JPS63148154A - セラミツクス等の熱間における変位測定装置 - Google Patents

セラミツクス等の熱間における変位測定装置

Info

Publication number
JPS63148154A
JPS63148154A JP29334886A JP29334886A JPS63148154A JP S63148154 A JPS63148154 A JP S63148154A JP 29334886 A JP29334886 A JP 29334886A JP 29334886 A JP29334886 A JP 29334886A JP S63148154 A JPS63148154 A JP S63148154A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
laser beam
laser
displacement
ceramics
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP29334886A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0721472B2 (ja
Inventor
Teiichi Fujiwara
藤原 禎一
Toshisada Mimura
三村 歳貞
Yukihiro Irie
入江 幸宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinagawa Refractories Co Ltd
Original Assignee
Shinagawa Refractories Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinagawa Refractories Co Ltd filed Critical Shinagawa Refractories Co Ltd
Priority to JP61293348A priority Critical patent/JPH0721472B2/ja
Publication of JPS63148154A publication Critical patent/JPS63148154A/ja
Publication of JPH0721472B2 publication Critical patent/JPH0721472B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は主にセラミックス等の高温下での変位゛〔たと
えば、熱間線膨張率〔以下熱膨張率という〕あるいはク
リープ変形量等〕をレーザ変位測定器を使い非接触で精
度良く自動測定するセラミックス等の熱間における変位
測定装置に関するものである。
従来技術 ファインセラミックス、耐火物、陶磁器、ガラスまたは
これらと、金属との複合材料等のセラミックスあるいは
各種金属の熱膨張率、特に耐火物の熱膨張率は熱間で使
用される窯炉の内張り耐火物の膨張代決定等の指針とな
る極めて重要な特性である。
従来技術として、発明の名称「熱膨張率測定装置」〔特
開昭60−39540号公報〕、発明の名称[セラミッ
ク等の熱間における変位測定装置」(特開昭61−74
52号公報)、発明の名称「セラミック等の熱間におけ
る変位測定装置」(特開昭61−172041号公報〕
等がある。
これらの−例として特開1160−39540号公報の
「熱膨張率測定装置」を第5図に示す。この熱膨張率測
定装置は、固体走査受光素子を内蔵し、レンズ系8と組
合せたカメラ9とカメラコントロール部lOよpなる変
位測定装置と照明装置4を各2組組合せて、試料の変位
を自動的に測定するものである。加熱炉1内の試料2の
変位は、試料2の軸に対して直角方向よシ照明装置4で
照萌し、試料2によシ光がさえぎられた暗部と光が直接
届く明部を固体走査受光素子面に望遠レンズ8により拡
大投影し、明部と暗部の比率より変位を計画するもので
ある。
この場合各カメラコントロールユニット10の出力を加
算して、変位に応じたディジタル出力信号で出力する。
この出力とディジタル温度計6のディジタル出力信号を
インターフェイス12を介してコンピュータ13に入力
し、記憶演算を行わせディジタルプロッタ14により温
度と熱膨張率の関係をグラフに書込ませるものである。
発明が解決しようとする問題点 しかし、この方法ではカメラ9の1台の測定範囲は測定
分解能を1μmとした場合3 xx程度である。また測
定精度を上げるためカメラ9を2台使用して測定するた
め2台並べた場合、カメラ中心間で80tnあシ試料寸
法は80m以上のものしか測定できなり0 最近ファインセラミックス等の開発にともない小型試料
での測定が要望されている。これに対応するためカメラ
9の先端に第6図のようにプリズム15を取り付けるか
、特開昭61−172041号公報の「セラミック等の
熱間における変位測定装置」に記載しているように、カ
メラ9を対向させて80龍以下の試料の測定を行ってい
る。しかし固体走査受光素子カメラ90分解能は1μm
が限度であり、小型試料の場合膨張量が小さいため最近
ではサブミクロンオーダーの分解能が要求されている。
また固体走査受光素子を使ったカメ29の1台の測定範
囲は3n程度であるため異常膨張する試料や収縮の大き
な試料が測定出来ないという問題がある。
問題点を解決する手段 本発明の要旨とするところは、従来技術での固体走査受
光素子を使用したカメラの代りに第1図に示すように試
料加熱炉1の一側にレーザ変位測定器の送光部16を配
設し、その対向側にレーザ受光部17を配設し、計測窓
に断面構造がクサビ形をしたガラスを使い、試料加熱炉
炉芯管21内を各種雰囲気でセラミックス等の小型試料
の変位測定が0.5μm以下の分解能で可能なことを特
徴とするセラミックス等の熱間における、変位測定装置
にある。
本発明のセラミックス等の熱間における変位測定装置を
熱膨張率測定装置に適用した具体例を第1図に基いて詳
述する。
小寸法の試料をサブミクロンオーダーの分解能で精度良
く変位を計測する方法として、加熱炉1内の試料2を支
持する炉芯管210両端部に計画窓(石英ガラス)19
を設けて炉芯管21内を気密にできる構造とし、炉芯W
21の両端に排気口22及びガス導入口23を設けて、
各種の雰囲気で試料2の変位を測定できるようにしたも
のである。
試料2の変位は第1図に示すように炉芯管21の両端開
口部に取付た断面がクサビ形をした計画窓(石英ガラス
)19の一側にレーザ変位測定器のレーザ送光部16を
配設し、対向側の計測窓(石英ガラス〕19にレーザ受
光部17を配設し、レーザ送光部16よシ一定速度で水
平に試料2の長さ以上の幅で走査したレーザビームを発
射すると、試料2によってレーザビームがさえ切られた
時はレーザ受光部17には第2図Aのように電圧信号は
発生せず、レーザビームが試料から外れた場合はBのよ
うに電圧信号が発生する。変位計測は試料2によってレ
ーザビームがさえぎられている時間、すなわち、レーザ
受光部17の電圧信号00時間を電気的に高精度で測定
し、表示器18にデジタル表示すると共にディジタル出
力信号を出力する。この出力信号と試料温度測定用ディ
ジタル温度計6のディジタル出力信号をイ/ターフエイ
ス12を介してパーソナルコンピュータエ3に入力し記
憶演算を行なわせ、ディジタルプロッタ14に温度と熱
膨張率の関係を曲線に書かせるものである。
本発明装置において炉芯管21の両端の開孔部に取付た
計測窓(石英ガラス)19の断′rkJ構造はクサビ形
にする理由としては、石英ガラスの断面が平行な場合石
英ガラス面に対してレーザ光が直角に入射すると石英ガ
ラス内部で一部のレーザ光が反射し、石英ガラスを直接
通過しレーザ受光部17に届く主レーザ光と石英ガラス
内で反射し時間的に主レーザ光よシ遅れてレーザ受光部
17に入るレーザ光が生じ試料の長さが正確に測定出来
ない。
石英ガラス断面をクサビ形にすることKよpレーザ光を
石英ガラス面に対して角度を持たせて入射させることK
よシ石英ガラス内で反射したレーザ光を主光路外に出し
、レーザ受光部17に入射させないようにすることによ
シ測定精度を上げたものである。
石英ガラスのクサビ形断面の角度はあまり小さいと目的
の効果がなく反対に大きすぎると、レーザ送光部と、レ
ーザ受光部の位置関係、すなわち、芯出しが困難になる
。したがって角度としては1〜5度が望ましい。
また石英ガラスの配設はレーザ光軸に対し第3図に示す
如く石英ガラスのクサビ形断面角度を対称とすることが
好ましい。
また加熱炉炉芯管内は温度上昇によシ対流がおζリレー
ザ光にゆらぎが発生する場合がある、この原因としては
雰囲気ガスの部分的な温度差による密度の相違により光
の屈折率が異なるためであシ、この場合の対策として炉
芯管内を気密にする構造にし余分な空気の出入シをなく
シ、場合によっては減圧することによシゆらぎを防ぐこ
とで高精度の測定が可能になる。
冥施例 第1図に示す本発明装置の計測窓19にクサビ形断面角
度2度の石英ガラスを配設し、加熱炉炉芯管21内にア
ルミナ質、試料で幅LO+x、高さ1011m、長さ4
0朋のものをセットして真空ポンプ20テlO*vtH
yに減圧し測定範囲0.5〜55朋、送光部16、受光
部17間の距離700mxのレーザ変位測定器を使用し
て、昇温速度を毎分40Cで、常温から1600’Cま
での間56C毎にデータを取シ込み温度と熱膨張率の関
係を書かせた結果を第4図に示す。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の一例を略図的に示し、第2図はレ
ーザ受光部の電圧記号を示し、第3図はクサビ形ガラス
の断面図の一例を示し、第4図は本発明装置による測定
結果の一例を示し、第5図は固体走査受光素子を用いた
熱膨張測定装置の一例を略図的に示し、第6図はプリズ
ムを使用した熱膨張測定装置の一例を略図的に示す。 図中、1:加熱炉、2:試料、3:発熱体。 4:照明装置、5:熱電対、6;ディジタル温度肘、7
:フイルター、8:望遠レンズ、9:固体走査受光素子
カメラ、10:コントロールユニット、11ニオシロス
コープ、12:インターフェイス、13:コンピュータ
、14:デイジタルブロック、15ニブリズム、16:
レーザ寸法測定器レーザ送光部、17:レーザ寸法測定
器レーザ受光部、18:表示器、19:計測窓、2o:
真空ポンプ、21:炉芯管222:排気口、23:ガス
導入口、24:レーザ光。 第2図 時間 第3図 1度(°C)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料加熱炉の一側にレーザ変位測定器のレーザ送
    光部を配設し、対向側にレーザ受光部を配設したことを
    特徴とするセラミックス等の熱間における変位測定装置
  2. (2)前記試料加熱炉の計測窓ガラスの断面がクサビ形
    をしたガラスからなる特許請求の範囲第1項記載のセラ
    ミックス等の熱間における変位測定装置。
  3. (3)前記試料加熱炉炉芯管内を気密構造とした特許請
    求の範囲第1項記載のセラミックス等の熱間における変
    位測定装置。
  4. (4)前記試料加熱炉炉芯管内を特定雰囲気としうる構
    成とした特許請求の範囲第1項記載のセラミックス等の
    熱間における変位測定装置。
JP61293348A 1986-12-11 1986-12-11 セラミックスの熱間における変位測定装置 Expired - Fee Related JPH0721472B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61293348A JPH0721472B2 (ja) 1986-12-11 1986-12-11 セラミックスの熱間における変位測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61293348A JPH0721472B2 (ja) 1986-12-11 1986-12-11 セラミックスの熱間における変位測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63148154A true JPS63148154A (ja) 1988-06-21
JPH0721472B2 JPH0721472B2 (ja) 1995-03-08

Family

ID=17793633

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61293348A Expired - Fee Related JPH0721472B2 (ja) 1986-12-11 1986-12-11 セラミックスの熱間における変位測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0721472B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4924477A (en) * 1989-01-24 1990-05-08 Eastman Kodak Company Assembly and method for determining the coefficient of thermal expansion of a workpiece
EP0540739A1 (en) * 1989-08-21 1993-05-12 Shinagawa Refractories Co., Ltd. Device for measuring displacement of ceramic materials while they are hot

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4970649A (ja) * 1972-10-02 1974-07-09
JPS5030469A (ja) * 1973-07-17 1975-03-26
JPS5336262A (en) * 1976-09-16 1978-04-04 Gakei Denki Seisakusho Method of and apparatus for measuring thermal expansion
JPS6039540A (ja) * 1983-08-15 1985-03-01 Shinagawa Refract Co Ltd 熱膨張率測定装置
JPS60231146A (ja) * 1984-05-01 1985-11-16 Rigaku Denki Kk 熱膨張率測定装置
JPS617452A (ja) * 1984-06-22 1986-01-14 Shinagawa Refract Co Ltd セラミツク等の熱間における変位測定装置
JPS61172041A (ja) * 1985-01-28 1986-08-02 Shinagawa Refract Co Ltd セラミツク等の熱間における変位測定装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4970649A (ja) * 1972-10-02 1974-07-09
JPS5030469A (ja) * 1973-07-17 1975-03-26
JPS5336262A (en) * 1976-09-16 1978-04-04 Gakei Denki Seisakusho Method of and apparatus for measuring thermal expansion
JPS6039540A (ja) * 1983-08-15 1985-03-01 Shinagawa Refract Co Ltd 熱膨張率測定装置
JPS60231146A (ja) * 1984-05-01 1985-11-16 Rigaku Denki Kk 熱膨張率測定装置
JPS617452A (ja) * 1984-06-22 1986-01-14 Shinagawa Refract Co Ltd セラミツク等の熱間における変位測定装置
JPS61172041A (ja) * 1985-01-28 1986-08-02 Shinagawa Refract Co Ltd セラミツク等の熱間における変位測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4924477A (en) * 1989-01-24 1990-05-08 Eastman Kodak Company Assembly and method for determining the coefficient of thermal expansion of a workpiece
EP0540739A1 (en) * 1989-08-21 1993-05-12 Shinagawa Refractories Co., Ltd. Device for measuring displacement of ceramic materials while they are hot

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0721472B2 (ja) 1995-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0145115B1 (en) Thermal deformation measuring system of ceramics and the like
US4619533A (en) Tuyere pyrometer
US5209569A (en) Apparatus for measuring thermal dimensional change of ceramics or the like
WO2008064113A2 (en) Thermally compensated dueal-probe fluorescence decay rate temperature sensor and method of use
JPS63148154A (ja) セラミツクス等の熱間における変位測定装置
JPS617452A (ja) セラミツク等の熱間における変位測定装置
JPH01272950A (ja) セラミツクス等の熱間における変位測定装置
US3157728A (en) Method and means for measuring high temperatures
JPS6039540A (ja) 熱膨張率測定装置
JPS61172041A (ja) セラミツク等の熱間における変位測定装置
JP3600873B2 (ja) 基板温度測定ユニット
JPH04132944A (ja) 熱膨張係数測定方法と装置
JP3202183B2 (ja) レーザ光を用いたスケール及び測長方法
RU2189029C1 (ru) Измеритель дымности теплоэнергетических установок
JP3619851B2 (ja) レーザビームを利用した直線計の精度向上方法。
JPH056360U (ja) セラミツクス等の熱間における変位測定装置
JP4225538B2 (ja) 熱間変位測定装置
JPH0566550U (ja) セラミックス等の熱間における変位測定装置
JPH08233542A (ja) 加熱または冷却状態の試料用の非接触変位計
Ruffino et al. New opto-electronic dilatometer
JPS6344134A (ja) イメ−ジガイド方式放射温度計
SU819594A1 (ru) Терморадиометр дл измерени степеничЕРНОТы МАТЕРиАлОВ
JPH051794Y2 (ja)
JPS60231146A (ja) 熱膨張率測定装置
JPH05288697A (ja) 高温観察・熱膨張同時測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees