WO2005104610A1 - 共鳴周波数検出方法、共鳴周波数選択方法、および、共鳴周波数検出装置 - Google Patents

共鳴周波数検出方法、共鳴周波数選択方法、および、共鳴周波数検出装置 Download PDF

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signal
characteristic
microphone
resonance
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PCT/JP2005/007868
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English (en)
French (fr)
Inventor
Daisuke Higashihara
Original Assignee
Toa Corporation
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R29/00Monitoring arrangements; Testing arrangements
    • H04R29/007Monitoring arrangements; Testing arrangements for public address systems
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R27/00Public address systems

Definitions

  • Resonance frequency detection method Resonance frequency detection method, resonance frequency selection method, and resonance frequency detection device
  • the invention relates to a resonance frequency detection method for detecting a resonance frequency in a resonance space, a device thereof, and among the detected resonance frequencies, a dip filter is set as a center frequency of the dip.
  • the present invention relates to a resonance frequency selection method for selecting a power frequency.
  • a resonance frequency in a resonance space it is necessary to detect a resonance frequency in a resonance space.
  • sound equipment such as speakers is installed in a hall or gymnasium, and loudspeakers are radiated by the speaker
  • the sound from the speakers may be lost due to the resonance frequency of this space (the loudspeaker space in which the sound equipment is arranged).
  • the music and voice of the music can be heard. That is, if a loud sound from a speaker contains many components of the resonance frequency, resonance occurs at the frequency of this component in the loud sound space.
  • the resonance sounds like "Won Won ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ " or "fan fan ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ". This resonance makes it difficult to hear music and speech from the speaker, rather than the sound that is supposed to radiate from the speaker.
  • a dip filter or the like that detects a resonance frequency in the loudspeaker space and attenuates the component of the resonance frequency in a sound facility may be provided upstream of the speaker. Then, resonance is less likely to occur in this loudspeaker space, and music and speech from speakers can be easily heard.
  • the resonance frequency of the sound space In order to determine the frequency characteristics of the dip filter, first, the resonance frequency of the sound space must be detected.
  • the resonance frequency is a frequency determined by the characteristics of the resonance space
  • the feedback frequency is a frequency determined by the configuration of the feedback loop including the electroacoustic system.
  • An object of the present invention is to provide a resonance frequency detection method and an apparatus thereof that can accurately detect a resonance frequency without requiring experience or skill.
  • Another object of the present invention is to provide a resonance frequency selection method capable of objectively selecting, from among a plurality of detected resonance frequencies, a center frequency of a dip in a force dip filter to be set. I do.
  • the resonance frequency detecting method includes a basic step of measuring a basic amplitude frequency characteristic, a first step of measuring a first amplitude frequency characteristic, and a second amplitude frequency characteristic. And a second step of measuring, wherein the basic amplitude frequency characteristic is obtained by loudspeaking a predetermined measurement signal from a speaker arranged in the resonance space and receiving the sound by a microphone arranged in the resonance space.
  • the first amplitude frequency characteristic is obtained by loudspeaking the measurement signal and the first delay signal obtained by delaying the output signal of the microphone by a first delay time of 0 or more from the speaker.
  • the second amplitude frequency characteristic is obtained by receiving the measurement signal and the output signal of the microphone from the speaker with a second delay time of 0 or more.
  • the second delay signal is an amplitude frequency characteristic obtained by loudspeaking the received second delay signal and receiving the sound by the microphone
  • the second delay time is a delay time different from the first delay time
  • the basic amplitude Based on the wave number characteristic, the first amplitude frequency characteristic, and the second amplitude frequency characteristic, a resonance frequency of the resonance space is detected based on 1.
  • the measurement signal may be delayed with the output signal of the microphone and amplified from the speaker, or may be amplified from the speaker without delay.
  • a resonance frequency detecting apparatus includes a sound source means, a signal switching means, and a measuring means, wherein the sound source means generates a signal for measurement,
  • the switching means is capable of inputting a measurement signal from the sound source means and an output signal from the microphone, and the signal switching means outputs a state of the measurement signal so that the measurement signal is amplified by a speaker.
  • the time is different from the first delay time.
  • the measuring means is capable of measuring the output signal power amplitude frequency characteristic of the microphone, and the measuring means measures the basic amplitude frequency characteristic measured when the state of the signal switching means is set to the basic state.
  • the resonance frequency is detected based on a comparison with the sometimes measured second amplitude frequency characteristic.
  • the measurement signal may be delayed from the loudspeaker together with the output signal of the microphone, or may be loudspeaked without delay.
  • the first delay time or the second delay time may be zero.
  • another resonance frequency detecting method includes a basic step of measuring a basic amplitude frequency characteristic, a first step of measuring a first amplitude frequency characteristic, and a second step of measuring a first amplitude frequency characteristic.
  • a second step of measuring the amplitude frequency characteristic wherein the basic amplitude frequency characteristic is obtained by loudspeaking a predetermined measurement signal from a speaker arranged in the resonance space and receiving the sound by a microphone arranged in the resonance space.
  • Amplitude frequency characteristics obtained by The first amplitude frequency characteristic is an amplitude frequency characteristic obtained by loudspeaking the measurement signal and the output signal of the microphone from the speaker and receiving the sound by the microphone, and the second amplitude frequency characteristic.
  • a resonance frequency of the resonance space is detected based on a frequency characteristic, the first amplitude frequency characteristic, and the second amplitude frequency characteristic.
  • the measurement signal may be inverted in phase together with the output signal of the microphone and amplified from the speaker, or may be amplified from the speaker without inverting the phase.
  • another resonance frequency detecting apparatus includes a sound source means, a signal switching means, and a measuring means, wherein the sound source means generates a measurement signal
  • the signal switching means is capable of inputting a measurement signal from the sound source means and an output signal from a microphone, and the signal switching means outputs the state so that the measurement signal is amplified by a speaker.
  • a basic state a first state in which the measurement signal and the output signal of the microphone are output to make the speaker louder, a phase in which the measurement signal and the output signal of the microphone are inverted in phase.
  • the inverted signal can be switched to a second state in which the inverted signal is output by the speaker, and the measuring means can measure the amplitude frequency characteristic from the output signal of the microphone; Comparison between the basic amplitude frequency characteristic measured when the state of the switching means is set to the basic state and the first amplitude frequency characteristic measured when the state of the signal switching means is set to the first state. A resonance frequency is detected based on a comparison between the basic amplitude frequency characteristic and a second amplitude frequency characteristic measured when the state of the signal switching means is set to the second state.
  • the phase of the measurement signal may be inverted with the output signal of the microphone, and may be amplified from the speaker, or may be amplified from the speaker without inverting the phase.
  • a peak point having a larger amplitude in the first amplitude frequency characteristic than in the basic amplitude frequency characteristic is obtained from a difference between the basic amplitude frequency characteristic and the first amplitude frequency characteristic.
  • Is detected as a first group frequency and the difference between the basic amplitude frequency characteristic and the second amplitude frequency characteristic is used to determine the peak point at which the second amplitude frequency characteristic has a larger amplitude than the basic amplitude frequency characteristic.
  • Is detected as the second group frequency, and the first group A frequency commonly included in the frequency and the second group frequency may be detected as a resonance frequency.
  • a resonance frequency selection method detects a plurality of resonance frequencies by the above-described resonance frequency detection method, and selects a dip from among the plurality of detected resonance frequencies.
  • the center frequency of the dip to be set in the filter is selected from the first amplitude frequency characteristic or the second amplitude frequency characteristic having a large amplitude level.
  • the center frequency of the dip to be set in the dip filter is obtained by subtracting the basic amplitude frequency characteristic from the first amplitude frequency characteristic or the second amplitude frequency characteristic.
  • a power having a large amplitude level in the amplitude frequency characteristic may be preferentially selected.
  • yet another resonance frequency detection method provides a method in which a reference frequency signal that is maintained for a predetermined time is louder from a speaker arranged in a resonance space. And an attenuation characteristic measuring step of measuring an attenuation characteristic of an output signal of the microphone, and detecting a resonance frequency of the resonance space based on the attenuation characteristic.
  • the reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a signal having a component within a predetermined frequency width centered on the specific frequency.
  • still another resonance frequency detecting apparatus includes a sound source means and a measuring means, and the sound source means generates and outputs a measurement signal.
  • the measurement signal is a reference frequency signal that lasts for a predetermined time, and the reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a signal having a component within a predetermined frequency range around the specific frequency.
  • the measuring means is capable of inputting an output signal of a microphone, and the measuring means measures an attenuation characteristic of the output signal of the microphone, and detects a resonance frequency based on the attenuation characteristic.
  • still another resonance frequency detecting method provides a reference frequency signal that is maintained for a predetermined time from a speaker arranged in a resonance space and a resonance frequency detection method that is arranged in the resonance space.
  • Attenuation characteristic measuring means for amplifying the output signal of the microphone, receiving the sound by the microphone, and measuring the attenuation characteristic of the output signal of the microphone.
  • a resonance frequency detecting method for detecting a resonance frequency of the resonance space based on the attenuation characteristic, wherein the reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a predetermined frequency centered on a specific frequency. This is a signal having a component within the frequency width.
  • still another resonance frequency detecting apparatus includes a sound source means, a signal output means, and a measuring means, and the sound source means generates a measurement signal.
  • the measurement signal is a reference frequency signal that lasts for a predetermined time, and the reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a signal having a component within a predetermined frequency width centered on the specific frequency.
  • the signal output means is capable of inputting a measurement signal from the sound source means and an output signal of the microphone, and the signal output means is for loudspeaking the measurement signal and the output signal of the microphone with a speaker.
  • the measuring means can input the output signal of the microphone, the measuring means measures the attenuation characteristic of the output signal of the microphone, and determines the resonance frequency based on the attenuation characteristic. Detecting the number.
  • a specific frequency of the reference frequency signal may be determined to be the resonance frequency.
  • still another resonance frequency detecting method is a method of detecting a reference frequency signal intermittently repeated a plurality of times from a speaker arranged in a resonance space. And a delay signal obtained by delaying the output signal of the microphone arranged in the microphone with a delay time of 0 or more, receiving the sound by the microphone, and measuring the attenuation characteristic of the output signal of the microphone.
  • a resonance frequency detection method for detecting a resonance frequency of the resonance space based on the attenuation characteristic, wherein the delay time changes in synchronization with intermittent repetition of the reference frequency signal The reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a signal having a component within a predetermined frequency width around the specific frequency.
  • the reference frequency signal may be delayed along with the output signal of the microphone and amplified from the speaker, or may be amplified from the speaker without delay.
  • the output device includes a sound source means, a signal output means, and a measurement means, wherein the sound source means generates a measurement signal, and the measurement signal is a reference frequency signal intermittently repeated a plurality of times;
  • the reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a signal having a component within a predetermined frequency range centered on the specific frequency.
  • the signal output means includes a measurement signal from the sound source means and an output of a microphone.
  • a signal, and the signal output means is capable of outputting the measurement signal and a delay signal obtained by delaying the output signal of the microphone by a delay time of 0 or more to cause a speaker to loudspeak;
  • the signal output means changes the delay time in synchronization with the intermittent repetition of the reference frequency signal, the measuring means can input an output signal of the microphone, and the measuring means An attenuation characteristic of the output signal is measured, and a resonance frequency is detected based on the attenuation characteristic.
  • the reference frequency signal may be delayed together with the output signal of the microphone and amplified from the speaker, or may be amplified from the speaker without delay.
  • the specific frequency of the reference frequency signal may not be determined as the resonance frequency.
  • still another resonance frequency detecting method is a method of detecting a reference frequency signal intermittently repeated a plurality of times from a speaker arranged in a resonance space. Or a reference frequency signal intermittently repeated a plurality of times, and a phase obtained by inverting the phase of the output signal of the microphone arranged in the resonance space.
  • a resonance frequency detecting method for detecting a resonance frequency of a sound space wherein a loudspeaker state changes from the first loudspeaker state to the second loudspeaker state in synchronization with intermittent repetition of the reference frequency signal.
  • the reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a signal having a component within a predetermined frequency width centered on the specific frequency. is there.
  • the reference frequency signal is phase inverted with the microphone output signal Then, the sound may be loudspeaked from the speaker, or may be loudspeaked from the speaker without inverting the phase.
  • still another resonance frequency detecting apparatus includes a sound source means, a signal output means, and a measuring means, and the sound source means generates a measurement signal.
  • the measurement signal is a reference frequency signal that is intermittently repeated a plurality of times, and the reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a signal having a component within a predetermined frequency width around the specific frequency.
  • the signal output means is capable of inputting a measurement signal from the sound source means and an output signal of the microphone, and the signal output means indicates the state of the measurement signal and the output of the microphone.
  • a first output state in which the signal is output to make the speaker loudspeaker, or the measurement signal and a phase inverted signal obtained by inverting the phase of the output signal of the microphone are output in order to make the speaker loudspeaker.
  • the second output state can be selectively set, and the state of the signal output means can be changed from the first output state to the second output state in synchronization with the intermittent repetition of the reference frequency signal. Or the state is changed from the second output state to the first output state, wherein the measuring means is capable of inputting an output signal of the microphone, and the measuring means is capable of changing an attenuation characteristic of the output signal of the microphone. Measure and detect the resonance frequency based on the attenuation characteristics.
  • the reference frequency signal may be inverted in phase along with the output signal of the microphone and amplified from the speaker, or may be amplified from the speaker without phase inversion.
  • the attenuation characteristic changes due to the change in the loudspeaker state.
  • the specific frequency of the reference frequency signal may not be determined as the resonance frequency, and in the above-described apparatus, the measuring unit may have the attenuation characteristic due to a change in the state of the signal output unit. It is determined whether or not the force changes, and when it is determined that the attenuation characteristic changes due to a change in the state of the signal output means, the specific frequency of the reference frequency signal is not determined to be the resonance frequency.
  • the measurement signal may be any signal as long as it is a signal suitable for measuring the amplitude frequency characteristic.
  • a sine wave sweep signal with a component within a predetermined frequency width It may be a noise signal whose frequency is swept or pink noise.
  • the measurement of the attenuation characteristics may be repeated a plurality of times while changing the specific frequency of the reference frequency signal.
  • the present invention it is possible to accurately detect a resonance frequency without requiring experience or skill, and to appropriately select a frequency to be set as a center frequency of a dip in a dip filter.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an acoustic system installed in a sound space (for example, a concert hall or a gymnasium).
  • a sound space for example, a concert hall or a gymnasium.
  • FIG. 2 is a schematic block diagram of a system for measuring amplitude frequency characteristics in a public space (for example, a concert hall or a gymnasium).
  • FIG. 3 is a schematic block diagram of a system for measuring amplitude frequency characteristics in a loudspeaker space.
  • FIG. 4 is a characteristic diagram schematically showing amplitude frequency characteristics of a loudspeaker space measured by the system of FIG. 2 and amplitude frequency characteristics of a loudspeaker space measured by the system of FIG. 3.
  • FIG. 5 is a frequency characteristic diagram obtained by subtracting the characteristic of the real curve Ca from the characteristic of the broken curve Cb in FIG.
  • FIG. 6 is a schematic block diagram of a system for measuring amplitude frequency characteristics in a loudspeaker space.
  • FIG. 7 is a characteristic diagram schematically showing amplitude frequency characteristics of a loudspeaker space measured by the system of FIG. 2 and amplitude frequency characteristics of a loudspeaker space measured by the system of FIG. 6;
  • FIG. 8 is a frequency characteristic diagram obtained by subtracting the characteristic of the real curve Ca from the characteristic of the broken curve Cc in FIG. 7.
  • FIG. 9 is a schematic block diagram of a system including a detection device as one embodiment of a resonance frequency detection device according to the present invention.
  • FIG. 10 shows an example of a configuration that can be employed as a delay device in the detection device of FIG. FIG.
  • FIG. 11 is a schematic block diagram of a system for measuring amplitude frequency characteristics in a loudspeaker space.
  • FIG. 12 is a characteristic diagram schematically showing amplitude frequency characteristics of a loudspeaker space measured by the system of FIG. 2 and amplitude frequency characteristics of a loudspeaker space measured by the system of FIG. 11;
  • FIG. 13 is a frequency characteristic diagram obtained by subtracting the characteristic force of the real curve Ca from the characteristic force of the broken curve Ce in FIG.
  • FIG. 14 is a schematic block diagram of a system including a detection device as one embodiment of a resonance frequency detection device according to the present invention.
  • FIG. 15 is a schematic block diagram of a system for detecting a resonance frequency in a sound space (for example, a concert hall or a gymnasium).
  • a sound space for example, a concert hall or a gymnasium.
  • FIG. 16 is a diagram showing signal levels of measurement signals on a time axis.
  • FIG. 17 is a diagram showing a sound pressure level measured by a microphone on a time axis.
  • FIG. 18 is a diagram showing a sound pressure level measured by a microphone on a time axis.
  • FIG. 19 is a diagram showing a sound pressure level measured by a microphone on a time axis.
  • FIG. 20 is a schematic block diagram of a system for detecting a resonance frequency in a loudspeaker space (for example, a concert hall or a gymnasium).
  • a resonance frequency in a loudspeaker space for example, a concert hall or a gymnasium.
  • FIG. 21 is a schematic block diagram of a system for detecting a resonance frequency in a sound space (for example, a concert hall or a gymnasium).
  • FIG. 22 is a diagram showing a sound pressure level measured by a microphone on a time axis.
  • FIG. 23 is a diagram showing a sound pressure level measured by a microphone on a time axis.
  • FIG. 24 is a schematic block diagram of a system for detecting a resonance frequency in a public space (for example, a concert hall or a gymnasium).
  • a public space for example, a concert hall or a gymnasium.
  • FIG. 25 is a diagram showing a sound pressure level measured by a microphone on a time axis.
  • FIG. 26 is a diagram showing a sound pressure level measured by a microphone on a time axis.
  • FIG. 27 is a characteristic diagram obtained by extracting only the curve Cb from FIG.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an acoustic system installed in a sound space (for example, a resonance space where resonance occurs like a concert hall or a gymnasium) 40.
  • This acoustic system includes a sound source device 2, a dip filter 4, an amplifier 12, and a speaker 13.
  • the sound source device 2 may be, for example, a performance device such as a CD player for reproducing a music CD, or may be a microphone.
  • the sound source device 2 is shown outside the sound space 40.
  • the force sound source device 2 may be installed in the sound space 40.
  • the sound source device 2 may be a microphone installed in the sound space 40.
  • the dip filter 4 removes a signal component of a specific frequency output from the sound source device 2 and sends it to the amplifier 12.
  • the output signal of the dip filter 4 is amplified by the amplifier 12 and sent out to the speaker 13, and the speaker 13 is amplified in the speaker space 40.
  • a resonance frequency is detected in the loudspeaker space 40, and a frequency to be set as the center frequency of the dip in the dip filter 4 is selected from the detected resonance frequencies.
  • FIG. 2 is a schematic block diagram of a system Sa for measuring amplitude frequency characteristics in a public space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40.
  • the system Sa includes a transmitter 11 serving as a sound source means for generating a signal for measurement, an amplifier 12 for inputting a signal generated by the transmitter 11 and amplifying power, and a speaker 13 for inputting an output signal of the amplifier 12 and loudspeaking. And a microphone 14 for receiving a loudspeaker sound emitted by the speed 13 and a measuring device 15 for inputting an output signal of the microphone 14.
  • the microphone 14 may be a sound level meter.
  • the speaker 13 and the microphone 14 are arranged in the sound space 40.
  • the microphone 14 makes the reflected sound in the loudspeaker space 40 sufficiently large compared to the direct sound from the speaker 13. It is placed in a position where you can receive sound at the level.
  • the transmitter 11 emits a sine wave signal whose frequency changes with time as a measurement signal. That is, the transmitter 11 transmits a sine wave sweep signal. In the sine wave sweep signal, the level of the sine wave is constant at each point in the frequency sweep.
  • Measuring device 15 has a band-pass filter whose center frequency changes with time. This band-pass filter changes the center frequency over time in response to the change over time of the frequency of the sine wave sweep signal transmitted by the transmitter 11. Therefore, measuring device 15 can measure the amplitude characteristic of the frequency at that time by detecting the level of the output signal of microphone 14 via this bandpass filter.
  • FIG. 3 is a schematic block diagram of a system Sb for measuring the amplitude frequency characteristic in the loudspeaker space 40.
  • This system Sb is obtained by simply adding a path for synthesizing a certain signal to the system Sa in FIG.
  • the system Sb in FIG. 3 includes a transmitter 11 serving as a sound source means for emitting a signal for measurement, a mixing device 16, an amplifier 12 which receives an output signal of the mixing device 16 and amplifies the signal, and an amplifier 12
  • the loudspeaker 13 includes a speaker 13 that receives an output signal and loudspeaks, a microphone 14 that receives a loudspeaker radiated by the speaker 13, and a measuring device 15 that receives an output signal of the microphone phone 14.
  • the speaker 13 and the microphone 14 are arranged at the same position in the sound space 40 as in the system Sa in FIG.
  • the transmitter 11, the amplifier 12, the speaker 13, the microphone 14, and the measuring device 15 in the system Sb in FIG. 3 are the same as those in the system Sa in FIG.
  • the difference between the system Sb in Fig. 3 and the system Sa in Fig. 2 is that, in the system Sa in Fig. 2, the amplifier 12 receives a signal from the transmitter 11, whereas the system Sb in Fig. 3 In Sb, the amplifier 12 receives a signal from the mixing device 16.
  • the mixing device 16 shown in FIG. 3 inputs the measurement signal (sine wave sweep signal) from the transmitter 11 and the output signal of the microphone 14, synthesizes (mixes) these input signals, and generates the synthesized signal (mixing). (Mixing signal).
  • FIG. 4 schematically shows amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 measured by the system Sa of FIG. 2 and amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 measured by the system Sb of FIG. It is a characteristic diagram.
  • a curve Ca indicated by a solid line is an amplitude frequency characteristic by the system Sa in FIG. 2
  • a curve Cb indicated by a broken line is an amplitude frequency characteristic by the system Sb in FIG.
  • Both the system Sa in Fig. 2 and the system Sb in Fig. 3 measure amplitude values at a number of frequency points. For example, in the frequency range to be measured, measure the amplitude value at 1Z192 octave intervals.
  • the measured values at the multiple points may be represented on the curves Ca and Cb as the amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 without being smoothed on the frequency axis.
  • Curves Ca and Cb may be drawn by smoothing on the frequency axis.
  • the smoothing method may be performed with various forces, for example, a moving average. For example, a moving average of 9 points on the frequency axis may be applied to the measured values of many frequency points.
  • the smoothed curve Cb is also preferably used.
  • the curve Ca is obtained by a moving average of 9 points on the frequency axis
  • the curve Cb is also preferably obtained by a moving average of 9 points on the frequency axis.
  • the amplitude frequency characteristics of the solid curve Ca in FIG. 4 include not only the characteristics of the electroacoustic system using the amplifier 12, the speaker 13, and the microphone 14, but also the characteristics of the resonance of the loudspeaker space 40. .
  • the amplitude frequency characteristics of the broken curve Cb in FIG. 4 include not only the characteristics of the electroacoustic system using the amplifier 12, the speaker 13, and the microphone 14, but also the resonance characteristics of the loudspeaker space 40. Due to the feedback loop in which the signal is input to the amplifier 12 and output from the speaker 13, the resonance characteristics of the loudspeaker space 40 appear more emphasized than the amplitude frequency characteristics of the real curve Ca. Further, the amplitude frequency characteristic of the broken curve Cb in FIG.
  • the frequency characteristic shown in FIG. 5 is a characteristic obtained by subtracting the characteristic of the characteristic force Ca of the broken curve Cb in FIG.
  • the frequency that shows a peak in the positive direction in the characteristic curve Db in FIG. Wave number fl, frequency f21 and frequency f3. It is highly likely that these frequencies that peak in the positive direction are forces that are resonance frequencies or feedback frequencies.
  • the number of resonance frequencies in the loudspeaker space 40 is not limited to one, but is often plural. Also, the number of feedback frequencies is not limited to one, but is often plural.
  • One or more of the frequencies fl, f21, and f3 may be the resonance frequency, and one or more of the frequencies may be the feedback frequency.
  • the feedback frequency referred to here is the feedback frequency in the system Sb in FIG.
  • the feedback loop includes an electric path from the microphone 14 to the speaker 13 and an acoustic path from the speaker 13 to the microphone 14.
  • the microphone 14 is a measurement microphone for measuring the acoustic characteristics of the sound space 40. Therefore, for example, it is not necessary to set this feedback frequency as a dip frequency in a dip filter in an electroacoustic system that is permanently installed in the loudspeaker space 40. Therefore, it is desirable to know which of the frequencies fl, f21 and f3 in FIG. 5 is the resonance frequency. That is, it is desirable that the resonance frequency can be detected separately from the feedback frequency. For this purpose, it is effective to perform measurement using the system Sc shown in FIG.
  • FIG. 6 is a schematic block diagram of a system Scl, Sc 2 for measuring the amplitude frequency characteristic in the loudspeaker space 40.
  • FIG. 6 (a) shows the system Scl
  • FIG. 6 (b) shows the system Sc2. .
  • These systems Scl and Sc2 are obtained by simply adding a delay device 17 to the system Sb in FIG.
  • the systems Scl and Sc2 shown in FIG. 6 include a transmitter 11, which is a sound source for generating a signal for measurement, a mixing device 16, an amplifier 12 for amplifying a signal, and an output signal of the amplifier 12.
  • a speaker 13 for loudspeaking, a microphone 14 for receiving a loudspeaker radiated by the speaker 13, a measuring device 15 for inputting an output signal of the microphone 14, and a delay device 17 are provided.
  • the speaker 13 and the microphone 14 are arranged at the same position in the sound space 40 as in the system Sa in Fig. 2.
  • the transmitter 11, the amplifier 12, the speaker 13, the microphone 14, and the measuring device 15 in the systems Scl and Sc2 in FIG. 6 are the same as those in the system Sa in FIG. In these respects, the system Scl, Sc2 in Fig. 6 is Common with Sb.
  • the system Scl and Sc2 in Fig. 6 differ from the system Sb in Fig. 3 in the following points. That is, in the system Sb of FIG. 3, the mixing device 16 inputs the measurement signal (sine wave sweep signal) from the transmitter 11 and the output signal of the microphone 14, and combines these input signals ( Mixing) and sends the synthesized signal to the amplifier 12.
  • the measurement signal sine wave sweep signal
  • the mixing device 16 inputs the measurement signal (sine wave sweep signal) from the transmitter 11 and the output signal of the microphone 14, and combines these input signals ( Mixing) and sends the synthesized signal to the amplifier 12.
  • a composite signal of the measurement signal (sine-wave sweep signal) from the transmitter 11 and the output signal of the microphone 14 is transmitted by the delay device 17. After being delayed, it is input to the amplifier 12.
  • the mixing device 16 delays the signal for measuring the force of the transmitter 11 (sine wave sweep signal) and the output signal of the microphone 14 by the delay device 17. A delay signal is input, the input signals are combined (mixed), and the combined signal is sent to the amplifier 12.
  • the measurement signal and the delay signal obtained by delaying the output signal of the microphone 14 by the delay device 17 are amplified from the speaker 13.
  • FIG. 7 schematically shows amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 measured by the system Sa of FIG. 2 and amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 measured by the system Scl or the system Sc2 of FIG. It is a characteristic diagram. Strictly speaking, the amplitude frequency characteristics measured by the system Scl in Fig. 6 (a) and the amplitude frequency characteristics measured by the system Sc2 in Fig. 6 (b) are not the same! / ⁇ . Is explained without IJ.
  • a curve Ca indicated by a solid line is an amplitude frequency characteristic by the system Sa in FIG. 2
  • a curve Cc indicated by a broken line is an amplitude frequency characteristic by the systems Scl and Sc2 in FIG.
  • the systems Scl and Sc2 in Fig. 6 also measure amplitude values at a number of frequency points, similarly to the system Sa in Fig. 2 and the system Sb in Fig. 3. For example, measure the amplitude value at 1Z192 octave intervals in the frequency range to be measured.
  • the measured values at these multiple points may be represented on the curves Ca and Cc as the amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 without being smoothed on the frequency axis, or may be represented by some method.
  • the above may be smoothed and represented by curves Ca and Cc. There are various forces such as movement
  • the smoothing may be performed by the average.
  • a moving average of 9 points on the frequency axis may be applied to the measured values of many frequency points.
  • the curve Cc it is preferable to use the curve Cc that has been smoothed. In this case, it is preferable to obtain the curve Cc by the same smoothing method as the method for the curve Ca.
  • the amplitude frequency characteristics of the real curve Ca include not only the characteristics of the electroacoustic system including the amplifier 12, the speaker 13, and the microphone 14, but also the characteristics of the resonance of the loudspeaker space 40. It is.
  • the systems Scl and Sc2 of FIG. 6 include a feedback loop in which a delay signal obtained by delaying the output signal of the microphone 14 is input to the amplifier 12 and output from the speaker 13.
  • the amplitude frequency characteristics of the broken curve Cc in FIG. 7 not only show the characteristics of the electroacoustic system due to the amplifier 12, the speaker 13, and the microphone 14, but also show the resonance characteristics of the loudspeaker space 40 of the real curve Ca. Appears emphasized more than the amplitude frequency characteristics.
  • the amplitude frequency characteristic of the broken curve Cc in FIG. 7 includes the characteristic due to the feedback due to a feedback loop in which a delay signal obtained by delaying the output signal of the microphone 14 is input to the amplifier 12 and output from the speaker 13. Let's do it.
  • the resonance characteristics of the loudspeaker space 40 are greatly emphasized, and the characteristics due to the feedback also appear.
  • the broken curve Cc in FIG. Common to the breaking curve Cb of 4.
  • the configuration of the feedback loop of the systems Scl and Sc2 of FIG. 6 is not the same as the configuration of the feedback loop of the system Sb of FIG. Therefore, the characteristic due to the feedback appearing in the broken curve Cc in FIG. 7 is different from the characteristic due to the feedback appearing in the broken curve Cb in FIG.
  • the frequency characteristic shown in FIG. 8 is a characteristic obtained by subtracting the characteristic of the real curve Ca from the characteristic of the broken curve Cc in FIG.
  • the frequencies showing peaks in the positive direction are frequency fl, frequency f22, and frequency f3. These positive peak frequencies are likely to be resonance frequencies or feedback frequencies.
  • the frequency characteristics in Fig. 5 show peaks in the positive direction at frequency fl, frequency f21, and frequency f3, and the frequency characteristics in Fig. 8
  • the numerical characteristics show peaks in the positive direction at the frequency fl, the frequency f22, and the frequency f3.
  • the frequency fl and the frequency f3 are frequencies that commonly show a positive peak in the frequency characteristics of both figures.
  • the frequency f21 is a frequency that shows a peak in the positive direction only in the frequency characteristic of FIG.
  • the frequency f22 is a frequency that shows a peak in the positive direction only in the frequency characteristic of FIG.
  • the characteristics due to the feedback appearing in the broken line Cc in FIG. 7 are different from the characteristics due to the feedback appearing in the broken line Cb in FIG. Therefore, it can be considered that the frequency that shows a peak in the positive direction due to feedback in the frequency characteristic of FIG. 5 is different from the frequency that shows a peak in the positive direction due to feedback in the frequency characteristic of FIG. be able to.
  • the frequency fl and the frequency f3 are the resonance frequencies of the loudspeaker space 40
  • the frequency f21 is the feedback frequency based on the feedback loop of the system Sb in FIG. 3
  • the frequency f22 is the system Scl in FIG. , Can be considered as the feed knock frequency based on the feedback loop of Sc2.
  • the frequency fl and the frequency f 3 should be set as the center frequency of the dip for the dip filter 4.
  • the system Sb in FIG. 3 is not provided with a delay device. It can also be considered that the output signal of the microphone mouthphone 14 is delayed by 0 second and transmitted to the mixing device 16. Then, the difference between the system Sb in FIG. 3 and the systems Scl and Sc2 in FIG. 6 can be considered to be a difference in delay time with respect to the output signal of the microphone 14. That is, in both the system Sb in FIG. 3 and the systems Scl and Sc2 in FIG. 6, the output signal of the microphone 14 is delayed and sent to the force mixing device 16, but the delay is It can be considered that the time is different between the system Sb in FIG. 3 and the systems Scl and Sc2 in FIG.
  • the delay device 17 in the systems Scl and Sc2 in FIG. Any device that can set the delay time arbitrarily can use the systems Scl and Sc2 in FIG. 6 to detect the resonance frequency separately from the feedback frequency without using the system Sb in FIG. That is, the measurements in the systems Scl and Sc2 of FIG. 6 are performed twice. However, in the two measurements, the delay time set in the delay device 17 must not be the same. For example, in the first measurement, the delay time may be set to lm seconds, and in the second measurement, the delay time may be set to 2 ms. Further, for example, the delay time may be set to Om seconds in the first measurement, and the delay time may be set to lm seconds in the second measurement.
  • the resonance frequency can be detected separately from the feedback frequency by performing the measurement once in the system Sa in FIG. 2 and twice in the systems Scl and Sc2 in FIG. 6. It is.
  • time difference Asing how much difference (time difference) is provided in the delay time between the first measurement and the second measurement, the following method can be adopted. That is, in FIG. 5, a time difference is provided that does not coincide with the period of the frequency indicating the peak in the positive direction (for example, frequency 1).
  • the 200 Hz power S feedback frequency is also used in the second measurement. Will be. Then, after all, it becomes impossible to judge whether 200Hz is the power of the resonance frequency or the feedback frequency.
  • the frequencies that may be the resonance frequencies (frequency fl, frequency f21, and frequency f3 in Fig. 5) are detected by the first measurement
  • these frequencies are detected by the second measurement.
  • a time difference that does not at least match the period of these frequencies is provided between the delay time in the first measurement and the delay time in the second measurement. It is better to do so. For example, a time difference of one-fourth of the frequency cycle may be provided.
  • FIG. 9 is a schematic block diagram of systems Sdl and Sd2 including the detection devices 201 and 202 as one embodiment of the resonance frequency detection device according to the present invention.
  • FIG. 9A shows the detection device 201 and the system. The Sdl force is shown, and
  • FIG. 9 (b) shows the detection device 202 and the system Sd2.
  • the systems Sdl and Sd2 include detection devices 201 and 202, an amplifier 12 for inputting a signal generated by the detection devices 201 and 202 and amplifying the power, and a speaker 13 for inputting an output signal of the amplifier 12 and loudspeaking; And a microphone 14 for receiving a loud sound emitted by the speaker 13.
  • the detection devices 201 and 202 receive the output signal of the microphone 14.
  • the speaker 13 and the microphone 14 are arranged in a sound space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40.
  • Microphone 14 is arranged at a position where it can receive the reflected sound in sound space 40 at a sufficiently large level with respect to the direct sound from speaker 13.
  • the detection devices 201 and 202 include a transmission unit 21, a measurement control unit 25, a mixing unit 26, an opening / closing unit 27, and a delay device 28 with a variable delay time.
  • the transmitting section 21 functions as a sound source means for transmitting a measurement signal.
  • the measurement 'control unit 25 functions as a control unit that controls each unit in the detection devices 201 and 202, and also functions as a measurement unit that measures a frequency characteristic.
  • the delay device 28 functions as a delay unit. Further, the mixing unit 26, the opening / closing unit 27, and the delay device 28 constitute a signal switching unit.
  • the measurement and control unit 25 controls the transmission unit 21 to output a measurement signal from the transmission unit 21.
  • the measurement signal is a sine wave signal whose frequency changes with time, that is, a sine wave sweep signal.
  • the level of the sine wave is constant at each point in the frequency sweep.
  • the mixing unit 26 combines (mixes) the signal from the transmitting unit 21 and the signal from the opening and closing unit 27, and generates a combined signal (mixing signal). ) Is output.
  • the synthesized signal is delayed by the delay device 28, input to the amplifier 12, amplified in power, input to the speaker 13, and radiated from the speaker 13 to the sound space 40 as sound.
  • the sound in the loudspeaker space 40 is received by the microphone 14, and the output signal of the microphone 14 is input to the detection device 201.
  • the output signal of the microphone 14 is branched and transmitted to the measurement / control unit 25 and the opening / closing unit 27.
  • the mixing unit 26 combines (mixes) the signal from the transmission unit 21 and the signal from the opening / closing unit 27, and outputs the combined signal (mixing). Signal) Output.
  • the output signal of the mixing section 26 is power-amplified by the amplifier 12, input to the speaker 13, and radiated from the speaker 13 to the loudspeaker space 40 as loudspeaker sound.
  • the sound in the loudspeaker space 40 is received by the microphone 14, and the output signal of the microphone 14 is input to the detection device 202.
  • the output signal of the microphone 14 is branched and sent to the measurement / control unit 25 and the delay device 28.
  • the output signal of the delay device 28 is sent to the opening / closing section 27.
  • the measurement 'control unit 25 has a band-pass filter whose center frequency changes with time. This band-pass filter temporally changes the center frequency in response to a temporal change in the frequency of the sine wave sweep signal transmitted by the transmitting unit 21. Therefore, the measurement 'control unit 25 can measure the amplitude characteristic of the frequency at that time by detecting the level of the output signal of the microphone 14 through this bandpass filter.
  • the measurement 'control unit 25 can control the opening and closing of the opening and closing unit 27. Therefore, the opening / closing section 27 can be set to the “open” state and only the measurement signal from the transmitting section 21 can be loudspeaked from the speaker 13, or the opening / closing section 27 can be set to the “closed” state and the measurement from the transmitting section 21 can be performed.
  • the signal for use and the delay signal of the output signal of the microphone 14 can be amplified from the speaker 13.
  • the measurement and control unit 25 can set at least two types of delay times in the delay device 28.
  • the delay time of the delay device 28 may be arbitrarily set to one of Om seconds and lm seconds, or may be set to one of lm seconds and 2 m seconds. May be set. Also, it can be set to any of Om seconds, lm seconds and 2ms.
  • the opening / closing section 27 is set to the “closed” state and the delay time of the delay device 28 is set to Om seconds, the same amplitude frequency characteristics as those measured by the system Sb in FIG. 3 can be measured.
  • the opening / closing unit 27 is set to the “closed” state and the delay time of the delay device 28 is set to a predetermined time other than 0 (for example, lm seconds), the delay time of the delay device 17 of the systems Scl and Sc2 in FIG. (Example For example, it is possible to measure the same amplitude frequency characteristics as when measuring with setting the delay time to lm seconds).
  • the resonance frequency of the loudspeaker space 40 can be detected from the amplitude frequency characteristics measured in this manner, separately from the feedback frequency. All the operations for detecting the measured amplitude frequency characteristic force and the resonance frequency are performed by the measurement 'control unit 25.
  • the procedure of detecting the resonance frequency by setting the delay time of the delay device 28 to Om seconds and a predetermined time other than 0 (eg, lm seconds) in the systems Sdl and Sd2 has been described.
  • the delay time of the delay device 28 is set to a first non-zero delay time (for example, lm seconds) and a second non-zero delay time (for example, 2 ms).
  • the resonance frequency can be detected.
  • the delay time can be switched between two ways. Then, one of these two delay times may be Om seconds, or both may be non-zero times! /.
  • FIG. 10 is a diagram showing an example of a configuration that can be adopted as the delay device 28 in the detection devices 201 and 202 in FIG.
  • a delay device 28a as shown in FIG. 10 (a) may be employed, or a delay device 28b as shown in FIG. 10 (b) may be employed.
  • the delay device 28a of FIG. 10A includes a switching switch 29 and a delay element 50 having a delay time fixed to a predetermined time other than 0 (for example, lm seconds). By controlling the switching of the switching switch 29, the delay time of the delay device 28a can be switched between Om seconds and the predetermined time (for example, lm seconds).
  • the delay device 28b shown in FIG. 10 (b) includes a delay element 51 that can set a delay time arbitrarily within a predetermined time range.
  • the delay time of the delay element 51 may be switched between, for example, Om seconds and lm seconds, or may be switched between, for example, lm seconds and 2 m seconds.
  • FIG. 11 is a schematic block diagram of systems Sel and Se2 for measuring the amplitude frequency characteristic in the loudspeaker space 40.
  • FIG. 11 (a) shows the system Sel, and FIG. ) Shows the system Se2! /
  • the systems Sel and Se2 are obtained by simply adding a phase inverter 19 to the system Sb in FIG.
  • the systems Sel and Se2 shown in FIG. 11 include a transmitter 11 as a sound source that emits a measurement signal, a mixing device 16, an amplifier 12 that amplifies the signal, and an output signal of the amplifier 12 to be input and amplified. It includes a speaker 13, a microphone 14 for receiving a loud sound emitted by the speaker 13, a measuring device 15 for inputting an output signal of the microphone 14, and a phase inverting device 19 for inverting the phase of the input signal and outputting the inverted signal. .
  • the speaker 13 and the microphone 14 are arranged in the loudspeaker space 40 at the same position as in the system Sa in Fig. 2.
  • the transmitter 11, the amplifier 12, the speaker 13, the microphone 14, and the measuring device 15 in the systems Sel and Se2 in FIG. 11 are the same as those in the system Sa in FIG. In these respects, the systems Sel and Se2 in FIG. 11 are common to the system Sb in FIG.
  • the system Sel and Se2 in Fig. 11 differ from the system Sb in Fig. 3 in the following points. That is, in the system Sb in FIG. 3, the mixing device 16 inputs the measurement signal (sine wave sweep signal) from the transmitter 11 and the output signal of the microphone 14, and combines these input signals. (Mixing) and sends the power to the amplifier 12.
  • the measurement signal sine wave sweep signal
  • the mixing device 16 inputs the measurement signal (sine wave sweep signal) from the transmitter 11 and the output signal of the microphone 14, and combines these input signals. (Mixing) and sends the power to the amplifier 12.
  • the mixing device 16 converts the combined signal of the measurement signal (sine wave sweep signal) from the transmitter 11 and the output signal of the microphone 14 into The signal is input to the phase inverting device 19 to invert the phase, and then transmitted to the amplifier 12.
  • the mixing device 16 includes the measurement signal (sine wave sweep signal) from the transmitter 11 and the output of the phase inversion device 19 to which the output signal of the microphone 14 is input. A signal is input, the input signals are combined (mixed), and the combined signal is sent to the amplifier 12.
  • the speaker 13 loudspeakers a measurement signal and a phase-inverted signal obtained by inverting the phase of the output signal of the microphone 14.
  • Fig. 12 schematically shows the amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 measured by the system Sa of Fig. 2 and the amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 measured by the systems Sel and Se2 of Fig. 11. It is a characteristic diagram. Strictly speaking, the amplitude-frequency characteristics measured by the system Sel in Fig. 11 (a) and the amplitude-frequency characteristics measured by the system Se2 in Fig. 11 (b) are not the same. It will be explained without any explanation.
  • a curve Ca 1S shown by a solid line is an amplitude frequency characteristic by the system Sa of FIG. 2
  • a curve Ce shown by a broken line is an amplitude frequency characteristic by the systems Sel and Se2 of FIG.
  • the systems Sel and Se2 in Fig. 11 also measure amplitude values at a number of frequency points, similarly to the system Sa in Fig. 2 and the system Sb in Fig. 3. For example, in the frequency range to be measured, measure the amplitude value at 1Z192 octave intervals.
  • the measured values at these multiple points may be represented on the curves Ca and Ce as the amplitude frequency characteristics of the loudspeaker space 40 without being smoothed on the frequency axis, or the frequency may be represented by some method.
  • the curves Ca and Ce may be drawn by smoothing on the axis. The method of smoothing at this time may be smoothing by various forces such as a moving average.
  • a moving average of 9 points on the frequency axis may be applied to the measured values of many frequency points.
  • the thing which was smoothed as the curve Ca it is preferable to also use the thing which was smoothed about the curve Ce.
  • the curve Ce is obtained by the same smoothing method as that for the curve Ca.
  • the amplitude frequency characteristics of the real curve Ca include not only the characteristics of the electroacoustic system including the amplifier 12, the speaker 13, and the microphone 14, but also the characteristics of the resonance of the loudspeaker space 40. It is.
  • the systems Sel and Se2 in FIG. 11 include a feedback loop in which a phase inverted signal of the output signal of the microphone 14 is input to the amplifier 12 and output from the speaker 13. Therefore, the amplitude frequency characteristics of the broken curve Ce in FIG. 12 not only show the characteristics of the electroacoustic system using the amplifier 12, the speaker 13, and the microphone 14, but also show the resonance characteristics of the loudspeaker space 40 as the real curve Ca. Appears emphasized more than the amplitude frequency characteristics! Furthermore, the broken curve in Fig. 12 The amplitude frequency characteristic of Ce includes the characteristic due to this feedback due to a feedback loop in which a phase inversion signal of the output signal of the microphone 14 is input to the amplifier 12 and output from the speaker 13.
  • the broken curve Ce in FIG. 12 is different from the broken curve Cb in FIG. Common.
  • the configuration of the feedback loop of the system Sel, Se2 of FIG. 11 is not the same as the configuration of the feedback loop of the system Sb of FIG. Therefore, the characteristic due to the feedback shown in the broken curve Ce in FIG. 12 is different from the characteristic due to the feedback shown in the broken curve Cb in FIG.
  • the frequency characteristic shown in FIG. 13 is a characteristic obtained by subtracting the characteristic of the real curve Ca from the characteristic of the broken curve Ce in FIG.
  • the frequencies showing peaks in the positive direction are frequency fl, frequency f23, and frequency f3. These positive peak frequencies are likely to be resonance frequencies or feedback frequencies.
  • the frequency characteristic of FIG. 5 shows a positive peak at the frequency fl, the frequency f21 and the frequency f3, and the frequency characteristic of FIG. 13 shows a positive peak at the frequency fl, the frequency f23 and the frequency f3.
  • the frequency fl and the frequency f3 are frequencies that have a common positive peak in the frequency characteristics of both figures.
  • the frequency f21 is a frequency that shows a peak in the positive direction only in the frequency characteristic of FIG.
  • the frequency f23 is a frequency that shows a peak in the positive direction only in the frequency characteristic of FIG.
  • the configuration of the feedback loop of system Sel and Se2 in FIG. 11 is different from the configuration of the feedback loop of system Sb in FIG. Therefore, the characteristics due to the feedback appearing in the break curve Ce in FIG. 12 are different from the characteristics due to the feedback appearing in the break curve Cb in FIG. Therefore, it can be considered that the frequency that shows a peak in the positive direction due to feedback in the frequency characteristic of FIG. 5 is different from the frequency that shows a peak in the positive direction due to feedback in the frequency characteristic of FIG. Can be.
  • the frequency fl and the frequency f3 are the resonance frequencies of the loudspeaker space 40
  • the frequency f21 is the feedback frequency based on the feedback loop of the system Sb in FIG. 3
  • the frequency f23 is the system Sel in FIG. Therefore, it can be considered that the feedback frequency is based on the feedback loop of Se2.
  • the frequency fl and the frequency f 3 should be set as the center frequency of the dip for the dip filter 4.
  • FIG. 14 is a detection apparatus as one embodiment of the resonance frequency detection apparatus according to the present invention.
  • FIG. 14A is a schematic block diagram of the systems Sfl and Sf2 including 301 and 302.FIG. 14A shows the detection device 301 and the system Sfl, and FIG. 14B shows the detection device 302 and the system Sf2. I have.
  • the systems Sfl and Sf2 include detection devices 301 and 302, an amplifier 12 that inputs signals generated by the detection devices 301 and 302 and amplifies the power, and a speed 13 that inputs an output signal of the amplifier 12 and loudspeaks. And a microphone 14 for receiving a loud sound emitted by the speaker 13.
  • the detection devices 301 and 302 receive the output signal of the microphone 14.
  • the speaker 13 and the microphone 14 are arranged in a sound space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40. Microphone 14 is arranged at a position where it can receive the reflected sound in sound space 40 at a sufficiently large level with respect to the direct sound from speaker 13.
  • the detection devices 301 and 302 include a transmission unit 21, a measurement control unit 25, a mixing unit 26, an opening and closing unit 27, a switching switch 31, and a phase inversion device 32.
  • the transmitting unit 21 functions as a sound source unit that emits a measurement signal.
  • the measurement control unit 25 functions as control means for controlling each unit in the detection devices 301 and 302, and also functions as measurement means for measuring frequency characteristics.
  • the phase inversion device 32 functions as a phase inversion means.
  • the mixing section 26, the opening / closing section 27, the switching switch 31, and the phase inverting device 32 constitute signal switching means.
  • the measurement and control unit 25 controls the transmission unit 21 to output a measurement signal from the transmission unit 21.
  • This measurement signal is a sine wave signal whose frequency changes with time, that is, a sine wave sweep signal.
  • the sine wave level is constant at each point in the frequency sweep. It is.
  • Mixing section 26 combines (mixes) the signal from transmitting section 21 and the signal from opening / closing section 27, and outputs the combined signal (mixing signal).
  • the signal input to the amplifier 12 is power-amplified and input to the speaker 13, and is radiated from the speaker 13 to the loudspeaker space 40 as loudspeaker sound.
  • the sound in the loudspeaker space 40 is received by the microphone 14, and the output signal of the microphone 14 is input to the detection devices 301 and 302.
  • the output signal of the microphone 14 is branched and sent to the measurement / control unit 25 and the switch 27.
  • the output signal power of the mixing section 26 is divided into a phase inverting device 32 and a switching switch 31 for transmission.
  • the output signal of the phase inverter 32 is also sent to the switching switch 31. Then, a signal from the switching switch 31 is input to the amplifier 12.
  • the output signal of the microphone 14 is branched to the measurement control unit 25, the phase inversion device 32, and the switching switch 31 and transmitted.
  • the output signal of the phase inverter 32 is sent to the switching switch 31.
  • the switching switch 31 is connected to the opening / closing section 27. Then, the output signal of the mixing section 26 is input to the amplifier 12.
  • the measurement 'control unit 25 of the detection devices 301 and 302 has a band-pass filter whose center frequency changes with time. This band-pass filter changes the center frequency over time in response to the time-dependent change of the frequency of the sine wave sweep signal transmitted by the transmitting unit 21. Therefore, the measurement 'control section 25 can measure the amplitude characteristic of the frequency at that time by detecting the level of the output signal of the microphone 14 via this bandpass filter.
  • the measurement 'control unit 25 can control the opening and closing of the opening and closing unit 27. Therefore, the opening / closing section 27 can be set to the “open” state, and only the measurement signal from the transmitting section 21 can be amplified from the speaker 13. The use signal and the output signal of the microphone can be amplified from the speaker 13.
  • the measurement / control section 25 can control the state of the switching switch 31. Therefore, the phase of the output signal of the microphone 14 is inverted by passing the output signal of the microphone 14 through the phase inverting device 32. Later, the speaker 13 can select whether or not to make the speaker louder.
  • the feedback frequency is distinguished from the feedback frequency.
  • the resonance frequency of the loudspeaker space 40 can be detected. All the operations for detecting the measured amplitude frequency characteristic force and the resonance frequency are performed by the measurement 'control unit 25.
  • the apparatus and method for detecting the resonance frequency by distinguishing it from the feedback frequency by inverting the phase of the output signal of as many as 14 microphones arranged in the sound space 40 have been described.
  • the transmitter or the transmitter transmits a sine-wave sweep signal as a measurement signal.
  • the signal for measurement is not limited to the sine wave sweep signal, and various signals can be used.
  • a noise signal having a component within a predetermined frequency width, whose center frequency is swept.
  • the frequency width is preferably set to 1Z3 octave or less.
  • the pitch be 1 octave or less.
  • pink noise can be used as the measurement signal.
  • the measuring instrument does not need to have a bandpass filter whose center frequency changes with time.
  • FIG. 15 shows the resonance frequency in a loudspeaker space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40.
  • FIG. 2 is a schematic block diagram of a detection system and a detection device (resonance frequency detection device).
  • the system Sg in FIG. 15 includes a transmitter 111 that is a sound source for generating a measurement signal, an amplifier 12 that inputs a signal generated by the transmitter 111 and amplifies power, and an output signal of the amplifier 12 is input.
  • a speaker 13 for receiving a loud sound emitted by the speaker 13; and a measurement and control unit 115 for inputting an output signal of the microphone 14.
  • Microphone 14 may be a sound level meter.
  • the measurement and control unit 115 controls the transmitter 111. That is, the frequency of the measurement signal output from the transmitter 111 and the time interval of the measurement signal can be controlled.
  • the measurement / control section 115 also functions as a measuring means for measuring the attenuation characteristic of the output signal of the microphone 14.
  • the transmitter 111 and the measurement and control unit 115 constitute a detection device 400.
  • the speaker 13 and the microphone 14 are arranged in the loudspeaker space 40.
  • the microphone 14 is arranged at a position where it can receive the reflected sound in the sound space 40 at a sufficiently large level with respect to the direct sound from the speaker 13.
  • the measurement signal output from the transmitter 111 of the system Sg is a signal in which the reference frequency signal is intermittently repeated a plurality of times.
  • the reference frequency signal is a sine wave signal of a specific frequency or a signal having a component within a predetermined frequency width around the specific frequency.
  • the signal having a component within a predetermined frequency range around a specific frequency is, for example, a noise signal having a frequency component of 1/3 octave width around 200 Hz. The use of such a reference frequency signal makes it less susceptible to noise such as background noise, and enables highly reliable measurement.
  • FIG. 16 is a diagram showing the signal levels of the above-described measurement signals on a time axis.
  • a sine wave power of 200Hz which is a specific frequency
  • is output continuously for 0.1 second then is output again for 0.1 second with a time interval of 0.9 second, and then a time interval of 0.9 second And output again for 0.1 second.
  • a 200Hz sine wave that is intermittently output three times at one second intervals for 0.1 second is output.
  • a 200 Hz sine wave lasting 0.1 second is output a plurality of times at equal time intervals, but is not necessarily output at equal time intervals. Do No need.
  • a sine wave of a specific frequency that lasts for a predetermined time may be output a plurality of times at random time intervals.
  • FIG. 17 is a diagram showing a sound pressure level measured by the microphone 14 on a time axis. Three peak points are generated at one-second intervals in synchronization with the measurement signal shown in FIG. However, the sound pressure level decay is fast. In this way, when the sound pressure level is rapidly attenuated in the loudspeaker space, the specific frequency (200 Hz) of the measurement signal is not considered to be the resonance frequency.
  • FIG. 18 is a diagram showing a sound pressure level measured by the microphone 14 on the time axis when a measurement signal having a specific frequency of 250 Hz is output from the speed 13 of the system Sg in FIG. It is.
  • a reference frequency signal having a specific frequency of 250 Hz is output from the transmitter 111 for 0.1 second, and then output again for 0.1 second at a time interval of 0.9 second, and further output for 0 second. It is output again for 0.1 second with a time interval of 9 seconds.
  • a 250 Hz sine wave that lasts 0.1 second is output three times intermittently at 1 second intervals.
  • the attenuation of sound pressure level is moderate.
  • the specific frequency (250 Hz) of the measurement signal may be the resonance frequency of the loudspeaker space 40.
  • the reference frequency signal does not necessarily need to be emitted from the speaker 13 a plurality of times. For example, a reference frequency signal that lasts for several seconds is emitted only once from 13 speakers, and the resonance frequency can be determined from the attenuation characteristic of the sound pressure level in the loudspeaker space 40. For example, the determination can be made based on whether or not the speed is attenuated more slowly than a predetermined speed.
  • the sound pressure level is represented on the time axis.
  • the determination may be made by calculating the area of the area surrounded by the sound pressure level curve. In other words, it is determined that the sound pressure level decreases rapidly if the area is small, and that the sound pressure level decreases gradually if the area is large.
  • FIG. 19 is a diagram showing a sound pressure level measured by the microphone 14 on the time axis when a measurement signal having a specific frequency of 300 Hz is output from the speed 13 of the system Sg in FIG. It is.
  • a reference frequency signal having a specific frequency of 300 Hz is output from the transmitter 111 for 0.1 second, and thereafter is output again for 0.1 second at a time interval of 0.9 second, and then output again for 0.1 second. It is output again for 0.1 second with a time interval of 9 seconds.
  • a 300 Hz sine wave that lasts 0.1 second is output three times at intervals of 1 second.
  • the attenuation of sound pressure level is moderate.
  • the force of the second peak force is slower than that of the first peak, and the damping force of the third peak is slower than that of the second peak.
  • the reason why the attenuation gradually decreases is that the energy of the previously output loudspeaker sound sufficiently remains in the loudspeaker space 40 until the next loudspeaker is output. .
  • the specific frequency (300 Hz) of the measurement signal is the resonance frequency of the loudspeaker space 40.
  • the resonance frequency of the loudspeaker space 40 is detected by determining the state of the attenuation process of the sound pressure level in the loudspeaker space 40 while gradually changing the specific frequency of the measurement signal by the measurement and control unit 115. can do.
  • a form in which the specific frequency is increased stepwise by 1/48 octave can be adopted.
  • FIG. 20 is a schematic block diagram of a system and a detection device (resonance frequency detection device) for detecting a resonance frequency in a sound space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40.
  • a detection device for detecting a resonance frequency in a sound space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40.
  • the system Sh in Fig. 20 also includes a transmitter 111 serving as a sound source for generating a measurement signal, an amplifier 12, and a speaker 13 which receives an output signal of the amplifier 12 and loudspeaks. And a microphone 14 for receiving a loud sound radiated by the speaker 13, and a measurement and control unit 115 for inputting an output signal of the microphone 14.
  • the measurement and control unit 115 can control the frequency of the measurement signal output from the transmitter 111 and the time interval of the measurement signal.
  • the measurement and control unit 115 is a measuring means for measuring the attenuation characteristic of the output signal of the microphone 14. Also works.
  • the detection device 500 includes a transmitter 111, a measurement control unit 115, and a mixing device 116.
  • the difference between the system Sh of FIG. 20 and the system Sg of FIG. 15 is that, in the system Sh of FIG. 20, the measurement signal from the transmitter 111 and the output signal of the microphone 14 are mixed (mixed) by the mixing device 116. ) And the combined signal is sent to the amplifier 12.
  • the mixing device 116 functions as a signal output unit. As described above, when such a feedback loop is provided, the resonance of the loudspeaker space 40 is measured while being emphasized.
  • the system Sh in Fig. 20 can also detect the resonance frequency of the loudspeaker space 40, similarly to the system Sg in Fig. 15. Also, the resonance frequency can be detected more clearly than when the system Sg in FIG. 15 is used.
  • FIG. 21 is a schematic block diagram of a system and a detection device (resonance frequency detection device) for detecting a resonance frequency in a public space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40.
  • FIG. Sil shows the detection device 601
  • FIG. 21B shows the system Si2 and the detection device 602.
  • the systems Sil and Si2 in Fig. 21 also include a transmitter 111, which is a sound source means for generating a measurement signal, an amplifier 12, and an output signal from the amplifier 12, which are input and amplified.
  • the measurement / control section 115 can control the frequency of the measurement signal output from the transmitter 111 and the time interval of the measurement signal.
  • the measurement / control section 115 also functions as a measuring means for measuring the attenuation characteristic of the output signal of the microphone 14.
  • the detection device 601 includes a transmitter 111, a measurement control unit 115, a mixing unit 116, and a delay device 128.
  • the measurement signal from the transmitter 111 and the output signal of the microphone 14 input to the detection device 601 are combined in the mixing section 116, and the combined signal is output from the detection device 601 via the delay device 128.
  • the output signal of the detection device 601 is sent to the amplifier 12. Further, the output signal of microphone mouth phone 14 input to detection apparatus 601 is branched and transmitted to measurement / control section 115 and mixing section 116. It is.
  • the detection device 602 includes a transmitter 111, a measurement control unit 115, a mixing unit 116, and a delay device 128.
  • the measurement signal from the transmitter 111 and the output signal of the delay device 128 are combined in the mixing unit 116, and the combined signal is output from the detection device 601.
  • the output signal of the microphone 14 input to the detection device 601 is branched and transmitted to the delay device 128 and the measurement / control unit 115.
  • the delay device 128 is controlled by the measurement and control unit 115. That is, the measurement / control section 115 can arbitrarily set the delay time of the delay device 128 within a predetermined time range. For example, in the delay device 128, the delay time of the delay device 128 can be set to Om seconds, lm seconds, or 2 ms.
  • a sine wave of a specific frequency of 250 Hz is output from the oscillator 111 for 0.1 second, and after that, at a time interval of 0.9 second again, The output may be continued for 0.1 second, and may be output again for 0.1 second after a time interval of 0.9 second. In other words, it outputs a 250Hz sine wave that lasts for 0.1 second three times intermittently at 1 second intervals.
  • FIG. 22 is a diagram showing a sound pressure level measured by the microphone 14 on the time axis when the measurement signal as described above is output from the oscillator 111 of the detection devices 601 and 602. However, at this time, the delay time of the delay device 128 is set to Om seconds.
  • the sound pressure level curve has three peak points at one-second intervals in synchronization with the measurement signal.
  • the attenuation of the sound pressure level is moderate.
  • the specific frequency (250 Hz) of the measurement signal may be the resonance frequency of the loudspeaker space 40. Only However, there is a possibility that this specific frequency (250 Hz) may be a feedback frequency that is not the resonance frequency. Specific frequency (250 Hz) force Even at the feedback frequency, the sound pressure level attenuates slowly.
  • the same measurement is performed while changing the delay time of the delay device 128.
  • the oscillator 111 outputs a 250 Hz sine wave that lasts for 0.1 second three times intermittently.
  • the delay device 128 is used. For example, when measuring the sound pressure level of the loudspeaker space 40 in synchronization with the second output, set the delay time of the delay device 128 to, for example, lm seconds, and set the delay time of the third device to the third output.
  • the delay time of the delay device 128 is set to, for example, 2 ms.
  • the resonance frequency is determined only by the characteristics of the loudspeaker space 40, it does not change even if the configuration of the feedback loop changes. If the specific frequency (250 Hz) is the resonance frequency, even if the delay time of the delay device 128 is changed, the rate of attenuation of the sound pressure level measured in the loudspeaker space 40 does not change.
  • the force feedback frequency changes when the configuration of the feedback loop changes.
  • Changing the delay time of the delay device 128 changes the configuration of the feedback loop. Therefore, if the specific frequency (250 Hz) is the feedback frequency when the delay time of the delay device 128 is set to Om seconds, when the delay time of the delay device 128 is changed, it is measured in the sound space 40. The rate of sound pressure level decay also changes.
  • FIG. 23 shows the sound pressure level measured by the microphone 14 when the above-described measurement signal is output from the oscillator 111 while changing the delay time of the delay device 128 as described above. It is the figure represented on the time axis. Strictly speaking, the sound pressure level curve measured with the system Sil in Fig. 21 (a) and the sound pressure level curve measured with the system Si2 in Fig. 21 (b) are not the same! In the following, these will be explained without IJ.
  • the sound pressure level curve has three peak points at one-second intervals in synchronization with the measurement signal.
  • the sound pressure level in the sound space 40 corresponding to the first output from the oscillator 111 is gradually attenuated.
  • Loudspeaker sky corresponding to the second output During 40 the sound pressure level decayed relatively quickly.
  • the sound pressure level in the loudspeaker space 40 corresponding to the third output is slightly attenuated.
  • the specific frequency (250 Hz) of the measurement signal is not the resonance frequency.
  • the measurement and control unit 115 determines the state of the sound pressure level attenuation process in the loudspeaker space 40 as described above while gradually changing the specific frequency of the measurement signal.
  • the resonance frequency can be detected separately from the feedback frequency.
  • FIG. 24 is a schematic block diagram of a system and a detection device (resonance frequency detection device) for detecting a resonance frequency in a public space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40.
  • a detection device for detecting a resonance frequency in a public space (for example, a concert hall or a gymnasium) 40.
  • FIG. The system Sjl and the detection device 701 are shown, and the system Sj2 and the detection device 702 are shown in FIG.
  • the systems Sjl and Sj2 in Fig. 24 also include a transmitter 111, which is a sound source means for generating a measurement signal, an amplifier 12, and an output signal of the amplifier 12, which are input.
  • the loudspeaker 13 includes a speaker 13 for loudspeaking, a microphone 14 for receiving a loudspeaker radiated by the speaker 13, and a measurement and control unit 115 for inputting an output signal of the microphone 14.
  • the measurement / control section 115 can control the frequency of the measurement signal output from the transmitter 111 and the time interval of the measurement signal.
  • the measurement / control section 115 also functions as a measuring means for measuring the attenuation characteristic of the output signal of the microphone 14.
  • the detection device 701 in FIG. 24A includes a transmitter 111 as a sound source, a measurement / control unit 115, a mixing unit 116, a switching switch 131, and a phase inversion device 132.
  • the output signal of the microphone 14 is branched and sent to the measurement / control unit 115 and the mixing unit 116.
  • the mixing unit 116 also receives a measurement signal from the transmitter 111.
  • the mixing unit 116 combines the output signal of the microphone 14 and the measurement signal from the transmitter 111, and branches and sends the combined signal to the phase inverting device 132 and the switching switch 131.
  • the output signal of the phase inverter 132 is also sent to the switching switch 131. Then, the signal from the switching switch 131 is sent to the amplifier 12.
  • the detection device 702 in Fig. 24 (b) includes a transmitter 111 as a sound source means, a measurement control unit 115, A kissing unit 116, a switching switch 131, and a phase inversion device 132 are provided.
  • the output signal of the microphone 14 is branched and transmitted to the measurement / control unit 115, the phase inversion device 132, and the switching switch 131.
  • the output signal of the phase inverter 132 is sent to the switching switch 131.
  • the output signal of the switching switch 31 is sent to the mixing section 116.
  • the mixing unit 116 also receives a measurement signal from the transmitter 111.
  • the mixing unit 116 combines the measurement signal from the transmitter 111 and the signal from the switching switch 131, and sends the combined signal to the amplifier 12.
  • the measurement signal is amplified from the speaker 13. Also, the output signal of the microphone 14 or a phase-inverted signal obtained by inverting the phase of the output signal of the microphone 14 is amplified from the speed 13.
  • the signal output means is composed of the mixing unit 116, the switching switch 131, and the phase inversion device 132.
  • a force for loudspeaking the output signal of the microphone 14 from the speaker 13 without inverting the phase can be selected by switching the switching switch 131 to invert the phase and also loudspeaker.
  • the switching switch 131 is controlled by the measurement / control unit 115. Therefore, the measurement / control unit 115 can select whether the output signal of the microphone 14 from the speaker 13 should be amplified without inverting the phase, or whether the output signal should be amplified by inverting the phase.
  • the systems Sjl and Sj2 also include a feedback loop. Force As described above, when such a feedback loop is provided, the resonance of the loudspeaker space 40 is more emphasized and measured.
  • the switching switch 131 When the switching switch 131 is set so that the output signal of the microphone 14 is amplified from the speaker 13 without inverting the phase, the output signal of the microphone 14 is inverted and the 13-speaking power is also amplified.
  • the configuration of the feedback loop is different from when the switching switch 131 is set as described above.
  • the oscillator 111 outputs, for example, a sine wave of a specific frequency of 250 Hz for 0.1 second, and after that, at a time interval of 0.9 second again, The output may be continued for 0.1 second, and may be output again for 0.1 second after a time interval of 0.9 second. That is, 3 times intermittently at 1 second intervals, 0.1 second It outputs a 250Hz sine wave that lasts for a while.
  • FIG. 25 is a diagram showing a sound pressure level measured by the microphone 14 on the time axis when the above-described measurement signal is output from the oscillator 111 in the systems # 1 and # 2. is there. However, at this time, the state of the switch 131 is set so that the output signal of the microphone 14 can also be amplified by the 13 speakers without inverting the phase.
  • the sound pressure level curve has three peak points at one-second intervals in synchronization with the measurement signal.
  • the attenuation of the sound pressure level is moderate.
  • the specific frequency (250Hz) of the measurement signal may be the resonance frequency of the loudspeaker space 40.
  • the feedback frequency may not be at the specific frequency (250 Hz) force resonance frequency.
  • Specific frequency (250Hz) force Even if the feedback frequency is used, the sound pressure level decreases gradually.
  • the same measurement is performed while switching the switch 131.
  • the oscillator 111 intermittently outputs a 250 Hz sine wave lasting 0.1 second three times.
  • the The switch 131 is set so that the output signal can be amplified by the speaker 13 without reversing the phase.
  • the microphone 14 When measuring the sound pressure level of the amplification space 40 in synchronization with the second output, the microphone 14 The output signal is inverted by the phase inverting device 132, and then the switching switch 131 is set to a state where the sound can be amplified by the speaker 13, and the sound pressure level of the sound space 40 is measured in synchronization with the third output. At times, the switching switch 131 is set so that the output signal of the microphone 14 can be amplified by the speaker 13 without inverting the phase.
  • the resonance frequency is determined only by the characteristics of the loudspeaker space 40, and does not change even if the configuration of the feedback loop changes. If the specific frequency (250 Hz) is the resonance frequency, the speed of attenuation of the sound pressure level in the loudspeaker space 40 does not change even if the configuration of the feedback loop changes.
  • the feedback frequency varies depending on the configuration of the feedback loop. It changes with the transformation.
  • a feedback loop that does not reverse the phase of the output signal of the microphone 14 and a feedback loop that reverses the phase of the output signal of the microphone 14 have different configurations. Therefore, if the feedback frequency is caused by a feedback loop that does not invert the phase of the output signal of the microphone 14 at a specific frequency (250 Hz), the configuration of the feedback loop should be such that the phase of the output signal of the microphone 14 is inverted.
  • the speed of sound pressure level decay in the loudspeaker space 40 also changes.
  • FIG. 26 is a graph showing the sound pressure level measured by the microphone 14 when the measurement signal as described above is output from the oscillator 111 in the systems Sjl and Sj2 while switching the switch 131. It is the figure represented above. Strictly speaking, the sound pressure level curve measured by the system Sjl in Fig. 24 (a) and the sound pressure level curve measured by the system Sj2 in Fig. 24 (b) are not the same! Here, these will be described without performing IJ.
  • the sound pressure level curve has three peak points at one-second intervals in synchronization with the measurement signal.
  • the sound pressure level gradually decreases.
  • the sound pressure level of the loudspeaker space 40 was measured in synchronization with the second output, the sound pressure level rapidly decreased.
  • the sound pressure level of the sound space 40 is measured in synchronization with the third output, the sound pressure level gradually decreases!
  • the attenuation speed of the sound pressure level in the loudspeaker space 40 is determined. Since the measurement frequency has changed, it can be determined that the specific frequency (250 Hz) of the measurement signal is not the resonance frequency.
  • the measurement and control unit 115 determines the state of the attenuation process of the sound pressure level of the loudspeaker space 40 as described above while gradually changing the specific frequency of the signal for measurement, so that the The resonance frequency can be detected separately from the feedback frequency.
  • a predetermined number of internal forces of the frequency fl, the frequency f21, and the frequency f3 are also selected as candidates for the center frequency of the dip to be set as the removal frequency in the dip filter 4.
  • candidate frequencies are selected in order from the one with the largest amplitude level of the curve Cb in FIG.
  • FIG. 27 is a characteristic diagram obtained by extracting only the curve Cb from FIG.
  • both the vertical and horizontal axes are logarithmic axes, the vertical axis represents amplitude level, and the horizontal axis represents frequency.
  • the amplitude level at the frequency f21 is the largest at f3
  • the amplitude level is the next largest
  • the amplitude level at fl is the next largest.
  • the number of frequencies to be selected as candidates is “3”
  • all of the frequencies fl, f21, and f3 are candidate frequencies.
  • the frequencies f21 and f3 are the candidate frequencies.
  • the center frequency of the dip to be set in dip filter 4 may be determined based on the priority based on the magnitude of the amplitude level of curve Cb in FIG. Therefore, the number of dips to be set in the dip filter 4 in FIG. 1, for example, if it is “2”, the frequencies f21 and f3 are set as the center frequencies of the dips in the dip filter 4. Also, for example, if the number of dips to be set in dip filter 4 in FIG. 1 is “1”, only frequency f 21 is set as the center frequency of dips in dip filter 4.
  • the priority order based on the magnitude of the amplitude level of the curve Cb in FIG. Although the center frequency of the dip to be set in the dip filter 4 may be finally determined, a plurality of dips to be set in the dip filter 4 are determined by the priority based on the magnitude of the amplitude level of the curve Cb in FIG. After selecting the center frequency candidate, based on the magnitude of the amplitude level in the curve Db in FIG. 5, the order of the candidates (candidate center frequency of the dip to be set in the dip filter) is also changed. Good,.
  • the frequencies of these candidates are reordered.
  • the order is set such that the amplitude level in the amplitude frequency characteristic curve Db in FIG.
  • the frequencies fl, f21 and f3 have the highest amplitude level in the curve Db in FIG. 5
  • the frequency f21 has the next highest amplitude level
  • the frequency has the next highest amplitude level. Is the frequency fl. Therefore, the frequency f3 is the frequency of the first candidate, the frequency f21 is the frequency of the second candidate, and the frequency fl is the frequency of the third candidate.
  • Numerical power of dip to be set in dip filter 4 of FIG. 1 for example, if “2”, frequency f3 and frequency f21 are set as the center frequency of dip in dip filter 4. Also, for example, if the dip power is “l” to be set in the dip filter 4 of FIG. 1, only the frequency f3 is set as the center frequency of the dip of the dip filter 4.
  • the center frequency of the dip to be set in dip filter 4 can be objectively selected without requiring experience or skill. By doing so, resonance in the loudspeaker space 40 of FIG. 1 can be effectively prevented.
  • the order of the candidates was changed based on the magnitude of the amplitude level for the following reason. That is, the curve Cb of FIG. 27 is not only characteristic by resonance of loud sound space 40, the electro-acoustic system (amplifier 12, speaker 13, microphone 14 Hitoshiryoku made system) and also include the amplitude frequency characteristic of, loud sound space 40 The characteristics greatly depend not only on the resonance characteristics of the above, but also on the amplitude frequency characteristics of the electroacoustic system.
  • the above-described resonance frequency selection method is also effective when the number of dips to be set in the dip filter and the number of detected resonance frequencies are larger. For example, when the detected resonance frequency is 200 or more, 120 frequencies may be left as candidates from those having large amplitude levels in the curve Cb in FIG. 27, and the remaining frequencies may be excluded from the candidates. Further, based on the magnitude of the amplitude level in the curve Db of FIG. 5, the order of the candidates is rearranged with respect to the 120 frequencies, and the top eight frequencies are dip-filtered based on the rearranged order. And set it as the center frequency of the dip.
  • the resonance frequency detection method and the device thereof according to the present invention are applied to the detection of the resonance frequency in the loudspeaker space in which the acoustic equipment is arranged.
  • the device can be applied not only to such a loudspeaker space, but also to any space (resonant loudspeaker space) where resonance frequency detection is required.
  • the present invention can also be applied to a technique of measuring the volume of a space not filled with liquid in a liquid tank by detecting a resonance frequency in order to know the liquid filling amount in the liquid tank.
  • the present invention it is possible to accurately detect a resonance frequency without requiring experience or skill, and it is possible to appropriately select a frequency to be set as a center frequency of a dip in a dip filter. Therefore, for example, it is useful in the technical field of electroacoustics.

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Abstract

 拡声空間40に配置されたスピーカ13から所定の測定用信号を拡声させて、該拡声空間40に配置されたマイクロホン14によって受音して得られる基本振幅周波数特性と、該スピーカ13から、該測定用信号と、該マイクロホン14の出力信号を0以上の第1遅延時間で遅延させた第1遅延信号とを拡声させて、該マイクロホン14によって受音して得られる第1振幅周波数特性と、該スピーカ13から、該測定用信号と、該マイクロホン14の出力信号を0以上の第2遅延時間で遅延させた第2遅延信号とを拡声させて、該マイクロホン14によって受音して得られる第2振幅周波数特性とに基づいて、該拡声空間の共鳴周波数を検出する。ここで、第2遅延時間は第1遅延時間と異なる遅延時間である。

Description

共鳴周波数検出方法、共鳴周波数選択方法、および、共鳴周波数検出 装置
技術分野
[0001] この出願に係る発明は、共鳴空間の共鳴周波数を検出するための共鳴周波数検 出方法、その装置および検出された共鳴周波数のうちから、ディップフィルタにディ ップの中心周波数として設定すべき周波数を選択する共鳴周波数選択方法に関す る。
背景技術
[0002] 共鳴空間の共鳴周波数を検出する必要が生ずる場合がある。例えば、ホールや体 育館等にスピーカ等の音響設備を設置し、スピーカ力もの拡声音を放射するとき、こ の空間 (音響設備が配された拡声空間)の共鳴周波数のために、スピーカからの音 楽や話声が聞き取りに《なることがある。つまり、スピーカからの拡声音に共鳴周波 数の成分が多く含まれると、該拡声空間においてこの成分の周波数で共鳴が起こる のである。共鳴音は「ウォンウォン · · ·」とか「ファンファン · · ·」というように聞こえる。こ の共鳴音は、本来、スピーカから放射しょうとする音ではなぐスピーカからの音楽や 話声を聞き取りにくくする。
[0003] このことを防止するには、拡声空間における共鳴周波数を検出し、音響設備におい てスピーカよりも前段に、この共鳴周波数の成分を減衰させるようなディップフィルタ 等を設けるとよい。するとこの拡声空間において共鳴が起こりにくくなり、スピーカから の音楽や話声が聞きやすくなる。このディップフィルタの周波数特性を決定するため には、まず、この拡声空間の共鳴周波数を検出しなければならない。
[0004] 従来は、音響設備のオペレータや測定者が自らの聴覚に頼ってスピーカの拡声音 や共鳴音を聞き分けて共鳴周波数を判断して!/ヽた。
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0005] しかし、このような聞き分けによって共鳴周波数である力否かを判断するには、ある 程度の熟練、経験を要する。また、このような熟練、経験に頼る検出であれば、必ず しも正確な共鳴周波数の検出を行うことはできない。
[0006] し力も、ある程度の熟練者であっても、聴覚上で共鳴周波数とフィードバック周波数 とを聞き分けるのは困難である。共鳴周波数は、共鳴空間の特徴によって定まる周波 数であり、フィードバック周波数は電気音響系を含むフィードバックループの構成によ つて定まる周波数である力 聴覚上、両者が似たように聞こえることがあるからである
[0007] そして、これらのことが、拡声空間等に設置される音響設備の自動測定'自動調整 のための障害にもなつていた。
[0008] 本願発明は、経験や熟練を必要とせず、正確に共鳴周波数を検出することができ るような、共鳴周波数検出方法およびその装置を提供することを目的とする。特に、 共鳴周波数をフィードバック周波数と区別して検出できるような、共鳴周波数検出方 法およびその装置を提供することを目的とする。
[0009] また、検出された複数の共鳴周波数のうち力 ディップフィルタにディップの中心周 波数として設定すべきものを客観的に選択することができるような共鳴周波数選択方 法を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0010] 上記課題を解決するため、本願発明にかかる共鳴周波数検出方法は、基本振幅 周波数特性を測定する基本工程と、第 1振幅周波数特性を測定する第 1工程と、第 2 振幅周波数特性を測定する第 2工程とを備え、該基本振幅周波数特性は、共鳴空 間に配置されたスピーカから所定の測定用信号を拡声させて、該共鳴空間に配置さ れたマイクロホンによって受音して得られる振幅周波数特性であり、該第 1振幅周波 数特性は、該スピーカから、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を 0以上の 第 1遅延時間で遅延させた第 1遅延信号とを拡声させて、該マイクロホンによって受 音して得られる振幅周波数特性であり、該第 2振幅周波数特性は、該スピーカから、 該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を 0以上の第 2遅延時間で遅延させた第 2遅延信号とを拡声させて、該マイクロホンによって受音して得られる振幅周波数特 性であり、該第 2遅延時間は該第 1遅延時間と異なる遅延時間であり、該基本振幅周 波数特性と該第 1振幅周波数特性と該第 2振幅周波数特性とに基づ 1、て、該共鳴空 間の共鳴周波数を検出する。測定用信号は、マイクロホンの出力信号と一緒に遅延 させてスピーカから拡声させてもよ 、し、遅延させずにスピーカから拡声させてもょ ヽ
[0011] また上記課題を解決するため、本願発明にかかる共鳴周波数検出装置は、音源手 段と、信号切換手段と、測定手段とを備え、該音源手段は測定用信号を発生し、該 信号切換手段は、該音源手段からの測定用信号と、マイクロホンからの出力信号を 入力可能であり、該信号切換手段はその状態を、該測定用信号をスピーカで拡声さ せるために出力する基本状態と、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を 0以 上の第 1遅延時間で遅延させた第 1遅延信号とを該スピーカで拡声させるために出 力する第 1状態と、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を 0以上の第 2遅延 時間で遅延させた第 2遅延信号とを該スピーカで拡声させるために出力する第 2状 態とに切り換え可能であり、該第 2遅延時間は該第 1遅延時間とは異なる遅延時間で あり、該測定手段は該マイクロホンの出力信号力 振幅周波数特性を測定可能であ り、該測定手段が、該信号切換手段の状態が基本状態に設定されたときに測定した 基本振幅周波数特性と、該信号切換手段の状態が第 1状態に設定されたときに測定 した第 1振幅周波数特性との比較 および 該基本振幅周波数特性と、該信号切換 手段の状態が第 2状態に設定されたときに測定した第 2振幅周波数特性との比較に 基づいて、共鳴周波数を検出する。測定用信号は、マイクロホンの出力信号と一緒 に遅延させてスピーカから拡声させてもょ 、し、遅延させずにスピーカから拡声させ てもよい。
[0012] 上記の方法 '装置において、該第 1遅延時間又は該第 2遅延時間が 0であってもよ い。
[0013] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるもう一つの共鳴周波数検出方法 は、基本振幅周波数特性を測定する基本工程と、第 1振幅周波数特性を測定する第 1工程と、第 2振幅周波数特性を測定する第 2工程とを備え、該基本振幅周波数特 性は、共鳴空間に配置されたスピーカから所定の測定用信号を拡声させて、該共鳴 空間に配置されたマイクロホンによって受音して得られる振幅周波数特性であり、該 第 1振幅周波数特性は、該スピーカから、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信 号とを拡声させて、該マイクロホンによって受音して得られる振幅周波数特性であり、 該第 2振幅周波数特性は、該スピーカから、該測定用信号と、該マイクロホンの出力 信号の位相を反転させた位相反転信号とを拡声させて、該マイクロホンによって受音 して得られる振幅周波数特性であり、該基本振幅周波数特性と該第 1振幅周波数特 性と該第 2振幅周波数特性とに基づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する。測 定用信号は、マイクロホンの出力信号と一緒に位相反転させてスピーカから拡声させ てもよ 、し、位相反転させずにスピーカから拡声させてもょ 、。
[0014] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるもう一つの共鳴周波数検出装置 は、音源手段と、信号切換手段と、測定手段とを備え、該音源手段は測定用信号を 発生し、該信号切換手段は、該音源手段からの測定用信号と、マイクロホンからの出 力信号を入力可能であり、該信号切換手段はその状態を、該測定用信号をスピーカ で拡声させるために出力する基本状態と、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信 号とを該スピーカで拡声させるために出力する第 1状態と、該測定用信号と、該マイ クロホンの出力信号を位相反転させた位相反転信号とを該スピーカで拡声させるた めに出力する第 2状態とに切り換え可能であり、該測定手段は該マイクロホンの出力 信号から振幅周波数特性を測定可能であり、該測定手段が、該信号切換手段の状 態が基本状態に設定されたときに測定した基本振幅周波数特性と、該信号切換手 段の状態が第 1状態に設定されたときに測定した第 1振幅周波数特性との比較 およ び 該基本振幅周波数特性と、該信号切換手段の状態が第 2状態に設定されたとき に測定した第 2振幅周波数特性との比較に基づいて、共鳴周波数を検出する。測定 用信号は、マイクロホンの出力信号と一緒に位相反転させてスピーカから拡声させて もよ 、し、位相反転させずにスピーカから拡声させてもょ 、。
[0015] 上記の方法'装置において、該基本振幅周波数特性と該第 1振幅周波数特性との 差分から、該基本振幅周波数特性に比べて該第 1振幅周波数特性の方が振幅が大 きいピーク点の周波数を第 1群周波数として検出し、該基本振幅周波数特性と該第 2 振幅周波数特性との差分から、該基本振幅周波数特性に比べて該第 2振幅周波数 特性の方が振幅が大きいピーク点の周波数を第 2群周波数として検出し、該第 1群 周波数と該第 2群周波数とに共通して含まれる周波数を共鳴周波数として検出しても よい。
[0016] また上記課題を解決するため、本願発明にかかる共鳴周波数選択方法は、上記し た共鳴周波数検出方法によって複数の共鳴周波数を検出し、この検出された複数の 共鳴周波数のうちから、ディップフィルタに設定すべきディップの中心周波数を、該 第 1振幅周波数特性又は該第 2振幅周波数特性の振幅レベルの大きなものから選 択する。この場合、この選択された複数の共鳴周波数のうちから、ディップフィルタに 設定すべきディップの中心周波数を、該第 1振幅周波数特性又は該第 2振幅周波数 特性カも該基本振幅周波数特性を差し引いた振幅周波数特性における振幅レベル が大きなもの力も優先的に選択してもよい。
[0017] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるさらにもう一つの共鳴周波数検 出方法は、共鳴空間に配置されたスピーカから、所定時間持続する基準周波数信号 を拡声させて、該共鳴空間に配置されたマイクロホンによって受音し、該マイクロホン の出力信号の減衰特性を測定する減衰特性測定工程を備え、該減衰特性に基づ!ヽ て、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する共鳴周波数検出方法であって、該基準周 波数信号が、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所定周波数幅 内に成分を有する信号である。
[0018] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるさらにもう一つの共鳴周波数検 出装置は、音源手段と、測定手段とを備え、該音源手段は測定用信号を発生して出 力することができ、該測定用信号は、所定時間持続する基準周波数信号であり、該 基準周波数信号は、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所定周 波数幅内に成分を有する信号であり、該測定手段は、マイクロホンの出力信号を入 力可能であり、該測定手段は、該マイクロホンの出力信号の減衰特性を測定し、該減 衰特性に基づいて、共鳴周波数を検出する。
[0019] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるさらにもう一つの共鳴周波数検 出方法は、共鳴空間に配置されたスピーカから、所定時間持続する基準周波数信号 と、該共鳴空間に配置されたマイクロホンの出力信号とを拡声させて、該マイクロホン によって受音し、該マイクロホンの出力信号の減衰特性を測定する減衰特性測定ェ 程を備え、該減衰特性に基づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する共鳴周波 数検出方法であって、該基準周波数信号が、特定周波数の正弦波信号又は特定周 波数を中心とした所定周波数幅内に成分を有する信号である。
[0020] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるさらにもう一つの共鳴周波数検 出装置は、音源手段と、信号出力手段と、測定手段とを備え、該音源手段は測定用 信号を発生し、該測定用信号は、所定時間持続する基準周波数信号であり、該基準 周波数信号は、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所定周波数 幅内に成分を有する信号であり、該信号出力手段は、該音源手段からの測定用信 号と、マイクロホンの出力信号を入力可能であり、該信号出力手段は、該測定用信号 と、該マイクロホンの出力信号とをスピーカで拡声させるために出力可能であり、該測 定手段は、該マイクロホンの出力信号を入力可能であり、該測定手段は、該マイクロ ホンの出力信号の減衰特性を測定し、該減衰特性に基づいて、共鳴周波数を検出 する。
[0021] 上記の方法 *装置において、該減衰特性から得られる減衰速度が、所定の減衰速 度よりも遅いとき、該基準周波数信号の特定周波数を該共鳴周波数と判断するように してちよい。
[0022] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるさらにもう一つの共鳴周波数検 出方法は、共鳴空間に配置されたスピーカから、断続的に複数回繰り返される基準 周波数信号と、該共鳴空間に配置されたマイクロホンの出力信号を 0以上の遅延時 間で遅延させた遅延信号とを拡声させて、該マイクロホンによって受音し、該マイクロ ホンの出力信号の減衰特性を測定する減衰特性測定工程を備え、該減衰特性に基 づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する共鳴周波数検出方法であって、該基 準周波数信号の断続的な繰り返しに同期して、該遅延時間が変化し、該基準周波数 信号が、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所定周波数幅内に 成分を有する信号である。基準周波数信号は、マイクロホンの出力信号と一緒に遅 延させてスピーカから拡声させてもよ 、し、遅延させずにスピーカから拡声させてもよ い。
[0023] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるさらにもう一つの共鳴周波数検 出装置は、音源手段と、信号出力手段と、測定手段とを備え、該音源手段は測定用 信号を発生し、該測定用信号は、断続的に複数回繰り返される基準周波数信号であ り、該基準周波数信号は、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした 所定周波数幅内に成分を有する信号であり、該信号出力手段は、該音源手段から の測定用信号と、マイクロホンの出力信号とを入力可能であり、該信号出力手段は、 該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を 0以上の遅延時間で遅延させた遅延 信号とをスピーカで拡声させるために出力可能であり、該信号出力手段は、該基準 周波数信号の断続的な繰り返しに同期して該遅延時間を変化させ、該測定手段は、 該マイクロホンの出力信号を入力可能であり、該測定手段は、該マイクロホンの出力 信号の減衰特性を測定し、該減衰特性に基づいて、共鳴周波数を検出する。基準 周波数信号は、マイクロホンの出力信号と一緒に遅延させてスピーカから拡声させて もよいし、遅延させずにスピーカから拡声させてもよい。
[0024] 上記の方法 ·装置において、該遅延時間の変化に起因して該減衰特性が変化する か否かを判断し、該遅延時間の変化に起因して該減衰特性が変化すると判断したと きは、該基準周波数信号の特定周波数を共鳴周波数とは判断しないようにしてもよ い。
[0025] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるさらにもう一つの共鳴周波数検 出方法は、共鳴空間に配置されたスピーカから、断続的に複数回繰り返される基準 周波数信号と、該共鳴空間に配置されたマイクロホンの出力信号とを拡声させる第 1 拡声状態、または、該断続的に複数回繰り返される基準周波数信号と、該共鳴空間 に配置されたマイクロホンの出力信号の位相を反転させた位相反転信号とを拡声さ せる第 2拡声状態を選択し、該マイクロホンによって受音し、該マイクロホンの出力信 号の減衰特性を測定する減衰特性測定工程を備え、該減衰特性に基づいて、該共 鳴空間の共鳴周波数を検出する共鳴周波数検出方法であって、該基準周波数信号 の断続的な繰り返しに同期して、拡声状態が、該第 1拡声状態から該第 2拡声状態 へ、または、該第 2拡声状態から該第 1拡声状態へ変更され、該基準周波数信号が 、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所定周波数幅内に成分を 有する信号である。基準周波数信号は、マイクロホンの出力信号と一緒に位相反転 させてスピーカから拡声させてもよ 、し、位相反転させずにスピーカから拡声させても よい。
[0026] また上記課題を解決するため、本願発明にかかるさらにもう一つの共鳴周波数検 出装置は、音源手段と、信号出力手段と、測定手段とを備え、該音源手段は測定用 信号を発生し、該測定用信号は、断続的に複数回繰り返される基準周波数信号であ り、該基準周波数信号は、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした 所定周波数幅内に成分を有する信号であり、該信号出力手段は、該音源手段から の測定用信号と、マイクロホンの出力信号とを入力可能であり、該信号出力手段はそ の状態を、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号とをスピーカで拡声させるた めに出力する第 1出力状態、または、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号の 位相を反転させた位相反転信号とを該スピーカで拡声させるために出力する第 2出 力状態に、選択的に設定可能であり、該信号出力手段の状態は、該基準周波数信 号の断続的な繰り返しに同期して、該第 1出力状態から該第 2出力状態へ、または、 該第 2出力状態から該第 1出力状態へ変更され、該測定手段は、該マイクロホンの出 力信号を入力可能であり、該測定手段は、該マイクロホンの出力信号の減衰特性を 測定し、該減衰特性に基づいて、共鳴周波数を検出する。基準周波数信号は、マイ クロホンの出力信号と一緒に位相反転させてスピーカから拡声させてもょ 、し、位相 反転させずにスピーカから拡声させてもょ 、。
[0027] 上記の方法において、該拡声状態の変更に起因して該減衰特性が変化するか否 かを判断し、該拡声状態の変更に起因して該減衰特性が変化すると判断したときは 、該基準周波数信号の特定周波数を共鳴周波数とは判断しな 、ようにしてもょ 、し、 上記の装置において、該測定手段は、該信号出力手段の状態の変更に起因して該 減衰特性が変化する力否かを判断し、該信号出力手段の状態の変更に起因して該 減衰特性が変化すると判断したときは、該基準周波数信号の特定周波数を共鳴周 波数とは判断しな 、ようにしてもょ 、。
[0028] 上記の振幅周波数特性に基づいて共鳴周波数を検出する方法'装置においては 、測定用信号は振幅周波数特性を測定するに適した信号であればどのような信号で あってもよいが、例えば、正弦波スイープ信号、所定周波数幅内に成分を有し中心 周波数がスイープするノイズ信号、又は、ピンクノイズであってもよい。
[0029] また、上記の減衰特性に基づいて共鳴周波数を検出する方法 '装置においては、 基準周波数信号の特定周波数を変化させつつ、減衰特性の測定が複数回繰り返さ れるようにしてもよい。
発明の効果
[0030] 本願発明によれば、経験や熟練を必要とせず、正確に共鳴周波数を検出すること ができ、また、ディップフィルタにディップの中心周波数として設定すべき周波数を適 切に選択できる。
図面の簡単な説明
[0031] [図 1]拡声空間 (例えば、コンサートホールや体育館)に設置された音響システムの概 略構成図である。
[図 2]拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館)において振幅周波数特性を測 定するためのシステムの概略ブロック図である。
[図 3]拡声空間において振幅周波数特性を測定するためのシステムの概略ブロック 図である。
[図 4]図 2のシステムによって測定された拡声空間の振幅周波数特性と、図 3のシステ ムによって測定された拡声空間の振幅周波数特性とを模式的に示す特性図である。
[図 5]図 4の破曲線 Cbの特性から実曲線 Caの特性を差し引 、た周波数特性図であ る。
[図 6]拡声空間において振幅周波数特性を測定するためのシステムの概略ブロック 図である。
[図 7]図 2のシステムによって測定された拡声空間の振幅周波数特性と、図 6のシステ ムによって測定された拡声空間の振幅周波数特性とを模式的に示す特性図である。
[図 8]図 7の破曲線 Ccの特性から実曲線 Caの特性を差し引いた周波数特性図であ る。
[図 9]本願発明に係る共鳴周波数検出装置の一実施形態たる検出装置を含むシス テムの概略ブロック図である。
[図 10]図 9の検出装置におけるディレイ装置として採用することのできる構成の例を 示す図である。
[図 11]拡声空間において振幅周波数特性を測定するためのシステムの概略ブロック 図である。
[図 12]図 2のシステムによって測定された拡声空間の振幅周波数特性と、図 11のシ ステムによって測定された拡声空間の振幅周波数特性とを模式的に示す特性図で ある。
[図 13]図 12の破曲線 Ceの特性力も実曲線 Caの特性を差し引 、た周波数特性図で ある。
[図 14]本願発明に係る共鳴周波数検出装置の一実施形態たる検出装置を含むシス テムの概略ブロック図である。
[図 15]拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館)において共鳴周波数を検出す るためのシステムの概略ブロック図である。
[図 16]測定用信号の信号レベルを時間軸上に表した図である。
[図 17]マイクロホンで測定された音圧レベルを時間軸上に表した図である。
[図 18]マイクロホンで測定される音圧レベルを時間軸上に表した図である。
[図 19]マイクロホンで測定される音圧レベルを時間軸上に表した図である。
[図 20]拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館)において共鳴周波数を検出す るためのシステムの概略ブロック図である。
[図 21]拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館)において共鳴周波数を検出す るためのシステムの概略ブロック図である。
[図 22]マイクロホンで測定される音圧レベルを時間軸上に表した図である。
[図 23]マイクロホンで測定される音圧レベルを時間軸上に表した図である。
[図 24]拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館)において共鳴周波数を検出す るためのシステムの概略ブロック図である。
[図 25]マイクロホンで測定される音圧レベルを時間軸上に表した図である。
[図 26]マイクロホンで測定された音圧レベルを時間軸上に表した図である。
[図 27]図 4から曲線 Cbのみを取り出した特性図である。
発明を実施するための最良の形態 [0032] この出願発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
[0033] 図 1は、拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館のように共鳴の発生する共 鳴空間) 40に設置された音響システムの概略構成図である。この音響システムは、音 源装置 2と、ディップフィルタ 4と、アンプ 12と、スピーカ 13とを備えている。音源装置 2 は、例えば音楽 CDを再生するための CDプレーヤのような演奏器機であってもよいし 、マイクロホンであってもよい。図 1では音源装置 2を拡声空間 40の外側に表している 力 音源装置 2は拡声空間 40内に設置されていてもよい。例えば、音源装置 2は、拡 声空間 40内に設置されたマイクロホンであってもよい。ディップフィルタ 4は、音源装 置 2の出力信号力 特定の周波数の信号成分を除去してアンプ 12に送出するための ものである。ディップフィルタ 4の出力信号はアンプ 12で増幅されてスピーカ 13に送出 され、拡声空間 40においてスピーカ 13力 拡声される。
[0034] この拡声空間 40が共鳴周波数を有するとき、スピーカ 13からの拡声音に共鳴周波 数の成分が多く含まれると、拡声空間 40において共鳴が起こり、スピーカ 13からの音 楽や話声が聞き取りにくくなる。しかし、この音響システムにおいて、ディップフィルタ 4 に適切な周波数特性を設定すると、スピーカ 13力 の拡声音の音質を損なうことなく 、拡声空間 40における共鳴を防止することができる。
[0035] 本実施形態では、拡声空間 40において共鳴周波数を検出し、また、検出された共 鳴周波数のうちから、ディップフィルタ 4にディップの中心周波数として設定すべき周 波数を選択するのである力 まず最初に図 2〜26を参照しつつ、拡声空間 40におい て共鳴周波数を検出する方法'装置を説明する。
[0036] 図 2は、拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館) 40において振幅周波数特 性を測定するためのシステム Saの概略ブロック図である。このシステム Saは、測定用 信号を発する音源手段たる発信器 11と、この発信器 11が発する信号を入力して電力 増幅するアンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を入力して拡声するスピーカ 13と、ス ピー力 13が放射する拡声音を受音するマイクロホン 14と、マイクロホン 14の出力信号 を入力する測定器 15とを備える。マイクロホン 14は騒音計であってもよ 、。
[0037] スピーカ 13とマイクロホン 14とは、拡声空間 40内に配置されている。マイクロホン 14 は、スピーカ 13からの直接音に対して、拡声空間 40内における反射音を充分大きな レベルで受音できる位置に配置されて 、る。
[0038] 発信器 11は測定用信号として、周波数が時間的に変化するような正弦波信号を発 する。つまり発信器 11は、正弦波スイープ信号を発信する。この正弦波スイープ信号 では、周波数スイープ中の各時点において正弦波のレベルは一定である。
[0039] 測定器 15は、時間的に中心周波数が変化するようなバンドパスフィルタを有してい る。このバンドパスフィルタは、発信器 11が発信する正弦波スイープ信号の周波数の 時間的変化に対応して、中心周波数を時間的に変化させる。よって測定器 15は、マ イク口ホン 14の出力信号のレベルをこのバンドパスフィルタを介して検出することによ り、その時点における周波数の振幅特性を測定することができる。
[0040] 図 3は、拡声空間 40において振幅周波数特性を測定するためのシステム Sbの概略 ブロック図である。このシステム Sbは、図 2のシステム Saに、ある信号の合成のための 経路を付加しただけのものである。つまり図 3のシステム Sbは、測定用信号を発する 音源手段たる発信器 11と、ミキシング装置 16と、ミキシング装置 16の出力信号を入力 してこの信号を電力増幅するアンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を入力して拡声 するスピーカ 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音するマイクロホン 14と、マイク 口ホン 14の出力信号を入力する測定器 15とを備える。
[0041] スピーカ 13とマイクロホン 14とは、拡声空間 40内において、図 2のシステム Saにおけ ると同一の位置に配置されている。図 3のシステム Sbにおける、発信器 11、アンプ 12 、スピーカ 13、マイクロホン 14、測定器 15は、図 2のシステム Saにおけるこれら器機と 同一のものである。
[0042] 図 3のシステム Sbが図 2のシステム Saと相違する点は、図 2のシステム Saでは、アン プ 12が発信器 11からの信号を入力しているのに対し、図 3のシステム Sbでは、アンプ 12がミキシング装置 16からの信号を入力している点である。図 3のミキシング装置 16 は、発信器 11からの測定用信号 (正弦波スイープ信号)と、マイクロホン 14の出力信 号とを入力し、これら入力した信号を合成 (ミキシング)し、この合成信号 (ミキシング 信号)を出力する。
[0043] 図 4は、図 2のシステム Saによって測定された拡声空間 40の振幅周波数特性と、図 3のシステム Sbによって測定された拡声空間 40の振幅周波数特性とを模式的に示す 特性図である。図 4において実線で示す曲線 Caが、図 2のシステム Saによる振幅周 波数特性であり、破線で示す曲線 Cbが、図 3のシステム Sbによる振幅周波数特性で ある。
[0044] 図 2のシステム Saも図 3のシステム Sbも、多数の周波数ポイントにおける振幅値を 測定する。例えば測定対象となる周波数範囲において、 1Z192オクターブ間隔で 振幅値を測定する。この多点(多数の周波数ポイント)での測定値を周波数軸上で平 滑化せずに、拡声空間 40の振幅周波数特性として曲線 Ca,Cbに表しても良いし、何 らかの方法によって周波数軸上で平滑ィ匕して、曲線 Ca,Cbに表しても良い。このとき の平滑ィ匕の方法には種々ある力 例えば移動平均によって平滑ィ匕してもよい。例え ば、多数の周波数ポイントの測定値に対して周波数軸上で 9ポイントの移動平均を施 してもよい。なお、曲線 Caとして平滑ィ匕されたものを用いる場合は、曲線 Cbについて も平滑ィ匕されたものを用いるのが好ましい。この場合にはさらに、曲線 Caに関する平 滑ィ匕の方法と同一の平滑ィ匕の方法によって曲線 Cbを得ることが好ましい。例えば曲 線 Caを、周波数軸上での 9ポイントの移動平均により得るのであれば、曲線 Cbも、周 波数軸上での 9ポイントの移動平均により得るのが好ましい。
[0045] 図 4の実曲線 Caの振幅周波数特性は、アンプ 12とスピーカ 13とマイクロホン 14とに よる電気音響系の特性のみならず、拡声空間 40の共鳴の特性をも包含するものであ る。図 4の破曲線 Cbの振幅周波数特性も、アンプ 12とスピーカ 13とマイクロホン 14と による電気音響系の特性のみならず、拡声空間 40の共鳴の特性をも包含するもので ある力 マイクロホン 14の出力信号がアンプ 12に入力されてスピーカ 13から出力され るというフィードバックループにより、拡声空間 40の共鳴の特性が実曲線 Caの振幅周 波数特性よりも大きく強調されて表れて 、る。さらに図 4の破曲線 Cbの振幅周波数特 性には、マイクロホン 14の出力信号がアンプ 12に入力されてスピーカ 13から出力され ると 、うフィードバックループによる特性も含まれて 、る。両曲線 (実曲線 Caと破曲線 Cb)の差から、拡声空間 40の共鳴の特性とフィードバックの特性とを知ることができる
[0046] 図 5に示す周波数特性は、図 4の破曲線 Cbの特性力 実曲線 Caの特性を差し引 いた特性である。図 5の特性曲線 Dbにおいて正の方向にピークを示す周波数は、周 波数 fl、周波数 f21 および 周波数 f 3である。これらの正の方向にピークを示す周 波数は、共鳴周波数である力、または、フィードバック周波数である可能性が高い。 拡声空間 40における共鳴周波数の数は一のみとは限らず、複数である場合も多い。 また、フィードバック周波数の数も一のみとは限らず、複数である場合も多い。周波数 fl、 f21、 f3のうち、 1以上の周波数が共鳴周波数であり、 1以上の周波数がフィード バック周波数である可能性がある。
[0047] ここで言うフィードバック周波数は、図 3のシステム Sbにおけるフィードバック周波数 である。フィードバックループは、マイクロホン 14からスピーカ 13までの電気系の経路 と、スピーカ 13力もマイクロホン 14までの音響系の経路とによって構成される。マイクロ ホン 14は、拡声空間 40の音響特性を測定するための測定用マイクロホンである。従つ て、例えば、拡声空間 40に常設されるような電気音響システムにおけるディップフィル タに、このフィードバック周波数をディップ周波数として設定する必要はない。よって、 図 5における周波数 fl、周波数 f21および周波数 f3のうちのどの周波数が共鳴周波 数であるかを知ることが望ましい。つまり、共鳴周波数をフィードバック周波数とは区 別して検出することができることが望ましい。そのためには、さらに図 6に示すシステム Scによって測定を行うことが有効である。
[0048] 図 6は、拡声空間 40において振幅周波数特性を測定するためのシステム Scl、 Sc 2の概略ブロック図であり、 (a)にシステム Sclが、 (b)にシステム Sc2が示されている 。このシステム Scl、 Sc2は、図 3のシステム Sbに、ディレイ装置 17を付カ卩しただけの ものである。
[0049] つまり図 6のシステム Scl、 Sc2は、測定用信号を発する音源手段たる発信器 11と、 ミキシング装置 16と、信号を電力増幅するアンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を入 力して拡声するスピーカ 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音するマイクロホン 14と、マイクロホン 14の出力信号を入力する測定器 15と、ディレイ装置 17とを備える。
[0050] スピーカ 13とマイクロホン 14とは、拡声空間 40内において、図 2のシステム Saにおけ ると同一の位置に配置されている。図 6のシステム Scl、 Sc2における、発信器 11、ァ ンプ 12、スピーカ 13、マイクロホン 14、測定器 15は、図 2のシステム Saにおけるこれら 器機と同一のものである。これらの点で、図 6のシステム Scl、 Sc2は、図 3のシステム Sbと共通する。
[0051] 図 6のシステム Scl、 Sc2が図 3のシステム Sbと相違する点は次の点である。すなわ ち、図 3のシステム Sbでは、ミキシング装置 16は、発信器 11からの測定用信号 (正弦 波スイープ信号)と、マイクロホン 14の出力信号とを入力し、これら入力した信号を合 成 (ミキシング)し、この合成信号をアンプ 12に送出している。
[0052] これに対し、図 6 (a)のシステム Sclでは、発信器 11からの測定用信号 (正弦波スィ ープ信号)と、マイクロホン 14の出力信号との合成信号を、ディレイ装置 17で遅延させ てから、アンプ 12に入力している。
[0053] また、図 6 (b)のシステム Sc2では、ミキシング装置 16は、発信器 11力もの測定用信 号 (正弦波スイープ信号)と、マイクロホン 14の出力信号をディレイ装置 17で遅延させ た遅延信号とを入力し、これら入力した信号を合成 (ミキシング)し、この合成信号を アンプ 12に送出している。
[0054] いずれのシステム(システム Scl、 Sc2)においても、スピーカ 13からは、測定用信 号と、マイクロホン 14の出力信号をディレイ装置 17で遅延させた遅延信号とが拡声さ れる。
[0055] 図 7は、図 2のシステム Saによって測定された拡声空間 40の振幅周波数特性と、図 6のシステム Sclまたはシステム Sc2によって測定された拡声空間 40の振幅周波数 特性とを模式的に示す特性図である。厳密に言うと、図 6 (a)のシステム Sclで測定さ れる振幅周波数特性と、図 6 (b)のシステム Sc2で測定される振幅周波数特性は同 一ではな!/ヽが、ここではこれらを区另 IJすることなく説明する。
[0056] 図 7において実線で示す曲線 Caが、図 2のシステム Saによる振幅周波数特性であ り、破線で示す曲線 Ccが、図 6のシステム Scl、 Sc2による振幅周波数特性である。
[0057] 図 6のシステム Scl、 Sc2も、図 2のシステム Saや図 3のシステム Sbと同様に、多数 の周波数ポイントにおける振幅値を測定する。例えば測定対象となる周波数範囲に おいて、 1Z192オクターブ間隔で振幅値を測定する。この多点(多数の周波数ボイ ント)での測定値を周波数軸上で平滑化せずに、拡声空間 40の振幅周波数特性とし て曲線 Ca,Ccに表しても良いし、何らかの方法によって周波数軸上で平滑ィ匕して、 曲線 Ca,Ccに表しても良い。このときの平滑ィ匕の方法には種々ある力 例えば移動 平均によって平滑ィ匕してもよい。例えば、多数の周波数ポイントの測定値に対して周 波数軸上で 9ポイントの移動平均を施してもよい。なお、曲線 Caとして平滑ィ匕された ものを用いる場合は、曲線 Ccについても平滑ィ匕されたものを用いるのが好ましい。こ の場合にはさらに、曲線 Caに関する平滑ィ匕の方法と同一の平滑ィ匕の方法によって 曲線 Ccを得ることが好ま 、。
[0058] 前述したように、実曲線 Caの振幅周波数特性は、アンプ 12とスピーカ 13とマイクロ ホン 14とによる電気音響系の特性のみならず、拡声空間 40の共鳴の特性をも包含す るものである。
[0059] 図 6のシステム Scl、 Sc2は、マイクロホン 14の出力信号を遅延させた遅延信号が アンプ 12に入力されてスピーカ 13から出力されるというフィードバックループを含む。 図 7の破曲線 Ccの振幅周波数特性には、アンプ 12とスピーカ 13とマイクロホン 14とに よる電気音響系の特性が表れているのみならず、拡声空間 40の共鳴の特性が実曲 線 Caの振幅周波数特性よりも大きく強調されて表れて 、る。さらに図 7の破曲線 Cc の振幅周波数特性には、マイクロホン 14の出力信号を遅延させた遅延信号がアンプ 12に入力されてスピーカ 13から出力されるというフィードバックループにより、このフィ ードバックによる特性も含まれて 、る。
[0060] このように、拡声空間 40の共鳴の特性が大きく強調されて表れており、フィードバッ クによる特性も表れて 、ると 、う点にぉ 、て、図 7の破曲線 Ccは図 4の破曲線 Cbと共 通する。し力し、図 6のシステム Scl、 Sc2はディレイ装置 17を有するので、図 6のシス テム Scl、 Sc2のフィードバックループの構成は、図 3のシステム Sbのフィードバック ループの構成と同一ではない。よって、図 7の破曲線 Ccに表れるフィードバックによ る特性は、図 4の破曲線 Cbに表れるフィードバックによる特性と相違する。
[0061] 図 8に示す周波数特性は、図 7の破曲線 Ccの特性から実曲線 Caの特性を差し引 いた特性である。図 8において正の方向にピークを示す周波数は、周波数 fl、周波 数 f22 および 周波数 f 3である。これらの正の方向にピークを示す周波数は、共鳴 周波数であるか、フィードバック周波数である可能性が高 、。
[0062] ここで、図 5に示す特性と図 8に示す特性とを比較する。図 5の周波数特性は、周波 数 fl、周波数 f21 および 周波数 f 3において正の方向にピークを示し、図 8の周波 数特性は、周波数 fl、周波数 f22 および 周波数 f3において正の方向にピークを 示す。周波数 fl および 周波数 f3は、両図の周波数特性において共通に正の方 向にピークを示す周波数である。周波数 f 21は、図 5の周波数特性においてのみ、正 の方向にピークを示す周波数である。周波数 f 22は、図 8の周波数特性においての み、正の方向にピークを示す周波数である。
[0063] 前述したように、図 7の破曲線 Ccに表れるフィードバックによる特性は、図 4の破曲 線 Cbに表れるフィードバックによる特性と相違する。よって、図 5の周波数特性にお いてフィードバックに起因して正の方向にピークを示す周波数と、図 8の周波数特性 においてフィードバックに起因して正の方向にピークを示す周波数とは相違すると考 えることができる。
[0064] 一方、拡声空間 40の共鳴に起因して正の方向にピークを示す周波数は、図 5の周 波数特性においても図 8の周波数特性においても共通して表れると考えることができ る。
[0065] 以上のことから、周波数 flおよび周波数 f3が拡声空間 40の共鳴周波数であり、周 波数 f21が図 3のシステム Sbのフィードバックループに基づくフィードバック周波数で あり、周波数 f22が図 6のシステム Scl、 Sc2のフィードバックループに基づくフィード ノック周波数であると考えることができる。
[0066] よって、例えば図 1の音響システムにおいて、ディップフィルタ 4に対して、周波数 fl および周波数 f 3をディップの中心周波数として設定すればょ 、。
[0067] 上述の例では、図 3のシステム Sbにはディレイ装置が設けられていない。し力し、マ イク口ホン 14の出力信号に 0秒の遅延を施してミキシング装置 16に送出したと考える こともできる。そうすると、図 3のシステム Sbと図 6のシステム Scl、 Sc2の相違は、マイ クロホン 14の出力信号に対する遅延時間の相違であると考えることもできる。つまり、 図 3のシステム Sbにおいても、図 6のシステム Scl、 Sc2〖こおいても、マイクロホン 14 の出力信号に対して遅延を施して力 ミキシング装置 16に送出しているのであるが、 その遅延時間が図 3のシステム Sbと図 6のシステム Scl、 Sc2とで異なると考えること ができる。
[0068] さらには、図 6のシステム Scl、 Sc2におけるディレイ装置 17が、所定時間範囲にお いて任意に遅延時間を設定できる装置であれば、図 3のシステム Sbを用いることなく 、図 6のシステム Scl、 Sc2を用いて、共鳴周波数をフィードバック周波数と区別して 検出することができる。すなわち、図 6のシステム Scl、 Sc2における測定を 2回行うの である。但し 2回の測定において、ディレイ装置 17に設定する遅延時間が同一となら ないようにしなければならない。例えば、 1回目の測定では遅延時間を lm秒とし、 2 回目の測定では遅延時間を 2m秒としてもよい。また例えば、 1回目の測定では遅延 時間を Om秒とし、 2回目の測定では遅延時間を lm秒としてもよい。
[0069] 図 6のシステム Scl、 Sc2において、ディレイ装置 17に設定する遅延時間を変えると 、フィードバックループの構成も変わる。よって、上述したように、図 2のシステム Saに おける測定を 1回行い、図 6のシステム Scl、 Sc2における測定を 2回行うことによって も、共鳴周波数をフィードバック周波数と区別して検出することができるのである。
[0070] なお、 1回目の測定と 2回目の測定とで、遅延時間にどれだけの差 (時間差)を設け るかに関して、次のような方法をとることもできる。つまり、図 5において正の方向にピ ークを示す周波数 (例えば周波数 1)の周期に一致しな 、時間差を設けるようにする のである。
[0071] 例えば、 1回目の測定において 200Hzがフィードバック周波数であったとする。この ような場合、 1回目の測定における遅延時間と 2回目の測定における遅延時間との時 間差を、 200Hzの音波の周期である 5m秒にすると、 2回目の測定においても 200Hz 力 Sフィードバック周波数となってしまう。そうすると結局、 200Hzが共鳴周波数である の力、フィードバック周波数であるのかを判断できなくなる。
[0072] よって、 1回目の測定によって、共鳴周波数である可能性のある周波数(図 5におけ る周波数 fl、周波数 f21および周波数 f 3)を検出した後、 2回目の測定によってこれ ら周波数が共鳴周波数であるカ イードバック周波数であるかを判断するためには、 1回目の測定における遅延時間と 2回目の測定における遅延時間との間に、これら周 波数の周期に少なくとも一致しない時間差を設けるようにするのがよい。例えば、これ ら周波数の周期の 4分の 1の時間差を設けるようにするとよ 、。
[0073] 図 9は、本願発明に係る共鳴周波数検出装置の一実施形態たる検出装置 201,202 を含むシステム Sdl、 Sd2の概略ブロック図であり、図 9 (a)に検出装置 201、システム Sdl力示されており、図 9 (b)に検出装置 202、システム Sd2が示されている。
[0074] システム Sdl、 Sd2は、検出装置 201,202と、この検出装置 201,202が発する信号を 入力して電力増幅するアンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を入力して拡声するスピ 一力 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音するマイクロホン 14とを備える。検出 装置 201,202は、マイクロホン 14の出力信号を入力している。スピーカ 13とマイクロホ ン 14とは、拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館) 40内に配置されている。マ イク口ホン 14は、スピーカ 13からの直接音に対して、拡声空間 40内における反射音を 充分大きなレベルで受音できる位置に配置されて 、る。
[0075] 検出装置 201,202は、発信部 21と、測定'制御部 25と、ミキシング部 26と、開閉部 27 と、遅延時間可変型のディレイ装置 28とを備える。発信部 21は測定用信号を発する 音源手段として機能する。測定'制御部 25は、検出装置 201,202内の各部を制御する 制御手段として機能し、また、周波数特性の測定を行う測定手段としても機能する。 また、ディレイ装置 28は遅延手段として機能する。また、ミキシング部 26と開閉部 27と ディレイ装置 28とで、信号切換手段が構成されている。
[0076] このシステム Sdl、 Sd2では、検出装置 201,202において、測定.制御部 25が発信 部 21を制御して、発信部 21から測定用信号を出力させる。この測定用信号は、周波 数が時間的に変化するような正弦波信号、つまり正弦波スイープ信号である。この正 弦波スイープ信号では、周波数スイープ中の各時点において、正弦波のレベルは一 定である。
[0077] 図 6 (a)の検出装置 201においては、ミキシング部 26は、発信部 21からの信号と、開 閉部 27からの信号とを合成 (ミキシング)して、その合成信号 (ミキシング信号)を出力 する。この合成信号はディレイ装置 28で遅延させてから、アンプ 12に入力され、電力 増幅されてスピーカ 13に入力され、スピーカ 13から拡声音として拡声空間 40に放射さ れる。拡声空間 40内の音はマイクロホン 14で受音され、マイクロホン 14の出力信号は 、検出装置 201に入力される。検出装置 201においては、このマイクロホン 14の出力信 号が測定 ·制御部 25と開閉部 27とに分岐されて送出される。
[0078] 一方、図 6 (b)の検出装置 202においては、ミキシング部 26は、発信部 21からの信号 と、開閉部 27からの信号とを合成 (ミキシング)して、その合成信号 (ミキシング信号)を 出力する。ミキシング部 26の出力信号はアンプ 12で電力増幅されてスピーカ 13に入 力され、スピーカ 13から拡声音として拡声空間 40に放射される。拡声空間 40内の音 はマイクロホン 14で受音され、マイクロホン 14の出力信号は、検出装置 202に入力さ れる。検出装置 202においては、このマイクロホン 14の出力信号が測定'制御部 25と ディレイ装置 28とに分岐されて送出される。ディレイ装置 28の出力信号は開閉部 27に 送出される。
[0079] 検出装置 201,202においては、測定'制御部 25は、時間的に中心周波数が変化す るようなバンドパスフィルタを有している。このバンドパスフィルタは、発信部 21が発信 する正弦波スイープ信号の周波数の時間的変化に対応して、中心周波数を時間的 に変化させる。よって測定'制御部 25は、マイクロホン 14の出力信号のレベルをこの バンドパスフィルタを介して検出することにより、その時点における周波数の振幅特性 を測定することができる。
[0080] 測定'制御部 25は、開閉部 27の開閉を制御することができる。よって、開閉部 27を「 開」状態にして、発信部 21からの測定用信号のみをスピーカ 13から拡声させることも できるし、開閉部 27を「閉」状態にして、発信部 21からの測定用信号と、マイクロホン 14の出力信号の遅延信号とをスピーカ 13から拡声させることもできる。
[0081] また測定 ·制御部 25は、ディレイ装置 28に少なくとも 2通りの遅延時間を設定するこ とがでさる。
[0082] 例えば、ディレイ装置 28の遅延時間を、 Om秒と lm秒の 、ずれか一方に任意に設 定することができるようにしてもよいし、 lm秒と 2m秒のいずれか一方に任意に設定 することができるようにしてもよい。また、 Om秒、 lm秒および 2m秒のうちのいずれか に任意に設定することができるようにしてもょ 、。
[0083] 図 9のシステム Sdl、 Sd2において、開閉部 27を「開」状態にすれば、図 2のシステ ム Saが測定したと同様の振幅周波数特性を測定することができる。
[0084] 開閉部 27を「閉」状態にし、ディレイ装置 28の遅延時間を Om秒に設定すれば、図 3 のシステム Sbが測定したと同様の振幅周波数特性を測定することができる。
[0085] 開閉部 27を「閉」状態にし、ディレイ装置 28の遅延時間を 0以外の所定時間(例えば lm秒)に設定すれば、図 6のシステム Scl、 Sc2のディレイ装置 17に該所定時間(例 えば lm秒)を遅延時間として設定して測定したときと同様の振幅周波数特性を測定 することができる。
[0086] このようにして測定された振幅周波数特性から、フィードバック周波数とは区別して 、拡声空間 40の共鳴周波数を検出することができることは、前述したとおりである。測 定された振幅周波数特性力も共鳴周波数を検出するための演算は、すべて測定'制 御部 25によってなされる。
[0087] 以上では、システム Sdl、 Sd2において、ディレイ装置 28の遅延時間を Om秒と 0以 外の所定時間 (例えば lm秒)に設定して共鳴周波数と検出する手順を説明した。し かし、システム Sdl、 Sd2〖こおいて、ディレイ装置 28の遅延時間を 0以外の第 1の遅 延時間(例えば lm秒)と 0以外の第 2の遅延時間(例えば 2m秒)に設定して共鳴周 波数を検出することもできる。要は遅延時間を 2通りに切り換えることができればよい のである。そして、この 2通りの遅延時間のうちの一方が Om秒であってもよいし、両方 が 0以外の時間であってもよ!/、のである。
[0088] 図 10は、図 9の検出装置 201,202におけるディレイ装置 28として採用することのでき る構成の例を示す図である。図 9のディレイ装置 28 (遅延時間可変型のディレイ装置) として、図 10 (a)のようなディレイ装置 28aを採用してもよいし、図 10 (b)のようなディレ ィ装置 28bを採用してもょ 、。
[0089] 図 10 (a)のディレイ装置 28aは、切換スィッチ 29と、遅延時間が 0以外の所定時間( 例えば lm秒)に固定されたディレイ素子 50とを備える。切換スィッチ 29を切換制御 することにより、ディレイ装置 28aの遅延時間を Om秒と、該所定時間(例えば lm秒)と に切り換えることができる。
[0090] 図 10 (b)のディレイ装置 28bは、遅延時間を所定時間範囲で任意に設定できるディ レイ素子 51を備える。ディレイ素子 51の遅延時間を、例えば Om秒と lm秒とに切り換 え制御するようにしてもよいし、例えば lm秒と 2m秒とに切り換え制御するようにして ちょい。
[0091] 以上、拡声空間 40に配置されたマイクロホン 14の出力信号に遅延を施すことによつ て、共鳴周波数をフィードバック周波数から区別して検出する装置 ·方法を説明した [0092] 次に、拡声空間 40に配置されたマイクロホン 14の出力信号の位相を反転させること によって、共鳴周波数をフィードバック周波数力も区別して検出する装置 ·方法を説 明する。
[0093] 図 11は、拡声空間 40において振幅周波数特性を測定するためのシステム Sel、 S e2の概略ブロック図であり、図 11 (a)にはシステム Selが示されており、図 11 (b)に はシステム Se2が示されて!/、る。
[0094] このシステム Sel、 Se2は、図 3のシステム Sbに、位相反転装置 19を付加しただけ のものである。つまり図 11のシステム Sel、 Se2は、測定用信号を発する音源手段た る発信器 11と、ミキシング装置 16と、信号を電力増幅するアンプ 12と、このアンプ 12の 出力信号を入力して拡声するスピーカ 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音す るマイクロホン 14と、マイクロホン 14の出力信号を入力する測定器 15と、入力信号の 位相を反転させて出力する位相反転装置 19とを備える。
[0095] スピーカ 13とマイクロホン 14とは、拡声空間 40内において、図 2のシステム Saにおけ ると同一の位置に配置されている。図 11のシステム Sel、 Se2における、発信器 11、 アンプ 12、スピーカ 13、マイクロホン 14、測定器 15は、図 2のシステム Saにおけるこれ ら器機と同一のものである。これらの点で、図 11のシステム Sel、 Se2は、図 3のシス テム Sbと共通する。
[0096] 図 11のシステム Sel、 Se2が図 3のシステム Sbと相違する点は次の点である。すな わち、図 3のシステム Sbでは、ミキシング装置 16は、発信器 11からの測定用信号 (正 弦波スイープ信号)と、マイクロホン 14の出力信号とを入力し、これら入力した信号を 合成 (ミキシング)して力もアンプ 12に送出している。
[0097] これに対し、図 11 (a)のシステム Selでは、ミキシング装置 16は、発信器 11からの測 定用信号 (正弦波スイープ信号)と、マイクロホン 14の出力信号との合成信号を、位 相反転装置 19に入力して位相反転させてから、アンプ 12に送出している。
[0098] また図 11 (b)のシステム Se2では、ミキシング装置 16は、発信器 11からの測定用信 号 (正弦波スイープ信号)と、マイクロホン 14の出力信号を入力した位相反転装置 19 の出力信号とを入力し、これら入力した信号を合成 (ミキシング)し、この合成信号を アンプ 12に送出している。 [0099] いずれのシステム(システム Sel、 Se2)においても、スピーカ 13からは、測定用信号 と、マイクロホン 14の出力信号の位相を反転させた位相反転信号とが拡声される。
[0100] 図 12は、図 2のシステム Saによって測定された拡声空間 40の振幅周波数特性と、 図 11のシステム Sel、 Se2によって測定された拡声空間 40の振幅周波数特性とを模 式的に示す特性図である。厳密に言うと、図 11 (a)のシステム Selで測定される振幅 周波数特性と、図 11 (b)のシステム Se2で測定される振幅周波数特性は同一ではな いが、ここではこれらを区別することなく説明する。図 12において実線で示す曲線 Ca 1S 図 2のシステム Saによる振幅周波数特性であり、破線で示す曲線 Ceが、図 11の システム Sel、 Se2による振幅周波数特性である。
[0101] 図 11のシステム Sel、 Se2も、図 2のシステム Saや図 3のシステム Sbと同様に、多 数の周波数ポイントにおける振幅値を測定する。例えば測定対象となる周波数範囲 において、 1Z192オクターブ間隔で振幅値を測定する。この多点(多数の周波数ポ イント)での測定値を周波数軸上で平滑化せずに、拡声空間 40の振幅周波数特性と して曲線 Ca,Ceに表しても良いし、何らかの方法によって周波数軸上で平滑ィ匕して、 曲線 Ca,Ceに表しても良い。このときの平滑ィ匕の方法には種々ある力 例えば移動 平均によって平滑ィ匕してもよい。例えば、多数の周波数ポイントの測定値に対して周 波数軸上で 9ポイントの移動平均を施してもよい。なお、曲線 Caとして平滑ィ匕された ものを用いる場合は、曲線 Ceについても平滑ィ匕されたものを用いるのが好ましい。こ の場合にはさらに、曲線 Caに関する平滑ィ匕の方法と同一の平滑ィ匕の方法によって 曲線 Ceを得ることが好ま U、。
[0102] 前述したように、実曲線 Caの振幅周波数特性は、アンプ 12とスピーカ 13とマイクロ ホン 14とによる電気音響系の特性のみならず、拡声空間 40の共鳴の特性をも包含す るものである。
[0103] 図 11のシステム Sel、 Se2は、マイクロホン 14の出力信号の位相反転信号がアンプ 12に入力されてスピーカ 13から出力されるというフィードバックループを含む。よって 、図 12の破曲線 Ceの振幅周波数特性には、アンプ 12とスピーカ 13とマイクロホン 14 とによる電気音響系の特性が表れているのみならず、拡声空間 40の共鳴の特性が実 曲線 Caの振幅周波数特性よりも大きく強調されて表れて!/、る。さらに図 12の破曲線 Ceの振幅周波数特性には、マイクロホン 14の出力信号の位相反転信号がアンプ 12 に入力されてスピーカ 13から出力されるというフィードバックループにより、このフィー ドバックによる特性も含まれて 、る。
[0104] このように、拡声空間 40の共鳴の特性が大きく強調されて表れており、フィードバッ クによる特性も表れているという点において、図 12の破曲線 Ceは図 4の破曲線 Cbと 共通する。し力し、図 11のシステム Sel,Se2は位相反転装置 19を有するため、図 11 のシステム Sel、 Se2のフィードバックループの構成は、図 3のシステム Sbのフィード バックループの構成と同一ではない。よって、図 12の破曲線 Ceに表れるフィードバッ クによる特性は、図 4の破曲線 Cbに表れるフィードバックによる特性と相違する。
[0105] 図 13に示す周波数特性は、図 12の破曲線 Ceの特性から実曲線 Caの特性を差し 引いた特性である。図 13において正の方向にピークを示す周波数は、周波数 fl、周 波数 f23 および 周波数 f 3である。これらの正の方向にピークを示す周波数は、共 鳴周波数であるか、フィードバック周波数である可能性が高 、。
[0106] ここで、図 5に示す特性と図 13に示す特性とを比較する。図 5の周波数特性は、周 波数 fl、周波数 f21 および 周波数 f3において正の方向にピークを示し、図 13の 周波数特性は、周波数 fl、周波数 f23 および 周波数 f3において正の方向にピー クを示す。周波数 fl および 周波数 f3は、両図の周波数特性において共通に正の 方向にピークを示す周波数である。周波数 f 21は、図 5の周波数特性においてのみ、 正の方向にピークを示す周波数である。周波数 f23は、図 13の周波数特性において のみ、正の方向にピークを示す周波数である。
[0107] 図 11のシステム Sel、 Se2のフィードバックループの構成は、図 3のシステム Sbのフ イードバックループの構成と異なる。よって、図 12の破曲線 Ceに表れるフィードバック による特性は、図 4の破曲線 Cbに表れるフィードバックによる特性と相違する。よって 、図 5の周波数特性においてフィードバックに起因して正の方向にピークを示す周波 数と、図 13の周波数特性においてフィードバックに起因して正の方向にピークを示 す周波数とは相違すると考えることができる。
[0108] 一方、拡声空間 40の共鳴に起因して正の方向にピークを示す周波数は、図 5の周 波数特性においても図 13の周波数特性においても共通して表れると考えることがで きる。
[0109] 以上のことから、周波数 flおよび周波数 f3が拡声空間 40の共鳴周波数であり、周 波数 f21が図 3のシステム Sbのフィードバックループに基づくフィードバック周波数で あり、周波数 f23が図 11のシステム Sel、 Se2のフィードバックループに基づくフィー ドバック周波数であると考えることができる。
[0110] よって、例えば図 1の音響システムにおいて、ディップフィルタ 4に対して、周波数 fl および周波数 f 3をディップの中心周波数として設定すればょ 、。
[0111] 図 14は、本願発明に係る共鳴周波数検出装置の一実施形態たる検出装置
301,302を含むシステム Sfl、 Sf2の概略ブロック図であり、図 14 (a)には検出装置 301、システム Sflが示されており、図 14 (b)には検出装置 302、システム Sf2が示さ れている。
[0112] このシステム Sfl、 Sf2は、検出装置 301,302と、この検出装置 301,302が発する信号 を入力して電力増幅するアンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を入力して拡声するス ピー力 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音するマイクロホン 14とを備える。検出 装置 301,302は、マイクロホン 14の出力信号を入力している。スピーカ 13とマイクロホ ン 14とは、拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館) 40内に配置されている。マ イク口ホン 14は、スピーカ 13からの直接音に対して、拡声空間 40内における反射音を 充分大きなレベルで受音できる位置に配置されて 、る。
[0113] 検出装置 301,302は、発信部 21と、測定'制御部 25と、ミキシング部 26と、開閉部 27 と、切換スィッチ 31と位相反転装置 32とを備える。発信部 21は測定用信号を発する音 源手段として機能する。測定'制御部 25は、検出装置 301,302内の各部を制御する制 御手段として機能し、また、周波数特性の測定を行う測定手段としても機能する。ま た、位相反転装置 32が位相反転手段として機能する。また、ミキシング部 26と開閉部 27と切換スィッチ 31と位相反転装置 32とで、信号切換手段が構成されている。
[0114] このシステム Sfl、 Sf2では、検出装置 301,302において、測定.制御部 25が発信部 21を制御して、発信部 21から測定用信号を出力させる。この測定用信号は、周波数 が時間的に変化するような正弦波信号、つまり正弦波スイープ信号である。この正弦 波スイープ信号では、周波数スイープ中の各時点において、正弦波のレベルは一定 である。
[0115] ミキシング部 26は、発信部 21からの信号と、開閉部 27からの信号とを合成 (ミキシン グ)して、その合成信号 (ミキシング信号)を出力する。アンプ 12に入力された信号は 電力増幅されてスピーカ 13に入力され、スピーカ 13から拡声音として拡声空間 40に 放射される。拡声空間 40内の音はマイクロホン 14で受音され、マイクロホン 14の出力 信号は、検出装置 301,302に入力される。
[0116] 図 14 (a)の検出装置 301においては、このマイクロホン 14の出力信号が測定.制御 部 25と、開閉器 27に分岐されて送出される。また、ミキシング部 26の出力信号力 位 相反転装置 32と、切換スィッチ 31とに分岐されて送出される。位相反転装置 32の出 力信号も切換スィッチ 31に送出される。そして、切換スィッチ 31からの信号がアンプ 12に入力される。
[0117] 図 14 (b)の検出装置 302においては、マイクロホン 14の出力信号が測定.制御部 25 と、位相反転装置 32と、切換スィッチ 31とに分岐されて送出される。位相反転装置 32 の出力信号は切換スィッチ 31に送出される。切換スィッチ 31は開閉部 27に接続され ている。そして、ミキシング部 26の出力信号がアンプ 12に入力される。
[0118] 検出装置 301,302の測定'制御部 25は、時間的に中心周波数が変化するようなバン ドパスフィルタを有している。このバンドパスフィルタは、発信部 21が発信する正弦波 スイープ信号の周波数の時間的変化に対応して、中心周波数を時間的に変化させ る。よって測定'制御部 25は、マイクロホン 14の出力信号のレベルをこのバンドパスフ ィルタを介して検出することにより、その時点における周波数の振幅特性を測定する ことができる。
[0119] 測定'制御部 25は、開閉部 27の開閉を制御することができる。よって、開閉部 27を「 開」状態にして、発信部 21からの測定用信号のみをスピーカ 13から拡声させることも できるし、開閉部 27を「閉」状態にして、発信部 21からの測定用信号とマイクロホンの 出力信号とをスピーカ 13から拡声させることもできる。
[0120] また測定 ·制御部 25は、切換スィッチ 31の状態を制御することができる。よって、マイ クロホン 14の出力信号を位相を反転させずにスピーカ 13力 拡声させる力、マイクロ ホン 14の出力信号を位相反転装置 32を通過させることによってその位相を反転させ てからスピーカ 13から拡声させるかを選択できる。
[0121] 開閉部 27を「開」状態にすれば、図 2のシステム Saが測定したと同様の振幅周波数 特性を測定することができる。
[0122] 開閉部 27を「閉」状態にし、かつ、マイクロホン 14の出力信号を位相反転させること なくスピーカ 13力 拡声させるように切換スィッチ 31の状態を設定すると、図 3のシス テム Sbが測定したと同様の振幅周波数特性を測定することができる。
[0123] 開閉部 27を「閉」状態にし、かつ、マイクロホン 14の出力信号を位相反転させてから スピーカ 13力 拡声させるように切換スィッチ 31の状態を設定すると、図 11のシステ ム Sel、Se2が測定したと同様の振幅周波数特性を測定することができる。
[0124] このようにして測定された振幅周波数特性から、フィードバック周波数とは区別して
、拡声空間 40の共鳴周波数を検出することができることは、前述したとおりである。測 定された振幅周波数特性力も共鳴周波数を検出するための演算は、すべて測定'制 御部 25によってなされる。
[0125] 以上、拡声空間 40に配置されたマイクロホン 14力もの出力信号の位相を反転させ ることによって、共鳴周波数をフィードバック周波数から区別して検出する装置 ·方法 を説明した。
[0126] 上記した装置 ·方法 (図 1〜図 14を参照しつつ説明した装置 '方法)では、発信器 又は発信部が測定用信号としての正弦波スイープ信号を発信するようにした。しかし 、測定用信号としては、正弦波スイープ信号に限らず種々の信号を用いることができ る。例えば、所定周波数幅内に成分を有するノイズ信号であって、その中心周波数 がスイープするような信号を用いることもできる。この場合、該周波数幅は 1Z3ォクタ ーブ以下とするのが好ましい。また 1Z6オクターブ以下とするのがより好ましい。また 、測定用信号として例えばピンクノイズを用いることもできる。この場合はもちろん、測 定器 (測定手段)は、時間的に中心周波数が変化するようなバンドパスフィルタを有 する必要はない。
[0127] 次に、拡声空間に配置されたスピーカから、基準周波数信号を出力することにより、 共鳴周波数を検出する装置'方法を説明する。
[0128] 図 15は、拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館) 40において共鳴周波数を 検出するためのシステムおよび検出装置(共鳴周波数検出装置)の概略ブロック図 である。
[0129] 図 15のシステム Sgは、測定用信号を発する音源手段たる発信器 111と、この発信 器 111が発する信号を入力して電力増幅するアンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を 入力して拡声するスピーカ 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音するマイクロホ ン 14と、マイクロホン 14の出力信号を入力する測定.制御部 115とを備える。マイクロホ ン 14は騒音計であってもよい。測定 ·制御部 115は、発信器 111を制御する。つまり、 発信器 111が出力する測定用信号の周波数や、測定用信号の時間間隔を制御する ことができる。測定 ·制御部 115は、マイクロホン 14の出力信号の減衰特性を測定する 測定手段としても機能する。発信器 111と測定,制御部 115とによって、検出装置 400 が構成されている。
[0130] スピーカ 13とマイクロホン 14とは、拡声空間 40内に配置されている。マイクロホン 14 は、スピーカ 13からの直接音に対して、拡声空間 40内における反射音を充分大きな レベルで受音できる位置に配置されて 、る。
[0131] システム Sgの発信器 111が出力する測定用信号は、基準周波数信号が断続的に 複数回繰り返される信号である。ここでの基準周波数信号とは、特定周波数の正弦 波信号又は特定周波数を中心とした所定周波数幅内に成分を有する信号である。 特定周波数を中心とした所定周波数幅内に成分を有する信号とは、例えば、 200Hz を中心に 1/3オクターブ幅の周波数成分を有するノイズ信号などである。このような基 準周波数信号を用いると、暗騒音等のノイズの影響を受けにくくなり、信頼性の高い 測定が可能となる。
[0132] 図 16は、上述した測定用信号の信号レベルを時間軸上に表した図である。例えば 特定周波数である 200Hzの正弦波力 0. 1秒間持続して出力され、その後 0. 9秒の 時間間隔を置いて再度 0. 1秒間持続して出力され、さらに 0. 9秒の時間間隔を置い て再度 0. 1秒間持続して出力される。つまり、 1秒間隔で断続的に 3回、 0. 1秒間持 続する 200Hzの正弦波が出力されるのである。
[0133] なお、図 16に示すように、この実施例では、 0. 1秒間持続する 200Hzの正弦波が 、等時間間隔で複数回出力されるようにしているが、必ずしも等時間間隔で出力する 必要はない。例えば、所定時間持続する特定周波数の正弦波が、ランダムな時間間 隔で複数回出力されるようにしてもよい。
[0134] 図 17は、マイクロホン 14で測定された音圧レベルを時間軸上に表した図である。図 16に示す測定用信号に同期するように、 1秒間隔で 3つのピーク点が生じている。し かし、音圧レベルの減衰は早い。このように拡声空間において音圧レベルの減衰が 早い場合は、測定用信号の特定周波数(200Hz)は共鳴周波数ではないと考えられ る。
[0135] 図 18は、 250Hzの特定周波数を有する測定用信号を図 15のシステム Sgのスピー 力 13から出力させたときに、マイクロホン 14で測定される音圧レベルを時間軸上に表 した図である。発信器 111から、 250Hzを特定周波数とする基準周波数信号が、 0. 1 秒間持続して出力され、その後 0. 9秒の時間間隔を置いて再度 0. 1秒間持続して 出力され、さらに 0. 9秒の時間間隔を置いて再度 0. 1秒間持続して出力される。つ まり、 1秒間隔で断続的に 3回、 0. 1秒間持続する 250Hzの正弦波が出力される。
[0136] 図 18から理解されるように、拡声空間 40内で測定された音圧レベルにおいて、測 定用信号に同期するように、 1秒間隔で 3つのピーク点が生じている。音圧レベルの 減衰は緩やかである。このように拡声空間 40において音圧レベルの減衰が緩やかで ある場合は、測定用信号の特定周波数(250Hz)が拡声空間 40の共鳴周波数である 可能性があると考えられる。
[0137] このように、拡声空間 40における音圧レベルの減衰特性から共鳴周波数を判断す るのであれば、基準周波数信号を必ずしも複数回スピーカ 13から放射する必要はな い。例えば数秒間持続する基準周波数信号を 1回だけスピーカ 13カゝら放射し、拡声 空間 40内における音圧レベルの減衰特性から共鳴周波数を判断することもできる。 例えば、所定速度よりもゆっくりと減衰するか否かによって判断することもできる。
[0138] また、拡声空間 40における音圧レベルの減衰が緩やかである力急速であるかを判 断するには、例えば、図 18のように音圧レベルを時間軸上に表した図上において、 その音圧レベル曲線で囲まれたエリアの面積を算出することにより判断してもよい。 つまり、その面積が小さければ音圧レベルの減衰が急速であり、その面積が大きけれ ば音圧レベルの減衰が緩やかであると判断するのである。 [0139] 図 19は、 300Hzの特定周波数を有する測定用信号を図 15のシステム Sgのスピー 力 13から出力させたときに、マイクロホン 14で測定される音圧レベルを時間軸上に表 した図である。発信器 111から、 300Hzを特定周波数とする基準周波数信号が、 0. 1 秒間持続して出力され、その後 0. 9秒の時間間隔を置いて再度 0. 1秒間持続して 出力され、さらに 0. 9秒の時間間隔を置いて再度 0. 1秒間持続して出力される。つ まり、 1秒間隔で断続的に 3回、 0. 1秒間持続する 300Hzの正弦波が出力される。
[0140] 図 19から理解されるように、拡声空間 40内で測定された音圧レベルにおいて、測 定用信号に同期するように、 1秒間隔で 3つのピーク点が生じている。音圧レベルの 減衰は緩やかである。し力も、 1回目のピークからの減衰よりも 2回目のピーク力もの 減衰の方が緩やかであり、 2回目のピークからの減衰よりも 3回目のピークからの減衰 の方が緩やかである。このように、減衰が段々と緩やかになるのは、前回に出力され た拡声音のエネルギーが次の拡声音が出力されるまで拡声空間 40内に十分に残つ ているためであると考えられる。このような場合は、測定用信号の特定周波数(300 Hz)が拡声空間 40の共鳴周波数である可能性が高 、と考えられる。
[0141] 測定 ·制御部 115によって、測定用信号の特定周波数を徐々に変化させながら、拡 声空間 40の音圧レベルの減衰過程の状態を判断することにより、拡声空間 40の共鳴 周波数を検出することができる。測定用信号の特定周波数を徐々に変化させる形態 の一つとして、例えば、特定周波数を 48分の 1オクターブづっ段階的に上昇させるよ うな形態を採用することができる。
[0142] 図 20は、拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館) 40において共鳴周波数を 検出するためのシステムおよび検出装置(共鳴周波数検出装置)の概略ブロック図 である。
[0143] 図 20のシステム Shも、図 15のシステム Sgと同様に、測定用信号を発する音源手段 たる発信器 111と、アンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を入力して拡声するスピーカ 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音するマイクロホン 14と、マイクロホン 14の出 力信号を入力する測定,制御部 115とを備える。測定,制御部 115は、発信器 111が出 力する測定用信号の周波数や、測定用信号の時間間隔を制御することができる。測 定 ·制御部 115は、マイクロホン 14の出力信号の減衰特性を測定する測定手段として も機能する。
[0144] 検出装置 500は、発信器 111と、測定'制御部 115と、ミキシング装置 116とで構成さ れている。
[0145] 図 20のシステム Shが図 15のシステム Sgと相違する点は、図 20のシステム Shでは 、発信器 111からの測定用信号とマイクロホン 14の出力信号とがミキシング装置 116で ミキシング (合成)され、この合成信号がアンプ 12に送出される点である。ミキシング装 置 116は、信号出力手段として機能する。このようなフィードバックループを設けると、 拡声空間 40の共鳴がより強調されて測定されることは、前述したとおりである。
[0146] 図 20のシステム Shによっても、図 15のシステム Sgと同様に、拡声空間 40の共鳴周 波数を検出することができる。し力も、図 15のシステム Sgを使用したときよりも、より明 確に共鳴周波数を検出できる。
[0147] 図 21は、拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館) 40において共鳴周波数を 検出するためのシステムおよび検出装置(共鳴周波数検出装置)の概略ブロック図 であり、図 21 (a)はシステム Sil、検出装置 601を示し、図 21 (b)はシステム Si2、検出 装置 602を示す。
[0148] 図 21のシステム Sil、 Si2も、図 15のシステム Sgと同様に、測定用信号を発する音 源手段たる発信器 111と、アンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を入力して拡声する スピーカ 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音するマイクロホン 14と、マイクロホ ン 14の出力信号を入力する測定 ·制御部 115とを備える。測定 ·制御部 115は、発信 器 111が出力する測定用信号の周波数や、測定用信号の時間間隔を制御することが できる。測定 ·制御部 115は、マイクロホン 14の出力信号の減衰特性を測定する測定 手段としても機能する。
[0149] 図 21 (a)のシステム Silにおいては、検出装置 601は、発信器 111と、測定'制御部 115と、ミキシング部 116と、ディレイ装置 128とで構成される。発信器 111からの測定用 信号と、検出装置 601が入力したマイクロホン 14の出力信号とが、ミキシング部 116で 合成され、その合成信号がディレイ装置 128を介して、検出装置 601から出力される。 検出装置 601の出力信号はアンプ 12に送出される。また、検出装置 601が入力したマ イク口ホン 14の出力信号は、測定 ·制御部 115とミキシング部 116とに分岐して送出さ れる。
[0150] 図 21 (b)のシステム Si2においては、検出装置 602は、発信器 111と、測定'制御部 115と、ミキシング部 116と、ディレイ装置 128とで構成される。発信器 111からの測定用 信号と、ディレイ装置 128の出力信号がミキシング部 116で合成され、その合成信号が 検出装置 601から出力される。検出装置 601が入力したマイクロホン 14の出力信号は 、ディレイ装置 128と測定 ·制御部 115とに分岐して送出される。
[0151] 図 21のシステム Sil、 Si2が図 15のシステム Sgと相違する点は、図 21のシステム Si 1、 Si2では、スピーカ 13から、発信器 111からの測定用信号が拡声されるとともに、デ ィレイ装置 128を通過したマイクロホン 14の出力信号が拡声される点である。このよう なフィードバックループを設けると、拡声空間 40の共鳴がより強調されて測定されるこ とは、前述したとおりである。なお、システム Sil、 Si2の検出装置 601,602においては 、ミキシング部 116とディレイ装置 128とで、信号出力手段が構成されている。
[0152] ディレイ装置 128は、測定 ·制御部 115によって制御される。すなわち、測定 ·制御部 115は、ディレイ装置 128の遅延時間を所定時間範囲内において任意に設定できる。 例えば、ディレイ装置 128は、ディレイ装置 128の遅延時間を Om秒に設定することもで きるし、 lm秒に設定することもできるし、 2m秒に設定することもできる。
[0153] このシステム Sil、 Si2による測定においても、発振器 111から、例えば特定周波数 である 250Hzの正弦波を、 0. 1秒間持続して出力させ、その後 0. 9秒の時間間隔を 置いて再度 0. 1秒間持続して出力させ、さらに 0. 9秒の時間間隔を置いて再度 0. 1 秒間持続して出力させるようにしてもよい。つまり、 1秒間隔で断続的に 3回、 0. 1秒 間持続する 250Hzの正弦波を出力させるのである。
[0154] 図 22は、上記のような測定用信号を検出装置 601,602の発振器 111から出力させた ときに、マイクロホン 14で測定される音圧レベルを時間軸上に表した図である。ただし 、このときにはディレイ装置 128の遅延時間を Om秒に設定している。
[0155] 図 22から理解されるように、音圧レベル曲線には、測定用信号に同期するように、 1 秒間隔で 3つのピーク点が生じている。音圧レベルの減衰は緩やかである。このよう に拡声空間において音圧レベルの減衰が緩やかである場合は、測定用信号の特定 周波数(250Hz)が拡声空間 40の共鳴周波数である可能性があると考えられる。しか し、この特定周波数(250Hz)力 共鳴周波数ではなぐフィードバック周波数である 可能性もある。特定周波数(250Hz)力 フィードバック周波数であったとしても、音圧 レベルの減衰は緩やかになる。
[0156] そこで、この特定周波数(250Hz)が共鳴周波数であるの力、フィードバック周波数で あるのかを判断するために、ディレイ装置 128の遅延時間を変化させながら、同様の 測定を行う。発振器 111は、 0. 1秒間持続する 250Hzの正弦波を断続的に 3回出力 するのであるが、 1回目の出力に同期させて拡声空間 40の音圧レベルを測定すると きにはディレイ装置 128の遅延時間を例えば Om秒に設定し、 2回目の出力に同期さ せて拡声空間 40の音圧レベルを測定するときにはディレイ装置 128の遅延時間を例 えば lm秒に設定し、 3回目の出力に同期させて拡声空間 40の音圧レベルを測定す るときにはディレイ装置 128の遅延時間を例えば 2m秒に設定するのである。
[0157] 共鳴周波数は拡声空間 40の特徴のみによって定まるのであるから、フィードバック ループの構成が変化しても変化しない。特定周波数(250Hz)が共鳴周波数であれ ば、ディレイ装置 128の遅延時間を変化させても、拡声空間 40内で測定される音圧レ ベルの減衰の速度は変化しな 、。
[0158] し力しフィードバック周波数は、フィードバックループの構成が変化すると変化する。
ディレイ装置 128の遅延時間を変化させると、フィードバックループの構成が変化する 。よって、特定周波数(250Hz)が、ディレイ装置 128の遅延時間を Om秒に設定したと きのフィードバック周波数であれば、ディレイ装置 128の遅延時間を変化させると、拡 声空間 40内で測定される音圧レベルの減衰の速度も変化する。
[0159] 図 23は、上記のようにディレイ装置 128の遅延時間を変化させながら、上記のような 測定用信号を発振器 111から出力させたときに、マイクロホン 14で測定される音圧レ ベルを時間軸上に表した図である。厳密に言うと、図 21 (a)のシステム Silで測定さ れる音圧レベル曲線と、図 21 (b)のシステム Si2で測定される音圧レベル曲線は同 一ではな!/ヽが、ここではこれらを区另 IJすることなく説明する。
[0160] 図 23から理解されるように、音圧レベル曲線には、測定用信号に同期するように、 1 秒間隔で 3つのピーク点が生じて 、る。発振器 111からの 1回目の出力に対応する拡 声空間 40の音圧レベルは緩やかに減衰している。 2回目の出力に対応する拡声空 間 40の音圧レベルは比較的速く減衰している。 3回目の出力に対応する拡声空間 40 の音圧レベルはやや緩やかに減衰して 、る。
[0161] このように、ディレイ装置 128の遅延時間を変化させることによって、拡声空間 40の
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、るので、測定用信号の特定周波数(250Hz) は、共鳴周波数ではな 、と判断することができる。
[0162] 測定 ·制御部 115によって、測定用信号の特定周波数を徐々に変化させながら、拡 声空間 40の音圧レベルの減衰過程の状態を上記のように判断することにより、拡声 空間 40の共鳴周波数をフィードバック周波数と区別して検出することができる。
[0163] 図 24は、拡声空間(例えば、コンサートホールや体育館) 40において共鳴周波数を 検出するためのシステムおよび検出装置(共鳴周波数検出装置)の概略ブロック図 であり、図 24 (a)にはシステム Sj l、検出装置 701が示されており、図 24 (b)にはシス テム Sj2、検出装置 702が示されている。
[0164] 図 24のシステム Sj l、 Sj2も、図 15のシステム Sgと同様に、測定用信号を発する音 源手段たる発信器 111と、アンプ 12と、このアンプ 12の出力信号を入力して拡声する スピーカ 13と、スピーカ 13が放射する拡声音を受音するマイクロホン 14と、マイクロホ ン 14の出力信号を入力する測定 ·制御部 115とを備える。測定 ·制御部 115は、発信 器 111が出力する測定用信号の周波数や、測定用信号の時間間隔を制御することが できる。測定 ·制御部 115は、マイクロホン 14の出力信号の減衰特性を測定する測定 手段としても機能する。
[0165] 図 24 (a)の検出装置 701は、音源手段としての発信器 111と、測定 ·制御部 115と、ミ キシング部 116と、切換スィッチ 131と位相反転装置 132とを備える。この検出装置 701 においては、マイクロホン 14の出力信号が、測定'制御部 115と、ミキシング部 116とに 分岐されて送出される。ミキシング部 116には発信器 111からの測定用信号も入力さ れる。ミキシング部 116でマイクロホン 14の出力信号と発信器 111からの測定用信号と が合成され、この合成信号力 位相反転装置 132と、切換スィッチ 131とに分岐されて 送出される。位相反転装置 132の出力信号も切換スィッチ 131に送出される。そして、 切換スィッチ 131からの信号がアンプ 12に送出される。
[0166] 図 24 (b)の検出装置 702は、音源手段としての発信器 111と、測定'制御部 115と、ミ キシング部 116と、切換スィッチ 131と位相反転装置 132とを備える。この検出装置 702 においては、マイクロホン 14の出力信号が、測定'制御部 115と、位相反転装置 132と 、切換スィッチ 131とに分岐されて送出される。位相反転装置 132の出力信号は切換 スィッチ 131に送出される。切換スィッチ 31の出力信号は、ミキシング部 116に送出さ れる。ミキシング部 116には発信器 111からの測定用信号も入力される。ミキシング部 116で発信器 111からの測定用信号と切換スィッチ 131からの信号とが合成され、この 合成信号がアンプ 12に送出される。
[0167] システム Sj l、 Sj2においては、スピーカ 13から、測定用信号が拡声される。また、ス ピー力 13からは、マイクロホン 14の出力信号が、または、このマイクロホン 14の出力信 号を位相反転させた位相反転信号が拡声される。なお、システム ¾1、 ¾2の検出装 置 701, 702においては、ミキシング部 116と切換スィッチ 131と位相反転装置 132とで、 信号出力手段が構成されている。
[0168] スピーカ 13から、マイクロホン 14の出力信号を位相反転させずに拡声させる力 位 相反転させてカも拡声させるかは、切換スィッチ 131を切り換えることにより選択できる 。切換スィッチ 131は、測定.制御部 115によって制御される。よって測定.制御部 115 は、スピーカ 13から、マイクロホン 14の出力信号を位相反転させずに拡声させるか、 位相反転させて力 拡声させるかを選択できる。
[0169] システム Sj l、 Sj2もフィードバックループを含むのである力 このようなフィードバッ クループを設けると拡声空間 40の共鳴がより強調されて測定されることは、前述したと おりである。
[0170] マイクロホン 14の出力信号を位相反転させずにスピーカ 13から拡声させるように切 換スィッチ 131を設定したときと、マイクロホン 14の出力信号を位相反転させてからス ピー力 13カも拡声させるように切換スィッチ 131を設定したときとでは、フィードバック ループの構成が異なる。
[0171] このシステム ¾1、 ¾2による測定においても、発振器 111から、例えば特定周波数 である 250Hzの正弦波を、 0. 1秒間持続して出力させ、その後 0. 9秒の時間間隔を 置いて再度 0. 1秒間持続して出力させ、さらに 0. 9秒の時間間隔を置いて再度 0. 1 秒間持続して出力させるようにしてもよい。つまり、 1秒間隔で断続的に 3回、 0. 1秒 間持続する 250Hzの正弦波を出力させるのである。
[0172] 図 25は、システム ¾ 1、 ¾2において、上記のような測定用信号を発振器 111から出 力させたときに、マイクロホン 14で測定される音圧レベルを時間軸上に表した図であ る。ただしこのときには、マイクロホン 14の出力信号を位相を反転させずにスピーカ 13 カも拡声させることができるように、切換スィッチ 131の状態が設定されている。
[0173] 図 25から理解されるように、音圧レベル曲線には、測定用信号に同期するように、 1 秒間隔で 3つのピーク点が生じて 、る。音圧レベルの減衰は緩やかである。
[0174] 前述したように、拡声空間において音圧レベルの減衰が緩やかである場合は、測 定用信号の特定周波数(250Hz)が拡声空間 40の共鳴周波数である可能性があると 考えられるが、この特定周波数(250Hz)力 共鳴周波数ではなぐフィードバック周 波数である可能性もある。特定周波数(250Hz)力 フィードバック周波数であつたと しても、音圧レベルの減衰は緩やかになる。
[0175] そこで、この特定周波数(250Hz)が共鳴周波数であるの力、フィードバック周波数で あるのかを判断するために、切換スィッチ 131を切り換えながら、同様の測定を行う。 発振器 111は、 0. 1秒間持続する 250Hzの正弦波を断続的に 3回出力するのである 力 例えば、 1回目の出力に同期して拡声空間 40の音圧レベルを測定するときには、 マイクロホン 14の出力信号を位相を反転させずにスピーカ 13で拡声することができる 状態に切換スィッチ 131を設定し、 2回目の出力に同期して拡声空間 40の音圧レべ ルを測定するときには、マイクロホン 14の出力信号を位相反転装置 132で位相反転さ せてからスピーカ 13で拡声することができる状態に切換スィッチ 131を設定し、 3回目 の出力に同期して拡声空間 40の音圧レベルを測定するときには、マイクロホン 14の 出力信号を位相を反転させずにスピーカ 13で拡声することができる状態に切換スイツ チ 131を設定する。
[0176] 前述したように、共鳴周波数は拡声空間 40の特徴のみによって定まるのであり、フィ ードバックループの構成が変化しても変化しない。特定周波数(250Hz)が共鳴周波 数であれば、フィードバックループの構成が変化しても拡声空間 40の音圧レベルの 減衰の速度は変化しない。
[0177] し力し、前述したとおり、フィードバック周波数は、フィードバックループの構成の変 化によって変化する。マイクロホン 14の出力信号を位相反転させないようなフィードバ ックループと、マイクロホン 14の出力信号を位相反転させるようなフィードバックルー プとは、その構成が異なる。よって、特定周波数(250Hz)力 マイクロホン 14の出力 信号を位相反転させないようなフィードバックループに起因するフィードバック周波数 であれば、フィードバックループの構成を、マイクロホン 14の出力信号を位相反転さ せるようなものに変化させると、拡声空間 40の音圧レベルの減衰の速度も変化する。
[0178] 図 26は、システム Sj l、 Sj2において、切換スィッチ 131を切り換えながら、上記のよ うな測定用信号を発振器 111から出力させたときに、マイクロホン 14で測定された音圧 レベルを時間軸上に表した図である。厳密に言うと、図 24 (a)のシステム Sj lで測定 される音圧レベル曲線と、図 24 (b)のシステム Sj 2で測定される音圧レベル曲線は同 一ではな!/ヽが、ここではこれらを区另 IJすることなく説明する。
[0179] 図 26から理解されるように、音圧レベル曲線には、測定用信号に同期するように、 1 秒間隔で 3つのピーク点が生じて 、る。発振器 111からの 1回目の出力に同期して拡 声空間 40の音圧レベルを測定したとき、音圧レベルは緩やかに減衰している。 2回目 の出力に同期して拡声空間 40の音圧レベルを測定したとき、音圧レベルは急速に減 衰している。 3回目の出力に同期して拡声空間 40の音圧レベルを測定したとき、音圧 レベルは緩やかに減衰して!/、る。
[0180] このように、マイクロホン 14の出力信号を位相反転させてスピーカ 13で拡声させるか 、位相反転させずにスピーカ 13で拡声させるかによつて、拡声空間 40の音圧レベル の減衰の速度が変化しているので、測定用信号の特定周波数(250Hz)は、共鳴周 波数ではな 、と判断することができる。
[0181] 測定 ·制御部 115によって、測定用信号の特定周波数を徐々に変化させながら、拡 声空間 40の音圧レベルの減衰過程の状態を上記のように判断することにより、拡声 空間 40の共鳴周波数をフィードバック周波数と区別して検出することができる。
[0182] 以上、図 1〜26を参照しつつ、拡声空間 40における共鳴周波数を検出するための 種々の装置'方法を説明した。
[0183] 次に、このようにして検出された共鳴周波数のうちから、ディップフィルタ 4 (図 1参照 )にディップの中心周波数として設定すべき周波数を選択する方法を説明する。 [0184] 先に、図 2のシステム Saと図 3のシステム Sbとを用いた測定により、図 4に示すような 周波数特性と図 5に示すような周波数特性とが得られることを説明した。さらに、図 5 の特性曲線 Dbにおいて正の方向にピークを示す周波数である、周波数 fl、周波数 f 21 および 周波数 f3が、共鳴周波数である力、フィードバック周波数である可能性 が高いということを説明した。
[0185] 以下、説明を簡明にするために、これらの周波数 (周波数 fl、周波数 f21 および 周波数 f3)の全てが共鳴周波数であることを前提として、ディップフィルタ 4 (図 1参照 )にディップの中心周波数として設定すべき周波数をどのようにして選択するかを説 明する。
[0186] まず、周波数 fl、周波数 f21 および 周波数 f 3の内力も所定数の周波数を、ディ ップフィルタ 4に除去周波数として設定すべきディップの中心周波数の候補として選
[0187] 具体的には、これら周波数の内から、図 4における曲線 Cbの振幅レベルが大きなも のから順番に、候補の周波数を選ぶ。
[0188] 図 27は、図 4から曲線 Cbのみを取り出した特性図である。図 27においては縦軸、 横軸とも対数軸であり、縦軸は振幅レベルを横軸は周波数を示す。図 27の曲線 Cb では、周波数 f 21における振幅レベルが最も大きぐ f 3における振幅レベルがその次 に大きぐ flにおける振幅レベルがその次に大きい。ここで、候補として選ぶ周波数 の数を「3」とするのであれば、周波数 fl、周波数 f21、周波数 f3のすべてが、候補の 周波数となる。また、候補として選ぶ周波数の数を「2」とするのであれば、周波数 f21 、周波数 f3が候補の周波数となる。
[0189] そして、図 27の曲線 Cbの振幅レベルの大きさに基づく優先順位によって、ディップ フィルタ 4に設定すべきディップの中心周波数を決定してもよい。よって、図 1のデイツ プフィルタ 4に設定すべきディップの数力 例えば「2」であれば、周波数 f21と周波数 f3とを、ディップフィルタ 4のディップの中心周波数として設定する。また例えば、図 1 のディップフィルタ 4に設定すべきディップの数が「1」であれば、周波数 f 21のみをデ イッブフィルタ 4のディップの中心周波数として設定する。
[0190] このように、図 27の曲線 Cbの振幅レベルの大きさに基づく優先順位によって、ディ ップフィルタ 4に設定すべきディップの中心周波数を最終的に決定してもよいが、図 2 7の曲線 Cbの振幅レベルの大きさに基づく優先順位によってディップフィルタ 4に設 定すべき複数のディップの中心周波数の候補を選んだ上で、さらに図 5の曲線 Dbに おける振幅レベルの大きさに基づ 、て、候補(ディップフィルタに設定すべきディップ の中心周波数の候補)の順位を付け替えても良 、。
[0191] 今、図 27の曲線 Cbの振幅レベルの大きさに基づく選択によって、周波数 fl、周波 数 f21、周波数 f3のすべてが候補の周波数となっているとする。次に、これら候補の 周波数 (周波数 fl,f21,f3)に候補の順位を付け替える。順位は、図 5の振幅周波数 特性曲線 Dbにおける振幅レベルが大きいものから高く付けるようにする。周波数 fl,f 21,f3のうち、図 5の曲線 Dbにおける振幅レベルが最も大きいのは周波数 f3であり、 その次に振幅レベルが大きいのは周波数 f21であり、その次に振幅レベルが大きい のは周波数 flである。よって、周波数 f3が第 1候補の周波数となり、周波数 f21が第 2候補の周波数となり、周波数 flが第 3候補の周波数となる。
[0192] 図 1のディップフィルタ 4に設定すべきディップの数力 例えば「2」であれば、周波 数 f3と周波数 f21とを、ディップフィルタ 4のディップの中心周波数として設定する。ま た例えば、図 1のディップフィルタ 4に設定すべきディップの数力「l」であれば、周波 数 f3のみをディップフィルタ 4のディップの中心周波数として設定する。
[0193] このようにして、経験や熟練を必要とせず、ディップフィルタ 4に設定すべきディップ の中心周波数を客観的に選択することができる。そうすることによって、図 1の拡声空 間 40における共鳴を有効に防止することができる。
[0194] なお、図 27の曲線 Cbの振幅レベルの大きさに基づく優先順位によってディップフィ ルタ 4に設定すべき複数のディップの中心周波数の候補を選んだ上で、さらに図 5の 曲線 Dbにおける振幅レベルの大きさに基づいて、候補(ディップフィルタに設定すベ きディップの中心周波数の候補)の順位を付け替えたのは次の理由による。すなわち 、図 27の曲線 Cbは拡声空間 40の共鳴による特性のみならず、電気音響系(アンプ 12、スピーカ 13、マイクロホン 14等力 なる系)の振幅周波数特性をも包含しており、 拡声空間 40の共鳴の特性のみならず、電気音響系の振幅周波数特性にも大きく依 存した特性となっている。これに対して図 5の曲線 Dbは、拡声空間 40の共鳴による特 性が顕著に表れており、電気音響系の振幅周波数特性の影響は小さい。よって、図 5の曲線 Dbにおける振幅レベルの大きさに基づいてディップフィルタ 4に設定すべき ディップの中心周波数を最終的に決定した方が、拡声空間 40の共鳴防止のために はより効果的なのである。
[0195] ディップフィルタに設定すべきディップの数や検出された共鳴周波数の数がより多 数である場合にも、上記の共鳴周波数選択方法は有効である。例えば、検出された 共鳴周波数が 200以上ある場合に、図 27の曲線 Cbにおいて振幅レベルの大きなも のから 120の周波数を候補として残し、残りの周波数は候補から除外するようにして もよい。そしてさらに、この 120の周波数に対して図 5の曲線 Dbにおける振幅レベル の大きさに基づ 、て候補の順位を付け替え、付け替えられた順位にぉ 、て上位の 8 位までの周波数をディップフィルタにディップの中心周波数として設定するようにして ちょい。
[0196] 以上、図 1〜27に基づいて、本願発明の実施形態を説明した。
[0197] 上記実施形態では、音響設備が配される拡声空間における共鳴周波数の検出に、 本願発明の共鳴周波数検出方法およびその装置を適用する例を示したが、本願発 明の共鳴周波数検出方法およびその装置はこのような拡声空間のみならず、共鳴周 波数検出が必要となるあらゆる空間(拡声空間)に適用できる。例えば、液体タンク内 の液体充填量を知るために、該タンクにおいて液体で充たされない空間の容積を、 共鳴周波数を検出することによって測定する技術にも適用できる。
[0198] 上記説明から、当業者にとっては、本発明の多くの改良や他の実施形態が明らか である。従って、上記説明は、例示としてのみ解釈されるべきであり、本発明を実行 する最良の態様を当業者に教示する目的で提供されたものである。本発明の精神を 逸脱することなぐその構造及び Z又は機能の詳細を実質的に変更できる。
産業上の利用可能性
[0199] 本願発明によれば、経験や熟練を必要とせず、正確に共鳴周波数を検出すること ができ、また、ディップフィルタにディップの中心周波数として設定すべき周波数を適 切に選択できる。よって、例えば電気音響の技術分野において有益である。

Claims

請求の範囲
[1] 基本振幅周波数特性を測定する基本工程と、第 1振幅周波数特性を測定する第 1 工程と、第 2振幅周波数特性を測定する第 2工程とを備え、
該基本振幅周波数特性は、共鳴空間に配置されたスピーカから所定の測定用信 号を拡声させて、該共鳴空間に配置されたマイクロホンによって受音して得られる振 幅周波数特性であり、
該第 1振幅周波数特性は、該スピーカから、該測定用信号と、該マイクロホンの出 力信号を 0以上の第 1遅延時間で遅延させた第 1遅延信号とを拡声させて、該マイク 口ホンによって受音して得られる振幅周波数特性であり、
該第 2振幅周波数特性は、該スピーカから、該測定用信号と、該マイクロホンの出 力信号を 0以上の第 2遅延時間で遅延させた第 2遅延信号とを拡声させて、該マイク 口ホンによって受音して得られる振幅周波数特性であり、
該第 2遅延時間は該第 1遅延時間と異なる遅延時間であり、
該基本振幅周波数特性と該第 1振幅周波数特性と該第 2振幅周波数特性とに基 づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する、共鳴周波数検出方法。
[2] 該第 1遅延時間又は該第 2遅延時間が 0である、請求項 1記載の共鳴周波数検出 方法。
[3] 基本振幅周波数特性を測定する基本工程と、第 1振幅周波数特性を測定する第 1 工程と、第 2振幅周波数特性を測定する第 2工程とを備え、
該基本振幅周波数特性は、共鳴空間に配置されたスピーカから所定の測定用信 号を拡声させて、該共鳴空間に配置されたマイクロホンによって受音して得られる振 幅周波数特性であり、
該第 1振幅周波数特性は、該スピーカから、該測定用信号と、該マイクロホンの出 力信号とを拡声させて、該マイクロホンによって受音して得られる振幅周波数特性で あり、
該第 2振幅周波数特性は、該スピーカから、該測定用信号と、該マイクロホンの出 力信号の位相を反転させた位相反転信号とを拡声させて、該マイクロホンによって受 音して得られる振幅周波数特性であり、 該基本振幅周波数特性と該第 1振幅周波数特性と該第 2振幅周波数特性とに基 づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する、共鳴周波数検出方法。
[4] 該基本振幅周波数特性と該第 1振幅周波数特性との差分から、該基本振幅周波 数特性に比べて該第 1振幅周波数特性の方が振幅が大きいピーク点の周波数を第
1群周波数として検出し、
該基本振幅周波数特性と該第 2振幅周波数特性との差分から、該基本振幅周波 数特性に比べて該第 2振幅周波数特性の方が振幅が大きいピーク点の周波数を第
2群周波数として検出し、
該第 1群周波数と該第 2群周波数とに共通して含まれる周波数を共鳴周波数として 検出する、請求項 1乃至 3のいずれか一の項に記載の共鳴周波検出方法。
[5] 該測定用信号が、正弦波スイープ信号、所定周波数幅内に成分を有し中心周波 数がスイープするノイズ信号、又は、ピンクノイズである、請求項 1乃至 4のいずれか 一の項に記載の共鳴周波数検出方法。
[6] 請求項 1乃至 5のいずれか一の項に記載の共鳴周波数検出方法によって複数の 共鳴周波数を検出し、この検出された複数の共鳴周波数のうちから、ディップフィル タに設定すべきディップの中心周波数を、該第 1振幅周波数特性又は該第 2振幅周 波数特性の振幅レベルの大きなものカゝら選択する、共鳴周波数選択方法。
[7] 請求項 6記載の共鳴周波数選択方法によって複数の共鳴周波数を選択し、この選 択された複数の共鳴周波数のうちから、ディップフィルタに設定すべきディップの中 心周波数を、該第 1振幅周波数特性又は該第 2振幅周波数特性力 該基本振幅周 波数特性を差し引いた振幅周波数特性における振幅レベルが大きなもの力 優先 的に選択する、共鳴周波数選択方法。
[8] 共鳴空間に配置されたスピーカから、所定時間持続する基準周波数信号を拡声さ せて、該共鳴空間に配置されたマイクロホンによって受音し、該マイクロホンの出力 信号の減衰特性を測定する減衰特性測定工程を備え、
該減衰特性に基づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する共鳴周波数検出方 法であって、
該基準周波数信号が、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所 定周波数幅内に成分を有する信号である、共鳴周波数検出方法。
[9] 共鳴空間に配置されたスピーカから、所定時間持続する基準周波数信号と、該共 鳴空間に配置されたマイクロホンの出力信号とを拡声させて、該マイクロホンによって 受音し、該マイクロホンの出力信号の減衰特性を測定する減衰特性測定工程を備え 該減衰特性に基づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する共鳴周波数検出方 法であって、
該基準周波数信号が、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所 定周波数幅内に成分を有する信号である、共鳴周波数検出方法。
[10] 該減衰特性から得られる減衰速度が、所定の減衰速度よりも遅いとき、該基準周波 数信号の特定周波数を該共鳴周波数と判断する、請求項 8又は 9記載の共鳴周波 数検出方法。
[11] 共鳴空間に配置されたスピーカから、断続的に複数回繰り返される基準周波数信 号と、該共鳴空間に配置されたマイクロホンの出力信号を 0以上の遅延時間で遅延 させた遅延信号とを拡声させて、該マイクロホンによって受音し、該マイクロホンの出 力信号の減衰特性を測定する減衰特性測定工程を備え、
該減衰特性に基づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する共鳴周波数検出方 法であって、
該基準周波数信号の断続的な繰り返しに同期して、該遅延時間が変化し、 該基準周波数信号が、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所 定周波数幅内に成分を有する信号である、共鳴周波数検出方法。
[12] 該遅延時間の変化に起因して該減衰特性が変化する力否かを判断し、該遅延時 間の変化に起因して該減衰特性が変化すると判断したときは、該基準周波数信号の 特定周波数を共鳴周波数とは判断しない、請求項 11記載の共鳴周波数検出方法。
[13] 共鳴空間に配置されたスピーカから、断続的に複数回繰り返される基準周波数信 号と、該共鳴空間に配置されたマイクロホンの出力信号とを拡声させる第 1拡声状態 、または、該断続的に複数回繰り返される基準周波数信号と、該共鳴空間に配置さ れたマイクロホンの出力信号の位相を反転させた位相反転信号とを拡声させる第 2 拡声状態を選択し、該マイクロホンによって受音し、該マイクロホンの出力信号の減 衰特性を測定する減衰特性測定工程を備え、
該減衰特性に基づいて、該共鳴空間の共鳴周波数を検出する共鳴周波数検出方 法であって、
該基準周波数信号の断続的な繰り返しに同期して、拡声状態が、該第 1拡声状態 から該第 2拡声状態へ、または、該第 2拡声状態から該第 1拡声状態へ変更され、 該基準周波数信号が、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所 定周波数幅内に成分を有する信号である、共鳴周波数検出方法。
[14] 該拡声状態の変更に起因して該減衰特性が変化する力否かを判断し、
該拡声状態の変更に起因して該減衰特性が変化すると判断したときは、該基準周 波数信号の特定周波数を共鳴周波数とは判断しない、請求項 13記載の共鳴周波 数検出方法。
[15] 該基準周波数信号の特定周波数を変化させつつ、該減衰特性測定工程が複数回 繰り返される、請求項 8乃至 14のいずれか一の項に記載の共鳴周波数検出方法。
[16] 音源手段と、信号切換手段と、測定手段とを備え、
該音源手段は測定用信号を発生し、
該信号切換手段は、該音源手段からの測定用信号と、マイクロホンからの出力信 号を入力可能であり、
該信号切換手段はその状態を、該測定用信号をスピーカで拡声させるために出力 する基本状態と、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を 0以上の第 1遅延時 間で遅延させた第 1遅延信号とを該スピーカで拡声させるために出力する第 1状態と 、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を 0以上の第 2遅延時間で遅延させた 第 2遅延信号とを該スピーカで拡声させるために出力する第 2状態とに切り換え可能 であり、
該第 2遅延時間は該第 1遅延時間とは異なる遅延時間であり、
該測定手段は該マイクロホンの出力信号力 振幅周波数特性を測定可能であり、 該測定手段が、該信号切換手段の状態が基本状態に設定されたときに測定した基 本振幅周波数特性と、該信号切換手段の状態が第 1状態に設定されたときに測定し た第 1振幅周波数特性との比較 および 該基本振幅周波数特性と、該信号切換手 段の状態が第 2状態に設定されたときに測定した第 2振幅周波数特性との比較に基 づいて、共鳴周波数を検出する、共鳴周波数検出装置。
[17] 該第 1遅延時間又は該第 2遅延時間が 0である、請求項 16記載の共鳴周波数検出 装置。
[18] 音源手段と、信号切換手段と、測定手段とを備え、
該音源手段は測定用信号を発生し、
該信号切換手段は、該音源手段からの測定用信号と、マイクロホンからの出力信 号を入力可能であり、
該信号切換手段はその状態を、該測定用信号をスピーカで拡声させるために出力 する基本状態と、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号とを該スピーカで拡声 させるために出力する第 1状態と、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を位 相反転させた位相反転信号とを該スピーカで拡声させるために出力する第 2状態と に切り換え可能であり、
該測定手段は該マイクロホンの出力信号力 振幅周波数特性を測定可能であり、 該測定手段が、該信号切換手段の状態が基本状態に設定されたときに測定した基 本振幅周波数特性と、該信号切換手段の状態が第 1状態に設定されたときに測定し た第 1振幅周波数特性との比較 および 該基本振幅周波数特性と、該信号切換手 段の状態が第 2状態に設定されたときに測定した第 2振幅周波数特性との比較に基 づいて、共鳴周波数を検出する、共鳴周波数検出装置。
[19] 該測定手段は、該基本振幅周波数特性と該第 1振幅周波数特性との差分から、該 基本振幅周波数特性に比べて該第 1振幅周波数特性の方が振幅が大きいピーク点 の周波数を第 1群周波数として検出し、
該基本振幅周波数特性と該第 2振幅周波数特性との差分から、該基本振幅周波 数特性に比べて該第 2振幅周波数特性の方が振幅が大きいピーク点の周波数を第 2群周波数として検出し、
該第 1群周波数と該第 2群周波数とに共通して含まれる周波数を共鳴周波数として 検出する、請求項 16乃至 18のいずれか一の項に記載の共鳴周波検出装置。
[20] 該測定用信号が、正弦波スイープ信号、所定周波数幅内に成分を有し中心周波 数がスイープするノイズ信号、又は、ピンクノイズである、請求項 16乃至 19のいずれ か一の項に記載の共鳴周波数検出装置。
[21] 音源手段と、測定手段とを備え、
該音源手段は測定用信号を発生して出力することができ、
該測定用信号は、所定時間持続する基準周波数信号であり、
該基準周波数信号は、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所 定周波数幅内に成分を有する信号であり、
該測定手段は、マイクロホンの出力信号を入力可能であり、
該測定手段は、該マイクロホンの出力信号の減衰特性を測定し、該減衰特性に基 づいて、共鳴周波数を検出する、共鳴周波数検出装置。
[22] 音源手段と、信号出力手段と、測定手段とを備え、
該音源手段は測定用信号を発生し、
該測定用信号は、所定時間持続する基準周波数信号であり、
該基準周波数信号は、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所 定周波数幅内に成分を有する信号であり、
該信号出力手段は、該音源手段からの測定用信号と、マイクロホンの出力信号を 入力可能であり、
該信号出力手段は、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号とをスピーカで拡 声させるために出力可能であり、
該測定手段は、該マイクロホンの出力信号を入力可能であり、
該測定手段は、該マイクロホンの出力信号の減衰特性を測定し、該減衰特性に基 づいて、共鳴周波数を検出する、共鳴周波数検出装置。
[23] 該測定手段は、該減衰特性から得られる減衰速度が所定の減衰速度よりも遅!ヽか 否かを判断し、該減衰特性から得られる減衰速度が該所定の減衰速度よりも遅 ヽと 判断したとき、該基準周波数信号の特定周波数を該共鳴周波数と判断する、請求項
21又は 22記載の共鳴周波数検出装置。
[24] 音源手段と、信号出力手段と、測定手段とを備え、 該音源手段は測定用信号を発生し、
該測定用信号は、断続的に複数回繰り返される基準周波数信号であり、 該基準周波数信号は、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所 定周波数幅内に成分を有する信号であり、
該信号出力手段は、該音源手段からの測定用信号と、マイクロホンの出力信号とを 入力可能であり、
該信号出力手段は、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号を 0以上の遅延 時間で遅延させた遅延信号とをスピーカで拡声させるために出力可能であり、 該信号出力手段は、該基準周波数信号の断続的な繰り返しに同期して該遅延時 間を変化させ、
該測定手段は、該マイクロホンの出力信号を入力可能であり、
該測定手段は、該マイクロホンの出力信号の減衰特性を測定し、該減衰特性に基 づいて、共鳴周波数を検出する、共鳴周波数検出装置。
[25] 該測定手段は、該遅延時間の変化に起因して該減衰特性が変化するか否かを判 断し、該遅延時間の変化に起因して該減衰特性が変化すると判断したときは、該基 準周波数信号の特定周波数を共鳴周波数とは判断しな 、、請求項 24記載の共鳴 周波数検出装置。
[26] 音源手段と、信号出力手段と、測定手段とを備え、
該音源手段は測定用信号を発生し、
該測定用信号は、断続的に複数回繰り返される基準周波数信号であり、 該基準周波数信号は、特定周波数の正弦波信号又は特定周波数を中心とした所 定周波数幅内に成分を有する信号であり、
該信号出力手段は、該音源手段からの測定用信号と、マイクロホンの出力信号とを 入力可能であり、
該信号出力手段はその状態を、該測定用信号と、該マイクロホンの出力信号とをス ピー力で拡声させるために出力する第 1出力状態、または、該測定用信号と、該マイ クロホンの出力信号の位相を反転させた位相反転信号とを該スピーカで拡声させる ために出力する第 2出力状態に、選択的に設定可能であり、 該信号出力手段の状態は、該基準周波数信号の断続的な繰り返しに同期して、該 第 1出力状態から該第 2出力状態へ、または、該第 2出力状態から該第 1出力状態へ 変更され、
該測定手段は、該マイクロホンの出力信号を入力可能であり、
該測定手段は、該マイクロホンの出力信号の減衰特性を測定し、該減衰特性に基 づいて、共鳴周波数を検出する、共鳴周波数検出装置。
[27] 該測定手段は、該信号出力手段の状態の変更に起因して該減衰特性が変化する か否かを判断し、該信号出力手段の状態の変更に起因して該減衰特性が変化する と判断したときは、該基準周波数信号の特定周波数を共鳴周波数とは判断しない、 請求項 26記載の共鳴周波数検出装置。
[28] 該音源手段が、該基準周波数信号の特定周波数を変化させつつ、測定用信号を 複数回発生し、
該複数回の測定用信号の発生の度に、該測定手段が共鳴周波数を検出する、請 求項 21乃至 27のいずれか一の項に記載の共鳴周波数検出装置。
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