WO2014169516A1 - 一种检测装置及检测方法 - Google Patents

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Definitions

  • the present invention relates to a detecting device and a detecting method which are suitable for detecting a liquid crystal panel. Background technique
  • the detection method of the prior art has a low defect recognition rate for the liquid crystal panel, is prone to false detection, and has low detection efficiency.
  • the invention provides a detecting device and a detecting method, which improve the defect recognition rate and the detecting efficiency of the liquid crystal panel.
  • a detecting apparatus including:
  • An image acquisition module that collects image information of the liquid crystal panel to be tested.
  • An image processing module that is coupled to the image acquisition module, wherein the image processing module compares the received image information with a defect database to determine a defect level of the liquid crystal panel to be tested.
  • the detecting device further includes:
  • a housing the housing enclosing a detection chamber
  • bracket located in the detection chamber and slidable relative to the machine, and the bracket is parallel to a support surface of the machine, and the image acquisition module is slidably mounted on the bracket.
  • the image acquisition module includes: a first camera tube for collecting bad image information caused by foreign objects and/or bubbles, and a second image for collecting foreign object position image information.
  • a second camera tube for collecting bad image information caused by foreign objects and/or bubbles
  • a third camera tube for collecting color difference image information caused by a box thickness of the liquid crystal panel to be tested
  • a fourth camera tube for collecting the orientation film damage image information of the liquid crystal panel to be tested
  • a fifth camera tube for aligning condition image information of two substrates in the liquid crystal panel, wherein the first camera tube, the second camera tube, the third camera tube, the fourth camera tube, and the The collection angle between the five camera tubes and the support surface of the machine is adjustable.
  • the first camera tube is an infrared camera tube
  • the second camera tube, the third camera tube, the fourth camera tube, and the fifth camera tube are all charged.
  • Coupling component lens is an infrared camera tube
  • the opposite sides of the machine have mounting shafts respectively, and the axis of each of the mounting shafts is parallel to the bracket, and the machine passes through each of the mounting shafts. Rotating mounted to the housing.
  • the opposite sides of the housing are respectively provided with a first sliding slot and a second sliding slot, and the first sliding slot and the second sliding slot are parallel to each other, the bracket One end is in sliding engagement with the first sliding slot, and the other end is in interaction with the second sliding slot.
  • the support surface of the machine is provided with an alignment probe for fixing the liquid crystal panel to be tested.
  • the detecting device further includes an illumination mechanism, and the illumination mechanism is disposed to illuminate the liquid crystal panel to be detected in the machine.
  • the detection chamber is provided with an optical sensor for collecting signals generated when a human hand or other object enters the detection chamber.
  • the image processing module includes:
  • An infrared image sensor that receives image information collected by the image acquisition module and converts the image information into an electrical signal
  • An image recognizer coupled to the infrared image sensor signal for analyzing and comparing the electrical signal
  • a detection method including:
  • the acquiring the image information of the liquid crystal panel to be tested includes: collecting, by using the first camera tube, the bad image information caused by the foreign matter and/or the air bubble of the liquid crystal panel to be measured;
  • the comparing the received image information with the defect database and determining the defect level of the liquid crystal panel to be tested comprises at least one of the following:
  • the bubble is a large bubble; if the diameter of the bubble is less than 8 mm, the bubble is a small bubble;
  • the acquisition angle of the second camera tube and the liquid crystal panel to be tested if the image of the foreign object does not move, the foreign object is located in the liquid crystal panel to be tested; if the image of the foreign object moves, the foreign object is located outside the liquid crystal panel to be tested If the black matrix blocks the image of the foreign object, the foreign matter is located outside the color filter substrate of the liquid crystal panel; if the image of the foreign matter bubble covers the black matrix, the foreign matter is located outside the array substrate of the liquid crystal panel;
  • the offset is calculated by the calculation module.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of a principle of a detecting apparatus according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a schematic structural diagram of a detecting apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a structural diagram of an image acquisition module in a detection apparatus according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 4 is a schematic diagram of an image processing module in a detection apparatus according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 5 is a flowchart of a detection method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic diagram of a foreign object position image in a defect database
  • FIG. 7A is a schematic diagram of a first orientation film damage image in a defect database
  • FIG. 7B is a schematic diagram of a second orientation film damage image in the defect database
  • Fig. 7C is a schematic diagram of a third orientation film damage image in the defect database. detailed description
  • FIG. 1 A schematic diagram of a detecting device according to an embodiment of the present invention is shown in FIG. 1.
  • the detecting device includes:
  • An image acquisition module 21 for collecting image information of the liquid crystal panel 1 to be tested
  • the image processing module 22 is connected to the image acquisition module 22, and the image processing module 22 compares the received image information with the defect database to determine the defect level of the liquid crystal panel 1 to be tested.
  • Machine vision defect detection is based on the comparison and matching of the defect library to determine whether the defect exceeds the requirement. Therefore, the defect detection needs to build a defect library of the detected object, and judge whether the human eye is qualified by quickly comparing the physical object and the defect library. .
  • Defect detection requires as large an optical field of view as possible, and the minimum defect that can be resolved reaches the limit resolution standard (since the limit resolution of the human eye is 0.1 mm, the defect inspection generally only needs to pick out defects greater than 0.1 mm. , even a few millimeters of defect characteristics).
  • the machine vision inspection system is based on high-resolution industrial cameras and vision software for visual inspection, dimensional measurement, angle measurement, character recognition and more.
  • the detecting device provided by the embodiment of the invention is a defect detecting system based on machine vision technology, which realizes non-contact detecting and measuring, has high accuracy, wide optical speech response range, can work stably for a long time, and saves a large labor force. Resources have greatly improved work efficiency. Defects such as spots, pits, scratches, chromatic aberrations, defects, etc. on the surface of the part to be inspected can be detected.
  • the image capturing module 21 can collect image information at any position of the liquid crystal panel 1 to be tested, and the image processing module 22 collects the image information and the defect database collected by the image capturing module 21 . The comparison is made to determine the defect level of the liquid crystal panel 1 to be tested.
  • the detecting device provided by the embodiment of the invention avoids the problems of low defect recognition rate, prone to false detection, and low detection efficiency when the artificial liquid crystal panel is mentioned in the background art.
  • the defect recognition rate and the detection efficiency of the liquid crystal panel are improved.
  • the structural schematic diagram of the above detecting device is as shown in FIG. 2, and further includes: a housing 3, and the housing 3 encloses a detection chamber;
  • the bracket 2 is located in the detecting chamber and is slidable relative to the machine table 4, and the bracket 2 is parallel to the supporting surface of the machine table 4, and the image capturing module 21 is slidably mounted on the bracket 2.
  • the liquid crystal panel 1 to be tested is placed on the machine table 4 of the detecting chamber. Since the bracket 2 can slide relative to the machine table 4, the image capturing module 21 can slide along the bracket 2, so the image is collected.
  • the module 21 can collect image information at any position of the liquid crystal panel 1 to be tested, and the image processing module 22 compares the image information collected by the received image acquisition module 21 with the defect database, thereby determining the defect of the liquid crystal panel 1 to be tested. grade.
  • the housing 3 is a housing of transparent material for the operator to observe the operation of the test chamber.
  • the image acquisition module includes: a first camera tube 211 for collecting bad image information caused by foreign objects and/or air bubbles, and image information for collecting foreign object position information.
  • the first camera tube 211 is an infrared camera tube
  • the second camera tube 212, the third camera tube 213, the fourth camera tube 214, and the fifth camera tube 215 are all charge coupled device lenses (CCD, charge-coupled device).
  • CCD charge coupled device lenses
  • protected CCD is a semiconductor device that converts optical images into digital signals.
  • the first camera tube when detecting whether there is a foreign matter and/or a bubble in the liquid crystal panel to be tested, the first camera tube (infrared camera tube) can determine whether there is a foreign object or a bubble according to the infrared sensing signal respectively emitted by the foreign object or the bubble.
  • the production is generally caused by the sealing effect of the sealant coating applied around the liquid crystal panel to be tested, so that the outside air enters the liquid crystal panel.
  • the color difference caused by the thickness of the cell is mainly due to the uneven thickness of the liquid crystal cell. In the pre-order process, the unevenness of the surface of the liquid crystal cell is pierced by the alignment probe, so that the color displayed on the liquid crystal panel has a color difference.
  • the orientation film damage means that when the liquid crystal panel to be tested is oriented by the orientation roller, there may be impurities between the hairs of the orientation cloth on the orientation roller, and the foreign matter may scratch the alignment film.
  • the image processing module includes:
  • An infrared image sensor 221 that receives image information collected by the image acquisition module and converts the image information into an electrical signal
  • An image recognizer 222 that is connected to the infrared image sensor 221 and analyzes and contrasts the electrical signal
  • a calculation module that is connected to the image recognizer 222 and determines the defect level of the liquid crystal panel 1 to be tested.
  • the above calculation module is preferably a computer.
  • the detecting chamber enclosed by the housing 3 is provided with an optical sensor 31 for collecting human hands or other objects for detection.
  • the signal generated during the room.
  • the optical sensor will collect these signals and forward the signal to the control module of the detecting device, so that the detecting device stops operating urgently.
  • the opposite sides of the machine table 4 respectively have mounting shafts 41, and the axis of each mounting shaft 41 is parallel to the bracket 2, and the machine table 4
  • Each of the mounting shafts 41 is rotatably mounted to the housing 3.
  • the liquid crystal panel 1 to be tested will be affected by its own gravity, and the image information of the liquid crystal panel 1 to be tested at this time is collected by the image acquisition module 21, and the collected image information and the defect database are performed. In contrast, the defect level of the liquid crystal panel to be tested is judged.
  • the opposite sides of the housing 3 are respectively provided with a first sliding slot 32 and a second sliding slot 33, and the first sliding slot 32 and the second sliding slot 33 are parallel to each other, and one end of the bracket 2
  • the first sliding slot 32 is slidably engaged with the first sliding slot 32 and the other end is slidably engaged with the second sliding slot 33. It is possible to slide the bracket 2 relative to the table 4.
  • the supporting surface of the machine 4 is provided with an alignment probe 43 for fixing the liquid crystal panel 1 to be tested, and the design of the machine can be adopted in the prior art.
  • a machine design method with a counter probe is provided.
  • the detecting means includes an illumination means 42, and the illumination means 42 is disposed in the machine table 4 to illuminate the liquid crystal surface 1 to be inspected.
  • the illumination mechanism 42 is to be provided with a different type of light in conjunction with the camera tube of the image acquisition module.
  • the camera tube is a polarized camera, and the light emitted by the illumination mechanism 42 is polarized light; the camera tube is a CCD lens, and the illumination mechanism 42 provides a common backlight.
  • the illumination mechanism 42 may include: an LED backlight, and a polarizer located on the plurality of backlights. LED lamps have the advantages of strong color rendering, strong illumination, low power consumption, low heat dissipation, high spectral range and long life.
  • a detection method is further provided, and a flowchart of the detection method is shown in FIG. 5, and includes:
  • Step S501 loading the liquid crystal panel to be tested
  • Step S502 collecting image information of the liquid crystal panel to be tested to be tested.
  • Step S503 Comparing the received image information with the defect database to determine the defect level of the liquid crystal panel to be tested.
  • the step S502: the image collecting module collecting image information of the liquid crystal panel to be tested may include:
  • step S503 the image processing module compares the received image information with the defect database, and determines that the defect level of the liquid crystal panel to be tested may include at least one of the following ae: a. image information collected according to the first camera tube The size of the bubble caused by the poor sealing of the sealant is judged. If the diameter of the bubble is larger than 8 mm, the bubble is a large bubble; if the diameter of the bubble is less than 8 mm, the bubble is a small bubble.
  • the acquisition angle of the second camera tube and the liquid crystal panel to be tested if the image of the foreign object does not move, the foreign object is located in the liquid crystal panel to be tested; if the image of the foreign object moves, the foreign object is located outside the liquid crystal panel to be tested If the black matrix blocks the image of the foreign object, the foreign matter is located outside the color filter substrate of the liquid crystal panel; if the image of the foreign matter bubble covers the black matrix, the foreign matter is located outside the array substrate of the liquid crystal panel.
  • FIG. 6 is a schematic diagram showing a foreign matter position image in a defect database according to an embodiment of the present invention.
  • the liquid crystal panel generally includes a color filter substrate 11, an array substrate 12, and a liquid crystal molecular layer between the array substrate 12 and the color filter substrate 11. 13.
  • the array substrate 12 is generally on the upper side, and the image pickup module 21 is on the side of the array substrate 12 of the liquid crystal panel 1.
  • the foreign matter 14B is located outside the color filter substrate 12; if the image of the foreign matter 14 covers the black matrix 111, the foreign matter 14C is located outside the array substrate 11.
  • the thickness of the liquid crystal panel to be tested is normal by observing whether there is a color difference in the liquid crystal panel to be tested.
  • FIG. 7A, FIG. 7B and FIG. 7C are respectively a defect database provided according to an embodiment of the present invention. Schematic diagram of the orientation film damage image.
  • the offset is calculated by the calculation module.

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Abstract

一种检测装置及检测方法，其中，检测装置包括：采集待测液晶面板图像信息的图像采集模块；和与图像采集模块信号连接的图像处理模块，图像处理模块将接收到的图像信息与缺陷数据库进行对比，判定待测液晶面板的缺陷等级。利用本发明，可以提高了液晶面板的缺陷识别率和检测效率。

Description

一种检测装置及检测方法 技术领域
本发明涉及一种检测装置及检测方法， 该检测装置适用于液晶面板的检 测。 背景技术
随着液晶显示技术的不断提高， 人们对液晶显示产品的质量和显示效果 要求也越来越高。
在液晶显示器的生产过程中， 需要对已经生产完成的液晶面板进行缺陷 检测， 来提高液晶面板的优良率。 现有技术下， 需要人工目视对液晶面板的 盒厚、 液晶面板的对位情况， 液晶面板中是否存在异物等进行检测。
但是， 现有技术下的这种检测方法对液晶面板的缺陷识别率较低， 容易 出现误检， 且检测效率较低。 发明内容
本发明提供了一种检测装置和检测方法， 提高了液晶面板的缺陷识别率 和检测效率。
根据本发明实施例， 提供一种检测装置， 其包括：
采集待测液晶面板图像信息的图像采集模块； 和
与所述图像采集模块信号连接的图像处理模块， 所述图像处理模块将接 收到的图像信息与缺陷数据库进行对比， 判定待测液晶面板的缺陷等级。
在一些可选的实施例中， 上述检测装置还包括：
壳体， 所述壳体围成检测室；
安装于所述检测室内、 支撑待测液晶面板的机台； 和
位于所述检测室内、 与所述机台可相对滑动的支架， 且所述支架平行于 所述机台的支撑面， 所述图像采集模块滑动安装于所述支架。
在一些可选的实施例中， 所述图像采集模块包括： 用于采集由异物类和 / 或气泡引起的不良图像信息的第一摄像管、 用于采集异物位置图像信息的第 二摄像管、用于采集待测液晶面板的盒厚引起的色差图像信息的第三摄像管、 用于采集待测液晶面板的取向膜损伤图像信息的第四摄像管、 以及用于采集 待测液晶面板内的两个基板的对位状况图像信息的第五摄像管， 其中， 所述 第一摄像管、 所述第二摄像管、 所述第三摄像管、 所述第四摄像管以及第五 摄像管与所述机台的支撑面之间的采集角度可调。
在一些可选的实施例中， 所述第一摄像管为红外摄像管， 所述第二摄像 管、 所述第三摄像管、 所述第四摄像管以及所述第五摄像管皆为电荷耦合元 件镜头。
在一些可选的实施例中， 所述机台相对的两侧面上分别具有安装轴， 且 每一个所述安装轴的轴线与所述支架平行， 所述机台通过每一个所述安装轴 可旋转的安装于所述壳体。
在一些可选的实施例中， 所述壳体相对的两侧分别设有第一滑槽和第二 滑槽， 且所述第一滑槽和所述第二滑槽相互平行， 所述支架一端与所述第一 滑槽滑动配合、 另一端与所述第二滑槽互动配合。
在一些可选的实施例中， 所述机台的支撑面上设有固定所述待测液晶面 板的对位探针。
在一些可选的实施例中， 所述检测装置还包括照明机构， 所述照明机构 设置在所述机台内对待检测液晶面板进行照明。
在一些可选的实施例中， 所述检测室内设有光学感应器， 所述光学感应 器用于采集人手或其他物体进入所述检测室时产生的信号。
在一些可选的实施例中， 所述图像处理模块包括：
接收所述图像采集模块采集到的图像信息、 并将所述图像信息转换为电 信号的红外图像传感器；
与所述红外图像传感器信号连接、 对所述电信号进行分析和对比的图像 识别器；
与所述图像识别器信号连接、 判定待测液晶面板缺陷等级的计算模块。 根据本发明实施例， 还提供了一种检测方法， 其包括：
载入待测液晶面板；
采集待测液晶面板的图像信息； 以及
将接收到的图像信息与缺陷数据库进行对比， 判定待测液晶面板的缺陷 等级。
在一些可选的实施例中， 所述采集待测液晶面板的图像信息包括： 用第一摄像管对待测液晶面板由异物类和 /或气泡引起的不良图像信息 进行采集；
用第二摄像管对待测液晶面板的异物位置图像信息进行采集；
用第三摄像管对待测液晶面板的盒厚引起的色差图像信息进行采集； 用第四摄像管对待测液晶面板的取向膜损伤图像信息进行采集； 用第五摄像管对测液晶面板内的两个基板的对位状况图像信息进行采 集。
在一些可选的实施例中， 所述将接收到的图像信息与缺陷数据库进行对 比并判定待测液晶面板的缺陷等级包括下述中的至少一项：
a根据第一摄像管采集到的图像信息判断由密封胶密封不良引起的气泡 的大小，若气泡的直径大于 8mm,则气泡为大气泡；若气泡的直径小于 8mm, 则气泡为小气泡；
b调节第二摄像管的与待测液晶面板的采集角度， 若所述异物的影像不 动， 则异物位于待测液晶面板内； 若所述异物的影像移动， 则异物位于待测 液晶面板外； 若黑矩阵遮挡住所述异物的影像， 则异物位于液晶面板的彩膜 基板的外侧； 若异物气泡的影像遮住黑矩阵， 则异物位于液晶面板的阵列基 板的外侧；
c根据第三摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 通过观察待测 液晶面板是否存在色差， 判断待测液晶面板的盒厚是否正常；
d根据第四摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 判断待测液晶 面板的取向膜是否损伤；
e根据第五摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 若待测液晶面 板内的两个基板对位存在偏移， 通过计算模块计算偏移量。 附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案， 下面将对实施例的附图作 筒单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本发明的一些实施例， 而非对本发明的限制。 图 1为根据本发明实施例提供的检测装置原理示意图；
图 2为根据本发明实施例提供的检测装置结构示意图；
图 3为根据本发明实施例提供的检测装置中的图像采集模块结构筒图； 图 4 为根据本发明实施例提供的检测装置中的图像处理模块原理示意 图;
图 5为根据本发明实施例提供的检测方法流程图；
图 6为缺陷数据库中的异物位置图像示意图；
图 7A为缺陷数据库中的第一种取向膜损伤图像示意图；
图 7B为缺陷数据库中的第二种取向膜损伤图像示意图；
图 7C为缺陷数据库中的第三种取向膜损伤图像示意图。 具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图， 对本发明实施例中的技术方案进行 清楚、 完整地描述， 显然， 所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例， 而 不是全部的实施例。 基于本发明中的实施例， 本领域普通技术人员在没有做 出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例， 都属于本发明专利保护的范 围。
实施例一
根据本发明实施例提供的检测装置原理示意图如图 1所示， 检测装置包 括：
采集待测液晶面板 1图像信息的图像采集模块 21;
与图像采集模块 21信号连接的图像处理模块 22, 图像处理模块 22将接 收到的图像信息与缺陷数据库进行对比， 判定待测液晶面板 1的缺陷等级。
机器视觉缺陷检测是基于缺陷库的比对和匹配来判别缺陷是否超出要 求， 因此缺陷检测需要建被检测物品的缺陷库， 并通过快速比对实物与缺陷 库来代替人眼作出是否合格的判别。 缺陷检测需要尽可能大的光学视场， 并 且能分辨出的最小缺陷达到极限分辨率的标准 （由于人眼的极限分辨率是 0.1mm, 因此， 缺陷检查一般仅需要挑出大于 0.1mm的缺陷， 甚至是数毫米 的缺陷特征）。机器视觉检测系统基于高分辨率工业相机和视觉软件，可对产 品进行外观检测、 尺寸测量、 角度测量、 字符识别等。 根据本发明实施例提供的检测装置是基于机器视觉技术的缺陷检测系 统， 实现非接触检测测量， 其具有较高的准确度、 较宽的光语响应范围， 可 长时间稳定工作， 节省大量劳动力资源， 极大地提高了工作效率。 可对待检 测部件表面的斑点、 凹坑、 划痕、 色差、 缺损等缺陷进行检测。
根据本发明实施例提供的检测装置，图像采集模块 21可以采集到待测液 晶面板 1任一位置处的图像信息，图像处理模块 22将接收到的图像采集模块 21采集到的图像信息与缺陷数据库进行对比，进而判定待测液晶面板 1的缺 陷等级。
根据本发明实施例提供的检测装置， 避免了背景技术中提到的人工对液 晶面板检测时， 缺陷识别率较低， 容易出现误检， 且检测效率较低等问题。
所以， 根据本发明实施例提供的检测装置， 提高了液晶面板的缺陷识别 率和检测效率。
为了方更检测， 上述检测装置的结构示意图如图 2所示， 还包括： 壳体 3, 壳体 3围成检测室；
安装于检测室内、 支撑待测液晶面板 1的机台 4; 和
位于检测室内、 与机台 4可相对滑动的支架 2, 且支架 2平行于机台 4 的支撑面， 图像采集模块 21滑动安装于支架 2。
上述检测装置在使用时， 具体地， 将待测液晶面板 1放置在检测室的机 台 4上， 由于支架 2可相对机台 4滑动， 图像采集模块 21可以沿着支架 2 滑动，所以图像采集模块 21可以采集到待测液晶面板 1任一位置处的图像信 息， 图像处理模块 22将接收到的图像采集模块 21采集到的图像信息与缺陷 数据库进行对比， 进而判定待测液晶面板 1的缺陷等级。
本发明优选实施例中， 壳体 3为透明材质的壳体， 以便操作人员观察检 测室的运行情况。
在一些可选的实施例中， 如图 3所示， 图像采集模块包括： 用于采集由 异物类和 /或气泡引起的不良图像信息的第一摄像管 211、 用于采集异物位置 图像信息的第二摄像管 212、 用于采集待测液晶面板 1的盒厚引起的色差图 像信息的第三摄像管 213、 用于采集待测液晶面板 1的取向膜损伤图像信息 的第四摄像管 214、 以及用于采集待测液晶面板 1 内的两个基板的对位状况 图像信息的第五摄像管 215, 其中， 第一摄像管 211的、 第二摄像管 212的、 第三摄像管 213的、 第四摄像管 214的以及第五摄像管 215的与机台的支撑 面之间的采集角度可调。
优选地， 第一摄像管 211为红外摄像管， 第二摄像管 212、 第三摄像管 213、 第四摄像管 214以及第五摄像管 215皆为电荷耦合元件镜头 （CCD、 charge-coupled device )„ CCD是一种半导体器件， 能够把光学影像转化为数 字信号。
此处说明， 当检测待测液晶面板内是否存在异物类和 /或气泡时， 第一摄 像管 （红外摄像管）可以根据异物或气泡分别发出的红外感应信号， 判断是 否存在异物或气泡， 气泡的产生一般是因为待测液晶面板四周涂布的封框胶 密封效果不好， 使得外界气体进入液晶面板内。 盒厚引起的色差主要是因为 液晶盒的厚度不均匀，在前序工序中，液晶盒表面不均匀处被对位探针穿破， 使得液晶面板显示的颜色存在色差。 取向膜损伤指的是在用取向辊给待测液 晶面板进行取向时， 可能取向辊上的取向布的毛发之间存在杂物， 杂物会划 伤取向膜。
如图 4所示， 上述图像处理模块包括：
接收图像采集模块采集到的图像信息、 并将图像信息转换为电信号的红 外图像传感器 221;
与红外图像传感器 221信号连接、 对电信号进行分析和对比的图像识别 器 222; 和
与图像识别器 222信号连接、 判定待测液晶面板 1缺陷等级的计算模块
223。
上述计算模块优选地为计算机。
为了防止检测装置运行过程中对操作人员造成伤害， 优选地， 如图 2所 示， 壳体 3围成的检测室内设有光学感应器 31 , 光学感应器 31用于采集人 手或其他物体进入检测室时产生的信号。 在检测装置运行过程中， 若有人手 或其他物品进入检测室， 光学感应器将采集这些信号， 并将信号转送给检测 装置的控制模块， 使得检测装置紧急停止运行。
为了便于对液晶面板受重力时产生的缺陷进行检测， 如图 1所示， 机台 4相对的两侧面上分别具有安装轴 41 , 且每一个安装轴 41 的轴线与支架 2 平行， 机台 4通过每一个安装轴 41可旋转的安装于壳体 3。 当检测液晶面板 受重力时产生的缺陷时， 将机台 4绕着安装轴 41向下旋转 90度（或安装轴 41与机台 4相对固定， 安装轴 41向下旋转 90度， 进而带动机台旋转）， 支 架 2也同时旋转 90度，此时待测液晶面板 1将受到自身的重力影响，用图像 采集模块 21采集此时待测液晶面板 1的图像信息，并将采集到的图像信息与 缺陷数据库进行对比， 判断待测液晶面板的缺陷等级。
优选地，如图 2所示， 壳体 3相对的两侧分别设有第一滑槽 32和第二滑 槽 33 ,且第一滑槽 32和第二滑槽 33相互平行，支架 2的一端与第一滑槽 32 滑动配合、另一端与第二滑槽 33滑动配合。可以实现支架 2相对机台 4滑动。
为了更好的承载待测液晶面板， 如图 2所示， 机台 4的支撑面上设有固 定待测液晶面板 1的对位探针 43,此处机台的设计可以采用现有技术中具有 对位探针的机台设计方法。
优选地， 如图 2所示， 检测装置包括照明机构 42, 照明机构 42设置在 机台 4内，对待检测液晶面 1进行照明。照明机构 42要配合图像采集模块的 摄像管，提供不同类型光线。摄像管为偏振摄像头， 照明机构 42发射的光为 偏振光； 摄像管为 CCD镜头， 照明机构 42提供普通背光。 进一步地， 上述 照明机构 42可以包括： LED背光灯、以及位于多个背光灯上的偏光片。 LED 灯具有显色性强、 发光强、 功耗低、 散热小、 光谱范围及寿命高等优点。
实施例二
根据本发明实施例， 还提供了一种检测方法， 检测方法的流程图如图 5 所示， 包括：
步骤 S501 : 载入待测液晶面板；
步骤 S502: 采集待测集待测液晶面板的图像信息； 以及
步骤 S503: 将接收到图像信息与缺陷数据库进行对比， 判定待测液晶面 板的缺陷等级。
优选地， 步骤 S502: 图像采集模块采集待测液晶面板的图像信息可以包 括：
用第一摄像管对待测液晶面板的由异物类和 /或气泡引起的不良图像信 息米集 ^
用第二摄像管对待测液晶面板的异物位置图像信息进行采集；
用第三摄像管对待测液晶面板的盒厚引起的色差图像信息进行采集； 用第四摄像管对待测液晶面板的取向膜损伤图像信息进行采集； 用第五摄像管对测液晶面板内的两个基板的对位状况图像信息进行采 集。
进一步地， 步骤 S503: 图像处理模块将接收到图像信息与缺陷数据库进 行对比， 判定待测液晶面板的缺陷等级可以包括下述 a-e中的至少一项： a根据第一摄像管采集到的图像信息判断由密封胶密封不良引起的气泡 的大小，若气泡的直径大于 8mm,则气泡为大气泡；若气泡的直径小于 8mm, 则气泡为小气泡。
b调节第二摄像管的与待测液晶面板的采集角度， 若所述异物的影像不 动， 则异物位于待测液晶面板内； 若所述异物的影像移动， 则异物位于待测 液晶面板外； 若黑矩阵遮挡住所述异物的影像， 则异物位于液晶面板的彩膜 基板的外侧； 若异物气泡的影像遮住黑矩阵， 则异物位于液晶面板的阵列基 板的外侧。
下面参照图 6对 b项举例说明。 如图 6所示的根据本发明实施例提供的 缺陷数据库中的异物位置图像示意图， 液晶面板一般包括彩膜基板 11、 阵列 基板 12以及位于阵列基板 12和彩膜基板 11之间的液晶分子层 13。 液晶面 板被检测时， 一般阵列基板 12在上， 图像采集模块 21在液晶面板 1的阵列 基板 12—侧。 调节图像采集模块 21中第二摄像管与待测液晶面板的采集角 度， 若异物 14的影像不动， 则异物 14A位于待测液晶面板 1内； 若异物 14 的影像移动， 则异物 14位于待测液晶面板 1 夕卜； 若黑矩阵 111遮挡住异物
14的影像，则异物 14B位于彩膜基板 12的外侧； 若异物 14的影像遮住黑矩 阵 111 , 则异物 14C位于阵列基板 11的外侧。
c根据第三摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 通过观察待测 液晶面板是否存在色差， 判断待测液晶面板的盒厚是否正常。
d根据第四摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 判断待测液晶 面板的取向膜是否损伤； 图 7A、 图 7B和图 7C分别为根据本发明实施例提 供的缺陷数据库中的一种取向膜损伤图像示意图。
e根据第五摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 若待测液晶面 板内的两个基板对位存在偏移， 通过计算模块计算偏移量。
根据本发明实施例提供的上述检测方法， 也提高了液晶面板的缺陷识别 率和检测效率。 发明的精神和范围。 这样， 倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要 求及其等同技术的范围之内， 则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims

权利要求书
1、 一种检测装置， 包括：
采集待测液晶面板图像信息的图像采集模块； 和
与所述图像采集模块信号连接的图像处理模块， 所述图像处理模块将接 收到的图像信息与缺陷数据库进行对比， 并判定待测液晶面板的缺陷等级。
2、 根据权利要求 1所述的检测装置， 还包括：
壳体， 所述壳体围成检测室；
安装于所述检测室内、 支撑待测液晶面板的机台； 和
位于所述检测室内、 与所述机台可相对滑动的支架， 且所述支架平行于 所述机台的支撑面， 所述图像采集模块滑动安装于所述支架。
3、 根据权利要求 2所述的检测装置， 其中， 所述图像采集模块包括： 用 于采集由异物类和 /或气泡引起的不良图像信息的第一摄像管、用于采集异物 位置图像信息的第二摄像管、 用于采集待测液晶面板的盒厚引起的色差图像 信息的第三摄像管、 用于采集待测液晶面板的取向膜损伤图像信息的第四摄 像管、 以及用于采集待测液晶面板内的两个基板的对位状况图像信息的第五 摄像管， 其中， 所述第一摄像管、 所述第二摄像管、 所述第三摄像管、 所述 第四摄像管以及所述第五摄像管与所述机台的支撑面之间的采集角度可调。
4、根据权利要求 3所述的检测装置， 其中， 所述第一摄像管为红外摄像 管， 所述第二摄像管、 所述第三摄像管、 所述第四摄像管以及所述第五摄像 管皆为电荷耦合元件镜头。
5、 根据权利要求 2~4任一项所述的检测装置， 其中， 所述机台相对的 两侧面上分别具有安装轴， 且每一个所述安装轴的轴线与所述支架平行， 所 述机台通过每一个所述安装轴可旋转的安装于所述壳体。
6、 根据权利要求 2-5中任一项所述的检测装置， 其中， 所述壳体相对的 两侧分别设有第一滑槽和第二滑槽， 且所述第一滑槽和所述第二滑槽相互平 行， 所述支架一端与所述第一滑槽滑动配合、 另一端与所述第二滑槽互动配 合。
7、 根据权利要求 2-6中任一项所述的检测装置， 其中， 所述机台的支撑 面上设有固定所述待测液晶面板的对位探针。
8、 根据权利要求 2-7中任一项所述的检测装置， 其中， 所述检测装置包 括照明机构， 所述照明机构设置在所述机台内对待检测液晶面板进行照明。
9、 根据权利要求 2-8中任一项所述的检测装置， 其中， 所述检测室内设 有光学感应器， 所述光学感应器用于采集人手或其他物体进入所述检测室时 产生的信号。
10、 根据权利要求 1-9中任一项所述的检测装置， 其中， 所述图像处理 模块包括：
接收所述图像采集模块采集到的图像信息、 并将所述图像信息转换为电 信号的红外图像传感器；
与所述红外图像传感器信号连接、 对所述电信号进行分析和对比的图像 识别器； 和
与所述图像识别器信号连接、 判定待测液晶面板缺陷等级的计算模块。
11、 一种检测方法， 其中， 包括：
载入待测液晶面板；
采集待测液晶面板的图像信息；
将接收到的图像信息与缺陷数据库进行对比， 判定待测液晶面板的缺陷 等级。
12、根据权利要求 11所述的检测方法， 其中， 所述采集待测液晶面板的 图像信息包括下述中的至少一项：
用第一摄像管对待测液晶面板由异物类和 /或气泡引起的不良图像信息 进行采集；
用第二摄像管对待测液晶面板的异物位置图像信息进行采集； 用第三摄像管对待测液晶面板的盒厚引起的色差图像信息进行采集； 用第四摄像管对待测液晶面板的取向膜损伤图像信息进行采集； 用第五摄像管对待测液晶面板内的两个基板的对位状况图像信息进行采 集。
13、根据权利要求 12所述的检测方法， 其中， 所述将接收到的图像信息 与缺陷数据库进行对比， 并判定待测液晶面板的缺陷等级包括下述中的至少 一项：
a根据第一摄像管采集到的图像信息判断由密封胶密封不良引起的气泡 的大小，若气泡的直径大于 8mm,则气泡为大气泡；若气泡的直径小于 8mm, 则气泡为小气泡；
b调节第二摄像管的与待测液晶面板的采集角度， 若所述异物的影像不 动， 则异物位于待测液晶面板内； 若所述异物的影像移动， 则异物位于待测 液晶面板外；若黑矩阵遮挡住所述异物的影像，则异物位于彩膜基板的外侧； 若异物气泡的影像遮住黑矩阵， 则异物位于阵列基板的外侧；
c根据第三摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 通过观察待测 液晶面板是否存在色差， 判断待测液晶面板的盒厚是否正常；
d根据第四摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 判断待测液晶 面板的取向膜是否损伤；
e根据第五摄像管采集到的图像信息与缺陷数据库对比， 若待测液晶面 板内的两个基板对位存在偏移， 通过计算模块计算偏移量。
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