WO2013093958A1 - 樹脂モールド型半導体モジュール - Google Patents

樹脂モールド型半導体モジュール Download PDF

Info

Publication number
WO2013093958A1
WO2013093958A1 PCT/JP2011/007091 JP2011007091W WO2013093958A1 WO 2013093958 A1 WO2013093958 A1 WO 2013093958A1 JP 2011007091 W JP2011007091 W JP 2011007091W WO 2013093958 A1 WO2013093958 A1 WO 2013093958A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
heat
semiconductor element
heat sink
resin
lead frame
Prior art date
Application number
PCT/JP2011/007091
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
正喜 後藤
大作 横山
享 木村
清文 北井
Original Assignee
三菱電機株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 三菱電機株式会社 filed Critical 三菱電機株式会社
Priority to PCT/JP2011/007091 priority Critical patent/WO2013093958A1/ja
Publication of WO2013093958A1 publication Critical patent/WO2013093958A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/565Moulds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/40Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
    • H01L23/4006Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/433Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
    • H01L23/4334Auxiliary members in encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49575Assemblies of semiconductor devices on lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/40Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
    • H01L23/4006Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
    • H01L2023/4037Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws characterised by thermal path or place of attachment of heatsink
    • H01L2023/4056Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws characterised by thermal path or place of attachment of heatsink heatsink to additional heatsink
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/40Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
    • H01L23/4006Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
    • H01L2023/4075Mechanical elements
    • H01L2023/4087Mounting accessories, interposers, clamping or screwing parts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Definitions

  • the present invention relates to a resin mold type semiconductor module, and more particularly to a resin mold type semiconductor module that can contribute to improvement in heat dissipation performance and yield.
  • Patent Document 1 discloses a semiconductor module in which a lead frame has a part of heat dissipation function and is fixed to a heat dissipation member such as a heat sink to dissipate heat generated in a semiconductor element.
  • the screw fixing metal plate exposed from the resin mold type semiconductor module is provided only on one side as viewed from the resin mold type semiconductor module.
  • the thermally conductive insulating sheet and the thermally conductive insulating sheet are in close contact with the lead frame and the heat radiating plate on the side away from the screw fixing metal plate, or in close contact with the lead frame and the lead frame.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems, and while improving the heat dissipation performance of a resin mold type semiconductor module that is increasing in size, it can be applied to a mold resin or a heat conductive insulating sheet when fixed to a heat sink.
  • An object of the present invention is to obtain a resin mold type semiconductor module that can prevent the occurrence of cracks and contribute to an improvement in yield.
  • a resin mold type semiconductor module of the present invention includes a semiconductor element, a lead frame joined to the semiconductor element by solder, a heat sink that dissipates heat generated from the semiconductor element, and the semiconductor element.
  • a heat conductive insulating sheet that is sandwiched between the heat sinks, dissipates heat generated from the semiconductor element to the heat sink, and insulates the semiconductor element and the heat sink, and a resin that molds the semiconductor element and the lead frame
  • the fixing metal plate extending from both side surfaces of the resin molding portion is fixed to the heat radiating plate with screws, for example.
  • Efficiently dissipates heat generated from the semiconductor element because it is difficult to create a gap between the thermally conductive insulating sheet in close contact with the lead frame and between the heat conductive sheet and the heat sink in close contact with the heat conductive sheet. You can tell the board. Therefore, it can contribute to the improvement of the heat dissipation performance of the resin mold type semiconductor module.
  • Embodiment 1 The resin mold type semiconductor module according to Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to FIGS. In addition, this invention is not limited to what is shown below, In the range which does not deviate from the summary of this invention, it can change suitably.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a resin mold type semiconductor module according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the resin mold type semiconductor module according to Embodiment 1 of the present invention as viewed from the semiconductor element side.
  • a resin mold type semiconductor module 1 includes a semiconductor element 2, a lead frame 6 joined to the semiconductor element 2 by solder, a heat sink 7 for radiating heat generated from the semiconductor element 2, a semiconductor element 2 and leads.
  • a resin mold part 10 for molding the frame 6 and a fixing metal plate 12 having a screw hole 12a for fixing the resin mold part 10 to the heat radiating plate 8 with screws are roughly constituted.
  • the heat sink 7 is a base substrate of the resin mold type semiconductor module 1 and has a function of radiating heat generated when the semiconductor element 6 is driven.
  • a metal material having high thermal conductivity and good heat dissipation is used, for example, aluminum or the like.
  • the adhesive surface to which the heat conductive insulating sheet 11 is bonded is provided on one side.
  • the other surface of the heat conductive insulating sheet 11 that is bonded to the heat sink 7 has an adhesive surface that adheres to the lead frame 6.
  • the lead frame 6 is for supplying electric power to the semiconductor element 2.
  • the lead frame 6 includes a positive lead frame 6a that is a positive electrode side of the semiconductor module, and a negative lead frame 6b that is a negative electrode side. Further, the positive lead frame 6a has a mounting portion (surface) 6c on which the semiconductor element 2 is mounted by soldering. Note that the solder used for soldering is a conductive member containing lead or tin.
  • a plurality of semiconductor elements 2 are mounted on the mounting portion 6c of the positive lead frame 6a.
  • the semiconductor element 2 for example, a free wheel diode (FrDi) or an insulated gate bipolar transistor (IGBT) is used.
  • the semiconductor elements 2 are electrically connected by a wire 4 such as aluminum. Further, the semiconductor element 2 and the negative lead frame are electrically connected by a wire 4.
  • the mold resin 10 is a mold member made of a resin material that covers a part of the semiconductor element 2, the wire 4, the lead frame 6, and the fixing metal plate, and these are integrally molded to form the resin mold type semiconductor module 1. Serves as a case.
  • the semiconductor element 2 and the lead frame 6 can be molded without a gap by a molding member that is a resin material.
  • the semiconductor element 2, the positive electrode side lead frame 6 a, and the heat sink 7 face through the heat conductive sheet 11. Since a material containing a filler having thermal conductivity is used for the thermally conductive insulating sheet 11, the thermal conductivity of the thermally conductive insulating sheet 11 is high. Since the heat generated in the semiconductor element 2 is efficiently transmitted to the heat sink 7 through the heat conductive insulating sheet 11 and the positive lead frame 6a, the heat dissipation performance is improved.
  • the fixing metal plate 12 is composed of a portion fixed inside the mold resin 10 and a portion exposed to the outside of the mold resin, and the portion exposed to the outside of the mold resin has a screw hole 12a.
  • the semiconductor element 2 and the heat sink 7 are attached to the positive lead frame 6a.
  • the semiconductor element 2 and the heat sink 7 may be attached to the negative lead frame 6b. . That is, if both the semiconductor element 2 and the heat sink 7 are attached to either the positive lead frame 6a or the negative lead frame 6b, the heat generated in the semiconductor element 2 is efficiently radiated through the heat sink 7. can do.
  • the semiconductor element 6 is often an element manufactured conventionally using Si as a base material.
  • Si silicon
  • other semiconductor elements can be used. Therefore, it is possible to use an element manufactured using SiC capable of high-temperature operation as a base material.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

 放熱性能を高めつつ、ねじにて固定する際に熱伝導性絶縁シートにクラックが発生することを防ぎ歩留まりの向上に寄与することのできる樹脂モールド型半導体モジュールを提供する。 半導体素子と、該半導体素子にはんだにより接合したリードフレームと、前記半導体素子から発生する熱を放熱するヒートシンクと、前記半導体素子と前記ヒートシンクの間に狭入され、前記半導体素子から発生する熱を前記ヒートシンクに放熱し、かつ前記半導体素子と前記ヒートシンクを絶縁する熱伝導性絶縁シートと、前記半導体素子およびリードフレームをモールドする樹脂モールド部と、前記樹脂モールド部の両側面より延出した固定用金属板と、前記ヒートシンクに前記固定用金属板を介して固定され、前記半導体素子から発生する熱を前記ヒートシンクおよび前記熱伝導性絶縁シートを介して放熱する放熱板からなる。

Description

樹脂モールド型半導体モジュール
 この発明は、樹脂モールド型半導体モジュールに関するものであり、特に、放熱性能の向上および歩留まりの向上に寄与することのできる樹脂モールド型半導体モジュールに関する。
 従来より、半導体素子やリードフレームを樹脂系材料で一体的にモールドした樹脂モールド型半導体モジュールが広く用いられている。ここで、半導体素子は発熱部品であり、近年の半導体の性能向上に伴って半導体素子からの発熱量も大きくなっており、樹脂モールド型半導体モジュールの内部に搭載される部品数も多くなっているため、樹脂モールド型半導体モジュールの外形寸法も前記に伴い大きくなっている。
 上記問題に対して、特許文献1では、リードフレームに一部放熱機能を持たせ、ヒートシンク等の放熱部材に固定し、半導体素子で発生した熱を放熱する半導体モジュールが開示されている。
実開昭58-166749号公報
 しかしながら、上述の特許文献1に示されている技術では、樹脂モールド型半導体モジュールから露出しているねじ固定用金属板が、樹脂モールド型半導体モジュールからみて片側のみに設けられているために、半導体モジュールの外形寸法が大きいと、ねじ固定用金属板から離れた側のリードフレームと放熱板との間、又はリードフレームと前記リードフレームに密着された熱伝導性絶縁シートと前記熱伝導性絶縁シートと密着された熱伝導性絶縁シートと密着されたヒートシンク、それぞれの間に隙間ができやすくなり、樹脂モールド型半導体モジュールの放熱性能が低下してしまう、という課題があった。
 上記課題を解決するために、ねじ固定用金属板に取り付けるねじの取り付けトルクを大きくし、樹脂モールドと放熱板の密着性を向上させることも考えられる。しかし、前記取り付けトルクを大きくすることにより、樹脂モールド部に必要以上に応力がかかり、樹脂クラックが発生する可能性が高くなる。また、熱伝導性絶縁シートをリードフレームおよびヒートシンクに密着させた構造を有する場合、ねじの締め付け時に熱伝導性絶縁シートに大きな力がかかり、熱伝導性絶縁シートにクラックが発生する結果、絶縁特性が悪化するため、樹脂モールド型半導体モジュールの歩留まりが低下するといった問題が生じる。
 この発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、大型化している樹脂モールド型半導体モジュールの放熱性能を高めつつ、放熱板に固定する際にモールド樹脂や熱伝導性絶縁シートにクラックが発生することを防止し、歩留まり向上に寄与することのできる樹脂モールド型半導体モジュールを得ることを目的とする。
 上記課題を解決するためにこの発明の樹脂モールド型半導体モジュールは、半導体素子と、該半導体素子にはんだにより接合したリードフレームと、前記半導体素子から発生する熱を放熱するヒートシンクと、前記半導体素子と前記ヒートシンクの間に狭入され、前記半導体素子から発生する熱を前記ヒートシンクに放熱し、かつ前記半導体素子と前記ヒートシンクを絶縁する熱伝導性絶縁シートと、前記半導体素子およびリードフレームをモールドする樹脂モールド部と、前記樹脂モールド部の両側面より延出した固定用金属板と、前記ヒートシンクに前記固定用金属板を介して固定され、前記半導体素子から発生する熱を前記ヒートシンクおよび前記熱伝導性絶縁シートを介して放熱する放熱板からなることを特徴とする。
 以上のように、この発明に係る樹脂モールド型半導体モジュールによれば、樹脂モールど部の両側面より延出した固定用金属板を、例えばねじにより放熱板に固定することにより、リードフレームと当該リードフレームに密着した熱伝導性絶縁シートとの間、および前記熱伝導性シートと当該熱伝導シートに密着したヒートシンクとの間に間隙ができにくくなるため、半導体素子からの発熱を効率的に放熱板に伝えることができる。そのため、樹脂モールド型半導体モジュールの放熱性能の向上に寄与することができる。
この発明の実施の形態1に係る樹脂モールド型半導体モジュールの概略構成を示す横断面図である。 樹脂モールド型半導体モジュールを半導体素子側から見た断面図である。
実施の形態1.
 以下に、図1および図2を用いてこの発明の実施の形態1に係る樹脂モールド型半導体モジュールについて説明する。なお、この発明は、以下に示すものに限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
 図1は、この発明の実施の形態1に係る樹脂モールド型半導体モジュールの概略構成を示す横断面図である。また、図2は、この発明の実施の形態1に係る樹脂モールド型半導体モジュールを半導体素子側から見た断面図である。図1において、樹脂モールド型半導体モジュール1は、半導体素子2と、前記半導体素子2にはんだにより接合したリードフレーム6と、半導体素子2から発生する熱を放熱するヒートシンク7と、半導体素子2およびリードフレーム6をモールドする樹脂モールド部10と、樹脂モールド部10を放熱板8にねじにて固定するためのねじ穴12aを有する固定用金属板12で概略構成される。
 ヒートシンク7は、樹脂モールド型半導体モジュール1のベース基板であるとともに、半導体素子6が駆動する際に発せられる熱を放熱する機能を有する。ヒートシンク7としては、熱伝導率が高く、放熱性が良好な金属材料が用いられ、例えばアルミニウム等が用いられる。
 熱伝導性絶縁シート11を接着する接着面を片方面側に有する。熱伝導性絶縁シート11においてヒートシンク7との接着面の他方の面にはリードフレーム6と接着する接着面を有する。
 リードフレーム6は、半導体素子2に電力を供給するためのものである。リードフレーム6は、半導体モジュールの正極側である正極側リードフレーム6aと、負極側の負極側リードフレーム6bとを有して構成される。さらに、正極側リードフレーム6aは、半導体素子2がはんだ付けされて実装される実装部(表面)6cを有する。なお、はんだ付けに用いられるはんだは、鉛や錫を含む導電性部材である。
 正極側リードフレーム6aの実装部6cには、複数の半導体素子2が実装されている。半導体素子2としては、例えばフリーホイールダイオード(FrDi)や絶縁ゲート型バイポーラ・トランジスタ(IGBT)が用いられる。半導体素子2同士は、アルミニウム等のワイヤ4によって電気的に接続されている。また、半導体素子2と負極側リードフレームとがワイヤ4によって電気的に接続されている。
 モールド樹脂10は、半導体素子2、ワイヤ4、リードフレーム6および固定用金属板の一部を覆う樹脂系材料からなるモールド部材であり、これらを一体的にモールドして樹脂モールド型半導体モジュール1のケースとして機能する。樹脂系材料であるモールド部材により、半導体素子2やリードフレーム6を隙間無くモールドすることができる。
 半導体素子2および正極側リードフレーム6aと、ヒートシンク7とが、熱伝導性シート11を介して面している。熱伝導性絶縁シート11には熱伝導性をもったフィラーを含む材料が用いられるため、熱伝導性絶縁シート11の熱伝導率は高い。半導体素子2で発生した熱は、熱伝導性絶縁シート11および正極側リードフレーム6aを介して効率よくヒートシンク7に伝わるため放熱性能が向上する。
 固定用金属板12は、モールド樹脂10内部に固定された部分と、モールド樹脂外部に露出した部分からなり、モールド樹脂外部に露出した部分には、ねじ穴12aを有している。このねじ穴12aにねじ13を通して放熱板8をねじ止めすることにより、ヒートシンク11の放熱板と接する面と放熱板8との密着性が向上し、半導体素子2で発生した熱をヒートシンク7を介して効率よく放熱することができる。
 なお、この発明の実施の形態1では、正極側リードフレーム6aに半導体素子2とヒートシンク7が取り付けられているが、負極側リードフレーム6bに半導体素子2とヒートシンク7が取り付けられていても構わない。すなわち、正極側リードフレーム6a又は負極側リードフレーム6bのいずれか一方に、半導体素子2とヒートシンク7の両方が取り付けられていれば、半導体素子2で発生した熱をヒートシンク7を介して効率よく放熱することができる。
 また、半導体素子6には、従来Siを母体として製造された素子を用いることが多かったが、この発明の実施の形態1により、半導体素子6の放熱性能を向上させることによって、他の半導体素子への発熱の影響を抑えることができるので、高温動作可能なSiCを母材として製造した素子を用いることができる。
 1 樹脂モールド型半導体モジュール
 2 半導体素子
 6 リードフレーム
 7 ヒートシンク
 8 放熱板
 10 樹脂モールド部
 11 熱伝導性絶縁シート
 12 固定用金属板
 


 

Claims (2)

  1.  半導体素子と、該半導体素子にはんだにより接合したリードフレームと、前記半導体素子から発生する熱を放熱するヒートシンクと、前記半導体素子と前記ヒートシンクの間に狭入され、前記半導体素子から発生する熱を前記ヒートシンクに放熱し、かつ前記半導体素子と前記ヒートシンクを絶縁する熱伝導性絶縁シートと、前記半導体素子およびリードフレームをモールドする樹脂モールド部と、前記樹脂モールド部の両側面より延出した固定用金属板と、前記ヒートシンクに前記固定用金属板を介して固定され、前記半導体素子から発生する熱を前記ヒートシンクおよび前記熱伝導性絶縁シートを介して放熱する放熱板からなる樹脂モールド型半導体モジュール。
  2.  前記半導体素子は、ワイドバンドギャップ半導体によって形成されていることを特徴とする請求項1に記載の樹脂モールド型半導体モジュール。
PCT/JP2011/007091 2011-12-20 2011-12-20 樹脂モールド型半導体モジュール WO2013093958A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2011/007091 WO2013093958A1 (ja) 2011-12-20 2011-12-20 樹脂モールド型半導体モジュール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2011/007091 WO2013093958A1 (ja) 2011-12-20 2011-12-20 樹脂モールド型半導体モジュール

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2013093958A1 true WO2013093958A1 (ja) 2013-06-27

Family

ID=48667891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2011/007091 WO2013093958A1 (ja) 2011-12-20 2011-12-20 樹脂モールド型半導体モジュール

Country Status (1)

Country Link
WO (1) WO2013093958A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111373527A (zh) * 2017-11-22 2020-07-03 三菱电机株式会社 半导体装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010186931A (ja) * 2009-02-13 2010-08-26 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
JP2011199110A (ja) * 2010-03-23 2011-10-06 Mitsubishi Electric Corp パワー半導体装置及びその製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010186931A (ja) * 2009-02-13 2010-08-26 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
JP2011199110A (ja) * 2010-03-23 2011-10-06 Mitsubishi Electric Corp パワー半導体装置及びその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111373527A (zh) * 2017-11-22 2020-07-03 三菱电机株式会社 半导体装置
CN111373527B (zh) * 2017-11-22 2024-04-26 三菱电机株式会社 半导体装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3740117B2 (ja) 電力用半導体装置
WO2018146933A1 (ja) 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2012084708A (ja) 半導体装置
JP6293043B2 (ja) 半導体モジュール
US9842786B2 (en) Semiconductor device
JP2007305702A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPWO2008142760A1 (ja) 電力用半導体モジュール
JP5222838B2 (ja) 制御装置
JP5836298B2 (ja) 半導体装置
JP5301497B2 (ja) 半導体装置
JP2012248700A (ja) 半導体装置
JP2007165426A (ja) 半導体装置
JP2015122453A (ja) パワーモジュール
JP4046623B2 (ja) パワー半導体モジュールおよびその固定方法
WO2013093958A1 (ja) 樹脂モールド型半導体モジュール
JP5623463B2 (ja) 半導体モジュール
US9627292B2 (en) Semiconductor housing with rear-side structuring
JP2013016606A (ja) パワーモジュールの冷却構造
JP2012074425A (ja) パワーモジュール
JP5062189B2 (ja) 半導体装置の実装構造
JP7257977B2 (ja) 半導体装置および半導体モジュール
JP2011199213A (ja) パワーモジュール
JP2014220319A (ja) 実装構造
KR20150089618A (ko) 절연성이 향상된 방열기판
WO2018092185A1 (ja) 半導体モジュール及び半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 11877989

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 11877989

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP