WO2014010807A1 - 나노입자를 포함하는 전자소자의 제조방법 - Google Patents

나노입자를 포함하는 전자소자의 제조방법 Download PDF

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organic
nanoparticles
inorganic
electronic device
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김창순
김형채
이종천
한규희
성향기
정기남
최호섭
하경연
최만수
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서울대학교산학협력단
재단법인 멀티스케일 에너지시스템 연구단
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Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing an electronic device by introducing nanoparticles without damaging the constituent layers of the inorganic semiconductor device or the organic semiconductor device.
  • a light emitting diode is a kind of semiconductor device that transmits and receives a signal by converting electricity into infrared rays or light using characteristics of a compound semiconductor.
  • the light emitting diode generates energy with high efficiency at low voltage, and it is excellent in energy saving effect. Recently, the luminance problem, which was the limitation of the light emitting diode, has been greatly improved. .
  • gallium nitride (GaN) -based light emitting diodes have a broad emission spectrum from ultraviolet rays to infrared rays and are environmentally friendly because they do not contain environmentally harmful substances such as arsenic (As) and mercury (Hg). Even high response.
  • GaN gallium nitride
  • a buffer layer, an n-type nitride semiconductor layer, an active layer, and a p-type nitride semiconductor layer are sequentially stacked on the sapphire substrate, and the n-type in the p-type nitride semiconductor layer A portion of the n-type nitride semiconductor layer is exposed by mesa etching to a portion of the nitride semiconductor layer, an n-electrode is formed on the exposed n-type nitride semiconductor layer, and a transparent electrode on the p-type nitride semiconductor layer And a p-electrode is formed on the transparent electrode.
  • a light emitting diode is a device that emits light when a current carrier injected from a pn junction recombines or changes its energy level, while a photodiode (photodiode) emits light on a pn junction. It is a device using a phenomenon in which a carrier is generated to generate a current or an electromotive voltage. That is, the photodiode looks similar to the light emitting diode but functions the opposite. Photodiodes convert light energy into electrical energy, while light emitting diodes convert electrical energy into light energy. The photodiode is characterized by fast response speed, wide sensitivity wavelength, and good linearity of photocurrent.
  • an exciton is generated by absorbing light incident from the outside of an active layer, and an exciton is a p-type or n-type organic or inorganic semiconductor material due to an electric field applied to the solar cell device. Holes and electrons are separated at the interface and the carriers can be converted into electricity by collecting these carriers from the electrodes at both ends of the device. Therefore, as much light is absorbed as possible in the active layer, more electricity can be generated.
  • the thickness of the active layer is so thin that it is difficult to absorb a large amount of light. However, if the active layer is too thick, the excitons formed by absorbing light will recombine and disappear again before reaching the interface of the p-n material, preventing them from separating into practically used carriers.
  • the LED has a variety of characteristics such as microlenses or surface irregularities.
  • a method of surface treatment and a method of reducing light confinement by increasing the diffuse reflection in the device by using the plasmon phenomenon have been attempted (see Korean Patent Publication No. 10-2010-0068777, Korean Patent Publication No. 10-2012-0038472, etc.).
  • the present invention provides a method for easily placing nanoparticles and nano / micro structures on specific layers of organic and inorganic semiconductor devices without damaging the device in order to improve efficiency and performance of organic and inorganic semiconductor devices including LEDs and solar cells. To provide.
  • Still another object of the present invention is to provide an electronic device manufactured by the above method.
  • the present invention provides a method for manufacturing an electronic device comprising at least one layer selected from an upper electrode layer, a lower electrode layer, an organic layer and an inorganic layer, before forming, after forming, or forming the layer. While attaching the charged nanoparticles in the process provides a method for manufacturing an electronic device comprising the step of introducing a nanoparticle or nano / micro structure layer.
  • the charged nanoparticles may be attached on the organic layer or the inorganic layer in the form of an aerosol.
  • the total thickness of the organic layer or inorganic layer formed in step (1) and the subsequent organic layer or inorganic layer formed in step (3) may be tens of nanometers or more and several hundred micrometers or less.
  • the nanoparticles or nano / micro structures can be located at any location within the organic or inorganic layer.
  • the voltage applied to the electrode inside the reactor may have an intensity of 0.5 to 8 kV with a polarity opposite to that of the charged nanoparticles.
  • the charged nanoparticles may be selected from copper, tin, silver, zinc, platinum, palladium, gold, indium, and cadmium, but is not limited thereto, and may be used to improve performance and efficiency of electronic devices. You can use anything you have.
  • the size of the charged nanoparticles may be 1 ⁇ 300 nm.
  • LEDs inorganic semiconductor compound light emitting diodes
  • OLEDs organic light emitting diodes
  • OLEDs organic photovoltaic cells
  • non-volatile memory cells non-volatile memory cells
  • tandem solar cells and the like, but are not limited thereto.
  • nanoparticles and nano / microstructures can be easily deposited on specific layers of organic and inorganic semiconductor devices, for example, above or below each of the upper and lower electrode layers, or without damaging the device within the organic / inorganic layer. It can be positioned to form nanoparticles or nano / micro structure layers within electronic devices in a simple and efficient manner. As a result, the unique properties of nanoparticles or nano / micro structures can be used to improve the efficiency and operation of organic or inorganic semiconductor electronic devices. In addition, by controlling the type and size of the nanoparticles, the position where the nanoparticles are introduced in the device and the shape of the nano / micro structure, it is expected to solve various problems to be overcome for improving the efficiency and performance of the device.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing the structure of an organic light emitting device manufactured in Examples and Comparative Examples of the present invention.
  • the present invention allows nanoparticles and nano / micro structures to be attached to specific layers of organic and inorganic semiconductor devices, such as above or below each of the upper and lower electrode layers, or inside the organic / inorganic layer by attaching charged particles in the aerosol form. It can be easily positioned without damaging the device.
  • the present invention can introduce nanoparticles or nano / micro structure layers into the organic or inorganic layers of electronic devices in a simple and efficient manner without damaging the organic or inorganic layers.
  • the inventive method can also easily form unique nano / micro structures suitable for inorganic semiconductor devices in the inorganic layer.
  • organic semiconductor devices organic materials are vulnerable to solvents or high temperature, and conventional methods for forming nano / micro structures and nanoparticles using photolithography, chemical methods, or thermal evaporation methods include nanoparticles in organic semiconductor devices. While it is difficult to introduce nano / micro structures, the method of the present invention can easily place nanoparticles or nano / micro structures between organic layers without damaging the organics.
  • Charged particles may be made through a neutralizer after evaporation / condensation, or by spark discharge, arc discharge or electrostatic spraying.
  • the material used as a precursor of charged particles used in the present invention may be selected from the group consisting of latex, polymer particles, oxide particles, metal particles, metal oxides, and mixtures thereof.
  • the evaporation / condensation method, the spark discharge, the arc discharge and the electrostatic spraying method may be performed based on a conventional method.
  • the substrate on which the organic layer or the inorganic layer is formed is placed on the electrode of the reactor (deposition chamber) where the main body is grounded and the electrode is mounted therein, and then the charged nanoparticles to be deposited on the electrode by using a voltage supply means. Apply voltage to the opposite pole.
  • spark discharge nanoparticles and ions that are bipolarly charged by spark discharge are generated at the same time, and then injected into a reactor in which a substrate exists and an electric field is applied to the polarity of nanoparticles or ions. Regardless, it can be deposited on a substrate.
  • the spark discharge chamber is useful for preparing nanoparticles of various materials as disclosed in Korean Patent Application Publication No. 10-2009-0089787 (published Aug. 24, 2009) and the like.
  • the spark discharge may be performed by applying a voltage of 1 to 10 kV, more preferably 4 to 10 kV, and when the corona discharge is performed together, a voltage of 1 to 10 kV may be applied.
  • a voltage of a polarity opposite to that of the charged particles with an intensity of 0.5 to 8 kV to the substrate.
  • the size of the resulting nanoparticles can be adjusted to 1 ⁇ 300 nm according to the purpose, in the case of spark discharge is preferably 1 to 20 nm, most preferably 3 to 10 nm.
  • the metal of the nanoparticle forming material may be a metal such as copper, tin, silver, zinc, platinum, palladium, gold, indium, cadmium, but is not limited thereto.
  • the method of the present invention can easily form nanoparticles or nano / micro structure layers in the various organic layers or inorganic layers constituting the electronic device without damaging the organic layer or inorganic layer.
  • the nanoparticles refer to particles having a normal particle size of 1 to 300 nm
  • the nano / micro structure refers to a structure having a size of 2 ⁇ m or less formed by gathering two or more nanoparticles.
  • the nanoparticle or nano / micro structure layer means that the discontinuous layer is formed in the organic layer or the inorganic layer in which they are formed, and the thickness thereof is not particularly limited.
  • the electronic device refers to an electronic component using an organic or inorganic semiconductor device.
  • the electronic device examples include an inorganic semiconductor compound light emitting diode (LED) and an inorganic semiconductor compound solar cell.
  • LED inorganic semiconductor compound light emitting diode
  • OLED organic light emitting diode
  • An organic photovoltaic an organic photovoltaic
  • non-volatile memory cell a tandem solar cell, and the like, but are not limited thereto.
  • the remaining components except for the nanoparticle or nano / micro structure layer may be formed through materials and forming methods commonly used in the art.
  • the organic light emitting diode when applied to an organic light emitting diode according to an embodiment of the present invention, is an anode, a hole transport layer (HTL), nanoparticle layer or nano / microstructure layer, light emitting layer (EML), electrons on a substrate It may have a structure including a transport layer (ETL), the cathode. Also other components except the nanoparticle layer or nano / micro structure layer may be formed using materials and methods commonly used in the art to which the present invention belongs.
  • an organic material eg, N, N′-Di (naphthalen-1-yl) -N, N as a hole transport layer through a thermal evaporation method using a vacuum thermal evaporator on a glass substrate coated with ITO.
  • 'Diphenyl-benzidine (NPB)) layer is deposited. It is then placed on the electrode inside the particle depositor, which is mounted on the spark deposition apparatus, and applied a negative voltage.
  • charged particle particles eg, gold particles
  • a particle generator located on the top of the spark deposition apparatus
  • the glass substrate is formed using an inert carrier gas (eg, nitrogen gas).
  • an inert carrier gas eg, nitrogen gas.
  • the positively charged particles in the gold particles transferred to the particle evaporator are transferred to the glass substrate to which the negative charge is applied and adhered to the surface of the organic layer (NPB) deposited on the top of the ITO.
  • NPB organic layer
  • the substrate is moved back to the vacuum thermal evaporator to further deposit the same organic material layer on the surface of the organic material layer to which the nanoparticles are attached through the thermal lamination method.
  • an organic material for example, 8-hydroxyquinoline aluminum (Alq3)
  • Alq3 8-hydroxyquinoline aluminum
  • an electron injection layer for example, LiF
  • an electrode for example, aluminum
  • An organic NPB layer was deposited by a thickness of 30 nm on the glass substrate coated with ITO with a thickness of 140 nm by using a vacuum thermal evaporator as a hole transport layer through a thermal evaporation method.
  • the sample was transferred from a vacuum thermal evaporator to a glove box of a nitrogen atmosphere and placed on an electrode inside a particle evaporator located underneath the spark deposition apparatus installed in the glove box.
  • charged particles (average particle size of about 6 nm) are generated using a spark discharge (applied voltage 5.5 kV) in a particle generator located on the top of the spark deposition apparatus, and the lower particles on which the glass substrate is located are formed using nitrogen gas. Transfer to the evaporator (nitrogen gas flow rate 2 lpm). Subsequently, when a voltage of -5.5 kV is applied to the lower electrode, the positively charged particles in the gold particles moved to the particle vaporizer move to the glass substrate to which the (-) charge is applied to the NPB surface deposited on the top of the ITO. Attached.
  • the substrate was moved back to the vacuum thermal evaporator, and the same NPB layer was further deposited on the NPB surface to which the gold particles were attached by 20 nm thickness by thermal lamination.
  • organic Alq 3 was deposited as a light emitting layer by 50 nm in the same manner, and LiF was deposited by 0.5 nm as an electron injection layer thereon.
  • An aluminum layer was then deposited as an electrode by 100 nm thick.
  • An organic light emitting diode was manufactured according to the same method as Example 1 except for depositing gold nanoparticles on the NPB layer by spark discharge.
  • Example 2 Except for depositing gold nanoparticles first after deposition at 20 nm, followed by 30 nm additional deposition (Example 3) and 10 nm deposition followed by attaching gold nanoparticles and further 40 nm deposition (Example 4).
  • the organic light emitting device was manufactured in the same manner as in 1.
  • FIG. 2 The organic light emitting diodes manufactured in Examples and Comparative Examples were taken out into the air, and the results of measuring the luminous efficiency are shown in FIG. 2. According to Figure 2, it can be seen that the luminous efficiency of the organic light emitting device according to Examples 1 to 4 is significantly improved compared to the case of the comparative example where the gold nanoparticles are not inserted. And even in the same nanoparticle layer it can be seen that the position of the nanoparticle layer that can optimally increase the luminous efficiency in the organic layer.
  • nanoparticles and nano / microstructures can be easily deposited on specific layers of organic and inorganic semiconductor devices, for example, above or below each of the upper and lower electrode layers, or without damaging the device within the organic / inorganic layer. It can be positioned to form nanoparticles or nano / micro structure layers within electronic devices in a simple and efficient manner. As a result, the unique properties of nanoparticles or nano / micro structures can be used to improve the efficiency and operation of organic or inorganic semiconductor electronic devices. In addition, by controlling the type and size of the nanoparticles, the position where the nanoparticles are introduced in the device and the shape of the nano / micro structure, it is expected to solve various problems to be overcome for improving the efficiency and performance of the device.

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Abstract

본 발명은 전자소자의 제조방법에 관한 것으로서, 상부 전극층, 하부 전극층, 유기층 및 무기층으로부터 선택되는 하나 이상의 층을 포함하는 전자 소자의 제조방법에 있어서, 상기 층을 형성하기 전, 형성한 후, 또는 형성하는 도중에 하전된 나노입자를 부착시켜 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 도입하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

나노입자를 포함하는 전자소자의 제조방법
본 발명은 무기반도체소자 또는 유기반도체소자의 구성 층의 손상없이 나노입자를 도입하여 전자소자를 제조할 수 있는 방법에 관한 것이다.
발광 다이오드(light emitting diode: LED)는 화합물 반도체의 특성을 이용하여 전기를 적외선 또는 빛으로 변환시켜서 신호를 주고 받거나, 광원으로 사용되는 반도체 소자의 일종이다.
발광 다이오드는 저전압으로 고효율의 광을 발생시키므로 에너지 절감 효과가 뛰어나며, 최근 들어 발광 다이오드의 한계였던 휘도 문제가 크게 개선되면서 백라이트 유닛, 전광판, 표시기, 가전제품, 각종 자동화 기기 등 산업전반에 걸쳐 사용되고 있다.
일례로, 질화 갈륨(GaN)계 발광 다이오드는 발광 스펙트럼이 자외선으로부터 적외선에 이르기까지 광범위하게 형성되며, 비소(As), 수은(Hg) 등의 환경 유해 물질을 포함하고 있지 않기 때문에 환경 친화적인 면에서도 높은 호응을 얻고 있다.
질화물계 발광 다이오드를 예로 들어 발광다이오드의 구조를 살펴보면, 사파이어 기판상부에 버퍼층, n형 질화물 반도체층, 활성층, p형 질화물 반도체층이 순차적으로 적층되어 있고, 상기 p형 질화물 반도체층에서 상기 n형 질화물 반도체층의 일부분까지 메사 식각 되어 상기 n형 질화물 반도체층의 일부가 노출되어 있고, 상기 노출된 n형 질화물 반도체층 상부에는 n-전극이 형성되어 있으며, 상기 p형 질화물 반도체층 상부에는 투명 전극이 형성되어 있고, 상기 투명 전극 상부에는 p-전극이 형성되어 있는 구조를 가지고 있다.
상기 p-전극 및 n-전극에 전압을 인가하면 상기 p형 질화물 반도체층 및 n형 질화물 반도체층으로부터 정공 및 전자가 활성층으로 흘러 들어가 상기 활성층에서 전자-정공의 재결합이 일어나면서 발광을 하게 된다.
발광 다이오드에서 효율 향상에 있어 문제점은 (1) 정공과 전자가 1:1로 만나서 1개의 광자(photon)가 발생되는데, 정공과 전자의 비율이 맞지 않으면(charge balance가 안 좋으면) 엑시톤(exciton)으로 형성되지 않은 잉여 캐리어로 인한 효율 감소 (2) 엑시톤의 비-방사재결합(ton의 non-radiative recombination) (3) 디바이스(소자) 외부의 공기와 디바이스 구성 물질의 큰 굴절율 차이로 디바이스 내부에서 발생된 빛이 외부로 빠져나오지 못하고 빛 가둠 현상이 나타나는 것 등을 들 수 있다.
한편, 발광 다이오드(light emission diode: LED)는 p-n접합에서 주입된 전류 캐리어가 재결합하거나 에너지준위를 바꿀 때 빛을 방출하는 소자인 반면 포토다이오드(photo diode: 광다이오드)는 p-n접합에다 빛을 쬐면 캐리어가 발생되어 전류 또는 기전압을 일으키는 현상을 이용한 소자이다. 즉 포토다이오드는 발광다이오드와 유사하게 생겼으나 반대의 기능을 한다. 포토다이오드는 빛에너지를 전기에너지로 전환하지만, 발광다이오드는 전기에너지를 빛에너지로 전환한다. 포토다이오드는 응답속도가 빠르고, 감도 파장이 넓으며, 광전류의 직진성이 양호하다는 특징이 있다.
포토다이오드를 이용하는 태양전지소자에서는 활성층을 구성하는 물질이 외부에서 입사된 빛을 흡수하여 엑시톤이 생성되는데, 이 엑시톤이 태양전지소자에 걸어준 전기장에 의해 p형, n형의 유기 또는 무기반도체 물질의 경계면에서 정공과 전자로 분리되고, 이 캐리어들을 소자 양 끝단의 전극에서 수집함으로써 빛을 전기로 전환시킬 수 있다. 따라서 활성층에서 가능한 많은 빛을 흡수할수록 많은 전기를 발생시킬 수 있는데, 박막태양전지에서는 워낙 활성층 두께가 얇아서 많은 양의 빛을 흡수하는데 어려움이 있다. 그러나 만약 활성층이 너무 두꺼울 경우에는 빛이 흡수되어 형성된 엑시톤이 p-n 물질의 경계면에 도달하기 전에 다시 재결합되어 사라지게 되어 실질적으로 사용되는 캐리어로 분리되지 못하게 된다.
따라서 박막태양전지에서 가능한 빛을 많이 흡수하는 동시에 생성된 엑시톤을 캐리어로 효율적으로 분리할 수 있는 구조가 요구된다. 또한 태양전지의 전면으로 조사된 빛이 반사되지 않고 태양전지 소자 내로 잘 들어오게 하고, 동시에 후면에서는 소자 내에 들어와 있는 빛이 소자 밖으로 빠져나가지 않고 소자 내에 가능한 오래 머물 수 있도록 빛 가둠을 유도해야 한다.
이상과 같은 문제점을 해결하기 위하여, 특히 LED 효율 향상을 위해서는 charge balance를 맞추기 위해서 다양한 물질의 층을 더하면서 에너지 밴드갭을 조절하는 방법, 빛 가둠 현상을 낮추기 위해 LED에 마이크로 렌즈나 표면 요철 등 다양한 표면처리를 하는 방법, 플라즈몬 현상을 이용하여 소자 내에서 난반사를 많이 시켜서 빛 가둠을 줄이는 방법이 시도되었다(대한민국 공개 10-2010-0068777, 대한민국특허 공개번호 10-2012-0038472 등 참조).
또한 태양전지의 효율향상을 위해서는 BHJ(bulk heterojunction) 구조를 통해 정공수송층과 전자수송층의 경계면을 많이 늘려서 엑시톤을 캐리어로 분리하는 효율을 향상시키는 방법, 물질 조절을 통해 에너지밴드갭을 조절하는 방법도 연구되고 있다. 특히 유기태양전지는 새로운 유기물의 합성을 통하여 정공 이동성 또는 전자 이동성을 향상시키려는 시도가 있다.
본 발명은 LED, 태양전지를 비롯한 유기 및 무기 반도체소자의 효율 및 성능 향상을 위해 나노입자 및 나노/마이크로 구조물을 유기 및 무기반도체 소자의 특정 층에 소자의 손상없이 용이하게 위치시킬 수 있는 방법을 제공하고자 한다.
본 발명의 또 다른 목적은 상기와 같은 방법에 의해 제조된 전자소자를 제공하는 것이다.
상기 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 상부 전극층, 하부 전극층, 유기층 및 무기층으로부터 선택되는 하나 이상의 층을 포함하는 전자 소자의 제조방법에 있어서, 상기 층을 형성하기 전, 형성한 후, 또는 형성하는 도중에 하전된 나노입자를 부착시켜 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 도입하는 단계를 포함하는, 전자 소자의 제조방법을 제공한다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 방법은
(1) 유기층 또는 무기층이 형성된 기판을 반응기 내부의 전극 위에 위치시키는 단계;
(2) 하전된 나노입자를 상기 반응기에 도입하면서 상기 전극에 전압을 인가하여 상기 기판의 유기층 또는 무기층 상에 나노입자를 부착시키는 단계; 및
(3) 상기 나노입자가 부착된 유기층 또는 무기층 위에 후속 유기층 또는 무기층 막을 추가로 형성하여 상기 유기층 또는 무기층 내에 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 도입하는 단계를 포함하는, 전자 소자의 제조 방법을 제공한다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 하전된 나노입자는 에어로졸 형태로 상기 유기층 또는 무기층 위에 부착될 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 (1) 단계에서 형성된 유기층 또는 무기층 및 상기 (3) 단계에서 형성된 후속 유기층 또는 무기층의 전체 두께는 수십나노미터 이상 수백 마이크로 이하일 수 있다. 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물은 상기 유기층 또는 무기층 내 임의의 위치에 위치할 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 반응기 내부의 전극에 인가되는 전압은 상기 하전된 나노입자의 극성과 반대되는 극성으로 0.5 ~ 8 kV의 세기를 가질 수 있다.
또한, 상기 하전된 나노입자는 구리, 주석, 은, 아연, 백금, 팔라듐, 금, 인듐, 및 카드뮴으로부터 선택될 수 있는데, 이들로 한정되는 것은 아니며, 전자 소자의 성능 및 효율 향상을 위해 사용될 수 있는 것이라면 무엇이든지 사용할 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 상기 하전된 나노입자의 크기는 1 ~ 300 nm 일 수 있다.
본 발명에 의한 방법이 적용될 수 있는 전자 소자는 무기반도체화합물발광다이오드(LED), 무기반도체화합물태양전지, 유기발광다이오드(OLED), 유기태양전지(organic photovoltaic), 비휘발성메모리셀(non-volatile memory cell), 탠덤형 태양전지(tandem solar cell) 등 일 수 있으나 이들로 한정되는 것은 아니다.
본 발명에 의하면, 나노입자 및 나노/마이크로 구조물을 유기 및 무기반도체 소자의 특정 층에, 예를 들면 상부 전극층 및 하부 전극층 각각의 위 또는 아래, 또는 유기층/무기층 내부에 소자의 손상없이 용이하게 위치시킬 수 있어, 간단하면서도 효율적인 방법으로 전자 소자 내에 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 형성할 수 있다. 그 결과, 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물의 독특한 특성을 이용하여 유기 또는 무기반도체 전자소자의 효율 및 작동을 개선할 수 있다. 또한 나노입자의 종류와 크기, 나노입자가 소자 내에서 도입된 위치 및 나노/마이크로 구조물의 형상을 컨트롤하여 소자의 효율 및 성능향상을 위해 극복되어야 할 여러 문제점을 해결할 수 있을 것으로 기대된다.
도 1은 본 발명의 실시예 및 비교예에서 제조된 유기발광소자의 구조를 보여주는 모식도이다.
도 2는 실시예 및 비교예에서 제조된 유기발광소자의 발광효율을 비교한 그래프이다.
이하에서는 본 발명을 보다 구체적으로 설명한다.
본 발명은 하전 입자를 에어로졸 형태로 부착함으로써 나노입자 및 나노/마이크로 구조물을 유기 및 무기반도체 소자의 특정 층에, 예를 들면 상부 전극층 및 하부 전극층 각각의 위 또는 아래, 또는 유기층/무기층 내부에 소자의 손상없이 용이하게 위치시킬 수 있다.
특히, 본 발명은 유기층 또는 무기층의 손상없이 간단하면서도 효율적인 방법으로 전자 소자의 유기층 또는 무기층 내에 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 도입할 수 있다.
본 발명의 방법은 무기 반도체 소자에 적합한 독특한 나노/마이크로 구조물도 무기층 내에 용이하게 형성할 수 있다. 또한 유기 반도체 소자의 경우에는 유기물이 용매나 고온에 취약하여 포토리소그라피나 화학적인 방법, 혹은 열증착방법을 이용하여 나노/마이크로 구조물 및 나노입자를 형성하는 기존의 방법으로는 유기반도체 소자 내에 나노입자나 나노/마이크로 구조물을 도입하기 힘든데 반하여 본 발명의 방법은 유기물에 손상 없이 용이하게 나노입자나 나노/마이크로 구조물을 유기물 층 사이에 위치시킬 수 있다.
하전 입자는 증발/응축법 후 중화기를 거쳐 만들거나, 스파크 방전, 아크 방전 또는 정전분무법 등을 통해 만들 수 있다. 본 발명에 사용되는 하전 입자의 전구물질로 사용되는 재료는 라텍스, 고분자입자, 산화물입자, 금속입자, 금속산화물, 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로부터 선택될 수 있다. 상기 증발/응축법, 스파크 방전, 아크 방전 및 정전분무법은 통상적인 방법에 근거하여 수행할 수 있다.
용도에 따라 유기층 또는 무기층이 형성된 기판을, 본체가 접지되고 내부에 전극이 장착된 반응기(증착 챔버)의 전극 위에 위치시킨 다음, 전압 공급수단을 이용하여 전극에 증착하고자 하는 하전된 나노입자와 반대 극이 되도록 전압을 인가한다.
일례를 들어, 스파크 방전을 이용하는 경우에는 스파크 방전에 의해 양극성(bipolar)으로 하전된 나노입자 및 이온을 동시에 발생시킨 후 기판이 존재하고 있는 반응기 내에 주입하고 전기장을 가함으로써 나노입자나 이온의 극성에 관계없이 기판에 증착시킬 수 있다. 스파크방전 챔버는 대한민국 특허출원공개 10-2009-0089787호(2009. 8. 24. 공개)등에 개시된 바와 다양한 재료의 나노입자 제조에 유용하다.
예를 들어, 스파크 방전은 1 ~ 10 kV, 더욱 바람직하세는 4 ~ 10 kV의 전압을 인가하여 실시될 수 있고, 코로나 방전을 함께 실시하는 경우에는 1 ~ 10 kV의 전압을 인가할 수 있다. 또한 기판에는 하전입자의 극성과 반대된 극성의 전압을 0.5 ~ 8 kV의 세기로 인가하는 것이 바람직하다.
생성되는 나노입자의 크기는 목적에 따라 1 ~ 300 nm로 조절 가능하며, 스파크 방전의 경우에는 바람직하게는 1 ~ 20 nm, 가장 바람직하게는 3 ~ 10 nm 이다.
나노입자 형성 재료 중 금속으로는 구리, 주석, 은, 아연, 백금, 팔라듐, 금, 인듐, 카드뮴과 같은 금속일 수 있으나 이들로 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 방법은 전자 소자를 구성하는 다양한 유기층 또는 무기층 내에 유기층 또는 무기층의 손상없이 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 용이하게 형성할 수 있다.
여기에서 나노입자란 1 ~ 300 nm의 평규입경을 갖는 입자를 의미하며, 나노/마이크로 구조물이란 상기 나노입자가 2개 이상 모여 형성된 2 μm 이하의 크기를 갖는 구조물을 의미한다.
나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층은 이들이 형성되어 있는 유기층 또는 무기층 내에서 불연속 층을 형성하고 있는 것을 의미하며, 그 두께는 특별히 제한되지 않는다.
본 발명의 구현예에서, 전자 소자란 유기 또는 무기반도체 소자를 이용한 전자부품을 일컫는 말로서, 본 발명의 구현예에서 사용가능한 전자 소자의 예로는 무기반도체화합물발광다이오드(LED), 무기반도체화합물태양전지, 유기발광다이오드(OLED), 유기태양전지(organic photovoltaic), 비휘발성메모리셀(non-volatile memory cell), 탠덤형 태양전지(tandem solar cell) 등을 들 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 구현예에 따른 전자소자에서, 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 제외한 나머지 구성 소자는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상 사용되는 재료 및 형성방법을 통해 형성될 수 있다.
한편, 본 발명의 하나의 구현예에 따라 유기 발광 다이오드에 적용하는 경우에는, 상기 유기 발광 다이오드는 기판상의 양극, 정공수송층(HTL), 나노입자층 또는 나노/마이크로 구조물층, 발광층(EML), 전자수송층(ETL), 음극을 포함하는 구조를 가질 수 있다. 역시 상기 나노입자층 또는 나노/마이크로 구조물층을 제외한 나머지 구성소자는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상 사용되는 재료 및 방법을 이용하여 형성될 수 있다.
예를 들어, ITO가 코팅되어 있는 유리 기판 위에 진공열증착기를 이용하여 열증착방법을 통하여 정공이동층으로서 유기물(예를 들면, N, N′-Di (naphthalen-1-yl)-N, N′diphenyl-benzidine(NPB))층을 증착한다. 그 후 스파크증착장치에 의치한 입자증착기 내부의 전극 위에 위치시키고 (-) 전압을 인가한다.
이어, 스파크증착장치의 상부에 위치한 입자발생기에서 스파크 방전을 이용해 하전된 나노입자(예를 들면, 금 입자)를 발생시키고, 이를 불활성 운반기체(예를 들면, 질소가스)를 이용하여 상기 유리 기판이 위치한 하부 입자증착기로 이동시킨다. 입자증착기로 이동한 금 입자 중에 양가로 하전된 입자는 (-)전하가 인가되어 있는 유리기판으로 이동하여 ITO 상단에 증착되어 있는 유기물층(NPB) 표면에 부착되게 된다.
이어, 상기 기판을 다시 진공열증착기로 이동시켜 나노입자가 부착되어 있는 유기물층 표면 위로 동일한 유기물층을 열층착방법을 통하여 추가로 증착시킨다. 이어, 발광층으로서 유기물(예를 들면, 8-hydroxyquinoline aluminum(Alq3))을 같은 방법으로 증착시키고, 그 위에 전자주입층(예를 들면, LiF)를 증착시킨 후, 전극(예를 들면, 알루미늄 )을 증착시킨다.
이하에서는 유기발광소자의 유기층 제조를 예로 들어 본 발명을 더욱 상세히 설명한다. 단, 하기의 실시예는 본 발명의 예시일 뿐이므로 본 발명의 보호범위를 제한하는 것으로 해석되어서는 안된다.
<실시예 1> 유기발광소자 적용례
140nm 두께로 ITO가 코팅되어 있는 유리 기판 위에 진공열증착기를 이용하여 열증착방법을 통하여 정공이동층으로서 유기물 NPB 층을 30nm 두께만큼 증착하였다. 상기 샘플을 진공열증착기에서 질소분위기의 글러브박스로 옮겨 글러브박스 내에 설치한 스파크 증착장치의 하부에 위치한 입자증착기 내부의 전극 위에 위치시켰다.
이어, 스파크증착장치의 상부에 위치한 입자발생기에서 스파크 방전(인가 전압 5.5 kV)을 이용해 하전된 금 입자(평균입경 약 6 nm)를 발생시키고, 이를 질소가스를 이용하여 상기 유리 기판이 위치한 하부 입자증착기로 이동시켰다(질소가스 유량 2 lpm). 이어 상기 하부 전극에 -5.5kV의 전압을 인가시키면, 입자증착기로 이동한 금 입자 중에 양가로 하전된 입자는 (-)전하가 인가되어 있는 유리기판으로 이동하여 ITO 상단에 증착되어 있는 NPB 표면에 부착되었다.
이어, 상기 기판을 다시 진공열증착기로 이동시켜 금 입자가 부착되어 있는 NPB 표면 위로 동일한 NPB 층을 열층착방법을 통하여 20nm 두께만큼 추가로 증착시켰다. 이어, 발광층으로서 유기물 Alq3을 같은 방법으로 50nm 두께만큼 증착시키고, 그 위에 전자주입층으로서 LiF를 0.5nm 두께만큼 증착시켰다. 그 후 전극으로서 알루미늄 층을 100nm 두께만큼 증착시켰다.
<비교예>
금 나노입자를 NPB 층 위에 스파크 방전에 의해 증착하지 않은 것을 제외하고는 실시예 1과 동일하게 열증착방법으로 유기발광소자를 제작하였다.
<실시예 2 내지 4>
30nm 두께로 증착된 NPB 층에 금 입자를 부착 한 후 동일한 NPB 층을 열층착방법을 통하여 20nm 두께만큼 추가로 증착하는 대신, 40nm로 먼저 증착한 후 금 나노입자를 부착하고 10nm를 추가 증착(실시예 2), 20nm로 먼저 증착한 후 금 나노입자를 부착하고 30nm 추가 증착(실시예 3) 및 10nm 증착한 후 금 나노입자를 부착하고 40nm 추가 증착(실시예 4)시킨 것을 제외하고는 실시예 1과 동일하게 유기발광소자를 제작하였다.
상기 실시예 및 비교예에서 제작된 유기발광소자를 대기 상으로 꺼내어 발광효율을 측정한 결과를 도 2에 나타내었다. 도 2에 의하면, 금 나노입자가 삽입되지 않은 비교예의 경우에 비해 실시예 1 내지 4에 의한 유기발광소자의 발광효율이 크게 향상됨을 확인할 수 있다. 그리고 동일한 나노입자 층이더라도 유기물 층 내에서 발광효율을 최적으로 증가시킬 수 있는 나노입자 층의 위치가 존재함을 확인할 수 있다.
본 발명에 의하면, 나노입자 및 나노/마이크로 구조물을 유기 및 무기반도체 소자의 특정 층에, 예를 들면 상부 전극층 및 하부 전극층 각각의 위 또는 아래, 또는 유기층/무기층 내부에 소자의 손상없이 용이하게 위치시킬 수 있어, 간단하면서도 효율적인 방법으로 전자 소자 내에 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 형성할 수 있다. 그 결과, 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물의 독특한 특성을 이용하여 유기 또는 무기반도체 전자소자의 효율 및 작동을 개선할 수 있다. 또한 나노입자의 종류와 크기, 나노입자가 소자 내에서 도입된 위치 및 나노/마이크로 구조물의 형상을 컨트롤하여 소자의 효율 및 성능향상을 위해 극복되어야 할 여러 문제점을 해결할 수 있을 것으로 기대된다.

Claims (9)

  1. 상부 전극층, 하부 전극층, 유기층 및 무기층으로부터 선택되는 하나 이상의 층을 포함하는 전자 소자의 제조방법에 있어서,
    상기 층을 형성하기 전, 형성한 후, 또는 형성하는 도중에 하전된 나노입자를 부착시켜 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 도입하는 단계를 포함하는, 전자 소자의 제조방법.
  2. 제1항에 있어서,
    (1) 유기층 또는 무기층이 형성된 기판을 반응기 내부의 전극 위에 위치시키는 단계;
    (2) 하전된 나노입자를 상기 반응기에 도입하면서 상기 전극에 전압을 인가하여 상기 기판의 유기층 또는 무기층 상에 나노입자를 부착시키는 단계; 및
    (3) 상기 나노입자가 부착된 유기층 또는 무기층 위에 후속 유기층 또는 무기층 막을 추가로 형성하여 상기 유기층 또는 무기층 내에 나노입자 또는 나노/마이크로 구조물 층을 도입하는 단계를 포함하는, 전자 소자의 제조 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 하전된 나노입자는 에어로졸 형태로 상기 유기층 또는 무기층 위에 부착되는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 전극에 인가되는 전압은 상기 하전된 나노입자와 반대되는 극성을 가지며 세기가 0.5 ~ 8 kV 인 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 하전된 나노입자는 구리, 주석, 은, 아연, 백금, 팔라듐, 금, 인듐, 및 카드뮴으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 하전된 나노입자의 크기는 1 ~ 300 nm 인 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 전자 소자는 무기반도체화합물발광다이오드(LED), 무기반도체화합물태양전지, 유기발광다이오드(OLED), 유기태양전지(organic photovoltaic), 비휘발성메모리셀(non-volatile memory cell), 또는 탠덤형 태양전지(tandem solar cell) 인 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 전자 소자가 유기발광다이오드이고, 상기 입자가 정공이동층인 유기층에 도입된 것을 특징으로 하는 방법.
  9. 제 1 항 내지 제 8항 중 어느 한 항의 방법을 이용하여 제조된 전자소자.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101840114B1 (ko) 2016-05-30 2018-03-19 재단법인 멀티스케일 에너지시스템 연구단 크랙 함유 투명 전도성 박막을 구비하는 고감도 센서 및 그의 제조 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050237834A1 (en) * 2003-08-20 2005-10-27 Bozano Luisa D Memory device and method of making the same
JP2008080461A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Toshiba Corp 粒子配列方法、及び、発光素子の製造方法
KR20090089787A (ko) * 2008-02-19 2009-08-24 서울대학교산학협력단 나노입자의 집속 패터닝에 의한 나노입자 구조체의 제조방법 및 이에 의해 얻어진 나노입자 구조체
KR20100068777A (ko) * 2008-12-15 2010-06-24 한국기계연구원 표면 플라즈몬 공명 구조를 갖는 유기 발광 표시장치 및 이의 제조 방법
KR101109195B1 (ko) * 2005-12-19 2012-01-30 삼성전자주식회사 3차원 구조의 발광소자 및 그의 제조방법

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3790215B2 (ja) 2002-12-26 2006-06-28 株式会社東芝 半導体装置の製造方法及び半導体製造装置
WO2004112997A1 (en) 2003-06-25 2004-12-29 Jawahar Lal Nehru University Process and apparatus for producing metal nanoparticles
US7563500B2 (en) * 2003-08-27 2009-07-21 Northeastern University Functionalized nanosubstrates and methods for three-dimensional nanoelement selection and assembly
KR100668331B1 (ko) 2004-02-25 2007-01-12 삼성전자주식회사 금속 산화물 나노구조체들을 포함하는 소자 및 그 나노구조체들의 제조방법
IL162195A0 (en) 2004-05-27 2005-11-20 Dror Halevi Nano particle generator and a method for generating nano particles by said device
KR100615233B1 (ko) * 2004-07-21 2006-08-25 삼성에스디아이 주식회사 박막 트랜지스터, 및 이를 구비한 평판 표시장치
KR100740984B1 (ko) 2005-04-12 2007-07-19 재단법인서울대학교산학협력재단 나노입자의 집속 증착 패터닝 방법
US7811679B2 (en) * 2005-05-20 2010-10-12 Lg Display Co., Ltd. Display devices with light absorbing metal nanoparticle layers
WO2007020648A2 (en) * 2005-08-17 2007-02-22 Novatrans Group Sa Non-volatile memory device
US8240190B2 (en) * 2005-08-23 2012-08-14 Uwm Research Foundation, Inc. Ambient-temperature gas sensor
US8101941B2 (en) 2005-09-26 2012-01-24 Osram Opto Semiconductors Gmbh Interface conditioning to improve efficiency and lifetime of organic electroluminescence devices
KR20080010663A (ko) 2006-07-27 2008-01-31 주식회사 하이닉스반도체 반도체 소자의 제조 방법
KR100874912B1 (ko) 2006-12-06 2008-12-19 삼성전자주식회사 반도체 소자 및 그 제조방법
KR100834515B1 (ko) 2007-03-07 2008-06-02 삼성전기주식회사 금속 나노입자 에어로졸을 이용한 포토레지스트 적층기판의형성방법, 절연기판의 도금방법, 회로기판의 금속층의표면처리방법 및 적층 세라믹 콘덴서의 제조방법
KR100907787B1 (ko) 2007-05-29 2009-07-15 재단법인서울대학교산학협력재단 패턴-천공된 마스크를 이용하는 하전입자의 집속 패터닝방법 및 이에 사용되는 마스크
US8530000B2 (en) * 2007-09-19 2013-09-10 Micron Technology, Inc. Methods of forming charge-trapping regions
KR101071218B1 (ko) 2008-06-19 2011-10-10 한양대학교 산학협력단 탄소나노튜브 3차원 네트워크를 포함하는 유무기 복합체, 그 제조방법 및 이를 이용하여 제조된 전자소자
KR20100105023A (ko) 2009-03-20 2010-09-29 (주)센코 금속 산화물 나노로드를 이용한 가스 센서 및 그 제조방법
KR101091639B1 (ko) 2009-06-24 2011-12-08 인하대학교 산학협력단 코어-쉘 나노섬유 네트워크 구조체의 제조 방법, 코어-쉘 나노섬유 네트워크 구조체를 포함하는 화학 센서 및 그의 제조 방법
TWI515917B (zh) 2009-07-07 2016-01-01 佛羅里達大學研究基金公司 穩定且全溶液製程之量子點發光二極體

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050237834A1 (en) * 2003-08-20 2005-10-27 Bozano Luisa D Memory device and method of making the same
KR101109195B1 (ko) * 2005-12-19 2012-01-30 삼성전자주식회사 3차원 구조의 발광소자 및 그의 제조방법
JP2008080461A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Toshiba Corp 粒子配列方法、及び、発光素子の製造方法
KR20090089787A (ko) * 2008-02-19 2009-08-24 서울대학교산학협력단 나노입자의 집속 패터닝에 의한 나노입자 구조체의 제조방법 및 이에 의해 얻어진 나노입자 구조체
KR20100068777A (ko) * 2008-12-15 2010-06-24 한국기계연구원 표면 플라즈몬 공명 구조를 갖는 유기 발광 표시장치 및 이의 제조 방법

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