WO2004003534A1

WO2004003534A1 - 粉体被検体の水分値を測定する方法及び装置

Info

Publication number: WO2004003534A1
Application number: PCT/JP2003/008178
Authority: WO
Inventors: Tadashi Nishida; Ryoji Kanayama; Hiroaki Tokita; Hisashi Harada
Original assignee: Sintokogio, Ltd.
Priority date: 2002-07-01
Filing date: 2003-06-27
Publication date: 2004-01-08
Also published as: AU2003246089A1; JP2005288443A; TW200401890A

Abstract

　測定ヘッド１０は、絶縁性保持部材３に１行×ｎ列に配列されて保持された細長い金属製の導電性要素１２を有する。測定ヘッド１０の上面１ａは、粉体被検体に接触させる接触面である。この接触面１ａにおいては１行×ｎ列の導電性要素１２が露出している。ｎ列の導電性要素１２においては、奇数列に属する導電性要素１２が第１の配線４ａにより、偶数列に属する導電性要素１２が第２の配線４ｂにより、それぞれ相互に電気的に接続されている。従ってｎ列の導電性要素１２は、奇数列に属する導電性要素１２を一方の極、偶数列に属する導電性要素１２を他方の極とする二極の電極端子を構成している。測定ヘッド１０の接触面１ａに粉体被検体を載置して、測定ヘッド１０の２極間に生じる電圧を測定することにより、粉体被検体の水分値を求めることができる。

Description

明細書粉体被検体の水分値を測定する方法及び装置技術分野

一般に本発明は、粉体と水とを含む粉体被検体に含有される水分値を測定する方法及び装置に関する。背景技術

铸物砂を処理する従来の砂処理ラインにおいては、ベルトコンべャ上を連続的に搬送される铸物砂に対し、混練機（または砂冷却機）の前段で水分値及び温度を測定して、不足している水分量を算出し、この不足水分量を混練機へ注水することにより、鍚物砂の混練調整をしている。

铸物砂に含有される水分値を測定する従来の水分値測定装置としては、本願の出願人に譲渡された日本国特許第 3 2 4 0 0 2 5号（特開平 7 - 1 9 0 9 7 5号公報）に開示されているように、その測定へッドに一対の板状電極を採用したものが知られている。この従来の測定へッドでは、一対の板状電極を所定間隔で対向させた状態で錶物砂内へ上方から挿入し、錶物砂を介して電極間を通電させると、鐃物砂の水分値に応じた電気抵抗値が得られる。従って電気抵抗値を測定することにより铸物砂の水分値を測定できる。また電気抵抗値を铸物砂の測定温度に基づいて補正することにより、更に正確な水分値が求められる。

しかしながら、従来の測定へッドの板状電極は幅が広く大型で嵩張り、また鎵物砂へ上方から挿入する必要があるため、その設置には比較的に広い空間が必要であり、その設置位置（即ち測定位置）の選定には空間的な制約を受ける。従って、従来の測定へッドの設置位置は、例えば、鎳物砂を搬送する搬送路（代表的にはベルトコンベア）の上方のように開放された場所に限定される。処理ラインの設計によっては、従来の測定へッドの設置位置を確保するために、錶物砂の水分値測定専用の搬送路即ちベルトコンベアを特に設ける必要が生じることもあり得る。

しかもベルトコンベアの上方に従来の測定へッドを設置した場合、板状電極は、ベルトコンベア上を搬送中の鍚物砂へ挿入するので、その測定中にはベルトコンベアから周囲へ砂がこぼれ落ち易く、作業環境を悪化させる。

上述のような従来の水分値測定装置は、錶物砂に限らず、他の粉体処理工程にも使用される。例えば、セラミックス原料、耐火物原料などの窯業原料、製鋼ダストなどの廃棄物再生原料、肥料原料などの粉体処理において、圧縮、押し出し、転造などの成形、造粒の前工程で、従来の水分値測定装置を用いて原料の水分を測定することにより、混練機で水分の調整が . なされる。この場合にも、従来の測定ヘッド（一対の板状電極）の形態に起因する設置空間の制約、粉塵の発生による作業環境の悪化など、铸物砂の処理ラインと同様な問題が生じる。

従って、測定ヘッドの形態に起因する設置空間の制約を殆ど受けることがないように改良された粉体の水分値を測定する方法及び装置が望まれる。発明の概要

本発明は、粉体と水とを含む粉体被検体に含有される水分値を測定する水分値測定装置及びその測定へッドを与える。測定へッドは、粉体被検体に接触させるべき接触面を有すると共に、 i ) 複数 n本（伹し nは 3以上の整数）の細長い導電性要素と、 ϋ ) n本の導電性要素をその長手方向に実質的に直交する行方向に沿つて、相互に所定の間隔をおいて且つ実質的に平行に 1行 X n列に配列すると共に、接触面において前記 1行 X n列の導電性要素が露出するように保持する絶縁性保持部材と、 iii ) n本の導電性要素が 2極の電極端子を構成するように、 n列の導電性要素のうち、奇数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して一方の極を形成する第 1の接続部材と、偶数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して他方の極を形成する第 2の接続部材とを含む。

水分値測定装置は、上述の測定へッドと、この測定へッドの 2極端子に、低周波矩形波を有する定電流を供給する手段と、定電流が前記 2極端子間に粉体被検体を介して流れるときに、 2極端亍間に生じる電圧を測定し、且つその測定値を平滑化して出力する手段と、平滑化された測定電圧値と粉体被検体に含有される水分値との間の予め求められた相関関係に基づいて、粉体被検体に含有される水分値を決定する手段とを備える。

水分値測定装置は、粉体被検体の温度を測定する温度測定手段と、水分値の決定に際し、前記平滑化された測定電圧値を、前記温度測定手段により測定された粉体被検体の温度に基づいて補正する手段とを更に備えることにより、決定される水分値に粉体被検体の温度を反映させるようにしてもよい。この場合、絶縁性保持部材に設けられて、導電性要素を加熱する加熱手段を更に備えてもよい。

本発明は、上述のような測定へッドを用いて、粉体と水とを含む粉体被検体に含有される水分値を粉体被検体の電気抵抗値に基づいて測定する方法を与える。この方法は、測定へッドの 2極端子に、低周波矩形波を有する定電流を供給する段階と、

定電流が 2極端子間に粉体被検体を介して流れるときに、 2極端子間に生じる電圧を測定し、且つその測定値を平滑化して出力する段階と、粉体被検体の温度を測定する段階と、平滑化された測定電圧値を、温度測定手段により測定された粉体被検体の温度に基づいて補正する段階と、補正された測定電圧値と粉体被検体に含有される水分値との間の予め求められた相関関係に基づいて、粉体被検体に含有される水分値を決定する段階とを含む。

本明細書において用語「粉体被検体」とは、粉体と水とを含む被検体とする。用語「粉体」とは、粒子が多数集合している状態に在り、微粉（0.1 〜： Ι μ πι) 、通常の粉体（1〜： ΙΟΟ μ πι) 、粗粉（0.1〜： L mm) 、粒体（1 〜3 m m)に大別されるもののうちの少なくとも 1つ以上を混合したものをレヽう。

これらの粉体としては、錶物砂、セラミックス原料、耐火物原料などの窯業原料、製鋼ダストなどの廃棄物リサイクル原料、肥料原料などをこれらに限定されることなく含む。

本発明において、錶物砂としては、生型铸物砂、即ちベントナイトを粘結材として用いるものが最適である。その他の水分を用いた粘結材であれば、デンプン、 P V Aなど水溶性粘結材を用いる铸物砂に対しても本発明を容易に適用できる。铸物砂は、使用前の鎳物砂に限らず、使用後に回収されて再生される回収砂を含む。

粉体被検査体の水分値とは、粉体被検査体に含まれる水分値であり、単位重量に含まれる水分重量を百分率で示したものである。図面の簡単な説明

図 1は本発明の第 1実施形態に係る測定へッドの上面図を示す。

図 2は図 1の測定へッドの縦断面図を示す。

図 3は本発明の第 2実施形態であって、図 1の測定へッドを用いた水分値測定装置の模式的プロック図である。

図 4は本発明の第 3実施形態を示し、図 3の水分値測定装置を砂処理ラィンに適用した模式図である。

図 5は図 4の装置による铸物砂の水分値の測定例を示すグラフである。図 6は測定へッドにおける導電性要素の個数に応じた砂の水分と要素間のインピーダンスの相関関係を示すグラフである。図 7は本発明の第 4実施形態に係る測定へッドの縦断面図を示す。

図 8は本発明の第 5実施形態であって、図 7の測定へッドを用いた铸物砂の水分値測定装置の模式的ブロック図である。

図 9は図 8の装置と従来の装置とによる水分値測定値の比較を示すグラフである。

好適実施形態の詳細な説明

図 1及び図 2は本発明の第 1実施形態に係る測定へッド 1 0の上面図及び縦断面図を示す。測定へッド 1 0は、絶縁性保持部材 1 4に 1行 X n 列（nは 3以上の整数であり、図示の例では n = l 1 ) に配列されて保持された細長い金属製の導電性要素 1 2を有する。この導電性要素 1 2は、耐腐食性に優れた金属であることが好ましい。導電性要素 1 2の長手方向を列方向とし、これに実質的に直交する方向を行方向とする。行方向においては、 n本の導電性要素 1 2は相互に所定の間隔をおいて且つ実質的に平行に配列されている。測定へッド 1 0の上面 1 0 aは、粉体と水とを含む粉体被検体に接触させる接触面である。この接触面においては 1行 X n 列の導電性要素 1 2が露出している。各導電性要素 1 2の端部は、後述の配線 1. 6 a又は 1 6 b (図 2 ) を連結する締結部（図示せず）を有している。絶縁性保持部材 1 4は、例えばアルミナ 'セラミックス製であり、成型後に焼成して作成できる。

図 2に示すように、 n列の導電性要素 1 2においては、奇数列に属する導電性要素 1 2が第 1の配線 1 6 aにより、偶数列に属する導電性要素 1 2が第 2の配線 1 6 bにより、それぞれ相互に電気的に接続されている。従って n列の導電性要素 1 2は、奇数列に属する導電性要素 1 2を一方の' 極、偶数列に属する導電性要素 1 2を他方の極とする二極の電極端子を構成している。配線 1 6 a、 1 6 bとしては、例えば、一般に広く用いられている電気配線用の電線などを用いることができる。

このように平面的に構成された薄型の測定へッド 1 0は、粉体被検体へ挿入する必要がないので、開放された設置空間を必要としない。また、粉体被検体を接触面上に載置するだけで測定に供することができるので、粉塵の発生による環境悪化の問題を解消できる。

図 3は、本発明の第 2実施形態であり、図 1及び図 2の測定へッド 1 0 を用いた本発明の粉体被検体の水分値を測定する水分値測定装置 2 0を示す。測定装置 2 0は、上述の測定へッド 1 0と、この測定へッド 1 0の 2極の電極端子に低周波矩形波（1 k H z以下の矩形波）を有する定電流を供給する矩形波定電流供給源 2 2と、粉体被検体を介して測定へッド 1 0の 2極間に流れる電流により生じる 2極間の電圧を測定し、この測定電圧を平滑処理して平滑電圧値として出力する電圧平滑測定回路 2 4とを含む。測定装置 2 0は更に、測定回路 2 4の出力値と、粉体被検体の水分値との間の予め求められた相関関係に基づいて、測定回路 2 4の出力値から粉体被検体の水分値を求める演算回路 2 6を含む。演算回路 2 6が参照する測定回路 2 4の出力値と粉体被検体の水分値との間の予め求められた相関関係は、メモリ 2 8 aに参照テーブルとして予め記憶させておくカヽ或いはキーボード等の入力装置 2 8 bを介してメモリ 2 8 aに与えてもよい。

図 4は本発明の第 3実施形態であり、図 3の水分値測定装置 2 0を铸物砂の処理ラインにおける砂貯蔵設備 3 0に適用した例を示す。貯蔵設備 3 0は、混練機パッチホッパ 3 2と切り出し装置としてのベルトコンペャ 3 4とを備える。ホッパ 3 2の内面には、水分値測定装置 2 0 (図 3 ) の測定へッド 1 0をその接触面 1 0 a (図 2に示すように導電性要素 1 2が露出している面）がホッパ 3 2の内側に露出するように装着してある。図 4 においては、図示の単純化のため、測定へッド 1 0は概略的に示してある。薄型の測定へッド 1 0は、開放された設置空間を必要としないので、ホッパ 3 2の内面に取り付けることができ、水分値測定専用の搬送路又はべルトコンベアを設ける必要がない。

水分値を測定すべき鐯物砂 Sを貯蔵設備 3 0内に投入した後、水分値測定装置 2 0の矩形波定電流供給源 2 2 (図 3 ) から測定へッド 1 0に低周波矩形波定電流を供給して、測定へッド 1 0の導電性要素 1 2間に鎵物砂 Sを介して電流を流す。このとき、測定へッド 1 0の 2極間に生じる電圧を電圧平滑測定回路 2 4 (図 3 ) により測定する。この測定結果から演算回路 2 6 (図 3 ) により水分値を求める。こうして求めた水分値の例を図 5に示す。

.図5において、縦軸の電圧は、電圧平滑測定回路 2 4によって測定及び出力された電圧データである。測定に用いた 2種類の錡物砂 Aと Bとは、組成に占める粘土の割合などの性質が異なっているが、 A、 B共に砂の水分値と電圧との間に良好な相関関係が認められる。この結果、 0 . 8 %から 3 %までの铸物砂の水分を適正に計測できることが確認できた。

尚、図 5では電圧が 1 0 Vで頭打ちとなっているが、これは、測定回路 2 4が 1 0 V以上のデータを 1 0 Vとしているためである。この規制を変更することによって 1 0 V以上、即ち砂の水分値 3 %以上も測定可能となる。また、図 5では砂の水分値 1 %程度以下では電圧が 0 Vとなっている力矩形波定電流供給源 2 2から測定へッド 1 0への供給電圧レベルを変更することにより、砂の水分 1 %以下も測定可能になる。基礎テストとして、平板上に複数の導電性要素 1 2を並べ、要素間のィンピーダンスを LCZメータで測定した。このテストは、要素 1 2の形状、要素への印加周波数、生砂の水分、温度などを変化させて行った。図 6は、 1 0 m m幅 X 2 0 O m m長さの導電性要素 1 2を 2 0 m mピッチで配置して、この要素の数を変化させたときの、生砂の水分と要素間のインピーダンスの相関関係を調査した結果を示している。図 6からは、要素 1 2が 3個では水分とインピーダンスの相関関係は低く、要素 1 2が 5個でも充分な相関関係が得られないことが判る。更に要素 1 2を 7 , 9 , 1 1個と増やしていくと、高い相関関係が得られることが判明した。更に要素 1 2 を増やすと、測定へッド 1 0の面積が増大して設置空間に制約を受けることになる。この結果、 1 0 m m幅 X 2 0 0 m m長さの要素 1 2を 2 0 m m ピッチで 7個から 11個程度配置することにより、生砂の水分値を良好な精度で安定して測定可能であることを確認した。

より高い測定精度が要求される場合には、導電性要素 1 2への砂の付着に起因する誤測定を防止する必要がある。

図 7は、この目的のための本発明の第 4実施形態に係る測定へッド 4 0 を示す。この測定へッド 3 0は、第 1実施形態の測定へッド 1 0 (図 1及び図 2 )に絶縁性保持部材 1 4を介して加熱部材 4 2を設けたものである。ここで加熱部材 4 2は、シート状電気ヒータであり、配線 4 4を介して適宜な電源（図 7には図示せず）により電力が供給されると共に、加熱温度が制御される。この加熱部材 4 2により絶縁性保持部材 1 4を介して導電性要素 1 2を加熱することにより、導電性要素 1 2への結露を防止でき、ひいては導電性要素 1 2への砂の付着を防止できる。

図 3の電圧平滑測定回路 2 4の出力する平滑電圧値は、水分値が同一であっても砂の温度によって変化する。従って更に高い測定精度を達成するためには、砂の温度による影響を考慮する必要がある。

図 8は、この目的のための本発明の第 5実施形態であって、図 7の測定ヘッド 4 0を用いた本発明の铸物砂の水分値測定装置 5 0を示す。この装置 5 0において、矩形波定電流供給源 2 2と電圧平滑測定回路 2 4とは第 2実施形態の水分値測定装置 2 0 (図 3 ) のそれと同様である。演算回路 2 6も水分値測定装置 2 0のそれと同様である力 S、入力される電圧データが水分値測定装置 2 0のそれとは異なっている。

装置 5 0は更に、加熱部材 4 2へ電力を供給する電源 5 2と、砂温度を測定する熱電対などの温度センサ 5 4と、電圧平滑測定回路 2 4の出力する平滑電圧値を温度センサ 5 4で測定した砂温度に基づいて補正する補正回路 5 6とを含む。砂温度に基づいて補正された平滑電圧値を温度補正電圧値と称する。補正回路 5 6は次の関係式に従って温度補正電圧値を演算する。

温度補正電圧値 =平滑電圧値 + (第 1の定数一铸物砂温度） X第 2のここで第 1の定数は銪物砂の基準温度である。第 2の定数は温度の変化量によって変化する電圧値であり、 V Z°Cで表される。

演算回路 2 6は、補正回路 5 6の出力する温度捕正平滑電圧値と、铸物砂の水分値との間の予め求められた相関関係に基づいて、補正回路 5 6の出力値から铸物砂の水分値を求める。従って砂の温度の影響を受けることなく水分値を測定できる。演算回路 2 6が参照するその相関関係は、第 2 実施形態の水分値測定装置 2 0と同様にメモリ 2 8 aに参照テーブルとして予め記憶させておく力、或いはキーボード等の入力装置 2 8 bを介してメモリ 2 8 aに与えてもよい。

このような铸物砂の水分値測定装置 5 0を砂処理ラインの混練機バッチホツバに適用し、水分値の計測状況を既設の従来装置と比較検討するために、フィールドテストを実施した。従来装置としては、本願の譲受人である新東工業株式会社が製造販売しているバツチ水分コントローラ (Batch Moisture Controller: BMIC) を用いた。この BMICは、鎊物砂中の水分値が高いほど電気抵抗値が小さくなる性質を利用して、回収砂 (即ち錶型造型に用いた使用済みの铸物砂）を再生するためにその水分値を高精度で制御するものである。 BMICは、砂冷却機で冷却された回収砂の水分値を測定し、設定水分値に対する不足水分を回収砂に注水することにより、回収砂を再生させる。

図 9はフィールドテストの結果であって、装置 5 0による水分測定値と、 BMICの水分測定値との比較を示す。本発明に係る装置 5 0の水分換算値は BMICの水分と同様の推移を示し、 3BMICの水分土 2 %の範囲より外れることはなかった。また、導電性要素 1 2への砂の付着は認められなかつた。更に、測定装置 5 0に温度センサ 5 4及び補正回路 5 6を設け、電圧平滑測定回路 2 4の平滑電圧値を温度補正する結果、鎳物砂の水分と平滑電圧値との相関関係が一層強くなることを確認した。

鎵物砂の水分値を正確に測定することにより、混練制御の信頼度を高めることができるので、錶型の造型に最適な鎳物砂を調整することができる c 実施形態においては、測定へッド 1 0及び 4 0を砂処理ラインの混練機バッチホツバの内面に設ける例を示したが、以下のように砂処理ラインにおける他の機器の内面に設けてもよい。

1 ) 砂処理ラインを流れる砂の貯蔵手段、例えばサンドビン、砂ホッノ^ 砂処理ライン上のふるい装置、砂冷却機に付帯するホッパ、造型機に設けられた第 1のホッパ（造型機内に配置されて造型に使用される铸物砂を貯蔵するホッパ）、造型機の直上に設けられた第 2のホッパ（第 1のホッパに鎵物砂を所定量ずつ供給するためのホッパ）の内面。

2 ) 砂処理ラインで錶物砂を処理する処理する処理手段、例えば铸物砂に粘結材、水等を加えて混練して造型に適した铸物砂を調整する混練機、注湯時に溶湯で加熱された鍚物砂を、砂処理ラインの過程で冷却する砂冷却機の内面。

3 ) 砂の移送部に設けられ、砂を移送する移送手段、代表的にはシュートの内面。このようなシュートは、例えばバッケットェレベータ、ベルトコンベア、及びオシレーティングコンベアなどの铸物砂搬送手段と砂処理ラインの貯蔵器などの各機器との間に設けられている。

何れの場合も内面とは、開放された空間又は閉じた空間を規定する内壁面、内側面、底面を含み、これらの面には垂直面や水平面に限らず、傾斜面も含まれる。 1 ) 乃至 3 ) の砂処理ラインにおける機器は当業者には公知であるから図示しない。

当業者には、添付の請求項に規定された本発明の目的及び要旨を逸脱することなく、本発明に様々な変更や変形をなせることが明らかである。例えば粉体被検体は、砂に限らず、その他の粉体としてもよい。この場合、測定へッド 1 0及ぴ 4 0の取り付け位置としては、粉体を空気輸送するための始点及び終点における貯蔵手段の内面、粉体の使用目的に合わせて水等を加えて混ぜる混練機の内面が考えられる。内面の定義は砂処理ラインの場合と同様である。

公知のブリケットマシン、ペレタイザ一などの圧縮造粒機のホッパの内面に本発明の測定へッドを取り付けて、粉体の水分値を測定してもよい。その測定値に応じて回転速度、圧縮力を制御して、圧縮、押し出し、転造などの成形、造粒に最適な粉体を調整することができる。

Claims

請求の範囲 .粉体と水とを含む粉体被検体に含有される水分値を測定する装置であつて、粉体被検体に接触させるべき接触面を有する測定へッドを備え、この測定へッドは、 i ) 複数 n本（但し nは 3以上の整数）の細長い導電性要素と、 ϋ ) 前記 η本の導電性要素をその長手方向に実質的に直交する行方向に沿って、相互に所定の間隔をおいて且つ実質的に平行に 1行 X η列に配列すると共に、前記接触面において前記.1行 X η列の導電性要素が露出するように保持する絶縁性保持部材と、 iii ) 前記 n本の導電性要素が 2極の電極端子を構成するように、前記 n列の導電性要素のうち、奇数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して一方の極を形成する第 1の接続部材と、偶数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して他方の極を形成する第 2の接続部材とを含み、 ' 前記装置は更に、前記測定へッドの前記 2極端子に、低周波矩形波を有する定電流を供給する手段と、前記定電流が前記 2極端子間に粉体被検体を介して流れるときに、前記 2極端子間に生じる電圧を測定し、且つその測定値を平滑化して出力する手段と、前記平滑化された測定電圧値と粉体被検体に含有される水分値との間の予め求められた相関関係に基づいて、粉体被検体に含有される水分値を決定する手段とを備える装置。 . 請求項 1の装置において、粉体被検体の温度を測定する温度測定手段と、前記水分値の決定に際し、前記平滑化された測定電圧値を、前記温度測定手段により測定された粉体被検体の温度に基づいて補正する手段とを更に備えることにより、前記決定される水分値が粉体被検体の温度に基づいて補正される装置。. 請求項 2の装置において、前記絶縁性保持部材に設けられ、導電性要素を加熱する加熱手段を更に備える装置。 .砂の処理ラインにおいて砂に含有される水分値を測定する装置であつて、砂に接触させるべき接触面を有する測定へッドを備え、この測定へッドは、 i ) 複数 n本（但し nは 3以上の整数）の細長い導電性要素と、 ϋ ) 前記 η本の導電性要素をその長手方向に実質的に直交する行方向に沿って、相互に所定の間隔をおいて且つ実質的に平行に 1行 X η列に配列すると共に、前記接触面におい Τ前記 1行 X η列の導電性要素が露出するように保持する絶縁性保持部材と、 iii ) 前記 n本の導電性要素が 2極の電極端子を構成するように、前記 n列の導電性要素のうち、奇数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して一方の極を形成する第 1の接続部材と、偶数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して他方の極を形成する第 2の接続部材とを含み、前記装置は更に、前記測定へッドの前記 2極端子に、低周波矩形波を有する定電流を供給する手段と、前記定電流が前記 2極端子間に砂を介して流れるときに、前記 2極端子間に生じる電圧を測定し、且つその測定値を平滑化して出力する手段と、砂の温度を測定する温度測定手段と、前記平滑化された測定電圧値を、前記温度測定手段により測定された砂の温度に基づいて補正する手段と、前記補正された測定電圧値と砂に含有される水分値との間の予め求められた相関関係に基づいて、砂に含有される水分値を決定する手段とを備える装置。. 請求項 4の装置において、前記絶縁性保持部材に設けられ、導電性要素を加熱する加熱手段を更に備える装置。. 請求項 4の装置において、前記砂が使用前又は使用後の铸物砂である . 請求項 6の装置において、前記処理ラインが、砂を貯蔵する貯蔵手段と、砂を処理する処理手段と、砂を移送させる移送手段とを含む装置。. 請求項 7の装置において、前記測定へッドの配置位置が、前記貯蔵手段、前記処理手段、前記移送手段のうちの少なくとも一つにおける内面である装置。 .粉体と水とを含む粉体被検体に含有される水分値を粉体被検体の電気抵抗値に基づいて測定する水分値測定装置に用いられ、粉体被検体に接触させるべき接触面を有する測定へッドであって、複数 n本（但し nは 3以上の整数）の細長い導電性要素と、前記 n本の導電性要素をその長手方向に実質的に直交する行方向に沿つて、相互に所定の間隔をおいて且つ実質的に平行に 1行 X n列に配 · 列すると共に、前記接触面において前記 1行 X n列の導電性要素が露出するように保持する絶縁性保持部材と、前記 n本の導電性要素が 2極の電極端子を構成するように、前記 η列の導電性要素のうち、奇数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して一方の極を形成する第 1の接続部材と、偶数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して他方の極を形成する第 2の接続部材とを備える測定へッド。 0 . 請求項 9の測定へッドにおいて、前記粉体被検体が使用前又は使用後の铸物砂である装置。

1 .粉体と水とを含む粉体被検体に含有される水分値を粉体被検体の電気抵抗値に基づいて測定する方法であって、

a )粉体被検体に接触させるべき接触面を有する測定へッドを設ける段階を含み、この測定ヘッドは、

i ) 複数 n本（但し nは 3以上の整数）の細長い導電性要素と、 ϋ ) 前記 η本の導電性要素をその長手方向に実質的に直交する行方向に沿って、相互に所定の間隔をおいて且つ実質的に平行に 1行 X η列に配列すると共に、前記接触面において前記 1 行 X η列の導電性要素が露出するように保持する絶縁性保持部材と、

iii ) 前記 n本の導電性要素が 2極の電極端子を構成するように、前記 n列の導電性要素のうち、奇数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して一方の極を形成する第 1の接続部材と、偶数列に属する導電性要素を相互に電気的に接続して他方の極を形成する第 2の接続部材とを含み、

前記方法は更に、

b )前記測定へッドの前記 2極端子に、低周波矩形波を有する定電流を供給する段階と、

c )前記定電流が前記 2極端子間に前記粉体被検体を介して流れるときに、前記 2極端子間に生じる電圧を測定し、且つその測定値を平滑化して出力する段階と、

d ) 粉体被検体の温度を測定する段階と、

e )前記平滑化された測定電圧値を、前記温度測定手段により測定された粉体被検体の温度に基づいて補正する段階と、 f )前記補正された測定電圧値と粉体被検体に含有される水分値との間の予め求められた相関関係に基づいて、粉体被検体に含有される水分値を決定する段階とを含む方法。

2 . 請求項 1 1の方法において、前記粉体被検体が使用前又は使用後の鎳物砂である方法。