WO2000037983A1 - Verfahren zum auffinden, zur aufnahme und gegebenenfalls zur auswertung von objektstrukturen - Google Patents

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WO2000037983A1 PCT/DE1999/003931 DE9903931W WO0037983A1 WO 2000037983 A1 WO2000037983 A1 WO 2000037983A1 DE 9903931 W DE9903931 W DE 9903931W WO 0037983 A1 WO0037983 A1 WO 0037983A1
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detection
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object structures
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PCT/DE1999/003931
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Johann Engelhardt
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Leica Microsystems Heidelberg Gmbh
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    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
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    • G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
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    • G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control

Definitions

  • the invention relates to a method for locating, recording and possibly evaluating object structures, in particular on specimen slides, preferably fluorescent object structures such as gene spots, a microscope with a CCD camera, a scanning microscope or a preferably confocal laser scanning microscope being used for the recording
  • individual - arbitrary - object structures are localized, for example in the context of an automatic manufacturing process. Often, object structures have to be found and classified with a predetermined reliability
  • the invention relates in principle to a method for locating, recording and, if necessary, subsequently evaluating object structures of any kind, these object structures, for example fluorescent gene spots, usually being arranged or applied to specimen slides.
  • object structures for example fluorescent gene spots
  • this is a method for the so-called gene scanner has been used so far.
  • Slides or fluorescent spots arranged on them with a diameter in the range between 50 ⁇ m and 100 ⁇ m are imaged. This can be a conventional microscopic image that is recorded, for example, in connection with a CCD camera A scanning microscope or a confocal laser scanning microscope (CLSM) can also be used.
  • the detectable dynamic range is generally higher, so that the detection technology by means of confocal Laser scanning microscopy is to be preferred
  • pictures are taken with a very high spatial resolution, so that, for example, a computer-controlled segmentation is subsequently required for object identification. This involves a very long expenditure of time and requires a considerable computer capacity Requirements for acquisition and evaluation methods usually with one molecule per ⁇ m 2 and at about one percent
  • the present invention is therefore based on the object of specifying a method for locating, recording and possibly evaluating object structures, in particular on object carriers, preferably fluorescent object structures such as gene spots, in which a rapid and sufficiently reliable detection of the object structures is possible
  • object structures in particular on object carriers, preferably fluorescent object structures such as gene spots
  • the detection of the object structures must be efficient, whereby a special evaluation procedure should enable the precise, fast and reliable identification and localization of the object structures
  • fluorescent objects can emit a limited fluorescence intensity
  • a generic method is characterized in that the image data are recorded with an illumination pattern projected into the object plane
  • object structures in particular fluorescent object structures - for example gene spots - on object carriers if the object structures in the object space are illuminated with a special illumination pattern or if the Fluorescence in the object space - in the case of fluorescent object structures - is excited with a special illumination pattern.
  • This is realized by projecting a special illumination mask onto the object structures.
  • the object holder or the object structures - for example fluorescent gene spots - are moved linearly under an illumination pattern , whereby it is also conceivable to move the illumination pattern linearly over the object structures.
  • intensity profiles When recording, specific intensity courses result, depending on the position of the object structures relative to the movement course of the Illumination patterns These intensity profiles can be described, for example, by folding the illumination pattern with the respective object structures.
  • the shape of the intensity profiles can be used to quickly and easily determine with simple calculation routines whether the scan was central or at the edge of the respective object structures.
  • the object structures can be localized without complex segmentation algorithms , the localization of the object structures being particularly easy to calculate if the measured intensities of the respective object structures differ from one another.
  • a suitable choice of the boundary conditions in particular given a predetermined arrangement of the object structures and the object structure sizes, enables an object structure classification and an object structure location to be unambiguously carried out, namely by "unfolding" the recorded image data with the respective lighting pattern
  • the jerk reflex or the fluorescence in the object space is advantageously excited with a predefinable illumination pattern.
  • the illumination pattern can be predefined in size and geometry in order to be able to make an optimal adaptation to the object structures to be found and recorded
  • the illumination pattern is generated by projecting an illumination mask arranged in the illumination beam path.
  • This illumination mask can be located between the light source or the laser and a
  • Beam plate can be arranged
  • the arrangement between the beam plate and a lens arranged in front of the object plane is also conceivable, but in the case of such an arrangement very special measures for unhindered passage of the jerk reflex or the fluorescence light as well as for avoiding the direct detection of the portion reflected on the illumination mask of
  • the illuminating mask could be arranged symmetrically to the optical axis in the illuminating beam path of a microscope, the illuminating light being projected via a lens or a lens system and via the objective into the object plane or to the object structure - through the illuminating mask - the shape and
  • the size of the projected illumination pattern is further advantageously adapted to the shape and possibly also the size of the object structure to be detected
  • the illumination of the object structures it is of further advantage if at least two illumination sources with the same or different illumination masks or an illumination source with a suitable beam distribution are used, so that more than just one wavelength of the jerk reflex or more can be detected simultaneously as only one fluorescent dye.
  • the scanning speed can be increased considerably by parallelizing at least two illumination sources
  • the jerk reflex or the fluorescence distribution is detected via a detection mask arranged in the detection beam path, the
  • Detection mask is arranged in a further advantageous manner between the beam splitter and the detector.
  • the pattern of the detection mask is - likewise in an advantageous manner - at least largely identical to the pattern of the illumination mask, in which respect a match with the object structure to be detected is also advantageous
  • the illumination pattern is scanned over the object or over the object structure.
  • This is referred to as beam or beam scanning.
  • the object is moved under the stationary light beam in a particularly advantageous manner. This is referred to as object scanning.
  • the object scanning is compared to the beam or Beam scanning to be preferred, since the imaging optics can be made simpler, which in turn results in lower costs
  • the object characterization and possibly determination of the object position can take place during the image acquisition or shortly thereafter. Further processing of the image information can follow
  • Intensity profiles are described after mathematical "processing", for example by folding the lighting pattern with the respective object structures.
  • the shape of the intensity profiles using suitable computing routines is used to identify whether the scan is central or at the edge of the object structures
  • the course of intensity can be used to determine the specific position of the individual object structures
  • the information about the recorded object structures is extracted with the aid of a mathematical unfolding of the measured image data with the illumination pattern. It is possible that the image data Simultaneously recorded with illuminating light of at least two different wavelengths and can be detected in at least two different detection channels.
  • the mathematical unfolding on the respective detection channel is carried out with the corresponding illumination mask, an adaptation between the illumination mask and the detection mask being advantageous
  • the illumination or detection can be carried out in a further advantageous manner via at least two illumination and detection masks, the individual illumination and detection masks having a different shape and size.
  • a particular advantage of the method according to the invention can be seen in the fact that data is reduced, as a result of which the requirements for the memory or the memory requirement of the recording and evaluation computer are reduced
  • the illumination of the object or the object structures takes place with light of a preferably predeterminable wavelength with an essentially circular, rectangular or polygonal illumination mask.
  • an adaptation of the shape and size of the illumination mask to the respective object structure is advantageous.
  • the illumination mask ensures a quasi-homogeneous illumination intensity.
  • the detection takes place via an essentially circular, rectangular or polygonal detection mask which can be adapted to the shape and size of the illumination mask.
  • the measured intensity signal is the cross-correlation of the illumination pattern and Form of
  • the object structure can have both microscopic and macroscopic dimensions.
  • a corresponding adaptation of the illumination mask and detection mask is possible
  • FIG. 2 shows a schematic plan view of a slide with gene spots and indicated scan path
  • FIG. 3 shows the intensity profile of the scan movements indicated in FIG. 2 in two diagrams arranged one below the other
  • a confocal laser scanning microscope arrangement which is only indicated here, is used to apply the method according to the invention
  • a lens system 6, an illumination mask 7, a further lens system 8, the beam splitter 4 and an objective 9 are arranged in the illumination beam path 3.
  • the jerk reflex or the fluorescent light passes from the object plane 5 through the objective 9 through the detection beam path 10 the beam splitter 4 through a lens system 11 to the detection mask 12 and through the detection mask 12 through a further lens system 13 to the detector 2
  • Essential components with respect to the method according to the invention are the illumination mask 7 and the detection mask 12 which are shown in FIG their shape and size on the one hand and on the other hand adapted to the respective object structures (in object level 5) and arranged in conjugate levels
  • FIG. 2 shows, by way of example and schematically, an object holder 14 with object structures arranged thereon, in this case specifically gene spots 15.
  • the gene spots 15 shown there have the same shape and the same size and are arranged in an equidistant manner from one another
  • the slide 14 is moved according to the method according to the invention under a specific illumination pattern 16 in the x-direction along the lines 17, 18, namely according to line 17 in the edge region of the respective gene spots 15 and according to line 18 in the center of the respective gene spots 15
  • the intensity profiles 19, 20 can be mathematically described by folding the illumination pattern 16 with the respective gene spots 15.
  • the shape of the intensity profiles 19, 20 can be used to determine whether the scan is central according to line 18 or at the edge according to line 17 using simple arithmetic routines from FIG. 2
  • the position of the individual gene spots 15 can be determined without complicated segmentation algorithms
  • the gene spots In the intensity curves 19, 20 shown in FIG. 3 or in the arrangement of the gene spots 15 on the slide 14 selected in FIG. 2, the gene spots have the same fluorescence intensity, even if the measured intensities of the gene If spots (15) differ from one another, the location of the gene spots 15 could be calculated on the basis of the intensity curve
  • the measured intensity curve 20 is shown schematically in FIG. 3 (lower graphic) under the following assumptions.
  • the illumination pattern 16 has a homogeneous illumination intensity and the emitted fluorescence intensity of the gene spots 15 is homogeneous
  • the measured signal or the course of the intensity 20 increases almost linearly, as long as the area of the illumination pattern 16 does not yet completely overlap with the area of the gene spot 15 (increasing on the left Area of the intensity curve, d)
  • a constant signal is measured, namely over an area Dd as soon as the area of the illumination pattern 16 is removed again in the course of the scanning If the area of the gene spot 15 emerges, an almost linearly falling signal is measured (right area of the intensity curve, d) No signal is detected for the duration where the area of the illumination pattern 16 has no overlap with the area of a gene spot (area Md)

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Abstract

Ein Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und ggf. zur Auswertung von Objektstrukturen, insbesondere auf Objektträgern (14), vorzugsweise von fluoreszierenden Objektstrukturen wie bspw. Gen-Spots (15), wobei ein Mikroskop mit CCD-Kamera, ein Rastermikroskop oder ein vorzugsweise konfokales Laserscanmikroskop zur Aufnahme dient, ist zur schnellen und zuverlässigen Detektion der Objektstrukturen dadurch gekennzeichnet, daß die Bilddaten mit einem in die Objektebene (5) projizierten Beleuchtungsmuster (16) aufgenommen werden.

Description

Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und gegebenenfalls zur Auswertung von
Objektstrukturen
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und ggf zur Auswertung von Objektstrukturen, insbesondere auf Objektträgern, vorzugsweise von fluoreszierenden Objektstrukturen wie beispielsweise Gen-Spots, wobei ein Mikroskop mit CCD-Kamera, ein Rastermikroskop oder ein vorzugsweise konfokales Laserscanmikroskop zur Aufnahme dient
Bei unterschiedlichsten Anwendungen werden einzelne - beliebige - Objektstrukturen lokalisiert, so beispielsweise im Rahmen eines automatischen Fertigungsprozesses Oftmals müssen Objektstrukturen wiedergefunden und mit einer vorgegebenen Verläßlichkeit klassifiziert werden
Die Erfindung bezieht sich grundsätzlich auf ein Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und gegebenenfalls zur anschließenden Auswertung von Objektstrukturen beliebiger Art, wobei diese Objektstrukturen, beispielsweise fluoreszierende Gen- Spots, üblicherweise auf Objektträgern angeordnet bzw aufgebracht sind Letztendlich handelt es sich hier um ein Verfahren, bei dem bislang sogenannte Gen-Scanner zum Einsatz kommen Es werden Objektträger bzw darauf angeordnete fluoreszierende Spots mit einem Durchmesser im Bereich zwischen 50 μm und 100 μm abgebildet Dabei kann es sich um eine konventionelle mikroskopische Abbildung handeln, die beispielsweise in Verbindung mit einer CCD-Kamera aufgenommen wird Ebenso kann ein Rastermikroskop oder ein konfokales Laserscanmikroskop (CLSM) Verwendung finden Bei einem konfokalen Laserscanmikroskop ist im allgemeinen der nachweisbare Dynamikbereich hoher, so daß die Nachweistechnik mittels konfokaler Laserscanmikroskopie zu bevorzugen ist Bei Aufnahmen mit herkömmlichen konfokalen Laserscanmikroskopen werden Bilder mit sehr hoher Ortsauflosung aufgenommen, so daß z B zur Objektidentifizierung nachträglich eine comuptergesteuerte Segmentierung erforderlich ist Dies bringt einen sehr hohen Zeitaufwand mit sich und erfordert eine erhebliche Rechnerkapazitat Im Hinblick auf die Nachweisfahigkeit liegen die Anforderungen an Aufnahme- und Auswerteverfahren üblicherweise bei einem Molekül pro μm2 und bei ca einem Prozent
Die aus der Praxis bekannten Gen-Scanner sowie die dabei zur Anwendung kommenden Verfahren sind aufgrund der dort erforderlichen Datenaufnahme mit einer - unnötig - hohen Ortsauflosung sowie aufgrund der anschließend erforderlichen Segmentierung mit hohem Rechneraufwand aufgrund der erforderlichen Kapazität äußerst aufwendig und rufen dabei einen erheblichen apparativen Aufwand hervor Außerdem ist die mit einem Rechner durchzuführende Segmentierung der einzelnen Fluoreszenzobjekte häufig fehlerbehaftet, so daß nicht immer die geforderte Genauigkeit von ca einem Prozent erreicht wird Insoweit sind die aus der Praxis bislang bekannten Verfahren unzureichend
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und gegebenfalls zur Auswertung von Objektstrukturen, insbesondere auf Objektträgern, vorzugsweise von fluoreszierenden Objektstrukturen wie beispielsweise Gen-Spots, anzugeben, bei dem eine schnelle und hinreichend zuverlässige Detektion der Objektstrukturen möglich ist Der Nachweis der Objektstrukturen muß effizient sein, wobei ein spezielles Auswertverfahren die genaue, schnelle und dabei zuverlässige Identifizierung und Lokalisierung der Objektstrukturen ermöglichen soll Im Falle des Nachweises fluoreszierender Gen-Spots ist darauf zu achten, daß die Sättigung der Fluorochrome limitierend für die Scangeschwindigkeit ist Es sollte auf jeden Fall der Situation Rechnung getragen werden, daß Fluoreszenzobjekte eine begrenzte Fluoreszenzintensitat emittieren können Die vorangehende Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruches 1 gelost Danach ist ein gattungsbildendes Verfahren dadurch gekennzeichnet, daß die Bilddaten mit einem in die Objektebene projizierten Beleuchtungsmuster aufgenommen werden
Erfindungsgemaß ist erkannt worden, daß es zum Auffinden, zur Aufnahme und schließlich auch zur Auswertung von Objektstrukturen, insbesondere von fluoreszierenden Objektstrukturen - bspw Gen-Spots - auf Objektträgern von Vorteil ist, wenn die Objektstrukturen im Objektraum mit einem speziellen Beleuchtungsmuster beleuchtet werden bzw wenn die Fluoreszenz im Objektraum - im Falle fluoreszierender Objektstrukturen - mit einem speziellen Beleuchtungsmuster angeregt wird Dies wird durch Projektion einer speziellen Beleuchtungsmaske auf die Objektstrukturen realisiert In erfindungsgemaßer Weise wird nun der Objektträger bzw werden die Objektstrukturen - so beispielsweise fluoreszierende Gen-Spots - unter einem Beleuchtungsmuster linear bewegt, wobei es durchaus auch denkbar ist, das Beleuchtungsmuster über den Objektstrukturen linear zu bewegen Bei der Aufnahme ergeben sich spezifische Intensitatsverlaufe, und zwar je nach Lage der Objektstrukturen relativ zu dem Bewegungsverlauf des Beleuchtungsmusters Diese Intensitatsverlaufe lassen sich bspw durch eine Faltung des Beleuchtungsmusters mit den jeweiligen Objektstrukturen beschreiben Anhand der Form der Intensitatsverlaufe laßt sich schnell und mit einfachen Rechenroutinen erkennen, ob der Scan zentral oder am Rand der jeweiligen Objektstrukturen verlaufen ist Ohne aufwendige Segmentierungsalgoπthmen lassen sich die Objektstrukturen lokalisieren, wobei sich die Lokalisation der Objektstrukturen dann ganz besonders einfach berechnen laßt, wenn sich die gemessenen Intensitäten der jeweiligen Objektstrukturen voneinander unterscheiden Durch geeignete Wahl der Randbedingungen, insbesondere bei vorgegebener Anordnung der Objektstrukturen und der Objektstrukturgroßen, kann eine Objektstrukturklassifizierung und eine Objektstrukturlokahsation eindeutig erfolgen, namlich durch „Entfaltung" der aufgenommenen Bilddaten mit dem jeweiligen Beleuchtungsmuster
In vorteilhafter Weise wird der Ruckreflex bzw die Fluoreszenz im Objektraum mit einem vorgebbaren Beleuchtungsmuster angeregt Dies bedeutet, daß das Beleuchtungsmuster in Große und Geometrie vorgebbar ist, um namlich eine optimale Anpassung an die aufzufindenen und aufzunehmenden Objektstrukturen vornehmen zu können
Des weiteren ist es von Vorteil, wenn das Beleuchtungsmuster durch Projektion einer im Beleuchtungsstrahlengang angeordneten Beleuchtungsmaske erzeugt wird Diese Beleuchtungsmaske kann zwischen der Lichtquelle bzw dem Laser und einem
Strahlteller angeordnet sein Die Anordnung zwischen dem Strahlteller und einem vor der Objektebene angeordneten Objektiv ist ebenfalls denkbar, wobei im Falle einer solchen Anordnung ganz besondere Maßnahmen zum ungehinderten Passieren des Ruckreflexes bzw des Fluoreszenz chts wie auch zur Vermeidung des direkten Detektierens des an der Beleuchtungsmaske reflektierten Anteils des
Beleuchtungshchts zu treffen sind Jedenfalls konnte die Beleuchtungsmaske symmetrisch zur optischen Achse im Beleuchtungsstrahlengang eines Mikroskops angeordnet sein, wobei das Beleuchtungslicht über eine Linse oder ein Linsensystem und über das Objektiv in die Objektebene bzw zu der Objektstruktur - durch die Beleuchtungsmaske hindurch - projiziert wird Die Form und Große des projizierten Beleuchtungsmusters ist in weiter vorteilhafter Weise der Form und gegebenenfalls auch der Große der nachzuweisenden Objektstruktur angepaßt
Hinsichtlich der Beleuchtung der Objektstrukturen ist es von weiterem Vorteil wenn mindestens zwei Beleuchtungsquellen mit gleichen oder unterschiedlichen Beleuchtungsmasken oder eine Beleuchtungsquelle mit geeigneter Strahlaufteilung verwendet werden, so daß mehr als nur eine Wellenlange des Ruckreflexes bzw mehr als nur ein Fluoreszenzfarbstoff simultan nachweisbar ist Durch Parallehsierung mindestens zweier Beleuchtungsquellen laßt sich insbesondere die Scangeschwindigkeit ganz erheblich steigern
Der Ruckreflex bzw die Fluoreszenzverteilung wird über eine im Detektionsstrahlengang angeordnete Detektionsmaske detektiert, wobei die
Detektionsmaske in weiter vorteilhafter Weise zwischen dem Strahlteiler und dem Detektor angeordnet ist Das Muster der Detektionsmaske ist - ebenfalls in vorteilhafter Weise - zumindest weitgehend identisch mit dem Muster der Beleuchtungsmaske, wobei insoweit auch eine Übereinstimmung mit der nachzuweisenden Objektstruktur von Vorteil ist
Grundsätzlich ist es möglich, daß das Beleuchtungsmuster über das Objekt bzw über die Objektstruktur gescannt wird Hierbei spricht man von Strahl- oder Beamscanning In besonders vorteilhafter Weise wird das Objekt unter dem ortsfesten Lichtstrahl bewegt Hierbei spricht man von Objektscanning Das Objektscanning ist gegenüber dem Strahl- oder Beamscanning zu bevorzugen, da dabei die Abbildungsoptik einfacher ausgestaltet sein kann was wiederum geringere Kosten zur Folge hat
Die Objektcharakterisierung und gegebenenfalls Bestimmung der Objektposition kann wahrend der Bildaufnahme oder kurzzeitig danach erfolgen Eine weiterreichende Verarbeitung der Bildinformationen kann sich anschließen
Die wahrend der Aufnahme über die Objektstrukturen hinweg gemessenen
Intensitatsverlaufe werden nach mathematischer „Bearbeitung" beschrieben, so beispielsweise durch Faltung des Beleuchtungsmusters mit den jeweiligen Objektstrukturen Anhand der Form der Intensitatsverlaufe mittels geeigneter Rechenroutinen wird erkannt, ob der Scan zentral oder am Rand der Objektstrukturen verlaufen ist Anhand der Intensitatsverlaufe laßt sich jedenfalls die konkrete Lage der einzelnen Objektstrukturen bestimmen
Des weiteren ist es von Vorteil, daß - nicht zuletzt zur Reduzierung des Rechenaufwandes und der zu verwaltenden Daten - eine Extraktion der Informationen über die aufgenommenen Objektstrukturen mit Hilfe einer mathematischen Entfaltung von den gemessenen Bilddaten mit dem Beleuchtungsmuster erfolgt Dabei ist es möglich, daß die Bilddaten simultan mit Beleuchtungslicht mindestens zweier unterschiedlicher Wellenlangen aufgenommen und in mindestens zwei unterschiedlichen Detektionskanalen nachweisbar sind Die mathematische Entfaltung auf dem jeweiligen Detektionskanal wird mit der entsprechenden Beleuchtungsmaske durchgeführt, wobei eine Anpassung zwischen Beleuchtungsmaske und Detektionsmaske von Vorteil ist
Die Beleuchtung bzw Detektion kann in weiter vorteilhafter Weise über mindestens zwei Beleuchtungs- und Detektionsmasken durchgeführt werden wobei die einzelnen Beleuchtungs- und Detektionsmasken eine unterschiedliche Form und Große aufweisen können Unter Zugrundelegung einer vorgegebenen Form der Beleuchtungsmasken - und auch der Detektionsmasken - ist die mathematische Entfaltung mit Hilfe einer speziellen Rechnerhardware möglich Dazu können FPGA's (= Field Programmable Gate Arrays) verwendet werden, so daß eine Verarbeitung in Echtzeit möglich ist Im Idealfall werden lediglich die extrahierten Objektinformationen der jeweiligen Objektstrukturen gespeichert
Ein besonderer Vorteil des erfindungsgemaßen Verfahrens ist darin zu sehen, daß eine Datenreduktion erfolgt, wodurch sich die Anforderungen an den Speicher bzw Speicherbedarf des Aufnahme- und Auswerterechners reduzieren Auch insoweit sind die Kosten des hier erforderlichen Systems in erfindungsgemaßer Weise reduziert Die Beleuchtung des Objekts bzw der Objektstrukturen erfolgt mit Licht einer vorzugsweise vorgebbaren Wellenlange mit einer im wesentlichen kreisförmigen, rechteckigen oder mehreckigen Beleuchtungsmaske Wie bereits zuvor erwähnt, ist eine Anpassung der Form und Große der Beleuchtungsmaske auf die jeweilige Objektstruktur von Vorteil Des weiteren ist wesentlich, daß die Beleuchtungsmaske eine quasi homogene Beleuchtungsintensitat gewährleistet Die Detektion erfolgt dabei über eine im wesentlichen kreisförmige, rechteckige oder mehreckige Detektionsmaske, die der Form und Große der Beleuchtungsmaske angepaßt sein kann Für die Datenauswertung ist die Kenntnis von Vorteil, daß das gemessene Intensitatssignal die Kreuzkorrelation von Beleuchtungsmuster und Form der
Objektstruktur bezogen auf die erzielbare Reflexions- bzw Fluoreszenzintensitat ist Hierbei handelt es sich dann um den mathematischen Spezialfall einer Faltung Die Dimension des Beleuchungsmusters konnte dabei großer als das entsprechende beugungsbegrenzte Airy-Scheibchen sein
Schließlich sei angemerkt, daß die Objektstruktur sowohl mikroskopische wie auch makroskopische Dimensionen haben kann Eine entsprechende Anpassung der Beleuchtungsmaske und Detektionsmaske ist möglich
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden Dazu ist einerseits auf die dem Patentanspruch 1 nachgeordneten Ansprüche, andererseits auf die nachfolgende Erläuterung eines Ausfuhrungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung zu verweisen In Verbindung mit der Erläuterung des bevorzugten Ausfuhrungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im allgemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert In der Zeichnung zeigt Fig 1 in einer schematischen Darstellung den prinzipiellen Aufbau einer optischen Anordnung zur Anwendung des erfindungsgemaßen Verfahrens,
Fig 2 in einer schematischen Draufsicht einen Objektträger mit Gen-Spots und angedeutetem Scanweg und
Fig 3 in zwei untereinander angeordneten Diagrammen den Intensitatsverlauf der in Fig 2 angedeuteten Scanbewegungen
Gemäß der Darstellung in Fig 1 dient zur Anwendung des erfindungsgemaßen Verfahrens eine hier lediglich angedeutete konfokale Laserscanmikroskop-Anordnung Diese Anordnung umfaßt - als wesentliche Bestandteile - eine Laserhchtquelle 1 und einen Detektor 2, wobei der Beleuchtungsstrahlengang 3 über einen dichroitischen Strahlteiler 4 zur Objektebene 5 hin umgelenkt wird Im Beleuchtungsstrahlengang 3 wird ein Linsensystem 6, eine Beleuchtungsmaske 7, ein weiteres Linsensystem 8, der Strahlteiler 4 und vor der Objektebene 5 ein Objektiv 9 angordnet Der Ruckreflex bzw das Fluoreszenzlicht gelangt von der Objektebene 5 durch das Objektiv 9 hindurch über den Detektionsstrahlengang 10 durch den Strahlteiler 4 hindurch durch ein Linsensystem 1 1 zu der Detektionsmaske 12 und durch die Detektionsmaske 12 hindurch durch ein weiteres Linsensystem 13 zum Detektor 2 Wesentliche Bauteile in bezug auf das erfindungsgemaße Verfahren sind die Beleuchtungsmaske 7 und die Detektionsmaske 12, die in ihrer Form und Große einerseits aufeinander und andererseits auf die jeweiligen Objektstrukturen (in der Objektebene 5) angepaßt und in konjugierten Ebenen angeordnet sind
Fig 2 zeigt beispielhaft und dabei schematisch einen Objektträger 14 mit darauf angeordneten Objektstrukturen, wobei es sich hier im Konkreten um Gen-Spots 15 handelt Die dort gezeigten Gen-Spots 15 haben gleiche Form und gleiche Große und sind aquidistant zueinander angeordnet Der Objektträger 14 wird gemäß dem erfindungsgemaßen Verfahren unter einem konkreten Beleuchtungsmuster 16 in x-Richtung entlang den Linien 17, 18 bewegt, namlich gemäß Linie 17 im Randbereich der jeweiligen Gen-Spots 15 und gemäß Linie 18 im Zentrum der jeweiligen Gen-Spots 15
Nach dem Scannen ergeben sich die in den Diagrammen gemäß Fig 3 dargestellten - gemessenen - Intensitatsverlaufe 19, 20, wobei der Intensitatsverlauf 19 aus dem Scanvorgang gemäß Linie 17 in Fig 2 und der Intensitatsverlauf 20 aus dem Scanvorgang gemäß Linie 18 aus Fig 2 resultiert
Die Intensitatsverlaufe 19, 20 lassen sich durch eine Faltung des Beleuchtungsmusters 16 mit den jeweiligen Gen-Spots 15 mathematisch beschreiben Anhand der Form der Intensitatsverlaufe 19, 20 laßt sich mittels einfacher Rechenroutinen erkennen, ob der Scan zentral gemäß Linie 18 oder am Rand gemäß Linie 17 aus Fig 2 verlaufen ist Ohne komplizierte Segmentierungs-Algoπthmen kann die Position der einzelnen Gen- Spots 15 bestimmt werden
In Ergänzung zu der voranstehenden Beschreibung sei darauf hingewiesen, daß in Fig 2 der Durchmesser d des hier kreisförmig ausgestalteten Beleuchtungsmusters 16, der Durchmesser D der hier ebenfalls kreisförmig dargestellten Gen-Spots 15 und der Abstand M zwischen zwei benachbarten Gen-Spots 15 (in Scanrichtung gemessen von Rand zu Rand) dargestellt sind Diese Parameter sind in der nachfolgend erörterten Fig 3 im Rahmen der dort gezeigten Intensitatsverlaufe 19, 20 entsprechend eingezeichnet
Bei den in Fig 3 gezeigten Intensitatsverlaufen 19, 20 bzw bei der in Fig 2 gewählten Anordnung der Gen-Spots 15 auf dem Objektträger 14 haben die Gen-Spots die gleiche Fluoreszenzintensitat Auch wenn sich die gemessenen Intensitäten der Gen- Spots (15) voneinander unterscheiden, konnte anhand des Intensitatsverlaufs die Lokahsation der Gen-Spots 15 errechnet werden
Der gemessene Intensitatsverlauf 20 ist in Fig 3 (untere Grafik) unter folgenden Annahmen schematisch dargestellt das Beleuchtungsmuster 16 weist eine homogene Beleuchtungsintensitat auf und die emittierte Fluoreszenzintensitat der Gen-Spots 15 ist homogen
In Scanrichtung (x-nchtung, Bezugszeichen 18 in Fig 2) steigt das gemessene Signal bzw der Intenstitatsverlauf 20 nahezu linear an, und zwar solange, wie die Flache des Beleuchtungsmusters 16 noch nicht vollständig mit der Flache des Gen-Spots 15 überlappt (linker ansteigender Bereich des Intensitatsverlaufs, d) Solange sich die Flache des Beleuchtungsmusters 16 vollständig völlig innerhalb der Flache des Gen- Spots 15 befindet, wird ein konstantes Signal gemessen, und zwar über einen Bereich D-d Sobald die Flache des Beleuchtungsmusters 16 im Verlaufe des Scannens wieder aus der Flache des Gen-Spots 15 heraustritt, wird ein nahezu linear abfallendes Signal gemessen (rechter Bereich des Intensitatsverlaufs, d) Für die Dauer, wo die Flache des Beleuchtungsmusters 16 keine Überlappung mit der Flache eines Gen-Spots aufweist, wird kein Signal nachgewiesen (Bereich M-d)
Hinsichtlich weiterer Merkmale, die sich den Figuren nicht entnehmen lassen, wird zur Vermeidung von Wiederholungen auf den allgemeinen Teil der Beschreibung verwiesen
Schließlich sei angemerkt, daß das voranstehend erörterte Ausfuhrungsbeispiel die erfindungsgemaße Lehre erläutert, nicht jedoch auf dieses Ausfuhrungsbeispiel einschrankt Bezugszeichenliste
Laserlichtquelle
Detektor
Beleuchtungsstrahlengang dichroitischer Strahlteiler
Objektebene
Linsensystem
Beleuchtungsmaske
Linsensystem Objektiv
Detektionsstrahlengang
Linsensystem
Detektionsmaske
Linsensystem Objektträger
Gen-Spot(s)
Beleuchtungsmuster
Linie (Intensitatsverlauf im Randbereich der Gen-Spots)
Linie (Intensitatsverlauf im Zentrum der Gen-Spots) Intensitatsverlauf (gemäß Linie 17)
Intensitatsverlauf (gemäß Linie 18)

Claims

Patentansprüche
Verfahren zum Auffinden, zur Aufnahme und ggf zur Auswertung von Objektstrukturen, insbesondere auf Objektträgern (14), vorzugsweise von fluoreszierenden Objektstrukturen wie beispielsweise Gen-Spots (15), wobei ein Mikroskop mit CCD-Kamera, ein Rastermikroskop oder ein vorzugsweise konfokales Laserscanmikroskop zur Aufnahme dient, dadurch gekennzeichnet, daß die Bilddaten mit einem in die Objektebene (5) projizierten Beleuchtungsmuster (16) aufgenommen werden
Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Ruckreflex bzw die Fluoreszenz im Objektraum mit einem vorgebbaren
Beleuchtungsmuster (16) angeregt wird
Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Beleuchtungsmuster (16) in Große und Geometrie vorgebbar ist
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Beleuchtungsmuster (16) durch Projektion einer im Beleuchtungsstrahlengang (3) angeordnete Beleuchtungsmaske (7) erzeugt wird
Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungsmaske (7) symmetrisch zur optischen Achse im Beleuchtungsstrahlengang (3) angeordnet ist Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Form und ggf die Große des projizierten Beleuchtungsmusters (16) auf die Form und ggf Große der nachzuweisenden Objektstruktur angepaßt werden kann
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei Beleuchtungsquellen mit gleichen oder unterschiedlichen Beleuchtungsmasken (7) verwendet werden
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildaufnahme mit mindestens zwei Beleuchtungsquellen parallelisiert ist
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Ruckreflex, insbesondere die Fluoreszenzverteilung, über eine im Detektionsstrahlengang (10) angeordnete Detektionsmaske (12) detektiert wird
Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Muster der Beleuchtungsmaske (7) zumindest weitgehend identisch ist mit dem Muster der Detektionsmaske (12)
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Beleuchtungsmuster (16) über das Objekt gescannt wird (Strahl- oder Beamscanning) Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Objekt unter dem ortsfesten Beleuchtungsmuster (16) bewegt wird (Objektscanning)
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß eine Objektcharakterisierung und ggf
Bestimmung der Objektposition wahrend der Aufnahme oder danach erfolgt
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die wahrend der Aufnahme über die Objektstrukturen hinweg gemessenen Intensitatsverlaufe (19, 20) durch Faltung des Beleuchtungsmusters (16) mit den jeweiligen Objektstrukturen mathematisch beschrieben werden
Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß anhand der Form der Intensitatsverlaufe (19, 20) mittels geeigneter Rechenroutine erkannt wird, ob der Scan zentral oder am Rand der Objektstrukturen verlaufen ist
Verfahren nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, daß anhand der Intensitatsverlaufe (19, 20) die konkrete Lage der einzelnen Objektstrukturen bestimmt wird
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß eine Extraktion der Informationen über die aufgenommenen Objektstrukturen mit Hilfe einer mathematischen Entfaltung von den gemessenen Bilddaten mit dem Beleuchtungsmuster (16) erfolgt Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Bilddaten simultan mit Beleuchtungslicht mindestens zweier unterschiedlicher Wellenlangen aufgenommen und in mindestens zwei unterschiedlichen Detektionskanalen nachweisbar sind
Verfahren nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die mathematische Entfaltung auf dem jeweiligen Detektionskanal mit der entsprechenden Beleuchtungsmaske (7) durchgeführt wird
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtung bzw Detektion gleichzeitig über mindestens zwei Beleuchtungs- und Detektionsmasken (7, 12) durchgeführt wird, wobei die einzelnen Beleuchtungs- und Detektionsmasken (7, 12) eine unterschiedliche Form und Große aufweisen können
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß unter Zugrundelegung einer vorgegebenen Form der Beleuchtungsmasken (7) die mathematische Entfaltung mit Hilfe spezieller Rechner-Hardware - vorzugsweise mittels FPGA's (= Field Programmable Gate Arrays) - in Echtzeit realisierbar ist, so daß im Idealfall nur die extrahierten Objektinformationen der Objektstrukturen zu speichern sind
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß eine Datenreduktion durchgeführt wird, wodurch sich die Anforderung an den Speicherbedarf des Aufnahme- und Auswerterechners reduziert Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtung mit Licht einer vorzugsweise vorgebbaren Wellenlange mit einer im wesentlichen kreisförmigen, rechteckigen oder mehreckigen Beleuchtungsmaske (7) erfolgt
Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungsmaske (7) eine homogene Beleuchtungsintensitat ermöglicht
Verfahren nach Anspruch 23 oder 24 dadurch gekennzeichnet, daß die Detektion über eine im wesentlichen kreisförmige, rechteckige oder vieleckige Detektionsmaske (12) erfolgt
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 25, dadurch gekennzeichnet, daß das gemessene Intensitatssignal die Kreuzkorrelation von Beleuchtungsmuster (16) und Form der Objektstruktur bezogen auf die erzielbare Reflexions- bzw Fluoreszenzintensitat ist, d h der mathematische Spezialfall einer Faltung
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 26, dadurch gekennzeichnet, daß die Dimension des Beleuchtungsmusters (16) großer ist als das entsprechende beugungsbegrenzte Airy-Scheibchen
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 27, dadurch gekennzeichnet, daß die Objektstruktur mikroskopische Dimension hat
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 27, dadurch gekennzeichnet, daß die Objektstruktur makroskopische Dimension hat.
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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6908770B1 (en) * 1998-07-16 2005-06-21 Board Of Regents, The University Of Texas System Fluid based analysis of multiple analytes by a sensor array
US7050087B2 (en) * 2000-12-06 2006-05-23 Bioview Ltd. Data acquisition and display system and method
WO2002095651A2 (de) * 2001-05-23 2002-11-28 Lifebits Ag Verfahren für biochemische nachweise von analyten
DE10127221A1 (de) * 2001-05-23 2002-11-28 Lifebits Ag Träger für chemische, biochemische und biologische Substanzen
CA2523626A1 (en) * 2002-04-26 2003-11-06 Board Of Regents, The University Of Texas System Method and system for the detection of cardiac risk factors
DE10252313B9 (de) * 2002-11-11 2006-10-19 Carl Zeiss Untersuchungssystem zur gleichzeitigen direkten Sichtbarmachung einer Fluoreszenzmarkierung und eines die Fluoreszenzmarkierung umgebenden Gewebebereichs und Untersuchungsverfahren dafür
WO2005059551A2 (en) * 2003-12-11 2005-06-30 Board Of Regents, The University Of Texas System Method and system for the analysis of saliva using a sensor array
US8105849B2 (en) * 2004-02-27 2012-01-31 Board Of Regents, The University Of Texas System Integration of fluids and reagents into self-contained cartridges containing sensor elements
US8101431B2 (en) * 2004-02-27 2012-01-24 Board Of Regents, The University Of Texas System Integration of fluids and reagents into self-contained cartridges containing sensor elements and reagent delivery systems
US7274027B2 (en) * 2004-03-18 2007-09-25 Optometrix Inc. Scanning systems and methods with time delay sensing
US8377398B2 (en) 2005-05-31 2013-02-19 The Board Of Regents Of The University Of Texas System Methods and compositions related to determination and use of white blood cell counts
DE102006034905B4 (de) 2006-07-28 2015-07-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Signalverarbeitung am Ausgang eines Mehrkanaldetektors
JP5739351B2 (ja) 2009-03-11 2015-06-24 サクラ ファインテック ユー．エス．エー．， インコーポレイテッド 自動合焦方法および自動合焦装置
US10139613B2 (en) 2010-08-20 2018-11-27 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Digital microscope and method of sensing an image of a tissue sample
WO2014020967A1 (ja) * 2012-08-02 2014-02-06 オリンパス株式会社 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
DE102013103971A1 (de) 2013-04-19 2014-11-06 Sensovation Ag Verfahren zum Erzeugen eines aus mehreren Teilbildern zusammengesetzten Gesamtbilds eines Objekts
US10007102B2 (en) 2013-12-23 2018-06-26 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Microscope with slide clamping assembly
DE102014009142A1 (de) 2014-06-20 2015-12-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Ansteuerung eines akustooptischen Bauteils
CN104296687A (zh) * 2014-11-05 2015-01-21 哈尔滨工业大学 基于荧光共焦显微技术的光滑大曲率样品测量装置与方法
US11280803B2 (en) 2016-11-22 2022-03-22 Sakura Finetek U.S.A., Inc. Slide management system
DE102018123381A1 (de) * 2018-09-24 2020-03-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe
AU2020286971A1 (en) * 2019-06-07 2022-01-06 Basf Coatings Gmbh System and method for object recognition using three dimensional mapping tools in a computer vision application
WO2021099568A1 (en) * 2019-11-20 2021-05-27 Konstantinos Balas Trace microanalysis microscope systems and methods

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0408035A2 (de) * 1989-07-13 1991-01-16 Anritsu Corporation Hochauflösendes Mikroskopiersystem mit Konvolutionsintegrationsprozess
EP0440342A2 (de) * 1990-01-12 1991-08-07 The Regents Of The University Of California Lasererregter konfokaler Mikroskop-Fluoreszenzscanner und Verfahren
US5587832A (en) * 1993-10-20 1996-12-24 Biophysica Technologies, Inc. Spatially light modulated confocal microscope and method
US5631734A (en) * 1994-02-10 1997-05-20 Affymetrix, Inc. Method and apparatus for detection of fluorescently labeled materials
WO1998007022A1 (en) * 1996-08-16 1998-02-19 Imaging Research, Inc. A digital imaging system for assays in well plates, gels and blots

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3833064A1 (de) * 1988-09-29 1990-04-05 Dynatech Ag Branch Denkendorf Leseeinheit fuer eine mikrotestplatte
JP2897027B2 (ja) * 1988-10-27 1999-05-31 スズキ株式会社 免疫学的凝集反応検出装置
JP2750605B2 (ja) * 1989-05-17 1998-05-13 スズキ株式会社 粒子凝集パターン判定方法
DE4040726C2 (de) * 1989-12-21 1995-05-24 Olympus Optical Co Verfahren zum Untersuchen von Teilchenmustern
JP2874008B2 (ja) * 1990-05-18 1999-03-24 スズキ株式会社 粒子凝集パターン判定装置
DE4211904C2 (de) * 1991-04-09 1994-03-17 Werner Maier Automatisches Verfahren zum Erstellen einer Liste unterschiedlicher Arten für eine flüssige Probe
DK0656938T3 (da) * 1992-07-13 1998-07-20 Minnesota Mining & Mfg Teknik til at tælle objekter i et skanderet billede
US5545531A (en) * 1995-06-07 1996-08-13 Affymax Technologies N.V. Methods for making a device for concurrently processing multiple biological chip assays

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0408035A2 (de) * 1989-07-13 1991-01-16 Anritsu Corporation Hochauflösendes Mikroskopiersystem mit Konvolutionsintegrationsprozess
EP0440342A2 (de) * 1990-01-12 1991-08-07 The Regents Of The University Of California Lasererregter konfokaler Mikroskop-Fluoreszenzscanner und Verfahren
US5587832A (en) * 1993-10-20 1996-12-24 Biophysica Technologies, Inc. Spatially light modulated confocal microscope and method
US5631734A (en) * 1994-02-10 1997-05-20 Affymetrix, Inc. Method and apparatus for detection of fluorescently labeled materials
WO1998007022A1 (en) * 1996-08-16 1998-02-19 Imaging Research, Inc. A digital imaging system for assays in well plates, gels and blots

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Publication number Publication date
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JP2002537570A (ja) 2002-11-05

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