WO2010026629A1 - 波形検証方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 - Google Patents

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WO2010026629A1
WO2010026629A1 PCT/JP2008/065875 JP2008065875W WO2010026629A1 WO 2010026629 A1 WO2010026629 A1 WO 2010026629A1 JP 2008065875 W JP2008065875 W JP 2008065875W WO 2010026629 A1 WO2010026629 A1 WO 2010026629A1
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waveform
signal waveform
signal
time
verification
Prior art date
Application number
PCT/JP2008/065875
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English (en)
French (fr)
Inventor
慶 佐藤
Original Assignee
富士通株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/36Circuit design at the analogue level
    • G06F30/367Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods

Definitions

  • the present invention relates to a waveform verification method and a computer-readable storage medium, and more particularly to a waveform verification method and a computer-readable storage medium suitable for a circuit simulator.
  • the present invention also relates to a circuit simulator or a computer program using such a waveform verification method.
  • circuit simulator which is CAD software.
  • the circuit simulator optimizes the circuit design by performing circuit simulation by changing the operating conditions such as the operating frequency and temperature of the circuit, and changing the size of the transistor included in the circuit and the circuit configuration from the simulation result. For this reason, it is necessary to verify how changes in circuit design cause changes in circuit operation and performance, and verification of simulation results is important.
  • a voltage or current signal waveform at an arbitrary node of the circuit obtained as a simulation result is specified by a user (including a designer) Compared to the expected value specified by the user. From the error indicated by the comparison result, it is determined whether or not the operation and performance of the designed circuit are as designed. For this reason, it is necessary for the user to perform a time-consuming work of obtaining the designated time and the designated expected value in advance. In addition, since the accuracy of verification depends on the time specified by the user and the expected value, the accuracy of verification depends on the skill level of the user.
  • the conventional waveform verification method for example, when two signal waveforms are compared, one signal waveform is compared with an expected value designated at a designated time as described above to obtain an error, and the other signal waveform is similarly obtained. An error is obtained by comparing with an expected value specified at a specified time, and by comparing each error, it is determined whether or not the operation and performance of the designed circuit are as designed.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a signal waveform of a voltage at an arbitrary node obtained as a simulation result of a designed circuit.
  • the vertical axis represents voltage in arbitrary units
  • the horizontal axis represents time (elapsed time) in arbitrary units.
  • the expected voltage value at time ta specified by the user is Va
  • the expected voltage value at time tb is Vb.
  • the waveform A and the waveform B both satisfy the expected values Va and Vb of the voltage at the times ta and tb, but the waveform A and the waveform B are greatly different in how the waveforms rise.
  • Patent Documents 1, 2, and 3 can be cited as examples.
  • the waveform verification method it is necessary for the user to perform a time-consuming work of obtaining the specified time and the specified expected value in advance, so the waveform cannot be automatically verified by the computer. .
  • the accuracy of verification depends on the time and expected value specified by the user, the accuracy of verification depends on the skill level of the user, and it is difficult to improve the accuracy of verification.
  • an object of the present invention is to automatically perform waveform verification by a computer and to improve verification accuracy.
  • a computer-aided waveform verification method for performing a waveform verification process on a circuit simulation result including signal waveform data of a voltage or current at an arbitrary node of a circuit, the specified verification accuracy
  • a holding procedure for recognizing a change end time at which the change of the signal waveform ends and holding in the storage unit, and an inclination measurement process or an illegal waveform detection process for the signal waveform based on the information held in the storage unit.
  • a waveform verification method for causing the computer to execute a verification procedure to be performed.
  • a computer-readable storage medium storing a program that causes a computer to perform waveform verification processing on a circuit simulation result including signal waveform data of voltage or current at an arbitrary node of the circuit A function for dividing the signal waveform by a unit of time of a specified verification accuracy, and reading the amplitude of the divided signal waveform and starting a change of the signal waveform based on the read amplitude.
  • the waveform can be automatically verified by the computer and the verification accuracy can be improved.
  • a change in voltage or current signal waveform at an arbitrary node of the designed circuit that is, a slope, which is obtained as a simulation result, is automatically detected by a computer. Since the shape of the signal waveform can be automatically identified by the computer from the inclination of the signal waveform, the unauthorized signal waveform shape can also be automatically detected by the computer.
  • the waveform Since the operation and performance of the designed circuit can be determined based on the shape of the identified signal waveform, the waveform is automatically verified by the computer and the verification accuracy is improved. can do.
  • FIG. 2 is a block diagram showing a computer that can be used for waveform verification.
  • the computer 1 includes a processor 11 such as a central processing unit (CPU), a storage unit 12, an input device 13 such as a keyboard, and a display device 14.
  • the database 15 may be provided in the computer 1 or may be externally connected to the computer 1. The connection between the processor 11 and the other parts 12 to 15 is not limited to the connection shown in FIG.
  • the storage unit 12 stores a program executed by the processor 11, various data used in program processing, intermediate data for arithmetic processing, and the like.
  • the program stored in the storage unit 12 includes a circuit simulator.
  • the storage unit 12 may include a database 15.
  • the processor 11 executes various processes in response to an instruction input from the input device 13 by the user.
  • the processor 11 displays data such as waveform data used in various processes and data such as waveform data indicating the results of the processes on the display device 14.
  • the database 15 stores data such as simulation results of circuit simulation executed by the circuit simulator.
  • the computer 1 can be a known general-purpose computer.
  • the processor 11 executes a waveform verification program or the like stored in the storage unit 12 in response to an instruction input from the input device 13 by the user.
  • the waveform verification program performs processing to determine whether the operation and performance of the circuit are as designed based on the voltage or current signal waveform data at any node of the designed circuit obtained as a simulation result. Including waveform verification processing.
  • the processor 11 functions as a waveform verification unit that executes waveform verification processing by executing the waveform verification program by reading out waveform data related to the signal waveform from the simulation result in the database 15.
  • the waveform verification program may be included in the circuit simulator.
  • the storage unit such as the storage unit 12 in which the waveform verification program is stored is not particularly limited as long as it is a computer-readable storage medium, and may be a portable storage medium.
  • FIG. 3 is a flowchart for explaining a part of the operation of the computer 1 in the first embodiment of the present invention.
  • step S1 based on the circuit design data and test data designed by the circuit simulator, the circuit simulation is performed by changing the operating conditions such as the operating frequency and temperature of the circuit.
  • the circuit design data is read from the database 15, for example.
  • the test data is input by the user from the input device 13 or read from the database 15, for example.
  • step S2 the circuit simulator outputs a circuit simulation result, that is, a simulation result.
  • the output simulation result includes data of voltage or current signal waveform (hereinafter referred to as waveform data) at an arbitrary node of the circuit.
  • the simulation result is stored in the storage unit 12 and displayed on the display device 14.
  • step S3 the waveform verification program performs waveform verification processing on the simulation result based on the verification accuracy, threshold value, reference value, etc. used by the waveform verification program, and outputs the verification result.
  • the verification accuracy, threshold value, reference value, and the like used for waveform verification are input from the input device 13 by the user or read from the database 15, for example. Therefore, information such as verification accuracy, threshold value and reference value used for waveform verification may be described in an external file in the database 15 and specified from the external file, for example.
  • the verification result is stored in the storage unit 12 and displayed on the display device 14.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a signal waveform, in which the vertical axis represents voltage as V and the horizontal axis represents time (elapsed time) as ns (nano second).
  • Vth1 that is the first threshold on the low level side is 0.15V
  • Vth2 that is the second threshold on the high level side is 0.95V.
  • FIG. 5 is a diagram showing a measured value (V) obtained by measuring the amplitude of the signal waveform of FIG. 4, that is, the voltage at a time interval of 1 ns specified by the verification accuracy.
  • V measured value
  • the waveform verification processing program detects how the signal amplitude of the voltage or current analog signal waveform at any node of the designed circuit changes with time.
  • the waveform verification program subdivides and captures the signal waveform as shown in FIG. 5, and the waveform change start time at which the change of the signal waveform starts from the difference in signal amplitude between the current time (or reference time) and the time before and after the current time (or reference time). , It recognizes whether the change in the signal waveform is an increase or decrease in signal amplitude (ie, rise or fall), and the waveform change end time at which the change in signal waveform ends.
  • the waveform verification program can identify the shape of the signal waveform from these recognition results, and can also detect an incorrect waveform shape.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining detection of an illegal waveform shape.
  • the vertical axis indicates voltage in arbitrary units
  • the horizontal axis indicates time (elapsed time) in arbitrary units.
  • the signal waveform W1 shown in FIG. 6 has a normal shape as designed
  • the signal waveform W2 having a slow voltage change is obtained by using the measured value as shown in FIG.
  • the time required to change from 1 to the second threshold value Vth2 is measured, and if the measured time exceeds the reference value, it can be detected that the waveform shape is invalid.
  • the inclination of the signal waveform when the signal waveform changes from the first threshold value Vth1 to the second threshold value Vth2 is obtained, and if the inclination is gentler than the design value, it can be detected that the waveform shape is incorrect.
  • the signal waveform W3 whose voltage is reversed in the middle is illegal if the signal waveform is reversed before the signal waveform W3 changes from the first threshold value to the second threshold value using the measured values as shown in FIG. Can be detected.
  • Statistical information measurement processing In the statistical information measurement process, the maximum value Vmax, the minimum value Vmin, and the average value Vav of the signal amplitude are measured from the signal waveform of the simulation result. The measured statistical information is stored in the storage unit 12, for example. If statistical information is not required for waveform verification, the statistical information measurement process can be omitted.
  • Inclination measurement processing In the tilt measurement process, the time required for the signal waveform of the simulation result to change from the first threshold value to the second threshold value, the waveform change start time at which the signal waveform starts to change from the first threshold value, and the signal waveform to the second value The waveform change end time and the like that reach the threshold value are measured.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining information of signal waveforms to be measured.
  • the vertical axis indicates voltage in arbitrary units
  • the horizontal axis indicates time (elapsed time) in arbitrary units.
  • FIG. 7 shows a waveform change start time ts at which the signal waveform starts to change from the first threshold value Vth1, a waveform change end time te at which the signal waveform reaches the second threshold value Vth2, and the signal waveform from the first threshold value Vth1 to the second threshold value.
  • the time T required to change to the threshold value Vth2 is shown.
  • Time T is the time from the waveform change start time ts to the waveform change end time te.
  • the measured information is stored in the storage unit 12, for example.
  • FIG. 8 is a flowchart for explaining the waveform inclination measurement processing.
  • the inclination of the signal waveform of the simulation result is measured based on the verification accuracy used for waveform verification, the threshold values Vth1 and Vth2, the reference value Tr, and the like.
  • the verification accuracy is information specifying a time unit or a time unit for measuring the signal amplitude of the signal waveform. In the case of FIG. 5, this time unit is 1 ns.
  • the thresholds Vth1 and Vth2 are 0, 15V, and 0.95V, respectively, in the case of FIG.
  • the reference value Tr indicates the reference time of the time T required for the signal amplitude of the signal waveform to change from the threshold value Vth1 to the threshold value Vth2, or from the threshold value Vth2 to the threshold value Vth1, and in the case of the signal waveform W1 shown in FIG. For example, 0.05 ns.
  • verification accuracy, threshold values Vth1, Vth2, reference value Tr, and the like are described in an external file in the database 15, for example, and are specified by this external file.
  • step S11 divides the signal waveform in units of time with the specified verification accuracy.
  • step S12 the voltage value at the start time ts of the signal waveform is read and stored in the storage unit 12, for example.
  • step S13 the voltage value after the next time of the signal waveform, that is, the unit of time of the verification accuracy is read and stored in the storage unit 12, for example.
  • step S14 it is determined whether or not the signal waveform has started to change. If the determination result is NO, the process returns to step S13. Step S14 recognizes that the signal waveform has started to change when either of the following conditions c1 or c2 is satisfied.
  • Condition c1 The voltage value at the time immediately before the current time (or reference time) (hereinafter referred to as the previous time) is equal to or lower than the threshold value Vth1, and the voltage value at the current time is greater than the threshold value Vth1.
  • Condition c2 The voltage value immediately before the current time is equal to or higher than the threshold value Vth2, and the voltage value at the current time is equal to or lower than the threshold value Vth2.
  • step S15 it is recognized that the change of the signal waveform has started, and the change start time ts is held in the storage unit 12, for example.
  • step S16 the change direction of the signal waveform, that is, whether the voltage of the signal waveform is increasing or decreasing is recognized and held in the storage unit 12, for example.
  • step S16 if the condition c1 is satisfied in step S14, the voltage of the signal waveform increases and the signal waveform rises. If the condition c2 is satisfied in step S14, the voltage of the signal waveform is increased. Recognize that the signal waveform decreases and falls.
  • step S17 the voltage value of the signal waveform at the next time is read and stored in the storage unit 12, for example.
  • Step S18 determines whether or not the change of the signal waveform is completed, and if the determination result is NO, the process returns to step S13.
  • Step S18 recognizes that the change of the signal waveform is completed when the signal waveform reaches the threshold value Vth2 when the condition c1 is satisfied in step S14, and the signal waveform is Vth1 when the condition c2 is satisfied in step S14. When it reaches, it is recognized that the change of the signal waveform has been completed. If the decision result in the step S18 is YES, the process advances to a step S19. In step S19, the difference between the signal waveform change end time te and the signal waveform change start time ts, that is, the time T between the times ts and te is calculated.
  • Step S20 determines whether or not the calculated time T exceeds the specified reference value Tr. If the determination result is NO, the process returns to step S13. On the other hand, if the decision result in the step S20 is YES, a step S21 detects an error and the process returns to the step S13. The detected error is displayed on the display device 14, for example.
  • step S19 by calculating the time T, the slope of the signal waveform can be calculated based on the waveform change start time ts and the waveform change end time te.
  • step S14 since it is known which of the above conditions c1 and c2 is satisfied, the change direction of the signal waveform is recognized, and the direction of inclination can also be recognized. Accordingly, step S20 can determine whether or not the slope calculated in step S19 exceeds the designated slope reference value.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining illegal waveform detection processing.
  • the vertical axis represents voltage in arbitrary units
  • the horizontal axis represents time (elapsed time) in arbitrary units.
  • FIG. 9 shows a waveform change start time ts at which the signal waveform starts to change from the first threshold value Vth1, a waveform change end time te at which the signal waveform reaches the second threshold value Vth2, and a time tr at which the signal waveform is inverted.
  • FIG. 10 is a flowchart for explaining the illegal waveform detection process.
  • the illegal waveform detection process detects an illegal waveform in the signal waveform of the simulation result based on verification accuracy used for waveform verification, threshold values Vth1, Vth2, and the like.
  • verification accuracy, threshold values Vth1, Vth2, etc. are described in an external file in the database 15, for example, and are specified by this external file.
  • step S38 it is determined whether or not the change of the signal waveform is completed. If the determination result is YES, the process returns to step S33.
  • the step S38 recognizes that the change of the signal waveform is completed when the signal waveform reaches the threshold value Vth2 when the condition c1 is satisfied in the step S34, and the signal waveform becomes Vth1 when the condition c2 is satisfied in the step S34. When it reaches, it is recognized that the change of the signal waveform has been completed. If the decision result in the step S38 is NO, the process advances to a step S39.
  • step S39 the voltage at the current time (or the reference time) is compared with the voltage immediately before the current time, and the voltage waveform change direction recognized in step S36 between the previous time and the current time is compared with the voltage. It is determined whether or not they are changing in the same direction. If the decision result in the step S39 is YES, the process returns to the step S37, and if it is NO, the process advances to the step S40. In step S40, an error is detected, and the process returns to step S37. The detected error is displayed on the display device 14, for example.
  • the shape of the signal waveform can be identified, it is also possible to automatically detect an incorrect waveform.
  • a second embodiment of the present invention will be described.
  • a plurality of signal waveforms of simulation results output from the circuit simulator are compared.
  • Case C1 In this case, it is verified whether or not a plurality of circuits are operating in the same manner by comparing a signal waveform that has already been confirmed to operate correctly with a signal waveform output from the designed circuit. be able to. This enables verification of accuracy between different products.
  • Case C2 In this case, by comparing the signal waveforms output by one circuit under different operating conditions, it is verified whether the same operation is performed when the operating conditions such as the operating frequency and temperature of the circuit are changed. can do. This allows verification of circuit accuracy under different operating conditions.
  • Case C3 In this case, whether a plurality of circuit simulators are operating in the same manner by comparing a signal waveform of a simulation result of a circuit simulator that has already been confirmed to operate correctly and a circuit simulator that is newly used, for example. It can be verified. This makes it possible to verify the accuracy of different versions of the circuit simulator.
  • FIG. 11 is a flowchart for explaining a part of the operation of the computer 1 in the second embodiment of the present invention.
  • steps S101 and S201 perform the same processing as step S1 of FIG.
  • steps S102 and S202 processing similar to that in step S2 in FIG. 3 is performed.
  • the processing of steps S101 and S102 and the processing of steps S201 and 202 are performed in parallel.
  • step S301 the waveform verification program compares the signal waveforms of the simulation results in steps S102 and S202. That is, in step S301, waveform verification processing similar to that in the first embodiment is performed on the simulation results in steps S102 and S202 based on the verification accuracy used by the waveform verification program for waveform verification, threshold values, allowable errors, and the like. Compare the verification results and output the comparison results. The comparison result indicates whether or not an error obtained by comparing the verification results is within an allowable error. For this reason, it is not necessary to perform complicated processing such as comparing the signal amplitude of the signal waveform at each designated time with the expected value at each designated time as in the conventional example.
  • the verification accuracy, threshold value, allowable error and the like used for waveform verification are input by the user from the input device 13 or read from the database 15, for example. Therefore, information such as verification accuracy, threshold value, and allowable error used for waveform verification may be described in an external file in the database 15 and specified from the external file, for example.
  • the verification result and the comparison result of the verification result are stored in the storage unit 12 and displayed on the display device 14. Such waveform verification processing is performed in the same manner in any of the cases C1 to C3.
  • FIG. 12 is a diagram showing an example of signal waveforms to be compared, in which the vertical axis represents voltage as V and the horizontal axis represents time (elapsed time) as ns.
  • the first threshold value Vth1 on the low level side is, for example, 0.15V
  • the second threshold value Vth2 on the high level side is, for example, 0.95V.
  • the waveform verification process it is determined whether or not an error obtained by comparing the simulation result of step S102 indicated by a solid line in FIG. 12 and the verification result of the signal waveform of the simulation result of step S202 indicated by a broken line is within an allowable error.
  • the comparison result shown is output.
  • FIGS. 13 and 14 are diagrams showing other examples of signal waveforms to be compared.
  • the vertical axis represents voltage in arbitrary units
  • the horizontal axis represents time (elapsed time) in arbitrary units.
  • the first threshold value Vth1 on the low level side is, for example, 0.15V
  • the second threshold value Vth2 on the high level side is, for example, 0.95V.
  • the error obtained by comparing the simulation result of the signal waveform WA of step S102 shown in FIG. 13 and the verification result of the simulation result of signal waveform WB of step S202 shown in FIG. 14 is within an allowable error.
  • the comparison result indicating whether or not is output. In this case, since the error of the signal waveforms WA and WB at the same time tx exceeds the allowable error, the comparison result indicates an error Err.
  • the time required for the signal waveform WA to change from the first value to the second value and the time required for the signal waveform WB to change from the first value to the second value are shown. It is also possible to compare the time and detect an error if these time differences exceed the tolerance. For example, in the case of FIG. 12, the time required for the signal waveform WA to change from the first threshold value Vth1 to the second threshold value Vth2 and the signal waveform WB change from the first threshold value Vth1 to the second threshold value Vth2. It is also possible to detect the error when the time difference exceeds the allowable error. In the case of FIGS.
  • Measurement value comparison processing In the measurement value comparison process, the measurement values of the signal waveform of the simulation result are compared based on the verification accuracy used for waveform verification, the allowable voltage error, and the like.
  • the verification accuracy is information specifying a time unit or a time unit for measuring the signal amplitude of the signal waveform, and this time unit is, for example, 1 ns.
  • the allowable voltage error indicates an allowable voltage error when two signal waveforms are measured at the same time.
  • verification accuracy, allowable voltage error, and the like are described in an external file in the database 15, for example, and are specified by this external file.
  • FIG. 15 is a flowchart for explaining the measured value comparison process.
  • step S41 divides the signal waveform WA in the simulation result by the unit of time of the specified verification accuracy.
  • step S42 divides the signal waveform WB in the simulation result in units of time with the specified verification accuracy.
  • step S43 voltage values at the same time are read from the signal waveforms WA and WB divided in steps S41 and S42, and are stored in the storage unit 12, for example.
  • step S44 a pair of voltage values at the same time is compared to determine an error between the signal waveforms WA and WB.
  • step S45 it is determined whether or not the error obtained in step S44 is equal to or less than the specified allowable voltage error.
  • step S46 If the determination result is YES, the process proceeds to step S46, and if NO, the process proceeds to step S43. Return.
  • step S45 even if one error of the voltage value pair at the same time exceeds the allowable voltage error, the determination result is YES, but the error of the voltage value pair at the same time exceeds the allowable voltage error by a predetermined number or more. The determination result may be YES.
  • step S46 an error is detected, and the process returns to step S43. The detected error is displayed on the display device 14, for example.
  • Waveform change time comparison processing In the waveform change time comparison process, the signal waveform WA reaches the change measurement value Vm in the middle of the change from the first value to the second value, and the signal waveform WB changes from the first value to the second value. Compared with the time when the change measurement value Vm is reached in the middle of the change, the error is detected when the time difference exceeds the allowable error. For example, in the case of FIG. 16 or FIG. 17, the time when the signal waveform WA reaches the change measurement value Vm after starting the change exceeding the first threshold value Vth1, and the signal waveform WB changes above the first threshold value Vth1.
  • FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a signal waveform to be compared
  • FIG. 17 is a diagram illustrating another example of a signal waveform to be compared.
  • the vertical axis represents voltage in arbitrary units
  • the horizontal axis represents time (elapsed time) in arbitrary units.
  • ts indicates the waveform change start time at which the signal waveform starts to change from the first threshold value Vth1 that is the first value
  • Vm indicates the change measurement value that is the second value.
  • the first value is not limited to the first threshold value Vth1.
  • the waveform change time comparison process compares the signal waveform measurement values of the simulation results based on the verification accuracy, threshold value, change measurement value, allowable time error, etc. used for waveform verification.
  • the verification accuracy is information specifying a time unit or a time unit for measuring the signal amplitude of the signal waveform, and this time unit is, for example, 1 ns.
  • the allowable time error indicates the allowable error at the time when two signal waveforms have changed from the first value to the change measurement value that is the second value.
  • the verification accuracy, threshold value, change measurement value, allowable time error, and the like are described in, for example, an external file in the database 15 and specified by this external file.
  • FIG. 18 is a flowchart for explaining a waveform change time comparison process.
  • step S51 divides the signal waveform in units of time with the specified verification accuracy.
  • step S52 the voltage value at the start time ts of the signal waveform is read and stored in the storage unit 12, for example.
  • step S53 the voltage value after the next time of the signal waveform, that is, the unit of time of the verification accuracy is read and held in the storage unit 12, for example.
  • step S54 it is determined whether or not the signal waveform has started to change, and if the determination result is NO, the process returns to step S53. Step S54 recognizes that the signal waveform has started changing when either of the above conditions c1 or c2 is satisfied.
  • step S54 If the decision result in the step S54 is YES, the process advances to a step S55.
  • step S55 it is recognized that the change of the signal waveform has started, and the change start time ts is held in the storage unit 12, for example.
  • step S56 the voltage value of the signal waveform at the next time is read and stored in the storage unit 12, for example.
  • Step S57 determines whether or not the voltage value of the signal waveform has reached the change measurement value Vm. If the determination result is NO, the process returns to step S56. If the decision result in the step S57 is YES, the process advances to a step S58. In step S58, the time when the voltage value of the signal waveform reaches the designated change measurement value Vm and the voltage value of another signal waveform obtained by the same processing as steps S51 to S57 has reached the change measurement value Vm. Times are compared, and these time differences are held in the storage unit 12, for example.
  • step S58 compares the time when the voltage value of the signal waveform WA reaches the change measurement value Vm with the time when the voltage value of the signal waveform WB reaches the change measurement value Vm. Similarly, it goes without saying that the time when the voltage values of three or more signal waveforms reach the change measurement value Vm can be compared.
  • step S59 it is determined whether or not the time difference obtained in step S58 is within a specified allowable time difference. If the decision result in the step S59 is NO, the process returns to the step S53. On the other hand, if the decision result in the step S59 is YES, a step S60 detects an error and the process returns to the step S53. The detected error is displayed on the display device 14, for example.
  • the comparison can be performed in consideration of the inclination of a plurality of signal waveforms, that is, the transition of the change amount of the signal amplitude, the comparison of the signal waveforms can be performed automatically and accurately. It becomes.
  • the comparison target ranges are compared in the signal waveform of the simulation result output by the circuit simulator.
  • the comparison target range limited it is verified whether the plurality of signal waveform portions have the same shape, the accuracy of the plurality of signal waveforms is similar, and the like. Thereby, verification like said case C1, C2, C3 can be performed.
  • the verification accuracy, threshold value, comparison target range and the like used for waveform verification are input by the user from the input device 13 or read from the database 15, for example.
  • the comparison target range can be set not only between the first and second thresholds Vth1 and Vth2 of the signal waveform but also any range.
  • the comparison target range can be specified by setting the comparison start time, the comparison end time, the period of the comparison target range, and the like. Therefore, information such as verification accuracy, threshold value, and comparison target range used for waveform verification may be described in an external file in the database 15 and specified from the external file, for example.
  • the verification result and the comparison result of the verification result are stored in the storage unit 12 and displayed on the display device 14.
  • First waveform comparison process with a limited range In the first waveform comparison process, the comparison range of each signal waveform is designated, the comparison range of each signal waveform is compared, and waveform verification as in the first embodiment or the second embodiment is performed based on the comparison result. .
  • FIG. 19 is a diagram for explaining designation of a comparison target range in a single signal waveform.
  • the comparison target range WR of the single signal waveform WA that is, the comparison target ranges WA1 and WA2 are compared.
  • the vertical axis represents voltage in arbitrary units
  • the horizontal axis represents time (elapsed time) in arbitrary units.
  • FIG. 20 is a diagram for describing designation of a comparison target range in two or more signal waveforms.
  • the vertical axis represents voltage in arbitrary units
  • the horizontal axis represents time (elapsed time) in arbitrary units.
  • the comparison target range WA1 of the signal waveform WA shown in FIG. 19 and the comparison target range WR of the signal waveform WB shown in FIG. 20, that is, the comparison target range WB1 are compared
  • the comparison target range WR of the signal waveform WB shown in FIG. 20, that is, the comparison target range WB2 is compared.
  • FIG. 21 is a flowchart for explaining the first waveform comparison process with a limited range.
  • step S61 divides the signal waveform in units of time with the specified verification accuracy.
  • step S62 the time and voltage value of the signal waveform are read and stored in the storage unit 12, for example.
  • step S63 it is determined whether or not the signal waveform has started changing. If the determination result is NO, the process returns to step S62. Step S63 recognizes that the signal waveform has started changing when either of the above conditions c1 or c2 is satisfied. In this case, since the comparison target range is designated, is the comparison start time? Also determine whether or not.
  • step S63 If the signal waveform has started changing and it is the comparison start time, the determination result in step S63 is YES, and the process proceeds to step S64.
  • Step S64 recognizes that the change of the signal waveform has started, and starts to cut out the signal waveform in the comparison target range.
  • step S66 it is determined whether or not the change of the signal waveform is completed. If the determination result is NO, the process returns to step S65.
  • Step S66 also determines whether it is the comparison end time. If the change of the signal waveform is completed and the comparison end time is reached, the determination result of step S66 is YES, and the process proceeds to step S67.
  • a step S67 recognizes that the change of the signal waveform is finished, and finishes cutting out the signal waveform in the comparison target range.
  • the extracted signal waveform in the comparison target range is held in the storage unit 12, for example.
  • step S68 the extracted signal waveform in the comparison target range is compared with another signal waveform in the comparison target range obtained by the same processing as in steps S61 to S67, and the comparison result is stored in the storage unit 12, for example.
  • step S68 compares the comparison target ranges WA1 and WA2 of the single signal waveform WA as shown in FIG. 19, or the comparison target ranges WA1 and WA2 of the signal waveform WA shown in FIG.
  • the comparison target ranges WB1 and WB2 corresponding to the signal waveform WB shown in FIG. 2 are compared, it goes without saying that the comparison target ranges of three or more signal waveforms can be similarly compared.
  • step S69 it is determined in the same manner as in the first embodiment or the second embodiment whether or not the error of the comparison result obtained in step S68 is within a specified allowable time difference. If the decision result in the step S69 is NO, the process returns to the step S62. On the other hand, if the decision result in the step S69 is YES, a step S70 detects an error and the process returns to the step S62. The detected error is displayed on the display device 14, for example.
  • step S69 makes the same determination as in the first embodiment, the information specified by the external file includes the information specified in the first embodiment, for example, detection of an illegal waveform, etc. Is possible.
  • the information specified by the external file includes information specified in the second embodiment, for example.
  • Second waveform comparison process with a limited range In the second waveform comparison process, the comparison range of each signal waveform is designated, the comparison range of each signal waveform is compared, and waveform verification as in the first embodiment or the second embodiment is performed based on the comparison result. .
  • FIG. 22 is a diagram illustrating an example of the original signal waveform WA.
  • FIG. 23 is a diagram showing a signal waveform WA-E obtained by enlarging the signal waveform WA in accordance with the operating frequency of the circuit from which the signal waveform WB (not shown) is obtained.
  • FIG. 24 shows the signal waveform WB (not shown). 2) shows the signal waveform WA-R after reducing the signal waveform WA in accordance with the operating frequency of the circuit from which 22 to 24, the vertical axis represents voltage in arbitrary units, and the horizontal axis represents time (elapsed time) in arbitrary units.
  • FIG. 25 is a flowchart for explaining the second waveform comparison process with a limited range.
  • step S71 divides the signal waveform in units of time with the specified verification accuracy.
  • step S72 the time and voltage value of the signal waveform are read and stored in the storage unit 12, for example.
  • step S73 the time information of the signal waveform is changed based on the designated frequency ratio to deform the signal waveform.
  • the deformation of the signal waveform includes the enlargement and reduction.
  • the deformed signal waveform (for example, signal waveform WA-E) is compared with the signal waveform WB, and the comparison result is stored in, for example, the storage unit 12.
  • the signal waveform WB may also be modified based on the frequency ratio by the same processing as in steps S71 to S73.
  • step S75 it is determined in the same manner as in the first or second embodiment whether or not the error of the comparison result obtained in step S74 is within a specified allowable time difference. If the decision result in the step S75 is NO, the process returns to the step S72. On the other hand, if the decision result in the step S75 is YES, a step S76 detects an error and the process returns to the step S72. The detected error is displayed on the display device 14, for example.
  • step S75 when step S75 performs the same determination as in the first embodiment, the information specified by the external file includes the information specified in the first embodiment, for example, detection of an illegal waveform, etc. Is possible.
  • step S69 makes the same determination as in the second embodiment, the information specified by the external file includes information specified in the second embodiment, for example.
  • the comparison can be performed in consideration of the inclination of a plurality of signal waveforms, that is, the transition of the change amount of the signal amplitude, the comparison of the signal waveforms is automatically performed. And it becomes possible to carry out accurately. Furthermore, according to the present embodiment, by comparing only a part of the signal waveform with the comparison target range limited, whether the plurality of signal waveform portions have the same shape or the accuracy of the plurality of signal waveforms. It is possible to verify whether they are similar.
  • the disclosed waveform verification method and computer-readable storage medium can be applied to the case of verifying the operation and performance of a circuit designed by a circuit simulator in designing a circuit such as an LSI using CAD.

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Abstract

 回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形のデータを含む回路シミュレーション結果に対して波形検証処理を行うコンピュータによる波形検証方法において、指定された検証精度の時刻の単位で前記信号波形を分割する手順と、分割された前記信号波形の振幅を読み込み、読み込んだ振幅に基づいて前記信号波形の変化が開始する変化開始時刻、前記信号波形の変化方向、及び前記信号波形の変化が終了する変化終了時刻を認識すると共に前記記憶部に保持する保持手順と、前記記憶部に保持された情報に基づいて前記信号波形の傾き計測処理或いは不正波形検出処理を行う検証手順を前記コンピュータに実行させるようにする。

Description

波形検証方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体
 本発明は、波形検証方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に係り、特に回路シミュレータに好適な波形検証方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に関する。本発明は、このような波形検証方法を用いる回路シミュレータ又はコンピュータプログラムにも関する。
 大規模集積回路(LSI:Large Scale Integrated circuit)等の回路設計をコンピュータ支援設計(CAD:Computer Aided Design)により行う場合、CADソフトウェアである回路シミュレータにより、設計した回路の動作や性能を検証する。回路シミュレータは、回路の動作周波数や温度等の動作条件を変えて回路シミュレーションを行い、シミュレーション結果から回路に含まれるトランジスタのサイズや回路構成等を変更することで、回路設計を最適化する。このため、回路設計の変更が回路の動作や性能にどのような変化をもたらすかを検証することが必要であり、シミュレーション結果の検証は重要である。
 設計した回路の動作や性能を検証する従来の波形検証方法では、シミュレーション結果として得られる、回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形を、ユーザ(設計者を含む)が指定した時刻(任意の時刻からの経過時刻)でユーザが指定した期待値と比較する。比較結果が示す誤差から、設計した回路の動作や性能が設計通りになっているか否かを判定する。このため、ユーザは、指定する時刻と指定する期待値を予め求めておくという手間のかかる作業を行う必要がある。又、検証の精度は、ユーザが指定する時刻及び期待値に依存するため、ユーザの熟練度によって検証の精度が左右されてしまう。
 更に、例えば同じ回路構成を有する複数の回路の動作や性能を検証したり、1つの回路が複数の動作条件における動作や性能を検証したりする場合は、複数の信号波形の検証する必要がある。従来の波形検証方法では、例えば2つの信号波形を比較する場合、一方の信号波形を上記の如く指定された時刻で指定された期待値と比較して誤差を求め、他方の信号波形を同様に指定された時刻で指定された期待値と比較して誤差を求め、夫々の誤差を比較することで設計した回路の動作や性能が設計通りになっているか否かを判定する。この場合、複数の回路の動作や性能を検証するためには各回路に対して指定する時刻及び期待値を予め求めておく必要があり、1つの回路の複数の動作条件における動作や性能を検証するためには各動作条件に対して指定する時刻及び期待値を予め求めておく必要がある。
 しかし、従来の波形検証方法では、次のような問題が生じる。図1は、設計した回路のシミュレーション結果として得られる、任意のノードにおける電圧の信号波形の一例を示す図である。図1中、縦軸は電圧を任意単で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。ここで、ユーザが指定する時刻taにおける電圧の期待値はVaであり、時刻tbにおける電圧の期待値はVbであるものとする。この場合、波形A及び波形Bは、いずれも時刻ta,tbにおける電圧の期待値Va,Vbを満足するが、波形Aと波形Bとでは、波形の立ち上がり方が大きく異なる。このため、任意のノードにおける電圧が波形Bのような急峻な立ち上がりを示すように回路が設計されている場合、波形Aのような緩やかな立ち上がりを示す回路も同様の動作及び性能を有すると判断されてしまうため、特定の時刻での信号波形の信号振幅を期待値と比較するだけでは検証の精度を向上することは難しい。
 尚、時刻ta,tbの間隔を短く設定しても、検証の精度を向上することは難しい。これは、時刻ta,tbの間隔を短く設定して検証の精度を向上できるのは、信号波形がユーザが想定している通りに変化した場合に限られ、例えば時刻taと時刻tbの間で信号波形がユーザの想定していない変化をした場合等には、検証の精度を向上することはできない。信号波形がユーザの想定していない変化をした場合の一例として、信号波形の反転が挙げられる。又、時刻ta,tbの間隔を短く設定すると、指定するべき時刻及び期待値の数が増大し、ユーザへの負荷が増大してしまう。
 波形検証方法としては、様々なものが提案されており、一例として特許文献1,2,3が挙げられる。
特開平9-259170号公報 特開2000-276501号公報 特開2004-132805号公報
 従来の波形検証方法では、ユーザは、指定する時刻と指定する期待値を予め求めておくという手間のかかる作業を行う必要があるため、波形の検証をコンピュータにより自動的に行うことはできなかった。又、検証の精度は、ユーザが指定する時刻及び期待値に依存するため、ユーザの熟練度によって検証の精度が左右されてしまい、検証の精度を向上することが難しいという問題があった。
 そこで、本発明は、波形の検証をコンピュータにより自動的に行うと共に、検証の精度を向上可能とすることを目的とする。
 本発明の一観点によれば、回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形のデータを含む回路シミュレーション結果に対して波形検証処理を行うコンピュータによる波形検証方法であって、指定された検証精度の時刻の単位で前記信号波形を分割する手順と、分割された前記信号波形の振幅を読み込み、読み込んだ振幅に基づいて前記信号波形の変化が開始する変化開始時刻、前記信号波形の変化方向、及び前記信号波形の変化が終了する変化終了時刻を認識すると共に前記記憶部に保持する保持手順と、前記記憶部に保持された情報に基づいて前記信号波形の傾き計測処理或いは不正波形検出処理を行う検証手順を前記コンピュータに実行させる、波形検証方法が提供される。
 本発明の一観点によれば、コンピュータに、回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形のデータを含む回路シミュレーション結果に対して波形検証処理を行わせるプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体であって、指定された検証精度の時刻の単位で前記信号波形を分割する機能と、分割された前記信号波形の振幅を読み込み、読み込んだ振幅に基づいて前記信号波形の変化が開始する変化開始時刻、前記信号波形の変化方向、及び前記信号波形の変化が終了する変化終了時刻を認識すると共に前記記憶部に保持する保持機能と、前記記憶部に保持された情報に基づいて前記信号波形の傾き計測処理或いは不正波形検出処理を行う検証手順を前記コンピュータに実行させる波形検証プログラムを格納した、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体が提供される。
 開示の波形検証方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体によれば、波形の検証をコンピュータにより自動的に行うと共に、検証の精度を向上可能となる。
設計した回路のシミュレーション結果として得られる、任意のノードにおける電圧の信号波形の一例を示す図である。 波形検証に使用し得るコンピュータを示すブロック図である。 第1実施例におけるコンピュータの動作の一部を説明するフローチャートである。 信号波形の一例を示す図である。 図4の信号波形の電圧を1ns単位で計測した計測値を示す図である。 不正な波形形状の検出を説明する図である。 計測する信号波形の情報を説明する図である。 波形の傾き計測処理を説明するフローチャートである。 不正波形検出処理を説明する図である。 不正波形検出処理を説明するフローチャートである。 第2実施例におけるコンピュータの動作の一部を説明するフローチャートである。 比較される信号波形の一例を示す図である。 比較される信号波形の他の例を示す図である。 比較される信号波形の他の例を示す図である。 計測値比較処理を説明するフローチャートである。 比較される信号波形の一例を示す図である。 比較される信号波形の他の例を示す図である。 波形の変化時刻比較処理を説明するフローチャートである。 単一信号波形における比較対象範囲の指定を説明する図である。 2以上の信号波形における比較対象範囲の指定を説明する図である。 範囲を限定した第1の波形比較処理を説明するフローチャートである。 元の信号波形の一例を示す図である。 拡大後の信号波形を示す図である。 縮小後の信号波形を示す図である。 範囲を限定した第2の波形比較処理を説明するフローチャートである。
符号の説明
1   コンピュータ
11  プロセッサ
12  記憶部
13  入力装置
14  表示装置
15  データベース
 開示の波形検証方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体では、シミュレーション結果として得られる、設計した回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形の変化、即ち、傾きをコンピュータにより自動的に検出する。信号波形の傾きから、信号波形の形状をコンピュータにより自動的に識別することができるため、コンピュータにより不正な信号波形の形状を自動的に検出することもできる。
 設計した回路の動作や性能が設計通りになっているか否かの判定は、識別された信号波形の形状に基づいて行えるため、波形の検証をコンピュータにより自動的に行うと共に、検証の精度を向上することができる。
 以下に、波形検証方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体の各実施例を、図2以降と共に説明する。
 先ず、コンピュータによる波形検証方法を説明する前に、波形検証に使用し得るコンピュータを図2と共に説明する。
 図2は、波形検証に使用し得るコンピュータを示すブロック図である。コンピュータ1は、中央処理装置(CPU:Central Processing Unit)等のプロセッサ11、記憶部12、キーボード等の入力装置13、表示装置14を有する。データベース15は、コンピュータ1内に設けられていても、コンピュータ1に外部接続されるものであっても良い。尚、プロセッサ11と他の部分12~15との接続は、図2に示す接続に限定されるものではない。
 記憶部12は、プロセッサ11が実行するプログラム、プログラムの処理で用いられる各種データ、演算処理の中間データ等を格納する。記憶部12が格納するプログラムには、回路シミュレータも含まれる。記憶部12は、データベース15を含むものであっても良い。プロセッサ11は、ユーザが入力装置13から入力した指示に応答して、各種処理を実行する。プロセッサ11は、各種処理で用いる波形データ等のデータや、処理の結果を示す波形データ等のデータを表示装置14に表示する。データベース15は、回路シミュレータが実行した回路シミュレーションのシミュレーション結果等のデータを格納する。
 コンピュータ1には、周知の汎用コンピュータを使用可能である。プロセッサ11は、ユーザが入力装置13から入力した指示に応答して、記憶部12に格納された波形検証プログラム等を実行する。波形検証プログラムは、シミュレーション結果として得られる、設計した回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形のデータに基づいて、回路の動作や性能が設計通りになっているか否かを判定する処理を含む波形検証処理を実行する。プロセッサ11は、波形検証プログラムを実行することにより、データベース15内のシミュレーション結果から信号波形に関する波形データを読み出して波形検証処理を実行する波形検証手段として機能する。波形検証プログラムは、回路シミュレータに含まれていても良い。波形検証プログラムが格納される記憶部12等の記憶手段は、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体であれば特に限定されず、可搬型の記憶媒体であっても良い。
 図3は、本発明の第1実施例におけるコンピュータ1の動作の一部を説明するフローチャートである。図3において、ステップS1では、回路シミュレータが設計した回路の設計データ及びテストデータに基づいて、回路の動作周波数や温度等の動作条件を変えて回路シミュレーションを行う。回路の設計データは、例えばデータベース15から読み出される。又、テストデータは、例えばユーザが入力装置13から入力するか、或いは、データベース15から読み出される。
 ステップS2では、回路シミュレータが回路シミュレーションの結果、即ち、シミュレーション結果を出力する。出力されるシミュレーション結果は、回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形のデータ(以下、波形データと言う)を含む。シミュレーション結果は、記憶部12に格納されると共に、表示装置14に表示される。
 ステップS3では、波形検証プログラムが波形検証に使用する検証精度、閾値や基準値等に基づいてシミュレーション結果に対して波形検証処理を行い、検証結果を出力する。波形検証に使用する検証精度、閾値や基準値等は、例えばユーザが入力装置13から入力するか、或いは、データベース15から読み出される。従って、波形検証に使用する検証精度、閾値や基準値等の情報は、例えばデータベース15内の外部ファイルに記述しておいて外部ファイルから指定するようにしても良い。検証結果は、記憶部12に格納されると共に、表示装置14に表示される。
 図4は、信号波形の一例を示す図であり、縦軸は電圧をVで示し、横軸は時間(経過時刻)をns(nano second)で示す。図4に示す例では、ローレベル側の第1の閾値であるVth1は0.15Vであり、ハイレベル側の第2閾値であるVth2は0.95Vである。又、図5は、図4の信号波形の振幅、即ち、電圧を、検証精度で指定される1ns単位の時刻間隔で計測した計測値(V)を示す図である。尚、以下の説明では、信号波形は電圧の場合について説明するが、信号波形は電流であっても良いことは言うまでもない。
 本実施例では、設計した回路の任意のノードにおける電圧又は電流のアナログ信号波形の信号振幅が時刻の推移と共にどのように変化するのかを波形検証処理プログラムにより検出する。波形検証プログラムは、信号波形を図5に示すように細分化して捉え、現時刻(或いは基準時刻)とその前後の時刻での信号振幅の差から、信号波形の変化が開始する波形変化開始時刻、信号波形の変化が信号振幅の増加又は減少(即ち、立ち上がり又は立ち下がり)であるか、及び信号波形の変化が終了する波形変化終了時刻を認識する。波形検証プログラムは、これらの認識結果から、信号波形の形状を識別することができ、不正な波形形状を検出することもできる。
 図6は、不正な波形形状の検出を説明する図である。図6中、縦軸は電圧を任意単位で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。例えば、図6に示す信号波形W1が設計通りの正常な形状を有する場合には、電圧変化が鈍い信号波形W2は、図5のような計測値を用いて信号波形W2が第1の閾値Vth1から第2の閾値Vth2まで変化するのに要した時間を計測し、計測した時間が基準値を超えていれば不正な波形形状であることが検出できる。つまり、信号波形が第1の閾値Vth1から第2の閾値Vth2に変化する際の信号波形の傾きを求め、傾きが設計値より緩やかであれば不正な波形形状であることが検出できる。又、電圧が途中で反転する信号波形W3は、図5のような計測値を用いて信号波形W3が第1の閾値から第2の閾値まで変化する前に信号波形が反転していれば不正な波形形状であることが検出できる。
 次に、波形検証処理に含まれる(1)統計情報計測処理、(2)傾き計測処理及び(3)不正波形検出処理について説明する。
 (1)統計情報計測処理:
 統計情報計測処理では、シミュレーション結果の信号波形から信号振幅の最大値Vmax、最小値Vmin及び平均値Vavを計測する。計測された統計情報は、例えば記憶部12に格納される。波形検証に統計情報が必要無い場合には、統計情報計測処理は省略可能である。
 (2)傾き計測処理:
 傾き計測処理では、シミュレーション結果の信号波形が第1の閾値から第2の閾値に変化するのに要した時間、信号波形が第1の閾値から変化し始める波形変化開始時刻、信号波形が第2の閾値に達する波形変化終了時刻等を計測する。
 図7は、計測する信号波形の情報を説明する図である。図7中、縦軸は電圧を任意単位で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。図7は、信号波形が第1の閾値Vth1から変化し始める波形変化開始時刻ts、信号波形が第2の閾値Vth2に達する波形変化終了時刻te、信号波形が第1の閾値Vth1から第2の閾値Vth2に変化するのに要した時間Tを示す。時間Tは、波形変化開始時刻tsから波形変化終了時刻teまでの時間である。計測された情報は、例えば記憶部12に格納される。図7では、統計情報計測処理で計測される信号振幅の最大値Vmax、最小値Vmin及び平均値Vavも示されている。尚、ここでは説明の便宜上、信号波形が立ち上がる場合を例にとって説明するが、信号波形が立ち下がる場合の時刻ts,te及び時間Tも同様に計測可能であることは言うまでもない。
 図8は、波形の傾き計測処理を説明するフローチャートである。傾き計測処理は、波形検証に使用する検証精度、閾値Vth1,Vth2や基準値Tr等に基づいてシミュレーション結果の信号波形の傾きを計測する。検証精度は、信号波形の信号振幅を計測する時刻の単位、或いは、時間単位を指定する情報であり、図5の場合であればこの時間単位は1nsである。信号波形の信号振幅が閾値Vth1より低い場合、信号波形はローレベル状態にあると判定される。又、信号波形の信号振幅が閾値Vth2より高い場合、信号波形はハイレベル状態にあると判定される。閾値Vth1,Vth2は、図4の場合であれば夫々0,15V,0.95Vである。基準値Trは、信号波形の信号振幅が閾値Vth1から閾値Vth2、或いは、閾値Vth2から閾値Vth1に変化するのに要する時間Tの基準時間を示し、図6に示す信号波形W1の場合であれば例えば0.05nsである。ここでは説明の便宜上、検証精度、閾値Vth1,Vth2や基準値Tr等が例えばデータベース15内の外部ファイルに記述されており、この外部ファイルにより指定されるものとする。
 図8において、ステップS11は、指定された検証精度の時刻の単位で信号波形を分割する。ステップS12は、信号波形の開始時刻tsの電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。ステップS13は、信号波形の次の時刻、即ち、検証精度の時刻の単位の後の電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。ステップS14は、信号波形が変化を開始したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS13へ戻る。ステップS14は、次の条件c1又はc2のいずれかが満足されると、信号波形が変化を開始したと認識する。
条件c1:現在時刻(又は、基準時刻)の直前の時刻(以下、直前時刻と言う)の電圧値が閾値Vth1以下であり、且つ、現在時刻の電圧値が閾値Vth1より大きい。
条件c2:現在時刻の直前時刻の電圧値が閾値Vth2以上であり、且つ、現在時刻の電圧値が閾値Vth2以下である。
 ステップS14の判定結果がYESであると、処理はステップS15へ進む。ステップS15は、信号波形の変化が開始したと認識して変化開始時刻tsを例えば記憶部12に保持する。ステップS16は、信号波形の変化方向、即ち、信号波形の電圧が増加しているか或いは減少しているかを認識して例えば記憶部12に保持する。ステップS16は、ステップS14において上記条件c1が満足されると信号波形の電圧が増加して信号波形が立ち上がっていることを認識し、ステップS14において上記条件c2が満足されると信号波形の電圧が減少して信号波形が立ち下がっていることを認識する。ステップS17は、次の時刻の信号波形の電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。
 ステップS18は、信号波形の変化が終了したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS13へ戻る。ステップS18は、ステップS14において上記条件c1が満足されると信号波形が閾値Vth2に達すると信号波形の変化が終了したことを認識し、ステップS14において上記条件c2が満足されると信号波形がVth1に達すると信号波形の変化が終了したことを認識する。ステップS18の判定結果がYESであると、処理はステップS19へ進む。ステップS19は、信号波形の変化終了時刻teと、信号波形の変化開始時刻tsの差、即ち、時刻ts,te間の時間Tを算出する。ステップS20は、算出した時間Tが指定された基準値Trを超えているか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS13へ戻る。他方、ステップS20の判定結果がYESであると、ステップS21はエラーを検出し、処理はステップS13へ戻る。検出されたエラーは、例えば表示装置14に表示される。
 ステップS19では、上記時間Tを算出することで、波形変化開始時刻ts及び波形変化終了時刻teに基づいて信号波形の傾きを算出することができる。又、ステップS14において上記条件c1又はc2のどちらが満足されたかがわかっているので、信号波形の変化方向が認識されており、傾きの方向も認識することができる。従って、ステップS20は、ステップS19で算出した傾きが指定された傾きの基準値を超えれているか否かを判定することができる。
 (3)不正波形検出処理:
 不正波形検出処理では、シミュレーション結果の信号波形が第1の閾値から第2の閾値に変化する途中、或いは、信号波形が第2閾値から第1の閾値に変化する途中で発生した信号波形の反転を検出する。
 図9は、不正波形検出処理を説明する図である。図9中、縦軸は電圧を任意単位で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。図9は、信号波形が第1の閾値Vth1から変化し始める波形変化開始時刻ts、信号波形が第2の閾値Vth2に達する波形変化終了時刻te、信号波形が反転する時刻trを示す。尚、ここでは説明の便宜上、信号波形が立ち上がる場合を例にとって説明するが、信号波形が立ち下がる場合も同様にして不正波形を計測可能であることは言うまでもない。
 図10は、不正波形検出処理を説明するフローチャートである。不正波形検出処理は、波形検証に使用する検証精度、閾値Vth1,Vth2等に基づいてシミュレーション結果の信号波形中の不正波形を検出する。ここでは説明の便宜上、検証精度、閾値Vth1,Vth2等が例えばデータベース15内の外部ファイルに記述されており、この外部ファイルにより指定されるものとする。
 図10において、ステップS31~S37の処理は、図8に示すステップS11~S17の処理と同じであり、その説明は省略する。ステップS38は、信号波形の変化が終了したか否かを判定し、判定結果がYESであると処理はステップS33へ戻る。ステップS38は、ステップS34において上記条件c1が満足されると信号波形が閾値Vth2に達すると信号波形の変化が終了したことを認識し、ステップS34において上記条件c2が満足されると信号波形がVth1に達すると信号波形の変化が終了したことを認識する。ステップS38の判定結果がNOであると、処理はステップS39へ進む。ステップS39は、現在時刻(又は、基準時刻)の電圧と、現在時刻の直前時刻の電圧を比較し、直前時刻と現在時刻との間で電圧がステップS36において認識された信号波形の変化方向と同じ方向に変化しているか否かを判定する。ステップS39の判定結果がYESであると処理はステップS37へ戻り、NOであると処理はステップS40へ進む。ステップS40はエラーを検出し、処理はステップS37へ戻る。検出されたエラーは、例えば表示装置14に表示される。
 本実施例によれば、信号波形の形状を識別することができるので、不正波形を自動的に検出することも可能となる。
 本発明の第2実施例について説明する。本実施例では、回路シミュレータが出力したシミュレーション結果の複数の信号波形を比較する。複数の信号波形を比較することにより、複数の信号波形が同一形状を有するか、複数の信号波形がどの程度の精度で類似しているか等を検証する。これにより、以下のケースC1,C2,C3のような検証を行うことができる。
 ケースC1:この場合、正しく動作することが既に確認されている回路と、設計された回路が出力する信号波形を比較することで、複数の回路が同一の動作をしているか否かを検証することができる。これにより、異なる製品間の精度の検証が可能となる。
 ケースC2:この場合、1つの回路が異なる動作条件で出力する信号波形を比較することで、回路の動作周波数や温度等の動作条件を変えた場合に同一の動作をしているか否かを検証することができる。これにより、異なる動作条件下での回路の精度の検証が可能となる。
 ケースC3:この場合、正しく動作することが既に確認されている回路シミュレータと、例えば新たに使用する回路シミュレータのシミュレーション結果の信号波形を比較することで、複数の回路シミュレータが同一動作をしているか否かを検証することができる。これにより、異なるバージョンの回路シミュレータの精度の検証が可能となる。
 図11は、本発明の第2実施例におけるコンピュータ1の動作の一部を説明するフローチャートである。図11において、ステップS101,S201は、図3のステップS1と同様の処理を行う。又、ステップS102,S202は、図3のステップS2と同様の処理を行う。ステップS101,S102の処理とステップS201,202の処理は、並行して行われる。
 ステップS301では、波形検証プログラムがステップS102,S202のシミュレーション結果の信号波形を比較する。つまり、ステップS301では、波形検証プログラムが波形検証に使用する検証精度、閾値や許容誤差等に基づいてステップS102,S202の各シミュレーション結果に対して上記第1実施例と同様の波形検証処理を行い、検証結果を比較して比較結果を出力する。比較結果は、検証結果を比較して得られた誤差が許容誤差以内であるか否かを示す。このため、従来例のように指定された各時刻での信号波形の信号振幅を、指定された各時刻に対する期待値と比較するといった煩雑な処理を行う必要がない。
 波形検証に使用する検証精度、閾値や許容誤差等は、例えばユーザが入力装置13から入力するか、或いは、データベース15から読み出される。従って、波形検証に使用する検証精度、閾値や許容誤差等の情報は、例えばデータベース15内の外部ファイルに記述しておいて外部ファイルから指定するようにしても良い。検証結果及び検証結果の比較結果は、記憶部12に格納されると共に、表示装置14に表示される。このような波形検証処理は、上記ケースC1~C3のいずれの場合であっても同様に行われる。
 図12は、比較される信号波形の一例を示す図であり、縦軸は電圧をVで示し、横軸は時間(経過時刻)をnsで示す。図12に示す例では、ローレベル側の第1の閾値Vth1は例えば0.15Vであり、ハイレベル側の第2閾値Vth2は例えば0.95Vである。波形検証処理は、図12に実線で示すステップS102のシミュレーション結果と破線で示すステップS202のシミュレーション結果の信号波形の検証結果を比較して得られた誤差が、許容誤差以内であるか否かを示す比較結果を出力する。
 図13及び図14は、比較される信号波形の他の例を示す図である。図13及び図14中、縦軸は電圧を任意単位で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。図13及び図14に示す例では、ローレベル側の第1の閾値Vth1は例えば0.15Vであり、ハイレベル側の第2閾値Vth2は例えば0.95Vである。波形検証処理は、図13に示すステップS102のシミュレーション結果の信号波形WAと図14に示すステップS202のシミュレーション結果の信号波形WBの検証結果を比較して得られた誤差が、許容誤差以内であるか否かを示す比較結果を出力する。この場合、同一時刻txにおける信号波形WA,WBの誤差が許容誤差を超えているので、比較結果はエラーErrを示す。
 図12~図14において、信号波形WAが第1の値から第2の値に変化するのに要した時間と、信号波形WBが第1の値から第2の値に変化するのに要した時間とを比較し、これらの時間差が許容誤差を超えている場合にエラーを検出することもできる。例えば、図12の場合、信号波形WAが第1の閾値Vth1から第2の閾値Vth2に変化するのに要した時間と、信号波形WBが第1の閾値Vth1から第2の閾値Vth2に変化するのに要した時間とを比較し、これらの時間差が許容誤差を超えている場合にエラーを検出することもできる。図13及び図14の場合、信号波形WAが初期状態から第1の閾値Vth1に変化するのに要した時間と、信号波形WBが初期状態から第1の閾値Vth1に変化するのに要した時間とを比較し、これらの時間差が許容誤差を超えている場合にエラーを検出することもできる。
 次に、波形検証処理に含まれる(4)計測値比較処理及び(5)波形の変化時刻比較処理について説明する。
 (4)計測値比較処理:
 計測値比較処理は、波形検証に使用する検証精度や許容電圧誤差等に基づいてシミュレーション結果の信号波形の計測値を比較する。検証精度は、信号波形の信号振幅を計測する時刻の単位、或いは、時間単位を指定する情報であり、この時間単位は例えば1nsである。許容電圧誤差は、2つの信号波形を同じ時刻で計測した場合の電圧の許容誤差を示す。ここでは説明の便宜上、検証精度や許容電圧誤差等が例えばデータベース15内の外部ファイルに記述されており、この外部ファイルにより指定されるものとする。
 図15は、計測値比較処理を説明するフローチャートである。図15において、ステップS41は、シミュレーション結果のうち信号波形WAを、指定された検証精度の時刻の単位で分割する。ステップS41と並行して、ステップS42は、シミュレーション結果のうち信号波形WBを、指定された検証精度の時刻の単位で分割する。ステップS43は、ステップS41,42で分割された信号波形WA,WBから、同じ時刻の電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。ステップS44は、同じ時刻の電圧値の対を比較して、信号波形WA,WB間の誤差を求める。ステップS45は、ステップS44で求めた誤差が指定された許容電圧誤差以下であるか否かを判定し、判定結果がYESであると処理はステップS46へ進み、NOであると処理はステップS43へ戻る。ステップS45は、同じ時刻の電圧値の対の誤差が1つでも許容電圧誤差を超えると判定結果がYESとなるものでも、同じ時刻の電圧値の対の誤差が所定数以上許容電圧誤差を超えると判定結果がYESとなるものでも良い。ステップS46は、エラーを検出し、処理はステップS43へ戻る。検出されたエラーは、例えば表示装置14に表示される。
 (5)波形の変化時刻比較処理:
 波形の変化時刻比較処理は、信号波形WAが第1の値から第2の値に変化する途中において、変化計測値Vmに到達した時刻と、信号波形WBが第1の値から第2の値に変化する途中において変化計測値Vmに到達した時刻とを比較し、これらの時刻差が許容誤差を超えている場合にエラーを検出する。例えば、図16又は図17の場合、信号波形WAが第1の閾値Vth1を上回り変化を開始した後、変化計測値Vmに到達した時刻と、信号波形WBが第1の閾値Vth1を上回り変化を開始した後、変化計測値Vmに到達した時刻とを比較し、これらの時間時刻差が許容誤差を超えている場合にエラーErrを検出する。図16は比較する信号波形の一例を示す図である、図17は比較する信号波形の他の例を示す図である。図16及び図17中、縦軸は電圧を任意単位で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。図16及び図17において、tsは信号波形が第1の値である第1の閾値Vth1から変化し始める波形変化開始時刻を示し、Vmは第2の値である変化計測値を示す。尚、ここでは説明の便宜上、信号波形が立ち上がる場合を例にとって説明するが、信号波形が立ち下がる場合の波形の変化時刻の比較も同様に行うことが可能であることは言うまでもない。又、第1の値は第1の閾値Vth1に限定されるものではない。
 波形の変化時刻比較処理は、波形検証に使用する検証精度、閾値、変化計測値や許容時刻誤差等に基づいてシミュレーション結果の信号波形の計測値を比較する。検証精度は、信号波形の信号振幅を計測する時刻の単位、或いは、時間単位を指定する情報であり、この時間単位は例えば1nsである。許容時刻誤差は、2つの信号波形が第1の値から第2の値である変化計測値に変化した時刻の許容誤差を示す。ここでは説明の便宜上、検証精度、閾値、変化計測値や許容時刻誤差等が例えばデータベース15内の外部ファイルに記述されており、この外部ファイルにより指定されるものとする。
 図18は、波形の変化時刻比較処理を説明するフローチャートである。図18において、ステップS51は、指定された検証精度の時刻の単位で信号波形を分割する。ステップS52は、信号波形の開始時刻tsの電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。ステップS53は、信号波形の次の時刻、即ち、検証精度の時刻の単位の後の電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。ステップS54は、信号波形が変化を開始したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS53へ戻る。ステップS54は、上記の条件c1又はc2のいずれかが満足されると、信号波形が変化を開始したと認識する。ステップS54の判定結果がYESであると、処理はステップS55へ進む。ステップS55は、信号波形の変化が開始したと認識して変化開始時刻tsを例えば記憶部12に保持する。ステップS56は、次の時刻の信号波形の電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。
 ステップS57は、信号波形の電圧値が変化計測値Vmに到達したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS56へ戻る。ステップS57の判定結果がYESであると、処理はステップS58へ進む。ステップS58は、信号波形の電圧値が指定された変化計測値Vmに到達した時刻と、ステップS51~S57と同様の処理により求められた別の信号波形の電圧値が変化計測値Vmに到達した時刻を比較し、これらの時刻差を例えば記憶部12に保持する。ここでは、説明の便宜上、ステップS58が信号波形WAの電圧値が変化計測値Vmに到達した時刻と、信号波形WBの電圧値が変化計測値Vmに到達した時刻を比較するものとして説明するが、同様にして3以上の信号波形の電圧値が変化計測値Vmに到達した時刻を比較可能であることは言うまでもない。ステップS59は、ステップS58で求めた時刻差が指定された許容時刻差以内であるか否かを判定する。ステップS59の判定結果がNOであると、処理はステップS53へ戻る。他方、ステップS59の判定結果がYESであると、ステップS60はエラーを検出し、処理はステップS53へ戻る。検出されたエラーは、例えば表示装置14に表示される。
 本実施例によれば、複数の信号波形の傾き、即ち、信号振幅の変化量の推移を考慮して比較することができるので、信号波形の比較を自動的、且つ、正確に行うことが可能となる。
 本発明の第3実施例について説明する。本実施例では、回路シミュレータが出力したシミュレーション結果の信号波形において、比較対象範囲を比較する。比較対象範囲を限定して信号波形を比較することにより、複数の信号波形部分が同一形状を有するか、複数の信号波形がどの程度の精度で類似しているか等を検証する。これにより、上記のケースC1,C2,C3のような検証を行うことができる。
 波形検証に使用する検証精度、閾値や比較対象範囲等は、例えばユーザが入力装置13から入力するか、或いは、データベース15から読み出される。比較対象範囲は、信号波形の第1及び第2の閾値Vth1,Vth2の間だけではなく、任意の範囲を指定可能である。比較対象範囲は、比較開始時刻、比較終了時刻、及び比較対象範囲の周期等を設定することで指定可能である。従って、波形検証に使用する検証精度、閾値や比較対象範囲等の情報は、例えばデータベース15内の外部ファイルに記述しておいて外部ファイルから指定するようにしても良い。検証結果及び検証結果の比較結果は、記憶部12に格納されると共に、表示装置14に表示される。
 (6)範囲を限定した第1の波形比較処理:
 第1の波形比較処理では、各信号波形の比較範囲を指定し、各信号波形の比較範囲を比較し、比較結果に基づいて上記第1実施例又は第2実施例のような波形検証を行う。
 図19は、単一信号波形における比較対象範囲の指定を説明する図である。この場合、単一信号波形WAの比較対象範囲WR、即ち、比較対象範囲WA1,WA2が比較される。図19中、縦軸は電圧を任意単位で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。
 図20は、2以上の信号波形における比較対象範囲の指定を説明する図である。図20中、縦軸は電圧を任意単位で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。この場合、図19に示す信号波形WAの比較対象範囲WA1と図20に示す信号波形WBの比較対象範囲WR、即ち、比較対象範囲WB1が比較され、図19に示す信号波形WAの比較対象範囲WA2と図20に示す信号波形WBの比較対象範囲WR、即ち、比較対象範囲WB2が比較される。
 図21は、範囲を限定した第1の波形比較処理を説明するフローチャートである。図21において、ステップS61は、指定された検証精度の時刻の単位で信号波形を分割する。ステップS62は、信号波形の時刻及び電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。ステップS63は、信号波形が変化を開始したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS62へ戻る。ステップS63は、上記の条件c1又はc2のいずれかが満足されると、信号波形が変化を開始したと認識するが、この場合、比較対象範囲が指定されているため、比較開始時刻であるか否かも判定する。信号波形が変化を開始しており比較開始時刻であると、ステップS63の判定結果はYESとなり、処理はステップS64へ進む。ステップS64は、信号波形の変化が開始したと認識して比較対象範囲の信号波形の切り出しを開始する。ステップS66は、信号波形の変化が終了したか否かを判定し、判定結果がNOであると処理はステップS65へ戻る。ステップS66は、比較終了時刻であるか否かも判定する。信号波形の変化が終了し、比較終了時刻であると、ステップS66の判定結果はYESとなり、処理はステップS67へ進む。ステップS67は、信号波形の変化が終了したと認識して比較対象範囲の信号波形の切り出しを終了する。切り出された比較対象範囲の信号波形は、例えば記憶部12に保持する。
 ステップS68は、切り出した比較対象範囲の信号波形と、ステップS61~S67と同様の処理により求められた比較対象範囲の別の信号波形を比較し、比較結果を例えば記憶部12に保持する。ここでは、説明の便宜上、ステップS68が図19に示すような単一信号波形WAの比較対象範囲WA1,WA2を比較、或いは、図19に示す信号波形WAの比較対象範囲WA1,WA2と図20に示す信号波形WBの対応する比較対象範囲WB1,WB2を比較するものとして説明するが、同様にして3以上の信号波形の比較対象範囲を比較可能であることは言うまでもない。ステップS69は、ステップS68で求めた比較結果の誤差が指定された許容時間差以内であるか否かを、上記第1実施例又は第2実施例と同様に判定する。ステップS69の判定結果がNOであると、処理はステップS62へ戻る。他方、ステップS69の判定結果がYESであると、ステップS70はエラーを検出し、処理はステップS62へ戻る。検出されたエラーは、例えば表示装置14に表示される。
 言うまでもなく、ステップS69が第1実施例と同様の判定を行う場合には、例えば外部ファイルにより指定する情報には、上記第1実施例において指定される情報が含まれ、例えば不正波形の検出等が可能となる。同様に、ステップS69が第2実施例と同様の判定を行う場合には、例えば外部ファイルにより指定する情報には、上記第2実施例において指定される情報が含まれる。
 (7)範囲を限定した第2の波形比較処理:
 第2の波形比較処理では、各信号波形の比較範囲を指定し、各信号波形の比較範囲を比較し、比較結果に基づいて上記第1実施例又は第2実施例のような波形検証を行う。例えば、信号波形WBと、信号波形WBとの比較対象である信号波形WAが互いに動作周波数の異なる同じ回路から得られる場合には、信号波形WAを拡大又は縮小して信号波形WBが得られる回路の動作周波数に合わせる。つまり、信号波形WAの時刻情報は、信号波形WAの信号波形WBに対する動作周波数比率に応じて調整されてから信号波形WBと比較される。これは、信号波形WA,WB間では動作周波数のみが異なる場合、動作周波数比率に応じて信号波形WA,WBの少なくとも一方の計測値の時刻を調整すればこれらの信号波形WA,WBは同じになるという前提に基づくものである。
 図22は、元の信号波形WAの一例を示す図である。図23は、信号波形WB(図示せず)が得られる回路の動作周波数に合わせて信号波形WAを拡大後の信号波形WA-Eを示す図であり、図24は、信号波形WB(図示せず)が得られる回路の動作周波数に合わせて信号波形WAを縮小後の信号波形WA-Rを示す図である。図22~図24において、縦軸は電圧を任意単位で示し、横軸は時間(経過時刻)を任意単位で示す。
 図25は、範囲を限定した第2の波形比較処理を説明するフローチャートである。図25において、ステップS71は、指定された検証精度の時刻の単位で信号波形を分割する。ステップS72は、信号波形の時刻及び電圧値を読み込んで例えば記憶部12に保持する。ステップS73は、指定された周波数比率に基づいて信号波形の時刻情報を変更して信号波形を変形させる。この信号波形の変形には、上記拡大及び縮小が含まれる。ステップS74は、変形した信号波形(例えば信号波形WA-E)と信号波形WBを比較し、比較結果を例えば記憶部12に保持する。尚、信号波形WBも、ステップS71~S73と同様の処理により周波数比率に基づいて変形されたものであっても良い。ステップS75は、ステップS74で求めた比較結果の誤差が指定された許容時間差以内であるか否かを、上記第1実施例又は第2実施例と同様に判定する。ステップS75の判定結果がNOであると、処理はステップS72へ戻る。他方、ステップS75の判定結果がYESであると、ステップS76はエラーを検出し、処理はステップS72へ戻る。検出されたエラーは、例えば表示装置14に表示される。
 言うまでもなく、ステップS75が第1実施例と同様の判定を行う場合には、例えば外部ファイルにより指定する情報には、上記第1実施例において指定される情報が含まれ、例えば不正波形の検出等が可能となる。同様に、ステップS69が第2実施例と同様の判定を行う場合には、例えば外部ファイルにより指定する情報には、上記第2実施例において指定される情報が含まれる。
 本実施例によれば、上記第2実施例と同様に、複数の信号波形の傾き、即ち、信号振幅の変化量の推移を考慮して比較することができるので、信号波形の比較を自動的、且つ、正確に行うことが可能となる。更に、本実施例によれば、比較対象範囲を限定して信号波形の一部のみを比較することで、複数の信号波形部分が同一形状を有するか、複数の信号波形がどの程度の精度で類似しているか等を検証可能となる。
 開示の波形検証方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、CADによるLSI等の回路設計において、回路シミュレータにより設計した回路の動作や性能を検証する場合等に適用可能である。
 以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であることは言うまでもない。

Claims (20)

  1.  回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形のデータを含む回路シミュレーション結果に対して波形検証処理を行うコンピュータによる波形検証方法であって、
     指定された検証精度の時刻の単位で前記信号波形を分割する手順と、
     分割された前記信号波形の振幅を読み込み、読み込んだ振幅に基づいて前記信号波形の変化が開始する変化開始時刻、前記信号波形の変化方向、及び前記信号波形の変化が終了する変化終了時刻を認識すると共に前記記憶部に保持する保持手順と、
     前記記憶部に保持された情報に基づいて前記信号波形の傾き計測処理或いは不正波形検出処理を行う検証手順
    を前記コンピュータに実行させる、波形検証方法。
  2.  前記保持手順は、前記変化開始時刻及び前記変化終了時刻に基づいて前記信号波形の傾きと傾きの方向を求める、請求項1記載の波形検証方法。
  3.  前記検証手順は、前記信号波形の傾きに基づいて前記傾き計測処理を行い、前記傾きが基準値を超えるとエラーを検出する、請求項2記載の波形検証方法。
  4.  前記検証手順は、前記信号波形の現在時刻の信号振幅と、前記現在時刻の直前時刻の信号振幅を比較し、前記直前時刻と前記現在時刻との間で前記信号波形の変化方向と同じ方向に変化してないと不正波形を検出する前記不正波形検出処理を行い、前記不正波形が検出されると前記エラーを検出する、請求項1記載の波形検証方法。
  5.  前記保持手順は、現在時刻の直前の時刻の電圧値が第1の閾値以下であり、且つ、現在時刻の電圧値が前記第1の閾値より大きいという条件c1又は前記現在時刻の直前時刻の電圧値が第2の閾値2以上であり、且つ、現在時刻の電圧値が前記第2の閾値以下であるという条件c2が満足されると前記信号波形が変化が開始したと認識する、請求項1乃至4のいずれか1項記載の波形検証方法。
  6.  前記検証手順は、前記傾き計測処理或いは前記不正波形検出処理を複数の信号波形に対して行った結果を比較し、比較結果が許容誤差を超えるとエラーを検出する、請求項1乃至5のいずれか1項記載の波形検証方法。
  7.  前記比較結果は、前記複数の信号波形の振幅の比較結果、或いは、前記複数の信号波形が第1の振幅から第2の振幅に変化するのに要した時間の比較結果である、請求項6記載の波形検証方法。
  8.  前記複数の信号波形は、単一の信号波形のうち指定された比較範囲の信号波形である、請求項6又は7記載の波形検証方法。
  9.  前記複数の信号波形は、複数の信号波形のうち指定された対応する比較範囲の信号波形である、請求項6又は7記載の波形検証方法。
  10.  前記複数の信号波形は、複数の信号波形のうち少なくとも1つの信号波形を出力する回路の周波数比率に基づいて変形した信号波形を含む、請求項6又は7記載の波形検証方法。
  11.  コンピュータに、回路の任意のノードにおける電圧又は電流の信号波形のデータを含む回路シミュレーション結果に対して波形検証処理を行わせるプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体であって、
     指定された検証精度の時刻の単位で前記信号波形を分割する機能と、
     分割された前記信号波形の振幅を読み込み、読み込んだ振幅に基づいて前記信号波形の変化が開始する変化開始時刻、前記信号波形の変化方向、及び前記信号波形の変化が終了する変化終了時刻を認識すると共に前記記憶部に保持する保持機能と、
     前記記憶部に保持された情報に基づいて前記信号波形の傾き計測処理或いは不正波形検出処理を行う検証手順
    を前記コンピュータに実行させる波形検証プログラムを格納した、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  12.  前記保持手順は、前記変化開始時刻及び前記変化終了時刻に基づいて前記信号波形の傾きと傾きの方向を求める、請求項11記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  13.  前記検証手順は、前記信号波形の傾きに基づいて前記傾き計測処理を行い、前記傾きが基準値を超えるとエラーを検出する、請求項12記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  14.  前記検証手順は、前記信号波形の現在時刻の信号振幅と、前記現在時刻の直前時刻の信号振幅を比較し、前記直前時刻と前記現在時刻との間で前記信号波形の変化方向と同じ方向に変化してないと不正波形を検出する前記不正波形検出処理を行い、前記不正波形が検出されると前記エラーを検出する、請求項11記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  15.  前記保持手順は、現在時刻の直前の時刻の電圧値が第1の閾値以下であり、且つ、現在時刻の電圧値が前記第1の閾値より大きいという条件c1又は前記現在時刻の直前時刻の電圧値が第2の閾値2以上であり、且つ、現在時刻の電圧値が前記第2の閾値以下であるという条件c2が満足されると前記信号波形が変化が開始したと認識する、請求項11乃至14のいずれか1項記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  16.  前記検証手順は、前記傾き計測処理或いは前記不正波形検出処理を複数の信号波形に対して行った結果を比較し、比較結果が許容誤差を超えるとエラーを検出する、請求項11乃至15のいずれか1項記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  17.  前記比較結果は、前記複数の信号波形の振幅の比較結果、或いは、前記複数の信号波形が第1の振幅から第2の振幅に変化するのに要した時間の比較結果である、請求項16記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  18.  前記複数の信号波形は、単一の信号波形のうち指定された比較範囲の信号波形である、請求項16又は17記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  19.  前記複数の信号波形は、複数の信号波形のうち指定された対応する比較範囲の信号波形である、請求項16又は17記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
  20.  前記複数の信号波形は、複数の信号波形のうち少なくとも1つの信号波形を出力する回路の周波数比率に基づいて変形した信号波形を含む、請求項16又は17記載のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
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