WO2005091363A1 - ヒートシンク基板とその製造方法 - Google Patents

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WO2005091363A1
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heat
substrate
coupling
linear expansion
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Kouji Harada
Hiroatsu Tokuda
Kazuo Ojima
Masayuki Kobayashi
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Hitachi, Ltd.
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

Definitions

  • the present invention relates to a heat sink substrate and a method of manufacturing the same, and more particularly to a heat sink substrate suitable for mounting an electronic component generating a large amount of heat and, in particular, for an electric vehicle or a power module for mounting a semiconductor component, and a method of manufacturing the same.
  • a heat sink substrate on which a semiconductor component, which is an electronic component generating a large amount of heat, is mounted is basically made of copper (Cu), and is generally formed of a single plate.
  • Cu copper
  • This type was inexpensive because only one heat sink substrate was required, and the heat dissipation was good because of the copper material when viewed from the material side.
  • Cu copper material
  • ppmZ 16.6
  • a copper-molybdenum (Cu-Mo) composite material with a small linear expansion coefficient of 9.2 (ppm / ° C) and relatively good heat dissipation is used instead of copper material. It is also known to form a heat sink substrate.
  • Patent Document 1 Japanese Unexamined Patent Application Publication No. Hei 8-186204 discloses a mounting portion made of a material similar to the coefficient of thermal expansion of a semiconductor element and excellent heat conduction and heat dissipation characteristics. It discloses that a heat sink substrate provided with a heat dissipating member made of a different material, and in which the mounting member and the heat dissipating member are integrated by infiltration bonding by heating.
  • Patent Document 2 Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-777678 discloses that a hole is provided at a predetermined position in a base material formed of a nickel-iron alloy, and a heat dissipation member made of a copper-based metal is provided in the hole. It is disclosed to form an integrated heat sink substrate by embedding by screwing or press fitting.
  • the heat sink substrate composed of a plurality of members described above must be in close contact with a heat source in order to efficiently release heat. Therefore, for example, when the heat source is a semiconductor, product accuracy such as flatness is required in order to mount the semiconductor by soldering.
  • Patent Document 1 there is a problem that the joining method using heat, such as welding or brazing, has low joining accuracy due to thermal deformation or the like and requires machining of necessary parts such as soldering surfaces after joining. Atsuta. It was also disadvantageous in terms of energy loss due to the use of heat and material yield.
  • the adhesiveness of the fastening portion between the base material and the heat dissipating member is low, and the effective screw length is small when the thickness is small such as a heat sink substrate.
  • the press-fitting is applied with a deformation pressure due to the press-fitting of the heat dissipating member, which is a soft material, so that it is difficult to obtain flatness. In some cases, flat finishing is required, and there is no demerit in productivity and cost.
  • An object of the present invention is to provide a heat sink substrate having high product accuracy and excellent productivity, and a method for manufacturing the same. Disclosure of the invention The present invention provides a heat sink substrate formed by joining a first heat sink with a second heat sink having a smaller linear expansion coefficient than the heat sink,
  • the second heat sink is achieved by a chip member on which a semiconductor component is mounted.
  • the first heat sink is achieved by forming a plastic coupling pressing groove on the coupling surface of the fitting boundary and receiving the second heat sink material.
  • the first heat sink is made of a Cu-based material.
  • the second heat sink is achieved by consisting of a Cu-Mo composite. According to the present invention, it is preferable that the second heat sink is formed by exposing the X-edge portion around the entire periphery by the concave indentation due to the plastic flow coupling.
  • the second heat sink is achieved by fixing the semiconductor component by soldering.
  • the present invention preferably achieves the following because plastic flow bonding is performed between the inner peripheral surface of the first heat sink and the outer peripheral surface of the second heat sink via a thermally conductive paste or wax. You.
  • the present invention preferably achieves ⁇ Plastic flow bonding between the bottom surface of the first heat sink and the lower surface of the second heat sink via a thermally conductive paste or a plastic.
  • the present invention relates to a method for manufacturing a heat sink substrate, comprising a first heat sink and a second heat sink having a smaller linear expansion coefficient than the heat sink.
  • the second heat sink is fitted into a fitting hole provided in the first heat sink, and then the first heat sink is brought into contact with the second heat sink by a coupling punch descending along an outer peripheral wall of the second heat sink. This is achieved by locally plastically deforming the members around the heat sink to cause plastic flow coupling.
  • the second heat sink is fitted into the first heat sink fitting hole, and the first heat sink at the fitting boundary is formed as a heat sink substrate that is plastically deformed and coupled to the second heat sink.
  • the connection between the two members can be performed at room temperature, and a heat sink substrate made of a composite member with high planar accuracy can be easily and reliably provided.
  • the first heat sink is fitted with the second heat sink, and then the first heat sink is brought into contact with the second heat sink by a coupling punch descending along the outer peripheral wall of the second heat sink. Since the heat sink substrate is obtained by locally plastically deforming the material around the heat sink and performing plastic flow bonding, the plastic bonding press groove (near the second heat sink (chip) formed at the time of bonding) is obtained. Indentations can be prevented from occurring when mounting semiconductors without using special jigs, and a highly productive heat sink for mounting heat-generating components can be provided.
  • FIG. 1 is a perspective view of a heat sink substrate showing one embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a partial longitudinal sectional view of FIG.
  • FIG. 3 is a longitudinal sectional view of one embodiment of a power module structure according to the present invention.
  • FIG. 4 is a perspective view of a first heat sink constituting the present invention.
  • FIG. 5 is a perspective view of a second heat sink constituting the present invention.
  • FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing a fitted state of members before a heat sink is connected according to the manufacturing method of the present invention.
  • FIG. 7 is a vertical cross-sectional view of a heat sink according to the manufacturing method of the present invention just before coupling.
  • FIG. 8 is a longitudinal sectional view of the heat sink according to the manufacturing method of the present invention at the time of completion of the press-fitting.
  • FIG. 9 is a perspective view of a heat sink substrate according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a vertical cross-sectional view of a heat sink according to a third embodiment of the present invention at the time of completion of the pressure connection.
  • FIG. 11 is a vertical cross-sectional view of a heat sink according to a fourth embodiment of the present invention at the time of completion of press-fitting.
  • the present invention is not limited to the present embodiment, but is widely applied to a heat sink substrate on which a heat-generating component is mounted.
  • FIG. 1 is a perspective view of an embodiment of a heat sink structure according to the present invention
  • FIG. 2 is an enlarged longitudinal sectional view of a main part of FIG. 1
  • FIG. 3 is a longitudinal sectional view of a power module having a semiconductor mounted on a heat sink. It is.
  • the heat sink substrate 1 shown in FIGS. 1 and 2 has a smaller linear expansion coefficient than the plate-like first heat sink 2 made of a copper (Cu) material and Cu such as a Cu—Mo composite material. It comprises a second heat sink 3 made of a material.
  • Cu copper
  • Mo copper
  • the first heat sink 2 has a plurality of through holes 3 according to the mounted components.
  • the second heat sink 3 which is a disc-shaped tip member, is fitted into the hole 3 and is plastically deformed and integrated. As shown in FIG. 2, the second heat sink 3 is fitted to the first heat sink 2 so that the mounting surface 5 of the electronic component is flush with the first heat sink 2, and the first heat sink near the fitting boundary The entire circumference of the member 3 is pressed to plastically couple the two members.
  • FIG. 3 shows a mounting state in which semiconductor components are mounted on the second heat sink of the heat sink substrate 1.
  • a semiconductor is mounted on the heat sink substrate 1 as shown in FIG. 3, and heat generated by the semiconductor is mainly radiated from the heat sink substrate 1.
  • a Cu plate 10 is joined to the end face 5 of the second heat sink 4 by solder 11, and a key nitride plate 13 is joined to it by Ag solder 12. Further, a Cu plate 15 is joined via an Ag solder 14, and a semiconductor chip 17 is mounted thereon by solder 16.
  • the semiconductor chip 17 is actually provided with electric wiring such as an aluminum wire to constitute a semiconductor device.
  • a heat sink made of a material having a smaller linear expansion coefficient than Cu such as a Cu—Mo composite material
  • the semiconductor components are joined thereon by soldering.
  • cracks do not occur in the solder 11 due to the difference in linear expansion coefficient at high temperatures, and the use of expensive Cu-Mo composite materials is minimal, realizing resource saving and extremely reasonable.
  • Device made of a material having a smaller linear expansion coefficient than Cu, such as a Cu—Mo composite material
  • solder 11 flows into the end face 5 of the second heat sink 3 to solder the Cu plate 10 constituting the semiconductor, but the second heat sink 3 is applied to the first heat sink 2 by the pressing force of the mold.
  • An annular pressing mark (recess) 6 generated at the time of plastic deformation coupling prevents the solder from flowing out to the outer periphery.
  • the corners of the second heat sink 3 are formed by the pressing marks (recesses) 6.
  • 3 Exposed 1 and apparently second heat sink 3 protrudes from first heat sink 2, so when molten solder flows, solder does not flow out from end face 5 of second heat sink 3 due to surface tension Therefore, it can be easily soldered.
  • the heat sink 3 of FIG. 6 is placed on the lower mold 7 in a state of being fitted in the fitting hole 4 of the first heat sink 2 as shown in FIG. Cu is soft and easy to plastically deform, and (: !! ⁇ is a combination that is suitable for plastic flow coupling because it is too hard.
  • the fitting hole 4 of the first heat sink 2 The hardness difference between the two can be ensured even when the fitting hole 4 is work-hardened by pressing, and there is no practical problem.
  • the outer periphery of the second heat sink 3 that is, the entire periphery near the inner periphery of the fitting hole 4 of the first heat sink 2 is locally pressurized by an annular punch 8, as shown in FIG.
  • the material of the first heat sink 2 is caused to plastically flow, and the heat sinks 2 and 3 are sealed with a ⁇ ⁇ -shaped deformation pressure and tightly joined by a tension force.
  • the punch 8 is removed, the heat sink substrate 1 is completed.
  • the heat sink substrate 1 thus formed is attached to the side of the second heat sink 3 with a slight punch force when the first heat sink 3 is joined to the first heat sink 2. Since the material can be plastically flowed, it does not affect the parallelism of the heat sink substrate, and a heat sink substrate with extremely high product accuracy can be obtained.
  • the second heat sink 3 is desirably disc-shaped, as shown in FIG. It may be rectangular as shown or elliptical.
  • the hole 6 of the first heat sink 2 may be a blind hole that does not penetrate.
  • FIG. 10 shows that the second heat sink 31 is placed in the through hole of the first heat sink 21 via a heat conductive paste or wax 20 (a silicon paste is generally used). It is a plastic flow connection between the two. In general, plastic flow bonding of metal simply involves local pressing of the periphery of the connected part by a punch as shown in Figs. 7 and 8, and the intensively pressed member is caused to flow vertically. Therefore, the material far from the tip of the punch has almost no plastic change.
  • annular groove is provided in a substantially central portion of the first heat sink 21 or the second heat sink 31 where a plastic deformation pressure is not applied, and a heat conductive paste or wax 2 is provided there.
  • punches are added from both sides, and the heat conduction function with the second heat sink 31 is further increased, thereby making the heat sink substrate highly practical.
  • the annular pressing marks (recesses) 61 and 62 formed by the punch are formed on both sides.
  • the punch generally presses the boundary between the two members, but an arbitrary position is selected depending on the thickness of the plate or the arrangement of the heat conductive paste or wax 20 as shown in the figure.
  • FIG. 11 is based on the problem of the fourth embodiment, and is shown in FIG. —Applied to Tosink 22 and filling the bottom of the blind hole or the bottom of the second heat sink 3 with a heat conductive base or wax 23 beforehand, A second heat sink 3 with a small diameter or an equivalent diameter is placed, and then the boundary between the two members is pressed with a punch, and the member immediately below the punch is vertically plastically deformed in the direction of the second heat sink 32. The heat conductive paste 23 is compressed and the confidentiality is improved.
  • the second heat sink 3 is plastically flow-coupled to the first heat sink 2 to form the heat sink substrate 1, and then the electronic components are mounted in the state of the heat sink substrate 1.
  • plastic flow coupling which enables high-precision bonding at room temperature
  • the electronic components are first mounted on the second heat sink 3, and then the second heat sink 3 is plastically coupled to the first heat sink 2. You may. Industrial applicability
  • the present invention is a heat sink substrate particularly suitable for mounting an electronic component generating a large amount of heat, particularly for an inverter for an electric vehicle mounting a semiconductor component, or a power module.

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Description

明 細 書
ヒートシンク基板とその製造方法 技術分野
本発明はヒートシンク基板とその製造方法に係り、 特に発熱量の大き い電子部品の搭載、 取り分け半導体部品を搭載する電気自動車用ィンバ 一夕、 或いはパワーモジュール等に適したヒートシンク基板とその製造 方法に関する。 背景技術 '
従来、 発熱量の大きな電子部品である半導体部品を搭載するヒートシ ンク基板は、 基本的に銅材 (C u ) が用いられ、 一枚板で構成するのが 一般的であった。 このタイプはヒートシンク基板が一枚板で済むため安 価で、 材質面から見ても銅材のため放熱性が良好であった。
しかしながら、 銅材 (C u ) は線膨張係数が 1 6 . 6 ( ppmZで) と大 きく、 搭載する半導体部品からの発熱で線膨張係数の異なるはんだ接合 面に熱応力による亀裂が生じるという問題があった。 この亀裂の発生を なくすために銅材の代わりに線膨張係数が 9 . 2 ( ppm/ °C ) と小さく放 熱性も比較的良好な銅一モリブデン (C u— M o ) 複合材で一枚のヒー トシンク基板を形成することも知られている。
この場合は、 材料コス トの高いモリブデン (M o ) を多量に使用した C u— M o複合材で一体品としているので非常に高価なものになる問題 があった。
特許文献 1 (特開平 8 - 1 8 6 2 0 4号公報) には、 半導体素子の熱 膨張率に近似した材料で出来た搭載部と、 熱伝導及び熱放散特性に優れ た材料で出来た放熱部材とを備え、 搭載部材と放熱部材を加熱による溶 浸接合により一体化したヒ一トシンク基板を形成することが開示されて いる。
特許文献 2 (特開平 6— 7 7 6 7 8号公報) には、 ニッケル一鉄合金 で形成された母材の所定の位置に孔を設け、 該孔に銅系の金属からなる 放熱部材をねじ込み或いは圧入により埋め込むことにより一体化したヒ ―トシンク基板を形成することが開示されている。
ところで、 前述した複数部材からなるヒ一トシンク基板は効率良く熱 を放出するために発熱源と密着しなくてはならない。 そのため、 たとえ ば発熱源が半導体の場合には半導体をはんだ付けして搭載するために平 面度などの製品精度が要求される。
しかしながら前者の特許文献 1では溶接, ろう付けのように熱を加え た結合方法で熱変形等により結合精度が低く、 結合後にはんだ付け面な どの必要部に機械加工が必要であるなどの問題があつた。 熱を使用する ためのエネルギーロスや材料歩留りの点でも不利であった。
また、 後者の特許文献 2のようにネジ締めする方法では母材と放熱部 材との締結部の密着性が低く、 ヒ一トシンク基板のように板厚が薄いも のでは有効なネジ長さを確保できないと共に、 ネジ締めでは緩みが生じ るなどの懸念がある。 また、 圧入は柔らかい材料である放熱部材に圧入 による変形圧がかかるため、 平面度が出し難く、 場合によっては平面仕 上げ加工が必要となり生産性, コス トの面で不利は否めない。
本発明の目的は、 製品精度が高くて、 生産性に優れたヒートシンク基 板とその製造方法を提供するにある。 発明の開示 本発明は、 第 1のヒートシンクにそのヒートシンクより線膨張係数の 小さい第 2のヒートシンクを結合して形成してなるヒートシンク基板で あって、
第 1のヒートシンクに第 2のヒートシンクを嵌合し、 その嵌合境界部 の近傍にある第 1のヒートシンクを塑性変形させて第 2のヒートシンク に密着させることにより達成される。
本発明の好ましくは、 第 2のヒートシンクは半導体部品を搭載するチ ップ部材により達成される。
本発明の好ましくは、 第 1のヒートシンクは嵌合境界部の結合面に塑 性結合用押圧溝が形成され、 第 2のヒ一トシンク材を受け入れることに より達成される。
本発明の好まし <は 、 第 1のヒ一トシンクは C u系材料からなり、 第
2のヒートシンクは C u — M o複合材からなることにより達成される。 本発明の好まし <は 、 第 2のヒートシンクは塑性流動結合による凹状 圧痕により全周の Xッジ部が露出していることにより達成される。
本発明の好まし <は 、 第 2のヒートシンクは半導体部品をはんだ付け により固着している とにより達成される。
本発明の好まし <は 、 第 1のヒートシンクの内周面と第 2のヒ一トシ ンクの外周面間に熱伝導性ペース トもしくはワックスを介して両者間を 塑性流動結合した とにより達成される。
本発明の好まし <は 、 第 1のヒートシンクの底面と第 2のヒートシン クの低面間に熱伝導性ペース トもしくはヮックスを介して両者間を塑性 流動結合したことにより達成される。
本発明は、 第 1のヒートシンクにそのヒートシンクより線膨張係数の 小さい第 2のヒー卜シンクを結合してなるヒートシンク基板の製造方法 であって、
第 1のヒートシンクに設けられた嵌合穴に第 2のヒートシンクを嵌合 し、 その後、 前記第 2のヒートシンクの外周壁にそって下降する結合パ ンチにより前記第 2のヒートシンクと接する前記第 1のヒートシンクの 周囲の部材を局部的に塑性変形させ塑性流動結合させることにより達成 される。
本発明は、 第 1 のヒートシンク嵌合穴に第 2のヒートシンクが嵌合さ れ、 その嵌合境界部の第 1のヒートシンクが塑性変形して第 2のヒート シンクに結合するヒートシンク基板としているため、 両部材間の結合は 常温で可能となり、 平面精度の高い複合部材からなるヒ一トシンク基板 が容易確実に提供される。
本発明は、 第 1のヒートシンクに第 2のヒートシンクを嵌合し、 その 後、 前記第 2のヒートシンクの外周壁にそって下降する結合パンチによ り前記第 2のヒートシンクと接する前記第 1のヒートシンクの周囲の部 材を局部的に塑性変形させて塑性流動結合させることによってヒ一トシ ンク基板を得ているので、 結合時に形成された第 2ヒートシンク (チッ プ) 近傍の塑性結合押圧溝 (圧痕) が、 半導体を搭載する時に生じるは んだのたれを特別な治具を用いることなく防止でき、 生産性の高い発熱 部品搭載用ヒ一トシンクを提供することができる。 図面の簡単な説明
第 1図は本発明の一実施形態を示すヒートシンク基板の斜視図。
第 2図は第 1図の一部縦断面図。
第 3図は本発明に係るパワーモジュール構造の一実施形態の縦断面図。 第 4図は本発明を構成する第 1のヒートシンク斜視図。 第 5図は本発明を構成する第 2のヒートシンク斜視図。
第 6図は本発明の製法に係るヒートシンク結合前の部材嵌合状態を示 す縦断面図。
第 7図は本発明の製法に係るヒートシンクの結合寸前の縦断面図。 第 8図は本発明の製法に係るヒートシンクの加圧結合完了時の縦断面 図。
第 9図は本発明の第 2の実施例におけるヒートシンク基板の斜視図。 第 1 0図は本発明の第 3の実施例におけるヒートシンクの加圧結合完 了時の縦断面図。
第 1 1図は本発明の第 4の実施例におけるヒートシンクの加圧結合完 了時の縦断面図。 発明を実施するための最良の形態
以下に本発明の具体的な実施例を説明する。 尚、 本発明は本実施例に 限定されるものではなく、 発熱部品を搭載するヒートシンク基板に広く 適用される。
実施例 1
第 1図は、 本発明に係るヒートシンク構造の実施例の斜視図、 第 2図 は第 1図の要部拡大縦断面図、 第 3図はヒートシンク上に半導体を搭載 したパワーモジュールの縦断面図である。
第 1図, 第 2図に示すヒートシンク基板 1は、 銅 (C u ) 材からなる 板状の第 1のヒートシンク 2 と C u— M o複合材のような C uよりも線 膨張係数が小さい材質からなる第 2のヒートシンク 3から構成されてい る。
前記第 1のヒートシンク 2には搭載部品に応じて複数の貫通する穴 3 が設けられ、 該穴 3には円盤状のチップ部材である前記第 2のヒ一トシ ンク 3がそれぞれ嵌合され、 塑性変形結合されて一体化されている。 前記第 2のヒートシンク 3は第 2図に示すように、 第 1のヒートシン ク 2に電子部品の搭載面 5が同一平面となるように嵌合され、 嵌合境界 部付近にある第 1のヒートシンク 3の部材全周を押圧して両部材間を塑 性流動結合している。
第 3図にヒートシンク基板 1の第 2のヒートシンクに半導体部品を搭 載した実装状態を示している。
このヒートシンク基板 1 には第 3図に示す様に半導体が搭載され半導 体の発した熱を主にヒートシンク基板 1から放熱する。 第 2のヒ一トシ ンク 4の端面 5には C u板 1 0がはんだ 1 1で接合され、 その上に A g ろう 1 2で窒化ケィ素板 1 3が接合されている。 さらに A gろう 1 4を 介して C u板 1 5が接合され、 更にその上にはんだ 1 6により半導体チ ップ 1 7が搭載されている。 図では省略しているが実際には半導体チッ プ 1 7にはアルミ線などの電気配線が施され半導体装置が構成される。
このように第 2のヒートシンク 3には C u— M o複合材のような C u よりも線膨張係数が小さい材質のヒ一トシンクが用いられ、 その上には んだ付けで半導体部品が接合されるため高温時の線膨張係数差によりは んだ 1 1 に亀裂が生じることがなく、 高価な C u — M o複合材の使用も わずかでよく、 省資源化を実現し、 極めて合理的な装置となる。
また、 第 2のヒートシンク 3の端面 5にはんだ 1 1 を流して半導体を 構成する C u板 1 0をはんだ付けするが、 第 1 のヒートシンク 2に第 2 のヒートシンク 3を金型の押圧力で塑性変形結合する際に生じる環状の 押圧痕 (凹部) 6が前記はんだが外周に流れ出すのを阻止する。
すなわち、 前記押圧痕 (凹部) 6により第 2のヒートシンク 3の角部 3 1が露出して見かけ上第 2のヒートシンク 3が第 1のヒートシンク 2 から突出することになるので、 溶融したはんだを流した時に表面張力で はんだが第 2のヒートシンク 3の端面 5から流れ出ないため、 容易には んだ付けをする事が出来る。
次に上記したヒートシンク基板の製造方法について説明する。
第 4図に示すような複数の貫通穴 4を設けた板状の C u製第 1のヒー トシンク 2と、 第 5図に示す様な C u _ M o複合材からなる円盤状の第 2のヒートシンク 3を第 6図に示すように第 1のヒートシンク 2の嵌合 穴 4に嵌合した状態で下型 7の上に載置し、 セッ トする。 C uは軟らか く塑性変形が容易で、 (:!!ー!^ は !!ょりも硬いため塑性流動結合に は適した組合わせである。 仮に、 第 1のヒートシンク 2の嵌合穴 4をプ レス抜きして嵌合穴 4が加工硬化した状態でも両者間の硬度差を確保す る事が出来、 実用上問題ない。
その後、 第 7図に示す様に環状のパンチ 8で第 2のヒートシンク 3の 外周、 すなわち第 1のヒートシンク 2の嵌合穴 4の内周近傍全周を局部 的に加圧し、 第 8図に示す様に第 1のヒートシンク 2の材料を塑性流動 させてヒートシンク 2, 3間を弹性変形圧を封入して緊迫力により密着 結合する。その後パンチ 8を取り除けばヒートシンク基板 1は完成する。
このようにして形成されたヒートシンク基板 1は、 第 1のヒートシン ク 2に第 1のヒ一トシンク 3を結合する際にわずかなパンチ力だけで第 2のヒートシンク 3の側面に第 1のヒートシンク 3の材料を塑性流動さ せることができるためヒートシンク基板の平行度に影響を与えることは 無く、 極めて製品精度の高いヒートシンク基板が得られる。
実施例 2
また、 第 2のヒートシンク 3は望ましくは円盤状がよいが、 第 9図に 示す様な矩形状でも、 あるいは楕円状でもかまわない。
実施例 3
また、 第 1のヒートシンク 2の穴 6は貫通しない袋穴であってもかま わない。
実施例 4
第 1 0図は第 1のヒートシンク 2 1の貫通穴に第 2のヒートシンク 3 1 を熱伝導性ペース トもしくはワックス 2 0 (一般的にはシリコンぺ 一ストが用いられる) を介して配置し、 両者間を塑性流動結合したもの である。 一般に金属の塑性流動結合は第 7図, 第 8図から解るようにパ ンチにより結合部品の周囲を局部的に押圧して集中的に押圧された部材 を垂直方向に流動させているだけであるためパンチの先端から遠い部分 の材料はほとんど塑性変化はない。
ところが結合された放熱部材の良し悪しは両者間が如何に緊密に密着 しているかにある。 そこで本実施例は第 1のヒートシンク 2 1 もしくは 第 2のヒートシンク 3 1のほぼ中央部にある塑性変形圧の加わらない領 域に環状凹溝を設け、 そこに熱伝導性べ一ストもしくはワックス 2 0を 配置し両面からパンチを加えたもので、 これにより第 2のヒートシンク 3 1 との熱伝導機能は一段と増し、 ヒートシンク基板として実用性の高 いものとなる。 もちろんパンチによる環状の押圧痕 (凹部) 6 1, 6 2 は両面に形成される。
I
なおパンチは両部材間の境界を押圧するのが一般的であるが、 図示の ように板厚或いは熱伝導性ペーストもしくはワックス 2 0の配置等によ つて任意の位置が選ばれる。
実施例 5
第 1 1図は前記実施例 4の問題点を踏まえて、 これを袋穴の第 1のヒ —トシンク 2 2に応用したもので、 袋穴の底面もしくは第 2のヒ一トシ ンク 3の底面に予め熱伝導性べ一ス トもしくはワックス 2 3を充填した 上で、 袋穴径ょり若干小さい径のもしくは同等径の第 2のヒートシンク 3を配置し、 その後パンチで両部材間の境界を押圧し、 パンチ直下の部 材を垂直に第 2のヒ一トシンク 3 2の部材方向に塑性変形させて結合す ると共に前記熱伝導性ペース ト 2 3を圧縮して機密性を向上させたもの である。
なお、 上記いずれの実施例も第 1のヒートシンク 2に第 2のヒートシ ンク 3を塑性流動結合してヒートシンク基板 1 を形成し、 その後のヒー トシンク基板 1の状態で電子部品を搭載していく手法としているが、 常 温で高精度に結合できる塑性流動結合を使えば第 2のヒートシンク 3に 電子部品を先に搭載し、 その後に第 1のヒートシンク 2に第 2のヒート シンク 3を塑性流動結合しても良い。 産業上の利用可能性
本発明は、 特に発熱量の大きい電子部品の搭載, 取り分け半導体部品 を搭載する電気自動車用インバー夕、 或いはパヮーモジュール等に適し たヒートシンク基板で、 その利用分野は広い。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 第 1のヒー卜シンクにそのヒートシンクより線膨張係数の小さい第 2のヒートシンクを結合して形成してなるヒ一トシンク基板であって、 第 1のヒートシンクに第 2のヒートシンクが嵌合され、 その嵌合境界 部近傍の第 1のヒートシンクが塑性変形されて第 2のヒートシンクに結 合されていることを特徴としたヒートシンク基板。
2 . 請求項 1記載において、 第 2のヒートシンクは半導体部品を搭載す るチップ部材であることを特徴としたヒートシンク基板ヒートシンク。
3 . 請求項 1 もしくは 2記載において、 第 1のヒートシンクは嵌合境界 部の結合面に塑性結合押圧溝が形成されていて、 塑性変形された第 2の ヒートシンク材を受け入れていることを特徴としたヒートシンク基板。
4 . 請求項 1ないし 3記載のいずれかにおいて、 第 1のヒ一トシンクは C u系材料からなり、 第 2のヒートシンクは C u— M o複合材からなる ことを特徴とした半導体装置用ヒートシンク。
5 . 請求項 1ないし 4記載のいずれかにおいて、 第 1のヒートシンクと 第 2のヒートシンクの電子部品搭載面は同一平面をなし、 前記第 2のヒ 一トシンクは塑性流動結合による凹状圧痕により全周のエツジ部が露出 していることを特徴としたヒートシンク基板。
6 . 請求項 5記載において、 第 2のヒートシンクは半導体部品をはんだ 付けにより固着していることを特徴とした半導体装置用ヒ一トシンク。
7 . 請求項 1 , 2 , 3のいずれかの記載において、 第 1のヒートシンク の内周面と第 2のヒートシンクの外周面間に熱伝導性ペーストもしくは ワックス 2 0を介して両者間を塑性流動結合したことを特徴としたヒー トシンク基板。
8 . 請求項 1, 2 , 3のいずれかの記載において、 第 1のヒートシンク の底面と第 2のヒートシンクの低面間に熱伝導性ペース トもしくはヮッ クス 2 0を介して両者間を塑性流動結合したことを特徴としたヒートシ ンク基板。
9 . 第 1のヒートシンクにそのヒートシンクより線膨張係数の小さい第 2のヒ一トシングを結合してなるヒートシンク基板の製造方法であって、 第 1のヒートシンクに設けられた嵌合穴に第 2のヒートシンクを嵌合 し、 その後、 前記第 2のヒートシンクの外周壁にそって下降する結合パ ンチにより前記第 2のヒートシンクと接する前記第 1のヒートシンクの 周囲の部材を局部的に塑性変形させ両者間を塑性流動結合させることを 特徴としたヒー卜シンク基板の製造方法。
1 0 . 第 1のヒートシンクにそのヒートシンクより線膨張係数の小さい 第 2のヒートシンクを結合してなる半導体装置用ヒ一トシンクを搭載し たパワーモジュール装置であって、
第 1のヒートシンクに第 2のヒートシンクが嵌合され、 その嵌合境界 部の第 1のヒートシンクが塑性変形して第 2のヒートシンクに密着して いる半導体装置用ヒ一トシンクを搭載したことを特徴としたパワーモジ ユール装置。
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