは、エッジ線間隔の長さを所定の幅（長さ）で複数に区分することによって生成された各エッジ線間隔長に、その頻度を対応付けたエッジ線間隔長の頻度分布図であり、その横軸は、各エッジ線間隔長（各階級）であり、その縦軸は、頻度（階級の頻度）である。中間線間隔のヒストグラムは、中間線間隔の長さを所定の幅（長さ）で複数に区分することによって生成された各中間線間隔長に、その頻度を対応付けた中間線間隔長の頻度分布図であり、その横軸は、各中間線間隔長（各階級）であり、その縦軸は、頻度（階級の頻度）である。好ましくは、前記統計処理は、前記エッジ情報のヒストグラムにおける階級の平均値を含む。この場合、エッジ統計量処理部６４は、前記エッジ情報のヒストグラムにおける最も頻度の大きい（高い）階級の平均値を最も確からしいエッジ情報として求めるものである。

　したがって、一態様では、エッジ統計量処理部６４は、エッジ情報処理部６３で求められた前記各エッジ線間の前記各間隔から、エッジ線の間隔のヒストグラムを前記エッジ統計量として求めるものである。この場合に、好ましくは、エッジ統計量処理部６４は、前記エッジ線の間隔のヒストグラムにおける最も頻度の大きい（高い）階級の平均値を最も確からしいエッジ線の間隔として求めるものである。

　また、他の一態様では、エッジ統計量処理部６４は、エッジ情報処理部６３で求められた前記各中間線間の各間隔から、中間線の間隔のヒストグラムを前記エッジ統計量として求めるものである。この場合に、好ましくは、エッジ統計量処理部６４は、前記中間線の間隔のヒストグラムにおける最も頻度の大きい（高い）階級の平均値を最も確からしい中間線の間隔として求めるものである。

　パッチ位置処理部６５は、エッジ情報処理部６３で求めたエッジ情報およびエッジ統計量処理部６４で求めたエッジ統計量に基づいてカラーチャートＣＴにおける複数のパッチの各位置を求めるものである。好ましくは、パッチ位置処理部６５は、エッジ情報処理部６３で求めたエッジ線およびエッジ統計量処理部６４で求めたエッジ線間隔に基づいてカラーチャートＣＴにおける複数のパッチの各位置を求めるものである。また好ましくは、パッチ位置処理部６５は、エッジ情報処理部６３で求めたエッジ線および中間線ならびにエッジ統計量処理部６４で求めたエッジ線間隔および中間線間隔に基づいてカラーチャートＣＴにおける複数のパッチの各位置を求めるものである。さらに好ましくは、このような場合に、パッチ位置処理部６５は、エッジ統計量処理部６４で求めたエッジ線間隔に基づいてエッジ線の適否を判定するものである。より具体的には、パッチ位置処理部６５は、エッジ統計量処理部６４で求めたエッジ線間隔に基づいて未検出のエッジ線を補間し、あるいは、エッジ統計量処理部６４で求めたエッジ線間隔に基づいて誤検出のエッジ線を除外するものである。また、このような前記場合に、好ましくは、パッチ位置処理部６５は、エッジ統計量処理部６４で求めた中間線間隔に基づいて中間線の適否を判定するものである。より具体的には、パッチ位置処理部６５は、エッジ統計量処理部６４で求めた中間線間隔に基づいて未検出の中間線を補間し、あるいは、エッジ統計量処理部６４で求めた中間線間隔に基づいて誤検出の中間線を除外するものである。

　色測定処理部６６は、パッチ位置処理部６５で求められた複数のパッチの各位置で前記複数のパッチそれぞれの色を測色部３で測定するものである。

　次に、本実施形態における測色装置の動作について説明する。図５は、実施形態における測色装置の動作を示すフローチャートである。

　図５において、カラーチャートＣＴが給紙部１にセットされ、入力部７から測色の開始が指示されると、まず、測色装置ＣＭは、カラーチャートＣＴの画像を取得する（Ｓ１１）。より具体的には、制御処理部６の画像取得処理部６２は、副走査方向移動部２によってカラーチャートＣＴを、パッチ領域の一方端から他方端まで副走査方向（ｙ方向）に搬送しながら、この副走査方向の搬送に同期させて、主走査方向（ｘ方向）に沿った１ラインごとにカラーチャートＣＴを撮像部５で撮像することで、カラーチャートＣＴの画像を取得する。パッチ領域は、各パッチが存在する領域である。このパッチ領域は、入力部７から与えられ、あるいは、公知の常套手段によって予め求められ、測色装置ＣＭにセットされている。

　次に、測色装置ＣＭは、画像取得処理部６２で取得されたカラーチャートＣＴの画像に基づいてエッジ情報を求める（Ｓ１２）。

　より具体的には、エッジ線を求める場合には、制御処理部６のエッジ情報処理部６３は、まず、処理Ｓ１１で取得されたカラーチャートＣＴの画像に対し、所定のエッジフィルターを用いることでエッジを抽出し、そして、２値化し、これによって２値化エッジ画像の画像データ（２値化エッジ画像データ）を生成する。

　より詳しくは、次のように動作することで、カラーチャートＣＴの画像に基づいて、垂直方向（ｙ方向）に沿うエッジを２値で表した２値化垂直エッジ画像の画像データ（２値化垂直エッジ画像データ）、および、水平方向（ｘ方向）に沿うエッジを２値で表した２値化水平エッジ画像の画像データ（２値化水平エッジ画像データ）が、エッジ情報処理部６３によってそれぞれ生成される。

　副走査方向（垂直方向、ｙ方向）に沿ったエッジである垂直エッジを求める場合には、例えば、エッジフィルターとして、主走査方向（水平方向、ｘ方向）に差分を取る、次式（１）の差分間隔Ｎ点の差分フィルターが用いられる。

　パッチ内は、同色で濃度変化がほとんど無い。一方、パッチの境界（エッジ）は、一般には、濃度変化が大きい。このため、パッチ内では、差分値が小さくなり、パッチの境界（エッジ）では、差分値が大きくなる。

　そして、このようなエッジフィルター処理後の処理結果の絶対値が求められ、この求められた絶対値が予め設定された閾値ｔｈ１と比較される。この比較の結果、前記絶対値が前記閾値ｔｈ１以上である場合では、１とされ、前記絶対値が前記閾値ｔｈ１未満である場合では、０とされる。これによって各画素の画素値が２値化され、２値化垂直エッジ画像データが生成される。なお、２値化後にノイズを除去して２値化垂直エッジ画像データが生成されてもよい。

　一方、主走査方向（水平方向、ｘ方向）に沿ったエッジである水平エッジを求める場合には、例えば、エッジフィルターとして、上述の式（１）に代え、副走査方向（垂直方向、ｙ方向）に差分を取る、次式（２）の差分間隔Ｎ点の差分フィルターが用いられる。

　以下、２値化垂直エッジ画像の生成と同様に処理されることで、２値化水平エッジ画像データが生成される。

　そして、制御処理部６のエッジ情報処理部６３は、上述のように得られたカラーチャートＣＴの２値化エッジ画像データに対し、いわゆるハフ変換による直線検出を実施することでエッジ線を求める。より詳しくは、カラーチャートＣＴの２値化垂直エッジ画像データおよび２値化水平エッジ画像データそれぞれがエッジ情報処理部６３によってハフ変換されることで、垂直エッジ情報として垂直エッジ線および水平エッジ情報として水平エッジ線が求められる。

　また、エッジ線間隔を求める場合には、制御処理部６のエッジ情報処理部６３は、上述のように求めたエッジ線から、複数のエッジ線における互いに隣接するエッジ線間の距離（長さ）Ｄを求める。エッジ線が３個以上である場合には、エッジ線間隔Ｄは、エッジ線間ごとに求められる。したがって、エッジ線間隔Ｄ（ｋ）は、複数のエッジ線間に対応して複数求められる（ｋ＝１～Ｋ１、Ｋ１；検出できたエッジ線のエッジ線間の個数）。より詳しくは、垂直エッジ線から垂直エッジ線間隔Ｄｖ（ｋｖ）が垂直エッジ情報として求められ、水平エッジ線から水平エッジ線間隔Ｄｈ（ｋｈ）が水平エッジ情報として求められる（ｋｖ＝１～Ｋｖ１、Ｋｖ１；検出できた垂直エッジ線のエッジ線間の個数、ｋｈ＝１～Ｋｈ１、Ｋｈ１；検出できた水平エッジ線のエッジ線間の個数）。

　次に、測色装置ＣＭは、エッジ情報処理部６３で求められたエッジ情報を統計処理することによってエッジ統計量を求める（Ｓ１３）。

　より具体的には、エッジ線間隔のヒストグラムが求められる。制御処理部６のエッジ統計量処理部６４は、エッジ情報処理部６３でエッジ情報として求められたエッジ線間隔Ｄ（ｋ）をエッジ線間隔長ごとに振り分け、各エッジ線間隔長ごとに（各階級ごとに）、当該エッジ線間隔長に振り分けられたエッジ線間隔Ｄ（ｋ）の個数を合計することで当該エッジ線間隔長の頻度を求め、ヒストグラムを作成する。この場合に、好ましくは、エッジ統計量処理部６４は、前記エッジ線間隔のヒストグラムにおける最も頻度の大きい（高い）階級の平均値を最も確からしいエッジ線の間隔Ｄ０として求めるものである。より詳しくは、垂直エッジ線間隔Ｄｖ（ｋｖ）から垂直エッジ線間隔のヒストグラムが垂直エッジ統計量として求められ、この垂直エッジ線間隔のヒストグラムから最も確からしい垂直エッジ線間隔Ｄｖ０が求められ、水平エッジ線間隔Ｄｈ（ｋｈ）から水平エッジ線間隔のヒストグラムが水平エッジ統計量として求められ、この水平エッジ線間隔のヒストグラムから最も確からしい水平エッジ線間隔Ｄｈ０が求められる。

　この場合において、パッチ位置処理部６５によって、必要に応じて、処理Ｓ１２で求められたエッジ情報の適否が処理Ｓ１３で求められたエッジ統計量に基づいて判定される。より詳しくは、パッチ位置処理部６５によって、処理Ｓ１２で求められたエッジ線の適否が処理Ｓ１３で求められた最も確からしいエッジ線間隔Ｄ０に基づいて判定される。さらに詳しくは、パッチ位置処理部６５によって、処理Ｓ１２で求められた垂直エッジ線の適否が処理Ｓ１３で求められた最も確からしい垂直エッジ線間隔Ｄｖ０に基づいて判定される。パッチ位置処理部６５によって、処理Ｓ１２で求められた水平エッジ線の適否が処理Ｓ１３で求められた最も確からしい水平エッジ線間隔Ｄｈ０に基づいて判定される。

　また、中間線間隔を求める場合には、制御処理部６のエッジ情報処理部６３は、上述のように求めたエッジ線から、複数のエッジ線における互いに隣接するエッジ線間の中間線を求め、このように求めた中間線から、複数の中間線における互いに隣接する中間線間の距離（長さ）Ｌを求める。中間線が３個以上である場合には、中間線間隔は、中間線間ごとに求められる。したがって、中間線間隔Ｌ（ｍ）は、複数の中間線間に対応して複数求められる（ｍ＝１～Ｍ１、Ｍ１；検出できたエッジ線に基づく中間線間の個数）。より詳しくは、複数の垂直エッジ線から、複数の垂直エッジ線それぞれにおいて、互いに隣接する垂直エッジ線間の中間線である垂直中間線（垂直エッジ線間の中間線）が求められ、垂直中間線から垂直中間線間隔Ｌｖ（ｍｖ）が垂直エッジ情報として求められ、水平エッジ線から、複数の水平エッジ線それぞれにおいて、互いに隣接する水平エッジ線間の中間線である水平中間線（水平エッジ線間の中間線）が求められ、水平中間線から水平中間線間隔Ｌｈ（ｍｈ）が水平エッジ情報として求められる（ｍｖ＝１～Ｍｖ１、Ｍｖ１；検出できた垂直エッジ線に基づく中間線間の個数、ｍｈ＝１～Ｍｈ１、Ｍｈ１；検出できた水平エッジ線に基づく中間線間の個数）。

　また、中間線間隔のヒストグラムを求める場合には、制御処理部６のエッジ統計量処理部６４は、エッジ情報処理部６３でエッジ情報として求められた中間線間隔Ｌ（ｍ）を中間線間隔長ごとに振り分け、各中間線間隔長ごとに（各階級ごとに）、当該中間線間隔長に振り分けられた中間線間隔Ｌ（ｍ）の個数を合計することで当該中間線間隔長の頻度を求め、ヒストグラムを作成する。この場合に、好ましくは、エッジ統計量処理部６４は、前記中間線間隔のヒストグラムにおける最も頻度の大きい（高い）階級の平均値を最も確からしい中間線の間隔Ｌ０として求めるものである。より詳しくは、垂直中間線間隔Ｌｖ（ｍｖ）から垂直中間線間隔のヒストグラムが垂直エッジ統計量として求められ、この垂直中間線間隔のヒストグラムから最も確からしい垂直中間線間隔Ｌｖ０が求められ、水平中間線間隔Ｌｈ（ｍｈ）から水平中間線間隔のヒストグラムが水平エッジ統計量として求められ、この水平中間線間隔のヒストグラムから最も確からしい水平中間線間隔Ｌｈ０が求められる。

　次に、測色装置ＣＭは、処理Ｓ１２で求めたエッジ情報および処理Ｓ１３で求めたエッジ統計量に基づいてカラーチャートＣＴにおける複数のパッチの各位置を求める（Ｓ１４）。より具体的には、まず、パッチ位置処理部６５によって、垂直エッジ情報および垂直エッジ統計量に基づいて、垂直中間線が求められる。次に、パッチ位置処理部６５によって、水平エッジ情報および水平エッジ統計量に基づいて、水平中間線が求められる。

　パッチ位置処理部６５によって、処理Ｓ１２で求められた中間線の適否が処理Ｓ１３で求められた最も確からしい中間線間隔Ｌ０に基づいて判定され、この判定結果に基づいて未検出の中間線が補完される。さらに詳しくは、パッチ位置処理部６５によって、処理Ｓ１２で求められた垂直中間線の適否が処理Ｓ１３で求められた最も確からしい垂直中間線間隔Ｌｖ０に基づいて判定され、この判定結果に基づいて未検出の垂直中間線が補完される。パッチ位置処理部６５によって、処理Ｓ１２で求められた水平中間線の適否が処理Ｓ１３で求められた最も確からしい水平中間線間隔Ｌｈ０に基づいて判定され、この判定結果に基づいて未検出の水平中間線が補完される。

　そして、パッチ位置処理部６５によって、これら求められた複数の垂直中間線と複数の水平中間線との交点が各パッチの位置（ｘ、ｙ）として求められる。

　次に、測色装置ＣＭは、制御処理部６の色測定処理部６６によって、処理Ｓ１５で求められたカラーチャートＣＴの位置（ｘ、ｙ）に測色部３を移動させて各パッチの各色を測色部３で測定する（Ｓ１５）。

　そして、各パッチの各色を測定すると、測色装置ＣＭは、制御処理部６の制御部６１によって、処理Ｓ１５で計測した各パッチの各色を出力部８に出力し（Ｓ１６）、処理を終了する。なお、必要に応じて、制御処理部６の制御部６１は、処理Ｓ１５で計測した各パッチの各色をＩＦ部９に出力してもよい。

　次に、カラーチャートＣＴを例示しながら上述の動作について、より具体的に説明する。図６は、一例として、第１態様のカラーチャートの画像を示す図である。図７は、図６に示すカラーチャートに対し、ｙ方向の或る位置の画像を、水平方向に沿って差分間隔Ｎ点の差分フィルターで処理した処理結果の一例を示す図である。図７の横軸は、撮像部５の画素番号（すなわち、水平方向ｘの位置）であり、その縦軸は、差分値である。図８は、一例として、図６に示すカラーチャートの２値化垂直エッジ画像を示す図である。図９は、一例として、図６に示すカラーチャートの垂直エッジ線を示す図である。図１０は、一例として、図６に示すカラーチャートの垂直エッジ線間隔のヒストグラムを示す図である。図１０の横軸は、各階級のエッジ線間隔長であり、その縦軸は、その頻度である。図１１は、一例として、図６に示すカラーチャートの垂直エッジ線間の中間線間隔のヒストグラムを示す図である。図１１の横軸は、各階級の中間線間隔長であり、その縦軸は、その頻度である。図１２は、一例として、図６に示すカラーチャートの垂直エッジ線および中間線を説明するための図である。図１２Ａは、垂直エッジ線、垂直エッジ間隔のヒストグラムおよび垂直中間線間隔のヒストグラムに基づいて求められた中間線を示し、図１２Ｂは、垂直エッジ線のみに基づいて求められた中間線を示し、図１２Ｃは、垂直エッジ線および垂直エッジ線間隔のヒストグラムに基づいて求められた中間線を示す。図１３は、一例として、図６に示すカラーチャートにおける各パッチの実測位置（○）を示す図である。図１４は、一例として、垂直エッジ線では端のエッジ線が求められなかった場合における垂直エッジ線および中間線を説明するための図である。図１４Ａは、パッチ領域、垂直エッジ線、垂直エッジ線間隔のヒストグラムおよび垂直中間線間隔のヒストグラムに基づいて求められた中間線を示し、図１４Ｂは、垂直エッジ線のみに基づいて求められた中間線を示す。図１５は、一例として、第２態様のカラーチャートの画像を示す図である。図１６は、一例として、図１５に示すカラーチャートの垂直エッジ線を示す図である。図１７は、一例として、図１５に示すカラーチャートの垂直エッジ線間隔のヒストグラムを示す図である。図１７の横軸は、各階級のエッジ線間隔長であり、その縦軸は、その頻度である。図１８は、一例として、図１５に示すカラーチャートの垂直エッジ線および中間線を説明するための図である。図１８Ａは、垂直エッジ線、垂直エッジ線間隔のヒストグラムおよび垂直中間線間隔のヒストグラムに基づいて求められた中間線を示し、図１８Ｂは、垂直エッジ線および垂直エッジ線間隔のヒストグラムに基づいて求められた中間線を示す。図１９は、一例として、第３態様のカラーチャートの画像を示す図である。図２０は、一例として、図１９に示すカラーチャートの垂直エッジ線を示す図である。図２１は、一例として、図１９に示すカラーチャートの垂直エッジ線間隔のヒストグラムを示す図である。図２１の横軸は、各階級のエッジ線間隔長であり、その縦軸は、その頻度である。図２２は、一例として、図１９に示すカラーチャートの垂直エッジ線および中間線を説明するための図である。図２２Ａは、垂直エッジ線、垂直エッジ線間隔のヒストグラムおよび垂直中間線間隔のヒストグラムに基づいて求められた中間線を示し、図２２Ｂは、垂直エッジ線および垂直エッジ線間隔のヒストグラムに基づいて求められた中間線を示す。

　まず、一例として、図６に示す第１態様のカラーチャートＣＴａの場合について説明する。図５において、処理Ｓ１１では、画像取得処理部６２によって、図６に示すように、第１態様のカラーチャートＣＴａの画像が取得される。この図６に示す第１態様のカラーチャートＣＴａは、各パッチの色でグラデーションを形成するように配列された複数のパッチを備えて構成されている。

　次に、処理Ｓ１２では、エッジ情報処理部６３によってエッジ情報が求められる。この例では、垂直エッジ線および水平エッジ線が求められ、この実際に求められた垂直エッジ線および水平エッジ線から垂直中間線および水平中間線が求められ、この実際に求められた垂直エッジ線および水平エッジ線から垂直エッジ線間隔Ｄｖ（ｋｖ）および水平エッジ線間隔Ｄｈ（ｋｈ）が求められ、そして、この実際に求められた垂直中間線および水平中間線から垂直中間線間隔Ｌｖ（ｍｖ）および水平中間線間隔Ｌｈ（ｍｈ）が求められる。

　ここで、エッジの検出には、上述したエッジフィルターが用いられる。図６に示すようなグラデーションを含むカラーチャートＣＴａの場合には、パッチ間のコントラストが低い部分があり、式１や式２に示す差分によるエッジ検出では、図７や図８に示すように、エッジが検出し難い場合がある。図７には、図６に示すカラーチャートＣＴａに対し、ｙ方向の或る位置の画像を、ｘ方向に沿って差分間隔Ｎ点の差分フィルターで処理した処理結果の一例が示されている。図８には、図６に示すカラーチャートＣＴａの画像に対し、式（１）のエッジフィルターを用いることでエッジが抽出され、そして、それが２値化された２値化垂直エッジ画像が示されている。このような図８に示すカラーチャートＣＴａの２値化垂直エッジ画像における、２値化垂直エッジ画像データｐｉｃｔＶｅｒ０（ｘ、ｙ）がハフ変換されると、例えば、図９に示す垂直エッジ線ＥＧが求められる。上述のようにエッジが検出し難い部分があると、実際のカラーチャートＣＴａには、本来、紙面左端から５番目のエッジ線ＥＧ５が存在するにもかかわらず、ハフ変換の結果、図９に示すように、紙面左端から５番目のエッジ線ＥＧ５が検出されず、５番目のエッジ線ＥＧ５が存在しなくなる。

　本来、存在するエッジ線ＥＧが検出されない場合には、各パッチの位置を求めるために、各エッジ線ＥＧ間の中間線ＣＬが求められると、前記存在するエッジ線ＥＧの部分で、誤った中間線ＣＬｅｒｒが求められてしまう。図９に示す例では、本来、存在する５番目のエッジ線ＥＧ５が検出されない場合には、各パッチの位置を求めるために、各エッジ線ＥＧ間の中間線ＣＬが求められると、例えば図１２Ｂに相対的に太い破線で示すように、前記本来、存在する５番目のエッジ線ＥＧ５の部分で、誤った中間線ＣＬｅｒｒが求められてしまう。なお、上述では、垂直エッジ線に関して説明したが、水平エッジ線も同様である。以下も、垂直エッジ線に関して説明するが、水平エッジ線も同様である。

　そこで、本実施形態では、処理Ｓ１３で、エッジ統計量処理部６４によって、エッジ統計量が求められる。この例では、垂直エッジ線間隔のヒストグラムおよび水平エッジ線間隔のヒストグラムが求められる。

　例えば、図６に示すカラーチャートＣＴに対して垂直エッジ線間隔が求められ、そのヒストグラムが求められると、図１０に示す垂直エッジ線間隔のヒストグラムが求められる。通常、正しく検出された垂直エッジ線の個数は、未検出や誤検出の垂直エッジ線の個数より多いと考えられるから、最も多い頻度に対する階級の垂直エッジ線間隔長は、最も確からしく、正しい真値Ｄｖ０を含むと考えられる。このため、処理Ｓ１４では、本実施形態では、最も多い頻度に対する階級に属する垂直エッジ線間隔長の平均値が、最も確からしい垂直エッジ線間隔Ｄｖ０で前記真値Ｄｖ０とされる。なお、図１０に示す例では、図９では５番目のエッジ線ＥＧ５が未検出であるため、２×Ｄｖ０の階級の頻度は、１回となっている。

　このように垂直エッジ線間隔の前記真値（最も確からしい垂直エッジ線間隔）Ｄｖ０が求められると、この処理Ｓ１４では、パッチ位置処理部６５によって、処理Ｓ１２で求められたエッジ情報の適否が処理Ｓ１３で求められたエッジ統計量に基づいて判定される。この例では、パッチ位置処理部６５は、互いに隣接する垂直エッチ線間の距離が垂直エッジ線間隔の前記真値Ｄｖ０であるか否かを判定し、互いに隣接する垂直エッチ線間の距離が垂直エッジ線間隔の前記真値Ｄｖ０である場合には、その垂直エッジ線間の中間線を求め、互いに隣接する垂直エッチ線間の距離が垂直エッジ線間隔の前記真値Ｄｖ０ではない場合には、中間線を求めない。図１２Ｃに示す垂直エッジ線ＥＧおよび垂直中間線ＣＬが得られる。

　ここで、図１２Ｃに示す例では、５番目の垂直エッジ線が未検出であるため、本来の４番目と５番目の各垂直エッジ線間の垂直中間線および本来の５番目と６番目の各垂直エッジ線間の垂直中間線が未検出となっている。このため、本実施形態では、上述したように、処理Ｓ１３では、エッジ統計量処理部６４によって、垂直中間線間隔のヒストグラムおよび水平中間線間隔のヒストグラムも求められる。

　例えば、図６に示すカラーチャートＣＴに対して垂直中間線間隔が求められ、そのヒストグラムが求められると、図１１に示す垂直中間線間隔のヒストグラムが求められる。上述したように、通常、正しく検出された垂直エッジ線の個数は、未検出や誤検出の垂直エッジ線の個数より多いと考えられるから、正しく検出された垂直中間線の個数も、未検出や誤検出の垂直中間線の個数より多いと考えられる。したがって、垂直中間線間隔のヒストグラムにおいて、最も多い頻度に対する階級の垂直中間線間隔長は、最も確からしく、正しい真値Ｌｖ０を含むと考えられる。このため、前記処理Ｓ１４では、本実施形態では、最も多い頻度に対する階級に属する垂直中間線間隔長の平均値が、最も確からしい垂直中間線間隔Ｌｖ０で前記真値Ｌｖ０とされる。なお、図１１に示す例では、図９では５番目のエッジ線ＥＧ５が未検出であるため、３×Ｌｖ０の階級の頻度は、１回となっている。

　この例では、パッチ位置処理部６５は、互いに隣接する垂直中間線間の距離が垂直中間線間隔の前記真値Ｌｖ０の整数倍（Ｎ１倍）であるか否かを判定し、互いに隣接する垂直エッジ中間線間隔の距離が垂直エッジ線間隔の前記真値Ｌｖ０の１倍である場合には、その垂直エッジ線間の中間線は、正しい中間線である判定し、互いに隣接する垂直エッジ中間線間隔の距離が垂直エッジ中間線間隔の前記真値Ｌｖ０の２倍以上の整数倍（Ｎ１倍、Ｎ１は２以上の整数）である場合には、当該垂直中間線間をＮ等分して、そのＮ等分の位置に中間線を補間する。例えば、図９に示す例では、図１２Ａに示すように、本来の４番目と５番目の各垂直エッジ線間と本来の５番目と６番目の各垂直エッジ線間とに、垂直中間線ＣＬｅｓｔ、ＣＬｅｓｔが補間される。

　そして、このように垂直中間線が求められ、同様に、水平中間線が求められると、これら求められた複数の垂直中間線と複数の水平中間線との交点が各パッチの位置（ｘ、ｙ）として求められる。例えば、図６に示すカラーチャートＣＴに対して、図１３に破線で示すように垂直中間線および水平中間線が求められ、そして、これらの交点が、図１３に○印で示すように、各パッチの位置（ｘ、ｙ）として求められる。

　そして、処理Ｓ１５で各パッチの各位置で各パッチの色が測定され、処理Ｓ１６で、その結果が出力される。

　また、上述では、図９に示すように、紙面左から５番目の垂直エッジ線が未検出の場合出について説明したが、図１４Ｂに示すように、紙面一番端（図１４Ｂでは紙面一番左端）の１番目の垂直エッジ線が未検出の場合には、次のように処理することで、この未検出の一番端の１番目の垂直エッジ線も補間できる。なお、上述したように、パッチが存在するパッチ領域は、入力部７から与えられ、あるいは、公知の常套手段によって予め求められ、測色装置ＣＭにセットされている。

　この場合では、処理Ｓ１４において、パッチ位置処理部６５は、まず、実際に求められている一番端（図１４Ｂでは紙面一番左端）の垂直中間線とパッチ領域の境界線ＢＬまでの距離Ｒが、垂直中間線間隔の真値Ｌｖ０の整数倍（Ｎ２倍）にその半値（Ｌｖ０／２）を加算した値であるか否かを判定する。なお、この判定にマージン±αが考慮されても良い。この判定の結果、Ｒ＝Ｌｖ０×Ｎ２＋Ｌｖ０／２（マージン±αを考慮する場合ではＲ＝Ｌｖ０×Ｎ２＋Ｌｖ０／２±α）である場合には、パッチ位置処理部６５は、実際に求められている一番端（図１４Ｂでは紙面一番左端）の垂直中間線から、垂直中間線間隔の真値Ｌｖ０の間隔で、Ｎ２個の垂直中間線ＣＬｅｓｔを外挿し、補間する。一方、この判定の結果、Ｒ＝Ｌｖ０×Ｎ２＋Ｌｖ０／２（マージン±αを考慮する場合ではＲ＝Ｌｖ０×Ｎ２＋Ｌｖ０／２±α）ではない場合には、パッチ位置処理部６５は、垂直中間線を補間しない。

　例えば、図１４Ｂに示す例では、実際に求められている一番左端の垂直中間線とパッチ領域の境界線ＢＬまでの距離ＲがＬｖ０×１＋Ｌｖ０±αであり、上述の処理によって、図１４Ａに示すように、実際に求められている一番左端の垂直中間線から、垂直中間線間隔の真値Ｌｖ０だけ離れた位置に、１個の垂直中間線ＣＬｅｓｔが外挿され、補間されている。

　また、一例として、図１５に示す第２態様のカラーチャートＣＴｂの場合について説明する。図６に示す第１態様のカラーチャートＣＴａでは、各パッチは、互いに隣接する各パッチが互いに接するように、配置されているが、この図１５に示す第２態様のカラーチャートＣＴｂでは、各パッチは、互いに隣接する各パッチが所定の間隔を空けて互いに離間するように、配置されている。すなわち、第２態様のカラーチャートＣＴｂでは、各パッチ間にギャップが存在している。

　このような第２態様のカラーチャートＣＴｂでは、上述のようにエッジ線が求められると、ギャップとパッチとの濃度差が比較的大きい場合には、正しくエッジ線が求められ、ギャップに２個のエッジ線が求まる。しかしながら、ギャップとパッチとの濃度差が比較的小さい場合には、正しくエッジ線が求められずに、ギャップに１個のエッジ線、あるいは、ギャップにエッジ線が未検出となる。図１５に示す第２態様のカラーチャートＣＴｂの垂直エッジ線を求めた場合に、図１６には、紙面左端から３番目のギャップに１個のエッジ線しか求められている例が示されている。

　このような場合でも上述のように処理することで、垂直中間線が補間され、各パッチの位置が求められる。より具体的には、処理Ｓ１２では、例えば、図１６に示す垂直エッジ線が求められ、処理Ｓ１３では、この図１６に示す垂直エッジ線に対し、図１７に示す垂直エッジ線間隔のヒストグラムが求められる。

　上述したように、通常、正しく検出された垂直エッジ線の個数は、未検出や誤検出の垂直エッジ線の個数より多いと考えられる。したがって、垂直エッジ線間隔のヒストグラムにおいて、ギャップの長さ（ギャップ長）の真値ＤＧｖ０に相当する階級と、垂直エッジ線間隔の真値Ｄｖ０に相当する階級とにピークが存在することになる。このため、予めパッチの水平方向の長さおよびギャップ長のうちの少なくとも一方に関する情報（例えばパッチの水平方向の長さが６ｍｍ～３０ｍｍの範囲に有るという情報や、ギャップ長がパッチ長の２０％以下であるという情報等）が測色装置ＣＭにセットされることにより、パッチ位置処理部６５は、垂直エッジ線間隔の真値Ｄｖ０に相当する階級のピークを判定でき、垂直エッジ線間隔の真値Ｄｖ０を求めることができる。例えば、予めパッチの水平方向の長さに関する情報が測色装置ＣＭにセットされることにより、パッチ位置処理部６５は、この予めセットされたパッチの水平方向の長さが取り得る階級でピークを持つ階級が垂直エッジ線間隔の真値Ｄｖ０に相当する階級であると判定でき、その階級に属するパッチの水平方向の長さの平均値を求めて垂直エッジ線間隔の真値Ｄｖ０とすることができる。なお、図１７では、紙面左から３番目のギャップで１個のエッジ線しか検出できなかったため、垂直エッジ線間隔にギャップ長を加算した値に相当する頻度は、１回となっている。

　このように垂直エッジ線間隔の真値Ｄｖ０が求められると、以下、上述と同様に、パッチ位置処理部６５によって、正しい垂直エッジ線が判定され、正しい垂直エッジ線より垂直エッジ中間線が求められる。垂直エッジ中間線のヒストグラムより、正しい垂直エッジ中間線間隔Ｌｖ０が求められる。互いに隣接する垂直エッジ中間線間隔の距離が垂直エッジ中間線間隔の前記真値Ｌｖ０であるか否かが判定され、互いに隣接する垂直エッジ中間線間隔の距離が垂直エッジ中間線間隔の前記真値Ｌｖ０である場合には、その垂直エッジ線間の中間線は、正しい中間線であると判定される。また必要に応じて中間線が補間される。このような処理によって、図１６に示す実際に求められた垂直エッジ線から、図１８Ｂに示す正しい中間線のみが求められ、そして、図１８Ｂでは、紙面左端から３番目の中間線が未検出であったが、図１８Ａに示すように、その位置に、中間線ＣＬｅｓｔが補間される。

　このように垂直中間線が求められ、同様に、水平中間線が求められると、これらの交点が各パッチの位置（ｘ、ｙ）として求められる。そして、処理Ｓ１５で各パッチの各位置で各パッチの色が測定され、処理Ｓ１６で、その結果が出力される。

　また、一例として、図１９に示す第３態様のカラーチャートＣＴｃの場合について説明する。図１９に示す第３態様のカラーチャートＣＴｃでは、筋状の印字むらが有るものである。

　このような第３態様のカラーチャートＣＴｃでは、上述のようにエッジ線が求められると、前記筋状の印字むらがエッジ線として誤検出される。図１９に示す第３態様のカラーチャートＣＴｃの垂直エッジ線を求めた場合に、図２０には、紙面左端から４番目の垂直エッジ線ＥＧと５番目の垂直エッジ線ＥＧとの間に、筋状の印字むらに起因する誤検出のエッジ線ＥＧｅｒｒが有る例が示されている。

　このような場合でも上述のように処理することで、垂直中間線が補間され、各パッチの位置が求められる。より具体的には、処理Ｓ１２では、例えば、上述の図２０に示す垂直エッジ線が求められ、処理Ｓ１３では、この図２０に示す垂直エッジ線に対し、図２１に示す垂直エッジ線間隔のヒストグラムが求められる。

　上述したように、通常、正しく検出された垂直エッジ線の個数は、未検出や誤検出の垂直エッジ線の個数より多いと考えられる。このため、処理Ｓ１４では、本実施形態では、最も多い頻度に対する階級の垂直エッジ線間隔長の平均値（当該階級の中央の値）が、最も確からしい垂直エッジ線間隔Ｄｖ０で前記真値Ｄｖ０とされる。なお、図２１では、筋状の印字むらに起因する誤検出の垂直エッジ線のエッジ間隔に相当する階級の頻度は、各１回となっている。

　このように垂直エッジ線間隔の真値Ｄｖ０が求められると、以下、上述と同様に、パッチ位置処理部６５によって、互いに隣接する垂直エッチ線間の距離が垂直エッジ線間隔の前記真値Ｄｖ０であるか否かが判定され、互いに隣接する垂直エッチ線間の距離が垂直エッジ線間隔の前記真値Ｄｖ０である場合には、その垂直エッジ線間の中間線を求める。その垂直中間線間隔のヒストグラムが求められ、垂直中間線間隔の真値Ｌｖ０が求められる。そして、垂直中間線間隔の真値Ｌｖ０が求められると、必要に応じて中間線が補間される。このような処理によって、図２０に示す実際に求められた垂直エッジ線から、図２２Ｂに示す正しい中間線のみが求められ、そして、図２２Ｂでは、紙面左端から４番目の中間線が未検出であったが、図２２Ａに示すように、その位置に、中間線ＣＬｅｓｔが補間される。

　このように垂直中間線が求められ、同様に、水平中間線が求められると、これらの交点が各パッチの位置（ｘ、ｙ）として求められる。そして、処理Ｓ１５で各パッチの各位置で各パッチの色が測定され、処理Ｓ１６で、その結果が出力される。

　このように本実施形態における測色装置ＣＭおよびこれに実装された測色方法（以下、「測色装置ＣＭ等」と略記する。）では、カラーチャートＣＴの画像からエッジ情報処理部６３によってエッジ情報が求められ、この求められたエッジ情報からエッジ統計量処理部６４によってエッジ統計量が求められ、そして、これらエッジ情報およびエッジ統計量に基づいて複数のパッチの各位置がパッチ位置処理部６５によって求められる。したがって、単に、エッジ情報だけではなく、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、エッジ情報とエッジ統計量とで各パッチの位置を求めるので、例えばエッジの誤検出やエッジの未検出等を低減でき、より正確にパッチの位置を検出し、より適切な位置でパッチを測色できる。

　また、本実施形態では、エッジ情報としてエッジ線の間隔を含むので、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、このエッジ線の間隔に基づくエッジ統計量を求めることができ、このエッジ線の間隔に基づく統計量に基づいてエッジ線の間隔についてその適否を判定できる。そして、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、このエッジ線の間隔における適否の結果から、エッジ線の適否を判定できる。したがって、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、エッジ線の適否を判定できるから、エッジ線に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　また、本実施形態では、エッジ情報として中間線の間隔を含むので、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、この中間線の間隔に基づくエッジ統計量を求めることができ、この中間線の間隔に基づく統計量に基づいて中間線の間隔についてその適否を判定できる。そして、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、この中間線の間隔における適否の結果から、中間線の適否を判定できる。したがって、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、中間線の適否を判定できるから、中間線に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　また、本実施形態では、エッジ情報のヒストグラムを求めるので、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、この求めたエッジ情報のヒストグラムに基づいて最も確からしいエッジ情報を判定できる。そして、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、この最も確からしいエッジ情報を用いて、エッジ情報の適否を判定できる。したがって、本実施形態における測色装置ＣＭ等は、エッジ情報の適否を判定できるから、エッジ情報に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　例えば、エッジ線の間隔のヒストグラムをエッジ統計量として求める場合には、このような測色装置ＣＭ等は、エッジ線の間隔のヒストグラムを求めるので、この求めたエッジ線の間隔のヒストグラムに基づいて最も確からしいエッジ線の間隔を求めることができる。そして、このような測色装置ＣＭ等は、この最も確からしいエッジ線の間隔を用いて、エッジ線の適否を判定できる。したがって、このような測色装置ＣＭ等は、エッジ線の適否を判定できるから、エッジ線に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　また例えば、中間線の間隔のヒストグラムをエッジ統計量として求める場合には、このような測色装置ＣＭ等は、中間線の間隔のヒストグラムを求めるので、この求めた中間線の間隔のヒストグラムに基づいて最も確からしい中間線の間隔を求めることができる。そして、このような測色装置ＣＭ等は、この最も確からしい中間線の間隔を用いて、中間線の適否を判定できる。したがって、このような測色装置ＣＭ等は、中間線の適否を判定できるから、中間線に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　なお、上述の実施形態では、測色装置ＣＭは、一方向に沿って複数の光電変換素子を配列したリニアセンサー等を備えて構成された撮像部５を備えたが、撮像部５に代え、２次元画像センサー等を備えて構成された撮像部５０を備えても良い。図２３は、撮像部が２次元画像センサーである場合における変形形態にかかる測色装置の概略構成を示す図である。図２３に示すように、このような２次元画像センサー等を備えて構成される撮像部５０は、上述のようにカラーチャートＣＴを搬送しなくても、カラーチャートＣＴの画像を撮像できる。このため、測色装置ＣＭは、測色部３がカラーチャートＣＴに対し、２次元走査できるように構成されればよい。例えば、測色装置ＣＭは、測色部３を主走査方向（ｘ方向）および副走査方向に移動可能な移動部を備えて構成されて良く、また例えば、測色装置ＣＭは、カラーチャートＣＴを載置し、主走査方向（ｘ方向）および副走査方向に移動可能なステージを備えて構成されても良い。また例えば、測色部３が主走査方向および副走査方向のうちの一方方向に移動可能に構成され、ステージがその他方向に移動可能に構成されても良い。

　本明細書は、上記のように様々な態様の技術を開示しているが、そのうち主な技術を以下に纏める。

　一態様にかかる測色装置は、色を測定する測色部と、画像を取得する撮像部と、所定の色の領域であるパッチを複数備えるカラーチャートを前記撮像部によって撮像することによって前記カラーチャートの画像を取得する画像取得処理部と、前記画像取得処理部で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジに関する所定の情報をエッジ情報として求めるエッジ情報処理部と、前記エッジ情報処理部で求めた前記エッジ情報を統計処理することによって前記エッジに関する所定の統計量をエッジ統計量として求めるエッジ統計量処理部と、前記エッジ情報処理部で求めた前記エッジ情報および前記エッジ統計量処理部で求めた前記エッジ統計量に基づいて前記複数のパッチの各位置を求めるパッチ位置処理部と、前記パッチ位置処理部で求められた前記複数のパッチの各位置で前記複数のパッチそれぞれの色を前記測色部で測定する色測定処理部とを備える。

　このような測色装置では、カラーチャートの画像からエッジ情報処理部によってエッジ情報が求められ、この求められたエッジ情報からエッジ統計量処理部によってエッジ統計量が求められ、そして、これらエッジ情報およびエッジ統計量に基づいて複数のパッチの各位置がパッチ位置処理部によって求められる。したがって、単に、エッジ情報だけではなく、前記測色装置は、エッジ情報とエッジ統計量とで各パッチの位置を求めるので、例えばエッジの誤検出やエッジの未検出等を低減でき、より正確にパッチの位置を検出し、より適切な位置でパッチを測色できる。

　他の一態様では、上述の測色装置において、前記エッジ情報は、エッジ線の間隔を含む。そして、好ましくは、上述の測色装置において、前記エッジ情報処理部は、前記画像取得処理部で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジ線を求め、前記求めたエッジ線が複数である場合に、前記求めた複数のエッジ線におけるエッジ線の間隔を前記エッジ情報として求めるものである。また、好ましくは、前記エッジ線の間隔は、互いに隣接するエッジ線間の距離である。

　このような測色装置は、エッジ情報としてエッジ線の間隔を含むので、このエッジ線の間隔に基づくエッジ統計量を求めることができ、このエッジ線の間隔に基づく統計量に基づいてエッジ線の間隔についてその適否を判定できる。そして、前記測色装置は、このエッジ線の間隔における適否の結果から、エッジ線の適否を判定できる。したがって、前記測色装置は、エッジ線の適否を判定できるから、エッジ線に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　他の一態様では、上述の測色装置において、前記エッジ情報は、エッジ線間の中間線の間隔を含む。そして、好ましくは、上述の測色装置において、前記エッジ情報処理部は、前記画像取得処理部で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジ線を求め、前記求めたエッジ線が複数である場合に、前記求めた複数のエッジ線における中間線を求め、前記求めた中間線が複数である場合（前記求めたエッジ線が３個以上である場合）に、前記求めた複数の中間線の間隔を前記エッジ情報として求めるものである。また、好ましくは、前記中間線の間隔は、互いに隣接する中間線間の距離である。

　このような測色装置は、エッジ情報として中間線の間隔を含むので、この中間線の間隔に基づくエッジ統計量を求めることができ、この中間線の間隔に基づく統計量に基づいて中間線の間隔についてその適否を判定できる。そして、前記測色装置は、この中間線の間隔における適否の結果から、中間線の適否を判定できる。したがって、前記測色装置は、中間線の適否を判定できるから、中間線に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　他の一態様では、これら上述の測色装置において、前記統計処理は、前記エッジ情報のヒストグラムを含む。

　このような測色装置は、エッジ情報のヒストグラムを求めるので、この求めたエッジ情報のヒストグラムに基づいて最も確からしいエッジ情報を判定できる。そして、前記測色装置は、この最も確からしいエッジ情報を用いて、エッジ情報の適否を判定できる。したがって、前記測色装置は、エッジ情報の適否を判定できるから、エッジ情報に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　そして、好ましくは、これら上述の測色装置において、前記エッジ情報処理部は、前記画像取得処理部で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジ線を求め、前記求めたエッジ線が複数である場合に、前記求めた複数のエッジ線における互いに隣接する各エッジ線間の各間隔を前記エッジ情報として求め、エッジ統計量処理部は、前記エッジ情報処理部で求められた前記各間隔から、エッジ線の間隔のヒストグラムを前記エッジ統計量として求めるものである。このような測色装置は、エッジ線の間隔のヒストグラムを求めるので、この求めたエッジ線の間隔のヒストグラムに基づいて最も確からしいエッジ線の間隔を求めることができる。そして、前記測色装置は、この最も確からしいエッジ線の間隔を用いて、エッジ線の適否を判定できる。したがって、前記測色装置は、エッジ線の適否を判定できるから、エッジ線に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　また、好ましくは、これら上述の測色装置において、前記エッジ情報処理部は、前記画像取得処理部で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジ線を求め、前記求めたエッジ線が複数である場合に、前記求めた複数のエッジ線における互いに隣接するエッジ線間の中間線を求め、前記求めた中間線が複数である場合（前記求めたエッジ線が３個以上である場合）に、前記求めた複数の中間線における互いに隣接する各中間線間の各間隔を前記エッジ情報として求め、エッジ統計量処理部は、前記エッジ情報処理部で求められた前記各間隔から、中間線の間隔のヒストグラムを前記エッジ統計量として求めるものである。このような測色装置は、中間線の間隔のヒストグラムを求めるので、この求めた中間線の間隔のヒストグラムに基づいて最も確からしい中間線の間隔を求めることができる。そして、前記測色装置は、この最も確からしい中間線の間隔を用いて、中間線の適否を判定できる。したがって、前記測色装置は、中間線の適否を判定できるから、中間線に基づいて求められるパッチの位置をより正確に検出でき、より適切な位置でパッチを測色できる。

　他の一態様では、上述の測色装置において、前記統計処理は、前記ヒストグラムにおける階級に属するエッジ情報の平均値を含む。そして、好ましくは、上述の測色装置において、前記エッジ統計量処理部は、前記エッジ情報のヒストグラムにおける最も頻度の大きい（高い）階級の平均値を最も確からしいエッジ情報として求めるものである。

　これによれば、階級に属するエッジ情報の平均値を前記エッジ情報とする測色装置が提供できる。

　そして、他の一態様にかかる測色方法は、所定の色の領域であるパッチを複数備えるカラーチャートを撮像部によって撮像することによって前記カラーチャートの画像を取得する画像取得処理工程と、前記画像取得処理工程で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジに関する所定の情報をエッジ情報として求めるエッジ情報処理工程と、前記エッジ情報処理工程で求めた前記エッジ情報を統計処理することによって前記エッジに関する所定の統計量をエッジ統計量として求めるエッジ統計量処理工程と、前記エッジ情報処理工程で求めた前記エッジ情報および前記エッジ統計量処理工程で求めた前記エッジ統計量に基づいて前記複数のパッチの各位置を求めるパッチ位置処理工程と、前記パッチ位置処理工程で求められた前記複数のパッチの各位置で前記複数のパッチそれぞれの色を測色部で測定する色測定処理工程とを備える。

　このような測色方法では、カラーチャートの画像からエッジ情報処理工程によってエッジ情報が求められ、この求められたエッジ情報からエッジ統計量処理工程によってエッジ統計量が求められ、そして、これらエッジ情報およびエッジ統計量に基づいて複数のパッチの各位置がパッチ位置処理工程によって求められる。したがって、単に、エッジ情報だけではなく、前記測色方法は、エッジ情報とエッジ統計量とで各パッチの位置を求めるので、例えばエッジの誤検出やエッジの未検出等を低減でき、より正確にパッチの位置を検出し、より適切な位置でパッチを測色できる。

　この出願は、２０１４年５月１３日に出願された日本国特許出願特願２０１４－９９２４５を基礎とするものであり、その内容は、本願に含まれるものである。

　本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および／または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。

　本発明によれば、測色装置および測色方法を提供できる。
 

Claims (6)

1. 　色を測定する測色部と、
   　画像を取得する撮像部と、
   　所定の色の領域であるパッチを複数備えるカラーチャートを前記撮像部によって撮像することによって前記カラーチャートの画像を取得する画像取得処理部と、
   　前記画像取得処理部で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジに関する所定の情報をエッジ情報として求めるエッジ情報処理部と、
   　前記エッジ情報処理部で求めた前記エッジ情報を統計処理することによって前記エッジに関する所定の統計量をエッジ統計量として求めるエッジ統計量処理部と、
   　前記エッジ情報処理部で求めた前記エッジ情報および前記エッジ統計量処理部で求めた前記エッジ統計量に基づいて前記複数のパッチの各位置を求めるパッチ位置処理部と、
   　前記パッチ位置処理部で求められた前記複数のパッチの各位置で前記複数のパッチそれぞれの色を前記測色部で測定する色測定処理部とを備えること
   　を特徴とする測色装置。
2. 　前記エッジ情報は、エッジ線の間隔を含むこと
   　を特徴とする請求項１に記載の測色装置。
3. 　前記エッジ情報は、エッジ線間の中間線の間隔を含むこと
   　を特徴とする請求項１に記載の測色装置。
4. 　前記統計処理は、前記エッジ情報のヒストグラムを含むこと
   　を特徴とする請求項２または請求項３に記載の測色装置。
5. 　前記統計処理は、前記ヒストグラムにおける階級に属するエッジ情報の平均値を含むこと
   　を特徴とする請求項４に記載の測色装置。
6. 　所定の色の領域であるパッチを複数備えるカラーチャートを撮像部によって撮像することによって前記カラーチャートの画像を取得する画像取得処理工程と、
   　前記画像取得処理工程で取得された前記カラーチャートの画像に基づいてエッジに関する所定の情報をエッジ情報として求めるエッジ情報処理工程と、
   　前記エッジ情報処理工程で求めた前記エッジ情報を統計処理することによって前記エッジに関する所定の統計量をエッジ統計量として求めるエッジ統計量処理工程と、
   　前記エッジ情報処理工程で求めた前記エッジ情報および前記エッジ統計量処理工程で求めた前記エッジ統計量に基づいて前記複数のパッチの各位置を求めるパッチ位置処理工程と、
   　前記パッチ位置処理工程で求められた前記複数のパッチの各位置で前記複数のパッチそれぞれの色を測色部で測定する色測定処理工程とを備えること
   　を特徴とする測色方法。

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