WO2015029449A1 - 分析装置 - Google Patents

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Definitions

  • WO2008 / 129929 includes a first ionization unit that detects an ion from the ionization unit provided between the ionization unit and an ionization unit that ionizes a sample gas so that the distance from the ionization unit is different from each other.
  • the filter electrode obtained by the first ion detector is selected.
  • the measured value is maintained at the atmospheric pressure while maintaining the resolution. It has been described that enables correction even in a region where no longer follow the change.
  • the ionization unit 10 includes four ion sources 11a to 11d. Each of the ion sources 11 a to 11 d includes a filament 12 that emits thermoelectrons, a grid (grid electrode) 13, and a repeller (repeller electrode) 14.
  • the ionization unit 10 includes a collector (collector electrode) 15 that also serves as a total pressure measurement.
  • the filament 12 is supplied with a filament voltage Vf biased positively or negatively with respect to the container 5, and outputs a thermoelectron when a filament current If is supplied.
  • the grid 13 is supplied with a grid voltage Vg that generates a positive potential difference (bias) Ve with respect to the filament voltage Vf, and accelerates the thermal electrons to obtain a predetermined ionization energy.
  • the repeller 14 is supplied with the same voltage as the filament voltage Vf and concentrates the thermoelectrons in the grid direction.
  • the emitter that emits thermoelectrons may be the filament 12 or the disk cathode.
  • the control unit 60 is configured using resources such as a circuit board, a CPU, and a memory.
  • the control unit 60 controls the ionizer control unit (ionizer control unit) 61 that controls the ion sources 11a to 11d, the filter control unit 70 that controls the focus unit 30 and the quadrupole filter 20, and the detection unit 50.
  • a detector control unit (detector control unit) 80 and a central control unit 90 that controls these control units in a coordinated manner are included.
  • the ionization voltage Ve may limit the ionization voltage in order to make it insensitive to the carrier gas component, and it is often difficult to control the voltage in order to secure the ionization current.
  • the ionization energy of helium is 24.58 eV
  • the ionization energy for which much data is obtained in mass spectrometry is 70 eV
  • the ionization voltage is often controlled to 70V.
  • the drive control unit 65 further includes a function of individually applying a specific voltage to the filament 12 and the grid 13 of each ion source 11a to 11d. For example, by applying the same voltage as the repeller 14 to the grid 13 of the ion source 11 that is not operating, the filament 12 that is not operating is prevented from being contaminated with gas components. Moreover, it is possible to control the distribution of thermoelectrons inside the ionization unit 10 by giving the grid 13 of the non-operating ion source 11 the same potential as the grid 13 of the operating ion source 11 or a potential close thereto. is there.
  • FIG. 4 shows the detection unit 50 and the detector control unit 80 extracted.
  • the detector control unit 80 adjusts the sensitivity of the detection unit 50 by reconstructing the detection pattern of the detection unit 50.
  • the detection unit 50 includes a plurality of ion collector elements (detection elements) 51 that detect ions when ions that have passed through the filter unit 20 come into contact with each other and an ion current flows.
  • the ion collector element 51 is typically a Faraday cup.
  • the element 51 may be a secondary electron multiplier (electron multiplier), a CCD, or the like.
  • Fig. 5 is a flowchart showing an outline of the automatic tuning process.
  • the tuning gas 8 is measured at any time during tuning. If it is determined in step 101 that automatic tuning is performed, first, the tuning unit 95 optimizes the configuration of the ionization unit 10 in step 102.
  • the tuning unit 95 can predict the characteristic change of the ion source 11 from the operating time of the selected ion source 11, the remaining lifetime, and the like from the characteristic information of the ion source 11 stored in the database 89 in advance.
  • the tuning unit 95 can also obtain the characteristic change of the ion source 11 from the monitoring result of the monitor 63 in operation.
  • the tuning unit 95 can also verify the characteristic change of the selected ion source 11 from the measurement result of the tuning gas 8 whose component and concentration are known.
  • step 104 the detection unit 50 is reconfigured, or the program to be reconfigured during measurement of the detection unit 50 is changed.
  • the detection sensitivity of the detection unit 50 linear measurement results can be obtained even in a range that cannot be covered by the reconfiguration of the ionization unit 10.
  • the tuning unit 95 changes the ionization intensity due to the change of the ionization current.
  • the detection unit 50 is reconfigured by selecting a pattern 88 that compensates for.
  • a series of auto tuning processes can be provided as firmware 98 built in the memory 99 of the analyzer 1.
  • firmware 98 built in the memory 99 of the analyzer 1.
  • program program product
  • the analyzer 1 is connected to a network, the analyzer 1 is connected via the network. It can also be provided as a program to be controlled.
  • the analysis apparatus 1 including the programmable ionization unit 10 and the detection unit 50 is also excellent as an analysis device mounted on a portable device.
  • the analysis device 1 is mounted on a battery-driven device such as wearable or mobile, the battery capacity depends on the usage environment such as the state of charge and the power and voltage that can be consumed by the mounted analysis device 1 are limited. Or may fluctuate. For example, when there is no change in the component or concentration of the gas 9 measured by the installed analyzer 1, the low-sensitivity pattern 88 is selected and measurement is continued, and the power consumption during monitoring can be reduced.

Abstract

 分析対象の分子をイオン化するイオン化ユニット(10)と、イオン化ユニットにより生成されたイオンを選択的に通過させるフィルタユニット(20)と、フィルタユニットを通過したイオンを検出する検出ユニット(50)とを有する分析装置(1)を提供する。検出ユニット(50)は、マトリクス状に配置された複数の検出エレメント(51)を含み、さらに、分析装置(1)は、複数の検出エレメントの中で、検出を有効にする検出エレメントを含む検出パターンを切り替える再構成ユニット(83)を有する。イオン化ユニット(10)は、複数のイオン源(11)を含み、さらに、分析装置(1)は、イオン源の特性変化に基づいて複数のイオン源の接続を切り替える駆動制御ユニット(65)を有する。

Description

分析装置
 本発明は、サンプルをイオン化して分析する分析装置に関するものである。
 国際公開WO2008/129929号には、試料ガスをイオン化するイオン化部と、前記イオン化部からの距離が互いに異なるように、前記イオン化部を挟んで設けられ、前記イオン化部からのイオンを検出する第1イオン検出部及び第2イオン検出部と、前記イオン化部及び前記第1イオン検出部の間に設けられ、前記イオン化部からのイオンを選択的に通過させるフィルタ部と、前記第1イオン検出部により得られる試料ガスの第1の全圧、及び前記第2イオン検出部により得られる試料ガスの第2の全圧を用いて、前記第1イオン検出部により得られる前記フィルタ極部により選択された特定成分の分圧を補正する演算装置と、を備え、四重極質量分析法等を用いたガス分析計において、分解能を維持しながら、測定値が雰囲気圧力の変化に追従しなくなった領域においても補正可能にすることが記載されている。
 国際公開WO2007/083403号には、四重極型質量分析装置において、選択可能な複数の走査速度に適切な直流バイアス電圧を対応付けたテーブルを予め自動調整データ記憶部に記憶させておくことが記載されている。自動調整時には制御部はテーブルを参照して各走査速度に対応した直流バイアス電圧を求め、イオン引き込み用電圧発生部の出力をこれに固定し、それ以外の例えばイオン光学系への印加電圧等を変化させながら検出信号が最大となるような電圧条件を見出す。そして、走査速度毎に最適条件を見つけて自動調整結果データに記録する。目的試料の分析時には、オペレータが指定した走査速度に応じた直流バイアス電圧をテーブルから求め、自動調整結果データから最適条件を求め、それらに基づいてスキャン測定条件を決める。これにより、スキャン測定の走査速度を大きくした場合における検出感度の低下を抑えることができる。
 質量分析装置の自動調整においては、検出信号が最大となるような電圧条件が見出される。高濃度の成分の検出信号が飽和しないためである。したがって、低濃度の成分の検出信号は小さく、精度は低下しやすい。
 本発明の一態様は、分析対象の分子をイオン化するイオン化ユニットと、イオン化ユニットにより生成されたイオンを選択的に通過させるフィルタユニットと、フィルタユニットを通過したイオンを検出する検出ユニットとを有する分析装置である。検出ユニットは、マトリクス状に配置された複数の検出エレメントを含む。分析装置は、さらに、複数の検出エレメントの中で、検出を有効にする検出エレメントを含む検出パターンを切り替える第1の再構成ユニットを有する。検出ユニットの典型的なものはイオン電流を測定する検出ユニットであり、検出エレメントの典型的なものはファラデーカップである。検出エレメントは、二次電子倍増タイプ、CCDタイプなどであってもよい。複数の検出エレメントは2次元に配置されてもよく、3次元に配置されていてもよい。
 複数の検出エレメントから構成される検出パターンを再構成することにより、イオン量により検出ユニットの感度を変えたり、検出ユニットに到達するイオンの種類は、到達経路、到達条件に適したパターンを選択できる。したがって、高濃度の成分を精度よく測定できるとともに、低濃度の成分も精度よく測定できる分析装置を提供できる。
 イオン化ユニットは、複数のイオン源を含み、分析装置は、複数のイオン源のそれぞれのイオン源の特性変化を推定または測定するモニターと、イオン化ユニットを再構成する第2の再構成ユニットとを含んでいてもよい。第2の再構成ユニットは、モニターにより得られる各イオン源の特性変化に基づいて複数のイオン源の中でアクティブにするイオン源の選択、アクティブにする複数のイオン源の接続およびアクティブにするイオン源への供給電力の少なくともいずれかを再構成する。
 イオン化ユニットは、出力電圧および電流が安定していることが望ましい。しかしながら、経年劣化、寿命などによる特性変化があることは避けられない。第2の再構成ユニットにより、イオン源の経年劣化あるいは寿命により特性に変化があっても、アクティブにするイオン源を切り替えたり、複数のイオン源を並列に接続したり、直列および並列に接続することにより、イオン化ユニットとしての特性変化を長時間にわたり一定の範囲に収めるように制御することができる。また、第2の再構成ユニットにより、アクティブにするイオン源への供給電力を長寿命が期待できる範囲になるように、複数、特に3つ以上のイオン源を使いまわしたり、接続を変えたりすることができる。
 複数のイオン源のそれぞれは、電子を放出するエミッターと、エミッターとの間に電位差を設けるグリッドとを含むものであってもよい。エミッターはフィラメント、ディスクカソードを含む。第2の再構成ユニットは、エミッターおよび前記グリッドの接続を独立して再構成するユニットを含んでもよい。通常、例えば、フィラメントと、グリッドとはバイアス電圧を付与するために一対で使用される。グリッドをフィラメントと単独に接続できるようにすることにより、グリッドをイオン化ユニット内の電場調整用の電極として利用し、イオン化ユニット内の電子の分布やイオン化された分子の流通を改善することが可能となる。また、グリッドをシールドとして機能させて、不活性状態のエミッターへの不純物の付着を防止でき、フィラメントなどのエミッターの劣化を抑制できる。
 モニターは、イオン源に供給される電力、イオン源の温度などをモニターするものであってもよく、検出ユニットにおけるチューニング用ガスの検出強度を取得するユニットを含んでいてもよい。濃度が判明している成分の検出強度の変化によりイオン源の特性の変動を判断できる。
 第1の再構成ユニットは、第2の再構成ユニットがイオン化ユニットを制御するタイミングで検出パターンを選択または切り替えるユニットを含んでもよい。イオン化ユニットの再構成によりイオン電流が変化した場合に、検出ユニットの検出パターンを選択または切り替えることにより、測定条件の変動を吸収し、さらに精度の高い測定を行うことが可能となる。たとえば、イオン電流が変動する場合、イオン電流が大きいときは検出面積の小さなパターンを選択し、イオン電流が小さいときは検出面積の大きなパターンを選択することにより、測定結果が飽和したり、測定結果が雑音に埋もれてしまうような事態を未然に防止できる。
 第1の再構成ユニットは、フィルタユニットのイオンを選択する条件に連動して検出パターンを選択または切り替えるユニットを含んでもよい。成分(分子、化学物質、組成)毎に濃度がある程度予測できる分析の場合は、予測される濃度の測定に適した検出パターンを採用することにより精度の高い測定が可能となる。フィルタユニットの一例は四重極型であるが、扇型磁場型、電場磁場二重収束型、飛行時間型などのイオン透過型のフィルタであってもよく、ウィーンフィルタであってもよく、FAIMSなどの非真空タイプのフィルタまたはそれらを組み合わせたものであってもよい。
 本発明の他の態様の1つは、分析装置の制御方法であり、以下のステップを含む。
・チューニング用のガス中の標準的な濃度のイオンを、第1の再構成ユニットがセットする中程度の面積の検出パターンで検出するように、第2の再構成ユニットがイオン化ユニットをセットすること。
 検出ユニットをミドルレンジにセットすることにより、高濃度の成分および低濃度の成分に対して面積の異なる検出パターンを適用することができ、高精度で測定でき濃度範囲を拡張できる。
 制御方法は以下のステップを含んでいてもよい。
・第2の再構成ユニットがイオン化ユニットを再構成したときに、第1の再構成ユニットがイオン化ユニットの再構成によるイオン化強度を補償するように検出パターンを切り替えること。イオン化ユニットの再構成によりイオン化能力の変動を検出ユニット側で検出パターンを切り替えることにより補償できる。
 制御方法は、さらに、以下のステップを含んでいてもよい。
・第1の再構成ユニットがフィルタユニットのイオンを選択する条件に連動して検出パターンを選択または切り替えて、イオンを検出すること。高濃度の成分および低濃度の成分に対して面積の異なる検出パターンを適用することができ、高精度で測定でき濃度範囲を拡張できる。
 本発明の他の態様の1つは、上記のステップを含むプログラム(プログラム製品)であり、適当な記録媒体に記録して提供できる。
分析装置の概要を示す図。 異なる分析装置の概要を示す図。 イオン源の経時変化を示す図。 検出ユニットを再構成する図。 自動チューニングの処理を示すフローチャート。 検出パターンの他の例。
発明を実施する形態
 図1にガス分析装置の一例を示している。この分析装置1は四重極型質量分析装置であり、サンプリングされたガス9をイオン化するイオン化ユニット10と、イオン化された分子(イオン)を選択的に通過される四重極型のフィルタユニット20と、イオン化ユニット10からイオンをフィルタユニット20へ導くフォーカスユニット(イオン引出電極)30と、フィルタユニット20でフィルタリングされたイオンを検出する検出ユニット50と、制御ユニット60とを含む。分析装置1は真空容器5を含み、真空容器5にイオン化ユニット10、フィルタユニット20、フォーカスユニット30および検出ユニット50が収納されている。
 イオン化ユニット10は、4つのイオン源11a~11dを含む。それぞれのイオン源11a~11dは、熱電子を放出するフィラメント12と、グリッド(グリッド電極)13と、リペラ(リペラ電極)14とを含む。イオン化ユニット10は全圧測定を兼ねたコレクタ(コレクタ電極)15を含む。フィラメント12は容器5に対してプラスあるいはマイナスにバイアスされたフィラメント電圧Vfが供給され、フィラメント電流Ifが供給されることにより熱電子を出力する。グリッド13にはフィラメント電圧Vfに対してプラスの電位差(バイアス)Veを生ずるグリッド電圧Vgが供給され、熱電子が所定のイオン化エネルギーを得るように加速する。リペラ14にはフィラメント電圧Vfと同電圧が供給され、熱電子をグリッド方向に集中させる。熱電子を放出するエミッターは、フィラメント12であってもよく、ディスクカソードであってもよい。
 制御ユニット60は、回路基板、CPU、メモリなどの資源を用いて構成される。制御ユニット60は、イオン源11a~11dを制御するイオン化装置制御ユニット(イオナイザ制御ユニット)61と、フォーカスユニット30および四重極型フィルタ20を制御するフィルタ制御ユニット70と、検出ユニット50を制御する検出器制御ユニット(ディテクタ制御ユニット)80と、これらの制御ユニットを協調制御する中央制御ユニット90とを含む。
 中央制御ユニット(システムコントローラ)90は、イオナイザ制御ユニット61を介してイオン化ユニット10をフィードバック制御するPIDユニット91と、ディテクタ制御ユニット80を介して検出ユニット50を制御し、検出ユニット50により得られるイオン電流を評価するアナライザー92と、チューニング用のガス(キャリブレーション用ガス)8を用いて自動的の分析装置1の測定条件を調整するチューニングユニット(自動チューニングユニット)95と、主にフィルタ20の磁場調整を行うキャリブレーションユニット96とを含む。
 以下で説明するようにイオナイザ制御ユニット61はイオン化ユニット10を再構成する機能を含み、ディテクタ制御ユニット80は検出ユニット50を再構成する機能含む。したがって、分析装置1は、プログラマブルなイオン化ユニット10と、プログラマブルな検出ユニット50とを含み、測定対象のガス9および使用状態などによりイオン化ユニット10を最適化し、それに対応して検出ユニット50を最適化してガス9に含まれる成分(分子、化学物質、組成)を分析する。検出ユニット50の分析結果、すなわちアナライザー92の出力をイオン化ユニット10のモニターとして使用することができ、イオン化ユニット10をさらに最適化することが可能である。このように、制御ユニット60は、イオン化ユニット10および検出ユニット50をクローズドループ型で制御する機能を含む。
 イオナイザ制御ユニット61は、複数のイオン源11、具体的にはイオン源11a~11dの電気的な接続を切り替える接続回路62と、接続回路62を介して各イオン源11a~11dの特性値の変動、たとえば、抵抗値の変動、消費電力の変動を測定または推定するモニター63と、接続回路62を介してイオン源11a~11dに電力を供給する電力供給ユニット64と、モニター63の測定結果に基づいて各イオン源11a~11dの選択または接続を制御する駆動制御ユニット(イオンドライブユニット)65とを含む。駆動制御ユニット65は、イオン化ユニット10の構成を切り替える再構成ユニット(第2の再構成ユニット)としての機能を含み、プログラマブルなイオン化ユニット10を実現する。
 駆動制御ユニット65は、イオン源11a~11dの接続を再構成する機能を含み、イオン源11a~11dの特性変動に基づいて、イオン源11a~11dの1つを選択して電力を供給することによりアクティブにしたり、いくつかのイオン源を並列に接続して使用(アクティブに)したり、いくつかのイオン源を直列に接続して使用したり、いくつかのイオン源を直列および並列に接続して使用する。駆動制御ユニット65は、さらに、アクティブにされているイオン源11a~11dへの供給電力を制御し、エミッター(フィラメント)12の温度を制御(再構成)する機能を含む。
 図2に、イオン化ユニット10の異なる例を示している。このイオン化ユニット10では、八角形の断面を備えたハウジング(真空容器)5に5つのイオン源11a~11eが配置されており、イオナイザ制御ユニット61により接続および温度が制御(再構成)される。したがって、このイオン化ユニット10もプログラマブルであり、5つのイオン源11a~11eを個別でも組み合わせでも使用できる。
 図3に、イオン源の一般的な特性を示している。イオン源11は使用時間(ライフタイム)によりフィラメント12の抵抗が増加し、イオン化電流が低下する。したがって、所定のイオン化電流を確保しようとするとフィラメント電圧Vfを上げる必要がある。ハウジング5に対するバイアス電圧を変えたり、所定のイオン化電圧Veを確保するためにはフィラメント電圧Vfの変動にともないグリッド電圧Vgを変える必要があり、それに伴ってさらにフォーカスユニット30の条件を変えたりする必要があり、フィルタユニット20の設定条件にも影響が及ぶ可能性がある。したがって、個々のイオン源で電圧を制御してイオン化電流を一定に保つことができる範囲は限られている。一方、イオン化電流が一定に保たれないと、全圧が変わり、検出ユニット50の感度も変動する。
 イオン化電圧Veは、キャリアガス成分に対して不感応にするためにイオン化電圧を限定することがあり、イオン化電流を確保するために電圧を制御することが難しいケースも多い。たとえば、ヘリウムのイオン化エネルギーは24.58eVであり、ヘリウムをキャリアガスとする場合は、イオン化電圧を24V以下に限定することが望ましい。また、質量分析において多くのデータが得られているイオン化エネルギーは70eVであり、イオン化電圧を70Vに制御することが多い。さらに、モバイルの機器に採用される場合は、電源電圧が限られたり、消費電流が限られるため、イオン化電圧を制限したいケースもある。したがって、イオン化電圧を一定に保ちながら、経時変化等に応じてイオン化電流を所定の範囲に保持することは重要である。
 イオナイザ制御ユニット61の駆動制御ユニット65は、イオン源11の電流特性、使用時間をモニターし、使用時間、稼働温度などの稼働条件によりイオン源11のエミッターであるフィラメント12の電流特性(抵抗値)が所定の範囲を超えて劣化したとき、あるいは劣化が想定されるときに、異なるイオン源に自動的に切り替える機能を含む。
 駆動制御ユニット65は、さらに、全てのイオン源11の電流特性が所定の範囲を下回り、抵抗値が所定の値(閾値)を上回る、あるいは以上になったと判断すると、複数のイオン源を組み合わせることにより、イオン化ユニット10の内部特性にできる限り影響を与えない範囲でイオン化電流が所定の範囲になるようにイオン源11の接続を制御する機能を含む。典型的には2またはそれ以上のイオン源のフィラメント12を並列に接続して使用する。電圧の調整のために複数のイオン源のフィラメント12を直列に接続して使用することも可能であり、並列および直列に接続して使用することも可能である。
 駆動制御ユニット65が複数のイオン源11のエミッター12の接続を再構成することにより、エミッター12の個々の性能としては十分な能力が得られない(寿命により限界に達した)場合でも、複数のエミッター12を並列に接続して複数のイオン源11をアクティブにすることによりイオン化ユニット10としての性能を確保できる。能力が十分な複数のイオン源11をアクティブにすることにより、イオン化ユニット10のイオン化性能を高いレベルに維持し、微量成分の測定に適したイオン化条件に設定することも可能である。また、複数のイオン源11をアクティブにすることにより、フィラメント電流を意図的に小さくした状態でイオン化ユニット10を稼働させて、イオン源11の寿命を延長させることも可能である。
 駆動制御ユニット65は、さらに、各イオン源11a~11dのフィラメント12とグリッド13とに対し個別に特定の電圧を付与する機能を含む。たとえば、非稼働中のイオン源11のグリッド13にリペラ14と同電圧を付与することにより非稼働中のフィラメント12がガス成分で汚染されることを抑制する。また、非稼働中のイオン源11のグリッド13に稼働中のイオン源11のグリッド13と同電位あるいはそれに近い電位を与えることによりイオン化ユニット10の内部の熱電子の分布を制御することが可能である。
 図4に、検出ユニット50およびディテクタ制御ユニット80を抜き出して示している。ディテクタ制御ユニット80は検出ユニット50の検出パターンを再構成することにより検出ユニット50の感度を調整する。検出ユニット50は、フィルタユニット20を通過したイオンが接触してイオン電流が流れることによりイオンを検出する複数のイオンコレクタエレメント(検出エレメント)51を含む。イオンコレクタエレメント51は典型的にはファラデーカップである。エレメント51は、二次電子倍増管(エレクトロンマルチプライア)、CCDなどであってもよい。
 この検出ユニット50においては、144個のエレメント51が、2次元に、縦12個、横12個のマトリクスをなすように配置されている。エレメント51の配置は、縦横同数のマトリクス状であってもよく、縦横の数が異なるマトリクス状であってもよく、2次元の平面上の配置であってもよく、フィルタ20の端から等距離をなすような3次元の面に沿った配置であってもよい。また、検出ユニット50を構成するエレメント51の数は、144個に限らず、さらに多くても、あるいは少なくてもよい。
 ディテクタ制御ユニット80は、複数の検出エレメント51の中で、検出を有効にする検出エレメント51をアクティブにする再構成ユニット(第1の再構成ユニット、コンフィグレーションドライバ)83を含む。再構成ユニット83は、チューニングデータベース89に含まれるコンフィグレーションバッファ87に格納されている複数の検出パターン88、たとえば、パターン88A、88B、88Cのいずれかを選択し、検出ユニット50でアクティブにするエレメント51のパターン88を切り替える。したがって、再構成ユニット83は、検出面積(検出感度)と、2次元または3次元の空間的な検出感度(検出位置)が可変なプログラマブルな検出ユニット50を提供する。
 ディテクタ制御ユニット80は、さらに、パターン88にしたがってアクティブにされたエレメント51の検出結果(イオン電流)を定期的にサンプリングするサンプリングユニット81と、サンプリングされた全エレメントの値をデジタイズするアナログ―デジタルコンバータ(ADC)82とを含む。サンプリングユニット81は、144個の全エレメント51の検出結果をサンプリングし、全エレメント51の中からコンフィグレーションドライバ83により選択されたパターン88に含まれるエレメント51の検出値を集積して検出結果(イオン電流)として出力してもよい。ADC82によりデジタイズされた検出結果はシステムコントローラ90のアナライザー92に出力される。検出結果は、システムコントローラ90を介して、またはADC82から直にデータを集計する外部のサーバーなどに有線または無線により出力してもよい。
 再構成ユニット83は、たとえば、イオナイザ制御ユニット61が新しいイオン源11に切り替えたことを情報として取得すると、先ず、最も面積の小さいパターン88A(5×5)を選択し、所定の時間が経過すると、次に面積の大きなパターン88B(7×7)を選択し、さらに時間が経過すると面積のさらに大きなパターン88C(12×12)を選択して、これらのパターンに含まれるエレメント51の集積値が検出結果(イオン電流)として出力されるようにする。パターン88を切り替えるタイミングは時間の代わりに、あるいは時間とともに、イオン源11の特性値をモニタリングした結果や、各パターン88で得られるイオン電流の値に基づいて判断してもよい。
 また、再構成ユニット83は、チューニングユニット95が実施する自動チューニングの結果に基づいてパターン88を切り替えてもよい。自動チューニングは、定期的に、分析装置1の各種パラメータをモニタリングしている結果として、また、外部からの指示または要因により行われてもよい。また、キャリブレーションを行う際は自動的にチューニングも行われる。
 チューニングにおいては、測定ガス9の代わりに、定期的に成分および濃度の判明したキャリブレーション用のガス(チューニング用のガス)8を分析装置1で計測し、イオン化ユニット10の特性と、検出ユニット50の特性とを判断し、イオン化ユニット10の各種パラメータをチューニングする。チューニングには、ガスフローを最適化したり、フィルタユニット20のコンディションを最適化したりすることが含まれ、イオン化ユニット10と検出ユニット50とをそれぞれ再構成することを含んでもよい。
 図5に、自動チューニングの処理の概要をフローチャートにより示している。なお、フローチャートには記載されていないが、チューニング中、チューニング用のガス8の測定は随時行われる。ステップ101において自動チューニングが実施されるタイミングと判断されると、まず、チューニングユニット95は、ステップ102において、イオン化ユニット10の構成を最適化する。チューニングユニット95は、選択されているイオン源11の稼働時間からイオン源11の特性変化、残存のライフタイムなどをデータベース89に予め蓄積されたイオン源11の特性情報から予想できる。チューニングユニット95は、稼働中のモニター63の監視結果からもイオン源11の特性変化を得ることができる。チューニングユニット95は、成分および濃度の判明しているチューニング用のガス8の測定結果から、選択されているイオン源11の特性変化を検証することも可能である。
 チューニングユニット95は、イオン源11の特性変化に基づいて、イオン化ユニット10の構成、すなわち、複数のイオン源の選択、接続、イオン化電流などの稼働条件を、イオン化性能を所定の範囲に維持すること、イオン源11のライフタイムをできる限り延長することなどを目的として最適な構成に変更する。チューニングユニット95は、イオナイザ制御ユニット61の駆動制御ユニット65を介してイオン化ユニット10を再構成する。
 ステップ103において、最適化されたイオン化ユニット10により所望の感度(測定感度)が得られるとチューニングユニット95が判断したり、チューニング用ガス8の測定結果が良好であればチューニングを終了してステップ107において測定を再開する。
 ステップ103において所望の感度が得られないと判断されると、ステップ104において、検出ユニット50を再構成したり、検出ユニット50の測定中に再構成するプログラムの変更を行う。検出ユニット50の検出感度を変えることにより、イオン化ユニット10の再構成ではカバーできない範囲についてもリニアな測定結果を得ることができる。たとえば、イオン化ユニット10を再構成することにより、イオン源11のライフタイムによりイオン化電流の変動を±20%程度の範囲に収められる場合、チューニングユニット95は、そのイオン化電流の変化によるイオン化強度の変動を補償するパターン88を選択して検出ユニット50を再構成する。イオン化ユニット10および検出ユニット50をチューニングにより随時最適化することにより、全体として、リニアな検出結果を長時間にわたり出力する分析装置1を提供できる。このため、ロングライフで、測定精度の高い分析装置(測定装置)1を提供できる。
 ステップ104において検出ユニット50の再構成プログラムをチューニングする場合は、チューニングユニット95は、まず、チューニング用のガス8に含まれる標準的な濃度のイオン(分子、成分)を、ディテクタ制御ユニット80の再構成ユニット83がセットする中程度の面積の検出パターン88で検出するように、駆動制御ユニット(イオンドライバ)65を用いてイオン化ユニット10をセットする。さらに、チューニングユニット95は、フィルタユニット20がイオンを選択する条件に連動して、濃度の高いイオンが選択されるときは面積の小さな検出パターン88が選択され、濃度の低いイオンが選択されるときは面積の大きな検出パターン88が選択されるように再構成ユニット83のプログラミングを行い、面積がそれぞれ異なる検出パターン88で検出対象のイオンが適切な感度で検出できるか否かを検証する。検出パターン88を再構成するプログラム86は、チューニングデータベース89に格納しておくことができる。
 チューニング用ガス8は、一般的に測定対象のガス9に含まれていると予想される成分を予想される濃度で含むものであり、チューニング用ガス8により各成分(イオン)の検出パターン88を予めプログラミングすることによりサンプルガス9の測定感度の濃度の依存性を低減できる。すなわち、プログラマブルな検出ユニット50においては、濃度の高い成分は相対的に低い感度で測定でき、濃度の低い成分は相対的に高い感度で測定できるので、各成分の測定精度のばらつきを抑えることができる。
 ステップ105において、チューニング用ガス8の各成分が適当な感度で測定できるとチューニングユニット95が判断したり、チューニング用ガス8の各成分の測定結果が良好であればチューニングを終了してステップ107において、チューニングにより得られたプログラム86を用いて測定を再開する。
 チューニングガス8の各成分の濃度変動に対し、イオン化ユニット10の条件を固定した状態では、検出パターン88を切り替えて調整できる検出ユニット50の測定範囲(ターンダウンレシオ)で十分に追従できない可能性がある。ステップ105において検出ユニット50の感度調整が検出ユニット50のプログラミングだけでは対応できないと判断されると、ステップ106において、チューニングユニット95は、さらに、検出ユニット50の再構成と協調してイオン化ユニット10の再構成を行う協調制御を設定する。協調制御においては、チューニングユニット95は、検出ユニット50の再構成とイオン化ユニット10の再構成とを協調制御するプログラム(イオナイザ・ディテクタ協調制御プログラム)85を生成する。
 ステップ106において、協調制御プログラム85が生成され、確認されると、チューニングを終了してステップ107において、チューニングにより得られたプログラム85を用いて測定を再開する。協調制御プログラム85においては、ディテクタ制御ユニット80の再構成ユニット(第1の再構成ユニット)83がフィルタユニット20のイオンを選択する条件に連動して検出パターン88を選択または切り替えて検出ユニット50をダイナミックに再構成する。それとともに、イオナイザ制御ユニット61の駆動制御ユニット(第2の再構成ユニット)65も、フィルタユニット20のイオンを選択する条件に連動してイオン化ユニット10の接続あるいは駆動電流を制御してイオン化ユニット10をダイナミックに再構成する。
 オートチューニングの一連の処理は、分析装置1のメモリ99に内蔵されるファームウェア98として提供することが可能である。また、分析装置1を制御するホスト、例えば、パーソナルコンピュータで稼働するプログラム(プログラム製品)として提供することも可能であり、分析装置1がネットワークに接続されていれば、ネットワーク経由で分析装置1を制御するプログラムとして提供することも可能である。
 チューニングプログラム98は、フィルタユニット20の磁場の調整を含めたキャリブレーションプログラム97と共に実行してもよく、定期的に実行してもよく、検出ユニット50の測定結果の時間的な変動が所定の範囲を超えたときに自動的に実行するようにしてもよい。また、イオン源11のライフタイムに関連する適当な運転時間が経過したときに、イオン電流値などを変えて性能の劣化を検証したり、分析装置1の性能をシミュレーションするためにキャリブレーションプログラム97を実行してもよい。
 図6に、その他の検出ユニット50で選択可能な検出パターンのいくつかの例を示している。図6において斜線を引いたエレメント51がアクティブにされるエレメント51である。感度の低い成分に対しては、パターン88Dのような中央に集中したパターンが望ましいことがあり、平均的に強度を調整するには、パターン88Eのようなメッシュのパターンが望ましいことがある。また、感度が高すぎる成分に対しては、パターン88Fのように感度の低い領域の結果を集積した方が、精度が向上することがある。パターン88Gのように適当に間引いたパターンが有効なケースもある。検出ユニット50にプログラム可能な検出パターン88はこれらに限定されない。
 検出パターン88は、イオン化ユニット10のチューニングの補正(補償)に限定されず、測定結果(検出ユニット50の出力)のチューニングに用いることも可能である。たとえば、フィルタユニット20において特定の分子または原子を測定した結果、感度が高すぎて結果が飽和してしまう場合は、より面積の小さなパターンを採用することにより測定値を測定範囲内に調整することができる。また、その逆も可能である。また、ファラデーカップなどの検出エレメント51も経時変化により検出感度が劣化することがある。したがって、使用時間によりアクティブにするエレメント51の位置を変えたり、面積を自動的に変えて、検出ユニット50の感度の線形性を長期間にわたり維持するようにすることも可能である。
 各成分(イオン)の測定に適したパターン88は、シミュレーションや実験等によりフィルタユニット20のタイプ(四重極型、FAIMS型、ウィーンフィルタなど)とイオン化される分子あるいは原子(化学物質)との組み合わせを特定して事前に求めてもよい。また、サンプリングの条件、イオン化ユニット10の条件、さらにフィルタユニット20の条件が一定または安定した状態で、パターン88を特定のアルゴリズムで、またはランダムに変更して、それらの条件および化学物質の測定に最適なパターンを自動的に選択するようにしてもよい。また、測定対象のガス9に含まれる成分(測定対象の化学物質)の測定に適して決定されたパターン88を、測定対象の化学物質を特定するための1つの要素として使用することも可能である。また、成分および濃度が特定されたキャリブレーション用のガス8の測定に適した標準パターン88と、測定時に決定されたパターン88とを比較し、分析装置1の特性を判断したり、経時変化の状況を判断したりすることも可能である。
 プログラマブルなイオン化ユニット10および検出ユニット50を備えた分析装置1は携帯型の機器に搭載される分析機器としても優れている。ウェアラブルやモバイルといったバッテリー駆動される機器に分析装置1が搭載される場合、バッテリーの容量は充電状態などの利用環境に依存して、搭載された分析装置1が消費できる電力や電圧が限定されていたり、変動したりする場合がある。たとえば、搭載された分析装置1が測定したガス9の成分や濃度に変動がない場合は、感度の低いパターン88を選択して測定を継続し、モニタリングの際の消費電力を低減できる。モニタリング中に、何らかの要因あるいはイベントによりガス9の成分や濃度に変動が見られたとき、または、予測されたときに一時的に感度の高いパターン88を選択して、消費電力が高くても測定感度の高い状態に分析装置1を再構成できる。
 このように、分析装置1は、全体の測定感度をフレキシブルに変えることが可能である。たとえば、危険物質を感知したり、危険物質が存在する可能性があるときに感度の高い状態を選択することにより、より低濃度で、早いタイミングで危険の有無を判断することができる。
 また、分析装置1においては、検出ユニット50の全エレメント51の情報を、そのときに解析あるいは分析に用いられるパターン88とは別に、常に、自己のメモリや、適当な通信手段で接続されたサーバー、またはクラウド上に格納しておくことも可能である。イベントレコーダのように、通常は限られたパターン88の測定結果を見ながら状況を判断し、事後に、クラウド上などに格納された全データを解析してさらに詳細な解析を行うことも可能である。
 上記において説明した分析装置は本発明の一例であり、分析装置は、分析機能を含む携帯端末であってもよく、プラント等を制御する制御機器であって分析機能を含む機器であってもよく、分析機能を含む車両などの移動手段であってもよい。また、本明細書に記載以外の点においても、本発明の趣旨の範囲内で適宜、変更、追加、修正を行うことは可能であり、それらの機器も本願の請求の範囲に包含されることは明らかである。

Claims (12)

  1.  分析対象の分子をイオン化するイオン化ユニットと、
     前記イオン化ユニットにより生成されたイオンを選択的に通過させるフィルタユニットと、
     前記フィルタユニットを通過したイオンを検出する検出ユニットとを有し、
     前記検出ユニットは、マトリクス状に配置された複数の検出エレメントを含み、さらに、
     前記複数の検出エレメントの中で、検出を有効にする検出エレメントを含む検出パターンを切り替える第1の再構成ユニットを有する、分析装置。
  2.  請求項1において、
     前記イオン化ユニットは、複数のイオン源を含み、
     さらに、
     前記複数のイオン源のそれぞれのイオン源の特性変化を推定または測定するモニターと、
     前記特性変化に基づいて前記複数のイオン源の中でアクティブにするイオン源の選択、アクティブにする複数のイオン源の接続およびアクティブにするイオン源への供給電力の少なくともいずれかを再構成する第2の再構成ユニットとを有する、分析装置。
  3.  請求項2において、
     前記複数のイオン源のそれぞれは、電子を放出するエミッターと、前記エミッターとの間に電位差を設けるグリッドとを含み、前記第2の再構成ユニットは、前記エミッターおよび前記グリッドの接続を独立して再構成するユニットを含む、分析装置。
  4.  請求項2または3において、前記イオン化ユニットは、少なくとも3つのイオン源を含む、分析装置。
  5.  請求項2ないし4のいずれかにおいて、前記モニターは、前記検出ユニットにおけるチューニング用ガスの検出強度を取得するユニットを含む、分析装置。
  6.  請求項2ないし5のいずれかにおいて、前記第1の再構成ユニットは、前記第2の再構成ユニットが前記イオン化ユニットを制御するタイミングで検出パターンを選択または切り替えるユニットを含む、分析装置。
  7.  請求項1ないし6のいずれかにおいて、前記第1の再構成ユニットは、前記フィルタユニットのイオンを選択する条件に連動して検出パターンを選択または切り替えるユニットを含む、分析装置。
  8.  請求項1ないし7のいずれかにおいて、前記複数の検出エレメントは2次元に配置されている、分析装置。
  9.  分析装置の制御方法であって、
     前記分析装置は、
     分析対象の分子をイオン化するイオン化ユニットと、
     前記イオン化ユニットにより生成されたイオンを選択的に通過させるフィルタユニットと、
     前記フィルタユニットを通過したイオンを検出する検出ユニットとを有し、
     前記検出ユニットは、マトリクス状に配置された複数の検出エレメントを含み、
     前記イオン化ユニットは、複数のイオン源を含み、さらに、
     前記複数の検出エレメントの中で、検出を有効にする検出エレメントを含む検出パターンを切り替える第1の再構成ユニットと、
     前記複数のイオン源の特性変化に基づいて前記複数のイオン源の中でアクティブにするイオン源の選択、アクティブにする複数のイオン源の接続およびアクティブにするイオン源への供給電力の少なくともいずれかを再構成する第2の再構成ユニットとを有し、
     当該制御方法は、
     チューニング用のガス中の標準的な濃度のイオンを、前記第1の再構成ユニットがセットする中程度の面積の検出パターンで検出するように、前記第2の再構成ユニットが前記イオン化ユニットをセットすることを有する、制御方法。
  10.  請求項9において、前記第2の再構成ユニットが前記イオン化ユニットを再構成したときに、前記第1の再構成ユニットが前記イオン化ユニットの再構成によるイオン化強度を補償するように検出パターンを切り替えることを有する、制御方法。
  11.  請求項9または10において、前記第1の再構成ユニットが前記フィルタユニットのイオンを選択する条件に連動して検出パターンを選択または切り替えて、イオンを検出することを有する、制御方法。
  12.  分析装置の制御プログラムであって、
     前記分析装置は、
     分析対象の分子をイオン化するイオン化ユニットと、
     前記イオン化ユニットにより生成されたイオンを選択的に通過させるフィルタユニットと、
     前記フィルタユニットを通過したイオンを検出する検出ユニットとを有し、
     前記検出ユニットは、マトリクス状に配置された複数の検出エレメントを含み、
     前記イオン化ユニットは、複数のイオン源を含み、さらに、
     前記複数の検出エレメントの中で、検出を有効にする検出エレメントを含む検出パターンを切り替える第1の再構成ユニットと、
     前記複数のイオン源の特性変化に基づいて前記複数のイオン源の中でアクティブにするイオン源の選択、アクティブにする複数のイオン源の接続およびアクティブにするイオン源への供給電力の少なくともいずれかを再構成する第2の再構成ユニットとを有し、
     当該プログラムは、
     チューニング用のガス中の標準的な濃度のイオンを、前記第1の再構成ユニットがセットする中程度の面積の検出パターンで検出するように、前記第2の再構成ユニットが前記イオン化ユニットをセットすることを有する、プログラム。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018025535A (ja) * 2016-08-05 2018-02-15 株式会社リコー イオン検出装置、洗浄用空気作成装置及び計測システム
JP2018091863A (ja) * 2015-11-17 2018-06-14 アトナープ株式会社 分析装置及びその制御方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015029449A1 (ja) 2013-08-30 2015-03-05 アトナープ株式会社 分析装置
CN107004565B (zh) * 2014-10-02 2020-04-07 九零八图案公司 通过检测带正电的和带负电的粒子的质谱测定法
US11227753B2 (en) 2016-10-04 2022-01-18 Atonarp Inc. System and method for accurately quantifying composition of a target sample
EP3545292B1 (en) 2016-11-23 2021-09-15 Atonarp Inc. System and method for determining set of mass to charge ratios for set of gases
CN111602048B (zh) * 2018-01-09 2023-08-22 Atonarp株式会社 用于优化峰形的系统和方法
JP7314000B2 (ja) * 2019-09-19 2023-07-25 キヤノンアネルバ株式会社 電子発生装置および電離真空計
CN116438625A (zh) * 2020-08-26 2023-07-14 沃特世科技爱尔兰有限公司 用于在调谐质谱设备时选择参数值的方法、介质和系统
US11658020B2 (en) * 2020-11-24 2023-05-23 Inficon, Inc. Ion source assembly with multiple ionization volumes for use in a mass spectrometer

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5333689A (en) * 1976-09-10 1978-03-29 Hitachi Ltd Composite ion source for mass spectrometer
JPS6290980A (ja) * 1985-06-13 1987-04-25 Jeol Ltd イオン検出素子及びイオン検出アレイ
JP2002071821A (ja) * 2000-08-25 2002-03-12 Inst Of Physical & Chemical Res 荷電粒子検出装置
JP2005528746A (ja) * 2002-05-31 2005-09-22 ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド 質量分析計用の高速組合せマルチモードイオン源
JP2006221876A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Gv Instruments Ltd イオン検出器、イオン検出器を備える質量分析計、イオン検出器を操作する方法
WO2007083403A1 (ja) 2006-01-20 2007-07-26 Shimadzu Corporation 四重極型質量分析装置
WO2008129929A1 (ja) 2007-04-13 2008-10-30 Horiba Stec, Co., Ltd. ガス分析計
JP2010177120A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Ulvac Japan Ltd イオン検出器及びこれを備えた四重極型質量分析計並びにファラデーカップ
JP2011082181A (ja) * 2002-09-18 2011-04-21 Agilent Technologies Inc 多モードイオン化源
JP2011216425A (ja) * 2010-04-02 2011-10-27 Shimadzu Corp Ms/ms型質量分析装置
WO2012105087A1 (ja) * 2011-01-31 2012-08-09 株式会社 島津製作所 三連四重極型質量分析装置

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3566674A (en) * 1967-11-29 1971-03-02 Viktro Lvovich Talroze Device for analyzing gas mixtures by a combination of a chromatographic column and a mass spectrometer
US3946229A (en) * 1974-03-29 1976-03-23 The Bendix Corporation Gain control for a quadrupole mass spectrometer
US4016421A (en) * 1975-02-13 1977-04-05 E. I. Du Pont De Nemours And Company Analytical apparatus with variable energy ion beam source
GB1593998A (en) 1977-11-29 1981-07-22 California Inst Of Techn Mass spectrometer analysis system
JPS60152949A (ja) * 1984-01-23 1985-08-12 Toshiba Corp 質量分析計のイオン検出器
US4973841A (en) * 1990-02-02 1990-11-27 Genus, Inc. Precision ultra-sensitive trace detector for carbon-14 when it is at concentration close to that present in recent organic materials
US5077470A (en) * 1991-01-11 1991-12-31 Jeol Ltd. Mass spectrometer
JPH05135734A (ja) * 1991-11-08 1993-06-01 Jeol Ltd イオン源を備えた表面分析装置
WO1999031707A1 (en) * 1997-12-16 1999-06-24 Stephen Douglas Fuerstenau Method and apparatus for detection of charge on ions and particles
GB2349270B (en) 1999-04-15 2002-02-13 Hitachi Ltd Mass analysis apparatus and method for mass analysis
JP2005528756A (ja) * 2002-05-31 2005-09-22 サーモ フィニガン エルエルシー 精度の向上した質量分析装置
US20050080571A1 (en) * 2003-10-10 2005-04-14 Klee Matthew S. Mass spectrometry performance enhancement
US20050080578A1 (en) * 2003-10-10 2005-04-14 Klee Matthew S. Mass spectrometry spectral correction
GB0327241D0 (en) 2003-11-21 2003-12-24 Gv Instr Ion detector
US7498585B2 (en) * 2006-04-06 2009-03-03 Battelle Memorial Institute Method and apparatus for simultaneous detection and measurement of charged particles at one or more levels of particle flux for analysis of same
US7476855B2 (en) * 2006-09-19 2009-01-13 Axcelis Technologies, Inc. Beam tuning with automatic magnet pole rotation for ion implanters
GB0704764D0 (en) * 2007-03-12 2007-04-18 Electrophoretics Ltd Isobarically labelled reagents and methods of their use
US20090108191A1 (en) * 2007-10-30 2009-04-30 George Yefchak Mass Spectrometer gain adjustment using ion ratios
US8426805B2 (en) * 2008-02-05 2013-04-23 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for response and tune locking of a mass spectrometer
US8378294B2 (en) * 2008-05-20 2013-02-19 Shimadzu Corporation Method of atmospheric pressure ionization for mass spectrometer
JP5325973B2 (ja) * 2009-03-05 2013-10-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 分析装置
FR2943173B1 (fr) 2009-03-11 2016-03-18 Alcatel Lucent Cellule d'ionisation pour spectrometre de masse et detecteur de fuites correspondant
US8648293B2 (en) * 2009-07-08 2014-02-11 Agilent Technologies, Inc. Calibration of mass spectrometry systems
US8389929B2 (en) * 2010-03-02 2013-03-05 Thermo Finnigan Llc Quadrupole mass spectrometer with enhanced sensitivity and mass resolving power
WO2011146269A1 (en) * 2010-05-21 2011-11-24 Waters Technologies Corporation Techniques for automated parameter adjustment using ion signal intensity feedback
JP5316481B2 (ja) * 2010-06-11 2013-10-16 株式会社島津製作所 質量分析装置
WO2012124020A1 (ja) * 2011-03-11 2012-09-20 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP5771456B2 (ja) * 2011-06-24 2015-09-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析方法
US9040907B2 (en) * 2011-10-31 2015-05-26 Mks Instruments, Inc. Method and apparatus for tuning an electrostatic ion trap
GB201204723D0 (en) * 2012-03-19 2012-05-02 Micromass Ltd Improved time of flight quantitation using alternative characteristic ions
US8704162B1 (en) * 2012-12-21 2014-04-22 Shimadzu Corporation Mass spectrometer
CN105122053B (zh) * 2013-04-15 2018-11-30 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 用于同位素比分析仪的进气系统和确定同位素比的方法
WO2015029449A1 (ja) * 2013-08-30 2015-03-05 アトナープ株式会社 分析装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5333689A (en) * 1976-09-10 1978-03-29 Hitachi Ltd Composite ion source for mass spectrometer
JPS6290980A (ja) * 1985-06-13 1987-04-25 Jeol Ltd イオン検出素子及びイオン検出アレイ
JP2002071821A (ja) * 2000-08-25 2002-03-12 Inst Of Physical & Chemical Res 荷電粒子検出装置
JP2005528746A (ja) * 2002-05-31 2005-09-22 ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド 質量分析計用の高速組合せマルチモードイオン源
JP2011082181A (ja) * 2002-09-18 2011-04-21 Agilent Technologies Inc 多モードイオン化源
JP2006221876A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Gv Instruments Ltd イオン検出器、イオン検出器を備える質量分析計、イオン検出器を操作する方法
WO2007083403A1 (ja) 2006-01-20 2007-07-26 Shimadzu Corporation 四重極型質量分析装置
WO2008129929A1 (ja) 2007-04-13 2008-10-30 Horiba Stec, Co., Ltd. ガス分析計
JP2010177120A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Ulvac Japan Ltd イオン検出器及びこれを備えた四重極型質量分析計並びにファラデーカップ
JP2011216425A (ja) * 2010-04-02 2011-10-27 Shimadzu Corp Ms/ms型質量分析装置
WO2012105087A1 (ja) * 2011-01-31 2012-08-09 株式会社 島津製作所 三連四重極型質量分析装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3041027A4

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018091863A (ja) * 2015-11-17 2018-06-14 アトナープ株式会社 分析装置及びその制御方法
CN108352290A (zh) * 2015-11-17 2018-07-31 Atonarp株式会社 分析装置及其控制方法
CN108352290B (zh) * 2015-11-17 2020-04-03 Atonarp株式会社 分析装置及其控制方法
CN111383903A (zh) * 2015-11-17 2020-07-07 Atonarp株式会社 分析装置及其控制方法
EP3686918A1 (en) 2015-11-17 2020-07-29 Atonarp Inc. Analyzer apparatus and control method
US10847356B2 (en) 2015-11-17 2020-11-24 Atonarp Inc. Analyzer apparatus and control method
US11011360B2 (en) 2015-11-17 2021-05-18 Atonarp Inc. Analyzer apparatus and control method
EP3889996A1 (en) 2015-11-17 2021-10-06 Atonarp Inc. Analyzer apparatus and control method
US11380533B2 (en) 2015-11-17 2022-07-05 Atonarp Inc. Analyzer apparatus and control method
JP2018025535A (ja) * 2016-08-05 2018-02-15 株式会社リコー イオン検出装置、洗浄用空気作成装置及び計測システム

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