WO2007080981A1 - 荷電粒子線の照準位置決定装置、その使用方法、及び照準位置決定装置を用いた治療装置 - Google Patents

荷電粒子線の照準位置決定装置、その使用方法、及び照準位置決定装置を用いた治療装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2007080981A1
WO2007080981A1 PCT/JP2007/050347 JP2007050347W WO2007080981A1 WO 2007080981 A1 WO2007080981 A1 WO 2007080981A1 JP 2007050347 W JP2007050347 W JP 2007050347W WO 2007080981 A1 WO2007080981 A1 WO 2007080981A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
particle beam
charged particle
irradiated
positioning
subject
Prior art date
Application number
PCT/JP2007/050347
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hirofumi Shimada
Takashi Nakano
Takuro Sakai
Kazuo Arakawa
Mitsuhiro Fukuda
Masakazu Oikawa
Takahiro Satoh
Takashi Agematsu
Ken Yusa
Hiroyuki Katoh
Shoji Kishi
Taku Sato
Yasushi Horiuchi
Original Assignee
National University Corporation Gunma University
Japan Atomic Energy Agency
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National University Corporation Gunma University, Japan Atomic Energy Agency filed Critical National University Corporation Gunma University
Priority to GB0812582A priority Critical patent/GB2449568B/en
Priority to DE112007000128T priority patent/DE112007000128B4/de
Priority to US12/160,420 priority patent/US7952081B2/en
Priority to JP2007553955A priority patent/JP5137071B2/ja
Publication of WO2007080981A1 publication Critical patent/WO2007080981A1/ja

Links

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61N—ELECTROTHERAPY; MAGNETOTHERAPY; RADIATION THERAPY; ULTRASOUND THERAPY
    • A61N5/00—Radiation therapy
    • A61N5/10—X-ray therapy; Gamma-ray therapy; Particle-irradiation therapy
    • A61N5/1048—Monitoring, verifying, controlling systems and methods
    • A61N5/1049—Monitoring, verifying, controlling systems and methods for verifying the position of the patient with respect to the radiation beam
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/12—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for looking at the eye fundus, e.g. ophthalmoscopes
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/14—Arrangements specially adapted for eye photography
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61F—FILTERS IMPLANTABLE INTO BLOOD VESSELS; PROSTHESES; DEVICES PROVIDING PATENCY TO, OR PREVENTING COLLAPSING OF, TUBULAR STRUCTURES OF THE BODY, e.g. STENTS; ORTHOPAEDIC, NURSING OR CONTRACEPTIVE DEVICES; FOMENTATION; TREATMENT OR PROTECTION OF EYES OR EARS; BANDAGES, DRESSINGS OR ABSORBENT PADS; FIRST-AID KITS
    • A61F9/00—Methods or devices for treatment of the eyes; Devices for putting-in contact lenses; Devices to correct squinting; Apparatus to guide the blind; Protective devices for the eyes, carried on the body or in the hand
    • A61F9/007—Methods or devices for eye surgery
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61N—ELECTROTHERAPY; MAGNETOTHERAPY; RADIATION THERAPY; ULTRASOUND THERAPY
    • A61N5/00—Radiation therapy
    • A61N5/10—X-ray therapy; Gamma-ray therapy; Particle-irradiation therapy
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61N—ELECTROTHERAPY; MAGNETOTHERAPY; RADIATION THERAPY; ULTRASOUND THERAPY
    • A61N5/00—Radiation therapy
    • A61N5/10—X-ray therapy; Gamma-ray therapy; Particle-irradiation therapy
    • A61N5/1001—X-ray therapy; Gamma-ray therapy; Particle-irradiation therapy using radiation sources introduced into or applied onto the body; brachytherapy
    • A61N5/1014—Intracavitary radiation therapy
    • A61N5/1017—Treatment of the eye, e.g. for "macular degeneration"
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61N—ELECTROTHERAPY; MAGNETOTHERAPY; RADIATION THERAPY; ULTRASOUND THERAPY
    • A61N5/00—Radiation therapy
    • A61N5/10—X-ray therapy; Gamma-ray therapy; Particle-irradiation therapy
    • A61N5/1048—Monitoring, verifying, controlling systems and methods
    • A61N5/1049—Monitoring, verifying, controlling systems and methods for verifying the position of the patient with respect to the radiation beam
    • A61N2005/1059—Monitoring, verifying, controlling systems and methods for verifying the position of the patient with respect to the radiation beam using cameras imaging the patient

Definitions

  • the present invention relates to a charged particle beam aiming position determining apparatus, a method of using the same, and a treatment apparatus using the aiming position determining apparatus, and in particular, a charged particle beam such as a carbon ion beam and excitation light.
  • the present invention relates to an aiming position determination apparatus that determines the aiming position of a charged particle beam by irradiating the fundus of the subject's eye and taking a fundus image, a method of using the aiming position, and a treatment apparatus using the aiming position determination apparatus.
  • the energy concentration due to the Bragg peak of the charged particle beam is extremely high, and the Bragg peak is obtained by expanding the width of the charged particle beam to the size of the irradiation field. It is possible to efficiently irradiate only the affected area by irradiating the lesion site uniformly.
  • a charged particle beam can be focused very finely by using a magnetic field or an electric field.
  • a minute region can be precisely irradiated.
  • Energy can be locally absorbed.
  • Micro beam forming technology and pencil beam forming technology have been developed as a technology for focusing the beam finely.
  • this technique can be used for particle beam therapy, it is possible in principle to treat a minute site, that is, an ion-mic mouth surge-ery treatment technique. There is no technology for accurately confirming the treatment irradiation position, that is, the position where the beam has arrived, in real time.
  • a fundus observation method using a conventional fundus observation diagnostic apparatus illuminates the fundus using fundus excitation light, and intravenously injects a fundus fluorescent agent into a patient as necessary, and emits fluorescence from the fundus of the eye to be examined.
  • An observation method is adopted.
  • the fundus excitation light source a visible light source for observing the fundus and blood vessels on the retina side from the retinal pigment epithelial cells and a near-infrared light source for observing the fundus blood vessels on the choroid side of the retinal pigment epithelial cells are used. .
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 2000-237168
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laid-Open No. 2002-0334919
  • the present invention has been made to solve the above-described problems, and images a subject in order to treat a subject such as an eye while irradiating the subject with a charged particle beam such as an ion beam. It is an object of the present invention to provide a charged particle beam aiming position determination device capable of determining the aiming position of a therapeutic charged particle beam, a method of using the same, and a treatment apparatus using the aiming position determination device.
  • the present invention provides an irradiation position in the depth direction of a subject of an irradiation position determining charged particle beam irradiated from a charged particle beam source, that is, a range of a positioning charged particle beam.
  • An adjustment means for adjusting the position, and the charged particle beam for positioning is transmitted or passed, and the site force of the subject irradiated with the charged particle beam for positioning is irradiated with the first emitted light and the excitation light.
  • the second emitted light emitted from the region including the region of the subject irradiated with the positioning charged particle beam is reflected off the axis of the charged particle beam.
  • the subject charged with the positioning charged particle beam is irradiated with the first light emitted from the site force of the subject irradiated with the positioning charged particle beam and the excitation light. Since there is a reflecting means for reflecting the second light emitted from the region including the region outside the axis of the charged particle beam, the axis of the charged particle beam and the optical axis of the imaging means for imaging the subject are It is possible to take an image of a region including a portion of the subject irradiated with the charged particle beam while irradiating the charged particle beam for positioning without causing interference.
  • the aiming position of the charged particle beam for treatment can be determined from the captured image.
  • a light emitter that is provided in the middle of a passage of a charged particle beam for positioning irradiated to the subject and emits light by irradiation of the charged particle beam for positioning, and a light emitted from the light emitter.
  • Luminous power It is possible to provide detection means for detecting a position in a plane perpendicular to the axis of the charged particle beam irradiated to the subject.
  • the position on the plane orthogonal to the axis of the charged particle beam irradiated to the subject can be confirmed.
  • the aiming position of the charged particle beam for decision can be adjusted three-dimensionally.
  • the handling of the charged particle beam aiming position determination device can be simplified.
  • the irradiation position in the depth direction of the eye axis of the subject's eye as the subject of the charged particle beam for positioning irradiated from the charged particle beam irradiation source
  • An adjustment means that adjusts the range of the charged particle beam for positioning, and a part force of the eye to be inspected that transmits or passes the charged particle beam for positioning and is irradiated with the charged particle beam for positioning.
  • Reflecting means for reflecting the second luminescence emitted by the region force including the region of the eye to be inspected irradiated with the positioning charged particle beam by the emission of 1 and the excitation light.
  • the first light emission and the second light emission reflected from the reflection means are disposed at a position where the first light emission and the second light emission are incident.
  • An imaging means for imaging a region including a portion of the eye to be examined that is irradiated with the first emission and the second emission and irradiated with the positioning charged particle beam, and a fundus aiming position determining apparatus for the charged particle beam for the fundus (Fundus aiming position determination device) can be configured.
  • a light emitter that is provided in the passage of a positioning charged particle beam irradiated to the eye to be examined and emits light by irradiation of the positioning charged particle beam, and the luminous body power
  • a detecting means for detecting a position in a plane perpendicular to the axis of the charged particle beam applied to the eye to be examined, wherein the light emitter and the reflecting means are configured integrally.
  • an irradiation position of the positioning charged particle beam irradiated from the charged particle beam irradiation source by the adjusting means in the depth direction of the eye axis of the eye to be examined Is adjusted in multiple steps from the sclera of the fundus in the direction of the retina, and the region force of the eye to be examined irradiated with the positioning charged particle beam is incident on the imaging means at each step.
  • the region including the region of the eye to be examined irradiated with the positioning charged particle beam is photographed, and the irradiation position of the positioning charged particle beam is determined by adjusting the adjusting means based on the image obtained by photographing. Adjusting to the target position, incident the second light emission reflected by the reflecting means force and imaging the region including the region of the eye to be inspected irradiated with the positioning charged particle beam. Determine the aiming position Can be rubbed.
  • the standard position determination apparatus of the present invention can be applied to a treatment apparatus using a charged particle beam.
  • This treatment apparatus can be configured as follows, for example.
  • Adjustment means for adjusting the irradiation position in the depth direction of the subject of the charged particle beam for irradiation positioning irradiated from the charged particle beam source, while allowing the positioning charged particle beam to pass through or pass through, and for the positioning
  • the first force emitted from the site force of the subject irradiated with the charged particle beam for irradiation and the bright light of the excitation light are emitted from the region including the site of the subject irradiated with the charged particle beam for positioning.
  • Reflection means for reflecting the second light emission off the axis of the charged particle beam, and the first light emission and the second light emission reflected from the reflection means are disposed at the positions where the second light emission is incident.
  • the region including the part of the subject irradiated with the charged particle beam for positioning is imaged, the aiming position of the charged particle beam for treatment is determined, and the charged particle beam for irradiation positioning is used for the treatment. load Switching to an electron particle beam, the therapeutic charged particle beam is irradiated to the aiming position.
  • a force that does not irradiate the subject with the charged particle beam for positioning, the subject is imaged in order to observe and diagnose the subject such as the subject's eye, and the therapeutic charge
  • the effect that the aiming position of the particle beam can be determined precisely is obtained.
  • FIG. 1 is a schematic view showing an example of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic enlarged view of a film mirror portion of an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3A is a view showing a fundus fluorescence contrast image by an excitation light source.
  • FIG. 3B is a diagram showing a fundus fluorescence contrast image in a prior diagnosis.
  • FIG. 3C is a diagram showing a fundus fluorescence contrast image by an excitation light source.
  • FIG. 3D is a diagram showing a fundus fluorescence contrast image by a depth positioning beam.
  • FIG. 3E is a diagram showing a fundus fluorescence contrast image by an excitation light source.
  • the present invention is applied to a particle beam therapy system equipped with a fundus aiming position determination device.
  • the particle beam therapy apparatus equipped with the fundus sighting position determining apparatus of the present embodiment includes a charged particle beam irradiated from a charged particle beam irradiation source 11 and the direction of the subject's eye as a subject.
  • An electromagnet group 12 for charged particle beam deflection in which a plurality of electromagnets 10 led to is arranged.
  • a heavy ion beam such as a carbon ion beam and a charged particle beam having a Bragg curve such as a proton beam can be used.
  • the charged particle beam source 11 includes a switch 13 for starting and stopping irradiation of the chargeable particle beam, and the charged particle beam for irradiation positioning and the treatment charge by adjusting the intensity of the charged particle beam.
  • An operation unit 17 having a switching switch 15 for switching to a particle beam is connected.
  • a plurality of range shifters formed of a film of polymer or the like are arranged in a stacked manner, so that the eyes of the charged particle beam irradiated on the eye to be examined are arranged.
  • a range adjuster 14 for adjusting the beam irradiation position in the depth direction of the axis, that is, the range of the charged particle beam, is arranged.
  • the beam irradiation position in the depth direction of the eye axis of the eye to be examined that is, the irradiation position in the axial direction of the charged particle beam, for example, several 50 m steps Can be adjusted.
  • a bolus 16 for shaping the distribution state of the charged particle beam in a plane perpendicular to the axis of the charged particle beam is disposed on the charged particle beam emission side of the range adjuster 14. This bolus shapes the charged particle beam distribution so that it does not damage the retina according to the shape and curve of the retina.
  • a film mirror 18 formed of a polymer material such as polycarbonate or polyethylene terephthalate is formed at an angle of 45 ° with respect to the axis of the charged particle beam.
  • a scintillator 20 is formed on the charged particle beam irradiation side of the film mirror 18 by applying a phosphor formed of a phosphor such as a phosphor that emits light when irradiated with the charged particle beam. ing.
  • the surface of the film mirror 18 opposite to the surface on which the light emitter is applied functions as a reflecting surface.
  • the illuminant As described above, by applying the illuminant to the film mirror 18, the charged particle beam is transmitted, and the portion irradiated with the charged particle beam emits light, and the light incident on the reflecting surface is charged.
  • the reflecting means of the present invention is configured to reflect off the axis of the particle beam.
  • this reflection means is formed by applying a light emitter to the film mirror as described above.
  • the scintillator and the mirror may be configured integrally, or the scintillator and the mirror may be configured integrally by vapor-depositing a substance that forms a reflective surface on a light emitting body that emits light when irradiated with a charged particle beam.
  • the scintillator and the film mirror may be bonded together so as to be integrated.
  • a hole is formed in a part corresponding to the axis of the charged particle beam of the member, and a part of the charged particle beam is formed. Just pass through the hole! Without passing through the hole, the charged particle beam is irradiated to the scintillator, whereby the light emitter emits light.
  • the material of the members constituting the mirror is not particularly limited, it is preferable to use a material that does not significantly reduce the energy of the charged particle beam and does not diverge the charged particle beam. .
  • the scintillator and the mirror are integrally formed.
  • the scintillator and the mirror may be separated and arranged at a predetermined interval in the axial direction of the charged particle beam. It is also possible to apply a phosphor on one side of one substrate and deposit a material that forms a reflective surface on the other side.
  • the scintillator 20 has a beam profile monitor composed of a microstrip gas chamber and the like for monitoring the beam profile of the light emitting unit and a counter for counting the number of beam particles at a position where the light emitting unit can be observed.
  • a beam state observation device 22 is arranged. According to this beam state observation device 22, the beam profile can be monitored, so that the position of the charged particle beam in a plane orthogonal to the axis of the charged particle beam irradiated to the eye to be examined can be detected.
  • a fundus photographing device 24 for photographing the fundus of the eye to be examined is disposed at a position where the light reflected from the film mirror 18 can enter.
  • the fundus imaging device 24 stores an excitation light source for irradiating the fundus with excitation light.
  • a semiconductor laser 24A that irradiates near infrared light and a halogen lamp 24B that irradiates visible light are used as an excitation light source.
  • the excitation light source any light source can be used as long as it can emit radiation capable of emitting luminescence from the fundus fluorescent contrast medium (either ionization or non-ionization is possible). Can do.
  • the fundus imaging device 24 is provided with an object lens 24C having a focal length that can be focused on the fundus, and a fundus camera 24D that images the fundus.
  • the optical axis portion from the film mirror 18 of the fundus imaging device 24 to the eye to be examined matches the beam axis portion of the charged particle beam from the film mirror 18 to the eye to be examined.
  • the arrangement position is determined in advance. Therefore, the irradiation position of the charged particle beam and the light irradiation position of the excitation light source are substantially the same.
  • a contrast agent containing fluorescein or indocyanine green can be used as the fundus fluorescent contrast agent.
  • a contrast agent containing indocyanine green near infrared light is irradiated.
  • the excitation light from the semiconductor laser 24A is used, and when a contrast agent containing fluorescein is used, the excitation light from the halogen lamp 24B is switched and used.
  • a fundus fluorescent contrast medium is injected into the eye to be examined in advance.
  • the charged particle beam should be adjusted so that it can be irradiated with a depth positioning beam with a diameter of about 1 to about LOmm and a single irradiation intensity of 1% or less of the treatment dose.
  • a fundus aiming position determination device is placed immediately in front of the eyeball of the subject's eye, and is imaged by irradiating excitation light from an excitation light source, thereby obtaining a fundus fluorescence contrast image (for example, Fig. 3A) using excitation light, in advance. Compare the fundus fluorescence image at the time of diagnosis (for example, Fig. 3B) to confirm the target for treatment irradiation.
  • the profile force of the charged particle beam that has been irradiated to the eye to be examined by the depth positioning beam and passed through the light emitter by the beam state observation device 22 is a position on the plane orthogonal to the axis of the charged particle beam. Information is acquired, and when the target position force is deviated, the eye to be examined is moved so that the irradiation position of the charged particle beam matches the target position on a plane orthogonal to the axis.
  • the position of the depth positioning beam is adjusted in several steps from the sclera of the fundus to the retina by several steps in units of several 50 ⁇ m. While adjusting multiple times by a certain depth Then, the charged particle beam is irradiated at each specific depth onto the fundus into which the fundus fluorescent contrast medium is injected. At this time, the distortion of the dose distribution of the charged particle beam is compensated by the bolus. Also, in response to irradiation with charged particles, luminescence is emitted from a fundus fluorescent contrast medium containing fluorescein or indocyanine green.
  • the switching switch 15 of the operation unit 17 is operated to switch the charged particle beam from the depth positioning beam to the intensity and size of the treatment beam, and the excitation light is emitted from the excitation light source of the fundus imaging apparatus.
  • the fundus fluorescent contrast medium in the fundus of the eye to be examined is caused to emit light, and an image of the fundus illuminated by the emitted light (eg, FIG. 3C) is captured in real time using a fundus camera as a moving image.
  • a cross indicating the aim for performing treatment irradiation is displayed on the captured image (Fig. 3E), the aiming position of the treatment beam is determined, and the treatment beam is irradiated.
  • the treatment is performed by irradiating the treatment beam to the aiming position indicated by the cross while confirming the irradiation position of the charged particle beam in the plane direction of the lesion of the eye to be examined.
  • an eyeball (particularly, fundus) disease that requires a high-precision charged particle beam to be radiated to a minute region.
  • Application to is possible. It can also be used as a revolutionary confirmation method and treatment technique that minimizes the burden on the patient and the patient without damaging the retina of the subject's eye.
  • the aiming position of the charged particle beam is determined by irradiating the fundus of the subject's eye as a subject with a charged particle beam such as a carbon ion beam and photographing the fundus image, and the determined aiming position It can be applied to the treatment of the affected area by irradiating a charged particle beam for treatment.

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Vascular Medicine (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)
  • Radiation-Therapy Devices (AREA)

Abstract

　被検眼に荷電粒子線を照射しながら被検眼等の被検体を治療するために被検体を撮影して、治療用荷電粒子線の照準位置を決定することができるようにする。 　荷電粒子線源から照射された荷電粒子線の被検眼の深さ方向における照射位置を調整する飛程調整器１４、荷電粒子線を透過または通過させると共に、荷電粒子線が照射された被検眼の部位から発光された発光、及び励起光の照射により、荷電粒子線が照射された被検眼の部位を含む領域から発光された発光を荷電粒子線の軸外に反射するミラー１８、ミラーから反射された発光が入射される位置に配置されると共に、発光を入射させて荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領域を撮影する眼底撮影装置２４から構成されており、撮影画像から治療用荷電粒子線の照準位置を決定することができる。

Description

明 細 書
荷電粒子線の照準位置決定装置、その使用方法、及び照準位置決定装 置を用いた治療装置
技術分野
[0001] 本発明は、荷電粒子線の照準位置決定装置、その使用方法、及び照準位置決定 装置を用いた治療装置に係り、特に、炭素イオンビーム等の荷電粒子線及び励起光 を被検体としての被検眼の眼底に照射して眼底画像を撮影することにより荷電粒子 線の照準位置を決定する照準位置決定装置及びその使用方法、並びに照準位置 決定装置を用いた治療装置に関する。
背景技術
[0002] 荷電粒子線による治療では、荷電粒子線のもつブラッグピークによるエネルギー集 中性が極めて高 、と 、う特性を生かし、荷電粒子線の幅を照射野の大きさに拡大し たブラッグピークを形成し均一に病巣部位へ照射することにより、患部のみを効率よく 照射することが可能である。
[0003] 一方、荷電粒子線は、磁場や電場を用いることにより非常に細く集束させることが可 能であり、この集束荷電粒子線を利用することにより微小領域に精密に照射すること ができ、局所的にエネルギー^^中させることができる。ビームを細く集束させる技術 としてマイクロビーム形成技術やペンシルビーム形成技術が開発されて 、る。この技 術を粒子線治療に利用することにより微小な部位を治療する技術、すなわちイオンマ イク口サージエリー治療技術等が原理的に可能であるが、高精度で深部の照射位置 を照準する技術と治療照射した位置、すなわちビームの到達した位置を精密にリア ルタイムで確認する技術は存在しな 、ため、現在まで実現して 、な 、。
[0004] 従来の眼底観察診断装置による眼底観察方法は、眼底励起光を用いて眼底を照 明し、必要に応じて眼底蛍光剤を患者に静脈注射して、被検眼の眼底からの蛍光を 観察する方法が採用されている。眼底励起光源は、網膜色素上皮細胞より網膜側の 眼底及び眼底血管を観察するための可視光源と、網膜色素上皮細胞の脈絡膜側の 眼底血管も併せて観察するための近赤外光源が用いられる。 [0005] また、荷電粒子線を眼患部等の微小部位に照射し、発生する信号を検出する装置 と組み合わせる場合、幾何学的な配置力も荷電粒子を偏向させることがしばしば必 要である力 荷電粒子の偏向には非常に大きい偏向電磁石が必要であり、微小領域 で荷電粒子線を容易に偏向させることは困難である。
[0006] なお、本発明に関連する従来技術としては、特許文献 1、及び特許文献 2の技術が ある。
特許文献 1：特開 2000— 237168号公報
特許文献 2：特開 2002— 034919号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0007] したがって、従来の荷電粒子線による治療装置を用いて微小部位の照準位置を精 密に決定することは困難である、という問題があった。
[0008] 荷電粒子線の深度を変化させながら眼底に対する荷電粒子線の微小部位の照準 位置を立体的に決定し、確認するためには、位置決め用荷電粒子線を照射しながら 眼底患部の所定深度とその位置を観察する必要があるが、従来の照準位置決定装 置ではその技術は未だ実現されて!、な!/、。
[0009] 本発明は、上記問題を解決するために成されたもので、被検体にイオンビーム等の 荷電粒子線を照射しながら被検眼等の被検体を治療するために被検体を撮影して、 治療用荷電粒子線の照準位置を決定することができる荷電粒子線の照準位置決定 装置及びその使用方法、並びに照準位置決定装置を用いた治療装置を提供するこ とを目的とする。
課題を解決するための手段
[0010] 上記目的を達成するために本発明は、荷電粒子線源から照射された照射位置決 め用荷電粒子線の被検体の深さ方向における照射位置、すなわち位置決め用荷電 粒子線の飛程を調整する調整手段と、前記位置決め用荷電粒子線を透過または通 過させると共に、前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位力 発光さ れた第 1の発光、及び励起光の照射によって、前記位置決め用荷電粒子線が照射さ れた被検体の部位を含む領域から発光された第 2の発光を荷電粒子線の軸外に反 射する反射手段と、前記反射手段から反射された前記第 1の発光及び前記第 2の発 光が入射される位置に配置されると共に、前記第 1の発光及び前記第 2の発光を入 射させて前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領域を撮影 する撮影手段と、を含んで構成したものである。
[0011] 本発明によれば、位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位力 発光さ れた第 1の発光、及び励起光の照射によって、位置決め用荷電粒子線が照射された 被検体の部位を含む領域から発光された第 2の発光を荷電粒子線の軸外に反射す る反射手段が設けられているため、荷電粒子線の軸と被検体を撮影する撮影手段の 光軸が干渉することがなぐ位置決め用荷電粒子線を照射しながら荷電粒子線が照 射された被検体の部位を含む領域を撮影することができる。この撮影された画像から 治療用の荷電粒子線の照準位置を決定することができる。
[0012] 本発明では、前記被検体に照射される位置決め用荷電粒子線の通過路途中に設 けられ、前記位置決め用荷電粒子線の照射により発光する発光体と、前記発光体か ら発せられた発光力 前記被検体に照射される荷電粒子線の軸と直交する平面に おける位置を検出する検出手段と、を設けることができる。これにより、被検体の深さ 方向における照射位置、すなわち荷電粒子線の飛程の他に、被検体に照射される 荷電粒子線の軸と直交する平面における位置も確認することができるので、位置決 め用荷電粒子線の照準位置を 3次元的に調整することができる。
[0013] 本発明において、発光体と反射手段とを一体に構成することにより、荷電粒子線の 照準位置決定装置の取り扱 、を簡単にすることができる。
[0014] 本発明では、被検体を被検眼とすることにより、荷電粒子線照射源カゝら照射された 位置決め用荷電粒子線の被検体としての被検眼の眼軸の深さ方向における照射位 置、すなわち位置決め用荷電粒子線の飛程を調整する調整手段と、前記位置決め 用荷電粒子線を透過または通過させると共に、前記位置決め用荷電粒子線が照射 された被検眼の部位力 発光された第 1の発光、及び励起光の照射によって、前記 位置決め用荷電粒子線が照射された被検眼の部位を含む領域力 発光された第 2 の発光を荷電粒子線の軸外に反射する反射手段と、前記反射手段から反射された 前記第 1の発光及び前記第 2の発光が入射される位置に配置されると共に、前記第 1の発光及び前記第 2の発光を入射させて前記位置決め用荷電粒子線が照射され た被検眼の部位を含む領域を撮影する撮影手段と、を含む眼底用の荷電粒子線の 照準位置決定装置 (眼底照準位置決定装置)を構成することができる。
[0015] この眼底照準位置決定装置では、前記被検眼に照射される位置決め用荷電粒子 線の通過路途中に設けられ、前記位置決め用荷電粒子線の照射により発光する発 光体と、前記発光体力 発せられた発光力 前記被検眼に照射される荷電粒子線の 軸と直交する平面における位置を検出する検出手段と、を更に設けることができ、前 記発光体と前記反射手段とを一体に構成することができる。
[0016] この眼底照準位置決定装置を使用するにあたっては、前記調整手段によって、荷 電粒子線照射源カゝら照射された位置決め用荷電粒子線の被検眼の眼軸の深さ方向 における照射位置を眼底の強膜から網膜方向に複数ステップで調整し、前記位置決 め用荷電粒子線が照射された被検眼の部位力 発光された第 1の発光を各ステップ 毎に前記撮影手段に入射させて前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検眼 の部位を含む領域を撮影し、撮影により得られた画像に基づいて、前記調整手段を 調整することにより位置決め用荷電粒子線の前記照射位置を目標位置に調整し、前 記反射手段力 反射された第 2の発光を入射させて前記位置決め用荷電粒子線が 照射された被検眼の部位を含む領域を撮影し、治療用の荷電粒子線の照準位置を 決定するよう〖こすることができる。
[0017] 本発明の標準位置決定装置は、荷電粒子線を用いた治療装置に適用することが できる。この治療装置は、例えば、以下のように構成することができる。
[0018] 荷電粒子線源から照射された照射位置決め用荷電粒子線の被検体の深さ方向に おける照射位置を調整する調整手段と、前記位置決め用荷電粒子線を透過または 通過させると共に、前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位力 発 光された第 1の発光、及び励起光の照射明によって、前記位置決め用荷電粒子線が 照射された被検体の部位を含む領域から発光された第 2の発光を荷電粒子線の軸 外に反射する反射手段と、前記反射手段から反射された前記第 1の発光及び前記 第 2の発光が入射される位置に配置されると共に、前記第 1の発光及び前記第 2の 発光を入射させて前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領 域を撮影する撮影手段と、を含み、前記調整手段によって、荷電粒子線照射源から 照射された照射位置決め用荷電粒子線の被検体の深さ方向における照射位置を複 数ステップで調整し、前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位から 発光された第 1の発光を各ステップ毎に前記撮影手段に入射させて前記位置決め 用荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領域を撮影し、撮影により得られた 画像に基づいて、前記調整手段を調整することにより位置決め用荷電粒子線の前記 照射位置を目標位置に調整し、前記反射手段から反射された第 2の発光を入射させ て前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領域を撮影して、 治療用の荷電粒子線の照準位置を決定し、前記照射位置決め用荷電粒子線を治 療用の荷電粒子線に切り替えて、前記照準位置に該治療用の荷電粒子線を照射す る。
発明の効果
[0019] 以上説明したように本発明によれば、被検体に位置決め用荷電粒子線を照射しな 力 被検眼等の被検体を観察及び診断するために被検体を撮影して、治療用荷電 粒子線の照準位置を精密に決定することができる、という効果が得られる。
図面の簡単な説明
[0020] [図 1]本発明の実施例を示す概略図である。
[図 2]本発明の実施例のフィルムミラー部分の概略拡大図である。
[図 3A]励起光源による眼底蛍光造影画像を示す図である。
[図 3B]事前診断における眼底蛍光造影画像を示す図である。
[図 3C]励起光源による眼底蛍光造影画像を示す図である。
[図 3D]深さ位置決めビームによる眼底蛍光造影画像を示す図である。
[図 3E]励起光源による眼底蛍光造影画像を示す図である。
発明を実施するための最良の形態
[0021] 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。本実施例は、本発明を 眼底照準位置決定装置を備えた粒子線治療装置に適用したものである。
実施例 1 [0022] 図 1に示すように、本実施例の眼底照準位置決定装置を備えた粒子線治療装置に は、荷電粒子線照射源 11から照射された荷電粒子線を被検体としての被検眼方向 に導く複数の電磁石 10を配列した荷電粒子線偏向用の電磁石群 12が設けられて いる。荷電粒子線としては、炭素イオンビーム等の重イオンビーム、及び陽子線等の ブラッグカーブを持つ荷電粒子線を用いることができる。
[0023] 荷電粒子線源 11には、可電粒子線の照射開始及び照射停止を行うためのスイツ チ 13、並びに荷電粒子線の強度を調整して照射位置決め用荷電粒子線と治療用荷 電粒子線とに切り替える切り換えスィッチ 15を備えた操作部 17が接続されている。
[0024] 電磁石群 12の荷電粒子線出射側には、高分子等の膜で形成されたレンジシフタを 複数枚、重ねて配列することにより、被検眼に照射される荷電粒子線の被検眼の眼 軸の深さ方向におけるビーム照射位置、すなわち荷電粒子線の飛程を調整する飛 程調整器 14が配置されて ヽる。飛程調整器 14のレンジシフタの枚数または厚さを調 整することにより、被検眼の眼軸の深さ方向におけるビーム照射位置、すなわち荷電 粒子線の軸方向の照射位置を、例えば数 50 mステップで調整することができる。
[0025] 飛程調整器 14の荷電粒子線出射側には、荷電粒子線の軸に直交する平面内の 荷電粒子線の分布状態を整形するためのボーラス 16が配置されている。このボーラ スにより、網膜の形状及びカーブに合わせて、網膜を損傷させないように荷電粒子線 の分布状態が整形される。
[0026] ボーラス 16の荷電粒子線出射側には、荷電粒子線の軸に対して 45° の角度を成 すように、ポリカーボネイトまたはポリエチレンテレフタレート等の高分子材料で形成さ れたフィルムミラー 18が配置されている。図 2に示すように、フィルムミラー 18の荷電 粒子線照射側には、荷電粒子線の照射によって発光する蛍光物質等の蛍光体で形 成された発光体を塗布することによりシンチレレータ 20が形成されている。なお、フィ ルムミラー 18の発光体が塗布された面と反対側の面は、反射面として機能する。
[0027] このように、フィルムミラー 18に発光体を塗布することにより、荷電粒子線を透過さ せると共に、荷電粒子線が照射された部位が発光し、かつ反射面に入射した光を荷 電粒子線の軸外に反射する本発明の反射手段が構成される。
[0028] なお、この反射手段は、上記のようにフィルムミラーに発光体を塗布することによりシ ンチレータとミラーとを一体に構成してもよいが、荷電粒子線の照射により発光する発 光体に反射面を形成する物質を蒸着してシンチレータとミラーとを一体に構成しても よい。また、シンチレータとフィルムミラーを貼り合わせることにより一体ィ匕させて構成 してもよい。また、荷電粒子線を透過しない部材でシンチレータ及びミラーの少なくと も一方を構成する場合には、部材の荷電粒子線の軸に対応する部分に孔を穿設し、 荷電粒子線の一部が孔を通過するようにすればよ!、。孔を通過しな 、荷電粒子線は 、シンチレータに照射され、これにより発光体が発光する。
[0029] ミラーを構成する部材の材質にっ 、ては特に制限はな 、が、荷電粒子線のエネル ギーを著しく減少させず、また、荷電粒子線を発散させない材質の材料を用いるのが 好ましい。
[0030] また、上記では、シンチレータとミラーとを一体に構成する例について説明したが、 シンチレータとミラーとを分離し、荷電粒子線の軸方向に所定間隔に隔てて配置して もよぐ 1つの基材の一方の面に発光体を塗布し、他方の面に反射面を形成する物 質を蒸着するようにしてもょ ヽ。
[0031] シンチレータ 20の発光部が観察可能な位置には、発光部のビームプロファイルを モニタするためのマイクロストリップガスチェンバ等で構成されたビームプロファイルモ ユタ及びビーム粒子数をカウントするカウンタを備えたビーム状態観察装置 22が配 置されている。このビーム状態観察装置 22によれば、ビームプロファイルをモニタす ることができるので、被検眼に照射される荷電粒子線の軸と直交する平面における荷 電粒子線の位置を検出することができる。
[0032] また、フィルムミラー 18から反射された光が入射可能な位置には、被検眼の眼底を 撮影する眼底撮影装置 24が配置されて 、る。
[0033] 眼底撮影装置 24には、眼底に励起光を照射するための励起光源が収納されてい る。本実施例では、励起光源として、近赤外光を照射する半導体レーザー 24A、及 び可視光を照射するハロゲンランプ 24Bを用いている。なお、励起光源としては、眼 底蛍光造影剤からルミネッセンスを発光させることが可能な放射線 (電離または非電 離のいずれでも可）を射出することができる光源であればどのような光源も用いること ができる。 [0034] また、眼底撮影装置 24には、眼底に合焦させることが可能な焦点距離を有する対 物レンズ 24C、及び眼底を撮影する眼底カメラ 24Dが設けられて 、る。
[0035] 電磁石群及び眼底撮影装置は、眼底撮影装置 24のフィルムミラー 18から被検眼 までの光軸部分と、荷電粒子線のフィルムミラー 18から被検眼までのビーム軸部分と がー致するように、予め配置位置が定められている。従って、荷電粒子線の照射位 置と励起光源の光照射位置とは略一致して ヽる。
[0036] 眼底蛍光造影剤としては、フルォレセインまたはインドシアニングリーン等を含有す る造影剤を使用することができるが、インドシアニングリーンを含有する造影剤を使用 する場合には近赤外光を照射する半導体レーザー 24Aからの励起光が使用され、 フルォレセインを含有する造影剤を使用する場合にはハロゲンランプ 24Bからの励 起光が各々切り換えて使用される。
[0037] 次に、本実施例の眼底照準位置決定装置を備えた粒子線治療装置によって、眼 底に対する照準位置を決定し、治療する方法について説明する。被検眼には、予め 眼底蛍光造影剤を注入しておく。また、荷電粒子線については、直径が 1〜： LOmm 程度、 1回の照射強度が治療線量の 1%以下となる深さ位置決めビームが照射でき るように調整しておく。
[0038] 眼底照準位置決定装置を被検眼の眼球の直前に配置し、励起光源からの励起光 を照射して撮影することにより、励起光による眼底蛍光造影画像 (例えば、図 3A)と、 事前診断時における眼底蛍光造影画像 (例えば、図 3B)とを照合し、治療照射を行 う対象を確認する。
[0039] さらに、深さ位置決めビームを被検眼に対して照射し、ビーム状態観察装置 22によ つて発光体を通過した荷電粒子線のプロファイル力 荷電粒子線の軸と直交する平 面上の位置情報を取得し、目的の位置力 ずれている場合には被検眼を移動させ て荷電粒子線の照射位置が軸と直交する平面上の目的の位置に一致するように調 整する。
[0040] 眼底蛍光造影画像の照合により治療照射を行う対象を確認した後、深さ位置決め ビームの照射位置を数 50 μ m単位で眼底の強膜から網膜方向へ 1ステップずつ複 数ステップで調整しながら、すなわち特定の深度ずつ複数回にわたって調整しなが ら、眼底蛍光造影剤が注入された眼底へ荷電粒子線を各特定の深度毎に照射する 。このとき、荷電粒子線の線量分布の歪みは、ボーラスによって補償される。また、荷 電粒子の照射に応じて、フルォレセインまたはインドシアニングリーン等を含有する 眼底蛍光造影剤からルミネッセンスが発光される。
[0041] 荷電粒子線の照射による特定の深度毎の眼底蛍光造影剤からの発光は、フィルム ミラー 18によって反射され、所定の作動距離を有する眼底撮影装置に入射され、眼 底力メラによって眼底血管画像 (例えば、図 3Dに示す眼底蛍光造影画像)が撮影さ れる。これによつて、特定深度の各々における眼底血管画像が得られるので、この複 数の眼底血管画像から目的とする眼底血管画像を選択し、飛程調整器を選択された 眼底血管画像が得られたときの飛程調整器の状態に調整することにより、荷電粒子 線の照射深度、すなわち照射位置を目的の位置に調整することができる。
[0042] 続ヽて、操作部 17の切り換えスィッチ 15を操作して、荷電粒子線を深さ位置決め ビームから治療用ビームの強度及びサイズに切り換え、眼底撮影装置の励起光源か ら励起光を照射して被検眼の眼底における眼底蛍光造影剤を発光させ、発光した光 によって照明された眼底の画像 (例えば、図 3C)を眼底カメラを用いて、動画によつ てリアルタイムに撮影する。撮影された画像に対して治療照射を行うための照準を示 すクロスを表示し（図 3E)、治療用ビームの照準位置を決定し、治療用ビームを照射 する。これにより、被検眼の病巣の平面方向の荷電粒子線照射位置を確認しながら 、治療用ビームをクロスで示される照準の位置に照射することで、治療が行われる。
[0043] 本実施例によれば、被検眼の眼底からの光を荷電粒子線軸外に反射させているた め、眼底荷電粒子線照射光学系と眼底撮影装置の光学系との干渉を防止すること ができる。
[0044] また、本実施例では、微小領域への高精度の荷電粒子線の照射が可能になるため 、微小領域への高精度の荷電粒子線の照射が必要な眼球 (特に、眼底)疾患への適 用が可能になる。また、患者や被検眼の網膜に障害を与えることなぐ患者への負担 を最小にする画期的な確認法及び治療技術として利用することができ。
[0045] また、上記では、被検体として眼底を対象とした例につ!、て説明したが、眼底以外 のその他の患部にも本発明の装置を用いた治療を行うことができる。 産業上の利用分野
[0046] 炭素イオンビーム等の荷電粒子線及び励起光を、被検体としての被検眼の眼底に 照射して眼底画像を撮影することにより荷電粒子線の照準位置を決定し、決定され た照準位置に治療用の荷電粒子線を照射することにより、患部の治療を行う用途に 適用できる。
符号の説明
[0047] 14 飛程調整器
18 フィルムミラー
20 発光体
24 眼底撮影装置

Claims

請求の範囲
[1] 荷電粒子線源カゝら照射された照射位置決め用荷電粒子線の被検体の深さ方向に おける照射位置を調整する調整手段と、
前記位置決め用荷電粒子線を透過または通過させると共に、前記位置決め用荷 電粒子線が照射された被検体の部位力 発光された第 1の発光、及び励起光の照 射によって、前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領域か ら発光された第 2の発光を荷電粒子線の軸外に反射する反射手段と、
前記反射手段力 反射された前記第 1の発光及び前記第 2の発光が入射される位 置に配置されると共に、前記第 1の発光及び前記第 2の発光を入射させて前記位置 決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領域を撮影する撮影手段と、 を含む荷電粒子線の照準位置決定装置。
[2] 前記被検体に照射される前記位置決め用荷電粒子線の通過路途中に設けられ、 前記荷電粒子線の照射により発光する発光体と、
前記発光体から発せられた発光から前記被検体に照射される荷電粒子線の軸と直 交する平面における位置を検出する検出手段と、
を更に含む請求項 1記載の荷電粒子線の照準位置決定装置。
[3] 前記発光体と前記反射手段とを一体に構成した請求項 2記載の荷電粒子線の照 準位置決定装置。
[4] 前記被検体は、蛍光造影剤が注入された被検体である請求項 1〜請求項 3のいず れか 1項記載の荷電粒子線の照準位置決定装置。
[5] 荷電粒子線照射源から照射された照射位置決め用荷電粒子線の被検体としての 被検眼の眼軸の深さ方向における照射位置を調整する調整手段と、
前記位置決め用荷電粒子線を透過または通過させると共に、前記位置決め用荷 電粒子線が照射された被検眼の部位力 発光された第 1の発光、及び励起光の照 射によって、前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検眼の部位を含む領域か ら発光された第 2の発光を荷電粒子線の軸外に反射する反射手段と、
前記反射手段力 反射された前記第 1の発光及び前記第 2の発光が入射される位 置に配置されると共に、前記第 1の発光及び前記第 2の発光を入射させて前記荷電 粒子線が照射された被検眼の部位を含む領域を撮影する撮影手段と、 を含む荷電粒子線の照準位置決定装置。
[6] 前記被検眼に照射される前記位置決め用荷電粒子線の通過路途中に設けられ、 前記位置決め用荷電粒子線の照射により発光する発光体と、
前記発光体力 発せられた発光力 前記被検眼に照射される荷電粒子線の軸と直 交する平面における位置を検出する検出手段と、
を更に含む請求項 5記載の荷電粒子線の照準位置決定装置。
[7] 前記発光体と前記反射手段とを一体に構成した請求項 6記載の荷電粒子線の照 準位置決定装置。
[8] 前記荷電粒子線は、ブラッグカーブを持つ粒子である請求項 1〜請求項 7のいず れか 1項記載の荷電粒子線の照準位置決定装置。
[9] 前記被検眼は、蛍光造影剤が注入された被検眼である請求項 5〜請求項 8の 、ず れか 1項記載の荷電粒子線の照準位置決定装置。
[10] 前記調整手段によって、荷電粒子線照射源から照射された照射位置決め用荷電 粒子線の被検眼の眼軸の深さ方向における照射位置を眼底の強膜から網膜方向に 複数ステップで調整し、
前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検眼の部位力 発光された第 1の発 光を各ステップ毎に前記撮影手段に入射させて前記位置決め用荷電粒子線が照射 された被検眼の部位を含む領域を撮影し、
撮影により得られた画像に基づいて、前記調整手段を調整することにより位置決め 用荷電粒子線の前記照射位置を目標位置に調整し、
前記反射手段力 反射された第 2の発光を入射させて前記位置決め用荷電粒子 線が照射された被検眼の部位を含む領域を撮影し、治療用の荷電粒子線の照準位 置を決定する
請求項 5〜請求項 9のいずれか 1項記載の荷電粒子線の照準位置決定装置の使 用方法。
[11] 請求項 1〜請求項 9のいずれか 1項記載の照準位置決定装置を備えた治療装置。
[12] 荷電粒子線源カゝら照射された照射位置決め用荷電粒子線の被検体の深さ方向に おける照射位置を調整する調整手段と、
前記位置決め用荷電粒子線を透過または通過させると共に、前記位置決め用荷 電粒子線が照射された被検体の部位力 発光された第 1の発光、及び励起光の照 射によって、前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領域か ら発光された第 2の発光を荷電粒子線の軸外に反射する反射手段と、
前記反射手段力 反射された前記第 1の発光及び前記第 2の発光が入射される位 置に配置されると共に、前記第 1の発光及び前記第 2の発光を入射させて前記位置 決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位を含む領域を撮影する撮影手段と、 を含み、
前記調整手段によって、荷電粒子線照射源から照射された照射位置決め用荷電 粒子線の被検体の深さ方向における照射位置を複数ステップで調整し、
前記位置決め用荷電粒子線が照射された被検体の部位力 発光された第 1の発 光を各ステップ毎に前記撮影手段に入射させて前記位置決め用荷電粒子線が照射 された被検体の部位を含む領域を撮影し、
撮影により得られた画像に基づいて、前記調整手段を調整することにより位置決め 用荷電粒子線の前記照射位置を目標位置に調整し、
前記反射手段力 反射された第 2の発光を入射させて前記位置決め用荷電粒子 線が照射された被検体の部位を含む領域を撮影して、治療用の荷電粒子線の照準 位置を決定し、
前記照射位置決め用荷電粒子線を治療用の荷電粒子線に切り替えて、前記照準 位置に該治療用の荷電粒子線を照射する、
荷電粒子線を用いた治療装置。
PCT/JP2007/050347 2006-01-12 2007-01-12 荷電粒子線の照準位置決定装置、その使用方法、及び照準位置決定装置を用いた治療装置 WO2007080981A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB0812582A GB2449568B (en) 2006-01-12 2007-01-12 Device for determining aim position of charged particle beam, method of using the device, and treatment device employing device for determining aim position
DE112007000128T DE112007000128B4 (de) 2006-01-12 2007-01-12 Vorrichtung zur Bestimmung einer Zielposition eines geladenen Teilchenstrahls, Verfahren zur Verwendung der Vorrichtung und Bahandlungsvorrichtung, die die Vorrichtung zur Bestimmung einer Zielposition verwendet
US12/160,420 US7952081B2 (en) 2006-01-12 2007-01-12 Device for determining aim position of charged particle beam, method of using the device, and treatment device employing device for determining aim position
JP2007553955A JP5137071B2 (ja) 2006-01-12 2007-01-12 荷電粒子線の照準位置決定装置、及び照準位置決定装置を用いた治療装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006004794 2006-01-12
JP2006-004794 2006-01-12

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2007080981A1 true WO2007080981A1 (ja) 2007-07-19

Family

ID=38256385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2007/050347 WO2007080981A1 (ja) 2006-01-12 2007-01-12 荷電粒子線の照準位置決定装置、その使用方法、及び照準位置決定装置を用いた治療装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7952081B2 (ja)
JP (1) JP5137071B2 (ja)
DE (1) DE112007000128B4 (ja)
GB (1) GB2449568B (ja)
WO (1) WO2007080981A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018102915A (ja) * 2016-12-08 2018-07-05 イオン ビーム アプリケーションズＩｏｎ Ｂｅａｍ Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ 眼球の治療のための粒子治療装置

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9737272B2 (en) * 2008-05-22 2017-08-22 W. Davis Lee Charged particle cancer therapy beam state determination apparatus and method of use thereof
US9744380B2 (en) * 2008-05-22 2017-08-29 Susan L. Michaud Patient specific beam control assembly of a cancer therapy apparatus and method of use thereof
AU2009256236A1 (en) 2008-06-04 2009-12-10 Neovista, Inc. Handheld radiation delivery system for advancing a radiation source wire
US10376717B2 (en) 2010-04-16 2019-08-13 James P. Bennett Intervening object compensating automated radiation treatment plan development apparatus and method of use thereof
US10556126B2 (en) 2010-04-16 2020-02-11 Mark R. Amato Automated radiation treatment plan development apparatus and method of use thereof
US10188877B2 (en) 2010-04-16 2019-01-29 W. Davis Lee Fiducial marker/cancer imaging and treatment apparatus and method of use thereof
US10518109B2 (en) 2010-04-16 2019-12-31 Jillian Reno Transformable charged particle beam path cancer therapy apparatus and method of use thereof
US10179250B2 (en) 2010-04-16 2019-01-15 Nick Ruebel Auto-updated and implemented radiation treatment plan apparatus and method of use thereof
US10625097B2 (en) 2010-04-16 2020-04-21 Jillian Reno Semi-automated cancer therapy treatment apparatus and method of use thereof
US10349906B2 (en) 2010-04-16 2019-07-16 James P. Bennett Multiplexed proton tomography imaging apparatus and method of use thereof
US10751551B2 (en) 2010-04-16 2020-08-25 James P. Bennett Integrated imaging-cancer treatment apparatus and method of use thereof
US10555710B2 (en) 2010-04-16 2020-02-11 James P. Bennett Simultaneous multi-axes imaging apparatus and method of use thereof
US10589128B2 (en) 2010-04-16 2020-03-17 Susan L. Michaud Treatment beam path verification in a cancer therapy apparatus and method of use thereof
CA2931847C (en) * 2013-11-27 2021-05-11 Dalhousie University System and method for manufacturing bolus for radiotherapy using a three-dimensional printer
DE102015106246A1 (de) * 2015-04-23 2016-10-27 Cryoelectra Gmbh Strahlführungssystem, Teilchenstrahl-Therapieanlage und Verfahren
JP6635125B2 (ja) * 2015-11-27 2020-01-22 株式会社ニコン 顕微鏡、観察方法、及び画像処理プログラム
US10037863B2 (en) 2016-05-27 2018-07-31 Mark R. Amato Continuous ion beam kinetic energy dissipater apparatus and method of use thereof
CN107648746A (zh) * 2016-07-25 2018-02-02 克洛依莱克特拉有限公司 束流引导系统、粒子束流治疗系统及其相关方法
US11179577B2 (en) 2019-04-26 2021-11-23 Adaptiv Medical Technologies Inc. Systems and methods for hot spot reduction during design and manufacture of radiation therapy bolus

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01126257U (ja) * 1988-02-24 1989-08-29
JPH057251U (ja) * 1991-07-09 1993-02-02 日本電気株式会社 放射線治療装置の術中照射監視システム
JPH09173376A (ja) * 1995-10-27 1997-07-08 Hamamatsu Photonics Kk 眼診断治療装置
JPH09192106A (ja) * 1996-01-19 1997-07-29 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像重ね合わせ方法
JPH1015087A (ja) * 1996-07-04 1998-01-20 Hitachi Ltd 荷電粒子線治療方法およびその装置
JP2002200182A (ja) * 2000-12-28 2002-07-16 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 放射線照射位置確認方法
JP2003516830A (ja) * 1999-12-16 2003-05-20 ライト、サイエンシーズ、コーポレーション 眼疾患を治療するための照射装置
JP2004097471A (ja) * 2002-09-09 2004-04-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 放射線発生装置及び放射線照射方向較正装置
WO2004065923A1 (de) * 2003-01-16 2004-08-05 Medizinisches Laserzentrum Lübeck GmbH Verfahren und vorrichtung zur kontaklosen temperaturüberwachung und temperaturregelung
JP2005021366A (ja) * 2003-07-02 2005-01-27 Keio Gijuku 放射線照射位置決め装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01126257A (ja) 1987-11-10 1989-05-18 Ube Ind Ltd 高温超電導セラミックスの成形法
JP2762176B2 (ja) 1991-06-26 1998-06-04 シャープ株式会社 端末側網制御装置
JP2000237168A (ja) 1999-02-19 2000-09-05 Canon Inc 眼科検査装置
DE10031074A1 (de) * 2000-06-30 2002-01-31 Schwerionenforsch Gmbh Vorrichtung zur Bestrahlung eines Tumorgewebes
JP4618592B2 (ja) 2000-07-28 2011-01-26 株式会社トプコン 眼光学特性測定装置
JP3796427B2 (ja) * 2001-10-15 2006-07-12 キヤノン株式会社 眼科撮影装置
JP4362569B2 (ja) 2002-12-11 2009-11-11 独立行政法人 日本原子力研究開発機構 高精度３次元照射用ペンシル型のイオンビーム形成法
WO2006005059A2 (en) * 2004-06-30 2006-01-12 Lexitek, Inc. High resolution proton beam monitor

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01126257U (ja) * 1988-02-24 1989-08-29
JPH057251U (ja) * 1991-07-09 1993-02-02 日本電気株式会社 放射線治療装置の術中照射監視システム
JPH09173376A (ja) * 1995-10-27 1997-07-08 Hamamatsu Photonics Kk 眼診断治療装置
JPH09192106A (ja) * 1996-01-19 1997-07-29 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像重ね合わせ方法
JPH1015087A (ja) * 1996-07-04 1998-01-20 Hitachi Ltd 荷電粒子線治療方法およびその装置
JP2003516830A (ja) * 1999-12-16 2003-05-20 ライト、サイエンシーズ、コーポレーション 眼疾患を治療するための照射装置
JP2002200182A (ja) * 2000-12-28 2002-07-16 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 放射線照射位置確認方法
JP2004097471A (ja) * 2002-09-09 2004-04-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 放射線発生装置及び放射線照射方向較正装置
WO2004065923A1 (de) * 2003-01-16 2004-08-05 Medizinisches Laserzentrum Lübeck GmbH Verfahren und vorrichtung zur kontaklosen temperaturüberwachung und temperaturregelung
JP2005021366A (ja) * 2003-07-02 2005-01-27 Keio Gijuku 放射線照射位置決め装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018102915A (ja) * 2016-12-08 2018-07-05 イオン ビーム アプリケーションズＩｏｎ Ｂｅａｍ Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ 眼球の治療のための粒子治療装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2007080981A1 (ja) 2009-06-11
DE112007000128B4 (de) 2011-05-19
DE112007000128T5 (de) 2008-10-30
GB0812582D0 (en) 2008-08-13
JP5137071B2 (ja) 2013-02-06
GB2449568A (en) 2008-11-26
GB2449568B (en) 2011-06-29
US7952081B2 (en) 2011-05-31
US20100163726A1 (en) 2010-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5137071B2 (ja) 荷電粒子線の照準位置決定装置、及び照準位置決定装置を用いた治療装置
US11161200B2 (en) Apparatus and method for material processing using a transparent contact element
US8771261B2 (en) Dynamic optical surgical system utilizing a fixed relationship between target tissue visualization and beam delivery
US8047714B2 (en) Diagnostic delivery service
US6494878B1 (en) System and method for accurate optical treatment of an eye&#39;s fundus
JP5023122B2 (ja) 粒子線ビーム照射装置
JP6319448B2 (ja) イメージング装置
CN110478625A (zh) 基于高光谱和荧光成像引导的光动力精准治疗系统
JP2004533306A (ja) 眼球移動追跡方法およびその装置
US7690787B2 (en) Arrangement for improving the image field in ophthalmological appliances
CN1119972C (zh) 共轴微光—荧光肺癌诊断和定位仪器
KR20200136153A (ko) 동물 실험용 융합 이미징 시스템 및 방법
WO2010059997A1 (en) Computer controlled system for laser energy delivery to the retina
WO2023273013A1 (zh) 手术导航装置及系统
US20160067521A1 (en) Ocular therapy device
WO2016039001A1 (ja) イメージング装置
KR20210059279A (ko) 암 수술 가이딩을 위한 근적외선 형광 영상 획득 및 영상 투사 시스템
JP2019081091A (ja) レーザ治療装置
JPH07122682B2 (ja) 光照射装置
JP4546062B2 (ja) レーザ治療装置
CN113520296A (zh) 一种用于疾病诊疗的光学成像装置及其工作方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2007553955

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 0812582

Country of ref document: GB

Kind code of ref document: A

Free format text: PCT FILING DATE = 20070112

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 0812582.5

Country of ref document: GB

RET De translation (de og part 6b)

Ref document number: 112007000128

Country of ref document: DE

Date of ref document: 20081030

Kind code of ref document: P

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 112007000128

Country of ref document: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 07706689

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 12160420

Country of ref document: US

REG Reference to national code

Ref country code: DE

Ref legal event code: 8607

REG Reference to national code

Ref country code: DE

Ref legal event code: 8607