WO2006040935A1 - 演算増幅器 - Google Patents

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operational amplifier
inverting input
protection diode
bipolar transistor
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Kouichi Hanada
Masanori Kayama
Naohiro Nomura
Akira Noguchi
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Rohm Co., Ltd
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    • H03F2203/45568Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising one or more diodes as shunt to the input leads

Definitions

  • the present invention relates to an operational amplifier, and more particularly to a circuit protection technique thereof.
  • An operational amplifier is widely used in various applications as a basic circuit constituting an electronic circuit. Such operational amplifiers are required for many applications as a single package product mounted on a printed circuit board or the like, in addition to being used by being integrated into a part of an LSI.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 11 74742
  • the present invention has been made in view of these problems, and an object thereof is to provide an operational amplifier having high voltage resistance.
  • One embodiment of the present invention relates to an operational amplifier.
  • a force sword terminal is connected to a control terminal of at least one transistor constituting an input differential pair connected to an inverting input terminal and a non-inverting input terminal, and an anode terminal is connected to a ground potential terminal.
  • a protection diode is provided.
  • control terminal means a base terminal in a bipolar transistor and a gate terminal in a field effect transistor (hereinafter abbreviated as FET).
  • the protective diode between the inverting and non-inverting input terminals and the fixed ground potential, the protective diode is turned on in the reverse direction before the surge current flows to the transistors constituting the differential pair. Since the voltage applied to the transistor is clamped, the breakdown voltage can be increased.
  • the “operational amplifier” in this specification is a broad concept including a comparator having an input differential pair.
  • the transistors constituting the input differential pair are PNP-type bipolar transistors, and the size of the protection diode is approximately equal to the reverse current force that the force sword terminal force also flows toward the anode terminal. It may be set to be.
  • the withstand voltage can be made higher than that of the FET, and further, by utilizing the reverse current of the diode, the base current of the bipolar transistor is released to the ground, so that the input of the operational amplifier The influence of the base current on the circuit connected to the terminal can be reduced.
  • Another embodiment of the present invention is also an operational amplifier.
  • an anode terminal is connected to a control terminal of at least one transistor constituting an input differential pair connected to an inverting input terminal and a non-inverting input terminal, and a cathode is connected to a power supply voltage terminal which is a fixed potential.
  • a protective diode to which the terminal is connected is provided.
  • the transistor can be protected even when a surge is input to the inverting and non-inverting input terminals of the power supply voltage terminal.
  • the transistor constituting the input differential pair is an NPN bipolar transistor, and the size of the protection diode is approximately equal to the reverse current force that the force sword terminal force also flows toward the anode terminal. It may be set up like this.
  • the withstand voltage can be higher than that of the FET, and further, by using the reverse current of the protection diode and supplying the base current of the bipolar transistor through the protection diode. The influence of the base current on the circuit connected to the input terminal of the operational amplifier can be reduced.
  • a plurality of protection diodes may be connected in parallel.
  • the size of the protection diode is adjusted according to the breakdown voltage of the transistor be able to. Furthermore, if the transistor current amplification factor varies due to variations in the semiconductor manufacturing process, etc., the bias current of the operational amplifier, that is, the base current of the transistors constituting the differential input pair will vary. By adjusting the size of the protection diode according to the base current, the influence on the circuit connected to the input terminal can be reduced.
  • the operational amplifier is integrally integrated, and the protection diode may be provided adjacent to an electrode pad corresponding to an inverting input terminal or a non-inverting input terminal to which the protection diode is connected.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an operational amplifier according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram showing a peripheral circuit of an inverting input terminal in the operational amplifier of FIG.
  • FIGS. 3 (a) and 3 (b) are diagrams showing the arrangement of the inverting and non-inverting input terminal electrode pads and the first and second protection diodes on the semiconductor chip of the operational amplifier of FIG. is there.
  • FIG. 4 is a diagram showing a modification of the configuration of the differential amplifier circuit.
  • FIG. 5 is a diagram showing a modified example of the differential amplifier circuit and a connection form of the protection diode.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an operational amplifier 100 according to the embodiment.
  • This operational amplifier 100 includes a differential amplifier circuit 10 provided in the input stage and an amplifier circuit 20 in the subsequent stage, and differentially amplifies the signals input to the inverting input terminal 102 and the non-inverting input terminal 104. Output from output terminal 106.
  • the same components are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
  • the differential amplifier circuit 10 includes first to sixth bipolar transistors Q1 to Q6, a constant current source 12, and first and second protection diodes Dl and D2.
  • the first bipolar transistor Ql and the third bipolar transistor Q3 are both PNP-type bipolar transistors and are connected in Darlington.
  • the inverting input terminal 102 is connected to the base terminal of the first bipolar transistor Q1. It has been.
  • the second bipolar transistor Q2 and the fourth bipolar transistor Q4 are both PNP-type bipolar transistors and are connected by Darlington.
  • the non-inverting input terminal 104 is connected to the base terminal of the second bipolar transistor Q2. .
  • the first and third bipolar transistors Ql and Q3, and the second and fourth bipolar transistors Q2 and Q4 form a differential input pair in the differential amplifier circuit 10.
  • the emitter terminals of the third bipolar transistor Q3 and the fourth bipolar transistor Q4 are connected to the constant current source 12 in common with each other.
  • the fifth bipolar transistor Q5 and the sixth bipolar transistor Q6 are NPN bipolar transistors, and their base and emitter terminals are connected in common to form a current mirror circuit.
  • the fifth and sixth bipolar transistors Q5 and Q6 are the first and third bipolar transistors Ql and Q3 and the second and fourth bipolar transistors constituting the differential input pair. Functions as a constant current load for Q2 and Q4.
  • the first protection diode Dl between the base terminals of the first and second bipolar transistors Ql and Q2 constituting the differential input pair and the ground potential, respectively.
  • a second protection diode D2 is connected. These protective diodes are connected so that the force sword terminal is on the base terminal side of the bipolar transistor and the anode terminal is on the ground potential side.
  • the connection point of the fourth bipolar transistor Q 4 and the sixth bipolar transistor Q 6 is connected to the amplifier circuit 20.
  • the amplifier circuit 20 may be of any circuit type as long as it constitutes an output stage of a general operational amplifier.
  • the Zener voltage Vz of the protective diode is set between the base emitters of the bipolar transistor or between them. By setting it lower than the withstand voltage between the base and collector, it is possible to prevent the application of a high voltage that affects the reliability of the bipolar transistor.
  • a bias current flows through the third bipolar transistor Q3 and the fourth bipolar transistor Q4 constituting the differential pair.
  • the first to fourth transistors Q1 to Q4 constituting the differential pair are formed close to each other in one integrated circuit, their current amplification factors j8 are considered to be equal.
  • the base currents of the third bipolar transistor Q3 and the fourth bipolar transistor Q4 correspond to the collector currents of the first bipolar transistor Q1 and the second bipolar transistor Q2 connected to the Darlington, respectively.
  • the base current of the second bipolar transistor Q2 is given by IxZ (j8 X j8).
  • Base currents of the first and second bipolar transistors Ql and Q2 flow out of the operational amplifier 100 from the inverting input terminal 102 and the non-inverting input terminal 104, respectively.
  • the output impedance of the circuit connected to the inverting input terminal 102 and the non-inverting input terminal 104 of the operational amplifier 100 is sufficiently low with respect to the input impedance of the operational amplifier 100. The effect on circuit operation is not so problematic.
  • the size of this diode is adjusted so that the reverse current flowing in the protection diode and the base current flowing in the first bipolar transistor Q1 and the second bipolar transistor Q2 at equilibrium are substantially equal.
  • the base current flowing through the first and second bipolar transistors Ql and Q2 flows to the ground via the first and second protection diodes Dl and D2.
  • the inverting input terminal 102 and the non-inverting input terminal 104 Since no current flows to the part, the influence on the externally connected circuit can be reduced.
  • how much the base current of the bipolar transistor should be equal to the reverse current of the protection diode can be determined according to the circuit connected to the outside, but it is desirable that it be at least 1Z2 to 2 times .
  • the first protection diode Dl and the second protection diode D2 may be formed by connecting a plurality of diodes in parallel.
  • FIG. 2 shows a peripheral circuit of the inverting input terminal 102 in the operational amplifier 100 of FIG.
  • the first protection diode D1 is formed by connecting four diodes 30 in parallel, and each diode 30 is connected by wiring.
  • the size of the first protection diode D1 can be adjusted by cutting the wiring connecting the diodes by laser trimming and changing the number of diodes connected in parallel.
  • the size of the protection diode needs to be adjusted, for example, according to the following circumstances.
  • the withstand voltage of the bipolar transistor to be protected changes due to variations in the semiconductor manufacturing process for manufacturing the operational amplifier 100.
  • the protection capability of the protection diode is determined not only by the Zener voltage Vz of the diode but also by its size. Therefore, the bipolar transistor to be protected can be appropriately protected by trimming the wiring connecting the diode 30 in accordance with the breakdown voltage of the neuropolar transistor to have a desired size.
  • the bias current of the operational amplifier 100 that is, the first and second bipolar transistors Ql constituting the differential input pair
  • the base current of Q2 will also vary. Therefore, when it is necessary to reduce the influence of the base current on the circuit connected to the inverting input terminal 102 and the non-inverting input terminal 104 of the operational amplifier 100, the base current and the reverse current should be made equal.
  • the size of the first protection diode D1 and the second protection diode D2 can be adjusted by trimming.
  • the same mask may be used in common for a plurality of products. For example, characteristics such as slew rate required for operational amplifier 100 If the current varies from product to product, the noise current, that is, the base currents of the first and second bipolar transistors Ql and Q2, may be changed accordingly. At this time, by forming the diode size adjustable by trimming, it is possible to handle multiple products without significant design changes.
  • FIGS. 3 (a) and 3 (b) show the semiconductor chip of the inverting input terminal 102, the non-inverting input terminal 104, the first protection diode Dl, and the second protection diode D2 of the operational amplifier 100 of FIG. It is a figure which shows the arrangement
  • the neutral transistor constituting the operational amplifier 100 is formed in the central region 200 on the semiconductor chip.
  • electrode pads such as an inverting input terminal 102, a non-inverting input terminal 104, a ground terminal GND, and a power supply voltage terminal Vcc are arranged so as to surround the region 200.
  • the size of the protection diode is approximately the same as the size of the electrode pad. Therefore, a protective diode is arranged alongside the electrode pad on the outer periphery of the semiconductor chip. That is, the first and second protection diodes Dl and D2 are provided adjacent to the electrode pads corresponding to the inverting input terminal 102 and the non-inverting input terminal 104, respectively.
  • the first protection diode Dl and the second protection diode D2 are adjacent to each other, so that the characteristics of the diodes can be made uniform.
  • signal interference between the inverting input terminal 102 and the non-inverting input terminal 104 can be reduced. Togashi.
  • the first and second bipolar transistors Ql and Q2 constituting the differential input pair can be protected by the protection diode. Become. Further, by adjusting the size of the protection diode, it is possible to reduce the influence of the base current flowing through the first and second bipolar transistors Q1 and Q2 on the outside of the operational amplifier 100.
  • FIG. 4 shows a modification of the configuration of such a differential amplifier circuit 10.
  • the differential amplifier circuit 10b shown in FIG. 4 is composed of the same circuit elements as the differential amplifier circuit 10 shown in FIG. 1, but the connection of the protection diodes is different.
  • the first bipolar transistor Ql and the second bipolar transistor Q2 constituting the differential amplifier pair are respectively connected between the base terminal and the power supply voltage terminal Vcc.
  • a third protection diode D3 and a fourth protection diode D4 are provided.
  • the first protection diode D1 has a force sword terminal force toward the anode terminal, that is, from the inverting input terminal 102 to the ground terminal GND.
  • a small reverse current Irl flows due to the force.
  • a small reverse current Ir3 flows in the third protection diode D3 as the power supply voltage terminal Vcc force also tends to the inverting input terminal 102.
  • the magnitude of the reverse current of each protection diode is approximately proportional to the size of each diode.
  • FIG. 5 shows another variation of the connection form of the differential amplifier circuit and the protection diode.
  • the differential amplifier circuit 10 shown in FIG. 4 has an input differential pair formed by a PNP bipolar transistor.
  • an input differential pair is formed by an NPN bipolar transistor. Is formed.
  • the base current lb flows in the direction of flowing into the transistor. Therefore, a third protection diode D3 is provided between the inverting input terminal 102 and the power supply voltage terminal Vcc.
  • the bipolar transistors constituting the input differential pair do not necessarily have to be Darlington-connected, and may have a single-stage configuration as shown in FIG.
  • the third and fourth protection diodes D3 and D4 turn on in the reverse direction and are clamped at the Zener voltage Vz. It is possible to prevent the second bipolar transistors Ql and Q2 from being applied with a voltage exceeding the withstand voltage, thereby further improving the reliability of the circuit.
  • the size of the third protection diode D3 is adjusted so that the reverse current Ir3 flowing through the third protection diode D3 and the base current lb of the first bipolar transistor Q1 are set to be approximately equal to each other.
  • the influence of the bias current on the circuit connected to the inverting input terminal 102 can be reduced. The same applies to the non-inverting input terminal 104 side.
  • a force FET described as an example in which the transistor element constituting the operational amplifier 100 is a bipolar transistor may be used. Which transistor is used may be selected according to the semiconductor manufacturing process, required characteristics, cost, and the like.
  • the inverting input terminal 10 It is not necessary to provide protection diodes for both the 2 and non-inverting input terminals 104. Protection diodes may be provided only for either one of the input terminals. In Figure 4, only the first and third protection diodes Dl and D3 are connected. It is good also as a structure provided.
  • first and second bipolar transistors Ql and Q2 in FIG. 5 may further include a protective diode between the base terminal and the ground terminal.
  • first and second bipolar transistors Q1 and Q2 in Fig. 5 may be provided with protective diodes between their respective base terminals and ground terminals, even if other transistors may be connected in a Darlington connection. A protective diode may also be provided between the voltage terminals.
  • the input differential pair in Figs. 1 and 4 may be configured in a single stage that is not connected in the Darlington format, and a protective diode may be provided between the bases of the third and fourth bipolar transistors Q3 and Q4 and the fixed potential.
  • a protective resistor may be connected to the anode terminals or force sword terminals of the protective diodes D1 to D4. Further, a protective resistor may be provided at the collector terminal or the base terminal of the first bipolar transistor Ql and the second bipolar transistor Q2. In this case, circuit protection by the protection diodes D1 to D4 can be made more stable.
  • an appropriate diode may be selected from the relationship between the withstand voltage of the bipolar transistor to be protected and the Zener voltage among the diodes such as the Schottky diode and the Zener diode.
  • the operational amplifiers described in the present embodiment include general-purpose ICs that are generally commercialized as operational amplifiers, as well as general-purpose comparators that are implemented as single ICs.
  • the present invention can be applied by providing a protective diode in the differential input pair.
  • the present invention can be used for an operational amplifier that requires a high breakdown voltage.

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Description

明 細 書
演算増幅器
技術分野
[0001] 本発明は、演算増幅器に関し、特にその回路保護技術に関する。
背景技術
[0002] 演算増幅器は、電子回路を構成する基本回路としてあらゆる用途において広く用 いられている。このような演算増幅器は、 LSIの一部に集積化されて使用される場合 の他、プリント基板上などに実装される単体のパッケージ商品としても多くの用途で必 要とされている。
[0003] このような回路部品のパッケージ品では、特にサージ、静電気などに対する信頼性 が強く要求されている。演算増幅器を単体のノ ッケージ品として構成した場合、反転 、非反転入力端子は外部電極として引き出されることになるため、これらの入力端子 に対して保護回路を設ける必要性がある。
[0004] 演算増幅器の反転、非反転入力端子は、差動入力対を構成するトランジスタに接 続されており、静電気放電(Electro Static Discharge、以下 ESDと略す)などに 対して保護を行う必要がある。こうした演算増幅器の保護に関しては例えば特許文献 1に記載されている。
[0005] 特許文献 1 :特開平 11 74742号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] 上記文献に記載の技術においては、差動入力対を構成するトランジスタをバイポー ラトランジスタにすることによって耐圧を向上させる手法がとられている。しかしながら 、バイポーラトランジスタであっても、ベースェミッタ間、あるいはベースコレクタ間に数 百 V力ゝら数 kV近い高い電圧が印加されるとその信頼性に影響を受ける場合がある。
[0007] 本発明はこうした課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、高耐圧性を備え た演算増幅器の提供にある。
課題を解決するための手段 [0008] 本発明のある態様は演算増幅器に関する。この演算増幅器は、反転入力端子およ び非反転入力端子に接続される入力差動対を構成する少なくとも一方のトランジスタ の制御端子に力ソード端子が接続され、接地電位端子にアノード端子が接続される 保護ダイオードを備える。
[0009] 「制御端子」とは、バイポーラトランジスタではベース端子を、電界効果トランジスタ( 以下 FETと略す)ではゲート端子を!、う。
この態様によれば、保護ダイオードを反転、非反転入力端子と固定電位である接地 電位間に設けることによって、差動対を構成するトランジスタにサージ電流が流れる 前に保護ダイオードが逆方向にオンし、トランジスタに印加される電圧がクランプされ るため、耐圧を高めることができる。
なお、本明細書における「演算増幅器」は、入力差動対を備えるコンパレータも含 む広い概念である。
[0010] 入力差動対を構成するトランジスタは PNP型ノイポーラトランジスタであって、保護 ダイオードのサイズは、力ソード端子力もアノード端子に向力つて流れる逆方向電流 力 Sトランジスタのベース電流と略等しくなるように設定されてもょ 、。
[0011] ノイポーラトランジスタを用いることによって FETよりも高耐圧とすることができ、さら に、ダイオードの逆方向電流を利用して、バイポーラトランジスタのベース電流を接地 に逃がすことによって、演算増幅器の入力端子に接続される回路にベース電流が与 える影響を低減することができる。
[0012] 本発明の別の態様もまた、演算増幅器である。この演算増幅器は、反転入力端子 および非反転入力端子に接続される入力差動対を構成する少なくとも一方のトラン ジスタの制御端子にアノード端子が接続され、固定電位である電源電圧端子にカソ ード端子が接続される保護ダイオードを備える。
[0013] この態様によれば、電源電圧端子ある!、は反転、非反転入力端子にサージが入力 された場合においても、トランジスタを保護することができる。
[0014] 入力差動対を構成するトランジスタは NPN型バイポーラトランジスタであって、保護 ダイオードのサイズは、力ソード端子力もアノード端子に向力つて流れる逆方向電流 力 Sトランジスタのベース電流と略等しくなるように設定されてもょ 、。 [0015] ノイポーラトランジスタを用いることによって FETよりも高耐圧とすることができ、さら に、保護ダイオードの逆方向電流を利用して、バイポーラトランジスタのベース電流を 保護ダイオードを介して供給することによって、演算増幅器の入力端子に接続される 回路にベース電流が与える影響を低減することができる。
[0016] 保護ダイオードは、複数個並列に接続されてもよい。
複数のダイオードを並列にトリミングによって面積が調節できるように形成することに よって、半導体製造プロセスなどのばらつきによってトランジスタの耐圧が変化した場 合に、保護ダイオードのサイズをトランジスタの耐圧に応じて調節することができる。さ らに、半導体製造プロセスのばらつきなどによってトランジスタの電流増幅率がばら ついた場合には演算増幅器のバイアス電流、すなわち差動入力対を構成するトラン ジスタのベース電流がばらつくことになるため、このベース電流に応じて保護ダイォ ードのサイズを調節することにより、入力端子に接続される回路に及ぼす影響を低減 することができる。
[0017] 演算増幅器は一体集積化されており、保護ダイオードは、該保護ダイオードが接続 される反転入力端子あるいは非反転入力端子に対応する電極パッドと隣接して設け られてちよい。
[0018] なお、以上の構成要素の任意の組合せや本発明の構成要素や表現を方法、装置 、システムなどの間で相互に置換したものもまた、本発明の態様として有効である。 発明の効果
[0019] 本発明に係る演算増幅器によれば、高い耐圧を得ることができる。
図面の簡単な説明
[0020] [図 1]実施の形態に係る演算増幅器の構成を示す回路図である。
[図 2]図 1の演算増幅器における反転入力端子の周辺回路を示す図である。
[図 3]図 3 (a)、(b)は、図 1の演算増幅器の反転、非反転入力端子の電極パッドおよ び第 1、第 2保護ダイオードの半導体チップ上の配置を示す図である。
[図 4]差動増幅回路の構成の変形例を示す図である。
[図 5]差動増幅回路の変形例および保護ダイオードの接続形態を示す図である。 符号の説明 [0021] Ql 第 1バイポーラトランジスタ、 Q2 第 2バイポーラトランジスタ、 Q3 第 3バイ ポーラトランジスタ、 Q4 第 4バイポーラトランジスタ、 Q5 第 5バイポーラトランジ スタ、 Q6 第 6バイポーラトランジスタ、 D1 第 1保護ダイオード、 D2 第 2保護 ダイオード、 D3 第 3保護ダイオード、 D4 第 4保護ダイオード、 10 差動増幅 回路、 12 定電流源、 20 増幅回路、 100 演算増幅器、 102 反転入力端 子、 104 非反転入力端子、 106 出力端子。
発明を実施するための最良の形態
[0022] 図 1は、実施の形態に係る演算増幅器 100の構成を示す回路図である。この演算 増幅器 100は、入力段に設けられた差動増幅回路 10と、後段の増幅回路 20を含ん でおり、反転入力端子 102および非反転入力端子 104に入力される信号を差動増 幅して出力端子 106から出力する。以降の図において、同一の構成要素には同一の 符号を付し、重複した説明を省略する。
[0023] 差動増幅回路 10は、第 1から第 6バイポーラトランジスタ Q1〜Q6と、定電流源 12、 第 1、第 2保護ダイオード Dl、 D2を含む。
第 1バイポーラトランジスタ Ql、第 3バイポーラトランジスタ Q3は、いずれも PNP型 ノ《イポーラトランジスタであって、ダーリントン接続されており、第 1バイポーラトランジ スタ Q1のベース端子には、反転入力端子 102が接続されて 、る。
同様に、第 2バイポーラトランジスタ Q2、第 4バイポーラトランジスタ Q4も、いずれも PNP型バイポーラトランジスタでありダーリントン接続され、第 2バイポーラトランジスタ Q2のベース端子には、非反転入力端子 104が接続されて 、る。
[0024] 第 1、第 3バイポーラトランジスタ Ql、 Q3と、第 2、第 4バイポーラトランジスタ Q2、 Q 4は、差動増幅回路 10において差動入力対を構成している。第 3バイポーラトランジ スタ Q3および第 4バイポーラトランジスタ Q4のェミッタ端子は互いに共通に、定電流 源 12に接続されている。
第 5バイポーラトランジスタ Q5および第 6バイポーラトランジスタ Q6は NPN型バイポ ーラトランジスタであって、ベース、ェミッタ端子が共通に接続されてカレントミラー回 路を形成している。この第 5、第 6バイポーラトランジスタ Q5、 Q6は、差動入力対を構 成する第 1、第 3バイポーラトランジスタ Ql、 Q3および第 2、第 4バイポーラトランジス タ Q2、 Q4に対して定電流負荷として機能する。
[0025] 本実施の形態に係る演算増幅器 100において、その差動入力対を構成する第 1、 第 2バイポーラトランジスタ Ql、 Q2のベース端子と接地電位間には、それぞれ第 1保 護ダイオード Dl、第 2保護ダイオード D2が接続されている。これらの保護ダイオード は、力ソード端子がバイポーラトランジスタのベース端子側に、アノード端子が接地電 位側となるように接続される。
[0026] 第 4バイポーラトランジスタ Q4および第 6バイポーラトランジスタ Q6の接続点は増幅 回路 20に接続されている。この増幅回路 20は、一般的な演算増幅器の出力段の構 成するものであればよぐその回路形式は何であってもよい。
[0027] 以上のように構成された演算増幅器 100の回路保護について説明する。反転入力 端子 102あるいは非反転入力端子 104から数百 V力も数 kVのサージ電圧が入力さ れると、第 1保護ダイオード Dl、第 2保護ダイオード D2が逆方向にオンすることにな る。このとき、第 1保護ダイオード Dl、第 2保護ダイオード D2には逆方向に大電流が 流れ、アノード力ソード間の電位差は、ツエナー電圧 Vzでクランプされる。その結果、 第 1バイポーラトランジスタ Q1、第 2バイポーラトランジスタ Q2のベースェミッタ間には 、ツエナー電圧 Vz以上の電圧が印加されることはないため、保護ダイオードのツエナ 一電圧 Vzを、バイポーラトランジスタのベースェミッタ間あるいはベースコレクタ間耐 電圧よりも低く設定することによって、バイポーラトランジスタの信頼性に影響を及ぼ す高電圧が印加されるのを未然に防ぐことができる。
[0028] つぎに、本実施の形態に係る演算増幅器 100における保護ダイオードのサイズに ついて説明する。
差動増幅回路 10において差動対を構成する第 3バイポーラトランジスタ Q3、第 4バ イポーラトランジスタ Q4には、定電流源 12によってバイアス電流が流れている。ここ で、バイポーラトランジスタのベース電流 lbとコレクタ電流 Icには、電流増幅率 j8を用 いて Ic=Ib X j8の関係が成り立つている。
いま、定電流源 12によって、 2 X Ixの電流が生成されているとすると、第 3バイポー ラトランジスタ Q3および第 4バイポーラトランジスタ Q4には平衡時においてそれぞれ I Xのコレクタ電流が流れることになる。したがって、第 3、第 4バイポーラトランジスタ Q3 、 Q4のベース電流はそれぞれ IxZ βの電流が流れることになる。
[0029] 差動対を構成する第 1から第 4トランジスタ Q1〜Q4は、一つの集積回路内に近接 して形成されるため、その電流増幅率 j8はいずれも等しいと考えられる。第 3バイポ ーラトランジスタ Q3、第 4バイポーラトランジスタ Q4のベース電流は、それぞれにダー リントン接続されている第 1バイポーラトランジスタ Q1、第 2バイポーラトランジスタ Q2 のコレクタ電流に相当するから、第 1バイポーラトランジスタ Q1および第 2バイポーラト ランジスタ Q2のベース電流は、 IxZ ( j8 X j8 )で与えられることになる。
[0030] この第 1、第 2バイポーラトランジスタ Ql、 Q2のベース電流はそれぞれ、反転入力 端子 102、非反転入力端子 104からこの演算増幅器 100の外部へと流れ出ることに なる。一般的には、演算増幅器 100の入力インピーダンスに対して、演算増幅器 10 0の反転入力端子 102、非反転入力端子 104に接続される回路の出力インピーダン スは十分に低いため、上記のベース電流が回路動作に及ぼす影響はそれほど問題 となることはない。ところが、演算増幅器 100の反転入力端子 102、あるいは非反転 入力端子 104に、フォトダイオードなどのように、入力信号に対応する検出電流を出 力するような素子が接続される場合において、その検出電流が微弱であるような場合 には、第 1バイポーラトランジスタ Ql、第 2バイポーラトランジスタ Q2に流れるベース 電流が、回路動作に及ぼす影響が無視できない場合がある。
[0031] そこで、このような場合には、本実施の形態に係る演算増幅器 100の保護ダイォー ドのサイズを以下のようにして決定することが望ま 、。
第 1保護ダイオード D1、第 2保護ダイオード D2として設けられているダイオードに 逆方向に印加される電圧がツエナー電圧 Vzよりも小さい場合には、これらのダイォー ドには力ソード端子力 アノード端子に向力つて微少な逆方向電流が流れている。こ の保護ダイオードに流れる逆方向電流は、ダイオードのサイズに比例する。
[0032] そこで、このダイオードのサイズを調節し、保護ダイオードに流れる逆方向電流と、 平衡時に第 1バイポーラトランジスタ Q1、第 2バイポーラトランジスタ Q2に流れるベー ス電流と実質的に等しくなるようにすることによって、第 1、第 2バイポーラトランジスタ Ql、 Q2に流れるベース電流は、第 1、第 2保護ダイオード Dl、 D2を介して接地へと 流れること〖こなる。その結果、反転入力端子 102および非反転入力端子 104から外 部へと電流が流れなくなるため、外部に接続される回路に及ぼす影響を低減すること ができる。ここでバイポーラトランジスタのベース電流と保護ダイオードの逆方向電流 をどの程度等しくすればよいかは、外部に接続される回路に応じて決めればよいが、 少なくとも 1Z2倍から 2倍以内とすることが望ましい。
[0033] 第 1保護ダイオード Dl、第 2保護ダイオード D2は、複数のダイオードを並列に接続 して形成してもよい。図 2は、図 1の演算増幅器 100における反転入力端子 102の周 辺回路を示している。
[0034] 図 2において、第 1保護ダイオード D1は、ダイオード 30が 4つ並列に接続されて形 成されており、それぞれのダイオード 30は配線によって接続されている。このダイォ 一ド間を接続する配線をレーザトリミングにより切断し、並列に接続されるダイオード の数を変更することによって、第 1保護ダイオード D1のサイズを調節することができる
[0035] 保護ダイオードのサイズは、たとえば次のような事情によって調節する必要がある。
まず、保護対象となっているバイポーラトランジスタの耐圧は、演算増幅器 100を製 造する半導体製造プロセスなどのばらつきによって変化することになる。一方で、保 護ダイオードの保護能力はダイオードのツエナー電圧 Vzの他、そのサイズによっても 決まる。そこで、ノイポーラトランジスタの耐圧に応じてダイオード 30を接続する配線 をトリミングし、所望のサイズとすることによって保護対象のバイポーラトランジスタを適 切に保護することが可能となる。
[0036] また、半導体製造プロセスのばらつきなどによってバイポーラトランジスタの電流増 幅率 j8がばらついた場合には演算増幅器 100のバイアス電流、すなわち差動入力 対を構成する第 1、第 2バイポーラトランジスタ Ql、 Q2のベース電流もばらつくことに なる。したがって、演算増幅器 100の反転入力端子 102、非反転入力端子 104に接 続される回路にベース電流が与える影響を低減する必要がある場合には、ベース電 流と逆方向電流が等しくなるように第 1保護ダイオード D1、第 2保護ダイオード D2の サイズをトリミングによって調節することができる。
[0037] また、半導体集積回路の設計においては、同一のマスクを複数の製品で共通して 用いたい場合もある。たとえば演算増幅器 100に要求されるスルーレートなどの特性 が製品ごとに異なる場合には、それに応じてノィァス電流、すなわち第 1、第 2バイポ ーラトランジスタ Ql、 Q2のベース電流も変更される場合がある。このときにダイオード サイズをトリミングによって調整可能に形成することによって、大幅に設計変更するこ となく複数の製品〖こ対応させることができる。
[0038] 図 3 (a)、(b)は、図 1の演算増幅器 100の反転入力端子 102、非反転入力端子 10 4の電極パッド、第 1保護ダイオード Dl、第 2保護ダイオード D2の半導体チップ上の 配置を示す図である。図 3 (a)、(b)に示すように、演算増幅器 100を構成するノイボ ーラトランジスタは、半導体チップ上の中心の領域 200に形成される。
半導体チップの外周には、この領域 200を囲うようにして反転入力端子 102、非反 転入力端子 104、接地端子 GND、電源電圧端子 Vccなどの電極パッドが配置され る。
[0039] 保護ダイオードのサイズは、電極パッドのサイズと同程度となる。そこで、保護ダイォ ードを半導体チップの外周部に電極パッドと並べて配置している。すなわち、第 1、第 2保護ダイオード Dl、 D2はそれぞれ、反転入力端子 102、非反転入力端子 104に 対応する電極パッドと隣接して設けられて 、る。
[0040] 反転入力端子 102、非反転入力端子 104にサージ電圧が入力されて保護ダイォ 一ドが逆方向にオンすると、保護ダイオードには大電流が流れる。そのため、保護ダ ィオードのアノード端子が接続される接地電位は、図 3 (a)、(b)に示すように太い接 地配線 40によって接地端子 GNDと接続されている。この接地配線 40は、領域 200 を囲うようにして敷設されて 、る。接地配線 40によって演算増幅器 100を構成する回 路素子の周辺を囲うことによって、外部からのノイズなどが除去されることになるため、 演算増幅器 100の動作をより安定化させることができる。
[0041] 図 3 (a)のように反転入力端子 102、非反転入力端子 104を隣り合わせて配置した 場合、差動対を構成する第 1〜第 4バイポーラトランジスタ Q1〜Q4は、近接して配置 されるため、配線の引き回しを最短とすることができる。
また、図 3 (b)のように配置した場合には、第 1保護ダイオード Dl、第 2保護ダイォ ード D2が隣接することになるため、ダイオードの特性を均一にそろえることが可能と なる。また、反転入力端子 102、非反転入力端子 104間の信号の干渉を低減するこ とがでさる。
[0042] このように、本実施の形態に係る演算増幅器 100によれば、保護ダイオードによつ て差動入力対を構成する第 1、第 2バイポーラトランジスタ Ql、 Q2を保護することが 可能となる。さらに保護ダイオードのサイズを調節することによって、第 1、第 2バイポ ーラトランジスタ Q1、Q2に流れるベース電流が演算増幅器 100の外部へ及ぼす影 響を低減することが可能となる。
[0043] 差動増幅回路 10における保護ダイオードの接続態様には様々な変形例が考えら れる。図 4は、こうした差動増幅回路 10の構成の変形例を示す。図 4に示す差動増 幅回路 10bは、図 1に示す差動増幅回路 10と同一の回路素子によって構成されて いるが、保護ダイオードの接続が異なっている。
[0044] すなわち、図 4の差動増幅回路 10bにおいては、差動増幅対を構成する第 1バイポ ーラトランジスタ Ql、第 2バイポーラトランジスタ Q2は、それぞれのベース端子と電源 電圧端子 Vcc間に、第 3保護ダイオード D3、第 4保護ダイオード D4を備えている。
[0045] ノイポーラトランジスタのベース端子および電源電圧間にも第 3、第 4保護ダイォー ド D3、 D4を設けることによって、電源電圧端子 Vccにサージ電圧が印加された場合 や、反転入力端子 102、非反転入力端子 104に負のサージ電圧が印加された場合 などにおいても、これらの保護ダイオードが逆方向にオンし、ツエナー電圧 Vzにクラ ンプされるため、第 1〜第 4バイポーラトランジスタ Q1〜Q4に耐圧以上の電圧が印 カロされることを防止することができ、回路の信頼性をさらに高めることができる。
[0046] また、図 4の差動増幅回路 10bが通常動作をする際に、第 1保護ダイオード D1には 、力ソード端子力 アノード端子に向かって、すなわち反転入力端子 102から接地端 子 GNDに向力つて微少な逆方向電流 Irlが流れている。同様に、第 3保護ダイォー ド D3にも、電源電圧端子 Vcc力も反転入力端子 102に向力つて微少な逆方向電流 I r3が流れている。各保護ダイオードの逆方向電流の大きさは、それぞれのダイオード サイズにほぼ比例した値となる。
[0047] したがって、第 1バイポーラトランジスタ Q1のベース電流を lbとすると、第 1、第 3保 護ダイオード Dl、 D3のサイズを、 Ib=Irl— Ir3が成り立つように設定した場合、演 算増幅器 100の反転入力端子 102に接続される回路にバイアス電流が与える影響 を低減することができる。非反転入力端子 104側についても同様である。
[0048] 図 5は、差動増幅回路および保護ダイオードの接続形態の別の変形例を示す。図
1、図 4の差動増幅回路 10はいずれも PNP型のバイポーラトランジスタによって入力 差動対が形成されていた力 図 5の差動増幅回路 10cにおいては、 NPN型バイポー ラトランジスタによって入力差動対が形成されている。 NPN型のバイポーラトランジス タでは、ベース電流 lbは、トランジスタに流れ込む方向に流れる。そこで、第 3保護ダ ィオード D3を、反転入力端子 102および電源電圧端子 Vcc間に設けている。なお、 入力差動対を構成するバイポーラトランジスタは必ずしもダーリントン接続されている 必要はなぐ図 5に示すように 1段構成であってもよい。
[0049] その結果、電源電圧端子 Vccにサージ電圧が印加された場合や、反転入力端子 1
02、非反転入力端子 104に負のサージ電圧が印加された場合などにおいて、第 3、 第 4保護ダイオード D3、 D4が逆方向にオンし、ツエナー電圧 Vzにクランプされるた め、第 1、第 2バイポーラトランジスタ Ql、 Q2に耐圧以上の電圧が印加されることを防 止することができ、回路の信頼性をさらに高めることができる。
また、このとき第 3保護ダイオード D3のサイズを調節し、第 3保護ダイオード D3に流 れる逆方向電流 Ir3と、第 1バイポーラトランジスタ Q1のベース電流 lbを略等しく設定 することにより、演算増幅器 100の反転入力端子 102に接続される回路にバイアス電 流が与える影響を低減することができる。非反転入力端子 104側についても同様で ある。
[0050] 上記実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せに いろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当 業者に理解されるところである。
[0051] 実施の形態では、演算増幅器 100を構成するトランジスタ素子がバイポーラトランジ スタの場合を例に説明した力 FETであってもよい。いずれのトランジスタを用いるか については、半導体の製造プロセスや要求される特性、コストなどに応じて選択すれ ばよい。
[0052] 図 1、図 4、図 5に示す以外にも差動増幅回路 10の回路構成およびダイオードの接 続形式については様々な変形例が考えられる。たとえば、必ずしも反転入力端子 10 2および非反転入力端子 104の両方に保護ダイオードを設ける必要はなぐいずれ か一方の入力端子にのみ保護ダイオードを設けてもよぐ図 4において、第 1、第 3保 護ダイオード Dl、 D3のみを備える構成としてもよい。
そのほか、図 5において第 1、第 2バイポーラトランジスタ Ql、 Q2は更にそれぞれの ベース端子と接地端子間にも保護ダイオードを備えていても良い。また、図 5の第 1、 第 2バイポーラトランジスタ Q1、Q2には別のトランジスタがダーリントン接続されてい ても良ぐそれぞれのベース端子と接地端子間に保護ダイオードを設け、あるいは更 にベース端子と電源電圧端子間にも保護ダイオードを設けても良い。逆に図 1、図 4 の入力差動対をダーリントン形式ではなぐ一段構成とし、第 3、第 4バイポーラトラン ジスタ Q3, Q4のベースと固定電位間に保護ダイオードを設けても良い。
[0053] さらに、図 1、図 4、図 5の差動増幅回路 10において、保護ダイオード D1〜D4のァ ノード端子あるいは力ソード端子に、保護抵抗を接続してもよい。また、第 1バイポー ラトランジスタ Ql、第 2バイポーラトランジスタ Q2のコレクタ端子、あるいはベース端 子に保護抵抗を設けてもよい。この場合、保護ダイオード D1〜D4による回路保護を より安定なものとすることができる。
[0054] また、保護ダイオードとしては、ショットキーダイオードやツエナーダイオードなどの ダイオードのうち、保護対象となるバイポーラトランジスタの耐圧とツエナー電圧の関 係から適切なものを選択すればよ!ヽ。
[0055] また、本実施の形態で説明した演算増幅器には、一般的に演算増幅器として製品 化される汎用 ICの他、単体で IC化される汎用のコンパレータなども含まれ、コンパレ ータにおいても、差動入力対に保護ダイオードを設けることにより本発明を適用する ことができる。
産業上の利用可能性
[0056] 本発明は、高い耐圧を必要とする演算増幅器に利用することができる。

Claims

請求の範囲
[1] 反転入力端子および非反転入力端子に接続される入力差動対を構成する少なくと も一方のトランジスタの制御端子に力ソード端子が接続され、接地電位端子にァノー ド端子が接続される保護ダイオードを備えることを特徴とする演算増幅器。
[2] 前記入力差動対を構成するトランジスタは PNP型ノイポーラトランジスタであって、 前記保護ダイオードのサイズは、力ソード端子カゝらアノード端子に向カゝつて流れる逆 方向電流が前記トランジスタのベース電流と略等しくなるように設定されたことを特徴 とする請求項 1に記載の演算増幅器。
[3] 反転入力端子および非反転入力端子に接続される入力差動対を構成する少なくと も一方のトランジスタの制御端子にアノード端子が接続され、電源電圧端子にカソー ド端子が接続される保護ダイオードを備えることを特徴とする演算増幅器。
[4] 前記入力差動対を構成するトランジスタは NPN型バイポーラトランジスタであって、 前記保護ダイオードのサイズは、力ソード端子カゝらアノード端子に向カゝつて流れる逆 方向電流が前記トランジスタのベース電流と略等しくなるように設定されたことを特徴 とする請求項 3に記載の演算増幅器。
[5] 前記保護ダイオードは、複数個並列に接続されることを特徴とする請求項 1から 4の いずれかに記載の演算増幅器。
[6] 前記演算増幅器は一体集積化されており、前記保護ダイオードは、該保護ダイォ ードが接続される前記反転入力端子あるいは前記非反転入力端子に対応する電極 ノ^ドと隣接して設けられることを特徴とする請求項 1から 4のいずれかに記載の演算 増幅器。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100992331B1 (ko) 2008-08-12 2010-11-05 삼성전기주식회사 고주파 변조기용 부스터 증폭회로 및 고주파 변조기
US7812674B2 (en) * 2008-11-25 2010-10-12 Xilinx, Inc. Common centroid electrostatic discharge protection for integrated circuit devices
US20110089902A1 (en) * 2009-10-21 2011-04-21 K2 Energy Solutions, Inc. Circuitry for balancing charging of series connected battery cells
JP6515666B2 (ja) * 2015-05-08 2019-05-22 住友電気工業株式会社 増幅回路
CN105024658B (zh) * 2015-06-10 2017-12-15 思瑞浦微电子科技(苏州)有限公司 一种差分对管的保护电路
GB2580155A (en) * 2018-12-21 2020-07-15 Comet Ag Radiofrequency power amplifier
US11774561B2 (en) 2019-02-08 2023-10-03 Luminar Technologies, Inc. Amplifier input protection circuits

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60155213U (ja) * 1984-03-23 1985-10-16 株式会社クボタ 電子回路の入力段トランジスタ保護回路
JPS62291175A (ja) * 1986-06-11 1987-12-17 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置
JPS6324674A (ja) * 1986-06-17 1988-02-02 アールシーエー コーポレーシヨン 集積回路
JPH06237124A (ja) * 1993-02-08 1994-08-23 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 差動増幅器の入力保護回路
JP2002141421A (ja) * 2000-10-31 2002-05-17 Toshiba Corp 半導体集積回路装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4044313A (en) * 1976-12-01 1977-08-23 Rca Corporation Protective network for an insulated-gate field-effect (IGFET) differential amplifier
US4126830A (en) * 1977-09-27 1978-11-21 Rca Corporation Low leakage gate protection circuit
DE3342694A1 (de) 1983-11-25 1985-06-05 Bayer Ag, 5090 Leverkusen Herstellung sulfonsaeuregruppenhaltiger acrylnitrilpolymerisate und monomere dazu
JPH1174742A (ja) 1997-08-27 1999-03-16 Denso Corp オペアンプ
US6218900B1 (en) * 2000-03-29 2001-04-17 Microchip Technology Incorporated Operational amplifier phase reversal protection
US6507471B2 (en) * 2000-12-07 2003-01-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. ESD protection devices

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60155213U (ja) * 1984-03-23 1985-10-16 株式会社クボタ 電子回路の入力段トランジスタ保護回路
JPS62291175A (ja) * 1986-06-11 1987-12-17 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置
JPS6324674A (ja) * 1986-06-17 1988-02-02 アールシーエー コーポレーシヨン 集積回路
JPH06237124A (ja) * 1993-02-08 1994-08-23 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 差動増幅器の入力保護回路
JP2002141421A (ja) * 2000-10-31 2002-05-17 Toshiba Corp 半導体集積回路装置

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