JP2009198226A - テストプローブを有する測定器 - Google Patents
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Abstract
【課題】作業者単独でのテスターによる測定を可能とすると共に、一対のテストプローブ間の間隔を簡単に調節できるテストプローブを有する測定器を提供する。
【解決手段】テストプローブ18は、測定部に接触させる第1のプローブ14Aと第1のプローブ14Aが取り付けられる第1のプローブ本体16Aとを有する第1のテストプローブ18Aと、測定部に接触させる第2のプローブ14Bと、第2のプローブ14Bが取り付けられる第2のプローブ本体16Bとを有する第2のテストプローブ18Bとで構成される。第2のテストプローブ18Bの挿通孔に第1のテストプローブ18Aの回動軸34を挿入することで、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが相対的に回動自在に連結され、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが一体に構成された、いわゆるはさみ構造をなしている。
【選択図】図1
【解決手段】テストプローブ18は、測定部に接触させる第1のプローブ14Aと第1のプローブ14Aが取り付けられる第1のプローブ本体16Aとを有する第1のテストプローブ18Aと、測定部に接触させる第2のプローブ14Bと、第2のプローブ14Bが取り付けられる第2のプローブ本体16Bとを有する第2のテストプローブ18Bとで構成される。第2のテストプローブ18Bの挿通孔に第1のテストプローブ18Aの回動軸34を挿入することで、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが相対的に回動自在に連結され、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが一体に構成された、いわゆるはさみ構造をなしている。
【選択図】図1
Description
本発明は、テストプローブを有する測定器に関する。詳細には、一対のテストプローブを回動自在に連結することで、片手で一対のテストプローブを同時に操作できるようにしたテストプローブを有する測定器に関する。
例えば配電盤などの電気機器の電気的特性(電流・電圧・抵抗など)を測定する治具としてテスターが広く利用されている。テスターは、テスター本体とこのテスター本体にリード線を介して接続された一対のテストプローブとで構成される。電気機器(測定対象機器等)の電気的特性などを測定する際には、テストプローブの先端部に設けられたそれぞれのプローブをそれぞれの測定対象物(端子ピンなど)に接触させた状態で、測定対象機器の電気的特性を測定することになる。
プローブは端子ピンに固定されている訳ではないので、このようなテスターを使用する場合には、両手でそれぞれのテストプローブを把持し、端子ピンに接触させた状態を保ちながら測定作業を遂行しなければならない。そのため、測定作業中は両手が塞がってしまうことになる。従って、このような環境下では、テストプローブを操作する人と、テスター本体自体を保持する人との二人の人員が必要になるケースがある。例えば、測定しようとする電気機器が高い位置に取り付けられているようなときや、狭い作業場所に取り付けられているようなときには、測定端子ピンから離れた位置にテスター本体を置かざるを得ず、しかもこのような測定環境ではテスター本体自体を載置する場所が見当たらなかったり、載置するのに不適切なこともある。もちろん、場合によっては二人分の測定スペースを確保できなかったり、二人で測定を行うために無理な姿勢で測定を実施しなくてはならない場合もある。
そこで、特許文献1には、分離・独立した一対のテストプローブを一体化することで、一人でテスター本体とテストプローブとを保持して測定できるような提案がされている。テストに使用されるテストプローブは、一対のテストプローブが本体(支持部材)と一体に構成されており、本体に設けられたウォームねじを回転させて、一対のプローブ間の間隔を調節することで、測定に使用する端子ピン間の間隔に合わせ込むようにしている。
しかしながら、上記特許文献1に開示されるテストプローブでは、一対のテストプローブ間の距離を測定対象となる端子ピン間の距離に合わせるために、ウォームねじを回転させて調節しなければならない。そのため、従来のような一対のプローブを独立にそれぞれ使用する場合と比較して、調整時間がかかってしまうという問題がある。
そこで、本発明は、上記課題を解決するものであり、その目的は、作業者単独でのテスターによる測定を可能とすると共に、一対のテストプローブ間の間隔を簡単に調節できるテストプローブを有する測定器を提供することにある。
本発明は、上記課題を解決するために、測定対象物の電気的特性を測定するためのテストプローブを有する測定器であって、前記テストプローブは、前記測定対象物に接触させる第1のプローブと、前記第1のプローブが取り付けられる第1のプローブ本体とを有する第1のテストプローブと、前記測定対象物に接触させる第2のプローブと、前記第2のプローブが取り付けられる第2のプローブ本体とを有する第2のテストプローブと、前記第1のテストプローブと前記第2のテストプローブとを相対的に回動自在に連結するための連結手段とを有することを特徴とするものである。
本発明のテストプローブでは、第1と第2のテストプローブとが連結手段を介して回動自在に連結されており、第1のプローブおよび第2のテストプローブが一体化された、いわゆるはさみ構造をなしている。そのため、第1および第2のプローブの対向間隔を簡単に調節できる。これにより、例えば、測定端子間の間隔が相違していても、常に測定端子にプローブを同時に接触させることができる。また少しの力を第1および第2のプローブに加えただけで、測定端子を強く狭持できるので、安定した接触状態を保持でき、迅速な測定が可能となる。
本発明によれば、第1のテストプローブと第2のテストプローブとが一体化されているため、片手で2本のテストプローブを2つの測定端子に同時に接触させることができることができ、その状態で測定を継続できる。従って、測定者の一方の手にテストプローブを持ち、他方の手でテスター本体を持つことができ、一人の測定者によって測定対象物の測定を行うことができる。
また、本発明によれば、テストプローブがはさみ構造であるため、連結手段を支点として回動させることで、第1のテストプローブと第2のテストプローブとの間隔を容易かつ迅速に調節することができる。
[第1の実施の形態]
以下、本発明の実施形態につき、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るテスター10の構成を示す斜視図である。図2は、図1に示すテストプローブ18の領域Aの拡大図であり、第1のプローブ14Aおよび第2のプローブ14Bの構成を示す図である。図3は、図1に示すテスターの分解斜視図である。
以下、本発明の実施形態につき、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るテスター10の構成を示す斜視図である。図2は、図1に示すテストプローブ18の領域Aの拡大図であり、第1のプローブ14Aおよび第2のプローブ14Bの構成を示す図である。図3は、図1に示すテスターの分解斜視図である。
テスター(測定器)10は、図1に示すように、テストプローブ18と、このテストプローブ18によって検出された電圧、電流などの電気的特性に基づく測定値を取得するテスター本体12とを有する。テストプローブ18とテスター本体12とはリード線26を介して接続され、リード線26Aのプラグ28Aがテスター本体12の図示しない端子部(例えばプラス端子部)に装着され、リード線26Bのプラグ28Bがテスター本体12の図示しない端子部(例えばマイナス端子部)に装着される。
テスター本体12の視認側の面には、測定した電気的特性の値を表示する表示部32と、レンジ切り替えつまみ30とが設けられている。表示部32はデジタル表示であっても良いし、アナログ表示であっても良い。
テストプローブ18は、一対の第1のテストプローブ18Aおよび第2のテストプローブ18Bと、これら第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとを連結するための連結手段とを有する。
第1のテストプローブ18Aは、測定対象物に接触させて電気的特性を検出するための第1のプローブ14Aと、この第1のプローブ14Aが取り付け、固定される第1のプローブ本体16Aとを有する。
第1のプローブ本体16Aは、その中央に屈曲部を有する細長の平板形状をなし、例えば樹脂等の絶縁部材で構成される。第1のプローブ本体16Aの後端部には、環状をなす把持部20Aが設けられ、作業者が把持部20Aに指を挿入することで第1のプローブ本体16Aが保持される。
第1のプローブ14Aは、棒状をなし、例えばステンレス鋼や鉄などの導電部材で構成され、第1のプローブ本体16Aの先端部に取り付けられる。また、第1のプローブ14Aの表面には、図2に示すように、第1のプローブ14Aを測定端子に接触させたときに、第1のプローブ14Aが測定端子面を滑らないように、滑りにくくするための滑り止め部36が設けられる。滑り止め部36としては、例えば、第1のプローブ14A表面にメッシュ状の切り欠き加工を施したり、あるいは第1のプローブ14A表面にメッシュ状の金属編を貼り付けたりすることでなどで構成することができる。本例では、滑り止め部36は、第1のプローブ14A全面に亘って形成されているが、測定端子に接触する部分(領域)だけ滑り止め部36を形成することもできる。
第2のテストプローブ18Bは、測定対象物に接触させて電気的特性を検出するための第2のプローブ14Bと、この第2のプローブ14Bが取り付け、固定される第2のプローブ本体16Bとを有する。第2のテストプローブ18Bは、第1のテストプローブ18Aとその構成はほぼ同じであるので、第1のテストプローブ18Aと同一の構成部分については説明を省略するも、第2のプローブ本体16Bの後端部には、環状をなす把持部20Bが設けられる。
第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとを連結するための連結手段は、図3に示すように、第1のテストプローブ18Aに設けられた回動軸34と、第2のテストプローブ18Bに設けられた軸受け部として機能する挿通孔24とで構成される。第1のテストプローブ18Aの回動軸34はその屈曲部の平面部に対して立設され、第2のテストプローブ18Bの挿通孔24は第1のテストプローブ18Aの回動軸34と対向する位置に第2のテストプローブ18Bの厚み方向に貫通するようにして穿設される。
従って、第2のテストプローブ18Bの挿通孔24に第1のテストプローブ18Aの回動軸34を装着することで、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが回動自在に連結される。この連結手段(回動軸34,挿通孔24)を用いることで、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとが一体化される。はさみの構造と軌を一にする把持部20A,20B側を開閉することで、第1のプローブ14Aと第2のプローブ14Bとの対向間隔を調節できる。なお、第1のテストプローブ18Aの回動軸34から第2のテストプローブ18Bを取り外せば、従来のように第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとをそれぞれ独立に使用することもできる。本例では、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bとをそれぞれ独立して使用する場合のために、第1および第2のテストプローブ18A,18Bのそれぞれの先端部が尖った針形状で構成される。
次に、テストプローブ18の断面構造について説明する。図4(A)は第1のテストプローブ18Aの構成を示す断面図であり、図4(B)は第2のテストプローブ18Bの構成を示す断面図であり、図4(C)は、図4(A)に示す領域Bの要部拡大図である。第2のテストプローブ18Bについては第1のテストプローブ18Aと連結手段を除いては同一構成であるため、説明を省略する。
リード線26Aのテスター本体12と反対の端部側(図1参照)は、図4(A)および図4(C)に示すように、第1のプローブ本体16Aの内部まで埋設されており、第1のプローブ本体16Aの絶縁部材によって被覆されている。リード線26Aは、芯線260が絶縁材料からなるシールド部によって被覆された絶縁線(シールド線)が使用される。このリード線26Aの先端部は芯線260が僅かに露出し、この露出部262は第1のプローブ14Aとの電気的な接続部として利用される。また、第1のプローブ本体16Aの先端部には、絶縁材料によって囲まれた第1のプローブ14Aが挿入されるための凹部が設けられ、この凹部内周面にはメスねじ加工が施されたメスねじ部(ナット)38bが設けられる。これに対する第1のプローブ14Aの基端部は、オスねじ加工が施されたオスねじ部38aとなされる。メスねじ部38bの基端部はリード線26Aの露出部262と電気的に接続される。
これにより、第1のプローブ14Aのオスねじ部38aを第1のプローブ本体16Aのメスねじ部38bに羅合させることで、第1のプローブ14Aが第1のプローブ本体16Aに機械的に連結されると共に、メスねじ部38bを介して第1のプローブ14Aとリード線26Aとの導通が図られる。なお、露出部262と対向するオスねじ部38aの面内に露出部262が入り込む凹部を形成しても良い。このように、第1のプローブ14Aを第1のプローブ本体16Aに対して着脱自在な構成とすることで、測定端子の形状や測定場所、測定方法などの測定条件に応じて、これらの測定条件に応じた形状や材質を有するプローブに交換することができる。
次に、本発明のテスター10の使用例について説明する。図5は、測定者が本発明のテスター10を保持しているときの様子を示す図である。図6は、本発明のテスター10を用いて測定対象物の一例である配電盤に設けられた測定端子54a,54b間の測定を行うときの使用例を示す図である。測定端子54a〜54dのサイズ等は、その機器本体と共に、説明の都合上、誇張して図示してある。
図5に示すように、本例では、一人の作業者が、右手ではさみ構造のテストプローブ18を保持し、左手でテスター本体12を保持している。そして、図6に示すように、右手で保持するテストプローブ18を配電盤に取り付けられたテストプラグ52の測定端子54a,54bの右側から接触させる。この状態で、左手で保持したテスター本体12の表示部32の目盛りを読み取りながら、測定端子54a,54b間の電気的特性の測定を行うことができる。従って、測定対象物の設置場所に依存することなく単独で測定できる。つまり、測定端子が高い位置にある場合や狭いスペースにある場合でも、一人分のスペースがあれば無理のない姿勢により測定を行うことができる。
以上説明したように、本実施の形態では、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bが一体化された、いわゆるはさみ構造をなしている。そのため、第1のプローブ14Aと第2のプローブ14Bとの間隔を簡単に調節できるので、測定端子間隔が相違する測定対象物でも、一対のテストプローブ18A,18Bを簡単に測定端子間に接触させることができる。測定端子が多数あっても簡単に連続した測定が可能となる。
[第2の実施の形態]
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
本実施の形態では、第1の実施の形態と同様に、測定対象物の左右側から測定を行う場合について説明する。なお、上述した第1実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
本実施の形態では、第1の実施の形態と同様に、測定対象物の左右側から測定を行う場合について説明する。なお、上述した第1実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図7は、本発明の一実施形態に係るテスター10の構成を示す斜視図である。図8(A)および図8(B)は、本実施形態に係るテストプローブ18の使用例を示す図である。
図7および図8(A),(B)に示すように、第1のプローブ14Aは、直線部14gと、直線部14gの先端から下方側に折曲部14kを介して折り曲げられた当接部14hとを有し、略L字形状で構成される。同様に、第2のプローブ14Bは、直線部14iと、直線部14iの先端から下方側に折曲部14lを介して折り曲げられた当接部14jとを有し、略L字形状で構成される。本例では、折曲部を90°に設定したが、これに限定されることはない。また、第1のプローブ14Aおよび第2のプローブ14Bに設けた折曲部14k,14lに代えて、湾曲部としても良い。
図7および図8(A),(B)に示すように、第1のプローブ14Aは、直線部14gと、直線部14gの先端から下方側に折曲部14kを介して折り曲げられた当接部14hとを有し、略L字形状で構成される。同様に、第2のプローブ14Bは、直線部14iと、直線部14iの先端から下方側に折曲部14lを介して折り曲げられた当接部14jとを有し、略L字形状で構成される。本例では、折曲部を90°に設定したが、これに限定されることはない。また、第1のプローブ14Aおよび第2のプローブ14Bに設けた折曲部14k,14lに代えて、湾曲部としても良い。
測定時には、図8(A),(B)に示すように、テストプラグ52の平面方向に対して略垂直方向である手前側から測定端子54a,54bのそれぞれを当接部14h,14jにより挟み込むようにし、第1のプローブ14Aを測定端子54bに接触させると共に第2のプローブ14Bを測定端子54aに接触させて、測定端子54a,54b間の電気的特性の測定を行う。
本実施の形態によれば、上述した第1の実施の形態と同様の作用効果を奏することができる。さらに、テストプラグ52の左右方向または上下方向に測定スペースを確保できない場合でも、テストプラグ52の略垂直方向である手前側から測定を行うことができ、測定対象物の設置場所等に対応した測定が行える。
[第3の実施の形態]
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
図11に示すように、例えば一対の測定端子54a,54b間の電気的特性を測定する場合には、測定端子54a,54cの手前側から測定する場合と、測定端子54a,54bまたは測定端子54c,54dの左右側から測定する場合とが考えられるが、測定対象機器の設定場所によっては左右側からでは測定できないことがある。例えば、測定機器の左右側の測定スペースがない場合、測定機器が高い場所に設置されており測定機器の左右側から測定することができない場合などが考えられる。そのようなときにはどうしても手前側から測定することになる。このような向きでも測定できるようにしたのが第3の実施の形態に示すテストプローブである。なお、上述した第1実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
図11に示すように、例えば一対の測定端子54a,54b間の電気的特性を測定する場合には、測定端子54a,54cの手前側から測定する場合と、測定端子54a,54bまたは測定端子54c,54dの左右側から測定する場合とが考えられるが、測定対象機器の設定場所によっては左右側からでは測定できないことがある。例えば、測定機器の左右側の測定スペースがない場合、測定機器が高い場所に設置されており測定機器の左右側から測定することができない場合などが考えられる。そのようなときにはどうしても手前側から測定することになる。このような向きでも測定できるようにしたのが第3の実施の形態に示すテストプローブである。なお、上述した第1実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図9は、本発明の一実施形態に係るテスター10の構成を示す斜視図である。図10(A)は第1のテストプローブ18Aの構成を示す断面図であり、図10(B)は第2のテストプローブ18Bの構成を示す断面図である。図11は、本実施形態に係るテストプローブ18の使用例を示す図である。第1のテストプローブ18Aを奥側の測定端子54b用とし、第2のテストプローブ18Bを手前側の測定端子54a用として以後説明する。
図9〜図11に示すように、棒状をなす第1のプローブ14Aの長手方向の長さは、少なくとも奥側の測定端子54bに接触できるような長さに選定される。そして、第1のプローブ14Aの長手方向のうち中間部から手前側のプローブの基端部までは例えば樹脂などの絶縁材料で被覆された非測定部14dとなされる。第1のプローブ14Aの長手方向のうち後端部(先端部)はステンレス鋼や鉄などの硬い導電材料で構成された測定部14cとなされる。
第2のプローブ14Bの長手方向の長さは、少なくとも手前側の測定端子54aに接触できるような長さに選定される。本例では第1のプローブ14Aの略半分の長さに選定される。この第2のプローブ14Bは、ステンレス鋼や鉄などの硬い導電材料で構成された測定部14eとなされる。
本実施の形態によれば、上述したように測定対象物の左右側から測定することができない場合でも、測定対象物の手前側から測定端子54a,54b間の電気的特性を測定できる。また、第2のプローブ14Bは、測定端子54aに接触する程度の長さに選定されるため、テストプローブ18を所定角度に開いて使用した場合でも隣接する測定端子54c,54dに接触することを防止できる。さらに、測定端子54a,54bに接触する部分以外の領域にも余裕を持たせて測定部14cおよび非測定部14dを設けることで、例えば測定端子の外径や測定端子間の間隔が測定毎に相違したとしても、確実に測定を実行できる。
[第4の実施の形態]
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
本実施の形態では、上述した第3の実施の形態と同様に、測定対象物の手前側から測定を行う場合について説明する。なお、上述した第1実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
本実施の形態では、上述した第3の実施の形態と同様に、測定対象物の手前側から測定を行う場合について説明する。なお、上述した第1実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図12は、本発明の一実施形態に係るテスター10の構成を示す斜視図である。図13は、本実施形態に係るテストプローブ18の使用例を示す図である。
第1のプローブ14Aは、図12に示すように、直線部14mの基端が折曲部C1,C2により屈曲されたクランク形状で構成される。第2のプローブ14Bも同様に直線部14nの基端が折曲部C3,C4により屈曲されたクランク形状で構成される。
第1のプローブ14Aの直線部14mのうち中間部から手前側のプローブの基端部までは例えば樹脂などの絶縁材料で被覆された非測定部14dとなされる。第1のプローブ14Aの直線部14mのうち後端部(先端部)はステンレス鋼や鉄などの硬い導電材料で構成された測定部14cとなされる。
第2のプローブ14Bの直線部14nのうち中間部から手前側のプローブの基端部まではステンレス鋼や鉄などの硬い導電材料で構成された測定部14eとなされる。第2のプローブ14Bの直線部14nのうち後端部(先端部)は例えば樹脂などの絶縁材料で被覆された非測定部14fとなされる。
第1のプローブ14Aの直線部14mと第2のプローブ14Bの直線部14nとは、第1のテストプローブ18Aと第2のテストプローブ18Bを所定角度θに開閉したとき、互いに平行するように第1のプローブ本体16Aと第2のプローブ本体16Bとのそれぞれに取り付けられる。本例では、図13に示すように、第1のプローブ本体16Aと第2プローブ本体とのなす角度θが0°となったとき、第1のプローブ14Aの直線部14mおよび第2のプローブ14Bの直線部14nとが平行になる。このとき、第1のプローブ14Aの直線部14mと第2のプローブ14Bの直線部14nとの間の最短距離W2は、測定端子54a〜54dの直径W1と略同一に設定される。これにより、第1のプローブ14Aの測定部14cが測定端子54bに、第2のプローブ14Bの測定部14eが測定端子54aに同時に接触される。
本実施の形態によれば、第3の実施の形態と同様に、測定対象物の左右側の測定スペースがない場合や、測定対象物が高い場所に設置されており測定対象物の左右側から測定することができない等の場合でも、下方または上方から測定端子54a,54b間の電気的特性を測定できる。また、第1のプローブ14Aと第2のプローブ14Bは、略平行に取り付けられるため、隣接する測定端子への接触を防止することができ、正確な測定を行うことが可能となる。
なお、本発明の技術範囲は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、上述した実施形態に種々の変更を加えたものを含む。
例えば、連結手段は、上述した実施の形態に限定されることはなく、他の種々の方法を適用できる。また、第1および第2のプローブ14A,14Bとリード線26A,26Bとの導通方法についても上述した実施の形態に限定されることはない。
本発明は、電気機器に設けられた測定端子間の電気的特性を測定する場合に好適に適用できる。
10…テスター、 12…テスター本体、 14A…第1のプローブ、 14B…第2のプローブ、 14c,14e…測定部、 14d,14f…非測定部、 14g,14i…直線部、 14h,14j…垂直部、 16A…第1のプローブ本体、 16B…第2のプローブ本体、 18…テストプローブ、 18A…第1のテストプローブ、 18B…第2のテストプローブ、 20A,20B…把持部、 24…挿通孔、 26A,26B…リード線、 260…芯線、 34…回動軸、 36…滑り止め部、 52…テストプラグ、 54a,54b,54c,54d…端子
Claims (5)
- 測定対象物の電気的特性を測定するためのテストプローブを有する測定器であって、
前記テストプローブは、
前記測定対象物に接触させる第1のプローブと、前記第1のプローブが取り付けられる第1のプローブ本体とを有する第1のテストプローブと、
前記測定対象物に接触させる第2のプローブと、前記第2のプローブが取り付けられる第2のプローブ本体とを有する第2のテストプローブと、
前記第1のテストプローブと前記第2のテストプローブとを相対的に回動自在に連結するための連結手段と
を有することを特徴とする測定器。 - 前記第1および第2のプローブは、導電部材で構成され、
前記第1および第2のプローブ本体は、絶縁部材で構成された
ことを特徴とする請求項1に記載の測定器。 - 前記導電部材には滑り止め部が形成された
ことを特徴とする請求項2に記載の測定器。 - 前記第1および第2のプローブを、所定角度に開閉したとき、
前記第1および第2のプローブがほぼ平行するように、前記第1および第2のプローブには折曲部を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の測定器。 - 前記第1および第2のプローブの先端を屈曲させた
ことを特徴とする請求項1に記載の測定器。
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---|---|---|---|
JP2008037987A Pending JP2009198226A (ja) | 2008-02-19 | 2008-02-19 | テストプローブを有する測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009198226A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013032974A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Hioki Ee Corp | コンセント測定プローブ及び電圧測定器 |
WO2022077694A1 (zh) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | 普源精电科技股份有限公司 | 差分探头及其控制方法 |
-
2008
- 2008-02-19 JP JP2008037987A patent/JP2009198226A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013032974A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Hioki Ee Corp | コンセント測定プローブ及び電圧測定器 |
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