WO2011162363A1 - プローブホルダ、プローブホルダおよびプローブユニットの製造方法 - Google Patents

プローブホルダ、プローブホルダおよびプローブユニットの製造方法 Download PDF

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WO2011162363A1
WO2011162363A1 PCT/JP2011/064486 JP2011064486W WO2011162363A1 WO 2011162363 A1 WO2011162363 A1 WO 2011162363A1 JP 2011064486 W JP2011064486 W JP 2011064486W WO 2011162363 A1 WO2011162363 A1 WO 2011162363A1
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probe
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俊男 風間
朋弘 瓦林
浩平 広中
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日本発條株式会社
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips

Definitions

  • the present invention relates to a probe holder for holding a contact probe used for a conduction state inspection or an operation characteristic inspection of an inspection target such as a semiconductor integrated circuit or a liquid crystal panel, and a method for manufacturing a probe unit.
  • an inspection using a thin contact probe is generally performed. Since the terminals formed on the inspection object such as a liquid crystal panel have a structure in which a large number of terminals are arranged at a minute and narrow interval, a probe unit in which probes are arranged corresponding to the many terminals formed on the inspection object The structure which electrically connects with a test object via is adopted.
  • the present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a probe holder and a probe unit manufacturing method capable of achieving a reduction in manufacturing time and a reduction in manufacturing cost.
  • a probe holder manufacturing method includes an insulating holder member that holds a plurality of contact probes that input and output signals to and from a circuit structure.
  • a probe holder comprising a substrate having a hollow part into which the holder member can be inserted, and an insulating member that is a raw material of the holder member is inserted into the hollow part of the substrate,
  • a first adhering step in which an adhesive is applied to an adjacent region including the boundary between the surface of the substrate and the holder member to fix both members; and the plurality of contact probes are individually accommodated through the holder member
  • a holder hole forming step of forming a plurality of holder holes are individually accommodated through the holder member.
  • the manufacturing method of the probe holder concerning this invention is performed before the said holder hole formation process in said invention, One surface orthogonal to the thickness direction of the said holder member fixed by the said 1st fixing process And a surface polishing step of polishing the surface of the substrate adjacent to the surface to make the surfaces smoothly continuous, and a polished surface polished in the surface polishing step, and the holder hole forming step A second fixing step of fixing the polished surfaces of the two holder members formed with the holder holes, wherein the holder hole of one of the holder members has a cylindrical shape.
  • the probe holder manufacturing method according to the present invention is characterized in that, in the above invention, the holder hole of the other holder member has a stepped shape.
  • the method of manufacturing the probe unit according to the present invention includes a plurality of contact probes that perform input / output of signals to / from the circuit structure, the intermediate portion having a larger diameter than the tip portion, and an insulation that holds the contact probes.
  • a probe unit manufacturing method comprising a probe holder in which two holder members are stacked, and an insulating member as a raw material of the holder member is inserted into the hollow part of the substrate, and the substrate
  • a first adhering step in which an adhesive is applied to an adjacent region including a boundary between the surface of the holder member and the holder member to fix the two members; one surface in the thickness direction of the holder member fixed in the adhering step;
  • a holder hole forming step for forming a plurality of stepped holder holes corresponding to the two holder members, and inserting the
  • the probe holder according to the present invention is a probe holder in which two insulating holder members for holding a plurality of contact probes for inputting / outputting signals to / from a circuit structure are stacked, A substrate having a hollow portion into which an insulating member that is a raw material of the holder member is inserted, and a region near the boundary between the substrate and the holder member that is inserted into the substrate are applied to an adjacent region to fix both members. And a plurality of holder holes penetrating the holder member and individually accommodating the plurality of contact probes, wherein the thickness of the holder member is larger than the thickness of the substrate. And
  • the probe holder according to the present invention is characterized in that, in the above-mentioned invention, the holder hole has a stepped shape.
  • an insulating member (holder member) is inserted into the hollow portion of the substrate, and then the adjacent region including the boundary between the surface of the insulating member (holder member) and the substrate is included. Since the insulating adhesive is applied, the manufacturing time can be shortened and the manufacturing cost can be reduced.
  • FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of the probe unit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a configuration of a main part of the probe unit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a top view of the probe holder shown in FIG.
  • FIG. 4A is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4B is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4C is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4A is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4B is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4D is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a perspective view showing Modification Example 1 of the probe holder according to Embodiment 1 of the present invention.
  • 6 is a cross-sectional view taken along the line BB of the probe holder shown in FIG. 5 and showing a case where an adhesive is applied.
  • FIG. 7 is a perspective view showing a second modification of the probe holder according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a top view of the probe holder shown in FIG.
  • FIG. 9 is a longitudinal sectional view showing the configuration of the main part of the probe holder 3 e that accommodates the probe 2.
  • FIG. 10 is a top view of the probe holder shown in FIG. FIG.
  • FIG. 11A is a cross-sectional view illustrating the method of manufacturing the probe holder according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 11B is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 11C is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 11D is a cross-sectional view illustrating the method for manufacturing the probe holder according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 12A is a cross-sectional view illustrating another example of the probe unit manufacturing method according to the second exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 12A is a cross-sectional view illustrating another example of the probe unit manufacturing method according to the second exemplary embodiment of the present invention.
  • FIG. 12B is a cross-sectional view illustrating another example of the probe unit manufacturing method according to Embodiment 2 of the present invention.
  • FIG. 12C is a cross-sectional view illustrating another example of the probe unit manufacturing method according to Embodiment 2 of the present invention.
  • FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a probe unit including a probe holder formed by the probe holder manufacturing method according to Embodiment 1 of the present invention.
  • the probe unit 1 shown in the figure performs a pre-completion inspection (lighting inspection, array substrate inspection, etc.) of the liquid crystal panel 200 to be inspected, according to the signal input / output wiring pattern provided in the liquid crystal panel 200.
  • a plurality of contact probes 2 (hereinafter simply referred to as “signal probes”) that are arranged and generate electrical signals for inspection and perform transmission and reception of signals between the signal processing apparatus 100 that inputs and outputs electrical signals from the inspection target and the liquid crystal panel 200.
  • probe 2 (Referred to as “probe 2”), a probe holder 3 that accommodates and holds the plurality of probes 2, and wiring that electrically connects the plurality of probes 2 to the signal processing apparatus 100 that generates and outputs inspection signals.
  • FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a configuration of a main part of the probe holder 3 that accommodates the probe 2.
  • FIG. 3 is a top view of the probe holder 3.
  • the probe holder 3 shown in these drawings includes a holder member 31 that accommodates the probe 2 and a substrate 32 that fits and holds the holder member 31 in a slot-like hollow portion 321.
  • the holder member 31 is formed using a synthetic resin material having high insulating properties and has a volume capable of accommodating several hundred to several thousand probes 2.
  • the holder member 31 is formed with a substantially cylindrical holder hole 311 for accommodating the probe 2.
  • the holder hole 311 is disposed according to the wiring pattern of the liquid crystal panel and accommodates the probe 2.
  • the holder hole 311 includes a large-diameter portion 311a and a small-diameter portion 311b having a smaller diameter than the large-diameter portion 311a, and has a stepped hole shape in which the diameter of one opening surface of the holder member 31 is different.
  • the substrate 32 is formed using a conductive material such as a metal having high strength and heat resistance and a small thermal expansion coefficient, and has a hollow portion 321 into which the holder member 31 can be fitted.
  • the substrate 32 is formed thinner than the holder member 31.
  • the board 32 has a plurality of screw holes 322 for screwing the screws 11 for fastening the fixing member 5 and the board 32, and screw holes 323 for screwing the screws 12 for fastening the adjusting mechanism 6 and the board 32. Have one by one.
  • this electroconductive material low thermal expansion metals, such as an invar material and a Kovar material (trademark), a semiconductor, a ceramic, glass, etc. can be used, for example.
  • the substrate 32 having the above configuration is capable of receiving electromagnetic waves generated when an electrical signal passes through the probe 2 and electromagnetic waves propagated from the outside. It has an electromagnetic wave shielding function for preventing the probe 2 from being reached. Further, since the individual probes 2 have only a negligible size with respect to the substrate 32, the potential of the substrate 32 hardly fluctuates due to the charge applied from the probes 2, and the zero potential is stably maintained. Thus, in order for the substrate 32 to fully exhibit the function of shielding electromagnetic waves or maintaining its zero potential stably, the volume resistivity of the conductive material constituting the substrate 32 is 1 to 100 ⁇ ⁇ cm. If there is, it is preferable.
  • an adhesive G having an insulating property is applied.
  • an adhesive G having an insulating property
  • an epoxy adhesive or a cyanoacrylate (instant) adhesive is used as the adhesive G
  • the adhesive G is applied even when it is assumed to be used at a temperature (50 ° C. or higher) where thermal expansion needs to be considered. It becomes possible.
  • the probe 2 is formed of a conductive member, and a needle-like member 21 that contacts the wiring substrate 4, a needle-like member 22 that contacts a connection terminal (not shown) on the liquid crystal panel 200, and the needle-like members 21 and 22 A spring member 23 interposed between the two needle-like members 21 and 22 so as to be extendable and contractible.
  • the needle-like members 21 and 22 and the spring member 23 constituting the same probe 2 have the same axis, and pass through a holder hole 311 formed in the probe holder 3.
  • the probe 2 is not limited to a needle-shaped member and a spring member, but may be a pogo pin or a wire probe that obtains a load by bending a wire into a bow shape.
  • the distal end portion of the needle-like member 21 has a sharp end that contacts the terminal portion of the wiring board 4 and a cylindrical body portion having the same diameter as a circle formed by the proximal end portion on the proximal end side of the sharp end.
  • the needle-like member 21 can move in the axial direction by the expansion and contraction action of the spring member 23, and is elastically biased toward the wiring board 4 by the elastic force of the spring member 23.
  • the needle-like member 22 has a sharp end that comes into contact with a connection terminal formed on the liquid crystal panel 200.
  • the needle-like member 22 can move in the axial direction by the expansion and contraction action of the spring member 23, and is elastically biased in the electrode direction by the elastic force of the spring member 23.
  • the needle-like member 22 has a flange portion that has a function of preventing the probe 2 from being removed from the holder member 31 by contacting a stepped portion that forms a boundary between the large-diameter portion 311a and the small-diameter portion 311b in the holder hole 311 of the holder member 31. 22a is provided.
  • One end of the spring member 23 is in contact with the bottom surface of the body portion of the needle-like member 21, and the other end is in contact with the flange portion 22 a of the needle-like member 22, and the needle-like members 21 and 22 and the spring member 23 are Are joined by a spring winding force and / or soldering.
  • the wiring board 4 is for electrically connecting the probe 2 and the signal processing apparatus 100.
  • One end of the wiring board 4 is fixed on the surface of the fixing member 5 facing the probe holder 3, and the lower end side in FIG. 1 of the one end corresponds to the position of the sharp end of the needle-like member 21.
  • a terminal portion is provided (not shown).
  • the upper end opening surface of the large-diameter portion 311 a of the holder hole 311 is covered with the wiring substrate 4, and the sharp end of the needle-like member 21 is in contact with the terminal portion on the surface.
  • the needle-like member 21 can be reliably brought into contact with the terminal portion of the wiring board 4 with a predetermined pressing force. It can.
  • the electrical connection between the probe 2 and the wiring board 4 may be realized by physical contact between the two.
  • a terminal corresponding to the probe 2 is formed on the lower surface of the fixing member 5, The wiring board 4 may be electrically connected through such terminals.
  • the wiring board 4 has a configuration in which each of the multiple probes 2 and the signal processing device 100 are electrically connected to each other by, for example, FPC (Flexible Printed Circuit) or TAB (Tape Automated Bonding). You may form with many conductive wires etc. corresponding to 2.
  • FPC Flexible Printed Circuit
  • TAB Tape Automated Bonding
  • the fixing member 5 can be firmly attached. As a result, as described above, it is possible to securely fix the wiring board 4 simply by clamping the wiring board 4. If the fixing member 5 is made of a synthetic resin material, it is more preferable because the elastic deformation of the synthetic resin material can be used to elastically hold down the wiring board 4 and fix the wiring board 4 without damaging it.
  • the adjustment mechanism 6 includes a first block member 61 fixed to the frame substrate 7 and a second block member 62 fixed to the probe holder 3 via the screw 12. It has a function of adjusting the vertical positional relationship with the second block member 62 and adjusting the height of the probe holder 3 with respect to the frame substrate 7 (the vertical vertical position in FIG. 1).
  • the position of the probe 2 is adjusted in the horizontal direction in FIG. 1 so that the corresponding probe 2 is positioned vertically above the terminal (panel terminal) on the liquid crystal panel 200. To do.
  • the positional relationship in the vertical direction between the probe 2 and the liquid crystal panel 200 is adjusted to thereby adjust the probe 2 and the panel.
  • make physical contact with the terminal At this time, the panel terminal is brought into contact with the probe 2 by moving the liquid crystal panel 200 vertically upward in FIG.
  • an electrical signal for inspection is output from the signal processing device 100 to the liquid crystal panel 200.
  • the electrical signal generated and output by the signal processing apparatus 100 is input to the liquid crystal panel 200 via the wiring board 4, the probe 2, and the panel terminal on the liquid crystal panel 200.
  • the electrical signal is processed by an electronic circuit (not shown) formed in the liquid crystal panel 200, and a response signal is output from the liquid crystal panel 200 to the signal processing device 100.
  • the signal processing apparatus 100 uses the response signal received from the liquid crystal panel 200 via the probe 2 and the wiring board 4 to determine whether the liquid crystal panel 200 has desired characteristics.
  • a method for manufacturing the probe holder according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 4A to 4D.
  • a slot-shaped hollow portion 321 into which the holder member 31 is inserted and screw holes 322 and 323 for screwing the screws 11 and 12 are formed at predetermined positions on the flat substrate 32.
  • the substrate 32 is subjected to etching, laser, pressing, or other appropriate processing.
  • the insulating member 30 that finally becomes the holder member 31 is inserted into the hollow portion 321 of the substrate 32 (FIG. 4B). Thereafter, the insulating member 30 and the substrate 32 are fixed by applying an insulating adhesive G to a neighboring region including the boundary between the surfaces of the insulating member 30 and the substrate 32 (FIG. 4C, first fixing step). .
  • FIG. 4D is a diagram showing a configuration of the probe holder 3 completed by forming the holder hole 311 and is a partial cross-sectional view taken along line AA of FIG.
  • the boundary on the surface between the insulating member (holder member) and the substrate is included. Since the adhesive G having an insulating property is applied to the adjacent region, the manufacturing time can be shortened and the manufacturing cost can be reduced. Further, since the insulating member (holder member) is inserted into the substrate, the positional accuracy of the holder member with respect to the substrate is improved, and as a result, the positional accuracy of the probe accommodated in the holder member can be improved. In addition, by forming the substrate using a metal, the thermal expansion coefficient can be reduced as compared with a substrate formed of a resin or the like. Particularly, when the insulating member (holder member) exceeds 100 mm, the metal Thus, it is possible to suppress the expansion or contraction of the holder member.
  • the surface of the substrate 32 before forming the hollow part 321 and the screw holes 322 and 323 may be covered with an insulating member.
  • FIG. 5 is a perspective view showing a first modification of the probe holder 3a according to the first embodiment.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line BB of the probe holder 3a shown in FIG.
  • the holder member 31 (insulating member 30) is inserted into the chamfered hollow portion 331 of the substrate 33.
  • the hollow portion 331 includes an insertion hole 332 into which the holder member 31 (insulating member 30) is inserted, and an inclined portion 333 having a shape in which an end portion of the insertion hole 332 is chamfered.
  • the inclined portion 333 forms a concave shape with the surface of the holder member 31 in the vicinity region including the boundary on the surface of the holder member 31 and the substrate 33.
  • the adhesive G is applied to the concave portion.
  • the manufacturing time can be shortened and the manufacturing cost can be reduced as in the first embodiment, and the holder member does not protrude from the substrate. Since the adhesive is applied without protruding from the substrate surface, the degree of freedom of the arrangement position with respect to the probe unit can be increased.
  • FIG. 7 is a perspective view showing a second modification of the probe holder 3b according to the first embodiment.
  • FIG. 8 is a top view of the probe holder 3b shown in FIG.
  • the holder member 31 (insulating member 30) is fitted into a convex portion 343 formed in a direction perpendicular to the wall surface of the insertion hole 342 of the hollow portion 341.
  • the hollow portion 341 includes an insertion hole 342 into which the holder member 31 (insulating member 30) is inserted, and a convex portion 343 having a shape in which the end of the insertion hole 342 is chamfered.
  • the probe holder 3b forms a space between the insertion hole 342 and the holder member 31 in the vicinity region including the boundary between the surface of the holder member 31 and the substrate 34, and the adhesive G is applied to the space portion to form the substrate. 34 and the holder member 31 are fixed.
  • the probe holder according to the above-described modification 2 can achieve a reduction in manufacturing time and a reduction in manufacturing cost as in the above-described first embodiment, and a large area where an adhesive can be applied to the substrate. Therefore, the strength as a probe holder can be improved.
  • the adhesive G is applied and fixed to the vicinity region including the boundary between the surface of the convex portion 343 and the surface of the side surface side of the holder member 31. May be.
  • FIG. 9 is a longitudinal sectional view showing the configuration of the main part of the probe holder 3 e that accommodates the probe 2.
  • FIG. 10 is a top view of the probe holder 3e.
  • the probe holder 3e shown in these drawings includes a holder member 31a having a holder hole 312 for accommodating the probe 2, and a substrate 32a for fitting and holding the holder member 31a in a slot-like hollow portion 321a.
  • the probe holder 3e according to the second embodiment is formed by fixing a first probe holder 3c and a second probe holder 3d with screws 13 through screw holes 324.
  • the first probe holder 3c includes a holder member 31b that accommodates the probe 2, and a substrate 32b that fits and holds the holder member 31b in a slot-like hollow portion 321b.
  • the second probe holder 3d includes a holder member 31c that accommodates the probe 2, and a substrate 32c that fits and holds the holder member 31c in a slot-like hollow portion 321c.
  • the holder member 31b is formed using a synthetic resin material having high insulation properties and has a volume capable of accommodating a part of several hundred to several thousand probes 2.
  • the holder member 31b is formed with a cylindrical hole 312a for accommodating a part of the probe 2.
  • the hole 312 a has a hole shape with a diameter slightly larger than the width of the needle-like member 21.
  • the substrate 32b is formed using a conductive material having high strength and heat resistance and a small thermal expansion coefficient, and has a hollow portion 321b into which the holder member 31b can be fitted.
  • the hollow portion 321b is fitted with the holder member 31b so that one end of the holder member 31b protrudes.
  • the substrate 32b has a large diameter portion 324a and a small diameter portion 324b to which a screw 13 for fastening the first probe holder 3c and the second probe holder 3d is screwed.
  • the holder member 31c is formed using a synthetic resin material having high insulation properties and has a volume capable of accommodating a part of several hundred to several thousand probes 2.
  • the holder member 31c is formed with a large diameter portion 312b and a small diameter portion 312c that accommodate a part of the probe 2.
  • the large diameter portion 312b has a diameter equivalent to the diameter of the hole 312a
  • the small diameter portion 312c has a diameter smaller than the diameter of the large diameter portion 312b
  • the diameter of one opening surface of the holder member 31c is smaller.
  • Different stepped hole shapes are provided.
  • the substrate 32c is formed using a conductive material having high strength and heat resistance and a small thermal expansion coefficient, and has a hollow portion 321c into which the holder member 31c can be fitted.
  • the hollow portion 321c is fitted with the holder member 31c so that one end of the holder member 31c protrudes.
  • the substrate 32c has a hole 324c into which a screw 13 for fastening the first probe holder 3c and the second probe holder 3d is screwed.
  • the hole 324c has a diameter equivalent to that of the small diameter part 324b.
  • the holder hole 312 that accommodates the probe 2 includes the above-described hole 312a, large-diameter portion 312b, and small-diameter portion 312c.
  • the screw hole 324 into which the screw 13 is screwed includes a large diameter portion 324a, a small diameter portion 324b, and a hole portion 324c.
  • FIGS. 11A to 11D a method for manufacturing the probe holder 3e according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 11A to 11D.
  • a small diameter portion 324b (hole portion 324c) for screwing the screw 13 to the first or second probe holder fixed in FIG. 4C is formed (FIG. 11A).
  • holder holes 312 (hole 312a, large diameter portion 312b, and small diameter portion 312c) penetrating in the thickness direction with respect to a predetermined position of the insulating member 30 are respectively formed into the first probe holder 3c and the second probe holder 3d.
  • the insulating member 30 becomes the holder member 31b or 31c (FIG. 11C).
  • a large-diameter portion 324a constituting the screw hole 324 is formed in the first probe holder 3c.
  • FIG. 11D is a diagram showing the configuration of the completed probe holder 3e, and is a cross-sectional view taken along the line DD of FIG.
  • the first probe holder 3c and the second probe holder 3d may be fixed not only by the screw 13 but also at the boundary surface by an adhesive G or the like.
  • the degree of freedom in hole formation and probe holder formation can be improved.
  • the first probe holder and the second probe holder can be prepared in advance, and the probe holder to be fixed can be selected depending on the shape of the probe.
  • it is possible to adjust the thickness of the probe holder that is fixed by disposing a column between the first probe holder and the second probe holder to form a space.
  • FIG. 12A to 12C are cross-sectional views illustrating another example of the method for manufacturing a probe unit according to the second embodiment of the present invention.
  • the probe 2a which is the needle-like member 22 having both ends of the flange portion 22a is used will be described.
  • the probe holder two probe holders 3d formed in FIG. 11D are used, and an upper probe holder is a first probe holder 3f and a lower probe holder is a second probe holder 3g.
  • the probe 2a is inserted into the holder hole (large diameter portion 312b, small diameter portion 312c) of the second probe holder 3g located on the lower side (FIG. 12A).
  • a large-diameter portion 324a that forms a screw hole is formed in the first probe holder 3f.
  • the screw hole of this other example consists of the large diameter part 324a and the small diameter part 324c.
  • the upper first probe holder 3f is moved closer to the second probe holder 3g, and the probe 2a is inserted into the holder holes (large diameter portion 312b, small diameter portion 312c) of the first probe holder 3f (FIG. 12B).
  • the probe holder 3h is formed by fixing the polished surfaces polished by the surface polishing step (FIG. 12C).
  • the insulating member 30 may be covered on the surface of the substrate 32 before the fitting portion (hollow portion) of the insulating member 30 and the screw holes 322, 323, and 324 are formed.
  • the probe holder manufacturing method according to the present invention is useful as a holder for holding a contact probe that is connected to an electrode and conducts an electrical signal.
  • Probe unit 2 2a Contact probe (probe) 3, 3a, 3b, 3e, 3h Probe holder 3c, 3f First probe holder 3d, 3g Second probe holder 4 Wiring board 5 Fixing member 6 Adjustment mechanism 7 Frame board 11, 12, 13 Screw 21, 22 Needle-like member 22a Flange portion 23 Spring member 30 Insulating member 31, 31a, 31b, 31c Holder member 32, 32a, 32b, 32c Substrate 61 First block member 62 Second block member 100 Signal processing device 200 Liquid crystal panel 311, 312 Holder hole 321, 331, 341 Hollow part 322, 323, 324 Screw hole G Adhesive

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Abstract

 回路構造との間で信号の入出力を行う複数のコンタクトプローブ(2)を保持する絶縁性のホルダ部材(31)と、ホルダ部材(31)を嵌入可能な中空部(321)を有する基板(32)とを備えたプローブホルダ(3)の製造方法であって、基板(32)が有する中空部(321)に対してホルダ部材(31)の原材料である絶縁性部材(30)を嵌入し、基板(32)とホルダ部材(31)との表面における境界を含む近傍領域に接着剤Gを塗布して両部材を固着する第1固着工程と、ホルダ部材(31)を貫通し、複数のコンタクトプローブ(2)を個別に収容する複数のホルダ孔(311)を形成するホルダ孔形成工程と、を含む。

Description

プローブホルダ、プローブホルダおよびプローブユニットの製造方法
 本発明は、半導体集積回路や液晶パネルなどの検査対象の導通状態検査または動作特性検査に用いられるコンタクトプローブを保持するプローブホルダおよびプローブユニットの製造方法に関するものである。
 従来、液晶パネル(LCD:Liquid Crystal Display)等の検査対象の電気的な特性を検査する際には、細径のコンタクトプローブを用いた検査を行うのが一般的である。液晶パネルのような検査対象の上に形成される端子は微小かつ狭い間隔で多数配列された構造を有するため、検査対象上に形成された多数の端子に対応してプローブが配置されたプローブユニットを介して検査対象と電気的に接続する構成が採用されている。
 このようなプローブホルダとして、収容したコンタクトプローブの位置精度を向上させるとともに、プローブホルダ自体の強度を保つため、合成樹脂製のホルダ部材に金属プレートを埋設して成形する技術も開示されている(例えば、特許文献1を参照)。
国際公開第2003/087852号
 しかしながら、特許文献1が開示する技術によってプローブホルダを製造する場合、基板の開口を覆う樹脂等の厚みを均一にする必要があるうえ、製造にかかる材料を複数用意しなければならないため、製造にかかるコストと製造時間が増大してしまうおそれがあった。
 本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、製造時間の短縮および製造コストの低減を達成することができるプローブホルダおよびプローブユニットの製造方法を提供することを目的とする。
 上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかるプローブホルダの製造方法は、回路構造との間で信号の入出力を行う複数のコンタクトプローブを保持する絶縁性のホルダ部材と、前記ホルダ部材を嵌入可能な中空部を有する基板とを備えたプローブホルダの製造方法であって、前記基板が有する前記中空部に対して前記ホルダ部材の原材料である絶縁性部材を嵌入し、前記基板と前記ホルダ部材との表面における境界を含む近傍領域に接着剤を塗布して両部材を固着する第1固着工程と、前記ホルダ部材を貫通し、前記複数のコンタクトプローブを個別に収容する複数のホルダ孔を形成するホルダ孔形成工程と、を含むことを特徴とする。
 また、本発明にかかるプローブホルダの製造方法は、上記の発明において、前記ホルダ孔形成工程の前に行なわれ、前記第1固着工程で固着した前記ホルダ部材の厚さ方向と直交する一方の表面と該表面に隣接する前記基板の表面とを研磨して互いの表面を滑らかに連続させる表面研磨工程と、前記表面研磨工程で研磨された研磨面を有し、かつ前記ホルダ孔形成工程によって前記ホルダ孔が形成された2枚のホルダ部材の研磨面同士を固着させる第2固着工程と、を含み、一方のホルダ部材のホルダ孔は、円筒状をなすことを特徴とする。
 また、本発明にかかるプローブホルダの製造方法は、上記の発明において、他方のホルダ部材のホルダ孔は、段付き形状をなすことを特徴とする。
 また、本発明にかかるプローブユニットの製造方法は、回路構造との間で信号の入出力を行い、中間部の径が先端部の径より大きい複数のコンタクトプローブと、該コンタクトプローブを保持する絶縁性のホルダ部材が2枚積層されたプローブホルダとを備えたプローブユニットの製造方法であって、基板が有する前記中空部に対して前記ホルダ部材の原材料である絶縁性部材を嵌入し、前記基板と前記ホルダ部材との表面における境界を含む近傍領域に接着剤を塗布して両部材を固着する第1固着工程と、前記固着工程で固着した前記ホルダ部材の厚さ方向の一方の表面と該表面に隣接する前記基板の表面とを研磨して互いの表面を滑らかに連続させる表面研磨工程と、前記ホルダ部材を貫通し、前記複数のコンタクトプローブを個別に収容する複数の段付き形状をなすホルダ孔を前記2枚のホルダ部材にそれぞれ対応させて形成するホルダ孔形成工程と、前記2枚のホルダ部材のうち一方の前記ホルダ孔に前記コンタクトプローブを挿入するプローブ挿入工程と、他方の前記ホルダ部材を前記一方のホルダ部材の前記ホルダ孔に対応させて固着する第2固着工程と、を含むことを特徴とする。
 また、本発明にかかるプローブホルダは、回路構造との間で信号の入出力を行う複数のコンタクトプローブを保持する絶縁性のホルダ部材が2枚積層されたプローブホルダであって、前記ホルダ部材は、前記ホルダ部材の原材料である絶縁性部材を嵌入する中空部を有する基板と、前記基板と該基板に嵌入された前記ホルダ部材との表面における境界を含む近傍領域に塗布されて両部材を固着する接着剤と、前記ホルダ部材を貫通し、前記複数のコンタクトプローブを個別に収容する複数のホルダ孔と、を備え、前記ホルダ部材の厚みは、前記基板の厚みと比して大きいことを特徴とする。
 また、本発明にかかるプローブホルダは、上記の発明において、前記ホルダ孔は、段付き形状をなすことを特徴とする。
 本発明にかかるプローブホルダおよびプローブユニットの製造方法は、基板の中空部に絶縁性部材(ホルダ部材)を嵌入した後、絶縁性部材(ホルダ部材)と基板との表面における境界を含む近傍領域に絶縁性を有する接着剤を塗布するようにしたので、製造時間の短縮および製造コストの低減を達成することができるという効果を奏する。
図1は、本発明の実施の形態1にかかるプローブユニットの構成を示す斜視図である。 図2は、本発明の実施の形態1にかかるプローブユニットの要部の構成を示す部分断面図である。 図3は、図2に示すプローブホルダの上面図である。 図4Aは、本発明の実施の形態1にかかるプローブホルダの製造方法を示す断面図である。 図4Bは、本発明の実施の形態1にかかるプローブホルダの製造方法を示す断面図である。 図4Cは、本発明の実施の形態1にかかるプローブホルダの製造方法を示す断面図である。 図4Dは、本発明の実施の形態1にかかるプローブホルダの製造方法を示す断面図である。 図5は、本発明の実施の形態1にかかるプローブホルダの変形例1を示す斜視図である。 図6は、図5に示すプローブホルダのB-B線断面であって、接着剤を塗布した場合を示す断面図である。 図7は、本発明の実施の形態1にかかるプローブホルダの変形例2を示す斜視図である。 図8は、図7に示すプローブホルダの矢視C方向の上面図である。 図9は、プローブ2を収容するプローブホルダ3eの要部の構成を示す縦断面図である。 図10は、図9に示すプローブホルダの上面図である。 図11Aは、本発明の実施の形態2にかかるプローブホルダの製造方法を示す断面図である。 図11Bは、本発明の実施の形態2にかかるプローブホルダの製造方法を示す断面図である。 図11Cは、本発明の実施の形態2にかかるプローブホルダの製造方法を示す断面図である。 図11Dは、本発明の実施の形態2にかかるプローブホルダの製造方法を示す断面図である。 図12Aは、本発明の実施の形態2にかかる他の例のプローブユニットの製造方法を示す断面図である。 図12Bは、本発明の実施の形態2にかかる他の例のプローブユニットの製造方法を示す断面図である。 図12Cは、本発明の実施の形態2にかかる他の例のプローブユニットの製造方法を示す断面図である。
 以下、本発明を実施するための形態を図面と共に詳細に説明する。なお、以下の実施の形態により本発明が限定されるものではない。また、以下の説明において参照する各図は、本発明の内容を理解でき得る程度に形状、大きさ、および位置関係を概略的に示してあるに過ぎない。すなわち、本発明は各図で例示された形状、大きさ、および位置関係のみに限定されるものではない。
(実施の形態1)
 図1は、本発明の実施の形態1に係るプローブホルダの製造方法によって形成されたプローブホルダを備えるプローブユニットの構成を示す図である。同図に示すプローブユニット1は、検査対象である液晶パネル200の完成前検査(点灯検査やアレイ基板検査等)を行うものであり、液晶パネル200が備える信号入出力用の配線パターンに応じて配設され、検査用の電気信号を生成すると共に、検査対象からの電気信号を入出力処理する信号処理装置100と液晶パネル200の間の信号の送受信を行う複数のコンタクトプローブ2(以下、単に「プローブ2」という)と、この複数のプローブ2を収容保持するプローブホルダ3と、複数のプローブ2を検査用信号の生成および出力等を行う信号処理装置100に対して電気的に接続する配線基板4と、この配線基板4の一端部をプローブユニット1に固定する固定部材5と、プローブ2の高さ位置を調整する調整機構6と、調整機構6を保持するフレーム基板7とを備える。
 図2は、プローブ2を収容するプローブホルダ3の要部の構成を示す縦断面図である。また、図3は、プローブホルダ3の上面図である。これらの図に示すプローブホルダ3は、プローブ2を収容するホルダ部材31と、スロット状の中空部321にホルダ部材31を嵌入して保持する基板32とを備える。
 ホルダ部材31は、絶縁性が高い合成樹脂材などを用いて形成され、数百~数千本程度のプローブ2を収容可能な容積を有している。このホルダ部材31には、プローブ2を収容する略円筒状のホルダ孔311が形成されている。ホルダ孔311は、液晶パネルの配線パターンに応じて配設されてプローブ2を収容する。このホルダ孔311は、大径部311aと、この大径部311aよりも径が小さい小径部311bとからなり、ホルダ部材31の一方の開口面の径が異なる段付き孔形状をなしている。
 基板32は、高強度かつ耐熱性を有し、熱膨張係数が小さい金属等の導電性材料を用いて形成され、ホルダ部材31を嵌入可能な中空部321を有する。基板32の厚みは、ホルダ部材31の厚みと比して薄く形成される。また、基板32は、固定部材5と基板32を締結するためのねじ11を螺着するねじ孔322、および調整機構6と基板32を締結するためのねじ12を螺着するねじ孔323を複数個ずつ有する。なお、かかる導電性材料としては、例えばインバー材やコバール材(登録商標)などの低熱膨張金属、半導体、セラミック、ガラス等を用いることができる。
 以上の構成を有する基板32は、プローブホルダ3の強度を向上する機能に加えて、プローブ2を電気信号が通過する際に発生し放射される電磁波や、外部から伝播されてくる電磁波が、他のプローブ2に達するのを防止する電磁波遮蔽機能を有する。また、基板32にとって個々のプローブ2は無視しうる程度の大きさしか有しないので、プローブ2から与えられる電荷によって基板32の電位はほとんど変動せず、その0電位が安定的に維持される。このように、基板32が電磁波を遮蔽、またはその0電位を安定的に維持する機能を十分に発揮するためには、基板32を構成する導電性材料の体積固有抵抗が1~100μΩ・cmであれば好ましい。
 ホルダ部材31と基板32との表面における境界を含む近傍領域には、絶縁性を有する接着剤Gが塗布されている。この接着剤Gとして、例えばエポキシ系接着剤やシアノアクリレート系(瞬間)接着剤を用いれば、熱膨張を考慮する必要がある温度(50℃以上)での使用が想定される場合でも、適用することが可能となる。
 次に、図2を参照してプローブ2の構成を説明する。プローブ2は、導電性部材によって形成され、配線基板4に接触する針状部材21、液晶パネル200上の接続端子(図示せず)に接触する針状部材22、および針状部材21と22との間に介在して二つの針状部材21および22を伸縮自在に連結するバネ部材23とを備える。同じプローブ2を構成する針状部材21および22、ならびにバネ部材23は同一の軸線を有しており、プローブホルダ3に形成されるホルダ孔311を貫通している。なお、プローブ2は、針状部材とバネ部材で構成されるものに限らず、ポゴピン、またはワイヤーを弓状に撓ませて荷重を得るワイヤープローブでもよい。
 針状部材21の先端部は、配線基板4の端子部に接触する先鋭端と、この先鋭端の基端部側にその基端部のなす円と同径をなす円柱状の胴部とを備える。針状部材21は、バネ部材23の伸縮作用によって軸線方向に移動が可能であり、バネ部材23の弾性力によって配線基板4の方向に弾発付勢される。
 これに対して、針状部材22は、液晶パネル200上に形成された接続端子に当接する先鋭端を備える。この針状部材22は、バネ部材23の伸縮作用によって軸線方向に移動が可能であり、バネ部材23の弾性力によって電極方向に弾発付勢される。針状部材22には、ホルダ部材31のホルダ孔311のうち大径部311aと小径部311bとの境界をなす階段部分に接触することによってプローブ2のホルダ部材31からの抜止機能を有するフランジ部22aが設けられている。
 バネ部材23は、一端が針状部材21の胴部の底面に当接する一方、他端が針状部材22のフランジ部22aに当接しており、針状部材21および22とバネ部材23とは、バネの巻き付き力および/または半田付けによって接合されている。
 配線基板4は、プローブ2と信号処理装置100との間を電気的に接続するためのものである。配線基板4は、プローブホルダ3と対向する固定部材5の表面上にその一端が固定されており、かかる一端部の図1における下面側には、針状部材21の先鋭端の位置に対応する端子部が配設されている(図示せず)。図2にも示すように、ホルダ孔311の大径部311aの上端開口面は配線基板4によって覆われており、その表面の端子部には針状部材21の先鋭端が当接している。この状態でバネ部材23が圧縮されるように大径部311aの長さ等を設定することにより、針状部材21を配線基板4の端子部に所定の押圧力にて確実に接触させることができる。なお、プローブ2と配線基板4との間の電気的接続は、両者が物理的に接触することによって実現してもよいが、たとえば固定部材5の下面にプローブ2に対応した端子を形成し、かかる端子を介して配線基板4との間を電気的に接続してもよい。
 配線基板4は、例えばFPC(Flexible Printed Circuit)やTAB(Tape Automated Bonding)等によって多数のプローブ2の各々と信号処理装置100とを電気的に接続する構成を有しているが、多数のプローブ2に対応した多数本の導電性ワイヤー等によって形成してもよい。
 なお、固定部材5をプローブホルダ3に固定するためのねじ11を螺着するねじ孔322を基板32に形成しているため、固定部材5を強固に取り付けることができる。この結果、上述したように配線基板4を挟持するだけでその配線基板4を確実に固定することが可能である。なお、固定部材5を合成樹脂材とすれば、その合成樹脂材の弾性変形を利用することによって配線基板4を弾発的に押さえ付け、配線基板4を損傷させずに固定できるのでより好ましい。
 調整機構6は、フレーム基板7に対して固定された第1ブロック部材61と、プローブホルダ3に対してねじ12を介して固定された第2ブロック部材62とを備え、第1ブロック部材61と第2ブロック部材62との間の鉛直方向の位置関係を調整し、フレーム基板7に対するプローブホルダ3の高さ(図1の鉛直上下方向の位置)を調整する機能を有する。
 以上の構成を有するプローブユニット1を用いる場合、液晶パネル200上の端子(パネル端子)に対して、対応するプローブ2が鉛直上方に位置するよう、図1の水平方向にプローブ2の位置を調整する。
 例えば、フレーム基板7の位置を水平方向に微調整して水平方向の位置合わせが完了した後、プローブ2と液晶パネル200との間の鉛直方向の位置関係を調整することによって、プローブ2とパネル端子とを物理的に接触させる。この際には、液晶パネル200を図1で鉛直上方に移動することによってパネル端子をプローブ2に接触させる。なお、ここでの物理的な接触の態様としては、一方から他方に対して所定の押圧力が印加される程度に互いに接触することが好ましい。これは、プローブ2がパネル端子に対して押圧力を印加した状態で接触することにより、プローブ2とパネル端子との間における電気的な接触抵抗を低減することが可能となるためである。
 プローブ2と液晶パネル200との間の鉛直方向の位置関係が調整された後、信号処理装置100から液晶パネル200に対して検査用の電気信号が出力される。具体的には、信号処理装置100によって生成、出力された電気信号は、配線基板4、プローブ2および液晶パネル200上のパネル端子を介して液晶パネル200に入力される。かかる電気信号に対し、液晶パネル200内に形成された電子回路(図示せず)による処理が行われ、液晶パネル200から信号処理装置100に対して応答信号が出力される。信号処理装置100は、液晶パネル200からプローブ2および配線基板4を介して受信した応答信号を用いることにより、液晶パネル200が所望の特性を備えているか否かの判定処理等を行う。
 次に、本実施の形態に係るプローブホルダの製造方法について、図4A~図4Dを参照しながら説明する。まず、平板状の基板32に対して、ホルダ部材31を嵌入するスロット状の中空部321と、ねじ11および12をそれぞれ螺着するためのねじ孔322および323と、を所定の位置に形成する(図4A)。かかる中空部321やねじ孔322,323を形成する際には、基板32に対してエッチング、レーザ、プレスあるいは他の適当な加工を施す。
 続いて、最終的にホルダ部材31となる絶縁性部材30を基板32の中空部321に嵌入する(図4B)。その後、絶縁性部材30と基板32との表面における境界を含む近傍領域に絶縁性を有する接着剤Gを塗布して絶縁性部材30と基板32とを固着する(図4C、第1固着工程)。
 絶縁性部材30と基板32とを固着した後、絶縁性部材30の所定の位置に対して、板厚方向に貫通したホルダ孔311(大径部311a、小径部311b)を形成することにより、絶縁性部材30がホルダ部材31となる(図4D、ホルダ孔形成工程)。このホルダ孔311を形成する際には、絶縁性部材30にねじ孔322等を形成する場合と同様の加工(エッチングまたは打抜成形、レーザ、電子ビーム、イオンビーム、ワイヤー放電等を用いた加工)を行えばよい。図4Dは、ホルダ孔311が形成されることによって完成したプローブホルダ3の構成を示す図であり、図3のA-A線部分断面図である。
 上述した実施の形態1にかかるプローブホルダの製造方法によれば、基板の中空部に絶縁性部材(ホルダ部材)を嵌入した後、絶縁性部材(ホルダ部材)と基板との表面における境界を含む近傍領域に絶縁性を有する接着剤Gを塗布するようにしたので、製造時間の短縮および製造コストの低減を達成することができる。また、基板に対して絶縁性部材(ホルダ部材)を嵌入するため、基板に対するホルダ部材の位置精度が向上し、結果、ホルダ部材に収容されるプローブの位置精度を向上させることが可能となる。なお、基板は金属を用いて形成することによって、樹脂等で形成される基板と比して熱膨張係数を小さくすることができ、特に、絶縁性部材(ホルダ部材)が100mmを超える場合、金属によってホルダ部材の膨張または収縮を抑制することが可能である。
 なお、中空部321とねじ孔322,323とを形成する前の基板32の表面には、絶縁部材が被覆されていてもよい。
 図5は、本実施の形態1にかかるプローブホルダ3aの変形例1を示す斜視図である。図6は、図5に示すプローブホルダ3aのB-B線断面であって、接着剤Gを塗布した場合を示す断面図である。図5,6に示すプローブホルダ3aは、基板33の面取りされた中空部331に対してホルダ部材31(絶縁性部材30)が嵌入される。
 中空部331は、ホルダ部材31(絶縁性部材30)が嵌入される嵌入孔332と、嵌入孔332の端部が面取りされた形状をなす傾斜部333とを有する。傾斜部333は、ホルダ部材31と基板33との表面における境界を含む近傍領域で、ホルダ部材31の表面と凹形状をなす。この凹形状部分に接着剤Gが塗布される。
 上述した変形例1にかかるプローブホルダによって、上述した実施の形態1と同様に製造時間の短縮および製造コストの低減を達成することができるうえ、基板に対してホルダ部材が突出していない構成においても接着剤を基板表面から突出させずに塗布するため、プローブユニットに対する配設位置の自由度を高めることができる。
 図7は、本実施の形態1にかかるプローブホルダ3bの変形例2を示す斜視図である。図8は、図7に示すプローブホルダ3bの矢視C方向の上面図である。図7,8に示すプローブホルダ3bは、中空部341の挿入孔342の壁面と垂直な方向に形成された凸部343に対してホルダ部材31(絶縁性部材30)が嵌入される。
 中空部341は、ホルダ部材31(絶縁性部材30)が挿入される挿入孔342と、挿入孔342の端部が面取りされた形状をなす凸部343とを有する。プローブホルダ3bは、ホルダ部材31と基板34との表面における境界を含む近傍領域で、挿入孔342とホルダ部材31との間に空間を形成し、この空間部分に接着剤Gが塗布されて基板34とホルダ部材31とが固着される。
 上述した変形例2にかかるプローブホルダによって、上述した実施の形態1と同様に製造時間の短縮および製造コストの低減を達成することができるうえ、基板に対して接着剤を塗布可能な領域が大きいため、プローブホルダとしての強度を向上させることができる。なお、ホルダ部材31の上面が、基板34の上面に対して突出している場合、凸部343の表面とホルダ部材31の側面側の表面における境界を含む近傍領域に接着剤Gを塗布して固着してもよい。
(実施の形態2)
 図9は、プローブ2を収容するプローブホルダ3eの要部の構成を示す縦断面図である。また、図10は、プローブホルダ3eの上面図である。これらの図に示すプローブホルダ3eは、プローブ2を収容するホルダ孔312を有するホルダ部材31aと、スロット状の中空部321aにホルダ部材31aを嵌入して保持する基板32aとを備える。本実施の形態2にかかるプローブホルダ3eは、第1プローブホルダ3cと第2プローブホルダ3dとがねじ孔324を介してねじ13によって固着されて形成される。
 第1プローブホルダ3cは、プローブ2を収容するホルダ部材31bと、スロット状の中空部321bにホルダ部材31bを嵌入して保持する基板32bとを有する。また、第2プローブホルダ3dは、プローブ2を収容するホルダ部材31cと、スロット状の中空部321cにホルダ部材31cを嵌入して保持する基板32cとを有する。
 ホルダ部材31bは、絶縁性が高い合成樹脂材などを用いて形成され、数百~数千本程度のプローブ2の一部を収容可能な容積を有している。このホルダ部材31bには、プローブ2の一部を収容する円筒状の孔部312aが形成されている。孔部312aは、針状部材21の幅と比して若干大きい径の孔形状をなしている。
 基板32bは、高強度かつ耐熱性を有し、熱膨張係数が小さい導電性材料を用いて形成され、ホルダ部材31bを嵌入可能な中空部321bを有する。中空部321bは、ホルダ部材31bの一方の端部が突出するようにホルダ部材31bを嵌入している。また、基板32bは、第1プローブホルダ3cと第2プローブホルダ3dとを締結するためのねじ13を螺着する大径部324aおよび小径部324bを有する。
 ホルダ部材31cは、絶縁性が高い合成樹脂材などを用いて形成され、数百~数千本程度のプローブ2の一部を収容可能な容積を有している。このホルダ部材31cには、プローブ2の一部を収容する大径部312bおよび小径部312cが形成されている。大径部312bは、孔部312aの径と同等の径を有し、小径部312cは、この大径部312bの径よりも小さい径を有し、ホルダ部材31cの一方の開口面の径が異なる段付き孔形状をなしている。
 基板32cは、高強度かつ耐熱性を有し、熱膨張係数が小さい導電性材料を用いて形成され、ホルダ部材31cを嵌入可能な中空部321cを有する。中空部321cは、ホルダ部材31cの一方の端部が突出するようにホルダ部材31cを嵌入している。また、基板32cは、第1プローブホルダ3cと第2プローブホルダ3dとを締結するためのねじ13を螺着する孔部324cを有する。孔部324cは、小径部324bの径と同等の径を有する。
 プローブ2を収容するホルダ孔312は、上述した孔部312a、大径部312bおよび小径部312cからなる。また、ねじ13を螺着するねじ孔324は、大径部324a、小径部324bおよび孔部324cからなる。
 次に、本実施の形態2にかかるプローブホルダ3eの製造方法について、図11A~図11Dを参照しながら説明する。まず、図4Cにおいて固着された第1または第2プローブホルダに対してねじ13を螺着する小径部324b(孔部324c)を形成する(図11A)。
 続いて、図11Aで作成された第1または第2プローブホルダの一方の板厚方向を法線とする表面を研磨して互いの表面を滑らかに連続させる(図11B、表面研磨工程)。この結果、一方の絶縁性部材30の端面と基板32b(32c)の端面とが一致する。表面研磨工程として具体的に行う加工は、フライス加工、ラッピング加工等である。
 その後、絶縁性部材30の所定の位置に対して、板厚方向に貫通したホルダ孔312(孔部312a、大径部312bおよび小径部312c)をそれぞれ第1プローブホルダ3cまたは第2プローブホルダ3dに対応する絶縁部材30に形成することにより、絶縁性部材30がホルダ部材31bまたは31cとなる(図11C)。このとき、第1プローブホルダ3cには、ねじ孔324を構成する大径部324aが形成される。
 ホルダ孔形成後、第1プローブホルダ3cおよび第2プローブホルダ3dの表面研磨工程によって研磨された研磨面同士を固着することによってプローブホルダ3eが形成される(図11D、第2固着工程)。図11Dは、完成したプローブホルダ3eの構成を示す図であり、図10のD-D線断面図である。ここで、第1プローブホルダ3cと第2プローブホルダ3dとの固着は、ねじ13による固着のほか、境界表面を接着材G等によって固着されてもよい。
 上述した実施の形態2にかかるプローブホルダの製造方法によって、2つのプローブホルダを用いることで、孔形成およびプローブホルダ形成の自由度を向上させることができる。例えば、あらかじめ第1プローブホルダおよび第2プローブホルダを作成しておき、プローブの形状によって固着させるプローブホルダを選択することができる。また、第1プローブホルダと第2プローブホルダとの間に支柱等を配設して空間を形成させることで、固着されてなるプローブホルダの厚みを調節することが可能となる。
 図12A~図12Cは、本発明の実施の形態2にかかる他の例のプローブユニットの製造方法を示す断面図である。この他の例では、両端がフランジ部22aを有する針状部材22であるプローブ2aを用いる場合を説明する。プローブホルダは、図11Dで形成されたプローブホルダ3dを2つ用い、上方側のプローブホルダを第1プローブホルダ3f、下方側のプローブホルダを第2プローブホルダ3gとする。
 まず、下方側に位置する第2プローブホルダ3gのホルダ孔(大径部312b、小径部312c)に対してプローブ2aを挿入する(図12A)。このとき、第1プローブホルダ3fには、ねじ孔を構成する大径部324aが形成される。なお、この他の例のねじ孔は、大径部324aおよび小径部324cからなる。その後、上方側の第1プローブホルダ3fを第2プローブホルダ3g側に接近させて第1プローブホルダ3fのホルダ孔(大径部312b、小径部312c)にプローブ2aを挿入する(図12B)。第1プローブホルダ3fおよび第2プローブホルダ3gにプローブ2aを挿入後、表面研磨工程によって研磨された研磨面同士を固着することによってプローブホルダ3hが形成される(図12C)。
 なお、実施の形態1と同様、絶縁性部材30の嵌入部分(中空部)およびねじ孔322,323および324を形成する前の基板32の表面には、絶縁部材が被覆されていてもよい。
 以上のように、本発明にかかるプローブホルダの製造方法は、電極と接続し、電気信号を導通させるコンタクトプローブを保持するホルダとして有用である。
 1 プローブユニット
 2、2a コンタクトプローブ(プローブ)
 3、3a、3b、3e、3h プローブホルダ
 3c、3f 第1プローブホルダ
 3d、3g 第2プローブホルダ
 4 配線基板
 5 固定部材
 6 調整機構
 7 フレーム基板
 11、12、13 ねじ
 21、22 針状部材
 22a フランジ部
 23 バネ部材
 30 絶縁性部材
 31、31a、31b、31c ホルダ部材
 32、32a、32b、32c 基板
 61 第1ブロック部材
 62 第2ブロック部材
 100 信号処理装置
 200 液晶パネル
 311、312 ホルダ孔
 321、331、341 中空部
 322、323、324 ねじ孔
 G 接着剤

Claims (6)

  1.  回路構造との間で信号の入出力を行う複数のコンタクトプローブを保持する絶縁性のホルダ部材と、前記ホルダ部材を嵌入可能な中空部を有する基板とを備えたプローブホルダの製造方法であって、
     前記基板が有する前記中空部に対して前記ホルダ部材の原材料である絶縁性部材を嵌入し、前記基板と前記ホルダ部材との表面における境界を含む近傍領域に接着剤を塗布して両部材を固着する第1固着工程と、
     前記ホルダ部材を貫通し、前記複数のコンタクトプローブを個別に収容する複数のホルダ孔を形成するホルダ孔形成工程と、
     を含むことを特徴とするプローブホルダの製造方法。
  2.  前記ホルダ孔形成工程の前に行なわれ、前記第1固着工程で固着した前記ホルダ部材の厚さ方向と直交する一方の表面と該表面に隣接する前記基板の表面とを研磨して互いの表面を滑らかに連続させる表面研磨工程と、
     前記表面研磨工程で研磨された研磨面を有し、かつ前記ホルダ孔形成工程によって前記ホルダ孔が形成された2枚のホルダ部材の研磨面同士を固着させる第2固着工程と、
     を含み、
     一方のホルダ部材のホルダ孔は、円筒状をなすことを特徴とする請求項1に記載のプローブホルダの製造方法。
  3.  他方のホルダ部材のホルダ孔は、段付き形状をなすことを特徴とする請求項2に記載のプローブホルダの製造方法。
  4.  回路構造との間で信号の入出力を行い、中間部の径が先端部の径より大きい複数のコンタクトプローブと、該コンタクトプローブを保持する絶縁性のホルダ部材が2枚積層されたプローブホルダとを備えたプローブユニットの製造方法であって、
     基板が有する中空部に対して前記ホルダ部材の原材料である絶縁性部材を嵌入し、前記基板と前記ホルダ部材との表面における境界を含む近傍領域に接着剤を塗布して両部材を固着する第1固着工程と、
     前記固着工程で固着した前記ホルダ部材の厚さ方向の一方の表面と該表面に隣接する前記基板の表面とを研磨して互いの表面を滑らかに連続させる表面研磨工程と、
     前記ホルダ部材を貫通し、前記複数のコンタクトプローブを個別に収容する複数の段付き形状をなすホルダ孔を前記2枚のホルダ部材にそれぞれ対応させて形成するホルダ孔形成工程と、
     前記2枚のホルダ部材のうち一方の前記ホルダ孔に前記コンタクトプローブを挿入するプローブ挿入工程と、
     他方の前記ホルダ部材を前記一方のホルダ部材の前記ホルダ孔に対応させて固着する第2固着工程と、
     を含むことを特徴とするプローブユニットの製造方法。
  5.  回路構造との間で信号の入出力を行う複数のコンタクトプローブを保持する絶縁性のホルダ部材が2枚積層されたプローブホルダであって、
     前記ホルダ部材は、
     前記ホルダ部材の原材料である絶縁性部材を嵌入する中空部を有する基板と、
     前記基板と該基板に嵌入された前記ホルダ部材との表面における境界を含む近傍領域に塗布されて両部材を固着する接着剤と、
     前記ホルダ部材を貫通し、前記複数のコンタクトプローブを個別に収容する複数のホルダ孔と、
     を備え、
     前記ホルダ部材の厚みは、前記基板の厚みと比して大きいことを特徴とするプローブホルダ。
  6.  前記ホルダ孔は、段付き形状をなすことを特徴とする請求項5に記載のプローブホルダ。
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