WO2010122748A1 - 補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体 - Google Patents

補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体 Download PDF

Info

Publication number
WO2010122748A1
WO2010122748A1 PCT/JP2010/002745 JP2010002745W WO2010122748A1 WO 2010122748 A1 WO2010122748 A1 WO 2010122748A1 JP 2010002745 W JP2010002745 W JP 2010002745W WO 2010122748 A1 WO2010122748 A1 WO 2010122748A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
density function
probability density
timing
strobe
correction
Prior art date
Application number
PCT/JP2010/002745
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
ハリー ホウ
エリック クシュニック
隆弘 山口
雅裕 石田
Original Assignee
株式会社アドバンテスト
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社アドバンテスト filed Critical 株式会社アドバンテスト
Priority to CN2010800178023A priority Critical patent/CN102414567A/zh
Priority to JP2011510182A priority patent/JPWO2010122748A1/ja
Publication of WO2010122748A1 publication Critical patent/WO2010122748A1/ja

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31708Analysis of signal quality
    • G01R31/31709Jitter measurements; Jitter generators

Abstract

 予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定した測定結果から得られた確率密度関数を補正する補正装置であって、測定結果の累積密度関数が与えられ、累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの理想タイミングにおける累積密度関数の値を算出し、理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する補間部と、補間部が算出した補正累積密度関数に基づいて、確率密度関数におけるストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する補正関数生成部とを備える補正装置を提供する。

Description

補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体
 本発明は、補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体に関する。
 信号に含まれるジッタの測定法として、確率密度関数(ヒストグラム)を用いた統計解析による方法が知られている。例えば、測定装置は、被測定信号の遷移エッジタイミングの確率密度関数(probability density function, PDF)を用いることにより、ジッタの推定値を算出することができる。なお、現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
 ジッタの推定値を算出する測定装置は、予め定められたストローブ信号により指定されるタイミングにおいて、被測定信号の論理値を期待値と比較する。測定装置は、当該比較結果を誤り計数器で計数することにより、被測定信号の遷移エッジタイミングの確率密度関数を算出する。測定装置は、求めた確率密度関数から、ジッタの分布パラメータ(例えば、実効値、あるいは、p-p値)を取得する。さらに、測定装置は、当該確率密度関数を2つのガウス関数を用いて曲線適合することにより、ランダムジッタの推定値および確定ジッタの推定値を算出することもできる。
 ところが、ストローブ信号の発生タイミングを生成する可変遅延回路、および、可変遅延回路を制御するアナログ/デジタルコンバータは、非線形性を有する。従って、ストローブ信号の発生タイミングは、理想タイミングと異なり、非線形性を有するタイミングとなる。非線形性を有するタイミングで発生するストローブ信号を用いて被測定信号の遷移エッジタイミングを測定し、確率密度関数を生成すると、当該確率密度関数には測定誤差が含まれる。その結果、当該確率密度関数に基づいて求めたジッタの分布パラメータ、あるいは、ランダムジッタおよび確定ジッタの推定値に誤差が生じるという問題が生じている。
 そこで本発明の1つの側面においては、上記の課題を解決することのできる補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体を提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
 本発明の第1の態様によると、予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定した測定結果から得られた確率密度関数を補正する補正装置であって、測定結果の累積密度関数が与えられ、累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの理想タイミングにおける累積密度関数の値を算出し、理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する補間部と、補間部が算出した補正累積密度関数に基づいて、確率密度関数におけるストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する補正関数生成部とを備える補正装置を提供する。
 本発明の第2の態様によると、補正関数生成部は、隣り合う理想タイミングにおける、補正累積密度関数の値の差分に基づいて、補正確率密度関数を生成する補正装置を提供する。
 本発明の第3の態様によると、確率密度関数が与えられ、それぞれのストローブタイミングにおける確率密度関数の値を積算することで累積密度関数を算出し、算出した累積密度関数を補間部に与える累積密度関数算出部を更に備える補正装置を提供する。
 本発明の第4の態様によると、理想タイミングは、測定対象に対する相対位相が線形に変化するタイミングであり、補正装置は、測定対象に対する相対位相が非線形に変化するストローブタイミングでの測定結果の確率密度関数を受け取る補正装置を提供する。
 本発明の第5の態様によると、予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定した測定結果から得られた確率密度関数を補正する補正装置であって、ストローブタイミングにおける測定結果の累積密度関数について、累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出し、補正累積密度関数に基づいて確率密度関数を生成した場合に得られるものと等価な補正確率密度関数を生成する補正装置を提供する。
 本発明の第6の態様によると、測定対象の確率密度関数を測定する確率密度関数測定装置であって、予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定し、測定結果の確率密度関数を生成するサンプリング部と、測定結果の累積密度関数が与えられ、累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの理想タイミングにおける累積密度関数の値を算出し、理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する補間部と、補間部が算出した補正累積密度関数に基づいて、確率密度関数におけるストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する補正関数生成部とを備える確率密度関数測定装置を提供する。
 本発明の第7の態様によると、理想タイミングに対するストローブタイミングの誤差を検出する誤差検出部を更に備え、補間部は、誤差検出部が検出した誤差に更に基づいて、補正確率密度関数を生成する確率密度関数測定装置を提供する。
 本発明の第8の態様によると、理想タイミングは、測定対象に対する相対位相が線形に変化するタイミングであり、サンプリング部は、測定対象に対する相対位相が非線形に変化するストローブタイミングで測定対象を測定し、誤差検出部は、ストローブタイミングの非線形性を検出する確率密度関数測定装置を提供する。
 本発明の第9の態様によると、被測定信号のジッタ値を測定するジッタ測定装置であって、被測定信号のジッタ値の確率密度関数を測定する、請求項6に記載の確率密度関数測定装置と、確率密度関数測定装置が測定した確率密度関数に基づいて、被測定信号のジッタ値を算出するジッタ値算出部とを備えるジッタ測定装置を提供する。
 本発明の第10の態様によると、被測定信号のジッタの測定結果から、確定成分およびランダム成分の少なくとも一方を分離するジッタ分離装置であって、被測定信号のジッタ値の確率密度関数を測定する確率密度関数測定装置と、確率密度関数測定装置が測定した確率密度関数から、確定成分およびランダム成分の少なくとも一方を分離する分離部とを備えるジッタ分離装置を提供する。
 本発明の第11の態様によると、与えられる信号に応じて動作する電子デバイスであって、与えられる信号に応じた応答信号を生成する動作回路と、応答信号の特性の確率密度関数を測定する確率密度関数測定装置とを備える電子デバイスを提供する。
 本発明の第12の態様によると、予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定した測定結果から得られた確率密度関数を補正する補正方法であって、測定結果の累積密度関数が与えられ、累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの理想タイミングにおける累積密度関数の値を算出し、理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する補間段階と、補間段階で算出した補正累積密度関数に基づいて、確率密度関数におけるストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する補正関数生成段階とを備える補正方法を提供する。
 本発明の第13の態様によると、コンピュータを補正装置として機能させるプログラムを記録した記録媒体を提供する。
 なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
補正装置100の構成を示す。 非線形なストローブタイミングで被測定信号を測定した場合の確率密度関数の一例を示す。 図2に示す確率密度関数から生成した累積密度関数を示す。 補正関数生成部30が生成した補正確率密度関数の一例を示す。 補正装置100の他の構成を示す。 確率密度関数測定装置200の構成を示す。 ジッタ測定装置300の構成を示す。 ジッタ分離装置400の構成を示す。 電子デバイス500の構成を示す。 補正装置100として機能するコンピュータ1900の構成を示す。 補正装置100として機能するコンピュータ1900の動作フローチャートを示す。
 以下、発明の実施の形態を通じて本発明の(一)側面を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
 図1は、補正装置100の構成を示す。補正装置100は、予め定められたストローブタイミングで測定対象の特性を測定した結果から得られた、確率密度関数を補正する。補正装置100が確率密度関数を補正する対象とする特性値は、被測定信号の論理値が遷移するタイミングの変動値(以下、ジッタと称する)であってよく、被測定信号の電圧値または電流値であってもよい。なお、補正装置100が測定する対象は、電気信号であってよく、光信号、磁気信号などの信号であってもよい。
 確率密度関数は、測定対象の特性値を複数回測定して取得したヒストグラムである。例えば、確率密度関数は、隣接するストローブタイミング間において、測定対象信号の論理値が遷移する回数のヒストグラムであってよい。
 測定対象の特性の測定に用いる予め定められたストローブタイミングは、一定の時間間隔で発生する理想タイミングに対して、誤差を有する場合がある。ストローブタイミングを生成する可変遅延回路、および、可変遅延回路を制御するアナログ/デジタルコンバータは、設定値に対して非線形特性を有する。可変遅延回路が、理想タイミングのストローブ信号を生成するべく設定値を設定された場合であっても、当該非線形性の影響により、ストローブ信号は、理想タイミングと異なるタイミングで発生される場合がある。つまり、ストローブ信号の発生タイミングが、設定値に対して非線形に変化する場合が生じる。
 ストローブタイミングが設定値に対して非線形に変化する場合には、隣接するストローブタイミングの間隔が一定値にならない。例えば、ジッタを測定する装置は、被測定信号の論理値が、被測定信号に対する相対位相が異なる隣接するストローブ信号間で変化する回数を測定する。予め定められた間隔よりも広いストローブタイミング間に含まれる遷移回数は、ストローブタイミングが等間隔である場合のストローブタイミング間に含まれる遷移回数よりも多くなる。また、予め定められた間隔よりも狭いストローブタイミング間に含まれる遷移回数は、ストローブタイミングが等間隔である場合のストローブタイミング間に含まれる遷移回数よりも少なくなる。
 設定値に対して非線形のストローブタイミングで測定された結果の確率密度関数には凹凸が生じる。その結果、当該確率密度関数を用いた解析結果に誤差が生じる。例えば、当該確率密度関数が、ジッタ確率密度関数である場合には、当該確率密度関数を用いて算出するジッタの分布パラメータ、および、ジッタ種別の分離結果等に誤差が生じる。
 図2は、非線形なストローブタイミングで被測定信号を測定した場合の確率密度関数の一例を示す。当該被測定信号は、線形なストローブタイミングで測定されると、確率密度関数がガウス分布になる信号である。図2の横軸は、ストローブタイミングを示す。本実施形態において、当該ストローブタイミングは、約10psごとに発生している。ストローブタイミングが0になるタイミングは、被測定信号の論理値が遷移するタイミングの設計値に相当する。ストローブタイミングの値が正の方向に大きくなると、ストローブタイミング0に対して、タイミングが遅くなる。これに対して、ストローブタイミングが負の方向に大きくなると、ストローブタイミング0に対して、タイミングが早くなる。
 ここで、ストローブタイミング0に対してm番目(mは整数)のストローブタイミングをストローブタイミング番号mと定義する。各ストローブタイミングの発生タイミングは、隣接するストローブタイミング間隔にストローブタイミング番号mを乗算した値を、ストローブタイミング0のタイミングに加算した値に略等しい。例えば、隣接するストローブタイミングの間隔が約10psである場合、ストローブタイミング番号15のタイミングは、ストローブタイミング0のタイミングに対して150ps後となる。
 図2の縦軸は、各ストローブタイミングにおけるサンプル数を示す。ストローブタイミングmにおけるサンプル数は、直前のストローブタイミング番号m-1における論理値に比して、ストローブタイミング番号mにおける被測定信号の論理値が遷移したサンプルの数である。図2に示す例においては、測定に用いられたストローブ信号の間隔が一定でないので、ストローブタイミングごとにサンプル数が変動している。その結果、確率密度関数には、凹凸が生じている。当該確率密度関数のそれぞれのストローブタイミングにおけるサンプル数を累積して、累積密度関数を生成すると、ストローブタイミングごとのサンプル数の増減の影響により、当該累積密度関数も滑らかな曲線にならない。
 図3は、図2に示す確率密度関数から生成した累積密度関数を示す。図3の横軸は、ストローブタイミングを示す。図3の縦軸は、累積サンプル数を示す。ストローブタイミング番号mにおける累積サンプル数は、隣接するストローブタイミング番号m-1における累積サンプル数に、ストローブタイミング番号mにおけるサンプル数を加算した数である。
 図3においては、ストローブタイミング間隔が均一でないことに起因して、各ストローブタイミングにおける累積サンプル数が、理想タイミングで測定した場合の累積サンプル数と異なる。例えば、図3の拡大図中のA、B、C、Dは、それぞれストローブタイミング番号5、6、7、8に対応し、それぞれの理想タイミングは、50ps、60ps、70ps、80psである。ところが、図3におけるA、B、C、Dは、それぞれ50ps、62ps、68ps、80psのストローブタイミングで測定した累積サンプル数を示している。従って、BおよびCの間の累積サンプル数は、理想タイミングで測定した場合の累積サンプル数を示す実線から乖離している。理想タイミングで測定した場合の累積密度関数と乖離する累積密度関数を用いて被測定信号を解析すると、解析結果に誤差が生じる。
 そこで、補正装置100は、補間部20および補正関数生成部30を備え、累積密度関数を補間する。補間部20には、測定結果の累積密度関数が与えられる。補正装置100は、外部から累積密度関数を与えられてよい。また、補正装置100は、外部から与えられる確率密度関数を用いて、補正装置100の内部で累積密度関数を生成してもよい。
 補間部20は、累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの理想タイミングにおける累積密度関数の値を算出し、理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する。つまり、補間部20は、非線形なストローブタイミングで測定した累積密度関数に補間法を適用することにより、等しい間隔を持つストローブタイミングにおける補正累積密度関数を算出する。例えば、補間部20は、ストローブタイミング60psおよび70psにおける補正累積密度関数の値を算出することにより、ストローブタイミングが62ps、68psであったBおよびCにおける累積密度関数の値を補正できる。その結果、補間部20は、図3の実線に示す補正累積密度関数を算出することができる。
 補正関数生成部30は、補間部20が算出した補正累積密度関数に基づいて、確率密度関数におけるストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する。例えば、補正関数生成部30は、隣り合う理想タイミングにおける、補正累積密度関数の値の差分に基づいて、補正確率密度関数を生成してよい。
 具体的には、理想タイミングを有するストローブタイミング番号をnとすると、補正関数生成部30は、ストローブタイミング番号n(nは整数)における補正累積密度関数値と、ストローブタイミング番号n-1における補正累積密度関数値との差分値を、ストローブタイミング番号nにおける補正確率密度関数値としてヒストグラムを生成してよい。補正関数生成部30は、ストローブタイミング番号nにおける補正累積密度関数値と、ストローブタイミング番号n+1における補正累積密度関数値との差分値を、ストローブタイミング番号nにおける補正確率密度関数値としてヒストグラムを生成してもよい。
 補正装置100は、凹凸を有する確率密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間する場合に比べて、凹凸を有しない累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間する場合の方が、精度の高い補間をすることができる。その結果、補正累積密度関数に基づいて生成した補正確率密度関数は、測定結果に基づく確率密度関数を補間して得られる確率密度関数に比べて、小さな誤差を有する。
 図4は、補正関数生成部30が生成した補正確率密度関数の一例を示す。図4に示す補正確率密度関数は、図3に示す累積密度関数の隣接するストローブタイミングの間における値を補間した補正累積密度関数を確率密度関数に変換することにより得られる。図2に示す確率密度関数に生じていた凹凸が、図4に示す補正確率密度関数においては除去されていることがわかる。
 補間は、関数y=f(x)の値が、変数xの不連続な値x1、x2、・・・、xnに対して与えられている場合に、xk(k=1、2、・・・、n)以外のxの値に対するf(x)の値を推測することにより行われる。補間部20は、補間法として、線形補間法(linear interpolation)、多項式補間法(polynomial interpolation)、または、3次スプライン補間法(cubic spline interpolation)のいずれの方法を用いてもよい。
 例えば、多項式補間法を用いる場合、補間部20は、以下の手順によって補間する。平面上の2点(x1、y1)および(x2、y2)が与えられたときに、その2点を通る直線y=P1(x)は、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 で与えられ、一意的に決められる。この場合、直線を用いて補間するので、当該補間法は線形補間法とも称される。
 一般に、平面上のN点(x1、y1)、(x2、y2)、・・・、(xN、yN)を通るN-1次曲線y=PN-1(x)は一意的に決まり、ラグランジェの公式により、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 で与えられる。補間部20は、当該補間法により、それぞれの理想タイミングにおける累積密度関数の値を算出することができる。なお、多項式補間法については、例えば、L.W.Johnson and R.D.Riess, Numerical Analysis, Massachusetts: Addison-Wesley, Section 5.2, 1982に記載されている。
 また、補間部20は、以下の3次スプライン補間法によって補間してもよい。スプライン曲線は、予め定められた点を通過すると共に、曲率の2乗積分が最小になる曲線である。平面上の2点(x1、y1)および(x2、y2)が与えられたときに、その2点を通るスプライン曲線は、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 で与えられる。ここで、y1"およびy2"は、それぞれ(x1、y1)および(x2、y2)における関数y=f(x)の2次微分値である。3次スプライン補間は、2個の測定点とその測定点における2次微分値から上記の式を用いて、希望のxに対するy=f(x)の値を推定する。補間部20は、補間曲線の近似誤差を小さくするべく、xに近い2点を選択することが望ましい。
 以上説明したように、本実施形態に係る補正装置100は、入力される累積密度関数のストローブタイミングの間の値を補間して生成した補正累積密度関数に基づいて、凹凸のない補正確率密度関数を生成する。当該補正確率密度関数を用いて被測定信号を解析することにより、被測定信号の解析精度が向上する。
 図5は、補正装置100の他の構成を示す。補正装置100は、図1の補正装置100に対して、さらに累積密度関数算出部40を備える。累積密度関数算出部40は、測定結果に基づく確率密度関数が与えられた場合に、それぞれのストローブタイミングにおける確率密度関数の値を積算する。また、累積密度関数算出部40は、積算した確率密度関数に基づいて累積密度関数を算出し、算出した累積密度関数を補間部20に与える。累積密度関数算出部40は、測定対象に対する相対位相が非線形に変化するストローブタイミングでの測定結果の確率密度関数を受け取ってよい。
 具体的には、累積密度関数算出部40は、ストローブタイミング番号n-1以下における積算値に、ストローブタイミング番号nにおけるサンプル数を加算することにより、ストローブタイミング番号n(nは整数)における積算値を算出する。例えば、図3に示す累積密度関数のストローブタイミング番号0における積算値は、図2に示す確率密度関数におけるストローブタイミング番号-1以下における総サンプル数に、ストローブタイミング番号0におけるサンプル数を加算した値であってよい。累積密度関数算出部40は、ストローブタイミング番号-50からストローブタイミング番号+50まで、当該加算を繰り返すことにより、図2に示す確率密度関数に対して図3に示す累積密度関数を生成する。積算の開始タイミングは当該タイミング以下におけるサンプル数がゼロとなるタイミングであってよく、また、積算の停止タイミングは当該タイミング以上におけるサンプル数がゼロとなるタイミングであってよい。
 累積密度関数算出部40は、ストローブタイミング番号nにおける積算値を算出する場合に、ストローブタイミング番号n+1以上における積算値に、ストローブタイミング番号nにおけるサンプル数を加算してもよい。例えば、累積密度関数算出部40は、ストローブタイミング番号1以上における積算値にストローブタイミング番号0のサンプル数を加算することにより、ストローブタイミング番号0における積算値を算出してもよい。
 また、累積密度関数算出部40は、ストローブタイミング番号nにおける積算値とストローブタイミング番号n-1における積算値との差が予め定められた値以下になるまで、ストローブタイミングにおいて積算値を算出してよい。例えば、図2においては、ストローブタイミングが300ps以上の場合には、サンプル数が略零となっている。従って、ストローブタイミング番号が30以上である場合、ストローブタイミング番号nにおける積算値と、ストローブタイミングn-1番号における積算値とが略等しくなる。そこで、累積密度関数算出部40は、ストローブタイミングが300ps未満のストローブタイミングにおいて積算値を算出し、300ps以上のストローブタイミングにおいては積算値の算出を停止してもよい。
 補正装置100は、ストローブタイミングにおける測定結果の累積密度関数について、累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出し、補正累積密度関数に基づいて確率密度関数を生成した場合に得られるものと、等価な補正確率密度関数を生成してもよい。具体的には、補正装置100は、累積密度関数算出部40を有しないで、補間部20において、補正累積密度関数を算出することなく補正確率密度関数を生成してよい。例えば、補正装置100は、測定結果の累積密度関数におけるストローブタイミングの積算値を、予め定められた演算式に代入することにより、補正確率密度関数を生成してよい。補正装置100は、当該演算式を、不揮発性メモリ等の情報記憶媒体に格納してよい。
 図6は、確率密度関数測定装置200の構成を示す。確率密度関数測定装置200は、測定対象の確率密度関数を測定する。確率密度関数測定装置200は、補間部20、補正関数生成部30、サンプリング部50、および、誤差検出部60を有する。
 サンプリング部50は、予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定し、測定結果の累積密度関数を生成する。例えば、サンプリング部50は、測定対象に対する相対位相が非線形に変化するストローブタイミングで測定対象を測定する。また、サンプリング部50は、測定結果の累積密度関数に基づいて、確率密度関数を生成してもよい。
 補間部20は、測定結果の累積密度関数を取得する。補間部20は、累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの理想タイミングにおける累積密度関数の値を算出し、理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する。補正関数生成部30は、補間部20が算出した補正累積密度関数に基づいて、確率密度関数におけるストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する。
 サンプリング部50に入力されるストローブ信号は、例えば、基準信号を可変遅延回路等で遅延させることにより生成される。基準信号に対する遅延時間の設定値は、ストローブタイミングの理想タイミングに対応する値に設定されてよい。なお、理想タイミングは、測定対象に対する相対位相が線形に変化するタイミングである。
 ところが、可変遅延回路、および、可変遅延回路を制御するアナログ/デジタルコンバータは、設定値に対して非線形性を有する。その結果、可変遅延回路が出力するストローブ信号の基準信号に対する遅延時間との間には誤差が生じる。具体的には、遅延時間が予め定められた時間間隔で設定されているにもかかわらず、可変遅延回路が出力する信号は、設定された理想タイミングの時間間隔と異なる時間間隔で生成される場合が生じる。
 そこで、誤差検出部60は、理想タイミングに対するストローブタイミングの誤差を検出する。誤差検出部60は、理想タイミングの時間間隔で発生するタイミング信号を外部から取得してよい。誤差検出部60は、当該理想のタイミングと、サンプリング部50に入力されるストローブ信号の発生タイミングとを比較した上で、ストローブタイミングの誤差を算出してよい。
 また、誤差検出部60は、ストローブタイミングの非線形性を検出してもよい。具体的には、誤差検出部60は、以下の手順によりストローブタイミングの非線形性を検出してよい。
 まず、誤差検出部60は、可変遅延回路に初期値を設定して、ストローブ信号を生成する。次に、誤差検出部60は、可変遅延回路が出力するストローブ信号により、予め定められた測定データを複数回サンプリングする。誤差検出部60は、サンプリング値を予め定めた期待値と比較することにより、ビット誤り率を測定する。
 誤差検出部60は、測定データの位相を、外部から入力される高精度のクロックに同期して順次シフトする。誤差検出部60は、それぞれの位相におけるビット誤り率を測定した上で、ビット誤り率が予め定められた値になる場合の、位相シフト量を検出する。誤差検出部60は、ビット誤り率が0.5になる位相シフト量を検出することにより、ストローブ信号のタイミングが測定データの遷移タイミングに略一致する位相を検出してよい。
 続いて、誤差検出部60は、可変遅延回路の設定値を変化させる。誤差検出部60は、設定値を変化させた可変遅延回路が出力するストローブ信号により測定データをサンプリングして、ビット誤り率を測定する。誤差検出部60は、ビット誤り率が予め定められた値になる場合の、測定データの位相シフト量を検出する。
 誤差検出部60は、可変遅延回路の設定値を順次変化させ、それぞれの設定値において、ビット誤り率が予め定められた値になる場合の測定データの位相シフト量を検出する。誤差検出部60は、可変遅延回路の設定値を線形に変化させた場合に、検出した位相シフト量も線形に変化する場合には、ストローブタイミングが線形であると判定してよい。誤差検出部60は、可変遅延回路の設定値を線形に変化させたにもかかわらず、検出した位相シフト量が非線形に変化する場合には、ストローブタイミングが非線形性を有すると判定してよい。
 例えば、誤差検出部60は、可変遅延回路の設定値を順次0ps、50ps、100psと設定する。誤差検出部60は、それぞれの設定値においてビット誤り率が予め定められた値になる場合の測定データの位相シフト量が0ps、50ps、100psである場合には、ストローブタイミングは線形であると判定する。これに対して、誤差検出部60は、それぞれの設定値における測定データの位相シフト量が0ps、51ps、103psである場合には、ストローブタイミングが非線形であると判定する。
 図7は、ジッタ測定装置300の構成を示す。ジッタ測定装置300は、被測定信号のジッタ値を測定する。ジッタ測定装置300は、図6に示した確率密度関数測定装置200と、ジッタ値算出部70とを備える。
 ジッタ値算出部70は、確率密度関数測定装置200が生成した補正確率密度関数に基づいて、被測定信号のジッタ値を算出する。ジッタ測定装置300は、補正確率密度関数の実効値(RMS値)をジッタ値として算出してよい。また、ジッタ測定装置300は、補正確率密度関数がゼロでない最大のストローブタイミングと補正確率密度関数がゼロでない最小ストローブタイミングとの差分値(p-p値)をジッタ値として算出してもよい。
 以上の通り、本実施形態に係るジッタ測定装置300は、確率密度関数測定装置200が生成した補正確率密度関数に基づいて、ジッタ値を測定する。補正確率密度関数は高い精度を有するので、補正確率密度関数に基づいて測定したジッタ値の精度も高くなる。
 図8は、ジッタ分離装置400の構成を示す。論理値が予め定められたタイミングで遷移する信号は、確定成分およびランダム成分を含むジッタを有する。確定ジッタは、データ依存ジッタ、デューティサイクル歪み、有界無相関ジッタ、または、サイン波ジッタ等である。ランダムジッタは、不規則雑音により注入されるタイミングエッジの揺らぎである。
 ジッタ分離装置400は、被測定信号のジッタの測定結果から、確定成分およびランダム成分の少なくとも一方を分離する。ジッタ分離装置400は、図6に示した確率密度関数測定装置200と、分離部80とを備える。確率密度関数測定装置200は、被測定信号のジッタの確率密度関数を測定する。
 分離部80は、確率密度関数測定装置200が測定した確率密度関数から、確定成分およびランダム成分の少なくとも一方を分離する。分離部80は、一例として、確率密度関数の前縁および後縁をガウス分布でフィッティングすることにより、ジッタのランダム成分を抽出してよい。分離部80は、確率密度関数測定装置200が測定した確率から抽出したランダム成分を除去することにより、ジッタの確定成分を抽出してよい。
 また、分離部80は、確率密度関数をフーリエ変換した上で、フーリエ変換後のスペクトルにおける第1ナル周波数から確定成分を求めてもよい。第1ナル周波数とは、スペクトルのパワーが略零となる周波数(または、スペクトルが極小値を示す周波数)のうち、最も低い周波数を指す。
 分離部80は、第1ナル周波数に基づいて、確定成分のスペクトルの理論値を算出する。分離部80は、算出した理論値を、予め定められた複数種類の確定成分のモデルと比較することにより、確率密度関数に対応するジッタが含む確定成分の種類を特定してよい。確定成分の理論値は、確定成分のモデルおよびp-p値により定めることができる。当該確定成分のモデルとは、例えばサイン波分布のモデル、一様分布のモデル、台形分布のモデル、デュアルディラックのモデル等であってよい。
 以上の通り、本実施形態に係るジッタ分離装置400は、確率密度関数測定装置200が測定した確率密度関数に基づいて、ジッタのランダム成分および確定成分を分離する。確率密度関数測定装置200が測定した確率密度関数は、高い精度を有する。従って、ジッタ分離装置400は、高い精度でランダム成分および確定成分を分離することができる。
 図9は、電子デバイス500の構成を示す。電子デバイス500は、与えられる信号に応じて動作する。電子デバイス500は、動作回路90および確率密度関数測定装置200を備える。動作回路90は、与えられる信号に応じた応答信号を生成する。確率密度関数測定装置200は、応答信号の特性の確率密度関数を測定する。
 具体的には、動作回路90は、与えられる信号に応じて、予め定められたパターンを有する応答信号を生成する。動作回路90は、確率密度関数測定装置200が生成した補正確率密度関数を取得して、当該補正確率密度関数を、あらかじめ記憶した確率密度関数のモデルと比較する。動作回路90は、当該比較結果に応じて、与えられる信号の特性の評価をしてよい。
 例えば、動作回路90は、確率密度関数測定装置200が生成した確率密度関数が、あらかじめ記憶した確率密度関数のモデルに対して予め定められた範囲内の差を有する場合には、与えられる信号の特性を「良」と判断してよい。動作回路90は、確率密度関数測定装置200が生成した確率密度関数が、あらかじめ記憶した確率密度関数のモデルに対して予め定められた範囲外の差を有する場合には、与えられる信号の特性を「否」と判断して、その旨を外部に通知してよい。
 図10は、補正装置100として機能するコンピュータ1900の構成を示す。図11は、補正装置100として機能するコンピュータ1900の動作フローチャートを示す。本実施形態に係るコンピュータ1900は、ホスト・コントローラ2082により相互に接続されるCPU2000、RAM2020、グラフィック・コントローラ2075、及び表示装置2080を有するCPU周辺部と、入出力コントローラ2084によりホスト・コントローラ2082に接続される通信インターフェイス2030、ハードディスクドライブ2040、及びCD-ROMドライブ2060を有する入出力部と、入出力コントローラ2084に接続されるROM2010、フレキシブルディスク・ドライブ2050、及び入出力チップ2070を有するレガシー入出力部とを備える。
 ホスト・コントローラ2082は、RAM2020と、高い転送レートでRAM2020をアクセスするCPU2000及びグラフィック・コントローラ2075とを接続する。CPU2000は、ROM2010及びRAM2020に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ2075は、CPU2000等がRAM2020内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置2080上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ2075は、CPU2000等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
 入出力コントローラ2084は、ホスト・コントローラ2082と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス2030、ハードディスクドライブ2040、CD-ROMドライブ2060を接続する。通信インターフェイス2030は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ2040は、コンピュータ1900内のCPU2000が使用するプログラム及びデータを格納する。CD-ROMドライブ2060は、CD-ROM2095からプログラム又はデータを読み取り、RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供する。
 また、入出力コントローラ2084には、ROM2010と、フレキシブルディスク・ドライブ2050、及び入出力チップ2070の比較的低速な入出力装置とが接続される。ROM2010は、コンピュータ1900が起動時に実行するブート・プログラム、及び/又は、コンピュータ1900のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ2050は、フレキシブルディスク2090からプログラム又はデータを読み取り、RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供する。入出力チップ2070は、フレキシブルディスク・ドライブ2050を入出力コントローラ2084へと接続すると共に、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を入出力コントローラ2084へと接続する。
 RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク2090、CD-ROM2095、又はICカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、RAM2020を介してコンピュータ1900内のハードディスクドライブ2040にインストールされ、CPU2000において実行される。
 コンピュータ1900にインストールされ、コンピュータ1900を補正装置100として機能させるプログラムは、コンピュータ1900に、入力された確率密度関数を累積して累積密度関数を生成させる(S101)。続いて、当該プログラムは、コンピュータ1900に、生成した累積密度関数のストローブタイミング間のデータを補間させる(S102)。さらに、当該プログラムは、コンピュータ1900に、累積密度関数を微分することにより補正確率密度関数を生成させる(S103)。
 これらのプログラムに記述された情報処理は、コンピュータ1900に読込まれることにより、ソフトウェアと上述した各種のハードウェア資源とが協働した具体的手段である補間部20、補正関数生成部30、および、累積密度関数算出部40として機能する。そして、これらの具体的手段によって、本実施形態におけるコンピュータ1900の使用目的に応じた情報の演算又は加工を実現することにより、使用目的に応じた特有の補正装置100が構築される。
 一例として、コンピュータ1900と外部の装置等との間で通信を行う場合には、CPU2000は、RAM2020上にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理内容に基づいて、通信インターフェイス2030に対して通信処理を指示する。通信インターフェイス2030は、CPU2000の制御を受けて、RAM2020、ハードディスクドライブ2040、フレキシブルディスク2090、又はCD-ROM2095等の記憶装置上に設けた送信バッファ領域等に記憶された送信データを読み出してネットワークへと送信し、もしくは、ネットワークから受信した受信データを記憶装置上に設けた受信バッファ領域等へと書き込む。このように、通信インターフェイス2030は、DMA(ダイレクト・メモリ・アクセス)方式により記憶装置との間で送受信データを転送してもよく、これに代えて、CPU2000が転送元の記憶装置又は通信インターフェイス2030からデータを読み出し、転送先の通信インターフェイス2030又は記憶装置へとデータを書き込むことにより送受信データを転送してもよい。
 また、CPU2000は、ハードディスクドライブ2040、CD-ROMドライブ2060(CD-ROM2095)、フレキシブルディスク・ドライブ2050(フレキシブルディスク2090)等の外部記憶装置に格納されたファイルまたはデータベース等の中から、全部または必要な部分をDMA転送等によりRAM2020へと読み込ませ、RAM2020上のデータに対して各種の処理を行う。そして、CPU2000は、処理を終えたデータを、DMA転送等により外部記憶装置へと書き戻す。
 このような処理において、RAM2020は、外部記憶装置の内容を一時的に保持するものとみなせるから、本実施形態においてはRAM2020および外部記憶装置等をメモリ、記憶部、または記憶装置等と総称する。本実施形態における各種のプログラム、データ、テーブル、データベース等の各種の情報は、このような記憶装置上に格納されて、情報処理の対象となる。なお、CPU2000は、RAM2020の一部をキャッシュメモリに保持し、キャッシュメモリ上で読み書きを行うこともできる。このような形態においても、キャッシュメモリはRAM2020の機能の一部を担うから、本実施形態においては、区別して示す場合を除き、キャッシュメモリもRAM2020、メモリ、及び/又は記憶装置に含まれるものとする。
 また、CPU2000は、RAM2020から読み出したデータに対して、プログラムの命令列により指定された、本実施形態中に記載した各種の演算、情報の加工、条件判断、情報の検索・置換等を含む各種の処理を行い、RAM2020へと書き戻す。例えば、CPU2000は、条件判断を行う場合においては、本実施形態において示した各種の変数が、他の変数または定数と比較して、大きい、小さい、以上、以下、等しい等の条件を満たすかどうかを判断し、条件が成立した場合(又は不成立であった場合)に、異なる命令列へと分岐し、またはサブルーチンを呼び出す。
 また、CPU2000は、記憶装置内のファイルまたはデータベース等に格納された情報を検索することができる。例えば、第1属性の属性値に対し第2属性の属性値がそれぞれ対応付けられた複数のエントリが記憶装置に格納されている場合において、CPU2000は、記憶装置に格納されている複数のエントリの中から第1属性の属性値が指定された条件と一致するエントリを検索し、そのエントリに格納されている第2属性の属性値を読み出すことにより、予め定められた条件を満たす第1属性に対応付けられた第2属性の属性値を得ることができる。
 以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク2090、CD-ROM2095の他に、DVD又はCD等の光学記録媒体、MO等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ICカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワーク又はインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はRAM等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ1900に提供してもよい。
 以上、本発明の一側面を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。
 請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
 上記説明から明らかなように、本発明の一実施形態によれば、累積密度関数の値を補間して生成した補正累積密度関数に基づいて補正確率密度関数を生成する、補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体を実現することができる。
 以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。
 請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
20 補間部、30 補正関数生成部、40 累積密度関数算出部、50 サンプリング部、60 誤差検出部、70 ジッタ値算出部、80 分離部、90 動作回路、100 補正装置、200 確率密度関数測定装置、300 ジッタ測定装置、400 ジッタ分離装置、500 電子デバイス、1900 コンピュータ、2000 CPU、2010 ROM、2020 RAM、2030 通信インターフェイス、2040 ハードディスクドライブ、2050 フレキシブルディスク・ドライブ、2060 CD-ROMドライブ、2070 入出力チップ、2075 グラフィック・コントローラ、2080 表示装置、2082 ホスト・コントローラ、2084 入出力コントローラ、2090 フレキシブルディスク、2095 CD-ROM

Claims (14)

  1.  予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定した測定結果から得られた確率密度関数を補正する補正装置であって、
     測定結果の累積密度関数が与えられ、前記累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの前記理想タイミングにおける前記累積密度関数の値を算出し、前記理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する補間部と、
     前記補間部が算出した前記補正累積密度関数に基づいて、前記確率密度関数における前記ストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する補正関数生成部と
     を備える補正装置。
  2.  前記補正関数生成部は、隣り合う前記理想タイミングにおける、前記補正累積密度関数の値の差分に基づいて、前記補正確率密度関数を生成する
     請求項1に記載の補正装置。
  3.  前記確率密度関数が与えられ、それぞれの前記ストローブタイミングにおける前記確率密度関数の値を積算することで前記累積密度関数を算出し、算出した前記累積密度関数を前記補間部に与える累積密度関数算出部を更に備える
     請求項1または2に記載の補正装置。
  4.  前記理想タイミングは、一定の時間間隔の設定値に対して線形のタイミングであり、
     前記補正装置は、前記設定値に対して非線形の前記ストローブタイミングでの測定結果の前記確率密度関数を受け取る
     請求項1から3のいずれか一項に記載の補正装置。
  5.  予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定した測定結果から得られた確率密度関数を補正する補正装置であって、
     前記ストローブタイミングにおける前記測定結果の累積密度関数について、前記累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して前記理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出し、前記補正累積密度関数に基づいて前記確率密度関数を生成した場合に得られるものと等価な補正確率密度関数を生成する補正装置。
  6.  測定対象の確率密度関数を測定する確率密度関数測定装置であって、
     予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで前記測定対象の特性を測定し、測定結果の確率密度関数を生成するサンプリング部と、
     前記測定結果の累積密度関数が与えられ、前記累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの前記理想タイミングにおける前記累積密度関数の値を算出し、前記理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する補間部と、
     前記補間部が算出した前記補正累積密度関数に基づいて、前記確率密度関数における前記ストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する補正関数生成部と
     を備える確率密度関数測定装置。
  7.  前記理想タイミングに対する前記ストローブタイミングの誤差を検出する誤差検出部を更に備え、
     前記補間部は、前記誤差検出部が検出した誤差に更に基づいて、前記補正確率密度関数を生成する
     請求項6に記載の確率密度関数測定装置。
  8.  前記理想タイミングは、一定の時間間隔の設定値に対して線形のタイミングであり、
     前記サンプリング部は、前記設定値に対して非線形の前記ストローブタイミングで前記測定対象を測定し、
     前記誤差検出部は、前記ストローブタイミングの非線形性を検出する
     請求項7に記載の確率密度関数測定装置。
  9.  被測定信号のジッタ値を測定するジッタ測定装置であって、
     前記被測定信号のジッタ値の確率密度関数を測定する、請求項6から8のいずれか一項に記載の確率密度関数測定装置と、
     前記確率密度関数測定装置が生成した前記補正確率密度関数に基づいて、前記被測定信号のジッタ値を算出するジッタ値算出部と
     を備えるジッタ測定装置。
  10.  被測定信号のジッタの測定結果から、確定成分およびランダム成分の少なくとも一方を分離するジッタ分離装置であって、
     前記被測定信号のジッタ値の確率密度関数を測定する、請求項6から8のいずれか一項に記載の確率密度関数測定装置と、
     前記確率密度関数測定装置が生成した前記補正確率密度関数から、前記確定成分および前記ランダム成分の少なくとも一方を分離する分離部と
     を備えるジッタ分離装置。
  11.  与えられる信号に応じて動作する電子デバイスであって、
     前記与えられる信号に応じた応答信号を生成する動作回路と、
     前記応答信号の特性の確率密度関数を測定する、請求項6から8のいずれか一項に記載の確率密度関数測定装置と
     を備える電子デバイス。
  12.  予め定められた時間間隔の理想タイミングに対して誤差を有するストローブタイミングで測定対象の特性を測定した測定結果から得られた確率密度関数を補正する補正方法であって、
     前記測定結果の累積密度関数が与えられ、前記累積密度関数の各ストローブタイミングの間における値を補間して、それぞれの前記理想タイミングにおける前記累積密度関数の値を算出し、前記理想タイミングにおける補正累積密度関数を算出する補間段階と、
     前記補間段階で算出した前記補正累積密度関数に基づいて、前記確率密度関数における前記ストローブタイミングの誤差が補正された補正確率密度関数を生成する補正関数生成段階と
     を備える補正方法。
  13.  コンピュータを、請求項1から5のいずれか一項に記載の前記補正装置として機能させるプログラム。
  14.  請求項13に記載のプログラムを記録した記録媒体。
PCT/JP2010/002745 2009-04-24 2010-04-15 補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体 WO2010122748A1 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010800178023A CN102414567A (zh) 2009-04-24 2010-04-15 校正装置、概率密度函数测量装置、抖动测量装置、抖动分离装置、电子器件、校正方法、程序以及记录介质
JP2011510182A JPWO2010122748A1 (ja) 2009-04-24 2010-04-15 補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/429,195 US8312327B2 (en) 2009-04-24 2009-04-24 Correcting apparatus, PDF measurement apparatus, jitter measurement apparatus, jitter separation apparatus, electric device, correcting method, program, and recording medium
US12/429,195 2009-04-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2010122748A1 true WO2010122748A1 (ja) 2010-10-28

Family

ID=42993192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2010/002745 WO2010122748A1 (ja) 2009-04-24 2010-04-15 補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8312327B2 (ja)
JP (1) JPWO2010122748A1 (ja)
CN (1) CN102414567A (ja)
TW (1) TW201129902A (ja)
WO (1) WO2010122748A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160114693A (ko) * 2014-01-30 2016-10-05 주식회사 아도반테스토 피시험 디바이스를 테스트하기 위한 테스트 장치 및 방법
CN104243101B (zh) * 2014-09-30 2017-07-11 深圳市云之讯网络技术有限公司 一种基于模型预测的抖动计算方法及其装置
CN109520429B (zh) * 2018-11-26 2020-11-06 重庆大学 白光干涉型光纤法珀传感器的少光谱采样点高速测量系统及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000184234A (ja) * 1998-12-15 2000-06-30 Samsung Electronics Co Ltd 入力映像の輝度を維持する画質改善装置及びその方法
JP2000324537A (ja) * 1999-04-14 2000-11-24 Lucent Technol Inc ワイヤレス通信システムにおけるチャネルグループの規定方法
WO2007099918A1 (ja) * 2006-02-27 2007-09-07 Advantest Corporation 測定装置、試験装置、及び電子デバイス
WO2007118770A2 (en) * 2006-04-13 2007-10-25 International Business Machines Corporation Method and apparatus for determining jitter and pulse width from clock signal comparisons
WO2008018588A1 (fr) * 2006-08-10 2008-02-14 Advantest Corporation Séparateur de fonction de probabilité de densité, procédé de séparation de fonction de probabilité de densité, et programme, testeur, dispositif de mesure du taux d'erreurs sur bits, dispositif électronique et dispositif de mesure de la fonction de transfert de
JP2008244576A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk アナログ・デジタル(ad)変換器及びアナログ・デジタル変換方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5363319A (en) * 1990-09-29 1994-11-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Logic simulator
US5793818A (en) * 1995-06-07 1998-08-11 Discovision Associates Signal processing system
GB0018490D0 (en) * 2000-07-27 2000-09-13 Element 14 Inc Digital/analogue communication system
KR100523663B1 (ko) * 2001-04-09 2005-10-24 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 동기검출장치
JP3695586B2 (ja) * 2002-06-25 2005-09-14 三菱電機株式会社 受信装置
US7970565B2 (en) * 2006-02-27 2011-06-28 Advantest Corporation Measuring device, test device, electronic device, program, and recording medium
US7421355B2 (en) * 2006-02-27 2008-09-02 Advantest Corporation Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, testing method, and electronic device
US7856463B2 (en) * 2006-03-21 2010-12-21 Advantest Corporation Probability density function separating apparatus, probability density function separating method, testing apparatus, bit error rate measuring apparatus, electronic device, and program
US7945405B2 (en) * 2008-05-08 2011-05-17 Advantest Corporation Jitter measurement apparatus, jitter measurement method, recording media, communication system and test apparatus
US7903776B2 (en) * 2006-09-26 2011-03-08 Advantest Corporation Jitter measurement apparatus, jitter calculator, jitter measurement method, program, recording medium, communication system and test apparatus
US7715512B2 (en) * 2006-09-26 2010-05-11 Advantest Corporation Jitter measurement apparatus, jitter measurement method, and recording medium
JP5108407B2 (ja) * 2007-07-25 2012-12-26 富士通セミコンダクター株式会社 シンボルタイミングリカバリ回路
CN101201937B (zh) * 2007-09-18 2012-10-10 上海医疗器械厂有限公司 基于小波重构与分解的数字图像增强方法及其装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000184234A (ja) * 1998-12-15 2000-06-30 Samsung Electronics Co Ltd 入力映像の輝度を維持する画質改善装置及びその方法
JP2000324537A (ja) * 1999-04-14 2000-11-24 Lucent Technol Inc ワイヤレス通信システムにおけるチャネルグループの規定方法
WO2007099918A1 (ja) * 2006-02-27 2007-09-07 Advantest Corporation 測定装置、試験装置、及び電子デバイス
WO2007118770A2 (en) * 2006-04-13 2007-10-25 International Business Machines Corporation Method and apparatus for determining jitter and pulse width from clock signal comparisons
WO2008018588A1 (fr) * 2006-08-10 2008-02-14 Advantest Corporation Séparateur de fonction de probabilité de densité, procédé de séparation de fonction de probabilité de densité, et programme, testeur, dispositif de mesure du taux d'erreurs sur bits, dispositif électronique et dispositif de mesure de la fonction de transfert de
JP2008244576A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk アナログ・デジタル(ad)変換器及びアナログ・デジタル変換方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201129902A (en) 2011-09-01
US8312327B2 (en) 2012-11-13
US20100275072A1 (en) 2010-10-28
JPWO2010122748A1 (ja) 2012-10-25
CN102414567A (zh) 2012-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4948523B2 (ja) 測定装置、試験装置、電子デバイス、測定方法、プログラム、及び記録媒体
CN107181489B (zh) 一种模数转换校准方法及装置
JP5776744B2 (ja) パルス処理装置および放射線分析装置
JP5066077B2 (ja) 確率密度関数分離装置、確率密度関数分離方法、試験装置、ビット誤り率測定装置、電子デバイス、及びプログラム
CN103067016B (zh) 一种流水线时数转换器及其方法
US20080007439A1 (en) Semiconductor device including A/D converter
CN115616266B (zh) 一种波形幅度值测量方法、装置、终端设备以及存储介质
WO2010122748A1 (ja) 補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体
CN103475369A (zh) 基于信号源误差一次性校准识别的高精度adc测试方法
US8756027B1 (en) Reducing eye monitor data samplers in a receiver
US10585130B2 (en) Noise spectrum analysis for electronic device
CN110568397A (zh) 一种基于mcu软件的电能表校正方法及系统
JP5394060B2 (ja) 確率密度関数分離装置、確率密度関数分離方法、ノイズ分離装置、ノイズ分離方法、試験装置、試験方法、プログラム、及び記録媒体
JP2011030206A (ja) 測定装置、プログラムおよび測定方法
JPWO2003036313A1 (ja) クロック・スキュー測定装置、クロック・スキュー測定方法
JP5202738B2 (ja) 測定回路および試験装置
US20220187349A1 (en) Missing data correction method and apparatus
JP5603888B2 (ja) 算出装置、測定装置、電子デバイス、プログラム、記憶媒体および算出方法
CN102403985A (zh) 采样频率转换器
JP2010160093A (ja) 波形測定装置
JP7192025B2 (ja) 推移予測装置、推移予測方法、および、推移予測プログラム
US11942957B2 (en) Firmware-based interleaved-ADC gain calibration and hardware-thresholding enhancements
JP3650767B2 (ja) ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、及び試験装置
CN111581599B (zh) 重量值输出方法和数字称重变送器
JP2012053651A (ja) タイミング解析方法、プログラム、及びシステム

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201080017802.3

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 10766810

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2011510182

Country of ref document: JP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 10766810

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1