WO2007015314A1 - 電気的接続装置 - Google Patents

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probe
spacer
electrical connection
support member
connection device
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PCT/JP2005/014487
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Inventor
Hitoshi Sato
Kiyotoshi Miura
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Nihon Micronics
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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889Interfaces, e.g. between probe and tester

Definitions

  • the present invention relates to an electrical circuit such as a probe card used to connect an electrical circuit of an inspected object, such as an integrated circuit, and an electrical circuit of a tester that performs the electrical test for electrical inspection of the electrical circuit. It relates to the connection device.
  • an electrical circuit such as a probe card used to connect an electrical circuit of an inspected object, such as an integrated circuit, and an electrical circuit of a tester that performs the electrical test for electrical inspection of the electrical circuit. It relates to the connection device.
  • an electrical connection device including a probe assembly provided with a probe substrate and a number of probes extending from the probe substrate, the flatness of the probe substrate is improved.
  • An electrical connection device that can be adjusted has been proposed (see Patent Document 1).
  • a pressing force or a pulling force can be applied to a part of the probe substrate from the support member that supports the probe substrate.
  • By adjusting the acting force even if the probe substrate of the probe assembly is bent, it is possible to maintain the flatness of the probe substrate by correcting the bending deformation of the probe substrate.
  • the tip of the can be aligned.
  • the probe is formed on the probe substrate that is bent and deformed in a free state without being subjected to a load so that the tips are aligned on the same plane.
  • the probe board is coupled to the support member by fastening a mounting bolt that penetrates the wiring board disposed between the support member and the probe board.
  • a cylindrical spacer is inserted between the reference surface of the probe board and the support member so as to penetrate the wiring board disposed therebetween. This spacer acts to hold the aforementioned deformation of the probe board when the mounting bolt is tightened. Therefore, the probe substrate is attached to the reference surface of the support member while maintaining the above-described deformation, so that the tips of all the probes are located on the same plane.
  • the tips of all the probes are connected to each of the electrical circuits that are inspected without performing the adjustment work for flattening the probe board as in the prior art. It can be pressed almost evenly on the electrical connection terminal. As a result, even when the probe assembly is replaced, the above-described troublesome flattening adjustment work as described above becomes unnecessary, and an efficient electrical inspection becomes possible.
  • both end surfaces are flat surfaces perpendicular to the axis of the spacer, and the reference surface of the support member is inclined due to, for example, deflection or distortion of the support member that receives the end surface.
  • the end surface of the spacer and the contact surface of the support member that receives the end surface do not contact evenly in the circumferential direction of the spacer, so that the contact relationship between the two becomes unstable.
  • the spacer to be inserted into the through hole is inserted.
  • the contact relationship between the end surface of the spacer and the support member that receives the end surface or the contact surface of the probe substrate becomes unstable.
  • the probe substrate becomes a support member due to long-term strong vibration. There is a risk of loosening the tightening of the bolts to be supported, leading to a decrease in durability.
  • Patent Document 1 Special Table 2 0 0 3-5 5 8 4 5 9 Disclosure of Invention
  • An object of the present invention is to provide an electrical connection device having excellent durability by reliably supporting a probe board on a support member without impairing the function of a spacer for holding the probe board on the support member. There is. Means for solving the problem
  • An electrical connection device is an electrical connection device that connects a tester and an electrical connection terminal of an object to be inspected to be electrically tested by the tester, and a support member having an attachment reference surface, A wiring circuit connected to the tester is formed, arranged so that one surface faces the reference surface of the support member, and a plurality of through holes penetrating in the plate thickness direction are formed; and A flat probe board having a plurality of probes capable of abutting the tip on the connection terminal of the device under test on one surface thereof, and corresponding to the through hole of the wiring board on the other surface A probe board having a plurality of formed screw holes, the other surface of which is arranged opposite to the other surface of the wiring board, and the probe board and the wiring board.
  • a spacer, and at least one of the one end surface of the spacer and the contact surface of the support member or the probe substrate receiving the end surface is a spherical curved surface .
  • the spacer disposed through the through hole of the wiring board between the support member and the probe board has one end thereof.
  • the support member is disposed in contact with the reference surface, and the other end is disposed in contact with the other surface of the probe substrate.
  • At least one of the one end surface of the spacer and the contact surface of the support member or the probe substrate that receives the end surface is a spherical curved surface.
  • the ends of the spacers that are in contact with the reference surface are formed into spherical curved surfaces, so that they are flat with each other. Compared to the state where the end faces are in angular contact, a stable contact state can be maintained between them.
  • the through-hole that receives the spacer is formed with a slight inclination with a deviation from a predetermined value. For this reason, even if the axis of the spacer guided to the through-hole is the spacer.
  • the spherical curved surface of one of the abutting surfaces is compared with the state in which the flat end surfaces abut against each other. For example, a stable contact state with a flat surface can be maintained.
  • either one of the end surface of the spacer and the contact surface that receives the end surface is a spherical curved surface, a stable contact state between the two can be maintained. Even if such an external force acts on the screw member or the spacer, the screw member is not easily tightened, and the probe substrate can be reliably supported on the support member.
  • the probe substrate a substrate that is bent and deformed in a free state not subjected to a load can be used.
  • the probe is formed such that the tip of each probe is positioned on the same plane while the probe substrate holds the deformation.
  • the spacer serves to hold the deformation of the probe substrate, thereby holding the tip of the probe on the same plane without adjusting the bending deformation of the probe substrate. be able to.
  • the above-described spacer that can maintain a stable contact state as described above can be reliably retained while maintaining the predetermined deformation described above, thereby aligning the probe tip on the same plane. Especially useful.
  • a plurality of anchor portions having the female screw holes for receiving the leading ends of the male screw members are formed on the other surface of the probe substrate that has undergone bending deformation,
  • the top surface of the anchor portion can be a flat surface positioned on the same plane while maintaining the deformation of the probe substrate.
  • An end surface of the spacer that contacts the top surface of the anchor portion can be a convex spherical curved surface.
  • end surface of the spacer that contacts the reference surface of the support member can be a convex spherical curved surface.
  • both of the end surface contacting the top surface of the anchor portion of the spacer and the end surface contacting the reference surface of the support member can be convex spherical surfaces.
  • a washer that allows penetration of the screw member can be disposed between the spacer and the top surface of the anchor portion that receives one end surface of the spacer.
  • One surface of the washer facing the top surface of the anchor portion may be a flat surface, and the other surface that receives the end surface of the spacer may be a spherical curved surface.
  • the one end surface of the spacer can be a convex spherical curved surface
  • the other surface of the washer that receives the one end surface can be a concave spherical curved surface.
  • the end surface of the spacer facing the reference surface of the support member can be a flat surface.
  • the end surface of the spacer facing the reference surface of the support member can be a convex spherical curved surface.
  • a washer that allows the screw member to pass therethrough is disposed between the spacer and a top surface of a part of the anchor that receives one end surface of the spacer, and a through hole that allows the screw member to penetrate in a diametrical direction.
  • a sphere in which a hole is formed can be used as the washer.
  • the probe substrate can be composed of a ceramic plate and a multilayer wiring layer formed on one surface of the ceramic plate.
  • a plurality of probe lands for the probe can be formed on the surface of the multilayer wiring layer so as to protrude away from the ceramic plate.
  • Each probe extends from the projecting end face of each probe land.
  • the end face of the probe land is the deformation of the probe substrate. It is located on the same plane with With this configuration, even when bending deformation occurs in the ceramic plate, the tips can be aligned on the same plane using the same to long probes while maintaining the bending deformation.
  • the spacer for holding the probe board on the support member can be stably disposed, and the probe board is supported by preventing loosening due to vibration. Since it can be reliably supported by the member, durability can be improved.
  • FIG. 1 is an exploded perspective view showing an embodiment of an electrical connection device according to the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the electrical connection apparatus shown in FIG.
  • FIG. 3 is a perspective view showing the spacer and the washer shown in FIG.
  • Fig. 4 is a cross-sectional view showing the abutting relationship between the spacer and the washer shown in Fig. 1.
  • (a) shows that the through hole for receiving the spacer is not inclined, and the reference surface of the support member is also
  • (B) shows a state in which the through hole for receiving the spacer is inclined
  • (c) shows a state in which the reference surface of the support member is inclined.
  • FIG. 5 is a drawing similar to FIG. 3 showing another embodiment according to the present invention.
  • FIG. 6 is a perspective view of a spherical washer showing another embodiment according to the present invention.
  • FIG. 7 is a front view of a spacer showing still another embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view showing a part of the electrical connection device according to the present invention in which the spacer shown in FIG. 7 is incorporated.
  • Fig. 9 is a drawing similar to Fig. 8 in which the spacer shown in Fig. 7 is incorporated with a washer.
  • FIG. 1 An electrical connection device 10 according to the present invention is shown in exploded view in FIG.
  • This electrical connection device 10 includes a flat plate-like support member 12 whose lower surface 12 a is a flat attachment reference surface, and a circular flat plate-like wiring board 1 held on the attachment surface 1 2 a of the support member. 4, a probe assembly 1 8 electrically connected to the wiring board 1 4 via an electrical connector 1 6, and a base ring 2 0 formed with a central opening 2 0 a for receiving the electrical connector 1 6, A fixing ring 22 that clamps the edge of the probe assembly 18 in cooperation with the edge of the central opening 20a of the base ring.
  • the fixing ring 22 has a central opening 2 2 a that allows exposure of a later-described probe 18 b of the probe assembly 18 at the center thereof.
  • connection pads 24a which are connection terminals of the IC circuit, are used to connect to an electrical circuit (not shown) of the tester 26.
  • the wiring board 14 is made of, for example, a polyimide resin board having a circular plate shape as a whole, and is connected to the electric circuit of the tester 26 on the annular peripheral portion of its upper surface 14 a.
  • a number of connected connectors 28 are arranged in an annular arrangement.
  • a large number of connection terminals (not shown) corresponding to the connectors 28 are arranged in a rectangular matrix at the center of the lower surface 14 b of the wiring board 14, and are formed in the polyimide resin plate.
  • the connectors 28 and the connection terminals of the wiring board 14 are electrically connected to each other through a well-known wiring circuit.
  • the support member 12 is a frame member made of, for example, a stainless plate that allows the connectors 28-to be exposed, and the lower surface 12 a thereof is disposed in contact with the upper surface 14 a of the wiring board 14.
  • the probe assembly 18 basically includes a probe substrate 1 8 a and a large number of probes 1 8 b formed on the lower surface of the probe substrate.
  • the probe substrate 18 a includes a substrate member 30 made of, for example, a ceramic plate, and a multilayer wiring layer 32 formed on the lower surface of the substrate member, that is, the ceramic plate.
  • a probe land 34 connected to the corresponding conductive path of the ceramic board 30 through the wiring path of the multilayer wiring layer is formed on the lower surface of the multilayer wiring layer 32, as is well known in the art.
  • the probe 1 8 b is fixed to each probe land 3 4.
  • the electrical connector 16 is a pogo pin type electrical connector, and is a conductive compression coil spring 1 6 b housed in a pogo pin block 1 6 a made of a plate-like member exhibiting electrical insulation. Then, each pair of pogo pins 16 c and 16 d connects the connection terminal of the wiring board 14 and the corresponding conductive path of the ceramic plate 30. Each probe 18 b of the probe assembly 18 is connected to the corresponding connector 28 via the electrical connector 16.
  • connection pad 2 4 a of the semiconductor wafer 24 that is the object to be inspected the connection pad is connected to the tester 26 through the corresponding connector 28. Therefore, an electrical inspection of the electrical circuit of the semiconductor wafer 24 can be performed by the tester.
  • the electrical connecting device 10 described above is assembled by bolts 36 to 4 2 made of a large number of male screw members. That is, as shown in FIG. 2, an electrical connector 16 is attached to the support member 12 by a bolt 3 6 disposed through the wiring board 14.
  • the bolt 36 is a female screw whose tip is formed on the support member 12.
  • the wiring board 14 is clamped between the pogo pin lock 16 a of the electrical connector 16 and the support member 12 by being screwed into the hole 44.
  • the base ring 20 and the fixing ring 22 are connected to the probe board 1 8 a of the probe assembly 1 8 a by a bolt 3 8 whose tip is screwed into a female screw hole 46 formed in the base ring 20. It is mutually connected so that an edge may be pinched.
  • the base ring 20 passes through the support member 12 and the wiring board 14 and is fixed to the support member 12 by a bolt 40 (see FIG. 1) whose front end is screwed to the base ring 20. .
  • the edge of the probe substrate 18 a of the probe assembly 18 is sandwiched between the base ring 20 and the fixing ring 22.
  • the ceramic plate 30 which is a substrate member of the probe substrate 18 a sandwiching this edge portion, or when the multilayer wiring layer 32 is formed
  • the heat and external force of the manufacturing process Therefore, for example, a wavy bending deformation may occur in the flat ceramic plate 30.
  • the ceramic plate 30 itself may bend and deform before the conductive path and the multilayer wiring layer 32 are formed. The deformation of the probe substrate 18 a due to the deformation of the substrate member 30 is maintained even in a free state where no external force is applied to the probe substrate.
  • the tips of all the probes 18 b are in a free state while maintaining the deformation, regardless of the deformation of the probe substrate 18 a. They are aligned in advance so that they are aligned on the same plane P1.
  • the plane P 1 is preferably parallel to the virtual plane P of the flat ceramic plate obtained when the ceramic plate 30 that is the substrate member is not deformed.
  • the probe assembly 18 having the probes 18 b with the respective tips aligned is attached to the support member 12 via the plurality of bolts 4 2 while holding the deformation on the probe substrate 18 a. It is supported.
  • an anchor portion 50 having a female screw hole 48 for receiving the tip of each bolt 42 is formed on the upper surface of the ceramic plate 30, that is, the upper surface of the probe board 18 a. Is formed.
  • each anchor part 50 has a different height dimension depending on the height position of the portion of the probe board 18 a where the anchor part 50 a is provided.
  • a plurality of cylindrical slots having the same height dimension are provided.
  • the pacer 5 2 is applied.
  • a through hole 54 for receiving the spacer 52 is formed in the wiring board 14 corresponding to each anchor portion 50 so as to penetrate the wiring board 14 in the plate thickness direction.
  • a through hole 56 that is aligned with the through hole 54 is formed in the pogo pin block 16 a.
  • Each bolt 4 2 is disposed through the spacer 52 with its head 4 2 a positioned on the support member 12 side, and the tip of the shaft 4 2 b corresponds to the corresponding anchor 5 Threaded into 0 female screw hole 4 8.
  • a cylindrical or annular washer 58 is applied to the top surface of the spacer and the anchor portion 50 that receives the lower end of the spacer. Therefore, in this case, the length dimension of the spacer 52 is determined by the height of the washer 5 8 from the preset distance dimension between the mounting surface 1 2 a of the support member 12 and the top surface of the anchor portion 50. The value is set by subtracting the amount.
  • the upper end surface 5 2 a of the spacer 5 2 corresponds to the flat mounting reference surface 1 2 a of the support member 1 2 and is perpendicular to the axis of the spacer 5 2 as shown in FIG. It is formed on a flat surface.
  • the lower end surface 52 b is a convex spherical curved surface along a spherical surface defined by a radius R with the center of gravity of the spacer 52 as the center.
  • the upper surface 5 8 a of the washer 5 8 that receives the lower end surface 5 2 b of the spacer 5 2 has a concave spherical shape defined by the same radius R as the convex spherical curved surface of the spacer 52. It is a curved surface. Therefore, the spacer 5 2 and the washer 5 8 can be pivoted with respect to each other with the lower end surface 5 2 b of the spacer 52 and the upper surface 5 8 a of the washer 5 8 being aligned with each other. Be adapted.
  • the lower surface 5 8 b of the washer 5 8 facing the flat top surface of the anchor portion 50 is a flat surface perpendicular to the central axis of the washer 5 8.
  • the spacer 5 2 and the washer 5 8 have a flat upper end surface 5 2a as a support member.
  • the support member 1 2 is not bent or distorted, and its mounting surface 1 2 a is maintained at right angles to the axis 4 2 X of the bolt 4 2. If the through hole 5 4 is not tilted due to manufacturing errors, the spacer 5 2 and the washer 5 8 are tightened to the bolt 4 2 in an aligned arrangement so that their axes coincide. . Further, as described above, the flat upper end surface 5 2 a of the spacer 52 is in contact with the flat mounting surface 1 2 a of the support member 1 2 evenly, and the flat lower end surface 5 8 b of the washer 5 8 Are in contact with the flat top surface of the anchor portion 50 evenly. Furthermore, the spacer 52 and the washer 58 are joined to each other by their convex spherical curved surface 52b and concave spherical curved surface 58a.
  • the spacer 5 2 is stably held between the support member 12 and the probe board 18 a together with the washer 5 8, and as a result, the probe board 18 a is reliably supported in a state in which the deformation is held. 12 Because of the force supported by 2, the tip of each probe 1 8 b is securely held on the same plane P 1 (see Fig. 2).
  • FIG. 4 (b) shows an example in which the axis of the through hole 54 that receives the spacer 52 has an inclination of the angle ⁇ 1 with respect to the axis 4 2 X of the bolt 42 due to a manufacturing error.
  • the axis of the spacer 5 2 is inclined at an angle 0 1 with respect to the axis 4 2 X of the bolt 4 2, so that the upper end surface 5 2 of the spacer 5 2
  • the stability between a and the mounting surface 1 2 a of the support member 1 2 is slightly reduced.
  • FIG. 4 (c) shows an example in which the support member 12 2 is bent or distorted, and therefore the mounting surface 1 2 a is inclined at an angle 0 2.
  • the spacer 52 is inclined at an angle 0 2 so that the upper end surface 52a of the spacer 52 is along the inclined mounting surface 12a, but as described with reference to Fig. 4 (b), Since the lower end surface 5 2 b of the spacer 5 2 is securely received by the corresponding upper surface 5 8 a of the washer 5 8, the spacer 5 2 is not subject to conventional vibration and rattling.
  • the spacer 5 2, together with the washer 5 8, properly holds between the support member 1 2 and the probe substrate 1 8 a in order to hold the deformation of the probe substrate 1 8 a.
  • the tip of each probe 18 b is securely held on the same surface as in FIG. 4 (a).
  • the lower end surface 52 b of the spacer 52 is a convex spherical surface
  • the upper end surface 58 a of the washer 58 receiving the lower end surface is a corresponding concave spherical surface.
  • the lower end surface 52b of the spacer 52 is a concave spherical surface
  • the upper end surface 58a of the washer 58 receiving the lower end surface is a corresponding convex. It can be a spherical surface.
  • the spherical washer 78 receives the concave spherical surface 52 b which is the lower end surface of the spacer 52 at its upper end, and the top of the anchor portion 50 at the entire periphery of the lower end. Since it abuts against the surface, it is possible to reliably prevent rattling of the spacer 52 due to vibration as in the conventional case, as in the above example. Therefore, as in the example described above, by properly holding the support member 12 and the probe board 18 a, the tips of the probes 18 b are securely held on the same surface.
  • Fig. 8 shows an example of a spacer 72 in which both ends of the upper end surface 7 2 a and the lower end surface 7 2 b are formed into convex spherical surfaces.
  • the spacer 72 has an upper end surface 7 2 a which is a convex spherical surface abutted against the mounting surface 1 2 a of the support member 12 without using a washer, Further, the lower end surface 72 b which is a convex spherical surface is disposed in contact with the top surface of the anchor portion 50.
  • both ends are convex spherical surfaces. Even if the mounting surface 1 2 a is inclined or the through hole 5 4 is inclined due to a manufacturing error, each of the slightly inclined spacers 7 2 is used without using a washer 58 having a spherical curved surface. These end surfaces can be brought into contact with the mounting surfaces 1 2 a of the corresponding support members 12 or the top surfaces of the anchor portions 50 at the entire circumference. As a result, it is possible to reliably prevent the spacers 52 from rattling with a simple configuration, so that the support member 12 and the probe board 18 a are separated from each other as in the above example. Properly held, the tip of each probe 1 8 b can be securely held on the same surface.
  • a spacer 72 having convex spherical surfaces at both ends can be used in combination with a washer 5 8 having an upper surface 5 8 a having a concave curved surface.
  • both end surfaces of the spacer 72 are flat surfaces or concave spherical shapes perpendicular to the axis.
  • the mounting surface 1 2 a of the support member 12 that receives the flat surface 1 2 a or the top surface of the anchor portion 50 can be a convex spherical surface, and in combination with washers 5 8 and 7 8 Various combinations can be employed.
  • the spacer according to the present invention can be applied to an electrical connection device having an adjustment mechanism for correcting bending deformation of a probe board.

Abstract

 テスタと被検査体との電気的検査に用いられる電気的接続装置。電気的接続装置は、ねじ部材の締め付けにより、支持部材との間に配線基板を介在させて、前記支持部材に向けて締め付けられるプローブ組立体を備える。前記ねじ部材の締め付けによるプローブ組立体のプローブ基板の変形を防止すべく、支持部材とプローブ基板との間には、前記配線基板を貫通して配置されかつねじ部材に貫かれるスペーサが設けられている。スペーサの両端面は凸状の球状曲面である。

Description

明 細 書 電気的接続装置 技術分野
本発明は、 電気回路の電気的検査のために、 被検査体である例えば集積回路の 電気回路とその電気的検査を行うテスタの電気回路との接続に用いられるプロ一 ブカードのような電気的接続装置に関する。 背景技術
従来のこの種の電気的接続装置の一つとして、 プローブ基板と該プローブ基板 から伸長する多数のプローブとが設けられたプローブ組立体を備える電気的接続 装置であって前記プローブ基板の平坦性を調整可能とする電気的接続装置が提案 されている (特許文献 1参照) 。 この従来の電気的接続装置によれば、 プローブ 基板を支持する支持部材からプローブ基板の一部に押圧力あるいは引張り力を作 用させることができる。 この作用力の調整により、 プローブ組立体のプローブ基 板に曲がりが生じていても、 プローブ基板の曲がり変形を修正することにより、 該プローブ基板の平坦性を維持することができ、 これにより、 プローブの先端を 揃えることができる。
しかしながら、 特許文献 1に記載の前記した従来技術によれば、 プローブカー ド組立体の電気的接続装置への組み付け時毎に、 各プローブ基板に導入された曲 がり変形に応じて、 全てのプローブ先端が同一平面上に位置するように調整する 必要がある。 プローブ組立体を電気的接続装置に組み付けた状態で、 その全ての プローブの先端が被検査体の前記した対応する各電気接続端子に適正に接触する ように調整する作業は繁雑であり、 熟練を要する。 特に、 半導体ウェハ上に形成 された多数の集積回路の検査では、 プローブ組立体のプローブ数が著しく増大す ることから、 このような多数のプローブが半導体ウェハ上の対応する各パッドに 適正に接触するように、 調整する作業は容易ではない。 しかも、 このような調整 作業は、 プローブ組立体の取り替え毎に必要となる。 そこで、 本願発明者等は、 先の国際特許出願 (P C T/ J P 2 0 0 5 Z 0 0 9 8 1 2 ) で、 プローブ基板の変形に拘わらずプローブ組立体の電気的接続装置へ の組み付け後におけるプロ一ブ基板の平坦化調整作業を不要とし、 プローブと被 検査体の電気回路の対応する電気接続端子との確実な電気的接続を得ることがで きる電気的接続装置を提案した。
この電気的接続装置のプ口一ブ組立体では、 負荷を受けない自由状態で曲がり 変形を生じたプローブ基板に、 先端が同一面上に揃うように、 プローブが形成さ れている。 支持部材と前記プロ一ブ基板との間に配置された配線基板を貫通する 取付けボルトの締め付けにより、 前記プローブ基板が前記支持部材に結合される。 前記プローブ基板の基準面と前記支持部材との間には、 その間に配置された前記 配線基板を貫通して、 筒状のスぺーサが揷入される。 このスぺーサは、 取付けボ ルトの締め付け時、 プローブ基板の前記した変形を保持する作用をなす。 そのた め、 プローブ基板は前記した変形を維持した状態で前記支持部材の基準面に取り 付けられることから、 全てのプローブの先端が同一平面上に位置する。
したがって、 プローブ組立体の前記支持部材への取付け後、 従来のようなプロ ーブ基板を平坦化するための調整作業を行うことなく、 全てのプローブの先端を 被検査体である電気回路の各電気接続端子にほぼ均等に押し付けることができる。 これにより、 プローブ組立体の取り替え毎においても、 従来のような前記した煩 わしい平坦化調整作業が不要となり、 効率的な電気的検査が可能となる。
しかしながら、 この種のスぺーサは、 両端面が該スぺーサの軸線に直角な平坦 面であり、 この端面を受ける例えば支持部材のたわみまたは歪みにより、 該支持 部材の基準面に傾きが生じているとスぺーサの端面と該端面を受ける支持部材の 当接面とが、 スぺーサの周方向で均等に当接しないことから、 両者の当接関係が 不安定になる。 また、 プローブ基板と支持部材との間に挿入される前記配線基板 に形成された前記スぺーサの貫通を許す貫通孔に製造誤差によって傾きが生じて いると、 この貫通孔に挿入されるスぺーサの端面と、 該端面を受ける支持部材ぁ るいはプローブ基板の当接面との当接関係が、 同様に、 不安定になる。
スぺーザの端面と該端面を受ける支持部材あるいはプローブ基板の当接面との 当接関係が不安定であると、 長期の強い振動によってプローブ基板を支持部材に 支持する前記ボルトの締め付けに緩みを生じる虞があり、 耐久性の低下の原因と なる。
[特許文献 1 ] 特表 2 0 0 3— 5 2 8 4 5 9号公報 発明の開示
発明が解決しようとする課題
本発明の目的は、 プローブ基板を支持部材に保持するためのスぺーサの機能を 損なうことなくプローブ基板を支持部材に確実に支持することにより、 耐久性に 優れた電気的接続装置を提供することにある。 課題を解決するための手段
本発明に係る電気的接続装置は、 テスタと、 該テスタによる電気的検査を受け る被検査体の電気接続端子とを接続する電気的接続装置であって、 取付け基準面 を有する支持部材と、 前記テスタに接続される配線回路が形成され、 前記支持部 材の前記基準面に一方の面を対向させて配置され、 また板厚方向に貫通する複数 の貫通孔が形成された配線基板と、 平板状のプローブ基板であってその一方の面 に前記被検査体の前記接続端子に先端部を当接可能な複数のプローブを有しかつ 他方の面に前記配線基板の貫通孔に対応して形成された複数のねじ穴を有し、 前 記他方の面が前記配線基板の他方の面に対向して配置されるプロ一ブ基板と、 該 プローブ基板と前記配線基板との間に配置され前記プローブを前記電気回路の対 応する部位に電気的に接続するための電気接続器と、 前記プロ一ブ基板を前記支 持部材に結合すべく少なくとも前記配線基板の前記貫通孔を貫通し先端が前記ね じ穴に螺合するねじ部材と、 前記プローブ基板の前記他方の面と前記支持部材の 前記基準面との間で少なくとも前記配線基板を貫通して配置されかつ前記各ねじ 部材に貫かれて配置される複数の筒状のスぺーザとを備え、 前記スぺーサの一方 の端面と、 該端面を受ける前記支持部材または前記プローブ基板の当接面とのう ち、 少なくともいずれか一方が球状曲面であることを特徴とする。
本発明に係る前記電気的接続装置では、 前記支持部材と前記プローブ基板との 間で前記配線基板の前記貫通孔を貫通して配置される前記スぺーサはその一端を 前記支持部材の前記基準面に当接させ、 また他端を前記プローブ基板の前記他方 の面に当接させて配置される。 前記スぺーサの一方の端面と、 該端面を受ける前 記支持部材または前記プローブ基板の当接面とのうち、 少なくともいずれか一方 は球状曲面である。
たとえば、 前記支持部材のたわみまたは歪みにより、 該支持部材の基準面に傾 きが生じていても、 前記スぺーサの前記基準面に当接する一端を球状曲面とする ことにより、 相互に平坦な端面が角度的に当接する状態に比較して、 両者間に安 定した当接状態を保持することができる。 また、 例えば、 前記スぺーサを受け入 れる前記貫通孔が規定よりずれてわずかに傾斜して形成され、 そのために、 該貫 通孔に案内される前記スぺーサの軸線がたとえ該スぺ一サの端面を受ける前記当 接面との直角関係に誤差が生じても、 相互に平坦な端面が角度的に当接する状態 に比較して、 当接面のいずれか一方の球状曲面が他方の例えば平坦面との間で安 定した当接状態を保持することができる。
したがって、 前記スぺーサの一端の端面と該端面を受ける前記当接面とのいず れか一方を球状曲面とすることにより、 両者の安定した当接状態を保持できるこ とから、 たとえ振動のような外力が前記ねじ部材あるいは前記スぺーサに作用し ても、 前記ねじ部材の締め付けが容易に緩むことはなく、 前記プローブ基板を前 記支持部材に確実に支持することができる。
前記プローブ基板として、 負荷を受けない自由状態で曲がり変形を生じている ものを用いることができる。 この場合、 前記プローブは前記プローブ基板がその 前記変形を保持した状態でそれぞれの先端を同一面上に位置させるように形成さ れる。 また、 前記スぺーサは、 前記プローブ基板の前記変形を保持する作用をな し、 これにより、 前記プローブ基板の曲がり変形を調整することなく、 前記プロ ーブの先端を同一面上に保持することができる。 このようなプローブ基板では、 前記した所定の変形を確実に保持し、 これによりプローブ先端を同一面上に揃え る上で、 前記したように、 安定した当接状態を保持できる前記スぺーサは、 特に 有用である。
曲がり変形を生じた前記プローブ基板の前記他方の面に、 前記雄ねじ部材の先 端をそれぞれ受け入れる前記雌ねじ穴を有する複数のアンカー部を形成し、 前記 アンカー部の頂面を前記プローブ基板の前記変形を保持した状態で同一平面上に 位置する平坦面とすることができる。 これにより、 プローブ先端を同一面上に揃 えるために、 前記プローブ基板の曲がり変形に拘わらず、 前記スぺーザに同一長 のものを用いることが可能となる。
前記スぺーサの前記アンカー部の頂面に当接する端面を凸状の球状曲面とする ことができる。
また、 前記スぺーザの前記支持部材の基準面に当接する端面を凸状の球状曲面 とすることができる。
あるいは、 前記スぺーサの前記アンカー部の頂面に当接する端面および前記支 持部材の基準面に当接する端面の両者を凸状の球状面とすることができる。 前記スぺーサと該スぺーサの一方の端面を受ける前記アンカー部の頂面との間 に、 前記ねじ部材の貫通を許す座金を配置することができる。 該座金の前記アン カー部の頂面に対向する一方の面を平坦面とし、 前記スぺーザの前記端面を受け る他方の面を球状曲面とすることができる。
前記した座金を用いた場合、 前記スぺーザの前記一方の端面を凸状の球状曲面 とし、 該一方の端面を受ける前記座金の前記他方の面を凹状の球状曲面とするこ とができる。
また、 前記した座金を用いた場合、 前記支持部材の前記基準面に対向する前記 スぺーサの端面を平坦面とすることができる。
さらに、 前記した座金を用いた場合、 前記支持部材の前記基準面に対向する前 記スぺーザの端面を凸状の球状曲面とすることができる。
前記スぺーサと該スぺーサの一方の端面を受ける前記ァンカ一部の頂面との間 に、 前記ねじ部材の貫通を許す座金を配置し、 直径方向に前記ねじ部材の貫通を 許す貫通孔が形成された球体を前記座金として用いることができる。
前記プローブ基板をセラミック板と、 該セラミック板の一方の面に形成された 多層配線層とで構成することができる。 多層配線層の表面に、 前記プローブのた めの複数のプローブランドを前記セラミック板から遠ざかる方向へ突出して形成 することができる。 また、 該各プローブランドの突出する端面から前記各プロ一 ブが伸長する。 前記プローブランドの前記端面は、 前記プローブ基板の前記変形 を保持した状態で同一平面上に位置する。 この構成により、 前記セラミック板に 曲がり変形が生じていても、 その曲がり変形を保持した状態で、 同〜長のプロ一 ブを用いてその先端を同一面上に揃えることができる。
【発明の効果】
本発明に係る電気的接続装置によれば、 プローブ基板を支持部材に保持するた めのスぺーサを安定して配置することができ、 振動による緩みを防止して、 プロ ーブ基板を支持部材に確実に支持することができるので、 耐久性の向上を図るこ とができる。
図面の簡単な説明
図 1は、 本発明に係る電気的接続装置の一実施例を分解して示す斜視図である。 図 2は、 図 1に示した電気的接続装置の断面図である。
図 3は、 図 1に示したスぺーサと座金とを示す斜視図である。
図 4は、 図 1に示したスぺーサと座金との当接関係を示す断面図であり、 ( a ) はスぺーサを受け入れる貫通孔が傾斜しておらず、 支持部材の基準面も傾 いていない状態を示し、 (b ) はスぺーサを受け入れる貫通孔が傾斜している状 態を示し、 (c ) は支持部材の基準面が傾いている状態を示す。
図 5は、 本発明に係る他の実施例を示す図 3と同様な図面である。
図 6は、 本発明に係る他の実施例を示す球体座金の斜視図である。
図 7は、 本発明のさらに他の実施例を示すスぺーサの正面図である。
図 8は、 図 7に示したスぺーサを組み込んだ本発明に係る電気的接続装置の一 部を拡大して示す断面図である。
図 9は、 図 7に示したスぺーサを座金と共に組み込んだ図 8と同様な図面であ る。
符号の説明
1 0 電気的接続装置
1 2 支持部材
1 4 配線基板
1 6 電気接続器
1 8 プローブ組立体 1 8 a プローブ基板
1 8 b プローブ
2 4 被検査体 (半導体ウェハ)
2 6 テスタ
3 4 プローブランド
4 8 雌ねじ穴
5 0 アンカー部
5 2、 7 2 スぺーサ
5 4 貫通孔
5 8、 7 8 座金
発明を実施するための最良の形態
本発明に係る電気的接続装置 1 0が、 図 1に分解して示されている。 この電気 的接続装置 1 0は、 下面 1 2 aが平坦な取付け基準面となる平板状の支持部材 1 2と、 該支持部材の取付け面 1 2 aに保持される円形平板状の配線基板 1 4と、 該配線基板 1 4に電気接続器 1 6を経て電気的に接続されるプローブ組立体 1 8 と、 電気接続器 1 6を受け入れる中央開口 2 0 aが形成されたベースリング 2 0 と、 該ベースリングの中央開口 2 0 aの縁部と共同してプローブ組立体 1 8の縁 部を挟持する固定リング 2 2とを備える。 この固定リング 2 2は、 その中央部に、 プローブ組立体 1 8の後述するプローブ 1 8 bの露出を許す中央開口 2 2 aを有 する。
これらの部材 1 2〜2 2は、 図 2に示すように、 一体的に組み付けられ、 例え ば半導体ウェハ 2 4に作り込まれた多数の I C回路 (図示せず) の電気的検査の ために、 該 I C回路の接続端子である各接続パッド 2 4 aをテスタ 2 6の電気回 路 (図示せず) に接続するのに用いられる。
配線基板 1 4は、 図 1に示すように、 全体的に円形板状の例えばポリイミ ド樹 脂板からなり、 その上面 1 4 aの環状周部には、 テスタ 2 6の前記電気回路に接 続される多数のコネクタ 2 8が環状に整列して配置されている。 配線基板 1 4の 下面 1 4 bの中央部には、 コネクタ 2 8に対応する多数の接続端子 (図示せず) が矩形マトリクス状に配列されており、 前記ポリイミ ド樹脂板内に形成された図 示しないが従来よく知られた配線回路を経て、 各コネグタ 2 8と、 配線基板 1 4 の前記各接続端子とが相互に電気的に接続される。
支持部材 1 2は、 これらコネクタ 2 8—の露出を許す例えばステンレス板から なる枠部材であり、 その下面 1 2 aが配線基板 1 4の上面 1 4 aに当接して配置 されている。
プローブ組立体 1 8は、 基本的には、 図 2に示すように、 プローブ基板 1 8 a と、 該プローブ基板の下面に形成された多数のプローブ 1 8 bとを備える。 プロ ーブ基板 1 8 aは、 従来よく知られているように、 例えばセラミック板からなる 基板部材 3 0と、 該基板部材すなわちセラミック板の下面に形成された多層配線 層 3 2とを備える。
セラミック板 3 0には、 電気接続器 1 6を介して配線基板 1 4の対応する前記 接続端子に接続される導電路 (図示せず) が形成されている。 多層配線層 3 2の 下面には、 従来よく知られているように、 該多層配線層の配線路を経てセラミツ ク板 3 0の対応する前記導電路に接続されたプローブランド 3 4が形成されてお り、 各プローブランド 3 4にプローブ 1 8 bが固着されている。
電気接続器 1 6は、 図示の例では、 ポゴピンタイプの電気接続器であり、 電気 絶縁性を示す板状部材から成るポゴピンブロック 1 6 a内に収容された導電性の 圧縮コイルばね 1 6 bを経て、 各一対のポゴピン 1 6 c、 1 6 dが配線基板 1 4 の前記接続端子と、 セラミック板 3 0の対応する前記導電路を接続する。 この電 気接続器 1 6を経てプローブ組立体 1 8の各プローブ 1 8 bが対応するコネクタ 2 8に接続されている。
したがって、 プローブ 1 8 bの先端が被検査体である半導体ウェハ 2 4の接続 パッド 2 4 aに当接されると、 該接続パッドは対応するコネクタ 2 8を経て、 テ スタ 2 6に接続されることから、 該テスタによる半導体ウェハ 2 4の前記電気回 路の電気的検査が行える。
前記した電気的接続装置 1 0は、 多数の雄ねじ部材からなるボルト 3 6〜4 2 によって組み立てられている。 すなわち、 この支持部材 1 2には、 図 2に示すよ うに、 配線基板 1 4を貫通して配置されるボルト 3 6により、 電気接続器 1 6が 取り付けられている。 ボルト 3 6は、 その先端が支持部材 1 2に形成された雌ね じ穴 4 4に螺合することにより、 電気接続器 1 6のポゴピンプロック 1 6 aと、 支持部材 1 2との間で配線基板 1 4を挟持する。
また、 ベースリング 2 0および固定リング 2 2は、 ベースリング 2 0に形成さ れた雌ねじ穴 4 6に先端が螺合するボルト 3 8により、 プローブ組立体 1 8のプ ローブ基板 1 8 aの縁部を挟持するように相互に結合されている。 このベースリ ング 2 0は、 支持部材 1 2および配線基板 1 4を貫通し、 ベースリング 2 0に先 端が螺合するボルト 4 0 (図 1参照) により、 支持部材 1 2に固定されている。 前記したように、 プローブ組立体 1 8のプローブ基板 1 8 aの縁部はベースリ ング 2 0および固定リング 2 2により縁部を挟持される。 この縁部を挟持される プローブ基板 1 8 aの基板部材であるセラミック板 3 0に前記した導電路を形成 するとき、 または多層配線層 3 2を形成するとき、 その製造工程の熱と外力とに よつて平坦なセラミック板 3 0に例えば波状の曲がり変形を生じることがある。 あるいは、 前記導電路及び多層配線層 3 2の形成前に、 セラミック板 3 0自体に 曲がり変形を生じることがある。 そのような基板部材 3 0の変形によるプローブ 基板 1 8 aの変形は、 該プローブ基板にたとえ外力が作用していない自由状態で あっても保持される。
本発明に係るプローブ組立体 1 8は、 そのようなプローブ基板 1 8 aの変形に 拘わらず、 図 2に示すように、 該変形を維持した自由状態で、 全てのプローブ 1 8 bの先端が同一平面 P 1上に整列するように、 予め揃えられている。 この平面 P 1は、 基板部材であるセラミック板 3 0に変形が生じていない場合に得られる 平坦なセラミック板の仮想平面 Pに平行とすることが望ましい。
このように各先端が揃えられたプローブ 1 8 bを有するプローブ組立体 1 8は、 そのプローブ基板 1 8 aに変形を保持した状態で、 複数のボルト 4 2を介して支 持部材 1 2に支持されている。
このボノレト 4 2による支持のために、 セラミック板 3 0の上面すなわちプロ一 ブ基板 1 8 aの上面には、 各ボルト 4 2の先端部を受け入れる雌ねじ穴 4 8を有 するアンカー部 5 0が形成されている。
各アンカー部 5 0の頂面は、 平坦であり、 プローブ基板 1 8 aに前記した曲が り変形が保持された自由状態で、 前記仮想平面 Pに平行な同一平面 P 2に一致す るように、 揃えられている。 したがって、 各アンカー部 5 0の高さ寸法は、 曲が りを生じたプローブ基板 1 8 aの各アンカー部 5 0が設けられた部分の高さ位置 に応じて、 異なる高さ寸法を有する。
このアンカー部 5 0の平坦な頂面と、 支持部材 1 2の平坦な取付け基準面 1 2 aとの間隔を適正に保持するために、 相互に等しい高さ寸法を有する複数の筒状 のスぺーサ 5 2が適用されている。 また、 各アンカー部 5 0に対応して配線基板 1 4には、 スぺーサ 5 2を受け入れる貫通孔 5 4が配線基板 1 4の板厚方向に貫 通して形成されている。 さらに、 ポゴピンブロック 1 6 aには、 貫通孔 5 4に整 合する貫通孔 5 6が形成されている。
各ボルト 4 2は、 その頭部 4 2 aを支持部材 1 2の側に位置させてスぺーサ 5 2を貫通して配置され、 その軸部 4 2 bの先端部分が対応するアンカー部 5 0の 雌ねじ穴 4 8に螺合する。
図 2に示す例では、 スぺーザと該スぺーサの下端を受けるアンカー部 5 0の頂 面には、 筒状あるいは環状の座金 5 8が適用されている。 したがって、 この場合、 スぺーサ 5 2の長さ寸法は、 支持部材 1 2の取付け面 1 2 aとアンカー部 5 0の 頂面との間の予め設定された間隔寸法から座金 5 8の高さ分を差し引いた値に設 定されている。
スぺーサ 5 2の上端面 5 2 aは、 図 3に示されているように、 支持部材 1 2の 平坦な取付け基準面 1 2 aに対応して、 スぺーサ 5 2の軸線に直角な平坦面に形 成されている。 他方、 その下端面 5 2 bは、 例えばスぺーサ 5 2の重心を中心と して半径 Rで規定される球面に沿つた凸状の球状曲面である。
また、 スぺーサ 5 2の下端面 5 2 bを受ける座金 5 8の上面 5 8 aは、 スぺー サ 5 2の凸状の球状曲面を規定したと同一半径 Rによって規定される凹状の球状 曲面である。 したがって、 スぺーサ 5 2および座金 5 8は、 互いの軸線を一致さ れた状態でスぺーサ 5 2の下端面 5 2 bおよび座金 5 8の上面 5 8 aを相互に枢 動可能に適合される。 他方、 アンカー部 5 0の平坦な頂面に対向する座金 5 8の 下面 5 8 bは、 座金 5 8の中心軸線と直角な平坦面である。
このようなスぺーサ 5 2および座金 5 8は、 図 4 ( a ) ないし図 4 ( b ) に示 されているように、.スぺーサ 5 2の平坦な上端面 5 2 aが支持部材 1 2の取付け 基準面 1 2 aに当接し、 座金 5 8の平坦な下端面 5 8 bがアンカー部 5 0の平坦 な頂面に当接し、 かつ凸状の球状曲面 5 2 bおよび凹状の球状曲面 5 8 aが相互 の嵌合により当接した状態で配置され、 プローブ基板 1 8 aの前記した曲がり変 形を保持すべく、 それぞれを貫通するボルト 4 2 (図 2参照) により、 支持部材 1 2とプローブ基板 1 8 aとの間で締め付けられる。
このとき、 図 4 ( a ) に示されているように、 支持部材 1 2にたわみまたは歪 みが生じておらず、 その取付け面 1 2 aがボルト 4 2の軸線 4 2 Xに直角に維持 されており、 また貫通孔 5 4に製造誤差による傾きが生じていない場合、 スぺー サ 5 2および座金 5 8はそれぞれの軸線を一致させるように、 整列した配置状態 でボルト 4 2に締め付けられる。 また、 前記したようにスぺーサ 5 2の平坦な上 端面 5 2 aは支持部材 1 2の平坦な取付け面 1 2 aと均等に当接し、 また座金 5 8の平坦な下端面 5 8 bはアンカー部 5 0の平坦な頂面と均等に当接する。 さら に、 スぺーサ 5 2および座金 5 8はそれぞれの凸状球状曲面 5 2 bおよび凹状球 状曲面 5 8 aで相互に接合する。
したがって、 スぺーサ 5 2は座金 5 8と共に支持部材 1 2およびプローブ基板 1 8 a間で安定して保持され、 その結果、 プローブ基板 1 8 aはその変形を保持 した状態で確実に支持部材 1 2に支持されること力ゝら、 各プローブ 1 8 bの先端 は同一面 P 1 (図 2参照) 上に確実に保持される。
図 4 ( b ) は、 スぺーサ 5 2を受け入れる貫通孔 5 4の軸線が製造誤差によつ てボルト 4 2の軸線 4 2 Xに関して角度 θ 1の傾きを有する場合の例を示す。 こ の場合、 貫通孔 5 4の案内作用によって、 スぺーサ 5 2の軸線は、 ボルト 4 2の 軸線 4 2 Xに関して角度 0 1の傾斜することから、 スぺーサ 5 2の上端面 5 2 a と支持部材 1 2の取付け面 1 2 aとの安定性はわずかに低下する。
しかしながら、 スぺーサ 5 2の下端面 5 2 bは座金 5 8の対応する上面 5 8 a で確実に受け止められることから、 スぺーサ 5 2は従来のような振動よつてがた 付きを生じることはなく、 スぺーサ 5 2は座金 5 8と共に、 プローブ基板 1 8 a の変形を保持すべく、 支持部材 1 2およびプローブ基板 1 8 a間を適正に保持す る。 これにより、 各プローブ 1 8 bの先端が図 4 ( a ) におけると同様に同一面 上に確実に保持される。 図 4 ( c ) は、 支持部材 1 2にたわみまたは歪みが生じ、 そのため、 取付け面 1 2 aが角度 0 2で傾斜した場合の例を示す。 この場合、 スぺーサ 5 2はその上 端面 5 2 aが傾斜した取付け面 1 2 aに沿うように、 角度 0 2で傾斜するが、 図 4 ( b ) に沿って説明したと同様に、 スぺーサ 5 2の下端面 5 2 bは座金 5 8の 対応する上面 5 8 aで確実に受け止められることから、 スぺーサ 5 2は従来のよ うな振動よつてがた付きを生じることはなく、 スぺーサ 5 2は座金 5 8と共に、 プローブ基板 1 8 aの変形を保持すべく、 支持部材 1 2およぴプローブ基板 1 8 a間を適正に保持する。 これにより、 各プローブ 1 8 bの先端が図 4 ( a ) にお けると同様に同一面上に確実に保持される。
前記したところでは、 スぺーサ 5 2の下端面 5 2 bを凸状の球状面とし、 該下 端面を受ける座金 5 8の上端面 5 8 aをこれに対応する凹状の球状面とした例を 示した。 これに代えて、 図 5に示すように、 スぺーサ 5 2の下端面 5 2 bを凹状 の球状面とし、 該下端面を受ける座金 5 8の上端面 5 8 aをこれに対応した凸状 の球状面とすることができる。
また、 図 5に示した筒状あるいは環状の座金 5 8に代えて、 図 6に示すように、 ボルト 4 2を受け入れるための貫通孔 7 8 aが直径方向に形成された球体 7 8か らなる座金を用いることができる。 この球体座金 7 8は、 前記したと同様に、 そ の上端で、 スぺーサ 5 2の下端面である凹状の球状面 5 2 bを受け入れると共に、 下端の全周でアンカー部 5 0の頂面に当接することから、 前記した例におけると 同様に、 従来のような振動よるスぺーサ 5 2のがた付きを確実に防止することが できる。 したがって、 前記した例におけると同様に、 支持部材 1 2およびプロ一 ブ基板 1 8 a間を適正に保持することにより、 各プローブ 1 8 bの先端が同一面 上に確実に保持される。
図 Ίは、 上端面 7 2 aおよび下端面 7 2 bの両端が凸状の球状面に形成された スぺーサ 7 2の例を示す。 このスぺーサ 7 2は、 図 8に示すように、 座金を用い ることなく、 その凸状球状面である上端面 7 2 aを支持部材 1 2の取付け面 1 2 aに当接させ、 またその凸状球状面である下端面 7 2 bをアンカー部 5 0の頂面 に当接させて配置される。
このスぺーサ 7 2によれば、 その両端が凸状球状面であることから、 たとえ取 付け面 1 2 aが傾斜しても、 あるいは貫通孔 5 4が製造誤差により傾斜しても、 球状曲面を有する座金 5 8を用いることなく、 わずかに傾いたスぺーサ 7 2のそ れぞれの端面を、 その全周で対応する支持部材 1 2の取付け面 1 2 aあるいはァ ンカ一部 5 0の頂面に当接させることができる。 これにより、 単純な構成でもつ て、 確実にスぺーサ 5 2のがた付きを防止することができるので、 前記した例に おけると同様に、 支持部材 1 2およびプローブ基板 1 8 a間を適正に保持し、 各 プローブ 1 8 bの先端を同一面上に確実に保持することができる。
また、 図 8に示すように、 両端が凸状球状面であるスぺーサ 7 2を上面 5 8 a が凹状曲面の座金 5 8と組み合わせて用いることができる。
さらに、 前記したところでは、 スぺーサ 7 2の端面を凸状曲面とした例を示し たが、 これに代えて、 スぺーサ 7 2の両端面を軸線に直角な平坦面または凹状球 状面とし、 該平坦面を受ける支持部材 1 2の取付け面 1 2 aあるいはアンカー部 5 0の頂面を凸状の球状面とすることができ、 また座金 5 8、 7 8との組み合わ せで種々の組み合わせを採用することができる。
また、 本発明に係る前記スぺーサは、 プローブ基板の曲がり変形を修正するた めの調整機構を有する電気的接続装置に適用することができる。

Claims

請求の範囲
1 . テスタと、 該テスタによる電気的検査を受ける被検査体の電気接続端子と を接続する電気的接続装置であって、
取付け基準面を有する支持部材と、 前記テスタに接続される配線回路が形成さ れ、 前記支持部材の前記基準面に一方の面を対向させて配置され、 また板厚方向 に貫通する複数の貫通孔が形成された配線基板と、 平板状のプローブ基板であつ てその一方の面に前記被検査体の前記接続端子に先端部を当接可能な複数のプロ ーブを有しかつ他方の面に前記配線基板の貫通孔に対応して形成された複数のね じ穴を有し、 前記他方の面が前記配線基板の他方の面に対向して配置されるプロ 一ブ基板と、 該プローブ基板と前記配線基板との間に配置され前記プローブを前 記電気回路の対応する部位に電気的に接続するための電気接続器と、 前記プロ一 ブ基板を前記支持部材に結合すべく少なくとも前記配線基板の前記貫通孔を貫通 し先端が前記ねじ穴に螺合するねじ部材と、 前記プローブ基板の前記他方の面と 前記支持部材の前記基準面との間で少なくとも前記配線基板を貫通して配置され かつ前記各ねじ部材に貫かれて配置される複数の筒状のスぺーサとを備え、 前記 スぺーサの一方の端面と、 該端面を受ける前記支持部材または前記プローブ基板 の当接面とのうち、 少なくともいずれか一方が球状曲面である、 電気的接続装置。
2 . 前記プローブ基板は負荷を受けない自由状態で曲がり変形を生じ、 前記プ ローブは前記プローブ基板がその前記変形を保持した状態でそれぞれの先端を同 一面上に位置させ、 前記スぺーサは前記プローブ基板の前記変形を保持すること . により、 前記プローブの先端を同一面上に保持する作用をなす、 請求項 1に記載 の電気的接続装置。
3 . 前記プローブ基板の前記他方の面には、 前記雄ねじ部材の先端をそれぞれ 受け入れる前記雌ねじ穴を有する複数のアンカー部が形成されており、 前記アン カー部の頂面は、 前記プローブ基板の前記変形を保持した状態で同一平面上に位 置する平坦面である、 請求項 2に記載の電気的接続装置。
4 . 前記スぺーサの前記アンカー部の頂面に当接する端面は、 凸状の球状曲面 である請求項 3に記載の電気的接続装置。
5 . 前記スぺーサの前記支持部材の基準面に当接する端面は、 凸状の球状曲面 である請求項 3に記載の電気的接続装置。
6 . 前記スぺーサは前記アンカー部の頂面に当接する端面および前記支持部材 の基準面に当接する端面の両者が凸状の球状面である請求項 3に記載の電気的接 続装置。
7 . 前記スぺーザと該スぺーサの一方の端面を受ける前記アンカー部の頂面と の間には、 前記ねじ部材の貫通を許す座金が配置されており、 該座金の前記アン カー部の頂面に対向する一方の面は平坦面であり、 前記スぺーザの前記端面を受 ける他方の面は、 球状曲面である請求項 3に記載の電気的接続装置。
8 . 前記スぺーサの前記一方の端面は凸状の球状曲面を有し、 該一方の端面を 受ける前記座金の前記他方の面は凹状の球状曲面である請求項 7に記載の電気的 接続装置。
9 . 前記支持部材の前記基準面に対向する前記スぺーサの端面は平坦面である 請求項 8に記載の電気的接続装置。
1 0 . 前記支持部材の前記基準面に対向する前記スぺーサの端面は、 凸状の球 状曲面を有する請求項 8に記載の電気的接続装置。
1 1 前記スぺーサと該スぺーサの一方の端面を受ける前記アンカー部の頂面と の間には、 前記ねじ部材の貫通を許す座金が配置されており、 前記座金は、 直径 方向に前記ねじ部材の貫通を許す貫通孔が形成された球体からなる請求項 3に記 載の電気的接続装置。
1 2 . 前記プローブ基板は、 セラミック板と、 該セラミック板の一方の面に形 成された多層配線層とを備え、 該多層配線層の表面には、 前記プローブのための 複数のプローブランドが前記セラミック板から遠ざかる方向へ突出して形成され ており、 該各プローブランドの突出する端面から前記各プローブが伸長し、 前記 プローブランドの前記端面は、 前記プローブ基板の前記変形を保持した状態で同 一平面上に位置する、 請求項 2に記載の電気的接続装置。
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