TWI398808B - 觸控面板及觸控面板的檢測方法 - Google Patents

Description

觸控面板及觸控面板的檢測方法

本發明是有關於一種觸控面板及檢測方法，且特別是有關於一種可獨立檢測感測軸線的觸控面板及觸控面板的檢測方法。

隨著技術的日新月異，無論是筆記型電腦、手機或是可攜式多媒體播放器等電子裝置，皆逐漸利用觸控面板來取代傳統鍵盤以做為新一代輸入介面。常見的觸控面板大致可分為電容式觸控面板以及電阻式觸控面板。電容式觸控面板因為具有多點觸控的特性而備受矚目。

一般來說，電容式觸控面板的設計是在基板表面形成多條感測軸線。當使用者以手指或是導電物體接近或觸碰電容式觸控面板的表面時，感測軸線上的電容值會發生對應的變化。電容式觸控面板利用這樣的電容值化來進行觸控位置的感測以及計算。由此可知，電容式觸控面板的感測正確性主要依賴各感測軸線的電性特性而決定。所以，感測軸線中若有斷路、短路或是電容效應不均勻的情形發生都會影響觸控感測的正確性。因此，感測軸線的檢測變的相當重要。

中國專利公開案CN101408825中揭露了一種在觸控面板半成品中進行檢測的方法。然而，此專利的檢測方法在半成品中需要額外配置檢測用的線路而造成基板利用率下降。並且，此專利的檢測方法將感測軸線與對應的傳輸線一併進行檢測，而無法獨立地檢測感測軸線的電性特性。中國專利公開案CN100498483揭露了一種在主動元件陣列基板的端子部分進行檢測的方法。然而，此專利的檢測方法應用於電容式觸控面板中無法獨立地檢測感測軸線。簡言之，上述專利皆無法有效精確檢測出檢測軸線的缺陷，因易受傳輸線高電阻RC效應幹擾，而影響實際面內電容量測，並會因量測偏差值大，在往後的檢測應用時，易產生假性缺陷。所以，如何有效檢測電容式觸控面板中感測軸線以維持電容式觸控面板的品質，仍為本領域中一項重要的課題。

本發明提供一種觸控面板，其感測軸線的端部具有一被絕緣層暴露出來的檢測區以利於檢測。

本發明提供一種觸控面板的檢測方法，可以精確檢測感測軸線的電容值以及電阻值。

本發明提供一種檢測方法，可以正確檢測傳輸線的電阻值。

本發明提出一種觸控面板，包括一基板、多條第一感測軸線，多條與之對應的第一傳輸線、多條第二感測軸線，多條與之對應的第二傳輸線以及一絕緣層。第一感測軸線配置於基板上。各第一感測軸線沿一第一方向延伸，且各第一感測軸線的至少一端具有一第一檢測區。第二感測軸線配置於基板上。各第二感測軸線的至少一端具有一第二檢測區，且各第二感測軸線沿一第二方向延伸，而第一方向不平行於第二方向。絕緣層覆蓋第一感測軸線以及第二感測軸線，且暴露出第一檢測區以及第二檢測區。

在本發明之一實施例中，上述之絕緣層設置有多個開口，且開口對應漏出第一檢測區以及第二檢測區。

在本發明之一實施例中，上述之各第一感測軸線以及各第二感測軸線分別由一感測墊和一橋接部組成。該感測墊包括多個中心感測墊以及邊緣感測墊。中心感測墊串接在一起並位於邊緣感測墊之間，且第一檢測區或第二檢測區位於邊緣感測墊中。基板具有一顯示區以及一非顯示區，且各邊緣感測墊包括一外側部以及一內側部。外側部位干非顯示區中而內側部以及中心感測墊位於顯示區中，此外，第一檢測區或第二檢測區位於外側部上。

在本發明之一實施例中，上述之基板具有一第一感測區以及一第二感測區。部份第一感測軸線以及部份第二感測軸線位於第一感測區，而其他的第一感測軸線以及其他的第二感測軸線位該第二感測區。位於第一感測區的第二感測軸線對齊位於第二感測區的第二感測軸線。

在本發明之一實施例中，上述之第一感測軸線配置於基板的一第一側而第二感測軸線配置於基板的一第二側，且第一側與該第二側相對。在一實施例中，各第一感測軸線以及各第二感測軸線分別由一感測條所組成。另外，觸控面板更包括多個虛擬墊，其配置於第一基板的第一側上，位於第一感測軸線之間。具體而言，絕緣層包括一第一絕緣層以及一第二絕緣層。第一絕緣層覆蓋第一感測軸線，並暴露出第一檢測區，而第二絕緣層覆蓋第二感測軸線，並暴露出第二檢測區。第一絕緣層例如具有多個第一開口，以暴露出第一檢測區，而第二絕緣層例如具有多個第二開口，以暴露出第二檢測區。

在本發明之一實施例中，上述之觸控面板更包括多條第一傳輸線以及多條第二傳輸線。各第一傳輸線的一第一連接端連接至其中一條第一感測軸線，而各第二傳輸線的一第二連接端連接至其中一條第二感測軸線。絕緣層更覆蓋第一傳輸線以及第二傳輸線。此外，絕緣層更暴露出各第一傳輸線的一第一訊號端以及各第二傳輸線的一第二訊號端。

本發明另提出一種觸控面板的檢測方法，包括提供一前述的觸控面板以及透過第一檢測區以及第二檢測區其中兩者進行檢測。

在本發明之一實施例中，上述之進行檢測的方法包括透過其中一個第一檢測區以及其中一個第二檢測區進行檢測。

在本發明之一實施例中，上述之各第一感測軸線的兩端分別具有第一檢測區，且進行檢測的方法包括透過同一第一感測軸線兩端的第一檢測區進行檢測。

在本發明之一實施例中，上述之各第二感測軸線的兩端分別具有第二檢測區，且進行檢測的方法包括透過同一第二感測軸線兩端的第二檢測區進行檢測。

本發明又提出一種觸控面板的檢測方法，包括提供一前述的觸控面板。接著，透過第一檢測區以及對應的其中一個第一訊號端進行檢測或是第二檢測區與對應的其中一個第二訊號端進行檢測。

基於上述，本發明在觸控面板的感測軸線端部設置檢測區，且絕緣層將檢測區暴露出來。因此，本發明的觸控面板中，感測軸線可以獨立地被檢測，而可以更正確地判斷感測軸線是否發生缺陷，而不被傳輸線高電阻RC效應幹擾，而影響實際面內電容量測。另外，本發明的觸控面板中，傳輸線也可以獨立地被檢測而使觸控面板的缺陷正確地被檢驗出來。搭配上述觸控面板的結構設計，本發明的檢測方法可以更有效率地檢驗出感測軸線與傳輸線的缺陷。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1繪示為本發明之第一實施例的觸控面板的上視示意圖。請參照圖1，觸控面板100包括一基板110、多條第一感測軸線120、多條第二感測軸線130以及一絕緣層140。第一感測軸線120以及第二感測軸線130皆配置於基板110上。各第一感測軸線120沿一第一方向D1延伸，而各第二感測軸線130沿一第二方向D2延伸，且第一方向D1與第二方向D2不平行。此外，各第一感測軸線120的至少一端具有一第一檢測區150，而第二感測軸線130的至少一端具有一第二檢測區160。絕緣層140則覆蓋第一感測軸線120以及第二感測軸線130，且暴露出第一檢測區150以及第二檢測區160。

本實施例的第一感測軸線120兩端分別具有第一檢測區150，而第二感測軸線130的兩端也分別地具有第二檢測區160。在其他的實施例中，第一感測軸線120可以僅有一端具有第一檢測區150，而第二感測軸線130也可以僅有一端具有第二檢測區160。另外，本實施例的絕緣層140設置有多個開口142，該開口的形狀可為圓形、橢圓形、矩形或者各種多邊形或弧線構成的各種封閉圖形。各開口142暴露出一個第一檢測區150或是一個第二檢測區160。

進一步而言，觸控面板100更包括多條第一傳輸線S1以及多條第二傳輸線S2。各第一傳輸線S1的一第一連接端S1a連接至其中一條第一感測軸線120，而各第二傳輸線S2的一第二連接端S2a連接至其中一條第二感測軸線130。各第一傳輸線S1的另一端則為第一訊號端S1b，而各第二傳輸線S2的另一端則為第二訊號端S2b。第一訊號端S1b以及第二訊號端S2b。上述的傳輸線會通過收攏的佈置整合在基板的非顯示區的一側，所有傳輸線的訊號端則是用以連接至驅動晶片(未繪示)。

在本實施例中，絕緣層140更覆蓋第一傳輸線S1以及第二傳輸線S2。此外，絕緣層140更暴露出各第一訊號端S1b以及各第二訊號端S2b。也就是說，絕緣層140的部份開口142位於第一訊號端S1b以及第二訊號端S2b上以將其暴露出來。

在這樣的設計之下，檢測觸控面板100時，感測軸線120、130以及傳輸線S1、S2可以分別地進行檢測。也就是說，檢測感測軸線120、130時，檢測的結果不會受到傳輸線S1、S2的缺陷影響。同樣地，檢測傳輸線S1、S2時，檢測結果也不會受到感測軸線120、130的缺陷所影響。因此，本實施例可以更有效率地檢測出觸控面板100中不同元件的缺陷，而提升觸控面板100的品質。

具體而言，本實施例的各第一感測軸線120以及各第二感測軸線130分別由分別由多個感測墊170和多個橋接部(圖1未標示)所組成。感測墊170包括多個中心感測墊172以及二邊緣感測墊174。中心感測墊172串接在一起並位於二邊緣感測墊174之間，且第一檢測區150或第二檢測區160位於二邊緣感測墊174中。也就是說，各第一感測軸線120以及各第二感測軸線130中，兩端的部份由邊緣感測墊174所構成。

在本實施例中，第一檢測區120的面積與第二檢測區130的面積可以由邊緣感測墊174的設計而決定。一般而言，邊緣感測墊174需具有一定的面積，所以檢測觸控面板100時的對位元流程較為容易。也就是說，觸控面板100的檢測不需要高精度的對位元設備而有助於簡化並加快檢測方法。

圖2繪示為圖1的區域I的示意圖，而圖3繪示為圖2之A-A’剖線的剖面示意圖。請同時參照圖2與圖3，在本實施例中，相鄰的中心感測墊172可以透過一橋接部176串接在一起。當然，中心感測墊172與邊緣感測墊174也可以透過橋接部176串接在一起。

另外，由圖3可知，邊緣感測墊174與中心感測墊172更可以是透過橋接部176串接在一起。不過，因應不同的需求，可以僅透過第二感測軸線130的邊緣感測墊174與中心感測墊172，或是僅透過串接多個中心感測墊172。值得一提的是，第一感測軸線120與第二感測軸線130必需保持獨立的電性特性，因此第一感測軸線120的橋接部176與第二感測軸線130的橋接部176之間配置有絕緣構件180。

本實施例的絕緣層140暴露出第一檢測區150、第二檢測區160、第一訊號端S1b以及第二訊號端S2b。所以，觸控面板100可藉由絕緣層140所暴露出來的這些區域來進行電性特性的檢測。如此一來，感測軸線120、130以及傳輸線S1、S2可以分別地被檢測。此外，觸控面板100的檢測方法相當簡單，且一但檢測出缺陷可以即時地進行修復。因此，觸控面板100具有良好的電性品質。

圖4繪示為本發明之第二實施例的觸控面板的上視示意圖。圖5繪示為圖4之區域II的示意圖，而圖6繪示為圖5之剖線B-B’的剖面示意圖。請同時參照圖4、圖5以及圖6，觸控面板400與第一實施例的觸控面板100相似，其中觸控面板400也包括有一基板110、多條第一感測軸線120、多條第二感測軸線130以及一絕緣層140。不過，觸控面板400中，基板110具有一顯示區112和一非顯示區114。此外，邊緣感測墊474包括一外側部474A以及一內側部474B，且外側部474A位於非顯示區114中，而內側部474B以及中心感測墊172皆位於顯示區112中。此外，第一檢測區150或第二檢測區160位於外側部474A上。

一般來說，中心感測墊172以及邊緣感測墊474會以透明導電材質加以製作，以使觸控面板400提供良好的光線穿透性。檢測觸控面板400時，操作者會使用一探針接觸欲檢測的第一檢測區150或第二檢測區160。不過，探針的移動與接觸可能造成透明導電材質的損傷而影響第一檢測區150或第二檢測區160的表面平坦性。所以，本實施例將第一檢測區150以及第二檢測區160設置干周邊區114中可以避免顯示區112的光線穿透性受到不良的影響。亦即，觸控面板400除了具有良好的電性特性外，更具有相當不錯的光線穿透性。

圖7繪示為本發明之第三實施例的觸控面板的上視示意圖。請參照圖7，觸控面板700的設計是改變觸控面板400中的絕緣層140，以形成具有一環形開口442的絕緣層440。環形開口442暴露出所有的第一檢測區150以及所有的第二檢測區160。也就是說，環形開口442的設計是將第二實施例中的多個開口142貫通。

不過，在其他的實施例中，可以僅將絕緣層140的部份開口142貫通，而使各貫通的開口同時暴露出數個第一檢測區150或是數個第二檢測區160。本實施例的第一檢測區150以及第二檢測區160被暴露出來，檢測觸控面板700時可以正確地將第一感測軸線120以及第二感測軸線130中的缺陷判斷出來。因此，觸控面板700具有良好的品質。

圖8繪示為本發明之第四實施例的觸控面板的上視示意圖。請參照圖8，觸控面板800也包括有一基板110、多條第一感測軸線120、多條第二感測軸線130以及一絕緣層140。不過，本實施例中，基板110具有一第一感測區116以及一第二感測區118，部份第一感測軸線120以及部份第二感測軸線130位於第一感測區116，而其他的第一感測軸線120以及其他的第二感測軸線130位於第二感測區118。此外，位於第一感測區116的第二感測軸線130對齊位於第二感測區118的第二感測軸線130。也就是說，第一感測區116的其中一條第二感測軸線130與第二感測區118的其中一條第二感測軸線130排列成一直線。

本實施例的設計使兩條第二感測軸線130對齊可以避免觸控面板800進行感測時發生誤感測，例如鬼點(ghost point)的現象。此外，邊緣感測墊874A的設計皆如同第二實施例的邊緣感測墊474是由外側部474A以及內側部474B所構成。邊緣感測墊874B則例如由一三角形圖案所構成。值得一提的是，本實施例的第二感測串列130中都只有一端設有第二檢測區160，而同一條線上的兩條第二感測串列130中相鄰的一端未設有任何的檢測區。也就是說，邊緣感測墊874B未設有檢測區。如此設計有助於提升觸控面板800的光線穿透性質。相似地，本實施例的觸控面板800中，感測軸線120、130可以獨立地進行電容值的檢測，而使得觸控面板800可維持良好的品質。

圖9繪示為本發明之第五實施例的觸控面板的上視示意圖，圖10繪示為圖9之觸控面板的第一側的上視示意圖，而圖11繪示為圖9之觸控面板的第二側的上視示意圖。請參照圖9，觸控面板900包括一基板910、多條第一感測軸線920、多條第二感測軸線930、一第一絕緣層945以及一第二絕緣層947。第一感測軸線920以及第二感測軸線930皆配置於基板910上。具體而言，第一感測軸線920配置於基板910的一第一側912而第二感測軸線930配置於基板910的一第二側914，且第一側912與第二側914相對。

請同時參照圖9、圖10以及圖11，各第一感測軸線920沿第一方向D1延伸，而各第二感測軸線930沿第二方向D2延伸，且第一方向D1與第二方向D2不平行。此外，各第一感測軸線920的兩端分別具有一第一檢測區950，而第二感測軸線930的兩端分別具有一第二檢測區960。第一絕緣層945覆蓋第一感測軸線920且暴露出第一檢測區950。第二絕緣層947則覆蓋第二感測軸線930且暴露出第二檢測區960。

具體而言，各第一感測軸線920以及各第二感測軸線930分別由一感測條(sensing bar)所組成。也就是說，各第一感測軸線920以及各第二感測軸線930由一條狀導體圖案所構成，其材質例如為透明導電材質。此外，為了增進觸控面板900的亮度的均勻性，觸控面板900更包括多個虛擬墊922，其配置於基板910的第一側912上，並位於第一感測軸線920之間。

在本實施例中，第一絕緣層945具有多個第一開口945A，以暴露出第一檢測區950，而第二絕緣層947具有多個第二開口947A，以暴露出第二檢測區960。尤其是，第二開口947A都是設置在顯示區112之外。在其他的實施例中，位於同一側的第一開口945A可以彼此貫通，而位於同一側的第二開口947A也可以彼此貫通。第一開口945A以及第二開口947A將對應的第一檢測區950以及第二檢測區960暴露出來，所以第一感測軸線920與第二感測軸線930可以獨立地進行感測。因此，觸控面板900若有缺陷可以正確地被檢測出來，而有助於維持觸控面板900的品質。

另外，本實施例中，第一感測軸線920的兩端都設有第一檢測區950，而第二感測軸線930的兩端也都設有第二檢測區960。不過，因應不同的檢測需求及佈局設計，第一感測軸線920可以僅有一端設有第一檢測區950，而第二感測軸線也可以僅有一端設有第二檢測區960。

以上實施例所描述的觸控面板100、400、700、800以及900都分別在各感測軸線的端部設置檢測區。並且，這些檢測區被絕緣層暴露出來。因此，觸控面板100、400、700、800以及900可以採用簡易的檢測方式來分別檢視各感測軸線或是各傳輸線是否有缺陷產生。詳言之，觸控面板100、400、700、800以及900可以採用的檢測方法如下。圖12繪示為本發明之一實施例的觸控面板的第一種檢測方法。請參照圖12，先進行步驟10，提供一觸控面板。在本實施例的檢測方法中，觸控面板例如是前述的觸控面板100、400、700、800以及900中其中一者或是觸控面板100、400、700、800以及900中各感測軸線僅有一端設有檢測區的設計。

接著，進行步驟20，透過觸控面板中其中一條第一感測軸線的第一檢測區以及其中一條第二感測軸線的第二檢測區進行檢測。詳言之，檢測的步驟例如是利用一組探針分別地接觸其中一條第一感測軸線的第一檢測區以及其中一條第二感測軸線的第二檢測區。並且，測量這組探針之間的電容值。借著所測得的電容值來判斷第一感測軸線與第二感測軸線是否有短路或是斷路的缺陷。

另外，因制程誤差而使第一感測軸線的圖案或是第二感測軸線的圖案不一致，例如圖案的面積差異過大或是圖案的間距不一致，會導致第一感測軸線與第二感測軸線在不同位置上的電容耦合效應隨之變化。如此，觸控面板將會有感測不準確的情況。本實施例借著不同感測軸線間的電容值變化可判斷出感測軸線的圖案是否有缺陷，以進一步針對缺陷部份進修補而提升觸控面板的感測準確性。

本實施例的檢測方法搭配觸控面板100、400、700、800以及900的佈局設計，可以直接地檢測不同感側軸線之間的電容值。這樣的檢測方法不會受到傳輸線的影響而更直接地檢驗出感測軸線是否有缺陷。也就是說，感測軸線中的缺陷可以正確且有效率地被檢測出來。

圖13繪示為本發明之一實施例的觸控面板的第二種檢測方法。請參照圖13，本實施例的觸控面板檢測方法例如是進行步驟10，提供一觸控面板。在此，觸控面板例如是前述的觸控面板100、400、700、800以及900中其中一者。值得一提的是，採用本實施例之檢測方法進行檢測的觸控面板中，所有感測軸線兩端都分別地設有檢測區。

接著，進行步驟30，透過同一感測軸線兩端的檢測區進行檢測。藉由同一感測軸線兩端的檢測區可以檢測同一條感測軸線的電阻值，以確認每一感測軸線是否有短路或是斷路的缺陷。並且，感測軸線的傳輸阻抗若有過大的差異也可以藉由步驟30檢測出來。

舉例來說，當本方法應用於觸控面板100時，探針可以同時接觸同一條第一感測軸線120兩端的第一檢測區150以進行檢測。當然，探針也可以同時接觸同一條第二感測軸線130兩端的第二檢測區160以進行檢測。在這樣的檢測過程中，若有其中一條感測軸線的電阻值發生異常可以很正確地被判斷出來並進行對應的修補工作。因此，這樣的檢測方法有助於提升觸控面板的品質。

前述兩種檢測方法可以有效地檢測出感測軸線內的缺陷，不過觸控面板中的傳輸線也必須維持良好的電性特性以使觸控面板正常地進行觸控感測。因此，本實施例提出以下的檢測方法，其針對觸控面板中的傳輸線進行檢測。圖14繪示為本發明之一實施例的觸控面板的第三種檢測方法。請參照圖14，本檢測方法首先是進行步驟10提供一觸控面板。觸控面板可以是如前述之觸控面板100、400、700、800以及900中其中一者。值得一提的是，應用本方法的觸控面板中，絕緣層會暴露出傳輸線的訊號端。另外，各感測軸線中可以僅有連接訊號線的一端設有檢測區。

接著，進行步驟40，透過其中一個檢測區以及對應的其中一個訊號端進行檢測。舉例來說，本檢測方法應用於觸控面板100時，步驟40的進行方式例如是將一探針接觸第一檢測區150或第二檢測區160其中一者，同時將另一探針接觸對應的第一訊號端S1b或對應的第二訊號端S2b。如此，藉由兩探針檢測第一傳輸線S1或是第二傳輸線S2的電性特性，以針對有缺陷的第一傳輸線S1或是第二傳輸線S2進行修補。當然，這樣的檢測步驟也可以應用於觸控面板400、700、800以及900，以提升觸控面板400、700、800以及900的品質。

整體而言，本發明在各感測軸線的端部設置檢測區，且絕緣層將檢測區暴露出來。因此，本發明可以直接檢測感測軸線是否有缺陷產生，並且傳輸線與感測軸線可以分別地進行檢測。觸控面板的檢測方法因而更有效率。當觸控面板中有缺陷被檢測出來後，可以進一步針對缺陷部份進行修補。如此，本發明觸控面板可以具有良好品質。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為准。

10、20、30、40．．．步驟

100、400、700、800、900．．．觸控面板

110、910．．．基板

112．．．顯示區

114．．．非顯示區

116．．．第一感測區

118．．．第二感測區

120、920．．．第一感測軸線

130、930．．．第二感測軸線

140、440．．．絕緣層

142．．．開口

150、950．．．第一檢測區

160、960．．．第二檢測區

170．．．感測墊

172．．．中心感測墊

174、474、874A、874B．．．邊緣感測墊

176．．．橋接部

180．．．絕緣構件

190．．．連接線

442．．．環形開口

474A．．．外側部

474B．．．內側部

912．．．第一側

914．．．第二側

945．．．第一絕緣層

947．．．第二絕緣層

A-A’、B-B’．．．剖線

D1．．．第一方向

D2．．．第二方向

I、II．．．區域

S1．．．第一傳輸線

S2．．．第二傳輸線

S1a．．．第一連接端

S2a．．．第二連接端

S1b．．．第一訊號端

S2b．．．第二訊號端

圖1繪示為本發明之第一實施例的觸控面板的上視示意圖。

圖2繪示為圖1的區域I的示意圖。

圖3繪示為圖2之A-A’剖線的剖面示意圖。

圖4繪示為本發明之第二實施例的觸控面板的上視示意圖。

圖5繪示為圖4之區域II的示意圖。

圖6繪示為圖5之剖線B-B’的剖面示意圖。

圖7繪示為本發明之第三實施例的觸控面板的上視示意圖。

圖8繪示為本發明之第四實施例的觸控面板的上視示意圖。

圖9繪示為本發明之第五實施例的觸控面板的上視示意圖。

圖10繪示為圖9之觸控面板的第一側的上視示意圖。

圖11繪示為圖9之觸控面板的第二側的上視示意圖。

圖12繪示為本發明之一實施例的觸控面板的第一種檢測方法。

圖13繪示為本發明之一實施例的觸控面板的第二種檢測方法。

圖14繪示為本發明之一實施例的觸控面板的第三種檢測方法。

110．．．基板

112．．．顯示區

114．．．非顯示區

120．．．第一感測軸線

130．．．第二感測軸線

140．．．絕緣層

142．．．開口

150．．．第一檢測區

160．．．第二檢測區

170．．．感測墊

172．．．中心感測墊

400．．．觸控面板

474．．．邊緣感測墊

II．．．區域

S1．．．第一傳輸線

S2．．．第二傳輸線

S1a．．．第一連接端

S1b．．．第一訊號端

S2b．．．第二訊號端

Claims (16)

1. 一種觸控面板，包括：一基板；多條第一感測軸線，配置於該基板上，各該第一感測軸線沿一第一方向延伸，且各該第一感測軸線的至少一端具有一第一檢測區；多條第一傳輸線，各該第一傳輸線的一連接端分別連接至各該第一感測軸線；多條第二感測軸線，配置於該基板上，各該第二感測軸線的至少一端具有一第二檢測區，且各該第二感測軸線沿一第二方向延伸，而該第一方向不平行於該第二方向；多條第二傳輸線，各該第二傳輸線的一連接端分別連接至各該第二感測軸線，以及一絕緣層，覆蓋該些第一感測軸線以及該些第二感測軸線，且暴露出該些第一檢測區以及該些第二檢測區。
2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該第一感測軸線垂直於該第二感測軸線。
3. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該絕緣層暴露處設置有多個開口，且該些開口對應暴露出該些第一檢測區以及該些第二檢測區。
4. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該絕緣層暴露出該些第一檢測區以及該些第二檢測區的開口為一環形。
5. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中各該 第一感測軸線以及各該第二感測軸線分別由多個感測墊和多個橋接部所組成。
6. 如申請專利範圍第5項所述之觸控面板，其中該些感測墊包括多個中心感測墊以及二邊緣感測墊，該些中心中心感測墊通過橋接部串接在一起並位於該些邊緣感測墊之間，且該第一檢測區或該第二檢測區位於該些邊緣感測墊中。
7. 如申請專利範圍第6項所述之觸控面板，其中該基板具有一顯示區和一非顯示區，且各該邊緣感測墊包括一外側部以及一內側部，該外側部位於該非顯示區中而該內側部以及該些中心感測墊位於該顯示區中，且該第一檢測區或該第二檢測區位於該外側部上。
8. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該基板具有一第一感測區以及一第二感測區，覆蓋於該第一感測區以及該第二感測區的該絕緣層暴露出該些第一感測軸線的該些第一檢測區以及該些第二感測軸線的該些第二檢測區。
9. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該些第一感測軸線配置於該基板的一第一側而該些第二感測軸線配置於該基板的一第二側，且該第一側與該第二側相對。
10. 如申請專利範圍第9項所述之觸控面板，其中該絕緣層包括一第一絕緣層以及一第二絕緣層，且該第一絕緣層覆蓋該些第一感測軸線，並暴露出該些第一檢測區，該第二絕緣層覆蓋該些第二感測軸線，並暴露出該些第二 檢測區。
11. 如申請專利範圍第10項所述之觸控面板，其中該第一絕緣層暴露處設置有多個第一開口，且該些開口對應暴露出該些第一檢測區，而該第二絕緣層暴露處設置有多個第二開口，且該些開口對應暴露出該些第二檢測區。
12. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該絕緣層更覆蓋該些第一傳輸線以及該些第二傳輸線，更進一步暴露出各該第一傳輸線之第一訊號端及各該第二傳輸線之第二訊號端。
13. 一種觸控面板的檢測方法，包括：提供一如申請專利範圍第1項所述的觸控面板；以及透過該些第一檢測區以及該些第二檢測區其中兩者進行檢測。
14. 如申請專利範圍第13項所述之觸控面板的檢測方法，其中各該第一感測軸線的兩端分別具有該第一檢測區，且進行檢測的方法包括透過同一第一感測軸線兩端的該些第一檢測區進行檢測。
15. 如申請專利範圍第13項所述之觸控面板的檢測方法，其中各該第二感測軸線的兩端分別具有該第二檢測區，且進行檢測的方法包括透過同一第二感測軸線兩端的該些第二檢測區進行檢測。
16. 一種觸控面板的檢測方法，包括提供一如申請專利範圍第12項所述的觸控面板；以及透過其中一該第一檢測區以及與其對應的第一訊號端或 是透過其中一該第二檢測區以及與其對應的第二訊號端進行檢測。