TW201635120A - 觸控面板、觸控面板之檢查方法及觸控面板之製造方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供的一種觸控面板具備：透明電極，配置於觸控區域及非觸控區域，且於非觸控區域具有一端部；第一電極極板，設置於該透明電極之一端部；第二電極極板，設置於該透明電極之一端部，且與第一電極極板隔開；以及配線，配置於非觸控區域，與第一電極極板連接且與第二電極極板隔開。

Description

觸控面板、觸控面板之檢查方法及觸控面板之製造方法

本發明涉及一種根據電容的變化來檢測操作位置的觸控面板以及該觸控面板的檢查方法、製造方法。

近年來，能夠容易地用手指等憑感覺進行操作的觸控面板廣泛普及，對該觸控面板的小型化、薄型化、輕量化、省電及降低成本等進行了多種多樣的研究及開發。

在觸控面板中，作為檢測手指等的位置(操作位置)的方式，已知檢測電阻變化的電阻模式、利用超聲波等的表面彈性波方式、以及檢測電容變化的電容式等。其中，在能夠檢測出多個操作位置等方面，電容式正受到矚目。

電容式觸控面板具備：產生電容的透明電極、以及檢測該電容變化的外部電路。關於該電容式觸控面板，已經有了各種各樣的提案。

具體而言，為了容易地進行透明電極層的電氣特性檢查，在該透明電極層之一端部設置有連接用的第一極板，並且在該透明電極層之另一端部設置有電氣特性檢查用的第二極板(例如，參照專利文獻1。)。

[專利文獻]

[專利文獻1]日本專利特開2012-208732號公報

在觸控面板的製造步驟中，將檢查操作位置的檢測性能有無異常。在該檢查中，因為若確認發生操作位置的檢測不良，則將考慮及實行觸控面板的修理等的對策，所以容易且正確地判定該操作位置的檢測不良之發生原因係重要的。

因此，期望提供一種可以容易且正確地判定操作位置的檢測不良之發生原因的觸控面板、觸控面板的檢查方法及觸控面板的製造方法。

本發明之一種實施形態的觸控面板具備：透明電極，配置於觸控區域及非觸控區域，且於非觸控區域具有一端部；第一電極極板，設置於該透明電極之一端部；第二電極極板，設置於該透明電極之一端部，且與第一電極極板隔開；以及配線，配置於非觸控區域，與第一電極極板連接且與第二電極極板隔開。

本發明之一種實施形態的觸控面板的檢查方法係準備：透明電極，配置於觸控區域及非觸控區域；第一電極極板，設置在位於該非觸控區域的透明電極之一端部、且與位於非觸控區域的配線連接；以及第二電極極板，設置在位於非觸控區域的透明電極之一端部、且與第一電極極板及配線隔開，並且將該第一電極極板及第二電極極板作為電阻測定用的一對端子使用，測定透明電極、第一電極極板及第二電極極板的電阻。

本發明之一種實施形態的觸控面板的製造方法係：在觸控區域及非觸控區域，以於該非觸控區域具有一端部的方式形成透明電極；在該透明電極之一端部形成第一電極極板；在該透明電極之一端部，以與第 一電極極板隔開的方式形成第二電極極板；在非觸控區域，以與第一電極極板連接且與第二電極極板隔開的方式形成配線，並且將該第一電極極板及第二電極極板作為電阻測定用的一對端子使用，測定透明電極、第一電極極板及第二電極極板的電阻。

在此，“觸控區域”係指在觸控面板中，因為不存在框架等遮蔽物，所以為了操作該觸控面板而用手指等接觸時能夠感應操作位置的區域。另一方面，“非觸控區域”係指用手指等接觸時不能感應操作位置的區域。

將第一電極極板及第二電極極板作為電阻測定用的一對端子使用而測定的“透明電極、第一電極極板及第二電極極板的電阻”主要包括：透明電極自身的電阻、第一電極極板對透明電極的接觸電阻、與第二電極極板對透明電極的接觸電阻。

根據本發明之一種實施形態的觸控面板，在位於非觸控區域的透明電極之一端部，設置有連接於配線的第一電極極板、以及與該第一電極極板及配線隔開的第二電極極板。藉此，可以將第一電極極板及第二電極極板作為電阻測定用的一對端子使用，來測定透明電極、第一電極極板及第二電極極板的電阻。因此，能夠容易且正確地判定操作位置的檢測不良之發生原因。

又，根據本發明之一種實施形態的觸控面板的檢查方法及觸控面板的製造方法，將設置在位於非觸控區域的透明電極之一端部且連接於配線的第一電極極板、以及設置在該透明電極之一端部且與第一電極極板及配線隔開的第二電極極板作為電阻測定用的一對端子使用，來測定透 明電極、第一電極極板及第二電極極板的電阻。因此，能夠容易且正確地判定操作位置的檢測不良之發生原因。

11,17‧‧‧透明電極

11X‧‧‧下層透明電極

11X1,11Y1‧‧‧一端部

11Y‧‧‧上層透明電極

12,18‧‧‧第一電極極板

13,19‧‧‧第二電極極板

14,20‧‧‧配線

14X‧‧‧下層配線

14Y‧‧‧上層配線

17R‧‧‧右側透明電極

17L‧‧‧左側透明電極

20R‧‧‧右側配線

20L‧‧‧左側配線

TA1‧‧‧觸控區域

TA2(TA21~TA24)‧‧‧非觸控區域

圖1係表示本發明之第一實施形態的觸控面板之構造之俯視示意圖。

圖2係表示圖1所示的觸控面板之主要部分之構造之俯視圖。

圖3係表示圖2所示的觸控面板之主要部分的沿著A-A線之剖面圖。

圖4係表示圖2所示的觸控面板之主要部分的沿著A-A線之其他剖面圖。

圖5係用於說明判定模式的檢查方法之流程圖。

圖6係用於說明類手指試驗(1根觸控線)的內容之俯視圖。

圖7係描繪正常時的操作位置的檢測結果(座標)之圖。

圖8係描繪異常時的操作位置的檢測結果(座標)之圖。

圖9係用於說明分析模式(分析模式1)的檢查方法之流程圖。

圖10係用於說明分析模式(分析模式2)的檢查方法之流程圖。

圖11係用於說明分析模式(分析模式3)的檢查方法之流程圖。

圖12係表示第一比較例的觸控面板之構造之俯視圖。

圖13係表示第二比較例的觸控面板之構造之俯視圖。

圖14係表示關於第一實施形態的觸控面板之構造的變形例之俯視圖。

圖15係表示關於第一實施形態的觸控面板之構造的另一變形例之俯視圖。

圖16係表示關於第一實施形態的觸控面板之構造的其他變形例之剖面 圖。

圖17係表示本發明之第二實施形態的觸控面板之主要部分之構造之剖面圖。

圖18係表示圖17所示的觸控面板之主要部分的沿著A-A線之剖面圖。

圖19係表示第三比較例的觸控面板之構造之俯視圖。

圖20係用於說明類手指試驗(3條觸控線)的內容之俯視圖。

圖21係描繪操作位置的檢測結果(座標)之圖。

圖22係表示電極位置R1~R8與電阻RA之相關圖。

圖23係表示電極位置L1~L8與電阻RA之相關圖。

圖24係描繪進行對策後的操作位置的檢測結果(座標)之圖。

以下參照圖式對本發明之一種實施形態進行詳細說明。此外，說明的順序如下。

1.觸控面板(第一實施形態：2層電極型)

1-1.構造

1-2.製造方法(包括檢查方法)

1-3.作用及效果

1-4.變形例

2.觸控面板(第二實施形態：1層電極型)

2-1.構造

2-2.製造方法(包括檢查方法)

2-3.作用及效果

2-4.變形例

<1.觸控面板(第一實施形態：2層電極型)>

首先，對本發明之第一實施形態的觸控面板進行說明。

在此說明的觸控面板係所謂的電容式觸控面板，根據電容的變化檢測操作位置。

<1-1.構造>

[觸控面板之整體構造]

圖1示意性地表示觸控面板之平面構造。

該觸控面板如圖1所示，具備：用手指等操作的面板部10、與根據在該面板部10發生的電容變化的檢測結果進行演算的控制部30。

面板部10例如包含框架1、與周圍被該框架1圍繞的顯示面板2。藉此，面板部10如上所述，包含觸控區域TA1及非觸控區域TA2。

因為顯示面板2沒有被框架1遮蔽，所以觸控區域TA1係為了操作面板部10而用手指等接觸顯示面板2時能夠感應操作位置的區域。另一方面，非觸控區域TA2係用手指等接觸顯示面板2時不能感應操作位置的區域。

顯示面板2例如係液晶顯示面板、有機電致發光(EL)面板及電子紙面板等中之任意1種或2種以上，也可以係除此之外的顯示方式的面板。

控制部30例如包含積體電路(IC)及柔性線路板(FPC)等。

[觸控面板之詳細構造]

圖2表示圖1所示的觸控面板之主要部分之平面構造。圖3及圖4分別 表示圖2所示的主要部分的沿著A-A線之剖面構造。

此外，圖2所示的線(一點劃線)L表示觸控區域TA1與非觸控區域TA2的境界。亦即，線L之內側區域為觸控區域TA1，並且該線L之外側區域為非觸控區域TA2。

觸控面板如圖2所示，具備：透明電極11、設置在該透明電極11上的第一電極極板12及第二電極極板13、與電氣連接於該透明電極11的配線14。此外，在圖2中，為了便於識別，將第一電極極板12及第二電極極板13分別畫上陰影。

[透明電極]

透明電極11係具有透光性的電極，用於檢測起因於手指等觸控體(接觸物)的電容變化(操作位置)，並且檢測該操作位置的位移。該透明電極11之厚度例如為約10nm~50nm。

在此說明的觸控面板具備多個透明電極11，該多個透明電極11例如具有2層構造。亦即，觸控面板係2層電極型。該多個透明電極11配置於觸控區域TA1及非觸控區域TA2。

具體而言，多個透明電極11例如包含：在橫方向上延伸且排列在縱方向上的多個下層透明電極11X、與在縱方向上延伸且排列在橫方向上的多個上層透明電極11Y。

非觸控區域TA2例如包含：在橫方向上位於觸控區域TA1之一側(右側)的非觸控區域TA21(第一非觸控區域)、與在該橫方向上位於觸控區域TA1之另一側(左側)的非觸控區域TA22(第二非觸控區域)。

在該情況下，下層透明電極11X例如從非觸控區域TA21經 由觸控區域TA1延伸至非觸控區域TA22。

該下層透明電極11X之平面形狀沒有特別的限定。在此，下層透明電極11X例如具有寬幅部11M與窄幅部11N交替連接且在兩端配置有寬幅部11M的平面形狀。位於兩端的寬幅部11M之平面形狀沒有特別的限定，例如係在橫方向上排列有上底及下底的梯形。位於兩端以外的寬幅部11M之平面形狀沒有特別的限定，例如係互相對向的2邊之延伸方向相對橫方向傾斜的矩形。窄幅部11N之平面形狀沒有特別的限定，例如係在橫方向上延伸的矩形。

又，下層透明電極11X例如包含具有高透光性及低電阻的透明導電性材料中之任意1種或2種以上。該透明導電性材料例如係透明電極材料及金屬奈米線等。透明電極材料之具體例子係氧化銦錫(ITO)。金屬奈米線之具體例子係銀奈米線及銅奈米線等。

此外，包含金屬奈米線的下層透明電極11X也可以進一步包含高分子化合物(所謂粘合劑)中之任意1種或2種以上。該高分子化合物之種類係任意的。在該下層透明電極11X中，金屬奈米線被分散於高分子化合物中，並且藉由該高分子化合物保持金屬奈米線。金屬奈米線與高分子化合物之混合比係任意的。

非觸控區域TA2例如包含：在縱方向上位於觸控區域TA1之一側(下側)的非觸控區域TA23(第一非觸控區域)、與在該縱方向上位於觸控區域TA1之另一側(上側)的非觸控區域TA24(第二非觸控區域)。

在該情況下，上層透明電極11Y例如從非觸控區域TA23經由觸控區域TA1延伸至非觸控區域TA24。

上層透明電極11Y之構造及形成材料例如與上述下層透明電極11X之構造及形成材料相同。

延伸在橫方向上的多個下層透明電極11X與延伸在縱方向上的多個上層透明電極11Y互相交叉。在該情況下，例如以窄幅部11N互相重疊的方式配置有多個下層透明電極11X及多個上層透明電極11Y。

[第一電極極板及第二電極極板]

第一電極極板12係用於使透明電極11與配線14連接的電極極板(連接用電極極板)，並且第二電極極板13係用於測定後述電阻RA的電極極板(測定用電極極板)。該“電阻RA”如上所述，主要包括：後述透明電極11自身的電阻RC、第一電極極板12對透明電極11的接觸電阻、與第二電極極板13對透明電極11的接觸電阻。在測定該電阻RA的情況下，第一電極極板12及第二電極極板13作為電阻測定用的一對端子使用。

第一電極極板12及第二電極極板13皆設置在位於非觸控區域TA2的透明電極11之一端部，並且互相隔開(分離)。第一電極極板12及第二電極極板13之所以配置於非觸控區域TA2，係為了避免第一電極極板12及第二電極極板13被觸控面板的操作者看見。

具體而言，如上上述，下層透明電極11X從非觸控區域TA21經由觸控區域TA1延伸至非觸控區域TA22。為此，下層透明電極11X具有：位於非觸控區域TA21的一個端部11X1、與位於非觸控區域TA22的另一個端部11X2。

在該情況下，第一電極極板12及第二電極極板13設置於一個端部11X1、11X2中之任何一方。在此，第一電極極板12及第二電極極 板13例如設置於位於非觸控區域TA21的一個端部11X1。

又，如上上述，上層透明電極11Y從非觸控區域TA23經由觸控區域TA1延伸至非觸控區域TA24。為此，上層透明電極11Y具有：位於非觸控區域TA23的一個端部11Y1、與位於非觸控區域TA24的一個端部11Y2。

在該情況下，第一電極極板12及第二電極極板13設置於一個端部11Y1、11Y2中之任何一方。在此，第一電極極板12及第二電極極板13例如設置於位於非觸控區域TA23的一個端部11Y1。

第一電極極板12之平面形狀沒有特別的限定，例如係在縱方向上延伸的矩形。又，第二電極極板13之平面形狀沒有特別的限定，例如係在縱方向上延伸的矩形。第一電極極板12之平面形狀與第二電極極板13之平面形狀可以相同也可以不同。

第一電極極板12之平面形狀之面積與第二電極極板13之平面形狀之面積的關係沒有特別的限定。在圖2中，例如，表示第一電極極板12之平面形狀之面積比第二電極極板13之平面形狀之面積大的情況。但是，第一電極極板12之平面形狀之面積也可以比第二電極極板13之平面形狀之面積小。又，第一電極極板12之平面形狀之面積與第二電極極板13之平面形狀之面積也可以相同。

在此，只要在下層透明電極11X之一端部11X1設置第一電極極板12及第二電極極板13，第一電極極板12及第二電極極板13各自在一端部11X1的設置位置沒有特別的限定。

其中，第一電極極板12及第二電極極板13較佳為設置於下 層透明電極11X(一端部11X1)之一面(例如上面或下面)。亦即，在一端部11X1具有的多個面(上面、側面及下面)中，相對於以在2個不同的面互相分開的方式配置第一電極極板12及第二電極極板13，較佳為以在1個相同的面互相接近的方式配置第一電極極板12及第二電極極板13。其原因為在電阻RA的測定時，容易使第一電極極板12及第二電極極板13各自的電阻測定用探頭(探針)接觸。

在該情況下，第一電極極板12與第二電極極板13之位置關係沒有特別的限定。

其中，第一電極極板12與第二電極極板13較佳為並聯配置。其原因為更加容易使第一電極極板12及第二電極極板13各自的電阻測定用探針接觸。該“第一電極極板12與第二電極極板13並聯配置”係意味著第一電極極板12與第二電極極板13以相鄰且接近的方式配置。更具體而言，例如在第一電極極板12之平面形狀及第二電極極板13之平面形狀皆為矩形的情況下，第一電極極板12及第二電極極板13被以互相對向的邊大致互相平行的方式配置。

在該情況下，第一電極極板12及第二電極極板13例如在縱方向上排列。

此外，關於設置於下層透明電極11X之一端部11X1的第一電極極板12及第二電極極板13之設置位置及位置關係之詳細情況，例如設置於上層透明電極11Y之一端部11Y1的第一電極極板12及第二電極極板13之設置位置及位置關係也相同。

第一電極極板12及第二電極極板13各自皆包含例如具有低 電阻導電性材料中之任意1種或2種以上。該導電性材料例如係金屬膏及碳糊等。金屬膏之具體例子係銀膏及銅膏。此外，第一電極極板12及第二電極極板13也可以分別係含有上述導電性材料的薄膜。第一電極極板12之形成材料與第二電極極板13之形成材料可以相同也可以不同。

[配線]

配線14配置於非觸控區域TA2，例如係所謂信號配線。配線14之所以配置於非觸控區域TA2，與上述第一電極極板12及第二電極極板13同樣，係為了避免配線14被觸控面板的操作者看見。

在此說明的觸控面板具備多根配線14，該多根配線14例如與上述多個透明電極11同樣，具有2層構造。

具體而言，多根配線14例如包括：電氣連接於多個下層透明電極11X的多根下層配線14X、與電氣連接於多個上層透明電極11Y的多根上層配線14Y。

如上所述，在下層透明電極11X從非觸控區域TA21經由觸控區域TA1延伸至非觸控區域TA22的情況下，多根下層配線14X配置於非觸控區域TA21、TA22中之任何一方。在此，例如因為在位於非觸控區域TA21的下層透明電極11X之一端部11X1設置有第一電極極板12，所以下層配線14X也配置於非觸控區域TA21。

下層配線14X連接於第一電極極板12。為此，下層配線14X透過第一電極極板12與下層透明電極11X電氣連接。另一方面，下層配線14X與第二電極極板13隔開。但是，第二電極極板13透過下層透明電極11X與第一電極極板12電氣連接。

此外，下層配線14X例如包含與下層透明電極11X同樣的導電性材料。下層配線14X之形成材料與下層透明電極11X之形成材料可以相同也可以不同。

如上所述，在上層透明電極11Y從非觸控區域TA23經由觸控區域TA1延伸至非觸控區域TA24的情況下，多根上層配線14Y配置於非觸控區域TA23、TA24中之任何一方。在此，例如因為在位於非觸控區域TA23的上層透明電極11Y之一端部11Y1設置有第一電極極板12，所以上層配線14Y也配置於非觸控區域TA23。

上層配線14Y連接於第一電極極板12。為此，上層配線14Y透過第一電極極板12與上層透明電極11Y電氣連接。另一方面，上層配線14Y與第二電極極板13隔開。但是，第二電極極板13透過上層透明電極11Y與第一電極極板12電氣連接。

此外，上層配線14Y，例如，包含與上層透明電極11Y同樣的導電性材料。上層配線14Y之形成材料與上層透明電極11Y之形成材料可以相同也可以不同。

在此，下層配線14X，例如，如圖3所示，以與第一電極極板12一體形成的方式設置。亦即，第一電極極板12及配線14X在同一步驟中形成。因為第一電極極板12與配線14X在同一步驟中形成，所以能夠使觸控面板之製造步驟簡化。

此外，上層配線14Y，例如，由於與上述下層配線14X同樣的理由，以與第一電極極板12一體形成的方式設置。

[其他]

此外，例如，如圖3所示，透明電極11(下層透明電極11X)、第一電極極板12、第二電極極板13及配線14(下層配線14X)例如形成於基體15上。但是，在圖2中，省略了基體15的圖示。

該基體15例如包含：聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚碳酸酯(PC)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)及環烯類樹脂(COP、COC)等高分子化合物中之任意1種或2種以上。因為該等高分子化合物之比重小於玻璃，所以能夠謀求觸控面板的輕量化。

此外，基體15可以係具有剛性的基板，也可以係具有柔軟性(可撓性)的膜。又，基體15可以係單層也可以係多層。

在此，在圖1所示的顯示面板2中，例如，對於設置有下層透明電極11X、設置於該下層透明電極11X的第一電極極板12及第二電極極板13、與下層配線14X的基體15，會有貼合上層透明電極11Y、設置於該上層透明電極11Y的第一電極極板12及第二電極極板13、與上層配線14Y的情況。

在該情況下，例如，如圖3所示，也可以使用雙面膠等接著劑16覆蓋基體15之表面。在該情況下，因為第一電極極板12及第二電極極板13被接著劑16埋設，所以在測定電阻RA的情況下，例如，作為電阻測定用探針可以使用針狀探針。亦即，將針狀探針刺進接著劑16，使該針狀探針分別與第一電極極板12及第二電極極板13接觸。

又，例如，對應於圖3的圖4所示，也可以在接著劑16上設置開口16K，使第一電極極板12及第二電極極板13從該開口16K露出。在該情況下，因為不一定要使用作為電阻測定用探針的針狀探針，所以增 加了有關該探針之形狀的自由度。

關於該觸控面板，在下層透明電極11X與上層透明電極11Y之交點上，該下層透明電極11X與上層透明電極11Y之間產生電容。因為若手指等接觸顯示面板2(觸控區域TA1)，則在該手指等與上層透明電極11Y之間發生電容耦合，所以在該手指接觸的位置(操作位置)，上述電容發生變化。因為該電容之變化由控制部30檢測，所以根據該電容之變化能夠檢測出操作位置。

<1-2.製造方法(包括檢查方法)>

該觸控面板，例如，藉由以下程序製造。此外，觸控面板的檢查方法係在此說明的觸控面板的製造方法之一部分，所以有關該觸控面板的檢查方法在下面一併說明。

[觸控面板的組裝步驟]

首先，藉由以下程序，組裝觸控面板。

最初，在基體15上(觸控區域TA1及非觸控區域TA2)形成透明電極11。

在該情況下，例如在基體15之表面堆積透明導電性材料之後，對該透明導電性材料進行圖案化，形成多個下層透明電極11X。接著，在以覆蓋基體15及下層透明電極11X的方式堆積透明導電性材料之後，對該透明導電性材料進行圖案化，形成多個上層透明電極11Y。但是，在下層透明電極11X與上層透明電極11Y之間，為了使該下層透明電極11X與上層透明電極11Y互相隔開，如上所述，有時會加入接著劑16等。

透明導電性材料之堆積方法沒有特別的限定，例如係濺射 法、塗佈法及印刷法等中之任意1種或2種以上。又，透明導電性材料之圖案化方法沒有特別的限定，可以係乾式蝕刻法及濕式蝕刻法中之任意1種或2種以上。

接著，在位於非觸控區域TA2的透明電極11之一端部，以互相隔開的方式形成第一電極極板12及第二電極極板13。

在該情況下，例如在下層透明電極11X之一端部11X1之表面堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，形成第一電極極板12及第二電極極板13。又，在上層透明電極11Y之一端部11Y1之表面堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，形成第一電極極板12及第二電極極板13。

關於導電性材料之堆積方法及圖案化方法的詳細內容，例如與上述透明導電性材料之堆積方法及蝕刻方法相同。但是，也可以使用絲網印刷法等圖案印刷技術，來形成第一電極極板12及第二電極極板13。

接著，在基體15上(非觸控區域TA2)形成配線14。

在該情況下，例如在基體15之表面堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，形成多根下層配線14X。又，在基體15之表面堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，形成多根上層配線14Y。但是，也可以使用絲網印刷法等圖案印刷技術，來形成多根下層配線14X及多根上層配線14Y。此外，在下層配線14X與上層配線14Y之間，為了使該下層配線14X與上層配線14Y互相隔開，如上所述，有時會加入接著劑16等。

特別是在形成下層配線14X的情況下，在形成於下層透明 電極11X之一端部11X1的第一電極極板12及第二電極極板13中，使該下層配線14X與第一電極極板12連接且與第二電極極板13隔開。又，在形成上層配線14Y的情況下，在形成於上層透明電極11Y之一端部11Y1的第一電極極板12及第二電極極板13中，使該上層配線14Y與第一電極極板12連接且與第二電極極板13隔開。

此外，上述透明電極11、第一電極極板12、第二電極極板13及配線14各自的形成順序可以任意變更。在該情況下，當然也可以在別的步驟中形成第一電極極板12及第二電極極板13。

在此，例如，在同一步驟中形成：設置於下層透明電極11X之一端部11X1的第一電極極板12及第二電極極板13、與下層配線14X。在該情況下，在以覆蓋基體15及一端部11X1的方式堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，一次性形成第一電極極板12、第二電極極板13及下層配線14X。藉此，第一電極極板12與下層配線14X被以一體性方式形成。但是，也可以使用絲網印刷法等圖案印刷技術，一次性形成第一電極極板12、第二電極極板13及下層配線14X。

同樣，例如，在同一步驟中形成：設置於上層透明電極11Y之一端部11Y1的第一電極極板12及第二電極極板13、與上層配線14Y。在該情況下，在以覆蓋基體15及一端部11Y1的方式堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，一次性形成第一電極極板12、第二電極極板13及上層配線14Y。藉此，第一電極極板12與上層配線14Y被以一體性方式形成。但是，也可以使用絲網印刷法等圖案印刷技術，一次性形成第一電極極板12、第二電極極板13及上層配線14Y。

接著，在設置有透明電極11、第一電極極板12、第二電極極板13及配線14的基體15之一面供給接著劑16之後，透過該接著劑16將基體15粘貼於玻璃等透明基體(未圖示)。

在該情況下，如上所述，也可以在形成下層透明電極11X等且形成上層透明電極11Y等之後，使用接著劑16將下層透明電極11X等與上層透明電極11Y等貼合。具體而言，最初，在基體15上形成：下層透明電極11X、設置於該下層透明電極11X的第一電極極板12及第二電極極板13、與下層配線14X。接著，在玻璃板等透明基體(未圖示)上形成：上層透明電極11Y、設置於該上層透明電極11Y的第一電極極板12及第二電極極板13、與上層配線14Y。最後，透過接著劑16將基體15與透明基體貼合。

最後，在使用設置有透明電極11、第一電極極板12、第二電極極板13及配線14的基體15製作面板部10(框架1及顯示面板2)之後，使用異向導電接著劑等將控制部30連接於面板部10。

[觸控面板的檢查步驟]

其次，藉由以下程序，檢查觸控面板。

[判定模式]

最初，為了檢查操作位置的檢測性能是否正常，實施判定模式的檢查。

圖5表示判定模式的檢查方法之流程。圖6係表示為了說明類手指試驗(1根觸控線)的程序的對應於圖2的觸控面板之主要部分之平面構造。圖7及圖8分別係操作位置的檢測結果(座標)的圖。此外，在圖6中，為了使圖示內容簡化，省略了配線14的圖示。

此外，圖7及圖8所示的R1~R5、L1~L5表示電極位置。具體而言，電極位置R1~R5係圖6所示的多個下層透明電極11X右端之位置。電極位置L1~L5係多個下層透明電極11X左端之位置。

在判定模式的檢查步驟中，最初，使用觸控面板實施類手指試驗(圖5之步驟S101)。在該情況下，如圖6所示，沿著描繪於觸控區域TA1中之中央區域的直線狀觸控線T1，使用類手指從觸控區域TA1之上端至下端連續觸控顯示面板2(參照圖1)。

但是，觸控位置只要在觸控區域TA1中之任何區域即可，沒有特別的限定。又，觸控數、即觸控線T1之數量只要在1根以上即可，沒有特別的限定。

接著，根據上述類手指試驗的結果，描繪操作位置、即對於顯示面板2的類手指的接觸位置的檢測結果(座標)(圖5之步驟S102)。藉此，如圖7及圖8所示，能夠獲得繪線P1、P2。

最後，根據上圖，判定操作位置的檢測性能是否正常(圖5之步驟S103)。

如圖7所示，在繪線P1與觸控線T1一致的情況下，因為操作位置的檢測性能正常，所以判斷觸控面板為良品(圖5之步驟S103Y)。

另一方面，如圖8所示，在繪線P1從觸控線T1偏離的情況下，因為操作位置的檢測性能異常、即發生操作位置的檢測不良，所以判斷觸控面板為不良品(圖5之步驟S103N)。

但是，在判定操作位置的檢測性能是否正常的情況下，也不需要繪線P1與觸控線T1完全一致。在該情況下，考慮到檢測誤差等，為 了判定繪線P1與觸控線T1是否一致，也可以設置界限。具體而言，例如在繪線P1對觸控線T1偏離0.5mm的情況下，也可以判定該繪線P1與觸控線T1一致。

[分析模式]

在得到觸控面板的不良品的情況(圖5之步驟S103N)下，為了調查操作位置的檢測不良的發生原因，實施分析模式的檢查。

圖9~圖11分別表示分析模式的檢查方法之流程。在此說明的分析模式的檢查方法例如包含有3個檢查步驟(分析模式1~3)。

[分析模式1]

在分析模式的檢查步驟中，最初，調查第一電極極板12及第二電極極板13對透明電極11的接觸狀態是否異常(分析模式1)。在該情況下，將第一電極極板12及第二電極極板13作為電阻測定用的一對端子使用，測定透明電極11、第一電極極板12及第二電極極板13之電阻RA(圖9之步驟S201)。

具體而言，例如使用具備電阻測定用的一對探針的萬能表等電阻測定儀器，使一個探針接觸於第一電極極板12，並且使另一個探針接觸於第二電極極板13。

接著，將電阻RA(測定值)與基準電阻RAS(基準值)進行比較(圖9之步驟S202)。

該基準電阻RAS係在透明電極11與第一電極極板12及第二電極極板13的接觸狀態正常的情況下測得的電阻RA。更具體而言，基準電阻RAS之值如圖7所示，因為繪線P1與觸控線T一致，所以係在操作位置的檢測性能正常的情況下應當測得的電阻之值。該基準電阻RAS被預 先設定。

接著，根據上述電阻RA及基準電阻RAS，判定該電阻RA與基準電阻RAS是否一致(圖9之步驟S203)。

在電阻RA與基準電阻RAS一致的情況下，因為第一電極極板12及第二電極極板13對透明電極11的接觸狀態沒有發生異常，所以判斷操作位置的檢測不良的發生原因為第一電極極板12及第二電極極板13以外的其他原因(圖9之步驟S203Y)。

但是，也不需要電阻RA與基準電阻RAS完全一致。在該情況下，考慮到測定誤差等，為了判定電阻RA與基準電阻RAS是否一致，也可以設置界限。具體而言，例如在電阻RA對基準電阻RAS偏差±10%的情況下，也可以判定該電阻RA與基準電阻RAS一致。

另一方面，在電阻RA與基準電阻RAS不一致的情況下，因為第一電極極板12及第二電極極板13對透明電極11的接觸狀態發生異常，所以判斷操作位置的檢測不良的發生原因有可能為第一電極極板12及第二電極極板13的狀態異常(圖9之步驟S203N)。該“接觸狀態異常”例如係：第一電極極板12的破損、第二電極極板13的破損、第一電極極板12對透明電極11的接觸不良、以及第二電極極板13對透明電極11的接觸不良等。在該情況下，為了修理觸控面板，實行對策。該對策例如係：第一電極極板12的交換(再形成)及第二電極極板13的交換(再形成)等。

此外，在分析模式1的檢查步驟中，可以使用多個第一電極極板12及多個第二電極極板13中之全部第一電極極板12及全部第二電極極板13來測定電阻RA，也可以使用一部分第一電極極板12及一部分第二 電極極板13來測定電阻RA。

在使用一部分第一電極極板12及一部分第二電極極板13的情況下，其中，較佳為根據在判定模式中實施的類手指試驗的結果(圖8所示的繪圖)，預測為不良發生原因的第一電極極板12及第二電極極板13。

具體而言，例如，在圖8所示的圖中，特別是在電極位置R3、L3繪線P2從觸控線T1大偏離，並且在電極位置R2、R4、L2、L4繪線P2從觸控線T1稍偏離。在該情況下，因為位於電極位置R3、L3的第一電極極板12及第二電極極板13為檢測不良的發生原因的可能性高，所以首先，使用位於電極位置R3、L3的第一電極極板12及第二電極極板13來測定電阻RA。其原因為在位於電極位置R3、L3的第一電極極板12及第二電極極板13為檢測不良的發生原因的情況下，能夠容易且正確地查出位於該電極位置R3、L3的第一電極極板12及第二電極極板13為檢測不良的發生原因。

當然，為了確認，可以使用位於電極位置R2、L2的第一電極極板12及第二電極極板13來測定電阻RA，也可以使用位於電極位置R4、L4的第一電極極板12及第二電極極板13來測定電阻RA。

[分析模式2]

在檢測不良的發生原因為其他原因的情況(圖9之步驟S203Y)下，接著，調查配線14的狀態是否異常(分析模式2)。在該情況下，使用萬能表等電阻測定儀器，來測定配線14之電阻RB(圖10之步驟S301)。

接著，將電阻RB(測定值)與基準電阻RBS(基準值)進行比較(圖10之步驟S302)。該基準電阻RBS與上述基準電阻RAS同樣，係在配線 14的狀態正常的情況下測得的電阻RB，被預先設定。

接著，根據上述電阻RB及基準電阻RBS，判定該電阻RB與基準電阻RBS是否一致(圖10之步驟S303)。

在電阻RB與基準電阻RBS一致的情況下，因為配線14的狀態沒有異常，所以判斷檢測不良的發生原因為配線14以外的其他原因(圖10之步驟S303Y)。此外，若採用一定的界限，電阻RB與基準電阻RBS也可以不完全一致，此與有關電阻RA及基準電阻RAS的說明相同。

另一方面，在電阻RB與基準電阻RBS不一致的情況下，因為配線14的狀態有異常，所以判斷檢測不良的發生原因有可能為配線14的狀態異常(圖10之步驟S303N)。該“配線14的狀態異常”例如係配線14的斷線。在該情況下，為了修理觸控面板，實行對策。該對策例如係：配線14的交換(再形成)等。

此外，在分析模式2的檢查步驟中，與上述分析模式1的檢查步驟相同，可以測定全部配線14之電阻RB，也可以測定一部分配線14之電阻RB。當然，在後者的情況下，為了容易且正確地查出特定的配線14為檢測不良的發生原因，較佳為在根據類手指試驗的結果(圖8所示的繪圖)預測為檢測不良的發生原因的配線14之後，測定該配線14之電阻RB。

[分析模式3]

在檢測不良的發生原因為其他原因的情況(圖10之步驟S303Y)下，接著，調查透明電極11的狀態是否異常(分析模式3)。在該情況下，使用萬能表等電阻測定儀器，來測定透明電極11之電阻RC(圖11之步驟S401)。此外，在測定下層透明電極11X之電阻RC的情況下，例如，使電阻測定用的 一對探針中之一個探針接觸於配置於非觸控區域TA21的第一電極極板12，並且使另一個探針接觸於配置於非觸控區域TA22的一端部11X2。又，在測定上層透明電極11Y之電阻RC的情況下，例如，使一個探針接觸於配置於非觸控區域TA23的第一電極極板12，並且使另一個探針接觸於配置於非觸控區域TA24的一端部11Y2。

接著，將電阻RC(測定值)與基準電阻RCS(基準值)進行比較(圖11之步驟S402)。該基準電阻RCS與上述基準電阻RAS同樣，係在透明電極11的狀態正常的情況下測得的電阻RC，被預先設定。

最後，根據上述電阻RC及基準電阻RCS，判定該電阻RC與基準電阻RCS是否一致(圖11之步驟S403)。

在電阻RC與基準電阻RCS一致的情況下，因為透明電極11的狀態沒有異常，所以判斷檢測不良的發生原因為透明電極11以外的其他原因(圖11之步驟S403Y)。此外，若採用一定的界限，電阻RC與基準電阻RCS也可以不完全一致，此與有關電阻RA及基準電阻RAS的說明相同。

另一方面，在電阻RC與基準電阻RCS不一致的情況下，因為透明電極11的狀態有異常，所以判斷檢測不良的發生原因有可能為透明電極11的狀態異常(圖11之步驟S403N)。該“透明電極11的狀態異常”例如係透明電極11的破損及劣化等。在該情況下，為了修理觸控面板，實行對策。該對策例如係：透明電極11的交換(再形成)等。

此外，在分析模式3的檢查步驟中，與上述分析模式1的檢查步驟相同，可以測定全部透明電極11之電阻RC，也可以測定一部分透明電極11之電阻RC。當然，在後者的情況下，為了容易且正確地查出特 定的透明電極11為檢測不良的發生原因，較佳為在根據類手指試驗的結果(圖8所示的繪圖)預測為檢測不良的發生原因的透明電極11之後，測定該透明電極11之電阻RC。

但是，因為透明電極11之厚度非常薄，所以在直接測定該透明電極11之電阻RC有困難的情況下，為了調查透明電極11的狀態是否異常，也可以使用其他方法。具體而言，例如，在根據控制部30(例如IC)的輸出值等，預測發生狀態異常的透明電極11之後，使用顯微鏡等觀察透明電極11的狀態。在該情況下，例如若觀察到破損等缺陷，則判斷透明電極11的狀態有可能發生異常，並且若沒有觀察到該缺陷，則判斷透明電極11的狀態沒有發生異常。

藉此，完成觸控面板的製造步驟。此外，在分析模式3的檢查步驟中，若檢測不良的發生原因為其他原因(圖11之步驟S403Y)，則進一步考慮及調查其他原因，並且為了解除該其他原因而實行對策。該“其他原因”在此沒有詳細說明，例如係控制部30的異常等。

<1-3.作用及效果>

根據本實施形態之觸控面板，在位於非觸控區域TA2的透明電極11(下層透明電極11X及上層透明電極11Y)之一端部11X1、11Y1，設置有：連接於配線14(下層配線14X、上層配線14Y)的第一電極極板12、以及與該第一電極極板12及配線14隔開的第二電極極板13。因此，由於以下說明的理由，能夠容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因。

圖12表示第一比較例的觸控面板之構造(對應於圖2的平面構造)，並且圖13表示第二比較例的觸控面板之構造(對應於圖2的平面構 造)。

第一比較例的觸控面板如圖12所示，除了在透明電極11(下層透明電極11X及上層透明電極11Y)之一端部11X1、11Y1僅設置第一電極極板12之外，具有與本實施形態之觸控面板同樣的構造。

第二比較例的觸控面板如圖13所示，除了在透明電極11(下層透明電極11X及上層透明電極11Y)之一端部11X1、11Y1設置第一電極極板12，並且在該一端部11X1、11Y1的反對側之一端部11X2、11Y2設置第二電極極板13之外，具有與本實施形態之觸控面板同樣的構造。

在第一比較例的觸控面板中，因為沒有在透明電極11上設置第二電極極板13、即與第一電極極板12隔開的其他電極極板，所以測定電阻RA有困難。其原因為透明電極11之厚度薄且該透明電極11之強度弱，所以在直接測定該透明電極11之電阻RC有困難的情況下，僅使用第一電極極板12來測定電阻RA實際上係困難的。為此，即使第一電極極板12對透明電極11的接觸狀態發生異常，要容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因為第一電極極板12的接觸狀態異常也是困難的。

在第二比較例的觸控面板中，因為在透明電極11上同時設置有第一電極極板12及第二電極極板13，所以可以將該第一電極極板12及第二電極極板13作為電阻測定用的一對端子使用，藉以測定電阻RA。

然而，因為相對於第一電極極板12設置於一端部11X1、11Y1，而第二電極極板13設置於與該一端部11X1、11Y1反對側之一端部11X2、11Y2，所以第一電極極板12與第二電極極板13透過透明電極11而遠離。在該情況下，因為若透明電極11之電阻比第一電極極板12之電阻及 第二電極極板13之電阻大，則該透明電極11之電阻將給電阻RA帶來大的影響，所以要正確地測定該電阻RA係困難的。如此難於正確地測定電阻RA的傾向，特別是隨著透明電極11之電阻增大而變得顯著。

藉此，即使在分析模式1的檢查步驟中，電阻RA比基準電阻RAS大，要正確地判定操作位置的檢測不良是否真的發生也是困難的。其原因為作為電阻RA比基準電阻RAS大的原因可以考慮有2個，在該2個原因中不容易辨別哪個係真正的原因。第1個原因係：在第一電極極板12及第二電極極板13對透明電極11的接觸狀態沒有發生異常的情況下，因為透明電極11之電阻對電阻RA的影響大，所以該電阻RA變大。第2個原因係：因為第一電極極板12及第二電極極板13對透明電極11的接觸狀態發生異常，所以電阻RA變大。

因此，即使第一電極極板12及第二電極極板13對透明電極11的接觸狀態發生異常，要容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因為第一電極極板12及第二電極極板13的接觸狀態異常也是困難的。

對此，在本實施形態之觸控面板中，因為第一電極極板12及第二電極極板13皆設置於一端部11X1、11Y1，所以第一電極極板12與第二電極極板13透過透明電極11接近。在該情況下，即使透明電極11之電阻比第一電極極板12之電阻及第二電極極板13之電阻大，也因為該透明電極11之電阻給電阻RA帶來的影響小，所以容易正確地測定該電阻RA。

藉此，在分析模式1的檢查步驟中的電阻RA比基準電阻RAS大的情況下，因為能夠容易辨別有關第二比較例的觸控面板上述之2個原因中哪個係真正的原因，所以能夠容易正確地判定操作位置的檢測不 良是否真的發生。

因此，在第一電極極板12及第二電極極板13對透明電極11的接觸狀態發生異常的情況下，即使不使用控制部30，也可以容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因為第一電極極板12及第二電極極板13的接觸狀態異常。

特別是在本實施形態之觸控面板中，只要第一電極極板12及第二電極極板13設置於透明電極11之一面，因為容易使電阻測定用探針接觸於該第一電極極板12及第二電極極板13，所以能夠獲得更高的效果。在該情況下，只要第一電極極板12及第二電極極板13並聯配置，因為更容易使電阻測定用探針接觸於該第一電極極板12及第二電極極板13，所以能夠進一步獲得高的效果。

又，只要第一電極極板12與配線14(下層配線14X及上層配線14Y)以一體性方式設置，因為該第一電極極板12與配線14在同一步驟中形成，所以能夠使觸控面板的製造步驟簡化。

除此之外，根據本實施形態之觸控面板的製造方法及該觸控面板的檢查方法，使用設置於位於非觸控區域TA2的透明電極11之一端部11X1及11Y1且連接於配線14的第一電極極板12、以及設置於該透明電極11之一端部11X1及11Y1且與第一電極極板12及配線14隔開的第二電極極板13，來測定電阻RA。因此，由於與上述本實施形態之觸控面板同樣的理由，能夠容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因。

在該情況下，特別是，若將電阻RA與基準電阻RAS進行比較以後，根據該比較結果判定是否發生透明電極11與第一電極極板12 及第二電極極板13的接觸不良，則能夠獲得更高的效果。

詳細而言，在判定模式的檢查步驟中，在確認發生操作位置的檢測不良之後，為了調查該操作位置的檢測不良的發生原因，首先，在分析模式1的檢查步驟中，如上上述，將電阻RA與基準電阻RAS進行比較。若根據該比較結果，判斷發生了透明電極11與第一電極極板12及第二電極極板13的接觸不良，則在藉由實行上述對策改善接觸不良之後，再次在判定模式的檢查步驟中，再判定是否發生操作位置的檢測不良。若該再判定結果為沒有發生操作位置的檢測不良，則該操作位置的檢測不良的發生原因僅為接觸不良。在該情況下，只要測定電阻RA，並且將該電阻RA與基準電阻RAS進行比較，就能夠查出操作位置的檢測不良的發生原因。亦即，除了測定電阻RA之外，不測定配線14之電阻RB及透明電極11之電阻RC，也能夠查出操作位置的檢測不良的發生原因。因此，在發生觸控面板的不良品的情況下，因為所需調查操作位置的檢測不良的發生原因的時間少，所以能夠迅速查出該發生原因。隨之，能夠早期實行修理等對策，以使觸控面板的不良品變成良品。

<1-4.變形例>

上述觸控面板之構造如下例所示，可以適宜地變更。

[變形例1]

如對應於圖2的圖14所示，在下層透明電極11X(一端部11X1)之一面，第一電極極板12及第二電極極板13也可以橫向排列。在該情況下，較佳為第一電極極板12與第二電極極板13並聯配置。在該情況下，因為也容易使電阻測定用探針接觸於第一電極極板12及第二電極極板13，所以能夠獲得 與第一電極極板12及第二電極極板13縱向配置的情況(參照圖2)同樣的效果。

有關設置於該下層透明電極11X(一端部11X1)的第一電極極板12及第二電極極板13的排列方向的變形例1，也可以適用於設置於上層透明電極11Y(一端部11Y1)的第一電極極板12及第二電極極板13的排列方向。在該情況下，也能夠獲得同樣的效果。

[變形例2]

又，如對應於圖2的圖15所示，第一電極極板12之延伸方向與第二電極極板13之延伸方向也可以不同。在此，例如，在設置於下層透明電極11X的第一電極極板12及第二電極極板13中，相對於在縱方向上延伸的第一電極極板12，第二電極極板13在橫方向上延伸。又，例如，在設置於上層透明電極11Y的第一電極極板12及第二電極極板13中，相對於在橫方向上延伸的第一電極極板12，第二電極極板13在縱方向上延伸。在該情況下，因為也容易使電阻測定用探針接觸於第一電極極板12及第二電極極板13，所以能夠獲得與第一電極極板12及第二電極極板13縱向配置的情況(參照圖2)同樣的效果。

[變形例3]

雖然在此沒有具體圖示，但是第一電極極板12及第二電極極板13也可以不設置於下層透明電極11X(一端部11X1)之一面。具體而言，例如，相對於第一電極極板12設置於下層透明電極11X之一面(例如上面)，第二電極極板13也可以設置於下層透明電極11X之另一面(例如下面)。但是，如上上述，為了容易使電阻測定用探針接觸於第一電極極板12及第二電極極板 13，較佳為該第一電極極板12及第二電極極板13設置於下層透明電極11X(一端部11X1)之一面。

如此之第一電極極板12及第二電極極板13也可以不設置於一面的情況，有關設置於上層透明電極11Y的第一電極極板12及第二電極極板13也與此相同。

[變形例4]

例如，對應於圖3及圖4的圖16所示，第一電極極板12與下層配線14X也可以不以一體性方式設置。亦即，第一電極極板12及下層配線14X也可以分別在不同的步驟中形成。在該情況下，因為能夠使第一電極極板12之形成材料與下層配線14X之形成材料不同，所以增加了有關第一電極極板12之形成材料及下層配線14X之形成材料的自由度。此外，在圖16中，省略了接著劑16的圖示。

如此之可以不以一體性方式設置的情況，有關第一電極極板12及上層配線14Y也與此相同。

又，上述觸控面板的製造方法及檢查方法如下例所示，可以適宜地變更。

[變形例5]

在分析模式的檢查步驟中，也可以先實施分析模式3的檢查，在判斷透明電極11的狀態是否異常之後，再實施分析模式2的檢查，判斷配線14的狀態是否異常。在該情況下，因為分析模式1的檢查在分析模式2、3的檢查之前先實施，所以能夠獲得同樣的效果。

此外，也可以將上述一連串變形例中之2種以上適宜地組 合。

<2.觸控面板(第二實施形態：1層電極型)>

其次，對本發明之第二實施形態的觸控面板進行說明。此外，在以下的說明中，隨時引用已經說明的第一實施形態之構成要素等。

<2-1.構造>

圖17表示觸控面板之主要部分之平面構造，對應於圖2。圖18表示圖17所示的主要部分的沿著A-A線之斷面構造，對應於圖3。此外，在圖17中，為了便於識別，將第一電極極板18及第二電極極板19分別畫上陰影。

本實施形態之觸控面板如圖17及圖18所示，除了作為透明電極11、第一電極極板12、第二電極極板13及配線14的替代品，具備透明電極17、第一電極極板18、第二電極極板19及配線20之外，具有與第一實施形態之觸控面板相同的構造。

[透明電極]

在此說明的觸控面板具備多個透明電極17，該多個透明電極17例如具有1層構造。亦即，觸控面板係1層電極型。該透明電極17配置於觸控區域TA1及非觸控區域TA2。

具體而言，多個透明電極17例如包含：在橫方向上延伸的多個右側透明電極17R、與在橫方向上延伸的多個左側透明電極17L。多個右側透明電極17R及多個左側透明電極17L排列於縱方向，並且交替配置。

右側透明電極17R主要從非觸控區域TA2(TA21)延伸至觸控區域TA1。該右側透明電極17R之平面形狀沒有特別的限定，例如係直角三角形。右側透明電極17R之寬度從非觸控區域TA21朝著觸控區域TA1 逐漸變小。

左側透明電極17L主要從非觸控區域TA2(TA22)延伸至觸控區域TA1。該左側透明電極17L之平面形狀沒有特別的限定，例如係直角三角形。左側透明電極17L之寬度從非觸控區域TA22朝著觸控區域TA1逐漸變小。

相鄰的右側透明電極17R及左側透明電極17L例如以斜邊彼此互相對向的方式配置。右側透明電極17R與左側透明電極17L之間的距離例如跟位置無關而大致均一。只要以如此邊互相對向的方式配置右側透明電極17R及左側透明電極17L，該右側透明電極17R之平面形狀及左側透明電極17L之平面形狀也可以分別係直角三角形以外的其他形狀。該其他形狀例如係矩形。此外，右側透明電極17R之平面形狀與左側透明電極17L之平面形狀可以相同也可以不同。

上述以外的右側透明電極17R及左側透明電極17L各自的構造例如與下層透明電極11X及上層透明電極11Y各自的構造相同。

[第一電極極板及第二電極極板]

第一電極極板18及第二電極極板19皆設置於位於非觸控區域TA2的透明電極17之一端部，並且互相隔開。

具體而言，如上所述，右側透明電極17R從非觸控區域TA21延伸至觸控區域TA1。為此，右側透明電極17R具有：位於非觸控區域TA21的寬幅的一端部17R1、與位於觸控區域TA1的尖狀的一端部17R2。在該情況下，第一電極極板18及第二電極極板19設置於一端部17R1。

又，如上所述，左側透明電極17L從非觸控區域TA22延伸 至觸控區域TA1。為此，左側透明電極17L具有：位於非觸控區域TA22的寬幅的一端部17L1、與位於觸控區域TA1的尖狀的一端部17L2。在該情況下，第一電極極板18及第二電極極板19設置於一端部17L1。

上述以外的第一電極極板18及第二電極極板19各自的構造例如與第一電極極板12及第二電極極板13各自的構造相同。但是，在圖18中，例如表示第一電極極板18與配線20以一體性方式設置的情況。

[配線]

配線20配置於非觸控區域TA2。在此說明的觸控面板具備多根配線20，該多根配線20例如與上述多個透明電極17同樣，具有1層構造。

具體而言，多根配線20，例如，包含電氣連接於多個右側透明電極17R的多根右側配線20R、與電氣連接於多個左側透明電極17L的多根左側配線20L。

如上所述，因為在位於非觸控區域TA21的右側透明電極17R之一端部17R1配置有第一電極極板18，所以右側配線20R也配置於非觸控區域TA21。

右側配線20R連接於第一電極極板18。為此，右側配線20R透過第一電極極板18與右側透明電極17R電氣連接。另一方面，右側配線20R與第二電極極板19隔開。但是，第二電極極板19透過右側透明電極17R與第一電極極板18電氣連接。

如上所述，因為在位於非觸控區域TA22的左側透明電極17L之一端部17L1配置有第一電極極板18，所以左側配線20L也配置於非觸控區域TA22。

左側配線20L連接於第一電極極板18。為此，左側配線20L透過第一電極極板18與左側透明電極17L電氣連接。另一方面，左側配線20L與第二電極極板19隔開。但是，第二電極極板19透過左側透明電極17L與第一電極極板18電氣連接。

上述以外的右側配線20R及左側配線20L各自的構造例如與下層配線14X及上層配線14Y各自的構造相同。

在該觸控面板中，相鄰的右側透明電極17R與左側透明電極17L之間產生電容。若手指等接觸顯示面板2(觸控區域TA1)，則在該手指等接觸的位置(操作位置)，上述電容發生變化。因為該電容的變化由控制部30檢測出，所以根據該電容的變化可以檢測出操作位置。

<2-2.製造方法(包括檢查方法)>

該觸控面板例如除了作為透明電極11、第一電極極板12、第二電極極板13及配線14的替代品，形成透明電極17、第一電極極板18、第二電極極板19及配線20之外，藉由與第一實施形態之觸控面板同樣的程序製造。

[觸控面板的組裝步驟]

在組裝觸控面板時，在基體15上(觸控區域TA1及非觸控區域TA2)形成透明電極17。在該情況下，例如在基體15之表面堆積透明導電性材料之後，對該透明導電性材料進行圖案化，形成多個右側透明電極17R及多個左側透明電極17L。有關透明導電性材料的堆積方法及圖案化方法的詳細情況例如與第一實施形態相同。

接著，在配置於非觸控區域TA2的透明電極17之一端部，以互相隔開的方式形成第一電極極板18及第二電極極板19。在該情況下， 例如在右側透明電極17R之一端部17R1之表面及左側透明電極17L之一端部17L1之表面堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，形成多個第一電極極板18及多個第二電極極板19。有關導電性材料的堆積方法及圖案化方法的詳細情況，例如，與第一實施形態相同。但是，也可以使用絲網印刷法等圖案印刷技術，形成第一電極極板18及第二電極極板19。

接著，在基體15上(非觸控區域TA2)形成配線20。在該情況下，例如在基體15之表面堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，形成多根右側配線20R及多根左側配線20L。但是，也可以使用絲網印刷法等圖案印刷技術，形成右側配線20R及左側配線20L。

特別是在形成右側配線20R的情況下，在設置於右側透明電極17R之一端部17R1的第一電極極板18及第二電極極板19中，使右側配線20R與第一電極極板18連接且與第二電極極板19隔開。又，在形成左側配線20L的情況下，在設置於左側透明電極17L之一端部17L1的第一電極極板18及第二電極極板19中，使左側配線20L與第一電極極板18連接且與第二電極極板19隔開。

在此，例如在同一步驟中形成：設置於右側透明電極17R之一端部17R1的第一電極極板18及第二電極極板19、設置於左側透明電極17L之一端部17L1的第一電極極板18及第二電極極板19、右側配線20R、與左側配線20L。在該情況下，在以覆蓋基體15及一端部17R1、17L1的方式堆積導電性材料之後，對該導電性材料進行圖案化，一次性形成第一電極極板18、第二電極極板19、右側配線20R及左側配線20L。藉此，第一電極極板18與右側配線20R被以一體性方式形成，並且第一電極極板 18與左側配線20L被以一體性方式形成。

有關上述以外的觸控面板的組裝步驟的詳細情況例如與第一實施形態相同。

[觸控面板的檢查步驟]

檢查觸控面板的程序與第一實施形態上述之檢查程序相同。以下，一邊參照圖5~圖11及圖17，一邊對觸控面板的檢查程序進行說明。

[判定模式]

最初，為了檢查操作位置的檢測性能是否正常，實施判定模式的檢查。此外，圖17所示的R1~R5、L1~L5表示電極位置。具體而言，電極位置R1~R5係多個右側透明電極17R右端之位置。電極位置L1~L5係多個左側透明電極11L左端之位置。

在判定模式的檢查步驟中，最初，使用觸控面板實施類手指試驗(圖5之步驟S101)。在該情況下，如圖6及圖17所示，沿著描繪於觸控區域TA1中之中央區域的直線狀觸控線T1，使用類手指從觸控區域TA1之上端至下端連續觸控顯示面板2(參照圖1)。

接著，根據上述類手指試驗的結果，描繪操作位置、即對於顯示面板2的類手指的接觸位置的檢測結果(座標)(圖5之步驟S102)。藉此，如圖7及圖8所示，能夠獲得繪線P1、P2。

最後，根據上述繪圖，判定操作位置的檢測性能是否正常(圖5之步驟S103)。

如圖7所示，在繪線P1與觸控線T1一致的情況下，因為操作位置的檢測性能正常，所以判斷觸控面板為良品(圖5之步驟S103Y)。

另一方面，如圖8所示，在繪線P1從觸控線T1偏離的情況下，因為操作位置的檢測性能異常、即發生操作位置的檢測不良，所以判斷觸控面板為不良品(圖5之步驟S103N)。

但是，在判定操作位置的檢測性能是否正常的情況下，例如，如上上述，考慮到檢測誤差等，為了判定繪線P1與觸控線T1是否一致，也可以設置界限。

[分析模式]

在得到觸控面板的不良品的情況(圖5之步驟S103N)下，為了調查操作位置的檢測不良的發生原因，實施分析模式的檢查。

[分析模式1]

在分析模式的檢查步驟中，最初，調查第一電極極板18及第二電極極板19對透明電極17的接觸狀態是否異常(分析模式1)。在該情況下，將第一電極極板18及第二電極極板19作為電阻測定用的一對端子使用，測定透明電極17、第一電極極板18及第二電極極板19之電阻RA(圖9之步驟S201)。在該情況下，例如使用具備電阻測定用的一對探針的萬能表等電阻測定儀器，使一個探針接觸於第一電極極板18，並且使另一個探針接觸於第二電極極板19。

接著，將電阻RA(測定值)與基準電阻RAS(基準值)進行比較(圖9之步驟S202)。該基準電阻RAS係在透明電極17與第一電極極板18及第二電極極板19的接觸狀態正常的情況下測得的電阻RA，被預先設定。

接著，根據上述電阻RA及基準電阻RAS，判定該電阻RA與基準電阻RAS是否一致(圖9之步驟S203)。

在電阻RA與基準電阻RAS一致的情況下，因為第一電極極板18及第二電極極板19對透明電極17的接觸狀態沒有發生異常，所以判斷操作位置的檢測不良的發生原因為第一電極極板18及第二電極極板19以外的其他原因(圖9之步驟S203Y)。

但是，例如，如上上述，考慮到測定誤差等，為了判定電阻RA與基準電阻RAS是否一致，也可以設置界限。

另一方面，在電阻RA與基準電阻RAS不一致的情況下，因為第一電極極板18及第二電極極板19對透明電極17的接觸狀態發生異常，所以判斷操作位置的檢測不良的發生原因有可能為第一電極極板18及第二電極極板19的狀態異常(圖9之步驟S203N)。該“接觸狀態異常”例如係：第一電極極板18的破損、第二電極極板19的破損、第一電極極板18對透明電極17的接觸不良、以及第二電極極板19對透明電極17的接觸不良等。在該情況下，為了修理觸控面板，實行對策。該對策例如係：第一電極極板18的交換(再形成)及第二電極極板19的交換(再形成)等。

此外，在分析模式1的檢查步驟中，可以使用多個第一電極極板18及多個第二電極極板19中之全部第一電極極板18及全部第二電極極板19來測定電阻RA，也可以使用一部分第一電極極板18及一部分第二電極極板19來測定電阻RA。其中，在使用一部分第一電極極板18及一部分第二電極極板19的情況下，例如，如上所述，較佳為根據在判定模式中實施的類手指試驗的結果(圖8所示的圖)，預測為不良發生原因的第一電極極板18及第二電極極板19。

[分析模式2]

在檢測不良的發生原因為其他原因的情況(圖9之步驟S203Y)下，接著，調查配線20的狀態是否異常(分析模式2)。在該情況下，使用萬能表等電阻測定儀器，來測定配線20之電阻RB(圖10之步驟S301)。

接著，將電阻RB(測定值)與基準電阻RBS(基準值)進行比較(圖10之步驟S302)。該基準電阻RBS與上述基準電阻RAS同樣，係在配線20的狀態正常的情況下測得的電阻RB，被預先設定。

接著，根據上述電阻RB及基準電阻RBS，判定該電阻RB與基準電阻RBS是否一致(圖10之步驟S303)。

在電阻RB與基準電阻RBS一致的情況下，因為配線20的狀態沒有異常，所以判斷檢測不良的發生原因為配線20以外的其他原因(圖10之步驟S303Y)。此外，若採用一定的界限，電阻RB與基準電阻RBS也可以不完全一致，此與有關電阻RA及基準電阻RAS的說明相同。

另一方面，在電阻RB與基準電阻RBS不一致的情況下，因為配線20的狀態有異常，所以判斷檢測不良的發生原因有可能為配線20的狀態異常(圖10之步驟S303N)。該“配線20的狀態異常”例如係配線20的斷線。在該情況下，為了修理觸控面板，實行對策。該對策例如係：配線20的交換(再形成)等。

此外，在分析模式2的檢查步驟中，與上述分析模式1的檢查步驟相同，可以測定全部配線20之電阻RB，也可以測定一部分配線20之電阻RB。當然，在後者的情況下，較佳為根據類手指試驗的結果(圖8所示的繪圖)預測為檢測不良的發生原因的配線20。

[分析模式3]

在檢測不良的發生原因為其他原因的情況(圖10之步驟S303Y)下，接著，調查透明電極17的狀態是否異常(分析模式3)。在該情況下，使用萬能表等電阻測定儀器，來測定透明電極17之電阻RC(圖11之步驟S401)。

接著，將電阻RC(測定值)與基準電阻RCS(基準值)進行比較(圖11之步驟S402)。該基準電阻RCS與上述基準電阻RAS同樣，係在透明電極17的狀態正常的情況下測得的電阻RC，被預先設定。

最後，根據上述電阻RC及基準電阻RCS，判定該電阻RC與基準電阻RCS是否一致(圖11之步驟S403)。

在電阻RC與基準電阻RCS一致的情況下，因為透明電極17的狀態沒有異常，所以判斷檢測不良的發生原因為透明電極17以外的其他原因(圖11之步驟S403Y)。此外，若採用一定的界限，電阻RC與基準電阻RCS也可以不完全一致，此與有關電阻RA及基準電阻RAS的說明相同。

另一方面，在電阻RC與基準電阻RCS不一致的情況下，因為透明電極17的狀態有異常，所以判斷檢測不良的發生原因有可能為透明電極17的狀態異常(圖11之步驟S403N)。該“透明電極17的狀態異常”例如係透明電極17的破損及劣化等。在該情況下，為了修理觸控面板，實行對策。該對策例如係：透明電極17的交換(再形成)等。

此外，在分析模式3的檢查步驟中，與上述分析模式1的檢查步驟相同，可以測定全部透明電極17之電阻RC，也可以測定一部分透明電極17之電阻RC。當然，在後者的情況下，較佳為根據類手指試驗的結果(圖8所示的圖)預測為檢測不良的發生原因的透明電極17。

藉此，完成觸控面板的製造步驟。此外，在分析模式3的檢 查步驟中，若檢測不良的發生原因為其他原因(圖11之步驟S403Y)，則如上所述，進一步考慮及調查其他原因，並且為了解除該其他原因而實行對策。

有關上述以外的觸控面板的檢查步驟的詳細情況，例如與第一實施形態相同。

<2-3.作用及效果>

根據本實施形態之觸控面板，在位於非觸控區域TA2的透明電極17(右側透明電極17R及左側透明電極17L)之一端部17R1、17L1，設置有：連接於配線20(右側配線20R及左側配線20L)的第一電極極板18、以及與該第一電極極板18及配線20隔開的第二電極極板19。因此，由於以下說明的理由，能夠容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因。

圖19表示第三比較例的觸控面板之構造(對應於圖17的平面構造)。該第三比較例的觸控面板除了在透明電極17(右側透明電極17R及左側透明電極17L)之一端部17R1、17L1僅設置第一電極極板18之外，具有與本實施形態之觸控面板同樣的構造。

在右側透明電極17R之平面形狀為直角三角形的1層電極型觸控面板中，因為與寬幅的一端部17R1相反側的一端部17R2為尖狀，所以在該一端部17R2上設置第一電極極板18及第二電極極板19係困難的。如此之設置第一電極極板18及第二電極極板19係困難的情況，關於與一端部17L1相反側的一端部17L2也同樣。

在第三比較例的觸控面板中，如圖19所示，因為沒有在透明電極17上設置與第一電極極板18隔開的第二電極極板19，所以由於與 圖12所示的第一比較例的觸控面板同樣的理由，測定電阻RA有困難。為此，即使第一電極極板18對透明電極17的接觸狀態發生異常，要容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因為第一電極極板18的接觸狀態異常也是困難的。

對此，在本實施形態之觸控面板中，因為第一電極極板18及第二電極極板19皆設置於一端部17R1、17L1，所以由於與圖2所示的第一實施形態之觸控面板同樣的理由，容易正確地測定電阻RA。因此，在第一電極極板18及第二電極極板19對透明電極17的接觸狀態發生異常的情況下，即使不使用控制部30，也可以容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因為第一電極極板18及第二電極極板19的接觸狀態異常。

除此之外，根據本實施形態之觸控面板的製造方法及該觸控面板的檢查方法，使用設置於位於非觸控區域TA2的透明電極17之一端部17R1、17L1且連接於配線20的第一電極極板18、以及設置於該一端部17R1、17L1且與第一電極極板18及配線20隔開的第二電極極板19，來測定電阻RA。因此，由於與上述本實施形態之觸控面板同樣的理由，能夠容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因。

有關本實施形態的上述以外的作用及效果，與第一實施形態相同。

<2-4.變形例>

第一實施形態上述之一連串變形例除了作為透明電極11、第一電極極板12、第二電極極板13及配線14的替代品，使用透明電極17、第一電極極板18、第二電極極板19及配線20之外，也可以同樣適用於有關本實施 形態之觸控面板。

當然，也可以將上述一連串變形例中之2種以上適宜地組合。

[實施例]

下面詳細說明有關本發明之實施例。

此外，說明順序如下。

1.觸控面板的組裝

2.觸控面板的檢查

<1.觸控面板的組裝>

首先，藉由以下程序，組裝圖17及圖18所示的1層電極型觸控面板。

最初，在基體15(PET基板)之一面(觸控區域TA1及非觸控區域TA2)上，使用濺射法堆積透明導電性材料(ITO)。接著，使用濕式蝕刻法對透明導電性材料進行圖案化，形成透明電極17(右側透明電極17R及左側透明電極17L)。在該情況下，將右側透明電極17R及左側透明電極17L各自的數目製成8個，將右側透明電極17R及左側透明電極17L各自的厚度製成20nm。

接著，在非觸控區域TA2，使用絲網印刷法圖案印刷導電性材料(銀膏)，一次性形成第一電極極板18、第二電極極板19及配線20(右側配線20R及左側配線20L)。藉此，設置於一端部17R1的第一電極極板18與右側配線20R被以一體性方式形成，並且設置於一端部17L1的第一電極極板18與左側配線20L被以一體性方式形成。在該情況下，將第一電極極板18及第二電極極板19各自的厚度製成6μm，將右側配線20R及左側配 線20L各自的厚度製成6μm。

接著，在設置有透明電極17、第一電極極板18、第二電極極板19及配線20的基體15之一面粘貼接著劑16(雙面膠)之後，將基體15透過該接著劑16粘貼於透明基體(玻璃板)。

最後，在使用粘貼於透明基體的基體15製作面板部10(框架1及顯示面板2)之後，使用該面板部10及控制部30等組裝觸控面板。

<2.觸控面板的檢查>

其次，藉由以下程序，檢查觸控面板。

圖20係表示為了說明類手指試驗(3根觸控線)的內容的對應於圖17的觸控面板之主要部分之平面構造。圖21係操作位置的檢測結果(座標)的圖。

此外，在圖21中，電極位置R1~R8表示8個右側透明電極17R右端之位置，並且電極位置L1~L8表示8個左側透明電極17L左端之位置。

最初，在判定模式的檢查步驟中，如圖20所示，使用3根直線狀觸控線T2~T4實施類手指試驗。在該情況下，沿著左側區域的觸控線T2、中央區域的觸控線T3及右側區域的觸控線T4，使用類手指從觸控區域TA1之上端至下端連續觸控顯示面板2。

該類手指試驗的結果如圖21所示，得到3根繪線P2~P4。繪線P2主要在電極位置R2~R4、L2~L4附近從觸控線T2偏離。繪線P3主要在電極位置R1~R4、L1~L4附近從觸控線T3偏離。繪線P4主要在電極位置R1~R3、L1~L3附近從觸控線T4偏離。

從該觸控線T2~T4與繪線P2~P4的關係，判明操作位置的檢測性能為異常。在該情況下，若操作位置的檢測不良的發生原因為透明電極17與第一電極極板18及第二電極極板19的接觸不良，則能夠預測該接觸不良的發生場所、即哪個第一電極極板18及第二電極極板19為原因。具體而言，從上述觸控線T2~T4與繪線P2~P4的關係，可以預測位於電極位置R2、R3的第一電極極板18及第二電極極板19的接觸狀態發生異常。又，可以預測位於電極位置L2~L4的第一電極極板18及第二電極極板19的接觸狀態發生異常。

接著，在分析模式(分析模式1)的檢查步驟中，在使用第一電極極板18及第二電極極板19測定電阻RA之後，將該電阻RA與基準電阻RAS進行比較。在測定該電阻RA的情況下，測定了右側透明電極17R、第一電極極板18及第二電極極板19之電阻RA，並且測定了左側透明電極17L、第一電極極板18及第二電極極板19之電阻RA。

圖22係表示電極位置R1~R8與電阻RA的相關圖，並且圖23係表示電極位置L1~L8與電阻RA的相關圖。但是，作為電阻RA，表示將基準電阻RAS作為1來規格化的值。

在電極位置R1~R8與電阻RA的相關中，如圖22所示，主要在電極位置R1、R2上電阻RA大幅度大於1。又，在電極位置L1~L8與電阻RA的相關中，如圖23所示，主要在電極位置L2~L4上電阻RA大幅度大於1。由該結果，可以考慮位於電極位置R1、R2、L2~L4的第一電極極板18及第二電極極板19的接觸狀態有異常。

最後，在實施了對位於電極位置R1、R2、L2~L4的第一電 極極板18及第二電極極板19進行修理、交換(再形成)等對策以後，再次實施類手指試驗。圖24係進行上述對策後的操作位置的檢測結果(座標)的圖。

對策的結果如圖24所示，繪線P2與觸控線T2一致，繪線P3與觸控線T3一致，繪線P4與觸控線T4一致。亦即，因為解除了操作位置的檢測性能發生異常的原因，所以該操作位置的檢測性能恢復了正常。

如上所述，若在實施有關第一電極極板18及第二電極極板19的對策以後，操作位置的檢測性能恢復了正常，則說明該操作位置的檢測性能異常的原因僅為第一電極極板18及第二電極極板19的接觸不良。

因此，即使不調查配線20(右側配線20R及左側配線20L)之狀態(電阻RB)及透明電極17(右側透明電極17R及左側透明電極17L)之狀態(電阻RC)，而僅調查第一電極極板18及第二電極極板19的接觸狀態(電阻RA)，也能夠查出操作位置的檢測不良的發生原因，並且解除該發生原因。

由該等圖20~圖24所示的結果可知，使用設置於位於非觸控區域TA2的透明電極17之一端部17R1及17L1且連接於配線20的第一電極極板18、與設置於該一端部17R1及17L1且與第一電極極板18及配線20隔開的第二電極極板19，來測定電阻RA，能夠容易且正確地查出操作位置的檢測不良的發生原因。藉此，因為能夠迅速解除操作位置的檢測不良的發生原因，所以能夠迅速將不良品恢復成良品。

以上，雖然例舉實施形態及實施例對本發明進行了說明，但是該本發明並不限定於在該等實施形態及實施例中說明的形態，可以作出各種變形。

本申請案以2015年3月27日於日本專利局申請之日本專利 申請案2015-066162為基礎主張優先權，且參照該案之全部內容以引用之方式併入本文中。

本發明所屬技術領域具有通常知識者根據設計要求及其他因素所作之各種修改，組合，子組合及變更，皆應涵蓋於附加之申請專利範圍及其等效物之範疇內。

11‧‧‧透明電極

11M‧‧‧寬幅部

11N‧‧‧窄幅部

11X‧‧‧下層透明電極

11Y‧‧‧上層透明電極

11X1,11X2,11Y1,11Y2‧‧‧一端部

12‧‧‧第一電極極板

13‧‧‧第二電極極板

14‧‧‧配線

14X‧‧‧下層配線

14Y‧‧‧上層配線

TA1‧‧‧觸控區域

TA2(TA21~TA24)‧‧‧非觸控區域

Claims (11)

1. 一種觸控面板，其具備：透明電極，配置於觸控區域及非觸控區域，且於上述非觸控區域具有一端部；第一電極極板，設置於上述透明電極之一端部；第二電極極板，設置於上述透明電極之一端部，且與上述第一電極極板隔開；以及配線，配置於上述非觸控區域，與上述第一電極極板連接且與上述第二電極極板隔開。
2. 如申請專利範圍第1項之觸控面板，其中，上述第一電極極板及上述第二電極極板設置於上述透明電極之一面。
3. 如申請專利範圍第1項之觸控面板，其中，上述第一電極極板及上述第二電極極板並聯配置。
4. 如申請專利範圍第1項之觸控面板，其中，上述第一電極極板與上述配線以一體形成的方式設置。
5. 如申請專利範圍第1項之觸控面板，其中，上述第一電極極板與上述配線以分開形成的方式設置。
6. 如申請專利範圍第1項之觸控面板，其中，上述非觸控區域包含第一非觸控區域及第二非觸控區域，上述觸控區域位於上述第一非觸控區域與上述第二非觸控區域之間，上述透明電極從上述第一非觸控區域經由上述觸控區域延伸至上述第二非觸控區域， 上述第一電極極板、上述第二電極極板及上述配線配置於上述第一非觸控區域及上述第二非觸控區域中之任一方。
7. 如申請專利範圍第1項之觸控面板，其中，上述透明電極從上述非觸控區域延伸至上述觸控區域，上述第一電極極板、上述第二電極極板及上述配線配置於上述非觸控區域。
8. 一種觸控面板的檢查方法，其中，透明電極，配置於觸控區域及非觸控區域；在透明電極中，準備：第一電極極板，設置在位於上述非觸控區域的上述透明電極之一端部、且與位於上述非觸控區域的配線連接；以及第二電極極板，設置在位於上述非觸控區域的上述透明電極之一端部、且與上述第一電極極板及上述配線隔開，將上述第一電極極板及上述第二電極極板作為電阻測定用的一對端子使用，測定上述透明電極、上述第一電極極板及上述第二電極極板的電阻。
9. 如申請專利範圍第8項之觸控面板的檢查方法，其中，將上述電阻之測定值與上述電阻之基準值進行比較，根據該比較結果，判定上述透明電極與上述第一電極極板及上述第二電極極板有無發生接觸不良。
10. 一種觸控面板的製造方法，其中，在觸控區域及非觸控區域，以於該非觸控區域具有一端部的方式形成透明電極，在上述透明電極之一端部形成第一電極極板， 在上述透明電極之一端部，以與上述第一電極極板隔開的方式形成第二電極極板，在上述非觸控區域，以與上述第一電極極板連接且與上述第二電極極板隔開的方式形成配線，將上述第一電極極板及上述第二電極極板作為電阻測定用的一對端子使用，測定上述透明電極、上述第一電極極板及上述第二電極極板的電阻。
11. 如申請專利範圍第10項之觸控面板的製造方法，其中，將上述電阻之測定值與上述電阻之基準值進行比較，根據該比較結果，判定上述透明電極與上述第一電極極板及上述第二電極極板有無發生接觸不良。