WO2009148063A1 - 負荷回路の過電流保護装置 - Google Patents

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大島 俊藏
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矢崎総業株式会社
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    • H03K2217/0063High side switches, i.e. the higher potential [DC] or life wire [AC] being directly connected to the switch and not via the load

Definitions

  • the present invention relates to an overcurrent protection device that detects when an overcurrent flows in a load circuit and protects the load circuit, and more particularly to a technique for avoiding the influence of an offset voltage of an operational amplifier.
  • loads such as various lamps and motors mounted on a vehicle are connected to a battery (power source) via a semiconductor element, and the operation of the load is controlled by switching on and off the semiconductor element.
  • a load circuit including a battery, a semiconductor element, and a load
  • an overcurrent may flow due to a failure or malfunction of the load circuit or various circuits connected to the load circuit.
  • the semiconductor element is overheated, and the harness that connects the load and the power supply is overheated. Therefore, various overcurrent protection devices have been proposed that detect an overcurrent as soon as possible and interrupt the current flowing to the load circuit.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a load circuit provided with a conventional overcurrent protection device (see Patent Document 1).
  • the load circuit includes a series connection circuit of a battery VB, a MOSFET (T101) that is a semiconductor element, and a load RL such as a lamp or a motor.
  • the gate of the MOSFET (T101) is connected to the driver circuit 101 via the resistor R110. Therefore, the MOSFET (T101) is turned on / off by the drive signal output from the driver circuit 101, and the drive / stop of the load RL can be switched.
  • the drain of the MOSFET (T101) is grounded via a series connection circuit of resistors R104 and R105, and further, this drain is grounded via a series connection circuit of a resistor R101, a transistor T102, and a resistor R103.
  • the connection point between the transistor T102 and the resistor R101 is connected to the inverting input terminal of the amplifier AMP101, and the normal input terminal of the amplifier AMP101 is connected to the source of the MOSFET (T101). Further, the output terminal of the amplifier AMP101 is connected to the gate of the transistor T102.
  • connection point (voltage V3) between the transistor (T2) and the resistor R103 is connected to the inverting input terminal of the comparator CMP101, and the connection point (voltage V4) between the resistors R104 and R105 is connected to the normal input terminal of the comparator CMP101. It is connected.
  • the MOSFET (T101) When the MOSFET (T101) is turned on and the current ID flows through the load circuit, the current I1 flows through the series connection circuit including the resistor R101, the transistor T102, and the resistor R103. At this time, the amplifier AMP101 controls the current I1 flowing through the transistor T102 so that the drain-source voltage Vds of the MOSFET (T101) is equal to the voltage generated across the resistor R101.
  • the amplified voltage V3 is input to the inverting input terminal of the comparator CMP101, and the voltage V4 obtained by dividing the voltage V1 by the resistors R104 and R105 is input to the normal input terminal of the comparator CMP101 as an overcurrent determination voltage.
  • the voltage Vds is increased, and V3> V4 and the output of the comparator CMP101 is inverted, so that an overcurrent state is detected.
  • the voltage Vds is expressed by the following equation (1), where the drain voltage of the MOSFET (T101) is V1, the source voltage is V2, and the on-resistance is Ron.
  • the voltage Vds is amplified by an amplifier circuit including resistors R101 and R103, a transistor T102, and an amplifier AMP101.
  • the amplifier AMP101 has an offset voltage, and the presence of the offset voltage causes an overcurrent detection error.
  • a detection error in the case where the offset voltage ⁇ Voff exists in the amplifier AMP101 will be considered.
  • the amplifier AMP101 is indicated by a one-dot chain line, and the offset voltage ⁇ Voff is shown separately from the operational amplifier symbol. Therefore, the operational amplifier represented by the triangle symbol is an ideal operational amplifier with zero offset voltage.
  • Va V2 is always maintained by the amplifier AMP101 and the transistor T2.
  • Vds ⁇ Voff R101 * I1 (2)
  • the voltage V3 is expressed by the following equation (3).
  • a voltage obtained by multiplying the offset voltage ( ⁇ Voff) by m is included in the voltage V3, which causes variation.
  • the amplified voltage V3 is input to the inverting input terminal of the comparator CMP101, and the voltage V4 obtained by dividing the voltage V1 by the resistors R104 and R105 is input to the normal input terminal of the comparator CMP101 as an overcurrent determination voltage.
  • the voltage Vds increases and V3> V4, and the output signal of the comparator CMP101 is inverted, thereby detecting the overcurrent state.
  • the value of the current ID detected as an overcurrent is Iovc, the following equation (4) is obtained.
  • the variation width of the offset voltage ( ⁇ Voff) of the amplifier AMP101 depends on the IC integration process when the amplifier AMP101 is integrated into an IC. In a normal IC, the variation width is about ⁇ 10 [mV]. If 3 [m ⁇ ], the cut-off current value varies in a range of ⁇ 3.3 [A].
  • the overcurrent determination value Iovc is affected by the offset voltage Voff, so that an accurate overcurrent is detected.
  • the circuit cannot be shut off with the judgment value Iovc.
  • the present invention has been made in order to solve such a conventional problem, and an object of the present invention is to avoid the influence of the offset voltage Voff of the operational amplifier on the detection of overcurrent, and to perform accurate overcurrent determination.
  • An object of the present invention is to provide an overcurrent protection device for a load circuit capable of interrupting the load circuit with a value Iovc.
  • an overcurrent protection device for a load circuit comprises: A power source, a load, and a first semiconductor element (T1) disposed between the power source and the load, wherein the first main electrode of the first semiconductor element (T1) is a plus of the power source.
  • An overcurrent protection device for protecting a load circuit connected to a terminal and having a second main electrode connected to the negative terminal of the power supply via the load from overcurrent;
  • Amplifying means AMP1;
  • a first resistor (R1) having one end connected to the first main electrode of the first semiconductor element (T1) and the other end connected to the inverting input terminal of the amplifying means (AMP1);
  • the second main electrode of the first semiconductor element (T1) is a point c, one end is connected to the point c, and the other end is connected to the normal input terminal of the amplifying means (AMP1).
  • the first main electrode is grounded via a third resistor (R3) and the coupling point between the first resistor (R1) and the inverting input terminal of the amplifying means (AMP1) is a point a,
  • a second semiconductor element (T2) having two main electrodes connected to the point a and a control electrode connected to the output terminal of the amplification means;
  • a first current source (IA) disposed between the point a and ground; With When a current flows through the load and the voltage at the point a falls below the voltage (V2) at the point c due to the offset voltage of the amplification means (AMP1), the voltage between the point c and the point a
  • the first current source IA is energized with a current equal to a current obtained by dividing by a resistance value of the first resistor (R1).
  • the overcurrent protection apparatus of the load circuit of this invention is the following.
  • An overcurrent protection device for protecting a load circuit connected to a terminal and having a second main electrode connected to the negative terminal of the power supply via the load from overcurrent;
  • Amplifying means AMP1;
  • a first resistor (R1) having one end connected to the first main electrode of the first semiconductor element (T1) and the other end connected to the inverting input terminal of the amplifying means (AMP1);
  • the second main electrode of the first semiconductor element (T1) is a point c, one end is connected to the point c, and the other end is connected to the normal input terminal of the amplifying means (AMP1).
  • the first main electrode is grounded via a third resistor (R3) and the coupling point between the first resistor (R1) and the inverting input terminal of the amplifying means (AMP1) is a point a,
  • a second semiconductor element (T2) having two main electrodes connected to the point a and a control electrode connected to the output terminal of the amplification means;
  • a connection point between the second resistor (R2) and the normal rotation input terminal of the amplification means (AMP1) is a point b, a second current source (IB) disposed between the point b and the ground ,
  • the second current source IB causes the second current source IB to
  • the resistor (R2) is energized to generate a voltage drop so that the voltage at the point a and the point c becomes zero.
  • a voltage (V3) at a coupling point (point e) between the second semiconductor element (T2) and the third resistor (R3) is input to one input terminal, and the first semiconductor element (T1)
  • the output signal of the comparison means is at the H level.
  • the current value is inverted from L to L level.
  • the offset voltage Voff exists in the amplifying means (AMP1) and the offset voltage Voff is a positive value (Voff> 0)
  • the first current A current obtained by subtracting the current Ia from the current I1 flowing through the first resistor (R1) by the source (IA) is caused to flow through the third resistor (R3).
  • the offset voltage Voff is a negative value (Voff ⁇ 0)
  • a voltage drop is generated in the second resistor (R2) by the second current source (IB)
  • the voltage Vds and the first resistor Control is performed so that the voltage generated in (R1) becomes equal.
  • the voltage V3 generated in the third resistor (R3) is a voltage from which the influence of the offset voltage Voff has been removed, so that it is possible to perform a highly accurate overcurrent determination with the influence of the offset voltage Voff removed.
  • a voltage represented by (V4 / m) is applied between the first main electrode and the second main electrode of the first semiconductor element (T1).
  • V4 / m a voltage represented by (V4 / m) is applied between the first main electrode and the second main electrode of the first semiconductor element (T1).
  • the output signal of the comparison means (CMP1) is L level
  • the first current source (IA) is installed
  • the output signal of the comparison means (CMP1) is H level
  • 2 current source (IB) is installed to eliminate the influence of the offset voltage Voff. For this reason, it is not necessary to provide two current sources, and the apparatus configuration can be simplified.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a load circuit provided with an overcurrent protection device according to an embodiment of the present invention.
  • the load circuit has a series connection circuit of a battery (power source) VB, a MOSFET (T1) which is a semiconductor element, and a load RL such as a lamp and a motor.
  • the gate of MOSFET (T1) which is a semiconductor element is connected to the driver circuit 10 via resistance R10. Therefore, the driving signal output from the driver circuit 10 can turn on and off the MOSFET (T1), and can switch between driving and stopping of the load RL.
  • the drain (point d; voltage V1) of the MOSFET (T1) is grounded via a series connection circuit of resistors R4 (for example, 112 [K ⁇ ]) and R5 (for example, [8 K ⁇ ]).
  • This drain is grounded via a series connection circuit of a resistor R1 (for example, 5 [K ⁇ ]), a transistor T2, and a resistor R3 (for example, [100 K ⁇ ]), and the connection between the transistor T2 and the resistor R1.
  • the point (point a; voltage Va) is connected to the inverting input terminal of the amplifier AMP1, and the normal input terminal of the amplifier AMP1 is the source of the MOSFET (T1) through the resistor R2 (for example, 5 [K ⁇ ]).
  • the output terminal of the amplifier AMP1 is connected to the gate of the transistor T2, where the amplifier AMP1 is connected to the offset voltage.
  • the offset voltage Voff is described separately from the symbol of the amplifier AMP1, that is, the triangular symbol shown in the amplifier AMP1 is an ideal operational amplifier.
  • connection point (point e; voltage V3) between the transistor T2 and the resistor R3 is connected to the inverting input terminal of the comparator CMP1, and the connection point (point f; voltage V4) between the resistors R4 and R5 is the normal input of the comparator CMP101. Connected to the terminal.
  • a point a which is a connection point between the resistor R1 and the transistor T2 is grounded through a resistor R6 (for example, 5 [K ⁇ ]) and a current source IA. Further, the point b which is the normal rotation input terminal of the amplifier AMP1 is grounded via the current source IB.
  • the current I1 flowing through the resistor R1 is expressed by the following equation (6).
  • the voltage V3 generated in the resistor R3 includes a voltage obtained by multiplying the offset voltage Voff by m, and this voltage causes an error.
  • the current Ia flows through a path of point d ⁇ R1 ⁇ R6 ⁇ IA ⁇ GND.
  • the current I3 flowing through the resistor R3 does not coincide with the current I1, and becomes smaller than the current I1. That is, the current I3 is expressed by the following equation (8).
  • the influence of the offset voltage Voff can be eliminated by determining the current Ia by the above method and flowing the current Ia to the current source IA. .
  • the current Ib also flows through the MOSFET (T1) and causes a voltage drop in the on-resistance Ron.
  • the on-resistance Ron of the MOSFET (T1) has a much smaller resistance value as compared with the resistor R6. Therefore, the voltage drop caused by the current Ib in the on-resistance Ron can be ignored. If the current Ib obtained here is set to the current value of the current source IB, the influence of the offset voltage Voff is eliminated, and the above-described equation (9) is established.
  • the overcurrent protection device for the load circuit even when the offset voltage Voff is present in the amplifier AMP1, the influence of the offset voltage Voff can be removed and overcurrent detection can be performed. Therefore, when an overcurrent flows through the load RL, this can be reliably detected to protect the load circuit. As a result, it is not necessary to increase the diameter of the electric wire in consideration of the overcurrent flowing, so that the diameter of the electric wire used for the load circuit can be reduced.
  • the offset voltage Voff of the amplifier AMP1 does not change from positive to negative, or does not change from negative to positive, and is a numerical value that is permanently determined, and thus one of the two current sources IA and IB. It is sufficient to provide only.
  • both the current source IA and the current source IB shown in FIG. 1 are disconnected from the circuit, and a voltage of (V4 / m) in this state is applied between the drain and source of the MOSFET (T1). Apply.
  • the output signal of the comparator CMP1 becomes L level, it is found that the offset voltage Voff is a positive value (Voff> 0), so that only the current source IA needs to be provided.
  • the overcurrent protection device for the load circuit of the present invention has been described based on the illustrated embodiment, but the present invention is not limited to this, and the configuration of each part is an arbitrary configuration having the same function. Can be replaced by something.
  • the MOSFET (T1) is described as an example of the semiconductor element, but the present invention is not limited to this, and other semiconductor elements can be used.

Abstract

 アンプ(AMP1)のオフセット電圧Voffの影響を受けることなく、高精度な過電流検出が可能な負荷回路の過電流保護装置を提供する。  アンプ(AMP1)にオフセット電圧Voffが存在し、このオフセット電圧Voffが正の値(Voff>0)である場合には、電流源IAにより抵抗R1に流れる電流I1から電流Iaを差し引いた電流を抵抗R3に流すようにする。また、オフセット電圧Voffが負の値(Voff<0)である場合には、電流源IBにより抵抗R2に電圧降下を発生させ、電圧Vdsと抵抗R1に生じる電圧とが等しくなるように制御する。これにより、抵抗R3に生じる電圧V3はオフセット電圧Voffの影響が除去された電圧となるので、オフセット電圧Voffの影響を除去した高精度な過電流判定が可能となる。

Description

負荷回路の過電流保護装置
 本発明は、負荷回路に過電流が流れた際にこれを検知して負荷回路を保護する過電流保護装置に係り、特に、オペアンプが有するオフセット電圧による影響を回避する技術に関する。
 例えば、車両に搭載される各種ランプ、モータ等の負荷は、半導体素子を介してバッテリ(電源)と接続され、該半導体素子のオン、オフを切り換えることにより負荷の動作を制御する。このようなバッテリ、半導体素子、および負荷を含んで構成される負荷回路は、負荷回路または負荷回路に接続された各種回路の故障や動作不良等に起因して過電流が流れる場合がある。過電流が流れた場合には半導体素子が過熱され、且つ、負荷と電源とを接続するハーネスが過熱されるというトラブルが発生する。そこで、過電流が発生した際にいち早くこれを検知して負荷回路へ流れる電流を遮断する過電流保護装置が種々提案されている。
 図2は、従来における過電流保護装置が設けられた負荷回路の構成を示す回路図である(特許文献1参照)。図2に示すように、負荷回路は、バッテリVBと、半導体素子であるMOSFET(T101)と、ランプ、モータ等の負荷RLと、の直列接続回路を有している。そして、MOSFET(T101)のゲートが抵抗R110を介してドライバ回路101に接続されている。従って、ドライバ回路101より出力される駆動信号により、MOSFET(T101)がオン、オフ動作して、負荷RLの駆動、停止を切り換えることができる。
 また、MOSFET(T101)のドレインは、抵抗R104とR105の直列接続回路を介してグランドに接地され、更に、このドレインは、抵抗R101、トランジスタT102、抵抗R103の直列接続回路を介してグランドに接地されている。そして、トランジスタT102と抵抗R101の接続点は、アンプAMP101の反転入力端子に接続され、該アンプAMP101の正転入力端子はMOSFET(T101)のソースに接続される。更に、アンプAMP101の出力端子は、トランジスタT102のゲートに接続されている。
 また、トランジスタ(T2)と抵抗R103との接続点(電圧V3)は、コンパレータCMP101の反転入力端子に接続され、抵抗R104とR105との接続点(電圧V4)はコンパレータCMP101の正転入力端子に接続されている。
 そして、MOSFET(T101)がオンとされて負荷回路に電流IDが流れると、これに伴って抵抗R101、トランジスタT102、抵抗R103からなる直列接続回路に電流I1が流れる。この際、アンプAMP101は、MOSFET(T101)のドレイン~ソース間電圧Vdsと、抵抗R101の両端に生じる電圧が等しくなるように、トランジスタT102に流れる電流I1を制御する。
 従って、抵抗R103に生じる電圧V3は、電圧Vdsをm倍(m=R103/R101)した電圧となる。増幅された電圧V3がコンパレータCMP101の反転入力端子に入力され、コンパレータCMP101の正転入力端子には電圧V1を抵抗R104とR105で分圧した電圧V4が過電流判定電圧として入力される。負荷電流IDが過電流状態になると、電圧Vdsが大きくなり、V3>V4となってコンパレータCMP101出力が反転することにより、過電流状態が検出される。
 ここで、電圧Vdsは、MOSFET(T101)のドレイン電圧をV1、ソース電圧をV2、オン抵抗をRonとすると、以下の(1)式で示される。
 Vds=V1-V2=Ron*ID   ・・・(1)
 電圧Vdsは、抵抗R101、R103、トランジスタT102、アンプAMP101からなる増幅回路で増幅されることになる。ここで、アンプAMP101には、オフセット電圧が存在し、このオフセット電圧の存在により過電流の検出誤差が発生する。以下では、アンプAMP101にオフセット電圧±Voffが存在する場合の検出誤差について検討する。図2ではアンプAMP101を一点鎖線の枠で示し、そのオフセット電圧±Voffをオペアンプの記号から分離して示して記載している。従って、三角形の記号で表されるオペアンプはオフセット電圧ゼロの理想オペアンプである。
 従って、電源VB→R101→T102→R103→GNDの経路を流れる電流I1の大きさは、アンプAMP101とトランジスタT2により常にVa=V2となるように制御される結果として定まる電流値になる。ここで、アンプAMP101のオフセット電圧を±Voffとすると、以下の(2)式が得られる。
 Vds±Voff=R101*I1   ・・・(2)
 抵抗R103の電圧降下V3が、電圧Vdsを増幅した電圧となり、R103/R101=mとすると、電圧V3は以下の(3)式のように示される。
 V3=R103*I1
   =R103/R101*R101*I1
   =R103/R101*(Vds±Voff)
   =m*(Ron*ID±Voff)       ・・・(3)
 (3)式から理解されるように、オフセット電圧(±Voff)をm倍した電圧が、電圧V3に含まれることになり、ばらつきの原因となる。
 増幅された電圧V3がコンパレータCMP101の反転入力端子に入力され、コンパレータCMP101の正転入力端子には、電圧V1を抵抗R104とR105で分圧した電圧V4が過電流判定電圧として入力される。そして、負荷RLに流れる電流IDが過電流状態になると電圧Vdsが大きくなり、V3>V4となってコンパレータCMP101の出力信号が反転することにより、過電流状態が検出される。過電流として検知される電流IDの値をIovcとすると、以下の(4)式が得られる。
 V3=m*(Ron*Iovc±Voff)=V4
 Iovc=V4/m/Ron±Voff/Ron      ・・・(4)
 アンプAMP101にオフセット電圧が無ければ、電流Iovcは、V4、R101、R103、Ronで決定される一定値になるが、アンプAMP101にオフセット電圧(±Voff)が存在すると、過電流検出値Iovcがばらつき、そのばらつき量は、±Voff/Ronとなる。このオフセット電圧Voffに起因するばらつきは、オフセット電圧Voffをオン抵抗Ronで除した一定値になる。
 アンプAMP101のオフセット電圧(±Voff)のばらつき幅は、アンプAMP101がIC化された場合に、IC化プロセスに依存し、通常のICでは±10[mV]程度のばらつき幅となるので、Ron=3[mΩ]とすれば、遮断電流値は±3.3[A]の範囲でばらつくことになる。
日本国特開2002-353794号公報
 上述したように、従来における負荷回路の過電流保護装置は、アンプAMP101にオフセット電圧Voffが存在する場合には、過電流判定値Iovcがこのオフセット電圧Voffの影響を受けてしまい、正確な過電流判定値Iovcで回路を遮断することができないという欠点があった。
 本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、オペアンプのオフセット電圧Voffが過電流の検知に与える影響を回避し、正確な過電流判定値Iovcで負荷回路を遮断することが可能な負荷回路の過電流保護装置を提供することにある。
 (1) 上記目的を達成するため、本発明の負荷回路の過電流保護装置は、
 電源と、負荷と、前記電源と前記負荷の間に配置された第1の半導体素子(T1)とを有し、前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極が前記電源のプラス端子に接続され第2の主電極が前記負荷を介して前記電源のマイナス端子に接続された負荷回路を、過電流から保護する過電流保護装置であって、
 増幅手段(AMP1)と、
 前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極に一端が接続され、その他端が前記増幅手段(AMP1)の反転入力端子に接続された第1の抵抗(R1)と、
 前記第1の半導体素子(T1)の第2の主電極を点cとするとき、前記点cに一端が接続され、その他端が前記増幅手段(AMP1)の正転入力端子に接続された第2の抵抗(R2)と、
 第3の抵抗(R3)と、
 第1の主電極が第3の抵抗(R3)を経由して接地され、前記第1の抵抗(R1)と前記増幅手段(AMP1)の反転入力端子の結合点を点aとするとき、第2の主電極が前記点aに接続され、制御電極が前記増幅手段の出力端子に接続された第2の半導体素子(T2)と、
 前記点aと接地間に配置された第1の電流源(IA)と、
 を備え、
 前記負荷に電流が流れた場合であって前記増幅手段(AMP1)のオフセット電圧により前記点aの電圧が前記点cの電圧(V2)を下回るときには、前記点cと前記点aの間の電圧を前記第1の抵抗(R1)の抵抗値で除した電流に等しい電流を前記第1の電流源IAに通電することを特徴とする。
 (2) また、上記目的を達成するため、本発明の負荷回路の過電流保護装置は、
 電源と、負荷と、前記電源と前記負荷の間に配置された第1の半導体素子(T1)とを有し、前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極が前記電源のプラス端子に接続され第2の主電極が前記負荷を介して前記電源のマイナス端子に接続された負荷回路を、過電流から保護する過電流保護装置であって、
 増幅手段(AMP1)と、
 前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極に一端が接続され、その他端が前記増幅手段(AMP1)の反転入力端子に接続された第1の抵抗(R1)と、
 前記第1の半導体素子(T1)の第2の主電極を点cとするとき、前記点cに一端が接続され、その他端が前記増幅手段(AMP1)の正転入力端子に接続された第2の抵抗(R2)と、
 第3の抵抗(R3)と、
 第1の主電極が第3の抵抗(R3)を経由して接地され、前記第1の抵抗(R1)と前記増幅手段(AMP1)の反転入力端子の結合点を点aとするとき、第2の主電極が前記点aに接続され、制御電極が前記増幅手段の出力端子に接続された第2の半導体素子(T2)と、
 前記第2の抵抗(R2)と前記増幅手段(AMP1)の正転入力端子との結合点を点bとするとき、前記点bと接地間に配置された第2の電流源(IB)と、
 を備え、
 前記負荷に電流が流れた場合であって前記増幅手段(AMP1)のオフセット電圧により前記点aの電圧が前記点cの電圧(V2)を上回るときには、前記第2の電流源IBにより前記第2の抵抗(R2)に通電して電圧降下を発生させ、前記点aと前記点cの電圧がゼロになるようにしたことを特徴とする。
 (3) また、上記(1)の構成の負荷回路の過電流保護装置において、
 前記第2の半導体素子(T2)と前記第3の抵抗(R3)との結合点(点e)の電圧(V3)が一方の入力端子に入力され、前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極の電圧(V1)を抵抗比(R4:R5)で分圧して生成した判定電圧(V4)が他方の入力端子に入力される比較手段(CMP1)、
をさらに備え、
 前記第1の電流源IAに通電する電流値は、前記第3の抵抗値(R3)を前記第1の抵抗値(R1)で除した値(m)で前記判定電圧(V4)を除して得られる電圧と等しい電圧(V4/m)が前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極と第2の主電極間に発生した場合に、前記比較手段(CMP1)の出力信号をLレベルからHレベルに反転させる電流値であることを特徴とする。
 (4) また、上記(2)の構成の負荷回路の過電流保護装置において
 前記第2の半導体素子(T2)と前記第3の抵抗(R3)との結合点(点e)の電圧(V3)が一方の入力端子に入力され、前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極の電圧(V1)を抵抗比(R4:R5)で分圧して生成した判定電圧(V4)が他方の入力端子に入力される比較手段(CMP1)、
をさらに備え、
 前記第2の電流源IBに通電する電流値は、前記第3の抵抗値(R3)を前記第1の抵抗値(R1)で除した値(m)で前記判定電圧(V4)を除して得られる電圧と等しい電圧(V4/m)が前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極と第2の主電極間に発生した場合に、前記比較手段の出力信号がHレベルからLレベルに反転させる電流値であることを特徴とする。
 上記(1)または(2)の構成の発明は、増幅手段(AMP1)にオフセット電圧Voffが存在し、このオフセット電圧Voffが正の値(Voff>0)である場合には、第1の電流源(IA)により第1の抵抗(R1)に流れる電流I1から電流Iaを差し引いた電流を第3の抵抗(R3)に流すようにする。また、オフセット電圧Voffが負の値(Voff<0)である場合には、第2の電流源(IB)により第2の抵抗(R2)に電圧降下を発生させ、電圧Vdsと第1の抵抗(R1)に生じる電圧とが等しくなるように制御する。これにより、第3の抵抗(R3)に生じる電圧V3はオフセット電圧Voffの影響が除去された電圧となるので、オフセット電圧Voffの影響を除去した高精度な過電流判定が可能となる。その結果、過電流が流れることを考慮して電線の径を太くする必要がなくなるため、負荷回路に用いる電線の径を細径化することができる。
 上記(3)または(4)の構成の発明は、第1の半導体素子(T1)の第1の主電極と第2の主電極との間に(V4/m)で示される電圧を印加した際に、比較手段(CMP1)の出力信号がLレベルであった場合には第1の電流源(IA)を設置し、比較手段(CMP1)の出力信号がHレベルであった場合には第2の電流源(IB)を設置して、オフセット電圧Voffの影響を除去する。このため、2つの電流源を設ける必要がなく装置構成を簡素化することができる。
本発明の一実施形態に係る過電流保護装置の構成を示す回路図である。 従来における過電流保護装置の構成を示す回路図である。
 以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る過電流保護装置が設けられた負荷回路の構成を示す回路図である。図1に示すように、負荷回路は、バッテリ(電源)VBと、半導体素子であるMOSFET(T1)と、ランプ、モータ等の負荷RLと、の直列接続回路を有している。そして、半導体素子であるMOSFET(T1)のゲートが抵抗R10を介してドライバ回路10に接続されている。従って、ドライバ回路10より出力される駆動信号により、MOSFET(T1)がオン、オフ動作して、負荷RLの駆動、停止を切り換えることができる。
 また、MOSFET(T1)のドレイン(点d;電圧V1)は、抵抗R4(例えば、112[KΩ])とR5(例えば、[8KΩ]の直列接続回路を介してグランドに接地される。更に、このドレインは、抵抗R1(例えば、5[KΩ])、トランジスタT2、抵抗R3(例えば、[100KΩ])の直列接続回路を介してグランドに接地されている。そして、トランジスタT2と抵抗R1の接続点(点a;電圧Va)は、アンプAMP1の反転入力端子に接続され、該アンプAMP1の正転入力端子は、抵抗R2(例えば、5[KΩ])を介して、MOSFET(T1)のソース(点c;電圧V2)に接続される。更に、アンプAMP1の出力端子は、トランジスタT2のゲートに接続されている。ここで、アンプAMP1はオフセット電圧Voffを有しており、該オフセット電圧VoffをアンプAMP1の記号から切り離して記載している。即ち、アンプAMP1に示される三角形の記号は理想オペアンプである。
 トランジスタT2と抵抗R3との接続点(点e;電圧V3)は、コンパレータCMP1の反転入力端子に接続され、抵抗R4とR5との接続点(点f;電圧V4)はコンパレータCMP101の正転入力端子に接続されている。
 抵抗R1とトランジスタT2の結合点である点aは、抵抗R6(例えば、5[KΩ])と電流源IAを介してグランドに接地されている。また、アンプAMP1の正転入力端子である点bは、電流源IBを介してグランドに接地されている。
 次に、本実施形態に係る過電流保護装置の動作について説明する。いま、アンプAMP1にオフセット電圧Voffが存在しない場合、即ち、Voff=0[V]の場合には、電流源IA、IBの電流をそれぞれIa、Ibとするとき、Ia=Ib=0[A]であってもVa=V2となる。
 このとき、トランジスタT2と抵抗R3の結合点である点eの電圧V3は、m=R3/R1としたとき、以下の(5)式で示される。
 V3=Vds*R3/R1=Vds*m   ・・・(5)
 即ち、電圧V3は、MOSFET(T1)のドレイン~ソース間電圧Vdsを正確に増幅率mで増幅した電圧となる。
 ここで、アンプAMP1にオフセット電圧Voffが存在し、この電圧Voffが正の場合、即ち、Voff>0である場合には、Ia=Ib=0[A]のときには、MOSFET(T1)のソース電圧V2と、点aの電圧Va間の電圧をV2a(=V2-Va)とするとV2a=Voff>0となる。即ち、アンプAMP1は、(Va+Voff)とV2が等しくなるように電流I1を制御するので、V2a=Voffとなる。
 また、抵抗R1を流れる電流I1は、以下の(6)式で示される。
 I1=(Vds+V2a)/R1   ・・・(6)
 そして、この電流I1が抵抗R3に流れるから、電圧V3は以下の(7)式で示される。
 V3=R3*(Vds+V2a)/R1
   =m*(Vds+V2a)
   =m*Vds+m*V2a
   =m*Vds+m*Voff     ・・・(7)
 (7)式より、抵抗R3に生じる電圧V3には、オフセット電圧Voffがm倍された電圧が含まれ、この電圧が誤差を発生する原因となる。
 本実施形態では、この誤差を除去するため、電流源IAにIa=V2a/R1となる電流を通電する。電源線とMOSFET(T1)のドレインとの接続点を点dとすると、電流Iaは点d→R1→R6→IA→GNDの経路で流れる。その結果、抵抗R3に流れる電流I3は電流I1と一致せず、電流I1よりも小さくなる。即ち、電流I3は以下の(8)式で示される。
 I3=I1-Ia=I1-V2a/R1   ・・・(8)
 従って、以下の(9)式が得られる。
 V3=R3*I3
   =R3*(I1-V2a/R1)
   =R3*((Vds+V2a)/R1-V2a/R1)
   =R3*Vds/R1
   =m*Vds    ・・・(9)
 (9)式より、電流源IAに上記の電流Ia(=V2a/R1)を流せば、電圧V3は電圧Vdsを正確にm倍した電圧となり、オフセット電圧Voffの影響が除去されることとなる。
 ここで、Ia(=V2a/R1)となる電流を見つけ出す方法について、以下に説明する。抵抗R6を、抵抗R1と等しい抵抗値に設定すると(R1=R6)、抵抗R6に電流Iaが流れることにより発生する電圧降下VR6は、以下の(10)式で示される。
 VR6=Ia*R6=V2a/R1*R6=V2a   ・・・(10)
 即ち、Ia=V2a/R1となる電流を見つけ出すためには、電流Iaをゼロから徐々に増加させて行き、抵抗R6に発生する電圧降下が電圧V2a、またはオフセット電圧Voffに等しくなるときの電流とすればよいことになる。このとき、コンパレータCMP1の出力信号がLレベルからHレベルに反転することになる。
 こうして、アンプAMP1のオフセット電圧Voffが正の値である場合には、上記の方法で電流Iaを決定し、電流源IAに電流Iaを流すことにより、オフセット電圧Voffによる影響を除去することができる。
 次に、アンプAMP1にオフセット電圧Voffが存在し、このオフセット電圧Voffが負の値である場合、即ち、Voff<0の場合について説明する。この場合において、Ia=Ib=0[A]のときには、MOSFET(T1)のソース電圧V2と点aの電圧Vaとの間の電圧V2aは、V2a=Voff(<0)となる。
 この場合は、電流源IAの電流はIa=0のままにして、電流源IBの電流Ibをゼロから増大させる。電流IbはMOSFET(T1)のソース(点c)→R2→点b→電流源IB→GNDの経路で流れ、抵抗R2に電圧降下VR2を発生させる。従って、電流Ibの大きさを調整することにより、V2a=0とすることができる。このときは、VR2=Voffとなり、さらに、このとき、コンパレータCMP1の出力信号がHレベルからLレベルに反転する。ここで、電流IbはMOSFET(T1)にも流れ、そのオン抵抗Ronに電圧降下を発生させることになるが、MOSFET(T1)のオン抵抗Ronは抵抗R6と対比するとはるかに小さい抵抗値であるから、電流Ibがオン抵抗Ronに発生させる電圧降下は無視できる。ここで得られた電流Ibを電流源IBの電流値に設定すれば、オフセット電圧Voffの影響が除去され、上述の(9)式が成立することになる。
 こうして、オフセット電圧Voffが負の値であっても、該オフセット電圧Voffの影響を除去することができるのである。
 このようにして、本実施形態に係る負荷回路の過電流保護装置では、アンプAMP1にオフセット電圧Voffが存在する場合であっても、このオフセット電圧Voffによる影響を除去して、過電流検出が可能となるので、負荷RLに過電流が流れた際に確実にこれを検出して負荷回路を保護することができる。この結果、過電流が流れることを考慮して電線の径を太くする必要がなくなるため、負荷回路に用いる電線の径を細径化することができる。
 (変形例の説明)
 また、上記した実施形態では、オフセット電圧Voffが正の場合(Voff>0)には、電流源IAを通電させ、オフセット電圧Voffが負の場合(Voff<0)には、電流源IBを通電させることによって、アンプAMP1のオフセット電圧Voffの影響を除去するようにした。つまり、オフセット電圧Voffが正であるか、或いは負であるかに応じて、2つの電流源IA、IBのうちのいずれか一方を用いる構成としている。
 ここで、アンプAMP1のオフセット電圧Voffは、正から負に変わることや、負から正に変わることは無く恒久的に決定する数値であるので、2つの電流源IA、IBのうちのいずれか一方のみを設ければ良いことになる。
 そこで、本発明の変形例では、図1に示す電流源IA、及び電流源IBの双方を回路から切り離し、この状態で(V4/m)となる電圧をMOSFET(T1)のドレイン~ソース間に印加する。このとき、コンパレータCMP1の出力信号がLレベルになったならば、オフセット電圧Voffは正の値(Voff>0)であることが判明するので、電流源IAのみを設ければ良い。
 他方、コンパレータCMP1の出力信号がHレベルとなったならば、オフセット電圧Voffは負の値(Voff<0)であることが判明するので、電流源IBのみを設ければ良い。このような方法を用いることにより、図1に示したように、2個の電流源IA、IBを用いる必要がなくなるので、回路構成を簡素化することができ、低コスト、省スペース化を図ることができる。
 以上、本発明の負荷回路の過電流保護装置を図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置き換えることができる。
 例えば、上述した実施形態では、半導体素子としてMOSFET(T1)を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、他の半導体素子を用いることも可能である。
 本発明を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。
 本出願は、2008年6月4日出願の日本特許出願(特願2008-147255)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
 オフセット電圧によるオペアンプ出力のばらつきを抑制する上で、極めて有用である。
 10 ドライバ回路
 VB バッテリ(電源)
 RL 負荷
 CMP1 コンパレータ
 AMP1 アンプ(増幅手段)
 T1 MOSFET(第1の半導体素子)

Claims (4)

  1.  電源と、負荷と、前記電源と前記負荷の間に配置された第1の半導体素子(T1)とを有し、前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極が前記電源のプラス端子に接続され第2の主電極が前記負荷を介して前記電源のマイナス端子に接続された負荷回路を、過電流から保護する過電流保護装置であって、
     増幅手段(AMP1)と、
     前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極に一端が接続され、その他端が前記増幅手段(AMP1)の反転入力端子に接続された第1の抵抗(R1)と、
     前記第1の半導体素子(T1)の第2の主電極を点cとするとき、前記点cに一端が接続され、その他端が前記増幅手段(AMP1)の正転入力端子に接続された第2の抵抗(R2)と、
     第3の抵抗(R3)と、
     第1の主電極が第3の抵抗(R3)を経由して接地され、前記第1の抵抗(R1)と前記増幅手段(AMP1)の反転入力端子の結合点を点aとするとき、第2の主電極が前記点aに接続され、制御電極が前記増幅手段の出力端子に接続された第2の半導体素子(T2)と、
     前記点aと接地間に配置された第1の電流源(IA)と、
     を備え、
     前記負荷に電流が流れた場合であって前記増幅手段(AMP1)のオフセット電圧により前記点aの電圧が前記点cの電圧(V2)を下回るときには、前記点cと前記点aの間の電圧を前記第1の抵抗(R1)の抵抗値で除した電流に等しい電流を前記第1の電流源IAに通電することを特徴とする負荷回路の過電流保護装置。
  2.  電源と、負荷と、前記電源と前記負荷の間に配置された第1の半導体素子(T1)とを有し、前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極が前記電源のプラス端子に接続され第2の主電極が前記負荷を介して前記電源のマイナス端子に接続された負荷回路を、過電流から保護する過電流保護装置であって、
     増幅手段(AMP1)と、
     前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極に一端が接続され、その他端が前記増幅手段(AMP1)の反転入力端子に接続された第1の抵抗(R1)と、
     前記第1の半導体素子(T1)の第2の主電極を点cとするとき、前記点cに一端が接続され、その他端が前記増幅手段(AMP1)の正転入力端子に接続された第2の抵抗(R2)と、
     第3の抵抗(R3)と、
     第1の主電極が第3の抵抗(R3)を経由して接地され、前記第1の抵抗(R1)と前記増幅手段(AMP1)の反転入力端子の結合点を点aとするとき、第2の主電極が前記点aに接続され、制御電極が前記増幅手段の出力端子に接続された第2の半導体素子(T2)と、
     前記第2の抵抗(R2)と前記増幅手段(AMP1)の正転入力端子との結合点を点bとするとき、前記点bと接地間に配置された第2の電流源(IB)と、
     を備え、
     前記負荷に電流が流れた場合であって前記増幅手段(AMP1)のオフセット電圧により前記点aの電圧が前記点cの電圧(V2)を上回るときには、前記第2の電流源IBにより前記第2の抵抗(R2)に通電して電圧降下を発生させ、前記点aと前記点cの電圧がゼロになるようにしたことを特徴とする負荷回路の過電流保護装置。
  3.  請求項1に記載の負荷回路の過電流保護装置において、
     前記第2の半導体素子(T2)と前記第3の抵抗(R3)との結合点(点e)の電圧(V3)が一方の入力端子に入力され、前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極の電圧(V1)を抵抗比(R4:R5)で分圧して生成した判定電圧(V4)が他方の入力端子に入力される比較手段(CMP1)、
    をさらに備え、
     前記第1の電流源IAに通電する電流値は、前記第3の抵抗値(R3)を前記第1の抵抗値(R1)で除した値(m)で前記判定電圧(V4)を除して得られる電圧と等しい電圧(V4/m)が前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極と第2の主電極間に発生した場合に、前記比較手段(CMP1)の出力信号をLレベルからHレベルに反転させる電流値であることを特徴とする負荷回路の過電流保護装置。
  4.  請求項2に記載の負荷回路の過電流保護装置において、
     前記第2の半導体素子(T2)と前記第3の抵抗(R3)との結合点(点e)の電圧(V3)が一方の入力端子に入力され、前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極の電圧(V1)を抵抗比(R4:R5)で分圧して生成した判定電圧(V4)が他方の入力端子に入力される比較手段(CMP1)、
    をさらに備え、
     前記第2の電流源IBに通電する電流値は、前記第3の抵抗値(R3)を前記第1の抵抗値(R1)で除した値(m)で前記判定電圧(V4)を除して得られる電圧と等しい電圧(V4/m)が前記第1の半導体素子(T1)の第1の主電極と第2の主電極間に発生した場合に、前記比較手段の出力信号がHレベルからLレベルに反転させる電流値であることを特徴とする負荷回路の過電流保護装置。
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