WO2011026286A1

WO2011026286A1 - 触控面板及触控面板的检测方法

Info

Publication number: WO2011026286A1
Application number: PCT/CN2009/075756
Authority: WO
Inventors: 张龙泉; 余鸿志
Original assignee: 深超光电（深圳）有限公司
Priority date: 2009-09-04
Filing date: 2009-12-21
Publication date: 2011-03-10
Also published as: CN101699376A; CN101699376B

Description

触控面板及触控面板的检测方法

【技术领域】

本发明涉及一种触控面板及检测方法，且特別是涉及一种可独立检测感测轴线的触控面板及触控面板的检测方法。

【背景技术】

随着技术的日新月异，无论是笔记本电脑、手机或是可携式多媒体播放器等电子装置，皆逐渐利用触控面板来取代传统键盘以作为新一代输入界面。常见的触控面板大致可分为电容式触控面板以及电阻式触控面板。电容式触控面板因为具有多点触控的特性而备受瞩目。

一般来说，电容式触控面板的设计是在基板表面形成多条感测轴线。当用户以手指或是导电物体接近或触碰电容式触控面板的表面时，感测轴线上的电容值会发生对应的变化。电容式触控面板利用这样的电容值变化来进行触控位置的感测以及计算。由此可知，电容式触控面板的感测正确性主要依赖各感测轴线的电特性而决定。所以，感测轴线中若有断路、短路或是电容效应不均勾的情形发生都会影响触控感测的正确性。因此，感测轴线的检测变得相当重要。

中国专利公开案 CN101408825 中揭露了一种在触控面板半成品中进行检测的方法。然而，此专利的检测方法在半成品中需要额外配置检测用的线路而造成基板利用率下降。并且，此专利的检测方法将感测轴线与对应的传输线一并进行检测，而无法独立地检测感测轴线的电特性。中国专利公开案 CN100498483揭露了一种在主动组件阵列基板的端子部分进行检测的方法。然而，此专利的检测方法应用于电容式触控面板中无法独立地检测感测轴线。筒言之，上述专利皆无法有效精确检测出感测轴线的缺陷，因易受传输线高电阻 RC效应干扰，而影响实际面内电容量测，并会因量测偏差值大，在往后的检测应用时，易产生 ^^性缺陷。所以，如何有效检测电容式触控面板中感测轴线以维持电容式触控面板的质量，仍为本领域中一项重要的课题。

【发明内容】

本发明提供一种触控面板，其感测轴线的端部具有一被绝缘层暴露出来的检测区，以利于检测。

本发明提供一种触控面板的检测方法，可以精确检测感测轴线的电容值以及电阻值。

本发明提供一种检测方法，可以正确检测传输线的电阻值。

本发明提出一种触控面板，包括一基板、多条第一感测轴线，多条与之对应的第一传输线、多条第二感测轴线，多条与之对应的第二传输线以及一绝缘层。第一感测轴线配置于基板上。各第一感测轴线沿一第一方向延伸，且各第一感测轴线的至少一端具有一第一检测区。第二感测轴线配置于基板上。各第二感测轴线的至少一端具有一第二检测区，且各第二感测轴线沿一第二方向延伸，而第一方向不平行于第二方向。绝缘层覆盖第一感测轴线以及第二感测轴线，且暴露出第一检测区以及第二检测区。

在本发明的一实施例中，上述绝缘层设置有多个开口，且开口对应暴露出第一检测区以及第二检测区。

在本发明的一实施例中，上述各第一感测轴线以及各第二感测轴线分别由一感测垫和一桥接部组成。该感测垫包括多个中心感测垫以及边缘感测垫。中心感测垫串接在一起并位于边缘感测垫之间，且第一检测区或第二检测区位于边缘感测垫中。基板具有一显示区以及一非显示区，且各边缘感测垫包括一外侧部以及一内侧部。外侧部位于非显示区中而内侧部以及中心感测垫位于显示区中，此外，第一检测区或第二检测区位于外侧部上。

在本发明的一实施例中，上述基板具有一第一感测区以及一第二感测区。部分第一感测轴线以及部分第二感测轴线位于第一感测区，而其他的第一感测轴线以及其他的第二感测轴线位该第二感测区。位于第一感测区的第二感测轴线对齐于第二感测区的第二感测轴线。

在本发明的一实施例中，上述第一感测轴线配置于基板的一第一侧而第二感测轴线配置于基板的一第二侧，且第一侧与该第二侧相对。在一实施例中，各第一感测轴线以及各第二感测轴线分别由一感测条所组成。另外，触控面板进一步包括多个虚拟垫，其配置于第一基板的第一侧上，位于第一感测轴线之间。具体而言，绝缘层包括一第一绝缘层以及一第二绝缘层。第一绝缘层覆盖第一感测轴线，并暴露出第一检测区，而第二绝缘层覆盖第二感测轴线，并暴露出第二检测区。第一绝缘层例如具有多个第一开口，以暴露出第一检测区，而第二绝缘层例如具有多个第二开口，以暴露出第二检测区。

在本发明的一实施例中，上述触控面板进一步包括多条第一传输线以及多条第二传输线。各第一传输线的一第一连接端连接至其中一条第一感测轴线，而各第二传输线的一第二连接端连接至其中一条第二感测轴线。绝缘层进一步覆盖第一传输线以及第二传输线。此外，绝缘层进一步暴露出各第一传输线的一第一信号端以及各第二传输线的一第二信号端。

本发明另提出一种触控面板的检测方法，包括提供一前述的触控面板以及通过第一检测区以及第二检测区的其中两者进行检测。

在本发明的一实施例中，上述进行检测的方法包括通过其中一个第一检测区以及其中一个第二检测区进行检测。

在本发明的一实施例中 ,上述各第一感测轴线的两端分别具有第一检测区 , 且进行检测的方法包括通过同一第一感测轴线两端的第一检测区进行检测。

在本发明的一实施例中，上述各第二感测轴线的两端分别具有第二检测区，且进行检测的方法包括通过同一第二感测轴线两端的第二检测区进行检测。

本发明又提出一种触控面板的检测方法，包括提供一前述的触控面板。接着，通过第一检测区以及对应的其中一个第一信号端进行检测或是通过第二检测区与对应的其中一个第二信号端进行检测。

基于上述，本发明在触控面板的感测轴线端部设置检测区，且绝缘层将检测区暴露出来。因此，本发明的触控面板中，感测轴线可以独立地被检测，而可以更正确地判断感测轴线是否发生缺陷，而不被传输线高电阻 RC效应干扰，而影响实际面内电容量测。另外，本发明的触控面板中，传输线也可以独立地被检测而使触控面板的缺陷正确地被检验出来。搭配上述触控面板的结构设计，

【附图说明】

图 1为本发明第一实施例的触控面板的俯视示意图。

图 2为图 1的区域 I的示意图。

图 3为沿图 2的 A-A'剖线的剖面示意图。

图 4为本发明第二实施例的触控面板的俯视示意图。

图 5为图 4的区域 II的示意图。

图 6为沿图 5的剖线 B-B'的剖面示意图。

图 7为本发明第三实施例的触控面板的俯视示意图。

图 8为本发明第四实施例的触控面板的俯视示意图。

图 9为本发明第五实施例的触控面板的俯视示意图。

图 10为图 9的触控面板的第一侧的俯视示意图。

图 11为图 9的触控面板的第二侧的俯视示意图。

图 12为本发明一实施例的触控面板的第一种检测方法。

图 13为本发明一实施例的触控面板的第二种检测方法。

图 14为本发明一实施例的触控面板的第三种检测方法。

【具体实施方式】

为让本发明上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明。图 1为本发明第一实施例的触控面板的俯视示意图。请参照图 1 , 触控面板 100包括一基板 110、多条第一感测轴线 120、多条第二感测轴线 130以及一绝缘层 140。第一感测轴线 120以及第二感测轴线 130皆配置于基板 110上。各第一感测轴线 120沿一第一方向 D1延伸，而各第二感测轴线 130沿一第二方向 D2延伸，且第一方向 D1 与第二方向 D2不平行。第一感测轴线 120可以垂直于第二感测轴线 130。此外，各第一感测轴线 120的至少一端具有一第一检测区 150 , 而第二感测轴线 130的至少一端具有一第二检测区 160。绝缘层 140则覆盖第一感测轴线 120以及第二感测轴线 130，且暴露出第一检测区 150以及第二检测区 160。

本实施例的第一感测轴线 120两端分别具有第一检测区 150 , 而第二感测轴线 130的两端也分别具有第二检测区 160。在其他的实施例中，第一感测轴线 120可以仅有一端具有第一检测区 150，而第二感测轴线 130 也可以仅有一端具有第二检测区 160。另外，本实施例的绝缘层 140设置有多个开口 142 , 该开口的形状可为圓形、椭圓形、矩形或者各种多边形或弧线构成的各种封闭图形。各开口 142暴露出一个第一检测区 150或是一个第二检测区 160。

进一步而言，触控面板 100进一步包括多条第一传输线 S1 以及多条第二传输线 S2。各第一传输线 S1的一第一连接端 Sla连接至其中一条第一感测轴线 120 , 而各第二传输线 S2的一第二连接端 S2a连接至其中一条第二感测轴线 130。各第一传输线 S1 的另一端则为第一信号端 Slb，而各第二传输线 S2的另一端则为第二信号端 S2b。上述的传输线会通过收拢的布置整合在基板的非显示区的一侧，所有传输线的信号端则是用以连接至驱动芯片（未图示）。

在本实施例中，绝缘层 140进一步覆盖第一传输线 S1以及第二传输线 S2。此外，绝缘层 140进一步暴露出各第一信号端 Sib以及各第二信号端 S2b。也就是说，绝缘层 140的部分开口 142位于第一信号端 Sib以及第二信号端 S2b上以将其暴露出来。

在这样的设计之下，检测触控面板 100时，感测轴线 120、 130以及传输线 Sl、 S2可以分别地进行检测。也就是说，检测感测轴线 120、 130 时，检测的结果不会受到传输线 Sl、 S2的缺陷影响。同样地，检测传输线 Sl、 S2 时，检测结果也不会受到感测轴线 120、 130 的缺陷所影响。因此，本实施例可以更有效率地检测出触控面板 100中不同组件的缺陷，而提升触控面板 100的质量。

具体而言，本实施例的各第一感测轴线 120以及各第二感测轴线 130 分别由多个感测垫 170和多个桥接部（图 1未标示）所组成。感测垫 170包括多个中心感测垫 172以及两个边缘感测垫 174。中心感测垫 172 串接在一起并位于两个边缘感测垫 174之间，且第一检测区 150 或第二检测区 160位于两个边缘感测垫 174中。也就是说，各第一感测轴线 120以及各第二感测轴线 130中，两端的部分由边缘感测垫 174所构成。

在本实施例中，第一检测区 120的面积与第二检测区 130的面积可以由边缘感测垫 174的设计而决定。一般而言，边缘感测垫 174需具有一定的面积，所以检测触控面板 100时的对位流程较为容易。也就是说，触控面板 100的检测不需要高精度的对位设备而有助于简化并加快检测方法。

图 2为图 1 的区域 I的示意图 , 而图 3为沿图 2的 A-A'剖线的剖面示意图。请同时参照图 2与图 3 , 在本实施例中，相邻的中心感测垫 172 可以通过一桥接部 176 串接在一起。当然，中心感测垫 172与边缘感测垫 174也可以通过桥接部 176 串接在一起。

另外，由图 3可知，边缘感测垫 174与中心感测垫 172进一步可以通过桥接部 176 串接在一起。不过，根据不同的需求，可以仅串接第二感测轴线 130的边缘感测垫 174与中心感测垫 172 , 或是仅串接多个中心感测垫 172。值得一提的是，第一感测轴线 120与第二感测轴线 130必需保持需保持独立的电特性，因此第一感测轴线 120的桥接部 176与第二感测轴线 130的桥接部 176之间配置有绝缘构件 190。

本实施例的绝缘层 140暴露出第一检测区 150、第二检测区 160、第一信号端 Sib 以及第二信号端 S2b。所以，触控面板 100可通过绝缘层 140所暴露出来的这些区域来进行电特性的检测。如此一来，感测轴线 120、 130以及传输线 Sl、 S2可以分别地被检测。此外，触控面板 100的检测方法相当简单，且一旦检测出缺陷可以实时地进行修复。因此，触控面板 100具有良好的电性质量。

图 4为本发明第二实施例的触控面板 400的俯视示意图。图 5为图 4 的区域 II的示意图，而图 6为沿图 5中剖线 B-B，的剖面示意图。请同时参照图 4、图 5以及图 6 , 触控面板 400与第一实施例的触控面板 100相似，其中触控面板 400也包括有一基板 110、多条第一感测轴线 120、多条第二感测轴线 130以及一绝缘层 140。不过，触控面板 400中，基板 110 具有一显示区 112和一非显示区 114。此外，边缘感测垫 474包括一外侧部 474A以及一内侧部 474B , 且外侧部 474A位于非显示区 114中，而内侧部 474B以及中心感测垫 172皆位于显示区 112中。此外，第一检测区 150或第二检测区 160位于外侧部 474A上。

一般来说，中心感测垫 172以及边缘感测垫 474会以透明导电材质加以制作，以使触控面板 400 提供良好的光线穿透性。检测触控面板 400 时，操作者会使用一探针接触欲检测的第一检测区 150或第二检测区 160。不过，探针的移动与接触可能造成透明导电材质的损伤而影响第一检测区 150或第二检测区 160的表面平坦性。所以，本实施例将第一检测区 150 以及第二检测区 160设置于周边区 114中可以避免显示区 112的光线穿透性受到不良的影响。即，触控面板 400除了具有良好的电特性外，更具有相当不错的光线穿透性。

图 7为本发明第三实施例的触控面板的俯视示意图。请参照图 7 , 触控面板 700的设计是改变触控面板 400中的绝缘层 140，以形成具有一环形开口 442。环形开口 442暴露出所有的第一检测区 150以及所有的第二检测区 160。也就是说，环形开口 442的设计是将第二实施例中的多个开口 142贯通。

不过，在其他的实施例中，可以仅将绝缘层 140的部分开口 142贯通，而使各贯通的开口同时暴露出数个第一检测区 150 或是数个第二检测区 160。本实施例的第一检测区 150以及第二检测区 160被暴露出来，检测触控面板 700 时可以正确地将第一感测轴线 120 以及第二感测轴线 130 中的缺陷判断出来。因此，触控面板 700具有良好的质量。

图 8为本发明第四实施例的触控面板的俯视示意图。请参照图 8，触控面板 800也包括有一基板 1 10、多条第一感测轴线 120、多条第二感测轴线 130以及一绝缘层 140。不过，本实施例中，基板 1 10具有一第一感测区 1 16以及一第二感测区 1 18，部分第一感测轴线 120以及部分第二感测轴线 130位于第一感测区 1 16 , 而其他的第一感测轴线 120以及其他的第二感测轴线 130位于第二感测区 1 18。此外，位于第一感测区 1 16的第二感测轴线 130对齐于第二感测区 1 18的第二感测轴线 130。也就是说，第一感测区 1 16的其中一条第二感测轴线 130与第二感测区 1 18的其中一条第二感测轴线 130排列成一直线。

本实施例的设计使两条第二感测轴线 130对齐可以避免触控面板 800 进行感测时发生误感测，例如鬼点（ghost pomt)的现象。此外，边缘感测垫 874A的设计同第二实施例的边缘感测垫 474—样是由外侧部 474A以及内侧部 474B所构成。边缘感测垫 874B则例如由三角形图案所构成。值得一提的是，本实施例的第二感测串列 130中都只有一端设有第二检测区 160，而同一条线上的两条第二感测串列 130中相邻的一端未设有任何的检测区。也就是说，边缘感测垫 874B未设有检测区。如此设计有助于提升触控面板 800 的光线穿透性质。相似地，本实施例的触控面板 800 中，感测轴线 120、 130可以独立地进行电容值的检测，而使得触控面板 800可维持良好的质量。

图 9为本发明第五实施例的触控面板的俯视示意图，图 10为图 9的触控面板的第一侧的俯视示意图，而图 1 1为图 9的触控面板的第二侧的俯视示意图。请参照图 9 , 触控面板 900包括一基板 910、多条第一感测轴线 920、多条第二感测轴线 930、一第一绝缘层 945以及一第二绝缘层 947。第一感测轴线 920以及第二感测轴线 930皆配置于基板 910上。具体而言，第一感测轴线 920配置于基板 910的一第一侧 912 , 而第二感测轴线 930配置于基板 910的一第二侧 914 , 且第一侧 912与第二侧 914相对。

请同时参照图 9、图 10以及图 1 1 , 各第一感测轴线 920沿第一方向 D1延伸，而各第二感测轴线 930沿第二方向 D2延伸，且第一方向 D1与第二方向 D2不平行。此外，各第一感测轴线 920的两端分别具有一第一检测区 950 , 而第二感测轴线 930的两端分别具有一第二检测区 960。第一绝缘层 945覆盖第一感测轴线 920且暴露出第一检测区 950。第二绝缘层 947则覆盖第二感测轴线 930且暴露出第二检测区 960。

具体而言，各第一感测轴线 920以及各第二感测轴线 930分别由一感测条 (sensing bar)所组成。也就是说，各第一感测轴线 920以及各第二感测轴线 930由一条状导体图案所构成，其材质例如为透明导电材质。此外，为了增进触控面板 900的亮度的均勾性，触控面板 900进一步包括多个虚拟垫 922，其配置于基板 910的第一侧 912上，并位于第一感测轴线 920 之间。

在本实施例中，第一绝缘层 945具有多个第一开口 945A, 以暴露出第一检测区 950，而第二绝缘层 947具有多个第二开口 947A，以暴露出第二检测区 960。尤其是，第二开口 947A都设置在显示区 1 12之外。在其他的实施例中，位于同一侧的第一开口 945A可以彼此贯通，而位于同一侧的第二开口 947A 也可以彼此贯通。第一开口 945A 以及第二开口 947A将对应的第一检测区 950以及第二检测区 960暴露出来，所以第一感测轴线 920与第二感测轴线 930可以独立地进行感测。因此，触控面板 900若有缺陷可以正确地被检测出来，而有助于维持触控面板 900的质量。

另夕卜，本实施例中，第一感测轴线 920的两端都设有第一检测区 950 , 而第二感测轴线 930的两端也都设有第二检测区 960。不过，根据不同的检测需求及布局设计，第一感测轴线 920 可以仅有一端设有第一检测区 950 , 而第二感测轴线也可以仅有一端设有第二检测区 960。

以上实施例所描述的触控面板 100、 400、 700、 800以及 900都分别在各感测轴线的端部设置检测区。并且，这些检测区被绝缘层暴露出来。因此，触控面板 100、 400、 700、 800以及 900可以采用简易的检测方式来分别检视各感测轴线或是各传输线是否有缺陷产生。具体地说，触控面板 100、 400、 700、 800以及 900可以釆用的检测方法如下。图 12为本发明一实施例的触控面板的第一种检测方法。请参照图 12 ,先进行步骤 10 , 提供一触控面板。在本实施例的检测方法中，触控面板例如是前述的触控面板 100、 400、 700、 800以及 900 中其中一者或是触控面板 100、 400、 700、 800以及 900中各感测轴线仅有一端设有检测区的设计。

接着，进行步骤 20 , 通过触控面板中其中一条第一感测轴线的第一检测区以及其中一条第二感测轴线的第二检测区进行检测。具体来说，检 > 'J的步骤例如是利用一组探针分别地接触其中一条第一感测轴线的第一检测区以及其中一条第二感测轴线的第二检测区。并且，测量这组探针之间的电容值。根据所测得的电容值来判断第一感测轴线与第二感测轴线是否有短路或是断路的缺陷。

另外，因工艺误差而使第一感测轴线的图案或是第二感测轴线的图案不一致，例如图案的面积差异过大或是图案的间距不一致，会导致第一感测轴线与第二感测轴线在不同位置上的电容耦合效应随之变化。如此，触控面板将会有感测不准确的情况。本实施例根据不同感测轴线间的电容值变化可判断出感测轴线的图案是否有缺陷，以进一步针对缺陷部分进修卜而提升触控面板的感测准确性。

本实施例的检测方法搭配触控面板 100、 400、 700、 800以及 900的布局设计可以直接地检测不同感侧轴线之间的电容值。这样的检测方法不会受到传输线的影响而更直接地检验出感测轴线是否有缺陷。也就是说，感测轴线中的缺陷可以正确且有效率地被检测出来。

图 13为本发明一实施例的触控面板的第二种检测方法。请参照图 13 , 本实施例的触控面板检测方法例如是进行步骤 10 , 提供一触控面板。在此，触控面板例如是前述的触控面板 100、 400、 700、 800以及 900中其中一者。值得一提的是，采用本实施例的检测方法进行检测的触控面板中 , 所有感测轴线两端都分别地设有检测区。

接着，进行步骤 30，通过同一感测轴线两端的检测区进行检测。通过同一感测轴线两端的检测区可以检测同一条感测轴线的电阻值，以确认每一感测轴线是否有短路或是断路的缺陷。并且，感测轴线的传输阻抗若有过大的差异也可以通过步骤 30检测出来。

举例来说，当本方法应用于触控面板 100时，探针可以同时接触同一条第一感测轴线 120两端的第一检测区 150以进行检测。当然，探针也可以同时接触同一条第二感测轴线 130两端的第二检测区 160以进行检测。在这样的检测过程中，若有其中一条感测轴线的电阻值发生异常可以很正确地被判断出来并进行对应的修补工作。因此，这样的检测方法有助于提升触控面板的质量。

前述两种检测方法可以有效地检测出感测轴线内的缺陷，不过触控面测。因此，本实施例提出以下的检测方法，其针对触控面板中的传输线进行检测。图 14为本发明一实施例的触控面板的第三种检测方法。请参照图 14，本检测方法首先是进行步骤 10提供一触控面板。触控面板可以是如前述的触控面板 100、 400、 700、 800以及 900中其中一者。值得一提的是，应用本方法的触控面板中，绝缘层会暴露出传输线的信号端。另外，各感测轴线中可以仅有连接信号线的一端设有检测区。

接着，进行步骤 40 , 通过其中一个检测区以及对应的其中一个信号端进行检测。举例来说，本检测方法应用于触控面板 100时，步骤 40的进行方式例如是将一探针接触第一检测区 150或第二检测区 160其中一者，同时将另一探针接触对应的第一信号端 S ib或对应的第二信号端 S2b。如此，通过两探针检测第一传输线 S 1 或是第二传输线 S2 的电特性，以针对有缺陷的第一传输线 S1 或是第二传输线 S2进行修补。当然，这样的检测步骤也可以应用于触控面板 400、 700、 800以及 900 , 以提升触控面板 400、 700、 800以及 900的质量。

整体而言，本发明在各感测轴线的端部设置检测区，且绝缘层将检测区暴露出来。因此，本发明可以直接检测感测轴线是否有缺陷产生，并且传输线与感测轴线可以分别地进行检测。触控面板的检测方法因而更有效率。当触控面板中有缺陷被检测出来后，可以进一步针对缺陷部分进行修补。如此，本发明触控面板可以具有良好质量。

虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可对本发明进行各种修改，故本发明的保护范围当以权利要求为准。

Claims

权利要求

1. 一种触控面板，其特征在于，包括：

一基板；

多条第一感测轴线，配置于该基板上，各该第一感测轴线沿一第一方向延伸，且各该第一感测轴线的至少一端具有一第一检测区；

多条第一传输线，各该第一传输线的一连接端分别连接至各该第一感测轴线；

多条第二感测轴线，配置于该基板上，各该第二感测轴线的至少一端具有一第二检测区，且各该第二感测轴线沿一第二方向延伸，而该第一方向不平行于该第二方向；

多条第二传输线，各该第二传输线的一连接端分别连接至各该第二感测轴线，以及

一绝缘层，覆盖该多条第一感测轴线以及该多条第二感测轴线，且暴露出该多个第一检测区以及该多个第二检测区。

2. 如权利要求 1 所述的触控面板，其特征在于，该第一感测轴线垂直于该第二感测轴线。

3. 如权利要求 1 所述的触控面板，其特征在于，该绝缘层暴露处设置有多个开口，且该多个开口对应暴露出该多个第一检测区以及该多个第二检测区。

4. 如权利要求 1 所述的触控面板，其特征在于，该绝缘层暴露出该多个第一检测区以及该多个第二检测区的开口为一环形。

5. 如权利要求 1 所述的触控面板，其特征在于，各该第一感测轴线以及各该第二感测轴线分别由多个感测垫和多个桥接部所组成。

6. 如权利要求 5 所述的触控面板，其特征在于，该多个感测垫包括多个中心感测垫以及两个边缘感测垫，该多个中心感测垫通过该桥接部串接在一起并位于该两个边缘感测垫之间，且该第一检测区或该第二检测区位于该两个边缘感测垫中。

7. 如权利要求 6 所述的触控面板，其特征在于，该基板具有一显示区和一非显示区，且各该边缘感测垫包括一外侧部以及一内侧部，该外侧部位于该非显示区中，而该内侧部以及该多个中心感测垫位于该显示区中，且该第一检测区或该第二检测区位于该外侧部上。

8. 如权利要求 1 所述的触控面板，其特征在于，该基板具有一第一感测区以及一第二感测区，覆盖于该第一感测区以及该第二感测区的该绝缘层暴露出该多条第一感测轴线的该多个第一检测区以及该多条第二感测轴线的该多个第二检测区。

9. 如权利要求 1 所述的触控面板，其特征在于，该多条第一感测轴线配置于该基板的一第一侧，而该多条第二感测轴线配置于该基板的一第二侧，且该第一侧与该第二侧相对。

10. 如权利要求 9所述的触控面板，其特征在于，该绝缘层包括一第一绝缘层以及一第二绝缘层，且该第一绝缘层覆盖该多条第一感测轴线，并暴露出该多个第一检测区，该第二绝缘层覆盖该多条第二感测轴线，并暴露出该多个第二检测区。

11. 如权利要求 10 所述的触控面板，其特征在于，该第一绝缘层暴露处设置有多个第一开口，且该多个第一开口对应暴露出该多个第一检测区，而该第二绝缘层暴露处设置有多个第二开口，且该多个第二开口对应暴露出该多个第二检测区。

12. 如权利要求 1所述的触控面板，其特征在于，该绝缘层进一步覆盖该多条第一传输线以及该多条第二传输线，并进一步暴露出各该第一传输线及各该第二传输线的信号端。

13. 一种触控面板的检测方法，其特征在于，包括：

提供如权利要求第 1项所述的触控面板；以及通过该多个第一检测区以及该多个第二检测区的其中两者进行检测。

14 如权利要求 13所述的触控面板的检测方法，其特征在于，各该第一感测轴线的两端分别具有该第一检测区，且进行检测的方法包括通过同一该第一感测轴线两端的该两个第一检测区进行检测。

15. 如权利要求 13 所述的触控面板的检测方法，其特征在于，各该第二感测轴线的两端分别具有该第二检测区，且进行检测的方法包括通过同一该第二感测轴线两端的该两个第二检测区进行检测。

16. 一种触控面板的检测方法，其特征在于，包括

提供如权利要求 12所述的触控面板；以及通过其中一该第一检测区以及与其对应的信号端或是其中一该第二检测区以及与其对应的信号端进行检测。