JP2002322560A - スパッタリングターゲット及びその製造方法 - Google Patents
スパッタリングターゲット及びその製造方法Info
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Abstract
るクラックの発生等を防止したスパッタリングターゲッ
ト及びその製造方法を提供する。 【解決手段】 a辺及びb辺を有してアスペクト比a:
bである矩形ターゲットにおいて、a<bであり、スパ
ッタ面及び冷却面の少なくともスパッタ面に前記b辺に
略直交する方向に並んだ研磨傷を有する。
Description
び薄膜形成に使用するスパッタリングターゲットに関す
る。
してスパッタリング法が知られている。スパッタリング
法とは、スパッタリングターゲットをスパッタリングす
ることにより薄膜を得る方法であり、効率よく成膜でき
るため、工業的に利用されている。
るために、現在においてもスパッタ条件やスパッタ装置
などの改良が日々行われている。その改良の1つとし
て、大型なスパッタリングターゲットを用いて成膜面積
を大きくしてより効率よく成膜する方法がとられる。こ
のため、大型なスパッタリングターゲットが求められて
いる。
ゲットを作製する上で、いくつかの問題点があり、その
内の1つとして、ターゲットに発生する応力が問題にな
ってくる。
ーゲットと銅製のバッキングプレートとを張り合わせる
ことにより作られる。この張り合わせ方法は、ターゲッ
トとバッキングプレートの間に低融点金属、低融点合
金、例えば、In、In系合金などを充填し、低融点金
属、低融点合金の融点以上に加熱し、ターゲットとバッ
キングプレートの間の低融点金属、低融点合金を溶かし
た後、冷却し、低融点金属、低融点合金が再凝固するこ
とによりターゲットとバッキングプレートを半田付けす
る。このとき、ターゲットが大型なターゲットである場
合、ターゲットとバッキングプレートの熱膨張率の相違
により、低融点合金の再凝固温度から室温までの熱歪み
が低融点金属、低融点合金層を介して、ターゲットとバ
ッキングプレートの間に蓄積される。
ッタリングターゲットをスパッタする場合、まず初め
に、スパッタリング装置にスパッタリングターゲットが
装着される。その後、装置内が真空に引かれ、冷却水に
よりバッキングプレートが冷却される。このとき、スパ
ッタリングターゲットは装置内と装置外との圧力差及び
冷却水の水圧により応力を受ける。この応力歪みは、低
融点合金層を介して、ターゲットとバッキングプレート
の間にさらに蓄積される。
タ面は加熱され、ボンディング面はバッキングプレート
を介して冷却水により冷却される。このため、ターゲッ
トには熱歪みがさらに付加される。
より成膜する過程において、ターゲットには多種多様な
応力が発生する。この応力は、ターゲットが大型化する
ほど大きくなり、ターゲットにクラックや割れなどを発
生させる。このクラックや割れなどがスパッタリング中
に発生した場合、クラックや割れなどからアーキングや
ノジュールが発生し、成膜の歩留まりを下げる。
の強度を向上させターゲット自体を割れにくくする方法
がとられる。ターゲットの強度を向上させる方法として
は、ターゲットの密度を高くする、ターゲットを適当な
温度で焼結する、ターゲットの結晶粒径を適当なサイズ
にする等の方法が提案されている。
ターゲットの強度を向上させる技術を用い十分な強度の
ターゲットであるにもかかわらず、スパッタリング中に
ターゲットが割れるという問題がたびたび発生する。
ターゲットの加工方法を向上させて応力によるクラック
の発生等を防止したスパッタリングターゲット及びその
製造方法を提供することを課題とする。
トを研磨加工する際の研磨方向がターゲット自体の強度
に著しく影響を与えることを見出し、本願発明を完成す
るに至った。
辺を有してアスペクト比a:bである矩形ターゲットに
おいて、a<bであり、スパッタ面及び冷却面の少なく
ともスパッタ面に前記b辺に略直交する方向に並んだ研
磨跡を有することを特徴とするスパッタリングターゲッ
トにある。
長辺に略直交する方向に研磨跡が形成されているので、
応力が負荷されても割れにくいという利点がある。
て、前記研磨面の表面粗さRaが2μm以下であること
を特徴とするスパッタリングターゲットにある。
Raが2μm以下であるので、さらに割れ難いものであ
る。
してアスペクト比a:bである矩形ターゲットの製造方
法において、a<bであるとき、スパッタ面及び冷却面
の少なくともスパッタ面を、前記b辺に直交する方向に
研磨加工する工程を具備することを特徴とするスパッタ
リングターゲットの製造方法にある。
長辺に略直交する方向に研磨加工しているので、応力が
負荷されても割れにくいターゲットが製造される。
て、前記研磨面の表面粗さRaを2μm以下となるよう
に研磨加工することを特徴とするスパッタリングターゲ
ットの製造方法にある。
Raが2μm以下となるように研磨加工しているので、
さらに割れ難いターゲットが得られる。
有した傷がある場合、その傷方向に垂直な引っ張り応力
が負荷された場合、その傷を起点にクラックが発生して
比較的簡単にターゲットが割れてしまう。しかし、その
傷方向に平行な引っ張り応力が負荷された場合は、その
傷を起点としたクラックが発生しないため、ターゲット
は割れにくくなる。
なっていると推測される。すなわち、a辺及びb辺を有
してアスペクト比a:bで、b>aである矩形ターゲッ
トにおいては、a辺に平行な方向の応力に比較してb辺
に平行な方向の応力が発生し難いためか、b辺に直交す
る方向に研磨傷(研磨跡)を有するターゲットの方が、
b辺に平行な方向に研磨傷を有するターゲットより割れ
難いことを知見した。これは後述する試験例によっても
明らかである。
用いてスパッタを行って成膜するときにターゲットにど
のような応力が発生するかの解析は、スパッタリングタ
ーゲットの形状、大きさ、さらにはスパッタリング装置
の構造などに影響されるため、甚だ困難である。
ようなターゲットは砥石などにより研磨加工され、具体
的には、回転している砥石をスライドさせてターゲット
を研磨していくようにするが、本発明方法によりスパッ
タリングターゲットを製造する場合には、短辺であるa
辺に平行に砥石をスライドさせながら研磨加工すればよ
いことになる。これにより、スパッタリングターゲット
には研磨方向と平行な研磨傷(研磨跡)が残ることにな
る。
料は特に限定されず、一般的にスパッタリング及び薄膜
形成に使用される材料であれば特に限定されない。
は、ターゲットと所定のバッキングプレートとを張り合
わせることにより作られるが、バッキングプレートの材
質、接合材料、接合方法等は特に限定されない。バッキ
ングプレートとしては、一般的には、銅製又は銅合金製
のものが用いられる。また、接合材料としては、一般的
には、例えば、In、In系合金などの低融点金属、低
融点合金が用いられる。
具体的に説明する。
127mm、長辺bが381mm、厚さtが6mmのサ
イズの一体ものITOターゲット10のスパッタ面を長
辺bに直交する方向(短辺aに平行な方向)に回転砥石
21を移動させながら研磨加工した。研磨傷11は短辺
aに平行な方向である。なお、冷却面は、長辺bに平行
な方向(短辺aに直交する方向)に研磨加工した。
40×400mmで厚さ6mmの無酸素銅製のバッキン
グプレート30に、Inのボンディング材を使用してボ
ンディングし、スパッタリングターゲットとした。
作製し、試験に供した。なお、各々のターゲットのスパ
ッタ面と冷却面の表面粗さはRaが1.5〜1.8μm
の範囲だった。
ゲットのスパッタ面及び冷却面を実施例1と同様に研磨
したが、表面粗さRaが実施例1より小さくなるように
研磨加工した。
作製し、試験に供した。なお、各々のターゲットのスパ
ッタ面と冷却面の表面粗さはRaが0.3〜0.6μm
の範囲だった。
と同サイズのターゲットを1ピースのサイズが短辺aが
95.25mm、長辺bが127mm、厚さtが6mm
となるよう4分割にし、各ターゲット15のスパッタ面
及び冷却面を各ピース毎に研磨加工した。研磨方向は、
スパッタ面及び冷却面共に長辺bに直交する方向とし
た。各ターゲット15は長辺bに直交する方向に研磨傷
16を有していた。
寸法のバッキングプレート30上にInのボンディング
材を使用し張合わせてスパッタリングターゲットとし
た。
作製し、試験に供した。なお、各々のターゲットのスパ
ッタ面と冷却面の表面粗さはRaが1.5〜1.7μm
の範囲だった。
と同様なITOターゲット10Aのスパッタ面及び冷却
面の両方を、b辺に平行な方向に研磨した以外は、実施
例1と同様にしてスパッタリングターゲットを製造し
た。研磨傷11Aは長辺bに平行な方向である。
作製し、試験に供した。なお、各々のターゲットのスパ
ッタ面と冷却面の表面粗さはRaが1.5〜1.7μm
の範囲だった。
ゲットを同様に4分割にし、各ピースをスパッタ面及び
冷却面共にb辺に平行に研磨した以外は実施例3と同様
にしてスパッタリングターゲットを製造した。
作製し、試験に供した。なお、各々のターゲットのスパ
ッタ面と冷却面の表面粗さはRaが1.5〜1.7μm
の範囲だった。
スパッタリングターゲットのそれぞれの4辺をボルトで
固定し、ターゲット裏面に0〜2.5kgf/cm2の
間で0.5kgf/cm2間隔で等圧がかかるようガス
を導入し、ターゲットが割れたときの圧力を測定した。
きの圧力と割れたターゲットの枚数を示す。
方向とした実施例1及び2のスパッタリングターゲット
が、研磨傷が長辺bに平行な比較例1のものより、割れ
難いことがわかった。また、表面粗さRaがより小さい
実施例2の方が実施例1より割れ難いことも確認され
た。
ッタリングターゲットのそれぞれの4辺をボルトで固定
し、ターゲット裏面に0〜4kgf/cm2の間で0.
5kgf/cm2間隔で等圧がかかるようガスを導入
し、ターゲットが割れたときの圧力を測定した。
きの圧力と割れたターゲットの枚数を示す。
方向とした実施例3のスパッタリングターゲットが、研
磨傷が長辺bに平行な比較例2のものより、割れ難いこ
とがわかった。
矩形ターゲットの研磨傷を長辺に直交する方向にするこ
とにより、ターゲットの強度をさらに向上させて応力に
よるクラックの発生等を防止するという効果を奏する。
明する図である。
明する図である。
明する図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 a辺及びb辺を有してアスペクト比a:
bである矩形ターゲットにおいて、a<bであり、スパ
ッタ面及び冷却面の少なくともスパッタ面に前記b辺に
略直交する方向に並んだ研磨跡を有することを特徴とす
るスパッタリングターゲット。 - 【請求項2】 請求項1において、前記研磨面の表面粗
さRaが2μm以下であることを特徴とするスパッタリ
ングターゲット。 - 【請求項3】 a辺及びb辺を有してアスペクト比a:
bである矩形ターゲットの製造方法において、a<bで
あるとき、スパッタ面及び冷却面の少なくともスパッタ
面を、前記b辺に略直交する方向に研磨加工する工程を
具備することを特徴とするスパッタリングターゲットの
製造方法。 - 【請求項4】 請求項3において、前記研磨面の表面粗
さRaを2μm以下となるように研磨加工することを特
徴とするスパッタリングターゲットの製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001125358A JP2002322560A (ja) | 2001-04-24 | 2001-04-24 | スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002363738A (ja) * | 2001-06-05 | 2002-12-18 | Tosoh Corp | 多分割スパッタリングターゲットおよび薄膜の製造方法 |
WO2016027599A1 (ja) * | 2014-08-22 | 2016-02-25 | 三井金属鉱業株式会社 | 円筒形スパッタリングターゲット用ターゲット材の製造方法および円筒形スパッタリングターゲット |
JP2017082280A (ja) * | 2015-10-27 | 2017-05-18 | 住友金属鉱山株式会社 | 円筒形スパッタリングターゲットおよびその製造方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06659B2 (ja) * | 1988-05-16 | 1994-01-05 | 東ソー株式会社 | 透明導電膜用スパッタリングターゲットの製造法 |
JP2000144393A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-26 | Dowa Mining Co Ltd | Itoスパッタリングターゲットとその製造方法 |
JP2001026863A (ja) * | 1999-07-15 | 2001-01-30 | Nikko Materials Co Ltd | スパッタリングターゲット |
JP2001131737A (ja) * | 1999-11-09 | 2001-05-15 | Nikko Materials Co Ltd | スパッタリングターゲット及びその研削方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3460506B2 (ja) * | 1996-11-01 | 2003-10-27 | 三菱マテリアル株式会社 | 高誘電体膜形成用スパッタリングターゲット |
-
2001
- 2001-04-24 JP JP2001125358A patent/JP2002322560A/ja active Pending
- 2001-12-31 TW TW090133263A patent/TW546398B/zh not_active IP Right Cessation
-
2002
- 2002-02-05 KR KR10-2002-0006491A patent/KR100492640B1/ko active IP Right Grant
- 2002-02-21 CN CN02105095A patent/CN1382828A/zh active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06659B2 (ja) * | 1988-05-16 | 1994-01-05 | 東ソー株式会社 | 透明導電膜用スパッタリングターゲットの製造法 |
JP2000144393A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-26 | Dowa Mining Co Ltd | Itoスパッタリングターゲットとその製造方法 |
JP2001026863A (ja) * | 1999-07-15 | 2001-01-30 | Nikko Materials Co Ltd | スパッタリングターゲット |
JP2001131737A (ja) * | 1999-11-09 | 2001-05-15 | Nikko Materials Co Ltd | スパッタリングターゲット及びその研削方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002363738A (ja) * | 2001-06-05 | 2002-12-18 | Tosoh Corp | 多分割スパッタリングターゲットおよび薄膜の製造方法 |
WO2016027599A1 (ja) * | 2014-08-22 | 2016-02-25 | 三井金属鉱業株式会社 | 円筒形スパッタリングターゲット用ターゲット材の製造方法および円筒形スパッタリングターゲット |
JP5941232B1 (ja) * | 2014-08-22 | 2016-06-29 | 三井金属鉱業株式会社 | 円筒形スパッタリングターゲット用ターゲット材の製造方法 |
JP2017082280A (ja) * | 2015-10-27 | 2017-05-18 | 住友金属鉱山株式会社 | 円筒形スパッタリングターゲットおよびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW546398B (en) | 2003-08-11 |
CN1382828A (zh) | 2002-12-04 |
KR100492640B1 (ko) | 2005-05-31 |
KR20020083116A (ko) | 2002-11-01 |
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