WO2008031981A2 - Procede de soudage d'un organe sur un support par apport de matiere et dispositif d'agencement de deux elements l'un sur l'autre - Google Patents

Procede de soudage d'un organe sur un support par apport de matiere et dispositif d'agencement de deux elements l'un sur l'autre Download PDF

Info

Publication number
WO2008031981A2
WO2008031981A2 PCT/FR2007/051904 FR2007051904W WO2008031981A2 WO 2008031981 A2 WO2008031981 A2 WO 2008031981A2 FR 2007051904 W FR2007051904 W FR 2007051904W WO 2008031981 A2 WO2008031981 A2 WO 2008031981A2
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
mass
support
force
during
intensity
Prior art date
Application number
PCT/FR2007/051904
Other languages
English (en)
Other versions
WO2008031981A3 (fr
Inventor
Jean-Michel Morelle
Laurent Vivet
Mathieu Medina
Sandra Dimelli
Original Assignee
Valeo Electronique Et Systemes De Liaison
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Valeo Electronique Et Systemes De Liaison filed Critical Valeo Electronique Et Systemes De Liaison
Priority to JP2009527866A priority Critical patent/JP5399247B2/ja
Priority to US12/310,907 priority patent/US20100089879A1/en
Priority to EP07823800A priority patent/EP2064017A2/fr
Publication of WO2008031981A2 publication Critical patent/WO2008031981A2/fr
Publication of WO2008031981A3 publication Critical patent/WO2008031981A3/fr
Priority to US13/672,400 priority patent/US8952288B2/en

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/20—Preliminary treatment of work or areas to be soldered, e.g. in respect of a galvanic coating
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/005—Soldering by means of radiant energy
    • B23K1/0056—Soldering by means of radiant energy soldering by means of beams, e.g. lasers, E.B.
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/20—Bonding
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K3/00—Tools, devices, or special appurtenances for soldering, e.g. brazing, or unsoldering, not specially adapted for particular methods
    • B23K3/08—Auxiliary devices therefor
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K37/00—Auxiliary devices or processes, not specially adapted to a procedure covered by only one of the preceding main groups
    • B23K37/04—Auxiliary devices or processes, not specially adapted to a procedure covered by only one of the preceding main groups for holding or positioning work
    • B23K37/0408—Auxiliary devices or processes, not specially adapted to a procedure covered by only one of the preceding main groups for holding or positioning work for planar work
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341—Surface mounted components
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3478—Applying solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00—Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36—Electric or electronic devices
    • B23K2101/40—Semiconductor devices
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/741—Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
    • H01L2224/743—Apparatus for manufacturing layer connectors
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/831—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/83101—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus as prepeg comprising a layer connector, e.g. provided in an insulating plate member
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11—Device type
    • H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204—Optical Diode
    • H01L2924/12042—LASER
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/01—Tools for processing; Objects used during processing
    • H05K2203/0195—Tool for a process not provided for in H05K3/00, e.g. tool for handling objects using suction, for deforming objects, for applying local pressure
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/02—Details related to mechanical or acoustic processing, e.g. drilling, punching, cutting, using ultrasound
    • H05K2203/0278—Flat pressure, e.g. for connecting terminals with anisotropic conductive adhesive
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/04—Soldering or other types of metallurgic bonding
    • H05K2203/0415—Small preforms other than balls, e.g. discs, cylinders or pillars
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/08—Treatments involving gases
    • H05K2203/082—Suction, e.g. for holding solder balls or components
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/10—Using electric, magnetic and electromagnetic fields; Using laser light
    • H05K2203/107—Using laser light
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16—Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/163—Monitoring a manufacturing process
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3485—Applying solder paste, slurry or powder
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Definitions

  • the present invention relates to a method of welding a member on a support by adding material and a device for arranging two elements one on the other.
  • the solder mass is in the form of a solder paste or a thin ribbon cut into a disk or rectangle that is deposited between the semiconductor chip and the support.
  • the member is deposited precisely on the solder mass in an initial position ensuring a parallelism between the pellet and the support.
  • the mass melts and allows, on cooling, the assembly of the pellet on the support.
  • a laser beam is directed on a first face of the support opposite to a second face of the support carrying the mass, to the right of this mass and the heat generated by the impact of the beam on the support propagates inside the support to the ground.
  • the contact surfaces between the solder mass and the pellet on the one hand and the support and the solder mass on the other hand are relatively irregular, which makes it difficult to transfer heat from the support to the pellet during the heating step.
  • the intensity value of this compressive force should be chosen relatively low so as not to damage the semiconductor chip during compression.
  • the temperature of the assembly comprising the pellet, the mass and the support is not homogeneous during the heating step and the seal resulting from the cooling of the solder mass can then have defects, such as in particular a non-uniform thickness.
  • the purpose of the invention is in particular to improve the quality of the seal of the pellet and the support resulting from the cooling of the solder mass.
  • the subject of the invention is a welding method of the aforementioned type, characterized in that, before the heating step, it comprises the following steps of arranging on the support of the mass and the member of: placing the mass on the support, applying to the mass a first force of compression of the mass against the support, the intensity of the first force increasing to a first predetermined value chosen so as to smooth the mass forming a solder, placing the member on the flattened mass, and applying on the member a second compressive force of the member against the flattened mass and the support, the intensity of the second force increasing up to to a second predefined value, the second predefined value being lower than the first predefined value.
  • the welding method of the invention makes it possible to take into account the difference in compressive strength of the pellet and the solder mass. .
  • the intensity of the first compression force has for example a value of 50 grams-force and the intensity of the second compressive force has a value of 10 grams-force.
  • a relatively high value can be chosen to sufficiently smooth the mass and thus improve the heat transfer between the support and the mass.
  • the second preset value can be chosen relatively low. As a result, the chip is protected from damage due to too much compression force intensity.
  • the mass and the support by applying a second compressive force on the pellet, the mass and the support, the heat transfer is optimized between the support and the pellet.
  • the mass is moved towards the support until a position of contact of the mass with the support is detected and during the step of application, the intensity of the first force is increased from a substantially zero initial value set upon detection of the contact position to the first predetermined value.
  • the member is moved towards the flattened mass until a contact position of the member with the flattened mass is detected and during the application step, the intensity of the second force is increased from a substantially zero initial value set during the detection of the contact position to the second predefined value.
  • the steps of detecting a contact position and applying a compression force intensity of substantially zero initial value can effectively control the compression of the mass against the support and the pellet against the flattened mass and the support.
  • a welding method may further comprise one or more of the following features: increasing the intensity of the first and / or the second compression force in increments of the value of the intensity up to the first and / or second predefined value; during the heating step, maintaining the relative position of the member against the constant support; during the heating step, a laser beam is directed on a first face of the support opposite to a second face of this support carrying the mass, in line with this mass, during a period of irradiation of the support by the beam, and maintaining the relative position of the member against constant support, at least during the irradiation period; the first predefined value is determined according to a critical lower limit of the thickness of the mass at the end of the step of applying the first force; the second predefined value is less than a critical value of damaging the organ; the organ is a semiconductor chip.
  • the invention also relates to a device for arranging a first element on a second element comprising means for moving the first element on the second element, -AT-
  • compression means of the first element against the second element characterized in that it further comprises means for detecting a contact position of the first element on the second element, counterweight means of the displacement means, and means controlling the compression means and the counterweight means according to the detection of the contact position.
  • An arrangement according to the invention further comprises one or more of the features according to which: the moving means comprise gripping means of the first element of the suction type; the displacement means carry infrared-type temperature measuring means comprising an optical fiber extending in a suction duct of the gripping means; the detection means are chosen from a capacitive type contact detector and a pressure sensor; the device is for arranging a first element selected from a solder mass and a semiconductor chip on a second support member.
  • FIG. 1 is a diagram of a welding installation comprising a device for arrangement according to the invention
  • Figures 2 to 8 are front views of the arrangement of Figure 1 device, illustrating different steps of a method of welding a pellet on a support according to the invention.
  • FIG. 1 There is shown in Figure 1 a welding installation. This welding installation is designated by the general reference 10.
  • the installation 10 makes it possible to weld a member 12 on a support 14 by adding a solder mass 16.
  • the member 12 is a semiconductor chip, of conventional type.
  • the brazing mass 16 is in the form of a solder paste or a thin ribbon cut into a disc or rectangle.
  • the support 14 comprises a metal part PM, in particular made of copper, partially bordered by a part PS made of synthetic material forming part of a protective case of the semiconductor chip 12 carried by the support 14.
  • the support 14 comprises first opposed faces S1 and second S2, the solder mass 16 being intended to be borne by the second face S2 of the metal part PM of the support 14.
  • the second face S2 is covered with a thin nickel layer.
  • the welding installation 10 also comprises an arrangement device 18 of a first element chosen from the solder mass 16 and the semiconductor chip. 12 on a second support member (such as support 14).
  • the arrangement device 18 comprises means 20 for moving the pellet 12 or the mass 16 on the second support element.
  • the displacement means 20 comprise articulated means 22 for moving the pellet 12 or the mass 16 in a horizontal plane substantially parallel to the X and Y axes and in a vertical direction substantially parallel to an axis Z.
  • the displacement means 20 further comprise gripping means 24 of the first element 12 or 16.
  • the gripping means 24 are of the suction type.
  • the gripping means 24 comprise a suction duct 26 connected to suction means 28 comprising for example a vacuum pump.
  • the displacement means 20 comprise means 30 for connecting the articulated means 22 and gripping means 24, capable of adopting an active state in which the means 24 are integral with the means articulated 22 and a state of rest in which the means 24 are separated from the articulated means 22.
  • connecting means 30 comprise, for example, first 32A and second 32B linear actuator arms with horizontal action (in this example parallel to the Y axis), fixed to the articulated means 22 provided with first 34A and second 34B clamping jaws (FIG. at 8).
  • the actuator arms 32 are of the pneumatic linear rod type.
  • Each jaw 34A, 34B is attached to one end of the corresponding rod 32A, 32B.
  • the clamping jaws 34 are intended to grip the gripping means 24 and in the idle state of the connecting means 30, the clamping jaws 34 are intended to release the gripping means 24.
  • the arrangement device 18 further comprises means 36 for compressing the first element against the second element intended to apply a compressive force of the first element against the second element.
  • the compression means 36 comprise, for example, first 38A and second 38B vertically acting linear actuator arms (in the example parallel to the Z axis), fixed to the articulated means 22.
  • the actuator arms 38 are intended to apply a force of vertical direction of compression of the first element against the second element by exerting a vertical thrust on the gripping means 24.
  • Each actuator arm 38 is also of the pneumatic linear rod type.
  • the actuator arms 38 are intended to adopt a state of rest in which the rod of each cylinder is retracted and a working state in which the rod of each cylinder is output.
  • the gripping means 24, integral with the rods of the jacks, are driven in displacement by the rods of the jacks, so that they are intended to go up when the actuator arm cylinders 38 go from an active state to a state of rest and to descend in the opposite case.
  • the device 18 also comprises means 40 for adjusting the intensity of the compressive force (shown in FIG. 1).
  • the arrangement device 18 also comprises means 42 for detecting a contact position of the first element on the second element.
  • the detection means 42 preferably comprise a pressure sensor integrated in the gripping means 24.
  • the detection means 42 comprise a capacitive type contact detector.
  • the arrangement device 18 also comprises counterweight means (not shown) for the displacement means 20.
  • the means form a counterweight to the gripping means 24 and form an element of the compression means 36, more particularly an element of the actuator arms 38.
  • the arrangement device 18 also comprises means 44 for controlling the compression means 36 and counterweight means as a function of the detection of the position of contact by the means 42.
  • the installation 10 In order to heat the solder mass 16 for the welding of the chip 12 on the support 14, the installation 10 also comprises a heat source (not shown), such as for example a laser source emitting a laser beam 46.
  • the installation 10 also comprises means 48 for focusing the laser beam 46 at a focusing point 50 to the right of the solder mass 16.
  • the displacement means 20 carry means 52 for measuring the temperature of the infrared type (FIG. 1).
  • the measuring means 52 comprise an optical fiber 54 extending in the suction duct 26 of the gripping means 24.
  • the measuring means 52 also comprise an infrared pyrometer 56 connected to the optical fiber 54.
  • this method comprises steps of arranging the member 12 and the mass 16 on the support 14.
  • the mass 16 is placed on the support 12.
  • the brazing mass 16 has a relatively initial general shape. irregular.
  • the clamping jaws 34 grip the gripping means 24 so that the gripping means 24 are integral with the articulated means 22. Moreover, the actuator arms 38 are in their rest state. The displacement of the gripping means 24 is therefore relatively precise because perfectly controlled by the articulated means 22.
  • the gripping means 24 grip the solder mass 16 by suction.
  • the displacement means 20 then move relatively rapidly, horizontally and vertically, the mass 16 to a first predefined position Po of coordinates X 0 , Y 0 and Z 0 .
  • the coordinates Xo, Yo are predetermined as a function of the electrical connector positions of the support 14 (not shown) intended for the electrical connection of the wafer 12.
  • the coordinate Z 0 is chosen so that the support 14 and the mass 16 are sufficiently distant to avoid accidental contact between these two elements.
  • the means 20 progressively move the mass 16 in the vertical direction Z until a contact position of the mass 16 with the support 14 is detected.
  • the means 44 control the activation of the compression means 36.
  • the compression means 36 apply to the mass 16 a first compression force F1 of the mass 16 against the support 14 via the gripping means 24.
  • the connecting means 30 of the articulated means 22 and the gripping means 24 are in the idle state.
  • the gripping means 24 are therefore no longer integral with the articulated means 22.
  • the actuator arms 38 then exert a vertical thrust in the direction defined by the Z axis, on the gripping means 24 so as to apply the compression force F1 on the mass 16 against the support 14.
  • the compression means 36 increase the intensity of the first force F1 to a first predetermined value chosen to smooth the solder mass 16.
  • the means 44 also control the activation of the counterweight means of the gripping means 24 during the detection of the contact position.
  • the activation of the counterweight means thus makes it possible to overcome the gravitational force of the gripping means 24 exerted on the mass 16.
  • the compression means 36 increase the intensity of the first force F1 from the initial value substantially zero, set during the detection of the contact position, up to the first predefined value.
  • the intensity of the first compression force F1 is increased by incrementing the intensity value to the first predefined value.
  • the gripping means 24 descend to a position P1 corresponding to a length I 1 of output of the rods of the cylinders 38 necessary to reach the first predetermined value of the intensity of the compression force F1.
  • the first predefined value is about 50 grams-force.
  • the solder mass 16 has an initial thickness, prior to the compression force applying step, of about 100 microns.
  • the first predefined value is determined as a function of the critical lower limit of the thickness of the mass 16 at the end of the step of applying the first force F1.
  • this critical lower limit of thickness is defined as a limiting thickness below which the seal resulting from the cooling of mass 16 may have a relatively brittle structure.
  • the critical lower limit of the thickness of the mass is about 70 microns.
  • the suction means 52 are then deactivated so that the gripping means 24 release the mass 16 (FIG. 4).
  • the actuator arms 38 then go from their active state to their idle state, so that the gripping means 24 go up.
  • the connection means 30 of the gripping means 24 including in particular the clamping jaws 34 are activated so that the gripping means 24 are again integral with the articulated means 22.
  • the semiconductor chip 12 is placed on the flattened mass 16.
  • the displacement means 20 move to grip the pellet 12 by suction.
  • the displacement means 20 move relatively relatively quickly, horizontally and vertically, the pellet 12 to the predefined position Po of coordinates X 0 , Y 0 , Z 0 . In this position, the pellet 12 is not in contact with the mass 16.
  • the means 20 progressively move the pellet 12 in the vertical direction Z until a position of contact of the pellet 12 with the flattened mass 16 is detected.
  • the means 44 control the activation of the compression means 36.
  • the compression means 36 apply a second layer to the pellet 12. compression force F2 of the pellet 12 against the flattened mass 16 and the support 14.
  • the compression means 36 increase the intensity of the second force F2 to a second predefined value lower than the first predefined value.
  • the second predefined value is less than a critical value of damage to the wafer 12.
  • the second predefined value is about 10 grams-force.
  • the means 44 also control the activation of the counterweight means of the compression means. 24. Activation of counterbalancing means and adjustment of value the intensity of the second force through the adjustment means 40 to adjust the initial value to a substantially zero value.
  • the intensity of the second force F2 is then increased from the initial substantially zero value, set during the detection of the contact position, to the second predefined value.
  • the intensity of the second compression force F2 is increased by incrementing the intensity value to the second predefined value.
  • the gripping means 24 descend to a position P2 corresponding to a length I 2 of the output of the rods of the cylinders 38 necessary to reach the second predetermined value of the intensity of the compression force F2.
  • the method further comprises a step of heating the solder mass 16 illustrated in FIG. 7.
  • the laser beam 46 is directed on the first face S1 of the support 14. More precisely, the laser beam 46 is directed to the right of the solder mass 16 during a period of irradiation of the support 14 by beam 46.
  • the heat generated at the irradiation point 50 of the support 14 by the laser beam 46 propagates inside the support 14 until reaching the solder mass 16 and the pellet 12.
  • the relative position of the wafer 12 and the constant support 14 is maintained, at least during the period of irradiation of the support 14 by the laser beam 46.
  • the gripping means 24 are locked in the position P2.
  • the control means 44 deactivate the compression means 36 while maintaining the output length I 2 of the rods of the cylinders 38, and the clamping jaws 34 are activated.
  • the mass 16 Before the heating step, the mass 16 is relatively hard.
  • the intensity force F2 at the second predefined value is compensated, in a conventional manner, by a reaction force of the mass 16 and the pellet 12 on the gripping means 24 of intensity equal to that of the force F2.
  • the gripping means 24 are held in the position P2. Due to the softening of mass 16, the intensity of the reaction force the weight 16 and the pellet 12 on the gripping means 24 decreases until reaching a zero value when the mass 16 is liquid. As the compression means 36 are deactivated, the value of the intensity of the force F2 exerted by the gripping means 24 on the pellet 12 and the mass 16 decreases in a similar manner.
  • the relative position of the pellet 12 and the support 14 is maintained constant until the brazing mass 16 is cooled.
  • the optical fiber 54 collects the infrared flux emitted by the patch 12 and transmits it to the pyrometer 56.
  • the pyrometer 56 then converts the collected luminous flux into a temperature value.
  • the suction means 28 are disabled and the gripping means 24 release the wafer 12.
  • the coupling means 30 are deactivated and the jaws 34 release the gripping means 24
  • the rods of the cylinders 38 are retracted so that the gripping means 24 go up.
  • the coupling means 30 are then activated again and the articulated means 22 can cause the gripping means 24 to move in movement, for example for the arrangement and the welding of a new element on the support 14.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Lining Or Joining Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Pressure Welding/Diffusion-Bonding (AREA)
  • Ceramic Products (AREA)

Abstract

Ce procédé comprend une étape de chauffage d'une masse (16) formant brasure. Conformément à l'invention, avant l'étape de chauffage, il comprend des étapes d'agencement sur le support (14) de la masse (16) et de l'organe (12). En particulier, il comprend une étape de mise en place de la masse (16) sur le support (14) et une étape d'application sur la masse (16) d'une première force (F1) de compression de la masse (16) contre le support (14), l'intensité de la première force (F1) augmentant jusqu'à une première valeur prédéfinie choisie de manière à aplanir la masse (16). Ensuite, le procédé comprend une étape de mise en place de l'organe (12) sur la masse aplanie (16) et une étape d'application sur l'organe (12) d'une deuxième force (F2) de compression de l'organe (12) contre la masse aplanie (16) et le support (14), l'intensité de la deuxième force (F2) augmentant jusqu'à une deuxième valeur prédéfinie, la deuxième valeur prédéfinie étant inférieure à la première valeur prédéfinie.

Description

Procédé de soudage d'un organe sur un support par apport de matière et dispositif d'agencement de deux éléments l'un sur l'autre.
La présente invention concerne un procédé de soudage d'un organe sur un support par apport de matière et un dispositif d'agencement de deux éléments l'un sur l'autre.
Elle s'applique plus particulièrement au soudage d'un organe tel qu'une pastille semi-conductrice sur un support .
On connaît déjà dans l'état de la technique, un procédé de soudage d'un organe sur un support par apport de matière d'une masse formant brasure, du type comprenant une étape de chauffage de la masse.
De façon classique, la masse formant brasure se présente sous forme d'une pâte à braser ou d'un fin ruban découpé en disque ou en rectangle que l'on dépose entre la pastille semi-conductrice et le support.
En général, avant l'étape de chauffage, on dépose l'organe précisément sur la masse formant brasure dans une position initiale garantissant un parallélisme entre la pastille et le support.
Lorsque l'on chauffe la masse formant brasure à une température supérieure ou égale à la température de fusion de la brasure, la masse fond et permet, en refroidissant, l'assemblage de la pastille sur le support.
Par exemple, pour chauffer la brasure, on dirige un faisceau laser sur une première face du support opposée à une seconde face du support portant la masse, au droit de cette masse et la chaleur générée par l'impact du faisceau sur le support se propage à l'intérieur du support jusqu'à la masse.
En général, les surfaces de contact entre la masse formant brasure et la pastille d'une part et le support et la masse formant brasure d'autre part sont relativement irrégulières ce qui rend difficile le transfert de chaleur du support vers la pastille au cours de l'étape de chauffage.
De ce fait, habituellement, afin d'améliorer le transfert de chaleur entre la pastille et le support, lors du positionnement de la pastille avant l'étape de chauffage, on applique une force de compression sur l'ensemble comprenant la pastille, la masse formant brasure et le support afin d'éliminer autant que possible les irrégularités de surface.
La valeur de l'intensité de cette force de compression doit être choisie relativement peu élevée afin de ne pas endommager la pastille semi-conductrice lors de la compression.
Or, du fait que la valeur de l'intensité de la force est relativement peu élevée, il subsiste des irrégularités qui rendent le transfert de chaleur parfois insuffisant au cours de l'étape de chauffage. Par conséquent, la température de l'ensemble comprenant la pastille, la masse et le support n'est pas homogène au cours de l'étape de chauffage et le joint résultant du refroidissement de la masse formant brasure peut alors présenter des défauts, tels que notamment une épaisseur non uniforme.
L'invention a notamment pour but d'améliorer la qualité du joint de la pastille et du support résultant du refroidissement de la masse formant brasure.
A cet effet, l'invention a pour objet un procédé de soudage du type précité, caractérisé en ce que avant l'étape de chauffage, il comprend les étapes suivantes d'agencement sur le support de la masse et de l'organe de : mise en place de la masse sur le support, application sur la masse d'une première force de compression de la masse contre le support, l'intensité de la première force augmentant jusqu'à une première valeur prédéfinie choisie de manière à aplanir la masse formant brasure, mise en place de l'organe sur la masse aplanie, et application sur l'organe d'une deuxième force de compression de l'organe contre la masse aplanie et le support, l'intensité de la deuxième force augmentant jusqu'à une deuxième valeur prédéfinie, la deuxième valeur prédéfinie étant inférieure à la première valeur prédéfinie.
Comme la première valeur prédéfinie de la première force est supérieure à la deuxième valeur prédéfinie de la deuxième force, le procédé de soudage de l'invention permet de tenir compte de la différence de résistance à la compression de la pastille et de la masse formant brasure.
L'intensité de la première force de compression a par exemple une valeur de 50 grammes-force et l'intensité de la deuxième force de compression a une valeur de 10 grammes-force.
Du fait que, dans un premier temps, l'on applique la première force de compression à la masse formant brasure sans la pastille, on peut choisir une valeur relativement élevée pour aplanir suffisamment la masse et ainsi améliorer le transfert de chaleur entre le support et la masse.
Dans un deuxième temps, on applique alors la deuxième force de compression de l'organe contre la masse aplanie et le support, la deuxième valeur prédéfinie peut être choisie relativement faible. De ce fait, la pastille est protégée d'un endommagement due à une intensité de force de compression de valeur trop élevée.
Par ailleurs, en appliquant une deuxième force de compression sur la pastille, la masse et le support, le transfert thermique est optimisé entre le support et la pastille. De préférence, lors de l'étape de mise en place de la masse sur le support, on déplace la masse vers le support jusqu'à détection d'une position de contact de la masse avec le support et lors de l'étape d'application, on augmente l'intensité de la première force d'une valeur initiale sensiblement nulle réglée lors de la détection de la position de contact jusqu'à la première valeur prédéfinie.
De façon analogue, lors de l'étape de mise en place de l'organe sur la masse aplanie, on déplace l'organe vers la masse aplanie jusqu'à détection d'une position de contact de l'organe avec la masse aplanie et lors de l'étape d'application, on augmente l'intensité de la deuxième force d'une valeur initiale sensiblement nulle réglée lors de la détection de la position de contact jusqu'à la deuxième valeur prédéfinie.
Ainsi, les étapes de détection d'une position de contact et d'application d'une force de compression d'intensité de valeur initiale sensiblement nulle permettent de maîtriser efficacement la compression de la masse contre le support et de la pastille contre la masse aplanie et le support.
Un procédé de soudage selon l'invention peut en outre comporter l'une ou plusieurs des caractéristiques suivantes : on augmente l'intensité de la première et/ou de la deuxième force de compression par pas d'incrémentation de la valeur de l'intensité jusqu'à la première et/ou la deuxième valeur prédéfinie ; au cours de l'étape de chauffage, on maintient la position relative de l'organe contre le support constante ; au cours de l'étape de chauffage, on dirige un faisceau laser sur une première face du support opposée à une seconde face de ce support portant la masse, au droit de cette masse, pendant une période d'irradiation du support par le faisceau, et on maintient la position relative de l'organe contre le support constante, au moins pendant la période d'irradiation ; la première valeur prédéfinie est déterminée en fonction d'une limite inférieure critique de l'épaisseur de la masse à l'issue de l'étape d'application de la première force ; la deuxième valeur prédéfinie est inférieure à une valeur critique d'endommagement de l'organe ; l'organe est une pastille semi-conductrice.
L'invention a encore pour objet un dispositif d'agencement d'un premier élément sur un deuxième élément comprenant des moyens de déplacement du premier élément sur le deuxième élément, -A-
des moyens de compression du premier élément contre le deuxième élément, caractérisé en ce qu'il comprend encore des moyens de détection d'une position de contact du premier élément sur le deuxième élément, des moyens formant contrepoids des moyens de déplacement, et des moyens de pilotage des moyens de compression et des moyens formant contrepoids en fonction de la détection de la position de contact. Un dispositif d'agencement selon l'invention comporter en outre l'une ou plusieurs des caractéristiques selon lesquelles : les moyens de déplacement comprennent des moyens de préhension du premier élément du type à aspiration ; les moyens de déplacement portent des moyens de mesure de la température du type à infrarouge comportant une fibre optique s'étendant dans un conduit d'aspiration des moyens de préhension ; les moyens de détection sont choisis parmi un détecteur à contact de type capacitif et un capteur de pression ; le dispositif est destiné à agencer un premier élément choisi parmi une masse formant brasure et une pastille semi-conductrice sur un second élément formant support.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple et faite en se référant aux dessins dans lesquels : la figure 1 est un schéma d'une installation de soudage comprenant un dispositif d'agencement selon l'invention ; les figures 2 à 8 sont des vues de face du dispositif d'agencement de la figure 1 , illustrant différentes étapes d'un procédé de soudage d'une pastille sur un support selon l'invention.
On a représenté sur la figure 1 une installation de soudage. Cette installation de soudage est désignée par la référence générale 10.
L'installation 10 permet de souder un organe 12 sur un support 14 par apport d'une masse formant brasure 16.
Dans l'exemple décrit, l'organe 12 est une pastille semi-conductrice, de type classique. De façon connue en soi, la masse formant brasure 16 se présente sous forme de pâte à braser ou d'un fin ruban découpé en disque ou en rectangle.
Dans cet exemple, le support 14 comporte une partie métallique PM, notamment en cuivre, bordée partiellement par une partie PS en matériau synthétique formant une partie d'un boîtier de protection de la pastille semi-conductrice 12 portée par le support 14. Le support 14 comporte des première S1 et seconde S2 faces opposées, la masse formant brasure 16 étant destinée à être portée par la seconde face S2 de la partie métallique PM du support 14. De préférence, la seconde face S2 est recouverte d'une fine couche de nickel.
Afin d'agencer avec précision la pastille 12 et la masse 16 sur le support 14, l'installation de soudage 10 comprend également un dispositif d'agencement 18 d'un premier élément choisi parmi la masse formant brasure 16 et la pastille semi-conductrice 12 sur un deuxième élément formant support (tel que le support 14).
Le dispositif d'agencement 18 comprend des moyens 20 de déplacement de la pastille 12 ou de la masse 16 sur le deuxième élément formant support. Dans cet exemple, les moyens de déplacement 20 comprennent des moyens 22 articulés pour le déplacement de la pastille 12 ou de la masse 16 dans un plan horizontal sensiblement parallèle à des axes X et Y et dans une direction verticale sensiblement parallèle à un axe Z.
De préférence, les moyens de déplacement 20 comprennent encore des moyens de préhension 24 du premier élément 12 ou 16.
De préférence, les moyens de préhension 24 sont du type à aspiration. A cet effet, les moyens de préhension 24 comprennent un conduit d'aspiration 26 relié à des moyens d'aspiration 28 comportant par exemple une pompe à vide.
Afin de déplacer de façon précise les moyens de préhension 24, les moyens de déplacement 20 comprennent des moyens 30 de raccord des moyens articulés 22 et des moyens de préhension 24, susceptibles d'adopter un état actif dans lequel les moyens 24 sont solidaires des moyens articulés 22 et un état de repos dans lequel les moyens 24 sont séparés des moyens articulés 22.
Ces moyens de raccord 30 comprennent par exemple des premier 32A et deuxième 32B bras actionneurs linéaires à action horizontale (dans cet exemple parallèlement à l'axe Y), fixés aux moyens articulés 22 munis de première 34A et deuxième 34B mâchoires de serrage (figures 2 à 8). Par exemple, les bras actionneurs 32 sont du type à vérin linéaire pneumatique à tige. Chaque mâchoire 34A, 34B est fixée à une extrémité de la tige du vérin 32A, 32B correspondant.
Dans cet exemple, dans l'état actif des moyens de raccord 30, les mâchoires de serrage 34 sont destinées à enserrer les moyens de préhension 24 et dans l'état de repos des moyens de raccord 30, les mâchoires de serrage 34 sont destinées à libérer les moyens de préhension 24. Le dispositif d'agencement 18 comporte encore des moyens 36 de compression du premier élément contre le deuxième élément destiné à appliquer une force de compression du premier élément contre le deuxième élément.
Les moyens de compression 36 comprennent par exemple des premier 38A et deuxième 38B bras actionneurs linéaires à action verticale (dans l'exemple parallèlement à l'axe Z), fixés aux moyens articulés 22. Les bras actionneurs 38 sont destinés à appliquer une force de direction verticale de compression du premier élément contre le deuxième élément en exerçant une poussée verticale sur les moyens de préhension 24.
Chaque bras actionneur 38 est également du type à vérin linéaire pneumatique à tige. Ainsi, de façon classique, les bras actionneurs 38 sont destinés à adopter un état de repos dans lequel la tige de chaque vérin est rentrée et un état de travail dans lequel la tige de chaque vérin est sortie.
Les moyens de préhension 24, solidaires des tiges des vérins, sont entraînés en déplacement par les tiges des vérins, de sorte qu'ils sont destinés à remonter lorsque les vérins des bras actionneurs 38 passent d'un état actif à un état de repos et à descendre dans le cas contraire.
Dans l'exemple décrit, le dispositif 18 comprend également des moyens 40 de réglage de l'intensité de la force de compression (représentés sur la figure 1 ).
Par ailleurs, le dispositif d'agencement 18 comprend encore des moyens 42 de détection d'une position de contact du premier élément sur le deuxième élément. Les moyens de détection 42 comprennent de préférence un capteur de pression intégré dans les moyens de préhension 24.
En variante, les moyens de détection 42 comprennent un détecteur à contact de type capacitif.
Le dispositif d'agencement 18 comprend également des moyens formant contrepoids (non représentés) des moyens de déplacement 20. Dans cet exemple, plus précisément, les moyens forment contrepoids des moyens de préhension 24 et forment un élément des moyens de compression 36, plus particulièrement un élément des bras actionneurs 38.
Le dispositif d'agencement 18 comprend par ailleurs des moyens 44 de pilotage des moyens de compression 36 et des moyens formant contrepoids en fonction de la détection de la position de contact par les moyens 42.
Afin de chauffer la masse formant brasure 16 pour le soudage de la pastille 12 sur le support 14, l'installation 10 comprend également une source de chaleur (non représentée), telle que par exemple une source laser émettant un faisceau laser 46. L'installation 10 comprend également des moyens 48 de focalisation du faisceau laser 46 en un point de focalisation 50 au droit de la masse formant brasure 16.
Eventuellement, afin de contrôler la température de la masse formant brasure 16 et de la pastille semi-conductrice 12 au cours du chauffage de ces deux éléments, les moyens de déplacement 20 portent des moyens 52 de mesure de la température du type à infrarouge (figure 1 ).
Par exemple, les moyens de mesure 52 comportent une fibre optique 54 s'étendant dans le conduit d'aspiration 26 des moyens de préhension 24. Eventuellement, les moyens de mesure 52 comprennent également un pyromètre infrarouge 56 relié à la fibre optique 54.
Nous allons maintenant décrire ci-dessous, en référence aux figures 2 à 8, les principales étapes d'un procédé de soudage selon l'invention.
Dans un premier temps, ce procédé comprend des étapes d'agencement de l'organe 12 et de la masse 16 sur le support 14.
Ainsi, au cours d'une première étape d'agencement illustrée par la figure 2, on met en place la masse 16 sur le support 12. Comme on le voit sur la figure 2, la masse formant brasure 16 a une forme générale initiale relativement irrégulière.
Au cours de cette étape, les mâchoires de serrage 34 enserrent les moyens de préhension 24 de sorte que les moyens de préhension 24 sont solidaires des moyens articulés 22. Par ailleurs, les bras actionneurs 38 sont dans leur état de repos. Le déplacement des moyens de préhension 24 est de ce fait relativement précis car parfaitement maîtrisé par les moyens articulés 22.
Les moyens de préhension 24 saisissent la masse formant brasure 16 par aspiration.
Les moyens de déplacement 20 déplacent alors relativement rapidement, horizontalement et verticalement, la masse 16 jusqu'à une première position prédéfinie Po de coordonnées X0, Yo et Z0.
Dans cet exemple, les coordonnées Xo, Yo sont prédéterminées en fonction de positions de connecteurs électriques du support 14 (non représentés) destinés au raccordement électrique de la pastille 12. La coordonnée Z0 est choisie de manière à ce que le support 14 et la masse 16 soient suffisamment distants pour éviter tout contact accidentel entre ces deux éléments.
Puis les moyens 20 déplacent progressivement la masse 16 selon la direction verticale Z jusqu'à détection d'une position de contact de la masse 16 avec le support 14.
Dès la détection de la position de contact de la masse 16 avec le support 14, les moyens 44 pilotent l'activation des moyens de compression 36. Ainsi, au cours d'une deuxième étape d'agencement de la masse 16 sur le support 14, illustrée par la figure 3, les moyens de compression 36 appliquent sur la masse 16 une première force de compression F1 de la masse 16 contre le support 14 par l'intermédiaire des moyens de préhension 24.
Plus précisément, au cours de cette étape, les moyens de raccord 30 des moyens articulés 22 et des moyens de préhension 24 sont dans l'état de repos. Les moyens de préhension 24 ne sont donc plus solidaires des moyens articulés 22.
Les bras actionneurs 38 exercent alors une poussée verticale selon la direction définie par l'axe Z, sur les moyens de préhension 24 de manière à appliquer la force de compression F1 sur la masse 16 contre le support 14. Conformément à l'invention, les moyens de compression 36 augmentent l'intensité de la première force F1 jusqu'à une première valeur prédéfinie, choisie de manière à aplanir la masse formant brasure 16.
De préférence, afin de contrôler précisément l'intensité de la force de compression F1 , les moyens 44 pilotent également l'activation des moyens formant contrepoids des moyens de préhension 24 lors de la détection de la position de contact. L'activation des moyens formant contrepoids permet ainsi de s'affranchir de la force de pesanteur des moyens de préhension 24 exercée sur la masse 16.
Dans ce cas, lors de la détection de la position de contact, il est possible d'ajuster l'intensité de la première force F1 à une valeur initiale nulle, d'une part par réglage de l'intensité de la force avec les moyens de réglage 40 et d'autre part par activation des moyens formant contrepoids.
Ainsi, lors de l'étape d'application de la force F1 , les moyens de compression 36 augmentent l'intensité de la première force F1 depuis la valeur initiale sensiblement nulle, réglée lors de la détection de la position de contact, jusqu'à la première valeur prédéfinie.
De préférence, on augmente l'intensité de la première force de compression F1 par pas d'incrémentation de la valeur de l'intensité jusqu'à la première valeur prédéfinie.
Lors de l'étape d'application de la force F1 , les moyens de préhension 24 descendent jusqu'à une position P1 correspondant à une longueur I1 de sortie des tiges des vérins 38 nécessaire pour atteindre la première valeur prédéfinie de l'intensité de la force de compression F1.
Dans l'exemple décrit, la première valeur prédéfinie est d'environ 50 grammes-force.
En général, la masse formant brasure 16 a une épaisseur initiale, avant l'étape d'application de la force de compression, d'une valeur d'environ 100 microns.
De préférence, la première valeur prédéfinie est déterminée en fonction de la limite inférieure critique de l'épaisseur de la masse 16 à l'issue de l'étape d'application de la première force F1. Par exemple, cette limite inférieure critique de l'épaisseur est définie comme étant une épaisseur limite en-dessous de laquelle le joint résultant du refroidissement de la masse 16 risque de présenter une structure relativement fragile. Dans cet exemple, la limite inférieure critique de l'épaisseur de la masse est d'environ 70 microns.
Une fois la masse 16 aplanie, on désactive alors les moyens d'aspiration 52 de sorte que les moyens de préhension 24 libèrent la masse 16 (figure 4). Les bras actionneurs 38 passent alors de leur état actif à leur état de repos, de sorte que les moyens de préhension 24 remontent. Par ailleurs, les moyens de raccord 30 des moyens de préhension 24 comprenant notamment les mâchoires de serrage 34 sont activés de sorte que les moyens de préhension 24 sont de nouveau solidaires des moyens articulés 22.
Au cours d'une troisième étape d'agencement illustrée par la figure 5, on met en place la pastille semi-conductrice 12 sur la masse aplanie 16.
Les moyens de déplacement 20 se déplacent pour saisir la pastille 12 par aspiration.
Ensuite, les moyens de déplacement 20 déplacent relativement rapidement, horizontalement et verticalement, la pastille 12 jusqu'à la position prédéfinie Po de coordonnées X0, Yo, Z0. Dans cette position, la pastille 12 n'est pas en contact avec la masse 16.
Les moyens 20 déplacent progressivement la pastille 12 selon la direction verticale Z jusqu'à détection d'une position de contact de la pastille 12 avec la masse aplanie 16.
Dès la détection de la position de contact de la pastille 12 avec la masse aplanie 16, les moyens 44 pilotent l'activation des moyens de compression 36.
Ainsi, au cours d'une quatrième étape d'agencement illustrée par la figure 6, afin de réduire les irrégularités de la surface de contact entre la pastille 12 et la masse aplanie 16, les moyens de compression 36 appliquent sur la pastille 12 une deuxième force de compression F2 de la pastille 12 contre la masse aplanie 16 et le support 14.
Conformément à l'invention, les moyens de compression 36 augmentent l'intensité de la deuxième force F2 jusqu'à une deuxième valeur prédéfinie inférieure à la première valeur prédéfinie.
La deuxième valeur prédéfinie est inférieure à une valeur critique d'endommagement de la pastille 12. Par exemple, la deuxième valeur prédéfinie est d'environ 10 grammes-force.
De préférence, afin de contrôler précisément l'intensité de la force de compression F2, dès la détection de la position de contact de la pastille 12 et de la masse 16, les moyens 44 pilotent également l'activation des moyens formant contrepoids des moyens de préhension 24. L'activation des moyens formant contrepoids et le réglage de la valeur de l'intensité de la deuxième force grâce aux moyens de réglage 40 permettent d'ajuster la valeur initiale à une valeur sensiblement nulle.
On augmente alors l'intensité de la deuxième force F2 depuis la valeur initiale sensiblement nulle, réglée lors de la détection de la position de contact, jusqu'à la deuxième valeur prédéfinie.
De préférence, on augmente l'intensité de la deuxième force de compression F2 par pas d'incrémentation de la valeur de l'intensité jusqu'à la deuxième valeur prédéfinie.
Lors de l'étape d'application de la force F2, les moyens de préhension 24 descendent jusqu'à une position P2 correspondant à une longueur I2 de sortie des tiges des vérins 38 nécessaire pour atteindre la deuxième valeur prédéfinie de l'intensité de la force de compression F2.
Une fois les étapes d'agencement réalisées, le procédé comprend encore une étape de chauffage de la masse formant brasure 16 illustrée par la figure 7.
Ainsi, afin de chauffer la masse formant brasure 16, on dirige le faisceau laser 46 sur la première face S1 du support 14. Plus précisément, on dirige le faisceau laser 46 au droit de la masse formant brasure 16 pendant une période d'irradiation du support 14 par le faisceau 46.
La chaleur générée au point 50 d'irradiation du support 14 par le faisceau laser 46 se propage à l'intérieur du support 14 jusqu'à atteindre la masse formant brasure 16 et la pastille 12.
Du fait que les irrégularités de surface ont été atténuées lors des étapes d'application des forces de compression F1 et F2, le transfert de chaleur est relativement bon entre le support 14 et la masse 16 ainsi qu'entre la masse 16 et la pastille 12.
Au cours de l'étape de chauffage, dans cet exemple, on maintient la position relative de la pastille 12 et du support 14 constante, au moins pendant la période d'irradiation du support 14 par le faisceau laser 46.
A cet effet, avant l'étape de chauffage, on bloque les moyens de préhension 24 dans la position P2. En particulier, les moyens de pilotage 44 désactivent les moyens de compression 36 tout en maintenant la longueur I2 de sortie des tiges des vérins 38, et les mâchoires de serrage 34 sont activées.
Avant l'étape de chauffage, la masse 16 est relativement dure. La force F2 d'intensité à la deuxième valeur prédéfinie est compensée, de façon classique, par une force de réaction de la masse 16 et de la pastille 12 sur les moyens de préhension 24 d'intensité égale à celle de la force F2.
Au cours de l'étape de chauffage, on maintient les moyens de préhension 24 dans la position P2. Du fait du ramollissement de la masse 16, l'intensité de la force de réaction de la masse 16 et de la pastille 12 sur les moyens de préhension 24 diminue jusqu'à atteindre une valeur nulle lorsque la masse 16 est liquide. Comme les moyens de compression 36 sont désactivés, la valeur de l'intensité de la force F2 exercée par les moyens de préhension 24 sur la pastille 12 et la masse 16 diminue de façon analogue.
Ceci permet notamment de tenir compte du ramollissement de la masse 16 au cours de l'étape de chauffage et ainsi d'éviter un endommagement de la pastille 12. En effet, l'application d'une force de compression d'intensité de valeur trop élevée sur la pastille 12 et la masse ramollie 16 au cours de l'étape de chauffage risque de projeter la masse ramollie 16 sur les côtés de la pastille 12 et de comprimer alors la pastille 12 directement sur le support 14.
De préférence, on maintient la position relative de la pastille 12 et du support 14 constante jusqu'au refroidissement de la masse formant brasure 16.
Par ailleurs, au cours de l'irradiation du support 14 par le faisceau laser 46 et du refroidissement de la masse 16, il est possible de contrôler la température notamment de la pastille 12 grâce aux moyens de mesure 52. En effet, la fibre optique 54 collecte le flux infrarouge émis par la pastille 12 et le transmet vers le pyromètre 56. Le pyromètre 56 convertit alors le flux lumineux collecté en une valeur de température.
Après refroidissement de la masse 16, comme illustré sur la figure 8, les moyens d'aspiration 28 sont désactivés et les moyens de préhension 24 libèrent la pastille 12. Les moyens de raccord 30 sont désactivés et les mâchoires 34 libèrent les moyens de préhension 24. Les tiges des vérins 38 sont rentrées de sorte que les moyens de préhension 24 remontent. Les moyens de raccord 30 sont alors de nouveau activés et les moyens articulés 22 peuvent entraîner en mouvement les moyens de préhension 24 par exemple pour l'agencement et le soudage d'un nouvel élément sur le support 14.

Claims

REVENDICATIONS
1. Procédé de soudage d'un organe (12) sur un support (14) par apport d'une masse formant brasure (16), du type comprenant une étape de chauffage de la masse (16), caractérisé en ce que, avant l'étape de chauffage, il comprend les étapes suivantes d'agencement sur le support (14) de la masse (16) et de l'organe (12) : mise en place de la masse (16) sur le support (14), application sur la masse (16) d'une première force de compression (F1 ) de la masse (16) contre le support (14), l'intensité de la première force (F1 ) augmentant jusqu'à une première valeur prédéfinie choisie de manière à aplanir la masse formant brasure (16), mise en place de l'organe (12) sur la masse aplanie (16), et application sur l'organe (12) d'une deuxième force de compression de l'organe
(12) contre la masse aplanie (16) et le support (14), l'intensité de la deuxième force (F2) augmentant jusqu'à une deuxième valeur prédéfinie, la deuxième valeur prédéfinie étant inférieure à la première valeur prédéfinie.
2. Procédé selon la revendication 1 , dans lequel lors de l'étape de mise en place de la masse (16) sur le support (14), on déplace la masse (16) vers le support (14) jusqu'à détection d'une position de contact de la masse (16) avec le support (14), et lors de l'étape d'application, on augmente l'intensité de la première force (F1 ) depuis une valeur initiale sensiblement nulle, réglée lors de la détection de la position de contact, jusqu'à la première valeur prédéfinie.
3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, dans lequel lors de l'étape de mise en place de l'organe (12) sur la masse aplanie (16), on déplace l'organe (12) vers la masse aplanie (16) jusqu'à détection d'une position de contact de l'organe (12) avec la masse aplanie (16), et lors de l'étape d'application, on augmente l'intensité de la deuxième force (F2) depuis une valeur initiale sensiblement nulle, réglée lors de la détection de la position de contact, jusqu'à la deuxième valeur prédéfinie.
4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel on augmente l'intensité de la première (F1 ) et/ ou de la deuxième (F2) force de compression par pas d'incrémentation de la valeur de l'intensité jusqu'à la première et/ou la deuxième valeur prédéfinie.
5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel, au cours de l'étape de chauffage, on maintient la position relative de l'organe (12) et du support (14) constante.
6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel, au cours de l'étape de chauffage, on dirige un faisceau laser (46) sur une première face (S1 ) du support (14) opposée à une seconde face (S2) de ce support (14) portant la masse (16), au droit de cette masse (16), pendant une période d'irradiation du support (14) par le faisceau (46), et on maintient la position relative de l'organe (12) et du support (14) constante.
7. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 6, dans lequel la première valeur prédéfinie est déterminée en fonction d'une limite inférieure critique de l'épaisseur de la masse (16) à l'issue de l'étape d'application de la première force (F1 ).
8. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel la deuxième valeur prédéfinie est inférieure à une valeur critique d'endommagement de l'organe (12).
9. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, dans lequel l'organe (12) est une pastille semi-conductrice.
10. Dispositif d'agencement (18) d'un premier élément sur un deuxième élément comprenant : des moyens (20) de déplacement du premier élément (12, 16) sur le deuxième élément (14), des moyens (36) de compression du premier élément (12, 16) contre le deuxième élément (14), caractérisé en ce qu'il comprend encore : des moyens (42) de détection d'une position de contact du premier élément (12,
16) sur le deuxième élément (14), des moyens formant contrepoids des moyens de déplacement (20), et des moyens (44) de pilotage des moyens de compression (36) et des moyens formant contrepoids en fonction de la détection de la position de contact.
1 1. Dispositif (18) selon la revendication 10, dans lequel les moyens de déplacement (20) comprennent des moyens (24) de préhension du premier élément (12, 16) du type à aspiration.
12. Dispositif (18) selon la revendication 1 1 , dans lequel les moyens de déplacement portent des moyens (52) de mesure de la température du type à infrarouge comportant une fibre optique (54) s'étendant dans un conduit d'aspiration (26) des moyens de préhension (24).
13. Dispositif (18) selon l'une quelconque des revendications 10 à 12, dans lequel les moyens de détection (42) sont choisis parmi un détecteur à contact de type capacitif et un capteur de pression.
14. Dispositif (18) selon l'une quelconque des revendications 10 à 13, étant destiné à agencer un premier élément choisi parmi une masse formant brasure (16) et une pastille semi-conductrice (12) sur un second élément formant support (14).
PCT/FR2007/051904 2006-09-14 2007-09-11 Procede de soudage d'un organe sur un support par apport de matiere et dispositif d'agencement de deux elements l'un sur l'autre WO2008031981A2 (fr)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009527866A JP5399247B2 (ja) 2006-09-14 2007-09-11 コンポーネントをホルダにはんだ付けする方法
US12/310,907 US20100089879A1 (en) 2006-09-14 2007-09-11 Method of bonding a member to a support by addition of material, and device for arranging two elements, one on the other
EP07823800A EP2064017A2 (fr) 2006-09-14 2007-09-11 Procede de soudage d'un organe sur un support par apport de matiere et dispositif d'agencement de deux elements l'un sur l'autre
US13/672,400 US8952288B2 (en) 2006-09-14 2012-11-08 Method of bonding a member to a support by addition of material, and device for arranging two elements, one on the other

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0653731 2006-09-14
FR0653731A FR2905883B1 (fr) 2006-09-14 2006-09-14 Procede de soudage d'un organe sur un support par apport de matiere et dispositif d'agencement de deux elements l'un sur l'autre

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US12/310,907 A-371-Of-International US20100089879A1 (en) 2006-09-14 2007-09-11 Method of bonding a member to a support by addition of material, and device for arranging two elements, one on the other
US13/672,400 Continuation US8952288B2 (en) 2006-09-14 2012-11-08 Method of bonding a member to a support by addition of material, and device for arranging two elements, one on the other

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2008031981A2 true WO2008031981A2 (fr) 2008-03-20
WO2008031981A3 WO2008031981A3 (fr) 2008-05-08

Family

ID=37909780

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/FR2007/051904 WO2008031981A2 (fr) 2006-09-14 2007-09-11 Procede de soudage d'un organe sur un support par apport de matiere et dispositif d'agencement de deux elements l'un sur l'autre

Country Status (5)

Country Link
US (2) US20100089879A1 (fr)
EP (1) EP2064017A2 (fr)
JP (2) JP5399247B2 (fr)
FR (1) FR2905883B1 (fr)
WO (1) WO2008031981A2 (fr)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2937216B1 (fr) 2008-10-10 2010-12-31 Valeo Etudes Electroniques Procede et dispositif d'assemblage d'une pastille sur un substrat par apport d'une masse formant brasure.
CH708932B1 (en) * 2013-12-09 2017-04-13 Besi Switzerland Ag Downholder for holding down the substrate locations of a substrate for the purpose of mounting semiconductor components.
DE102014110915A1 (de) * 2014-07-31 2016-02-04 Thyssenkrupp Ag Niederhalter, Schweißvorrichtung und Verfahren zum Überprüfen des Vorhandenseins und/oder der Qualität einer Fügeverbindung
US10104772B2 (en) 2014-08-19 2018-10-16 International Business Machines Incorporated Metallized particle interconnect with solder components
FR3036301B1 (fr) 2015-05-21 2017-10-20 Valeo Equip Electr Moteur Procede de soudure avec apport de matiere et module electronique de puissance realise par ce procede
US10939600B2 (en) * 2018-11-28 2021-03-02 International Business Machines Corporation Flux residue detection
CN111511122B (zh) * 2020-05-19 2022-11-29 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种底部无引脚封装器件的装夹焊膏涂覆装置及方法
DE102022116028A1 (de) * 2022-06-28 2023-12-28 Pac Tech - Packaging Technologies Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Kontaktverbindung

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5285946A (en) * 1991-10-11 1994-02-15 Sanyo Electric Co., Ltd. Apparatus for mounting components
US5673844A (en) * 1995-12-29 1997-10-07 Gte Laboratories Incorporated Gas pressure adjustable diebonding apparatus and method
US6471110B1 (en) * 1999-09-10 2002-10-29 Esec Trading Sa Method and apparatus for mounting semiconductor chips
WO2003001572A2 (fr) * 2001-06-26 2003-01-03 Datacon Semiconductor Equipment Gmbh Systeme de positionnement

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6420630A (en) * 1987-07-15 1989-01-24 Mitsubishi Electric Corp Manufacture of semiconductor device
JPS6420630U (fr) 1987-07-28 1989-02-01
JPH02134831A (ja) * 1988-11-16 1990-05-23 Fujikura Ltd ダイボンド法
JPH055388U (ja) * 1991-07-15 1993-01-26 山形カシオ株式会社 部品搭載装置
US5615012A (en) * 1996-03-04 1997-03-25 Motorola, Inc. Method for detecting obstructed nozzles
WO1997045867A1 (fr) * 1996-05-27 1997-12-04 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Puce utilisee comme un outil, organe de fixation pourvu d'une telle puce et procede de commande de cet organe
JP3520702B2 (ja) * 1996-12-24 2004-04-19 澁谷工業株式会社 光照射用ボンディングヘッド
WO1999005719A1 (fr) * 1997-07-23 1999-02-04 Infineon Technologies Ag Procede et dispositif pour la realisation d'un assemblage puce-substrat
US6131795A (en) * 1997-11-10 2000-10-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thermal compression bonding method of electronic part with solder bump
DE10038330C2 (de) * 2000-08-05 2002-07-11 Bosch Gmbh Robert Lötverfahren zur Befestigung elektrischer Bauelemente
US6666368B2 (en) * 2000-11-10 2003-12-23 Unitive Electronics, Inc. Methods and systems for positioning substrates using spring force of phase-changeable bumps therebetween
US7296727B2 (en) * 2001-06-27 2007-11-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus and method for mounting electronic components
US6951125B2 (en) * 2002-01-31 2005-10-04 Stmicroelectronics, Inc. System and method for aligning an integrated circuit die on an integrated circuit substrate
JP3817207B2 (ja) 2002-08-21 2006-09-06 Ｔｄｋ株式会社 実装処理装置及び該実装処理装置の制御装置
JP4038435B2 (ja) * 2002-10-15 2008-01-23 Ｊｕｋｉ株式会社 ダイボンディング装置
JP2004303757A (ja) * 2003-03-28 2004-10-28 Japan Aviation Electronics Industry Ltd ボンディング装置
JP2006324533A (ja) * 2005-05-20 2006-11-30 Nidec Tosok Corp ボンディング荷重制御装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5285946A (en) * 1991-10-11 1994-02-15 Sanyo Electric Co., Ltd. Apparatus for mounting components
US5673844A (en) * 1995-12-29 1997-10-07 Gte Laboratories Incorporated Gas pressure adjustable diebonding apparatus and method
US6471110B1 (en) * 1999-09-10 2002-10-29 Esec Trading Sa Method and apparatus for mounting semiconductor chips
WO2003001572A2 (fr) * 2001-06-26 2003-01-03 Datacon Semiconductor Equipment Gmbh Systeme de positionnement

Also Published As

Publication number Publication date
FR2905883B1 (fr) 2008-12-05
US8952288B2 (en) 2015-02-10
JP2010503982A (ja) 2010-02-04
WO2008031981A3 (fr) 2008-05-08
JP5733633B2 (ja) 2015-06-10
JP5399247B2 (ja) 2014-01-29
FR2905883A1 (fr) 2008-03-21
US20100089879A1 (en) 2010-04-15
EP2064017A2 (fr) 2009-06-03
US20130062326A1 (en) 2013-03-14
JP2012138583A (ja) 2012-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2008031981A2 (fr) Procede de soudage d'un organe sur un support par apport de matiere et dispositif d'agencement de deux elements l'un sur l'autre
EP2773475B1 (fr) Installation de fabrication de pièces par fusion sélective de poudre
WO2013004955A1 (fr) Procede de fabrication d'un composant optique pour supprimer des defauts de surface
EP2339623B1 (fr) Procédé de réalisation d'un élément non plan
EP0934797A1 (fr) Procédé de réglage de la position d'une caméra de contrÔle thermographique d'une soudure
FR2769100A1 (fr) Boitier pour dispositif photosemi-conducteur
WO2017001027A1 (fr) Tete pour dispositif de soudage
FR2690996A1 (fr) Dispositif d'alignement optique entre un composant optoélectronique et un composant optique, et procédé d'alignement.
EP2150972B1 (fr) Procédé d'assemblage d'un module électronique comprenant un organe assemblé sur un support par frittage d'une masse de poudre conductrice
FR2649355A1 (fr) Dispositif et procede pour fixer par adherence au moins une partie a assembler a une piece elastiquement flexible
EP0795903B1 (fr) Procédé pour le montage de composants sur un substrat
FR3037335A3 (fr) Un dispositif de scellement de verre sous vide
FR2980996A1 (fr) Procede de realisation d'une operation mecanique dans une structure comportant deux couches de rigidites differentes
EP2175705B1 (fr) Procédé et dispositif d'assemblage d'une pastille sur un substrat par apport d'une masse formant brasure
WO2007144477A1 (fr) Procede et dispositif de controle de la puissance transmise par un faisceau laser en un point de reference, dispositif et procede de brasage
EP1675168A2 (fr) Procédé et dispositif de positionnement de billes de connexion pour circuits intégrés
FR2722916A1 (fr) Element de connexion et procede de connexion mettant en oeuvre cet element
EP2955003B1 (fr) Machine de soudage laser pour l'assemblage d'un boîtier et d'une glace de feu de véhicule automobile
JP2010225721A (ja) 半導体素子の配線接合方法
FR2769529A1 (fr) Procede et dispositif de suivi automatique de precision et sur site de profils curvilignes de bord de paroi
FR2542236A1 (fr) Machine de precision pour le report de petites pieces sur un support
FR2883782A1 (fr) Procede et dispositif de controle de la puissance transmise par un faisceau laser en un point de reference, dispositif et procede de brasage

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 07823800

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A2

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2009527866

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007823800

Country of ref document: EP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 12310907

Country of ref document: US