WO2015018118A1 - 一种光学测试装置 - Google Patents

一种光学测试装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2015018118A1
WO2015018118A1 PCT/CN2013/084035 CN2013084035W WO2015018118A1 WO 2015018118 A1 WO2015018118 A1 WO 2015018118A1 CN 2013084035 W CN2013084035 W CN 2013084035W WO 2015018118 A1 WO2015018118 A1 WO 2015018118A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light emitting
base
optical testing
disposed
top surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/CN2013/084035
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
宁超
张简圣哲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to US14/370,286 priority Critical patent/US9518819B2/en
Publication of WO2015018118A1 publication Critical patent/WO2015018118A1/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/04—Optical benches therefor

Definitions

  • the present invention relates to optical testing techniques, and more particularly to an optical testing apparatus for testing the optical quality of a backlight module.
  • LEDs light emitting diodes
  • the interval between the light bar and the light guide plate changes after each change of the light bar, and it is difficult to ensure complete accuracy even if the measuring instrument is used to adjust the determination.
  • an embodiment of the present invention provides an optical testing apparatus including a base, a carrying platform, a pitch adjuster, and a plurality of light emitting units.
  • Each of the light emitting units includes a circuit board and a single light emitting element disposed on the circuit board.
  • a sliding slot extends perpendicularly from the top surface of the base in a first direction.
  • the light emitting unit is slidably disposed in the chute.
  • the carrier is slidably disposed on a top surface of the base in a second direction.
  • the spacing adjuster drives the stage in a second direction and adjusts the distance between the stage and the lighting unit on the chute.
  • the first direction is not parallel to the second direction.
  • the slide rail is disposed on the top surface of the base along the second direction.
  • the carrying platform includes parallel bearing surfaces and connecting surfaces.
  • the connecting surface is provided with a slider corresponding to the slide rail.
  • the carrier is slidably coupled to the slide rail by a slider.
  • the pitch adjuster is disposed on a top surface of the base.
  • the pitch adjuster includes a base and a drive rod disposed on the base that expands and contracts in a second direction. The end of the drive rod is coupled to the carrier to drive the carriage to slide.
  • the driving rod is provided with a scale to precisely adjust the sliding distance of the carrying platform.
  • the carrying platform includes a first edge adjacent to the chute and a second edge opposite the first edge.
  • the pitch adjuster is disposed on a side of the base adjacent to the second edge.
  • the end of the drive rod is coupled to the second edge.
  • the pitch adjuster is a micrometer.
  • the sliding slot has a width in a direction perpendicular to a top surface of the base.
  • the light emitting unit slidably disposed on the chute has a certain free path in the width direction of the chute.
  • the height adjuster includes a drive rod that expands and contracts in the width direction of the chute.
  • the end of the driving rod is connected to the light emitting unit to adjust the height position of the light emitting unit in the width direction of the chute.
  • a plurality of spacers having uniform thicknesses are further included, and the distance between each of the light-emitting units is precisely adjusted by inserting spacers between the light-emitting units.
  • the sliding slot is provided with a scale on the sliding slot to precisely adjust the position of the light emitting unit on the sliding slot.
  • the first direction is perpendicular to the second direction.
  • the optical testing device can carry the light guide plate and the optical film by providing a slidable single light-emitting element and a slidably adjustable carrying platform, thereby conveniently changing the coupling distance and the distance of the light-emitting unit during the test. Moreover, the number of light-emitting units can be conveniently increased or decreased, the efficiency of the backlight quality test is greatly improved, and the cost of the test is reduced.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of an optical testing apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic structural view of the chute and the light emitting unit of FIG. 1.
  • the optical testing device 1 includes a base 10 , a carrying platform 12 , a spacing adjuster 14 , and a plurality of light emitting units 16 .
  • Each of the light emitting units 16 includes a circuit board 160 and a single light emitting element 162 disposed on the circuit board 160.
  • the base 10 is along the first side A chute 100 extends perpendicularly to A.
  • the light emitting unit 16 is slidably disposed within the chute 100.
  • the carrier 12 is slidably disposed on the base 10 in a second direction B.
  • the pitch adjuster 14 drives the stage 12 in the second direction B and adjusts the distance between the stage 12 and the lighting unit 16 on the chute 100.
  • the first direction A is not parallel to the second direction B.
  • the light emitting element 162 is a Light Emitting Diode (LED).
  • the first direction A is perpendicular to the second direction B.
  • a slide rail 102 is disposed on the top surface of the base 10 along the second direction B.
  • the carrier 12 includes parallel opposing bearing surfaces 120 and connecting surfaces 122.
  • a slider 124 is disposed on the connecting surface 122 corresponding to the slide rail 102.
  • the carrier 12 is slidably coupled to the slide rail 102 by a slider 124.
  • the carrying platform 12 is a thin flat plate, and the bearing surface 120 and the connecting surface 122 are sequentially disposed along the thickness direction of the loading platform 12.
  • the bearing surface 120 is a flat surface.
  • the pitch adjuster 14 is disposed on the top surface of the base 10.
  • the pitch adjuster 14 includes a base 140 and a drive rod 142 disposed on the base 140 to expand and contract in the second direction B.
  • the end of the drive rod 142 is coupled to the carrier 12 to drive the carriage 12 to slide.
  • the drive lever 142 is provided with a scale to precisely adjust the sliding distance of the stage 12.
  • the carrier 12 includes a first edge 125 adjacent the chute 100 and a second edge 126 opposite the first edge 125.
  • the pitch adjuster 14 is disposed on a side of the base 10 adjacent to the second edge 126.
  • the end of the drive rod 142 is coupled to the second edge 126.
  • the pitch adjuster 14 is a micrometer.
  • the chute 100 has a predetermined width in a direction perpendicular to the top surface of the base 10.
  • the light emitting unit 16 slidably disposed on the chute 100 has a predetermined free path in the width direction of the chute 100.
  • the optical testing device 1 also includes a height adjuster 18.
  • the height adjuster 18 is disposed above the chute 100 in the direction of the top surface of the vertical base 10.
  • the height adjuster 18 includes a drive rod 180 that expands and contracts in the width direction of the chute 100.
  • the end of the driving rod 180 is connected to the light emitting unit 16 to adjust the height of the light emitting unit 16 along the width direction of the chute 100.
  • the optical testing device 1 further includes a plurality of spacers 19 of uniform thickness.
  • each of the light-emitting units 16 is precisely adjusted by inserting the spacers 19 between the light-emitting units 16. It will be appreciated that in other alternative embodiments, the position of the lighting unit 16 on the chute 100 can be precisely adjusted by providing a scale arranged in the first direction A on the chute 100.
  • a light guide plate 2 is placed on the carrying surface 120 of the stage 12 during the test.
  • a multilayer optical film 4 may also be disposed on the upper surface of the light guide plate 2.
  • the light-emitting unit 16 in the sliding groove 100 in the first direction A adjusts the distance between the respective light-emitting units 16 to a predetermined separation distance.
  • the height of each of the light emitting units 16 is adjusted in the width direction of the chute 100 by the height adjuster 18 such that the light emitting surface of the light emitting unit 16 is aligned with the light incident surface of the light guide plate 2.
  • the lighting unit 16 is illuminated to test the backlight quality at such a coupling distance and the spacing of the illumination unit 16. If it is necessary to change the coupling distance and the spacing of the light-emitting unit 16, it is only necessary to adjust the spacing adjuster 14 and slide the light-emitting unit 16 along the sliding slot 100, and the number of the light-emitting units 16 can be conveniently increased or decreased, thereby greatly improving the backlight quality. The efficiency of the test and the cost of the test are reduced.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

一种光学测试装置，包括基座（10）、承载台（12）、间距调节器（14）及多个发光单元（16），每个发光单元（16）包括电路板（160）及设置在电路板（160）上的单颗发光元件（162），所述基座（10）的顶面上沿第一方向垂直延伸出一滑槽（100），所述发光单元（16）可滑动地设置在所述滑槽（100）内，所述承载台（12）沿第二方向可滑动地设置在基座（10）的顶面上，所述间距调节器（14）沿第二方向驱动承载台（12）并调节承载台（12）与滑槽（100）上的发光单元（16）之间的距离，所述第一方向不平行于第二方向。

Description

一种光学测试装置
技术领域
本发明涉及光学测试技术， 尤其涉及一种用于测试背光模组的光学品质的 光学测试装置。
背景技术
现有的液晶显示器大多使用具有多个均匀间隔的发光二极管 (Light Emitting Diode, LED)的灯条作为背光源。为了在确保 LED间隔所导致的亮暗不均满足品 质要求的前提下尽可能地减少所需要 LED的个数及缩短 LED灯条与导光板间 距， 需要制作大量具有不同 LED间距的灯条， 这样会造成较大的测试成本， 而 且不利于找到 LED间隙的最大临界点。 另外每次换灯条后灯条和导光板的间隔 也会变化， 即使再用测量器具去调整确定也艮难保证完全准确。
因此， 需要提供能够解决上述问题的光学测试装置。
发明内容
为了解决上述技术问题， 本发明实施例提供了一种光学测试装置包括基座、 承载台、 间距调节器及多个发光单元。 每个发光单元包括电路板及设置电路板 上的单颗发光元件。 所述基座的顶面上沿第一方向垂直延伸出一滑槽。 所述发 光单元可滑动地设置在所述滑槽内。 所述承载台沿第二方向可滑动地设置在基 座的顶面上。 所述间距调节器沿第二方向驱动承载台并调节承载台与滑槽上的 发光单元之间的距离。 所述第一方向不平行于第二方向。
其中， 所述基座的顶面上沿所述第二方向设置有滑轨。 所述承载台包括平 行相对的承载面及连接面。 所述连接面上对应所述滑轨设置有滑块。 所述承载 台通过滑块滑动连接在所述滑轨上。
其中， 所述间距调节器设置在基座的顶面上。 所述间距调节器包括基台及 设置在基台上沿第二方向伸缩的驱动杆。 所述驱动杆的末端与承载台相连接以 驱动承载台滑动。
其中， 所述驱动杆上设置有刻度以精确调节承载台的滑动距离。
其中， 所述承载台包括靠近滑槽的第一边缘及与第一边缘相对的第二边缘。 所述间距调节器设置在基座上靠近所述第二边缘的一侧。 所述驱动杆的末端连 接至所述第二边缘。 其中， 所述间距调节器为千分尺。
其中， 所述滑槽沿垂直于基座的顶面的方向具有一宽度。 滑动设置在滑槽 上的所述发光单元具有沿滑槽宽度方向的一定自由行程。
其中， 进一步包括一沿垂直基座的顶面的方向设置在所述滑槽的上方的高 度调节器。 所述高度调节器包括一沿滑槽宽度方向伸缩的驱动棒。 所述驱动棒 的末端与发光单元相连接以调节所述发光单元沿滑槽宽度方向的高低位置。
其中， 进一步包括多个厚度一致的间隔片， 通过在发光单元之间插入间隔 片以精确调节每个发光单元之间的距离。
其中， 所述滑槽上沿第一方向设置有刻度以精确调整发光单元在滑槽上的 位置。
其中， 所述第一方向垂直于所述第二方向。
本发明所提供的光学测试装置通过设置可滑动的单颗发光元件及可滑动调 节的承载台以承载导光板及光学膜片， 从而在测试过程中可方便地改变耦光距 离及发光单元间距， 而且可以方便地增减发光单元的个数， 极大地提高了背光 品质测试的效率且降低了测试的成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案， 下面将对实施 例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍， 显而易见地， 下面描述 中的附图仅仅是本发明的一些实施例， 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付 出创造性劳动性的前提下， 还可以根据这些附图获得其他的附图。
图 1是本发明实施例所提供的光学测试装置的结构示意图。
图 2是图 1的滑槽及发光单元的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图， 对本发明实施例中的技术方案进行清 楚、 完整地描述， 显然， 所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例， 而不是 全部的实施例。 基于本发明中的实施例， 本领域普通技术人员在没有作出创造 性劳动前提下所获得的所有其他实施例， 都属于本发明保护的范围。
请一并参阅图 1及图 2所示， 本发明实施例所提供的光学测试装置 1 包括 基座 10、 承载台 12、 间距调节器 14及多个发光单元 16。 每个发光单元 16包括 电路板 160及设置电路板 160上的单颗发光元件 162。 所述基座 10上沿第一方 向 A垂直延伸出一滑槽 100。所述发光单元 16可滑动地设置在所述滑槽 100内。 所述承载台 12沿第二方向 B可滑动地设置在基座 10上。所述间距调节器 14沿 第二方向 B驱动承载台 12并调节承载台 12与滑槽 100上的发光单元 16之间的 距离。 所述第一方向 A不平行于第二方向 B。 在本实施例中， 所述发光元件 162 为发光二极管 (Light Emitting Diode, LED)。 所述第一方向 A垂直于第二方向 B。
所述基座 10的顶面上沿所述第二方向 B设置有滑轨 102。 所述承载台 12 包括平行相对的承载面 120及连接面 122。 所述连接面 122上对应所述滑轨 102 设置有滑块 124。 所述承载台 12通过滑块 124滑动连接在所述滑轨 102上。 在 本实施例中， 所述承载台 12为一薄型平板， 所述承载面 120及连接面 122沿承 载台 12的厚度方向依次设置。 所述承载面 120为一平整表面。
所述间距调节器 14设置在基座 10的顶面上。 所述间距调节器 14包括基台 140及设置在基台 140上沿第二方向 B伸缩的驱动杆 142。所述驱动杆 142的末 端与承载台 12相连接以驱动承载台 12滑动。 所述驱动杆 142上设置有刻度以 精确调节承载台 12的滑动距离。 所述承载台 12包括靠近滑槽 100的第一边缘 125及与第一边缘 125相对的第二边缘 126。在本实施例中， 所述间距调节器 14 设置在基座 10上靠近所述第二边缘 126的一侧。 所述驱动杆 142的末端连接至 所述第二边缘 126。 所述间距调节器 14为千分尺。
所述滑槽 100沿垂直于基座 10的顶面的方向具有一预设宽度。 滑动设置在 滑槽 100上的所述发光单元 16具有沿滑槽 100宽度方向的一预设自由行程。 所 述光学测试装置 1还包括一高度调节器 18。 所述高度调节器 18沿垂直基座 10 的顶面的方向设置在所述滑槽 100的上方。所述高度调节器 18包括一沿滑槽 100 宽度方向伸缩的驱动棒 180。 所述驱动棒 180的末端与发光单元 16相连接以调 节所述发光单元 16沿滑槽 100宽度方向的高低位置。 所述光学测试装置 1还包 括多个厚度一致的间隔片 19。 通过在发光单元 16之间插入间隔片 19以精确调 节每个发光单元 16之间的距离。 可以理解的是， 在其他可替代的实施例中， 还 可以通过在滑槽 100上设置沿第一方向 A排布的刻度来精确调整发光单元 16在 滑槽 100上的位置。
在进行测试时， 将一导光板 2放置在承载台 12的承载面 120上。 所述导光 板 2的上表面上还可以设置多层光学膜片 4。 通过所述间距调节器 14沿第二方 向 B驱动承载台 12以将导光板 2与滑槽 100上的发光单元 16之间的距离调节 至预设的耦光距离。沿第一方向 A滑动滑槽 100内的发光单元 16将各发光单元 16之间的距离调节至预设的间隔距离。通过高度调节器 18沿滑槽 100宽度方向 调节各发光单元 16的高低以使得发光单元 16的出光面对准导光板 2的入光面。 最后， 点亮发光单元 16测试在此种耦光距离及发光单元 16间距下的背光品质。 如需要改变耦光距离及发光单元 16间距只需要再调节间距调节器 14及沿滑槽 100滑动发光单元 16即可， 而且可以方便地增减发光单元 16的个数， 极大地提 高了背光品质测试的效率且降低了测试的成本。
以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已， 当然不能以此来限定本发 明之权利范围， 因此依本发明权利要求所作的等同变化， 仍属本发明所涵盖的 范围。

Claims

权 利 要 求 书
1. 一种光学测试装置， 包括基座、 承载台、 间距调节器及多个发光单元， 每个发光单元包括电路板及设置电路板上的单颗发光元件， 所述基座的顶面上 沿第一方向垂直延伸出一滑槽， 所述发光单元可滑动地设置在所述滑槽内， 所 述承载台沿第二方向可滑动地设置在基座的顶面上， 所述间距调节器沿第二方 向驱动承载台并调节承载台与滑槽上的发光单元之间的距离， 所述第一方向不 平行于第二方向。
2. 如权利要求 1所述的光学测试装置， 其中， 所述基座的顶面上沿所述第 二方向设置有滑轨， 所述承载台包括平行相对的承载面及连接面， 所述连接面 上对应所述滑轨设置有滑块， 所述承载台通过滑块滑动连接在所述滑轨上。
3. 如权利要求 1所述的光学测试装置， 其中， 所述间距调节器设置在基座 的顶面上， 所述间距调节器包括基台及设置在基台上沿第二方向伸缩的驱动杆， 所述驱动杆的末端与承载台相连接以驱动承载台滑动。
4. 如权利要求 3所述的光学测试装置， 其中， 所述驱动杆上设置有刻度以 精确调节承载台的滑动距离。
5. 如权利要求 3所述的光学测试装置， 其中， 所述承载台包括靠近滑槽的 第一边缘及与第一边缘相对的第二边缘， 所述间距调节器设置在基座上靠近所 述第二边缘的一侧， 所述驱动杆的末端连接至所述第二边缘。
6. 如权利要求 1所述的光学测试装置， 其中， 所述间距调节器为千分尺。
7. 如权利要求 1所述的光学测试装置， 其中， 所述滑槽沿垂直于基座的顶 面的方向具有一宽度， 滑动设置在滑槽上的所述发光单元具有沿滑槽宽度方向 的一定自由行程。
8. 如权利要求 7所述的光学测试装置， 其中， 进一步包括一沿垂直基座的 顶面的方向设置在所述滑槽的上方的高度调节器， 所述高度调节器包括一沿滑 槽宽度方向伸缩的驱动棒， 所述驱动棒的末端与发光单元相连接以调节所述发 光单元沿滑槽宽度方向的高低位置。
9. 如权利要求 1所述的光学测试装置， 其中， 进一步包括多个厚度一致的 间隔片， 通过在发光单元之间插入间隔片以精确调节每个发光单元之间的距离。
10. 如权利要求 1所述的光学测试装置， 其中， 所述滑槽上沿第一方向设置 有刻度以精确调整发光单元在滑槽上的位置。
11.如权利要求 1所述的光学测试装置， 其中， 所述第一方向垂直于所述第
PCT/CN2013/084035 2013-08-08 2013-09-23 一种光学测试装置 Ceased WO2015018118A1 (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/370,286 US9518819B2 (en) 2013-08-08 2013-09-23 Optical testing device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310344122.8 2013-08-08
CN201310344122.8A CN103411755B (zh) 2013-08-08 2013-08-08 一种光学测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2015018118A1 true WO2015018118A1 (zh) 2015-02-12

Family

ID=49604782

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CN2013/084035 Ceased WO2015018118A1 (zh) 2013-08-08 2013-09-23 一种光学测试装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9518819B2 (zh)
CN (1) CN103411755B (zh)
WO (1) WO2015018118A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113252312A (zh) * 2021-05-12 2021-08-13 四川京龙光电科技有限公司 无光源背光自动流线测试光箱

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104676368B (zh) * 2013-12-02 2017-04-12 苏州璨宇光学有限公司 背光模组及测试方法
CN103675715B (zh) * 2013-12-06 2016-06-29 深圳市清华环科检测技术有限公司 照明系统节能测试模块
CN103698918A (zh) * 2013-12-30 2014-04-02 京东方科技集团股份有限公司 直下式背光模组测试装置
CN106291403A (zh) * 2016-08-31 2017-01-04 昆山明创电子科技有限公司 一种led老化测试仪
CN109884556B (zh) * 2019-02-01 2021-10-15 惠州市炬能量电子科技有限公司 Led灯条背光点亮测试装置
CN116380237A (zh) * 2021-12-23 2023-07-04 晋城三赢精密电子有限公司 测试装置
CN116007749B (zh) * 2022-12-16 2025-11-14 苏州富晶微精密电子科技有限公司 一种亮度检测装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201093353Y (zh) * 2007-08-17 2008-07-30 比亚迪股份有限公司 一种测试导光板用光源装置
CN101776517A (zh) * 2010-01-18 2010-07-14 友达光电股份有限公司 一种可调整光源间距的测试装置
CN102322601A (zh) * 2011-10-12 2012-01-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种led背光模组及液晶显示装置
CN202329991U (zh) * 2011-11-18 2012-07-11 四川长虹光电有限公司 导光板参数测试工装
CN202351018U (zh) * 2011-11-15 2012-07-25 四川长虹电器股份有限公司 导光板光学参数测试工装
CN102628568A (zh) * 2012-03-28 2012-08-08 达运精密工业（苏州）有限公司 光源组件及背光模组
CN202702089U (zh) * 2012-08-13 2013-01-30 北京京东方光电科技有限公司 一种组装背光源的模具
CN103017031A (zh) * 2012-12-05 2013-04-03 京东方科技集团股份有限公司 发光装置、背光模组及显示装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3225202A (en) * 1964-05-26 1965-12-21 Morgan Construction Co Mounting means for transducers
CN100371702C (zh) * 2004-03-20 2008-02-27 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 背光模组检测装置
KR20060042647A (ko) * 2004-11-10 2006-05-15 삼성전자주식회사 백라이트 어셈블리, 이의 제조 방법 및 이를 갖는액정표시장치
CN102607804B (zh) * 2011-01-25 2014-12-31 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 夹持组件及应用该夹持组件的背光模组测试装置
CN202631227U (zh) * 2012-03-31 2012-12-26 上海太阳能电池研究与发展中心 背光源光学参数在线检测装置
CN202793745U (zh) * 2012-09-03 2013-03-13 京东方科技集团股份有限公司 背光模拟治具
CN103062718B (zh) * 2012-12-14 2015-02-25 京东方科技集团股份有限公司 一种背光源的光学模拟装置
CN203084370U (zh) * 2013-03-05 2013-07-24 北京京东方光电科技有限公司 一种光学数据映射设备
CN103217436B (zh) * 2013-03-06 2015-05-20 京东方科技集团股份有限公司 一种背光模组瑕疵的检测方法及设备

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201093353Y (zh) * 2007-08-17 2008-07-30 比亚迪股份有限公司 一种测试导光板用光源装置
CN101776517A (zh) * 2010-01-18 2010-07-14 友达光电股份有限公司 一种可调整光源间距的测试装置
CN102322601A (zh) * 2011-10-12 2012-01-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种led背光模组及液晶显示装置
CN202351018U (zh) * 2011-11-15 2012-07-25 四川长虹电器股份有限公司 导光板光学参数测试工装
CN202329991U (zh) * 2011-11-18 2012-07-11 四川长虹光电有限公司 导光板参数测试工装
CN102628568A (zh) * 2012-03-28 2012-08-08 达运精密工业（苏州）有限公司 光源组件及背光模组
CN202702089U (zh) * 2012-08-13 2013-01-30 北京京东方光电科技有限公司 一种组装背光源的模具
CN103017031A (zh) * 2012-12-05 2013-04-03 京东方科技集团股份有限公司 发光装置、背光模组及显示装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113252312A (zh) * 2021-05-12 2021-08-13 四川京龙光电科技有限公司 无光源背光自动流线测试光箱

Also Published As

Publication number Publication date
US20160153770A1 (en) 2016-06-02
CN103411755A (zh) 2013-11-27
CN103411755B (zh) 2015-11-11
US9518819B2 (en) 2016-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2015018118A1 (zh) 一种光学测试装置
US9740033B2 (en) Test apparatus of a direct-light-type backlight module
CN203551904U (zh) 背光模组测试治具
EP2698625B1 (en) A device and a method for detecting a transmittance spectrum of a light guiding plate
US10107955B2 (en) Display backlight module having double-side adhesive blocks
TWI457552B (zh) 可撓性光學測定用工具
CN202793745U (zh) 背光模拟治具
EP2378325A3 (en) Image display apparatus and backlight apparatus used therefor
CN204154473U (zh) 一种lens偏芯检查装置
CN203732240U (zh) 一种测试治具
CN107238793A (zh) 指纹模组自动测试装置
CN207570447U (zh) 尺寸检测装置
CN203299135U (zh) 一种电路板检测装置
CN104035221A (zh) 背光源模拟治具
CN102798593B (zh) 一种光学测试系统
CN106352752A (zh) 止通规自动检测装置
CN1655019A (zh) 液晶显示模块组装装置
CN107909951A (zh) 一种面板测试装置
CN203298076U (zh) 超薄型背光模组
CN205079119U (zh) 一种侧入式背光模组及显示装置
CN219777514U (zh) 背板检测装置
CN218496375U (zh) 一种用于舞台灯的光路测试装置
CN110308584B (zh) 一种超薄满天星背光方法
CN201199194Y (zh) 一种led分光测量器
CN215910751U (zh) 一种显示屏点灯治具

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 14370286

Country of ref document: US

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 13891206

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 13891206

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1