WO2005018094A1 - 半導体集積回路装置 - Google Patents

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WO2005018094A1
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shift register
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input terminal
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Hidetoshi Nishikawa
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Rohm Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M9/00Parallel/series conversion or vice versa
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K23/00Pulse counters comprising counting chains; Frequency dividers comprising counting chains
    • H03K23/40Gating or clocking signals applied to all stages, i.e. synchronous counters
    • H03K23/50Gating or clocking signals applied to all stages, i.e. synchronous counters using bi-stable regenerative trigger circuits
    • H03K23/54Ring counters, i.e. feedback shift register counters

Definitions

  • the present invention relates to a semiconductor integrated circuit device constituting a shift register that converts input serial data into parallel data, and more particularly to a semiconductor integrated circuit device provided with a plurality of shift registers.
  • a printing device including a plurality of heating elements divided into a plurality of blocks and a plurality of shift registers having the same number of bits as the number of heating elements in each block.
  • An apparatus is provided (see Patent Document 1).
  • the data for each block is stored in each shift register, and the drive timing of each shift register is set to a different timing, so that the shift register for outputting data and the shift register for inputting data are differently shifted. It can be a register, which can speed up the printing operation.
  • a 64-bit shift register SRX composed of flip-flops FF1-FF64 and a 64-bit shift register SRY composed of flip-flops FF65-FF128 are one semiconductor integrated circuit device. It is composed within 100.
  • the semiconductor integrated circuit device 100 has an input terminal SI1 for inputting serial data to the shift register SRX, a clock input terminal CLK for inputting a clock, and an output for outputting serial data from the shift register SRX. Terminal SOI and shift register And an input terminal SI2 for inputting serial data to the SRY.
  • an input driver Din is provided on the input side of each flip-flop FF1, FF65 of the shift register SRX, SRY, and an output driver Dout is provided on the output side of the flip-flop FF64 of the shift register SRX.
  • Patent Document 1 JP-A-5-229159
  • serial data is input from the shift register SRX to the shift register SRY, and a shift of 128 bits is performed.
  • a shift in data transfer occurs due to the output buffer Dout of the shift register SRX, the input buffer Din of the shift register SRY, and an external parasitic load capacitance such as an external board wiring.
  • the flip-flop FF64 switches the clock power S high as shown in Fig. 9 (c) after the set-up time t has elapsed since the rising clock rises as shown in Fig. 9 (a).
  • the output so64 is changed to a value corresponding to the value of the input si64 as shown in Fig. 9 (b) when rising.
  • the output so64 from the flip-flop FF64 is delayed by the time td and input as the input si65 of the flip-flop FF65. Then, like the flip-flop FF64, when the setup time t elapses after the clock rises to high, the input si65 as shown in FIG. 9 (d) when the clock rises to high as shown in FIG. 9 (e). The output so65 is changed to a value corresponding to the value of.
  • the force so65 can be responsive to the output so64 of the flip-flop 64. Therefore, the shift registers SRX and SRY can be operated without losing data.
  • the input si64 and the output so64 are as shown in FIGS. 10B and 10C, and the operation according to the clock can be performed.
  • the input si65 to the flip-flop FF65 becomes as shown in FIG. 10D, and the input si65 changes after the rising of the clock. Therefore, as shown in FIG. 10 (e), the output so65 of the flip-flop FF65 does not correspond to the output so64 of the flip-flop FF64. Therefore, data is lost in the flip-flop FF65.
  • the present invention provides a method for driving a shift register without malfunction even at a high frequency when a plurality of shift registers are configured and connected between input and output of the shift register and operated. It is an object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit device which can perform the above.
  • a semiconductor integrated circuit device comprises a first first n-th shift register and a first first n-th shift register to which data given to each of the first and first n-th shift registers is input.
  • a first switch for electrically connecting and disconnecting an output of a k-th (k is an integer of l ⁇ k ⁇ n-1) shift register and an input of a k + 1-th shift register;
  • a second switch for electrically connecting / disconnecting the input of the 1st shift register and the k + 1th input terminal to which data to the k + 1st shift register is inputted, and turning on / off the first switch and the second switch;
  • a selection signal input terminal for inputting a selection signal for switching OFF, and when the k-th shift register and the k + 1-th shift register are used in combination, the selection signal is used for the k-th shift register and the k + 1-th shift register.
  • One switch is set to ⁇ N and the second switch is set to O When the k-th shift register and the k + 1-th shift register are used separately, the first switch is turned off by the selection signal and the second switch is set to ⁇ N.
  • the semiconductor integrated circuit device includes a first-first n-th shift register, a first-first n-th input terminal to which data supplied to each of the first-first n-th shift register is input, K + l (k is l ⁇ k ⁇ n-1) outside the k + 1 input terminal to which data to the shift register is input
  • the output of the k-th shift register is connected to the input of the k + 1-th shift register, or the input of the k + 1-th shift register and the input of the k + 1-th shift register are connected depending on the connection state of the k + 1-th shift register.
  • a switching control unit for switching between connection and non-connection, and the k + 1st input terminal is connected externally.
  • the switching control unit When the switching control unit confirms that the switch is in an open state not connected to the unit, the output of the k-th shift register and the input of the k + 1-th shift register are connected, and the k-th input terminal is connected to When the switching control unit confirms that the k + 1st input terminal is connected to the outside and data is input, the connection with the input of the k + 1st shift register is disconnected. The connection between the output and the input of the k + 1st shift register is cut off, and the k + 1st input terminal is connected to the input of the k + 1st shift register.
  • a plurality of shift registers are configured, and the connection between the output and the input of the adjacent shift register can be performed internally, so that the connection is established by the external board wiring as in the related art. No need. Therefore, it is possible to suppress the delay between shift registers due to the influence of external parasitic load capacitance and the like as in the past, so that even when driving by connecting shift registers that are in contact with each other, operation is performed using a high-frequency clock. It can be done. Further, according to the present invention, it is possible to select whether an external input is supplied to each shift register or whether the number of external signals is smaller than the number of shift registers and the input and output of each shift register are connected. . Therefore, it is possible to select whether to use the shift registers in the semiconductor integrated circuit device by dividing them or to use them in combination.
  • the output terminal for outputting the output from each shift register to the outside can be changed to the selection signal input terminal and used, so that the conventional semiconductor integrated circuit can be used. This can be realized without increasing the number of terminals as compared with the device. Further, since the switching can be performed according to the connection state of the input terminal to the outside, the selection signal input terminal for inputting the selection signal can be eliminated, and the number of terminals can be reduced.
  • FIG. 1 is a block circuit diagram showing an internal configuration of a semiconductor integrated circuit device including a shift register according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a transistor switch.
  • FIG. 3 is a block circuit diagram showing another internal configuration of the semiconductor integrated circuit device including the shift register according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a block circuit diagram showing an internal configuration of a semiconductor integrated circuit device including a shift register according to a second embodiment.
  • FIG. 5 is a block circuit diagram showing another internal configuration of the semiconductor integrated circuit device including the shift register according to the second embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram showing a configuration when the resistance inside the semiconductor integrated circuit device in FIG. 5 is configured by MOS transistors.
  • FIG. 7 is a block circuit diagram showing another internal configuration of the semiconductor integrated circuit device including the shift register according to the second embodiment.
  • FIG. 8 is a block circuit diagram showing an internal configuration of a semiconductor integrated circuit device provided with a conventional shift register.
  • FIG. 9 is a timing chart showing an operation of a part of the semiconductor integrated circuit of FIG. 7;
  • FIG. 10 is a timing chart showing an operation of a part of the semiconductor integrated circuit of FIG. 7.
  • FIG. 1 is a block circuit diagram showing an internal configuration of the semiconductor integrated circuit device of the present embodiment.
  • the semiconductor integrated circuit device 1 of FIG. 1 includes a 64-bit shift register SRI composed of flip-flops FF1 to FF64 and an input driver Dinl, and a 64-bit shift register SR2 composed of flip-flops FF65 FF128. And serial to shift register SR1 An input terminal SI1 for inputting serial data, a clock input terminal CLK for inputting a clock, an input terminal SI2 for inputting serial data to a shift register SR2, an input driver Din2 connected to the input terminal SI2, A transistor switch SWA for electrically connecting and disconnecting the output of the flip-flop FF64 and an input of the flip-flop FF65, and a transistor switch for electrically connecting and disconnecting the input driver Din2 and the input of the flip-flop FF65. It comprises a switch SWB, a selection signal input terminal SEL to which a selection signal for controlling ON / OFF of the switches SWA and SWB is input, and an inverter Inv connected to the selection signal input terminal SEL.
  • the transistor switches SWA and SWB are configured by connecting a P-channel MS transistor Tp and an N-channel MOS transistor Tn in parallel.
  • the selection signal inverted by the inverter Inv is input to the gate of the M ⁇ S transistor Tp and the selection signal input to the gate of the M ⁇ S transistor Tn through the selection signal input terminal SEL. Is entered.
  • the selection signal inverted by the inverter Inv is input to the gate of the MOS transistor Tn, and the selection signal input via the selection signal input terminal SEL is input to the gate of the MOS transistor Tp.
  • the output of the flip-flop FF64 and the input of the flip-flop FF65 are connected. Therefore, unlike the conventional configuration as shown in FIG. 8, the output driver Dout and the input driver Din between the output of the flip-flop FF64 and the input of the flip-flop FF65 are omitted, and external board wiring outside the semiconductor integrated circuit device is omitted. , It is not necessary to connect via the flip-flop, so that a delay occurring between the output of the flip-flop FF64 and the input of the flip-flop FF65 can be prevented.
  • shift registers SR1 and SR2 Two shift registers of 64 bits are configured by shift registers SR1 and SR2, When data is input from the input terminals SI1 and SI2 to the register SRI and SR2 respectively, the selection signal input from the selection signal input terminal SEL is set to low, the switch SWA is turned OFF, and the switch SWB is turned ON. And Therefore, it is input to input from the input terminal SI2.
  • a plurality of shift registers configured in the semiconductor integrated circuit device 1 can be connected and used as one shift register. Data delay between input and output can be suppressed. Therefore, even when the frequency of the clock is increased, it is possible to prevent the loss of data between the input and output of the shift register in contact with the P. Also, in the conventional configuration as shown in FIG. 8, the terminal used as the output terminal S ⁇ l can be replaced with the selection signal input terminal SEL.
  • two 64-bit shift registers are used in a semiconductor integrated circuit device.
  • a shift register having a different number of bits may be used instead of a 64-bit shift register.
  • the transistor switches SWA and SWB are not limited to the transistor switches, and may have another configuration.
  • n shift registers SR1 to SRn are provided, and n-1 switches SWA1 to SWAn-1 and n1 switches SWA1 to SWAn-1 are provided between adjacent shift registers in the shift registers SR1 to SRn.
  • n-One switch SWB1-SWBn-1 may be provided.
  • n-1 selection signal input terminals SEL1-SELn-1 and n-1 inverter Invl-Invn-1 are formed, and the selection signal given through each and the inverted selection signal are switched. Input to SWA1-SWAn_l and switch SWB1-SWBn_l.
  • the input terminal SI2 Sin and the input drive Din2-Dinn are used when data is externally input to the shift register SR2 SRn. Therefore, by switching ON / OFF of the switches SWA1 SWAn-1 and SWB1 SWBn_l by the selection signal, the shift registers SR1 SRn can be divided or connected to form a shift register corresponding to a desired number of bits. Further, at this time, the number of selection signal input terminals to be installed is assumed to be smaller than n ⁇ 1, and switches SWA1—SWAn ⁇ 1, SWB1 are determined by the number of pulses of the selection signal input to the selection signal input terminal. — SWBn— It may be provided with a switching control unit for setting the switching.
  • FIG. 4 is a block circuit diagram showing the internal configuration of the semiconductor integrated circuit device of the present embodiment.
  • portions used for the same purpose as in the semiconductor integrated circuit device of FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
  • the semiconductor integrated circuit device la in Fig. 4 includes shift registers SRI and SR2, input terminals SI1 and SI2, a clock input terminal CLK, an input driver Din2, a transistor switch SWA, a transistor switch SWB, and an input terminal.
  • a switching control unit 2 that generates a selection signal for controlling ON / OFF of the switches SWA and SWB according to the state of SI2, and sends out a signal input to the input terminal SI2 to the input driver Din2;
  • An inverter Invx for inverting the selection signal.
  • the selection signal from the switching control unit 2 is input to the gate of the MOS transistor Tp of the switch SWA and the gate of the MOS transistor Tn of the switch SWB, and the selection signal inverted by the inverter ⁇ is applied to the MOS transistor of the switch SWA. Input to the gate of Tn and the gate of MOS transistor Tp of switch SWB.
  • the switching control unit 2 operates according to the following three states.
  • the switch SWA Since a low selection signal is output from the switching control unit 2, the switch SWA is turned on and the switch SWB is turned off. Therefore, the data output from the flip-flop FF64 of the shift register SR1 is switched to the input of the flip-flop FF65 of the shift register SR2. Input via the switch SWA, the shift registers SRI and SR2 are connected to form a 128-bit shift register.
  • the switch SWA Since a low selection signal is output from the switching control unit 2, the switch SWA is turned off, the switch SWB is turned on, and the low data from the input terminal SI2 is transmitted.
  • the semiconductor integrated circuit device la of the present embodiment has a selection signal input terminal to which a selection signal is input when compared with the semiconductor integrated circuit device 1 of the first embodiment.
  • SEL can be deleted.
  • the transistor switches SWA and SWB are not limited to the transistor switches, and may have other configurations.
  • the transistor switch SWB can be omitted by adopting a configuration as shown in FIG.
  • the semiconductor integrated circuit device lb in FIG. 5 includes resistors Ra and Rb having one end connected to the input terminal SI2, an inverter II-113 having an input connected to a connection node between the resistors Ra and Rb, and an output of the inverter 13
  • the inverter 14 to be input, the EXOR circuit EX1 to which the output of the inverters 12 and 14 are input, the inverter 15 to which the output of the EXOR circuit EX1 is input, and the N-channel of which the output from the inverter 15 is input to the gate.
  • the power supply voltage VDD is applied to the other end of the resistor Ra, and the other end of the resistor Rb is grounded.
  • the threshold value of the input at which the output of the inverter 12 switches from high to low is 3Z4VDD
  • the threshold value of the input at which the output of the inverter 13 switches from high to low is 1Z4VDD. That is, when the input to the inverter 12 is 0-3Z4V DD, the output is high, and when the input is 3Z4VDD VDD, the output is low.
  • the input to the inverter 13 is 0-1 / 4VDD, the output is high, and when the input is lZ4VDDVDD, the output is low.
  • the input threshold may be 1 / 4VDD or 3 / 4VDD.
  • the drain of the M ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ S transistor Tla and the source of the M ⁇ S transistor Tib are connected to the output of the flip-flop FF64 of the shift register SR1, and the MOS transistor T
  • the DC voltage VDD is applied to the source of the MOS transistor T3a, and the source of the MOS transistor T2a is connected to the drain of the MOS transistor T3a.
  • the source of the MOS transistor T3b is grounded, and the source of the MOS transistor T2b is connected to the drain of the MOS transistor T3b.
  • the drains of the MOS transistors T2a and T2b are connected to the input of the flip-flop FF65 of the shift register SR2.
  • a transistor switch is configured by the MOS transistors Tla and Tib.
  • the high data (corresponding to VDD) is input to the inverter II-113. Therefore, the outputs of the inverters II and 13 become low, the output of the inverter 14 to which the output of the inverter 13 is inputted becomes high, and the output of the EXOR circuit EX1 to which the outputs of the inverters 12 and 14 are inputted. Output goes high. Further, the output of the inverter 15 to which the output of the EXOR circuit EX1 is input goes low.
  • the MOS transistor T3a since the output from the inverter II that is low is input to the gates of the MOS transistors T3a and T3b, the MOS transistor T3a is turned on and the MOS transistor T3b is turned off. Therefore, at this time, the power supply voltage VDD (high) is input to the flip-flop FF65 via the MS transistors T2a and T3a.
  • the low data (corresponding to 0) is input to the inverter II-113. Therefore, the output of each of the inverters II and 13 goes high, and the output of the inverter 14 to which the output of the inverter 13 is input. Becomes low, the output of the EXOR circuit EX1 to which the outputs of the inverters 12 and 14 are input. Further, the output of the inverter 15 to which the output of the EXOR circuit EX1 is input goes low.
  • the gates of the M ⁇ S transistors Tib and T2b have EXOR circuits E
  • the M ⁇ S transistor Tib turns off and the M ⁇ S transistor T2b changes to ⁇ N. Further, since the output from the inverter 15 that is low is input to the gates of the M ⁇ S transistors Tla and T2a, the M ⁇ S transistor Tla is turned off and the MOS transistor T2a becomes ⁇ N.
  • the data is input via the OS transistors T2a, T2b, T3a, and T3b, and the shift registers SRI and SR2 are divided into two 64-bit shift registers.
  • the resistors Ra and Rb are respectively connected to the P-channel MOS transistor Ta having the gate grounded and the power supply voltage VDD applied to the source, and the power supply connected to the gate. It may be constituted by an N-channel MOS transistor Tb to which the voltage VDD is applied and the source is grounded. The drains of the MOS transistors Ta and Tb are connected, and this connection node is connected to the input of the inverter II-113.
  • the selection signal input terminal SEL to which the selection signal is input, the transistor switch SWB, and the input drive Din2 are deleted. It can be set as the structure made.
  • the two 64-bit shift registers are configured in the semiconductor integrated circuit device 1 and are not limited to 64-bit shift registers.
  • a shift register with a different number of registers may be used.
  • n shift registers SR1 to SRn are provided, and n-1 switches SWA1 to SWAn-1 and n-1 switches SWA1 to SWAn-1 are provided between adjacent shift registers in the shift registers SR1 to SRn.
  • the switching control unit 20 connected to the input terminal SI2 Sin and n ⁇ 1 inverters Invxl—Invxn ⁇ 1 to which the respective n ⁇ 1 selection signals from the switching control unit 20 are input are configured.
  • the switching signal supplied to the switching control unit 20 and the selection signal inverted by the inverter Invxl-Invxn-1 are input to the switches SWA1 SWAn_l and SWB1 SWBn_l.
  • the shift registers SR1 to SRn are divided or connected, and the number of bits is changed according to the desired number of bits.
  • the ability to compose a shift register can be achieved.
  • a logic circuit including the inverter II- 15, the EXOR circuit EX 1, and the MOS transistors Tla-T3a and Tib-T3b is connected to a shift register adjacent to the n shift registers SR1-SRn. Provide n- 1 for each input / output, and
  • One input terminal may be provided for one path.

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Shift Register Type Memory (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

 半導体集積回路装置1において、シフトレジスタSR1のフリップフロップFF64の出力とシフトレジスタSR2のフリップフロップFF65の入力との間を電気的に接離するトランジスタスイッチSWAと、入力ドライバDin2とフリップフロップFF65の入力との間を電気的に接利するトランジスタスイッチSWBを備える。このとき、シフトレジスタSR1,SR2を連結するとき、選択信号によってトランジスタスイッチSWAをONとするとともにトランジスタスイッチSWBをOFFとする。

Description

技術分野
[0001] 本発明は、入力されたシリアルデータをパラレルデータに変換するシフトレジスタを 構成する半導体集積回路装置に関するもので、特に、複数のシフトレジスタを備えた 半導体集積回路装置に関するものである。 背景技術
[0002] 従来より、プリンタヘッドドライバなどにおいて、各ビット毎のデータがシリアルデータ 田
として入力されて格納するシフトレジスタが設置される。このシフトレジスタでは、入力 されたシリアルデータを各ビット毎に分割してパラレルデータに変換してラッチ回路に 与える。そして、ラッチ回路に格納された各ビットのデータは、各ビット毎に設定され た所定のタイミング毎にラッチ回路からドライブ回路に出力され、発熱抵抗や発光素 子に電流供給を行う。
[0003] このような従来のプリンタヘッドドライバを備えた印字装置として、複数の発熱素子 を複数のブロックに区分して、各ブロックの発熱素子数と同一ビット数の複数のシフト レジスタを備えた印字装置が提供されている(特許文献 1参照)。この印字装置にお いて、ブロック毎のデータを各シフトレジスタに格納し、各シフトレジスタの駆動タイミ ングを異なるタイミングとすることで、データ出力するシフトレジスタとデータ入力する シフトレジスタとを別のシフトレジスタとすることができ、印画動作の高速化を図ること ができる。
[0004] このように、ブロック毎にシフトレジスタが設けられるとき、複数のシフトレジスタが半 導体集積回路装置に構成される。即ち、図 8のように、フリップフロップ FF1— FF64 により構成される 64ビットのシフトレジスタ SRXと、フリップフロップ FF65— FF128に より構成される 64ビットのシフトレジスタ SRYとが、 1つの半導体集積回路装置 100内 に構成される。このとき、半導体集積回路装置 100には、シフトレジスタ SRXへのシリ アルデータが入力される入力端子 SI1と、クロックが入力されるクロック入力端子 CLK と、シフトレジスタ SRXからシリアルデータが出力される出力端子 SOIと、シフトレジス タ SRYへのシリアルデータが入力される入力端子 SI2と、を備える。又、シフトレジス タ SRX, SRYそれぞれのフリップフロップ FF1, FF65の入力側に入力ドライバ Din が設けられるとともに、シフトレジスタ SRXのフリップフロップ FF64の出力側に出力ド ライバ Doutが設けられる。
特許文献 1 :特開平 5 - 229159号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0005] し力しながら、図 8のようにシフトレジスタ SRX, SRYが構成される半導体集積回路 装置 100において、シフトレジスタ SRXからシフトレジスタ SRYに対してシリアルデー タを入力して 128ビットのシフトレジスタを構成する場合、半導体集積回路装置 100 の外部において、出力端子 SOIと入力端子 SI2とを外部基盤配線で接続する必要 がある。そのため、シフトレジスタ SRXの出力バッファ Doutとシフトレジスタ SRYの入 力バッファ Dinと外部基盤配線などの外部寄生負荷容量とによるデータ転送におけ る遅延が発生してしまう。
[0006] このとき、クロック入力端子 CLKから入力されるクロックと、フリップフロップ FF64の 入力 si64及び出力 so64と、フリップフロップ FF65の入力 si65及び出力 so65との関 係力 図 9又は図 10のようになる。即ち、図 9のようにクロックの
周波数が低いとき、フリップフロップ FF64は、図 9 (a)のように変化するクロックがハイ に立ち上がつてからセットアップ時間 tが経過すると、図 9 (c)のように、クロック力 Sハイ に立ち上がるときの図 9 (b)のような入力 si64の値に応じた値に、出力 so64を変化さ せる。
[0007] 又、図 9 (d)のように、このフリップフロップ FF64からの出力 so64が時間 tdだけ遅 延して、フリップフロップ FF65の入力 si65として入力される。そして、フリップフロップ FF64と同様、クロックがハイに立ち上がつてからセットアップ時間 tが経過すると、図 9 (e)のように、クロックがハイに立ち上がるときの図 9 (d)のような入力 si65の値に応じ た値に、出力 so65を変化させる。
[0008] この図 9の例では、図 9 (a)のようにクロックの周波数が低ぐその周期 Tがセットアツ プ時間 tと遅延時間 tdとの和( = t + td)以上となるため、フリップフロップ FF65の出 力 so65をフリップフロップ 64の出力 so64に応じたものとすることできる。よって、デー タを欠落させることなくシフトレジスタ SRX, SRYを動作させることができる。
[0009] それに対して、図 10 (a)のように、クロックの周波数を高くしてその周期 Tがセットァ ップ時間 tと遅延時間 tdとの和( = t + td)よりも短くなつたとき、フリップフロップ FF64 では、その入力 si64及び出力 so64が図 10 (b)、(c)のようになり、クロックに応じた動 作を行うことができる。しかしながら、フリップフロップ FF65への入力 si65が図 10 (d) のようになり、クロックの立ち上がりの後に入力 si65が変化する。そのため、図 10 (e) のように、フリップフロップ FF65の出力 so65がフリップフロップ FF64からの出力 so6 4に応じたものとならなレ、。よって、フリップフロップ FF65でデータが欠落してしまう。 課題を解決するための手段
[0010] このような問題を鑑みて、本発明は、複数のシフトレジスタが構成されて、そのシフト レジスタの出入力間を接続して動作させるとき、高周波についても誤動作なくシフトレ ジスタが駆動することができる半導体集積回路装置を提供することを目的とする。
[0011] 上記目的を達成するために、本発明の半導体集積回路装置は、第 1一第 nシフトレ ジスタと、該第 1一第 nシフトレジスタそれぞれに与えられるデータが入力される第 1一 第 n入力端子と、第 k (kは、 l≤k≤n— 1の整数)シフトレジスタの出力と第 k+ 1シフト レジスタの入力との電気的な接離を行う第 1スィッチと、前記第 k+ 1シフトレジスタの 入力と該第 k+ 1シフトレジスタへのデータが入力される第 k+ 1入力端子との電気的 な接離を行う第 2スィッチと、前記第 1スィッチ及び前記第 2スィッチの ON/OFFを 切り換えるための選択信号が入力される選択信号入力端子と、を備え、前記第 kシフ トレジスタと前記第 k+ 1シフトレジスタを結合して使用する際は、前記選択信号によ つて、前記第 1スィッチを〇Nとするとともに、前記第 2スィッチを OFFとし、又、前記第 kシフトレジスタと前記第 k+ 1シフトレジスタを分割して使用する際は、前記選択信号 によって、前記第 1スィッチを OFFとするとともに、前記第 2スィッチを〇Nとすることを 特徴とする。
[0012] 又、本発明の半導体集積回路装置は、第 1一第 nシフトレジスタと、該第 1一第 nシ フトレジスタそれぞれに与えられるデータが入力される第 1一第 n入力端子と、第 k + l (kは、 l≤k≤n— 1)シフトレジスタへのデータが入力される第 k+ 1入力端子の外部 との接続状態に応じて、前記第 kシフトレジスタの出力と前記第 k+ 1シフトレジスタの 入力とを接続するか、又は、前記第 k+ 1入力端子と前記第 k+ 1シフトレジスタの入 力とを接続するかを切換制御する切換制御部を備えるとともに、前記第 k+ 1入力端 子が外
部と接続されていない開放状態であることを前記切換制御部が確認したとき、前記第 kシフトレジスタの出力と前記第 k+ 1シフトレジスタの入力とを接続するとともに、前記 第 k+ 1入力端子と前記第 k+ 1シフトレジスタの入力との接続を切断し、前記第 k+ 1 入力端子が外部と接続されてデータが入力されていることを前記切換制御部が確認 したとき、前記第 kシフトレジスタの出力と前記第 k+ 1シフトレジスタの入力との接続 を切断するとともに、前記第 k+ 1入力端子と前記第 k+ 1シフトレジスタの入力とを接 続することを特徴とする。
発明の効果
[0013] 本発明によると、複数のシフトレジスタが構成され、隣接するシフトレジスタの出力と 入力との間における接続を内部で行うことができるため、従来のように、外部基盤配 線によって接続する必要がない。よって、従来のように外部の寄生負荷容量などの影 響によるシフトレジスタ間での遅延を抑制することができるため、 P 接するシフトレジス タを連結して駆動する場合においても、周波数の高いクロックによって動作させること ができる。又、本発明によると、外部からの入力をそれぞれのシフトレジスタに与える か又は外部からの信号数をシフトレジスタの数より少ないものとし各シフトレジスタの 入出力の接続させるかを選択することができる。よって、半導体集積回路装置内のシ フトレジスタを分割して使用するカ 又は、連結して使用するかを選択することができ る。
[0014] 又、本発明によると、従来、各シフトレジスタからの出力を外部に出力するための出 力端子を選択信号入力端子に変更して使用することができるため、従来の半導体集 積回路装置と比較して、その端子数を増加させることなく実現することができる。更に 、入力端子における外部との接続状態により切換を行えるものとすることで、選択信 号を入力するための選択信号入力端子を削除することができ、その端子数を減らす こと力 Sできる。 図面の簡単な説明
[0015] [図 1]第 1の実施形態のシフトレジスタを備えた半導体集積回路装置の内部構成を示 すブロック回路図。
[図 2]トランジスタスィッチの構成を示す回路図。
[図 3]第 1の実施形態のシフトレジスタを備えた半導体集積回路装置の別の内部構成 を示すブロック回路図。
[図 4]第 2の実施形態のシフトレジスタを備えた半導体集積回路装置の内部構成を示 すブロック回路図。
[図 5]第 2の実施形態のシフトレジスタを備えた半導体集積回路装置の別の内部構成 を示すブロック回路図。
[図 6]図 5の半導体集積回路装置内部の抵抗を MOSトランジスタで構成したときの構 成を示す図。
[図 7]第 2の実施形態のシフトレジスタを備えた半導体集積回路装置の別の内部構成 を示すブロック回路図。
[図 8]従来のシフトレジスタを備えた半導体集積回路装置の内部構成を示すブロック 回路図。
[図 9]図 7の半導体集積回路内の一部の動作を示すタイミングチャート。
[図 10]図 7の半導体集積回路内の一部の動作を示すタイミングチャート。
符号の説明
[0016] 1, la, lb 半導体集積回路装置
2, 20 切換制御部
発明を実施するための最良の形態
[0017] ぐ第 1の実施形態 >
本発明の第 1の実施形態について、図面を参照して説明する。図 1は、本実施形態 の半導体集積回路装置の内部構成を示すブロック回路図である。
[0018] 図 1の半導体集積回路装置 1は、フリップフロップ FF1— FF64と入力ドライバ Dinl とによって構成される 64ビットのシフトレジスタ SRIと、フリップフロップ FF65 FF12 8によって構成される 64ビットのシフトレジスタ SR2と、シフトレジスタ SR1へのシリア ルデータが入力される入力端子 SI1と、クロックが入力されるクロック入力端子 CLKと 、シフトレジスタ SR2へのシリアルデータが入力される入力端子 SI2と、入力端子 SI2 力 に接続された入力ドライバ Din2と、フリップフロップ FF64の出力とフリップフロッ プ FF65の入力との間の電気的な接離を行うトランジスタスィッチ SWAと、入力ドライ バ Din2とフリップフロップ FF65の入力との間の電気的な接離を行うトランジスタスィ ツチ SWBと、スィッチ SWA, SWBの ON/OFFを制御する選択信号が入力される 選択信号入力端子 SELと、選択信号入力端子 SELに接続されたインバータ Invと、 を備える。
[0019] 尚、トランジスタスィッチ SWA, SWBは、図 2のように、 Pチャネルの M〇Sトランジス タ Tpと Nチャネルの MOSトランジスタ Tnとが並列に接続されて構成される。そして、 トランジスタスィッチ SWAにおいて、 M〇Sトランジスタ Tpのゲートにインバータ Invで 反転された選択信号が入力されるとともに、 M〇Sトランジスタ Tnのゲートに選択信号 入力端子 SELを介して入力される選択信号が入力される。又、トランジスタスィッチ S WBにおいて、 MOSトランジスタ Tnのゲートにインバータ Invで反転された選択信号 が入力されるとともに、 MOSトランジスタ Tpのゲートに選択信号入力端子 SELを介し て入力される選択信号が入力される。
[0020] このように接続されるとき、シフトレジスタ SRI, SR2によって 128ビットのシフトレジ スタを構成するとき、選択信号入力端子 SELより入力される選択信号がハイとされ、 スィッチ SWAを ONとするとともに、スィッチ SWBを OFFとする。よって、シフトレジス タ SR1のフリップフロップ FF64から出力されるデータがスィッチ SWAを介してフリツ プフロップ FF65の入力に入力される。
[0021] よって、半導体集積回路装置 1内部で、フリップフロップ FF64の出力とフリップフロ ップ FF65の入力とが接続される。そのため、図 8のような従来の構成と異なり、フリツ プフロップ FF64の出力とフリップフロップ FF65の入力との間の出力ドライバ Dout及 び入力ドライバ Dinが省かれるとともに、半導体集積回路装置外部で外部基盤配線 を介して接続する必要がないため、フリップフロップ FF64の出力とフリップフロップ F F65の入力との間で発生する遅延を防ぐことができる。
[0022] 又、シフトレジスタ SR1, SR2によって 64ビットの 2つのシフトレジスタを構成し、シフ トレジスタ SRI , SR2それぞれに対して、入力端子 SI1 , SI2よりデータを入力すると き、選択信号入力端子 SELより入力される選択信号がローとされ、スィッチ SWAを O FFとするとともに、スィッチ SWBを ONとする。よって、入力端子 SI2から入力される に入力される。
[0023] このように構成することで、選択信号を切り換えることで、半導体集積回路装置 1内 に構成される複数のシフトレジスタを 1つのシフトレジスタとして連結させて使用すると き、 P 接するシフトレジスタの入出力間で発生するデータの遅延を抑制することがで きる。よって、クロックの周波数が高くしたときにおいても、 P 接するするシフトレジスタ の入出力間におけるデータの欠落を防ぐことができる。又、図 8のような従来の構成 において出力端子 S〇lとして使用されてレ、た端子を選択信号入力端子 SELに置換 することがで
き、従来と同数の端子を用いて構成することができる。
[0024] 尚、本実施形態において、 2つの 64ビットのシフトレジスタが半導体集積回路装置
1内に構成されるものとした力 64ビットのシフトレジスタと限定されるものでなぐビッ ト数の異なるシフトレジスタであっても構わない。又、トランジスタスィッチ SWA, SWB についても、トランジスタスィッチに限らず、別の構成のスィッチとしても構わない。
[0025] 又、図 3のように、 n個のシフトレジスタ SR1— SRnを備え、シフトレジスタ SR1— SR nにおいて隣接するシフトレジスタの間に、 n— 1個のスィッチ SWA1— SWAn— 1及 び n— 1個のスィッチ SWB1— SWBn— 1が設けられるものとしても構わなレ、。このとき 、 n— 1個の選択信号入力端子 SEL1— SELn— 1と n— 1個のインバータ Invl— Invn - 1が構成され、それぞれを介して与えられる選択信号及び反転された選択信号がス イッチ SWA1— SWAn_l及びスィッチ SWB1— SWBn_lに入力される。
[0026] 又、入力端子 SI2 Sin及び入力ドライブ Din2— Dinnがシフトレジスタ SR2 SR nに外部からデータ入力されるときに使用される。よって、スィッチ SWA1 SWAn— 1及びスィッチ SWB1 SWBn_lの ON/OFFを選択信号によって切り換えること で、シフトレジスタ SR1 SRnを分割又は連結して、所望のビット数に応じたシフトレ ジスタを構成することができる。 [0027] 更に、このとき、設置される選択信号入力端子の数を n-1よりも少ないものとして、 選択信号入力端子に入力される選択信号のパルス数によりスィッチ SWA1— SWA n-1 , SWB1— SWBn— 1の切換を設定する切換制御部を備えるものとしても構わな レ、。
ぐ第 2の実施形態 >
本発明の第 2の実施形態について、図面を参照して説明する。図 4は、本実施形態 の半導体集積回路装置の内部構成を示すブロック回路図である。尚、図 4の半導体 集積回路装置において、図 1の半導体集積回路装置と同一の目的で使用する部分 については、同一の符号を付してその詳細な説明は省略する。
[0028] 図 4の半導体集積回路装置 l aは、シフトレジスタ SRI , SR2と、入力端子 SI1, SI2 と、クロック入力端子 CLKと、入力ドライバ Din2と、トランジスタスィッチ SWA,トラン ジスタスイッチ SWBと、入力端子 SI2の状態に応じてスィッチ SWA, SWBの ON/ OFFを制御する選択信号を生成するとともに入力端子 SI2に入力された信号を入力 ドライバ Din2に送出する切換制御部 2と、切換制御部 2からの選択信号を反転する インバータ Invxと、を備える。又、切換制御部 2からの選択信号がスィッチ SWAの M OSトランジスタ Tpのゲート及びスィッチ SWBの MOSトランジスタ Tnのゲートに入力 されるとともに、インバータ Ιηνχで反転された選択信号がスィッチ SWAの MOSトラン ジスタ Tnのゲート及びスィッチ SWBの MOSトランジスタ Tpのゲートに入力される。
[0029] このような構成の半導体集積回路装置 l aにおいて、切換制御部 2は、次の 3つの 状態に応じて動作する。
( 1 )入力端子 SI2が外部と接続されず、データが入力されていないとき (ハイインピー ダンス状態)
(2)入力端子 SI2に外部からハイとなるデータが入力されるとき (ハイ入力状態)
(3)入力端子 SI2に外部からローとなるデータが入力されるとき(ロー入力状態) ( 1 )ハイインピーダンス状態のとき
切換制御部 2からローとなる選択信号が出力されるため、スィッチ SWAが ONとなる とともにスィッチ SWBが OFFとなる。よって、シフトレジスタ SR1のフリップフロップ FF 64から出力されるデータ力 シフトレジスタ SR2のフリップフロップ FF65の入力にス イッチ SWAを介して入力され、シフトレジスタ SRI , SR2が連結されて、 128ビットの シフトレジスタが構成される。
(2)ハイ入力状態のとき
切換制御部 2からハイとなる選択信号が出力されるため、スィッチ SWAが OFFとな るとともにスィッチ SWBが ONとなり、更に、入力端子 SI2からのハイとなるデータが、
F65の入力に入力される。
(3)ロー入力状態の時
切換制御部 2からローとなる選択信号が出力されるため、スィッチ SWAが OFFとな るとともにスィッチ SWBが ONとなり、更に、入力端子 SI2からのローとなるデータが、
F65の入力に入力される。
[0030] よって、(2)又は(3)のように入力端子 SI2に外部からデータが入力されるとき、外 部からのデータが、シフトレジスタ SR2のフリップフロップ FF65の入力に切換制御部 2及び入力ドライブ Din2及びスィッチ SWBを介して入力され、シフトレジスタ SRI , S R2が分割されて、 64ビットのシフトレジスタが 2つ構成される。
[0031] このように構成することで、本実施形態の半導体集積回路装置 laは、第 1の実施形 態の半導体集積回路装置 1と比較したとき、選択信号が入力される選択信号入力端 子 SELを削除することができる。尚、トランジスタスィッチ SWA, SWBについて、トラ ンジスタスイッチに限らず、別の構成のスィッチとしても構わなレ、。
(本実施形態における別の構成例)
又、本実施形態の別の構成例として、図 5のような構成とすることで、トランジスタス イッチ SWBを省略することができる。図 5の半導体集積回路装置 lbは、入力端子 SI 2に一端が接続された抵抗 Ra, Rbと、抵抗 Ra, Rbの接続ノードに入力側が接続さ れるインバータ II一 13と、インバータ 13の出力が入力されるインバータ 14と、インバー タ 12, 14の出力が入力される EXOR回路 EX1と、 EXOR回路 EX1の出力が入力さ れるインバータ 15と、インバータ 15からの出力がゲートに入力される Nチャネルの M〇 Sトランジスタ Tla及び Pチャネルの MOSトランジスタ T2aと、 EXOR回路 EX1の出 ランジスタ T2bと、インバータ IIからの出力がゲートに入力される Pチャネルの MOSト ランジスタ T3a及び Nチャネルの MOSトランジスタ T3bと、を備える。
[0032] 又、このように構成されるとき、抵抗 Raの他端に電源電圧 VDDが印加されるととも に抵抗 Rbの他端が接地される。更に、インバータ 12の出力がハイからローに切り替 わる入力の閾値を 3Z4VDDとするとともに、インバータ 13の出力がハイからローに切 り替わる入力の閾値を 1Z4VDDとする。即ち、インバータ 12への入力が 0— 3Z4V DDのとき出力がハイとなり、逆に入力が 3Z4VDD VDDのとき出力がローとなる。 又、インバータ 13への入力が 0— 1/4VDDのとき出力がハイとなり、逆に入力が lZ 4VDD VDDのとき出力がローとなる。インバータ II , 14, 15については、入力に対 する閾値が 1/4VDD又は 3/4VDDのいずれでも構わない。
[0033] 又、 M〇Sトランジスタ Tlaのドレイン及び M〇Sトランジスタ Tibのソースがシフトレ ジスタ SR1のフリップフロップ FF64の出力に接続されるとともに、 MOSトランジスタ T
R2のフリップフロップ FF65の入力に接続される。又、 MOSトランジスタ T3aのソース に直流電圧 VDDが印加されるとともに、 MOSトランジスタ T3aのドレインに MOSトラ ンジスタ T2aのソースが接続される。又、 MOSトランジスタ T3bのソースが接地される とともに、 MOSトランジスタ T3bのドレインに MOSトランジスタ T2bのソースが接続さ れる。そして、 MOSトランジスタ T2a, T2bのドレインが、シフトレジスタ SR2のフリップ フロップ FF65の入力に接続される。このとき、 MOSトランジスタ Tla, Tibによって、 トランジスタスィッチが構成される。
(1)ハイインピーダンス状態のとき
このような構成において、入力端子 SI2が外部からのデータが入力されなレ、ハイィ ンピーダンス状態であるとき、抵抗 Ra, Rbによって分圧された直流電圧 VDD/2が インバータ II一 13に入力される。よって、インバータ 12の出力がハイとなるとともに、ィ ンバータ 13の出力がローとなる。そのため、インバータ 13の出力が入力されるインバ ータ 14の出力がハイとなって、インバータ 12, 14の出力が入力される EXOR回路 EX 1の出力がローとなる。更に、 EXOR回路 EX1の出力が入力されるインバータ 15の出 力がハイとなる。
[0034] そして、 MOSトランジスタ Tib, T2bのゲートには、ローとなる EXOR回路 EX1から の出力が入力されるため、 MOSトランジスタ Tibが ONとなるとともに MOSトランジス タ T2bが OFFとなる。又、 MOSトランジスタ Tla, T2aのゲートには、ノ、ィとなるイン バータ 15からの出力が入力されるため、 MOSトランジスタ Tlaが ONとなるとともに M OSトランジスタ T2aが OFFとなる。よって、このとき、フリップフロップ FF64力 出力さ れるデータが M〇Sトランジスタ Tla, Tibによるトランジスタスィッチを介してフリップ フロップ FF65に入力される。
(2)ハイ入力状態のとき
又、入力端子 SI2が外部からのハイとなるデータが入力されるとき、このハイ (VDD に相当)となるデータがインバータ II一 13に入力される。よって、インバータ II一 13そ れぞれの出力がローとなるとともに、インバータ 13の出力が入力されるインバータ 14の 出力がハイとなって、インバータ 12, 14の出力が入力される EXOR回路 EX1の出力 がハイとなる。更に、 EXOR回路 EX1の出力が入力されるインバータ 15の出力がロー となる。
[0035] そして、 MOSトランジスタ Tib, T2bのゲートには、ハイとなる EXOR回路 EX1から の出力が入力されるため、 MOSトランジスタ Tibが OFFとなるとともに MOSトランジ スタ T2bが ONとなる。又、 MOSトランジスタ Tla, T2aのゲートには、ローとなるイン バータ 15からの出力が入力されるため、 MOSトランジスタ Tlaが OFFとなるとともに MOSトランジスタ T2aが ONとなる。
[0036] 更に、 MOSトランジスタ T3a, T3bのゲートには、ローとなるインバータ IIからの出 力が入力されるため、 MOSトランジスタ T3aが ONとなるとともに MOSトランジスタ T3 bが OFFとなる。よって、このとき、 M〇Sトランジスタ T2a, T3aを介して電源電圧 VD D (ハイ)がフリップフロップ FF65に入力される。
(3)ロー入力状態のとき
又、入力端子 SI2が外部からのローとなるデータが入力されるとき、このロー(0に相 当)となるデータがインバータ II一 13に入力される。よって、インバータ II一 13それぞ れの出力がハイとなるとともに、インバータ 13の出力が入力されるインバータ 14の出力 がローとなって、インバータ 12, 14の出力が入力される EXOR回路 EX1の出力; となる。更に、 EXOR回路 EX1の出力が入力されるインバータ 15の出力がローとなる
[0037] そして、 M〇Sトランジスタ Tib, T2bのゲートには、ノ、ィとなる EXOR回路 E
XIからの出力が入力されるため、 M〇Sトランジスタ Tibが OFFとなるとともに M〇Sト ランジスタ T2bが〇Nとなる。又、 M〇Sトランジスタ Tla, T2aのゲートには、ローとな るインバータ 15からの出力が入力されるため、 M〇Sトランジスタ Tlaが OFFとなるとと もに MOSトランジスタ T2aが〇Nとなる。
[0038] 更に、 M〇Sトランジスタ T3a, T3bのゲートには、ハイとなるインバータ IIからの出 力が入力されるため、 MOSトランジスタ T3aが OFFとなるとともに M〇Sトランジスタ T 3bが ONとなる。よって、このとき、 MOSトランジスタ T2b, T3bを介して接地電圧(口 一)がフリップフロップ FF65に入力される。
[0039] よって、(2)又は(3)のように入力端子 SI2に外部からデータが入力されるとき、 MO Sトランジスタ Tla, Tibによるトランジスタスィッチが OFFされるとともに、外部からの
OSトランジスタ T2a, T2b, T3a, T3bを介して入力され、シフトレジスタ SRI , SR2 が分割されて、 64ビットのシフトレジスタが 2つ構成される。
[0040] このように構成されるとき、抵抗 Ra, Rbをそれぞれ、図 6のように、ゲートが接地され るとともにソースに電源電圧 VDDが印加された Pチャネルの MOSトランジスタ Taと、 ゲートに電源電圧 VDDが印加されるとともにソースが接地された Nチャネルの MOS トランジスタ Tbとで構成されるようにしても構わない。この MOSトランジスタ Ta, Tbの ドレインが接続されるとともに、この接続ノードがインバータ II一 13の入力に接続され る。
[0041] この図 5のような構成によると、第 1の実施形態の半導体集積回路装置 1と比較した とき、選択信号が入力される選択信号入力端子 SEL及びトランジスタスィッチ SWB 及び入力ドライブ Din2を削除した構成とすることができる。
[0042] 尚、本実施形態において、 2つの 64ビットのシフトレジスタが半導体集積回路装置 1内に構成されるものとした力 64ビットのシフトレジスタと限定されるものでなぐビッ ト数の異なるシフトレジスタであっても構わなレ、。
[0043] 又、図 7のように、 n個のシフトレジスタ SR1— SRnを備え、シフトレジスタ SR1— SR nにおいて隣接するシフトレジスタの間に、 n— 1個のスィッチ SWA1— SWAn— 1及 び n_l個のスィッチ SWB1— SWBn_lが設けられるものとしても構わなレ、。又、入力 端子 SI2 Sin及び入力ドライブ Din2 Dinnがシフトレジスタ SR2 SRnに外部か らデータ入力されるときに使用される。
[0044] このとき、入力端子 SI2 Sinと接続された切換制御部 20と切換制御部 20からの n - 1の選択信号それぞれが入力される n - 1個のインバータ Invxl— Invxn - 1が構成 され、切換制御部 20力 与えられる選択信号及びインバータ Invxl— Invxn— 1で反 転された選択信号がスィッチ SWA1 SWAn_l及びスィッチ SWB1 SWBn_lに 入力される。よって、スィッチ SWA1— SWAn_l及びスィッチ SWB1— SWBn_lの ON/OFFを入力端子 SI2—1— SI2— n_lの状態によって切り換えることで、シフトレ ジスタ SR1— SRnを分割又は連結して、所望のビット数に応じたシフトレジスタを構 成すること力 Sできる。
[0045] 更に、図 5のようなインバータ II一 15及び EXOR回路 EX1及び MOSトランジスタ T la— T3a, Tib— T3bによる論理回路を、 n個のシフトレジスタ SR1— SRnの内の隣 接するシフトレジスタの入出力毎に n— 1個設けるとともに、この論理回
路 1つに対して 1つの入力端子を設けるようにしても構わない。

Claims

請求の範囲
[1] 第 1一第 nシフトレジスタと、
該第 1一第 nシフトレジスタそれぞれに与えられるデータが入力される第 1一第 n入 力端子と、
第 k (kは、 l≤k≤n— 1の整数)シフトレジスタの出力と第 k+ 1シフトレジスタの入力 との電気的な接離を行う第 1スィッチと、
前記第 k+ 1シフトレジスタの入力と該第 k+ 1シフトレジスタへのデータが入力され る第 k+ 1入力端子との電気的な接離を行う第 2スィッチと、
前記第 1スィッチ及び前記第 2スィッチの ON/OFFを切り換えるための選択信号 が入力される選択信号入力端子と、
を備え、
前記第 kシフトレジスタと前記第 k+ 1シフトレジスタを結合して使用する際は、前記 選択信号によって、前記第 1スィッチを ONとするとともに、前記第 2スィッチを OFFと し、
又、前記第 kシフトレジスタと前記第 k+ 1シフトレジスタを分割して使用する際は、 前記選択信号によって、前記第 1スィッチを OFFとするとともに、前記第 2スィッチを ONとすることを特徴とする半導体集積回路装置。
[2] 前記第 k+ 1入力端子と前記第 2スィッチとの間に入力ドライバが設けられるとともに 、前記第 1シフトレジスタ内に入力ドライバが設けられることを特徴とする請求項 1に記 載の半導体集積回路装置。
[3] 前記第 1及び第 2スィッチをトランジスタスィッチとすることを特徴とする請求項 1に記 載の半導体集積回路装置。
[4] 第 1一第 nシフトレジスタと、
該第 1一第 nシフトレジスタそれぞれに与えられるデータが入力される第 1一第 n入 力端子と、
第 k+ 1 (kは、 1≤k≤n— 1)シフトレジスタへのデータが入力される第 k+ 1入力端 子の外部との接続状態に応じて、前記第 kシフトレジスタの出力と前記第 k+ 1シフト レジスタの入力とを接続する力、又は、前記第 k+ 1入力端子と前記第 k+ 1シフトレ 、力とを接続するかを切換制御する切換制御部を備えるとともに、 前記第 k+ 1入力端子が外部と接続されていない開放状態であることを前記切換制 御部が確認したとき、前記第 kシフトレジスタの出力と前記第 k+ 1シフトレジスタの入 力とを接続するとともに、前記第 k+ 1入力端子と前記第 k+ 1シフトレジスタの入力と の接続を切断し、
前記第 k+ 1入力端子が外部と接続されてデータが入力されていることを前記切換 制御部が確認したとき、前記第 kシフトレジスタの出力と前記第 k+ 1シフトレジスタの 入力との接続を切断するとともに、前記第 k+ 1入力端子と前記第 k+ 1シフトレジスタ の入力とを接続することを特徴とする半導体集積回路装置。
[5] 前記第 kシフトレジスタの出力と第 k+ 1シフトレジスタの入力との電気的な接離を行 う第 1スィッチと、
前記第 k+ 1シフトレジスタの入力と該第 k+ 1シフトレジスタへのデータが入力され る第 k+ 1入力端子との電気的な接離を行う第 2スィッチと、
を備え、
前記切換制御部から前記第 1スィッチ及び前記第 2スィッチの ON/OFFを切り換 える選択信号が出力されることを特徴とする請求項 4に記載の半導体集積回路装置
[6] 前記第 2スィッチと前記第 k+ 1シフトレジスタとの間に、前記第 k+ 1入力端子から 入力されるデータが前記切換制御部を介して与えられる入力ドライバが設けられると ともに、
前記第 1シフトレジスタ内に入力ドライバが設けられることを特徴とする請求項 5に記 載の半導体集積回路装置。
[7] 前記第 1及び第 2スィッチをトランジスタスィッチとすることを特徴とする請求項 5に記 載の半導体集積回路装置。
[8] データが第 1電圧と第 2電圧の 2値の信号よりなるデータであるとき、
前記切換制御部が、
前記第 k+ 1入力端子に一端が接続されるとともに他端に第 1電圧が印加された第 1抵抗と、 前記第 k+ 1入力端子に一端が接続されるとともに他端が第 2電圧が印加された第 2抵抗と、
前記第 1及び第 2抵抗と前記第 k+ 1入力端子との接続ノードの電圧が入力される とともに前記第 1及び第 2抵抗による前記第 1及び第 2電圧の分圧電圧を検出したと きに第 1信号を出力するとともに前記第 1又は第 2電圧を検出したとき第 2信号を出力 する外部入力検出回路と、
前記第 kシフトレジスタの出力と前記第 k+ 1シフトレジスタの入力との間に接続され るとともに当該外部入力検出回路から前記第 1信号が出力されたとき ONとなる第 1ス イッチと、
前記第 1及び第 2抵抗と前記第 k+ 1入力端子との接続ノードの電圧が入力される 第 1インバータと、
前記第 2電圧が第 2電極に接続されるとともに制御電極に前記第 1インバータの出 力が接続された第 1トランジスタと、
前記第 1電圧が第 2電極に接続されるとともに制御電極に前記第 1インバータの出 力が接続された前記第 1トランジスタと逆極性の第 2トランジスタと、
前記第 1トランジスタの第 1電極に一端が接続されるとともに他端が前記第 k+ 1シ フトレジスタの入力に接続されて前記外部入力検出回路から前記第 2信号が入力さ れたとき ONとなる第 2スィッチと、
前記第 2トランジスタの第 1電極に一端が接続されるとともに他端が前記第 k+ 1シ フトレジスタの入力に接続されて前記外部入力検出回路から前記第 2信号が入力さ れたとき ONとなる第 3スィッチと、
を備え、
前記第 1スィッチが〇Nのときに前記第 2及び第 3スィッチが OFFとなり、前記第 1ス イッチが OFFのときに前記第 2及び第 3スィッチが〇Nとなることを特徴とする請求項 4に記載の半導体集積回路装置。
[9] 前記第 1電圧が前記第 2電圧よりも高ぐ
前記外部入力検出回路が、
前記第 1及び第 2抵抗と前記第 k+ 1入力端子との接続ノードの電圧が入力される とともに前記第 1及び第 2抵抗による前記第 1及び第 2電圧の分圧電圧よりも高い電 圧が入力されるとき前記第 2電圧に相当するローを出力する第 2インバータと、 前記第 1及び第 2抵抗と前記第 k+ 1入力端子との接続ノードの電圧が入力される とともに前記第 1及び第 2抵抗による前記第 1及び第 2電圧の分圧電圧よりも低い電 圧が入力されるとき前記第 1電圧に相当するハイを出力する第 3インバータと、 該第 3インバータの出力が入力される第 4インバータと、
前記第 2インバータと前記第 4インバータの出力が入力される排他的論理和回路と を備え、
前記排他的論理和回路からの出力がハイとなるときに前記第 1スィッチが OFFとな るとともに前記第 2及び第 3スィッチが〇Nとなり、前記排他的論理和回路からの出力 力ローとなるときに前記第 1スィッチが ONとなるとともに前記第 2及び第 3スィッチが O FFとなることを特徴とする請求項 8に記載の半導体集積回路装置。
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