WO2001034870A1 - Cible de pulverisation et procede de broyage d'une cible de pulverisation - Google Patents

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WO2001034870A1
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grinding
sputtering target
sputtering
rotating body
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Shinichi Arima
Keiichi Ishizuka
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Nikko Materials Company, Limited
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3488Constructional details of particle beam apparatus not otherwise provided for, e.g. arrangement, mounting, housing, environment; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
    • H01J37/3491Manufacturing of targets
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target

Definitions

  • the present invention relates to a sputtering target capable of effectively reducing or preventing chipping or cracking of a target generated during a bonding step of a target to a backing plate, during transport, during attachment to a film forming apparatus or during film formation, and a grinding method thereof. . Background art
  • the above-mentioned sputtering method irradiates a charged particle toward a target, strikes out the particle from the target by its particle type, and strikes the target on a substrate such as a wafer which faces the target.
  • This is a film formation method for forming a thin film whose main component is a substance composed of a material.
  • the target Since the target is subjected to a large amount of electron bombardment during sputtering, the amount of heat input to the target is gradually increased and accumulated. For this reason, it is necessary to cool the target, and in many cases, a material with good thermal conductivity (backing plate) such as pure copper or copper alloy is brazed to the back of the target, diffusion bonding, crimping, bonding using the anchor effect, etc.
  • the bracket backing plate is cooled by external cooling means to absorb the heat of the target.
  • a ceramic target is a brittle material that has a small coefficient of thermal expansion and a large difference in coefficient of thermal expansion from a backing plate material such as pure copper or copper alloy. Cracks due to warpage are more likely to occur than get.
  • a spattering target capable of effectively reducing or preventing cracks due to warpage of the target itself and effectively reducing or preventing cracks due to warpage during transportation, mounting to equipment, or during sputtering. Is ⁇ 3 ⁇ 4.
  • the present invention focuses on processing steps such as ordinary target grinding or polishing, and improves this operation to prevent or reduce chipping or cracking of the target.
  • a sputtering target characterized by having a surface roughness Ra ⁇ 0.5 / zm and a non-directional ground surface
  • a method for grinding a sputtering target characterized in that when grinding using a rotating body, grinding is performed using a plane parallel to the rotating surface of the rotating body.
  • a sputtering target characterized in that, when grinding using a rotating body, the rotating surface of the rotating body is ground using a TO surface, and the surface is ground to Ra ⁇ 0.5; zm. Grinding method 7) The method for grinding a sputtering target according to claim 6, wherein the surface roughness is Ra ⁇ 0.3 ⁇ .
  • FIG. 1 is an explanatory view (A: front sectional view, B: plan view) illustrating the concept of grinding according to the present invention.
  • FIG. 2 is an explanatory diagram showing the position of the roughness measurement of the target surface.
  • Figure 3 is an explanatory diagram showing the relationship between the warpage direction and the grinding direction (C: grinding in the longitudinal direction, D: grinding in the width direction).
  • the ceramic target has a small ripening coefficient and a large difference from the thermal expansion coefficient with a backing plate made of copper or the like. For this reason, warpage and cracks occur more frequently than metal-based targets, but it is known that cracks are particularly affected by surface defects.
  • An object of the present invention is to easily and effectively reduce or prevent chipping or cracking of a target during a joining step of a target and a backing plate, a transfer step, attachment to an apparatus, or a sputtering operation.
  • the productivity of the target is improved, the product yield is improved, and the cracks are reduced.
  • the yield of products such as electron ⁇ can be improved by reducing defects and troubles in the sputtering process of the sputtered film. It also has the effect of being obtained.
  • the isotropic grinding according to the present invention as shown in FIG. 1, it is effective to grind the target 1 using a rotating body 2 having a grinding surface on a lower surface parallel to the rotating surface 3. That is, grinding is performed using a surface parallel to the rotating surface 3 of the rotating body 2.
  • abrasive grains are mounted on the lower surface of the rotating body 2 for grinding.
  • a sponge for loose abrasive grains and perform grinding by loose separation.
  • the surface roughness can be adjusted to Ra ⁇ 0.5111, preferably 13 ⁇ 0.3 m, more preferably Ra ⁇ 0.1 ⁇ .
  • the target 1 which is the object to be ground is fixed, and the position of the rotating body 2 provided with the abrasive grains for grinding may be moved to grind a part or the entire surface of the target 1, or Conversely, the position of the rotating body 2 may be fixed, and the target 1 to be ground may be moved in the X-axis direction and the Y-axis direction for grinding.
  • the target 1 and the rotating body 2 which are the objects to be ground may be simultaneously moved to grind a part or the whole of the target 1.
  • a plurality of rotating bodies 2 provided with abrasive grains for grinding are mounted or exchangeably installed, and these are gradually changed as the grinding progresses, for example, from coarse abrasive grains to finer ones sequentially (replacement). ) May be performed semi-continuously.
  • the ceramic target is a brittle material that has a small coefficient of thermal expansion and a large difference in the coefficient of thermal expansion from the backing plate material such as pure copper or copper alloy.Therefore, the probability of cracking due to warpage is high. Preventing cracks from occurring in ceramic targets is extremely effective. Examples and comparative examples
  • ITO I n 2 0 3 - l 0 wt% S n O 2
  • the rotary body Grinding was carried out using a plane parallel to the rotating plane of. Diamond was used for the abrasive grains.
  • the speed of the rotating body was 300 rpm, and the pressing pressure was 3 kg Z cm 2 .
  • FIG. 2 shows the concept of measuring the roughness of the target surface of the embodiment.
  • Reference numeral 5 indicates the measurement in the longitudinal direction and reference numeral 6 indicates the measurement in the width direction.
  • Fig. 3 shows a conceptual diagram of the target surface roughness measurement of the comparative example.
  • Reference numeral 7 indicates a grinding direction. The roughness was measured in the longitudinal direction of reference numeral 8.
  • the surface roughness Ra and the average strength of the ground surface obtained by adopting the above-mentioned grinding example and adjusting the surface roughness are shown below.
  • the strength is a bending test by a three-point bending test (JISR 1601).
  • JISR 1601 three-point bending test
  • the resistance to cracking of the target was evaluated based on the strength of the bending test.
  • the bending test conditions for the target are as follows.
  • Target material I TO (In 2 O s -l 0w t% S nO 2 )
  • Tables 1 and 2 show the above results.
  • Table 1 in Examples 1 to 3, Ra in the length direction of the test piece and the results of the bending test, and Ra in the length direction of the comparative examples 1 and 2 and the results of the bending test in the longitudinal direction. Is shown.
  • the target especially ceramics
  • the target can be obtained by grinding using a circular surface on the rotating surface of the rotating body and performing non-directional grinding, and by appropriately adjusting the surface roughness Ra if necessary.
  • cracks and chips due to warping of the target itself can be effectively reduced or prevented, and cracks and chips due to warping can be reduced or prevented during transportation, mounting to equipment, or during sputtering. It has excellent effects.

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Description

明 細 書 スパッタリングタ一ゲット及びその研削方法 技術分野
本発明は、 ターゲットのバッキングプレートへのボンディング工程時、 搬送 中、 成膜装置への取付け中又は成膜時に発生するターゲットの欠けや割れを効果 的に低減又は防止できるスパッタリングターゲット及びその研削方法に関する。 背景技術
近年、 半導体装置や各種電子機器等の薄膜の形成にスパッタリングが使用され ているが、 生産性向上のためにより高速でスパッタリングすることが行われてい る。
上記スパッタリング法は周知のように、 荷電粒子をタ一ゲットに向けて照射 し、 その粒子種 ί撃力によりターゲットから粒子を叩き出して、 これをターゲット に対向させた例えばゥェハ等の基板にターゲット材料から構成される物質を中心 成分とする薄膜を形成する成膜方法である。
ターゲットはスパッタリング中に荷電 子の大量の衝撃を受けるので、 ター ゲットに投入される熱量が次第に増大蓄積されてくる。 このため、 ターゲットを 冷却させる必要があり、 多くはターゲットの裏面に純銅や銅合金等の熱伝導性の 良い材料 (バッキングプレート) をろう付け、 拡散接合、 圧着、 アンカー効果を 利用した接合等の手段により接合し、 かっこのバッキングプレートを外部からの 冷却手段を通じて冷却し、 ターゲットの熱を吸収するようにしている。
上記のように、 ターゲットをバッキングプレートに接合する場合には、 各種 接合方法における適性温度まで加熱する必要があり、 接合した後は冷却される。 このような接合の際の加熱冷却過程で受ける熱影響により、 ターゲットとバツキ ングプレートとの熱膨張率の差から反りによる割れが発生するという問題を生じ た。 また、 割れない場合でも、 ターゲッ ト内部に歪が蓄えられた状態となり、 そ の後の工程で割れる確率が高くなるといつた問題があった。
また、 タ一ゲットがバッキングプレートに接着率 9 0 %以上で問題なく接合 された場合でも、 スパッタリング中の熱的応力によってターゲットに割れが発生 する^がある。
スパッタリング中の割れの場合には、 ターゲットが割れた瞬間に多量のパー ティクルが発生し、 膜が不良となったり、 ターゲットが欠落してスパッタリング の «続が不可能になるとともに、 スパッタリング装置に多大な損傷を与えるとい つた大きな問題となることがある。
ターゲット材料の種類から見ると、 セラミックスターゲットは脆性材料で熱 膨張率が小さく、 純銅や銅合金等のバッキングプレート材料との熱膨張率の差が 大きい材料なので、 A 1 T i等の金属タ一ゲットよりも反りによる割れが発生 し易い。
このような問題を解決しようとして、 従来ターゲットとバッキングプレート とに高温度に熱がかからないように、 接合用に低融点はんだを使用する提案がな された。 し力 し、 この場合は接合力が弱く、 またスパッタリングを実施して高温 にターゲットが加熱されたような には、 接合用のはんだが溶け出すという問 題があり、 解決に至っていない。
また、 ターゲットとバッキングプレートとの熱膨張を緩和させるために、 段 階的に熱膨張の異なる複数の接合層を形成するという提案もなされた (特開昭 6 1— 2 5 0 1 6 7 ) 。 しかし、 このような手段は作業工程が煩雑となり製造コス トが増大するため実用的ではない。
さらに、 ターゲットとバッキングプレートとの接合工程で、 反りが入ったタ 一ゲットを機械的に逆方向の力を与えて矯正する手法、 あるいは接合の前に、 反 りの発生量を見込んで、 予めターゲットに逆反りを与えてから接合するといぅ提 案 (特許第 2 5 7 3 6 5 3 ) もなされた。 しかし、 特にセラミックスのような脆性材料ではこのように機械的な矯正や 変形を与える過程で材料強度以上の機械的応力を負荷してしまうことによって、 かえって割れを発生する場合があり、 これらも有効な解決の手段とは言えなかつ た。 発明の開示
本発明者らはターゲット、 特にセラミックスターゲットの製造工程において、 割れが発生し易い方向があるという特有の現象を抗折試験等により、 具体的に確 認し、 ターゲットとバッキングプレートとの接合工程において、 ターゲット自体 の反りによる割れを効果的に低減又は防止し、 搬送中、 装置への取付け中又はス パッタリング時においても、 反りによる割れを効果的に低減又は防止できるスパ ッタリングタ一ゲットを得ることを Ι¾ とする。
本発明は、 通常のターゲットの研削あるいは研磨等の加工工程に着目し、 こ の操作を改善してタ一ゲットの欠け又は割れを防止又は低減するものであり、
1) 表面粗さ Ra≤0. 5 /zmであり、 方向性のない研削面を備えていること を特徴とするスパッタリングタ一ゲット
2) 表面粗さ Ra≤0. 3 μπιであることを特徴とする請求項 1記載のスパッタ リングターゲット
3) 表面粗さ Ra≤0. 1 /zmであることを特徴とする請求項 1記載のスパッタ リングターゲット
4) セラミックスターゲットであることを特徴とする請求項 1〜 3のそれぞれに 記載のスパッタリングタ一ゲットを する。
またさらに、 本発明は、
5) 回転体を用いて研削する際に、 該回転体の回転面に平行な面を用いて研削す ることを特徴とするスパッタリングターゲットの研削方法
6)回転体を用いて研削する際に、該回転体の回転面に TOな面を用いて研削し、 表面粗さ Ra≤0. 5 ;zmに研削することを特徴とするスパッタリングターゲッ 卜の研削方法 7 ) 表面粗さ R a≤0. 3 μ πιであることを特徴とする請求項 6記載のスパッタ リングターゲットの研削方法
8 ) 表面粗さ R a≤0 . 1 mであることを特徴とする請求項 6記載のスパッタ リングターゲットの研削方法
9 ) 方向性のなレ、研削を行うことを とする請求項 5〜 8のそれぞれに記載の スパッタリングターゲッ卜の研削方法
1 0 ) 回転体又はターゲットの相対移動により、 ターゲットの一部又は全面に亘 つて研削することを特徴とする請求項 5〜 9のそれぞれに記載のスパッタリング タ一ゲットの研削方法を ¾ ^するものである。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の研削の概念を示す説明図 (A :正面の断面図、 B :平面図) である。
図 2は、 タ一ゲット表面の粗さ測定の位置を示す説明図である。
図 3は、 反り方向と研削方向の関係を示す説明図 (C:長手方向に研削、 D: 幅方向に研削) である。 発明の実施の形態
通常、 セラミックスターゲットは熟膨張率が小さく、 銅製等のバッキングプ レートとの熱膨張率との差が大きい。 このため、 金属系のターゲットに比べ反り や割れの発生が多いが、 特に割れについては表面の欠陥に大きく影響されること が知られている。
ターゲットの製作段階において表面研削が施されるが、 本発明者はこの研削 の方向によってバッキングプレートとの接合の際にある特有の現象を見出した。 それは研削方向に対して平行な方向には割れの発生が多く、 逆に研削方向に対し て直角な方向には割れが少なくなることを抗折試験等により具体的に ¾ した。 つまり、 同じ品質の材料が研削方向によって方向性を有してしまうという事実で ある。 一般に、 特にセラミックスターゲットにおいては上記のように表面欠陥が割れ の発生原因となり易いので、 鏡面研磨又はそれに近い仕上げ加工をするのが理想 である。 ところが、 このような加工を行うには、 工程時間が長くなり製造コスト も増大する。
また、 従来は接合工程での反りによる割れ防止のためのターゲットの配置につ いて、 特に考慮されることはなかった。 又、 各工程での様々な力 (変形) に対し て、 予め、 反り方向を予想することは困難であった。
本発明は、 ターゲットとバッキングプレートの接合工程、 搬送工程、 装置への 取付け時又はスパッタリング操作時におけるタ一ゲッ卜の欠けや割れを容易力つ 効果的に低減又は防止するものである。
これによつて、 ターゲットの生産性が向上し製品の歩留りが改善され、 かつ割 れの低減につながるので、 スパッタ膜のスパッタリングプロセスにおける不良や トラブルも低減できるといった電子 β等の製品の歩留りの改善も得られる効果 を有する。
タ一ゲットの割れ又は欠けを防止又は低減するには、 研削に方向性を持たせ ないことが極めて有効である。 また、 表面粗さをできるだけ小さくすることも、 さらに効果的であり、表面粗さ R a≤0 . 5 m、好ましくは R a≤0 . 3 // m、 より好ましくは R a≤0 . 1 /z mとすることが有効である。
特に、 矩形のセラミックスターゲットにおいては、 長板方向への反りにより 幅方向への割れが発生し易いが、 この等方性の研削により幅方向の割れを効果的 に防止又は低減できる。
本発明による等方性の研削は、 図 1に示すように回転面 3に平行な下面に研 削用»を備えた回転体 2を用いてターゲット 1研削するのが有効である。 すな わち、 回転体 2の回転面 3に平行な面を用いて研削する。
回転体 2の下面には固定砥粒を装着し研削するが、 遊離砥粒用スポンジを装 着し、 遊離 ΐ 立により研削を行うことも可能である。 これにより、 表面粗さ R a ≤0 . 5 111、 好ましくは1 3≤0 . 3 m、 より好ましくは R a≤0 . 1 μ ια に調整することができる。 研削に際し、 被研削体であるターゲット 1を固定し、 研削用砥粒を備えた回 転体 2の位置を移動させてタ一ゲット 1の一部又は全面を研削しても良いし、 ま た逆に同回転体 2の位置を固定し、 被研削体であるターゲット 1を X軸方向及び Y軸方向に移動させて、 研削しても良い。 また、 被研削体であるターゲット 1と 回転体 2を同時に移動させてターゲット 1の一部又は全面を研削しても良い。 また、 研削用砥粒を備えた回転体 2を複数個取付け、 又は交換可能に設置し、 研削の進行と共にこれらを段階的に、 例えば砥粒の粗レ、ものから順次細かいもの に移行 (交換) させながら、 半連続的に研削するようにしても良い。
このように、 回転体 2及び又はターゲット 1の相対移動により、 ターゲット 1の一部又は全面に亘つて研削することにより、 方向性のない研削面が得られ、 ターゲット 1の欠け又は割れを効果的に防止又は低減することができる。
セラミックスターゲットは脆性材料で熱膨張率が小さく、 純銅や銅合金等のバ ッキングプレート材料との熱膨張率の差が大きい材料なので、 反りによる割れの 生ずる確率は高いが、 本発明はこのようなセラミックスタ一ゲットにおける割れ の発生防止は極めて有効である。 実施例および比較例
以下、 実施例および比較例に基づいて説明する。 なお、 本実施例はあくまで —例であり、 この例のみに制限されるものではない。 すなわち、 本発明の技術思 想に含まれる他の態様または変形を包含するものである。
(実施例 1〜 6及び比較例:!〜 4 )
I T O ( I n 2 0 3 - l 0 w t % S n O 2 ) のターゲット素材 (焼結体) につ いて、 図 2に示す下面に研削用砥粒を備えた回転体を用い、 該回転体の回転面に 平行な面を用いて研削した。 砥粒にはダイヤモンドを使用した。 回転体の速度は 3 0 0 r p mであり、 押し付け圧力を 3 k g Z c m 2とした。
表面粗さ R aは、 それぞれ 0 . 5 /z m以下、 0 . 3 μ m以下、 0 . 1 μ m以 下となるように複数枚タ一ゲッ卜について研削を実施した。 いずれも等方的に研 削した本発明の実施例である。 比較例として、 ターゲットの長手方向に平行に研削を施し R aが 0.
以下のもの及び R aが 0. 5 zm以上のもの、 幅方向に研削を施し同じく: aが 0. 5 μπι以下のもの及び R aが 0. 5 μπι以上のものを示す。
図 2に実施例のタ一ゲット表面の粗さ測定の概念を示す。 符号 5は長手方向、 符号 6は幅方向の測定を示す。 また、 図 3に比較例のターゲット表面の粗さ測定 の概念図を示す。 符号 7は研削方向を示す。 符号 8の長手方向に粗さ測定を実施 した。
以上の研削例を採用し、 かつ表面粗さを調節した研削面の表面粗さ R aと平 均強度を下記に示す。 強度は、 3点曲げ試験 ( J I SR 1 601) による抗折試 験である。 そして、 この抗折試験の強度によりターゲットの割れに対する抵抗を 評価した。
タ一ゲット (焼結体) の曲げ試験条件は次の通りである。
ターゲット素材: I TO ( I n2Os-l 0w t%S nO2)
ターゲット密度: 7. 1 2 g/cm3
使用研削砲石 : #400、 # 800、 #4000の各ダイヤモンド固定砥粒 砲石
支点間距離 7 Omm
o mm
板幅 2 Omm
テストスピード : 0 5 mm/ m 1 n
以上の結果を表 1及び表 2に示す。 表 1において、 実施例 1〜3は試験片の 長さ方向に対する R aと抗折試験の結果、 及び長手方向に研削した比較例 1、 2 の長さ方向に対する R aと抗折試験の結果を示す。
また表 2において、 実施例 4〜 6は試験片の幅方向に対する R aと抗折試験 の結果、 及 験片を幅方向に研削した場合である比較例 3、 4の長さ方向に対 する R aと抗折試験の結果を示す。 これらの表 1及び表 2から明らかなように、 実施例 1〜6において、 # 40 0、 # 800、 #4000にて実施した粗さ測定の結果、 長手方向と幅方向に殆 ど差がなかった。 また、 抗折強度にも差は見られなかった。
これに対し、 比較例 1〜4に示すように、 # 400及ぴ # 80にて一方向研 削を実施したものについては、 粗さ測定の結果、 長手方向に研削した^と幅方 向に研削した場合とに差が見られ、 抗折強度にも明らかな差が見られた。
表 1
Figure imgf000010_0001
表 2
研削砥石の種 Ra 平均強度
類と方向性 、μ m) ( k g/ mm2)
実施例 4 #4000 0. 009 1 1. 0
方向性無し
実施例 5 # 800 0. 1 27 1 1. 7
方向性無し
実施例 6 #400 0. 302 1 1. 0
方向性無し
比較例 3 #400 0. 383 1 0. 2
方向性有り
比較例 4 # 80 2. 91 5 5. 8
方向性有り 上記に示すように、 表面粗さが粗い場合には強度の低下が大きくなり、 方向 性のある研磨、 特に曲げ方向に直角な方向に研削したケースでは極端に強度が低 下しているが、 等方的にターゲットを研削した^こは、 ターゲットの全ての方 向に対して、 強度が一様に改善していることが確認できた。 発明の効果
回転体の回転面に ¥ίϊな面を用いて研削し、 方向性のない研削を行うことによ り、 また必要に応じて表面粗さ R aを適宜調整することにより、 ターゲット、 特 にセラミックスターゲットの製造工程において、 ターゲット自体の反りによる割 れゃ欠けを効果的に低減又は防止し、 搬送中、 装置への取付け中又はスパッタリ ング時においても、 反りによる割れや欠けを低減又は防止できるという優れた効 果を有する。

Claims

請 求 の 範 囲
1. 表面粗さ Ra≤0. 5/zmであり、 方向性のない研削面を備えていること を特徴とするスパッタリングタ一ゲット。
2. 表面粗さ Ra≤0. 3 / mであることを特徴とする請求の範囲 1記載のス パッタリングターゲット。
3. 表面粗さ Ra≤0. 1 μπιであることを特徴とする請求の範囲 1記載のス ノ ッタリングターゲット。
4. セラミックスターゲットであることを特徴とする請求の範囲 1〜3のそれ ぞれに記载のスパッタリングタ一ゲット。
5. 回転体を用いて研削する際に、 該回転体の回転面に平行な面を用いて研削 することを特徴とするスパッタリングターゲットの研削方法。
6. 回転体を用いて研削する際に、 該回転体の回転面に平行な面を用いて研削 し、 表面粗さ Ra≤0. 5 μπιに研削することを特徴とするスパッタリングター ゲットの研削方法。
7. 表面粗さ Ra≤0. 3 / mであることを特徴とする請求の範囲 6に記載の スパッタリングターゲットの研削方法。
8. 表面粗さ Ra≤0. 1 mであることを特徴とする請求の範囲 6に記載の スパッタリングターゲットの研削方法。
9. 方向性のない研削を行うことを特徴とする請求の範囲 5〜 8のそれぞれに 記載のスパッタリングターゲットの研削方法。
10. 回転体又はターゲットの相対移動により、 ターゲットの一部又は全面に 亘つて研削することを特徴とする請求の範囲 5〜 9のそれぞれに記載のスパック リングターゲットの研削方法。
PCT/JP2000/005173 1999-11-09 2000-08-02 Cible de pulverisation et procede de broyage d'une cible de pulverisation WO2001034870A1 (fr)

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