TW200401890A - Method and device for measuring water content of powder - Google Patents

Description

200401890 玖、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 一般說來，本發明係關於含有粉體及水的粉體受檢體 之含水率測定方法及裝置 【先前技術】 於處理鑄造用砂的習知砂處理作業線中，在混砂機（或 砂冷卻機）前段，對在輸送帶上連續搬運的鑄造用砂測定含 水¥及浪度，算出不足含水量5藉由在混砂機中注入此不 足含水量，進行鑄造用砂的混製調整。 就測定鑄造用砂含水率之習知含水率測定裝置而言， 已知有如讓渡給本申請案申請人之曰本特許第324〇〇25號（ 曰本特開平7_19〇975號公報）所揭露，於其測定頭採用一 對板狀電極的技術。此習知測定頭，係在以既定間隔使一 對板狀電極對向的狀態下，自上方插入铸造用砂内，在透 過鑄造用砂使電極間通電時，即能獲得對應鑄造用砂含水 2的電阻值。因此’藉由測定電阻值即可測定鑄造用砂的 3水率又，藉由根據鑄造用砂的測定溫度來修正電阻值 可求得更正確的含水率。 不過由於習知測定頭的板狀電極為寬度大的大型品， 體積很龐大，又必須你卜古彡 、攸上方插入鑄4用砂，故於設置 要較大的空間，為a罢Α' 在6又置位置（即測定位置）的選擇上受到允 : = 測定頭的設置位置被限定在如二 依處理作業線的不同設計，也可能發生為了確保習^定 200401890 頭：設置: 立置：特別設置禱造用砂含水率測定專用的搬運 路徑也就疋輸送帶的需要。 此卜由於在δ又置習知測定頭於輸送帶上方情形下， 將板狀電極插入輪送帶上搬運中的鑄造用砂，故於測定中 ，砂谷易自輸送帶㈣至腳，造成作㈣境惡化。 上述習知含水率測定裝置，並不限於用在鑄造用砂， 亦用在其他粉體的處理工序。例如於陶究原料、时火原料 等的寞業原料、製鋼屑 1的廢棄物再生原料、肥料原料等 的粉體處理中，藉由在壓缩、施 ψ 的…“ 出、滾礼等的成型、製粒 的刚置工=中’使用習知含水率測定裝置來測定原料的水 伤，以4機進行水份的調整。於此情形下，亦 知測定頭（―對板狀電極）的形態所造成設置以^限制: 粉塵產生所造成之作„境惡化等，與鑄 線相同的問題。 /处埋作業 因此’期望有加以改良俾幾乎不會罹受測定頭 造成之設置空間限制的粉體含水率測定方法。 心斤 【發明内容】 本發明，提供一種用來測定含有粉體及水 體含水率的含水率測定裝置及其測定頭。測定s _又板 於粉體受檢體的接觸面’且包含0複數"条二：：有接觸 的整數）之細長導電性元件；Η)絕緣性保持構⑯3以上 導電性元件沿著與其長邊方向實質上正交的行方。字該η條 成彼此相距既定間距且實質上平行排列成1疒向，保持 於該接觸面露出該1行X η列之導電性 11列，且 仟，以及出）第1 200401890 連接構件與第2連接構件；帛丨連接構件係將該。列導電 。=中屬於可數列之導電性元件彼此電氣連接來形成一 極’第2連接構件則將屬於偶數列之導電性元件電氣連接 以形成另-極，藉以使肖η條導電性元件構成二極電極端 ，含水率測定裝置，具備：上述測定頭，將具有低頻矩 形波的定電流供至此測定頭的二極端子的機構、對在定電 流經由粉體受檢體流至前述二極端子間時於二極端子間產 生之電《加以敎並且將此值平滑化，將其輸出之機構， 以及根據被平滑化之測定電壓值與粉體受檢體含水率之間 預先求出之相互關係、，來決定粉體受檢體含水率的機構。 含水率測定裝置，亦可進一步具備測定粉體受檢體溫 度之溫度測定機構’以及在決定含水率時，根據前述溫度 測定機構所敎之粉體受檢體的溫度，來修正前述被平滑 化之=定電壓值的機構，藉此，將粉體受檢體的溫度反映 於決定的含水率。於此情形下，亦可進—步具備設於絕緣 性保持構’將導電元件加熱的加熱機構。 本發明提供使用上述測定頭，根據粉體受檢體的電阻 值測定含有粉體及水的粉體受檢體的含水 电 卞日、）万法。此方 法包含將有低頻矩形波的定電流供至測定 Μ日^ 一極端子的 對在定電流經由粉體受檢體流至二極踹 而卞間時於二極 端子間產生的電壓加以測定，並且將該測 y 久值予以平滑化 後輸出的步驟；根據溫度測定機構所測定 < ^體受檢體之 200401890 /皿度末G正破平滑化之測定電壓值的+ 後T々、目,1〜不r V驟，以及根據所 正之測疋電壓值與粉體受檢體含水 關係’來決定粉體受積體含水率的步驟。 t出的相互 本說明書中，所謂「粉體受檢體」—詞’係指含有於 體及：的X檢體。所謂「粉體」—詞，係指粒子多數集合 的狀態，混合大略分為細粉（〇· i至 ” σ # m)、一般粉體（1至 100//m)、粗粉（oj 至 1mm)、粒體（1 5 1 )T至3mm)的粉粒中至 少一個以上者。 仏些粉體包含鑄造用砂、陶瓷原料、耐火原料等窯業 原料、製鋼屑等廢棄物再生原料、肥料原料等，不過，不 限於此。 本t明中，作為鑄造用砂，以使用原料型鑄造用砂， 亦即膨潤土作為黏結材最適當。只要是其他使用水份之黏 結材的話、本發明亦可容易適用於使用澱粉、PVA(聚乙烯 醇）等水溶性黏結材的鑄造用砂。鑄造用砂不限於未使用過 的鑄造用砂，亦包含使用後回收再生的回收砂。 私體叉檢體的含水率，係粉體受檢體所含水份數值， 以百分比來表示每單位重量所含水份重量。 【實施方式】 第1圖及第2圖，係顯示本發明第1實施形態的測定 頭1 0的俯視圖及縱剖視圖。測定頭1 0，具有排列成1行X η列（η為3以上的整數，於圖示例中，n：=1 〇、被保持於絕 緣性保持構件14上的細長金屬製導電性元件12。此導電 性7L件1 2 ’以耐腐蝕性優異的金屬為佳。以導電性元件 200401890 12的長邊方向為列方向，以實質上與此正交的方向為行方 向二沿订方向，11個導電性元件12,係彼此相距既定間距 且貫質亡平：排列。測定頭〗〇的上面心，是與含有粉體 及欠之爭刀體又仏體接觸的接觸面。於此接觸面，露出1行 Xn列的導電性元件12。各導電性元件12的端部，具有連 、.’。後述配、線16a 4 16b(第2圖）的連接部（圖略）。絕緣性保 持構件14,例如為銘、陶£製，可在成型後燒結製成。 如第2圖所示’於n列導電性元件12中，屬奇數列的 導電性元件12藉第1配線16a，屬偶數列的導電性元件12 藉第2配線16b，而分別彼此電氣連接。因此，n列導電 性兀件12，構成以屬於奇數列的導電性元件12為一極， 以屬於偶數列的導電性元件72為另一極的二極電極端子 。作為配線16a、16b，例如，可使用一般泛用的電氣配線 用電線等。 以此方式構成為平面的薄型測定頭1 〇，由於無需插入 粉體受檢體，故不需要開放的設置空間。又由於只要將粉 體受檢體載置於接觸面上即可供測定，故可消除粉塵產生 所造成之環境惡化的問題。 第3圖，係本發明第2實施形態，顯示使用第1圖及 第2圖之測定頭1 〇，來測定本發明粉體受檢體含水率的含 水率測定裝置20。測定裝置20，包含··上述測定頭i 〇， 將具有低頻矩形波（IKHz以下的矩形波）之定電流供至此測 定頭10的二極電極端子的矩形波定電流供給源22，以及 測定二極間之電壓（透過粉體受檢體而在測定頭1 0之二極 200401890 間々>L通之電"IL所產生者）、平滑處理此測定電壓將平滑電壓 值輸出的電壓平滑測定電路24。測定裝置2〇，進一步包 含根據測定電4 24的輸出值與粉體受檢體含水率間預先 求出的相互關係，從測定電@ 24的輸出值求出粉體受檢 體含水率的運算f @ 26。運算電路26所參照之測定電路 24的輸出值與粉體受檢體含水率間縣求出的相互關係， 可作為參照表預先記憶於記憶體28a，或可透過鍵盤等輸 入裝置28b供至記憶體28a。 第4圖是本發明第3實施形態，顯示將第3圖之含水 率、!疋衣置2 0適用於鑄造用砂處理作業線的砂貯藏設備 3〇的例。貯藏設備30,具備混機分批料斗32以及作為運 =裝置的輸送帶34’於料斗32内面安裝含水率測定裝2〇( 弟3圖）的測定頭1〇，使其接觸面l〇a(如第2圖所示，導 電性元件12之露出面）於料斗32内側露出。於第4圖中， 為求圖不的單純化，係概略顯示測定頭1 〇。 由於薄型測定頭10無需開放的設置空間，故可安裝於 料斗32的内面，不必設置含水率測定專用的搬運路徑或 輸送帶。 將待測定含水率之鑄造用砂s投入貯藏設備3〇内後 ’從含水率測定裝置2〇之矩形波定電流供給源22(第3圖 )將低頻矩形波定電流供至測定頭丨〇，使電流經由鑄造用 ◊ s流至測定頭10的導電性元件12間。此時，藉電壓平 /月測定電路24(第3圖）來測定於測定頭1〇的二極間產生 的電壓。根據此測定結果，以運算電路26(第3圖）求出含 11 200401890 水率二第5圖顯示如此求得的含水率的例。 第5圖中’縱軸的電壓 定及輸出的電壓資料。$ 1 ，月測定電路24濟 i貝科。用於測定的兩種鑄造用 雖然成份中黏土所占比率等的性質不 ：B， 、…含水率與電塵之間有良好的 二“ 確認，能適當測量0篇至3%的鑄造用砂的水份。、、，。果，可 又，第5圖中雖然電塵最高為卿， 24將10V以上的資料韻 ，、因測疋電路 〇貝科視為10v之故。藉由變更此限制

可測定1〇V以上，亦即砂含水率3%以上。又， 、 ，雖然砂含水率在1%程度以下時電塵為〇v，：過二中 變更從矩形波定電流供給源22供至測定頭ι〇的電壓： ，亦能進行砂含水率1%以下之測定。

作為基礎測試，係於平板上排列複數個導電性元件12 ，以LCZ計敎了元件間的阻抗。此測試，係在變化元件 12之形狀、對元件施加之頻#、原料砂的水份、溫度等情 形下進仃。第6圖顯示以2〇mm(毫米）間距配置1〇〇mm寬 X 200mm長的導電性元件12，調查變化此元件數目時原料 y的X彳7；與元件間的阻抗的相互關係的結果。由第6圖可 知，元件12為3個時，水份與阻抗的相互關係低，即使 元件12為5個時，仍無法獲得充份的相互關係。進一步 將几件1 2增加為7、9、11個時，即能獲得高的相互關係 。當更進一步增加元件12時，測定頭1〇的面積即增大， 在设置空間上受到限制。其結果，確認藉由相距2〇nim間 距配置7個至11個左右的丨〇nm寬X 200mm長的元件12

12 200401890 日寸’能以南精度穩疋測定原料砂含水率。 衫 在要求更高的測定精度時，則必須防止砂附著於導電 性元件12所造成的誤測定。 第7圖’係顯示為達成此目的之本發明第4實施形態 的測定頭40。此測定頭40，係透過絕緣性保持構件14， 在第i實施形態的測定頭10(第i圖及第2圖）設置加熱構 件44者。此處’加熱構件42係片狀電加熱器，透過配線 44以適當的電源（第7圖中未圖示）供給電力，並控制加熱 温度。藉由此加熱構件42透過絕緣性保持構件14來加熱 · 導電性7L件12，即能防止水珠凝結於導電性元件丨2，進 一步可防止砂附著於導電性元件12。 第3圖之電壓平滑測定電路24所輸出的平滑電麼值， 即使含水率相同亦會因砂的溫度而變化。因此，為了達成 _ 更高的測定精度，須考慮砂溫度所造成的影響。 —弟^圖’係為達成此目的之本發明第$實施形態，顯 π使用第7圖之測定頭4〇的本發明禱造用砂含水率測定 衣置〇此^置50中，矩形波定電流供給源22及電壓平 % /月測疋電路24 ’與第2貫施形態之含水率測定裝置2〇(第 3 SO的㈣波定電流供給源及電壓平滑測定電路相同。雖 然運异電路26亦與含水率測定裝置2()的運算電路相同， 不過所輪入之電壓資料與含水率測定裝置2〇的資料相 異。 裝置5〇，進一步包含··將電力供至加熱構件42的電 源 測疋砂溫度之熱電耦等的溫度感測器，以及根 13 200401890 24:;:所測定的砂溫度來修正電屡伽^ 正的平二之平滑電塵值的修正電路56。根據砂溫度所修 =的千4電昼值稱為溫度修正電壓值。修正轉％，係根 據以下關係式來運算溫度修正電壓值。 溫度修正電塵值，電壓值+ ( 溫度）X第2常數 / 此處’第丨常數是鑄造时的基準溫度。帛2常數是 Ik著溫度變化量變化的電壓值，其以V /它表示。

運算電路26,根據修正電路56輸出之溫度修正平滑 電壓值、與鑄造用砂含水率之間預先求出的相互關係，由 修正電路56 _出值求得鑄造用砂含水率。因此，可不 受砂溫度影響而測定含水率。運算電& 26所參照之此相 互關係’可如同第2實施形態的含水率測定裝置2〇，以參 照表形式預先記憶於記憶體，或可透過鍵盤等輸入裝置 286輸入記憶體28a。 為了將此種鑄造用砂之含水率測定裝置5〇適用於砂處 理作業㈣混製批式料斗，^較並檢討其與既有習知裝 置之含水率測量狀況，進行了現場測試。作為習知裝置，

係使用本發明受讓人新東工#股份有限公司所製造販售的 批式水份控制裔（Batch Moisture Controller : BMIC)作為習 知裝置。此BMIC，係利用鑄造用砂中的含水率越高電阻 值越小的性質，高精度控制其含水率，俾再生回收砂（亦即 用於鑄模造型之用過的鑄造用砂）。BMIC係測定以砂冷卸 機冷卻的回收砂含水率，將相對設定含水率不足的水份注 14 200401890 入回收砂，以再生回收砂。 第9圖係現場測試的結|，顯示農f 5〇之水份測定值 與BMIC之水份敎值的比較。本發明之裝置5Q的水份換 算值，顯示了與麵c之水份相同的變遷，未超過bmic 水份±2%的範圍。又，亦無砂附著於導電性元件η。進一 步的，於敎裝置50設置溫度感測器54及修正電路％， 對電塵平滑測定電路54之平滑電壓值進行溫度修正的結 果，確認了造用砂的水份與平滑電屢值之間的相互關係進 一步增強。 由於藉由正確測定鑄造用砂含水率可提高混製控制的 可靠性，故可調整對鑄模造型最適當的鑄造用砂。 於實施形態中，雖係顯示在砂處理作業線的混砂機批 式料斗内面設置測定頭1〇及4〇的例，不過，亦能如以下 方式，設於砂處理作業線的其他機器内面。 、1)流於砂處理作業線之砂的貯藏機構，例如砂倉、砂 料斗、砂處理作業線上的過滤裝置、附設於砂冷卻機的料 斗 '設於造型機的第i料斗（配置於造型機内、貯藏用於造 =鑄造用砂的料斗）、設於造型機正上方的帛2料斗(每 一人知"既定夏將鑄造用砂供至第1料斗的料斗）的内面。 2)於砂處理作業線中處理鑄物用砂的處理機構，例如 =加黏結材、水等於鑄造用砂予以混拌調整成適於造型 鑄造用砂的混砂機，於砂處理作業線的工序中 、、广 士、 κ〆土人溶 守為…、纟谷液加熱的~造用砂加以冷卻的砂冷卻機的内面 15 200401890 3) σ又於矽的輸送部，輸送砂的輸送機構，具代表性的 疋/田私的内面。此種溜槽設於例如桶式昇降機、輸送帶、 以及振盪式輸送帶等鑄造用砂搬運機構與砂處理作業線的 貯藏器等各機器之間。 於任何情形下，所謂内面，均包含限定開放空間或密 閉空間的内壁面、内側面、纟面，這些面不限於垂直面、 水平面/亦包含傾斜面。由於〇至3)的砂處理作業線的機 夯為该業者所周知，故未圖示。 當該=者在不悖離本案申請專利範圍所限定的本發明 目的及要旨下’可對本發明作種種變更或變形。例如，粉 體受檢體不限於砂，亦可為其他粉體。於此情形下，作為 測定頭10及40的安裝位置，可考慮用來以空氣輸送粉體 的始點及終點的貯藏機構的内面，以及配合粉體使用目的 添加並混合水等的混砂機内面。内面之定義，與砂處理作 業線之情形相同。 此外，亦可將本發明之測定頭安裝於周知的壓塊機、 製粒機等壓縮製粒機的料斗内面，以測定粉體含水率。可 根據該測定值控制旋轉速度、壓縮力，以調整出最適於壓 縮、擠出、滾軋等成型、製粒的粉體。 【圖式簡單說明】 (一）圖式部分 第1圖，係顯示本發明第1實施形態之測定頭的俯視 圖。 第2圖’係顯示第1圖之測定頭的縱剖視圖。 16 200401890 圖，係本發明第2實施形態，使用第^圖 查、、日,）a _ 頭之含水率剩定裝置的示意方塊圖。 第 4 1¾ "，係顯示本發明第3實施形態，將第3圖之令 水率測定裝窨m ^ 置適用於砂處理作業線的示意圖。 第5圖，# & — 係#不以第4圖之裝置所進行之鑄造用砂名 水率，測定例的圖表。 第 6 圖，& ^ + ^^ ^ 係對應測定頭之導電性元件數目，顯示砂才 份與兀件間夕杂 电阻的相關關係的圖表。

第7圖，总 _ 視圖。 係顯示本發明第4實施形態之測定頭的縱杳 弟8圖，從丄 係本赉明第5實施形態，使用第7圖之 頭之每造用砂各 ^^ 各水率測定裝置的示意方塊圖。 第 9 圖 ^ 回’係顯示第8圖的裝置與習知裝置的含 定值的比較圖表。 〕3水率漁 (二）元件代表符號 10,40 10a 12 14 16a 16b 20 22 測定頭

上面 導電性元件 絕緣性保持構件 弟1配線 第2配線 含水率測定裝置 矩形波定電流供給源 電壓平滑測定電路 17 24 200401890 26 運算電路 28a 記憶體 28b 輸入裝置 30 砂貯藏設備 32 料斗 34 輸送帶 42 加熱構件 44 配線 50 含水率測定裝置 52 電源 54 溫度感測器 56 修正電路

18

Claims (1)

1. 200401890 拾、申請專利範圍： 1 · 一種含水率測定裝置 Μ ^ ^ ^ 係用來測定含有粉體與水之 如體文檢體的含水率，其特徵在於： 具備設有待接觸粉體受檢體 ^<接觸面的測定頭，此測 定頭包含： 1)複數η條（但η為3以上 Π)絕緣性保持構件，將該 邊方向實質上正交的行方向， 實質上平行排列成1行X η列 X η列之導電性元件；以及 的整數）之細長導電性元件； η條導電性元件沿著與其長 保持成彼此相距既定間距且 ’且於該接觸面露出該1行 件電氣連接以形成另一極，藉以使該η條導電性元件構成 一極電極端子； —⑴）第1連接構件與第2連接構件；第】連接構件係將 OJ導電性元件中屬於奇數列之導電性元件彼此電氣連 接來形成一極，第2連接構件則將屬於偶數列之導電性元 該裝置進一步具備： 將具有低頻矩形波的定電流，供至該測定頭之該二極 端子的機構； 在該定電流透過粉體受檢體流至該二極端子間時，測 疋4 一極纟而子間所產生的電屢，且將該測定值平滑化予以 輸出的機構；以及 根據該平滑化後的測定電壓值與粉體受檢體含水率之 間預先求出的相互關係，來決定粉體受檢體含水率的機構 19 200401890 2如申睛專利範圍第1 進一步具備··用來測定粉體 ，以及在該含水率之決定時 ，根據該溫度測定機構所測 正的機構；藉此，根據粉體 含水率。 項之含水率測定裝置，其中， 受檢體之溫度的溫度測定機構 ’將該平滑化後之測定電壓值 定之粉體受檢體的溫度加以修 受檢體的溫度來修正該決定的 、3.如巾請專利範圍第2項之含水率測定裝置，其中， 、v -備。X m緣性保持構件、將導電性元件予以加 熱的加熱機構。 4種砂含水率測定裝置，係於砂處理作業線中測定 石y之含水率’其特徵在於： 具備與砂接觸之接觸面的測定頭，此測定頭包含： •)複數η條(但n為3以上的整數)之細長導電性元件； π)絕緣性保持構件，將該η條導電性元件沿著與其長 =方向貝貝上正交的行方向，保持成彼此相距既定間距且 貫質上平行排列成"亍χη歹丨】，且於該接觸面露出該"亍 X n列之導電性元件；以及 111)第1連接構件與第2連接構件；第丨連接構件係將 4 η列導電性元件中屬於奇數列之導電性元件彼此電氣連 接來形成一極，第2連接構件則將屬於偶數列之導電性元 件包氧連接以形成另一極，藉以使該η條導電性元件構成 二極電極端子； 該裝置進一步具備： 將具有低頻矩形波的定電流，供至該測定頭之該二極

   20 200401890 端子的機構； 在該定電流透過砂流至該二極端子間時，測定誃一 端子間所產生的電μ，且將該測定值平滑 二—極 構； t / “匕予以輸出的機 /該平滑化後的敎電壓值，根據以該溫^ 所測疋之砂的溫度，來加以修正的機構；以及 根據該修正後之測定電壓值與砂之含水率 出的相互關係，來決定砂之含水率的機構。 、/ 二如申請專利範圍第4項之砂含水率測定裝置 ，：了具備設於該絕緣性保持構件、將導電二: 加熱的加熱機構。 T Μ ^如申請專利範圍第4項之砂含水率測定裝置，其中 μ /係使用丽或使用後的鑄造用砂。 ^請專利範圍第6項之砂含水率測定裝置，Μ 機： 業線包含··貯藏砂的貯藏機構，處理砂的處理 機構以及輸送砂的輸送機構。 < 里〆的處理 8 ·如申請專利範圍第7項之砂含 ’該測定頭的配置位置俜 、"疋、置’其中 輪送機構中至少一機構的内面。 ”處理枝構、该 9·一種測定頭’係用 定含有粉體及水的粉體受檢體中：之電阻值來測 ，其具有待接觸粉體受檢二=率的含水率測定裝置 : 彳"體的接觸面’其特徵在於，具備 複數η條n a q、， 為3以上的整數)細長導電性元件； 21 200401890 絕緣性保持構件， 士太—， 將该n條導電性元件沿著與其長邊 方向貫質上正交的杆太^ 所t 向’保持成彼此相距既定間距且實 質上平行排列成丨 χϊ ^ τ η列’且於該接觸面露出該1行X η 列之導電性元件；以及 :連接構件與第2連接構件；帛1連接構件係將該 歹電隹凡件中屬於奇數列之導電性元件彼此電氣連接 來形成一極，第2連接椹杜曰丨时ρ 逆接構件則將屬於偶數列之導電性元件 電氣連接以形成另一搞 —、 β ，稭以使該η條導電性元件構成二 極電極端子。 ζ 10如申明專利範圍第9項之測定頭，其中，該粉體 受檢體係使用前或使用後的鑄造用砂。 11 · 一種粉體受檢體之含水率 从痛β , 丰測疋方法，係根據含有 ♦刀體及水的粉體受檢體之電 在於，包含： 值末測疋其含水率，其特徵 a)設置具有待接觸粉體受檢體的㈣面 驟，此測定頭，包含 ；/ 〇複數η條（但η為3以上的整數）之細長導電性元件 li)絕緣性保持構件，將該η條 、 你ν包性凡件沿著與其 長邊方向實質上正交的行方向 待成彼此相距 既疋間距且實質上平行排列成 ^ it X η列，且於 該接觸面露出該丨行χ η列之導雷 、 等私性兀件；以及 叫第1連接構件與第2連接構件；第！連接構件係 將该η列導電性元件中屬於奇數列之導電性元件 22 200401890 彼此電氣連接來形成一 ^弟2運接構件則將屬 J、丨之導電性元件電氣連接以形成另一極， 措以使該η條導電性元件構成二極電極端 該方法進一步包含： ， b)將具有低頻矩形波的定電流供至該測定頭之哕 端子的步驟； ~ 一裡 體流至該二極端子間時 ，且將該測定值平滑化 c)在該定電流透過該粉體受檢 ，測定該二極端子間所產生的電壓 予以輸出的步驟； d) 測定粉體受檢體之溫度的步驟； e) 根據該溫度測定機構所測定之粉體受檢體的溫度， 來修正該被平滑化之測定電壓值的步驟；以及 又 f) 根據該修正後之測定電壓值與粉體受檢體之含水率 之間預先求出的相互關係、，來決定粉體受檢體之含水率的 12 · 定方法， 如申請專利範圍第11項之粉體受檢 其中該粉體受檢體係使用前或使用 體之含水率測 後的鑄造用砂 拾壹、圖式： 如次頁 23