WO1991002968A1 - Appareil de mesure du deplacement a chaud de materiaux ceramiques - Google Patents

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WO1991002968A1
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laser
light
slit
displacement
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PCT/JP1990/001044
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Inventor
Teiichi Fujiwara
Toshisada Mimura
Toshiaki Hisanari
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Shinagawa Refractories Co., Ltd.
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/16Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal coefficient of expansion
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/342Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells the sensed object being the obturating part

Definitions

  • the present invention mainly uses a laser displacement measuring instrument to measure the displacement of ceramics or the like under high temperatures (for example, the coefficient of linear thermal expansion (hereinafter referred to as the coefficient of thermal expansion) or the amount of creep deformation). It relates to a hot displacement measurement device such as ceramics that automatically and accurately measures non-contact and non-contact.
  • a laser displacement measuring instrument to measure the displacement of ceramics or the like under high temperatures (for example, the coefficient of linear thermal expansion (hereinafter referred to as the coefficient of thermal expansion) or the amount of creep deformation). It relates to a hot displacement measurement device such as ceramics that automatically and accurately measures non-contact and non-contact.
  • FIG. 6 shows an example of such a device as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 60-39540.
  • This thermal expansion coefficient measuring device is composed of a displacement measuring device consisting of a force camera 22 and a camera control section 23 in which a solid-state scanning light receiving element is combined with a built-in lens system 21 and an illumination device 24.
  • the displacement of the sample is automatically measured in combination of the two sets.
  • the displacement of sample 8 in furnace 1 is illuminated by illumination device 24 in a direction perpendicular to the axis of sample 8, and new paper is added to sample 8.
  • the dark area where light is more obstructed and the light area where light reaches directly are magnified and projected by the telephoto lens 21 on the fixed scanning light receiving element surface, and displacement is measured based on the ratio of the light area and the dark area. It is.
  • the outputs of each camera control unit 23 (two units) are added and output as a digital output signal corresponding to the displacement.
  • This output and the digital output signal of the digital thermometer 13 are input to the computer 15 via the interface 14 to perform a storage operation, and the temperature and the temperature are calculated by the digital processor 16. This allows the relationship between the coefficients of thermal expansion to be plotted on a graph.
  • the measurement range of one camera 22 is about three assuming that the measurement resolution is 1 / m. Also, when two cameras 22 are used side by side to improve the measurement accuracy, two cameras are arranged side by side, so that only 80 rams and 80 thighs can be measured between the centers of the cameras.
  • a prism 25 is attached to the tip of the camera 22 as shown in FIG. 7 or “Ceramics etc.” in Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-72041 is disclosed.
  • 80 or less samples are measured with camera 22 facing.
  • the resolution of the fixed-scan photodetector camera 22 is limited to 1 m, and in the case of small samples, the amount of expansion is small, so recently, submicron order resolution is required.
  • the measurement range of one force meter 22 using a solid-state scanning light receiving element is about three bands, the sample There is a problem that a sample with a large s cannot be measured.
  • a laser transmitter of a laser displacement measuring device is arranged on the negative side of a sample heating furnace, and a laser is disposed on the opposite side.
  • the light receiving part is installed, and the inside of the measurement window is equipped with a slit hardware for preventing radiant heat in the furnace and radiant light inside the furnace, and a heat insulating material having a slit for preventing radiant heat in the furnace and radiant light inside the furnace inside the measuring window.
  • the laser light transmitting section and the laser light receiving section are respectively disposed on the end faces of the laser transmitting section and the laser receiving section, and the furnace radiating light preventing slit plate and the furnace radiating light reducing optical filter are provided.
  • FIG. 1 schematically shows an example of the apparatus of the present invention
  • Fig. 2a shows an in-furnace radiant light reducing filter and a preventing slit plate assembly attached to a laser transmitting and receiving port
  • Front view, Fig. 2b is a cross-sectional view taken along line C-C
  • Fig. 3 shows the voltage signal of the laser receiver
  • Fig. 4a shows the radiation light, heat insulation material for preventing radiant heat
  • FIG. 4 b is a cross-sectional view taken along line A-A
  • FIG. 5 shows an example of the measurement results obtained by the apparatus of the present invention
  • FIG. 6 shows a known example using a solid-state scanning light receiving element.
  • FIG. 7 schematically shows an example of a thermal expansion measuring device
  • FIG. 7 schematically shows an example of a known thermal expansion measuring device using a plism.
  • thermo expansion coefficient measuring device such as ceramics of the present invention
  • measurement windows are provided at both ends of the furnace core tube 7 supporting the sample 8 in the heating furnace 1.
  • ) 4 is provided to make the inside of the furnace core tube 7 airtight.
  • Exhaust ports 9 and gas inlets 10 are provided at both ends of the furnace core tube 7 to displace the sample 8 in various atmospheres. It can be measured.
  • a measurement window 4 a heat insulating material 6 having a furnace radiant heat prevention slit inside it, and a furnace radiant light prevention slit hardware 5 are provided, and the glass of the measurement window 4 is heated by the heat inside the furnace.
  • FIG. b A slit plate 30 for preventing radiation in the furnace and an optical filter 29 for reducing the radiation in the furnace as shown in the (cross-sectional view) are provided. Prevent the sample 8 from entering the optical section 3 and causing a displacement measurement error of the sample 8.
  • the in-furnace radiant light preventing slit plate 30 is provided with an in-furnace radiant light reducing slit 30 ', and the slit width is as described below, and an optical filter is provided. 29 is a new type of paper that is normally used A filter may be used, but a narrow band band-pass filter that allows only laser light to pass through is more desirable.
  • the displacement of sample 8 was measured by measuring the laser displacement on one side of the quartz window, which is parallel to both sides and attached to the opening at both ends of the furnace core tube 7.
  • the laser transmitter 2 of the detector is installed, the laser receiver 3 is installed in the measurement window (quartz glass) 4 on the opposite side, and the sample 8 is moved horizontally at a constant speed from the laser transmitter 2.
  • a laser beam scanned with a width longer than the length is emitted, when the laser beam is blocked by the sample 8, no voltage signal is generated in the laser receiving unit 3 as shown in Fig. 3A, and the laser beam is not emitted. If the voltage deviates from sample 8, a voltage signal is generated as shown in Fig. 3B.
  • the time when the laser beam is blocked by the sample 8 that is, the time of the voltage signal 0 of the laser light receiving unit 3 is electrically measured with high precision, and is digitally displayed on the display 12 and digitally. Outputs the output signal.
  • This output signal and the digital output signal of the digital thermometer 13 for measuring the sample temperature are input to the personal computer 15 via the interface 14, and stored and calculated. It makes the digital plotter 16 draw the relationship between temperature and coefficient of thermal expansion on a curve.
  • the measurement window (quartz glass) 4 attached to the opening at both ends of the furnace core tube 7 is distorted by the heat in the furnace, a lens effect is generated in the glass and the length of the sample 8 is increased. Is measured differently from the actual dimensions, causing large errors and not being able to measure with high accuracy.
  • the temperature is higher than 1 000 ° C, The radiated light from the part becomes stronger, and unnecessary light enters the laser receiving part 3 and the laser transmitting part 2, so that the dimensions of the sample cannot be measured accurately.
  • a slit hardware 5 and a heat insulating material 6 with a slit 11 for preventing radiant heat in the furnace and radiant light in the furnace 11 and a heat-insulating material 6 are provided, and the measurement window 4 is not distorted by heat in the furnace.
  • a slit 30 having a width of 1.0 to 1.5 times the laser beam width is provided in the light transmitting port 2 ′ of the laser transmitting section 2 and the light receiving section 3 ′ of the laser receiving section 3. ′,
  • an in-furnace radiant light reduction optical filter 29 that reduces the amount of radiant light to 1/2 to 1/10, respectively.
  • the radiant heat and radiant light from inside the furnace were made harder to enter the laser transmitter 2 and the laser receiver 3.
  • the heating furnace 1 and the furnace core tube 7 expand due to heat.
  • the center of the laser beam may be displaced from the center of the slit, and the laser beam may be cut even by the slit hardware 5 and the heat insulating material 6, and the displacement measurement may not be possible.
  • the width of the slit is more than 7 times the width of the laser beam, the radiant heat is transmitted to the measurement window glass 4 and the measurement window glass 4 is distorted by the heat. A large amount of such unnecessary light enters the laser transmitter 2 and laser receiver 3 and causes a large error in displacement measurement.
  • the width of the slit 30 ′ of the in-furnace radiated light prevention slit plate 30 provided in the light transmitting port 2 ′ of the laser light transmitting section 2 and the light receiving section 3 ′ of the laser light receiving section 3 is limited to the width of the laser beam. If the width is less than 1.0 times, the laser beam is weakened and displacement measurement cannot be performed. If the width exceeds 1.5 times, the effect of preventing radiation inside the furnace is small.
  • optical filters disposed in the light transmitting port 2 'and the light receiving port .3' are those which reduce the amount of radiation in the furnace and the laser beam at the same ratio, or select only the laser beam.
  • an optical filter having a characteristic of selectively passing and reducing the amount of radiation in the furnace may be used.
  • the fixed hardware 17 of the measurement window 4 has a water-cooled structure by attaching a water-cooled pipe 18 as shown in Fig. 4, and the radiation-prevention slit hardware 5 for the measurement window 4 has a thermal conductivity. It is made of a high metal material and is placed inside the furnace of the measuring window (quartz glass) 4 and is in contact with the fixed hardware 17 to enhance the cooling effect and completely prevent the temperature of the measuring window (quartz glass) 4 from rising. .
  • the temperature of the measurement window 4 does not rise and therefore does not distort, so that no lens effect occurs, and the incidence of unnecessary light in the furnace on the laser transmitting section 2 and the laser receiving section 3 is minimized. In this way, the displacement of the sample can be measured with high accuracy.
  • a measuring window glass made of quartz glass with a thickness of 3 mm and having both surfaces parallel to each other is disposed on the measuring window 4 of the apparatus of the present invention shown in FIG. 1, and an aluminum sample having a width of 10 mm is placed in the furnace core tube 7.
  • mm, height 10 mm, length Set the 40 thighs and flow inert gas at 1 minute per minute.Measuring range 0.5 to 55 thighs, distance between transmitter 2 and light receiver 3 700 thighs
  • Radiation light and radiant heat-preventive insulation material (6) and radiant light-preventive slit hardware (5) are installed inside the furnace core tube (7) at the measurement windows (4) at both ends.
  • a filter that selectively passes the laser beam and reduces the radiation inside the furnace was installed, and the data was acquired at a heating rate of 4 per minute and at a rate of 5 from room temperature to 180 CTC at 5 times.
  • FIG. 5 shows the effect of performing an arithmetic operation and having the digital plotter 16 write the relationship between the temperature and the coefficient of thermal expansion.
  • the present invention mainly uses a laser displacement measuring device to measure the displacement of a ceramic or the like under a high temperature (for example, the coefficient of linear thermal expansion (hereinafter referred to as the coefficient of thermal expansion) or the amount of creep deformation). It is particularly useful for hot displacement measurement of ceramics, etc., which automatically and accurately measure by contact.
  • a high temperature for example, the coefficient of linear thermal expansion (hereinafter referred to as the coefficient of thermal expansion) or the amount of creep deformation.

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Description

明 細 書
セラ ミ ッ ク ス等の熱間における変位測定装置
技 術 分 野
本発明は主にセラ ミ ッ ク ス等の高温下での変位 〔た と えば熱間線膨張率 (以下熱膨張率という) あるいはク リ ープ変形量等〕 を レ ーザ変位測定器を使い、 非接触で精 度良 く 自動測定するセラ ミ ッ ク ス等の熱間における変位 測定装置に関する ものである。
背 景 技 術
フ ァ イ ンセ ラ ミ ッ ク ス、 耐火物、 陶磁器、 ガラ ス、 ま たは、 これら と金属 との複合材料等のセラ ミ ッ ク あるい は各種金属の熱膨張率は熱間で使用される窯炉の内張り 耐火物の膨張代決定等の指針となる極めて重要な特性で ある。 従来技術と して、 発明の名称 「熱膨張率測定装置」 (特開昭 60— 3 95 40号公報) 、 発明の名称 「セラ ミ ッ ク ス等の熱間における変位測定装置」 (特開昭 6 1— 7452号 公報) 、 発明の名称 「セラ ミ ッ ク ス等の熱間における変 位測定装置」 (特開昭 6 1 - 1 7204 1号公報) 等がある。
こ れ らの一例 と して特開昭 60— 3 95 40号公報の熱膨張 率測定装置」 を第 6 図に示す。 この熱膨張率測定装置は、 固体走査受光素子を内蔵レ ンズ系 2 1と組合せた力 メ ラ 22 とカ メ ラ コ ン ト ロ ール部 23よ り なる変位測定装置と照明 装置 24を各 2 組組合わせて試料の変位を自動的に測定す る ものである。 加熱炉 1 内の試料 8 の変位は、 試料 8 の 軸に対して直角方向よ り照明装置 24で照明 し、 試料 8 に 新たな用紙 よ り光がさえぎられた暗部と光が直接届 く 明部を固定走 査受光素子面に望遠レ ン ズ 2 1によ り拡大投影し、 明部と 暗部の比率よ り変位を計測する ものである。 この場合各 カ メ ラ コ ン ト ロ ールユニ ッ ト 23 ( 2 台) の出力を加算し て変位に応じたディ ジタル出力信号で出力する。
この出力 とディ ジタル温度計 1 3のディ ジタル出力信号 をィ ンタ ー フェイ ス 1 4を介してコ ン ピュー夕 1 5に入力 し 記憶演算を行わせディ ジタルプロ ッ 夕 1 6によ り温度と熱 膨張率の関係をグラ フ に書かせる ものである。
しかし、 こ の方法では、 カ メ ラ 22の 1 台の測定範囲は 測定分解能を 1 / m と した場合、 3 隨程度である。 また 測定精度を上げるためカ メ ラ 22を 2 台使用 して測定する ため 2 台並べた場合、 カ メ ラ中心間で 80 ramあ り試料寸法 は 80腿以上の もの しか測定できない。
最近、 フ ァ イ ン セ ラ ミ ッ ク ス等の開発に と もない、 小 型試料での測定が要望されている。 これに対応するため カ メ ラ 22の先端に第 7 図のよ う にプ リ ズム 25を取 り付け るか、 特開昭 6 1— 1 7204 1号公報の 「セラ ミ ッ ク ス等の熱 間における変位測定装置」 に記載している よ う にカ メ ラ 22を対向させて 80隨以下の試料の測定を行っている。 し かし、 固定走査受光素子カ メ ラ 22の分解能は 1 m が限 度であ り、 小型試料の場合、 膨張量が小さ いため、 最近 では、 サブ ミ ク ロ ンオーダーの分解能が要求されている また、 固体走査受光素子を使った力 メ ラ 22の 1 台の測 定範囲は 3 匪程度であるため、 異常膨張する試料や収縮 s の大きな試料が測定出来ない という 問題がある。
発 明 の 開 示
本発明は、 従来技術での固体走査受光素子を使用 した カ メ ラ の代 り に、 試料加熱炉のー側に レーザ変位測定器 の レーザ送光部を配設し、 その対向側に レ ーザ受光部を 配設し、 計測窓の内側に炉内輻射熱及び炉内輻射光防止 ス リ ッ ト金物及びその内側に炉内輻射熱及び炉内輻射光 防止ス リ ッ トを有する断熱材をそれぞれ配設し、 内蔵す る と共に、 前記 レ ーザ送光部と前記レ ーザ受光部それぞ れの端面に炉内輻射光防止ス リ ッ ト板と炉内輻射光低減 光学フ ィ ルタ ーを配設 し、 炉内の光及び熱の影響による 計測誤差をな く して (必要に応じて試料加熱炉炉芯管内 を各種雰囲気で置換する こ とが出来る。 又セラ ミ ッ ク ス 等の小型試料の変位測定が可能である。 ) 0 . 5 m 以下 の分解能で測定可能なこ とを特徴とするセ ラ ミ ッ ク ス等 の熱間における変位測定装置にある。
図面の簡単な説明
第 1 図は本発明装置の一例を略図的に示し、 第 2 図 a は レ ーザ送光口及び受光口 に取り付ける炉内輻射光低減 フ ィ ルタ ー及び防止ス リ ッ ト板組立体の正面図、 第 2 図 b はその C一 C断面図、 第 3 図は レ ーザ受光部の電圧信 号を示し、 第 4 図 a は輻射光、 輻射熱防止用断熱材及び 計測窓固定金物の一例を示す縦断面図、 第 4 図 b は A - A断面図であ り、 第 5 図は本発明装置による測定結果の 一例を示 し、 第 6 図は固体走査受光素子を用いた公知の 熱膨張測定装置の一例を略図的に示し、 第 7 図はプ リ ズ ムを使用 した公知熱膨張測定装置の一例を略図的に示す, 発明を実施するための最良の形態
本発明のセラ ミ ッ ク ス等の熱間における変位測定装置 を熱膨張率測定装置に適用 した具体例を第 1 図に基いて 詳述する。
小寸法の試料をサブ ミ ク ロ ンオーダーの分解能で精度 良 く 変位を計測する方法と して、 加熱炉 1 内の試料 8 を 支持する炉芯管 7 の両端部に計測窓 (石英ガラ ス) 4 を 設けて炉芯管 7 内を気密にでき る構造と し、 炉芯管 7 の 両端に排気口 9 及びガス導入口 1 0を設けて、 各種の雰囲 気で試料 8 の変位を測定でき る よ う に した ものである。 また計測窓 4 及びその内側に炉内輻射熱防止ス リ ッ トを 有する断熱材 6 、 炉内輻射光防止ス リ ッ ト金物 5 を配設 し、 炉内の熱によ り計測窓 4 のガラスが歪み、 誤差にな るのを防 ぐ と共に、 レーザ送光部 2 の送光口 2 ' と レ ー ザ受光部 3 の受光ロ 3 ' それぞれの端面に、 第 2 図 a (正面図) 及び b (断面図) に示す如き炉内輻射光防止 ス リ ッ ト板 30及び炉内輻射光低減光学フィ ルタ ー 29を配 設し、 高温測定時に炉内光がレーザ送光部 2 、 レーザ受 光部 3 に入射して試料 8 の変位計測誤差になるのを防止 してレ、る。
前記炉内輻射光防止ス リ ッ ト板 30は炉内輻射光低減ス リ ッ ト 30 ' が設けてあ り、 該ス リ ッ ト幅は後述の とお り であ り、 光学フ ィ ルタ一 29は通常用い られている減光フ 新たな用紙 ィ ルターでも よいがレ ーザ光のみを通過させる狭帯域バ ン ドバスフ ィ ルタ一がよ り望ま しい。
試料 8 の変位は第 1 図に示すよ う に、 炉芯管 7 の両端 開口部に取付けた両面が平行で面が平滑な計測窓 (石英 ガラ ス) 4 の一側に レ ーザ変位測定器の レーザ送光部 2 を配設し、 対向側の計測窓 (石英ガラス) 4 に レーザ受 光部 3 を配設し、 レ ーザ送光部 2 よ り一定速度で水平に 試料 8 の長さ以上の幅で走査した レーザビームを発射す る と、 試料 8 によって レ ーザビームがさえぎ られた時は レーザ受光部 3 には第 3 図 Aのよ う に電圧信号は発生せ ず、 レ ーザビームが試料 8 から外れた場合は第 3 図 Bの よ う に電圧信号が発生する。 変位計測は試料 8 によって レ ーザビームがさえぎ られている時間、 すなわち、 レー ザ受光部 3 の電圧信号 0 の時間を電気的に高精度で測定 し、 表示器 1 2にディ ジタル表示する と共にディ ジタル出 力信号を出力する。 こ の出力信号と試料温度測定用ディ ジ夕 ル温度計 1 3のディ ジタル出力信号をィ ン夕 ーフェイ ス 1 4を介 してパー ソナルコ ン ピュータ 1 5に入力 し、 記憶 演算を行なわせ、 ディ ジタルプロ ッタ 1 6に温度と熱膨張 率の関係を曲線に書かせるのである。
本発明装置において炉芯管 7 の両端の開孔部に取付た 計測窓' (石英ガラ ス) 4 が炉内の熱によ り歪んだ場合に ガラ スに レ ンズ効果を生じ試料 8 の長さが実際の寸法よ り異つて計測され、 大きな誤差を生じ、 高精度の計測が できない。 また、 1 000 °C以上の高温時には炉芯管 7 の内 部からの放射光が強 く な り、 不要の光がレーザ受光部 3 及びレーザ送光部 2 に入 り、 試料の寸法を正確に測定で きな く なる。 これを防止するために熱膨張係数の小さい 石英ガラ スで、 レ ンズ効果のないガラスの両面が平行な 計測窓ガラ スを使用 し、 計測窓 4 の内側に レーザビーム の幅の 1 . 2 〜 7 倍の炉内輻射熱並びに炉内輻射光防止ス リ ッ ト 1 1を有するス リ ッ ト金物 5 並びに断熱材 6 を配設 し、 計測窓 4 に炉内の熱による歪を起こ さない構造とす る と共に、 レ ーザ送光部 2 の送光口 2 ' と レーザ受光部 3 の受光ロ 3 ' に レーザビーム幅の 1 . 0 〜 1 . 5倍の幅を 有するス リ ッ ト 30 ' を備えた炉内輻射光防止ス リ ッ ト板 30と炉內輻射光光量を 1 / 2 〜 1 / 1 0に減少させる炉内輻射 光低減光学フ ィ ルタ ー 29をそれぞれ配設し、 レーザ送光 部 2 及び レ ーザ受光部 3 へ炉内からの輻射熱及び輻射光 が入 り に く く した ものである。
ス リ ツ ト金物 5 並びに断熱材 6 の輻射熱並びに輻射光 防止ス リ ッ ト 1 1の幅がレーザビームの幅 1 . 2倍以下では 加熱炉 1 及び炉芯管 7 等が熱によ り膨張した場合 レーザ ビームの中心とス リ ッ トの中心がずれレーザビームがス リ ッ ト金物 5 並びに断熱材 6 でさえ切 られ変位測定が出 来な く なる場合がある。 またス リ ッ ト の幅が レーザビ一 ムの幅の 7 倍よ り広い と輻射熱が計測窓ガラス 4 に伝わ り熱によ り計測窓ガラス 4 が歪曲 し、 測定誤差が出る と 共に炉内か らの不要な光がレ ーザ送光部 2 及びレーザ受 光部 3 に多量に入 り変位測定の大きな誤差の原因になる また、 レーザ送光部 2 の送光口 2 ' と レーザ受光部 3 の受光ロ 3 ' に設けた炉内輻射光防止ス リ ッ ト板 30のス リ ッ ト 30 ' の幅が、 レーザビーム幅の 1 . 0倍未満では レ 一ザビームを弱め変位計測ができず、 1 . 5倍を超える と 炉内輻射光を防止する効果が少ない。
また、 前記送光口 2 ' と受光口 .3 ' に配設する光学フ ィ ル夕一は炉内輻射光及びレーザビームを同 じ割合で通 過量を減少させる もの、 あるいは レーザビームのみを選 択的に通過させ、 炉内輻射光の通過量を減少させる特性 を有する光学フィ ルタ一でも よい。
また、 計測窓 4 の固定金物 1 7は、 第 4 図のよ う に水冷 パイ プ 1 8を取付て水冷構造と し、 計測窓 4 用輻射光防止 ス リ ッ ト金物 5 を熱伝導率の高い金属材料と し、 計測窓 (石英ガラス) 4 の炉内側に配設し、 固定金物 1 7に接触 させ冷却効果を高め計測窓 (石英ガラス) 4 の温度上昇 を完全に防止する ものである。
これによ り計測窓 4 は温度上昇せず、 したがって歪曲 しないため レ ンズ効果も生じず、 レーザ送光部 2 及びレ ーザ受光部 3 へは炉内の不要な光の入射を最小限に と ど め、 高精度で試料の変位を測定でき る よ う に した もので ある。
実 施 例
第 1 図に示す本発明装置の計測窓 4 に厚さ 3 讓の石英 ガラスでガラスの両面が平行な計測窓ガラスを配設し、 炉芯管 7 内にアル ミ ナ質試料で幅 1 0 mm、 高さ 1 0 mm、 長さ 40腿 の ものをセッ ト して不活性ガスを毎分 1 流し測 定範囲 0.5 〜 55腿、 送光部 2 、 受光部 3 間の距離 700腿 の レーザ変位測定器を使用 して炉芯管 7両端の計測窓 4 の炉芯管 7 の内部にそれぞれ幅 2 腿、 長さ 60匪のス リ ツ トを有する輻射光並びに輻射熱防止断熱材 6 及び輻射光 防止ス リ ッ ト金物 5 を取付け、 更に、 レーザ送光部 2 の 送光口 2 ' 及びレーザ受光部 3 の受光ロ 3 ' にそれぞれ 幅 1.2 mm、 長さ 55mmのス リ ッ ト 30 ' を有するス リ ッ ト板 30と、 レーザビームを選択的に通過させ炉内輻射光を低 減させる フ ィ ルタ 一 29を取付け、 昇温速度を毎分 4 でで、 常温か ら 180CTCまでの間 5 で毎にデータを取り込み、 記 憶演算し、 ディ ジタルプロ ッタ 16に温度と熱膨張率の関 係を書かせた効果を第 5 図に示す。
産業上の利用可能性
本発明は主にセラ ミ ッ クス等の高温下での変位 〔た と えば熱間線膨張率 (以下熱膨張率という) あるいはク リ ープ変形量等〕 をレーザ変位測定器を使い、 非接触で精 度良 く 自動測定するセラ ミ ッ ク ス等の熱間における変位 測定に特に有用である。
新たな ^^

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 被測定試料加熱炉を貫通して炉芯管を配設し、 該 炉芯管の 1 側外方に レーザ変位測定器の レーザ送光部を、 他側外方に レ ーザ変位測定器の レーザ受光部を夫々 配設 し、 前記炉芯管両端面に設けた計測窓の内側に炉内輻射 熱及び炉内輻射光防止ス リ ッ ト金物及び該ス リ ッ ト金物 の内側に炉内輻射熱及び炉内輻射光防止ス リ ッ トを有す る断熱材を夫々 配設、 内蔵する と共に、 前記レーザ送光 部と前記レ ーザ受光部それぞれの端面に炉內輻射光防止 ス リ ッ ト と光学フ ィ ルタ 一を配設する こ とを特徴とする セラ ミ ッ ク ス等の熱間における変位測定装置。
2 . 前記レーザ変位測定器がレーザビーム走査方式で ある請求の範囲第 1 項記載のセラ ミ ッ ク ス等の熱間にお ける変位測定装置。
3 . 前記試料加熱炉炉芯管を気密構造と し、 各種雰囲 気と し う る雰囲気ガス給 · 排気管を設けた請求の範囲第 1 項記載のセラ ミ ッ ク ス等の熱間における変位測定装置。
4 . 前記炉内輻射熱防止断熱材及び計測窓ガラス部に 設けた炉内輻射熱及び炉内輻射光防止ス リ ッ ト の幅がレ 一ザビーム幅の 1 . 2 〜 7 倍の幅を有する請求の範囲第 1 項記載のセラ ミ ッ ク ス等の熱間における変位測定装置。
5 . 前記レ ーザ送光部及びレーザ受光部に配設した炉 内輻射光防止ス リ ッ トが、 レーザビーム幅の 1 . 0 〜 1 . 5 倍の幅を有する請求の範囲第 1 項記載のセ ラ ミ ッ ク ス等 の熱間における変位測定装置。
6 . 前記計測窓ガラスが炉からの輻射熱によって歪曲 し、 計測誤差をまね く のを防 ぐため、 冷却構造を計測窓 ガラスに設けた請求の範囲第 1 項記載のセラ ミ ッ ク ス等 の熱間における変位測定装置。
7 . 前記計測窓ガラスが耐熱性が高 く 、 熱膨張係数の 小さい石英ガラ スで、 ガラ スの両面が平行な計測窓ガラ スを有する請求の範囲第 1 項記載のセラ ミ ッ ク ス等の熱 間における変位測定装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2704059A3 (fr) * 1993-04-16 1994-10-21 Creusot Loire Dispositif de détermination de la localisation d'un bord d'un objet rayonnant.

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5350899A (en) * 1992-04-15 1994-09-27 Hiroichi Ishikawa Semiconductor wafer temperature determination by optical measurement of wafer expansion in processing apparatus chamber
JPH10261678A (ja) * 1997-03-18 1998-09-29 Fujitsu Ltd 製品の耐熱性を試験する試験装置および方法
DE19748088A1 (de) * 1997-10-30 1999-05-12 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen einer Fehllage einer Halbleiterscheibe
DE10052631C1 (de) * 2000-10-24 2002-04-04 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Prüfung von einem durch Anlegen eines elektrischen und/oder magnetischen Feldes formändernden Material
DE10136513B4 (de) * 2001-07-26 2007-02-01 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Messung von temperaturbedingten Längenänderungen eines Piezoaktors
US7742663B2 (en) * 2007-10-30 2010-06-22 United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Wave energy transmission apparatus for high-temperature environments
US8083399B2 (en) * 2008-06-28 2011-12-27 The Boeing Company Method for fabricating thermal effect standards
US8519337B2 (en) * 2008-06-28 2013-08-27 The Boeing Company Thermal effect measurement with near-infrared spectroscopy
US8552382B2 (en) * 2008-08-14 2013-10-08 The Boeing Company Thermal effect measurement with mid-infrared spectroscopy
JP6175419B2 (ja) * 2014-09-04 2017-08-02 株式会社ノリタケカンパニーリミテド 評価装置
CN109490307B (zh) * 2019-01-24 2023-11-03 沈阳工程学院 基于小孔成像测量金属线胀系数的装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61172041A (ja) * 1985-01-28 1986-08-02 Shinagawa Refract Co Ltd セラミツク等の熱間における変位測定装置
JPS62109315A (ja) * 1985-11-07 1987-05-20 Koyo Rindobaagu Kk 光加熱処理装置
JPH01272950A (ja) * 1988-04-25 1989-10-31 Shinagawa Refract Co Ltd セラミツクス等の熱間における変位測定装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2198636A5 (ja) * 1972-09-06 1974-03-29 France Etat
JPH0721472B2 (ja) * 1986-12-11 1995-03-08 品川白煉瓦株式会社 セラミックスの熱間における変位測定装置
US5121987A (en) * 1989-03-02 1992-06-16 Honeywell Inc. Method and apparatus for measuring coefficient of thermal expansion

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61172041A (ja) * 1985-01-28 1986-08-02 Shinagawa Refract Co Ltd セラミツク等の熱間における変位測定装置
JPS62109315A (ja) * 1985-11-07 1987-05-20 Koyo Rindobaagu Kk 光加熱処理装置
JPH01272950A (ja) * 1988-04-25 1989-10-31 Shinagawa Refract Co Ltd セラミツクス等の熱間における変位測定装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP0540739A4 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2704059A3 (fr) * 1993-04-16 1994-10-21 Creusot Loire Dispositif de détermination de la localisation d'un bord d'un objet rayonnant.

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