TWM487436U - 電子元件檢測裝置及其治具 - Google Patents

Description

電子元件檢測裝置及其治具

本新型是有關於一種電子元件檢測裝置及其治具，特別是指一種用以對待測電子元件進行電性測試的電子元件檢測裝置及其治具。

目前例如為封裝元件的一電子元件通常是透過一測試插座電性連接於一測試電路板，以對電子元件進行電性測試。測試插座通常包含一絕緣本體，及複數根彈性探針，絕緣本體形成有複數個穿孔，各探針穿設並固定於對應的穿孔內，各探針底端插置於測試電路板的一對應的銲接孔內，且各探針底端銲接於對應的銲接孔。

當電子元件插置於測試插座的絕緣本體內時，電子元件的各導電接腳會接觸於對應的探針頂端，此時，電子元件透過探針電性連接於測試電路板上。電子元件可經由測試插座的探針電性連接至測試電路板，以對電子元件進行電性測試。

由於各探針是穿設並固定於對應的穿孔內，因此，各探針無法單獨拆離絕緣本體。當絕緣本體變形而導致電子元件無法插置，或者是探針損壞而無法電性導通時 ，就必需將整個測試插座拆離測試電路板以進行更換，易造成使用成本的增加。再者，要將各探針由測試電路板上解銲的作業也十分困難且不便，故現有測試插座仍有進一步改善的空間。

因此，本新型之一目的，即在提供一種電子元件檢測裝置，治具的絕緣本體及探針皆能單獨拆離測試電路板以進行更換的作業，藉此，能有效地降低使用成本。

於是本新型電子元件檢測裝置，適用於一待測電子元件之電性測試，該待測電子元件具有複數個導電接觸部，該電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具。

測試電路板形成有複數個銲接部，治具包括一絕緣本體、複數根探針，及至少一鎖接組件。絕緣本體設置於該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及複數個與該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設於對應的該貫孔內，各該探針底端銲接於對應的銲接部，各該探針頂端抵接於對應的該導電接觸部，使各該探針電性連接於對應的該銲接部與對應的該導電接觸部之間，鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固於該測試電路板上。

各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大於該外徑的孔徑。

該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與該兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個 鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設於對應的該通孔與對應的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接於該測試電路板一側的該螺帽。

於是本新型電子元件檢測裝置，適用於複數個待測電子元件之電性測試，各該待測電子元件具有複數個導電接觸部，該電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具。

測試電路板形成有複數個銲接部，治具包括一絕緣本體、複數根探針，及至少一鎖接組件。絕緣本體設置於該測試電路板上，該絕緣本體形成有複數個分別用以供該等待測電子元件容置的容置槽，及複數個安裝單元，各該安裝單元包含複數個與對應的該容治槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設於對應的該貫孔內，各該探針底端銲接於對應的銲接部，各該探針頂端抵接於對應的該導電接觸部，使各該探針電性連接於對應的該銲接部與對應的該導電接觸部之間，鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固於該測試電路板上。

本新型之另一目的，即在提供一種治具，其絕緣本體及探針皆能單獨拆離測試電路板以進行更換的作業，藉此，能有效地降低使用成本。

於是本新型治具，適於設置在一測試電路板上並可供一待測電子元件放置，該測試電路板形成有複數個銲接部，該待測電子元件形成有複數個導電接處部，該治具包括一絕緣本體、複數根探針，及至少一鎖接組件。

絕緣本體設置於該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及多個與該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設於對應的該貫孔內，各該探針底端銲接於對應的銲接部，各該探針頂端抵接於對應的該導電接觸部，使各該探針電性連接於對應的該銲接部與對應的該導電接觸部之間，鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固於該測試電路板上。

本新型之功效在於：治具的絕緣本體及探針皆能單獨拆離測試電路板以進行更換的作業，因此，當絕緣本體及探針其中之一損壞時，可單獨更換損壞的元件而不需更換整個治具，藉此，能有效地降低使用成本。再者，能方便且迅速地進行探針與測試電路板之間的解銲作業，藉此，可提升拆卸的便利性及縮短拆卸的工時。

1‧‧‧待測電子元件

11‧‧‧本體

111‧‧‧底面

12‧‧‧導電接觸部

200‧‧‧電子元件檢測裝置

2‧‧‧測試電路板

21‧‧‧上表面

22‧‧‧下表面

23‧‧‧銲接部

24‧‧‧穿孔

3‧‧‧治具

31‧‧‧絕緣本體

311‧‧‧承載座

312‧‧‧凸塊

313‧‧‧頂面

314‧‧‧底面

315‧‧‧容置槽

316‧‧‧安裝單元

317‧‧‧貫孔

318‧‧‧通孔

32‧‧‧探針

321‧‧‧套筒

322‧‧‧上接觸件

323‧‧‧彈簧

324‧‧‧凸部

33‧‧‧鎖接組件

331‧‧‧螺栓

332‧‧‧螺帽

I‧‧‧箭頭

D1‧‧‧孔徑

D2‧‧‧外徑

本新型之其他的特徵及功效，將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現，其中：圖1是本新型電子元件檢測裝置之一實施例的立體圖，說明治具鎖固於測試電路板上，以及各待測電子元件容置於對應的容置槽內；圖2是本新型電子元件檢測裝置之一實施例的立體分解圖，說明待測電子元件、治具及測試電路板之間的組裝關係；圖3是本新型電子元件檢測裝置之一實施例的絕緣本體的局部俯視圖，說明安裝單元的貫孔與容置槽相連通； 圖4是本新型電子元件檢測裝置之一實施例的剖視示意圖，說明各鎖接組件將絕緣本體鎖固於測試電路板上；圖5是本新型電子元件檢測裝置之一實施例的剖視示意圖，說明各探針穿設於對應的貫孔內，且各探針的套筒底端的凸部穿設於對應的銲接部內；及圖6是本新型電子元件檢測裝置之一實施例的剖視示意圖，說明各探針的上接觸件抵接於待測電子元件的對應導電接觸部。

參閱圖1及圖2，是本新型電子元件檢測裝置之一實施例，該電子元件檢測裝置200適用於複數個待測電子元件1之電性測試，各待測電子元件1可為封裝元件或其他類形的電子元件，各待測電子元件1具有一本體11，及複數個導電接觸部12，本體11具有一底面111，該等導電接觸部12設置於底面111且彼此相間隔，本實施例的各導電接觸部12是以金屬墊為例作說明。

參閱圖2、圖3及圖4，電子元件檢測裝置200包含一測試電路板2，及一治具3。測試電路板2包括一上表面21，及一下表面22，測試電路板2形成有複數個銲接部23，及兩個穿孔24。本實施例的各銲接部23為一貫穿上表面21與下表面22的銲接孔。兩穿孔24位於該等銲接部23相反側，各穿孔24貫穿上表面21與下表面22。

治具3包括一絕緣本體31、複數根探針32，及兩個鎖接組件33。絕緣本體31是由例如為塑膠之絕緣材質 所製成，絕緣本體31包含一呈矩形狀的承載座311，及兩個分別凸設於承載座311短邊的凸塊312。承載座311包括一頂面313，及一底面314，承載座311的頂面313凹陷形成複數個容置槽315，該等容置槽315是沿著承載座311的長度延伸方向相間隔排列，該等容置槽315分別用以供該等待測電子元件1容置。

承載座311的底面314凹陷形成複數個安裝單元316，各安裝單元316包含複數個與對應的容置槽315相連通的貫孔317，各貫孔317具有一孔徑D1。各凸塊312形成有一通孔318，各凸塊312的通孔318與測試電路板2的對應穿孔24相連通。

參閱圖4及圖5，各探針32包含一呈中空狀的套筒321、一設置於套筒321內且凸伸出套筒321頂端的上接觸件322，及一設置於套筒321內的彈簧323。套筒321、上接觸件322及彈簧323皆由金屬材質所製成。彈簧323為一上下兩端分別抵接於上接觸件322與套筒321的壓縮彈簧。各探針32的套筒321具有一外徑D2，各貫孔317的孔徑D1大於套筒321的外徑D2，藉此，使得各探針32可移離地穿設於對應的貫孔317內。各探針32的上接觸件322用以抵接於待測電子元件1的對應導電接觸部12，而各探針32的套筒321則用以銲接於對應的銲接部23，藉此，使得各探針32能電性連接於對應的銲接部23與對應的導電接觸部12之間。

參閱圖2、圖4及圖5，各鎖接組件33可拆卸 地將絕緣本體31鎖固於測試電路板2上。各鎖接組件33包含一螺栓331及一螺帽332，各鎖接組件33的螺栓331用以穿設於對應的通孔318與對應的穿孔24，且螺栓331螺接在抵接於測試電路板2的下表面22的螺帽332，藉此，能將絕緣本體31鎖固於測試電路板2上。

參閱圖2、圖4、圖5及圖6，欲對各待測電子元件1進行電性測試時，首先，將絕緣本體31的兩通孔318分別與測試電路板2的兩穿孔24對齊，之後，將絕緣本體31置放於測試電路板2的上表面21。接著，將各鎖接組件33的螺栓331穿設於對應的通孔318與對應的穿孔24，使螺栓331螺接在抵接於測試電路板2的下表面22的螺帽332，此時，各鎖接組件33將絕緣本體31鎖固於測試電路板2上，且絕緣本體31的各貫孔317與對應的銲接部23相連通。

接著，將各探針32經由對應的容置槽315穿設於對應的貫孔317內，當各探針32的套筒321底端抵接於測試電路板2的上表面21時，探針32便無法繼續下移，此時，各探針32的套筒321底端的一凸部324會穿設於對應的銲接部23內，而上接觸件322則穿伸至容置槽315內。隨後，透過例如為點銲的銲接方式將各探針32的套筒321的凸部324銲接於對應的銲接部23內，使得各探針32能與測試電路板2電性連接。

最後，依序將該等待測電子元件1分別放置於絕緣本體31的該等容置槽315內，使各待測電子元件1的 各導電接觸部12抵接於對應探針32的上接觸件322頂端。隨後，沿箭頭I方向將各待測電子元件1的本體11往下壓，本體11及導電接觸部12下移過程中會帶動上接觸件322下移，上接觸件322下移時會壓縮彈簧323使其變形，藉此，使得上接觸件322緊密地接觸於對應的導電接觸部12，以確保兩者之間能保持良好的接觸狀態。此時，即可對各待測電子元件1進行電性測試。

當治具3的絕緣本體31變形損壞時，將各螺栓331與螺接在一起的螺帽332旋鬆並分離，接著，將絕緣本體31往上抬升一段距離，當各探針32與絕緣本體31的對應貫孔317分離後，便可進行絕緣本體31的更換作業。另一方面，當探針32損壞而失去電性導通的功能時，可依照前述方式先將絕緣本體31拆離測試電路板2，隨後，再將損壞的探針32與測試電路板2之間進行解銲的作業，由於解銲過程中完全不會受到絕緣本體31的阻擋及防礙，因此，能方便且迅速地進行解銲作業，藉此，可提升拆卸的便利性及縮短拆卸的工時。

由於治具3的絕緣本體31及探針32皆能單獨拆離測試電路板2以進行更換的作業，因此，當絕緣本體31及探針32其中之一損壞時，可單獨更換損壞的元件而不需更換整個治具3，藉此，能有效地降低使用成本。

需說明的是，在其他的實施方式中，絕緣本體31的容置槽315數量、安裝單元316數量、通孔318數量，以及鎖接組件33數量也可分別為一個，不以本實施例所 揭露的數量為限。

綜上所述，本實施例的電子元件檢測裝置200，由於治具3的絕緣本體31及探針32皆能單獨拆離測試電路板2以進行更換的作業，因此，當絕緣本體31及探針32其中之一損壞時，可單獨更換損壞的元件而不需更換整個治具3，藉此，能有效地降低使用成本。再者，能方便且迅速地進行探針32與測試電路板2之間的解銲作業，藉此，可提升拆卸的便利性及縮短拆卸的工時，故確實能達成本新型之目的。

惟以上所述者，僅為本新型之實施例而已，當不能以此限定本新型實施之範圍，即大凡依本新型申請專利範圍及專利說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。

1‧‧‧待測電子元件

11‧‧‧本體

111‧‧‧底面

12‧‧‧導電接觸部

200‧‧‧電子元件檢測裝置

2‧‧‧測試電路板

21‧‧‧上表面

22‧‧‧下表面

23‧‧‧銲接部

24‧‧‧穿孔

3‧‧‧治具

31‧‧‧絕緣本體

311‧‧‧承載座

312‧‧‧凸塊

313‧‧‧頂面

314‧‧‧底面

315‧‧‧容置槽

318‧‧‧通孔

32‧‧‧探針

33‧‧‧鎖接組件

331‧‧‧螺栓

332‧‧‧螺帽

Claims (9)

1. 一種電子元件檢測裝置，適用於一待測電子元件之電性測試，該待測電子元件具有複數個導電接觸部，該電子元件檢測裝置包含：一測試電路板，形成有複數個銲接部，一治具，包括：一絕緣本體，設置於該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及複數個與該容置槽相連通的貫孔，複數根探針，各該探針可移離地穿設於對應的該貫孔內，各該探針底端銲接於對應的該銲接部，各該探針頂端抵接於對應的該導電接觸部，使各該探針電性連接於對應的該銲接部與對應的該導電接觸部之間，及至少一鎖接組件，可拆卸地將該絕緣本體鎖固於該測試電路板上。
2. 如請求項1所述的電子元件檢測裝置，其中，各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大於該外徑的孔徑。
3. 如請求項1或2所述的電子元件檢測裝置，其中，該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與該兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設於對應的該通孔與對應的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接於該測試電路板一側的該螺帽。
4. 一種電子元件檢測裝置，適用於複數個待測電子元件之電性測試，各該待測電子元件具有複數個導電接觸部，該電子元件檢測裝置包含：一測試電路板，形成有複數個銲接部，一治具，包括：一絕緣本體，設置於該測試電路板上，該絕緣本體形成有複數個分別用以供該等待測電子元件容置的容置槽，及複數個安裝單元，各該安裝單元包含複數個與對應的該容治槽相連通的貫孔，複數根探針，各該探針可移離地穿設於對應的該貫孔內，各該探針底端銲接於對應的該銲接部，各該探針頂端抵接於對應的該導電接觸部，使各該探針電性連接於對應的該銲接部與對應的該導電接觸部之間，及至少一鎖接組件，可拆卸地將該絕緣本體鎖固於該測試電路板上。
5. 如請求項4所述的電子元件檢測裝置，其中，各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大於該外徑的孔徑。
6. 如請求項4或5所述的電子元件檢測裝置，其中，該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與該兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設於對應的該通孔與對應的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接於該測試電路板一側的該螺帽。
7. 一種治具，適於設置在一測試電路板上並可供一待測電子元件放置，該測試電路板形成有複數個銲接部，該待測電子元件形成有複數個導電接處部，該治具包括：一絕緣本體，設置於該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及多個與該容置槽相連通的貫孔，複數根探針，各該探針可移離地穿設於對應的該貫孔內，各該探針底端銲接於對應的該銲接部，各該探針頂端抵接於對應的該導電接觸部，使各該探針電性連接於對應的該銲接部與對應的該導電接觸部之間，及至少一鎖接組件，可拆卸地將該絕緣本體鎖固於該測試電路板上。
8. 如請求項7所述的治具，其中，各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大於該外徑的孔徑。
9. 如請求項7或8所述的治具，其中，該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與該兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設於對應的該通孔與對應的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接於該測試電路板一側的該螺帽。