WO2011004714A1 - 顕微鏡装置 - Google Patents

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正宏 水田
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株式会社ニコン
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    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
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    • G02B21/08Condensers
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/18Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
    • G02B21/20Binocular arrangements
    • G02B21/22Stereoscopic arrangements

Definitions

  • the present invention relates to a microscope apparatus.
  • a light source image is formed in the vicinity of the pupil conjugate position of the objective lens by a light source such as a halogen lamp, a collector lens, a deflection mirror, and a projection lens (for example, Patent Documents). 1).
  • a light shielding element is arranged near the pupil conjugate position of the objective lens, and switching between bright field illumination and dark field illumination is proposed.
  • the present invention has been made in view of such a problem. Regardless of the observation magnification of the imaging optical system, the entrance pupil of the imaging optical system can be filled with illumination light, and a pupil conjugate image can be obtained.
  • An object of the present invention is to provide a microscope apparatus having an illumination device that can be appropriately limited by a light shielding element.
  • a microscope apparatus includes a surface light emitter having a light emitting surface which is a planar light emitting region, and illuminates a sample with light emitted from the surface light emitter; and An objective lens that collects light from the sample, and an imaging optical system that includes a zoom lens group that is formed by scaling the image of the sample are configured.
  • the illumination device is disposed on the sample side of the light emitting surface of the surface light emitter, and includes a light shielding element that shields a part of the light flux emitted from the light emitting surface, and is disposed on the sample side from the light shielding element.
  • a light diffusing element that diffuses the light.
  • the illumination apparatus has a condensing lens that collects light emitted from the surface light emitter and irradiates the sample.
  • the condensing lens preferably has at least one surface formed in an aspherical shape.
  • the condensing lens is preferably constituted by a lens array in which a plurality of lenses are arranged in an array.
  • the surface light emitter is preferably composed of a light source and a light guide plate that has a light emitting surface and emits light emitted from the light source from the light emitting surface.
  • the light source is preferably composed of a plurality of white LEDs.
  • the light source is preferably composed of a plurality of LEDs having different peak wavelengths.
  • At least one of the surface light emitter and the condenser lens is configured to be movable along the optical axis.
  • the entrance pupil of the imaging optical system can be filled with illumination light from the illumination apparatus regardless of the observation magnification of the imaging optical system, and the pupil conjugate Oblique illumination can be performed by appropriately limiting the image with a light shielding element.
  • FIGS. 1 and 2 show a single objective binocular stereomicroscope apparatus (hereinafter referred to as “microscope apparatus 1”) which is an example of a stereomicroscope apparatus.
  • the optical system of the microscope apparatus 1 includes an illumination apparatus 2.
  • the imaging optical system 3 that collects the light that has been illuminated by the light and transmitted through the sample (sample surface S) and forms a primary image of the sample (sample surface S), and is imaged by the imaging optical system 3
  • an eyepiece 4 for magnifying and observing the primary image.
  • the imaging optical system 3 condenses the light beam transmitted through the sample surface S and converts it into a parallel light beam, and condenses the parallel light beam emitted from the objective lens 31 to observe the image of the sample.
  • a variable power lens group 32 that changes (magnifies) the magnification and an imaging lens 33 that forms a primary image of the sample are included.
  • This microscope apparatus 1 includes a base 101 that incorporates an illumination device 2, an objective lens 31 and an eyepiece lens 4, and a variable power lens barrel 103 having a variable power lens group 32 and an imaging lens 33 therein, and A focusing device 105 is included.
  • a sample mounting table 102 in which a transparent member is embedded is provided on the upper surface of the base unit 101, and illumination light is applied to the sample mounted on the sample mounting table 102 from below by the illumination device 2. Is irradiated.
  • the objective lens 31 is attached to an objective lens attachment portion 106 provided at the lower part of the variable magnification lens barrel 103.
  • the objective lens attaching unit 106 is configured to be able to select and attach one of a plurality of predetermined low magnification objective lenses and a plurality of high magnification objective lenses. There are cases where a plurality of objective lenses with a low magnification and a plurality of objective lenses with a high magnification are selected and attached.
  • the eyepiece 4 is housed in the eyepiece lens barrel 104 and attached to the upper portion of the variable magnification lens barrel 103.
  • the zoom lens group 32 includes a movable group for zooming.
  • the zoom lens group 32 moves in the optical axis direction according to a predetermined amount of movement by the rotation of the zooming knob 107.
  • the variable power lens group 32 includes a variable stop (aperture stop), and the variable power lens barrel 103 is provided with an adjustment mechanism for the variable stop.
  • the focusing device 105 includes a focusing knob 108 and a mechanism (not shown) that moves the zoom lens barrel 103 up and down along the axis as the focusing knob 108 rotates. .
  • the illuminating device 2 built in the base unit 101 uses a plurality of white LEDs or LEDs having peaks at a plurality of different wavelengths as a light source, and has a light emitting surface 21a that is a planar light emitting region.
  • a light guide plate 21 that is a body, a light shielding plate 22 that is a light shielding element that shields a part of the light beam emitted from the light emitting plate 21 that emits light, and a diffusion surface that diffuses the light beam that has passed without being blocked by the light shielding plate 22. are arranged in this order.
  • the light guide plate 21 emits surface light using various light sources such as a point light source such as an LED and a line light source such as a cold cathode tube.
  • a light source is arranged on the end face of an acrylic plate having a certain structure, light from the light source is incident, and reflection is repeated in this acrylic plate, so that unevenness is eliminated and light that is less than the total reflection angle is on the surface.
  • the light is emitted from (light emitting surface 21a).
  • Such a light guide plate 21 can be made very thin and can obtain very bright surface light emission without unevenness.
  • the illumination device 2 can be thinned by using the light guide plate 21 as a surface light emitter like the illumination device 2 of the microscope apparatus 1 according to the present embodiment.
  • FIG. 4A shows the relationship between the pupil conjugate image PI and the light shielding plate 22 as viewed from the sample surface S side, and the light from the rectangular light shielding plate 22 along the axis A shown in FIGS. This is a case where the pupil conjugate image PI is limited by being inserted on the road.
  • the normal vector of the light shielding plate 22 is parallel to the optical axis, and the sample surface S can be obliquely illuminated by moving the light shielding plate 22 in a plane substantially perpendicular to the optical axis.
  • the light shielding plate 22 is not limited to a rectangular shape. As shown in FIG. 4B, a light shielding plate 22 ′ having a circular opening 22a having a smaller radius than the effective diameter of the pupil conjugate image PI is provided on the optical path. As shown in FIG. 4C, a light shielding plate 22 ′′ having a slit opening 22b may be inserted on the optical path. In addition, there is also included a case where an oblique illumination is performed by having an aperture smaller than the area of the pupil conjugate image PI and moving it in a plane substantially perpendicular to the optical axis. Since the principle that enables the observation of an object has already been introduced in many documents, a detailed description thereof is omitted here.
  • FIG. 5 is a graph in the case where the horizontal axis is the insertion direction (axis A) of the rectangular light shielding plate 22 shown in FIG. 4A and the light shielding rate by the light shielding plate 22 is the vertical axis.
  • FIG. 5 (a) shows a case where light is shielded by almost 100% on the entire surface
  • FIG. 5 (b) shows a case where the light shielding rate at the distal end side in the insertion direction is 50%, and the opposite side is 100%
  • FIG. The case where the light-shielding rate continuously increases from the front end side in the insertion direction to the opposite side is shown.
  • the light shielding is configured to have the transmittance distribution of FIGS. 5B and 5C as compared to the light shielding plate 22 having the configuration of FIG.
  • the plate 22 can suppress glare due to excessive contrast, and is more useful for observation.
  • the difference between the light shielding ratios at the boundary between the light shielding part and the light shielding part is not 100%, and the configuration in which the light shielding ratio continuously increases and finally reaches the light shielding ratio of 100% is more useful when observing a sample having a large phase difference. It is.
  • the sample surface S is the boundary.
  • the position of the entrance pupil conjugate image PI of the imaging optical system 3 formed on the illumination side varies greatly depending on the magnification of the variable power lens group 32.
  • the variable power lens group 32 includes a fixed group 32a, a movable group 32b, and an aperture stop 32c.
  • the entrance pupil conjugate image PI of the imaging optical system 3 is farthest from the sample surface S. Or the reality of the image is switched, and it is not formed on the illumination side.
  • the microscope apparatus 1 in the microscope apparatus 1 according to the present embodiment, as shown in FIG. 3 described above, in the illumination apparatus 2 built in the base unit 101 of the microscope apparatus 1, between the sample surface S and the light shielding plate 22.
  • a light diffusing element 23 for diffusing the light beam that has passed without being blocked by the light shielding plate 22 is disposed.
  • D represents the distance in the optical axis direction between the light shielding plate 22 and the light diffusing element 23.
  • the light diffusing element 23 is disposed at a position ⁇ (position close to the sample surface S) between the entrance pupil conjugate image PI and the sample surface S as shown in FIG. Then, the light is diffused, and as shown in FIG. 7, the entrance pupil conjugate image is only on one surface with the optical axis as the normal line (the surface of the entrance pupil conjugate image PI when the light diffusion element 23 is not disposed). Instead, it is formed by diffused light on a plurality of surfaces represented by points A, B, and C. On the other hand, as shown in FIG.
  • the entrance pupil conjugate image is It is formed by diffused light not only on the surface of the entrance pupil conjugate image PI when the light diffusing element 23 is not disposed, but also on a plurality of surfaces represented by points A ′, B ′, and C ′. 7 and 8, the light beam having the maximum numerical aperture among the light radiated from the pupil (aperture stop 32c) of the imaging optical system 3 toward the sample surface S is indicated by a broken line.
  • the light beam in two directions among the light beams diffused by the light beam having the maximum numerical aperture is shown.
  • the light diffusing element 23 is disposed between the sample surface S and the entrance pupil conjugate image PI, and at least points A to C (points A ′ to C ′).
  • the entrance pupil of the imaging optical system 3 can be filled with illumination light.
  • the light diffusing element 23 can provide an effect as if the depth of focus of the entrance pupil conjugate image is deep. Therefore, in consideration of the magnification of the objective lens 31 and the variable power lens group 32, the light guide plate 21 and the light shielding plate 22 shown in FIG. 3 are arranged in the range of points A to C (points A ′ to C ′).
  • the entrance pupil can be filled with illumination light regardless of the magnification of the imaging optical system 3.
  • the light shielding plate 22 that moves in one plane with the optical axis of the objective lens 31 as a normal line cannot appropriately limit the entrance pupil conjugate image PI of the imaging optical system 3 that moves with zooming.
  • the light diffusing element 23 can be arranged in the range of the incident pupil conjugate images (images formed at the points A to C and the points A ′ to C ′), appropriate oblique illumination can be performed. it can.
  • the light diffusing element 23 be arranged close to the sample surface S because the arrangement area of the light guide plate 21 and the light shielding plate 22 is widened.
  • the distance D [mm] between the light diffusing element 23 and the light shielding plate 22 preferably satisfies the following expression (1).
  • the thickness from the bottom of a general lighting stand (for example, the base 101 shown in FIG. 1) to the sample surface is approximately 80 mm or more and 150 mm or less.
  • the illumination base called thin is 50 mm or less.
  • a conjugate image PI of the entrance pupil of the imaging optical system 3 is formed at a position of about 40 mm below the sample surface, and in the vicinity thereof, the light shielding plate 22 and the light source (Light guide plate 21) should be arranged.
  • the numerical aperture at the minimum magnification of the variable power lens of the 1 ⁇ objective lens that is most commonly used is 0.015 to 0.025.
  • the point image intensity distribution on the optical axis can be calculated analytically, and the intensity is 0 at a position 2 to 6 mm away from the maximum intensity position in the optical axis direction. Therefore, in order to prevent the surface structure of the light diffusing element 23 from affecting the image formation of the sample image, it is preferable to dispose the light diffusing element 23 at least 6 mm away from the sample surface. However, for the reasons described above, the distance D between the light diffusing element 23 and the light shielding plate 22 is desirably within 34 mm.
  • the optical characteristics of the diffusing surface of such a light diffusing element 23 have the conditions shown in the following equations (2) and (3) when the parallel transmittance is T [%] and the haze is H [%]. It turns out that satisfaction is desirable.
  • the low magnification objective lens 31 and the variable magnification lens group 32 can be changed from a low magnification region to a high magnification region.
  • the entrance pupil conjugate image PI of the imaging optical system 3 can be formed at the position near the sample surface S on the illumination side with the sample surface S as a boundary, with almost no change in position.
  • the light guide plate 21 and the light shielding plate 22 are arranged at or near the entrance pupil conjugate image PI, a thin transmission illumination optical system can be realized.
  • the light diffusing element 23 is disposed between the sample surface S and the condenser lens.
  • an aberration correction effect can be obtained by making the surface shape of at least one surface of the condenser lens 24 an aspherical surface.
  • the focal length of one microlens 25a can be shortened by using the lens array 25 in which a plurality of microlenses 25a shown in FIG.
  • the illumination device 2 can be made thin.
  • a light shielding plate 26 configured to shield each of the entrance pupil conjugate images PIa existing by the number of microlenses 25 a.
  • the field of view can be adjusted by inserting a variable stop between the sample surface S and the light shielding plate 22.
  • the light diffusing element 23 is disposed between the sample surface S and the lens array.
  • a condensing lens having at least one diffusing surface may be arranged instead of the condensing lens and the light diffusing element.
  • the number of elements can be reduced by 1, and the lighting device 2 can be made thinner.
  • the light source of the light guide plate 21 is another light source such as a cold cathode tube, it is within the scope of the present invention using the thinness of the surface light emitter.
  • a thin surface light source such as an organic EL or an inorganic EL is used instead of the light guide plate 21.
  • the light shielding plate 22 may be completely removed from the optical path.
  • the field of view can be adjusted by inserting a variable stop between the sample surface S and the light guide plate 21.
  • the objective lens 31 has a particularly low depth of focus. When using a double objective lens, it is better to dispose it at a position away from the sample surface S.
  • Microscope apparatus Illuminating device 21 Light guide plate (surface light-emitting body) 21a Light emission surface 22, 26 Light-shielding plate (light-shielding element) 23 Light-diffusion element 24 Condensing lens 25 Lens array 25a Micro lens 3 Imaging optical system 31 Objective lens 32 Change Double lens group S Sample PI, PIa Entrance pupil conjugate image of imaging optical system

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Abstract

 結像光学系の観察倍率に関わらず、この結像光学系の入射瞳を照明光で満たすことができ、且つ、瞳共役像を遮光素子で適切に制限することができる照明装置を有する顕微鏡装置を提供する。 面状の発光領域である発光面を有する面発光体(導光板21)を含みこの導光板21から放射された光を試料Sに照射する照明装置2と、試料Sからの光を集光する対物レンズ31と、試料Sの像を変倍し形成する変倍レンズ群32を含む結像光学系3と、を有する顕微鏡装置1において、照明装置2は、導光板21の発光面の試料側に配置され、発光面から放射された光束の一部を遮光する遮光素子である遮光板22と、この遮光板22より試料側に配置され、導光板21からの光を拡散する光拡散素子23と、を有する。

Description

顕微鏡装置
 本発明は、顕微鏡装置に関する。
 従来の顕微鏡装置では、ケーラー照明が採用されており、ハロゲンランプ等の光源とコレクタレンズと偏向ミラーと投影レンズとによって光源像を対物レンズの瞳共役位置近傍に形成している(例えば、特許文献1参照)。また、遮光素子を対物レンズの瞳共役位置近傍に配置し、明視野照明及び暗視野照明の切り替えを提案している。
特開平11-133308号公報
 しかしながら、従来の顕微鏡装置の場合、観察倍率によって結像光学系の瞳位置が移動する変倍レンズ群を有していると、対物レンズの光軸を法線とする1つの面内を移動する遮光素子では、変倍により光軸方向に移動する結像光学系の瞳共役像を適切に制限できないために、偏斜照明可能な変倍域が限られるという課題があった。
 本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであり、結像光学系の観察倍率に関わらず、この結像光学系の入射瞳を照明光で満たすことができ、且つ、瞳共役像を遮光素子で適切に制限することができる照明装置を有する顕微鏡装置を提供することを目的とする。
 前記課題を解決するために、本発明に係る顕微鏡装置は、面状の発光領域である発光面を有する面発光体を含みこの面発光体から放射された光を試料に照射する照明装置と、試料からの光を集光する対物レンズと、試料の像を変倍して形成する変倍レンズ群を含む結像光学系と、を有して構成される。そして、照明装置は、面発光体の発光面の試料側に配置され、発光面から放射された光束の一部を遮光する遮光素子と、この遮光素子より試料側に配置され、面発光体からの光を拡散する光拡散素子と、を有する。
 このような顕微鏡装置は、遮光素子と光拡散素子との間隔をD[mm]としたとき、次式
D ≦ 34
の条件を満足することが好ましい。
 また、このような顕微鏡装置は、光拡散素子に形成された拡散面の光学特性である平行光透過率をT[%]、ヘイズをH[%]としたとき、次式
50 < T < 95
10 < H < 98
の条件を満足することが好ましい。
 また、このような顕微鏡装置において、照明装置は、面発光体から放射された光を集光して試料に照射する集光レンズを有することが好ましい。
 このとき、集光レンズは、非球面形状に形成された面を少なくとも1面有することが好ましい。
 あるいは、集光レンズは、複数のレンズがアレイ状に配置されたレンズアレイで構成されることが好ましい。
 また、このような顕微鏡装置において、面発光体は、光源と、発光面を有し、光源から放射された光を発光面から放射する導光板と、から構成されることが好ましい。
 このとき、光源は、複数の白色LEDからなることが好ましい。
 あるいは、光源は、異なるピーク波長を持つ複数のLEDからなることが好ましい。
 さらに、このような顕微鏡装置において、面発光体及び集光レンズの少なくともいずれか一方は、光軸に沿って移動可能に構成されることが好ましい。
 本発明に係る顕微鏡装置を以上のように構成すると、結像光学系の観察倍率に関わらず、この結像光学系の入射瞳を照明装置からの照明光で満たすことができ、且つ、瞳共役像を遮光素子で適切に制限して偏斜照明を行うことができる。
顕微鏡装置の外観を示す斜視図である。 上記顕微鏡装置の光学系の構成を示す説明図である。 照明装置の構成を示す説明図である。 結像光学系の入射瞳共役像と遮光板との関係を示す説明図であって、(a)は、矩形状の遮光板を用いた場合を示し、(b)は円形開口を有する遮光板を用いた場合を示し、(c)はスリット開口を有する遮光板を用いた場合を示す。 遮光板の挿入方向と遮光率の関係を示すグラフであって、(a)は均一な遮光率を有する遮光板を用いた場合を示し、(b)は、2段階の遮光率を有する遮光板を用いた場合を示し、(c)は連続的に変化する遮光率を有する遮光板を用いた場合を示す。 結像光学系の入射瞳共役像の位置を説明するための説明図であって、(a)は変倍レンズ群が低倍であるときを示し、(b)は変倍レンズ群が高倍であるときを示す。 結像光学系の入射瞳共役像の位置を説明するための説明図であって、試料面の近傍に光拡散素子を配置した場合の説明図である。 結像光学系の入射瞳共役像の位置を説明するための説明図であって、光拡散素子を試料面から離して配置した場合の説明図である。 上述の照明装置に集光レンズを設けた場合に形成される瞳共役像の位置を説明するための説明図であって、(a)は変倍レンズ群が低倍であるときを示し、(b)は変倍レンズ群が高倍であるときを示す。 上述の照明装置に集光レンズの代わりにレンズアレイを用いた場合の説明図である。
 以下、本発明の好ましい実施形態について図面を参照して説明する。まず、図1及び図2を用いて変倍機構を有する平行実体顕微鏡装置の構成について説明する。これらの図1及び図2は、実体顕微鏡装置の一例である単対物双眼実体顕微鏡装置(以下、「顕微鏡装置1」と呼ぶ)を示しており、この顕微鏡装置1の光学系は、照明装置2により照明されて試料(試料面S)を透過した光を集光してこの試料(試料面S)の一次像を結像する結像光学系3と、この結像光学系3で結像された一次像を拡大観察するための接眼レンズ4と、を備えている。また、結像光学系3は、試料面Sを透過した光束を集光して平行光束に変換する対物レンズ31と、この対物レンズ31から射出する平行光束を集光し、試料の像の観察倍率を変化させる(変倍する)変倍レンズ群32と、試料の一次像を形成する結像レンズ33と、を有して構成される。
 この顕微鏡装置1は、照明装置2を内蔵するベース部101、対物レンズ31及び接眼レンズ4が取り付けられ、内部に変倍レンズ群32及び結像レンズ33を有する変倍レンズ鏡筒103、及び、焦点合わせ装置105を有している。また、ベース部101の上面には、透明部材を埋め込んだ試料載置台102が設けられており、この試料載置台102の上に載置された試料に対して、下方から照明装置2により照明光が照射される。なお、対物レンズ31は、変倍レンズ鏡筒103の下部に設けられた対物レンズ取り付け部106に取り付けられている。この対物レンズ取り付け部106は、予め定められた複数の低倍率の対物レンズ及び複数の高倍率の対物レンズのうちから一つを選択して取り付けることができるようになっている場合と、予め定められた複数の低倍率の対物レンズ及び複数の高倍率の対物レンズのうちから複数を選択して取り付けられるようになっている場合がある。また、接眼レンズ4は、接眼レンズ鏡筒104に格納され、変倍レンズ鏡筒103の上部に取り付けられている。
 変倍レンズ鏡筒103の内部には、左眼用と右眼用の変倍レンズ群32及び結像レンズ33がそれぞれ配置され、この変倍レンズ鏡筒103の外側には変倍ノブ107が配置されている。変倍レンズ群32には変倍のための可動群が含まれており、変倍ノブ107の回転により、予め定められた移動量に則り光軸方向に移動する。また、変倍レンズ群32には可変絞り(開口絞り)が含まれており、変倍レンズ鏡筒103にはこの可変絞りの調節機構が設けられている。また、焦点合わせ装置105は、焦点合わせノブ108と、この焦点合わせノブ108の回転に伴い変倍レンズ鏡筒103を軸に沿って上下動させる機構部(図示せず)とを有している。
 ベース部101に内蔵された照明装置2は、図3に示すように、複数の白色または複数の異なる波長にピークを持つLEDを光源とし、面状の発光領域である発光面21aを有する面発光体である導光板21と、面発光する導光板21から射出された光束の一部を遮光する遮光素子である遮光板22と、遮光板22に遮られることなく通過した光束を拡散する拡散面を有する光拡散素子23と、がこの順に並んで構成されている。ここで、導光板21は、LED等の点光源や冷陰極管等の線光源等、各種光源を使って面発光させるものである。例えば、ある構造を持ったアクリル板の端面に光源を配置して光源からの光を入射させ、このアクリル板の中で反射を繰り返すことでムラがなくなり、全反射角以下になった光が表面(発光面21a)から射出されるようになっている。このような導光板21は、非常に薄く作ることができ、かつ、ムラなく非常に明るい面発光を得ることができる。
 このような導光板21に対して、光源に白色LEDのうち、現在最も良く利用されている青色LEDと黄色蛍光体を組み合わせたタイプを用いると、緑色と赤色の成分が不足して演色性に乏しくなる。それに対し、RGB3種類のLEDを組み合わせたマルチチップタイプ、若しくは、異なる波長にピークを持つワンチップタイプのLEDを複数使うと、各色LEDの発光強度を変化させる駆動回路を作成し、観察者自身が調整することで、色度調整可能な照明を実現することができる。また、近年、近紫外LEDとRGB蛍光体の組合せによってワンチップタイプでも演色性に優れたものが発明されているので、それを使用することもできる。
 従来の顕微鏡装置の場合、装置を小型化するためには光軸を折り曲げるために偏向ミラーを使わざるを得ないので、この偏向ミラーの厚さ以下には照明装置を薄型化することが困難である。この照明装置が厚くなると観察位置の上昇につながり、顕微鏡装置の使い勝手が悪くなってしまう。しかしながら、本実施形態に係る顕微鏡装置1の照明装置2のように、面発光体としての導光板21を用いることにより、この照明装置2を薄くすることができる。
 この顕微鏡装置1において、位相物体の観察をするためには、結像光学系3の瞳共役像を遮光板22の開口形状により制限し、偏斜照明することが必要である。図4(a)は試料面S側から見た瞳共役像PIと遮光板22との関係を示しており、矩形の遮光板22を片側から図1及び図3に示す軸Aに沿って光路上に挿入することにより瞳共役像PIを制限した場合である。この遮光板22の法線ベクトルは光軸と平行であり、光軸と略垂直な面内で遮光板22を移動させることで、試料面Sを偏斜照明することができる。なお、遮光板22は矩形形状に限定されることはなく、図4(b)に示すように、瞳共役像PIの有効径よりも半径の小さな円形開口22aを有する遮光板22′を光路上に挿入しても良いし、図4(c)に示すように、スリット開口22bを有する遮光板22″を光路上に挿入しても良い。また、上記の開口形状に限らず、瞳共役面において瞳共役像PIの面積より小さな開口を有し、それを光軸に対して略垂直な面内で移動させることで偏斜照明する場合も含まれる。なお、偏斜照明をすることで位相物体の観察が可能となる原理については、既に多くの文献などに紹介されているので、ここでは詳細な説明は省略する。
 このような遮光板22について、図5を用いてより詳しく説明する。図5は、図4(a)に示す矩形の遮光板22の挿入方向(軸A)を横軸とし、この遮光板22による遮光率を縦軸とした場合のグラフである。図5(a)は、全面でほぼ100%遮光した場合を示し、図5(b)は挿入方向先端側の遮光率が50%で逆側が100%の場合を示し、図5(c)は遮光率が挿入方向先端側から逆側にかけて連続的に上昇する場合を示している。位相差の大きな試料を観察する際には、図5(a)の構成の遮光板22に比べて、図5(b)や図5(c)の透過率の分布を持つように構成した遮光板22の方が、コントラストが付きすぎることによるギラつきを抑えることができ、観察に有用である。また、図4(b)に示すように、円形開口22aを備えた遮光板22′、及び、図4(c)に示すように、スリット開口22bを備えた遮光板22″についても、開口部と遮光部の境界部において遮光率差が100%ではなく、連続的に遮光率が上昇し、最終的に遮光率100%に至る構成の方が、位相差の大きな試料を観察する際、有用である。
 この顕微鏡装置1における結像光学系3は、複数種類の対物レンズ及び変倍機構を有しているため、図6(a)及び図6(b)に示すように、試料面Sを境にして照明側に形成される結像光学系3の入射瞳共役像PIの位置は、変倍レンズ群32の倍率によって大きく異なる。ここで、変倍レンズ群32は、固定群32aと、可動群32bと、開口絞り32cと、を有して構成されている。特に、対物レンズ31として低倍対物レンズを装着し、変倍レンズ群32の倍率が最低倍である場合に、結像光学系3の入射瞳共役像PIは、試料面Sより最も離れたところに形成されるか、若しくは、像の実虚が入れ替わり、照明側には形成されないことになる。
 そこで、本実施形態に係る顕微鏡装置1においては、上述の図3に示したように、顕微鏡装置1のベース部101に内蔵された照明装置2において、試料面Sと遮光板22との間に、この遮光板22に遮られることなく通過した光束を拡散する光拡散素子23を配置している。なお、この図3において、Dは、遮光板22と光拡散素子23との光軸方向の間隔を表している。
 このような照明装置2を有する顕微鏡装置1において、光拡散素子23を、図7に示すように入射瞳共役像PIと試料面Sとの間の位置α(試料面Sに近い位置)に配置すると、光が拡散され、この図7に示す通り、入射瞳共役像が、光軸を法線とする一つの面上(光拡散素子23を配置しないときの入射瞳共役像PIの面)だけではなく、点A,B,Cで代表される複数の面上に拡散光によって形成される。一方、図8に示すように、光拡散素子23を、図7の場合よりは試料面Sから離れた位置β(入射瞳共役像PIに近づけた状態)に配置すると、入射瞳共役像が、光拡散素子23を配置しないときの入射瞳共役像PIの面だけでなく、点A′,B′,C′に代表される複数の面上に拡散光によって形成される。なお、この図7及び図8においては、結像光学系3の瞳(開口絞り32c)から試料面Sに向かって放射した光のうち、最大開口数の光線を破線で示しており、また、光拡散素子23では、最大開口数の光線に加えて、この最大開口数の光線が拡散した光線のうち、2方向の光線を示している。
 この図7及び図8から明らかなように、光拡散素子23を、試料面Sと入射瞳共役像PIとの間に配置するとともに、少なくとも点A~点C(点A′~点C′)の間に導光板21及び遮光板22を配置することで、結像光学系3の入射瞳を照明光で満たすことができるようになる。すなわち、光拡散素子23により、入射瞳共役像の焦点深度があたかも深くなったような効果を得ることができる。そのため、対物レンズ31及び変倍レンズ群32の倍率を考慮して、この点A~点C(点A′~点C′)の範囲に、図3に示す導光板21及び遮光板22を配置することにより、結像光学系3の倍率に関わらず、入射瞳を照明光で満たすことができる。また同様に、対物レンズ31の光軸を法線とする1つの面内を移動する遮光板22では、変倍に伴い移動する結像光学系3の入射瞳共役像PIを適切に制限できないために偏斜照明可能な変倍域が限られるという課題があったが、このように光拡散素子23を設けることで、対物レンズ31や変倍レンズ群32の倍率が変化しても、拡散された入射瞳共役像(点A~Cや点A′~C′に形成される像)の範囲に導光板21及び遮光板22を配置することができるので、適切な偏斜照明を行うことができる。このとき、光拡散素子23は、図7及び図8に示すように、試料面Sに近づけて配置する方が、導光板21及び遮光板22の配置領域が広がるので好ましい。
 また、上述のように、従来の顕微鏡装置において透過率が略0%の遮光板を使用すると、試料である位相物体の境界部にコントラストが付きすぎることで、境界部周辺の微細な構造が見えなくなることがあるが、光拡散素子23を通ることによって偏斜照明の指向性が弱まり、遮光板22の透過率が0%であったとしても、観察像のコントラストが強すぎることによるギラつきを抑えることができる。
 ここで、光拡散素子23と遮光板22との間隔D[mm]は、次式(1)を満足することが好ましい。
D ≦ 34               (1)
 一般的な照明架台(例えば、図1に示すベース部101)の底部から試料面までの厚みは、凡そ80mm以上150mm以内である。それに対して、薄型と呼ばれる照明架台は50mm以下である。50mm以下の照明架台が実現されるためには、結像光学系3の入射瞳の共役像PIが、試料面から下に、凡そ40mm程度の位置に形成され、その近傍に遮光板22と光源(導光板21)とが配置されるべきである。また、実体顕微鏡装置において、最も標準的に使われる1倍対物レンズの変倍レンズ最低倍での開口数は0.015~0.025である。光学系は凡そ無収差と考えられるので、光軸上の点像強度分布は解析的に計算することができ、最大強度位置から2mm~6mm光軸方向に離れた位置で強度は0となる。従って、光拡散素子23の表面構造が試料像の結像に影響を与えないようにするためには、光拡散素子23は試料面から6mm以上離して配置する方が好ましい。しかし、以上の理由により、光拡散素子23と遮光板22との間隔Dは34mm以内であることが望ましい。
 ところで、このような光拡散素子23の拡散面の光学特性は、その平行透過率をT[%]、ヘイズをH[%]としたとき、次式(2),(3)に示す条件を満足することが望ましいことが分かっている。
50 < T < 95           (2)
10 < H < 98           (3)
 光拡散素子23の拡散面の平行透過率Tが条件式(2)の下限を下回ると、熱による光源の経時劣化が問題となる。反対に条件式(2)の上限を上回ると、偏斜照明の指向性が強くなり、観察像のコントラストが付きすぎることによるギラつきを抑えることができない。また、光拡散素子23の拡散面のヘイズHが条件式(3)の下限を下回ると、上記で説明した拡散効果が失われる。反対に条件式(3)の上限を上回ると、位相物体の観察像にコントラストが付かなくなってしまう。なお、この光拡散素子23は、次式(4)、(5)を満足すると、さらに好ましい。
75 < T < 90           (4)
20 < H < 50           (5)
 なお、図9(a)及び図9(b)に示すように、照明装置2に集光レンズ24を加えることにより、低倍対物レンズ31及び変倍レンズ群32の低倍域から高倍域の広い変倍域において、結像光学系3の入射瞳共役像PIを試料面Sを境にして照明側の、試料面Sに近い位置でほとんど位置が変動することなく形成させることができるので、導光板21及び遮光板22をこの入射瞳共役像PIの位置若しくはその近傍に配置した場合、薄型の透過照明光学系を実現することができる。この構成の場合、光拡散素子23は、試料面Sと集光レンズとの間に配置される。また、更なる薄型化のためには、集光レンズ24の焦点距離を短くすることが有効であるが、この集光レンズ24は薄型化のためできる限り少ない枚数のレンズで構成されるため、焦点距離を短くすると収差の補正が困難となる。そのため、このような場合は、集光レンズ24の少なくとも1面の面形状を非球面にすることで、収差の補正効果を持たせることができる。
 さらに、集光レンズ24の代わりに、図10に示す、複数のマイクロレンズ25aがアレイ状に配置されたレンズアレイ25を使用することで、一つのマイクロレンズ25aの焦点距離を短くすることができ、薄型化された照明装置2とすることができる。但し、偏斜照明をする場合には、図10に示すように、マイクロレンズ25aの数だけ存在する入射瞳共役像PIaの各々を遮蔽するように構成された遮光板26を用いて遮光する必要がある。なお、このような構成の場合も、可変絞りを試料面Sと遮光板22との間に挿入することで、視野を調整することができる。またこの場合も、光拡散素子23は、試料面Sとレンズアレイとの間に配置される。
 また、集光レンズと光拡散素子の代わりに、少なくとも1面が拡散面である集光レンズを配置してもよい。これにより、素子数を1つ減らし、照明装置2をより薄くすることができる。また、弱位相物体を観察する際、コントラストを強くして観察したい場合もある。そのために、光拡散素子23を照明装置2の光路に対して挿脱可能にすることも効果的である。
 なお、以上の説明において、導光板21の光源を、例えば冷陰極管など他の光源にしたとしても、面発光体の薄さを利用する本発明の範囲内である。また、導光板21の代わりに、有機ELや無機EL等の薄型面光源を使用する場合も同様である。
 また、この顕微鏡装置1において、明視野観察を行う場合は、遮光板22を光路から完全に取り外せば良い。この場合、照明装置2をより薄型にするために、図3に示すように集光レンズを外し、導光板21が試料面Sの直下に位置するように構成したとしても、明視野観察においては支障はない。その際、可変絞りを試料面Sと導光板21との間に挿入することで、視野を調整することができる。但し、対物レンズ31の焦点深度内に導光板21を配置すると、この導光板21内部の構造が見えてしまい、観察に支障をきたす虞があるため、対物レンズ31として、特に焦点深度の深い低倍の対物レンズを使用する際は、試料面Sから離れた位置に配置する方が良い。
1 顕微鏡装置  2 照明装置  21 導光板(面発光体)  21a 発光面
22,26 遮光板(遮光素子)  23 光拡散素子  24 集光レンズ
25 レンズアレイ 25a マイクロレンズ
3 結像光学系  31 対物レンズ  32 変倍レンズ群
S 試料  PI,PIa 結像光学系の入射瞳共役像

Claims (10)

  1.  面状の発光領域である発光面を有する面発光体を含み前記面発光体から放射された光を試料に照射する照明装置と、
     前記試料からの光を集する対物レンズと、
     前記試料の像を変倍して形成する変倍レンズ群を含む結像光学系と、を有し、
     前記照明装置は、
     前記面発光体の前記発光面の前記試料側に配置され、前記発光面から放射された光束の一部を遮光する遮光素子と、
     前記遮光素子より前記試料側に配置され、前記面発光体からの光を拡散する光拡散素子と、を有することを特徴とする顕微鏡装置。
  2.  前記遮光素子と前記光拡散素子との間隔をD[mm]としたとき、次式
    D ≦ 34
    の条件を満足する請求項1に記載の顕微鏡装置。
  3.  前記光拡散素子に形成された拡散面の光学特性である平行光透過率をT[%]、ヘイズをH[%]としたとき、次式
    50 < T < 95
    10 < H < 98
    の条件を満足する請求項1または2に記載の顕微鏡装置。
  4.  前記照明装置は、前記面発光体から放射された光を集光して前記試料に照射する集光レンズを有する請求項1~3いずれか一項に記載の顕微鏡装置。
  5.  前記集光レンズは、非球面形状に形成された面を少なくとも1面有する請求項4に記載の顕微鏡装置。
  6.  前記集光レンズは、複数のレンズがアレイ状に配置されたレンズアレイで構成される請求項4に記載の顕微鏡装置。
  7.  前記面発光体は、光源と、前記発光面を有し、前記光源から放射された光を前記発光面から放射する導光板と、から構成される請求項1~6いずれか一項に記載の顕微鏡装置。
  8.  前記光源は、複数の白色LEDからなる請求項7に記載の顕微鏡装置。
  9.  前記光源は、異なるピーク波長を持つ複数のLEDからなる請求項7に記載の顕微鏡装置。
  10.  前記面発光体及び前記集光レンズの少なくともいずれか一方は、光軸に沿って移動可能に構成された請求項1~9いずれか一項に記載の顕微鏡装置。
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