WO2014132523A1 - 負荷駆動制御装置 - Google Patents

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WO2014132523A1
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load
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drive control
load drive
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隆弘 川田
亮一 大浦
理仁 曽根原
義孝 阿部
山下 毅雄
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日立オートモティブシステムズ株式会社
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    • H03K2017/0806Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage against excessive temperature

Definitions

  • the present invention relates to a load drive control device, and more particularly to a load drive slope control device that controls the rise time and fall time of a voltage waveform of load drive.
  • a driver transistor connected to drive a load for example, a solenoid
  • a load for example, a solenoid
  • PWM Pulse Width Modulation
  • Such an envelope is created by the harmonic spectrum of the fundamental frequency 1 / T.
  • the high frequency component decreases at a rate of ⁇ 20 dB / decade with respect to the increase in frequency.
  • the main factor determining f2 is determined by the smaller value of the rise time tr and the fall time tf.
  • the load 2 here, a solenoid or an inductor
  • a high-side driver NMOS transistor 7 connected to a high-voltage power supply VB will be described as an example as shown in FIG. (For example, FIG. 1B of the said patent document 1)
  • the current source control means 3 is used to turn on the current source I1 whose on / off is controlled by the signal S1, and to turn off the current source I2 whose on / off is controlled by the signal S2.
  • the gate capacitance of the side driver NMOS transistor 7 is charged, the gate-source voltage is increased, and the threshold voltage of the high side driver NMOS transistor 7 is exceeded, whereby the driver NMOS transistor 7 is turned on.
  • the current source control means 3 is used to turn off the current source I1 by the signal S1, turn on the current source I2 by the signal S2, and gate the NMOS transistor 7 for the high side driver.
  • the capacitor is discharged, the gate-source voltage is lowered, and the high-side driver NMOS transistor 7 is turned off by lowering the threshold voltage of the high-side driver NMOS transistor 7.
  • the gate capacitance and the gate-source voltage dependency of the gate capacitance of the high-side driver NMOS transistor 7 have nonlinearity. For this reason, when the NMOS transistor 7 for the high side driver is turned on / off, a portion where the slope of the load drive voltage waveform is smaller occurs.
  • the portion where the slope of the load drive voltage waveform is smaller does not contribute to the f2 frequency reduction in FIG. 4B, and does not contribute to the frequency spectrum reduction in the high frequency region of EMI noise. On the other hand, there is a problem of increasing power loss and heat generation.
  • FIG. 3 shows an example of a load driving timing chart of the conventional example of FIG.
  • the power loss PdH when the high-side driver NMOS transistor 7 is turned on and off is obtained by the product of the output current IOUTH of the high-side driver NMOS transistor 7 and the drain-source voltage VDSH, and the load drive voltage waveform OUT has a smaller slope. Therefore, there is a problem that the power loss PdH increases and the heat generation increases accordingly.
  • the present invention provides a load drive slope control device that can reduce EMI noise and reduce power loss and heat generation when a driver transistor is turned on and off.
  • the present invention provides a load drive slope control device that reduces EMI noise when it is not over-temperature and prevents over-temperature destruction of the driver transistor during over-temperature.
  • a load drive control device includes a driver transistor for driving a load, a predriver that is driven via an on / off control terminal of the driver transistor, and an input side of the predriver.
  • a first current source that is controlled on and off by a first signal and generates a current for charging the capacitor, and a current that is controlled on and off by a second signal and discharges the capacitor
  • a second current source for changing the output voltage of the pre-driver by charging or discharging the capacitor, and turning on and off the driver transistor by the output voltage of the pre-driver.
  • FIG. 1 It is a block diagram which shows the structure of the load drive slope control apparatus which is the 5th Embodiment of this invention. It is an Example by another form of the Example shown in FIG. It is one example of the load drive slope control apparatus of the Example shown in FIG. It is an example of the load drive slope control apparatus of the Example shown in FIG.
  • the load drive slope control device 1 that reduces EMI noise and enables reduction of power loss and heat generation when the driver transistor is turned on and off will be described.
  • FIG. 1 shows the overall configuration of a load drive slope control apparatus 1 when an NMOS transistor for a high side driver according to a first embodiment of the present invention is used.
  • a power supply terminal VB includes a power supply terminal VB, a load 2 to be driven, a high-side driver NMOS transistor 7 connected between the power supply terminal VB and the load 2, and a high-side driver transistor.
  • a second current source I2 for generating a current for discharging the capacitor 5 connected to the input GATE of the pre-driver 4 whose on / off is controlled by the second signal S2.
  • the current source control means 3 is used to turn on the current source I1 whose on / off is controlled by the signal S1, and to turn off the current source I2 whose on / off is controlled by the signal S2.
  • the current source I1 includes, for example, a constant current source 6a and a switch 9a whose on / off is controlled by a signal S1, as shown in FIG. 6 (a).
  • the current source I2 includes a constant current source 6b and a switch 9b whose on / off is controlled by a signal S2.
  • the switches 9a and 9b are constituted by analog switch circuits, for example.
  • the current sources I1 and I2 are switches whose on / off is controlled by the constant current source 6a and the signal S1 through the current copy circuit I11 as shown in FIG. You may comprise from 9a.
  • the current copy circuit I11 is constituted by a current mirror circuit constituted by PMOS transistors PMA and PMB is shown.
  • the capacitance value of the capacitor 5 is C, and an element whose voltage dependency is smaller than the voltage dependency of the gate capacitance of the NMOS transistor for the high side driver is used.
  • the pre-driver 4 is characterized in that the input voltage GATE and the output voltage HGATE have a linear relationship.
  • the input voltage GATE and the output voltage HGATE have a linear relationship.
  • a source follower circuit configured by N-type and P-type transistors or a voltage follower circuit configured by an operational amplifier as shown in FIGS. Is described below.
  • the rising slope of the output voltage HGATE of the pre-driver 4 is also Is1 / C, and the high-side driver NMOS transistor 7 is turned on by controlling the gate voltage of the high-side driver NMOS transistor 7.
  • the current source control means 3 is used to turn off the current source I1 by the signal S1, turn on the current source I2 by the signal S2, and connect to the input GATE of the pre-driver 4.
  • the slope of the input voltage GATE and the output voltage HGATE of the pre-driver becomes ⁇ Is2 / C.
  • the gate voltage of the NMOS transistor 7 for the high-side driver the high-side The driver NMOS transistor 7 is turned off.
  • the output voltage OUT connected to the load 2 of the NMOS transistor 7 for the high side driver 7 and the gate voltage HGATE is a source-forer circuit or a drain-grounded amplifier circuit, so the gain is 1, and the output voltage OUT is for the high side driver.
  • the current sources I1 and I2 can be configured by one signal instead of the two signals S1 and S2.
  • a switch 9b whose on / off is controlled by a signal S2, a constant current source 6a whose current value is Is1, a constant current source 6b whose current value is Is2, and a current copy circuit.
  • I3 composed of I11, Is1 ⁇ Is2.
  • a period in which the input signal INH is on is a high side on period
  • a period in which the input signal INH is off is a high side off period
  • the output current IOUTH flows from the high-side driver NMOS transistor 7 to the load 2 during the high-side on period, ignoring the influence of the leakage current causes the output terminal OUT to turn on the high-side driver NMOS transistor 7 from the power supply voltage VB.
  • the voltage drops by the voltage VonH.
  • the source voltage of the high-side driver NMOS transistor 7 is the OUT terminal voltage
  • the on-resistance RonH is preferably low in the driver circuit for driving a large current, and IH ⁇ RonH ⁇ Vthn.
  • the VCP voltage supplied to the pre-driver 4 that outputs the HGATE voltage must also be higher than the VB voltage.
  • VCP voltage is not shown in the drawing even if it is supplied via the terminal from the external power supply as shown in FIG. 1, for example, it is generated from the VB power supply from a charge pump, DCDC converter, bootstrap, etc. May be.
  • the high side driver NMOS transistor 7 When the high side on period transitions to the high side off period, the high side driver NMOS transistor 7 is turned off. At this time, a flyback voltage of the load 2 is generated, and a current flows from the GND to the output terminal OUT by the diode 8. Therefore, if the influence of the leakage current is ignored, the output terminal OUT drops by a forward voltage VOFF voltage of the diode from the GND. Voltage.
  • the gate-source voltage of the NMOS transistor 7 for the high side driver depends on the device characteristics at the threshold voltage Vthn or less, this is not an essential condition.
  • the HGATE voltage is used to completely turn off the NMOS transistor 7 for the high side driver.
  • OUT terminal voltage -VOFF It is good.
  • the reference potential of the pre-driver 4 is preferably the same as that of the OUT terminal. However, in FIG. 1, the reference potential of the pre-driver 4 is set to GND.
  • the drain-source voltage of the NMOS transistor 7 for the high side driver is linear in the rising and falling slopes of the voltage waveform as indicated by VDSH in FIG.
  • the configuration of FIG. 1 when a flyback voltage of the load 2 is generated, current flows from GND to the output terminal OUT by the diode 8, but synchronous rectification is performed instead of the diode 8 as shown in FIG. 8.
  • a configuration using the NMOS 10 for the low side driver may be used.
  • the configuration is such that the gate of the low-side driver NMOS 10 is turned on / off via the driver 13 whose power supply voltage is VCC in response to the on / off of the input signal INL.
  • FIG. 7B shows an example of a timing chart when applied to a resistive load as the load 2 in the first embodiment shown in FIG.
  • the load 2 is a resistance load, when the high-side driver NMOS transistor 7 is turned off, the flyback voltage of the load 2 is not generated. Therefore, the diode 8 is not necessary in FIG.
  • the drain-source voltage of the NMOS transistor 7 for the high side driver is linear in the rising and falling slopes of the voltage waveform as indicated by VDSH in FIG.
  • FIG. 7 (c) shows an example of a timing chart when the load 2 is applied to a capacitive load in the first embodiment shown in FIG.
  • the load 2 is a capacitive load, the flyback voltage of the load 2 is not generated when the NMOS transistor 7 for the high side driver is turned off. Therefore, the diode 8 is not necessary in FIG. When the load 2 is charged, the output voltage OUT does not change unless it is discharged.
  • the drain-source voltage of the high-side driver NMOS transistor 7 is linear as shown in FIG. 7C when the capacitive load of the load 2 is not charged, as indicated by VDSH.
  • the output current of the NMOS transistor 7 for the high side driver is IOUTH.
  • the load driving slope control device that reduces EMI noise and reduces power loss and heat generation when the driver transistor is turned on / off, with respect to the load 2 described with reference to FIGS. 7 (a) to 7 (c).
  • the load 2 a solenoid or an inductor, a resistor, and a capacitor may be combined.
  • the driver transistor is connected to GND.
  • the configuration and operation of the low-side driver transistor that drives the load 2 will be described.
  • FIG. 9 shows one form of the second embodiment of the present invention, and the difference from FIG. 1 which is one form of Example 1 will be described below.
  • a first current source I1 and a second current source I2 for generating a current for discharging the capacitor 5 connected to the input GATE of the pre-driver 4 whose ON / OFF is controlled by the second signal S2 are provided.
  • the current source control means 3L is used to turn off the current source I1 whose on / off is controlled by the signal S1, and to turn on the current source I2 whose on / off is controlled by the signal S2.
  • the capacitance value of the capacitor 5 is C, and an element whose voltage dependency is smaller than the voltage dependency of the gate capacitance of the low-side driver PMOS transistor 10 is used.
  • the predriver 4 is characterized in that the input voltage GATE and the output voltage LGATE have a linear relationship.
  • the predriver 4 has a gain of 1.
  • the falling slope of the output voltage LGATE of the pre-driver is also ⁇ Is2 / C, and the gate voltage of the low-side driver PMOS transistor 10 is controlled to turn on the low-si driver PMOS transistor 10.
  • the current source control means 3L is used to turn on the current source I1 by the signal S1, turn off the current source I2 by the signal S2, and connect to the input GATE of the pre-driver 4.
  • the PMOS for the low-side driver By controlling the gate voltage of the PMOS transistor 10 for the low-side driver, the PMOS for the low-side driver The transistor 10 is turned off.
  • the gain is 1, and the output voltage OUT is the PMOS transistor for the low-side driver.
  • the slope is -Is2 / C, and when off, the slope is Is1 / C.
  • a period in which the input signal INL is on is a low side on period
  • a period in which the input signal INL is off is a low side off period
  • the low side driver PMOS transistor 10 When the low side on period transitions to the low side off period, the low side driver PMOS transistor 10 is turned off. At this time, a flyback voltage of the load 2 is generated, and a current flows from the output terminal OUT to VB by the diode 8. Therefore, if the influence of the leakage current is ignored, the output terminal OUT increases from VB by the diode forward voltage VOFF voltage. Voltage.
  • FIG. 11 shows a second form of the second embodiment of the present invention, and the difference from FIG. 9 which is one form of Example 2 will be described below.
  • the load drive slope control device 1 shown in FIG. 11 includes a power supply terminal VB, a load 2 to be driven, a low-side driver NMOS transistor 10 connected between the GND terminal and the load 2, and a low-side driver NMOS transistor 10. Generates a current for charging the pre-driver 4L for driving the gate, the capacitor 5 connected to the input GATE of the pre-driver 4L, and the capacitor 5 connected to the input GATE of the pre-driver 4L whose on / off is controlled by the first signal S1. And a second current source I2 for generating a current for discharging the capacitor 5 connected to the input GATE of the pre-driver 4L whose on / off is controlled by the second signal S2.
  • the pre-driver 4L is composed of an operational amplifier circuit and feeds back the drain voltage of the low-side driver transistor NMOS10.
  • the output voltage OUT is the input signal GATE of the pre-driver 4L.
  • the slope is ⁇ Is2 / C, and when it is turned off, the slope is Is1 / C.
  • the low side driver NMOS transistor 10 When the low side on period transitions to the low side off period, the low side driver NMOS transistor 10 is turned off. At this time, a flyback voltage of the load 2 is generated, and a current flows from the output terminal OUT to VB by the diode 8. Therefore, if the influence of the leakage current is ignored, the output terminal OUT increases from VB by the diode forward voltage VOFF voltage. Voltage.
  • heat generation can be suppressed along with power loss.
  • FIG. 13 shows a first mode of the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 shows a difference from FIG. 1 which is one mode of the first embodiment will be described.
  • the current amount control signal ICON controls the current amount of the first current source I1 and the second current source I2, and the temperature monitor means 11 and the output signal TEMP of the temperature monitor means 11 for current amount control.
  • Current amount control signal generation means 12 corresponding to the signal ICON is provided.
  • the slope of the OUT voltage waveform due to the on / off of the high-side driver NMOS transistor 7 is rising I / C, Falling-I / C.
  • the power loss PdH due to turning on or off of the high-side driver NMOS transistor 7 is Td.
  • PdH IH ⁇ (VB + VOFF) / 2 ⁇ (dt / T) ⁇ 2 It becomes.
  • the drive current of the high-side driver NMOS transistor 7 is IH
  • the forward voltage drop due to the diode 8 when the flyback voltage of the load 2 is generated is VOFF.
  • VOFF 0V.
  • dt be the rise or fall time of the OUT voltage when the high-side driver NMOS transistor 7 is turned off or on.
  • a constant current source 6c is applied to the diode 11a1, and the temperature change of the forward voltage of the diode is controlled by an operational amplifier 11a2 and resistors 11a3 and 11a4.
  • the temperature monitoring means 11 for example, as shown in FIG. 16B, the temperature change of the resistance value of the thermistor 11b1 may be output as a voltage TEMP using a voltage follower circuit composed of a resistor 11b2 and an operational amplifier 11b3. Good.
  • the current amount control signal ICON is generated by the current amount control signal generation means 12 that receives the temperature information signal TEMP.
  • An example of the configuration and operation of the current amount control signal generation means 12 will be described below.
  • ICON LL at a temperature of 100 ° C. or lower
  • ICON LH at a temperature of 100 ° C. to 150 ° C.
  • ICON HH at a temperature of 150 ° C. or higher.
  • the current amount control signal ICON which is the output signal of the comparators 12a and 12b, may be provided with hysteresis by switching from L to H and switching threshold voltage from H to L.
  • a switch 9a that is turned on / off by a signal S1, and a low-order 1-bit signal ICON [0] of the current amount control signal ICON are off when L and on when H.
  • the switch 9b that is turned on / off by the signal S2, and the off-state when the lower 1-bit signal ICON [0] of the current amount control signal ICON is L
  • the switch 9d1 that is turned on when the current value control signal ICON is turned off
  • the switch 9d2 that is turned off when the upper 1-bit signal ICON [1] of the current amount control signal ICON is L
  • the switch 9d2 that is turned on when the current value is H. It is assumed that the current sources 6b1, 6b2, and 6b3 are configured.
  • FIG. 1 An example of a timing chart is shown in FIG.
  • the current amount of the current sources I1 and I2 is increased as Is ⁇ 2Is ⁇ 4Is, so that the rise time and fall time dt of the OUT voltage are reduced at high temperatures, and the NMOS transistor 7 for the high side driver It is possible to reduce the power loss PdH and the heat generation associated therewith.
  • the temperature monitoring means 11 in the vicinity of the high-side driver NMOS transistor 7, local and transient heat generation and over-temperature destruction in the high-side driver NMOS transistor 7 are prevented. It is possible.
  • the vicinity of the high-side driver NMOS transistor 7 is, for example, a case where the temperature monitoring unit 11 is mounted on an insulating substrate on which the high-side driver NMOS transistor 7 is mounted.
  • FIG. 23 shows a second embodiment of the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 23 the difference from FIG. 2, which is one form of the conventional example, is the function of changing the current amounts of the first current source I1 and the second current source I2 by the current amount control signal ICON, and the temperature monitoring means 11.
  • Current amount control signal generating means 12 for causing the output signal TEMP of the temperature monitoring means 11 to correspond to the current amount control signal ICON.
  • the current sources I1 and I2 are charged and discharged with respect to the gate capacitance of the NMOS transistor 7 for the high side driver.
  • the power loss PdH when the high-side driver NMOS transistor 7 is turned on and off is higher than that of the embodiment of FIG.
  • the temperature monitor unit 11, the current amount control signal generation unit 12 that makes the output signal TEMP of the temperature monitor unit 11 correspond to the current amount control signal ICON, and the current amount control signal ICON, the first current source I 1 and the second current source I 2.
  • the rise and fall of the OUT output voltage is reduced at a high temperature and the fall time dt is reduced as in the embodiment of FIG. It is possible to reduce the power loss PdH caused by the NMOS transistor 7 and the accompanying heat generation.
  • the temperature monitoring means 11 is arranged in the vicinity of the high-side driver NMOS transistor 7, thereby preventing local and transient heat generation and over-temperature destruction in the high-side driver NMOS transistor 7. It is possible.
  • the vicinity of the high-side driver NMOS transistor 7 is, for example, a case where the temperature monitoring unit 11 is mounted on an insulating substrate on which the high-side driver NMOS transistor 7 is mounted.
  • EMI noise is reduced when it is not overtemperature and overtemperature destruction of a driver transistor is prevented when overtemperature. 20 shows.
  • the load drive slope control device 1 has, for example, an input of the current amount control signal ICON as shown in FIG. 13 or FIG. 23, and includes the temperature monitoring means 11 and the current amount control signal means 12 as the integrated circuit 100.
  • FIG. 21 shows a configuration example for preventing overtemperature destruction.
  • the load drive slope control device 1 for example, as shown in FIG. 14 or FIG. 24, the current amount control signal ICON is input, and the temperature monitoring means 11 is arranged in the vicinity of the NMOS transistor 7 for the high side driver, and temperature information is obtained.
  • TEMP is provided as an output signal, and the integrated circuit 100 includes temperature monitoring means 11 and current amount control signal means 12.
  • the integrated circuit 100 may have a temperature monitoring unit 11 separately from the load drive slope control device 1 of each channel.
  • the load 2 is not limited to a solenoid or an inductor, and the load driving is not limited to only the high side driver.
  • the temperature monitoring means 11 is used to reliably prevent overtemperature destruction of the high-side driver NMOS transistor 7 at a certain high temperature (for example, 180 ° C.). (° C.) may be controlled to turn off the input signal INH or to turn off the gate of the NMOS transistor 7 for the high side driver.
  • this invention is not limited to the above-mentioned Example, Various modifications are included.
  • the above-described embodiments have been described in detail for easy understanding of the present invention, and are not necessarily limited to those having all the configurations described.
  • a part of the configuration of a certain embodiment can be replaced with the configuration of another embodiment, and the configuration of another embodiment can be added to the configuration of a certain embodiment.
  • control lines and signal lines are those that are considered necessary for the explanation, and not all the control lines and signal lines on the product are necessarily shown.

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Abstract

 EMIノイズを低減するとともに、ドライバ用トランジスタのオンオフ時の電力損失と発熱の低減を可能とし、過温度時にはドライバ用トランジスタの過温度破壊を防ぐ負荷駆動スロープ制御装置を提供する。 本発明に係る負荷駆動制御装置は、負荷を駆動するドライバ用トランジスタと、前記ドライバ用トランジスタのオンオフ制御端子を介して駆動するプリドライバと、前記プリドライバの入力側と接続した容量と、第1の信号によりオンオフが制御されかつ前記容量を充電する電流を発生させる第1の電流源と、第2の信号によりオンオフが制御されかつ前記容量を放電する電流を発生させる第2の電流源と、を備え、前記容量を充電または放電することによって前記プリドライバの出力電圧を変化させ、前記プリドライバの前記出力電圧によって前記ドライバ用トランジスタをオンオフさせ、前記ドライバ用トランジスタをオンオフさせることによって前記負荷を駆動する電圧波形の立上り及び立下りの傾きが線形であることを特徴とする。

Description

負荷駆動制御装置
 本発明は、負荷駆動制御装置に関し、特に負荷駆動の電圧波形の立上り時間及び立下り時間を制御する負荷駆動スロープ制御装置に関する。
 負荷(例えば、ソレノイド)を駆動するために接続されたドライバ用トランジスタを例えばPWM(Pulse Width Modulation)制御のために、オンオフして負荷駆動するとき、ドライバ用トランジスタの出力電圧の高周波成分によるEMI(Electro Magnetic Interference)ノイズが発生する。
 そのため、負荷を駆動するドライバ用トランジスタのオンオフ制御端子(例えばドライバ用トランジスタがMOSのときはゲート端子)の容量に対して、電流源を用いて充電または放電を行い制御することによって、十分な負荷駆動電圧波形の立上り時間及び立下り時間(以下では傾きないしはスロープともいう)を持せ、EMIノイズを低減させる方法がある。(例えば、特許文献1)
 一般に、EMC(ElectroMagnetic Compatibility)技術として、以下の電圧波形と周波数スペクトルの関係が知られている。(例えば、非特許文献1)
 図4(a)に示す周期T、パルス幅Pw、立上り時間tr、立下り時間tf、振幅Aの台形波の繰り返し波形からなる電圧波形において、tr=tfとしたとき、図4(b)のような基本周波数1/Tの高調波スペクトルが作る包絡線となる。
 図4(b)から、低周波領域から周波数がf1=1/(πPw)までの周波数領域においては、高調波成分の数が少ないことから周波数特性が平坦に近似され、周波数がf1=1/(πPw)からf2=1/(πtr)までの周波数領域においては、周波数の増加に対して-20dB/decadeの割合で高周波成分が減少する。周波数がf2=1/(πtr)以上となる周波数領域においては、周波数の増加に対して-40dB/decadeの割合で高周波成分が減少する。
 以上の電圧波形と周波数スペクトルの関係から、高周波領域における周波数スペクトルを減少させるためには、信号波形の立上り時間及び立下り時間を大きくすることが有効である。また、trとtfが異なる場合はf2の決定主要因は立上り時間tr、立下り時間tfの小さい方の値で決まる。
US2011/0175650号公報
鈴木茂夫著、『EMCと基礎技術』、工学図書株式会社、1996年、頁18
 従来のEMIノイズ低減方法として、1例として図2に示すように、負荷2(ここではソレノイドもしくはインダクタ)を高圧電源VBに接続されたハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7で駆動する場合について説明する。(例えば、前記特許文献1のFIG.1B)
 入力信号INHのオンに対応して、電流源制御手段3を用いて、信号S1によりオンオフが制御される電流源I1をオンし、信号S2によりオンオフが制御される電流源I2をオフし、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲート容量を充電し、ゲート―ソース間電圧を上げ、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7の閾値電圧を上回ることで、ドライバ用NMOSトランジスタ7をオンする。
 また、入力信号INHのオフに対応して、電流源制御手段3を用いて、信号S1により電流源I1をオフし、信号S2により電流源I2をオンし、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲート容量を放電し、ゲート―ソース間電圧を下げ、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7の閾値電圧を下回ることで、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7をオフする。
 ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲート容量を充電する電流源I1及び放電する電流源I2の電流値を小さくすることにより、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオンオフ時に十分な負荷駆動電圧波形の立上り立下り時間を持たせることができる。
 しかし、一般に、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲート容量のゲート―ドレイン間電圧依存性およびゲート―ソース間電圧依存性には非線形性がある。このため、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオンオフ時、負荷駆動電圧波形の傾きがより小さい箇所が発生する。
 この負荷駆動電圧波形の傾きがより小さい箇所は図4(b)のf2周波数低減には寄与せず、EMIノイズの高周波領域における周波数スペクトル低減に効かない。一方で電力損失と発熱を大きくさせる課題がある。
 図3に、図2の従来例の負荷駆動のタイミングチャートの一例を示す。ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオンオフ時の電力損失PdHはハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7の出力電流IOUTHとドレイン―ソース間電圧VDSHとの積で求まり、負荷駆動電圧波形OUTの傾きがより小さい箇所があるため、電力損失PdHが大きくなり、これに伴い発熱がより大きくなる課題がある。
 そこで、本発明は、EMIノイズを低減するとともに、ドライバ用トランジスタのオンオフ時の電力損失と発熱の低減を可能とする負荷駆動スロープ制御装置を提供する。
 また、EMIノイズを低減するために十分な負荷駆動電圧波形の立上り時間及び立下り時間を持たせるとドライバ用トランジスタのオンオフ時の電力損失と発熱が増大し、特に負荷駆動ドライバを多チャネル集積した装置において、発熱による熱破壊の恐れが高まる課題がある。
 そこで、本発明は、過温度でないときはEMIノイズを低減し、過温度時にはドライバ用トランジスタの過温度破壊を防ぐ負荷駆動スロープ制御装置を提供する。
 上記課題を解決するために、本発明に係る負荷駆動制御装置は、負荷を駆動するドライバ用トランジスタと、前記ドライバ用トランジスタのオンオフ制御端子を介して駆動するプリドライバと、前記プリドライバの入力側と接続した容量と、第1の信号によりオンオフが制御されかつ前記容量を充電する電流を発生させる第1の電流源と、第2の信号によりオンオフが制御されかつ前記容量を放電する電流を発生させる第2の電流源と、を備え、前記容量を充電または放電することによって前記プリドライバの出力電圧を変化させ、前記プリドライバの前記出力電圧によって前記ドライバ用トランジスタをオンオフさせ、前記ドライバ用トランジスタをオンオフさせることによって前記負荷を駆動する電圧波形の立上り及び立下りの傾きが線形であることを特徴とする。
 本発明によれば、EMIノイズを低減するとともに、ドライバ用トランジスタのオンオフ時の電力損失と発熱の低減を可能とする負荷駆動スロープ制御装置を提供できる。
 また、過温度でないときはEMIノイズを低減し、ドライバ用トランジスタによる過温度破壊から保護できる負荷駆動スロープ制御装置を提供できる。
 上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
本発明の第1の実施形態である負荷駆動スロープ制御装置の構成を示すブロック図である。 負荷駆動スロープ制御装置の従来例の構成を示すブロック図である。 図2に示す実施例のタイミングチャートである。 電圧波形と周波数スペクトルの関係を説明するための図である。 電圧波形と周波数スペクトルの関係を説明するための図である。 図1に示す実施例のプリドライバ回路の例である。 図1に示す実施例のプリドライバ回路の例である。 図1に示す実施例の電流源の例である。 図1に示す実施例の電流源の例である。 図1に示す実施例の電流源の例である。 図1に示す実施例の電流源の例である。 図1に示す実施例のタイミングチャートである。 図1に示す実施例のタイミングチャートである。 図1に示す実施例のタイミングチャートである。 図1に示す実施例の別形態による実施例である。 本発明の第2の実施形態である負荷駆動スロープ制御装置の構成を示すブロック図である。 図9に示す実施例のタイミングチャートである。 図9に示す実施例の別形態による実施例である。 図11に示す実施例のタイミングチャートである。 本発明の第3の実施形態である負荷駆動スロープ制御装置の構成を示すブロック図である。 図13に示す実施例の別形態による実施例である。 図13に示す実施例の電流源の例である。 図13に示す実施例の電流源の例である。 図13に示す実施例の温度モニタ手段の例である。 図13に示す実施例の温度モニタ手段の例である。 図16(a)に示す温度モニタ手段の特性例を説明するための図である。 図13に示す電流量制御信号生成手段の1例である。 図13に示す実施例のタイミングチャートである。 本発明の第4の実施形態である負荷駆動スロープ制御装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第5の実施形態である負荷駆動スロープ制御装置の構成を示すブロック図である。 図21に示す実施例の別形態による実施例である。 図20に示す実施例の負荷駆動スロープ制御装置の1例である。 図21に示す実施例の負荷駆動スロープ制御装置の1例である。
 以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。なお、図面は簡略的なものであるから、この図面の記載を根拠として本発明の技術的範囲を狭く解釈してはならない。また、同一の要素には、同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
 本発明の第1の実施形態では、EMIノイズを低減するとともに、ドライバ用トランジスタのオンオフ時の電力損失と発熱の低減を可能とする負荷駆動スロープ制御装置1の構成及び動作について説明する。
 図1は本発明の第1の実施形態であるハイサイドドライバ用NMOSトランジスタを用いた場合の負荷駆動スロープ制御装置1の全体構成である。
 図1に示す負荷駆動スロープ制御装置1は、電源端子VBと、駆動対象となる負荷2と、電源端子VBと負荷2の間に接続したハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7と、ハイサイドドライバ用トランジスタ7のゲートを駆動するプリドライバ4と、プリドライバ4の入力GATEと接続した容量5と、第1の信号S1によりオンオフが制御されるプリドライバ4の入力GATEに接続する容量5を充電する電流を発生させる第1の電流源I1と、第2の信号S2によりオンオフが制御されるプリドライバ4の入力GATEに接続する容量5を放電する電流を発生させる第2の電流源I2を備えている。
 入力信号INHのオンに対応して、電流源制御手段3を用いて、信号S1によりオンオフが制御される電流源I1をオンし、信号S2によりオンオフが制御される電流源I2をオフする。
 電流源I1は例えば、図6(a)に示すように、定電流源6aと信号S1によりオンオフが制御されるスイッチ9aから構成される。電流源I2は例えば、図6(b)に示すように、定電流源6bと信号S2によりオンオフが制御されるスイッチ9bから構成される。ここで、スイッチ9a,9bは例えばアナログスイッチ回路により構成される。
 また、電流源I1,I2は、1例として電流源I1の場合を図6(c)に示すように、電流コピー回路I11を介して、定電流源6aと信号S1によりオンオフが制御されるスイッチ9aから構成してもよい。ここでは1例として電流コピー回路I11はPMOSトランジスタであるPMAとPMBから構成されるカレントミラー回路から構成した場合を示す。
 プリドライバ4の入力GATEと接続した容量5を電流値=Is1で充電することにより、プリドライバの入力電圧GATEの立上りの傾きはIs1/Cとなる。ここで、容量5の容量値をCとし、電圧依存性はハイサイドドライバ用NMOSトランジスタのゲート容量の電圧依存性に比べ小さい素子を用いる。
 プリドライバ4は入力電圧GATEと出力電圧HGATEとに線形関係があることを特徴とする。例えば、プリドライバ4のゲインを1とする、図5(a)、(b)に示すようなN型及びP型トランジスタによって構成されたソースフォロア回路またはオペアンプによって構成されたボルテージフォロア回路を有する場合について以下説明する。
 このとき、プリドライバ4の出力電圧HGATEの立上りの傾きもIs1/Cとなり、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲート電圧を制御することで、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7をオンする。
 また、入力信号INHのオフに対応して、電流源制御手段3を用いて、信号S1により電流源I1をオフし、信号S2により電流源I2をオンし、プリドライバ4の入力GATEと接続した容量5を電流値=Is2で放電することにより、プリドライバの入力電圧GATE及び出力電圧HGATEの傾きは-Is2/Cとなり、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲート電圧を制御することで、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7をオフする。
 ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7の負荷2と接続する出力電圧OUTとゲート電圧であるHGATEはソースフォオア回路もしくはドレイン接地増幅回路の構成であることからゲインは1であり、出力電圧OUTはハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7がオンするとき、傾きはIs1/Cとなり、オフするときは、傾きはIs2/Cとなる。
 電流源I1,I2は信号S1,S2の2つの信号の代わりに1信号で構成することも可能である。1例として、図6(d)に示すように、信号S2によりオンオフが制御されるスイッチ9bと電流値がIs1である定電流源6aと電流値がIs2である定電流源6bと電流コピー回路I11から構成されるI3によって、Is1<Is2とする。このときスイッチ9bがオンのときGATEから電流値Is2-Is1を放電し、スイッチ9bがオフのとき、GATEに電流値Is1を充電することができる。
 図1に示した第1の実施例において、負荷2として、ソレノイドもしくはインダクタに適用した場合の動作を図7(a)のタイミングチャートを用いて説明する。
 タイミングチャートの例として本実施例では、入力信号INHがオンの期間をハイサイドオン期間、入力信号INHがオフの期間をハイサイドオフ期間とする。
 ハイサイドオン期間は、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7から負荷2に出力電流IOUTHを流すため、リーク電流の影響を無視すると、出力端子OUTは電源電圧VBから、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオン電圧VonH分、電圧降下した電圧となる。ここで、オン電圧VonHはハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオン抵抗をRonH、駆動電流をIHとした時、VonH=IH×RonHである。
 ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のソース電圧はOUT端子電圧であるため、NMOSの閾値電圧Vthnとすると、大電流を駆動するドライバ回路においてオン抵抗RonHは低抵抗であることが好ましく、IH×RonH<Vthnとなる。これより、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7をオンさせるために必要なHGATEの電圧は、
 HGATE電圧=VB-VonH+Vthn=VB-IH×RonH+Vthn>VBとなる。よって、HGATE電圧はVB電圧以上であることが必要である。HGATE電圧を出力するプリドライバ4に供給されるVCP電圧もVB電圧より高電位であることが必要である。
 VCP電圧は、例えば、図1に示したように装置外部電源から端子経由で供給しても、図面では非表示であるが、VB電源からチャージポンプやDCDCコンバータやブートストラップなどから生成して構成してもよい。
 ハイサイドオン期間からハイサイドオフ期間へ遷移するとき、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7はオフする。このとき、負荷2のフライバック電圧が発生し、ダイオード8によってGNDから出力端子OUTに電流が流れるため、リーク電流の影響を無視すると、出力端子OUTはGNDからダイオードの順方向電圧VOFF電圧分降下した電圧となる。
 ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲート-ソース間電圧が閾値電圧Vthn以下におけるデバイス特性に依存するため必須の条件では無いが、HGATE電圧はハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7を完全にオフさせるため
 HGATE電圧=OUT端子電圧=-VOFF
としてもよい。この場合、プリドライバ4の基準電位はOUT端子と同電位が望ましい。但し、図1においては、プリドライバ4の基準電位はGNDとしている。
 ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のドレイン-ソース間電圧は図7(a)のVDSHとして示したとおり、電圧波形の立上り及び立下りの傾きが線形である。これにより、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオンオフ時の電力損失PdH=IOUTH×VDSHを図4(b)のf2周波数により特徴づけられるEMIノイズの高周波領域特性に最低限必要な量とすることが可能となり、電力損失と伴に発熱を抑えることが可能となる。
 なお、図1の構成では負荷2のフライバック電圧が発生に対して、ダイオード8によってGNDから出力端子OUTに電流が流したが、図8に示すようにダイオード8ではなく、同期整流を行う、ローサイドドライバ用NMOS10を用いる構成でもよい。ここでは1例として、入力信号INLのオンオフに対応して、電源電圧をVCCとしたドライバ13を介して、ローサイドドライバ用NMOS10のゲートをオンオフする構成とした。
 図1に示した第1の実施例において、負荷2として、抵抗負荷に適用した場合のタイミングチャート例を図7(b)に示す。
 負荷2が抵抗負荷のため、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7がオフしたとき、負荷2のフライバック電圧は発生しない。そのため、図1においてダイオード8は不要である。
 ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のドレイン-ソース間電圧は図7(b)のVDSHとして示したとおり、電圧波形の立上り及び立下りの傾きが線形である。これにより、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオンオフ時の電力損失PdH=IOUTH×VDSHを図4(b)のf2周波数により特徴づけられるEMIノイズの高周波領域特性に最低限必要な量とすることが可能となり、電力損失と伴に発熱を抑えることが可能である。
 図1に示した第1の実施例において、負荷2として、容量負荷に適用した場合のタイミングチャート例を図7(c)に示す。
 負荷2が容量負荷のため、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7がオフしたとき、負荷2のフライバック電圧は発生しない。そのため、図1においてダイオード8は不要である。また負荷2が充電されると放電されない限り、出力電圧OUTは変化しない。
 ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のドレイン-ソース間電圧は図7(c)のVDSHとして示したとおり、負荷2の容量負荷が充電されていない場合、電圧波形の立下りの傾きが線形である。これにより、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオン時の電力損失PdH=IOUTH×VDSHを図4(b)のf2周波数により特徴づけられるEMIノイズの高周波領域特性に最低限必要な量とすることが可能となり、電力損失と伴に発熱を抑えることが可能である。ここで、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7の出力電流をIOUTHとした。
 以上、図7(a)~(c)を用いて説明した負荷2に対して、いずれもEMIノイズを低減するとともに、ドライバ用トランジスタのオンオフ時の電力損失と発熱を低減する負荷駆動スロープ制御装置を可能とする。負荷2として、ソレノイドもしくはインダクタ、抵抗、容量を組み合わせても良い。
 本発明の第2の実施形態として、EMIノイズを低減するとともに、ドライバ用トランジスタのオンオフ時の電力損失と発熱の低減を可能とする負荷駆動スロープ制御装置において、ドライバ用トランジスタがGNDに接続して負荷2を駆動するローサイドドライバ用トランジスタとする構成及び動作について説明する。
 図9は本発明の第2の実施形態の1形態であり、以下では実施例1の1形態である図1からの差分に関して説明する。
 図9に示す負荷駆動スロープ制御装置1は、電源端子VBと、駆動対象となる負荷2と、GND端子と負荷2の間に接続したローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10と、ローサイドドライバ用トランジスタ10のゲートを駆動するプリドライバ4と、プリドライバ4の入力GATEと接続した容量5と、第1の信号S1によりオンオフが制御されるプリドライバ4の入力GATEに接続する容量5を充電する電流を発生させる第1の電流源I1と、第2の信号S2によりオンオフが制御されるプリドライバ4の入力GATEに接続する容量5を放電する電流を発生させる第2の電流源I2を備えている。
 入力信号INLのオンに対応して、電流源制御手段3Lを用いて、信号S1によりオンオフが制御される電流源I1をオフし、信号S2によりオンオフが制御される電流源I2をオンする。
 プリドライバ4の入力GATEと接続した容量5を電流値=Is2で放電することにより、プリドライバの入力電圧GATEの立下りの傾きは-Is2/Cとなる。ここで、容量5の容量値をCとし、電圧依存性はローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10のゲート容量の電圧依存性に比べ小さい素子を用いる。
 図1と同様に、プリドライバ4は入力電圧GATEと出力電圧LGATEとに線形関係があることを特徴とし、例えばプリドライバ4のゲインを1とする。
 このとき、プリドライバの出力電圧LGATEの立下りの傾きも-Is2/Cとなり、ローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10のゲート電圧を制御することで、ローサイドライバ用PMOSトランジスタ10をオンする。
 また、入力信号INLのオフに対応して、電流源制御手段3Lを用いて、信号S1により電流源I1をオンし、信号S2により電流源I2をオフし、プリドライバ4の入力GATEと接続した容量5を電流値=Is1で充電することにより、プリドライバの入力電圧GATE及び出力電圧LGATEの傾きはIs1/Cとなり、ローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10のゲート電圧を制御することで、ローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10をオフする。
 ローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10の負荷2と接続する出力電圧OUTとゲート電圧であるLGATEはソースフォオア回路もしくはドレイン接地増幅回路の構成であることからゲインは1であり、出力電圧OUTはローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10がオンするとき、傾きは-Is2/Cとなり、オフするときは、傾きはIs1/Cとなる。
 図9に示した第2の実施形態の1形態において、負荷2として、ソレノイドもしくはインダクタに適用した場合の動作を図10のタイミングチャートを用いて説明する。
 タイミングチャートの例として本実施例では、入力信号INLがオンの期間をローサイドオン期間、入力信号INLがオフの期間をローサイドオフ期間とする。
 ローサイドオン期間からローサイドオフ期間へ遷移するとき、ローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10はオフする。このとき、負荷2のフライバック電圧が発生し、ダイオード8によって出力端子OUTからVBに電流が流れるため、リーク電流の影響を無視すると、出力端子OUTはVBからダイオードの順方向電圧VOFF電圧分上昇した電圧となる。
 ローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10のゲート-ソース間電圧が閾値電圧Vthp以下におけるデバイス特性に依存するため必須の条件では無いが、LGATE電圧はローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10を完全にオフさせるため
 LGATE電圧=OUT端子電圧=VB+VOFF>VB
であることが好ましい。この場合、図9において、プリドライバ4の電源電位はVB電位以上であることが必要となり、VCPとする。
 ローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10のソース-ドレイン間電圧は図10にOUT=-VDSLとして示したとおり、電圧波形の立上り及び立下りの傾きが線形である。これにより、ローサイドドライバ用PMOSトランジスタ10のオンオフ時の電力損失PdL=IOUTL×(-VDSL)を図4(b)のf2周波数により特徴づけられるEMIノイズの高周波領域特性に最低限必要な量とすることが可能となり、電力損失と伴に発熱を抑えることが可能となる。
 なお、図9の構成では負荷2のフライバック電圧が発生に対して、ダイオード8によって出力端子OUTからVBに電流が流したが、図8のハイサイドドライバ構成と同様に、ダイオード8ではなく、同期整流を行う構成でもよい。
 図11は本発明の第2の実施形態の第2の形態であり、以下では実施例2の1形態である図9からの差分に関して説明する。
 図11に示す負荷駆動スロープ制御装置1は、電源端子VBと、駆動対象となる負荷2と、GND端子と負荷2の間に接続したローサイドドライバ用NMOSトランジスタ10と、ローサイドドライバ用NMOSトランジスタ10のゲートを駆動するプリドライバ4Lと、プリドライバ4Lの入力GATEと接続した容量5と、第1の信号S1によりオンオフが制御されるプリドライバ4Lの入力GATEに接続する容量5を充電する電流を発生させる第1の電流源I1と、第2の信号S2によりオンオフが制御されるプリドライバ4Lの入力GATEに接続する容量5を放電する電流を発生させる第2の電流源I2を備えている。
 ここで、プリドライバ4Lはオペアンプ回路から構成され、ローサイドドライバ用トランジスタNMOS10のドレイン電圧をフィードバックすることを特徴とする。
 ローサイドドライバ用NMOSトランジスタ10のドレイン端子は負荷2と接続する出力電圧OUTと同電位であり、オペアンプであるプリドライバ4Lにより、電圧フィードバックされているため、出力電圧OUTはプリドライバ4Lの入力信号GATEと同様に、ローサイドドライバ用NMOSトランジスタ10がオンするとき、傾きは-Is2/Cとなり、オフするときは、傾きはIs1/Cとなる。
 図11に示した第2の実施形態の第2の形態において、負荷2として、ソレノイドもしくはインダクタに適用した場合の動作を図12のタイミングチャートを用いて説明する。
 ローサイドオン期間からローサイドオフ期間へ遷移するとき、ローサイドドライバ用NMOSトランジスタ10はオフする。このとき、負荷2のフライバック電圧が発生し、ダイオード8によって出力端子OUTからVBに電流が流れるため、リーク電流の影響を無視すると、出力端子OUTはVBからダイオードの順方向電圧VOFF電圧分上昇した電圧となる。
 ローサイドドライバ用NMOSトランジスタ10のドレイン-ソース間電圧は図12にOUT=VDSLとして示したとおり、電圧波形の立上り及び立下りの傾きが線形である。これにより、ローサイドドライバ用NMOSトランジスタ10のオンオフ時の電力損失PdL=IOUTL×VDSLを図4(b)のf2周波数により特徴づけられるEMIノイズの高周波領域特性に最低限必要な量とすることが可能となり、電力損失と伴に発熱を抑えることが可能となる。
 なお、図11の構成では負荷2のフライバック電圧が発生に対して、ダイオード8によって出力端子OUTからVBに電流が流したが、図8のハイサイドドライバ構成と同様に、ダイオード8ではなく、同期整流を行う構成でもよい。
 本発明の第3の実施形態では、過温度でないときはEMIノイズを低減し、過温度時にはドライバ用トランジスタの過温度破壊を防ぐ構成及び動作について説明する。
 図13は本発明の第3の実施形態の第1の形態であり、以下では実施例1の1形態である図1からの差分に関して説明する。
 図13において、電流量制御信号ICONにより、第1の電流源I1及び第2の電流源I2の電流量を変える機能と、温度モニタ手段11と、温度モニタ手段11の出力信号TEMPを電流量制御信号ICONに対応させる電流量制御信号生成手段12を備える。
 I1、I2電流源の電流量を例えば、Is1=Is2=Iとしたき、実施例1にて説明のとおり、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオンオフによるOUT電圧波形の傾きは立上りI/C、立下り-I/Cとなる。
 ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオンまたはオフによる電力損失PdHは
周期をTとしたとき
 PdH=IH×(VB+VOFF)/2×(dt/T)×2
となる。ここで、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7の駆動電流をIH、負荷2のフライバック電圧が発生した場合のダイオード8による順方向電圧降下分をVOFFとする。負荷2において、フライバック電圧が発生しない場合はVOFF=0Vである。dtをハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオフからオンまたはオンからオフしたときの、OUT電圧の立上りまたは立下り時間とする。
 dt=(VB+VOFF)/(I/C)=(VB+VOFF)×C/I
となる。これより、
 PdH=(IH×(VB+VOFF)^2)/T×(C/I)
となる。
 以上より、電流量制御信号ICONにより、第1の電流源I1及び第2の電流源I2の電流量を変えることで、例えば、電流量をIs1=Is2=Iとし、Iを増加させたとき、OUT電圧波形の傾きは増加し、図4(b)のf2周波数が増加し、高周波領域におけるEMIノイズが増加する。一方で、OUT電圧の立上り、立下り時間dtは減少し、電力損失PdHも減少させることが可能である。
 温度モニタ手段11として、例えば、図16(a)に示すように、定電流源6cをダイオード11a1に与え、ダイオードの順方向電圧の温度変化をオペアンプ11a2と抵抗11a3,11a4によって構成された増幅回路を介して、電圧TEMPとして出力することにより、図17で示すように、温度をモニタすることが可能である。温度モニタ手段11として、例えば図16(b)に示すように、サーミスタ11b1の抵抗値の温度変化を抵抗11b2と、オペアンプ11b3から構成されるボルテージフォロア回路を用いて、電圧TEMPとして出力してもよい。
 温度情報信号TEMPを入力とする電流量制御信号生成手段12により、電流量制御信号ICONを生成する。電流量制御信号生成手段12の構成、動作の1例を以下説明する。
 電流量制御信号生成手段12として、図18に示すように、コンパレータ12a、12bを用いて、図17で示した関係がある入力信号TEMPに対して、例えば、100℃、150℃に対応する3.5V、3Vを閾値電圧として設定する。出力信号である電流量制御信号ICON(1例として2ビット信号とする)は温度100℃以下ではICON=LL、温度100℃から150℃において、ICON=LH、温度150℃以上でICON=HHとする。なお、コンパレータ12a,12bの出力信号である電流量制御信号ICONのLからHへ切替り閾値電圧とHからLへの切替り閾値電圧とで、ヒステリシスを持たせても良い。
 電流源I1として、例えば図15(a)に示すように、信号S1によりオンオフされるスイッチ9aと、電流量制御信号ICONの下位1ビット信号ICON[0]がLのときオフ、Hのときオンするスイッチ9c1と、電流量制御信号ICONの上位1ビット信号ICON[1]がLのときオフ、Hのときオンするスイッチ9c2と、それぞれの電流値がIs,Is,2Isとなる定電流源6a1,6a2,6a3から構成されるとする。
 同様に、電流源I2として、例えば図15(b)に示すように、信号S2によりオンオフされるスイッチ9bと、電流量制御信号ICONの下位1ビット信号ICON[0]がLのときオフ、Hのときオンするスイッチ9d1と、電流量制御信号ICONの上位1ビット信号ICON[1]がLのときオフ、Hのときオンするスイッチ9d2と、それぞれの電流値がIs,Is,2Isとなる定電流源6b1,6b2,6b3から構成されるとする。
 このとき、例えば、第1の電流源I1及び第2の電流源I2の電流量をIs1=Is2=Iとしたとき、電流量制御信号ICON2ビット信号のH、LをICON[1]、ICON[0]の並びで表記したとき、ICON=LLのとき、I=Is、ICON=LHのとき、I=2Is、ICON=HHのとき、I=4Isと、温度情報信号TEMPから電流量制御信号ICONを介して、電流源I1及びI2の電流量と対応づけすることができる。
 このときの動作例として、タイミングチャート例を図19に示す。
 温度上昇に伴い、電流源I1およびI2の電流量をIs→2Is→4Isのように増加させることにより、高温時に、OUT電圧の立上り、立下り時間dtを減少させ、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7による電力損失PdHとそれに伴う発熱を減少させることが可能である。
 以上より、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7での発熱、過温度破壊を防ぐことが可能である。
 また、図14に示すように、温度モニタ手段11をハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7近傍に配置することにより、局所的、過渡的なハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7での発熱、過温度破壊を防ぐことが可能である。ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7近傍とは、例えば、温度モニタ手段11がハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7を実装する絶縁基板に実装される場合である。
 図23は本発明の第3の実施形態の第2の形態である。
 図23において、従来例の1形態である図2からの差分は、電流量制御信号ICONにより、第1の電流源I1及び第2の電流源I2の電流量を変える機能と、温度モニタ手段11と、温度モニタ手段11の出力信号TEMPを電流量制御信号ICONに対応させる電流量制御信号生成手段12を備える。
 本形態では図13と異なり、電流源I1、I2はハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲート容量に対して、充電、放電する。前述のとおり、ゲート容量電圧依存性の非線形性のため、図13の実施形態よりもハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のオン、オフ時の電力損失PdHは増加し、発熱する。
 しかしながら、温度モニタ手段11と、温度モニタ手段11の出力信号TEMPを電流量制御信号ICONに対応させる電流量制御信号生成手段12と、電流量制御信号ICONにより、第1の電流源I1及び第2の電流源I2の電流量を変える機能を備えることにより、図13の実施形態と同様に、OUT出力電圧の立上り、立下りに関して、高温時に立上り、立下り時間dtを減少させ、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7による電力損失PdHとそれに伴う発熱を減少させることが可能である。
 以上より、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7での発熱、過温度破壊を防ぐことが可能である。
 また、図24に示すように、温度モニタ手段11をハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7近傍に配置することにより、局所的、過渡的なハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7での発熱、過温度破壊を防ぐことが可能である。ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7近傍とは、例えば、温度モニタ手段11がハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7を実装する絶縁基板に実装される場合である。
 本発明の第4の実施形態として複数の負荷駆動スロープ制御装置を集積化した例として、過温度でないときはEMIノイズを低減し、過温度時にはドライバ用トランジスタの過温度破壊を防ぐ構成例を図20に示す。
 ここで、負荷駆動スロープ制御装置1として、例えば、図13もしくは図23のように電流量制御信号ICONの入力を持ち、集積回路100として、温度モニタ手段11と電流量制御信号手段12を備える。
 温度モニタ11による温度情報TEMPが高温時に、OUT1及びOUT2の電圧の立上り、立下り時間dtを減少させ、各チャネルにおける負荷駆動スロープ制御装置1のハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7による電力損失PdHとそれに伴う発熱を減少させることが可能である。
 以上より、過温度でないときはEMIノイズを低減し、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7での発熱、過温度破壊を防ぐことが可能である。
 本発明の第5の実施形態として複数の負荷に対する負荷駆動スロープ制御装置を集積化した例として、2つの負荷を駆動し、過温度でないときはEMIノイズを低減し、過温度時にはドライバ用トランジスタの過温度破壊を防ぐ構成例を図21に示す。
 ここで、負荷駆動スロープ制御装置1として、例えば、図14もしくは図24のように電流量制御信号ICONの入力を持ち、温度モニタ手段11をハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7近傍に配置し、温度情報TEMPを出力信号として持ち、集積回路100として、温度モニタ手段11と電流量制御信号手段12を備える。
 負荷駆動スロープ制御装置1、各チャネルの温度モニタ11による温度情報が高温時に、各チャネル毎に出力OUTの電圧の立上り、立下り時間dtを減少させ、負荷駆動スロープ制御装置1、各チャネルのハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7による電力損失PdHとそれに伴う発熱を減少させることが可能である。
 以上より、過温度でないときはEMIノイズを低減し、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7での発熱、過温度破壊を防ぐことが可能である。
 また、図22に示すように、各チャネルの負荷駆動スロープ制御装置1とは別に温度モニタ手段11を集積回路100内に持たせる構成でも良い。
 以上の実施例3~5において、過温度でないときはEMIノイズを低減し、過温度時にはドライバ用トランジスタの過温度破壊を防ぐ負荷駆動スロープ制御装置を可能とする。なお、実施例1と同様に負荷2はソレノイドもしくはインダクタに限定されず、負荷駆動として、ハイサイドドライバのみに限定されない。また、図面において、非表示であるが、ある高温において(例えば180℃)、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7の過温度破壊を確実に防ぐため、温度モニタ手段11を用いて、ある高温(例えば180℃)をモニタした際、入力信号INHをオフ設定に、もしくは、ハイサイドドライバ用NMOSトランジスタ7のゲートをオフする制御を行ってもよい。
 なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換える事が可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について他の構成の追加・削除・置換をする事が可能である。
 また、制御線や信号線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や信号線を示しているとは限らない。
1     負荷駆動スロープ制御装置
2     負荷
3,3L  電流源制御手段
4     プリドライバ
5     容量
6a~6c 定電流源
7     ハイサイドドライバ用トランジスタ
8     ダイオード
9a~9d スイッチ
10    ローサイドドライバ用トランジスタ
11    温度モニタ手段
12    電流量制御信号生成手段
13    ドライバ
100   集積回路
INH,INL 入力信号
S1~S2 制御信号
I1~I3 電流源
ICON  電流量制御信号
TEMP  温度情報信号

Claims (15)

  1.  負荷を駆動するドライバ用トランジスタと、
     前記ドライバ用トランジスタのオンオフ制御端子を介して駆動するプリドライバと、
     前記プリドライバの入力側と接続した容量と、
     第1の信号によりオンオフが制御されかつ前記容量を充電する電流を発生させる第1の電流源と、
     第2の信号によりオンオフが制御されかつ前記容量を放電する電流を発生させる第2の電流源と、を備え、
     前記容量を充電または放電することによって前記プリドライバの出力電圧を変化させ、
     前記プリドライバの前記出力電圧によって前記ドライバ用トランジスタをオンオフさせ、
     前記ドライバ用トランジスタをオンオフさせることによって前記負荷を駆動する電圧波形の立上り及び立下りの傾きが線形であることを特徴とする負荷駆動制御装置。
  2.  請求項1に記載の負荷駆動制御装置であって、
     前記ドライバ用トランジスタが高圧電源側に接続されて前記負荷を駆動するハイサイドドライバ用トランジスタであることを特徴とする負荷駆動制御装置。
  3.  請求項1に記載の負荷駆動制御装置であって、
     前記ドライバ用トランジスタがGND側に接続されて前記負荷を駆動するローサイドドライバ用トランジスタであることを特徴とする負荷駆動制御装置。
  4.  請求項1ないし3に記載のいずれかの負荷駆動制御装置であって、
     前記プリドライバがN型及びP型トランジスタによって構成されたソースフォロア回路またはオペアンプによって構成されたボルテージフォロア回路を有することを特徴とする負荷駆動制御装置。
  5.  請求項1ないし4に記載のいずれかの負荷駆動制御装置であって、
     前記第1の信号と前記第2の信号を含んだ第3の信号を共通の信号入力端子から取得し、
     前記第3の信号に基づいて前記第1の電流源及び前記第2の電流源の電流量を変えることによって、前記負荷を駆動する電圧波形の立上り及び立下りの傾きを変えることを特徴とする負荷駆動制御装置。
  6.  請求項5に記載の負荷駆動制御装置であって、
     前記ドライバ用トランジスタに関する温度情報信号を取得する温度モニタ手段と、
     前記温度情報信号に対応した前記第3の信号を出力する電流量制御信号生成手段と、を有することを特徴とする負荷駆動制御装置。
  7.  請求項6に記載の負荷駆動制御装置であって、
     前記温度モニタ手段は、前記ドライバ用トランジスタを実装するための絶縁基板上に配置されることを特徴とする負荷駆動制御装置。
  8.  請求項5ないし7に記載のいずれかの負荷駆動制御装置であって、
     少なくとも前記ドライバ用トランジスタの1ないし複数チャネル分と前記第3の信号の1ないし複数チャネル分を同一のシリコン基板上に形成することを特徴とした半導体集積回路を有する負荷駆動制御装置。
  9.  請求項5ないし7に記載のいずれかの負荷駆動制御装置であって、
     少なくとも前記ドライバ用トランジスタの1ないし複数チャネル分と前記第3の信号の1ないし複数チャネル分と前記温度モニタ手段の1ないし複数チャネル分を同一のシリコン基板上に形成することを特徴とした半導体集積回路を有する負荷駆動制御装置。
  10.  負荷を駆動するドライバ用トランジスタと、
     前記ドライバ用トランジスタのオンオフ制御端子の容量を、第1の信号によりオンオフが制御することにより充電するための電流を発生させる第1の電流源と、
     前記ドライバ用トランジスタのオンオフ制御端子の容量を、第2の信号によりオンオフが制御することにより放電するための電流を発生させる第2の電流源と、
     前記ドライバ用トランジスタのオンオフが制御される端子の容量を充電または放電することによって前記ドライバ用トランジスタをオンオフさせ、
     前記第1の信号と前記第2の信号を含んだ第3の信号により前記第1の電流源及び前記第2の電流源の電流量を変えることによって、前記負荷を駆動する電圧波形の立上り及び立下りの傾きを変える機能を有することを特徴とする負荷駆動制御装置。
  11.  請求項10に記載の負荷駆動制御装置であって、
     前記ドライバ用トランジスタに関する温度情報信号を取得する温度モニタ手段と、
     前記温度情報信号に対応した前記第3の信号を出力する電流量制御信号生成手段と、を有することを特徴とする負荷駆動制御装置。
  12.  請求項11に記載の負荷駆動制御装置であって、
     前記温度モニタ手段は、前記ドライバ用トランジスタを実装するための絶縁基板上に配置されることを特徴とする負荷駆動制御装置。
  13.  請求項10ないし12に記載のいずれかの負荷駆動制御装置であって、
     少なくとも前記ドライバ用トランジスタの1ないし複数チャネル分と前記第3の信号の1ないし複数チャネル分を同一のシリコン基板上に形成することを特徴とした半導体集積回路を有する負荷駆動制御装置。
  14.  請求項10ないし12に記載のいずれかの負荷駆動制御装置であって、
     少なくとも前記ドライバ用トランジスタの1ないし複数チャネル分と前記第3の信号の1ないし複数チャネル分と前記温度モニタ手段の1ないし複数チャネル分を同一のシリコン基板上に形成することを特徴とした半導体集積回路を有する負荷駆動制御装置。
  15.  請求項5又は請求項6又は請求項7又は請求項10又は請求項11又は請求項12に記載のいずれかの負荷駆動制御装置であって、少なくとも前記ドライバ用トランジスタの1ないし複数チャネル分と前記温度モニタ手段の1ないし複数チャネル分を同一のシリコン基板上に形成することを特徴とした半導体集積回路を有する負荷駆動制御装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220247400A1 (en) * 2021-01-29 2022-08-04 Mazda Motor Corporation Load drive control device

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105485568A (zh) * 2015-11-25 2016-04-13 宁波市柯玛士太阳能科技有限公司 一种可音频控制和音频调节的潜水灯
JP6638474B2 (ja) * 2016-03-01 2020-01-29 株式会社デンソー 信号出力回路
US10097010B2 (en) * 2016-04-19 2018-10-09 Infineon Technologies Ag Control of freewheeling voltage
US9882555B2 (en) * 2016-06-24 2018-01-30 Infineon Technologies Ag Switch device
US10394260B2 (en) * 2016-06-30 2019-08-27 Synaptics Incorporated Gate boosting circuit and method for an integrated power stage
JP6536522B2 (ja) * 2016-09-26 2019-07-03 株式会社デンソー 信号出力回路
US10637459B2 (en) 2016-12-30 2020-04-28 Delta Electronics, Inc. Driving circuit and an under-voltage lockout circuit of a power circuit
US10608629B2 (en) 2016-12-30 2020-03-31 Delta Electronics, Inc. Driving circuit of a power circuit
US10819332B2 (en) 2016-12-30 2020-10-27 Delta Electronics, Inc. Driving circuit of a power circuit and a package structure thereof
US9906221B1 (en) * 2016-12-30 2018-02-27 Delta Electronics, Inc. Driving circuit of a power circuit
US10666246B2 (en) 2016-12-30 2020-05-26 Delta Electronics, Inc. Driving circuit and a desaturation circuit of a power circuit
KR101996734B1 (ko) * 2017-11-15 2019-07-04 숭실대학교산학협력단 Emi 저감 장치가 구비된 센서 시스템 및 이를 이용한 emi 저감 방법
JP7050586B2 (ja) * 2018-06-08 2022-04-08 日清紡マイクロデバイス株式会社 定電流駆動回路
CN109379070A (zh) * 2018-12-20 2019-02-22 上海艾为电子技术股份有限公司 一种模拟开关启动电路及方法
JP2021129255A (ja) * 2020-02-17 2021-09-02 ミツミ電機株式会社 パルス信号送信回路
DE112021000823T5 (de) 2020-03-27 2022-11-17 Rohm Co. Ltd. Transistor-treiberschaltung

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0722851A (ja) * 1993-04-09 1995-01-24 Sgs Thomson Microelettronica Spa 零バイアス電流ローサイドドライバーコントロール回路
JPH11346147A (ja) * 1998-06-02 1999-12-14 Nec Corp スルーレート出力回路
JP2007013916A (ja) * 2005-05-30 2007-01-18 Denso Corp 信号生成装置
US20110175650A1 (en) 2008-12-04 2011-07-21 Stmicroelectronics S.R.L. Driver circuit and method for reducing electromagnetic interference
JP2011142643A (ja) * 2006-12-13 2011-07-21 Panasonic Corp 駆動電圧制御装置
JP2012015946A (ja) * 2010-07-05 2012-01-19 Denso Corp 負荷駆動装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5239255A (en) * 1991-02-20 1993-08-24 Bayview Technology Group Phase-controlled power modulation system
US6407594B1 (en) 1993-04-09 2002-06-18 Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. Zero bias current driver control circuit
DE50010799D1 (de) * 1999-05-07 2005-09-01 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters
US6795046B2 (en) * 2001-08-16 2004-09-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Self-calibrating image display device
US20080143697A1 (en) 2006-12-13 2008-06-19 Tomokazu Kojima Drive voltage control device
US20100194465A1 (en) * 2009-02-02 2010-08-05 Ali Salih Temperature compensated current source and method therefor
US8350416B2 (en) * 2009-06-30 2013-01-08 Schanin David J Transition-rate control for phase-controlled AC power delivery system
JP2011211836A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Panasonic Corp スイッチングデバイス駆動装置および半導体装置
JP5692031B2 (ja) * 2011-12-06 2015-04-01 株式会社デンソー 負荷駆動装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0722851A (ja) * 1993-04-09 1995-01-24 Sgs Thomson Microelettronica Spa 零バイアス電流ローサイドドライバーコントロール回路
JPH11346147A (ja) * 1998-06-02 1999-12-14 Nec Corp スルーレート出力回路
JP2007013916A (ja) * 2005-05-30 2007-01-18 Denso Corp 信号生成装置
JP2011142643A (ja) * 2006-12-13 2011-07-21 Panasonic Corp 駆動電圧制御装置
US20110175650A1 (en) 2008-12-04 2011-07-21 Stmicroelectronics S.R.L. Driver circuit and method for reducing electromagnetic interference
JP2012015946A (ja) * 2010-07-05 2012-01-19 Denso Corp 負荷駆動装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
SUZUKI SHIGEO: "EMC and basic technology", 1996, KOUGAKUTOSHO LTD., pages: 18

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220247400A1 (en) * 2021-01-29 2022-08-04 Mazda Motor Corporation Load drive control device
US11569809B2 (en) * 2021-01-29 2023-01-31 Mazda Motor Corporation Load drive control device

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