TWI631750B - 電極之引出檢測裝置 - Google Patents
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Abstract
本發明有關於一種電極之引出檢測裝置,包含有一導電斑馬條,其具有一傳導部與一絕緣部,傳導部與絕緣部交叉設置;一檢測電路板,係電性連接導電斑馬條之傳導部,包含有一量測迴路;以及一電極板,係由一電極與導電斑馬條直接接觸;藉此,可將電池之電極以無損方式引出,並檢測其導通情形。
Description
本發明係有關於一種電極之引出檢測裝置,尤其係指一種能夠不造成電極損傷的檢測裝置,目的係為了量測電池之電極的導通情形,值得注意的是,其不需要改變電極板的外型或進行額外的加工,即可直接以導電斑馬條接觸電極並檢測,為一種相當便利之檢測裝置。
按,在電池領域的研發生產過程中,需要進行電極的導通測試,檢測時,通常要將電池堆的每個電極逐一引出,以一連接點連接至外部作電性檢測,而目前電極引出的方法大致分為鑽孔以及沖壓兩種;鑽孔係在電極的側邊鑽一個小孔,以便探針可以插入,由此探針引出電極,檢測人員在量測此探針是否有導通,藉此判斷電極的導通狀況,雖然此方法確實可以引出電極,但是電極板之材質若使用石墨材料,其特性係容易破碎,因此不方便鑽孔,且目前電極板越做越薄,正朝向薄型、輕量化的趨勢發展,過薄的電極板亦無適當的空間可以鑽孔,可知此鑽孔技術會受到電擊板之材料以及尺寸的限制,使用上較不方便。
再者,沖壓之技術,係指將電極板之外型,可例如邊緣處沖壓成一個長針狀接點的形狀,再選用相同尺寸的母端子插入此長針狀的接點,由母端子引出電極,再進行檢測,此方法雖然連接上較方便,但電極板的堆疊密度較高時,每個電極板的長針狀接點為了避免互相碰撞,必須錯位設置,反而增加了沖壓模具的複雜度,且此設計係直接改變電極板的外觀,不僅增加體積與干涉度,亦會影響到電池電極整體的結構設計,因此在使用上亦具有許多缺失。
可參考中華民國發明專利公告號TW I459613「積層型二次電池」即為一種改變外型的引出技術,其藉由正極引出端子以及負極引出端子將正極與負極引導出來,可看到此二次電池的發明專利具有兩個凸出的引出端子,係從內部的電極接合引出端子;此種方法若要作為電極測試用,則必須將各個端子分開,以免互相干擾,才能進行測試,但就會造成檢測上的不便,製備完整的電池時,亦會受到尺寸上的限制。爰此,如何提供一種不改變電極外型或不破壞電極的電極檢測裝置,讓電極之引出以及檢測更為便利,則為發明人思及之方向。
今,發明人即是鑑於上述現有之電極引出技術於實際實施使用時仍具有多處缺失,於是乃一本孜孜不倦之精神,並藉由其豐富專業知識及多年之實務經驗所輔佐,而加以改善,並據此研創出本發明。
本發明主要目的為提供一種電極之引出檢測裝置,藉由軟性導電斑馬條的垂直導電特性,能夠不造成電極損傷的檢測裝置,又不需要改變電極板的外型或進行額外的加工,直接對導電斑馬條接觸到的電極進行導通檢測,檢測後也不會對電極有損傷或留下痕跡,完全不影響之後電池的成品外觀,可謂為一種相當便利之檢測裝置。
為了達到上述實施目的,本發明一種電極之引出檢測裝置,其包含有一導電斑馬條,其具有一傳導部與一絕緣部,傳導部與絕緣部交叉設置;一檢測電路板,係電性連接導電斑馬條之傳導部,包含有一量測迴路;以及一電極板,係由一電極與導電斑馬條直接接觸。
於本發明之一實施例中,量測迴路為阻抗量測迴路。
於本發明之一實施例中,檢測電路板進一步包含有與量測迴路電性連接之一開關矩陣以及一微處理器。
於本發明之一實施例中,導電斑馬條與電極板以一固定框架連接。
於本發明之一實施例中,固定框架以四個固定點固定於電極板上。
於本發明之一實施例中,於檢測時,電極之引出檢測裝置可選擇性裝設複數個固定塊穩定電極板,避免晃動。
本發明之目的及其結構功能上的優點,將依據以下圖面所示之結構,配合具體實施例予以說明,俾使審查委員能對本發明有更深入且具體之瞭解。
請參閱第一圖與第二圖,本發明一種電極之引出檢測裝置,其包含有一導電斑馬條(1),其具有一傳導部(11)與一絕緣部(12),傳導部(11)與絕緣部(12)交叉設置;一檢測電路板(2),係電性連接導電斑馬條(1)之傳導部(11),包含有一量測迴路(21),能夠直接以手動方式進行檢測,若進一步搭配阻抗量測迴路(21)、開關矩陣(22)以及微處理器(23)則能夠選擇使用半自動或全自動的檢測並應用於電子設備上;以及一電極板(3),係由一電極(31)與導電斑馬條(1)直接接觸。
為了將導電斑馬條(1)可以讓電極板(3)上之電極(31)穩定連接,可用一固定框架(4)容設導電斑馬條(1),並透過固定點(41)卡設、鎖固或以任何固定方式將固定框架(4)固定在電極板(3)上,使導電斑馬條(1)能順利接觸到電極(31),若要加強檢測時電極板(3)的穩定性,可以在電極板(3)上放置複數個固定塊(5),讓電極板(3)不會晃動,避免晃動而影響導電斑馬條(1)與電極(31)的接觸有位移發生。
此外,藉由下述具體實施例,可進一步證明本發明可實際應用之範圍,但不意欲以任何形式限制本發明之範圍。
由於導電斑馬條(1)為軟性,又具有垂直導電特性,發明人即利用此等特性,將其應用於電極(31)引出的裝置上,並搭配檢測電路板(2),以進行手動或自動的電極(31)導通檢測,以避免造成檢測時電極板(3)以及電極(31)的損傷,或外觀上的改變。
可參閱圖式第一圖與第二圖,導電斑馬條(1)為傳導部(11)與絕緣部(12)交叉設置,在接觸電極(31)時,僅需要將其完整覆蓋上去即可,且由於各個傳導部(11)之間已有絕緣部(12)隔開,因此並不會有傳導部(11)互相干擾的問題發生,若檢測過程中電極板(3)置放不穩定,可以使用固定框架(4)固定導電斑馬條(1),再固設在電極板(3)上,亦能以固定塊(5)穩定平衡電極板(3)的重心,使檢測過程不會因為電極板(3)的不穩而出現誤差。
實際在檢測電極(31)時,有接觸到電極(31)的傳導部(11)會引出電極(31),再電性連接檢測電路板(2),檢測電路板(2)上的量測迴路(21)會有許多接點,即可直接進行手動的檢測,如第三圖所示,由檢測電路板(2)之量測迴路(21)上的點位,搭配三用電錶,轉到歐姆或導通的錶位,就能夠直接觀察電極(31)是否導通,以判斷此電極(31)的導通狀況是否正常,再將可用的電極(31)引至需要的電子設備上使用;
再請參閱第四圖與第五圖,半自動配置則需要在檢測電路板(2)中加上受微處理器控制的開關矩陣(22)與阻抗量測迴路(21),藉由開關矩陣(22)各個開關接點的閉路或開路,微處理器能夠自動地掃描檢測電路板(2)上有導通的接點,即為導電斑馬條(1)有引出的電極(31)部分,再由手動的方式將正常導通的電極(31)接點拉至電子設備使用;本發明亦可達到全自動的配置,意即檢測與應用端皆不須經由手動,其係配置阻抗量測迴路(21)、多個開關矩陣(22)以及微處理器(23),開關矩陣(22)與阻抗量測電路自動掃描電極(31)後,再由讓微處理器(23)辨識出電極板(3)上可以使用的電極(31),將其自動分配到連接的設備上,係可對應連接電子設備上的腳位,以達到全自動的電路配置。
檢測完畢後,將導電斑馬條(1)移開即可,此檢測方式並不會對電極板(3)以及電極(31)本身造成損害,亦不會留下任何痕跡,且取放係相當方便,要檢測大量的電池電極(31)亦不是問題。
由上述之實施說明可知,本發明與現有技術相較之下,本發明具有以下優點:
1.本發明之電極之引出檢測裝置藉由導電斑馬條的軟性與垂直導電特性,可以順利地引出電池之電極,僅要將導電斑馬條覆蓋在需要檢測的電極上即可,依照電極板的尺寸,亦能改變導電斑馬條的大小,以方便進行檢測;且由於導電斑馬條係傳導部與絕緣部交叉設置,因此亦不會有互相干擾的情況發生,相對於先前需要改變電極板之外型才能引出電極的複雜製程,本發明係便利許多。
2.本發明之電極之引出檢測裝置能夠依照檢測電路板的元件配置,選擇使用手動、半自動或全自動的使用方式,手動僅需要藉著量測迴路的接點即可直接量測;搭配阻抗量測迴路與開關矩陣則能以半自動的方式進行電極板上電極的掃描;進一步連接微處理器,即為全自動的配置,掃描與啟動應用端的設備皆能自動完成;顯然本發明在應用上係相當方便且完善。
3. 本發明之電極之引出檢測裝置為了避免檢測時電極板會有晃動不穩定的情形,亦提供固定框架與固定塊能夠提升穩定性,使導電斑馬條於使用過程中,不會因移動造成檢測上有誤差或錯誤產生,讓本裝置在整體的使用上更為精準。
綜上所述,本發明之電極之引出檢測裝置,的確能藉由上述所揭露之實施例,達到所預期之使用功效,且本發明亦未曾公開於申請前,誠已完全符合專利法之規定與要求。爰依法提出發明專利之申請,懇請惠予審查,並賜准專利,則實感德便。
惟,上述所揭之圖示及說明,僅為本發明之較佳實施例,非為限定本發明之保護範圍;大凡熟悉該項技藝之人士,其所依本發明之特徵範疇,所作之其它等效變化或修飾,皆應視為不脫離本發明之設計範疇。
(1)‧‧‧導電斑馬條
(11)‧‧‧傳導部
(11)‧‧‧傳導部
(12)‧‧‧絕緣部
(2)‧‧‧檢測電路板
(2)‧‧‧檢測電路板
(21)‧‧‧量測迴路
(22)‧‧‧開關矩陣
(22)‧‧‧開關矩陣
(23)‧‧‧微處理器
(3)‧‧‧電極板
(3)‧‧‧電極板
(31)‧‧‧電極
(4)‧‧‧固定框架
(4)‧‧‧固定框架
(41)‧‧‧固定點
(5)‧‧‧固定塊
(5)‧‧‧固定塊
第一圖:本發明其較佳實施例之整體架構圖。
第二圖:本發明其較佳實施例之部分放大圖。
第三圖:本發明其較佳實施例之手動配置示意圖。
第四圖:本發明其較佳實施例之半自動配置示意圖。
第五圖:本發明其較佳實施例之全自動配置示意圖。
Claims (6)
- 一種電極之引出檢測裝置,包含有: 一導電斑馬條,其具有一傳導部與一絕緣部,該傳導部與該絕緣部交叉設置; 一檢測電路板,係電性連接該導電斑馬條之傳導部,包含有一量測迴路;以及 一電極板,係由一電極與該導電斑馬條直接接觸。
- 如申請專利範圍第1項所述電極之引出檢測裝置,其中該量測迴路為阻抗量測迴路。
- 如申請專利範圍第1項所述電極之引出檢測裝置,其中該檢測電路板進一步包含有與該量測迴路電性連接之一開關矩陣以及一微處理器。
- 如申請專利範圍第1項所述電極之引出檢測裝置,其中該導電斑馬條與電極板以一固定框架連接。
- 如申請專利範圍第4項所述電極之引出檢測裝置,其中該固定框架以四個固定點固定於該電極板上。
- 如申請專利範圍第1項所述電極之引出檢測裝置,其中該電極之引出檢測裝置選擇性裝設複數個固定塊穩定該電極板。
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