DE102004017694B3

DE102004017694B3 - Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung

Info

Publication number: DE102004017694B3
Application number: DE102004017694A
Authority: DE
Inventors: Walter Körner; Axel Laschke
Original assignee: Schott AG
Current assignee: Schott AG
Priority date: 2004-04-10
Filing date: 2004-04-10
Publication date: 2005-09-15
Anticipated expiration: 2024-04-11
Also published as: US20050225851A1

Abstract

Gegenstand der Erfindung ist eine Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung, insbesondere für die Stereomikroskopie, mit auf einer Leuchtfläche angeordneten Hellfeld-Leuchtmitteln, deren Abstrahlrichtungen im wesentlichen in Richtung des zu durchleuchtenden Objekts liegen, die Maßnahmen zum Erzeugen eines segmentierten Lichtfeldes umfaßt und die keine strahlfokussierenden und/oder strahlumlenkenden Maßnahmen enthält.

Description

Die Erfindung betrifft eine Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung sowie eine kombinierte Durchlicht-Hellfeld- und Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtungseinrichtung, ihre Anwendung sowie ein Verfahren zur Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung.
In der Stereomikroskopie werden zwei grundlegende Beleuchtungsmethoden unterschieden: Auflicht und Durchlicht. Bei der Auflicht-Beleuchtung wird das zu untersuchende Objekt schräg von oben beleuchtet, wohingegen bei der Durchlicht-Beleuchtung das zu untersuchende Objekt von unten durchleuchtet wird.
Bei der Durchlicht-Beleuchtung wird zusätzlich zwischen Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung und Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung unterschieden. Während bei der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung auch bei nicht in der Präparatebene befindlichem Untersuchungsobjekt Licht in das Objektiv gelangt, ist das bei der Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung nicht der Fall. Erst bei Einbringen eines Objekts in die Präparatebene führt der aus der Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung stammende streifende Lichteinfall von unten zu einer Beleuchtung der Kanten des Objekts, welche durch das Objektiv zu beobachten sind.
Aus dem Stand der Technik ist eine Vielzahl von Durchlicht-Hellfeld- und Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtungseinrichtungen bekannt. Die einfachste Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung ist ein drehbarer Spiegel, der sich unter der Präparatebene befindet. Um eine Durchleuchtung des zu untersuchenden Objekts mit einseitig schrägem Durchlichteinfall zu realisieren, werden auch drehbare Spiegel verwendet, die seitlich verschoben werden können. Diese Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtungen sind zwar sehr preiswert herzustellen, weisen aber eine schlechte Lichtausbeute und eine schlechte Homogenität des Lichtfeldes auf. Weiterhin ist die Richtung der seitlichen Durchleuchtung auf immer einen Winkel beschränkt, was für viele Objekte unzureichend ist.

Die DE 196 44 662 A1 beschreibt eine Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung, bei der sich die Lichtquelle unterhalb der Präparatebene aber seitlich von dem zu untersuchenden Objekt befindet, wobei deren Strahlen über ein optisches System und einen Umlenkspiegel zu dem zu untersuchenden Objekt geführt werden. Die DE 100 17 823 A1 und DE 37 34 691 A1 haben Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtungen zum Gegenstand, bei der sich eine als LED-Anordnung ausgebildete Lichtquelle direkt unterhalb der Präparatebene befindet und über ein mehrere Linsen umfassendes optisches System auf die Präparatebene abgebildet wird.

Als Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtungseinrichtungen werden oftmals faseroptische Ringleuchten oder Blenden eingesetzt. Diese Beleuchtungseinrichtungen haben den Nachteil, daß sie durch die Verwendung von optischen bzw. faseroptischen Systemen aufwendig und damit teuer aufgebaut sind. Weiterhin ist mit den bekannten faseroptischen Systemen ein segmentiertes Lichtfeld nur unter großem Aufwand zu erreichen.

Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtungen weisen bisher eine relativ große Bauhöhe auf. Eine große Bauhöhe der Beleuchtungseinrichtungen ist aus ergonomischen Gesichtspunkten nachteilig, da sie sich zu der Bauhöhe z.B. des Mikroskops addiert und dessen Benutzer über der üblichen Arbeitshöhe arbeiten muß. Dies wird von dem Benutzer oftmals als lästig empfunden und kann zu Ermüdungserscheinungen des Benutzers führen.

Die JP 2003075725 A beschreibt eine kombinierte Durchlicht-Hellfeld-und Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtungseinrichtung, bei der LEDs auf einer zur Erzeugung des Hellfelds flächig angeordnet sind und bei der das Hellfeld in Schnellem Wechsel mit dem Dunkelfeld ein- und ausgeschaltet werden kann.

In der Stereomikroskopie kommt der Beleuchtung eine besondere Bedeutung zu, da mit ihrer Hilfe Kontraste auf dem zu untersuchenden Objekt zu erzeugen sind, durch welche Strukturen auf dem Objekt besser oder überhaupt erst sichtbar werden. Für manche Objekte ist es erforderlich, daß das Durchlicht das Objekt schräg durchleuchtet. Bei vielen Objekten ist es jedoch unzureichend, wenn die schräge Durchleuchtung nur aus einem Winkel erfolgt.

Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung zur Verfügung zu stellen, die einfach herzustellen ist, die eine geringe Bauhöhe aufweist und eine hohe Flexibilität der möglichen Lichteinfallswinkel auf das zu durchleuchtende Objekt bei einer hohen Homogenität des Lichtfeldes gewährleistet. Es ist weiterhin die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung von zu untersuchenden Objekten bereitzustellen, das Durchlichtuntersuchungen unter ver schiedenen Lichteinfallswinkeln sowohl im Hell- als auch im Dunkelfeld ermöglicht. Die Aufgaben werden durch die unabhängigen Ansprüche gelöst. Bevorzugte Ausführungsformen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.

Die erfindungsgemäße Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung enthält auf einer Leuchtfläche und somit flächig angeordnet Hellfeld-Leuchtmittel, deren Abstrahlrichtungen im wesentlichen in Richtung des zu durchleuchtenden Objekts liegen. Üblicherweise liegt die Fläche, auf der die Hellfeld-Leuchtmittel angebracht sind, direkt unterhalb der Präparatfläche. Die Präparatfläche ist die Fläche in der Präparatebene, auf der im Regelfall das zu untersuchende Objekt aufgelegt wird. Dabei sind die Dimensionen der Fläche, auf der die Hellfeld-Leuchtmittel angeordnet sind, so gewählt, daß die Präparatfläche im wesentlichen vollständig ausgeleuchtet ist. Durch diesen Aufbau der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung kann auf strahlfokussierende Maßnahmen, beispielsweise auf abbildende Optiken, und/oder strahlumlenkene Maßnahmen, beispielsweise Umlenkspiegel, verzichtet werden. Um eine hohe Flexibilität der Lichteinfallswinkel auf das zu untersuchende Objekt zu gewährleisten, umfaßt die erfindungsgemäße Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung ferner Maßnahmen zum Erzeugen eines segmentierten Lichtfeldes. Das Lichtfeld entsteht durch Überlagerung der individuellen Lichtfelder der einzelnen Hellfeld-Leuchtmittel. Ein unsegmentieretes Lichtfeld entsteht, wenn alle Hellfeld-Leuchtmittel gleichzeitig Licht emittieren, wobei das Lichtfeld im Rahmen der Beschreibung immer auf die Präparatebene bezogen ist, auf der sich das zu untersuchende Objekt befindet. Ein unsegmentiertes Lichtfeld entspricht demnach der Projektion der Leuchtfläche – d.h. der Fläche, auf der die Hellfeld-Leuchtmittel angeordnet und/oder aufgebracht werden – auf die Präparatfläche. Im Gegensatz dazu entsteht ein segmentiertes Lichtfeld, wenn einzelne Leuchtmittel nicht zur Durchleuchtung der Präparatfläche beitragen. Durch ein segmentiertes Lichtfeld wird erreicht, daß die Durchleuchtung des zu untersuchenden Objekts unter schrägen Lichteinfallswinkeln erfolgen kann.

In einer bevorzugten Ausführungsform wird das segmentierte Lichtfeld durch die gezielte Ansteuerung von Hellfeld-Leuchtmitteln erzeugt. Die Maßnahmen zum Erzeugen eines segmentierten Lichtfeldes können somit geeignete Schaltungen der Leuchtmittel enthalten. Umfassen die Hellfeld-Leuchtmittel eine Mehrzahl einzelner Lichtquellen, bedeutet das, daß bevorzugt Gruppen von einzelnen Lichtquellen zusammengeschaltet und gleichzeitig mit Strom versorgt werden, während die anderen stromlos und damit dunkel bleiben. Die Ansteuerung von Segmenten kann mit Hilfe geeigneter Steuergeräte erfolgen, wie sie beispielsweise in der DE 203 04 412 U1 beschrieben werden.

Bevorzugt werden die Hellfeld-Leuchtmittel so in Gruppen zusammengefaßt, daß das segmentierte Lichtfeld die Form von Kreis- und oder Ring- und/oder Liniensegmenten hat.

In einer alternativen bevorzugten Ausführungsform wird das segmentierte Lichtfeld durch Abschatten von Segmenten der Leuchtfläche erzeugt. Die Maßnahmen zum Abschatten können beispielsweise einschwenkbare Blenden, Sektorenblenden, Schlitzblenden usw. umfassen. Auch eine Kombination von segmentweiser Ansteuerung der Hellfeld-Leuchtmittel und Abschattung der Leuchtfläche ist möglich.

Werden Schlitzlenden verwendet, können diese bevorzugt in ihrer Schlitzbreite und oder ihrer Position einstellbar sein. Dabei haben sich in ihrer Schlitzbreite einstellbare, horizontal verschiebbare Schlitzblenden bewährt. Es ist ebenfalls möglich, daß die vorgenannten Schlitzblenden in der Blendenebene rotierbar angebracht sind.

Als Hellfeld-Leuchtmittel werden bevorzugt lichtemittierende Halbleiterdioden (LEDs) verwendet, hierbei insbesondere Weißlicht-LEDs. Diese werden bevorzugt als Matrix angeordnet und segmentweise geschaltet. Sollte die Konstruktion der LEDs Maßnahmen zum Fokussieren des Lichtstrahls enthalten, sind diese von dem Begriff der strahlfokussierenden Maßnahmen im Sinne der vorliegenden Erfindung nicht umfaßt. Alternativ werden statt der LEDs bevorzugt organische lichtemittierende Dioden (OLEDs) verwendet. Diese können schon in der benötigten Segmentform hergestellt werden oder zumindest eine segmentförmig strukturierte Elektrode enthalten.

Der funktionale Aufbau von OLEDs ist hinlänglich bekannt. Prinzipiell bestehen sie aus einem transparenten Substrat, das mit einer transparenten Elektrode beschichtet ist, einer auf der transparenten Elektrode aufgebrachten Funktionsschicht eines lichtemittierenden Polymers und einer Metallelektrode auf der Funktionsschicht. Der Lichtaustritt erfolgt in der Regel durch das transparente Substrat. OLEDs haben den Vorteil, daß sie eine extrem geringe Bauhöhe aufweisen können und daß sie im Gegensatz zu LEDs Flächenstrahler sind, d.h. eine große Fläche kann gleichmäßig zum Leuchten gebracht werden.

Da LEDs im Gegensatz zu OLEDs im Regelfall keine Flächenstrahler sind, sondern eher kleine Lichtaustrittsflächen aufweisen, umfaßt eine besonders bevorzugte Ausführungsform der Erfindung Mittel zum Homogenisieren des durch die Hellfeld-Leuchtmittel erzeugten Lichtfeldes. Die Mittel zum Homogenisieren des Lichtfeldes können beispielsweise Streu- oder Milchglasscheiben umfassen. Durch den Einsatz dieser Mittel wird gewährleistet, daß einzelne Lichtaustrittsflächen der Hellfeld-Leuchtmittel nicht in dem Objektiv abgebildet werden und/oder daß das zu untersuchende Objekt gleichmäßig, d.h. mit einem Lichtfeld, das im wesentlichen keine lokal unterschiedlichen Helligkeitsamplituden aufweist, durchleuchtet wird. Werden OLEDs als Hellfeld-Leuchtmittel verwendet, können die Mittel zum Homogenisieren des Lichtfelds ebenfalls vorteilhaft sein, da bekannt ist, daß streuende Elemente auf der Lichtaustrittsseite der Funktionsschicht die Lichtaustrittseffizienz und damit die Lichtstärke des OLEDs steigert. Ein anderer positiver Aspekt der Verwendung der Mittel zum Homogenisieren des Lichtfelds bei der Verwendung von OLEDs als Leuchtmittel ist, daß die Produktion der OLEDs in diesem Fall preiswerter erfolgen kann, da an die Homogenität der Funktionsschicht geringere Anforderungen gestellt werden können.

Es ist ebenfalls möglich, daß die Mittel zum Homogenisieren des Lichtfelds austauschbar oder separat voneinander einschwenkbar sind, so daß verschiedene beispielsweise Streuscheiben den Anforderungen entsprechend zwischen Hellfeld-Leuchtmittel und Objekt einzubringen sind.

Der Winkel bei schrägem Durchlichteinfall kann zusätzlich zu der Ansteuerung und/oder Abschattung entsprechender Segmente von Hellfeld-Leuchtmitteln auch durch Variation des Abstands zwischen Hellfeld-Leuchtmitteln und zu untersuchendem Objekt eingestellt werden. Dies kann auf höchst einfache Weise erfolgen, wenn die Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung in einem Gehäuse untergebracht ist, das Mittel zum Verändern dieses Abstands enthält. Diese Mittel können beispielsweise elektrische Stellmotoren oder geeignete mechanische Maßnahmen umfassen.

In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist der Abstand zwischen den Leuchtmitteln und der Präparatebene, auf der sich das zu untersuchenden Objekt befindet, in einem Bereich zwischen 10 mm und 95 mm einstellbar.

Die Hellfeld-Leuchtmittel der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung können auf beliebigen Flächen angeordnet sein. Dies umfaßt beispielsweise 6-lalbkugelinnenflächen oder Halbzylinderinnenflächen sowie Ausschnitte derselben. Bevorzugt sind die Hellfeld-Leuchtmittel allerdings auf einer Ebene angeordnet, die sich parallel zur Präparatebene erstreckt.

Für einige Objekte kann es erforderlich sein, daß zusätzlich zu der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung eine Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung erfolgt. Die erfindungsgemäße Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung umfaßt daher in einer besonders bevorzugten Ausführungsform zusätzliche Leuchtmittel zur Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung. Diese können im wesentlichen ringförmig in Richtung des zu durchleuchtenden Objekts oberhalb der flächig angeordneten Hellfeld-Leuchtmittel angebracht sein. Die Form der Anordnung dieser Dunkelfeld-Leuchtmittel ist selbstverständlich von der Form des Aufrisses der Hellfeld-Leuchtfläche abhängig. Die Dunkelfeld-Leuchtmittel schatten die Hellfeld-Leuchtfläche üblicherweise nicht ab. Als Dunkelfeld-Leuchtmittel haben sich LEDs bewährt. Allerdings können OLEDs oder andere Leuchtmittel ebenfalls verwendet werden, wobei im Falle der OLEDs bevorzugt Maßnahmen eingesetzt werden, die zu einer gerichteten Abstrahlung der OLEDs führen. Auch Kombinationen aus verschiedenen Leuchtmitteln sind möglich.

In einer bevorzugten Ausführungsform beleuchten die Dunkelfeld-Leuchtmittel das zu untersuchende Objekt auf der Präparatebene unter flachen Einstrahlwinkeln von höchstens 30°, gemessen von der Präparatebene.

Besonders vorteilhaft ist es, wenn die Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung Maßnahmen zum segmentweisen Ansteuern der Dunkelfeld-Leuchtmittel enthält. Dies kann in ähnlicher Weise wie die zuvor beschrieben eine geeignete Schaltung der Durchlicht-Leuchtmittel sein. Alternativ oder zusätzlich ist wiederum eine Abschattung der Dunkelfeld-Leuchtmittel mit geeigneten Maßnahmen, beispielsweise Blenden, möglich.

Besonders bevorzugt sind die flächig angeordneten Hellfeld-Leuchtmittel und die im wesentlichen ringförmig angeordneten Dunkelfeld-Leuchtmittel getrennt voneinander ansteuerbar. Das ist durch geeignete Maßnahmen wie beispielsweise Schaltelemente zu erreichen. Auf diese Weise kann das Objekt mit nur Durchlicht-Hellfeld-, nur Durchlicht-Dunkelfeld- oder Mischlicht-Beleuchtung aus Durchlicht-Hellfeld- und Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung untersucht werden. Werden die Hellfeld- und Dunkelfeld-Leuchtmittel segmentweise angesteuert und/oder abgeschattet, sind Mischlicht-Beleuchtungsuntersuchungen unter schrägem Durchlichteinfall mit der Beleuchtungseinrichtung möglich.

In einer weiteren besonders bevorzugten Ausführungsform umfaßt die Durchlicht-Beleuchtungseinrichtung Maßnahmen zum Regeln der Helligkeit der Leuchtmittel, um die Beleuchtungsintensität den Erfordernissen des zu untersuchenden Objekts anzupassen. Das beinhaltet die getrennte Helligkeitsregelung der Hell feld- und Dunkelfeld-Leuchtmittel. Diese Maßnahmen können geeignete Ansteuerungen der Leuchtmittel umfassen. Erfolgt die Ansteuerung der Hellfeld- und/oder Dunkelfeld-Leuchtmittel beispielsweise mit der aus der DE 203 04 412 U1 bekannten Vorrichtung, sind durch sequentielle Ansteuerung von Segmenten rotierende Lichtquellen sowohl im Hellfeld, im Dunkelfeld als auch im Mischlicht zu simulieren. Darüber hinaus können Helligkeitswerte gezielt angepaßt und Nutzereinstellungen abgespeichert werden.

Weiterhin umfaßt die Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung bevorzugt Mittel zum Erfassen der Betriebstemperatur der Hellfeld- und/oder der Dunkelfeld-Leuchtmittel. Das können bevorzugt Temperaturfühler sein. Eine zu hohe Betriebstemperatur der Leuchtmittel führt zu einer Überbeanspruchung der Leuchtmittel und somit zu einer Reduzierung ihrer Lebensdauer. Eine geeignete Steuereinheit, die an die Beleuchtungseinrichtung anschließbar ist, wertet die Betriebstemperatur aus und reduziert bei Überschreiten eines Schwellenwertes den Betriebsstrom und/oder die Betriebsspannung, zumindest bis eine ausreichende Abkühlung erfolgt ist. Alternativ oder zusätzlich ist es möglich, daß eine entsprechende Steuereinheit Warnsignale an den Benutzer ausgibt.

Erfolgt eine ausschließliche Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung, kann es erwünscht sein, daß sich ein dunkler Hintergrund unter dem zu untersuchenden Objekt befindet. Das wird in einer weiteren besonders bevorzugten Ausführungsform der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung dadurch erreicht, daß lichtundurchlässige Mittel zwischen die flächig angeordneten Hellfeld-Leuchtmittel und die Dunkelfeld-Leuchtmittel eingebracht werden. Diese lichtundurchlässigen Mittel können beispielsweise geschwärzte Glas- und/oder Kunststoff und oder Metallscheiben umfassen, die zwischen den Hellfeld-Leuchtmitteln und den Dunkelfeld-Leuchtmitteln eingeschwenkt werden.

Es ist ein wesentlicher Vorteil der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach der vorliegenden Erfindung, daß durch den Verzicht auf strahlformende Maßnahmen die gesamte Vorrichtung eine geringe Bauhöhe aufweisen kann. Umfaßt die Beleuchtungseinrichtung Mittel zum Verändern des Abstands zwischen Präparatebene und Leuchtmitteln und sind diese Mittel in dem Gehäuse integriert, das die Beleuchtungseinrichtung umgibt, weist das Gehäuse bevorzugt eine Bauhöhe zwischen 10 mm und 100 mm auf.

Sind die Mittel zum Verändern des Abstands zwischen zu durchleuchtendem Objekt und Leuchtmitteln nicht in dem die Beleuchtungseinrichtung umgebenden Gehäuse integriert oder ist nur ein kleinerer Variationsbereich erwünscht, weist das Gehäuse bevorzugt nur eine Bauhöhe von unter 80 mm, besonders bevorzugt zwischen 10 mm und 50 mm auf. Es ist ebenfalls möglich, daß die Hellfeld-Leuchtmittel und die Dunkelfeld-Leuchtmittel von getrennten Gehäusen umgeben sind. In diesem Fall beziehen sich die Bauhöhenangaben auf die Summe der Bauhöhen der einzelnen Gehäuse. Es ist selbstverständlich auch möglich und von der vorliegenden Erfindung umfaßt, daß die Variation des Abstands zwischen zu durchleuchtendem Objekt und Leuchtmitteln durch Mittel erfolgt, die nicht in dem oder in den die Leuchtmittel umgebenden Gehäuse integriert sind, sondern außerhalb angebracht werden.

Die der Erfindung zugrundegelegte Aufgabe wird darüber hinaus durch ein Verfahren zur Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung mit auf einer Leuchtfläche angeordneten Hellfeld-Leuchtmitteln gelöst, bei dem das zu durchleuchtende Objekt im Hellfeld im wesentlichen unter Lichteinfall aus einem Einfallswinkel durchleuchtet wird, der von einem hauptsächlich vertikalen Lichteinfallswinkel verschieden ist. Bevorzugt erfolgt die Durchleuchtung aus mindestens zwei Winkeln.

Unter dem Begriff „Winkel" wird – wenn er im Zusammenhang mit dem Einfall von Licht genannt wird – im Rahmen der vorliegenden Erfindung der zweidimensionale Winkel des Lichteinfalls auf das zu untersuchende Objekt verstanden. Im Regelfall erfolgt der Lichteinfall nicht aus einer einzigen punktförmigen Lichtquelle, sondern aus einer Mehrzahl von Lichtquellen, Flächenstrahlern oder Segmenten derselben. Daher bezieht sich der Begriff „Winkel" auf den Ort der mittleren Leuchtdichte eines Segments der Leuchtfläche. Erfolgt beispielsweise die Durchleuchtung des zu untersuchenden Objekts durch Segmente der Leichtfläche, die in Form der Fläche eines Halbkreises angesteuert werden, resultiert ein schräger Lichteinfall auf das zu untersuchende Objekt unter einem Winkel, der von einem vertikalen Lichteinfall verschieden ist. Ein vertikaler Lichteinfall wäre beispielsweise zu erreichen, wenn Segmente der Leuchtfläche in Form einer Kreisfläche angesteuert würden, deren Mittelpunkt unterhalb des zu untersuchenden Objekts liegt.

Mit der erfindungsgemäßen Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung und dem erfindungsgemäßen Verfahren sind Durchlichtuntersuchungen mit schrägem Durchlichteinfall nicht nur aus einem Winkel durchzuführen, sondern auch aus mehreren Winkeln gleichzeitig. Diese sogenannte Mischwinkeldurchleuchtung kann durch das gleichzeitige Ansteuern von mehr als einem Segment von Leuchtmitteln erfolgen, aber auch durch das Einschwenken entsprechend geformter Blenden oder ähnlicher Mittel zum Abschatten. Auch eine Kombination aus geeigneten Ansteuerungen und Abschattungen ist möglich.

In einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens werden die Winkel des Lichteinfalls auf das zu durchleuchtende Objekt durch die segmentweise Ansteuerung von Hellfeld-Leuchtmitteln bestimmt. Besonders bevorzugt erfolgt die segmentweise Ansteuerung der Hellfeld-Leuchtmittel in zeitlichen Intervallen. Dadurch kann eine sich bewegende segmentierte Leuchtfläche simuliert werden. Werden die Segmente der Leuchtfläche beispielsweise in Form der zuvor beschriebenen Fläche eines Halbkreises angesteuert, erfolgt ein schräger Lichteinfall auf das zu untersuchende Objekt, wodurch Kanten des Objekts Schatten werfen und der Objektkontrast erhöht wird. Je nach Richtung des schrägen Lichteinfalls kann es aber vorkommen, das manche Kanten keinen Schatten werfen und daher im Durchlicht nicht zu erkennen sind. Werden jedoch in einem zeitlichen Intervall andere Segmente der Leuchtfläche angesteuert, beispielsweise als ob die Halbkreisförmige um einen bestimmten Winkel um den Kreismittelpunkt gedreht würde, ist für den Benutzer ein anderes Schattenbild des durchleuchteten Objekts zu beobachten, so daß zuvor verborgene Objektstrukturen sichtbar werden können. Die zeitlichen Intervalle kann der Benutzer frei vorgeben. Das umfaßt ein einmaliges oder mehrfaches Hin- und Herschalten zwischen Segmenten der Leuchtfläche oder das Ansteuern immer benachbarter Segmente mit oder ohne Überschneidungsbereichen derselben, so daß eine rotierende oder sich bewegende Lichtquelle simuliert wird.

Eine weiteres anzuwendendes Ansteuerungsmuster der Segmente der Leuchtfläche ist das gezielte An- und Ausschalten von Ringsegmenten. Erfolgt die schräge Beleuchtung aus einem schmalen Ringsegment, können durch den Lichteinfall scharfe Schatten der Objektkanten erzeugt werden, die manchmal nicht erwünscht sind. Durch das Dazuschalten weiterer Ringsegmente, die sozusagen einer Verbreiterung des zuvor beschriebenen Ringsegments entsprechen, kann eine diffusere Durchleuchtung erreicht und ein zu starker Schattenwurf abgemildert werden.

Alternativ oder zusätzlich zu der Ansteuerung von Segmenten der Leuchtfläche können die Winkel des Lichteinfalls auf das zu durchleuchtende Objekt auch durch das Einbringen von Blenden vor Hellfeld-Leuchtmittel bestimmt werden. Wird beispielsweise eine Schlitzblende vor den Hellfeld-Leuchtmitteln eingebracht, wird der Winkelbereich reduziert, aus dem das Durchlicht auf das zu untersuchende Objekt fällt. Durch die Durchleuchtung des Objekts mit im wesentlichen parallelen Licht läßt sich insbesondere an ungefärbten Präparaten ein reliefartiger Kontrast erzielen, der an die Ergebnisse der Interferenzmikroskopie erinnert. Die Interferenzmikroskopie ist ein Kontrastverfahren in der Lichtmikro skopie, das aufwendige Beleuchtungs- und Beobachtungsoptiken erfordert und in der Stereomikroskopie nicht angewendet werden kann. Werden die vor die Hellfeld-Leuchtmittel eingebrachten Blenden verschoben und/oder rotiert, wird die Einfallsrichtung des Lichts auf das zu untersuchende Objekt verändert, wodurch wiederum zuvor nicht zu beobachtende Objektstrukturen sichtbar gemacht werden können.

Eine weitere Möglichkeit der Anpassung des Winkel des Lichteinfalls auf das zu durchfeuchtende Objekt ist, ihn durch Verändern des Abstands zwischen den Hellfeld-Leuchtmitteln und dem zu durchleuchtenden Objekt einzustellen.

In einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens wird zusätzlich zu der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung zumindest eine Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung verwendet. Das bedeutet, daß zumindest Licht aus einem Winkel, der einer Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtungseinrichtung entspricht, zur Beleuchtung des zu untersuchenden Objekts beiträgt. Dies kann durch Verwendung von segmentweise angesteuerten und/oder abgeschatteten Dunkelfeld-Leuchtmitteln erreicht werden. Somit erfolgt eine Mischlichtbeleuchtung aus Durchlicht- und Dunkelfeldbeleuchtung.

Besonders bevorzugt ist die Helligkeit der Beleuchtung bei dem erfindungsgemäßen Verfahren den Erfordernissen des zu untersuchenden Objekts entsprechend regelbar.

Die erfindungsgemäße Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung wird bevorzugt in der Stereomikroskopie eingesetzt. Darüber hinaus sind Machine-Vision-Anwendungen ebenso möglich.

Die erfindungsgemäße Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung hat gegenüber dem Stand der Technik den Vorteil, daß sie eine Vielzahl von unterschiedlichen Beleuchtungsarten ermöglicht. Dazu zählen Durchlichtuntersuchungen aus unterschiedlichen, anpaßbaren Winkeln, die Simulation von rotierenden Lichtquellen und weitere. Darüber hinaus sind Mischlicht-Untersuchungen aus Durchlicht-Hellfeld- und Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung möglich. Ferner weist die erfindungsgemäße Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung eine geringe Bauhöhe auf, was ergonomischen Vorteile für ihre Benutzer hat, sowie eine gute Homogenität des Lichtfeldes.

Das erfindungsgemäße Verfahren zur Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung ermöglicht es, für die Stereomikroskopie einen reliefartigen Kontrast zur Verfügung zu stellen, der dem Interferenzkontrast in der Lichtmikroskopie ähnelt. Zusätzlich sind durch die Kombination von Lichteinfallswinkeln und Durchlicht-Hellfeld- und Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung die Beleuchtungsverhältnisse sehr gut an die durch das zu untersuchende Objekt definierten Anforderungen anzupassen.

Die Erfindung und vorteilhafte Ausgestaltungen werden durch die folgenden Zeichnungen beispielhaft erläutert.
1 zeigt die Aufsicht auf die Leuchtfläche einer erfindungsgemäßen Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung. Im vorliegenden Beispiel sind LEDs (1) in gleichmäßigen Abständen auf einer Ebene mit kreisrundem Umriß angebracht. Die durchbrochenen Linien kennzeichnen Segmente (2), die getrennt voneinander angesteuert werden können. Erfolgt die Ansteuerung eines solchen Segments, können die sich in diesem Segment (2) befindlichen LEDs (1) zum Leuchten gebracht werden.
2 stellt die Aufsicht auf ein OLED (3) als Leuchtmittel dar. In diesem Beispiel nimmt das OLED die gesamte Leuchtfläche ein. Durch gezeichneten Linien wird die Strukturierung des OLEDs (3) in Segmente (2) angedeutet. Diese Segmentierung kann durch Strukturierung der Metallelektrode und/oder der transparenten Elektrode des OLEDs (3) erfolgen. Die dargestellten linienförmigen Strukturen der OLED-Leuchtfläche symbolisieren demnach nicht leitende Bereiche der Elektroden.
In 3 wird beispielhaft der Schnitt durch eine Durchlicht-Belechtungseinheit abgebildet, die in einem Gehäuse (7) mit der Bauhöhe (h) untergebracht ist. Sie enthält eine funktionale Durchlicht-Hellfeld-Baugruppe (5), deren Leuchtfläche mit LEDs (1) als Hellfeld-Leuchtmittel bestückt ist. In Richtung der Präparatebene (12) oberhalb der Leuchtfläche befindet sich eine Streuscheibe (8), die das durch die LEDs erzeugte Lichtfeld homogenisiert. Oberhalb der Durchlicht-Hellfeld-Baugruppe (5) ist eine ringförmige Durchlicht-Dunkelfeld-Baugruppe (6) angebracht, um kombinierte Durchlicht-Heilfefd-Dunkelfeld-Beleuchtungsuntersuchungen zu ermöglichen. Als Dunkelfeld-Leuchtmittel (4) werden in diesem Beispiel ebenfalls LEDs verwendet. Das zu untersuchende Objekt wird vorzugsweise zentrisch auf die in das Gehäuse (7) integrierte transparente Fläche (11) in der Präparatebene (12) aufgelegt. Die transparente Fläche (11) kann beispielsweise eine Glas- oder Kunststoffscheibe sein.
Sind die Leuchtmittel der Durchlicht-Hellfeld-Baugruppe (5) nicht dermaßen angeordnet und/oder geschaltet, daß sie segmentweise angesteuert werden kön nen, kann eine Blendenscheibe (9) mit mindestens einem lichtundurchlässigem Bereich vor der Leuchtfläche eingeschwenkt werden. Die lichtundurchlässigen Bereiche können dafür sorgen, daß das zu untersuchende Objekt unter schrägem Durchlichteinfall unter bestimmten Winkeln beleuchtet wird. Es ist ebenfalls möglich, daß die lichtundurchlässigen Bereiche der Blendenscheibe (9) nicht vollkommen lichtundurchlässig sind, sondern lediglich eine geringere Transmission aufweisen. Darüber hinaus ist es auch denkbar, daß die Streuscheibe (8) mit niedertransparenten Bereichen ausgestattet ist und/oder daß die Blendenscheibe (9) nicht zusätzlich zu der Streuscheibe (8) eingeschwenkt wird, sondern verschiedene Streuscheiben mit niedertransparenten Bereichen den Anforderungen entsprechend ein- und ausgeschwenkt werden. Gleichfalls sind auch andere Anbringungsorte der Scheiben (8) und/oder (9) als die dargestellten denkbar.
Damit bei reiner Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung die Beobachtung des zu untersuchenden Objekts vor einem dunklen Hintergrund erfolgen kann, ist ferner eine lichtundurchlässige Scheibe (10) zwischen Durchlicht-Hellfeld-Baugruppe (5) und Durchlicht-Dunkelfeld-Baugruppe (7) einschwenkbar. Auch die hier dargestellte lichtundurchlässige Scheibe (10) kann als niedertransparente Scheibe ausgeführt sein. Gleichfalls sind andere Anbringungsorte als der dargestellte möglich.
4 zeigt eine Ausführungsform, bei der eine in ihrer Breite einstellbare Schlitzblende (101) verwendet wird, deren Schlitz darüber hinaus horizontal verschiebbar ist. Ferner kann die Schlitzblende auch rotierbar gelagert sein. Die Schlitzblende ist in dieser Ausführungsform oberhalb der Streuscheibe (8) angebracht, so daß auf eine Blendenscheibe (9) und. auf eine lichtundurchlässige Scheibe (10) verzichtet werden kann, falls es möglich ist, den Schlitz der Schlitzblende (101) vollständig oder zumindest ausreichend zu schließen.
Die 5a, 5b und 5c zeigen die Aufsicht auf die Schlitzblende (101). Die hellen Bereiche symbolisieren den Bereich der Blendenöffnung, durch den das aus den Hellfeld-Leuchtmitteln emittierte Licht tritt und der somit weitgehend äquivalent zu dem segmentierten Lichtfeld ist. Statt durch eine Schlitzblende kann das dargestellte segmentierte Lichtfeld auch wie zuvor beschrieben durch die Schaltung entsprechender Segmente der Hellfeld-Leuchtmittel auf der Leuchtfläche realisiert werden.
In 5a ist die horizontale Verschiebung des Blendenschlitzes bei konstanter Schlitzbreite, in 5b die Variation der Schlitzbreite bei konstanter horizontaler Position und in 5c die Rotation des Blendenschlitzes wiederum bei konstanter Schlitzbreite dargestellt. Selbstverständlich können in entsprechenden Aus führungsformen Schlitzbreite, horizontale Verschiebung und/oder Rotation kombiniert werden.
6 zeigt ein mit nicht segmentiertem Lichtfeld der Durchlicht-Beieuchtungseinheit erhaltenes Bild, aufgenommen durch ein Mikroskop. Die Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung war hierbei nicht eingeschaltet. Sämtliche Hellfeld-Leuchtmittel auf der Leuchtfläche waren aktiv, so daß das Objekt gleichmäßig unter hauptsächlich vertikalem Lichteinfall durchstrahlt wurde. Dieses Ergebnis ist, wenn auch kostenaufwendiger, ebenfalls mit den Durchlicht-Beleuchtungseinrichtungen aus dem Stand der Technik zu erreichen.
7 stellt eine Aufnahme des gleichen Objekts durch das gleiche Mikroskop wie in 6 dar, allerdings wurden Segmente der Hellfeld-Leuchtmittel so angesteuert, daß eine Mischwinkel-Durchleuchtung vorlag. Im vorliegenden Fall hatte das segmentierte Lichtfeld die Form eines Halbkreises. Eine Durchlicht-Dunkelfeld-Beleuchtung wurde für diese Aufnahme nicht verwendet. Wie anhand 7 festzustellen ist, sind durch die Anwendung der Mischwinkel-Durchleuchtung (im Hellfeld) die Kontraste auf der Objektoberseite sehr viel besser zu erkennen als bei der homogenen Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung, die für die 6 zugrundegelegte Aufnahme verwendet wurde. Auf diese Weise werden Strukturen des Objekts identifizierbar, die in 6 nicht zu erkennen sind.
Obwohl die Reduzierung eines Segments der Leuchtfläche auf einen einzigen mittleren Winkel eine starke Vereinfachung darstellt, soll anhand von 8 das Zustandekommen der Mischwinkel-Beleuchtung im Hellfeld verdeutlicht werden. (20) stellt die Leuchtfläche dar, auf der die schraffiert dargestellten Kreissegmente (22) und (23) angesteuert sind, wodurch die in diesen Segmenten befindlichen Hellfeld-Leuchtmittel zum Leuchten gebracht werden. Das zu untersuchende Objekt (21) auf der Objektebene (12) wird jeweils von den Punkten der mittleren Leuchtdichte durchleuchtet, sozusagen von dem „Leuchtschwerpunkt" eines jeden Segments (22) und (23). Dadurch kommt es zu einem Lichteinfall unter den zweidimensionalen Winkeln (α₁/α₂) aus Segment (22) und (β₁/β₂) aus Segment (23), gemessen jeweils von der Ebene der Leuchtfläche (20) bzw. einer imaginären Geraden durch die Mitte der Leuchtfläche (20).

Claims

Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung, insbesondere für die Stereomikroskopie, mit auf einer Leuchtfläche angeordneten Hellfeld-Leuchtmitteln (1, 3), deren Abstrahlrichtungen im wesentlichen in Richtung des zu durchleuchtenden Objekts liegen, die keine strahlfokussierenden und/oder strahlumlenkenden Maßnahmen enthält und die ein segmentiertes Lichtfeld dergestalt erzeugt, daß das zu durchleuchtende Objekt im Hellfeld im wesentlichen unter Lichteinfall aus einem Einfallswinkel durchleuchtet wird, der von einem hauptsächlich vertikalen Winkel verschieden ist.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 1, wobei das segmentierte Lichtfeld dergestalt erzeugt wird, daß das zu durchleuchtende Objekt im Hellfeld im wesentlichen unter Lichteinfall aus mindestens zwei Winkeln durchleuchtet wird.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das segmentierte Lichtfeld durch Maßnahmen zum segmentweisen Ansteuern der Hellfeld-Leuchtmittel (1, 3) erzeugt wird.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das segmentierte Lichtfeld die Form von Kreis- und/oder Ring- und/oder Liniensegmenten aufweist.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das segmentierte Lichtfeld durch Maßnahmen (9, 101) zum Abschatten von Segmenten (2) der Leuchtfläche oder durch Kombination der Maßnahmen zum segmentweisen Ansteuern der Hellfeld-Leuchtmittel (1, 3) und der Maßnahmen (9, 101) zum Abschatten von Segmenten (2) der Leuchtfläche erzeugt wird.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 5, wobei die Maßnahmen zum Abschatten von Segmenten (2) der Hellfeld-Leuchtfläche Blenden (9, 101) umfassen.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 6, wobei die Blenden als Schlitzblenden (101) ausgebildet sind.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 7, wobei die Schlitzblenden (101) in ihrer Breite einstellbar und/oder horizontal verschiebbar und/oder rotierbar sind.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Hellfeld-Leuchtmittel eine Mehrzahl von LEDs (1) umfassen.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Hellfeld-Leuchtmittel zumindest eine organische lichtemittierende Diode (3) umfassen.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche mit Mitteln (8) zum Homogenisieren des durch die Hellfeld-Leuchtmittel (1, 3) erzeugten Lichtfeldes.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, mit Mitteln zum Verändern des Abstandes zwischen Hellfeld-Leuchtmitteln (1, 3) und Präparatebene (12).
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche wobei der Abstand zwischen den Hellfeld-Leuchtmitteln (1, 3) und der Präparatebene (12) zwischen 10 mm und 95 mm beträgt.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Hellfeld-Leuchtmittel (1, 3) in einer Ebene angeordnet sind.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche mit zusätzlichen Dunkelfeld-Leuchtmitteln (4), die in Richtung des zu durchleuchtenden Objekts oberhalb der auf der Leuchtfläche angeordneten Hellfeld-Leuchtmittel (1, 3) angebracht sind.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 15, wobei die Dunkelfeld-Leuchtmittel (4) das zu untersuchende Objekt auf der Präpa ratebene (12) unter einem Winkel von höchstens 30° gemessen von der Präparatebene (12) durchstrahlen.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 15 und/oder 16, wobei die Dunkelfeld-Leuchtmittel (4) LEDs und/oder organische lichtemittierende Dioden umfassen.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 15 bis 17 mit Maßnahmen zum segmentweisen Ansteuern der Dunkelfeld-Leuchtmittel (4).
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 15 bis 18 mit Maßnahmen zum Abschatten von Segmenten der Dunkelfeld-Leuchtmittel (4).
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 15 bis 19 mit Maßnahmen zum getrennten Ansteuern der auf der Leuchtfläche angeordneten Hellfeld-Leuchtmittel (1, 3) und der Dunkeifeld-Leuchtmittel (4).
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche mit Maßnahmen zum Regeln der Helligkeit der Leuchtmittel (1, 3, 4).
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche mit Mitteln zum Erfassen der Betriebstemperatur der Leuchtmittel (1, 3, 4).
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche mit lichtundurchlässigen Mitteln (10), die zwischen die flächig angeordneten Leuchtmittel (1, 3) und die im wesentlichen ringförmig angeordneten Dunkelfeld-Leuchtmittel (4) eingebracht werden.
Durchlicht-Hellfeld Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung von einem Gehäuse (7) umgeben ist, dessen Bauhöhe (h) zwischen 10 mm und 100 mm beträgt.
Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 24, wobei das Gehäuse (7) eine Bauhöhe zwischen 10 mm und 50 mm aufweist.
Verfahren zur Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung, insbesondere in der Stereomikroskopie, wobei die Hellfeld-Leuchtmittel (1, 3) auf einer Leuchtfläche angeordnet werden und das zu durchleuchtende Objekt im Hellfeld im wesentlichen unter Lichteinfall aus einem Einfallswinkel durchleuchtet wird, der von einem hauptsächlich vertikalen Lichteinfallswinkel verschieden ist und wobei das von den Hellfeld-Leuchtmitteln (1, 3) emittierte Licht nicht durch strahlfokussierende und/oder strahlumlenkende Maßnahmen fokussiert und/oder abgelenkt wird.
Verfahren nach Anspruch 26, wobei das zu durchleuchtende Objekt im Hellfeld im wesentlichen unter Lichteinfall aus mindestens zwei Winkeln durchleuchtet wird.
Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 26 und/oder 27, wobei der Winkel des Lichteinfalls auf das zu durchleuchtende Objekt durch die segmentweise Ansteuerung von Hellfeld-Leuchtmitteln (1, 3) bestimmt wird.
Verfahren nach Anspruch 28, wobei die segmentweise Ansteuerung der Hellfeld-Leuchtmittel (1, 3) in zeitlichen Intervallen erfolgt.
Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 26 bis 29, wobei der Winkel des Lichteinfalls auf das zu durchleuchtende Objekt durch das Einbringen von Blenden (9, 101) vor den Hellfeld-Leuchtmitteln (1, 3) bestimmt wird.
Verfahren nach Anspruch 30, wobei die Blenden (9, 101) während der Durchleuchtung des zu untersuchenden Objekts verschoben und/oder rotiert werden.
Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 26 bis 31, wobei der Winkel des Lichteinfalls auf das zu durchleuchtende Objekt durch Verändern des Abstands zwischen den Hellfeld-Leuchtmitteln (1, 3) und dem zu durchleuchtendem Objekt bestimmt wird.
Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 26 bis 32, wobei zusätzlich zur Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtung (5) zumindest eine Durchlicht-Dunkelfeld-Bleuchtung (6) mit Dunkelfeld-Leuchtmitteln verwendet wird.
Verfahren nach zumindest einem der Ansprüche 26 bis 33, wobei die Hellfeld- und/oder Dunkelfeld-Leuchtmittel (1, 3, 4) in ihrer Helligkeit geregelt werden.
Verwendung der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 25 in der Stereomikroskopie.
Verwendung der Durchlicht-Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 25 für Machine-Vision Anwendungen.