WO2007055082A1 - 共焦点顕微鏡装置 - Google Patents

共焦点顕微鏡装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2007055082A1
WO2007055082A1 PCT/JP2006/320589 JP2006320589W WO2007055082A1 WO 2007055082 A1 WO2007055082 A1 WO 2007055082A1 JP 2006320589 W JP2006320589 W JP 2006320589W WO 2007055082 A1 WO2007055082 A1 WO 2007055082A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
line
pixel signal
microscope apparatus
correction
pixel
Prior art date
Application number
PCT/JP2006/320589
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hisashi Okugawa
Original Assignee
Nikon Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corporation filed Critical Nikon Corporation
Priority to JP2007544077A priority Critical patent/JP4905356B2/ja
Priority to EP06811846A priority patent/EP1947498A4/en
Priority to US11/912,830 priority patent/US8189937B2/en
Publication of WO2007055082A1 publication Critical patent/WO2007055082A1/ja

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/0048—Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control

Definitions

  • the present invention relates to a confocal microscope apparatus that detects an image of an object to be observed for each line.
  • a line scanning confocal microscope apparatus illuminates a specimen with illumination light collected in a line, and the light generated in the illumination area on the specimen is detected by a photodetector such as a one-dimensional CCD. It is detected (Patent Document 1, etc.).
  • a photodetector such as a one-dimensional CCD. It is detected (Patent Document 1, etc.).
  • detection may be repeated while scanning the specimen in the illumination area. If detection is performed line by line in this way, it is possible to shorten the time required to acquire two-dimensional image information as compared to a normal confocal microscope apparatus that performs the detection for each point.
  • Patent Document 1 Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-275027
  • an object of the present invention is to provide a confocal microscope apparatus that can obtain a high confocal effect while detecting an image of an object to be observed for each line.
  • the confocal microscope apparatus of the present invention forms an illumination optical system that illuminates a linear region on the surface to be observed in the object to be observed with the condensed light, and forms an image of the light emitted from the surface to be observed.
  • An imaging optical system a two-dimensional photodetector arranged on a conjugate plane of the observation surface, scanning means for moving the linear region on the observation surface, and a confocal point with the linear region
  • a correcting unit that corrects the pixel signal of the specific line on the two-dimensional photodetector in the relationship based on the pixel signal of the peripheral line.
  • the peripheral line preferably includes at least a line adjacent to the specific line.
  • correction unit may at least convert the jth pixel signal S of the specific line L to at least
  • the correction means calculates the j-th pixel signal S of the specific line L based on the specific line L or ⁇ k) -th pixel signal S S.
  • the peripheral line includes at least two lines adjacent to both sides of the specific line.
  • the correction means at least the j-th pixel signal S of the specific line L,
  • Corrections may be made based on S, S, S, S.
  • the correcting means converts the jth pixel signal S of the specific line L to the specific label.
  • S may be corrected by the following formula.
  • a confocal microscope apparatus capable of obtaining a high confocal effect while detecting an image of an object to be observed for each line is realized.
  • FIG. 1 is an overall configuration diagram of the microscope apparatus.
  • FIG. 2 is an enlarged view showing a state where a specimen 8 is illuminated.
  • FIG. 3 A schematic drawing of the optical path from specimen 8 to imaging surface 10a.
  • FIG. 4 is a schematic view of the imaging surface 10a as viewed from the front.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining crosstalk that occurs between pixels in a specific line L;
  • FIG. 6 is a diagram showing an image that affects a certain pixel P on a specific line L.
  • FIG. 7 A picture showing the general pixel P on the specific line L and the crosstalk component of the pixel signal.
  • FIG. 8 is an operation flowchart of the computer 11.
  • This embodiment is an embodiment of a confocal microscope apparatus.
  • FIG. 1 is an overall configuration diagram of the microscope apparatus. As shown in Fig. 1, this microscope device includes a laser light source 1, a cylindrical lens 3, a beam splitter 4, a lens 5, a scanner 6, an objective lens 7, a specimen (such as a biological specimen) 8, a two-dimensional CCD 10, a computer 11, Monitor 12 etc. are arranged.
  • the laser light 2 emitted from the laser light source 1 is collected in a line shape by the cylindrical lens 3.
  • the laser light 2 passes through the beam splitter 4, is converted into parallel light by the lens 5, is reflected by the scan mirror 6 a in the scanner 6, and passes through the objective lens 7 to form a linear region on the sample 8. (Illumination area) Condensed to E.
  • the light generated in the illumination area E returns to the beam splitter 4 through the objective lens 7, the scan mirror 6a, and the lens 5.
  • the light is reflected by the beam splitter 4 and forms an image of the illumination area E on a specific line L on the imaging surface 10a of the two-dimensional CCD 10.
  • the luminance distribution on the image plane 10a is detected, and luminance distribution data is generated and sent to the computer 11.
  • the scanner 6 changes the arrangement angle of the scan mirror 6a to change the illumination area on the specimen 8.
  • E can be moved in the short direction (scanning direction) DS.
  • images of different lines on the specimen 8 are projected onto the specific line L of the two-dimensional CCD 10.
  • the laser light source 1, the scanner 6, the two-dimensional CCD 10, and the like are controlled by the computer 11.
  • the computer 11 controls the scanner 6 to scan the specimen 8 in the illumination area E, and controls the two-dimensional CCD 10 to acquire brightness distribution data (details will be described later).
  • the computer 11 performs arithmetic processing for processing the acquired luminance distribution data to generate a two-dimensional image of the specimen 8 (details will be described later).
  • the computer 11 also performs conversion processing for displaying the image on the monitor 12.
  • FIG. 2 is an enlarged view showing how the specimen 8 is illuminated.
  • the illumination light is condensed on the observation surface 8a in the specimen 8, and spreads on the upper and lower layers of the observation surface 8a. Therefore, hereinafter, the illumination area E on the surface 8a to be observed is particularly referred to as “illumination line E”.
  • FIG. 3 schematically shows the optical path from the specimen 8 to the imaging surface 10a.
  • Figures 3 (A) and 3 (B) show the optical path viewed from 90 ° different angles.
  • the imaging surface 10a is located on the conjugate surface of the observation surface 8a, and the specific line L of the imaging surface 10a is in a confocal relationship with the illumination line E. .
  • Light generated at a certain point on the illumination line E is collected on a specific line L, and an image of the point is formed on one pixel of the specific line L. That is, an image of each point on the illumination line E is formed in each pixel of the specific line L.
  • FIG. 4 is a schematic view of the imaging surface 10a as viewed from the front. As shown in FIG. 4, the specific line L is located around the center of the imaging surface 10a. In the lower part of Fig. 4, the specific line L and its A part of the peripheral line is enlarged.
  • Fig. 4 i i
  • FIG. 5 The left side of FIG. 5 is a schematic diagram of a partial cross section of the specimen 8, and the right side is a schematic diagram of the imaging surface 10a.
  • the reference symbol Z indicates the optical axis direction
  • the reference symbol DL indicates the line direction of the illumination line E and the specific line L.
  • a certain point A on the illumination line E is on a specific line L on the imaging surface 10a.
  • a blurred image A ' is formed around the same point as 00 00 01 00, and crossed pixels are applied to the pixels within the formation range.
  • point A in the upper and lower layers of point A is further centered on the same point as image A '.
  • a greatly blurred image A ′ is formed, and crosstalk is applied to pixels within the formation range.
  • the upper and lower points A 1, A 2,... Of the point A are blurred images A around the same point as the image A 1.
  • FIGS. 5 (B) and 5 (C) the points corresponding to each other of the point A in the sample 8 and the image A ′ on the imaging surface 10a are given the same subscript.
  • FIG. 6 it is the image A formed on the pixel P that affects the pixel P.
  • the image A ′ is an image to be detected by the pixel P.
  • the amount of crosstalk that image A 'exerts on pixel P is aligned with pixel P in an oblique direction.
  • the pixels P 1 and P 2 have a pixel P's crosstalk amount that receives the image A 'force.
  • the amount of crosstalk that image A 'has on pixel P is pixel P or pixel
  • the amount of crosstalk that the image A 'exerts on the pixel P is the pixel P or the pixel P force, etc.
  • the amount of crosstalk that image A 'has on pixel P is the image of pixel P or pixel P.
  • the same pixel signal should be output. If there is a difference between the two pixel signals, it is a noise effect. Therefore, the average value of both pixel signals (average pixel signal) 1 represents the crosstalk component more accurately.
  • the pixels in the line closer to the specific line L are more dominant in the pixel ⁇ .
  • the pixel representing the crosstalk component is indicated using the general pixel number “j”.
  • the average pixel signal of two pixels that are symmetric with respect to a specific line L is the crosstalk component.
  • FIG. 8 is an operation flowchart of the computer 11. Each step will be described in turn.
  • the computer 11 controls the scanner 6 and the two-dimensional CCD 10 shown in FIG. 1 synchronously, and scans the sample 8 with the illumination region E while the illumination region E is on each line on the sample 8.
  • the N brightness distribution data acquired here are I, 1, 1, 1 in the order of acquisition.
  • Pixel signal sequence s of distribution data I pixel signal sequence s of luminance distribution data I
  • the computer 11 calculates the pixel signal sequence S of the luminance distribution data I and the surrounding pixel signal sequence S.
  • the pixel signal sequence S is
  • the pixel signal sequence of line L, and the pixel signal S in the pixel signal sequence S is the pixel signal of pixel! 3 .
  • each pixel signal S in the pixel signal sequence S is corrected by the following equation (1).
  • each term enclosed in square brackets is a correction term.
  • the first correction term in equation (1) is the four on the lines L and L, which are shifted by one line L force by one line.
  • Equation (1) The second correction term in Equation (1) is the four on the lines L and L that are shifted by 2 lines for the specific line L force.
  • 0 2 -2 means correction by pixels ⁇ , ⁇ , ⁇ , ⁇ (see Fig. 7).
  • the k-th correction term in equation (1) is the lines L, L that are shifted by a specific line L force k lines. It means correction by the above four pixels P 1, P 2, P 3 and P 4.
  • the crosstalk component is removed, and according to the kth correction term,
  • the dominant crosstalk component is removed.
  • (S + S) Z2 in the k-th correction term is 2 symmetric with respect to the specific line L.
  • the number of correction terms in equation (1) may be set to a small number such as 2, 1. The reason is that the correction effect becomes weaker as the correction term with a larger k (that is, the line away from the specific line L force)
  • the number of correction terms is suppressed, it is possible to reduce the number of pixel signal sequences to be referred to by the computer 11 and the computation load on the computer 11 in step S2.
  • the correction accuracy can be increased in principle, but in reality, the correction term with a larger k (that is, a line away from a specific line L force) has a worse S / N.
  • the number of correction terms is too large, the correction accuracy may deteriorate. For this reason, it is desirable that the number of correction terms be selected to an optimal value through experiments and simulations in advance.
  • the computer 11 converts the pixel signal sequence S of the luminance distribution data I to the surrounding pixels.
  • the luminance data I force obtained in the above step is the corrected pixel signal sequence S obtained.
  • I the corrected pixel signal sequence S obtained from the luminance data I, and S is the luminance data I.
  • the computer 11 arranges the corrected pixel signal sequences S, s, s, ⁇ ,-, S in this order.
  • This image data I represents a two-dimensional image of specimen 8.
  • this microscope apparatus is a line scanning type confocal microscope apparatus, the scanning direction Although crosstalk related to DS does not occur, crosstalk related to line direction DL occurs. However, in this microscope device, not only the specific line L corresponding to the illumination line E but also the specific line L.
  • a two-dimensional luminance distribution including peripheral lines is detected, and the former pixel signal is corrected based on the latter pixel signal.
  • This correction suppresses crosstalk in the line direction DL. Therefore, this microscope apparatus can obtain a high confocal effect while being a line scanning type.
  • the computer 11 of the microscope apparatus corrects the specific line L for correction.
  • equation (2) may be used instead of equation (1).
  • each term enclosed in parentheses is a correction term.
  • the first correction term in equation (2) is the two pixels P on L that are shifted by one line L force by one line.
  • the second correction term in equation (2) is the specific line L or
  • the k-th correction term in equation (2) is 2 on line L that is shifted by a specific line L force k lines.
  • equation (2) corresponds to the equation (1) in which the number of lines used for correction is halved. Since the equation (2) does not include an operation for calculating the average pixel signal, the speed of the correction operation can be increased.
  • the number of correction terms may be set to a small number such as 2 or 1. Because the correction term with a larger k (that is, the line away from the specific line L force) is more effective.
  • the number of correction terms is too large, the correction accuracy may deteriorate. For this reason, it is desirable that the number of correction terms be selected to the optimum value through experiments and simulations in advance.
  • the size of the imaging surface 10a of the two-dimensional CCD is changed accordingly. It may be small.
  • equation (1) when equation (1) is used as the correction formula and the number of correction terms is 2, only four lines are used for correction, so that the imaging surface 10a has a specific line L, lines L, L, L, L, L, L
  • a two-dimensional CCD is used as a two-dimensional photodetector, but other types can be used as long as the luminance distribution formed simultaneously on a specific line and its peripheral lines can be detected.
  • the two-dimensional photodetector may be used.
  • the present microscope apparatus is an application of the present invention to a line scanning confocal microscope.
  • the application of the present invention is effective in some cases. Become. This is the case where the spot scanning speed is increased and the specimen image is detected line by line with a charge storage type photodetector such as CCD. Since the charge storage type photodetector detects the time integral of the light intensity incident within a finite period, even if the light is incident at different positions on the CCD, the incident timing of them When is within the charge accumulation period of the CCD, it causes crosstalk between the signals. However, this crosstalk can be suppressed by applying the present invention.
  • fluorescence observation may be performed using the present microscope apparatus.
  • a specimen labeled with a fluorescent substance is arranged as the specimen 8
  • a dichroic mirror is arranged as the beam splitter 4
  • a filter is arranged at an appropriate position around the dichroic mirror as necessary.
  • a part or all of the processing by the computer 11 of the microscope apparatus may be executed by a circuit instead of the computer 11. If a circuit is used, it is possible to shorten the time until the confocal image is displayed.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

　本発明は、被観察物の像をライン毎に検出しながらも高い共焦点効果を得ることのできる共焦点顕微鏡装置を提供することを目的とする。そのために、本発明の共焦点顕微鏡装置は、被観察物（８）中の被観察面上のライン状領域（Ｅ）を集光された光で照明する照明光学系（１～７）と、前記被観察面（８）から射出した光を結像する結像光学系（７，５）と、前記被観察面（８）の共役面に配置された二次元光検出器（１０）と、前記ライン状領域（Ｅ）を前記被観察面上で移動させる走査手段（６）と、前記ライン状領域（Ｅ）と共焦点関係にある前記二次元光検出器上の特定ライン（Ｌ0）の画素信号を、その周辺ラインの画素信号に基づき補正する補正手段（１１）とを備える。

Description

明 細 書
共焦点顕微鏡装置
技術分野
[0001] 本発明は、被観察物の像をライン毎に検出する共焦点顕微鏡装置に関する。
背景技術
[0002] 一般に、ライン走査型の共焦点顕微鏡装置は、ライン状に集光された照明光で標 本を照明し、標本上の照明領域で生じた光を一次元 CCDなどの光検出器で検出す るものである（特許文献 1など)。二次元の画像を取得するには、照明領域で標本上 を走査しながら検出を繰り返せばよい。このように検出をライン毎に行えば、それをポ イント毎に行う通常の共焦点顕微鏡装置よりも二次元の画像情報を取得するまでの 時間を短縮することができる。
特許文献 1 :特開 2000— 275027号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0003] しかし、ライン走査型の共焦点顕微鏡装置では、照明領域の短手方向に関するク ロストークは抑えられるものの、その長手方向に関するクロストークは抑えられないの で、その長手方向に分布した標本の観察では、共焦点効果（光軸方向のセクショニ ング分解能や平面方向のコントラスト）が得られない。
そこで本発明は、被観察物の像をライン毎に検出しながらも高い共焦点効果を得る ことのできる共焦点顕微鏡装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0004] 本発明の共焦点顕微鏡装置は、被観察物中の被観察面上のライン状領域を集光 された光で照明する照明光学系と、前記被観察面から射出した光を結像する結像光 学系と、前記被観察面の共役面に配置された二次元光検出器と、前記ライン状領域 を前記被観察面上で移動させる走査手段と、前記ライン状領域と共焦点関係にある 前記二次元光検出器上の特定ラインの画素信号を、その周辺ラインの画素信号に 基づき補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。 [0005] なお、前記周辺ラインには、少なくとも前記特定ラインに隣接したラインが含まれる ことが望ましい。
また、前記補正手段は、前記特定ライン Lの j番目の画素信号 S を、少なくとも、
0 (0,j)
その特定ライン Lから 1ラインずれたライン Lの (j±l)番目の画素信号 S , S
0 1 (1J+1) に基づき補正するとよい。
[0006] また、前記補正手段は、前記特定ライン Lの j番目の画素信号 S を、前記特定ラ イン Lか ±k)番目の画素信号 S S に基づき以
0 (k,j+k) (k,rk) 下の式で補正してもよい。
S =S 一（S +S )
(0,j) (0,j) (l,j+l) (Ι,Μ)
_(s +s )
(2,]+2) (2,j- 2)
_(s +s )■·-
(3,]+3) (3,j— 3)
さらに、前記周辺ラインには、少なくとも前記特定ラインの両側に隣接した 2つのライ ンが含まれることが望ましい。
[0007] また、前記補正手段は、前記特定ライン Lの j番目の画素信号 S を、少なくとも、
0 (0,j)
その特定ライン L力 ±1ラインずれた 2つのライン L , L の (j±l)番目の画素信号
0 1 - 1
S ， S ， S ， S に基づき補正してもよい。
(l,j+D (-1J+D (1，卜 1) (― 1，卜 1)
また、前記補正手段は、前記特定ライン Lの j番目の画素信号 S を、前記特定ラ
0 (0，j)
イン L力 ¾±kラインずれたライン L， L の（j土 k)番目の画素信号 S ， S ， S
0 k -k (k,j+k) (_k，j+k) (k，j
， s に基づき以下の式で補正してもよい。
-k) (-k'j-k)
[0008] s =s
(0，j) (0,j)
[(S +S )/2+(S +S )/2]
(l,j+D (-1J+D (l，j— 1) (—1，卜 1)
一 [(S +S )/2+ (S +S )/2]
(2,j+2) {-2,]+2) (2J-2) {-2,]-2)
一 [(S +S )/2+ (S +S )/2]
(3,j+3) (-3J+3) (3，j— 3) (-3J-3) 発明の効果
[0009] 本発明によれば、被観察物の像をライン毎に検出しながらも高い共焦点効果を得る ことのできる共焦点顕微鏡装置が実現する。
図面の簡単な説明 [0010] [図 1]本顕微鏡装置の全体構成図である。
[図 2]標本 8が照明される様子を拡大して示す図である。
[図 3]標本 8から撮像面 10aまでの光路を模式的に描いたものである。
[図 4]撮像面 10aを正面から見た模式図である。
[図 5]特定ライン L内の画素間で生じるクロストークを説明する図である。
0
[図 6]特定ライン L上の或る画素 P に対し影響を及ぼす像を示す図である。
0 (0,0)
[図 7]特定ライン L上の一般の画素 P と、その画素信号のクロストーク成分を表す画
0 (0,j)
素とを示す図である。
[図 8]コンピュータ 11の動作フローチャートである。
発明を実施するための最良の形態
[0011] [第 1実施形態]
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。本実施形態は、共焦点顕微 鏡装置の実施形態である。
先ず、本顕微鏡装置の全体構成を説明する。
図 1は、本顕微鏡装置の全体構成図である。図 1に示すように、本顕微鏡装置には 、レーザ光源 1、シリンドリカルレンズ 3、ビームスプリッタ 4、レンズ 5、スキャナ 6、対物 レンズ 7、標本（生体標本など） 8、二次元 CCD10、コンピュータ 11、モニタ 12などが 配置される。
[0012] レーザ光源 1から射出したレーザ光 2は、シリンドリカルレンズ 3によりライン状に集 光される。そのレーザ光 2は、ビームスプリッタ 4を通過した後、レンズ 5によって平行 光に変換され、スキャナ 6内のスキャンミラー 6aで反射して、対物レンズ 7を介して標 本 8上のライン状の領域 (照明領域) Eに集光する。
照明領域 Eで発生した光は、対物レンズ 7、スキャンミラー 6a、レンズ 5を介してビー ムスプリッタ 4へ戻る。その光は、ビームスプリッタ 4で反射し、二次元 CCD10の撮像 面 10a上の特定ライン Lに照明領域 Eの像を形成する。二次元 CCD10は、その撮
0
像面 10aの輝度分布を検出し、輝度分布データを生成してコンピュータ 11へ送出す る。
[0013] なお、スキャナ 6は、スキャンミラー 6aの配置角度を変化させ、標本 8上の照明領域 Eをその短手方向（走査方向） DSへ移動させることができる。このように照明領域 Eが 標本 8上を移動すると、二次元 CCD10の特定ライン Lには、標本 8上の異なるライン の像が投影されることになる。
また、レーザ光源 1、スキャナ 6、二次元 CCD10などは、コンピュータ 11によって制 御される。例えば、コンピュータ 11は、スキャナ 6を制御して標本 8上を照明領域 Eで 走査しながら、二次元 CCD10を制御して輝度分布データを取得する制御処理を行 う（詳細は後述)。また、コンピュータ 11は、取得した輝度分布データを処理して標本 8の二次元の画像を生成する演算処理を行う（詳細は後述)。また、コンピュータ 11は 、その画像をモニタ 12へ表示するための変換処理なども行う。
[0014] 図 2は、標本 8が照明される様子を拡大して示す図である。照明光は、標本 8中の 被観察面 8a上に集光し、被観察面 8aの上下層では広がりを持つ。よって、以下では 、被観察面 8a上の照明領域 Eのことを、特に「照明ライン E」と称す。
図 3は、標本 8から撮像面 10aまでの光路を模式的に描いたものである。図 3 (A) , (B)には、 90° 異なる角度から光路を見た様子を示した。
[0015] 図 3 (A) , (B)に示すとおり、被観察面 8aの共役面に撮像面 10aが位置しており、 撮像面 10aの特定ライン Lが照明ライン Eと共焦点関係にある。照明ライン E上の或 る 1点で発生した光は、特定ライン L上に集光し、その特定ライン Lの 1つの画素上 にその点の像を形成する。つまり、特定ライン Lの各画素には、照明ライン E上の各 点の像が形成される。
[0016] 但し、実際には、照明ライン Eの上下層のライン E'でも光（フレア）が発生している。
そのライン E'上の或る 1点で発生したフレアは、特定ライン Lよりも手前又は奥に集 光するので、特定ライン Lの複数の画素上にその点のボケた像を形成する。つまり、 特定ライン Lの各画素には、ライン E'上の各点のボケた像が重なって形成される。 その結果、特定ライン Lの各画素には、走查方向 DSに関するクロストークは生じな いものの、ライン方向 DLに関するクロストークは発生する。
[0017] 次に、ライン方向 DLに関するクロストークを詳細に説明する。
図 4は、撮像面 10aを正面から見た模式図である。図 4に示すとおり、特定ライン L は、撮像面 10aの中央の辺りに位置している。図 4の下部には、特定ライン L及びそ の周辺ラインの一部を拡大して示した。以下、図 4に示すように、特定ライン Lから iラ
0
[0018] 図 5の左側に示すのは、標本 8の一部の断面の模式図であり、右側に示すのは撮 像面 10aの模式図である。図 5中、符号 Zで示すのは光軸方向であり、符号 DLで示 すのは照明ライン E及び特定ライン Lのライン方向である。
0
図 5 (A)に示すとおり、照明ライン E上の或る点 A が撮像面 10aの特定ライン L上
00 0 の微小な円形領域に像 A 'を形成するときには、点 A の上下層の点 A は、像 A '
00 00 01 00 と同じ点を中心としてボケた像 A 'を形成し、その形成範囲内の画素に対しクロスト
01
ークを及ぼす。また、点 A の上下層の点 A は、像 A 'と同じ点を中心としてさらに
01 02 00
大きくボケた像 A 'を形成し、その形成範囲内の画素に対しクロストークを及ぼす。
02
[0019] つまり、点 A の上下層の点 A , A ，…は、像 A ，と同じ点を中心としてボケた像 A
00 01 02 00
' , A '，…を形成し、その形成範囲内の画素に対しクロストークを及ぼす。なお、ボ
01 02
ケの大きい像ほど、 1つの画素に与えるクロストーク量は小さい。
これと同じこと力 照明ライン E上の別の点やその上下層の点についても当てはまる (図 5 (B)， (C)参照）。図 5 (B) , (C)では、図 5 (A)と同様、標本 8中の点 A及び撮像 面 10a上の像 A'の互いに対応するもの同士には同じ添え字を付した。
[0020] 次に、特定ライン Lの画素信号に生じるクロストーク成分を説明する。
0
図 6では、特定ライン L上の或る画素 P に着目し、その画素 P に対し影響を及
0 (0,0) (0,0)
ぼす像のみを示した。なお、 P は、ライン Lの j番目の画素である。
i
図 6に示すように、画素 P に影響を及ぼすのは、画素 P 上に形成される像 A ,
(0,0) (0,0) 00 と、画素 P 力 ライン方向 DLへずれた位置（X印）に中心を持ち、かつそのずれ量
(0,0)
の分だけボケた像 A ，， A ，，A ，，A ，，…である。
11 -11 22 -22
[0021] このうち、像 A 'は、画素 P によって検出されるべき像であって、画素 P に対し
00 (0,0) (0,0) 信号成分を発生させる像である。それ以外の像 A ' , A '， A A '，…が、画素
11 22 -11 -22
P に対しクロストーク成分を発生させる。
(0,0)
ここで、像 A 'が画素 P に及ぼすクロストーク量は、画素 P と斜め方向に並ぶ
11 (0,0) (0,0)
画素 P 又は画素 P の画素信号に現れるとみなせる。
(1,1) (-1,1)
[0022] なぜなら、第 1に、画素 P , P は、像 A '力 受けるクロストーク量が画素 P
(1,1) (—1,1) 11 (0,0) のそれと同じである。第 2に、画素 P , P は、特定ライン L力 外れたライン上に
(1,1) (-1,1) 0
存在するので、信号成分を持たない。
同様に考えると、像 A 'が画素 P に及ぼすクロストーク量は、画素 P 又は画素
-11 (0,0) (1,-1)
P の画素信号に現れるとみなせる。
(-1,-1)
[0023] また、像 A 'が画素 P に及ぼすクロストーク量は、画素 P 又は画素 P 力、らの
22 (0,0) (2,2) (-2,2) 画素信号に現れるとみなせる。
また、像 A 'が画素 P に及ぼすクロストーク量は、画素 P 又は画素 P の画
-22 (0,0) (2,-2) (-2,-2) 素信号に現れるとみなせる。
したがって、画素 P , P , P , P ， Ρ ， Ρ , Ρ ， Ρ ，…の画素信
(1,1) (—1,1) (1,-1) (-1,-1) (2,2) (—2,2) (2,-2) (-2,-2)
号 s , s , s , s ， s ， s ， S ， S ,…が、画素 P の画素信号
(1,1) (—1,1) (1,-1) (-1,-1) (2,2) (—2,2) (2,-2) (-2,-2) (0,0) s に含まれるクロストーク成分を表す。
(0,0)
[0024] なお、画素 P と画素 P 、画素 P と画素 P などは、特定ライン Lに関し対
(1,1) (-1,1) (ι,-ι) (-1,-1) 0
称の関係にあるので、原理的には同じ画素信号を出力するはずである。両者の画素 信号に差異が生じたら、それはノイズの影響である。したがって、両者の画素信号の 平均値（平均画素信号） 1 クロストーク成分をより正確に表す。
また、 1つの像 A'のボケ量が大きいほど、その画素 A'が 1つの画素に及ぼすクロス トーク量は小さくなるので、画素!3 , P , Ρ , Ρ , Ρ , Ρ , Ρ , Ρ ,
(1,1) (-1,1) (1,-1) (-1,-1) (2,2) (-2,2) (2,-2) (-2,-2)
…のうち、特定ライン Lに近接したラインの画素ほど、画素 Ρ に対しより支配的なク
0 (0,0)
ロストーク成分を表す。
[0025] さらに、以上の説明は、特定ライン L上の各画素についてそれぞれ当てはまる。図
0
7には、特定ライン L上の一般の画素 Ρ と、その画素 Ρ の画素信号 S に含まれ
0 (0,j) (0,j) (0,j)
るクロストーク成分を表す画素とを、一般の画素番号「j」を用いて示した。これらの画 素のうち、特定ライン Lに関し対称な 2つの画素の平均画素信号は、クロストーク成
0
分をより正確に表す。また、特定ライン Lに近接したラインの画素ほど、画素 P に対
0 (0,j) しょり支配的なクロストーク成分を表す。
[0026] 次に、以上のことを踏まえて本顕微鏡装置のコンピュータ 11の動作を詳細に説明 する。
図 8は、コンピュータ 11の動作フローチャートである。各ステップを順に説明する。 コンピュータ 11は、図 1に示したスキャナ 6及び二次元 CCD10を同期制御し、標本 8上を照明領域 Eで走査しながら照明領域 Eが標本 8上の各ラインにあるときのそれ ぞれにおいて輝度分布データを取得する（ステップ Sl)。ここで取得された N個の輝 度分布データを取得順に I , 1, 1,
1 2 3 …， Iとおく。
N
[0027] 輝度分布データ I , I， I，…， Iの各々に含まれる特定の画素信号列 s 、前述し
1 2 3 N 0 た特定ライン L力 の画素信号列である。輝度分布データ Iの画素信号列 S、輝度
0 1 0 分布データ Iの画素信号列 s、輝度分布データ Iの画素信号列 s、 ·■·、輝度分布デ
2 0 2 0
ータ Iの画素信号列 sには、標本 8上の互いに異なるラインの情報が反映されている
(ステップ S 2)
コンピュータ 11は、輝度分布データ Iの画素信号列 Sと、その周辺の画素信号列 S
1 0
， S , S， S ,…とを参照し、前者を後者に基づき補正する。なお、画素信号列 Sは
1 -1 2 -2
、ライン Lの画素信号列であり、画素信号列 S内の画素信号 S は、画素!3 の画素 信号である。
[0028] この補正では、画素信号列 S内の各画素信号 S は、それぞれ以下の式（1)により 補正される。
S
(0,j) (0,j)
[(s. +s )/2Λ _(S H -s )/2]
(l,j+D (-i,j+D (1,H) (- l,H)
[(s +s )/2Λ _(S H -s )/2]
(2,j+2) (-2,j+2) (2,j-2) (-2,j-2)
[(s +s )/2Λ _(S H -s )/2]
(3,j+3) (-3,j+3) (3,j-3) (-3,j-3)
(1)
この式（1)の右辺において、大括弧で括った各項が補正項である。
[0029] 式（1)の 1番目の補正項は、特定ライン L力 1ラインずれたライン L , L 上の 4つ
0 1 -1 の画素 P , P , Ρ ， Ρ による補正を意味している（図 7参照）。
(1,]+1) (-1,]+1) 1) 1)
式（1)の 2番目の補正項は、特定ライン L力 2ラインずれたライン L , L 上の 4つ
0 2 -2 の画素 Ρ , Ρ , Ρ ， Ρ による補正を意味している（図 7参照）。
(2,]+2) (-2,j+2) (2,j-2) (-2,]'-2)
[0030] 同様に、式（1)の k番目の補正項は、特定ライン L力 kラインずれたライン L， L 上の 4つの画素 P , P , P , P による補正を意味している。
(k,j+k) (-k,j+k) (k,j-k) (-k,j-k)
したがって、 1番目の補正項によると、画素信号 S において最も支配的なクロスト
(0,j)
ーク成分が除去され、 2番目の補正項によると、画素信号 S において次に支配的な
(0,j)
クロストーク成分が除去され、 k番目の補正項によると、画素信号 S において k番目
(0,j)
に支配的なクロストーク成分が除去される。
[0031] また、 k番目の補正項における（S + S ) Z2は、特定ライン Lに関し対称な 2
(k,j+k) (-k,j+k) 0
つの画素 P , p の平均画素信号を表す。したがって、式（1)における各補正
(k,]+k) (― k,j+k)
項によれば、各種のクロストーク成分をそれぞれ高精度に除去することができる。 なお、式（1)における補正項の数は、 2, 1などの小さい数に設定してもよい。なぜ なら、 kの大きい補正項（つまり特定ライン L力 離れたライン）ほど補正効果が弱い
0
力、らである。補正項の数が抑えられれば、ステップ S2においてコンピュータ 11が参 照すべき画素信号列の数、及びコンピュータ 11の演算負荷を減らすことができる。一 方、補正項の数を多くするほど原理的には補正精度を高めることが可能だが、実際 には、 kの大きい補正項（つまり特定ライン L力 離れたライン）ほど S/Nが悪いので
0
、補正項の数が多すぎると補正精度が逆に悪化する可能性もある。このため、補正 項の数は、予めの実験やシミュレーションなどにより最適な値に選定されることが望ま しい。
[0032] 同様に、コンピュータ 11は、輝度分布データ Iの画素信号列 Sを、その周辺の画素
2 0
信号列 S , S ， S， S ，…に基づき補正する。同様に、コンピュータ 11は、輝度デー
1 -1 2 -2
タ I , I , I , I , · · · , Iの画素信号列 Sも補正する。
3 4 5 6 N 0
なお、以上の本ステップにおいて輝度データ I力 得られた補正後の画素信号列 S
1
を S 、輝度データ Iから得られた補正後の画素信号列 Sを S 、 ·■·、輝度データ Iか
0 10 2 0 20 N ら得られた補正後の画素信号列 Sを S と置き換える。
0 NO
[0033]
コンピュータ 11は、補正後の画素信号列 S ， s , s ,■· - , S をこの順で並べて合
10 20 30 NO
成し、 1枚の画像データ Iを作成する。この画像データ Iが、標本 8の二次元の画像を 表す。
以上、本顕微鏡装置は、ライン走査型の共焦点顕微鏡装置であるので、走査方向 DSに関するクロストークは生じないものの、ライン方向 DLに関するクロストークは生じ る。しかし、本顕微鏡装置では、照明ライン Eに対応する特定ライン Lだけでなくその
0
周辺ラインを含む二次元の輝度分布を検出し、前者の画素信号を後者の画素信号 に基づき補正する。この補正により、ライン方向 DLに関するクロストークが抑えられる 。したがって、本顕微鏡装置は、ライン走査型でありながらも高い共焦点効果を得るこ とができる。
[0034] し力、も、本顕微鏡装置のコンピュータ 11は、補正に当たり、特定ライン Lに関し対
0 称な 2つの画素の平均画素信号を用いるので（式（1)参照）、その補正精度を高める こと力 Sできる。
(その他）
また、ステップ S2における補正では、式（1)の代わりに式（2)を用いてもよい。
[0035]
(0,j) (0,j)
一（s + s )
一（s + s )
(2,j+2) (2,j - 2)
一（s + s )
(3,j+3) (3,j-3)
一… … ）
この式（2)の右辺において、括弧で括った各項が補正項である。
[0036] 式（2)の 1番目の補正項は、特定ライン L力 1ラインずれた L上の 2つの画素 P
0 '
， P による補正を意味している（図 7参照）（
1)
式（2)の 2番目の補正項は、特定ライン Lか
0
素 P , Ρ による補正を意味している（図 7参照）。
(2,j+2) (2,j-2)
同様に、式（2)の k番目の補正項は、特定ライン L力 kラインずれたライン L上の 2
0 k つの画素 p , p による補正を意味している。
(k,j+k) (k,j-k)
[0037] つまり、式（2)は、式（1)において、補正に用いるラインの本数を半分にしたものに 相当する。この式（2)には平均画素信号を算出するための演算が含まれないので、 補正演算の速度を高めることができる。
なお、式（2)を用いる場合も補正項の数を、 2， 1などの小さい数に設定してもよい。 なぜなら、 kの大きい補正項（つまり特定ライン L力 離れたライン）ほど補正効果が
0 弱いからである。補正項の数が抑えられれば、ステップ S2においてコンピュータ 11が 参照すべき画素信号列の数、及びコンピュータ 11の演算負荷を減らすことができる。 一方、補正項の数を多くするほど原理的には精度を高めることが可能だが、実際に は、 kの大きい補正項（つまり特定ライン L力も離れたライン）ほど SZNが悪いので、
0
補正項の数が多すぎると補正精度が逆に悪化する可能性もある。このため、補正項 の数は、予めの実験やシミュレーションなどにより最適な値に選定されることが望まし レ、。
[0038] また、本実施形態では、撮像面 10aのサイズについて言及しなかった力 補正に用 レ、られるラインの本数が少ない場合は、それに応じて二次元 CCDの撮像面 10aのサ ィズを小さくしてもよい。
例えば、補正式として式（1)を用いると共に、その補正項の数が 2であるときには、 補正に 4ラインしか用いないので、撮像面 10aは、特定ライン L，ライン L， L ， L , L
0 1 -1 2 の 5ラインさえ有してレ、れば十分である。
-2
[0039] また、補正式として式（2)を用いると共に、その補正項の数が 2であるときには、補 正に 2ラインしか用いないので、撮像面 10aは、特定ライン L ,ライン L , Lの 3ライン
0 1 2 さえ有してレ、れば十分である。
また、本顕微鏡装置では、二次元光検出器として二次元 CCDが用いられたが、特 定ライン及びその周辺ラインに同時に形成される輝度分布を検出することができるの であれば、他のタイプの二次元光検出器が用いられてもよい。
[0040] また、本顕微鏡装置は、ライン走査型の共焦点顕微鏡に本発明を適用したもので あるが、スポット走査型の共焦点顕微鏡であっても、場合によっては本発明の適用が 有効となる。それは、スポット走查を高速化し、 CCDなどの電荷蓄積型の光検出器で 標本の像をライン毎に検出するような場合である。電荷蓄積型の光検出器は、有限 期間内に入射した光強度の時間積分を検出するものなので、 CCD上のずれた位置 にずれたタイミングで入射した光同士であっても、それらの入射タイミングが CCDの 電荷蓄積期間内に収まっているときには、互いの信号にクロストークを及ぼす。しかし 、本発明を適用すれば、このクロストークを抑えることができる。
[0041] また、本顕微鏡装置を利用して蛍光観察を行ってもよい。因みに、蛍光観察の際に は、標本 8として蛍光物質で標識された標本を配置し、ビームスプリッタ 4としてダイク 口イツクミラーを配置し、そのダイクロイツクミラーの周辺の適当な位置に必要に応じて フィルタを配置すればよい。
また、本顕微鏡装置のコンピュータ 11による処理の一部又は全部を、コンピュータ 11の代わりに回路に実行させてもよい。回路を利用すれば、共焦点画像を表示する までの時間を短縮することも可能である。

Claims

請求の範囲
[1] 被観察物中の被観察面上のライン状領域を集光された光で照明する照明光学系と 前記被観察面から射出した光を結像する結像光学系と、
前記被観察面の共役面に配置された二次元光検出器と、
前記ライン状領域を前記被観察面上で移動させる走査手段と、
前記ライン状領域と共焦点関係にある前記二次元光検出器上の特定ラインの画素 信号を、その周辺ラインの画素信号に基づき補正する補正手段と
を備えたことを特徴とする共焦点顕微鏡装置。
[2] 請求項 1に記載の共焦点顕微鏡装置にぉレ、て、
前記周辺ラインには、
少なくとも前記特定ラインに隣接したラインが含まれる
ことを特徴とする共焦点顕微鏡装置。
[3] 請求項 2に記載の共焦点顕微鏡装置において、
前記補正手段は、
前記特定ライン Lの j番目の画素信号 S を、少なくとも、その特定ライン Lから 1ラ
0 インずれたライン L に基づき補正する
Figure imgf000014_0001
ことを特徴とする共焦点顕微鏡装置。
[4] 請求項 3に記載の共焦点顕微鏡装置において、
前記補正手段は、
前記特定ライン Lの j番目の画素信号 S を、前記特定ライン Lから kラインずれた
0 (0,j) 0
ライン Lの (j ±k)番目の画素信号 S , S に基づき以下の式で補正する
k (k,j+k) (k,j-k)
s =s 一（s +s )
(0,j) (0,j) (l,j+l) (1,M)
_ (s +s )
(2,]+2) (2,j- 2)
一（s +s ) ···
(3,]+3) (3,j— 3)
ことを特徴とする共焦点顕微鏡装置。
[5] 請求項 1に記載の共焦点顕微鏡装置にぉレ、て、
前記周辺ラインには、 少なくとも前記特定ラインの両側に隣接した 2つのラインが含まれる
ことを特徴とする共焦点顕微鏡装置。
請求項 5に記載の共焦点顕微鏡装置において、
前記補正手段は、
Figure imgf000015_0001
に基づき補正する
- 1)
ことを特徴とする共焦点顕微鏡装置。
請求項 6に記載の共焦点顕微鏡装置において、
前記補正手段は、
前記特定ライン Lの j番目の画素信号 S を、前記特定ライン L力も ±kラインずれ
0 (0,j) 0 たライン L , L の（j土 k)番目の画素信号 S , S , S , S に基づき以下 の式で補正する
s =s
(0,j) (0,j)
[(s -S )/ ,2+(S +S )/2]
(l,j+l) (-1J+1) (i,j-D Hj-i)
[(s -s )/ ,2+(S +S )/2]
(2,j+2) (-2 +2) (2,j-2) (-2,1-2)
[(S S )/ ,2+(S +S )/2]
(3,j+3) (— 3J+3) (3,j-3) (— 3,j— 3) ことを特徴とする共焦点顕微鏡装置。
PCT/JP2006/320589 2005-11-11 2006-10-16 共焦点顕微鏡装置 WO2007055082A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007544077A JP4905356B2 (ja) 2005-11-11 2006-10-16 ライン走査型共焦点顕微鏡装置
EP06811846A EP1947498A4 (en) 2005-11-11 2006-10-16 KOFOKALES MICROSCOPE
US11/912,830 US8189937B2 (en) 2005-11-11 2006-10-16 Line-scanning confocal microscope apparatus

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005327343 2005-11-11
JP2005-327343 2005-11-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2007055082A1 true WO2007055082A1 (ja) 2007-05-18

Family

ID=38023089

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2006/320589 WO2007055082A1 (ja) 2005-11-11 2006-10-16 共焦点顕微鏡装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8189937B2 (ja)
EP (1) EP1947498A4 (ja)
JP (1) JP4905356B2 (ja)
WO (1) WO2007055082A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018190125A1 (ja) * 2017-04-13 2018-10-18 横河電機株式会社 共焦点スキャナ、顕微鏡システム、及び共焦点顕微鏡
JP2018180516A (ja) * 2017-04-13 2018-11-15 横河電機株式会社 共焦点スキャナ、及び共焦点顕微鏡

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5202936B2 (ja) * 2007-12-14 2013-06-05 オリンパス株式会社 走査型顕微鏡
JP5921155B2 (ja) * 2011-11-15 2016-05-24 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、コンピュータプログラム
US10466460B2 (en) * 2014-08-13 2019-11-05 Surgivance Inc. Line-scanning, sample-scanning, multimodal confocal microscope
US11231570B2 (en) 2018-04-30 2022-01-25 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Highly inclined swept tile (HIST) imaging apparatus, methods, and applications

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01268201A (ja) 1988-04-20 1989-10-25 Toshiba Corp 平面アンテナ
JPH10268201A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Olympus Optical Co Ltd 走査型レーザ顕微鏡
JP2000275027A (ja) 1999-03-23 2000-10-06 Takaoka Electric Mfg Co Ltd スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5510894A (en) * 1988-12-22 1996-04-23 Renishaw Plc Spectroscopic apparatus and methods
US5715334A (en) * 1994-03-08 1998-02-03 The University Of Connecticut Digital pixel-accurate intensity processing method for image information enhancement
DE19713362A1 (de) * 1997-03-29 1998-10-01 Zeiss Carl Jena Gmbh Konfokale mikroskopische Anordnung
US5974167A (en) * 1997-06-30 1999-10-26 M.A.Hannarubbercompounding System and method for measuring and controlling the quality of dispersion of filler particles in rubber compounds
US6388809B1 (en) * 1997-10-29 2002-05-14 Digital Optical Imaging Corporation Methods and apparatus for improved depth resolution use of out-of-focus information in microscopy
JP4662584B2 (ja) * 1998-01-27 2011-03-30 イーストマン コダック カンパニー 画像センサのライン毎ノイズ除去装置及び方法
DE10029680B4 (de) * 2000-06-23 2016-06-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop-Aufbau
EP1389956B1 (en) * 2001-04-25 2012-10-31 Amnis Corporation Method and apparatus for correcting crosstalk and spatial resolution for multichannel imaging
JP4280614B2 (ja) * 2003-12-09 2009-06-17 Ｏｋｉセミコンダクタ株式会社 ノイズ低減回路及び方法
DE102004034993A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
US7551799B2 (en) * 2005-05-13 2009-06-23 Seiko Epson Corporation Apparatus and method for image noise reduction

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01268201A (ja) 1988-04-20 1989-10-25 Toshiba Corp 平面アンテナ
JPH10268201A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Olympus Optical Co Ltd 走査型レーザ顕微鏡
JP2000275027A (ja) 1999-03-23 2000-10-06 Takaoka Electric Mfg Co Ltd スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1947498A4

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018190125A1 (ja) * 2017-04-13 2018-10-18 横河電機株式会社 共焦点スキャナ、顕微鏡システム、及び共焦点顕微鏡
JP2018180516A (ja) * 2017-04-13 2018-11-15 横河電機株式会社 共焦点スキャナ、及び共焦点顕微鏡
CN110462483A (zh) * 2017-04-13 2019-11-15 横河电机株式会社 共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜
CN110462483B (zh) * 2017-04-13 2022-08-12 横河电机株式会社 共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜
US11506878B2 (en) 2017-04-13 2022-11-22 Yokogawa Electric Corporation Confocal scanner, microscope system, and confocal microscope

Also Published As

Publication number Publication date
EP1947498A1 (en) 2008-07-23
US8189937B2 (en) 2012-05-29
EP1947498A4 (en) 2008-11-19
US20090034062A1 (en) 2009-02-05
JP4905356B2 (ja) 2012-03-28
JPWO2007055082A1 (ja) 2009-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11520132B2 (en) SPIM microscope with a sequential light sheet
EP2136233B1 (en) Microscope device
US9588045B2 (en) Method for generating a microscope image and microscope
US7369309B2 (en) Confocal microscope
US9678324B2 (en) Microscope system
US10838184B2 (en) Artefact reduction for angularly-selective illumination
WO2007055082A1 (ja) 共焦点顕微鏡装置
US20090010504A1 (en) Confocal Microscope Apparatus
US6590612B1 (en) Optical system and method for composing color images from chromatically non-compensated optics
JP2002098901A (ja) 走査型レーザ顕微鏡
US8254019B2 (en) Confocal microscope apparatus
JP4136635B2 (ja) 分析装置
JPH11231223A (ja) 走査型光学顕微鏡
CN113039470A (zh) 显微镜装置
JP2008051772A (ja) 蛍光画像取得装置、及び蛍光画像取得方法
JP2004093721A (ja) 共焦点スキャナ顕微鏡
JP4885439B2 (ja) カラー画像取得方法及び共焦点レーザ顕微鏡
JP2010164635A (ja) 共焦点顕微鏡
US20220043245A1 (en) Method and device for scanning a sample
JP2010160371A (ja) 共焦点顕微鏡
US12007545B2 (en) Light sheet microscope and method for light sheet microscopy
JP2004177732A (ja) 光学測定装置
JP2012150331A (ja) 共焦点顕微鏡
JP2012118363A (ja) 共焦点顕微鏡
US10634892B2 (en) Systems and methods for generating a structured illumination image

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007544077

Country of ref document: JP

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2006811846

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11912830

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE