WO2003026356A1 - Substrat transparent utilisant un element electroluminescent organique et element - Google Patents

Substrat transparent utilisant un element electroluminescent organique et element Download PDF

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film
organic electroluminescent
organic
electroluminescent device
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Yoshikazu Ootsuka
Toyohiko Abe
Kenichi Motoyama
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Nissan Chemical Industries, Ltd.
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Definitions

  • the present invention relates to a substrate for an organic electroluminescence device and an organic electroluminescence device using the same.
  • an element that achieves weight reduction and flexibility by using a film substrate instead of a glass substrate (Semiconductor FPD World 2001, 6, 152), and a transparent material is used for the cathode in the above element configuration
  • a top emission method (Semiconductor FPD World 2001, 4, 136) in which a transparent film is placed on top of it and light is emitted from the cathode side.
  • Organic electroluminescent devices have advantages over liquid crystal devices that have been widely used in the past as flat panel displays. In other words, because it is a self-luminous element, it has low viewing angle dependence, low power consumption, and an extremely thin element. However, there are still many issues that need to be resolved to achieve flat display.
  • the short emission life of the device is the short emission life of the device.
  • a lifetime of about 10,000 hours has been achieved by improving the material of the light-emitting layer among the constituent elements of the device, but the lifetime is still satisfactory for applying this device to flat displays. is not.
  • the life span is short, when a still image is displayed on a flat display for a long time, a luminance difference occurs between a lit pixel and a non-lit pixel, and the image is visually recognized as an afterimage.
  • There are many factors related to the light emission lifetime but higher voltage to increase the light emission brightness It has been known that when is applied to the element, the life is shortened.
  • the light emission luminance of displays using organic electroluminescent elements is not satisfactory when a low voltage is applied.To maintain the visibility of the display outdoors during the daytime, a high voltage must be applied to the elements. It is necessary to increase light emission luminance. As described above, the organic electroluminescent device has a dilemma in that the emission brightness must be reduced if the life is to be prolonged, and the life will be shortened if the visibility is to be improved.
  • the improvement of the light emitting layer material of the organic electroluminescence device has been energetically advanced.
  • a light emitting layer material with high internal energy efficiency is developed.
  • the external energy efficiency which indicates the luminous efficiency of an organic electroluminescence device
  • the product of the internal energy efficiency of the device and the light extraction efficiency Optics Letters 22, 6, 6). 396, 1997. That is, in order to improve the luminous efficiency of the organic electroluminescent element, it is necessary to improve not only the internal energy efficiency but also the light extraction efficiency.
  • Light extraction efficiency is the ratio of light emission emitted into the atmosphere from the front of the transparent substrate of the device to the light emission of the device.
  • the light in order for the light emitted from the light-emitting layer to be emitted into the atmosphere, the light must pass through the interface of several media having different refractive indices, but according to Snell's law of refraction, each interface must be at or above its critical angle. Light incident at an angle of is totally reflected at the interface and is guided into the layer and disappears or is emitted from the side of the layer, and light emission from the front of the device is reduced by that much.
  • the light extraction efficiency of the organic electroluminescent device is about 0.1 ⁇ 5, and about 18% of the light generated in the light emitting layer is extracted out of the element, while the remaining about 82% is emitted. Either it is trapped in the device and disappears or is emitted from the side of the device.
  • Japanese Patent Publication No. 3-183020 which uses a glass substrate having one surface roughened as a transparent substrate to scatter light emission
  • Japanese Unexamined Patent Publication No. Sho 61-15666 Japanese Unexamined Patent Publication No. Sho 61-15666
  • Japanese Patent Publication No. 91 Japanese Patent Publication No. 91
  • JP-A-09-129375 a device provided with a scattering region near an interface between an electrode and an organic layer
  • the invention described above aims at preventing external light from transmitting through the transparent substrate and reflecting off the mirror electrode on the back surface of the element, thereby deteriorating the display quality of the element such as contrast.
  • the settings of the refractive index and the film thickness differ greatly. Therefore, the problem that the light extraction efficiency of the organic electroluminescence device is low has not been solved yet.
  • the present invention has been made based on the above-described background, and an object of the present invention is to provide a transparent substrate capable of improving the light extraction efficiency of an organic electroluminescence device, and to achieve high luminous efficiency by using the same. Another object of the present invention is to provide an organic electroluminescence device having excellent mass productivity. Disclosure of the invention
  • the present invention provides a transparent substrate for an organic electroluminescence device having the following features, and an organic electroluminescent device using the same.
  • the refractive index and the film thickness on both sides of the transparent substrate are such that the reflection amount with respect to the light emitted from the light emitting layer is reduced.
  • a transparent substrate for an organic electroluminescence element comprising an optical interference film comprising at least one layer having the following.
  • optical interference film has a refractive index of 1.1 to 2.3 and a film thickness of 10 to 25,000 nm.
  • optical interference film is a multilayer film composed of a high refractive index film and a low refractive index film, or a multilayer film having different thicknesses.
  • Transparent substrate for devices
  • the transparent substrate for an organic electroluminescent device according to any one of the above (1) to (7), wherein the transparent substrate is silica glass, soda glass or an organic film.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a transparent substrate according to the present invention applied to an organic electroluminescent device.
  • Figure 2 Cross-sectional view showing the internal confinement of light from the light-emitting layer when using a conventional transparent substrate.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing light emitted from the light emitting layer when the transparent substrate according to the present invention is used, taken out from the front of the substrate.
  • FIG. 1 shows an example of an organic electroluminescence device using the transparent substrate of the present invention.
  • the device having the configuration shown in FIG. 1 is usually prepared by sequentially depositing a transparent electrode 2, an organic layer 3 including a light emitting layer, and an electrode 4 on a transparent substrate 9 according to the present invention.
  • the thickness of these deposited layers is very thin, and if the surface of the transparent substrate is rough, dielectric breakdown may occur. Therefore, the element side surface of the transparent substrate 9 according to the present invention needs to be sufficiently smooth.
  • the present invention can be applied to a top emission type element configuration.
  • a light emitting element is formed on another substrate and then a transparent substrate 9 according to the present invention is combined. Created.
  • the transparent substrate 9 provided with the optical interference film according to the present invention When the transparent substrate 9 provided with the optical interference film according to the present invention is used, the light incident on the transparent substrate 9 at an angle close to the vertical from the light emitting layer 3 of the organic electroluminescence element is the same as the reflected light at each film interface. Interference occurs because the phase of the incident light is opposite, and the reflected light is reduced. However, the transmitted light is increased correspondingly by the law of conservation of the momentum at the interface. Therefore, more light can be extracted from the front of the transparent substrate.
  • the critical angle of 0 1 or more angles to the transparent substrate 1 of the light generated from the light-emitting layer 3 The incident light 5 is totally reflected.
  • the totally reflected light is totally reflected again on the other electrode surface 4, and by repeating this, the light is guided inside the element and disappears.
  • the critical angles 0 i and 0 at the interface between the light emitting layer and the transparent substrate are set. Even if the light is incident at two or more angles, some light can be extracted from the front of the transparent substrate. Therefore, only by using the transparent substrate according to the present invention, the external luminous efficiency of the ordinary organic electroluminescent device can be greatly improved, and as described above, the luminous brightness and the lifetime of the organic electroluminescent device can be improved. It is possible to achieve both.
  • the transparent substrate according to the present invention has a structure having optical interference films on both surfaces, there is an advantage that a coating method such as a dip method that can produce a large-area substrate at low cost can be applied.
  • the transparent substrate used in the present invention is a transparent substrate such as silica glass, soda glass, and organic film.
  • a color filter or a black matrix may be formed on the surface.
  • An optical interference film composed of at least one layer having a refractive index and a film thickness such that the radiation amount is reduced. For example, when a single-layer optical interference film is installed, its thickness and refractive index are set based on the following equation so that the reflection index is minimized.
  • the transparent substrate is in contact with the transparent electrode and forms a reflective interface.
  • a condition in which a single-layer film is placed on the interface and the reflection at a specific wavelength ⁇ becomes zero is such that the thickness of the optical interference film is d.
  • n is the refractive index of the transparent substrate
  • n g is the refractive index of the transparent substrate
  • n t is the refractive index of the transparent electrode
  • N is any natural number
  • n ( ng x N t ) 1/2
  • nX d Two ( ⁇ ⁇ 4) ⁇ is set based on the central wavelength of 520 nm in consideration of reflection in the entire visible light range.
  • N is usually used in the range of 1 to 50.
  • the refractive index of the film is the square root of the refractive index of the substrate and the phase condition where the optical thickness is N times 1 Z 4 of the center wavelength are necessary.
  • the refractive index of the transparent substrate is 1.5 and the refractive index of the transparent electrode is 2.0
  • the refractive index of the single layer film to be used is 1.73 and the center wavelength is set to 520 nm
  • n Xd 130 nm
  • the thickness of the single layer film may be N times about 75 nm.
  • the refractive index of the optical interference film of the present invention is usually preferably 1.1 to 2.3, particularly preferably 1.2 to 1.9.
  • the film thickness is usually preferably N times from 10 to 500 nm, particularly preferably N times from 50 to 200 nm, and usually preferably from 10 to 25,000 nm, particularly preferably Preferably 50 to: L 0, OOO nm.
  • a multilayer film such as a two-layer film may be used for the purpose of suppressing relatively low reflection in a wider wavelength range.
  • the structure of the two-layer film is preferably of two types. One of them is to form a film in which a high refractive index film and a low refractive index film whose refractive index difference preferably differs from 0.01 to 1.00 are sequentially stacked. Set to a reduced film thickness.
  • the other type has the same structure and each film thickness is preferably N times 1/4 and 1/2 times the center wavelength.
  • the optical interference film should be three layers or less.
  • the upper multilayer film may be used.
  • the constituent materials of the optical interference film according to the present invention include organic molecules, organic polymers, and inorganic metal oxides as long as they can achieve the appropriate refractive index and film thickness obtained based on the above formula. Any material can be used, but a sol-gel material which is a polycondensate of a metal alkoxide is preferred. This sol-gel material is obtained by subjecting a metal alkoxide to a polycondensation reaction in an organic solvent in the presence of an acidic compound or a basic compound.
  • Examples of the acidic compound include mineral acids such as nitric acid and hydrochloric acid, and organic acids such as oxalic acid and acetic acid.
  • Examples of the basic compound include ammonia and the like.
  • Examples of the metal alkoxide include tetraalkoxysilanes such as tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetrabutoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, ethyltriethoxysilane, propyl Trimethoxysilane, propyltriethoxysilane, butyltrimethoxysilane, butyltriethoxysilane, pentyltrimethoxysilane, pentyltriethoxysilane, hexyltrimethoxysilane, hexyltri
  • cerium tetraalkoxide compounds such as cerium tetramethoxide, cerium tetrapropoxide, yttrium trialkoxide compounds such as yttrium tripropoxide, diobium pentamethoxide, diobium pentaethoxide, diobium pen Diobium pentoxide alkoxide compound such as butoxide and the like; and domidodiakoxide compound such as force dimethyl dimethoxide and force dimethyl ethoxide; and these may be used alone or in combination of two or more. I can do things.
  • tetraalkoxysilanes such as tetramethoxysilane and tetraethoxysilane
  • trialkoxysilanes such as methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, ethyltrimethoxysilane and ethyltriethoxysilane
  • titanium tetraalkoxides Compounds, zirconium tetraalkoxide compounds, aluminum trialkoxide compounds, and tantalum pentaalkoxide compounds can be preferably used.
  • organic solvent used for the above polycondensation reaction of the alkoxysilane and the metal alkoxide, and the dissolution of the metal salt examples include alcohols such as methanol, ethanol, propanol and butanol, and ketones such as acetone and methyl ethyl ketone.
  • Aromatic hydrocarbons such as benzene, toluene, xylene, etc., glycols such as ethylene glycol, propylene glycol, hexylene glycol, etc., ethyl ethyl sorb, butyl ethyl sorb, ethyl carb!
  • glycol ethers such as getyl cellosolve and getyl carbitol, N-methylpyrrolidone, dimethylformamide, and the like. These can be used alone or as a mixture of two or more.
  • low-boiling alcohols by-produced are distilled off after hydrolysis to improve the long-term storage of the coating solution and to prevent uneven drying when the coating solution is applied to the substrate.
  • the solvent in the coating solution can be made higher in boiling point and higher in viscosity.
  • This coating solution is applied to both sides of the transparent substrate by a commonly used coating method such as divving, spin coating, transfer printing, brush coating, roll coating, spraying and the like. From the viewpoint of mass productivity, it is preferable to use a dipping method which can be applied smoothly on both sides by a single operation and which can be easily enlarged.
  • the obtained coating film may be made of metal alkoxide as a raw material, dried at a temperature of 50 to 80 ° C., and then dried at a temperature of 100 ° C. or more, preferably 100 to 50 ° C. Bake at a temperature of 0 ° C for 0.5 to 1 hour. This heat hardening can be performed using an apparatus such as an oven furnace or a hot plate.
  • the transparent substrate on which the coating film is formed can be smoothed by polishing, pressing, or applying a transparent flattening film as necessary.
  • a plurality of optical interference films can be obtained by repeating the above steps.
  • the composition, film thickness, and refractive index of each of the constituent layers may be independent.
  • a silica-based sol-gel coating material (trade name: LR—201A, manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) was formed on both sides of the glass substrate by a dipping method so as to have a film thickness of 103 nm.
  • the substrate was baked by heating in an oven for 30 minutes at 510C.
  • the film was taken out of the oven and the refractive index of the coating film was measured to be 1.26.
  • the reflectance of the substrate at a wavelength of 550 nm was measured and found to be 2%.
  • the reflectance of the glass substrate not subjected to this treatment was 4%, indicating that the reflectance was reduced by this treatment.
  • an organic electroluminescent device was prepared.
  • Indium tin oxide (ITO) was deposited as a transparent electrode to a thickness of 100 nm on one optical interference layer of each transparent substrate by the sputtering method. At this time, the sheet resistance was 20 ⁇ cm 2 .
  • a voltage of 10 V was applied to both electrodes of the organic EL device thus prepared, and the amount of light emitted from the front of the transparent substrate was measured. The measured values were compared with those of a device formed from a transparent substrate.
  • the device of Example 1 was 1.2, and the device of Example 2 was 1.3. Therefore, by using the transparent substrate according to the present invention, the organic electroluminescent device having the conventional structure was obtained.
  • the substrate for an organic electroluminescent device of the present invention is excellent in mass productivity, and an organic electroluminescent device having an improved light extraction efficiency by using a parenthesis substrate to constitute a device. Can be created.

Description

有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性基板および素子 技術分野
本発明は、 有機エレクトロルミネッセンス素子用基板およびこれを用いた有機 エレクトロルミネッセンス素子に関する。
明 田
背景技術
有機エレクトロルミネッセンス素子は近年のフラッ卜ディスプレイの需要の高 まりから新たに注目されている素子である。 素子の構成は、 ガラス基板上に形成 した陽極、 ホール輸送層、 電子輸送性発光層、 陰極のものが Tangと Vans lykeによ り提案されている （App l. Phys. Le t t. , 51, 913, 1987) 。 この他には、 ガラス 基板のかわりにフィルム基板を用いて軽量化やかとう性を実現した素子 （Semico nduc tor FPD World 2001, 6, 152) 、 前記素子構成のうち陰極に透明性材料を用 い、 さらにその上に透明性フィルムを設置して陰極側から発光を取り出すトップ ェミッション方式を採用した素子 （Semiconduc tor FPD Worl d 2001, 4， 136) な どが知られている。 有機エレクト口ルミネッセンス素子は、 従来フラットパネル ディスプレイとして広く用いられてきた液晶素子に比較して優れた点を有する。 すなわち自発光素子であるがゆえに視野角依存性が少ないこと、 消費電力が小 さいこと、 きわめて薄い素子にできることである。 しかしながらフラットデイス プレイとするにはいまだ解決すべき問題点も多い。 そのうち一つは素子の発光寿 命が短いことである。 これに対しては現在、 素子の構成要素のうち発光層材料を 改良することによって 1万時間程度の寿命が達成されているが、 フラットデイス プレイにこの素子を適用するためにはまだ満足できる寿命ではない。 寿命が短い とフラットディスプレイに静止画を長時間表示した場合、 点灯画素と非点灯画素 の間に輝度の差が生じ残像として視認されるという、 残像現象があるためである。 発光寿命に関係する要因は多々あるが、 発光輝度を高めるためにより高い電圧 を素子に印加すると、 より寿命が短くなることが知られている。 しかしながら有 機エレクトロルミネッセンス素子を用いたディスプレイの発光輝度は、 低電圧の 印加状態では満足できるものではなく、 昼間室外でのディスプレイの視認性を確 保するためには素子に高い電圧を印加して発光輝度を高める必要がある。 このよ うに有機エレクトロルミネッセンス素子には、 寿命を長くしょうとすれば発光輝 度を弱くせねばならず、 視認性を高めようとすれば寿命が短くなるというジレン マに陥っていた。
この問題を解決するために、 従来より有機エレクトロルミネッセンス素子の発 光層材料の改良が精力的に進められてきた。 すなわちより低い電圧印加で高い発 光輝度を実現するため、 内部エネルギー効率の高い発光層材料を開発するもので ある。
一方、 Tho即 sonらによれば有機エレクトロルミネッセンス素子の発光効率を示 す外部エネルギー効率は、 素子の内部エネルギー効率と光取り出し効率との積で あらわせる （Op t ics Le t ters 22, 6, 396, 1997) 。 すなわち有機エレクトロル ミネッセンス素子の発光効率を向上するためには、 内部エネルギー効率を向上さ せるほかに、 光取り出し効率も向上させる必要がある。
光取り出し効率とは、 素子の発光に対して素子の透明性基板正面から大気中に 放出される発光の割合である。 すなわち発光層での発光が大気中に放出されるに は、 幾つかの屈折率の異なる媒質の界面を通過する必要があるが、 スネルの屈折 の法則に従えば、 各界面にその臨界角以上の角度で入射した光は、 界面で全反射 されて層中に導波し消失するか層側面より放出され、 その分だけ素子正面からの 光放出が減少する。
前記 Thompsonらによれば有機エレクト口ルミネッセンス素子の光取り出し効率 は約 0 . 1 Ί 5であり、 発光層で発生した光のおよそ 1 8 %は素子外に取り出さ れるが、 残り約 8 2 %は素子中に封じ込められ消失するか素子側面から放出して いる。
このため、 光取り出し効率を向上することが重要な課題であり、 従来より様々 な試みが行われている。 透明電極や発光層に粒界を形成し可視光を散乱させるも の （特公平 3— 1 8 3 2 0号公報） 、 透明性基板として一方の表面が粗面化され たガラス基板を用いて発光を散乱させるもの.（特開昭 6 1— 1 5 6 6 9 1号公 報） 、 電極と有機層との界面付近に散乱領域を設けたもの （特開平 0 9— 1 2 9 3 7 5号公報） が開示されている。 しかしながらこれらの試みは全て素子各層の 膜厚を乱す恐れがあり、 絶縁破壊および素子発光の不均一性を生じる原因となる ため、 素子の量産性の観点からは満足できるものではなかった。
また、 この他には透明性基板と発光層の間に光学干渉膜などの反射防止処理を おこなったものが開示されている （特開平 2— 5 6 8 9 2、 特開平 3— 2 9 7 0 9 0号公報） 。 しかし、 これらは屈折率の大きな無機エレクト口ルミネッセンス 素子において効果のあるものであり、 屈折率の比較的小さな有機エレクトロルミ ネッセンス素子の場合では、 透明性基板と発光層側透明電極との界面だけではな く透明性基板と大気界面での全反射も大きな問題であるために十分な効果を上げ られない。
さらに言えば、 上記の発明は、 外部光が透明性基板を透過し素子裏面の鏡面電 極で反射し、 コントラスト等素子の表示品質が低下することの防止を目的とした ものであり、 光取り出しという観点ではその屈折率、 膜厚の設定が大きく異なる。 したがつて有機エレクトロルミネッセンス素子の光取り出し効率が低いという 問題点は依然解決されていない。
本発明は上述の背景に基づきなされてものであり、 その目的は有機エレク卜口 ルミネッセンス素子の光取り出し効率を改善することのできる透明性基板を提供 し、 これを用いることにより高い発光効率でありかつ量産性に優れた有機エレク トロルミネッセンス素子を提供することにある。 発明の開示
本発明は、 以下の特徴を有する有機エレクトロルミネッセンス素子用透明性基 板、 及びこれを用いた有機エレクト口ルミネッセンス素子を提供する。
( 1 ) 有機エレクト口ルミネッセンス素子の透明性基板において、 該透明性基板 の両面に、 発光層からの発光に対して反射量が減少するような屈折率および膜厚 を有する少なくとも 1層からなる光学干渉膜を設けたことを特徴とする有機エレ クトロルミネッセンス素子用透明性基板。
(2) 光学干渉膜が、 屈折率、 1. 1〜2. 3及び膜厚 10〜25， 000 nm を有する上記 （1) 記載の有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性基板。
(3) 光学干渉膜が、 高屈折率膜と低屈折率膜からなる複層膜、 又は異なる膜厚 を有する複層膜である上記 （1) 又は （2) に記載の有機エレクト口ルミネッセ ンス素子用透明性基板。
(4) 光学干渉膜が、 金属酸化物のゾルゲル材料を透明性基板に塗布焼成したも のからなる上記 （1) 、 （2) 又は （3) に記載の有機エレクト口ルミネッセン ス素子用透明性基板。
(5) 金属酸化物のゾルゲル材料が、 金属アルコキシドを酸性化合物又は塩基性 化合物の存在下に有機溶媒中で重縮合反応して得られるものである上記 （4) に 記載の有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性基板。
(6) 金属アルコキシドが、 アルコキシシラン、 又はチタニウム、 ジルコニウム、 アルミニウム若しくはタンタリウムのテトラアルコキシ化合物である上記 (5) に記載の有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性基板。
(7) 光学干渉膜が金属酸化物のゾルゲル材料をディップ法によって透明基板の 両面に成膜焼成したものからなる上記 （1) 〜 （6) のいずれかに記載の有機ェ レクト口ルミネッセンス素子用透明性基板。
(8) 透明性基板が、 シリカガラス、 ソ一ダガラス又は有機フィルムである上記 (1) 〜 （7) のいずれかに記載の有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性 基板。
(9) 上記 （1) 〜 （8) のいずれかに記載の有機エレクト口ルミネッセンス素 子用透明性基板を有する有機エレクト口ルミネッセンス素子。 図面の簡単な説明
図 1 ： 本発明による透明性基板を有機エレクト口ルミネッセンス素子に適用 したものを示した断面図。 図 2 ： 従来の透明性基板を用いた場合の発光層からの光の内部閉じ込めを示 したものを示した断面図。
図 3 ： 本発明による透明性基板を用いた場合の発光層からの光の、 基板正面 からの取り出しを示したものを示した断面図。
符号の説明
1 . 透明性基板
2 . 透明性電極
3 . 発光層を有する有機層
4 . 電極
5 . 透明性電極と透明性基板との界面で反射し素子内を導波する光
6 . 透明性基板と大気との界面で反射し素子内を導波する光 '
7 . 界面で全反射せず、 素子より取り出される光
8 aおよび 8 b. 本発明による光学干渉層
9 . 本発明による有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性基板
1 0.本発明による光学干渉層の作用により素子外へ取り出された光
1 1 . 本発明による光学干渉層の作用により素子外へ取り出された光
Θ 1. 透明性電極と透明性基板との界面の全反射角
Θ 2. 透明性基板と大気との界面の全反射角 発明を実施するための最良の形態
本発明の透明性基板を用いた有機エレクトロルミネッセンス素子の例を図 1に 示す。 図 1の構成の素子は、 通常本発明による透明性基板 9の上に透明電極 2、 発光層を含む有機層 3、 電極 4、 を順次堆積してゆくことにより作成される。 こ れらの堆積層の厚みは非常に薄く、 透明性基板表面が粗面であると絶縁破壊をお こす恐れがある。 したがって本発明による透明性基板 9の素子側表面は充分に平 滑化されている必要がある。
また、 トップェミッション方式の素子構成にも本発明は適用でき、 この方式に は発光素子を別の基板に形成した後に本発明による透明性基板 9を組み合わせて 作成される。
本発明による光学干渉膜を備えた透明性基板 9を用いると、 有機エレクトロル ミネッセンス素子の発光層 3から垂直に近い角度で該透明基板 9に入射した光に ついては、 各膜界面の反射光と入射光の位相が相反するために干渉作用がおこり 反射光が減少するが、 界面における光の運動量保存の法則により透過光がその分 増加する。 このため透明性基板正面から、 より多くの光を取り出すことが出来る ようになる。
一方、 図 2に示すように従来の光学干渉膜の設けられていない透明性基板 1を 用いた場合について、 発光層 3より発生した光のうち透明性基板 1へ臨界角 0 1 以上の角度で入射した光 5は全反射される。 全反射された光はもう一方の電極表 面 4で再び全反射され、 これを繰り返すことによつて光は素子内を導波し消失す る。 臨界角 0 i以下の角度で入射し透明性基板 1内に入射した光であっても、 透 明性基板と大気界面において再び反射 ·屈折が起こり、 臨界角 0 2以上の角度で 入射した光 6は全反射されて、 透明性基板 1内を導波してしまい基板正面より光 をとりだすことはできない。
ところが図 3に示すように、 本発明による光学干渉膜 8を備えた透明性基板を 用いると、 原理は現時点では明らかではないが、 発光層から透明性基板との界面 に臨界角 0 iおよび 0 2以上の角度で入射した光であっても、 透明性基板正面より 幾らか光を取り出すことが出来るようになる。 したがって本発明による透明性基 板を用いるだけで通常の有機エレクト口ルミネッセンス素子の外部発光効率を大 幅に向上させることができ、 ひいては先述のように有機エレクトロルミネッセン ス素子の発光輝度と寿命の両立を達成することが可能となる。
また本発明による透明性基板は、 両面に光学干渉膜を持つ構造であるため、 デ ィップ法など安価に大面積基板を作成できる塗布方法を適用できるというメリッ 卜がある。
本発明に用いる透明性基板とはシリカガラス、 ソーダガラス、 有機フィルムな どの透明な基体である。 表面にカラーフィル夕やブラックマトリクスが形成され ているものでもよい。 この透明性基板の両面に、 発光素子からの発光に対して反 射量が減少するような屈折率および膜厚を有する少なくとも 1層からなる光学干 渉膜を形成する。 例えば 1層の光学千渉膜を設置する場合は、 次の式に基づき反 射率が極小となるようにその膜厚および屈折率を設定する。
R= { (n2-ngXnt) ÷ (n2 + nsXn t) } 2
透明性基板は透明性電極と接しており反射性界面を形成しているが、 該界面に 単層膜を置き特定波長 λでの反射がゼロになる条件は、 光学干渉膜の膜厚を d、 その屈折率を n、 透明性基板の屈折率を ng、 透明性電極の屈折率を nt、 任意の 自然数を Nとすると、 n= (ngXn t) 1/2、 かつ nX d二 (λ ÷4) ΧΝとな る。 通常、 ディスプレイの反射防止膜に適用する場合は、 可視光全域の反射を考 慮するので λは中心波長である 520 nmをもとに設定する。 なお、 本発明で N は通常 1〜50の範囲で用いられる。
上記の式はすなわち膜の屈折率が基板の屈折率の 2乗根となる振幅条件および その光学的厚さが中心波長の 1 Z 4の N倍になる位相条件が必要であることを表 している。 例えば透明性基板の屈折率が 1. 5であり透明性電極の屈折率が 2. 0である場合、 用いるべき単層膜の屈折率は 1. 73となり、 さらに中心波長を 52 0 nmに設定すれば n Xd= 1 30 nmとなり、 単層膜の膜厚は約 7 5 nm の N倍とすればよい。 このようにして、 本発明における光学干渉膜は、 屈折率が 通常、 好ましくは 1. 1〜2. 3、 特に好ましくは 1. 2〜1. 9である。 また、 膜厚は通常、 好ましくは 10〜500 nmの N倍、 特に好ましくは 50〜 2 00 nmの N倍を有するのが好適であり、 通常好ましくは 1 0〜2 5, 0 00 nm, 特に好ましくは 50〜： L 0, O O O nmを有する。
また、 さらに広い波長範囲にて比較的低反射に抑える目的では 2層膜などの複 層膜を用いてもよい。 2層膜の構成としては好ましくは二通りある。 その一つは、 屈折率の差が好ましくは 0. 0 1〜1. 00異なる、 高屈折率膜と低屈折率膜を 順次重ねて成膜するものであり、 各々の膜においての反射率を抑えた膜厚に設定 する。 もう一つは構造は同じで各々の膜厚が、 好ましくは中心波長の 1/4の N 倍と 1/2の N倍になるタイプである。
さらに、 より広い波長範囲で低反射率に抑えるためには光学干渉膜を 3層膜以 上の多層膜にしてもよい。 本発明による光学干渉膜の構成材料は、 上記の式に基 づき得られる適切な屈折率と膜厚を実現することの出来るものであれば有機単分 子、 有機高分子、 無機金属酸化物を問わず使用することができるが、 金属アルコ キシドの重縮合物であるゾルゲル材料が好ましい。 このゾルゲル材料は、 金属ァ ルコキシドを酸性化合物又は塩基性化合物の存在下に有機溶媒中で重縮合反応す ることによって得られる。
この酸性化合物としては、 例えば硝酸、 塩酸等の鉱酸ゃシユウ酸、 酢酸等の有 機酸が挙げられる。 また塩基性化合物としては、 例えばアンモニア等が挙げられ る。 上記金属アルコキシドとしては、 例えばテトラメトキシシラン、 テトラエト キシシラン、 テトラプロボキシシラン、 テトラブトキシシラン等のテトラアルコ キシシラン類、 メチルトリメトキシシラン、 メチルトリエトキシシラン、 ェチル トリメトキシシラン、 ェチルトリエトキシシラン、 プロピルトリメトキシシラン、 プロピルトリエトキシシラン、 ブチルトリメトキシシラン、 ブチルトリエトキシ シラン、 ペンチルトリメトキシシラン、 ペンチル卜リエトキシシラン、 へキシル 卜リメトキシシラン、 へキシルトリエトキシシラン、 ヘプチルトリメトキシシラ ン、 へプチルトリエトキシシラン、 ォクチルトリメトキシシラン、 ォクチルトリ エトキシシラン、 ステアリルトリメトキシシラン、 ステアリル卜リエトキシシラ ン、 ビニルトリメトキシシラン、 ビニルトリエトキシシラン、 3—クロ口プロピ ルトリメトキシシラン、 3—クロ口プロピルトリエトキシシラン、 3—ヒドロキ シプロピ Jレトリメ卜キシシラン、 3—ヒドロキシプロピルトリエトキシシラン、 3—ダリシドキシプロピルトリメトキシシラン、 3—ダリシドキシトリエトキシ シラン、 3—メ夕クリルォキシトリメトキシシラン、 3 _メタクリルォキシトリ エトキシシラン、 フエニルトリメトキシシラン、 フエニルトリエトキシシラン、 トリフルォロプロピルトリメトキシシラン、 トリフルォロプロピルトリエトキシ シラン等のトリアルコキシシラン類、 又は、 ジメチルジメトキシシラン、 ジメチ ルジェトキシシラン等のジアルコキシシラン類等、 チタニウムテトラエトキシド、 チタニウムテトラプロポキシド、 チタニウムテトラプトキシド等のチタニウムテ トラアルコキシド化合物、 ジルコニウムテトラエトキシド、 ジルコニウムテトラ プロポキシド、 ジルコニウムテトラブトキシド等のジルコニウムテトラアルコキ シド化合物、 アルミニウムトリプトキシド、 アルミニウムトリイソプロポキシド、 アルミニウムトリェトキシド等のアルミニウムトリアルコキシド化合物、 バリゥ ムジエトキシド等のバリゥ
キシド、 タンタリウムペン
Figure imgf000011_0001
合物、 セリウムテトラメトキシド、 セリウムテトラプロボキシド等のセリウムテ トラアルコキシド化合物、 イツトリウムトリプロボキシド等のイツトリウムトリ アルコキシド化合物、 二オビゥムペンタメトキシド、 二オビゥムペンタエトキシ ド、 二オビゥムペン夕ブトキシド等の二オビゥムペン夕アルコキシド化合物、 力 ドミゥムジメトキシド、 力ドミゥムジエトキシド等の力ドミゥムジアルコキド化 合物等が挙げられ、 これらを単独で又は 2種以上組み合わせて用いる事が出来る。 上記アルコキシシランの中でも、 テトラメトキシシラン、 テトラエトキシシラ ン等のテトラアルコキシシラン、 メチル卜リメトキシシラン、 メチルトリエトキ シシラン、 ェチルトリメトキシシラン、 ェチルトリエトキシシラン等のトリアル コキシシラン、 チタニウムテトラアルコキシド化合物、 ジルコニウムテトラアル コキシド化合物、 アルミニウムトリアルコキシド化合物、 タンタリウムペンタァ ルコキシド化合物を好ましく用いる事が出来る。
上記のアルコキシシラン及び金属アルコキシドの重縮合反応、 並びに金属塩の 溶解の際に使用する有機溶剤は、 例えばメタノール、 エタノール、 プロパノール、 ブ夕ノール等のアルコール類、 アセトン、 メチルェチルケトン等のケトン類、 ベ ンゼン、 トルエン、 キシレン等の芳香族炭化水素類、 エチレングリコール、 プロ ピレンダリコール、 へキシレングリコール等のグリコール類、 ェチルセ口ソルブ、 プチルセ口ソルブ、 ェチルカルビ! ^一ル、 プチルカルビ 1 ル、 ジェチルセロソ ルブ、 ジェチルカルビトール等のグリコールエーテル類、 N—メチルピロリドン、 ジメチルフオルムアミド等が挙げられ、 それらを単独で又は 2種以上混合して使 用する事が出来る。 また、 塗布液の長期保存性を高める為や、 塗布液を基材に塗 布した際の乾燥むらを防止する目的で、 加水分解終了後、 副生する低沸点のアル コール類を留去して、 塗布液中の溶剤を高沸点化、 高粘度化する事が出来る。 次に、 本発明による有機エレクトロルミネッセンス素子用透明性基板の製造方 法の一例について説明する。 まず、 上記の金属アルコキシド重縮合物を上記の有 機溶媒に溶解させた塗布液を作成する。
この塗布液は、 デイツビング、 スピンコート、 転写印刷、 刷毛塗り、 ロールコ 一卜、 スプレー等の通常使用される塗布法により透明性基材の両面に塗布する。 量産性の観点からは、 一度の操作で両面に平滑に塗布でき大面積化も容易なディ ップ法を用いることが好ましい。 得られた塗布膜は、 その材質にもよるが金属ァ ルコキシドを原料とした者は 5 0〜8 0での温度で乾燥した後、 1 0 0 °C以上、 好ましくは 1 0 0〜5 0 0 °Cの温度で 0 . 5〜1時間で焼成させる。 この加熱硬 化は、 オーブン炉、 ホットプレート等の装置を用いて行うことが出来る。
この後、 塗布膜を形成した透明性基板を必要に応じ研磨、 プレス、 透明性平坦 化膜の塗布などの方法によって平滑化することができる。
またここでは単層膜の場合を述べたが、 上記の工程を繰り返すことにより複数 層の光学干渉膜とすることができる。 当然ながら複数層の光学干渉膜にする場合 は、 その構成する各層の組成、 膜厚、 屈折率はおのおの独立していてもかまわな い。
以下、 実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、 これらは例示的なもの であって、 本発明をなんら限定するものではない。
実施例 1
ガラス基板の両面にディップ法により、 シリカ系のゾルゲルコーティング材 (日産化学工業社製 商品名 L R— 2 0 1 A) を膜厚 1 0 3 n mになるように 成膜した。 この基板をオーブンで 3 0分間、 5 1 0 °Cに加熱して焼成した。 ォー ブンから取り出して、 この塗膜の屈折率を測定したところ 1 . 2 6であった。 ま た、 この基板の 5 5 0 n mの波長の光における反射率を測定したところ 2 %であ つた。 本処理を施していないガラス基板の反射率は 4 %であることから、 本処理 によって反射率が減少していることがわかった。
実施例 2
ガラス基板の両面にディップ法により、 （シリカ +無機酸化物） 系のゾルゲル コーティング材 （日産化学工業社製 商品名 H— 7000、 H— 1000、 L R- 202) をおのおの膜厚 103 nmになるように積層成膜した。 この基板を オーブンで 30分間、 510°Cに加熱して焼成した。 オーブンから取り出して、 この基板の 550 nmの波長の光における反射率を測定したところ 0. 3%であ つた。 本処理を施していないガラス基板の反射率は 4%であることから、 本処理 によって反射率が減少していることがわかった。
実施例 3
上記実施例 1と実施例 2より得られた光学干渉層を有する透明性基板、 および 光学干渉層を形成していない透明性基板を比較例として用いて、 それぞれ有機ェ レクトロルミネッセンス素子を作成した。 それぞれの透明性基板の一方の光学干 渉層の上に、 透明性電極としてスパッ夕法によりインジウムチンオキサイド （I TO) を 100 nmの厚みで成膜した。 このときのシート抵抗値は 20 ΩΖ c m 2であった。
この表面にホール輸送層材料としては本出願人が先に出願した特願 2000 - 341775号に記載のオリゴァニリン誘導体 （ァニリン 5量体を DMFに溶解 させそれに 3倍モル当量の 5一スルホサリチルをドーピングしたもの) を 70 n mの厚みで、 発光層としては N, N' —ビス （1—ナフチル） _N， N' —ジフ ェニル一 1， 1 ' 一ビスフエニル一 4， 4， 一ジァミン （a—NPD) を 50 η mの厚みで、 電子輸送層としてはトリス （8—ヒドロキシキノリン） アルミニゥ ム （A l q3) を 50 nmの厚みで順次形成した。 続いて陰極としてマグネシゥ ムー銀合金を蒸着し形成した。 このときの陰極の膜厚は 200 nmとした。
このようにして作成した有機ェレクト口ルミネッセンス素子の両電極に電圧を 10V印加し、 透明性基板正面からの発光量を測定し、 比較例の測定値を 1とし て実施例 1と実施例 2の透明性基板より作成した素子の測定値と比較した。
その結果、 実施例 1の素子では 1. 2、 実施例 2の素子では 1. 3となり、 こ のことから本発明による透明性基板を用いることで従来構造の有機エレクトロル
>素子の面発光輝度を大幅に上昇させることを確認するに至つた。 産業上の利用可能性
以上、 詳述したようにこの発明の有機エレクト口ルミネッセンス素子用基板は 量産性に優れ、 かっこの基板を用いて素子を構成することにより、 光の外部取り 出し効率を向上させた有機エレクトロルミネッセンス素子を作成することができ る。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 有機エレクト口ルミネッセンス素子の透明性基板において、 該透明性基板 の両面に、 発光層からの発光に対して反射量が減少するような屈折率および膜厚 を有する少なくとも 1層からなる光学干渉膜を設けたことを特徴とする有機エレ クトロルミネッセンス素子用透明性基板。
2 . 光学干渉膜が、 屈折率、 1 . 1〜2 . 3及び膜厚が 1 0〜2 5， 0 0 O n mを有する請求項 1記載の有機エレクトロルミネッセンス素子用透明性基板。
3 . 光学干渉膜が、 高屈折率膜と低屈折率膜からなる複層膜、 又は異なる膜厚を 有する複層膜である請求項 1又は 2に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子 用透明性基板。
4 . 光学干渉膜が、 金属酸化物のゾルゲル材料を透明性基板に塗布焼成したもの からなる請求項 1、 2又は 3に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子用透明 性基板。
5 . 金属酸化物のゾルゲル材料が、 金属アルコキシドを酸性化合物又は塩基性化 合物の存在下に有機溶媒中で重縮合反応して得られるものである請求項 4に記載 の有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性基板。
6 . 金属アルコキシドが、 アルコキシシラン、 又はチタニウム、 ジルコニウム、 アルミニウム若しくはタンタリウムのテトラアルコキシ化合物である請求項 5に 記載の有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性基板。
7 . 光学干渉膜が金属酸化物のゾルゲル材料をディップ法によって透明基板の 両面に成膜焼成したものからなる請求項 1〜 6のいずれかに記載の有機エレクト 口ルミネッセンス素子用透明性基板。
8 . 透明性基板が、 シリカガラス、 ソーダガラス又は有機フィルムである請求 項 1〜 7のいずれかに記載の有機エレクト口ルミネッセンス素子用透明性基板。
9 . 請求項 1〜 8のいずれかに記載の有機エレクトロルミネッセンス素子用透明 性基板を有する有機エレクト口ルミネッセンス素子。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005085710A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 Samsung Sdi Co Ltd 発光素子基板およびそれを用いた発光素子
WO2005104261A1 (de) * 2004-04-22 2005-11-03 Schott Ag Organisches, elektro-optisches element mit erhöhter auskoppeleffizienz
JP2005317208A (ja) * 2004-04-26 2005-11-10 Nippon Sheet Glass Co Ltd 有機エレクトロルミネセンス表示装置
JP2006269312A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Dainippon Printing Co Ltd 拡散防止膜付積層体
JP2007294266A (ja) * 2006-04-25 2007-11-08 Matsushita Electric Works Ltd 有機ｅｌ素子

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4887783B2 (ja) * 2003-12-18 2012-02-29 日産化学工業株式会社 低屈折率及び撥水性を有する被膜
TWI404776B (zh) * 2003-12-19 2013-08-11 Nissan Chemical Ind Ltd A film having a low refractive index and a large contact angle with respect to water
TWI240593B (en) * 2004-10-15 2005-09-21 Ind Tech Res Inst Top-emitting organic light emitting diode (OLED)
KR100700013B1 (ko) 2004-11-26 2007-03-26 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광소자 및 그의 제조 방법
EP1701395B1 (de) * 2005-03-11 2012-09-12 Novaled AG Transparentes lichtemittierendes Bauelement
DE502005009415D1 (de) * 2005-05-27 2010-05-27 Novaled Ag Transparente organische Leuchtdiode
US7423297B2 (en) * 2006-05-03 2008-09-09 3M Innovative Properties Company LED extractor composed of high index glass
KR101230948B1 (ko) * 2006-06-14 2013-02-07 엘지디스플레이 주식회사 유기전계발광 소자
US20080049431A1 (en) * 2006-08-24 2008-02-28 Heather Debra Boek Light emitting device including anti-reflection layer(s)
EP1895608A3 (de) * 2006-09-04 2011-01-05 Novaled AG Organisches lichtemittierendes Bauteil und Verfahren zum Herstellen
US8279383B2 (en) * 2006-09-29 2012-10-02 Kimoto Co., Ltd. Film for optical use, transparent conductive member and transparent touch panel using the same
DE102008018663A1 (de) 2008-04-11 2009-10-29 Novaled Ag Elektrooptisches organisches Bauelement
CN102468447A (zh) * 2010-11-18 2012-05-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 有机发光二极管
JP2014509442A (ja) * 2011-03-22 2014-04-17 オーシャンズ キング ライティング サイエンス アンド テクノロジー シーオー．，エルティーディー 有機エレクトロルミネセンスデバイス、及び、その導電性基板
TWI458131B (zh) * 2011-06-27 2014-10-21 Lextar Electronics Corp 半導體發光元件
TWI449741B (zh) * 2011-12-07 2014-08-21 Univ Nat Kaohsiung Applied Sci Preparation of Solid State Polymer Electrolyte Membrane
CN104094669B (zh) * 2012-02-01 2016-06-22 夏普株式会社 显示装置
KR101654360B1 (ko) * 2012-06-22 2016-09-05 코닝정밀소재 주식회사 유기 발광소자용 기판 및 그 제조방법
WO2014097387A1 (ja) 2012-12-18 2014-06-26 パイオニア株式会社 発光装置
CN109624164B (zh) * 2019-02-22 2020-12-18 广东省科学院生物工程研究所 一种干涉彩虹膜溶液配方及其干涉薄膜与制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10255978A (ja) * 1997-03-12 1998-09-25 Pioneer Electron Corp 発光ディスプレイパネル
JPH10270170A (ja) * 1997-03-21 1998-10-09 Sanyo Electric Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンス素子
JPH11109328A (ja) * 1997-10-02 1999-04-23 Seiko Epson Corp 液晶装置及びその製造方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5103337A (en) * 1990-07-24 1992-04-07 The Dow Chemical Company Infrared reflective optical interference film
US6001486A (en) * 1994-07-29 1999-12-14 Donnelly Corporation Transparent substrate with diffuser surface
US6210858B1 (en) * 1997-04-04 2001-04-03 Fuji Photo Film Co., Ltd. Anti-reflection film and display device using the same
US6808658B2 (en) * 1998-01-13 2004-10-26 3M Innovative Properties Company Method for making texture multilayer optical films
ITTO980580A1 (it) * 1998-07-02 2000-01-02 C R F Societa Consotile Per Az Dispositivo emettitore di luce, a base di materiale organico elettro- luminescente, con interfaccia esterna conformata
US6958748B1 (en) * 1999-04-20 2005-10-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Transparent board with conductive multi-layer antireflection films, transparent touch panel using this transparent board with multi-layer antireflection films, and electronic equipment with this transparent touch panel
US6372354B1 (en) * 1999-09-13 2002-04-16 Chemat Technology, Inc. Composition and method for a coating providing anti-reflective and anti-static properties
JP2004513483A (ja) * 2000-11-02 2004-04-30 スリーエム　イノベイティブ　プロパティズ　カンパニー 明るさおよびコントラスト増強直視型発光型ディスプレイ
JP3722418B2 (ja) * 2000-12-08 2005-11-30 信越化学工業株式会社 反射防止膜及びこれを利用した光学部材
EP1426174B1 (en) * 2001-09-03 2014-06-18 Teijin Limited Transparent conductive laminate
US20030157245A1 (en) * 2003-04-15 2003-08-21 Tatman Sheila May Method for forming a mirror coating onto an optical article

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10255978A (ja) * 1997-03-12 1998-09-25 Pioneer Electron Corp 発光ディスプレイパネル
JPH10270170A (ja) * 1997-03-21 1998-10-09 Sanyo Electric Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンス素子
JPH11109328A (ja) * 1997-10-02 1999-04-23 Seiko Epson Corp 液晶装置及びその製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1435761A4 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005085710A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 Samsung Sdi Co Ltd 発光素子基板およびそれを用いた発光素子
JP4703108B2 (ja) * 2003-09-10 2011-06-15 三星モバイルディスプレイ株式會社 発光素子基板およびそれを用いた発光素子
WO2005104261A1 (de) * 2004-04-22 2005-11-03 Schott Ag Organisches, elektro-optisches element mit erhöhter auskoppeleffizienz
JP2005317208A (ja) * 2004-04-26 2005-11-10 Nippon Sheet Glass Co Ltd 有機エレクトロルミネセンス表示装置
JP2006269312A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Dainippon Printing Co Ltd 拡散防止膜付積層体
JP2007294266A (ja) * 2006-04-25 2007-11-08 Matsushita Electric Works Ltd 有機ｅｌ素子

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Publication number Publication date
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