CN104676368B - 背光模组及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种背光模组及测试方法，该背光模组包括一导光板、一光源组件及至少一测试模组。导光板具有一入光面。光源组件包括一基板及至少一发光元件。发光元件配置于基板上且朝向入光面。测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极。导电片配置于入光面上。第一及第二电极配置于基板上且对位于导电片。第一电极电连接于发光元件，第二电极适于电连接于一电源端。当第一及第二电极皆接触导电片时，发光元件与入光面之间的距离等于预定间距，且发光元件适于通过第一电极、导电片及第二电极而电连接于电源端并发光。

Description

背光模组及测试方法

技术领域

本发明是有关于一种背光模组及测试方法，且特别是有关于一种包括测试模组的背光模组及适用于此背光模组的测试方法。

背景技术

近年来，随着科技产业日益发达，数字化工具例如光学扫描器(opticalscanner)、智能型手机(smart phone)、数字相机(digital camera)、笔记本电脑(notebook)以及平板电脑(tablet PC)等产品的使用越来越普遍，并朝着便利、多功能且美观的设计方向进行发展，以提供使用者更多的选择。当使用者对数字产品的需求日渐提升，在这些产品中所使用的背光模组也成为设计改良的重点。

以侧入式背光模组而言，其例如是通过发光二极管(light emitting diode，LED)发光元件与基板所组成的灯条(light bar)作为光源组件，所述光源组件邻近导光板的入光面，使发光二极管发光元件发出的光线从导光板的入光面进入导光板。一般来说，发光二极管发光元件与导光板的入光面之间的距离必须符合预定间距，才能使背光模组具有良好的出光效率。然而，制造与组装公差可能会使发光二极管发光元件与导光板的入光面之间的距离不符合预定间距，因而影响背光模组的出光品质。已知利用定位件定位导光板与发光元件，但是因为能使背光模组具有良好出光效率的预定间距极小，因此容易在组装时因摩擦而产生细屑，造成难以排除的暗点，或是因施力过大或碰撞导致导光板或发光元件损坏。总之，组装背光模组时，仅凭肉眼难以精确地确认发光元件是否组装至定位，因此不是间距过大而影响出光品质，便是间距过小而导致元件损坏。目前并未有便宜简便而又精确的方式能检测导光板与发光元件的定位而提高背光模组的品质。

发明内容

本发明提供一种背光模组，可确保其发光元件与导光板的入光面之间的距离符合预定间距。

本发明提供一种测试方法，可确保背光模组的发光元件与导光板的入光面之间的距离符合预定间距。

本发明的背光模组包括一导光板、一光源组件及至少一测试模组。导光板具有一入光面。光源组件包括一基板及至少一发光元件，其中发光元件配置于基板上且朝向入光面。测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极。导电片配置于入光面上。第一电极及第二电极配置于基板上且对位于导电片，其中第一电极电连接于发光元件，第二电极适于电连接于一电源端。当第一电极及第二电极皆接触导电片时，发光元件与入光面之间的距离等于一预定间距，且发光元件适于通过第一电极、导电片及第二电极而电连接于电源端并发光。

本发明的测试方法适用于一背光模组，背光模组包括一导光板及一光源组件，导光板具有一入光面，光源组件包括一基板及至少一发光元件，发光元件配置于基板上且朝向入光面。测试方法包括以下步骤。提供至少一测试模组，其中测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极，导电片配置于入光面上，第一电极及第二电极配置于基板上且对位于导电片，第一电极电连接于发光元件。将第二电极电连接于一电源端并观察发光元件是否发光。若发光元件发光，则判断第一电极及第二电极皆接触导电片且发光元件与入光面之间的距离等于一预定间距。若发光元件不发光，则判断第一电极及第二电极的至少其中之一未接触导电片且发光元件与入光面之间的距离不等于预定间距。

基于上述，在本发明的背光模组中，导电片配置于导光板的入光面，第一电极及第二电极配置于光源组件的基板上并对位于导电片，且光源组件的发光元件适于通过第一电极、导电片及第二电极而电连接于电源端，因此可经由观察发光元件是否发光而得知第一电极及第二电极是否皆接触导电片。若第一电极及第二电极皆接触导电片而使发光元件接收来自电源端的电力并发光，则代表发光元件与导光板的入光面之间的距离符合预定间距，反之则否。据此，可以极低的成本而达成快速并确实地检测导光板及光源组件是否正确地组装而具有适当间距，以确保背光模组具有良好的 出光品质。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1a是本发明一实施例的背光模组的局部示意图。

图1b是本发明另一实施例的背光模组的局部示意图。

图2a是图1a的发光元件电连接于电源端的示意图。

图2b是本发明又一实施例背光模组的发光元件电连接于电源端的示意图。

图2c是图1b的发光元件电连接于电源端的示意图。

图2d是本发明再一实施例背光模组的发光元件电连接于电源端的示意图。

图3示出图2b的第一开关导通且该第二开关断开。

图4是本发明一实施例的测试方法的流程图。

具体实施方式

图1a是本发明一实施例的背光模组的局部示意图。请参考图1a，本实施例的背光模组100包括一导光板110、一光源组件120及一第一测试模组130。导光板110具有一入光面110a，光源组件120包括一基板122及至少一发光元件124(示出为多个)，其中发光元件124例如为发光二极管发光元件且配置于基板122上并朝向导光板110的入光面110a。第一测试模组130包括一导电片132、一第一电极134及一第二电极136。导电片132配置于导光板110的入光面110a上，第一电极134及第二电极136配置于基板122上并对位于导电片132。本说明书与权利要求书中提到的“对位”的具体含义是指两物件面对面设置，例如上述“第一电极134及第二电极136配置于基板122上并对位于导电片132”，参见图1a可知，第一电极134及第二电极136面对导电片132而设置。

图2a是图1a的发光元件电连接于电源端的示意图。请参考图2a，第一电极134电连接于发光元件124的阳极124a，第二电极136电连接于一 电源端50的正极50a，发光元件124的阴极124b电连接于电源端50的负极50b。

请参考图1a，在本实施例中，第一测试模组130邻近于入光面110a的一端，发光元件124位于入光面110a的两端之间。第一电极134沿垂直入光面110a的一方向D的厚度T1等于第二电极136沿方向D的厚度T2，且第一电极134沿方向D的厚度T1与导电片132沿方向D的厚度T3的总和等于发光元件124沿方向D的厚度T4与一预定间距G的总和。当第一电极134及第二电极136如图1a所示皆接触导电片132时，发光元件124与导光板110的入光面110a之间的距离等于上述预定间距G，且发光元件124适于通过第一电极134、导电片132及第二电极136而电连接于图2a所示的电源端50并发光。

如此一来，可经由观察发光元件124是否发光而得知第一电极134及第二电极136是否皆接触导电片132。若第一电极134及第二电极136皆接触导电片132而使发光元件124接收来自电源端50的电力并发光，则代表发光元件124与导光板110的入光面110a之间的距离符合预定间距G，反之则否。据此，可快速并确实地检测导光板110及光源组件120是否正确地组装而具有适当间距，避免间隙过大或入射方向倾斜，同时也可避免组装背光模组时施力过大而造成导光板110或发光元件124损坏，以确保背光模组100具有良好的出光品质。

请参考图2b，在另一实施例中背光模组100a的第一测试模组130a还包括第一开关140及第二开关150。发光元件124的阳极124a电连接于第一开关140的一端，电源端50的正极50a电连接于第一开关140的另一端。发光元件124的阴极124b电连接于电源端50的负极50b。第二电极136电连接于第二开关150的一端，电源端50的正极50a电连接于第二开关150的另一端。

当欲利用第一测试模组130a对背光模组100a进行上述测试时，可如图2b所示让第一开关140断开并让第二开关150导通。此时发光元件124适于通过第一电极134、导电片132、第二电极136及第二开关150而电连接于电源端50，以便于经由观察发光元件124是否发光而得知第一电极134及第二电极136是否皆接触导电片132。

承上，若在第一开关140断开且第二开关150导通的情况下观察到发光元件124未发光，则代表第一电极134及第二电极136的至少其中之一未接触导电片132，导光板110及光源组件120并未正确地组装而不具有适当间距。此时可对导光板110及光源组件120的组装进行微调整，直到第一电极134及第二电极136皆确实地接触导电片132。

反之，若在第一开关140断开且第二开关150导通的情况下观察到发光元件124发光，则代表第一电极134及第二电极136皆接触导电片132，且导光板110及光源组件120正确地组装而具有适当间距。此时结束测试并如图3所示让第一开关140导通且让第二开关150断开，以使发光元件124通过第一开关140电连接于电源端50，而非通过第一电极134、导电片132、第二电极136及第二开关150电连接于电源端50。如此可避免发光元件124在正常工作过程中因第一电极134或第二电极136非预期地分离于导电片132而失效。

请参考图1b及图2c，在本发明的另一实施例中，背光模组100’除了包含背光模组100的所有元件之外，还包括一第二测试模组130’。第二测试模组130’包括一导电片132’、一第一电极134’及一第二电极136’。导电片132’配置于导光板110的入光面110a上，第一电极134’及第二电极136’配置于基板122上并对位于导电片132’。第一测试模组130与第二测试模组130’分别设置于邻近于入光面110a的两端，发光元件124位于第一测试模组130与第二测试模组130’之间。如此一来，可经由观察发光元件124是否发光而得知第一电极134及第二电极136是否皆接触导电片132，以及第一电极134’及第二电极136’是否皆接触导电片132’。据此，除可快速并确实地检测导光板110及光源组件120是否正确地组装而具有适当间距，并可提高导光板110与光源组件120定位的精确度。

请参考图2d，在另一实施例中背光模组100a’除了包括背光模组100’的所有元件之外，其第一测试模组130a还包括第一开关140及第二开关150,其第二测试模组130b还包括第一开关140’及第二开关150’。发光元件124的阳极124a电连接于第一开关140的一端，电源端50的正极50a电连接于第一开关140的另一端。发光元件124的阴极124b电连接于第一开关140’的一端，电源端50的负极50b连接于第一开关140’的另一端。第二电极136 电连接于第二开关150的一端，电源端50的正极50a电连接于第二开关150的另一端，第二电极136’电连接于第二开关150’的一端，电源端50的负极50b电连接于第二开关150’的另一端。

当欲利用第一测试模组130a及第二测试模组130b对背光模组100a’进行测试时，可如图2d所示让第一开关140、140’断开并让第二开关150、150’导通。此时发光元件124通过第一电极134、导电片132、第二电极136及第二开关150而电连接于电源端50的正极50a，发光元件124通过第一电极134’、导电片132’、第二电极136’及第二开关150’而电连接于电源端50的负极50b，以便于经由观察发光元件124是否发光而得知第一电极134、134’及第二电极136、136’是否皆接触导电片132。其他的操作与效果，类似于上述的实施例，于此不再赘述。

以下以图1a及图2a所示的背光模组及其测试模组为例，说明本发明的一测试方法。图4是本发明一实施例的测试方法的流程图。请参考图1a、图2a及图4，首先，提供一第一测试模组130，其中第一测试模组130包括一导电片132、一第一电极134及一第二电极136，导电片132配置于入光面110a上，第一电极134及第二电极136配置于基板122上且对位于导电片132，第一电极134电连接于发光元件124(步骤S602)。接着，将第二电极136电连接于一电源端50并观察发光元件124是否发光(步骤S604)。若发光元件124发光，则判断第一电极134及第二电极136皆接触导电片132且发光元件124与入光面110a之间的距离等于一预定间距G(步骤S606)。若发光元件124不发光，则判断第一电极134及第二电极136的至少其中之一未接触导电片132且发光元件124与入光面110a之间的距离不等于预定间距G(步骤S608)。

此外，以测试背光模组100a为例，上述测试方法还包括提供图2b及图3所示的第一开关140及第二开关150，且步骤S604中之将第二电极136电连接于电源端50的方式例如为导通第二开关150且断开第一开关140。另外，若发光元件124如步骤S606所述发光，则在进行上述步骤S606之后可导通第一开关140且断开该第二开关150，使发光元件124改为通过第一开关140电连接于电源端50而从测试状态转换为正常工作状态。测试其他背光模组100’及100a’的操作与效果，类似于上述的实施例，于此不再赘 述。

综上所述，在本发明的背光模组中，导电片配置于导光板的入光面，第一电极及第二电极配置于光源组件的基板上并对位于导电片，且光源组件的发光元件适于通过第一电极、导电片及第二电极而电连接于电源端，因此可经由观察发光元件是否发光而得知第一电极及第二电极是否皆接触导电片。若第一电极及第二电极皆接触导电片而使发光元件接收来自电源端的电力并发光，则代表发光元件与导光板的入光面之间的距离符合预定间距，反之则否。据此，可以极低的成本而达成快速并确实地检测导光板及光源组件是否正确地组装而具有适当间距，以确保背光模组具有良好的出光品质。此外，可在发光元件与电源端之间设置第一开关并在第二电极与电源端之间设置第二开关，其中当第一开关断开且第二开关导通时，发光元件适于通过第一电极、导电片、第二电极及第二开关而电连接于电源端，以便于经由观察发光元件是否发光而得知第一电极及第二电极是否皆接触导电片。在判断导光板及光源组件正确地组装而具有适当间距并结束测试之后，可让第一开关导通且让第二开关断开，以使发光元件通过第一开关电连接于电源端，而非通过第一电极、导电片、第二电极及第二开关电连接于电源端。如此可避免发光元件在正常工作过程中因第一电极或第二电极非预期地分离于导电片而失效。

虽然本发明已以实施例揭露如上，但是其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有公常知识的人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作部分的改动与润饰，所以本发明的保护范围当视后附的权利要求界定者为准。

【符号说明】

50：电源端

50a：正极

50b：负极

100、100’、100a、100a’：背光模组

110：导光板

110a：入光面

120：光源组件

122：基板

124：发光元件

124a：阳极

124b：阴极

130、130’、130a、130b：测试模组

132、132’：导电片

134、134’：第一电极

136、136’：第二电极

140、140’：第一开关

150、150’：第二开关

D：方向

G：预定间距

T1、T2、T3、T4：厚度。

Claims (11)

1.一种背光模组，包括具有一入光面的一导光板、一光源组件以及一第一测试模组，

光源组件包括一基板及至少一发光元件，其中该发光元件配置于该基板上且朝向该入光面，

该第一测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极，

该导电片配置于该入光面上，

该第一电极及该第二电极配置于该基板上且对位于该导电片，其中该第一电极电连接于该发光元件，该第二电极适于电连接于一电源端，当该第一电极及该第二电极皆接触该导电片时，该发光元件与该入光面之间的距离等于一预定间距，且该发光元件适于通过该第一电极、该导电片及该第二电极而电连接于该电源端并发光。

2.如权利要求1所述的背光模组，其特征在于，该第一电极沿垂直该入光面的一方向的厚度等于该第二电极沿该方向的厚度。

3.如权利要求2所述的背光模组，其特征在于，该第一电极沿该方向的厚度与该导电片沿该方向的厚度的总和等于该发光元件沿该方向的厚度与该预定间距的总和。

4.如权利要求1所述的背光模组，其特征在于，第一测试模组还包括一第一开关及一第二开关，其中该发光元件电连接于该第一开关的一端，该电源端电连接于该第一开关的另一端，该第二电极电连接于该第二开关的一端，该电源端电连接于该第二开关的另一端，当该第一开关导通且该第二开关断开时，该发光元件通过该第一开关而电连接于该电源端，当该第一开关断开且该第二开关导通时，该发光元件通过该第一电极、该导电片、该第二电极及该第二开关而电连接于该电源端。

5.如权利要求1所述的背光模组，其特征在于，还包括一第二测试模组，该第二测试模组包括一导电片、一第三电极、一第四电极、一第三开关及一第四开关，该第一测试模组的该第一电极电连接于该发光元件的阳极，该第二测试模组的该第三电极电连接于该发光元件的阴极，该第一测试模组的该第二电极电连接于该电源端的正极，该第二测试模组的该第四电极电连接于该电源端的负极，其中该第二测试模组的导电片配置于该入光面上，该第三电极及该第四电极配置于该基板上且对位于该第二测试模组的导电片，其中该第三电极电连接于该发光元件，该第四电极适于电连接于一电源端，该发光元件电连接于该第三开关的一端，该电源端电连接于该第三开关的另一端，该第三电极电连接于该第四开关的一端，该电源端电连接于该第四开关的另一端。

6.如权利要求5所述的背光模组，其特征在于，该第一测试模组与该第二测试模组分别邻近于该入光面的相对两端，该发光元件位于该第一测试模组与该第二测试模组之间。

7.一种测试方法，适用于一背光模组，该背光模组包括一导光板及一光源组件，该导光板具有一入光面，该光源组件包括一基板及至少一发光元件，该发光元件配置于该基板上且朝向该入光面，该测试方法包括：

提供一第一测试模组，其中该第一测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极，该导电片配置于该入光面上，该第一电极及该第二电极配置于该基板上且对位于该导电片，该第一电极电连接于该发光元件；

将该第二电极电连接于一电源端并观察该发光元件是否发光；

若该发光元件发光，则判断该第一电极及该第二电极皆接触该导电片且该发光元件与该入光面之间的距离等于一预定间距；以及

若该发光元件不发光，则判断该第一电极及该第二电极的至少其中之一未接触该导电片且该发光元件与该入光面之间的距离不等于该预定间距。

8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，提供一第一测试模组的步骤还包括：

提供一第一开关及一第二开关，其中该发光元件电连接于该第一开关的一端，该电源端电连接于该第一开关的另一端，该第二电极电连接于该第二开关的一端，该电源端电连接于该第二开关的另一端。

9.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，将该第二电极电连接于该电源端的步骤包括：

导通该第二开关且断开该第一开关。

10.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，还包括：

若该发光元件发光，则导通该第一开关且断开该第二开关。

11.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，还包括：

提供一第二测试模组，该第二测试模组包括一导电片、一第三电极、一第四电极、一第三开关及一第四开关，其中该第一测试模组的该第一电极电连接于该发光元件的阳极，该第二测试模组的该第三电极电连接于该发光元件的阴极，该第一测试模组的该第二电极电连接于该电源端的正极，该第二测试模组的该第四电极电连接于该电源端的负极，其中该第二测试模组的导电片配置于该入光面上，该第三电极及该第四电极配置于该基板上且对位于该第二测试模组的导电片，其中该第三电极电连接于该发光元件，该第四电极适于电连接于一电源端，该发光元件电连接于该第三开关的一端，该电源端电连接于该第三开关的另一端，该第三电极电连接于该第四开关的一端，该电源端电连接于该第四开关的另一端。