WO2007046143A1 - パターン加工方法及びパターン加工装置 - Google Patents

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WO2007046143A1
WO2007046143A1 PCT/JP2005/019221 JP2005019221W WO2007046143A1 WO 2007046143 A1 WO2007046143 A1 WO 2007046143A1 JP 2005019221 W JP2005019221 W JP 2005019221W WO 2007046143 A1 WO2007046143 A1 WO 2007046143A1
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nozzle
pattern
substrate
mask
liquid
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PCT/JP2005/019221
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Inventor
Wataru Okase
Eiichiro Takanabe
Shinichi Kawaguchi
Original Assignee
Tokyo Electron Limited
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24CABRASIVE OR RELATED BLASTING WITH PARTICULATE MATERIAL
    • B24C7/00Equipment for feeding abrasive material; Controlling the flowability, constitution, or other physical characteristics of abrasive blasts
    • B24C7/0007Equipment for feeding abrasive material; Controlling the flowability, constitution, or other physical characteristics of abrasive blasts the abrasive material being fed in a liquid carrier
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24CABRASIVE OR RELATED BLASTING WITH PARTICULATE MATERIAL
    • B24C1/00Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods
    • B24C1/006Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods using material without particles or pellets for deburring, removal of extended surface areas or jet milling of local recessions, e.g. grooves
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
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    • B24C1/00Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods
    • B24C1/04Methods for use of abrasive blasting for producing particular effects; Use of auxiliary equipment in connection with such methods for treating only selected parts of a surface, e.g. for carving stone or glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/04Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed mechanically, e.g. by punching
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/02Fillers; Particles; Fibers; Reinforcement materials
    • H05K2201/0203Fillers and particles
    • H05K2201/0206Materials
    • H05K2201/0209Inorganic, non-metallic particles
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/02Details related to mechanical or acoustic processing, e.g. drilling, punching, cutting, using ultrasound
    • H05K2203/025Abrading, e.g. grinding or sand blasting

Definitions

  • the present invention relates to a pattern check method and a pattern check apparatus for processing a pattern on a substrate using a liquid houng method (that is, forming a pattern).
  • a protective film is provided on the processed surface of the workpiece, and abrasive particles are sprayed onto the protective film from the nozzle force.
  • a blasting method has been proposed in which drivelasting is performed and a pattern or the like is processed on a workpiece through a protective film (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-28867).
  • Patent Document 1 JP-A-2-83930
  • Patent Document 2 JP 2002-28867 A
  • a plurality of substrates are laminated to form a multilayer substrate structure. Is done.
  • a method of forming or caloring the pattern on the substrate there are the dry etching, wet etching, or blasting method.
  • the present invention has been made in consideration of the above circumstances.
  • An object is to provide a processing method and a pattern processing apparatus.
  • the present invention is a pattern caloe method for covering a pattern on a surface of a substrate, wherein a mask is provided on the surface of the substrate, and a fine abrasive is contained on the surface of the substrate.
  • the liquid is ejected from the nozzle to check the pattern.
  • the pattern may be processed by moving the nozzle or the substrate left and right so that the approximate center of the nozzle is alternately positioned on the side of the mask width of the mask.
  • the nozzle is swung left and right so that the nozzle is inclined with respect to the side of the mask width of the mask, or the pattern is covered while the nozzle is inclined. Good.
  • the finishing process may be performed with the nozzle away from the surface of the substrate.
  • the nozzles may be used in the order of large diameter, medium, and small to perform rough finishing and precision finishing.
  • the mask includes a hard mask first mask portion formed corresponding to the processed portion and a soft resin second mask formed corresponding to the non-processed portion.
  • the first mask portion may be deleted by jetting the liquid, and the second mask portion may absorb the collision of the abrasive due to its elasticity.
  • the liquid may be pure water containing alumina powder as an abrasive and a small amount of nitric acid.
  • the liquid containing the abrasive may be ejected from the nozzle, and at the same time, the ejected liquid may be sucked.
  • the present invention provides a pattern pattern for processing a pattern on a surface of a substrate.
  • a mounting table on which a substrate having a mask provided on a surface is mounted; and an upward force of the mounting table; a nozzle that forms a pattern by spraying a liquid containing fine abrasive on the surface of the substrate And a liquid supply means for supplying the liquid to the nozzle, and a moving mechanism capable of moving at least one of the mounting table and the nozzle in a predetermined direction.
  • the nozzle may have a suction part that sucks the ejected liquid. In this case, the suction part may be arranged at the center of the nozzle.
  • a mask is provided on the surface of the substrate, and a liquid containing fine abrasive is sprayed from the nozzle on the surface of the substrate to check the pattern, so that overetching occurs due to anisotropic processing.
  • the processing bottom within the mask width can be processed flat and fine processing is possible. Therefore, for example, a pattern can be formed on an ultrathin copper substrate.
  • the processing bottom within the mask width can be flattened efficiently. Can be processed well.
  • the nozzle is swung left and right so that the nozzle is inclined with respect to the side of the mask width of the mask, or if the pattern is checked while the nozzle is inclined, the mask width may be reduced.
  • the processing bottom can be processed efficiently evenly.
  • the machining bottom surface within the mask width can be machined efficiently and efficiently by performing the finishing, rough finishing force and precision finishing.
  • the mask includes a first mask portion made of hard resin formed corresponding to the part to be processed, and a second mask portion made of soft resin formed corresponding to the non-powered port portion. If the first mask part is deleted by the liquid jet and the second mask part absorbs the collision of the abrasive by its elasticity, the second mask part is destroyed by the liquid jet. Therefore, it is possible to reliably perform pattern processing by the so-called liquid hounging method.
  • the liquid is made by adding alumina powder and a small amount of nitric acid as an abrasive to pure water, it becomes possible to perform patterning of the substrate by the so-called liquid houng method, and a small amount of nitric acid is added.
  • the filler it is possible to prevent the alumina powder from solidifying during precipitation. If the liquid containing the abrasive is ejected from the nozzle at the same time as the ejected liquid is sucked, the ejected liquid does not accumulate on the substrate, so that processing with high accuracy and efficiency can be performed.
  • the processing bottom within the mask width can be processed flat without causing over-etching due to anisotropic processing, and fine processing is possible.
  • an ultra-thin copper substrate It becomes possible to form a pattern.
  • FIG. 1 is a diagram schematically showing a pattern processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of a liquid supply means.
  • FIG. 3 Diagrams explaining mask formation and pattern processing.
  • (A) shows the state where the first mask is formed on the substrate surface.
  • (B) shows the state where the second mask is formed on the substrate surface.
  • (C) shows the state in which the first mask is deleted, and (d) shows the state in which the pattern is processed by the second mask.
  • FIG. 4 An explanatory diagram showing an example of checking the pattern.
  • (A) shows a state where the nozzle is positioned at the center between masks, and (b) shows that the nozzle is moved to one mask side.
  • (C) shows a state where the nozzle is moved to the other mask side and the lens is being cached.
  • FIG. 5 This is a diagram for explaining the cross-sectional shape of the machining bottom.
  • (A) is a composite of the machining shown in Fig. 4. State, (b) shows the state where the bottom surface is flat! /
  • FIG. 6 This is an explanatory diagram of an example of checking the pattern.
  • (A) shows the case where a normal caliber nozzle is used, and (b) and (c) show a nozzle with a smaller caliber than (a). The case where it was used is shown.
  • FIG. 7 This is an explanatory diagram of an example of checking the pattern.
  • (A) shows the case when a normal nozzle is used, and (b) shows that the nozzle is smaller than (a). The case where it is made to move is shown.
  • FIG. 8 It is an explanatory diagram of another example of pattern processing.
  • (A) and (b) show the case where the nozzle is inclined in one direction and the other direction, respectively.
  • FIG. 9 An explanatory diagram of another example of covering the pattern. (A) shows how the nozzle is moved closer to the substrate, and (b) shows how the nozzle is moved away from the substrate. Yes.
  • FIG. 10 Shows nozzles with different diameters.
  • A) is a bottom view and
  • (b) is a side view.
  • FIG. 11 An explanatory diagram of another example of covering patterns using nozzles with different diameters.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view of a nozzle having a suction part.
  • FIG. 13 is an explanatory diagram showing a state in which a liquid pool has occurred on the pattern.
  • FIG. 15 is an explanatory view showing a processing state of a corner corner portion of the processing bottom surface when processing is performed using a nozzle having a suction portion.
  • FIG. 1 is a diagram schematically showing a pattern processing apparatus according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of a liquid supply means
  • FIG. 3 is a diagram for explaining mask formation and pattern processing
  • 4 is a diagram showing an example of processing a pattern
  • FIG. 5 is a diagram for explaining the cross-sectional shape of the processing bottom.
  • 1 is a pattern processing apparatus, and this pattern processing apparatus 1 includes a mounting table 4 on which a substrate 3 as a workpiece having a mask 2 provided on a surface is mounted, A nozzle (5) for spraying a liquid (slurry) w containing fine abrasives (abrasive grains) onto the surface of the substrate (3) from above the mounting table (4), and a liquid supply for supplying the liquid to the nozzle (5)
  • a moving mechanism 7 is provided that can move the mounting table 4 in a predetermined direction, for example, the X-axis direction, the y-axis direction, and the z-axis direction.
  • a prober (inspection device) drive mechanism capable of precise movement control can be applied, and this drive mechanism enables position control in units of several zm.
  • the pattern processing apparatus 1 includes a placement unit 9 for placing a storage container 8 in which a plurality of substrates 3 are stored in multiple stages at predetermined intervals, and the storage container 8 of the placement unit 9 to the substrate 3. And a transport mechanism (not shown) for transporting the processed substrate 3 onto the mounting table 4 via the alignment mechanism 10 and returning the processed substrate 3 to the storage container 8 as well. ing.
  • a portion to be processed by spraying the liquid is provided in the processing tank 11 in order to prevent scattering of the liquid.
  • a cleaning nozzle 12 for cleaning the surface of the substrate 3 by spraying a cleaning liquid such as pure water is provided.
  • waste liquid generated by processing is collected.
  • the liquid supply means (liquid supply system) 6 includes a base tank 13 containing the liquid w and two liquid tanks that are alternately used by supplying liquid from the base tank 13.
  • Supply tanks 14 and 14 and gas cylinders 16 for supplying a gas for pressurization, for example, nitrogen gas, to each supply tank 14 are provided to supply liquid from each supply tank 14 to the nozzle 5 via the supply line 15.
  • the base tank 13 is provided with a stirring mechanism 17.
  • the waste liquid is collected and returned to the base tank 13, or the waste tank is provided with a pump 19 for sending it to the waste liquid collection tank 18.
  • the collecting line 20 is connected.
  • the base tank 13 is connected with a circulation line 22 having a pump 21 for circulating so that the abrasive in the liquid does not settle in the pipe.
  • the cleaning liquid can be supplied by pressure from the cleaning liquid supply tank 23 to the base tank 13 and the supply tank 14. In addition, the cleaning liquid is supplied from the cleaning liquid supply tank 23 to the cleaning nozzle 12.
  • the liquid w may be, for example, pure water added with fine abrasives (abrasive grains).
  • abrasive for example, alumina powder can be used.
  • the particle size of the abrasive is, for example, about 0.5 to: LO / z m, more preferably about 1 to: LO / z m. This is because the etching rate decreases when the particle diameter is less than 1 m, and the force accuracy decreases when the particle diameter exceeds 10 m.
  • the mixing ratio (hereinafter referred to as mass ratio) is, for example, 95% pure water and 5% alumina powder, 80% pure water and 20% alumina powder, or 70% pure water and 30% alumina powder. That is, the mixing ratio of alumina powder is preferably 5-30%. This is because, when the mixing ratio is less than 5%, the ethyne rate decreases, and when it exceeds 30%, the etching rate decreases due to a decrease in the flow rate. Since the liquid tends to precipitate and harden the alumina powder, it is preferable to add a small amount of acid such as nitric acid to the liquid to prevent the alumina powder from solidifying. In this case, the mixing ratio is, for example, 70% pure water, 28% alumina powder, and 2% nitric acid.
  • the substrate 3 As the substrate 3, as shown in FIG. 3, for example, a carrier made of epoxy resin or a copper substrate in which a copper foil or a copper film 25 is attached or formed on the upper surface of the silicon substrate 24 is used.
  • a mask 2 is provided on the surface of the substrate 3.
  • the mask 2 of the embodiment includes a first mask portion 2a made of hard resin formed corresponding to a processed portion, and a second mask portion 2b made of soft resin formed corresponding to a non-processed portion.
  • the first mask portion 2a is deleted by the liquid injection (see FIG.
  • the pattern can be processed on the copper foil (or copper film, the same shall apply hereinafter) 25 of the substrate 3 by the so-called liquid housing method without being destroyed by the jet of the liquid.
  • the first mask portion 2a is made of, for example, an acrylic resin UV-cured resin (this In this example, Nippon Synthetic Chemical Co., Ltd. ⁇ KOGNMHS1 / 14 is used), and the second mask part 2b is made of urethane-based resin.
  • a soft resin such as a urethane-based resin is placed in the pattern groove of the first mask portion 2a.
  • the second mask portion 2b may be formed by filling with fat [FIG. 3 (b)].
  • a pattern processing method When processing the pattern, as shown in Fig. 4 (a), if the caloe is performed with the center of the nozzle 5 positioned at the approximate center of the mask width of the mask 2, the liquid will flow due to the flow toward the peripheral edge of the central force. It is difficult to flatten the processed bottom surface 26 within the mask width because the processed bottom surface 26 is processed into a concave shape. Therefore, in order to efficiently process the processing bottom surface 26 within the mask width in a flat and efficient manner, as shown in FIGS. 4 (b) and 4 (c), the approximate center of the nozzle 5 is the side surface of the mask 2 facing the mask width.
  • the bottom surface 26 can be processed flat.
  • anisotropic processing is possible because a liquid containing fine abrasive is sprayed from the nozzle 5 onto the surface of the substrate 3 and the pattern is processed by the so-called liquid houng method. Therefore, the processing bottom 26 in the mask width (force groove 28) can be processed evenly to the corner E without causing overetching, and fine processing is possible. For example, it can be applied to an ultra-thin copper substrate. Pattern formation is possible.
  • the nozzle 5 preferably has a diameter of about 0.01 to 10 mm, for example, about 0.3 mm. This is because the processing area decreases when the diameter is less than 0. Olmm, and the machining accuracy decreases when it exceeds 10 mm.
  • the processing conditions include a liquid (slurry) supply pressure of about 3 to 7 kgZcm 2 , a gap between the substrate surface and the nozzle of about 0.1 to about LOOmm, and the moving speed of nozzle 5 or substrate 3 is 0. 01 ⁇ : About LOOmmZ seconds are preferable. This is because the processing area decreases when the distance between the nozzle and the substrate is less than 0.1 mm, and the etching rate and processing accuracy decrease when the distance exceeds 100 mm.
  • the processing area decreases when the moving speed is less than 0. OlmmZ seconds, and the etching rate decreases when it exceeds lOOmmZ seconds.
  • the thickness of the copper foil is about several ⁇ m to 100 ⁇ m.
  • the width of the calorific groove 28 is about 10 to 150 ⁇ m.
  • the diameter of the nozzle 5 is preferably narrower than the width of the machining groove 28.
  • FIGS. 6 to 11 are diagrams showing other examples of checking the pattern.
  • the same parts as those in the previous embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof is omitted.
  • the processing bottom surface 26 is processed into a concave shape only in FIG. 6 (a)
  • the side surface 27 of the mask width as shown in FIGS. 6 (b) and 6 (c).
  • Use a 5d nozzle with a small diameter (for example, about 0.1 mm) to check the vicinity.
  • it is possible to polish the machining surface in the vicinity of the mask width side surface, and the machining bottom surface 26 within the mask width can be machined flatly and efficiently.
  • the nozzle 5d is inclined with respect to the side surface 27 of the mask width of the mask 2 as shown in FIG. 7 (b). Swing the nozzle 5d to the left and right so that it faces, and process the pattern (strengthening IJ of force groove 28). As a result, the machined surface near the side face of the mask can be actively polished and the bottom face 26 within the mask width can be machined flat and efficiently.
  • the nozzle 5d is not swung from side to side, and the pattern is added while the nozzle 5d is tilted in one direction as shown in FIG. 8 (a) or FIG. 8 (b), for example. Do. Also in this case, the processing bottom surface within the mask width can be processed flatly and efficiently.
  • the distance h between the substrate 3 and the nozzle 5 is made variable within the range of 2 to: LOOmm according to the processing depth.
  • the nozzle 5 is attached to the substrate as shown in FIG. 9 (b). Finish with the surface force of 3 kept away.
  • ft3 ⁇ 4 ⁇ can be performed at a high processing rate, and in Fig.
  • the area where the liquid (slurry) collides with the surface of the substrate increases, and the abrasive (gun) Since the density per unit area is reduced, the abrasive material enters the fine line accordingly, and the processing bottom within the mask width can be processed flatly and efficiently by anisotropic processing.
  • FIGS. 10 to 11 an example is shown in which nozzles having different diameters are prepared and cached.
  • Fig. 10 (a) shows the bottom surface of nozzles 5a, 5b, 5c with different diameters
  • Fig. 10 (b) shows the side surface of these nozzles 5a, 5b, 5c. That is, in this example, a nozzle 5a having a large diameter (for example, about 2 mm), a nozzle 5b having a medium diameter (for example, about 0.5 mm), and a nozzle 5c having a small diameter (for example, about 0.3 mm) are provided on a substrate. 3 transport movement direction Are arranged in order. Then, as shown in Fig.
  • nozzle 5a first, ft3 ⁇ 4 ⁇ is performed using the nozzle 5a, and then the rough finishing force test is performed using the nozzle 5b as shown in Fig. 11 (b). As shown in Fig. 11 (c), precise finishing force is applied using nozzle 5c.
  • a plurality of nozzles 5a, 5b, 5c are provided at predetermined intervals on the lower surface of each pipe 29a, 29b, 29c arranged in the direction perpendicular to the transfer movement direction. Yes.
  • a small-diameter nozzle 5c it is possible to carry out sufficient calorie up to the portion (corner at the bottom of the processing bottom) E at the mask.
  • the present embodiment can achieve the same effects as those of the previous embodiment.
  • FIG. 12 shows a nozzle 31 having a suction part, and this nozzle 31 can be used in place of the preceding nozzles 5, 5a, 5b, 5c.
  • This nozzle 31 has a suction port 32 constituting the suction part at the center of the nozzle 31, and has an injection port 33 for injecting liquid (slurry) on the outer periphery of the suction port 32.
  • This is a so-called coaxial type nozzle.
  • the suction port 32 communicates with a suction pump 35 via a suction tube 34.
  • the liquid sucked by the suction pump 35 is collected in the base tank 13, for example.
  • the injection port 33 leads to the supply line 15.
  • the nozzle 32 having such a suction portion is used, as shown in FIG. 12, the liquid ejected from the ejection port 33 is immediately sucked from the suction port 32 disposed at the center of the nozzle. This can be discharged on the substrate 3.
  • the ejected liquid w may accumulate on the peripheral portion of the substrate 2, particularly the mask 2. There is a case. If the liquid w accumulates in this way, some of the newly ejected liquid just passes over the accumulated liquid w, and the machining efficiency decreases accordingly. Also, if liquid accumulates at the corners of the mask, the corners will be scraped, and as a result, as shown in Fig. 14, the corner E of the processed bottom will be greatly curved. There is it.
  • the nozzle 31 having the suction portion described above if used, the jetted liquid is immediately sucked from the center side of the nozzle by the suction port 33 and the force on the substrate 3 is also discharged. As described above, the liquid w does not collect on the substrate. Therefore, the processing efficiency is improved.
  • the corner E of the bottom surface can be machined to a shape close to a right angle.
  • the liquid sucked by the suction pump 35 is collected in the base tank 13, so that the collected liquid is supplied again to the nozzle 31 and reused. Can do.
  • the diameter d of the nozzle 31 is smaller than the width D of the line to be machined (cut).
  • the diameter d of the nozzle 31 is the line width D. 1Z3 or so is good.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiments and examples, and does not depart from the gist of the present invention.
  • Various design changes in the range are possible.
  • the mask 2 when the mask 2 is formed on the surface of the substrate 3, after forming the first mask portion 2a, the pattern groove of the first mask portion 2a is filled with a soft resin, for example, urethane-based resin.
  • the second mask portion 2b is formed, but the second mask (mask made of soft resin) 2b is formed directly on the surface of the substrate 3 without forming the first mask portion 2a.
  • Mask 2 may be a resist mask containing a photosensitizer or may contain no photosensitizer.
  • the surface of the substrate on which the pattern is subjected is not limited to copper, but may be, for example, silicon (Si).
  • the present invention is useful for manufacturing a semiconductor device for forming a pattern on a substrate and various FPD substrates.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

 異方性の加工によりオーバエッチングを生じることなくマスク幅内の加工底面を平坦に加工でき,微細加工が可能なパターン加工方法及びパターン加工装置を提供する。  基板の表面にマスクを設け,該基板の表面に微粒の研磨材を含む液体をノズルから噴射してパターンを加工する。パターン加工装置は,表面にマスクが設けられた基板を載置する載置台と,該載置台の上方から前記基板の表面に微粒の研磨材を含む液体を噴射してパターンを加工するノズルと,該ノズルに前記液体を供給する液体供給手段と,前記載置台及びノズルの少なくとも一方を所定の方向に移動可能な移動機構とを備える。

Description

明 細 書
パターン加工方法及びパターン加工装置
技術分野
[0001] 本発明は,液体ホーユング工法を利用して基板にパターンを加工する(すなわち, パターンを形成する)パターンカ卩ェ方法及びパターンカ卩ェ装置に関するものである。 背景技術
[0002] 被カ卩ェ物である基板にパターンをカ卩ェする技術としては,ドライエッチングゃゥエツ トエッチングが一般的に知られている。また,それぞれの欠点を補うためにドライエツ チング後にウエットエッチングを行う銅配線の製法及び製造装置が提案されて 、る ( 日本国特開平 2— 83930号公報参照)。
[0003] 一方,低コストで且つ高いアスペクト比でパターン等をカ卩ェするために,被加工物 の加工面に保護膜を設け,ノズル力ゝら砥粒をこの保護膜の上に噴射するドライブラス ト加工を行い,保護膜を貫通して被加工物にパターン等を加工するブラスト加工方法 が提案されて 、る (日本国特開 2002— 28867号公報参照)。
特許文献 1 :特開平 2— 83930号公報
特許文献 2:特開 2002— 28867号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0004] ところで,インターポーザプロセスにおいては,デバイスの応答性の向上を図るべく ,配線抵抗を小さくし且つ配線長を短くするために,複数の基板 (パターン層)を積層 して多層基板構造とすることが行われる。この場合,基板にパターンを形成ないしカロ ェする方法としては,前記ドライエッチングやウエットエッチング,或いはブラスト加工 方法がある。
[0005] し力しながら,ドライエッチングではパターン側壁への再付着という問題があり,ゥェ ットエッチングでは等方性エッチングであるため,マスク下部のパターン側壁が大きく 削れるオーバーエッチングを生じ易く,オーバーエッチングにより配線幅が狭くなつて 配線抵抗が大きくなる問題がある。また,マスク幅内の加工底面を平坦にカ卩ェするこ とが難しく,微細加工が困難であり,例えば極薄膜銅基板へのノターン形成が困難 であった。一方,前記ブラスト加工方法では,加工時に摩擦による熱や静電気が発 生し,銅配線の酸化や帯電による不具合を招く問題がある。
[0006] 本発明は,上記事情を考慮してなされたものであり,異方性の加工によりオーバー エッチングを生じることなくマスク幅内の加工底面を平坦に加工でき,微細加工が可 能なパターン加工方法及びパターン加工装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0007] かかる目的を達成するため,本発明は,基板の表面にパターンをカ卩ェするパターン カロェ方法であって,基板の表面にマスクを設け,該基板の表面に微粒の研磨材を含 む液体をノズルから噴射してパターンをカ卩ェすることを特徴とする。
[0008] 本発明においては,前記ノズルの略中心が前記マスクのマスク幅の側面に交互に 位置するようにノズル又は基板を左右に移動させてパターンを加工してもよい。
[0009] 本発明においては,前記ノズルが前記マスクのマスク幅の側面に対して傾斜して向 くようにノズルを左右に揺動させるか,又はノズルを傾斜させた状態でパターンをカロ ェしてちよい。
[0010] 本発明においては,前記ノズルを基板の表面に接近させた状態で粗加工を行った 後,ノズルを基板の表面カゝら遠ざけた状態で仕上げ加工を行ってもょ ヽ。
[0011] 本発明においては,前記ノズルを口径の大,中,小の順に用いて 卩ェ,粗仕上 げ加工,精密仕上げ加工を行ってもよい。
[0012] 本発明においては,前記マスクが,被加工部に対応して形成される硬質榭脂製の 第 1マスク部と,非加工部に対応して形成される軟質榭脂製の第 2マスク部とからなり ,第 1マスク部が前記液体の噴射により削除され,第 2マスク部がその弾性により研磨 材の衝突を吸収するようになって 、てもよ 、。
[0013] 本発明においては,前記液体が,純水に研磨材としてのアルミナ粉末及び微量の 硝酸をカ卩えてなるものであってもよ 、。
[0014] 本発明においては,研磨剤を含む液体をノズルから噴射すると同時に,噴射された 後の当該液体を吸引するようにしてもよい。
[0015] 別な観点によれば,本発明は基板の表面にパターンを加工するためのパターンカロ ェ装置であって,表面にマスクが設けられた基板を載置する載置台と,該載置台の 上方力 前記基板の表面に微粒の研磨材を含む液体を噴射してパターンを形成す るノズルと,該ノズルに前記液体を供給する液体供給手段と,前記載置台及びノズル の少なくとも一方を所定の方向に移動可能な移動機構とを備えている。
[0016] この場合,前記基板表面の銅又はシリコンにパターンを加工することが好ましい。前 記ノズルと基板間の距離は, 0. 1〜: LOOmmであることが好ましい。前記載置台又は ノズルの移動速度は, 0. 01〜100mmZ秒であることが好ましい。前記ノズルの口 径は, 0. 01〜: LOmmであることが好ましい。前記液体が純水に研磨材としてアルミ ナ粉末を加えてなる場合,該アルミナ粉末の混合比は, 5〜30質量%であることが好 ましい。また,前記液体が純水に研磨材としてアルミナ粉末を加えてなる場合,該ァ ルミナ粉末の粒子径は, 0. 5〜10 mであることが好ましい。これらにより,パターン の加工性能が向上する。さらにまた本発明においては,前記ノズルは,噴射された液 体を吸引する吸引部を有していてもよい。この場合,当該吸引部は,ノズルの中心部 に配置されていてもよい。
発明の効果
[0017] 本発明によれば,次のような効果を奏することができる。
[0018] 基板の表面にマスクを設け,該基板の表面に微粒の研磨材を含む液体をノズルか ら噴射してパターンをカ卩ェするため,異方性の加工によりオーバーエッチングを生じ ることなくマスク幅内の加工底面を平坦に加工でき,微細加工が可能できる。したが つて例えば極薄膜銅基板へのパターン形成が可能となる。
[0019] 前記ノズルの略中心が前記マスクのマスク幅の側面に交互に位置するようにノズル 又は基板を左右に移動させてパターンをカ卩ェすれば,マスク幅内の加工底面を平坦 に効率良く加工できる。
[0020] 前記ノズルが前記マスクのマスク幅の側面に対して傾斜して向くようにノズルを左右 に揺動させるか,又はノズルを傾斜させた状態でパターンをカ卩ェすれば,マスク幅内 の加工底面を平坦に効率良く加工できる。
[0021] 前記ノズルを基板の表面に接近させた状態で粗加工を行った後,ノズルを基板の 表面力 遠ざけた状態で仕上げ力卩ェを行なうと,マスク幅内の加工底面を平坦に効 率良く加工できる。
[0022] 前記ノズルを口径の大,中,小の順に用いて 卩ェ,粗仕上げ力卩ェ,精密仕上げ 加工を行うと,マスク幅内の加工底面を平坦に効率良く加工できる。
[0023] 前記マスクが,被加工部に対応して形成される硬質榭脂製の第 1マスク部と,非力口 ェ部に対応して形成される軟質榭脂製の第 2マスク部とからなり,第 1マスク部が前記 液体の噴射により削除され,第 2マスク部がその弾性により研磨材の衝突を吸収する ようにした場合には,第 2マスク部が前記液体の噴射によって破壊されることが無く, いわゆる液体ホーユング工法によるパターンの加工を確実に行うことが可能となる。
[0024] 前記液体が,純水に研磨材としてのアルミナ粉末及び微量の硝酸を加えてなるも のである場合,いわゆる液体ホーユング工法による基板のパターン形成'加工が可能 となり,また,微量の硝酸の添カ卩により,アルミナ粉末が沈殿時に固まるのを防止する ことができる。研磨剤を含む液体をノズルから噴射すると同時に,噴射された後の当 該液体を吸引するようにすれば,噴射した液体が基板上に溜まらないので,精度,効 率の良い加工が実施できる。
[0025] 本発明のパターンカ卩ェ装置によれば,異方性の加工によりオーバーエッチングを 生じることなくマスク幅内の加工底面を平坦に加工でき,微細加工が可能で,例えば 極薄膜銅基板へのパターン形成が可能となる。
図面の簡単な説明
[0026] [図 1]本発明の実施の形態であるパターン加工装置を概略的に示す図である。
[図 2]液体供給手段の一例を示す図である。
[図 3]マスクの形成及びパターンの加工を説明する図であり, (a)は基板表面に第 1マ スク部を形成した状態, (b)は基板表面に第 2マスク部を形成した状態, (c)は第 1マ スク部が削除された状態, (d)は第 2マスク部によってパターンを加工した状態を各 々示している。
[図 4]パターンをカ卩ェする一例を示す説明図であり, (a)はノズルをマスク間の中心に 位置させて加工している状態, (b)はノズルを一のマスク側に移動させて加工してい る状態, (c)はノズルを他のマスク側に移動させてカ卩ェしている状態を示している。
[図 5]加工底面の断面形状を説明する図であり, (a)は図 4に示した加工を合成した 状態, (b)は加工底面が平坦になって 、る状態を示して!/、る。
[図 6]パターンをカ卩ェする例の説明図であり, (a)は通常の口径のノズルを使用した 場合, (b) , (c)は, (a)よりも口径の小さいノズルを使用した場合を示している。
[図 7]パターンをカ卩ェする例の説明図であり, (a)は通常の口径のノズルを使用した 場合, (b)は, (a)よりも口径の小さいノズルを使用して揺動させた場合を示している。
[図 8]パターンを加工する他の例の説明図であり, (a) , (b)は,各々一方向,他方向 へとノズルを傾斜させた場合を示して 、る。
[図 9]パターンをカ卩ェする他の例の説明図であり, (a)はノズルを基板に接近させた 様子を示し, (b)はノズルを基板カゝら遠ざけた様子を示している。
[図 10]口径の異なったノズルを示しており, (a)は底面図, (b)は側面図である。
[図 11]口径の異なったノズルを用いたパターンをカ卩ェする他の例の説明図であり, (a
)は 卩ェ, (b)は粗仕上げ力卩ェ, (c)は精密仕上げ力卩ェを示している。
[図 12]吸引部を有するノズルの断面図である。
[図 13]パターン上に液溜まりが発生した様子を示す説明図である。
圆 14]液溜まりによる加工底面の角隅部の加工状態を示す説明図である。
[図 15]吸引部を有するノズルを使用して加工した際の加工底面の角隅部の加工状態 を示す説明図である。
符号の説明
1 パターン加工装置
2 マスク
2a 第 1マスク部
2b 第 2マスク部
3 基板
4 載置台
5 ノズル
5a, 5b, 5c, 5d ノズル
6 液体供給手段
w 揿体 発明を実施するための最良の形態
[0028] 以下に,本発明を実施するための最良の形態について,添付図面を基に詳述する 。図 1は本発明の実施の形態であるパターン加工装置を概略的に示す図,図 2は液 体供給手段の一例を示す図,図 3はマスクの形成及びパターンの加工を説明する図 ,図 4はパターンを加工する一例を示す図,図 5は加工底面の断面形状を説明する 図である。
[0029] 図 1ないし図 2において, 1はパターン加工装置で,このパターン加工装置 1は,表 面にマスク 2が設けられた被加工物である基板 3を載置する載置台 4と,該載置台 4 の上方から前記基板 3の表面に微粒の研磨材 (砥粒)を含む液体 (スラリー) wを噴射 してパターンを加工するノズル 5と,該ノズル 5に前記液体を供給する液体供給手段 6 と,前記載置台 4及びノズル 5の少なくとも一方,図示例では載置台 4を所定の方向 例えば X軸方向, y軸方向, z軸方向に移動可能な移動機構 7とを備えている。移動 機構 7としては,精密な移動制御が可能なプローバ (検査装置)の駆動機構を適用す ることができ,この駆動機構によれば,数/ z m単位の位置制御が可能となる。
[0030] また,パターン加工装置 1は,複数枚の基板 3を所定の間隔で多段に収納した収納 容器 8を載置する載置部 9と,その載置部 9の収納容器 8から基板 3を一枚ずつ取出 し,ァライメント機構 10を経由して前記載置台 4上に搬送し,加工処理後の基板 3を 載置台 4上力も前記収納容器 8に戻す搬送機構(図示省略)とを備えている。前記液 体を噴射して加工を行う部分は液体の飛散を防止するために加工槽 11内に設けら れて ヽる。加工槽 11内には基板 3の表面に洗浄液例えば純水を噴射して洗浄する ための洗浄用ノズル 12が設けられている。また,加工により生じた廃液は回収される ようになっている。
[0031] 前記液体供給手段 (液体供給系) 6は,図 2に示すように,液体 wを収容した基タン ク 13と,該基タンク 13から液体が供給されて交互に使用される 2つの供給タンク 14, 14と,各供給タンク 14から供給ライン 15を介して液体をノズル 5に圧送すべく各供給 タンク 14に加圧用のガス例えば窒素ガスを供給するガスボンベ 16とを備えている。 基タンク 13には攪拌機構 17が設けられている。加工槽 11には廃液を回収して基タ ンク 13に戻したり,或 ヽは廃液回収タンク 18に送るためのポンプ 19を有する廃液回 収ライン 20が接続されている。廃液を回収して再利用する場合,廃液の PH値やカロ ェレートなど力 液体の交換時期を判断し,交換時期になったと判断したとき,廃液 回収タンクに接続して新しい液体と交換する。また,基タンク 13には配管内に液体中 の研磨材が沈殿しな 、ように循環させるためのポンプ 21を有する循環ライン 22が接 続されて!、る。基タンク 13及び供給タンク 14には洗浄液供給タンク 23から洗浄液を 圧送供給することが可能になっている。また,洗浄液供給タンク 23から前記洗浄用ノ ズル 12に洗浄液が供給されるようになって 、る。
[0032] 前記液体 wとしては,例えば純水に微粒の研磨材 (砥粒)を加えたものであっても良 い。研磨材としては,例えばアルミナ粉末を用いることができる。研磨材 (例えばアル ミナ粉末)の粒子径は,例えば, 0. 5〜: LO /z m,より好ましくは 1〜: LO /z m程度が良 い。粒子径が 1 mを下回るとエッチングレートが低下し, 10 mを超えると力卩ェ精 度が低下するからである。この場合,混合比(以下,質量比)は,例えば純水 95%と アルミナ粉末 5%,純水 80%とアルミナ粉末 20%,或いは純水 70%とアルミナ粉末 30%とされる。すなわち,アルミナ粉末の混合比は 5〜30%が好ましい。混合比が 5 %を下回るとエツチンレートが低下し, 30%を超えると流速低下によりエッチングレー トが低下するからである。前記液体は,アルミナ粉末が沈殿して固まり易いので,アル ミナ粉末が固まるのを防止するために液体に微量の酸例えば硝酸を加えることが好 ましい。この場合,混合比は,例えば純水 70%,アルミナ粉末 28%,硝酸 2%とされ る。
[0033] 基板 3としては,図 3に示すように,例えばエポキシ榭脂からなるキャリアまたはシリ コン基板 24の上面に銅箔又は銅膜 25を貼り付け又は成膜した銅基板が用いられる 。この基板 3の表面にはマスク 2が設けられる。実施例のマスク 2は,被加工部に対応 して形成される硬質榭脂製の第 1マスク部 2aと,非加工部に対応して形成される軟質 榭脂製の第 2マスク部 2bとからなり,第 1マスク部 2aが前記液体の噴射により削除さ れ〔図 3 (c)参照〕,第 2マスク部 2bがその弾性により研磨材の衝突を吸収するため, 第 2マスク部 2bが前記液体の噴射によって破壊されることが無く,いわゆる液体ホー ユング工法により基板 3の銅箔 (又は銅膜,以下同様) 25にパターンを加工すること が可能になっている。第 1マスク部 2aは例えばアクリル系榭脂の UV硬化榭脂(この 例では日本合成化学製 ©KOGNMHS1/14を使用している)力もなり,第 2マスク部 2b は例えばウレタン系榭脂からなる。先ず,基板 3の表面に通常のマスク形成方法によ り第 1マスク部 2aを形成した後〔図 3 (a)〕 ,該第 1マスク部 2aのパターン溝内に軟質 榭脂例えばウレタン系榭脂を充填して第 2マスク部 2bを形成すれば良い〔図 3 (b)〕。
[0034] 次にパターンの加工方法にっ 、て説明する。パターンの加工を行う場合,図 4の(a )に示すようにノズル 5の中心をマスク 2のマスク幅の略中心に位置させた状態でカロェ を行うと,液体が中心力 周縁に向う流れによって加工底面 26が凹面状に加工され てしまい,マスク幅内の加工底面 26を平坦にカ卩ェすることは難しい。そこで,マスク 幅内の加工底面 26を平坦に効率良く加工するために,図 4の(b)及び (c)に示すよう に前記ノズル 5の略中心が前記マスク 2のマスク幅の対向する側面 27に交互に位置 するようにノズル 5又は基板 3を左右に移動させてパターンを加工する。図 4の(a) , ( b) , (c)の加工を合成すると図 5の(a)に示すようなカ卩ェ形状となり,これにより同図の (b)に示すようにカ卩ェ底面 26を平坦に加工することが可能となる。特に,微粒の研磨 材を含む液体をノズル 5から基板 3の表面に噴射していわゆる液体ホーユング工法に よりパターンの加工を行うため,異方性の加工が可能となる。したがって,オーバーェ ツチングを生じることなくマスク幅 (力卩ェ溝 28)内の加工底面 26を隅部 Eまで平坦に 加工することが可能となり,微細加工が可能であり,例えば極薄膜銅基板へのパター ン形成が可能となる。
[0035] 前記ノズル 5としては, 口径が 0. 01〜10mm程度のもの,例えば 0. 3mm程度のも のが好ましい。口径が 0. Olmmを下回ると処理面積が小さくなり, 10mmを超えると 加工精度が低下するからである。また,加工条件としては,液体 (スラリー)の供給圧 力が 3〜7kgZcm2程度,基板の表面とノズル間の隙間が 0. 1〜: LOOmm程度,ノズ ル 5又は基板 3の移動速度が 0. 01〜: LOOmmZ秒程度が好ましい。ノズルと基板間 の距離が 0. 1mmを下回ると処理面積が小さくなり, 100mmを超えるとエッチングレ ート及び加工精度が低下するからである。また,移動速度が 0. OlmmZ秒を下回る と処理面積が小さくなり, lOOmmZ秒を超えるとエッチングレートが低下するからで ある。銅箔の厚さは数 μ m〜100 μ m程度である。カロ工溝 28の幅は 10〜 150 μ m 程度である。 ノズル 5の口径は,加工溝 28の幅よりも狭いものが好ましい。
[0036] 図 6〜図 11はパターンをカ卩ェする他の例を示す図である。前記実施例と同一部分 は同一参照符号を付して説明を省略する。先ず,図 6の実施例についていうと,図 6 ( a)だけでは加工底面 26が凹面状に加工されるため,図 6 (b)及び図 6 (c)に示すよう にマスク幅の側面 27近傍をカ卩ェするときに口径の小さい(例えば 0. 1mm程度)ノズ ル 5dを用いてカ卩ェする。これによりマスク幅側面近傍の加工面^^中的に研磨カロェ することができ,マスク幅内の加工底面 26を平坦に効率良く加工できる。
[0037] 図 7の実施例では,図 7 (a)の加工にカ卩えて,図 7 (b)に示すように前記ノズル 5dが 前記マスク 2のマスク幅の側面 27に対して傾斜して向くようにノズル 5dを左右に揺動 させてパターンの加工 (力卩ェ溝 28の研肖 IJ)を行う。これによりマスク幅側面近傍の加 工面を積極的に研磨カ卩ェすることができ,マスク幅内の加工底面 26を平坦に効率良 く加工できる。図 8の実施例では,ノズル 5dを左右に揺動させずに,例えば図 8 (a) , あるいは図 8 (b)に示したように,ノズル 5dを一方に傾斜させた状態でパターンの加 ェを行う。この場合も,マスク幅内の加工底面を平坦に効率良く加工できる。
[0038] ノズルを平面状に配置し,下方の基板の表面に研磨材を含む液体を噴射させるだ けでは,十分な加工効果は期待できない。そこで,加工深さに合わせて基板 3とノズ ル 5間の距離 hを例えば 2〜: LOOmmの範囲内で可変にする。図 9の実施例では,図 9 (a)に示すように前記ノズル 5を基板 3の表面に接近させた状態で粗加工を行った 後,図 9 (b)に示すようにノズル 5を基板 3の表面力も遠ざけた状態で仕上げ加工を 行う。図 9 (a)では加工レートを大として ft¾卩ェを行うことができ,図 9 (b)では液体 (ス ラリー)が基板の表面に衝突する面積が大きくなり,研磨材 (砲粒)の単位面積当たり の密度が小さくなるため,その分,微細なラインに研磨材が入り込み,異方性の加工 でマスク幅内の加工底面を平坦に効率良く加工することが可能となる。
[0039] 図 10ないし図 11の実施例では, 口径の異なったノズルを用意してカ卩ェする例を示 している。図 10 (a)は, 口径の異なったノズル 5a, 5b, 5cの底面の様子を示し,図 10 (b)は,同じくこれらノズル 5a, 5b, 5cの側面の様子を示している。すなわちこの例で は, 口径が大(例えば 2mm程度)のノズル 5aと, 口径が中(例えば 0. 5mm程度)の ノズル 5bと, 口径が小(例えば 0. 3mm程度)のノズル 5cとを基板 3の搬送移動方向 に順に配置される。そして図 11 (a)に示したようにまずノズル 5aを用いて ft¾卩ェを実 施し,次いで図 11 (b)に示したようにノズル 5bを用いて粗仕上げ力卩ェを実施し,さら に図 11 (c)に示したようにノズル 5cを用いて精密仕上げ力卩ェを行う。なお,各ノズル 5a, 5b, 5cは,図 10 (a)に示したように搬送移動方向に直交する方向に配置された 各配管 29a, 29b, 29cの下面に所定間隔で複数ずつ設けられている。特に,小口 径のノズル 5cを用いることによりマスクの際の部分 (加工底面の隅部) Eまで十分にカロ ェを施すことができる。このように本実施例によっても,前記実施例と同様の効果を奏 することができる。
[0040] さらに他の例について説明する。図 12は,吸引部を備えたノズル 31を示しており, このノズル 31は,前出ノズル 5, 5a, 5b, 5cに代えて使用できるものである。
[0041] このノズル 31は,吸引部を構成する吸引口 32をノズル 31の中心に有し,その吸引 口 32の外周に液体 (スラリー)を噴射する噴射口 33を有して 、る, V、わゆる同軸タイ プのノズルである。吸引口 32は,吸引チューブ 34を介して吸引ポンプ 35に通じてい る。そして吸引ポンプ 35によって吸引された液体は,例えば基タンク 13に回収するよ うになつている。なお噴射口 33は,供給ライン 15に通じている。
[0042] このような吸引部を有するノズル 32を使用すれば,図 12に示したように,噴射口 33 から噴射された液体を,直ちにノズル中心に配置されている吸引口 32から吸引して, これを基板 3上力 排出することができる。
[0043] 前記した噴射のみを行うノズル 5を使用した場合,図 13に示したように,パターンの 如何によつては,噴射された液体 wが基板 3の特にマスク 2の周縁部に溜まってしまう 場合がある。このように液体 wが溜まってしまうと,続いて噴射された新しい液体の中 には,単に溜まった液体 wの上を通過するだけのものが出てしまい,その分加工効率 が低下する。またマスクの角隅部に液体が溜まっていると,当該角隅部を削りに《な り,その結果,図 14に示したように,加工底面の隅部 Eの湾曲が大きくなつてしまうお それがある。
[0044] この点前記した吸引部を有するノズル 31を使用すれば,噴射された液体は直ちに 吸引口 33によってノズルの中心側から吸引されて,基板 3上力も排出されるので,図 13に示したように,液体 wが基板上に溜まることはない。したがって,加工効率が向 上し,しかも図 15に示したように,加工底面の隅部 Eを直角に近い形状に加工する( 肖 IJる)ことが可能である。
[0045] しかも図 12の例では,吸引ポンプ 35によって吸引した液体は,基タンク 13に回収 するようになっているので,回収した液体を再度ノズル 31に供給して,これを再利用 することができる。
[0046] なお前記したノズル 31の口径の大きさ dは,加工する(切削する)ラインの幅 Dよりも 小さいこと力 く,好ましくは,ノズル 31の口径の大きさ dは,ラインの幅 Dの 1Z3程度 がよい。
[0047] 以上,本発明の実施の形態ないし実施例を図面により詳述してきたが,本発明は 前記実施の形態ないし実施例に限定されるものではなく,本発明の要旨を逸脱しな い範囲での種々の設計変更等が可能である。前記実施例では,基板 3の表面にマス ク 2を形成する場合,第 1マスク部 2aを形成した後,該第 1マスク部 2aのパターン溝 内に軟質榭脂例えばウレタン系榭脂を充填して第 2マスク部 2bを形成しているが,基 板 3の表面に,第 1マスク部 2aを形成することなく,直接,第 2マスク (軟質榭脂製のマ スク) 2bを形成しても良い。マスク 2としては,感光剤を含むレジストマスクであっても 良く,或いは,感光剤を含まないものであっても良い。本発明では,パターンをカロェ する基板の表面は銅に限定されず,例えばシリコン (Si)であっても良い。
産業上の利用可能性
[0048] 本発明は,基板上にパターンを形成する半導体装置,各種 FPD基板の製造に有 用である。

Claims

請求の範囲
[1] 基板の表面にパターンを加工するパターン加工方法であって,
基板の表面にマスクを設け,該基板の表面に微粒の研磨材を含む液体をノズルから 噴射してパターンを加工する工程を有する。
[2] 請求項 1のパターンカ卩ェ方法において,
前記ノズルの略中心が前記マスクのマスク幅の側面に交互に位置するようにノズル 又は基板を左右に移動させてパターンを加工する。
[3] 請求項 1のパターンカ卩ェ方法において,
前記ノズルが前記マスクのマスク幅の側面に対して傾斜して向くようにノズルを左右 に揺動させるか,又はノズルを傾斜させた状態でパターンを加工する。
[4] 請求項 1のパターンカ卩ェ方法において,
前記ノズルを基板の表面に接近させた状態で粗加工を行った後,ノズルを基板の表 面カゝら遠ざけた状態で仕上げ加工を行う。
[5] 請求項 1のパターンカ卩ェ方法において,
前記ノズルを口径の大,中,小の順に用いて 卩ェ,粗仕上げ力卩ェ,精密仕上げ加 ェを行う。
[6] 請求項 1のパターンカ卩ェ方法において,
前記マスクが,被加工部に対応して形成される硬質榭脂製の第 1マスク部と,非加工 部に対応して形成される軟質榭脂製の第 2マスク部とからなり,第 1マスク部が前記液 体の噴射により削除され,第 2マスク部がその弾性により研磨材の衝突を吸収する。
[7] 請求項 1のパターンカ卩ェ方法において,
前記液体は,純水に研磨材としてのアルミナ粉末及び微量の硝酸を加えてなるもの である。
[8] 請求項 1のパターンカ卩ェ方法において,
前記基板表面の銅又はシリコンにパターンを加工する。
[9] 請求項 1のパターンカ卩ェ方法において,
研磨剤を含む液体をノズルから噴射すると同時に,噴射された後の当該液体を吸引 する。
[10] 基板の表面にパターンを加工するためのパターンカ卩ェ装置であって, 表面にマスクが設けられた基板を載置する載置台と,
該載置台の上方から前記基板の表面に微粒の研磨材を含む液体を噴射してパター ンを加工するノズルと,
該ノズルに前記液体を供給する液体供給手段と,
前記載置台及びノズルの少なくとも一方を所定の方向に移動可能な移動機構とを有 する。
[11] 請求項 10に記載のパターンカ卩ェ装置において,
前記基板表面の銅又はシリコンにパターンを加工する。
[12] 請求項 10に記載のパターンカ卩ェ装置において,
前記ノズルと基板間の距離が 0. 1〜: LOOmmである。
[13] 請求項 10に記載のパターンカ卩ェ装置において,
前記載置台又はノズルの移動速度が 0. 01〜: LOOmmZ秒である。
[14] 請求項 10に記載のパターンカ卩ェ装置において,
前記ノズルの口径が 0. 01〜: LOmmである。
[15] 請求項 10に記載のパターンカ卩ェ装置において,
前記液体は純水に研磨材としてアルミナ粉末を加えてなるものであり,該アルミナ粉 末の混合比は 5〜30%である。
[16] 請求項 10に記載のパターンカ卩ェ装置において,
前記液体は純水に研磨材としてアルミナ粉末を加えてなるものであり,該アルミナ粉 末の粒子径が 0. 5〜10 /ζ πιである。
[17] 請求項 10に記載のパターンカ卩ェ装置において,
前記ノズルは,噴射された液体を吸引する吸引部を有する。
[18] 請求項 17に記載のパターンカ卩ェ装置において,
前記吸弓 I部は,ノズルの中心部に配置されて 、る。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP2243595A1 (de) * 2009-04-22 2010-10-27 Alstom Technology Ltd Verfahren zum Herstellen eines mit einem Schlitz als Testriss versehenen Körpers

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06320122A (ja) * 1993-05-14 1994-11-22 Hitachi Ltd 洗浄方法及び洗浄装置
JPH08213737A (ja) * 1995-02-01 1996-08-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 導体形成方法
JP2004101815A (ja) * 2002-09-09 2004-04-02 Canon Inc 電子写真感光体

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06320122A (ja) * 1993-05-14 1994-11-22 Hitachi Ltd 洗浄方法及び洗浄装置
JPH08213737A (ja) * 1995-02-01 1996-08-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 導体形成方法
JP2004101815A (ja) * 2002-09-09 2004-04-02 Canon Inc 電子写真感光体

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2243595A1 (de) * 2009-04-22 2010-10-27 Alstom Technology Ltd Verfahren zum Herstellen eines mit einem Schlitz als Testriss versehenen Körpers
CH700883A1 (de) * 2009-04-22 2010-10-29 Alstom Technology Ltd Verfahren zum herstellen eines mit einem schlitz als testriss versehenen körpers.
US9016104B2 (en) 2009-04-22 2015-04-28 Alstom Technology Ltd. Process for producing a body provided with a slot as a test crack

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