WO2004102754A1 - 光モジュールおよびその波長監視制御方法 - Google Patents

光モジュールおよびその波長監視制御方法 Download PDF

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wavelength
bias current
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Shingo Kawai
Hideo Kawada
Naoto Yoshimoto
Toru Ogawa
Katsumi Iwatsuki
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Nippon Telegraph And Telephone Corporation
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    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters

Definitions

  • the present invention relates to an optical module, a wavelength monitoring method thereof, and a wavelength monitoring control method thereof. More particularly, the present invention relates to a wavelength monitoring method for wavelength monitoring in an optical transmission module and an optical transmission / reception module, and a wavelength control and wavelength monitoring control method in an optical transmission module and an optical transmission / reception module.
  • wavelength division multiplexing (WDM) technology which bundles and transmits different wavelengths in a single fiber, has been introduced around core networks.
  • WDM wavelength division multiplexing
  • the wavelength of the laser diode (LD) used as a signal source must be stabilized within the passband of the optical multiplexer / demultiplexer.
  • the passband of the optical multiplexer / demultiplexer is narrow, so wavelength monitoring control needs to be performed.
  • the accuracy of this wavelength monitoring control depends on the wavelength interval, so as the wavelength interval is narrowed, the wavelength accuracy becomes strict.
  • the wavelength spacing is mainly 200 GHz to 50 GH z (1.6 nm to 0.4 nm). In the future, the wavelength spacing will be narrower.
  • the oscillation wavelength of the LD is significantly affected by the temperature.
  • a wavelength monitoring control mechanism is provided inside the light transmission module or the light transmission / reception module. This wavelength supervisor The vision control mechanism controls the monitor output signal for wavelength monitoring and control to the temperature controller to maintain the oscillation wavelength constant.
  • Fig. 12 is a schematic diagram of a conventional wavelength monitoring control mechanism disclosed in Takagi et al. "DFB laser module with 25 GHz spacing wavelength monitor" C- 4-44, 2002.
  • An example of an optical system for wavelength monitoring and control using the etalon (or Fabry-Perot optical resonator) is shown.
  • 12 is an optical fiber
  • 13 is a front lens
  • 14 is a DFB-LD (distributed feedback laser diode)
  • 15 is a rear lens
  • 16 is a prism
  • 17 is a temperature controller
  • 18 is an etalon
  • 19a and 19b are 7 shows a light detector.
  • a wavelength monitoring control method using an etalon as a wavelength monitoring control optical system is also disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2001-196689, 2003-283044 and US Pat. No. 6,353,623.
  • the DFB-LD 14 is placed at the center, and the optical signal transmission optical system is shown on the arrow A side. Laser light emitted from the front end face is collimated by the front lens 13 and coupled to the optical fiber 12. On the other hand, the optical system for wavelength monitoring control of DFB-LD 14 is shown on the opposite side of arrow A.
  • the LD light emitted from the rear end is used for supervisory control.
  • the LD light is collimated by the rear lens 15 and branched into two by the prism 16. One is directly coupled to the photodetector 19 a and the other is incident on the etalon 18.
  • the output signal of the light directly incident on the light detector 19a is used for automatic light output control.
  • the output signals incident on the two photodetectors 19a and 19b are used for wavelength supervisory control.
  • the light passing through the etalon 18 is collated and incident on the light detector 19b.
  • the resonator length of the etalon 18 is precisely adjusted to correspond to the wavelength to be monitored. Therefore, when the wavelength changes, the amount of light to be transmitted changes, and the difference from the output signal directly input to the photodetector 19a is detected as the output fluctuation of the photodetector 19b.
  • This output is feedpacked to the temperature controller 17 of the LD light to control the wavelength of the LD light. In this way, the wavelength is directly extracted and controlled in hardware.
  • Japanese Patent Laid-Open Publication No. Hei 1 1235 1090 has a wavelength monitoring control method for controlling temperature by storing in advance the relationship between environmental temperature and wavelength variation (shift amount of wavelength). It is disclosed.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-235 has stored in advance data obtained by measuring the laser temperature with respect to the laser drive current, and predicts the actual temperature increase based on this data. Discloses a wavelength monitoring control method for controlling the laser drive current.
  • the temperature is controlled using the relationship between the environmental temperature and the change in wavelength (shift amount) stored in advance. Therefore, sufficient monitoring control can not be performed when the change in wavelength (shift amount) is caused by something other than temperature. Disclosure of the invention
  • the present invention has been made in view of such problems, and the object of the present invention is to reduce the size and reduce the power consumption for wavelength monitoring and control without requiring a complicated optical system for the wavelength monitoring and control mechanism.
  • an object of the present invention is to provide an optical module capable of controlling the wavelength of light emitted from the LD to a desired value, and a wavelength monitoring control method thereof.
  • the optical transmitter module or the optical transmitter and receiver module is internally provided with the temperature of the laser diode and only the bias current or temperature.
  • a storage unit in which the relationship between the temperature and bias current and wavelength or the relationship between only the temperature and wavelength is stored, and a central control unit for controlling the measurement unit and the storage unit. And calculating the wavelength from the relationship stored in the storage unit.
  • the wavelength monitoring method in the optical transmission module or the optical transmission / reception module includes a measuring unit for measuring only the temperature of the laser diode and the temperature, and the temperature and the bias current.
  • a measuring unit for measuring only the temperature of the laser diode and the temperature, and the temperature and the bias current.
  • an optical transmission module or an optical transmission / reception module comprising: a storage unit in which the relationship between the wavelength and the wavelength or the relationship between the temperature and the wavelength is stored; and a central control unit that controls the measurement unit and the storage unit.
  • the wavelength information is calculated from the temperature and bias current or temperature measured by the measurement unit, the temperature of the laser diode stored in the storage unit, the relationship between bias current and wavelength, or the relationship between temperature and wavelength of the laser diode. It has a wavelength information calculation step to calculate.
  • a wavelength monitoring control method in an optical transmission module or an optical transmission / reception module includes a measuring unit internally measuring a temperature of a laser diode and only a bias current or temperature;
  • a temperature adjustment unit comprising a storage unit in which the relationship between temperature and bias current and wavelength or the relationship between only temperature and wavelength is stored, a central control unit that controls the measurement unit and the storage unit, and a temperature control element And a relationship between the temperature and bias current or temperature measured by the measurement unit, the temperature and bias current of the laser diode stored in the storage unit, and the wavelength, or a laser diode.
  • wavelength monitoring and wavelength monitoring control it is possible to perform wavelength monitoring and wavelength monitoring control by calculating the wavelength from the relationship between the temperature of the LD and the bias current and the wavelength or the relationship between the temperature and the wavelength of the LD previously stored in the storage unit. Since it does not require a complex optical system using an etalon, the configuration is simplified, and miniaturization and cost reduction can be expected. Using such a wavelength monitoring function does not require wavelength monitoring and control. For example, Coarse WDM (wavelength interval 10000 GH z ⁇ 50 nm, I TU — T G. 6 9 4. In 2) as well, the reliability of operations management can be improved, including the ability to proactively respond to system emergencies, and the effect is significant.
  • the wavelength monitoring control can operate the minimum temperature adjustment function when the temperature adjustment function is linked with the external temperature and exceeds the minimum value or the maximum value of the wavelength threshold. As a result, power consumption can be reduced as compared with the case of constant operation.
  • the wavelength control function enables high-density WDM technology to be applied, which makes it possible to increase the number of wavelengths per core in an optical system.
  • the oscillation wavelength can be set to an arbitrary value within the variable range of the temperature control unit by storing the wavelength itself in the memory instead of the fluctuation from the predetermined wavelength.
  • the temperature and the bias current or the measurement unit for measuring the temperature in the optical transmitter module or the optical transceiver module, the temperature of the LD and the relationship between the bias current and the wavelength, or the temperature and the wavelength It is possible to monitor the wavelength by the storage unit in which the relationship between the two is stored and the central control unit that controls them, and furthermore, a temperature control unit consisting of a temperature control element is added in the optical transmission module or optical transmission / reception module. Enables control of the wavelength.
  • These technologies can be miniaturized and mass-produced, and it can be expected that the wavelength monitoring and control functions can be added to the optical transmitter module or the optical transmitter and receiver module inexpensively. Also, compared to the case where the temperature control function operates in conjunction with the external temperature and operates at the minimum necessary temperature control function when the wavelength threshold minimum value or maximum value is exceeded, compared to the case of operating at all times. Power can be reduced.
  • the wavelength monitoring function improves the operational reliability. Also, by applying the wavelength monitoring control method of the optical transmitter module or the optical transmitter and receiver module of the present invention, it is possible to introduce a high density WDM technology with narrow wavelength intervals by the wavelength control function, so the wavelength per core in the optical system The number can be increased.
  • FIG. 1 is a block diagram of a wavelength monitoring optical module according to the present invention.
  • FIG. 2A shows the relationship between temperature and bias current of LD and wavelength.
  • FIG. 2B is a diagram showing the relationship between the temperature of LD and the wavelength.
  • FIG. 3 is a diagram showing the procedure of the method for monitoring the wavelength of an optical module according to the present invention in a chart.
  • FIG. 4 is a block diagram of a wavelength monitoring control optical module according to the present invention.
  • FIG. 5 is a diagram showing a memory map incorporated in the SFP.
  • FIG. 6 is a flowchart showing the procedure for explaining the wavelength monitoring procedure of the wavelength monitoring optical module according to the present invention.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining a wavelength calculation procedure according to the present invention.
  • FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for explaining the wavelength monitoring control method of the optical module for wavelength monitoring control according to the present invention.
  • FIG. 9 is a diagram showing a flow chart for further simplifying the wavelength monitoring control procedure of the optical module for wavelength monitoring control according to the present invention.
  • FIG. 10 is a flowchart showing a procedure for explaining the wavelength monitoring control procedure of the wavelength monitoring control optical module according to the present invention.
  • FIG. 11 is a flowchart showing a procedure for wavelength monitoring control of the wavelength monitoring control optical module according to the present invention.
  • FIG. 12 is a schematic view of a conventional wavelength monitoring control mechanism.
  • FIG. 1 shows the configuration of a wavelength monitoring optical module according to the first embodiment.
  • reference numeral 1 is a measurement unit
  • 2 is a storage unit
  • 3 is a central control unit
  • 4 is a laser diode (laser diode: LD)
  • 5 is a thermistor
  • 6 is an LD drive current detection circuit
  • 7 is an LD drive current control.
  • the circuit 8 indicates a photo diode (PD).
  • the measurement unit 1 measures the temperature with a thermistor 5 in the measurement unit 1, and
  • the bias current is measured using the LD drive current detection circuit 6, and the light output is measured with the PD8.
  • the LD drive current control circuit 7 controls the bias current of the LD 4, and is fed back via the central control unit 3 based on the bias current information calculated from the measurement unit 1.
  • the wavelength is calculated from the relationship between the temperature of 4 and the wavelength (Fig. 2B).
  • the oscillation wavelength can be linearly approximated from the temperature and bias current of the LD 4.
  • the wavelength can be calculated from the measured values of temperature and bias current by the linear interpolation method using a data table as shown in FIG. 2A.
  • the wavelength can also be calculated by another method described in detail below.
  • FIG. 4 is a block diagram of a wavelength monitoring control optical module according to the present invention, in which reference numeral 9 denotes a temperature adjusting unit, 10 denotes a Peltier element, and 11 denotes a Peltier element current control circuit. Components having the same functions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.
  • the wavelength monitoring control is performed by the Peltier element 10 and the Peltier element current control circuit 11 in the temperature adjustment unit 9. It is also possible to control the light output using the PD 8 and the LD drive current control circuit 7. That is, the wavelength monitoring control optical module shown in FIG. 4 is provided with the temperature adjusting unit 9 including a temperature control element in the wavelength monitoring optical module shown in FIG. 1 and the temperature information of wavelength information calculated from the storage unit 2 is adjusted. It has a function to feed back to Section 9.
  • the light part of the device will be described as a small form factor pluggable (SFP) as a small pluggable optical transceiver module. ? Is.
  • the wavelength monitoring method is specified in S FP 8472 rv s i i 9. 9. 9. 9. 9 in omm i t te e.
  • Figure 5 shows the memory map of the SFP.
  • Alarm and Warning Thresholds of Storage Unit 2 The alarm and warning thresholds are set in the 56-byte area at addresses 0 to 55.
  • the temperature, bias current and light output of the LD are measured by the measurement unit 1.
  • this part is assigned a bit to convey alarm or warning information to the external interface if the alarm or warning threshold is exceeded.
  • wavelength information is not included in this SFP. Therefore, wavelength monitoring can be performed by newly adding wavelength information to the place of the above-mentioned additional item.
  • the calculation method of this wavelength information is as shown in FIG. 2A or FIG. 2 from measurement values of LD (here, DFB-LD) in advance in the 12 Obytes of the User Writable EEPROM address 127 to 247 of the storage unit 2 or the expanded memory area.
  • LD here, DFB-LD
  • the relationship between the temperature and the wavelength of the LD or the relationship between the temperature and the bias current and the wavelength is stored.
  • the relationship between the temperature and wavelength of the LD, or the relationship between the temperature and source current, and the wavelength should use a single representative value or design value instead of measuring individually, although the wavelength accuracy will be slightly worse. Is also possible.
  • the wavelength is calculated from the relationship of the wavelength.
  • FIG. 3 is a flowchart showing the procedure of the wavelength monitoring method of the optical module according to the present invention.
  • the temperature, bias current and light output are measured by the measurement unit 1 (S1).
  • the information of the measurement unit is mapped in the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 (S2), and only temperature information or temperature and bias current information, User Writable
  • the wavelength is calculated by comparing it with the EEPROM or the matrix in the added memory section (S3).
  • the minimum threshold value of the wavelength warning in the Alarm and Warning Thresholds of the storage unit 2 is compared with the transmitted wavelength information (S4). If it is less than the minimum threshold value of the wavelength warning, set the Wavelength Low warning bit in the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 to 1 and output the warning signal to the external interface etc (S6).
  • the Wavelength High warning bit in the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 is set to 1, and the warning signal is output to the external interface or the like (S7). If it is below the maximum threshold of wavelength warning, the wavelength warning signal of Real Time Diagnostic Interface of storage unit 2 is not output (warning bit is 0), and temperature, bias current and light output are again measured by measurement unit 1. Measure
  • FIG. 6 is a flowchart showing another embodiment of the wavelength monitoring method in the optical transmission module or the optical transmission / reception module according to the present invention.
  • the wavelength calculation method (S3) is different compared to the wavelength monitoring method shown in FIG.
  • the other steps (S1, S2, S4 to S7) in FIG. 6 are the same as in FIG.
  • the measured temperature information alone or the temperature and bias current information is compared with the matrix in the User writable EEP ROM or the expanded memory unit, and the equation (1) is obtained. Or after finding the coefficients of equation (2), the wavelength was calculated from them (S 3).
  • two temperatures which are smaller and larger than the measured temperature, among the matrix of the user writable ROM as shown in FIG. 2A and the measured bias current information. It is possible to calculate two wavelengths by selecting two bias currents that take small values and large values, and extracting the wavelengths corresponding to these two (for example, temperature and bias current You can take the last 4 points of the measurement value).
  • the wavelength can be calculated by selecting four wavelengths from the relationship between the temperature and bias current of the LD 4 and the temperature and bias current of the laser diode stored in the storage unit 2 and the wavelength. .
  • a temperature T 1 of a value smaller than the measured temperature Tme s a temperature T 2 of a value larger than the measured temperature Tme s, and a bias current of a value smaller than the measured bias current Ime s
  • the bias current I2 is selected to have a value larger than the current I1 and the measured bias current Imes.
  • the wavelength A me s at I me s, T me s is linearly interpolated by linearly complementing the temperature dependence of the wavelength at the bias current I mes. Tme s) can be calculated.
  • wavelengths are extracted from the storage unit 2 first.
  • the bias current I 3 different from the bias current I 1 and I 2
  • the bias current dependence of the wavelength at temperature ⁇ 1 is approximated by a quadratic function using ⁇ 11, ⁇ 21 and ⁇ 31.
  • the bias current dependence of the wavelength at temperature ⁇ 2 is approximated by a quadratic function using ⁇ 12, ⁇ 22, and ⁇ 32.
  • wavelength calculation techniques can be used. For example, it is possible to calculate the wavelength using a matrix indicating the relationship between the temperature and wavelength of the laser diode stored in the storage unit 2 or the relationship between the temperature and bias current and wavelength of the laser diode. it can. In this mode, the wavelength is extracted by making the temperature measurement value and the bias current measurement value correspond to either the stored value of the temperature in the matrix or the stored value of the temperature and bias current.
  • FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for explaining a wavelength monitoring control method in the optical transmission module or the optical transmission / reception module according to the third invention. Specifically, in the case of SFp, it is necessary to add a temperature control unit.
  • the temperature, bias current and light output are measured by the measurement unit 1 (S 11).
  • mapping is performed in the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 (S 12), and the light output is compared with the minimum threshold value of the light output warning in Alarm and Warning Thresholds of the storage unit 2 (S 13). If it is less than the light output warning minimum threshold, the Output power low warning bit in the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 is set to 1 (S15). This information is sent to the LD drive current control circuit 7 to raise the bias current (S17). After this process, the temperature, bias current and light output are measured again by the measurement unit 1.
  • the optical output warning signal in the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 is not output (warning bit is 0) and only temperature information or The wavelength is calculated by comparing the temperature and bias current information with the matrix in the User writable EEPROM or the added memory unit (S 19).
  • the minimum threshold value of the wavelength warning in the Alarm and Warning Thresholds of the storage unit 2 is compared with the transmitted wavelength information (S20). If the wavelength warning is below the minimum threshold, the Wavelength Low warning bit in the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 is set to 1 (S22). This information is sent to the temperature control unit 9, and the internal temperature is raised by the temperature control unit 9 (S24). After this process, the temperature, bias current and light output are measured again by the measurement unit 1.
  • the Wavelength High warning bit 1 in the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 is set (S 23).
  • the internal temperature is lowered by the temperature adjustment unit 9 (S25).
  • wavelength warning is less than the maximum threshold, do not output the wavelength warning signal of the Real Time Diagnostic Interface of the storage unit 2 (warning bit is 0), and measure the temperature, bias current, and light output again by measurement 1. taking measurement.
  • FIG. 9 is a flow chart for further simplifying the procedure of the wavelength monitoring control method in the optical transmission module or the optical transmission / reception module according to the third invention. From the procedure of the wavelength monitoring control method shown in FIG. 8, it is also possible to omit the determination (S 13 to S 18) of the inside and outside of the threshold of the light output.
  • FIG. 10 is a flowchart showing another procedure of the wavelength monitoring control method in the optical transmitting module or the optical transmitting and receiving module according to the third invention. The procedure shown in FIG. 10 will be described in comparison with the procedure of FIG.
  • the wavelength control determines whether the calculated wavelength is within or outside the threshold range, and raises the temperature by setting the alarm bit to 1 only if out of range. Control information indicating whether or not the temperature is lowered is fed back to the temperature control unit.
  • the wavelength value can be controlled with high stability by calculating the temperature value giving the predetermined wavelength and feeding back to the temperature control unit.
  • the coefficients of equation (1) or equation (2) can be obtained by comparing measured temperature information alone or by comparing temperature and bias current information with the matrix in the User Write EEPROM or the expanded memory unit. To calculate the wavelength from them. Next, in the measured bias current, a temperature value giving a predetermined wavelength is calculated according to equation (1) or equation (2), and feed packing is performed by the temperature adjustment unit to obtain the calculated temperature value (S 2) 6). Thereby, the wavelength can be fixed to a predetermined value.
  • FIG. 11 is a flowchart showing another procedure of the wavelength monitoring control method in the optical transmitting module or the optical transmitting and receiving module according to the third invention. This procedure differs from the procedure in Figure 8 in the wavelength monitoring and control procedure.
  • the wavelength control determines whether the calculated wavelength is within the threshold range or not, and the alarm pit is set to 1 only when the wavelength is out of range. Feed-packed to raise or lower the temperature.
  • the wavelength is controlled in a highly stable manner by feeding back control information giving a predetermined wavelength to the temperature adjustment unit.
  • the matrix of User Wri table EEPR OM as shown in Fig. 2A, values smaller and larger than the measured temperature are taken. Select two bias currents that have smaller and larger values than the two measured temperatures and the measured bias current information, extract wavelengths corresponding to these two points, and calculate the wavelength (S 8).
  • the temperature value giving the predetermined wavelength is calculated from the temperature dependency of the wavelength in the bias current I mes, and the temperature adjustment unit feeds back the calculated temperature value (2 7). Thereby, the wavelength can be fixed to a predetermined value.
  • the bias current dependency of the wavelength is linearly complemented, but as described above, the wavelength calculation accuracy can be improved by approximating with a quadratic function or the like. Furthermore, calculation by linear interpolation is performed by making the measured temperature and the wavelength at the bias current always coincide with one of the data points in the matrix by making the number of elements (number of data points) of the matrix sufficiently large. It is also possible to omit the procedure.
  • the adjustment of the light output and the wavelength is performed using the warning signal as a trigger here, it is also possible to trigger the adjustment on a separately given alarm signal.
  • the feedback method described in the embodiment of the wavelength monitor control method in the optical transmission module or the optical transmission / reception module according to the third invention is not limited by the presence or absence of the warning bit.
  • the wavelength monitoring control method of the optical module according to the present invention is not limited to the SFP, and the measuring unit for measuring the temperature and the bias current or the temperature in the optical transmitting module or the optical transmitting and receiving module, the temperature of the LD and
  • the present invention is applied to all optical modules having a storage unit in which the relationship between the bias current and the wavelength or the relationship between the temperature of the LD and the wavelength is recorded, and the temperature control unit consisting of a central control unit and temperature control element that controls these. It is possible.
  • this wavelength monitoring control method stores the wavelength itself rather than the fluctuation from the predetermined wavelength in the memory, the wavelength emitted from the LD can be set to an arbitrary value in the temperature variable range of the temperature adjustment unit. It can also be used as a wavelength variable light source.

Abstract

 本発明は、複雑な光学系を波長監視制御機構に必要としない、小型化可能かつ低消費電力で作動する波長監視および波長監視制御を行うことを目的とする。 計測部(1)は、計測部(1)内のサーミスター(5)で温度を計測し、LD駆動電流検出回路(6)を用いてバイアス電流を計測する。LDの温度、光出力とバイアス電流は、計測部(1)によって計測される。LDの温度と波長の関係あるいは温度およびバイアス電流と波長との関係を記憶部(2)のメモリマップに記憶しておく。中央制御部(3)により、計測部(1)の温度およびバイアス電流あるいは温度の情報と、記憶部(2)のLDの温度およびバイアス電流と波長との関係あるいは温度と波長の関係から波長が算出される。

Description

2004/006767
1 明細書 光モジュールおよびその波長監視制御方法 技術分野
本発明は、光モジュールならびにその波長監視方法およびその波長監視制御方法 に関する。より詳細には、光送信モジュールおよび光送受信モジュールにおける波 長監視を行うための波長監視方法、ならびに光送信モジュールおよび光送受信モジ ユールにおける波長制御および波長監視制御方法に関する。 背景技術
近年、インターネットトラヒックの増大に伴い伝送路の伝送容量を増大すること が求められている。 この要求に応えるために、 1心のファイバで異なる波長を束ね て伝送する波長分割多重(WDM)技術がコアネットワークを中心に導入されてい る。 ここで WD M技術を用いた場合、異なる波長が各々個別の情報を伝送すること から、 波長選択性の良い光合分波器が必要になる。
また、異なる波長の信号間クロストークは信号劣化の要因となるため、信号源と して用いられているレーザダイオード (L D) の波長は、 光合分波器の通過帯域内 に安定させる必要がある。特に、 高密度の D e n s e WDM (DWDM)技術で は、 光合分波器の通過帯域が狭いので、 波長監視制御を行なう必要がある。
この波長監視制御の精度は、波長間隔に依存するため、波長間隔を狭くするのに 伴い、 波長精度は厳しくなる。例えば、 コアネットワークに用いられている DWD M技術では、主に波長間隔が 2 0 0 GH z〜5 0 GH z ( 1 . 6 n m〜0 . 4 n m) 間隔である。 将来、 波長間隔はさらに狭くなつていく。
L Dの発振波長は、 温度により著しく影響される。 通常は波長監視制御機構が、 光送信モジュールまたは光送受信モジュールの内部に備えられている。この波長監 視制御機構は、波長監視制御用のモニタ出力信号を温度コントローラにフィ一ドバ ックし、 発振波長を一定に維持するように制御が行なわれている。
図 12は、例えば、高木 他 "25GHz 間隔波長モニタ内蔵 D F Bレーザ モジュール" 電子情報通信総合学会 C- 4- 44, 2002年に開示されている従来の波長 監視制御機構の概略図であり、 エタロン (etalon) (あるいは、 フアブリ 'ペロー 光共振器) を用いた波長監視制御用光学系の一例を示す。図中符号 12は光フアイ バ、 13は前方レンズ、 14は DFB— LD (distributed feedback laser diode) , 15は後方レンズ、 16はプリズム、 17は温度コントローラ、 18はエタロン、 19 aおよび 19 bは光検出器を示す。波長監視制御用光学系にエタロンを用いた 波長監視制御方法は、特開 2001— 196689号公報、特開 2003— 283 044号公報、 米国特許第 6353623号公報にも開示されている。
中央に DFB— LD 14を設置し、光信号の伝送光学系が矢印 A側に示されてい る。 前方端面から発射されるレーザ光は、 前方レンズ 13によりコリメート (collimate) され、 光ファイバ 12に結合される。 一方、 DFB— LD 14の波 長監視制御の光学系が矢印 Aと逆側に示されている。後方端面から発射される LD 光は監視制御に用いられる。 LD光は後方レンズ 15によりコリメートされ、 プリ ズム 16によって 2分岐される。一方が直接光検出器 19 aに結合され、 もう一方 がエタロン 18に入射される。 直接光検出器 19 aに入射される光の出力信号は、 自動光出力制御に用いられる。
波長監視制御用には 2つの光検出器 19 aおよび 19 bに入射された出力信号 を用いる。エタロン 18を通過した光をコリメ一トして光検出器 19 bに入射する。 エタロン 18の共振器長は、監視する波長に対応するように精密に調整されている。 そのため、波長が変動すると透過する光量が変動し、直接光検出器 19 aに入射さ れた出力信号との差分が光検出器 19 bの出力変動として検出される。この出力を LD光の温度コントローラ 17にフィードパックして、 LD光の波長を制御する。 このように、 ハード的に直接波長を抽出して制御している。 他方、波長監視制御用光学系にエタロンを用いない波長監視制御方法が開発され ている。例えば、特開平 1一 2 3 5 3 9 0号公報には、環境温度と波長の変化分(波 長のずれ量) の関係を予め記憶し、 この関係から温度を制御する波長監視制御方法 が開示されている。別の例では、特開 2 0 0 0— 3 2 3 7 8 5号公報には、 レーザ 駆動電流に対するレーザ温度を実測したデータを予め記憶し、このデータに基づい て実際の温度上昇量を予測することによりレ一ザ駆動電流を制御する波長監視制 御方法が開示されている。
上述したように、信号劣化の要因となるクロストークを抑制するために、光合分 波器の通過帯域内に光源の発振波長を安定させるための波長監視制御が必要不可 欠である。しかしながら、波長監視制御系にエタロン等の光フィルタを用いた場合、 光学系が高価であり組立工程数が増加し、 低価格化が厳しくなる。 また、 エタロン にも温度依存性があるため (例えば、 Y. Chung et. al "Synchronized etalon f i l ters for s tandardizing WDM transmi t ter laser wavelength, " IEEE Photon. Technol . Let t. , vol , pp. 186-189, Feb. 1993) 、 例えば、 ペルチェ素子 (pel t ier device) が必須である。 その結果、 波長監視制御系の小型化も困難であった。 さら に、温度調節機能も基準とする温度になるよう常時動作しているので、温度調節の ための消費電力が大きくなるという問題があった。
他方、従来の波長監視制御用光学系にエタロンを用いない波長監視制御方法では、 例えば特開平 1一 2 3 5 3 9 0号公報および特開 2 0 0 0— 3 2 3 7 8 5号公報 の場合、波長を直接算出することなく、予め記憶された環境温度と波長の変化分 (ず れ量) との関係を用いて温度を制御している。 したがって、波長の変化分(ずれ量) が温度以外に起因している場合、 十分な監視制御をおこなうことができない。 発明の開示
本発明は、 このような問題に鑑みてなされたもので、 その目的とするところは、 複雑な光学系を波長監視制御機構に必要としないで、小型化可能かつ低消費電力で 波長監視制御を行うようにした光モジュールおよびその波長監視制御方法を提供 することにある。 さらに、 本発明の目的は、 L Dから出射される光の波長を所望の 値に制御可能な光モジュールおよびその波長監視制御方法を提供する。
本発明は、 このような目的を達成するためになされたもので、本発明の第 1の側 面において、光送信モジュールまたは光送受信モジュールは、 内部に、 レーザダイ ォードの温度およびバイァス電流あるいは温度のみを計測する計測部と、前記温度 およびバイァス電流と波長との関係あるいは前記温度のみと波長との関係が記憶 された記憶部と、 前記計測部および前記記憶部を制御する中央制御部とを備え、前 記記憶部内に記憶された前記関係から波長を算出する。
また、本発明の第 2の側面において、光送信モジュールまたは光送受信モジユー ルにおける波長監視方法は、 内部に、 レーザダイオードの温度およびバイアス電流 あるいは温度のみを計測する計測部と、前記温度およびバイアス電流と波長との関 係あるいは前記温度のみと波長との関係が記憶された記憶部と、前記計測部および 前記記憶部を制御する中央制御部とを備えた光送信モジュールまたは光送受信モ ジュールにおいて、前記計測部より計測された温度およびバイアス電流あるいは温 度と、前記記憶部に記憶されたレーザダイォ一ドの温度およびバイァス電流と波長 との関係あるいはレーザダイオードの温度と波長との関係より波長情報を算出す る波長情報算出ステップを有する。
また、本発明の第 3の側面において、光送信モジュール ¾たは光送受信モジュ一 ルにおける波長監視制御方法は、 内部に、 レーザダイオードの温度およびバイアス 電流あるいは温度のみを計測する計測部と、前記温度およびバイアス電流と波長と の関係あるいは前記温度のみと波長との関係が記憶された記憶部と、前記計測部お よび前記記憶部を制御する中央制御部と、温度制御素子からなる温度調整部とを備 えた光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおいて、前記計測部より計測さ れた温度およびバイアス電流あるいは温度と、前記記憶部に記憶されたレーザダイ ォードの温度およびバイアス電流と波長との関係あるいはレーザダイォ一ドの温 度と波長との関係より波長情報を算出する波長情報算出ステップと、算出された波 長情報を使用して、前記温度調整部にフィードバックをかけ、 内部温度を調整する 温度制御ステップとを含む。
このように予め記憶部に記憶した L Dの温度およびバイァス電流と波長との関 係あるいは L Dの温度と波長の関係から波長を算出して、波長監視および波長監視 制御を行なうことは、従来のようにエタロンを用いた複雑な光学系を必要としない ので、構成が単純になり、 小型化と低価格化が期待できる。 このような波長監視機 能を用いることは、 波長監視制御が必要にならない、 例えば、 C oarse WDM (波 長間隔 1 0 0 0 GH z 〜 5 0 n m、 I TU— T G. 6 9 4. 2 ) においても、 シ ステムの非常事態の事前対応できるなどの運用管理の信頼性向上になり、その効果 は大きい。
また、 波長監視制御は、 温度調節機能が外部温度と連動して、 波長のしきい値の 最小値または最大値を超えた場合に必要最小限の温度調節機能を動作させること ができる。これにより、常時動作する場合に比べ消費電力を小さくできる。さらに、 波長制御機能を用いれば高密度な WDM技術が適用でき、光システムにおける 1心 あたりの波長数を増大させることが可能になる。 また、所定波長からの変動分でな く、波長そのものをメモリ内に記憶することにより、温度調節部の可変範囲内にお いて発振波長を任意の値に設定することができる。
以上説明したように本発明によれば、光送信モジュールまたは光送受信モジユー ル内の温度とバイアス電流あるいは温度を計測する計測部と、 L Dの温度およびバ ィァス電流と波長との関係あるいは温度と波長の関係が記憶された記憶部と、これ らを制御する中央制御部とにより、波長の監視を可能とし、 さらに光送信モジユー ルまたは光送受信モジュール内に温度制御素子からなる温度調整部を付加して、波 長の制御を可能とする。 これらの技術は、 小型化および量産化も可能で、 波長の監 視および制御機能を安価に光送信モジュールまたは光送受信モジュールに付加す ることが期待できる。 また、温度調節機能が外部温度と連動して、波長のしきい値の最小値または最大 値を超えた場合に必要最小限の温度調節機能を動作させることにより、常時動作さ せる場合に比べ消費電力を小さくできる。
本発明の光送信モジュールまたは光送受信モジュールの波長監視方法を適用す ると、 波長の監視機能により運用面上の信頼性が向上する。 また、 本発明の光送信 モジュールまたは光送受信モジュールの波長監視制御方法を適用すると、波長の制 御機能により波長間隔の狭い高密度な WDM技術を導入できるので、光システムに おける 1心あたりの波長数を増加することができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の波長監視用光モジュールの構成図である。
図 2 Aは、 L Dの温度およびバイアス電流と波長との関係を示す図である。
図 2 Bは、 L Dの温度と波長の関係を示す図である。
図 3は、本発明に係る光モジュールの波長監視方法の手順をフ口一チヤ一トに示し た図である。
図 4は、 本発明に係る波長監視制御用光モジュールの構成図である。
図 5は、 S F P内蔵のメモリマップを示す図である。
図 6は、本発明に係る波長監視用光モジュールの波長監視手順を説明するための手 順をフローチャートに示した図である。
図 7は、 本発明に係る波長算出手順を説明するための図である。
図 8は、本発明に係る波長監視制御用光モジュールの波長監視制御方法を説明する ための手順をフローチヤ一トに示した図である。
図 9は、本発明に係る波長監視制御用光モジュールの波長監視制御手順をさらに簡 便にするためのフローチャートを示す図である。
図 1 0は、本発明に係る波長監視制御用光モジュールの波長監視制御手順を説明す るための手順をフローチャートに示した図である。 図 1 1は、本発明に係る波長監視制御用光モジュールの波長監視制御手順を説明す るための手順をフローチャートに示した図である。
図 12は、 従来の波長監視制御機構の概略図である。
発明を実施するための最良の形態
以下、 図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
第 1の実施形態に係る光モジュールを説明する。図 1は、第 1の実施形態に係る 波長監視用光モジュールの構成を示す。 図中符号 1は計測部、 2は記憶部、 3は中 央制御部、 4はレーザダイオード (laser diode: LD) 、 5はサーミスター、 6 は LD駆動電流検出回路、 7は LD駆動電流制御回路、 8はフォトダイオード (photo diode: PD) を示している。
計測部 1は、計測部 1内のサーミスター(thermistor) 5で温度を計測し、また、
LD駆動電流検出回路 6を用いてバイアス電流を計測し、 さらに、 PD8で光出力 を計測する。 また、 LD駆動電流制御回路 7は、 LD 4のバイアス電流を制御する もので、計測部 1から算出されたバイアス電流情報に基づいて、 中央制御部 3を介 してフィードバックされる。
そして、 中央制御部 3により、 図 2A, 図 2Bに示すような、 記憶部 2内に記憶 された、 LD 4の温度およびバイアス電流と波長との関係(図 2A) あるいは LD
4の温度と波長の関係 (図 2B) から波長が算出される。
一般に、 LD 4の温度およびバイアス電流から発振波長を、線形近似することが できる。 例えば、 波長は、 温度とバイアス電流の測定値から、 図 2 Aに示すような データテーブルを用いて、 線形補完法で算出することができる。
λ = λ c + aT + b ( i - i c) · · · (1)
λ c : 0°Cかっしきい値電流 i cにおける波長
a, b:係数
T:温度
i :バイアス電流 例えば、 バイアス電流 80mAで温度が 27 °Cである場合、 波長は 1546. 3 Onmになる。 なお、 ここでは、 a g O pm/t:, b = 3 pmZmAを用いた。 また、 bが小さいので、簡便のため以下のように温度と波長のみの関係で波長を算 出してもよい (図 2B) 。
λ = λ c + aT · · · (2)
以下に詳細に説明する別の手法により波長を算出することもできる。
図 4は、本発明に係る波長監視制御用光モジュールの構成図で、 図中符号 9は温 度調整部、 10はペルチェ素子、 11はペルチェ素子電流制御回路を示している。 なお、 図 1と同じ機能を有する構成要素は同一の符号を付してある。
波長監視制御は、温度調整部 9中のペルチェ素子 10とペルチェ素子電流制御回 路 11で行なう。 また、 PD 8と LD駆動電流制御回路 7を用いて光出力制御を行 なうことも可能である。 つまり、 図 4に示す波長監視制御用光モジュールは、 図 1 に示した波長監視用光モジュールに、 温度制御素子からなる温度調整部 9を設け、 記憶部 2から算出された波長情報を温度調整部 9にフィードバックする機能を備 えたものである。
次に、第 2の実施形態に係る光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおけ る波長監視方法について説明する。波長に関するしきい値を記憶部 2内に設定する ことにより、 中央制御部 3で算出した波長としきい値を比較することにより、波長 ずれについてアラームまたはワーニングをあげることが可能になる。
具体的な事例として、装置の光部分が、抜差し可能な小型の光送受信モジュール として Small Form factor Pluggable (SFP) で説明する。 ?は 。 omm i t t e eにおいて S FP— 8472 r e v i s i on 9. 3で波長監 視方法が規定されている。 S F Pが持っているメモリマップを図 5に示す。
ここでは、 記憶部 2の Alarm and Warning Thresholds アドレス 0〜55で 56 byteの領域にアラームとワーニングのしきい値が設置される。 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface アドレス 95〜: ί 19で 24byteの領域に、 温度、 送信光出力、 LDのバイアス電流、 受信光入力、 供給電圧が記憶され、 二つの追加 項目を記憶することができる。 これらにより、 常時監視をすることができる。
ここで、 LDの温度、 バイアス電流と光出力は、 計測部 1によって計測される。 さらに、 この部分には、 アラームまたはワーニングのしきい値を超えた場合、 ァラ ームまたはワーニング情報を外部インタ一フェースに伝えるためのビッ卜が割り 与えられている。
しかしながら、 この SFPでは波長情報は含まれていない。そこで上記の追加項 目の場所に、新たに波長情報を加えることによって波長監視を行なうことが可能に なる。 この波長情報の算出方法は、 記憶部 2の User Writable EEPROMアド レス 127〜247の 12 Obyteまたは増設したメモリの領域に予め LD (ここ では DFB— LD) の計測値から、 図 2 Aまたは図 2 Bに示すような、 LDの温度 と波長の関係あるいは温度およびバイアス電流と波長との関係を記憶しておく。さ らに、 L Dの温度と波長の関係あるいは温度およぴソ ィァス電流と波長との関係は、 波長精度が多少悪くなるが個々に計測するのでなく一つの代表値や設計値を用い ることも可能である。
そして、 中央制御部 3により、計測部 1で計測された温度およびバイアス電流あ るいは温度の情報と、記憶部 2内に記憶された、 LDの温度およびバイアス電流と 波長との関係あるいは温度と波長の関係から波長が算出される。
また、 記憶部 2の Alarm and Warning Thresholds に、 波長に関するしきい値を 設定することにより、中央制御部 3より波長ずれについてアラームまたはヮ一ニン グをあげることも可能になる。
図 3は、本発明に係る光モジュールの波長監視方法の手順をフローチャートに示 した図である。
まず、計測部 1より温度、バイアス電流および光出力を計測する(S 1)。次に、 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内に計測部の情報をマッピングして (S 2)、温度情報のみかあるいは温度およびバイアス電流情報と、 User Writable EEPROMまたは増設したメモリ部内のマトリックスとを照らし合わせて波長 を算出する (S 3) 。
次に、 記憶部 2の Alarm and Warning Thresholds 内の波長ワーニングの最小し きい値と送られてきた波長情報を比較する (S4) 。 波長ワーニングの最小しきい 値以下の時は、 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内の Wavelength Low ワーニングビットを 1にし、ワーニング信号を外部インターフェース等に出力する (S 6) 。
波長ワーニングの最小しきい値以上ならば、 次に、 記憶部 2の Alarm and War ning Thresholds 内の波長ワーニングの最大しきい値と比較する (S 5) 。 波長ヮ 一二ングの最大しきい値以上の時は、 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内の Wavelength High ワーニングビットを 1にし、 ワーニング信号を外部インタ 一フェース等に出力する (S 7) 。 波長ワーニングの最大しきい値以下の場合は、 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface の波長ワーニング信号を出力しない 状態 (ワーニングビットは 0) にし、 再び計測部 1により温度、 バイアス電流およ び光出力を測定する。
図 6に、本発明に係る光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおける波長 監視方法の別の実施形態をフローチャートに示す。図 3に示した波長監視方法と比 較して波長算出手法 (S 3) が異なる。 図 6中の他のステップ (S 1, S 2, S 4 〜S 7) は、 図 3と同様である。
図 3に示した実施形態の波長算出手法では、計測された温度情報のみかあるいは 温度およびバイアス電流情報と、 User Writable E E P ROMまたは増設したメモ リ部内のマトリックスとを照らし合わせて、 式 (1) または式 (2) の係数を求め た後、 それらから波長を算出した (S 3) 。 図 6の波長算出手法では、 図 2Aのよ うな User Writable E E P ROMのマトリックスの中から、 計測された温度より も小さい値と大きい値を取る 2つの温度、および、計測されたバイアス電流情報よ りも小さい値と大きい値を取る 2つのバイアス電流を選び、これらに対応する波長 を 4点抽出して波長を算出することができる (例えば、温度およびバイアス電流の 計測値の直近の 4点を取れば良い) 。詳細には、 LD 4の温度およびバイアス電流 と、記憶部 2に記憶されたレーザダイォードの温度およびバイアス電流と波長との 関係から、 4つの波長を選択することにより波長を算出することができる。
図 7を参照して、 さらに詳細に説明する。 はじめに、 前記計測された温度 Tme sよりも小さい値の温度 T 1、前記計測された温度 Tme sよりも大きい値の温度 T 2ならびに、前記計測されたバイアス電流 Ime sよりも小さい値のバイアス電 流 I 1および前記計測されたバイァス電流 I m e sよりも大きい値のバイァス電 流 I 2を選択する。 対応する 4つの波長 (λ 11=λ (Ι 1, Τ1) 、 λ 21=λ (1 2, Τ1) 、 λ 12 = λ (1 1, Τ 2) 、 λ 22 = λ (1 2, Τ 2) ) を抽出 する。 さらに、 λ 11、 λ 21を用いて温度 Τ 1における波長のバイアス電流依存 性を線形補完して Ime sにおける波長 λ me s 1=λ (Ime s, T 1) を算出 する。 同様に、 λ 12、 λ 22を用いて温度 Τ 2における波長のバイアス電流依存 性を線形補完して Ime sにおける波長 λ me s 2= ( Ime s, T2) を算出す る。最後に、 算出された λ me s 1および Ame s 2を用いて、 バイアス電流 I m e sにおける波長の温度依存性を線形補完することにより、 Ime s、 Tme sに おける波長 Ame s = (Ime s, Tme s) を算出することができる。
また、上記の手法では波長のバイアス電流依存性を線形補完しているが、波長の 算出精度を改善するためにバイアス電流依存性を 2次関数等で近似する別の波長 算出手法を使用することもできる。詳細には、 はじめに記憶部 2から 6つの波長を 抽出する。 4つの波長 (λ 11=λ (1 1, Τ1) 、 λ 21 =λ (12, Tl) 、 λ 12 = λ (1 1, Τ2) 、 λ 22 = λ (12, Τ2) ) は、 上述した手法と同様 に抽出される。バイアス電流 I 1および I 2と異なるバイアス電流 I 3を選ぶこと により、残りの 2つの波長(λ 31=λ (1 3, Τ1)、 λ 32 = λ (1 3, Τ2) ) を抽出する。次に、温度 Τ 1における波長のバイアス電流依存性を λ 11、 λ 21、 λ 31を用いて 2次関数により近似する。温度 Τ2における波長のバイアス電流依 存性は λ 12、λ 22、λ 32を用いて 2次関数により近似するする。これにより、 Ime s、 Tme sにおける波長 Am e s = ( I me s , Tme s) を算出するこ とができる。
さらに別の波長算出手法を使用することができる。例えば、記憶部 2に記憶され たレーザダイォ一ドの温度と波長との関係あるいはレ一ザダイォードの温度およ びバイアス電流と波長との関係を示したマトリックスを用いて、波長を算出するこ とができる。 この形態では、 温度計測値およびバイアス電流計測値を、 マトリック ス中の温度の記憶値あるいは温度およびパイァス電流の記憶値のいずれかに対応 させることにより、 波長を抽出する。
次に、第 3の実施形態に係る光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおけ る波長監視制御方法について説明する。
図 8に、第 3の発明に係る光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおける 波長監視制御方法を説明するための手順をフローチャートに示す。具体的に S F P の場合は、 温度調整部を追加する必要がある。
まず、 計測部 1により温度、 バイアス電流および光出力を計測する (S 1 1) 。 次に、記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内にマッピングして(S 12 )、 光出力が記憶部 2の Alarm and Warning Thresholds 内の光出力ワーニングの最小 しきい値と比較する (S 13) 。光出力ワーニングの最小しきい値以下の時は、 記 憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内の Output power low ワーニングビ ットを 1にする (S 15) 。 この情報を LD駆動電流制御回路 7に送り、 バイアス 電流を上げる (S 17) 。 この工程が終わったら、 再び計測部 1により温度、 バイ ァス電流と光出力を測定する。
光出力ワーニングの最小しきい値以上の時、次に、記憶部 2の Alarm and Warning Thresholds 内の光出力ワーニングの最大しきい値と比較する (S 14) 。 光出力 ワーニングの最大しきい値以上の時は、 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface内の Output power high ワーニングピット 1とする (S 16) 。 この 情報を LD駆動電流制御回路 7に送り、 バイアス電流を下げる (S 18) 。 このェ 程が終わったら、 再び計測部 1により温度、 バイアス電流と光出力を測定する。 これらの光出力の制御は、 中央制御部 3によって行われる。 また、 LD駆動電流 制御回路 7の振れ幅は必要となる精度に応じて設定する。そして、光出力ヮ一ニン グの最大しきい値以下の場合は、 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内 の光出力ワーニング信号を出力しない状態(ワーニングビットは 0) にして、 温度 情報のみかあるいは温度およびバイアス電流情報と、 User Writable EEPROM または増設したメモリ部内のマトリックスとを照らし合わせて波長を算出する( S 19) 。
次に、 記憶部 2の Alarm and Warning Thresholds 内の波長ワーニングの最小し きい値と送られてきた波長情報を比較する (S 20) 。 波長ワーニングの最小しき い値以下の時は、 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内の Wavelength Low ワーニングビットを 1にする (S 22) 。 この情報を温度調整部 9に送り、 温 度調整部 9により内部温度を上げる (S 24) 。 この工程が終わったら、 再び計測 部 1により温度、 バイアス電流と光出力を測定する。
波長ワーニングの最小しきい値以上の時は、次に、記憶部 2の Alarm and Warning Thresholds 内の波長ワーニングの最大しきい値と比較する。 波長ワーニングの最 大しきい値以上の時は、 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内の Wavelength High ワーニングビット 1とする (S 23) 。 記憶部 2の Real Time Diagnostic Interface 内の Wavelength High ワーニングビット 1の場合は、 温度 調整部 9により内部温度を下げる (S 25) 。 この工程が終わったら、 再び計測部 1により温度、 バイアス電流と光出力を測定する。
波長ワーニングが最大しきい値以下の場合は、記憶部 2の Real Time Diagnost ic Interface の波長ワーニング信号を出力しない状態(ワーニングビットは 0)にし、 再び計測定 1により温度、 バイアス電流、 光出力を測定する。
これらの波長制御は、バイァス電流値や温度調整部 9により温度を変化させてか ら、各々の値が安定するまでの時定数の管理を含めて、 中央制御部 3によって行な われる。 温度調整部 9の振れ幅は必要となる精度に応じて設定する。 図 9は、第 3の発明に係る光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおける 波長監視制御方法の手順をさらに簡便にするためのフローチャートを示す図であ る。 図 8に示した波長監視制御方法の手順から、光出力のしきい値内外の判定(S 1 3〜S 1 8 ) を省略することも可能である。
図 1 0に、第 3の発明に係る光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおけ る波長監視制御方法の他の手順をフローチャートに示す。図 1 0に示す手順を、 図 8の手順と比較して説明する。
図 8の手順において、 波長制御 (S 2 0〜S 2 5 ) は、 算出した波長がしきい値 の範囲内か外か判定し、範囲外の場合のみアラームビットを 1にして、温度を上げ るか下げるかを示す制御情報を温度調整部にフィードバックした。図 1 0に示した 波長監視制御方法の手順では、所定波長を与える温度値を算出して温度調節部にフ ィ一ドバックすることにより、 波長を高安定に制御することができる。
詳細には、 計測された温度情報のみかあるいは温度およびバイァス電流情報と、 User Wr i table E E P R OMまたは増設したメモリ部内のマトリックスとを照ら し合わせて、式(1 ) もしくは式 ( 2 )の係数を求め、それらから波長を算出する。 次に、 計測されたバイアス電流において、 所定波長を与える温度値を式(1 ) もし くは式(2 ) より算出し、 算出された温度値になるよう温度調整部によりフィード パックする (S 2 6 ) 。 これにより、 波長を所定値に固定することができる。
図 1 1に、第 3の発明に係る光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおけ る波長監視制御方法の別の手順をフローチヤ一トに示す。本手順は、 図 8の手順と 比較して波長監視制御手順が異なる。
図 8の手順において、 波長制御 (S 2 0〜S 2 5 ) は、 算出した波長がしきい値 の範囲内か外か判定し、範囲外の場合のみアラームピットを 1にして温度調整部に より温度を上げるか下げるかをフィードパックした。図 1 1に示す波長監視制御手 順では、所定波長を与える制御情報を温度調整部にフィードバックすることにより、 波長を高安定に制御する。 前述したように、 図 2 Aのような User Wri table E E P R OMのマトリックスの中から、計測された温度よりも小さい値と大きい値を取 る 2つの温度、および、計測されたバイアス電流情報よりも小さい値と大きい値を 取る 2つのバイアス電流を選び、これらに対応する波長を 4点抽出して波長算出す る (S 8 )。 次に、 計測されたバイアス電流において、 所定波長を与える温度値を バイアス電流 I m e sにおける波長の温度依存性より算出し、算出された温度値に なるよう温度調整部によりフィードバックする (2 7 )。 これにより、 波長を所定 値に固定することができる。
ここでは、波長のバイアス電流依存性を線形補完しているが、前述したように 2 次関数等で近似し、 波長の算出精度を改善することができる。 さらに、 マトリック スの要素数(デ一タ点数) を十分に大きくして、 計測された温度およびバイアス電 流における波長を常にマトリックス内のデータ点の 1つに一致させることにより、 線形補完による算出手順を省略することも可能である。
また、ここではワーニング信号をトリガとして光出力および波長の調整を行なつ たが、別に与えられたアラーム信号において調整のトリガを行なうことも可能であ る。
なお、第 3の発明に係る光送信モジュールまたは光送受信モジュールにおける波 長監視制御方法における実施形態で説明したフィードバックの方法は、ワーニング ビットの有無によって制限されるものではない。 また、本発明の光モジュールの波 長監視制御方法は、 S F Pに限定されるものではなく、光送信モジュールまたは光 送受信モジュール内の温度とバイアス電流あるいは温度を計測する計測部と、 L D の温度およびパイァス電流と波長との関係あるいは L Dの温度と波長の関係が記 録された記憶部と、これらを制御する中央制御部および温度制御素子からなる温度 調整部とを有する光モジュールのすべてに適用することが可能である。
本波長監視制御方法は、所定波長からの変動分でなく波長そのものをメモリに記憶 しているため、温度調整部の温度可変範囲において L Dから発射される波長を任意 の値に設定可能であり、 波長可変光源としても使用可能である。

Claims

請求の範囲
1 . 内部に、 レーザダイオードの温度およびバイアス電流あるいは温度のみを計 測する計測部と、前記温度およびバイァス電流と波長との関係あるいは前記温度の みと波長との関係が記憶された記憶部と、前記計測部および前記記憶部を制御する 中央制御部とを備えた光送信モジュールまたは光送受信モジュールであって、 前記記憶部内に記憶された前記関係から波長を算出するようにしたことを特徴 とする光モジュール。
2 . 前記レーザダイォードの駆動電流を制御するレーザダイォード駆動電流制御 回路を設け、前記計測部から算出されたバイアス電流情報を前記レ一ザダイォード 駆動電流制御回路にフィードバックする機能を備えたことを特徴とする請求項 1 に記載の光モジュール。
3 . 温度制御素子からなる温度調整部を設け、前記記憶部から算出された波長情 報を前記温度調整部にフィードバックする機能を備えたことを特徴とする請求項 1又は 2 fc記載の光モジュール。
4 . 内部に、 レ一ザダイオードの温度およびバイアス電流あるいは温度のみを計 測する計測部と、前記温度およびパイァス電流と波長との関係あるいは前記温度の みと波長との関係が記憶された記憶部と、前記計測部および前記記憶部を制御する 中央制御部とを備えた光送信モジュールまたは光送受信モジュ一ルにおける波長 監視方法であって、
前記計測部より計測された温度およびバイアス電流あるいは温度と、前記記憶部 に記憶されたレーザダイオードの温度と波長との関係あるいはレーザダイオード の温度およびバイアス電流と波長との関係より波長情報を算出する波長情報算出 ステップを有することを特徴とする波長監視方法。
5. 前記波長情報算出ステツプは、
前記計測部より計測された温度およびバイァス電流あるいは温度と、前記記憶部 に記憶されたレーザダイォ一ドの温度と波長との関係あるいはレーザダイォ一ド の温度およびバイアス電流と波長との関係を用いて、式(1)における λ c、 i c、 a、 bあるいは式 (2) における A c、 aを求め、 波長情報を算出することを特徴 とする請求項 4に記載の波長監視方法。
λ = λ c + aT+b ( i— i c) · · ·式 (1)
λ = λ c + aT · · ·式 (2)
(λ c : 0°Cかっしきい値電流 i cにおける波長 a, b:係数 T:温度 i : バイアス電流)
6. 前記波長情報算出ステツプは、
前記計測部より計測された温度およびバイァス電流と、前記記憶部に記憶された レーザダイォードの温度およびバイアス電流と波長との関係を用いて、前記計測さ れた温度 Tm e sよりも小さい値の温度 T 1と、前記計測された温度 Tm e sより も大きい値の温度 T 2と、前記計測されたバイアス電流 I me sよりも小さい値の バイアス電流 I 1と、前記計測されたバイアス電流 I me sよりも大きい値のバイ ァス電流 I 2とを選び、 対応する 4つの波長 (λ 1 1=λ (1 1, Τ1)、 λ 21 =λ (1 2, Τ1)、 λ 12 = λ (I I, Τ2)、 λ 22 = λ (1 2, Τ2)) を抽 出し、前記 λ 1 1および λ 21を用いて温度 Τ 1における波長のバイアス電流依存 性を線形補完することにより前記計測されたバイァス電流 I m e sにおける波長 Ame s 1 =λ ( I me s, T 1) を算出し、 前記 λ 12および λ 22を用いて温 度 Τ 2における波長のバイァス電流依存性を線形補完することにより前記計測さ れたバイアス電流 I me sにおける波長 λ me s 2 = λ (Ime s, Τ2) を算出 し、算出された波長 λ me s 1および Ame s 2を用いて、前記計測されたバイァ ス電流 Ime sにおける波長の温度依存性を線形補完することにより、前記計測さ れたバイアス電流 Ime sおよび温度 Tme sにおける波長 Am e s = λ ( I me s, Tme s) を算出することを特徵とする請求項 4に記載の波長監視方法。
7. 前記波長情報算出ステツプは、
前記計測部より計測された温度およびバイァス電流と、前記記憶部に記憶された レ一ザダイォ一ドの温度およびバイアス電流と波長との関係を用いて、前記計測さ れた温度 Tme sよりも小さい値の温度 T 1と、前記計測された温度 Tme sより も大きい値の温度 T 2と、前記計測されたバイアス電流 I me sよりも小さい値の バイアス電流 I 1と、前記計測されたバイアス電流 I me sよりも大きい値のバイ ァス電流 I 2と、前記バイアス電流 I 1および I 2と異なるバイアス電流 I 3とを 選び、対応する 6つの波長(λ 11=λ (I 1, Τ1)、 λ 21=λ (12, Tl)、 λ 12 = λ (1 1, Τ2)、 λ 22 = λ (12, Τ2)、 λ 31 =λ (13, Τ1)、 λ 32 = λ (13, Τ2)) を抽出し、 前記温度 Τ 1における波長のバイアス電流 依存性を λ 11、 λ 21、 λ 31を用いて 2次関数により近似し、 前記温度 Τ2に おける波長のバイアス電流依存性を λ 12、 λ 22、 λ 32を用いて 2次関数によ り近似することにより、前記計測されたバイアス電流 I me sおよび温度 Tme s における波長 Ame s =λ (Ime s, Tme s) を算出することを特徴とする請 求項 4に記載の波長監視方法。
8. 前記波長情報算出ステツプは、
前記記憶部に記憶されたレーザダイオードの温度と波長との関係あるいはレー ザダイオードの温度およびバイアス電流と波長との関係を示したマトリックスを 用いて、前記計測された温度およびバイアス電流を、前記マトリックス中に記憶さ れた温度または温度およびバイァス電流のいずれかに対応させることにより、波長 情報を抽出することを特徴とする請求項 4に記載の波長監視方法。
9. 内部に、 レーザダイオードの温度およびバイアス電流あるいは温度のみを計 測する計測部と、前記温度およびバイアス電流と波長との関係あるいは前記温度の みと波長との関係が記憶された記憶部と、前記計測部および前記記憶部を制御する 中央制御部と、温度制御素子からなる温度調整部とを備えた光送信モジュールまた は光送受信モジユールにおける波長監視制御方法であって、
前記計測部より計測された温度およびバイァス電流あるいは温度と、前記記憶部 に記憶されたレーザダイオードの温度と波長との関係あるいはレーザダイオード の温度およびバイアス電流と波長との関係より波長情報を算出する波長情報算出 ステップと、
算出された波長情報を使用して、前記温度調整部にフィードバックをかけ、 内部 温度を調整する温度制御ステツプと
を含むことを特徴とする波長監視制御方法。
1 0 . 予め波長の最小値と最大値を定めたしきい値と、前記波長情報算出ステツ プで算出された波長情報とを比較する波長情報比較ステツプをさらに含み、 前記温度制御ステツプは、 前記波長情報比較ステツプによる比較結果に基づき、 しきい値の範囲外ならば前記温度調整部にフィードバックをかけ、前記しきい値の 最小値以下の場合は、前記温度調整部により内部温度を上げ、前記しきい値の最大 値以上の場合は、前記温度調整部により内部温度を下げることを特徴とする請求項 9に波長監視制御方法。
1 1 . 前記波長情報算出ステツプは、
前記計測部より計測された温度およびバイァス電流あるいは温度と、前記記憶部 に記憶されたレーザダイオードの温度と波長との関係あるいはレーザダイオード の温度およびバイアス電流と波長との関係を用いて、式(1 )における λ c、 i c、 a、 bあるいは式 (2 ) における A c、 aを求め、 波長情報を算出することを特徴 とする請求項 1 0に記載の波長監視制御方法。
λ = λ c + a T + b ( i - i c ) · · ·式 (1 )
λ = λ c + a T · · ·式 (2 ) (λ c : 0°Cかっしきい値電流 i cにおける波長 a, b:係数 T:温度 i : バイアス電流)
12. 前記波長情報算出ステツプは、
前記計測部より計測された温度およびバイァス電流と、前記記憶部に記憶された レーザダイォードの温度およびバイアス電流と波長との関係を用いて、前記計測さ れた温度 Tme sよりも小さい値の温度 T 1と、前記計測された温度 Tme sより も大きい値の温度 T 2と、前記計測されたバイアス電流 I me sよりも小さい値の バイアス電流 I 1と、前記計測されたバイアス電流 I me sよりも大きい値のバイ ァス電流 I 2とを選び、 対応する 4つの波長 (λ 11=λ (I I, Τ1)、 λ 21 =λ (12, Τ1)、 λ 12 = λ (1 1, Τ2)、 λ 22 = λ (1 2, Τ2)) を抽 出し、前記 λ 11および λ 21を用いて温度 Τ 1における波長のバイアス電流依存 性を線形補完することにより前記計測されたバイァス電流 I m e sにおける波長 Ame s 1 =λ (Ime s, T 1) を算出し、 前記 λ 12および λ 22を用いて温 度 Τ 2における波長のバイァス電流依存性を線形補完することにより前記計測さ れたバイアス電流 Ime sにおける波長 Ame s 2 = λ (Ime s, T2) を算出 し、算出された波長 Ame s 1および Ame s 2を用いて、前記計測されたバイァ ス電流 Ime sにおける波長の温度依存性を線形補完することにより、前記計測さ れたバイアス電流 Ime sおよび温度 Tme sにおける波長 Am e s=A (Ime s, Tme s)を算出することを特徴とする請求項 10に記載の波長監視制御方法。
13. 前記波長情報算出ステツプは、
前記計測部より計測された温度およびパイァス電流と、前記記憶部に記憶された レーザダイオードの温度およびバイアス電流と波長との関係を用いて、前記計測さ れた温度 Tm e sよりも小さい値の温度 T 1と、前記計測された温度 Tm e sより も大きい値の温度 T 2と、前記計測されたバイアス電流 I me sよりも小さい値の バイアス電流 I 1と、前記計測されたバイアス電流 I m e sよりも大きい値のバイ ァス電流 I 2と、前記バイアス電流 I 1および I 2と異なるバイアス電流 I 3とを 選び、対応する 6つの波長(λ 11=λ (I I, Τ1)、 λ 21 =λ (12, Tl)、 λ 12 = λ (I I, Τ2)、 λ 22 = λ (1 2, Τ2)、 λ 31=λ (1 3, Τ1)、 λ 32 = λ (1 3, Τ2)) を抽出し、 前記温度 Τ 1における波長のバイアス電流 依存性を λ 1 1、 λ 21、 λ 31を用いて 2次関数により近似し、 前記温度 Τ 2に おける波長のバイアス電流依存性を λ 12、 λ 22、 λ 32を用いて 2次関数によ り近似することにより、前記計測されたバイァス電流 I m e sおよび温度 Tm e s における波長 Ame s =λ (Ime s, Tme s) を算出することを特徴とする請 求項 10に記載の波長監視制御方法。
14. 前記波長情報算出ステップは、
前記記憶部に記憶されたレーザダイオードの温度と波長との関係あるいはレ 一ザダイォードの温度およびバイアス電流と波長との関係を示したマトリックス を用いて、前記計測された温度およびバイアス電流を、前記マトリックス中に記憶 された温度または温度およびバイァス電流のいずれかに対応させることにより、波 長情報を算出することを特徴とする請求項 10に記載の波長監視制御方法。
15. 前記波長情報算出ステップは、前記計測部より計測された温度およびバイ ァス電流あるいは温度と、前記記憶部に記憶されたレーザダイォ一ドの温度と波長 との関係あるいはレーザダイォードの温度およびバイァス電流と波長との関係を 用いて、 式 (1) における λ c、 i c, a、 bあるいは式 (2) における λ c, a を求め、 波長情報を算出し、
前記温度制御ステップは、 算出された波長情報と式(1) あるいは式 (2) とを 使用して所望の波長を与える温度を算出し、該温度になるように前記温度調整部に フィードバックをかける
ことを特徴とする請求項 9に記載の波長監視制御方法。
λ = λ c + aT + b ( i— i c) · · ·式 (1) λ = λ c + aT · · ·式 (2)
(λ c : 0°Cかっしきい値電流 i cにおける波長 a, b:係数 T:温度 i : バイアス電流)
16. 前記波長情報算出ステップは、前記計測部より計測された温度およびバイ ァス電流と、前記記憶部に記憶されたレーザダイォードの温度およびバイアス電流 と波長との関係を用いて、前記計測された温度 Tme sよりも小さい値の温度 T 1 と、前記計測された温度 Tme sよりも大きい値の温度 T 2と、前記計測されたパ ィァス電流 I me sよりも小さい値のバイアス電流 I 1と、前記計測されたバイァ ス電流 I me sよりも大きい値のバイアス電流 I 2とを選び、対応する 4つの波長 (λ ΐ 1=λ (I 1, Τ1)、 λ 21 =λ (I 2, Τ1)、 λ 12 = λ (I 1, Τ2)、 λ 22 = λ (12, Τ 2)) を抽出し、 前記 λ 11および λ 21を用いて温度 Τ 1 における波長のパイァス電流依存性を線形補完することにより前記計測されたパ ィァス電流 I me sにおける波長 Ame s 1 =λ (Ime s, T 1) を算出し、 前 記 λ 12および λ 22を用いて温度 Τ 2における波長のバイアス電流依存性を線 形補完することにより前記計測されたバイァス電流 I m e sにおける波長 λ m e s 2 = λ (Ime s, T2) を算出し、 算出された波長 Ame s 1および Ame s 2を用いて、前記計測されたバイアス電流 Ime sにおける波長の温度依存性を線 形補完することにより、前記計測されたバイアス電流 Ime sおよび温度 Tme s における波長 Ame s=A ( I me s , Tme s) を算出し、
前記温度制御ステツプは、前記計測されたバイァス電流 I m e sにおける所望の 波長を与える温度を、前記波長の温度依存性より算出し、算出された温度になるよ うに温度調整部によりフィ一ドバックをかける
ことを特徴とする請求項 9に記載の波長監視制御方法。
17. 前記波長情報算出ステップは、前記計測部より計測された温度およびバイ ァス電流と、前記記憶部に記憶されたレーザダイォ一ドの温度およびバイアス電流 と波長との関係を用いて、前記計測された温度 Tme sよりも小さい値の温度 T 1 と、前記計測された温度 Tme sよりも大きい値の温度 T 2と、前記計測されたバ ィァス電流 I me sよりも小さい値のバイアス電流 I 1と、前記計測されたバイァ ス電流 I me sよりも大きい値のバイアス電流 I 2と、前記バイアス電流 I 1およ び I 2と異なるバイアス電流 I 3とを選び、対応する 6つの波長(λ 11=λ (I 1, Τ1)、 λ 21=λ (12, Τ1)、 λ 12 = λ (I I, Τ2)、 λ 22 = λ (I 2, Τ2)、 λ 31=λ (1 3, Τ1)、 λ 32 = λ (1 3, Τ2)) を抽出し、 前 記温度 Τ 1における波長のバイアス電流依存性を λ 11、 λ 21、 λ 31を用いて 2次関数により近似し、前記温度 Τ2における波長のバイアス電流依存性を λ 12、 λ 22、 λ 32を用いて 2次関数により近似することにより、前記計測されたバイ ァス電流 I me sおよび温度 Tme sにおける波長 Am e s =λ ( I me s, Tm e s) を算出し、
前記温度制御ステップは、前記計測されたバイアス電流 I me sにおける所望の 波長を与える温度を、前記波長の温度依存性より算出し、算出された温度になるよ うに温度調整部によりフィードバックをかける、
することを特徴とする請求項 9に記載の波長監視制御方法。
18. 前記波長情報算出ステップは、前記記憶部に記憶されたレーザダイォ一ド の温度と波長との関係あるいはレーザダイオードの温度およびバイアス電流と波 長との関係を示したマトリックスを用いて、前記計測された温度およびバイアス電 流を、前記マトリックス中に記憶された温度または温度およびバイアス電流のいず れかに対応させることにより、 波長情報を抽出し、
前記温度制御ステップは、対応するバイアス電流における所望波長を与える温度 を前記マトリクス中から抽出し、抽出された温度になるように温度調整部よりフィ —ドバックをかける
ことを特徴とする請求項 9に記載の波長監視制御方法。
1 9 . 前記レーザダイォードの駆動電流を制御するレーザダイォード駆動電流制 御回路をさらに備え、
前記波長情報算出ステツプの前段に、
予め光出力の最小値と最大値を定めた光出力アラームまたはワーニングのしき い値と、 前記計測部で計測された光出力とを比較する光出力比較ステップと、 該光出力比較ステップによる比較結果に基づき、しきい値の範囲外ならば前記レ —ザダイォード駆動電流制御回路にフィ一ドバックをかけ、前記しきい値の最小値 以下の場合に、前記レーザダイォード駆動電流制御回路によりバイァス電流を上げ、 前記しきい値の最大値以上の場合に、前記レーザダイォード駆動電流制御回路によ りバイァス電流を下げるバイァス電流制御ステツプと
を含むことを特徴とする請求項 9ないし 1 8のいずれかに記載の波長監視制御
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