TWM497340U - 探針測試被測物對位器改良結構 - Google Patents

Description

探針測試被測物對位器改良結構

本創作係有關一種對位器，特指一種能將透明材質之探座其凹槽之內側(左、右兩邊)所設且為探針中心線之內側切邊與被測物之導接線準確接觸對位之探針測試被測物對位器改良結構。

按當今電子產品為了使其表面達到平面化且無任何之凸出按鍵，進而提供使用者其在操作之方便性，故大部分之電子產品皆已使用觸控面板作為操作之介面，而觸控面板為達到其與電子產品內部模組作電性連接，於其端部都會設有多數距離密度不同之多數導接線，而該多數導接線則係作為量測其觸控面板之良率重要部分，然一般習用品其量測觸控面板之多數導接線，會以一長條形狀且於其上設有多數探針之探座，將其探針來與置於載台之觸控面板連接，將該探針與觸控面板所設之導接線作電性連接，並達判斷是否為良品之重要依據，然而習用品皆係以品管員之雙眼，來對準觸控面板其多數導接線與探座其所設之多數探針，其探座旁還必須另外設有攝影鏡頭及CCD螢幕，將設於載台之影像傳輸至CCD螢幕，以提供品管人員作移動載台而達與觸控面板其導接線作對準之目的，由於習用品探座並無任何對位結構，且探座之多數探針其針頭凸出部分只有2mm的長度，品管人員每次對位都要彎腰彎的很低，才可以看到探針其針頭，因此，在無任何定位之結構下單憑品管員其雙眼，不僅很難對位，更必 須花費大量時間，造成工作緩慢且無法一次到位，亦常常會發生應對準而未對準之錯誤而不自知，使得原本為良品之觸控面板，因其操作之失誤而誤判為不良品，觸控面板良率大量降低而需重覆再次量測之困擾，並使成本無形增加，造成習用品在在實用性上大打折扣，此乃為業者及消費者極欲突破之處，本創作人以此點為考量進行創作，終成一能使品管人員無須彎腰彎很下即可由透明材質及很薄之凹槽內端在CCD螢幕下可以看到探座其探針及其上、下側針頭，又上、下探座其凹槽內側(左、右兩邊)都有的內側切邊且為探針的中心線，探針其下側針頭與被測物之導接線則利用探座其上、下探座所設之凹槽其內側切邊作對位，進達，使被測物其導接線與探針之下側針頭準確接觸，有效提升其操作使用之快速方便性與精準度及減少被測物其良品之誤判，符合進步、實用與使用者之所需，足見其增益之處。

為解決上述之現有技術不足之處，本創作主要目的在於提供一種探針測試被測物對位器改良結構，其可由透明材質及很薄凹槽內端在CCD螢幕下可以看到探座其探針及其上、下側針頭，又上、下探座其凹槽內側(左、右兩邊)都有的內側切邊係為探針的中心線，探針其下側針頭與被測物之導接線則利用探座其上、下探座所設之凹槽左右兩邊內側切邊作對位，以期克服現有技術中之難處。

本創作次要目的在於提供一種探針測試被測物對位器改良結構，其可使被測物其導接線與探針之下側針頭準確接觸。

本創作之又一目的在於提供一種探針測試被測物對位器改良結構，其有效提升其操作使用之快速方便性及減少被測物其良品之誤判。

本創作所欲解決之問題，係按當今電子產品為 了使其表面達到平面化且無任何之凸出按鍵，進而提供使用者其在操作之方便性，故大部分之電子產品皆已使用觸控面板作為操作之介面，而觸控面板為達到其與電子產品內部模組作電性連接，於其端部都會設有多數距離密度不同之多數導接線，而該多數導接線則係作為量測其觸控面板之良率重要部分，然一般習用品其量測觸控面板之多數導接線，會以一長條形狀且於其上設有多數探針之探座，將其探針來與置於載台之觸控面板連接，將該探針與觸控面板所設之導接線作電性連接，並達判斷是否為良品之重要依據，然而習用品皆係以品管員之雙眼，來對準觸控面板其多數導接線與探座其所設之多數探針，其探座旁還必須另外設有攝影鏡頭及CCD螢幕，將設於載台之影像傳輸至CCD螢幕，以提供品管人員作移動載台而達與觸控面板其導接線作對準之目的，由於習用品探座並無任何對位結構，且探座之多數探針其針頭凸出部分只有2mm的長度，品管人員每次對位都要彎腰彎的很低，才可以看到探針其針頭，因此，在無任何定位之結構下單憑品管員其雙眼，不僅很難對位，更必須花費大量時間，造成工作緩慢且無法一次到位，亦常常會發生應對準而未對準之錯誤而不自知，使得原本為良品之觸控面板，因其操作之失誤而誤判為不良品，觸控面板良率大量降低而需重覆再次量測之困擾，並使成本無形增加，造成習用品在在實用性上大打折扣。

為達上述之目的，本創作係提供一種探針測試被測物對位器改良結構，尤指提供具導接線之被測物量測者，其包括：至少一連接座，於其另端設有至少一連接埠，該連接埠連接設有延伸至其一端之多數導線； 至少一探座，係設於連接座之一端，該探座包含有呈相對應呈上、下排列之一上探座及一下探座，該上探座及下探座於其一端設有一凹槽且於其內側具有內側切邊，又上探座及下探座鄰設於凹槽其內端設有多數之透孔；多數探針，係設於探座其上、下探座之透孔，該探針之上、下側針頭並凸出於探座其上、下探座，且探針之上側針頭連接於連接座其一端之多數導線，而探針之下側針頭則對應被測物之導接線。

更進一步，本創作其連接座更附設有一框架。

較佳者，本創作其連接座係凸出設於框架之一端。

較佳者，本創作其探座之上、下探座之材質係呈透明、半透明或不透明材質。

較佳者，本創作其探座之上、下探座其凹槽內側之內側切邊係對應其透孔及所設探針之中心線。

藉此結構，可由透明材質及很薄之凹槽內端在CCD螢幕下可以看到探座其探針及其上、下側針頭，又上、下探座其凹槽左、右兩邊都有的內側切邊係為探針的中心線，探針其下側針頭與被測物之導接線則利用探座其上、下探座所設之凹槽左右兩邊內側切邊作對位，進達，使被測物其導接線與探針之下側針頭準確接觸，有效提升其操作使用之快速方便性與精準度及減少被測物其良品之誤判，符合進步、實用與使用者之所需，足見其增益之處。

1‧‧‧框架

2‧‧‧連接座

21‧‧‧連接埠

22‧‧‧導線

3‧‧‧探座

31‧‧‧上探座

311‧‧‧透孔

312‧‧‧凹槽

3121‧‧‧內側切邊

32‧‧‧下探座

321‧‧‧透孔

322‧‧‧凹槽

3221‧‧‧內側切邊

4‧‧‧探針

41‧‧‧上側針頭

42‧‧‧下側針頭

5‧‧‧被測物

51‧‧‧導接線

6‧‧‧載台

第一圖：為本創作之立體分解圖。

第二圖：為本創作之立體組合圖。

第三圖：為本創作之組合剖面圖。

第四圖：為本創作其設於框架之實施例圖。

第五圖：為本創作其與載台之被測物對位之實施例圖。

第六圖：為本創作第四圖其探針與被測物其導接線接觸之實施例圖。

為利 貴審查員瞭解本創作之創作特徵、內容與優點及其所能達成之功效，茲將本創作配合附圖，並以實施例之表達形式詳細說明如下，而於文中所使用之圖式，其主旨僅為示意及輔助說明書之用，未必為本創作實施後之真實比例與精準配置，故不應就所附之圖式的比例與配置關係侷限本創作於實際實施上的專利範圍，合先敘明。

請參閱第一圖、第二圖、第三圖、第四圖、第五圖及第六圖所示，係為本創作之立體分解圖、本創作之立體組合圖、本創作之組合剖面圖、為本創作其設於框架之實施例圖、本創作其與載台之被測物對位之實施例圖及本創作第四圖其探針與被測物其導接線接觸之實施例圖；本創作之探針測試被測物對位器改良結構尤指提供具導接線51之被測物5量測者且於一較佳之實施例中係包括：至少一連接座2、至少一探座3、多數探針4。

前述之至少一連接座2，於其另端設有至少一連接埠21，該連接埠21連接設有延伸至其一端之多數導線22。

前述之至少一探座3，係設於連接座2之一端，該探座3包含有呈相對應呈上、下排列之一上探座31及一下探座32，該上探座31及下探座32於其一端設有一凹槽312、322且於其內側(左、右兩邊)都具有內側切邊3121、3221，又上探座31及下探座32鄰設於凹槽312、322其內端設有多數之透孔311、321；於本實施例該探座3之上、下探座31、32之材質係呈透明材質，但並不以此限制本創 作，其亦可為半透明或不透明材質，都屬本創作的保護範圍，又上、下探座31、32其凹槽312、322內端所設多數之透孔311、321，因係鄰設於凹槽312、322且很薄，所以CCD螢幕可以看到該透孔311、321內部，又內側切邊3121、3221係為對應其透孔311、321及後述設於其內之探針4的中心線，故可以利用探座3其上、下探座31、32所設之凹槽312、322其內側(左、右兩邊)之內側切邊3121、3221作對位。

前述之多數探針4，係設於探座3其上、下探 座31、32之透孔311、321，該探針4之上、下側針頭41、42並凸出於探座3其上、下探座31、32，且探針4之上側針頭41連接於連接座2其一端之多數導線22，而探針4之下側針頭42則對應被測物5之導接線51。

請配合參閱第四圖所示，本創作更進一步其連 接座2附設有一框架1，且該連接座2係凸出設於框架1之一端。

請配合參閱第五圖、第六圖所示，本創作其組 裝及使用簡單容易，由於探座3之上探座31及下探座32皆設有凹槽312、322，因此，當其與置放於載台6上之被測物5對位時，僅須利用凹槽312、322其內側(左、右兩邊)都具有內側切邊3121、3221之任一內側切邊3121、3221，對準被測物5其導接線51相對側即可準確定位(如第五圖所示)；此時，被測物5即可送入探座3一端所設凹槽312、322內端其透孔311、321所設之探針4下方，並利用探針4其凸出於下探座32之下側針頭42，利用其下壓而使其與被測物5之導接線51接觸，即達成電性連接及量測之目的(如第六圖所示)。

藉此結構，品管人員無須彎腰彎很下即可由透 明材質及很薄之凹槽312、322內端在CCD螢幕下可以看到 探座3其透孔311、321所設之探針4及其上、下側針頭41、42，又上、下探座31、32左右兩邊都有的內側切邊3121、3221係為探針4的中心線，探針4其下側針頭42與被測物5之導接線51則利用探座3其上、下探座31、32所設之凹槽312、322內側(左右兩邊)其內側切邊3121、3221作對位，進達，使被測物5其導接線51與探針4之下側針頭42準確接觸，有效提升其操作使用之快速方便性與精準度及減少被測物5其良品之誤判，符合進步、實用與使用者之所需，足見其增益之處。

綜觀上述可知，本創作在突破先前之技術結構 下，確實已達到所欲增進之功效，且也非熟悉該項技藝者所易於思及，再者，本創作申請前未曾公開，其所具之進步性、實用性，顯已符合創作專利之申請要件，爰依法提出創作申請，懇請 貴局核准本件創作專利申請案，以勵創作，至感德便。

以上所述之實施例僅係為說明本創作之技術 思想及特點，其目的在使熟習此項技藝之人士能夠瞭解本創作之內容並據以實施，當不能以之限定本創作之專利範圍，即大凡依本創作所揭示之精神所作之均等變化或修飾，仍應涵蓋在本創作之專利範圍內。

2‧‧‧連接座

21‧‧‧連接埠

22‧‧‧導線

3‧‧‧探座

31‧‧‧上探座

311‧‧‧透孔

312‧‧‧凹槽

3121‧‧‧內側切邊

32‧‧‧下探座

321‧‧‧透孔

322‧‧‧凹槽

3221‧‧‧內側切邊

4‧‧‧探針

41‧‧‧上側針頭

42‧‧‧下側針頭

Claims (5)

1. 一種探針測試被測物對位器改良結構，尤指提供具導接線之被測物量測者，其包括：至少一連接座，於其另端設有至少一連接埠，該連接埠連接設有延伸至其一端之多數導線；至少一探座，係設於連接座之一端，該探座包含有呈相對應呈上、下排列之一上探座及一下探座，該上探座及下探座於其一端設有一凹槽且於其內側具有內側切邊，又上探座及下探座鄰設於凹槽其內端設有多數之透孔；多數探針，係設於探座其上、下探座之透孔，該探針之上、下側針頭並凸出於探座其上、下探座，且探針之上側針頭連接於連接座其一端之多數導線，而探針之下側針頭則對應被測物之導接線。
2. 如申請專利範圍第1項所述之探針測試被測物對位器改良結構，其中，本創作其連接座更附設有一框架。
3. 如申請專利範圍第2項所述之探針測試被測物對位器改良結構，其中，連接座係凸出設於框架之一端。
4. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之探針測試被測物對位器改良結構，其中，探座之上、下探座之材質係呈透明或半透明或不透明材質。
5. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之探針測試被測物對位器改良結構，其中，探座之上、下探座其凹槽內側之內側切邊係對應其透孔及所設探針之中心線。